JPH10153403A5 - - Google Patents

Claims (10)

1. 基本周波数を有する第１の光ビームと該基本周波数の第２高調波周波数を有する第２の光ビームとを発生するための二逓倍レーザ手段と、
   前記第１の光ビームおよび前記第２の光ビームを受信して、前記第１の光ビームおよび前記第２の光ビームに位相変調を施すための位相変調器と、
   前記変調された前記第１の光ビームおよび前記第２の光ビームを受信するビーム分割器と、
   前記ビーム分割器の近くに配置されて、第２高調波周波数の第３の光ビームを発生する二逓倍結晶段と、
   前記二逓倍結晶段の近くに配置されて、前記第３の光ビームの振幅を増幅するための光学増幅器と、
   前記光学増幅器の近くに配置されて、前記第１の光ビーム、前記第２の光ビーム、及び、前記第３の光ビームを受けて、少なくとも前記第２の光ビームと前記第３の光ビームの第２高調波の成分を送り出すためのフィルタと、
   前記第２高調波の成分を検出するための第２高調波検出器とを備えた補正装置。
2. 前記二逓倍レーザ手段に、反射防止コーティングを施した出力を備える半導体レーザと、
   前記反射防止コーティングを施した出力の近くに配置されたエタロンと、
   ２つのミラー、及び、前記２つのミラーの間に配置された二逓倍結晶を具備する界形成部とを有する請求項１に記載の補正装置。
3. 前記光学増幅器が、
   ２つのコリメータと、
   前記２つのコリメータの間に配置された半導体レーザと、
   前記２つのコリメータの一方の近くに配置された光学フィルタとを有することを特徴とする請求項２に記載の補正装置。
4. 前記光学フィルタが、第２高調波周波数信号において最適化される回折格子であることを特徴とする請求項３に記載の補正装置。
5. 前記光学フィルタが、第２高調波周波数信号において最適化される干渉フィルタであることを特徴とする請求項３に記載の補正装置。
6. 前記レーザ二逓倍手段の半導体レーザが、１３００ｎｍのＩｎＧａＡｓＰダイオード・レーザであり、かつ、
   前記光学増幅器の半導体レーザが、６５０ｎｍのＩｎＧａＡｌＰダイオード・レーザであることを特徴とする請求項３から５のいずれかに記載の補正装置。
7. 前記光学増幅器が、
   ２つのコリメータと、
   前記２つのコリメータの間に配置された半導体レーザと、
   前記２つのコリメータの一方の近くに配置された光学フィルタを有することを特徴とする請求項１に記載の補正装置。
8. 前記光学フィルタが、第２高調波周波数信号において最適化される回折格子であることを特徴とする請求項７に記載の補正装置。
9. 前記光学フィルタが、第２高調波周波数信号において最適化される干渉フィルタである ことを特徴とする請求項７に記載の補正装置。
10. 基本周波数で第１の光ビームを発生するステップと、
    基本周波数の第２高調波で第２の光ビームを発生するステップと、
    測定光路の第１の端部において前記第１の光ビームおよび前記第２の光ビームを送り出すステップと、
    前記測定光路の第２の端部において前記基本周波数の第２高調波で第３の光ビームを発生するステップと、
    前記第３の光ビームを増幅するステップと、
    前記第２の光ビームおよび前記第３の光ビームに干渉し、光信号を発生するステップと、
    前記光信号を電気信号に変換するステップと、
    前記電気信号を加えて、前記測定光路に沿った乱気流を補正するステップが含まれている前記乱気流の測定を補正するための方法。