JPH10153485A - 測定装置、測定方法、および画像出力装置 - Google Patents

測定装置、測定方法、および画像出力装置

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JPH10153485A
JPH10153485A JP31054096A JP31054096A JPH10153485A JP H10153485 A JPH10153485 A JP H10153485A JP 31054096 A JP31054096 A JP 31054096A JP 31054096 A JP31054096 A JP 31054096A JP H10153485 A JPH10153485 A JP H10153485A
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light
image
lens
area
emitted
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JP31054096A
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English (en)
Inventor
Hiroyuki Hotta
宏之 堀田
Seigo Makita
聖吾 蒔田
Yoshihiko Sakai
義彦 酒井
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Fujifilm Business Innovation Corp
Original Assignee
Fuji Xerox Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 対象物の距離や位置によらずに対象物の特性
を高精度に測定することのできる、小型化および低価格
化が可能な測定装置および測定方法、その測定装置ある
いは測定方法を用いた画像出力装置を提供する。 【解決手段】 対象物1上に光源2から照射領域5に光
を照射する。対象物1上の照射領域5からの反射光また
は散乱光をレンズ3で集光し、光電変換素子4に入射さ
せる。光電変換素子4は、照射領域5と照射領域5以外
の領域の境界部分が光電変換素子4の受光面上に来るよ
うにする。さらに、対象物1がレンズ3に近づいた場合
に、照射領域5の像が小さくなり、遠ざかった場合に、
照射領域5の像が大きくなる位置で受光する。これによ
り、対象物1がレンズ3に近づくまたは遠ざかることに
よる光量の増大または減少を、照射領域5の減少または
増大によって相殺し、対象物1の特性を測定することが
できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、紙面やその他の対
象物の特性を測定する測定装置および測定方法、さらに
それらの測定装置あるいは測定方法を用いた画像出力装
置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】反射率や濃度、色等、対象物の特性を光
学的に測定する測定装置においては、対象物とセンサの
距離が異なると受光量が変化してしまうため、受光量の
みから特性を測定することは困難である。そのため、特
性の測定を行なうための受光手段とともに距離検出セン
サを設け、距離検出センサにより対象物の位置の変動量
を測定し、測定した位置の変動量を補正値として、受光
量あるいは特性の測定値を補正する技術が存在する。
【0003】例えば、画像出力装置などにおいて、紙面
に形成した画像を評価し、その評価結果を画像出力装置
にフィードバックして高画質の画像を得るという工程
を、画像出力装置上でオンラインで行なうことが考えら
れている。このようなシステムにおいて、紙面に形成し
た画像を評価する際に画像の特徴を測定することにな
る。しかし、通常、紙面は上下に1mm近く変動しなが
ら移動するために、測定値は真の値の15%程度という
非常に大きな変動を受ける。このような変動分を除去す
るため、この紙面の上下変動値を検出するセンサを別個
に設けて、このセンサ出力を補正値として用いる技術が
必要となる。
【0004】このような距離の変動を検知するセンサの
出力を補正値として用いる技術として、従来は距離検出
センサや位置検出センサと、画像の特徴を測定する特性
検出センサとを別個に設けていた。このような距離検出
センサや位置検出センサを別個に設けて補正する場合に
は、本体である特性検出センサも含めた、各センサにお
けるノイズが加算されてノイズが大きくなるため、精度
は悪くなる。また、変動量を測定した位置と対象物の特
性を測定した位置を一致させることは困難であり、ある
いは一致させたとしても装置の構成が複雑になり小型化
も困難である。従来から、これらのような高精度化、測
定位置の一致、小型化が大きな課題となっている。
【0005】図7は、従来の画像出力装置の一例を示す
要部概略図である。図中、12は被画像形成媒体、13
は定着工程、14は排出ローラ、15は対象物特性測定
装置、16は距離測定装置、17は距離補正計算部であ
る。図7に示す画像出力装置では、用紙など被画像形成
媒体12の排出口付近に設けられた対象物特性測定装置
15と、これとは別個に、被画像形成媒体12の浮きや
凹凸などの画像形成面の変動を測定する距離測定装置1
6を並設している。対象物特性測定装置15および距離
測定装置16からの信号を距離補正計算装置17に入力
し、補正計算を行なうことで、はじめて正確な被画像形
成媒体12に形成された画像の特性を求めることが可能
となる。
【0006】このような構成では、通常は距離測定装置
16と対象物特性測定装置15との距離を0にできず、
測定対象物がラインを流れて距離測定装置16と対象物
特性測定装置15の両方を通過するための時間が必要で
あり、例えば0.5秒という時間を必要とする。しか
し、一般の画像出力装置において、被画像形成媒体12
の移動に合わせて紙面の色などを測定して画像出力装置
にフィードバックする場合は、1枚の被画像形成媒体1
2の通過時間を約1秒とした時、1枚の被画像形成媒体
12によって色を測定できるのは2か所以下であり、1
枚あたりの色のばらつきの評価は不可能といえる。
【0007】さらに、現存する距離測定装置は高価であ
り、場合によっては一般の画像出力装置本体とほぼ同等
の価格あるいはそれ以上となってしまうこともあり、こ
のような状況では距離測定装置の画像出力装置への適用
は実質的に不可能である。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上述した事
情に鑑みてなされたもので、距離検出センサや位置検出
センサを別個に設けることなく、単一の装置によって対
象物の距離や位置によらずに対象物の特性を高精度に測
定することのできる、小型化および低価格化が可能な測
定装置および測定方法、その測定装置あるいは測定方法
を用いた画像出力装置を提供することを目的とするもの
である。
【0009】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、測定装置において、対象物に少なくとも明領域と暗
領域を形成する光を照射する光源と、前記対象物上に配
置され前記光源から照射される光の光路と所定の角度の
光軸を有するレンズと、該レンズとの相対位置が一定で
あり前記レンズを介して前記対象物からの反射光または
散乱光を受光する受光手段と、該受光手段の受光量に応
じて所定の測定値を求める測定手段を有し、前記受光手
段は、受光面の一端に前記対象物上の前記明領域の像
が、また他端に前記対象物上の前記暗領域の像が存在
し、前記対象物が前記レンズに近づいた場合に前記暗領
域の像の領域が大きくなり、前記対象物が前記レンズか
ら遠ざかった場合に前記明領域の像の領域が大きくなる
ように配置されていることを特徴とするものである。
【0010】請求項2に記載の発明は、請求項1に記載
の測定装置において、前記光源、前記レンズ、前記受光
手段の組を複数組備え、それぞれの組における前記対象
物への照射光の周波数を異ならせ、前記測定手段は前記
各受光手段の受光量に基づいて前記対象物の色を測定す
ることを特徴とするものである。
【0011】請求項3に記載の発明は、請求項1または
2に記載の測定装置において、前記光源は、点滅して発
光し、前記測定手段は前記光源の点灯時と消灯時の光量
を前記受光手段から得て、点灯時の光量から消灯時の光
量を除去することを特徴とするものである。
【0012】請求項4に記載の発明は、画像出力装置に
おいて、被画像形成部材に画像を形成する画像形成手段
と、請求項1ないし3のいずれか1項に記載の測定装置
を有し、該測定装置により被画像形成部材を前記対象物
として測定を行ない測定値を前記画像形成手段へフィー
ドバック可能としたことを特徴とするものである。
【0013】請求項5に記載の発明は、測定装置におい
て、対象物上に配置されたレンズと、該レンズとの相対
位置が一定であり前記レンズを介して前記対象物の発光
光を受光する受光手段と、該受光手段の受光量に応じて
所定の測定値を求める測定手段を有し、前記受光手段
は、受光面の一端に前記発光光の像が存在し、他端には
前記発光光の像が存在せず、前記対象物が前記レンズに
近づいた場合に前記発光光の像の領域が小さくなり、前
記対象物が前記レンズから遠ざかった場合に前記発光光
の像の領域が大きくなるように配置されていることを特
徴とするものである。
【0014】請求項6に記載の発明は、測定方法におい
て、対象物に光を照射して少なくとも明領域と暗領域を
形成し、レンズを介して前記対象物からの反射光または
散乱光を受光手段に結像させ、該受光手段は、受光面の
一端に前記対象物上の前記明領域の像が、また他端に前
記対象物上の前記暗領域の像が存在し、前記対象物が前
記レンズに近づいた場合に前記暗領域の像の領域が大き
くなり、前記対象物が前記レンズから遠ざかった場合に
前記明領域の像の領域が大きくなるような位置で前記対
象物からの反射光または散乱光を受光し、受光量に応じ
て前記対象物の特性を測定することを特徴とするもので
ある。
【0015】請求項7に記載の発明は、請求項6に記載
の測定方法において、前記対象物に対して異なる周波数
の照射光を順次照射し、各照射光ごとに前記対象物から
の反射光または散乱光を受光し、受光量に基づいて前記
対象物の色を測定することを特徴とするものである。
【0016】請求項8に記載の発明は、請求項6または
7に記載の測定方法において、前記対象物に対して点滅
した照射光を照射し、照射光の照射時と照射していない
時の前記対象物からの反射光または散乱光を受光し、照
射光を照射時の受光量から照射光を照射していない時の
受光量を除去することを特徴とするものである。
【0017】請求項9に記載の発明は、測定方法におい
て、対象物が発する発光光をレンズを介して受光手段に
結像させ、該受光手段は、受光面の一端に前記発光光の
像が存在し、他端には前記発光光の像が存在せず、前記
対象物が前記レンズに近づいた場合に前記発光光の像の
領域が小さくなり、前記対象物が前記レンズから遠ざか
った場合に前記発光光の像の領域が大きくなるような位
置で前記対象物からの発光光を受光し、受光量に応じて
前記対象物の特性を測定することを特徴とするものであ
る。
【0018】
【発明の実施の形態】図1は、本発明の測定装置および
測定方法の実施の一形態を示す概略構成図である。図
中、1は対象物、2は光源、3はレンズ、4は光電変換
素子、5は照射領域、6は測定部である。レンズ3と光
源2とは所定の角度を有して配置されている。光源2
は、例えばLED等によって構成することができ、対象
物2の特定の領域を照射し、照射領域5を形成する。照
射光は平行光であることが望ましいが、平行光以外でも
構わない。この照射光により照射領域5を形成する必要
があるので、対象物1の面が照射光と平行にならないよ
うに、対象物1が配置されている必要がある。
【0019】レンズ3は、対象物1上の照射領域5から
の反射光または散乱光を集光し、光電変換素子4に入射
させる。光電変換素子4は、対象物1上の照射領域5の
像を全て受光するのではなく、照射領域5と照射領域5
以外の領域の境界部分が光電変換素子4の受光面上に来
るようにする。さらに、対象物1がレンズ3に近づいた
場合に、照射領域5以外の領域の像が大きくなり、対象
物1がレンズ3から遠ざかった場合に、照射領域5の像
が大きくなるように配置されている。
【0020】図1に示した例では、対象物1の右斜め上
から光を照射し、対象物1上の照射領域5と照射領域以
外の領域との境界のうち、左側の境界の像が光電変換素
子4上に形成されるように、光電変換素子4をレンズ3
の光軸に対して右側にずらして配置している。このよう
な構成により、対象物1がレンズ3に近づいた場合に
は、照射領域5が右側に移動し、光電変換素子4の受光
面における照射領域5の像が左側に移動して、照射領域
5以外の領域の像が大きくなる。また、対象物1がレン
ズ3から遠ざかった場合には、照射領域5が左側に移動
し、光電変換素子4の受光面における照射領域5の像が
右側に移動して、照射領域5の像が大きくなる。
【0021】図2は、本発明の測定装置および測定方法
の実施の一形態における動作原理の説明図である。図
中、7は受光領域である。図2(A)は、暫定的に決め
た標準の位置に対象物1が存在する状態を示す。照射領
域5を太線で示している。上述のように光電変換素子4
は、照射領域5の像をすべて受光するのではなく、照射
領域5と照射領域5以外の領域の境界が受光面上に来る
ように配置されている。照射領域5の像が存在する光電
変換素子4の受光面上の領域を受光領域7として矢線で
示している。
【0022】図2(B)において、対象物1が上昇し、
レンズ3に近づいた場合について考える。対象物1が上
昇することによって、レンズ3を透過する光量は増加す
る。これと同時に、対象物1の照射領域5は光源2の方
向に向かって移動する。図2(B)では、照射領域5は
右方向に移動している。この照射領域5の移動によっ
て、光電変換素子4の受光面上に形成される照射領域5
の像の面積、すなわち受光領域7は減少してゆく。
【0023】このように、対象物1が上昇すると、レン
ズ3を透過する光量が増加するが、受光領域7が減少す
るので、両者の影響を相殺することができ、対象物1上
の面の特性だけを正確に求めることが可能となる。
【0024】次に、図2(C)において、対象物1が下
降し、レンズ3から遠ざかった場合について考える。対
象物1の下降によって、レンズ3を透過する光量は減少
する。これと同時に、対象物1の照射領域5は光源2か
ら離れる方向に向かって移動する。図2(C)では、照
射領域5は左方向に移動している。この照射領域5の移
動によって、光電変換素子4の受光面上に形成される照
射領域5の像の面積、すなわち受光領域7は増加してゆ
く。
【0025】このように、対象物1が下降すると、レン
ズ3を透過する光量が減少するが、受光領域7が増加す
るので、両者の影響を相殺することができる。このよう
に、対象物1とレンズ3との距離に影響を受けない光電
変換素子4の出力を用い、測定部6では所定の特性値の
測定を行なう。これにより、対象物1上の面の特性だけ
を正確に測定することが可能となる。
【0026】以下、具体的な計算により、上述の動作を
説明する。図3は、本発明の測定装置および測定方法の
実施の一形態の動作の説明図である。図中、8は散乱点
である。まず、対象物1の表面の1点である散乱点8に
光が照射され、散乱点8において発生する光の散乱を考
える。図3(A)に示すように、対象物1の表面におけ
る散乱光の強度分布は、一般的に余弦で表わせる。ここ
で図3(B)に示すように、対象物1の表面に垂直な方
向へ向かう光の強度をAとするとき、対象物1の表面に
垂直な方向から角度θだけ傾いた方向に向かう光の強度
はA・cosθとなる。
【0027】次に、図3(C)に示すように、散乱点8
から垂直に距離aだけ離れ、角度θをなしている点にお
ける光の強度を考える。その点までの距離はa/cos
θであるから、強度f(θ)は f(θ)=A・cosθ×1/(a/cosθ)2 =A・cos3 θ/a2 −(1) と表わせる。これを、図3(D)に示す対象物1上の照
射領域t1〜t2、及びレンズ幅x1〜x2で積分する
ことで、レンズ3を透過する光の強度の合計Vが求ま
る。 V=(A/a)・(−(cosθ1)/3+2/(3・cosθ1)+(c osθ2)/3−2/(3・cosθ2)+(cosθ3)/3−2/(3・c osθ3)−(cosθ4)/3+2/(3・cosθ4)) −(2) θ1=arctan((x2−t1)/a) θ2=arctan((x1−t1)/a) θ3=arctan((x2−t2)/a) θ4=arctan((x1−t2)/a)
【0028】ここで、図3(E)に示すように、t1
は、aの変動に伴って横方向に光源に近づくか遠ざかる
ことになる。この変化量をΔt1とすると、aの変化量
Δaとの関係は、光源と平面の角度をαとすると Δt1=−Δa・cotα −(3) と表わせる。また、図3(F)に示すように、t2の像
は、光電変換素子4の端に相当し、この端は固定されて
いるので、t2の変化量Δt2は、 (t2+Δt2)/t2=(a+Δa)/a より Δt2=(Δa/a)・t2 −(4) と表わせる。
【0029】このように、a及びtの変化量を(2)式
に代入した時に、aの変化に対してVの変化が小さくな
るようなパラメータを選ぶことによって、紙面の変動の
影響を受けずに、紙面の特性の測定を行なうことが可能
となる。
【0030】例えば、具体例として、t1=−7.9m
m、t2=7.9mm、a=20mm、x1=−7.5
mm、x2=7.5mm、α=π/2とすることで、a
が2.0mm変化しても、Vの変化を0.2%以内に抑
えることが可能となる。
【0031】このように、対象物1とレンズ3の距離が
変化しても、光電変換素子4による受光量はほぼ一定に
することができるので、従来のように距離検出センサに
よって距離を検出し、検出した距離によって補正を行な
う必要は無くなり、光電変換素子4による受光量によっ
て、例えば対象物1の表面の反射率や濃度、色など、対
象物1の表面の特性を測定することが可能となる。この
とき、距離検出センサを用いていないので、距離検出セ
ンサとの位置の一致を考慮する必要はなく、測定点を対
象物1上の任意の点に取ることができ、高精度化するこ
とができる。さらに、構成が簡単であるので、小型化に
適し、安価に構成することができる。
【0032】なお、図1に示した対象物1、光源2、レ
ンズ3の位置関係は、一例を示しただけであり、上述の
ような照射領域5が対象物1の移動に伴って変化する位
置関係であれば、図1に示した位置関係に限らない。そ
の意味から、対象物1が光源2の光の進行方向と平行な
場合には、照射領域5が形成できないので不適である。
また、対象物1の面と光源からの光の進行方向が直交
し、対象物1が光源からの光の進行方向と直交する方向
にのみ移動する場合には、照射領域5が移動しないの
で、この場合も不適である。しかし、これらの例以外の
場合には、良好に効果を得ることができる。
【0033】実際の照射領域5と照射領域5以外の領域
との境界部分は、明確な線として存在せず、なだらかな
光量変化を有する領域として存在する。しかし、この光
量変化を有する領域を挟む明るい領域と暗い領域を含む
領域の像が、光電変換素子4の受光面に形成されている
限りは、上述したように、対象物1の遠近による光電変
換素子4の受光量の変化を低減できる。また、光量変化
を有する境界領域が光電変換素子4の端部に存在する場
合でも、その光量のプロファイルを予め測定しておけ
ば、測定値に対する補正が可能である。
【0034】また、光電変換素子4には、光源2以外か
らの室内照明などの外乱光が直接または間接的に入射す
る可能性がある。これらの影響を除去するために、光源
2をパルス状に発光させるなど、点滅させて駆動する。
これによって、外乱光による影響は光電変換素子8の出
力のオフセットとして現れる。このオフセットを除去す
ることにより、さらに正確な特性測定が可能となる。こ
の技術に関しては、例えば、トランジスタ技術、199
0−8、p473〜476に記載されているように、特
定の光パルスによる光源の駆動と、サンプルホールド等
によるオフセット除去回路を含んだPDの演算回路を含
むことが望ましい。
【0035】対象物1としては光を反射または散乱させ
る表面あるいは構成を有していればどのようなものでも
よく、例えば製造工程におけるワークや製品、あるいは
流通分野における貨物、さらには書類や証券類などの紙
葉類等でもよい。対象物1として紙葉類を扱う例とし
て、画像出力装置を示す。
【0036】図4は、本発明の画像出力装置の実施の一
形態を示す要部概略構成図である。図中、図7と同様の
部分には同じ符号を付して説明を省略する。11は測定
装置である。この例における対象物1は、紙などの被画
像形成媒体12である。また、測定装置11としては、
例えば図1に示した本発明の測定装置を用いることがで
きる。測定装置11は、定着工程13で画像を定着後、
排出ローラ14によって搬送されてきた被画像形成媒体
12上のトナーの濃度または色差等の特性を測定する。
被画像形成媒体12が排出される際に上下に変動する
が、測定装置11は上述のように出力の変動を補正する
ため、正確に特性を測定することができる。また、被画
像形成媒体12の搬送に対応してサンプリングを行なえ
ば、多くのサンプリング点について測定を行なうことが
できる。この測定結果をフィードバックすれば、1枚の
画像の中に存在する特性のばらつきについても的確に補
正することが可能となり、画質を向上させることが可能
となる。さらに、従来のように位置検出装置などを用い
ていないので、小型化および低価格化が容易である。
【0037】ここでは画像を定着後、排出工程において
特性を測定する例を示したが、これに限らず、現像、転
写等の他の工程間に設けても構わない。
【0038】測定する特性としては、光学的に計測可能
な任意の特性でよいが、例えば対象物1の色を測定する
場合には、図1に示した構成を複数個設けて、それぞれ
の光源2としてR,G,B等を発光する光源を用いる
か、または、フィルタ等によってR,G,B等の照射光
または反射光を透過させることにより、各色に関する出
力を得て、それらの出力に基づいて色を求めることが可
能である。あるいは、図1に示した構成を1組だけ設
け、光源2の発光色を順次切り換えて点灯させたり、あ
るいは、照射光または反射光の光路中にフィルタを切り
換え可能に配置し、順次切り換えることによって各色の
出力を得るように構成してもよい。例えば、図4に示し
た画像出力装置においても、カラー画像の形成できるカ
ラー画像出力装置に適用することが可能である。この場
合、測定値を例えば画像処理工程や、露光、現像、転写
工程等にフィードバックし、色調整を自動化することも
考えられる。
【0039】上述の説明では、対象物1の表面の一部に
のみ光源からの光を照射し、照射領域5を形成したが、
本発明はこれに限らず、例えば対象物1の表面の一部に
のみ光の照射されない非照射領域を形成してもよい。図
5は、本発明の測定装置および測定方法の実施の一形態
における変形例を示す概略構成図である。図中、9は非
照射領域、10は不透光板である。この例では、光源2
は対象物1の表面全体を照明する。光路中の一部に不透
光板10を配置し、非照射領域9を設けている。
【0040】この例のような場合にも、光電変換素子4
を、非照射領域9と非照射領域9以外の光の照射されて
いる領域との境界部分が光電変換素子4の受光面上に来
るようにする。さらに、対象物1がレンズ3に近づいた
場合に、非照射領域9の像が大きくなり、対象物1がレ
ンズ3から遠ざかった場合に、非照射領域9以外の光の
照射されている領域の像が大きくなるように配置する。
【0041】図5に示した例では、対象物1の右斜め上
から光を照射し、対象物1上の非照射領域9とそれ以外
の光の照射されている領域との境界のうち、右側の境界
の像が光電変換素子4上に形成されるように、光電変換
素子4をレンズ3の光軸に対して左側にずらして配置し
ている。このような構成により、対象物1がレンズ3に
近づいた場合には、非照射領域9が右側に移動し、光電
変換素子4の受光面における非照射領域9の像が左側に
移動して非照射領域9の像が大きくなる。これにより、
対象物1が近づいたことによる光量の増加を、非照射領
域9の像が大きくなることで相殺することができる。ま
た、対象物1がレンズ3から遠ざかった場合には、非照
射領域9が左側に移動し、光電変換素子4の受光面にお
ける非照射領域9の像が右側に移動して、非照射領域9
の像が小さくなる。これにより、対象物1が遠ざかった
ことによる光量の減少を、非照射領域9の像が小さくな
り、光の照射されている領域の像が大きくなることで相
殺することができる。
【0042】図6は、本発明の測定装置および測定方法
の実施の一形態における別の変形例を示す概略構成図で
ある。図中、21は発光領域、22は移動方向である。
この例は、対象物1自体が光を放射する場合の例であ
る。例えば、対象物1に光源が内蔵されており、発光領
域21から外部に光が放射されていたり、あるいは発光
領域21に燐光を発する物質が塗布されている場合が考
えられる。このような場合には、少なくとも測定点にお
いては光源2は不要であり、発光領域21からの光を光
電変換素子4で直接受光すればよい。
【0043】この例において、発光領域21を上述の照
射領域5と考えることによって、図6に示した構成によ
りレンズ3と対象物1との距離の違いによる光量の違い
を補正することができる。ただし、対象物1とレンズ3
との距離の違いに応じて発光領域21も移動しないと上
述の効果は得られないので、例えば図6に示した例で
は、図中、矢印で示した移動方向22に移動する場合に
有効である。
【0044】図6に示すような構成によれば、例えば対
象物1に組み込まれた光源の光量や色などの測定や、対
象物1の表面の燐光物質の有無などの検査などに応用す
ることが可能である。
【0045】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、対象物の位置が変動する場合においても、こ
の変動に依存せずに対象物の特性を正確に測定すること
が可能になる。このとき、距離検出センサを用いないの
で、安価に、また小型に構成できる。さらに、距離検出
センサとの位置の一致を考慮する必要はなく、測定点を
対象物1上の任意の点に取ることができ、高精度化する
ことができる。
【0046】また、このような測定装置あるいは測定方
法を画像出力装置に適用する際にも、安価かつ小型であ
るので適用は容易である。また、測定値が出力される時
点ですでに距離の違いによる影響が補正されているの
で、画像出力装置内の測定点よりも前の工程へ出力を高
速にフィードバックすることが可能となり、応答性が良
いので1枚の画像の中に存在する色等の特性のばらつき
などに対しても的確に測定し、補正を行なうことが可能
となる。これによって、従来得ることのできなかった高
画質の画像を得ることが可能となる、などの効果があ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の測定装置および測定方法の実施の一
形態を示す概略構成図である。
【図2】 本発明の測定装置および測定方法の実施の一
形態における動作原理の説明図である。
【図3】 本発明の測定装置および測定方法の実施の一
形態の動作の説明図である。
【図4】 本発明の画像出力装置の実施の一形態を示す
要部概略構成図である。
【図5】 本発明の測定装置および測定方法の実施の一
形態における変形例を示す概略構成図である。
【図6】 本発明の測定装置および測定方法の実施の一
形態における別の変形例を示す概略構成図である。
【図7】 従来の画像出力装置の一例を示す要部概略図
である。
【符号の説明】
1…対象物、2…光源、3…レンズ、4…光電変換素
子、5…照射領域、6…測定部、7…受光領域、8…散
乱点、9…非照射領域、10…不透光板、11…測定装
置、12…被画像形成媒体、13…定着工程、14…排
出ローラ、15…対象物特性測定装置、16…距離測定
装置、17…距離補正計算部、21…発光領域、22…
移動方向。

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 対象物に少なくとも明領域と暗領域を形
    成する光を照射する光源と、前記対象物上に配置され前
    記光源から照射される光の光路と所定の角度の光軸を有
    するレンズと、該レンズとの相対位置が一定であり前記
    レンズを介して前記対象物からの反射光または散乱光を
    受光する受光手段と、該受光手段の受光量に応じて所定
    の測定値を求める測定手段を有し、前記受光手段は、受
    光面の一端に前記対象物上の前記明領域の像が、また他
    端に前記対象物上の前記暗領域の像が存在し、前記対象
    物が前記レンズに近づいた場合に前記暗領域の像の領域
    が大きくなり、前記対象物が前記レンズから遠ざかった
    場合に前記明領域の像の領域が大きくなるように配置さ
    れていることを特徴とする測定装置。
  2. 【請求項2】 前記光源、前記レンズ、前記受光手段の
    組を複数組備え、それぞれの組における前記対象物への
    照射光の周波数を異ならせ、前記測定手段は前記各受光
    手段の受光量に基づいて前記対象物の色を測定すること
    を特徴とする請求項1に記載の測定装置。
  3. 【請求項3】 前記光源は、点滅して発光し、前記測定
    手段は前記光源の点灯時と消灯時の光量を前記受光手段
    から得て、点灯時の光量から消灯時の光量を除去するこ
    とを特徴とする請求項1または2に記載の測定装置。
  4. 【請求項4】 被画像形成部材に画像を形成する画像形
    成手段と、請求項1ないし3のいずれか1項に記載の測
    定装置を有し、該測定装置により被画像形成部材を前記
    対象物として測定を行ない測定値を前記画像形成手段へ
    フィードバック可能としたことを特徴とする画像出力装
    置。
  5. 【請求項5】 対象物上に配置されたレンズと、該レン
    ズとの相対位置が一定であり前記レンズを介して前記対
    象物の発光光を受光する受光手段と、該受光手段の受光
    量に応じて所定の測定値を求める測定手段を有し、前記
    受光手段は、受光面の一端に前記発光光の像が存在し、
    他端には前記発光光の像が存在せず、前記対象物が前記
    レンズに近づいた場合に前記発光光の像の領域が小さく
    なり、前記対象物が前記レンズから遠ざかった場合に前
    記発光光の像の領域が大きくなるように配置されている
    ことを特徴とする測定装置。
  6. 【請求項6】 対象物に光を照射して少なくとも明領域
    と暗領域を形成し、レンズを介して前記対象物からの反
    射光または散乱光を受光手段に結像させ、該受光手段
    は、受光面の一端に前記対象物上の前記明領域の像が、
    また他端に前記対象物上の前記暗領域の像が存在し、前
    記対象物が前記レンズに近づいた場合に前記暗領域の像
    の領域が大きくなり、前記対象物が前記レンズから遠ざ
    かった場合に前記明領域の像の領域が大きくなるような
    位置で前記対象物からの反射光または散乱光を受光し、
    受光量に応じて前記対象物の特性を測定することを特徴
    とする測定方法。
  7. 【請求項7】 前記対象物に対して異なる周波数の照射
    光を順次照射し、各照射光ごとに前記対象物からの反射
    光または散乱光を受光し、受光量に基づいて前記対象物
    の色を測定することを特徴とする請求項6に記載の測定
    方法。
  8. 【請求項8】 前記対象物に対して点滅した照射光を照
    射し、照射光の照射時と照射していない時の前記対象物
    からの反射光または散乱光を受光し、照射光を照射時の
    受光量から照射光を照射していない時の受光量を除去す
    ることを特徴とする請求項6または7に記載の測定方
    法。
  9. 【請求項9】 対象物が発する発光光をレンズを介して
    受光手段に結像させ、該受光手段は、受光面の一端に前
    記発光光の像が存在し、他端には前記発光光の像が存在
    せず、前記対象物が前記レンズに近づいた場合に前記発
    光光の像の領域が小さくなり、前記対象物が前記レンズ
    から遠ざかった場合に前記発光光の像の領域が大きくな
    るような位置で前記対象物からの発光光を受光し、受光
    量に応じて前記対象物の特性を測定することを特徴とす
    る測定方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2012070433A1 (ja) * 2010-11-22 2014-05-19 エイディシーテクノロジー株式会社 物体検出装置および光照射装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPWO2012070433A1 (ja) * 2010-11-22 2014-05-19 エイディシーテクノロジー株式会社 物体検出装置および光照射装置

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