JPH10153679A - 配管等の検査方法及び装置 - Google Patents
配管等の検査方法及び装置Info
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- JPH10153679A JPH10153679A JP8313339A JP31333996A JPH10153679A JP H10153679 A JPH10153679 A JP H10153679A JP 8313339 A JP8313339 A JP 8313339A JP 31333996 A JP31333996 A JP 31333996A JP H10153679 A JPH10153679 A JP H10153679A
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- Japan
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- pipe
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- damage
- laser beam
- piping
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E30/00—Energy generation of nuclear origin
- Y02E30/30—Nuclear fission reactors
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】原子力プラントや火力プラントの配管等の内面
に発生する損傷の形状と寸法を精度よく検知する方法及
び装置を提供する。 【解決手段】配管１に貫通孔７を設け、貫通孔７からレ
ーザ光線５０を入射して検査対象部位に照射し、レーザ
光線５０を所定面積内走査して、その反射レーザ光５１
の輝度像をとり、その輝度像を解析することによって配
管に発生した損傷の形状と寸法を知る。また、検査時に
配管を開放したところから、レーザ光線５０の入射機能
とレーザ光線の検出機能、及びレーザ光線照射点の走査
機能を有する小型モジュール１２０を配管の内部の検査
位置まで挿入し、検査対象部位におけるレーザ光線反射
像を取得して、配管内面の損傷を検出する。
に発生する損傷の形状と寸法を精度よく検知する方法及
び装置を提供する。 【解決手段】配管１に貫通孔７を設け、貫通孔７からレ
ーザ光線５０を入射して検査対象部位に照射し、レーザ
光線５０を所定面積内走査して、その反射レーザ光５１
の輝度像をとり、その輝度像を解析することによって配
管に発生した損傷の形状と寸法を知る。また、検査時に
配管を開放したところから、レーザ光線５０の入射機能
とレーザ光線の検出機能、及びレーザ光線照射点の走査
機能を有する小型モジュール１２０を配管の内部の検査
位置まで挿入し、検査対象部位におけるレーザ光線反射
像を取得して、配管内面の損傷を検出する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、原子力プラントや
火力プラントにおいて、その内面が腐食性の雰囲気にあ
る配管の健全性診断技術に関する。
火力プラントにおいて、その内面が腐食性の雰囲気にあ
る配管の健全性診断技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】例えば配管内面の腐食を、配管を使用し
ている状態からはずすこと無しに監視する方法として
は、例えば特開昭60−228912号公報にあるように、超音
波を入射しその反射波の周波数分析をすることで、腐食
状態の推定を行っていた。
ている状態からはずすこと無しに監視する方法として
は、例えば特開昭60−228912号公報にあるように、超音
波を入射しその反射波の周波数分析をすることで、腐食
状態の推定を行っていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】プラント等で使用して
いる配管の高精度な寿命評価をするためには、配管の内
面に発生する微小な腐食ピットの寸法や、微小なき裂の
寸法を精度よく定量化して、これらの損傷の定量値に基
づく評価を行う方法が最もよい。従来技術では、腐食の
程度を把握することができるが、損傷の形態や寸法を定
量的に知ることはできなかった。
いる配管の高精度な寿命評価をするためには、配管の内
面に発生する微小な腐食ピットの寸法や、微小なき裂の
寸法を精度よく定量化して、これらの損傷の定量値に基
づく評価を行う方法が最もよい。従来技術では、腐食の
程度を把握することができるが、損傷の形態や寸法を定
量的に知ることはできなかった。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記従来技術の課題を解
決するために、配管に貫通孔を設けておき、この貫通孔
を通して配管の内部にレーザ光を照射して、所定の面積
内をレーザ光で走査し、配管内周で反射するレーザ光の
輝度分布をＣＣＤカメラに納め、この輝度分布像を画像
処理して欠陥形態を抽出し、欠陥形態像を画像計測して
損傷寸法を定量化する。
決するために、配管に貫通孔を設けておき、この貫通孔
を通して配管の内部にレーザ光を照射して、所定の面積
内をレーザ光で走査し、配管内周で反射するレーザ光の
輝度分布をＣＣＤカメラに納め、この輝度分布像を画像
処理して欠陥形態を抽出し、欠陥形態像を画像計測して
損傷寸法を定量化する。
【０００５】また、従来技術の課題を解決するために、
配管系の内、検査時に取り外しができる部位から、レー
ザ光照射とレーザ光の検出ができる機能を有する検査モ
ジュールを配管の内部の検査対象部位まで挿入し、レー
ザ光を照射して、所定の面積内をレーザ光で走査し、配
管内周で反射するレーザ光の輝度分布をＣＣＤカメラに
納め、この輝度分布像を画像処理して欠陥形態を抽出
し、欠陥形態像を画像計測して損傷寸法を定量化する。
配管系の内、検査時に取り外しができる部位から、レー
ザ光照射とレーザ光の検出ができる機能を有する検査モ
ジュールを配管の内部の検査対象部位まで挿入し、レー
ザ光を照射して、所定の面積内をレーザ光で走査し、配
管内周で反射するレーザ光の輝度分布をＣＣＤカメラに
納め、この輝度分布像を画像処理して欠陥形態を抽出
し、欠陥形態像を画像計測して損傷寸法を定量化する。
【０００６】
【発明の実施の形態】主説明図である図１を用いて一つ
の実施例を説明する。配管１は配管３と溶接されてお
り、検査対象となる溶接部１０が存在する。配管１に
は、配管の端部２に近いところに貫通孔３が設けられて
おり、貫通孔３はフランジ４を有する構造となってい
る。また配管１には、配管の端部６に近いところに貫通
孔７が設けられており、貫通孔７はフランジ８を有する
構造となっている。プラントの運転中は、フランジ蓋１
５がボルト１６によって、フランジ４とフランジ８に固
定されている。フランジ蓋１５とフランジ４、及びフラ
ンジ蓋１５とフランジ８の間には、金属製パッキン１７
が挟まれており、配管１と配管５の内部を流れる流体２
０が外部に漏洩しない構造となっている。検査時には、
ボルト１６を抜いてフランジ蓋１５と金属製パッキン１
７をはずす。損傷検査用のレーザ光入射装置３０とＣＣ
Ｄカメラ４０は検査装置固定台４５に固定されており、
検査装置固定台４５は固定用ボルト４６によってフラン
ジ４及びフランジ８に固定される。レーザ光入射装置３
０は、Ｈｅ−Ｎｅレーザ光源３１，Ｘ方向走査用ミラー
３２，Ｘ方向走査用ミラー駆動装置３３，Ｙ方向走査用
ミラー３４，Ｙ方向走査用ミラー駆動装置３５，集光レ
ンズ３６から構成される。Ｈｅ−Ｎｅレーザ光源３１か
ら発射された入射レーザ光線５０は、Ｘ方向走査用ミラ
ー駆動装置３３により一軸方向に回転駆動されるＸ方向
走査用ミラー３２で所定の反射角で反射され、次にＹ方
向走査用ミラー駆動装置３５で一軸方向に回転駆動され
るＹ方向走査用ミラー３４で所定の反射角で反射され、
集光レンズ３６で集光されて入射レーザ光線通過窓４７
を通って配管５の内部に入り、溶接部１０を照射する。
溶接部１０で反射した反射レーザ光線５１は、反射レー
ザ光線通過窓４８を通って配管１の外部に出て、ＣＣＤ
カメラ４０に入る。ＣＣＤカメラ４０で取得した画像情
報は、画像処理装置６０で画像処理され、また画像計測
されて損傷評価用コンピュータ６１で寿命診断が行われ
る。
の実施例を説明する。配管１は配管３と溶接されてお
り、検査対象となる溶接部１０が存在する。配管１に
は、配管の端部２に近いところに貫通孔３が設けられて
おり、貫通孔３はフランジ４を有する構造となってい
る。また配管１には、配管の端部６に近いところに貫通
孔７が設けられており、貫通孔７はフランジ８を有する
構造となっている。プラントの運転中は、フランジ蓋１
５がボルト１６によって、フランジ４とフランジ８に固
定されている。フランジ蓋１５とフランジ４、及びフラ
ンジ蓋１５とフランジ８の間には、金属製パッキン１７
が挟まれており、配管１と配管５の内部を流れる流体２
０が外部に漏洩しない構造となっている。検査時には、
ボルト１６を抜いてフランジ蓋１５と金属製パッキン１
７をはずす。損傷検査用のレーザ光入射装置３０とＣＣ
Ｄカメラ４０は検査装置固定台４５に固定されており、
検査装置固定台４５は固定用ボルト４６によってフラン
ジ４及びフランジ８に固定される。レーザ光入射装置３
０は、Ｈｅ−Ｎｅレーザ光源３１，Ｘ方向走査用ミラー
３２，Ｘ方向走査用ミラー駆動装置３３，Ｙ方向走査用
ミラー３４，Ｙ方向走査用ミラー駆動装置３５，集光レ
ンズ３６から構成される。Ｈｅ−Ｎｅレーザ光源３１か
ら発射された入射レーザ光線５０は、Ｘ方向走査用ミラ
ー駆動装置３３により一軸方向に回転駆動されるＸ方向
走査用ミラー３２で所定の反射角で反射され、次にＹ方
向走査用ミラー駆動装置３５で一軸方向に回転駆動され
るＹ方向走査用ミラー３４で所定の反射角で反射され、
集光レンズ３６で集光されて入射レーザ光線通過窓４７
を通って配管５の内部に入り、溶接部１０を照射する。
溶接部１０で反射した反射レーザ光線５１は、反射レー
ザ光線通過窓４８を通って配管１の外部に出て、ＣＣＤ
カメラ４０に入る。ＣＣＤカメラ４０で取得した画像情
報は、画像処理装置６０で画像処理され、また画像計測
されて損傷評価用コンピュータ６１で寿命診断が行われ
る。
【０００７】他の実施例を図２で説明する。配管１００
と、例えば曲り管１０５は溶接部１１０で溶接されてい
る。曲り管１０５はプラントの検査時にフランジ１０６
で開放することができる。検査モジュール１２０は、レ
ーザ光線の入射機能とレーザ光線の検出機能、及びレー
ザ光線照射点の走査機能を有している。検査モジュール
１２０の構造を図３を用いて説明する。検査モジュール
１２０には、レーザ光線入射端子２００，レーザ光線の
集光レンズ２０１，レーザ光線を検出するＣＣＤカメラ
２０２があり、光ファイバ１２１を通して送られてきた
レーザ光線がレーザ光線入射端子２００から入射され、
集光レンズ２０１で集光された入射レーザ光線２１０が
観察窓２２２を通過して検査対象部位１９０に当たり、
反射して反射レーザ光線２１１となり、ＣＣＤカメラ２
０２で反射レーザ光線２１１が検出されて、検出像が配
線１２２で画像処理装置６０に送られる。検査モジュー
ル１２０は、可動ステージ２２１で、高精度に移動量が
制御されながら、検査対象部位１９０と平行な面内で直
交する２方向に移動することができ、入射レーザ光線２
１０で検査対象部位１９０の所定面積を走査することが
できる。検査モジュール１２０は、検査モジュール支持
台２２０で支持されている。図４は、検査モジュール支
持台２２０を図３の下側から見た図である。検査モジュ
ール支持台２２０における検査窓２２２の外周部には電
磁石２３０が設けてあり、検査中に検査モジュール支持
台２２０を完全固定することができる。図２に示されて
いるように、検査モジュール支持台２２０には金属製フ
レキシブルホース１２３が取り付けられており、配管外
部のドラム１２４を回転させて金属製フレキシブルホー
ス１２３を配管の内部に押し込むことにより、検査モジ
ュール１２０は配管の内部に入っていく。光ファイバ１
２１と配線１２２は、金属製フレキシブルホース１２３
に固定されており、金属製フレキシブルホース１２３を
送り込みと同時に配管内部に送られる。金属製フレキシ
ブルホース１２３の送り長さから、検査モジュール１２
０の位置を知ることができる。検査モジュール１２０の
中心が検査対象部位１９０に到達したら、電磁石２３０
で検査モジュール支持台２２０を配管１００と配管１０
５に固定する。配管が非磁性体でできている場合には、
配管１００と配管１０５の外側に、磁性物体１３０を設
置することにより、検査モジュール支持台２２０を固定
することができる。Ｈｅ−Ｎｅレーザ光源３１からレー
ザ光線を出し、検査対象部位１９０で反射したレーザ光
線の輝度の撮像をＣＣＤカメラ２０２で取得して、画像
処理装置６０に送る。取得画像は、画像処理装置６０で
画像処理され、また画像計測されて欠陥評価用コンピュ
ータ６１で寿命診断が行われる。
と、例えば曲り管１０５は溶接部１１０で溶接されてい
る。曲り管１０５はプラントの検査時にフランジ１０６
で開放することができる。検査モジュール１２０は、レ
ーザ光線の入射機能とレーザ光線の検出機能、及びレー
ザ光線照射点の走査機能を有している。検査モジュール
１２０の構造を図３を用いて説明する。検査モジュール
１２０には、レーザ光線入射端子２００，レーザ光線の
集光レンズ２０１，レーザ光線を検出するＣＣＤカメラ
２０２があり、光ファイバ１２１を通して送られてきた
レーザ光線がレーザ光線入射端子２００から入射され、
集光レンズ２０１で集光された入射レーザ光線２１０が
観察窓２２２を通過して検査対象部位１９０に当たり、
反射して反射レーザ光線２１１となり、ＣＣＤカメラ２
０２で反射レーザ光線２１１が検出されて、検出像が配
線１２２で画像処理装置６０に送られる。検査モジュー
ル１２０は、可動ステージ２２１で、高精度に移動量が
制御されながら、検査対象部位１９０と平行な面内で直
交する２方向に移動することができ、入射レーザ光線２
１０で検査対象部位１９０の所定面積を走査することが
できる。検査モジュール１２０は、検査モジュール支持
台２２０で支持されている。図４は、検査モジュール支
持台２２０を図３の下側から見た図である。検査モジュ
ール支持台２２０における検査窓２２２の外周部には電
磁石２３０が設けてあり、検査中に検査モジュール支持
台２２０を完全固定することができる。図２に示されて
いるように、検査モジュール支持台２２０には金属製フ
レキシブルホース１２３が取り付けられており、配管外
部のドラム１２４を回転させて金属製フレキシブルホー
ス１２３を配管の内部に押し込むことにより、検査モジ
ュール１２０は配管の内部に入っていく。光ファイバ１
２１と配線１２２は、金属製フレキシブルホース１２３
に固定されており、金属製フレキシブルホース１２３を
送り込みと同時に配管内部に送られる。金属製フレキシ
ブルホース１２３の送り長さから、検査モジュール１２
０の位置を知ることができる。検査モジュール１２０の
中心が検査対象部位１９０に到達したら、電磁石２３０
で検査モジュール支持台２２０を配管１００と配管１０
５に固定する。配管が非磁性体でできている場合には、
配管１００と配管１０５の外側に、磁性物体１３０を設
置することにより、検査モジュール支持台２２０を固定
することができる。Ｈｅ−Ｎｅレーザ光源３１からレー
ザ光線を出し、検査対象部位１９０で反射したレーザ光
線の輝度の撮像をＣＣＤカメラ２０２で取得して、画像
処理装置６０に送る。取得画像は、画像処理装置６０で
画像処理され、また画像計測されて欠陥評価用コンピュ
ータ６１で寿命診断が行われる。
【０００８】以上の実施例により取得された画像情報を
解析する方法について図５を用いて説明する。配管を供
用する前に、検査対象に成り得ると考えられる部位の初
期検査画像３００を、前述の実施例の方法で取得してお
く。配管の内面には加工傷等の凹凸が存在し、それらが
初期凹凸部３１０として検出される。ある期間供用した
配管の検査時に、初期検査画像３００を取得した部位で
検査を行い、検査画像３０１を取得する。検査画像３０
１には、初期凹凸部３１０以外に円形損傷320,線形損傷
３２５が存在する場合がある。検査画像３０１だけを見
ただけでは、どれが供用中に形成された損傷であるかが
分からない。そこで、検査画像３０１と初期検査画像３
００の輝度差画像３０２を取る。輝度差画像３０２に
は、供用中に形成された円形損傷３２０と線形損傷３２
５が存在する。輝度差画像３０２を、適当なしきい値を
もって二値化処理し、損傷を検出する。損傷が円形かあ
るいは円形に近ければ腐食ピットとみなし、線形か線形
に近いものであればき裂とみなす。腐食ピットと判断さ
れたものは画像計測により腐食ピット径を測定し、それ
らの内から最大値を取って最大腐食ピット径とする。き
裂と判断された場合には画像計測によりき裂長さを測定
し、それらの内から最大値を取って、最大き裂長さとす
る。検査に先立ってあらかじめ決めておいた許容限界腐
食ピット寸法と、許容限界き裂長さを、それぞれ検査結
果である最大腐食ピット径，最大き裂長さと比較し、最
大腐食ピット径や最大き裂長さが許容限界値以下であれ
ば、検査対象の配管は寿命に至っていないと判断する。
解析する方法について図５を用いて説明する。配管を供
用する前に、検査対象に成り得ると考えられる部位の初
期検査画像３００を、前述の実施例の方法で取得してお
く。配管の内面には加工傷等の凹凸が存在し、それらが
初期凹凸部３１０として検出される。ある期間供用した
配管の検査時に、初期検査画像３００を取得した部位で
検査を行い、検査画像３０１を取得する。検査画像３０
１には、初期凹凸部３１０以外に円形損傷320,線形損傷
３２５が存在する場合がある。検査画像３０１だけを見
ただけでは、どれが供用中に形成された損傷であるかが
分からない。そこで、検査画像３０１と初期検査画像３
００の輝度差画像３０２を取る。輝度差画像３０２に
は、供用中に形成された円形損傷３２０と線形損傷３２
５が存在する。輝度差画像３０２を、適当なしきい値を
もって二値化処理し、損傷を検出する。損傷が円形かあ
るいは円形に近ければ腐食ピットとみなし、線形か線形
に近いものであればき裂とみなす。腐食ピットと判断さ
れたものは画像計測により腐食ピット径を測定し、それ
らの内から最大値を取って最大腐食ピット径とする。き
裂と判断された場合には画像計測によりき裂長さを測定
し、それらの内から最大値を取って、最大き裂長さとす
る。検査に先立ってあらかじめ決めておいた許容限界腐
食ピット寸法と、許容限界き裂長さを、それぞれ検査結
果である最大腐食ピット径，最大き裂長さと比較し、最
大腐食ピット径や最大き裂長さが許容限界値以下であれ
ば、検査対象の配管は寿命に至っていないと判断する。
【０００９】
【発明の効果】本発明により、配管等に生じた損傷を、
形状及び寸法まで精度よく検出することが可能であり、
配管の健全性診断を高精度に行うことができる。
形状及び寸法まで精度よく検出することが可能であり、
配管の健全性診断を高精度に行うことができる。
【図１】配管溶接部を配管の外部からレーザ光線を入射
することによって検査する方法と装置の説明図。
することによって検査する方法と装置の説明図。
【図２】配管溶接部を配管開放部から入れた検査モジュ
ールを使って検査する方法と装置の説明図。
ールを使って検査する方法と装置の説明図。
【図３】配管開放部から配管内部に挿入する検査モジュ
ールの構造の説明図。
ールの構造の説明図。
【図４】検査モジュールを配管へ固定する手段の説明
図。
図。
【図５】検査画像から損傷を抽出する方法の説明図。
１，５…配管、２，６…配管端部、３，７…貫通孔、
４，８…フランジ、１０…溶接部、１５…フランジ蓋、
１６…ボルト、１７…金属製パッキン、２０…流体、３
０…レーザ光入射装置、３１…Ｈｅ−Ｎｅレーザ光源、
３２…Ｘ方向走査用ミラー、３３…Ｘ方向走査用ミラー
駆動装置、３４…Ｙ方向走査用ミラー、３５…Ｙ方向走
査用ミラー駆動装置、３６…集光レンズ、４０…ＣＣＤ
カメラ、４５…検査装置固定台、４６…固定用ボルト、
５０…入射レーザ光線、５１…反射レーザ光線、６０…
画像処理装置。
４，８…フランジ、１０…溶接部、１５…フランジ蓋、
１６…ボルト、１７…金属製パッキン、２０…流体、３
０…レーザ光入射装置、３１…Ｈｅ−Ｎｅレーザ光源、
３２…Ｘ方向走査用ミラー、３３…Ｘ方向走査用ミラー
駆動装置、３４…Ｙ方向走査用ミラー、３５…Ｙ方向走
査用ミラー駆動装置、３６…集光レンズ、４０…ＣＣＤ
カメラ、４５…検査装置固定台、４６…固定用ボルト、
５０…入射レーザ光線、５１…反射レーザ光線、６０…
画像処理装置。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 菅野 智 茨城県土浦市神立町502番地 株式会社日 立製作所機械研究所内 (72)発明者 天野 和雄 茨城県土浦市神立町502番地 株式会社日 立製作所機械研究所内 (72)発明者 宮崎 克雅 茨城県土浦市神立町502番地 株式会社日 立製作所機械研究所内 (72)発明者 服部 成雄 茨城県日立市幸町三丁目１番１号 株式会 社日立製作所日立工場内 (72)発明者 山本 道好 茨城県日立市幸町三丁目１番１号 株式会 社日立製作所日立工場内
Claims (12)
- 【請求項１】溶接配管の端部に近いところに封止が可能
な貫通する孔部を予め設けておき、配管を検査する際に
一方の配管の孔部から、直交する２方向に走査が可能な
機能を有するレーザ光を入射して配管の溶接部を照射
し、この位置で反射するレーザ光をもう一方の配管の貫
通部の配管外部で検出し、検出したレーザ光を解析して
溶接部の損傷を検出することを特徴とする溶接部の損傷
検査方法。 - 【請求項２】請求項１の検査方法により配管内面を検査
するために、レーザ光源，レーザ走査用角度可変型反射
ミラー，集光レンズ，ＣＣＤカメラ及び画像処理装置で
構成する配管の検査装置。 - 【請求項３】請求項２において、レーザ光源，レーザ走
査用角度可変型ミラー，集光レンズ，ＣＣＤカメラを一
体とし、さらに配管に固定できる機構を有する配管検査
装置の構成方法。 - 【請求項４】配管の端部近くに封止が可能な貫通部を有
し、請求項１の方法で検査ができるようにした配管。 - 【請求項５】一本の配管で、損傷が発生しやすい部位を
挟んで封止可能な二つの貫通孔を設け、請求項２の検査
装置を用いて請求項１の検査方法により配管の検査が行
えるようにした配管。 - 【請求項６】プラントの配管検査時に取り外しが可能な
部位から、レーザ光線の入射機能とレーザ光線の検出機
能、及びレーザ光線照射点の走査機能を有する小型モジ
ュールを配管の内部の検査位置まで挿入していき、検査
対象部位におけるレーザ光線反射像を取得して、配管内
面の損傷を検出することを特徴とする損傷検査方法。 - 【請求項７】請求項６の検査方法により配管内面を検査
するために、レーザ光源，レーザ光源から検査モジュー
ルまでの光ファイバ，ＣＣＤカメラ，検査モジュールを
直交する２方向に駆動するリニアウェイ付きステージ，
検査モジュールを配管内部に送り込むための金属製フレ
キシプルホース，画像処理装置で構成する配管の検査装
置。 - 【請求項８】請求項７の検査モジュールにおいて、検査
モジュールの底部に電磁石を有する損傷検査装置。 - 【請求項９】請求項６の検査方法を請求項７の検査装置
で実施するとき、検査対象が非磁性体の場合には検査部
位の外部に磁性体を設置して、検査モジュールの電磁石
との吸引ができるようにする検査モジュールの固定方
法。 - 【請求項１０】請求項２の損傷検出装置を用いて、配管
を使用する前に配管内面をレーザ走査したＣＣＤ撮像デ
ータを保存しておき、配管検査時の撮像データとの差画
像をつくり、その差画像を適当なしきい値を設けて二値
化して損傷の形態を抽出する損傷検出方法。 - 【請求項１１】請求項６において、その形態が円形かま
たはそれに近いものであれば損傷が腐食ピットであると
判断し、画像計測によって最大腐食ピット径を測定し、
あらかじめ定めておいた許容最大腐食ピット径と比較す
ることにより、配管の余寿命診断を行う配管の余寿命診
断方法。 - 【請求項１２】請求項６において、その形態が線形かま
たはそれに近いものであれば損傷がき裂であると判断
し、画像計測によって最大き裂長さを測定し、あらかじ
め定めておいた許容最大き裂長さと比較することによ
り、配管の余寿命診断を行う配管の余寿命診断方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8313339A JPH10153679A (ja) | 1996-11-25 | 1996-11-25 | 配管等の検査方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8313339A JPH10153679A (ja) | 1996-11-25 | 1996-11-25 | 配管等の検査方法及び装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10153679A true JPH10153679A (ja) | 1998-06-09 |
Family
ID=18040062
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8313339A Pending JPH10153679A (ja) | 1996-11-25 | 1996-11-25 | 配管等の検査方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10153679A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006519369A (ja) * | 2003-02-21 | 2006-08-24 | ムルカイ，グイド，デー．，カー． ダ | 腐食と表面欠陥を走査するための方法と装置 |
| JP2015031335A (ja) * | 2013-08-01 | 2015-02-16 | 東京都 | 管内作業装置 |
| KR101953853B1 (ko) * | 2017-09-04 | 2019-03-04 | 주식회사 동양에프앤씨 | 배관용 이물질 측정 장치 |
| JP2022083893A (ja) * | 2020-11-25 | 2022-06-06 | 株式会社ブリヂストン | 配管劣化診断方法、及び、配管劣化診断システム |
-
1996
- 1996-11-25 JP JP8313339A patent/JPH10153679A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006519369A (ja) * | 2003-02-21 | 2006-08-24 | ムルカイ，グイド，デー．，カー． ダ | 腐食と表面欠陥を走査するための方法と装置 |
| JP2015031335A (ja) * | 2013-08-01 | 2015-02-16 | 東京都 | 管内作業装置 |
| KR101953853B1 (ko) * | 2017-09-04 | 2019-03-04 | 주식회사 동양에프앤씨 | 배관용 이물질 측정 장치 |
| JP2022083893A (ja) * | 2020-11-25 | 2022-06-06 | 株式会社ブリヂストン | 配管劣化診断方法、及び、配管劣化診断システム |
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