JPH10155921A - 放射線治療装置 - Google Patents
放射線治療装置Info
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- JPH10155921A JPH10155921A JP33309796A JP33309796A JPH10155921A JP H10155921 A JPH10155921 A JP H10155921A JP 33309796 A JP33309796 A JP 33309796A JP 33309796 A JP33309796 A JP 33309796A JP H10155921 A JPH10155921 A JP H10155921A
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- Radiation-Therapy Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 1パルス当たりの線量を測定しこの測定量を
帰還して該線量を一定に制御して安定した電子線を照射
できる放射線治療装置を提供する。 【解決手段】 上記課題は、マイクロ波を発生するマイ
クロ波発生部からのマイクロ波に生成される電場を胴内
に発生し、電子銃からの電子線を打ち込んで該電場によ
って前記電子線を円軌道運動させて加速するマイクロト
ロン1と、この加速電子線を搬送する電子線搬送系2
と、この搬送した加速電子線を患者に照射するガントリ
ー3と、ガントリー3からの加速電子線の照射線量を検
出する透過型線量計4と、マイクロトロン1と電子線搬
送系2とガントリー3の電子線量を制御するフィラメン
ト電源制御部17と、前記入力部は所定の照射線量の線
量率を設定入力する設定線量率入力部19と、前記装置
制御部は前記設定入力した照射線量率と前記線量計測系
からの照射線量を比較するCPU38を備とを備えたこ
とで解決される。
帰還して該線量を一定に制御して安定した電子線を照射
できる放射線治療装置を提供する。 【解決手段】 上記課題は、マイクロ波を発生するマイ
クロ波発生部からのマイクロ波に生成される電場を胴内
に発生し、電子銃からの電子線を打ち込んで該電場によ
って前記電子線を円軌道運動させて加速するマイクロト
ロン1と、この加速電子線を搬送する電子線搬送系2
と、この搬送した加速電子線を患者に照射するガントリ
ー3と、ガントリー3からの加速電子線の照射線量を検
出する透過型線量計4と、マイクロトロン1と電子線搬
送系2とガントリー3の電子線量を制御するフィラメン
ト電源制御部17と、前記入力部は所定の照射線量の線
量率を設定入力する設定線量率入力部19と、前記装置
制御部は前記設定入力した照射線量率と前記線量計測系
からの照射線量を比較するCPU38を備とを備えたこ
とで解決される。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、マイクロトロンを
有する放射線治療装置に係り、特に前記マイクロトロン
から照射する電子線の照射線量を一定に保つとともに、
マイクロ波の反射波を監視して反射波のエネルギーが前
記マイクロトロンを破損したりすることを未然に防いで
安定した動作ができるマイクロトロンを備えた放射線治
療装置に関する。
有する放射線治療装置に係り、特に前記マイクロトロン
から照射する電子線の照射線量を一定に保つとともに、
マイクロ波の反射波を監視して反射波のエネルギーが前
記マイクロトロンを破損したりすることを未然に防いで
安定した動作ができるマイクロトロンを備えた放射線治
療装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図7は、従来の放射線治療装置のブロッ
ク図である。図7に示す様に、従来の線量率制御装置
は、照射線量率を装置に入力する設定線量率入力部19
と、照射前にあらかじめ設定される設定線量率36に応
じてパルスビームの繰返し周波数を決めるパルスビーム
の繰返し周波数制御部18と、前記パルスビームの繰返
し周波数制御部18が出力するパルスビームの繰返し周
波数で動作するトリガーパルス信号に同期して、カソー
ド6及びマイクロ波発生装置8に高圧パルス信号28を
供給する高圧パルス発生装置13と、高圧パルス発生装
置13からの高圧パルス信号28をさらに昇圧する高圧
パルストランス11と、電子をマイクロ波電場で加速す
る加速空洞7と、加速空洞7にマイクロ波24を供給す
るマイクロ波発生装置8と、加速空洞7に加速用電子を
供給するカソード6で構成されている。
ク図である。図7に示す様に、従来の線量率制御装置
は、照射線量率を装置に入力する設定線量率入力部19
と、照射前にあらかじめ設定される設定線量率36に応
じてパルスビームの繰返し周波数を決めるパルスビーム
の繰返し周波数制御部18と、前記パルスビームの繰返
し周波数制御部18が出力するパルスビームの繰返し周
波数で動作するトリガーパルス信号に同期して、カソー
ド6及びマイクロ波発生装置8に高圧パルス信号28を
供給する高圧パルス発生装置13と、高圧パルス発生装
置13からの高圧パルス信号28をさらに昇圧する高圧
パルストランス11と、電子をマイクロ波電場で加速す
る加速空洞7と、加速空洞7にマイクロ波24を供給す
るマイクロ波発生装置8と、加速空洞7に加速用電子を
供給するカソード6で構成されている。
【0003】次に上記従来装置の動作について説明す
る。照射が開始されると、パルスビームの繰返し周波数
制御部18は、設定線量率入力部19からの設定線量率
36に応じた、ある一定の周期をもつトリガーパルス信
号37を高圧パルス発生装置13に送る。高圧パルス発
生装置13はトリガーパルス信号37に同期した高圧パ
ルス信号28を高圧パルストランス11で昇圧してマイ
クロ波発生装置8とカソード6に送る。マイクロ波発生
装置8とカソード6は、高圧パルス信号28が印加され
ている間だけ動作し、マイクロ波発生装置8はマイクロ
波24を、カソード6は加速用電子であるカソード電流
22を、それぞれマイクロトロン内の加速空洞7に供給
する。そして、カソード6から加速空洞7へ放出された
電子は、加速空洞7内でマイクロ波24がつくるマイク
ロ波電場45により加速される。
る。照射が開始されると、パルスビームの繰返し周波数
制御部18は、設定線量率入力部19からの設定線量率
36に応じた、ある一定の周期をもつトリガーパルス信
号37を高圧パルス発生装置13に送る。高圧パルス発
生装置13はトリガーパルス信号37に同期した高圧パ
ルス信号28を高圧パルストランス11で昇圧してマイ
クロ波発生装置8とカソード6に送る。マイクロ波発生
装置8とカソード6は、高圧パルス信号28が印加され
ている間だけ動作し、マイクロ波発生装置8はマイクロ
波24を、カソード6は加速用電子であるカソード電流
22を、それぞれマイクロトロン内の加速空洞7に供給
する。そして、カソード6から加速空洞7へ放出された
電子は、加速空洞7内でマイクロ波24がつくるマイク
ロ波電場45により加速される。
【0004】マイクロトロン1で加速される電子は連続
ビームではなく、図8の様にトリガーパルス信号37に
より、高圧パルス信号28が印加されている時だけ加速
されるパルスビームである。線量率は、パルスビームの
繰返し周波数と1パルスビーム当たりの線量に比例して
おり、線量率をDR、パルスビームの繰返し周波数をP
RF、1パルス当たりの線量をDPPとすれば、 DR=PRF×DPP×k (1) となる関係式が成り立つ。kは変換係数であり、照射す
るエネルギーに依存する。
ビームではなく、図8の様にトリガーパルス信号37に
より、高圧パルス信号28が印加されている時だけ加速
されるパルスビームである。線量率は、パルスビームの
繰返し周波数と1パルスビーム当たりの線量に比例して
おり、線量率をDR、パルスビームの繰返し周波数をP
RF、1パルス当たりの線量をDPPとすれば、 DR=PRF×DPP×k (1) となる関係式が成り立つ。kは変換係数であり、照射す
るエネルギーに依存する。
【0005】従来の線量率制御(主にX線の場合)は、
設定線量率36に応じてこのパルスビームの繰返し周波
数を変更することで線量率を変更している。設定線量率
入力部19から設定線量率36が入力されると、パルス
ビームの繰返し周波数制御部18は、この設定線量率3
6に応じてパルスビームの繰返し周波数を決定する。設
定線量率をDRs、設定繰返し周波数をPRFsとする
と、設定繰返し周波数は式(1)より次の式 PRFs=DRs/(DPP×k) (2) で求められる。従来技術においては式(2)の1パルス
当たりの照射線量DPPは据付け調整時及び定期点検時
に調整されるだけで、通常使用時においては調整するこ
とがなかった。そして、線量率制御は、1パルス当たり
の照射線量DPPは一定と想定し、パルスビームの繰返
し周波数を、設定線量率に応じて、ある一つの値に設定
することで線量率を変更していた。
設定線量率36に応じてこのパルスビームの繰返し周波
数を変更することで線量率を変更している。設定線量率
入力部19から設定線量率36が入力されると、パルス
ビームの繰返し周波数制御部18は、この設定線量率3
6に応じてパルスビームの繰返し周波数を決定する。設
定線量率をDRs、設定繰返し周波数をPRFsとする
と、設定繰返し周波数は式(1)より次の式 PRFs=DRs/(DPP×k) (2) で求められる。従来技術においては式(2)の1パルス
当たりの照射線量DPPは据付け調整時及び定期点検時
に調整されるだけで、通常使用時においては調整するこ
とがなかった。そして、線量率制御は、1パルス当たり
の照射線量DPPは一定と想定し、パルスビームの繰返
し周波数を、設定線量率に応じて、ある一つの値に設定
することで線量率を変更していた。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
放射線治療装置の1パルス当たりの線量は、様々な放射
線の照射モードのそれぞれについて調整しなければなら
ず煩雑であったので、放射線治療装置の据付け時又は定
期点検時にしか調整されず通常使用時においては調整す
ることがなかったから、マイクロトロンの使用により次
第にその胴内に打ち出されたマイクロ波の信号レベルが
増大する現象により実際の1パルス当たりの線量が変化
し、設定した線量率と異なってきてしまうという問題が
あった。
放射線治療装置の1パルス当たりの線量は、様々な放射
線の照射モードのそれぞれについて調整しなければなら
ず煩雑であったので、放射線治療装置の据付け時又は定
期点検時にしか調整されず通常使用時においては調整す
ることがなかったから、マイクロトロンの使用により次
第にその胴内に打ち出されたマイクロ波の信号レベルが
増大する現象により実際の1パルス当たりの線量が変化
し、設定した線量率と異なってきてしまうという問題が
あった。
【0007】本発明は、上記問題点を解決するためにな
されたものであり、その目的は、1パルス当たりの線量
を測定しこの測定量を帰還して該線量を一定に制御する
ことにより、1パルス当たりの線量が変動することを防
ぎ、安定した電子線を照射できる放射線治療装置を提供
することにある。
されたものであり、その目的は、1パルス当たりの線量
を測定しこの測定量を帰還して該線量を一定に制御する
ことにより、1パルス当たりの線量が変動することを防
ぎ、安定した電子線を照射できる放射線治療装置を提供
することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的は、加熱された
カソード部に高圧を印加して得る電子線をマイクロ波に
よって加速するマイクロトロンと、この加速された電子
線の照射線量を検出する線量率計測系と、前記マイクロ
トロンを制御する装置制御部と、この装置制御部に前記
マイクロトロンの制御データを入力する入力部を具備し
た放射線治療装置において、前記入力部は該加速電子線
の設定線量率を入力する設定線量率入力部を備え、前記
装置制御部は前記線量率計測系で検出した線量率が前記
設定線量率となるように、前記カソード部からの電子線
の量を制御することで達成される。
カソード部に高圧を印加して得る電子線をマイクロ波に
よって加速するマイクロトロンと、この加速された電子
線の照射線量を検出する線量率計測系と、前記マイクロ
トロンを制御する装置制御部と、この装置制御部に前記
マイクロトロンの制御データを入力する入力部を具備し
た放射線治療装置において、前記入力部は該加速電子線
の設定線量率を入力する設定線量率入力部を備え、前記
装置制御部は前記線量率計測系で検出した線量率が前記
設定線量率となるように、前記カソード部からの電子線
の量を制御することで達成される。
【0009】また、前記装置制御部は、前記マイクロ波
の反射波を検出する反射マイクロ波検出部と、この反射
マイクロ波の大きさに応じて前記電子線の量を制御して
もよい。また、前記装置制御部は、前記反射マイクロ波
の許容信号レベルを記憶する許容信号レベル記憶部と、
前記反射マイクロ波検出部から検出した反射マイクロ波
の信号レベルが前記許容信号レベル以上となったとき、
前記加速電子線の照射を停止若しくは中断してもよい。
の反射波を検出する反射マイクロ波検出部と、この反射
マイクロ波の大きさに応じて前記電子線の量を制御して
もよい。また、前記装置制御部は、前記反射マイクロ波
の許容信号レベルを記憶する許容信号レベル記憶部と、
前記反射マイクロ波検出部から検出した反射マイクロ波
の信号レベルが前記許容信号レベル以上となったとき、
前記加速電子線の照射を停止若しくは中断してもよい。
【0010】
【発明の実施の形態】本発明の放射線治療装置の実施の
一形態について図面を参照して説明する。図1は本発明
の放射線治療装置の線量率制御装置の一実施の形態を示
すブロック図である。
一形態について図面を参照して説明する。図1は本発明
の放射線治療装置の線量率制御装置の一実施の形態を示
すブロック図である。
【0011】ここで示す放射線治療装置は、放射線治療
装置に線量率を設定する設定線量率入力部19と、ガン
トリー3の照射ヘッド内にあって照射線量を検出するた
めの透過型線量計4と、設定線量率入力部4から送られ
てくる設定線量率信号36に応じてパルスビームの繰返
し周波数を決定し高圧パルス発生装置13にパルスビー
ムの繰返し周波数を持つトリガーパルス信号37を送る
パルスビームの繰返し周波数制御部18と、パルスビー
ムの繰返し周波数制御部18からのトリガーパルス信号
37に同期した高圧パルス信号28をマイクロトロン1
に供給する高圧パルス発生装置13と、高圧パルス発生
装置13からの高圧パルス信号28をさらに昇圧し、カ
ソード6とマイクロ波発生装置8に印加するための高圧
パルストランス11と、加速空洞7に加速用電子である
カソード電流22を供給するカソード6と、カソードを
熱電子23で加熱するフィラメント5と、電子加速用マ
イクロ波24を加速空洞7に供給するマイクロ波発生装
置8と、マイクロ波発生装置8からのマイクロ波24を
加速空洞まで導くための導波管9と、カソードから放出
された電子をマイクロ波発生装置8からのマイクロ波電
場で加速する加速空洞7と、加速空洞7においてマイク
ロ波電場による電子加速がうまくいかず、マイクロ波2
4のエネルギーが電子加速のために利用されないため導
波管9に戻ってくるマイクロ波(反射波)を検出するた
めの反射波検出用アンテナ12と、反射波検出用アンテ
ナ12からの反射波モニター信号30をサンプリング
し、直流信号に変換する反射波信号検出部15と、カソ
ード6から加速空洞7へ放出されるカソード電流22を
検出するためのカレントトランス10と、カレントトラ
ンス10からのカソード電流モニター信号29をサンプ
リングして直流信号に変換するカソード電流検出部14
と、フィラメント5にフィラメント電流26を供給する
フィラメント電源16と、透過型線量計4の透過型線量
計信号35から照射線量、照射線量率を検出する線量計
測部20と、線量計測部20からの線量率信号34によ
りフィラメント電源16を制御するフィラメント電源制
御部17で構成されている。
装置に線量率を設定する設定線量率入力部19と、ガン
トリー3の照射ヘッド内にあって照射線量を検出するた
めの透過型線量計4と、設定線量率入力部4から送られ
てくる設定線量率信号36に応じてパルスビームの繰返
し周波数を決定し高圧パルス発生装置13にパルスビー
ムの繰返し周波数を持つトリガーパルス信号37を送る
パルスビームの繰返し周波数制御部18と、パルスビー
ムの繰返し周波数制御部18からのトリガーパルス信号
37に同期した高圧パルス信号28をマイクロトロン1
に供給する高圧パルス発生装置13と、高圧パルス発生
装置13からの高圧パルス信号28をさらに昇圧し、カ
ソード6とマイクロ波発生装置8に印加するための高圧
パルストランス11と、加速空洞7に加速用電子である
カソード電流22を供給するカソード6と、カソードを
熱電子23で加熱するフィラメント5と、電子加速用マ
イクロ波24を加速空洞7に供給するマイクロ波発生装
置8と、マイクロ波発生装置8からのマイクロ波24を
加速空洞まで導くための導波管9と、カソードから放出
された電子をマイクロ波発生装置8からのマイクロ波電
場で加速する加速空洞7と、加速空洞7においてマイク
ロ波電場による電子加速がうまくいかず、マイクロ波2
4のエネルギーが電子加速のために利用されないため導
波管9に戻ってくるマイクロ波(反射波)を検出するた
めの反射波検出用アンテナ12と、反射波検出用アンテ
ナ12からの反射波モニター信号30をサンプリング
し、直流信号に変換する反射波信号検出部15と、カソ
ード6から加速空洞7へ放出されるカソード電流22を
検出するためのカレントトランス10と、カレントトラ
ンス10からのカソード電流モニター信号29をサンプ
リングして直流信号に変換するカソード電流検出部14
と、フィラメント5にフィラメント電流26を供給する
フィラメント電源16と、透過型線量計4の透過型線量
計信号35から照射線量、照射線量率を検出する線量計
測部20と、線量計測部20からの線量率信号34によ
りフィラメント電源16を制御するフィラメント電源制
御部17で構成されている。
【0012】次に本発明の放射線治療装置の作用につい
て、図1乃至図5を用いて説明する。設定線量率入力部
19で照射線量率が設定されると、設定線量率入力部1
9は、設定線量率信号36をパルスビームの繰返し周波
数制御部18に送る。パルスビームの繰返し周波数制御
部18は、設定線量率信号36を受け取ると次の式
(3)によりビームの繰返し周波数を算出する。 PRFs=DRs/(DPPs×k) (3) PRFs;パルスビームの繰返し周波数 DRs ;設定線量率 DPPs;1パルス当たりの目標線量 k ;PRFs算出係数(エネルギーに依存する)
て、図1乃至図5を用いて説明する。設定線量率入力部
19で照射線量率が設定されると、設定線量率入力部1
9は、設定線量率信号36をパルスビームの繰返し周波
数制御部18に送る。パルスビームの繰返し周波数制御
部18は、設定線量率信号36を受け取ると次の式
(3)によりビームの繰返し周波数を算出する。 PRFs=DRs/(DPPs×k) (3) PRFs;パルスビームの繰返し周波数 DRs ;設定線量率 DPPs;1パルス当たりの目標線量 k ;PRFs算出係数(エネルギーに依存する)
【0013】ここで、DPPsは、1パルス当たりの線
量の目標値であり、調整時及びメンテナンス時の調整に
より決まる。この1パルス当たりの線量は、以下に詳細
に述べるが、カソード電流の変化に応じて変化する。調
整時には、カソード電流をカソード電流可変範囲の中心
値に調整し、1パルス当たりの線量値を調整する。
量の目標値であり、調整時及びメンテナンス時の調整に
より決まる。この1パルス当たりの線量は、以下に詳細
に述べるが、カソード電流の変化に応じて変化する。調
整時には、カソード電流をカソード電流可変範囲の中心
値に調整し、1パルス当たりの線量値を調整する。
【0014】照射が開始されると、パルスビームの繰返
し周波数制御部18は、上記(式3)にて算出した繰返
し周波数のトリガーパルス信号37を高圧パルス発生装
置13へ送る。高圧パルス発生装置13は、前記トリガ
ーパルス信号37に同期した高圧パルス信号28を高圧
パルストランス11で昇圧して、マイクロ波発生装置8
とカソード6に送り、高圧パルスが加わっている期間だ
けマイクロ波発生装置8を駆動しマイクロ波信号24を
発生させるとともに、カソード6に加速用電子であるカ
ソード電流22を放出させる。マイクロ波発生装置8か
ら出力されたマイクロ波24は、導波管9を伝わり加速
空洞7へ送られ、カソードから放出された電子を、加速
空洞7内においてマイクロ波電場で加速する。加速され
た電子は、加速空洞7からマイクロトロン1内に出力さ
れる。加速空洞内からマイクロトロン1へ出力された電
子は、マイクロトロン1内の磁場の影響を受け、円軌道
を描き再度加速空洞7に戻る。
し周波数制御部18は、上記(式3)にて算出した繰返
し周波数のトリガーパルス信号37を高圧パルス発生装
置13へ送る。高圧パルス発生装置13は、前記トリガ
ーパルス信号37に同期した高圧パルス信号28を高圧
パルストランス11で昇圧して、マイクロ波発生装置8
とカソード6に送り、高圧パルスが加わっている期間だ
けマイクロ波発生装置8を駆動しマイクロ波信号24を
発生させるとともに、カソード6に加速用電子であるカ
ソード電流22を放出させる。マイクロ波発生装置8か
ら出力されたマイクロ波24は、導波管9を伝わり加速
空洞7へ送られ、カソードから放出された電子を、加速
空洞7内においてマイクロ波電場で加速する。加速され
た電子は、加速空洞7からマイクロトロン1内に出力さ
れる。加速空洞内からマイクロトロン1へ出力された電
子は、マイクロトロン1内の磁場の影響を受け、円軌道
を描き再度加速空洞7に戻る。
【0015】そして、再度マイクロ波電場で加速され、
より大きなエネルギーを持ち、加速空洞7から出て行
く。より大きなエネルギーを持った電子は、エネルギー
増加にともない、磁場内でさらに大きな半径をもつ円軌
道を描き加速空洞に戻ってくる。この様にして、電子は
マイクロトロン1内の磁場中を円軌道を描きながら、加
速空洞7に入力するたびに加速空洞7内でマイクロ電場
で加速され、しだいに大きなエネルギーになる。
より大きなエネルギーを持ち、加速空洞7から出て行
く。より大きなエネルギーを持った電子は、エネルギー
増加にともない、磁場内でさらに大きな半径をもつ円軌
道を描き加速空洞に戻ってくる。この様にして、電子は
マイクロトロン1内の磁場中を円軌道を描きながら、加
速空洞7に入力するたびに加速空洞7内でマイクロ電場
で加速され、しだいに大きなエネルギーになる。
【0016】マイクロトロンは、トリガパルス信号37
に同期した高圧パルス信号28が発生されている間だけ
上記の様にして電子を加速する。そして、線量率は加速
された電子ビームの1パルス当たりの線量と、前記トリ
ガパルス信号でしているマイクロトロンのパルスビーム
の繰返し周波数の積に比例する。
に同期した高圧パルス信号28が発生されている間だけ
上記の様にして電子を加速する。そして、線量率は加速
された電子ビームの1パルス当たりの線量と、前記トリ
ガパルス信号でしているマイクロトロンのパルスビーム
の繰返し周波数の積に比例する。
【0017】また、カソード6はフィラメント5からの
熱電子23で加熱されている。フィラメント5とカソー
ド6間には、数キロボルトオーダの電圧が印加されてお
り、フィラメント5にフィラメント電流23を流すとフ
ィラメント5からカソード6に熱電子23が放出され
る。この熱電子23により、カソード6は、加熱され
る。そして、カソード6に数キロ〜数十キロボルトの高
圧電圧を印加すると、カソード6から加速空洞7内に電
子が放出される。カソード6から放出される電子量(カ
ソード電流22)は、カソード温度に依存しており、一
般に、カソード温度が高いほど多くの電子がカソード6
から放出される。
熱電子23で加熱されている。フィラメント5とカソー
ド6間には、数キロボルトオーダの電圧が印加されてお
り、フィラメント5にフィラメント電流23を流すとフ
ィラメント5からカソード6に熱電子23が放出され
る。この熱電子23により、カソード6は、加熱され
る。そして、カソード6に数キロ〜数十キロボルトの高
圧電圧を印加すると、カソード6から加速空洞7内に電
子が放出される。カソード6から放出される電子量(カ
ソード電流22)は、カソード温度に依存しており、一
般に、カソード温度が高いほど多くの電子がカソード6
から放出される。
【0018】よって、フィラメント5に流れるフィラメ
ント電流22を変化させると、フィラメント5からカソ
ード6に放出される熱電子23が変化し、カソード6の
温度が変化する。そして、カソード6から放出されるカ
ソード電流22が変化するので、フィラメント電流23
を制御することでカソード電流22を制御することがで
きる。
ント電流22を変化させると、フィラメント5からカソ
ード6に放出される熱電子23が変化し、カソード6の
温度が変化する。そして、カソード6から放出されるカ
ソード電流22が変化するので、フィラメント電流23
を制御することでカソード電流22を制御することがで
きる。
【0019】また、カソード電流22と1パルス当たり
の線量は、一般に図3のような関係がある。図3は、カ
ソード電流と1パルス当たりの線量の関係を示すグラフ
である。1パルス当たりの線量は、カソード電流22を
増加させると減少し、カソード電流22を減少させると
増加する。しかし、図3に示すように、カソード電流2
2をあまり大きく変化させ、マイクロトロン1の安定加
速領域から外れてしまうと、電子がまったく加速されな
くなることが理解できる。
の線量は、一般に図3のような関係がある。図3は、カ
ソード電流と1パルス当たりの線量の関係を示すグラフ
である。1パルス当たりの線量は、カソード電流22を
増加させると減少し、カソード電流22を減少させると
増加する。しかし、図3に示すように、カソード電流2
2をあまり大きく変化させ、マイクロトロン1の安定加
速領域から外れてしまうと、電子がまったく加速されな
くなることが理解できる。
【0020】そこでこのような安定加速領域をあらかじ
めデータとして入力しておき、その領域内でカソード電
流22を制御してやれば、1パルス当たりの線量を制御
可能である。安定加速領域は、オペレータの手動で、フ
ィラメント電流23を変化させることでカソード電流2
2を変化させて、線量率の状態を監視して、安定加速領
域をあらかじめ調査する方法と、コンピュータ等で、自
動でカソード電流22の量をフィラメント電流23を変
化させることで変更し、実際に照射される線量率を自動
的に調査して、安定領域を求める方法とが考えられる。
めデータとして入力しておき、その領域内でカソード電
流22を制御してやれば、1パルス当たりの線量を制御
可能である。安定加速領域は、オペレータの手動で、フ
ィラメント電流23を変化させることでカソード電流2
2を変化させて、線量率の状態を監視して、安定加速領
域をあらかじめ調査する方法と、コンピュータ等で、自
動でカソード電流22の量をフィラメント電流23を変
化させることで変更し、実際に照射される線量率を自動
的に調査して、安定領域を求める方法とが考えられる。
【0021】以上の様にして求めた安定加速領域内にお
いて、フィラメント電流23を制御することで、カソー
ド電流22を制御してやれば、1パルス当たりの線量が
一定になるように制御することが可能である。
いて、フィラメント電流23を制御することで、カソー
ド電流22を制御してやれば、1パルス当たりの線量が
一定になるように制御することが可能である。
【0022】次にフィラメント電源制御部17について
説明する。図2は図1のフィラメント電源制御部の構成
例を示すブロック図である。
説明する。図2は図1のフィラメント電源制御部の構成
例を示すブロック図である。
【0023】フィラメント電源制御部17は、フィラメ
ント電源16の制御を行うため各種演算処理を行うCP
U38と、各種プログラム、データの記憶部であるメモ
リー39と、設定線量率入力部19からの設定線量率3
6を読込むための設定線量率入力インターフェース41
と、線量計測部20からの実際に照射されている線量率
信号34を読込むための線量率入力インターフェース4
0と、カソード電流検出部14で直流信号に変換したカ
ソード電流信号31を読込むためのA/Dコンバータ4
2(A/D1)と、反射波電流検出部15で直流信号に
変換した反射波信号32を読込むためのA/Dコンバー
タ43(A/D2)と、フィラメント電源16を制御す
るためのD/Aコンバータ44(D/A)と、その他周
辺機器(フィラメント電源とのインターフェースには、
シリアル通信、パラレル通信等、その他にも、一般的な
各種インターフェース)と接続するA/Dコンバータ群
(A/D3)で構成されている。
ント電源16の制御を行うため各種演算処理を行うCP
U38と、各種プログラム、データの記憶部であるメモ
リー39と、設定線量率入力部19からの設定線量率3
6を読込むための設定線量率入力インターフェース41
と、線量計測部20からの実際に照射されている線量率
信号34を読込むための線量率入力インターフェース4
0と、カソード電流検出部14で直流信号に変換したカ
ソード電流信号31を読込むためのA/Dコンバータ4
2(A/D1)と、反射波電流検出部15で直流信号に
変換した反射波信号32を読込むためのA/Dコンバー
タ43(A/D2)と、フィラメント電源16を制御す
るためのD/Aコンバータ44(D/A)と、その他周
辺機器(フィラメント電源とのインターフェースには、
シリアル通信、パラレル通信等、その他にも、一般的な
各種インターフェース)と接続するA/Dコンバータ群
(A/D3)で構成されている。
【0024】上記で構成されているフィラメント制御部
17のCPU38は、設定線量率36を設定線量率入力
部19から読込み、次の式(4)から1パルス当たりの
目標線量を算出する。 DPPs=DRs/(PRFs×k) (4) DPPs;1パルス当たりの目標線量 DRs ;設定線量率 PRFs;パルスビームの繰返し周波数 k ;変換係数(放射線のエネルギーに依存する)
17のCPU38は、設定線量率36を設定線量率入力
部19から読込み、次の式(4)から1パルス当たりの
目標線量を算出する。 DPPs=DRs/(PRFs×k) (4) DPPs;1パルス当たりの目標線量 DRs ;設定線量率 PRFs;パルスビームの繰返し周波数 k ;変換係数(放射線のエネルギーに依存する)
【0025】パルスビームの繰返し周波数は、パルスビ
ームの繰返し周波数制御部18において、設定線量率3
6に応じて決定される。
ームの繰返し周波数制御部18において、設定線量率3
6に応じて決定される。
【0026】照射が開始されると、カソード6から、カ
ソード電流22が放出される。このカソード電流22
は、高圧パルストランス11の出力に設置されたカレン
トトランス10でモニターすることができる。このカソ
ード電流22のモニター信号は、一般に図4の様な波形
信号である。図4は、カソード周辺の装置を示す図であ
る。この波形信号はカソード電流検出部で図5の様に波
形の中央部分をサンプリングされる。図5はカソード電
流のサンプリングの態様を示す図である。このサンプリ
ングされた信号は直流信号に変換されてフィラメント電
源制御部17へ送られる。フィラメント電源制御部17
は、この直流変換されたカソード電流信号31をA/D
コンバータから読込み、カソード電流22を把握する。
ソード電流22が放出される。このカソード電流22
は、高圧パルストランス11の出力に設置されたカレン
トトランス10でモニターすることができる。このカソ
ード電流22のモニター信号は、一般に図4の様な波形
信号である。図4は、カソード周辺の装置を示す図であ
る。この波形信号はカソード電流検出部で図5の様に波
形の中央部分をサンプリングされる。図5はカソード電
流のサンプリングの態様を示す図である。このサンプリ
ングされた信号は直流信号に変換されてフィラメント電
源制御部17へ送られる。フィラメント電源制御部17
は、この直流変換されたカソード電流信号31をA/D
コンバータから読込み、カソード電流22を把握する。
【0027】フィラメント電源制御部17のCPU38
は、照射が開始されると、線量率計測部20から送られ
てくる線量率信号34を線量率入力インターフェース4
0から読込み、実際に照射されている線量率を把握す
る。そして、次の式(5)から実際の1パルス当たりの
線量を算出する。 DPPa=DRa/(PRF×k) (5) DPPa;1パルス当たりの実線量 DRa ;実際の線量率 PRF ;パルスビームの繰返し周波数 k ;変換係数(放射線のエネルギーに依存する) CPU38は、この1パルス当たりの実線量と、式
(3)で求めた1パルス当たりの目標線量DPPsから
式(6)の様なエラー信号εを計算する。 ε=DPPs−DPPa (6)
は、照射が開始されると、線量率計測部20から送られ
てくる線量率信号34を線量率入力インターフェース4
0から読込み、実際に照射されている線量率を把握す
る。そして、次の式(5)から実際の1パルス当たりの
線量を算出する。 DPPa=DRa/(PRF×k) (5) DPPa;1パルス当たりの実線量 DRa ;実際の線量率 PRF ;パルスビームの繰返し周波数 k ;変換係数(放射線のエネルギーに依存する) CPU38は、この1パルス当たりの実線量と、式
(3)で求めた1パルス当たりの目標線量DPPsから
式(6)の様なエラー信号εを計算する。 ε=DPPs−DPPa (6)
【0028】そして、このεが0になるようにフィラメ
ント電源16を制御し、フィラメント電流26を制御す
ることで、フィラメント電流26の変化に伴って変化す
るカソード電流22を制御する。
ント電源16を制御し、フィラメント電流26を制御す
ることで、フィラメント電流26の変化に伴って変化す
るカソード電流22を制御する。
【0029】カソード電流検出部14からくる直流変換
されたカソード電流信号31は、カソード電流値がマイ
クロトロンの安定加速領域内にあることを確認するため
に用いられ、フィラメント電流変化によって変化するカ
ソード電流値を常時モニターしながら、安定加速領域内
においてフィラメント制御を行なう。そして、カソード
電流22が安定領域から外れた場合、即座にフィラメン
ト電流26を制御して、カソード電流22を安定領域に
戻す。以上の様にして、実際に照射されている線量率の
フィードバック信号を利用して、フィラメント電流制御
でカソード電流制御を行い、カソード電流に依存する1
パルス当たりの線量を制御することで1パルス当たりの
線量を一定に保ち、線量率の安定化を図る。
されたカソード電流信号31は、カソード電流値がマイ
クロトロンの安定加速領域内にあることを確認するため
に用いられ、フィラメント電流変化によって変化するカ
ソード電流値を常時モニターしながら、安定加速領域内
においてフィラメント制御を行なう。そして、カソード
電流22が安定領域から外れた場合、即座にフィラメン
ト電流26を制御して、カソード電流22を安定領域に
戻す。以上の様にして、実際に照射されている線量率の
フィードバック信号を利用して、フィラメント電流制御
でカソード電流制御を行い、カソード電流に依存する1
パルス当たりの線量を制御することで1パルス当たりの
線量を一定に保ち、線量率の安定化を図る。
【0030】また、制御に利用する前記エラー信号を、
設定線量率と実際に照射されている線量率の差分から次
の式(7)の様にして求め、このエラー信号が0になる
ように制御を行なっても同様に制御可能である。 εd=DRs−DRa (7) DRs;設定線量率 DRa;実際の線量率
設定線量率と実際に照射されている線量率の差分から次
の式(7)の様にして求め、このエラー信号が0になる
ように制御を行なっても同様に制御可能である。 εd=DRs−DRa (7) DRs;設定線量率 DRa;実際の線量率
【0031】また、電子がマイクロトロン内加速空洞7
において安定して加速されているかどうかは、加速空洞
7からの反射波の状態を調べてもわかる。マイクロ波発
生装置8から導波管9を伝わり加速空洞7に送られるマ
イクロ波24のエネルギーは、加速空洞7内で電子を加
速するために利用される。しかし、加速空洞7内におい
て電子加速がうまくいかず、マイクロ波エネルギーが電
子に吸収されないと、マイクロ波24は、導波管9に戻
ってくる。この加速空洞7から戻ってくるマイクロ波が
反射波である。反射波は、通常図6の(A)の様な中心
部分が凹形状をしている。
において安定して加速されているかどうかは、加速空洞
7からの反射波の状態を調べてもわかる。マイクロ波発
生装置8から導波管9を伝わり加速空洞7に送られるマ
イクロ波24のエネルギーは、加速空洞7内で電子を加
速するために利用される。しかし、加速空洞7内におい
て電子加速がうまくいかず、マイクロ波エネルギーが電
子に吸収されないと、マイクロ波24は、導波管9に戻
ってくる。この加速空洞7から戻ってくるマイクロ波が
反射波である。反射波は、通常図6の(A)の様な中心
部分が凹形状をしている。
【0032】しかし、加速空洞7内で電子加速が十分さ
れず反射波が増加すると、図6の(B)の様に真ん中の
凹みが盛り上がった形状になる。この反射波の真ん中部
分をサンプリングし、直流信号に変換することで、反射
波の量を計測することができる。
れず反射波が増加すると、図6の(B)の様に真ん中の
凹みが盛り上がった形状になる。この反射波の真ん中部
分をサンプリングし、直流信号に変換することで、反射
波の量を計測することができる。
【0033】カソード電流が安定加速領域から大きく変
化した場合、電子が十分に加速されなかったり、サンプ
リングした反射波信号が増加する。この反射波信号の発
生を認識することで、カソード電流を制御すると、線量
率を利用して制御するよりも、より早く加速異常を認識
することが可能であり、線量率変動より早く対応するこ
とが可能になる。
化した場合、電子が十分に加速されなかったり、サンプ
リングした反射波信号が増加する。この反射波信号の発
生を認識することで、カソード電流を制御すると、線量
率を利用して制御するよりも、より早く加速異常を認識
することが可能であり、線量率変動より早く対応するこ
とが可能になる。
【0034】また、このような反射波の発生は導波管9
およびマイクロ波発生装置8などのマイクロ波の発生系
を破損する固有周波数になるおそれがある。これを防止
するため、反射波信号が増大する場合は、パルスビーム
の繰返し周波数制御部18にトリガーパルス停止信号4
7を送り、パルスビームの繰返し周波数制御部18から
高圧パルス発生装置13に送られるトリガーパルス37
を一旦停止し、マイクロトロン1の電子加速を一旦中断
する。カソード電流22が安定加速領域の中心値周辺に
なるようにに流れているフィラメント電流値に一旦戻
し、再度トリガーパルス37を再開させ、照射を開始す
ることで、マイクロ波系の反射波による破損を未然に防
止し、かつ装置を一旦完全に停止させることなく復帰で
きるから、従来の放射線治療装置で反射波による不具合
が生じたときに装置全体を停止することなく連続して電
子線を照射することが可能になる。
およびマイクロ波発生装置8などのマイクロ波の発生系
を破損する固有周波数になるおそれがある。これを防止
するため、反射波信号が増大する場合は、パルスビーム
の繰返し周波数制御部18にトリガーパルス停止信号4
7を送り、パルスビームの繰返し周波数制御部18から
高圧パルス発生装置13に送られるトリガーパルス37
を一旦停止し、マイクロトロン1の電子加速を一旦中断
する。カソード電流22が安定加速領域の中心値周辺に
なるようにに流れているフィラメント電流値に一旦戻
し、再度トリガーパルス37を再開させ、照射を開始す
ることで、マイクロ波系の反射波による破損を未然に防
止し、かつ装置を一旦完全に停止させることなく復帰で
きるから、従来の放射線治療装置で反射波による不具合
が生じたときに装置全体を停止することなく連続して電
子線を照射することが可能になる。
【0035】
【発明の効果】本発明は、上述した構成を有し、それぞ
れの構成が作用するので、1パルス当たりの線量を測定
しこの測定量を帰還して該線量を一定に制御することに
より、1パルス当たりの線量が変動することを防ぎ、安
定した電子線を照射できる放射線治療装置を提供すると
いう効果を奏する。
れの構成が作用するので、1パルス当たりの線量を測定
しこの測定量を帰還して該線量を一定に制御することに
より、1パルス当たりの線量が変動することを防ぎ、安
定した電子線を照射できる放射線治療装置を提供すると
いう効果を奏する。
【図1】本発明の一実施例を示すブロック図である。
【図2】本発明の制御部の一実施例を示すブロック図で
ある。
ある。
【図3】カソード電流と1パルス当たりの線量の関係を
示すグラフである。
示すグラフである。
【図4】カソード周辺の装置を示す図である。
【図5】カソード電流のサンプリングの態様を示す図で
ある。
ある。
【図6】正常加速時の反射波信号と加速が十分でない時
の反射波信号を示す図である。
の反射波信号を示す図である。
【図7】従来装置のブロック図である。
【図8】パルスビームの様子を示した図である。
40 線量率入力インターフェース 41 設定線量率入力インターフェース 42 カソード電流信号読込み用A/Dコンバータ 43 反射波信号読込み用A/Dコンバータ 44 フィラメント電源制御用D/Aコンバータ 45 フィラメント電源監視用A/Dコンバータ
Claims (3)
- 【請求項1】 加熱されたカソード部に高圧を印加して
得る電子線をマイクロ波によって加速するマイクロトロ
ンと、この加速された電子線の照射線量を検出する線量
率計測系と、前記マイクロトロンを制御する装置制御部
と、この装置制御部に前記マイクロトロンの制御データ
を入力する入力部を具備した放射線治療装置において、
前記入力部は該加速電子線の設定線量率を入力する設定
線量率入力部を備え、前記装置制御部は前記線量率計測
系で検出した線量率が前記設定線量率となるように、前
記カソード部からの電子線の量を制御することを特徴と
する放射線治療装置。 - 【請求項2】 前記装置制御部は、前記マイクロ波の反
射波を検出する反射マイクロ波検出部と、この反射マイ
クロ波の大きさに応じて前記電子線の量を制御すること
特徴とする請求項1に記載の放射線治療装置。 - 【請求項3】 前記装置制御部は、前記反射マイクロ波
の許容信号レベルを記憶する許容信号レベル記憶部と、
前記反射マイクロ波検出部から検出した反射マイクロ波
の信号レベルが前記許容信号レベル以上となったとき、
前記加速電子線の照射を停止若しくは中断することを特
徴とする請求項2に記載の放射線治療装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33309796A JPH10155921A (ja) | 1996-11-29 | 1996-11-29 | 放射線治療装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33309796A JPH10155921A (ja) | 1996-11-29 | 1996-11-29 | 放射線治療装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10155921A true JPH10155921A (ja) | 1998-06-16 |
Family
ID=18262252
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33309796A Pending JPH10155921A (ja) | 1996-11-29 | 1996-11-29 | 放射線治療装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10155921A (ja) |
-
1996
- 1996-11-29 JP JP33309796A patent/JPH10155921A/ja active Pending
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