JPH10160571A - 分光光度計 - Google Patents

分光光度計

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JPH10160571A
JPH10160571A JP8334998A JP33499896A JPH10160571A JP H10160571 A JPH10160571 A JP H10160571A JP 8334998 A JP8334998 A JP 8334998A JP 33499896 A JP33499896 A JP 33499896A JP H10160571 A JPH10160571 A JP H10160571A
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JP
Japan
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light
integrating sphere
window
sample
light beam
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JP8334998A
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Inventor
Osamu Ando
修 安藤
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Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 積分球による測定精度を向上する。 【解決手段】 積分球10には試料測定光束LSの入射
窓11、反射窓12、光検出窓13を設け、拡散反射光
を試料側光検出器23にて検出する。一方、参照光束L
Rは積分球10の外側に設けた参照側光検出器24にて
検出する。そして、両検出信号を加算アンプ27により
加算した後に演算処理し反射率等を算出する。これによ
り、積分球の開口率を小さくできるので拡散光の捕集効
率がよくなると共に、窓が少ないので積分球の設計が容
易になる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は分光光度計に関し、
特に積分球測定部を用いたダブルビーム式の分光光度計
に関する。
【0002】
【従来の技術】図2は、従来の分光光度計における積分
球測定部の構成を示す図である。この測定部には、同一
光源から発した光を二分割した試料測定光束LS及び参
照光束LRが近接して略平行に導入される。各光束LS、
LRはそれぞれ反射鏡21、22で反射され、試料測定
光束入射窓31及び参照光束入射窓34を通して積分球
30内部に導びかれる。積分球30は反射率の良好な内
面を有しており、導入された両光束LS、LRはそれぞれ
試料測定光束反射窓32及び参照光束反射窓35の開口
に至る。反射窓32、35の外側至近の測定試料載置位
置a及び参照試料載置位置bにはそれぞれ例えば未知試
料及び標準白板が配置され、その未知試料及び標準白板
で鏡面反射した光は積分球30内部を図2に示すように
進み、鏡面光除去窓36から積分球30外部に取り出さ
れる。
【0003】一方、未知試料及び標準白板で拡散反射し
た光は種々の方向に進み、積分球30の内面で反射を繰
り返す。積分球30の適宜の箇所には光検出窓33が開
口され、拡散反射光の大部分は光検出窓33から出てそ
の外側至近に配置された光検出器23の受光面に到達す
る。光検出器23は受光光の強度に応じた検出信号を出
力し、この信号はアンプ25で増幅された後に演算処理
部28に入力される。
【0004】上記構成のダブルビーム式の積分球測定部
では、以下のように試料の拡散反射率(又は透過率)を
測定する。まず、測定試料載置位置a及び参照試料載置
位置bに、それぞれ100%拡散反射の標準白板を置
く。試料測定光束LS及び参照光束LRは交互に照射され
るので、光検出器23は試料測定光束LSに対する10
0%拡散光の検出信号S(100)と参照光束LRに対する1
00%拡散光の検出信号Rとを交互に出力する。この信
号に基づき、演算処理部28は両検出信号の比D(100)
=S(100)/Rを算出する。次に、測定試料載置位置a
に測定対象の未知試料を置き、光検出器23において試
料測定光束LSに対する未知試料の拡散光の検出信号S
(S)と参照光束LRに対する100%拡散光の検出信号R
とを得る。この信号に基づき、演算処理部28は両検出
信号の比D(S)=S(S)/Rを算出し、更にD(100)とD
(S)の比T=D(S)/D(100)=S(S)/S(100)を計算す
ることにより反射率を算出する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記構成において積分
球30は拡散光を効率よく光検出窓33に集めることが
目的であるから、球に近い形状であるほど理想的であ
り、開口率(内面積に対する開口面積の比率)が小さい
ほど好ましい。しかしながら、上述のように従来の積分
球測定部では積分球30に多くの窓を開口させなければ
ならず、開口率が大きくなって拡散光の捕集効率が劣化
してしまう。
【0006】また、この種の分光光度計では一般に直径
が60〜200mm程度の積分球が使用されるが、この
ような積分球に上述の如く多数の窓を最適の位置に設け
る設計はかなり困難である。すなわち、試料や標準白板
における光の入反射角度が大きいと偏光方向による拡散
反射率の相違が大きくなり正確な測定が行なえなくなる
ため、その入反射角度は小さい(通常10°程度以下)
ほうが好ましい。このような入反射角度や両光束LS、
LRの間隔等の諸制約条件の下に、試料測定光束入射窓
31、参照光束入射窓34、試料測定光束反射窓32、
参照光束反射窓35及び共通の鏡面光除去窓36を配置
しなければならない。
【0007】本発明は上記課題を解決するために成され
たものであり、その目的とするところは、積分球測定部
の測定精度や感度を向上すると共に、積分球の設計を容
易にすることができる分光光度計を提供することにあ
る。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に成された本発明は、試料測定光束及び参照光束を用い
るダブルビーム型の分光光度計において、 a)光入射窓から導入した試料測定光を光反射窓の外側近
傍に配置した試料に照射し、該試料からの拡散反射光を
内面に反射させて光検出窓に導くように、光入射窓、光
反射窓及び光検出窓を適宜の位置に開口した積分球と、 b)前記光検出窓を通して積分球の外側に取り出された光
を検出する第1の光検出手段と、 c)前記積分球の外部において参照光束を検出する第2の
光検出手段と、 d)第1及び第2の光検出手段の検出信号を基に、試料の
光学的な特性を示す指標値を算出する演算手段と、を備
えることを特徴としている。
【0009】
【発明の実施の形態】本発明に係る分光光度計では、試
料測定光束のみが光入射窓を通して積分球内部に導入さ
れ、光反射窓の外側近傍に配置されている試料に当たっ
て反射する。拡散反射光は種々の方向に進み、積分球の
内面で反射を繰り返して光検出窓に到達すると積分球か
ら出て第1の光検出手段により受光される。従って第1
の光検出手段は、試料からの拡散反射光の強度に応じた
検出信号を出力する。一方、積分球の外側に配置された
第2の光検出手段は試料測定光束とは相違する光路を通
る参照光束を受光し、この受光光の強度に応じた検出信
号を出力する。
【0010】例えば、第1及び第2の光検出手段の出力
信号は加算アンプ等を用いてアナログ的に加算される。
試料測定光束と参照光束とが交互に照射されると、加算
アンプの出力には、試料からの拡散反射光に対応する検
出信号と参照光束に対応する検出信号とが交互に得られ
る。そこで、この両者の検出信号を用いて、演算手段
は、従来と同様に試料の光学的な特性を示す指標値とし
て反射率や透過率を算出する。勿論、第1及び第2の光
検出手段による検出信号をアナログ的に加算せずに、例
えばそれぞれディジタル信号に変換した後に演算処理を
行なってもよい。
【0011】なお、試料からの鏡面反射光を除いた拡散
反射率のみを算出する場合には、試料からの鏡面反射光
を積分球の外部に取り出すための鏡面光除去窓を積分球
の適宜の箇所に設けるようにすればよい。
【0012】
【発明の効果】本発明に係る分光光度計によれば、積分
球には光入射窓、光反射窓及び光検出窓、更に必要に応
じて鏡面光除去窓の最大4個の窓を設けるのみでよいの
で、従来の積分球と比較して開口率を小さくすることが
できる。このため、拡散反射光を効率よく光検出窓に集
めることができ、測定の精度が向上する。また、積分球
に設ける窓の数が減り且つ窓の位置の制約が緩やかにな
るので、積分球自体の設計が容易になるのみならず、外
部の部品配置の自由度が増し、大きな積分球を用いつつ
測定部を小形にすることができる。
【0013】
【実施例】以下、本発明に係る分光光度計の一実施例に
ついて図を参照しつつ説明する。図1は本実施例の分光
光度計における積分球測定部の構成図である。積分球1
0には、入射窓11、反射窓12、光検出窓13及び鏡
面光除去窓14がそれぞれ所定位置に開口している。光
検出窓13の外側至近には試料側光検出器23が配置さ
れる一方、積分球10の外側には参照側光検出器24が
配置されている。両光検出器23、24の検出信号はそ
れぞれ試料側アンプ25、参照側アンプ26で増幅され
た後に加算アンプ27にてアナログ的に加算される。加
算アンプ27の出力信号は演算処理部28へ入力されて
いる。
【0014】図2の従来の分光光度計と同様に、同一光
源から発した光を二分割した試料測定光束LS及び参照
光束LRはこの測定部に近接して略平行に導入される。
試料測定光束LSは反射鏡21で反射され、入射窓11
を通して積分球10内部に導びかれる。この試料測定光
束LSは反射窓12の外側至近の測定試料載置位置aに
置かれた試料に当たり、鏡面反射光は図1に示すように
進んで鏡面光除去窓14から積分球10外部に取り出さ
れる。試料で拡散反射した光は積分球10の内面で反射
を繰り返して光検出窓13に至り、試料側光検出器23
により検出される。一方、参照光束LRは反射鏡22で
反射され後に、直接、参照側光検出器24により検出さ
れる。すなわち、本実施例の構成では、参照光束LRは
積分球10内部を通過しない。
【0015】まず、測定試料載置位置aに100%拡散
反射の標準白板を置き、測定を行なう。従来と同様に試
料測定光束LSと参照光束LRとが交互に照射されると、
試料側光検出器23では、試料測定光束LSが照射され
る期間にその試料測定光束LSに対する100%拡散光
の検出信号S(100)が出力され、参照光束LRが照射され
る期間にはその出力は零となる(厳密には暗電流に応じ
た微小ノイズが出力される)。一方、参照側光検出器2
4では、参照光束LRが照射される期間にその参照光束
LRに対する検出信号Rが出力され、試料測定光束LSが
照射される期間にはその出力は零となる。加算アンプ2
7では両検出信号が加算されるので、その出力信号には
試料測定光束LSに対する100%拡散光の検出信号S
(100)と参照光束LRに対する検出信号Rとが交互に現わ
れる。従って、この出力信号に基づいて、演算処理部2
8は両検出信号の比D(100)=S(100)/Rを算出する。
【0016】次に、測定試料載置位置aに測定対象の未
知試料を置き同様の測定を行なうと、加算アンプ27の
出力信号には試料測定光束LSに対する未知試料の拡散
光の検出信号S(S)と参照光束LRに対する検出信号Rと
が交互に現われる。これにより、演算処理部28は両検
出信号の比D(S)=S(S)/Rを算出し、更にD(100)と
D(S)の比T=D(S)/D(100)=S(S)/S(100)を計算
することにより反射率を算出する。
【0017】以上のように、本実施例の分光光度計で
は、参照光束LRが光検出器に到達するまでの光路に積
分球を含んでいないが、反射率等の計算の過程で参照光
束LRに対する検出信号Rの影響はないので、拡散反射
光の捕集効率が高くなる分だけ測定精度が改善される。
但し、例えば、標準白板測定時と未知試料測定時とで周
囲温度が相違しており、試料側光検出器23と参照側光
検出器24との温度依存性の相違が大きいと、反射率の
計算の過程で参照光束LR側の検出信号Rの温度変動分
が影響して精度の低下を招く。従って、試料側光検出器
23と参照側光検出器24とは、できる限り特性の揃っ
たものを用いることが好ましい。
【0018】なお、上記実施例では加算アンプ27によ
りアナログ的に両検出信号を加算していたが、それぞれ
A/D変換器によりディジタル信号に変換し、その後に
演算処理を行なって加算又は同等の処理を行なうように
してもよい。
【0019】また、上記実施例は一例であって、本発明
の趣旨の範囲で適宜変形や修正を行なえることは明らか
である。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係る分光光度計の実施例における積
分球測定部の構成図。
【図2】 従来の分光光度計の積分球測定部の構成図。
【符号の説明】
10…積分球 11…入射窓 12…反射窓 13…光検出窓 23…試料側光検出器 24…参照側光検出器 27…加算アンプ 28…演算処理部

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 試料測定光束及び参照光束を用いるダブ
    ルビーム型の分光光度計において、 a)光入射窓から導入した試料測定光を光反射窓の外側近
    傍に配置した試料に照射し、該試料からの拡散反射光を
    内面に反射させて光検出窓に導くように、光入射窓、光
    反射窓及び光検出窓を適宜の位置に開口した積分球と、 b)前記光検出窓を通して積分球の外側に取り出された光
    を検出する第1の光検出手段と、 c)前記積分球の外部において参照光束を検出する第2の
    光検出手段と、 d)第1及び第2の光検出手段の検出信号を基に、試料の
    光学的な特性を示す指標値を算出する演算手段と、 を備えることを特徴とする分光光度計。
JP8334998A 1996-11-29 1996-11-29 分光光度計 Pending JPH10160571A (ja)

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JP8334998A JPH10160571A (ja) 1996-11-29 1996-11-29 分光光度計

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Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20040302