JPH10160850A - Positron ECT device - Google Patents
Positron ECT deviceInfo
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- JPH10160850A JPH10160850A JP33474596A JP33474596A JPH10160850A JP H10160850 A JPH10160850 A JP H10160850A JP 33474596 A JP33474596 A JP 33474596A JP 33474596 A JP33474596 A JP 33474596A JP H10160850 A JPH10160850 A JP H10160850A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 マスクデータ収集手法によるエミッションデ
ータ・トランスミッションデータ同時収集方式でのデー
タの定量性を高める。
【解決手段】 検出器11のすべての対から一様に出力
を生じさせたときにTマスク処理回路14、Eマスク処
理回路15を経たアドレス信号をTCDメモリ23とE
CDメモリ25に導いてTCDデータとECDデータを
収集し、これらを用いてEマスク感度補正回路27でE
マスク感度不均一性を補正したエミッションデータEt
を得るとともに、Tマスク感度補正回路26でTマスク
感度不均一性を補正しかつエミッションデータを除いた
真のトランスミッションデータTtを得る。
(57) [Summary] [PROBLEMS] To improve the quantitativeness of data in a simultaneous emission data / transmission data collection method using a mask data collection method. SOLUTION: When an output is uniformly generated from all pairs of detectors 11, an address signal passed through a T mask processing circuit 14 and an E mask processing circuit 15 is transmitted to a TCD memory 23 and an E mask processing circuit.
The data is guided to a CD memory 25 to collect TCD data and ECD data.
Emission data Et corrected for mask sensitivity non-uniformity
And the T mask sensitivity correction circuit 26 corrects the T mask sensitivity non-uniformity and obtains the true transmission data Tt excluding the emission data.
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、多数の検出器を
リング型に配列したポジトロンECT装置に関し、とく
にマスクデータ収集手法によるエミッションデータ・ト
ランスミッションデータ同時収集方式のポジトロンEC
T装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a positron ECT apparatus having a large number of detectors arranged in a ring, and more particularly, to a positron EC of a simultaneous acquisition system of emission data and transmission data by a mask data acquisition technique.
It relates to a T device.
【0002】[0002]
【従来の技術】ポジトロンECT装置は、ポジトロン放
出性の放射性核種を用い、その消滅ガンマ線を検出して
核種の分布像を撮影するものである。たとえば人体にポ
ジトロン放出性の放射性核種で標識された薬剤を投与す
ると、特定の臓器に集積する。そのとき人体の外部に放
出されてくるガンマ線を、人体外に配置した検出器で検
出してデータを収集する。消滅ガンマ線は180゜反対
の方向に放出されるので、1対の検出器に同時に入射し
たことを検出し、その1対の検出器を結ぶ線上に核種が
存在していることのデータを得る。このような同時計数
によって収集したデータを所定のアルゴリズムで処理す
ることにより、所定の断面での核種の濃度分布像を再構
成する。この再構成画像は特定の臓器の診断のために用
いられる。2. Description of the Related Art A positron ECT apparatus uses a positron-emitting radionuclide, detects an annihilated gamma ray, and takes an image of the nuclide distribution. For example, when a drug labeled with a positron-emitting radionuclide is administered to the human body, it accumulates in specific organs. At that time, gamma rays emitted outside the human body are detected by a detector arranged outside the human body to collect data. Since the annihilation gamma ray is emitted in the direction opposite to 180 °, it is detected that the annihilation gamma ray is incident on a pair of detectors at the same time, and data that a nuclide exists on a line connecting the pair of detectors is obtained. By processing data collected by such coincidence counting according to a predetermined algorithm, a concentration distribution image of nuclides at a predetermined cross section is reconstructed. This reconstructed image is used for diagnosis of a specific organ.
【0003】被検体外部でガンマ線を検出する検出器と
してシンチレーション検出器などが用いられ、これが多
数リング型に配列される。この検出器のリング型配列の
平面に位置している核種からのガンマ線のうち上記の平
面に平行に放出されたものがリング型に配列された検出
器のどれかに入射して検出されるので、被検体のこの平
面(スライス面)でのデータが収集されることになり、
再構成画像はこのスライス面における核種の濃度分布像
ということになる。[0003] A scintillation detector or the like is used as a detector for detecting gamma rays outside the subject, and these are arranged in a number of rings. Since the gamma rays emitted from the nuclides located in the plane of the ring array of this detector and emitted in parallel with the above plane enter one of the ring-arranged detectors and are detected. , The data of the subject in this plane (slice plane) will be collected,
The reconstructed image is a concentration distribution image of nuclides on this slice plane.
【0004】一方、このポジトロンECT装置では、被
検体の内部の核種からの放射線を外部において検出する
ため、その放射線が被検体の内部で吸収されてしまうこ
との影響を受けることが避けられない。そのため、再構
成画像では被検体の中央部の濃度が異常に低いものとな
ったり、定量的な測定ができず精度が低いなどの問題が
生じる。On the other hand, in this positron ECT apparatus, since radiation from nuclides inside the subject is detected outside, it is inevitable that the radiation is absorbed by the inside of the subject. For this reason, in the reconstructed image, there are problems such as an abnormally low density at the central portion of the subject and a low accuracy because quantitative measurement cannot be performed.
【0005】そこで、被検体における吸収分布を求め
て、これによりエミッションデータにおける吸収の影響
を補正しようという考えが登場する。この吸収分布はい
わゆるトランスミッションデータを収集することにより
求められる。ここでトランスミッションデータ(透過デ
ータ)とは、被検体の内部から放射される放射線による
データであるエミッションデータ(放射データ)に対す
るもので、被検体の外部から放射され被検体を透過した
放射線によるデータをいう。[0005] Therefore, there is an idea that the absorption distribution in the subject is obtained and the influence of the absorption in the emission data is corrected using the distribution. This absorption distribution is obtained by collecting transmission data. Here, the transmission data (transmission data) is for emission data (radiation data) which is data due to radiation radiated from inside the subject, and is data corresponding to radiation radiated from outside the subject and transmitted through the subject. Say.
【0006】具体的には、検出器のリング型配列の内部
に放射性薬剤の投与されていない被検体を配置するとと
もにポジトロン放出性の線源を配置し、これを検出器の
リング型配列に沿って被検体の周囲に回転させ、その回
転角度ごとに同時計数データを収集する。つぎに被検体
を検出器のリング型配列内から取り出した上で、線源を
同じように回転させながら同時計数データを収集する。
前者のデータは放射線が被検体を通ることによる吸収の
影響を受けたものであるのに対して、後者のデータには
このような影響はない。そこで、これらのデータの関係
から、吸収の影響がわかる。そこで、今度は被検体に放
射性薬剤を投与して検出器のリング型配列内に配置して
エミッションデータを収集する(このとき被検体外部の
線源は取り除かれている)。このエミッションデータを
上記の関係に応じて補正すれば、吸収の影響を除くこと
ができる。Specifically, an object to which a radiopharmaceutical is not administered is arranged inside a ring-shaped array of detectors, and a positron-emitting source is arranged along the ring-shaped array of detectors. To rotate around the subject, and collect coincidence data for each rotation angle. Next, after the subject is taken out of the ring array of the detector, coincidence data is collected while the source is rotated in the same manner.
The former data is affected by absorption due to the passage of radiation through the subject, whereas the latter data is not. Therefore, the influence of absorption can be understood from the relationship between these data. Then, this time, the radiopharmaceutical is administered to the subject, and the radiopharmaceutical is arranged in the ring-shaped array of the detector to collect the emission data (at this time, the radiation source outside the subject has been removed). If the emission data is corrected according to the above relationship, the influence of absorption can be eliminated.
【0007】従来では、このように被検体についてのト
ランスミッションデータとエミッションデータは、被検
体に放射性薬剤を投与した状態と投与していない状態と
で別々に収集していたため、検査時間がかかり、被検体
(患者)を固定している時間が長くかかっていた。そこ
で、特開平4−168392号公報では、被検体に放射
性薬剤を投与した状態でトランスミッションデータとエ
ミッションデータとを同時に収集するようにして、検査
時間の短縮、患者固定時間の短縮を図っている。Conventionally, transmission data and emission data for a subject are separately collected in a state where a radiopharmaceutical is administered to the subject and in a state where the radiopharmaceutical is not administered. It took a long time to fix the specimen (patient). Therefore, in Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-168392, transmission data and emission data are simultaneously collected in a state where a radiopharmaceutical is administered to a subject, thereby shortening the examination time and shortening the patient fixing time.
【0008】すなわち、これは、被検体の周囲に回転さ
せる外部線源の位置が容易に検出でき、その位置が分か
れば、それからの放射線によるデータがアドレス上でど
の領域に現れるかも分かることに着目したものである。
その領域をマスクしてその領域ではデータ収集しないこ
ととすれば、被検体に放射性薬剤を投与した状態で外部
線源を回転させるようにしても、エミッションデータが
得られ、また、これと同時に、一切マスクせずにデータ
収集し、このデータから上記のエミッションデータを引
けばトランスミッションデータを得ることができる、と
いうのである。[0008] That is, it is noted that the position of the external radiation source to be rotated around the subject can be easily detected, and if the position is known, it is possible to determine in which area on the address the data due to the radiation from that position appears. It was done.
If the area is masked and data is not collected in that area, emission data can be obtained even if the external source is rotated while the radiopharmaceutical is being administered to the subject, and at the same time, By collecting data without any masking and subtracting the emission data from this data, transmission data can be obtained.
【0009】さらに本発明者等は、このマスクデータ収
集手法によるエミッションデータ・トランスミッション
データ同時収集方式を発展させて、データの定量性を高
めた提案も行っている(特願平7−353619号)。
被検体の周囲に回転させる外部線源は放射能の高いもの
を用いるためその線源周囲に散乱線を生じ、それにより
収集したデータに大きな誤差が含まれることになる。そ
こで、エミッションデータ収集用のマスクの遮蔽部(マ
スク部)の面積を、外部線源からの放射線によるデータ
が現れる領域よりは大きなものとしてその周囲に現れる
散乱線ノイズを取り除いてエミッションデータ収集する
とともに、トランスミッションデータ収集についてもマ
スクを用い、そのマスクの通過部(マスクされない領
域)を狭くし、散乱線ノイズを排除して外部線源からの
放射線によるデータのみを収集する。こうすることによ
り、外部線源の散乱線ノイズの影響をなくして、データ
の定量性を高めることができる、というのがこの提案で
ある。Further, the present inventors have proposed a method of improving the quantitativeness of data by developing a simultaneous emission data and transmission data collecting method using this mask data collecting method (Japanese Patent Application No. 7-353419). .
Since an external radiation source rotated around the subject is highly radioactive, scattered radiation is generated around the radiation source, and thus the collected data contains a large error. Therefore, the area of the shielding part (mask part) of the mask for collecting the emission data is set to be larger than the area where the data due to the radiation from the external radiation source appears, and the emission data is collected by removing the scattered noise appearing around the area. For transmission data collection, a mask is used, the passing portion of the mask (region not masked) is narrowed, scattered radiation noise is eliminated, and only data due to radiation from an external source is collected. With this proposal, it is possible to eliminate the influence of the scattered radiation noise of the external radiation source and to improve the quantitativeness of the data.
【0010】[0010]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
マスクデータ収集手法によるエミッションデータ・トラ
ンスミッションデータ同時収集方式では、いずれにして
も定量性は完全ではない、という問題がある。すなわ
ち、マスクを用いて選別しながらデータ収集する限り、
アドレスごとの検出効率は均一にならず、マスクデータ
収集における感度のばらつき(不均一性)の問題は不可
避であり、これが原因となって定量性を高めることにも
限界がある。However, the conventional simultaneous acquisition of emission data and transmission data by the mask data acquisition method has a problem that the quantitativeness is not perfect in any case. In other words, as long as data is collected while sorting using a mask,
The detection efficiency for each address is not uniform, and the problem of non-uniformity in sensitivity (non-uniformity) in mask data collection is inevitable, and there is a limit to improving quantitative performance due to this.
【0011】この発明は、上記に鑑み、マスクデータ収
集における感度不均一性を補正してデータの定量性を高
めるようにした、マスクデータ収集手法によるエミッシ
ョンデータ・トランスミッションデータ同時収集方式の
ポジトロンECT装置を提供することを目的とする。In view of the above, the present invention provides a positron ECT apparatus of a simultaneous emission data / transmission data acquisition system using a mask data acquisition technique, which corrects sensitivity nonuniformity in mask data acquisition and enhances data quantitativeness. The purpose is to provide.
【0012】[0012]
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、この発明によるポジトロンECT装置においては、
多数の放射線検出手段がリング型に配列された放射線検
出手段のリング型配列と、上記の多数の放射線検出手段
のうちの2つから同時に出力が生じたことを検出する同
時検出手段と、該2つの検出手段の対を、対応するアド
レス信号に変換するアドレス変換手段と、該アドレス信
号が生じたときそのアドレス信号で指定されるアドレス
においてカウントすることによりデータ収集する手段
と、上記リング型配列内に配置され、該リング型配列に
沿って回転移動させられるポジトロン放出性放射線発生
手段と、その回転位置情報を得る手段と、該回転位置情
報に応じて変化させられる、上記アドレス上のマスク領
域をマスクすることによりその領域内のアドレスではカ
ウントさせないこととして、ポジトロン放出性物質を含
む被検体が上記リング型配列内に配置されているときに
上記データ収集手段においてトランスミッションデータ
とエミッションデータとを別個に同時収集させる手段
と、上記収集されたデータのマスクデータ収集に起因し
て生じた感度不均一性を補正するマスク感度補正手段
と、該トランスミッションデータと被検体が上記リング
型配列内に配置されていないときのトランスミッション
データとの関係に応じて上記のエミッションデータの吸
収補正を行う吸収補正手段とが備えられることが特徴と
なっている。To achieve the above object, a positron ECT apparatus according to the present invention comprises:
A ring-shaped array of radiation detecting means in which a number of radiation detecting means are arranged in a ring shape; a simultaneous detecting means for detecting that outputs are simultaneously generated from two of the above-mentioned plurality of radiation detecting means; Address conversion means for converting a pair of the two detection means into a corresponding address signal; means for collecting data by counting at an address specified by the address signal when the address signal is generated; A positron-emitting radiation generating means which is arranged and rotated along the ring-shaped array, a means for obtaining its rotational position information, and a mask area on the address which is changed according to the rotational position information. It is assumed that the mask does not count at addresses within that area, and that the specimen containing the positron-emitting substance is Means for separately and simultaneously collecting transmission data and emission data in the data collection means when arranged in a mold arrangement; and sensitivity non-uniformity caused by mask data collection of the collected data. Mask sensitivity correction means for correcting, and absorption correction means for performing absorption correction of the emission data in accordance with the relationship between the transmission data and the transmission data when the subject is not arranged in the ring-shaped array. It is characterized by being able to.
【0013】ポジトロン放出性放射線発生手段は、検出
器のリング型配列に沿って回転移動させられるので、そ
の回転位置情報を得ることは容易である。そこで、この
ポジトロン放出性放射線発生手段がある位置にあると
き、それからの放射線によるデータがアドレス上でどの
領域に現れるかが分かるので、その領域をマスクしてそ
の領域ではカウントしないこととすれば、エミッション
データが得られ、同時に一切マスクせずにデータ収集し
たデータからこのエミッションデータを引けばトランス
ミッションデータを得ることができる。あるいは、ポジ
トロン放出性放射線発生手段からの放射線によるデータ
がアドレス上で現れる領域以外の領域を逆にマスクして
トランスミッションデータを収集することもできる。そ
して、上記のエミッションデータに対して、上記のトラ
ンスミッションデータと被検体が上記リング型配列内に
配置されていないときのトランスミッションデータとの
関係に応じて吸収補正を行えば、被検体による吸収を補
正することができるのであるが、そのエミッションデー
タは、マスクデータ収集を行って得たものであるために
アドレスによって収集効率が異なるものとなっているた
め、この感度不均一性が補正される。したがって、マス
クデータ収集を行うことにより不可避な感度不均一性の
補正と、吸収補正とが併用されているため、データの定
量性が高められる。Since the positron emitting radiation generating means is rotated along the ring-shaped array of detectors, it is easy to obtain information on its rotational position. Therefore, when the positron emitting radiation generating means is at a certain position, it is possible to know in which area the data by the radiation from that appears on the address, so if that area is masked and not counted in that area, Emission data is obtained, and transmission data can be obtained by subtracting this emission data from data collected without any masking at the same time. Alternatively, transmission data can be collected by masking the area other than the area where the data based on the radiation from the positron-emitting radiation generating means appears on the address. Then, if the emission data is subjected to absorption correction in accordance with the relationship between the transmission data and the transmission data when the subject is not arranged in the ring type array, the absorption by the subject is corrected. However, since the emission data is obtained by performing mask data collection, the collection efficiency varies depending on the address, so that the sensitivity non-uniformity is corrected. Therefore, since the correction of the sensitivity nonuniformity which is inevitable by collecting the mask data and the absorption correction are used together, the quantitativeness of the data is improved.
【0014】[0014]
【発明の実施の形態】つぎに、この発明の実施の形態に
ついて図面を参照しながら詳細に説明する。この発明に
かかるポジトロンECT装置では、図1に示すように、
多数の放射線検出器11がリング型に配列されており、
そのリング型配列10の中に被検体(患者)30が配置
されるようになっている。これらの検出器11の各出力
はコインシデンス回路12に導かれ、いずれか2つの検
出器11に同時に放射線が入射してこれらから出力が同
時に生じたことが検出される。そして、このように同時
に2つの検出器11から出力が生じてこれがコインシデ
ンス回路12により検出されると、そのコインシデンス
回路12からの出力がアドレス変換器13に送られ、そ
の2つの検出器11の組み合わせに応じたアドレス変換
がなされる。Next, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In the positron ECT apparatus according to the present invention, as shown in FIG.
Many radiation detectors 11 are arranged in a ring shape,
A subject (patient) 30 is arranged in the ring-shaped array 10. Each output of these detectors 11 is guided to a coincidence circuit 12, and it is detected that radiation is incident on any two detectors 11 at the same time and outputs are simultaneously generated from these. Then, when outputs are simultaneously generated from the two detectors 11 and detected by the coincidence circuit 12, the output from the coincidence circuit 12 is sent to the address converter 13, and the combination of the two detectors 11 is output. Is performed in accordance with the address.
【0015】このアドレス変換は、2つの検出器11か
ら同時に出力が生じたとき、その2つの検出器11を結
ぶ線に関する位置情報に変換するものである。この2つ
の検出器11を結ぶ線の位置を表す情報は、たとえば図
1に示すように、角度θと中心からの距離dとで表され
るものである。つまり、ある2つの検出器11で同時に
検出信号が生じたとき、それらの検出器11を結ぶ線を
表すθとdよりなるアドレスへの変換がなされる。In the address conversion, when outputs are simultaneously generated from the two detectors 11, the addresses are converted into position information on a line connecting the two detectors 11. The information representing the position of the line connecting the two detectors 11 is represented by, for example, an angle θ and a distance d from the center, as shown in FIG. That is, when a detection signal is simultaneously generated by two certain detectors 11, conversion to an address consisting of θ and d representing a line connecting the two detectors 11 is performed.
【0016】こうして変換されて出力されたアドレス信
号は2つのマスク処理回路14、15を経てそれぞれの
データ収集用のメモリ21〜25に送られて、各アドレ
スごとにカウントされる。すなわち、各データ収集用メ
モリ21〜25では、それぞれ、あるアドレス信号が入
力されるとそのアドレスに「1」を加算することによ
り、(d、θ)で表わされるアドレスごとにガンマ線入
射個数を示すカウント値を集積していく。The converted and output address signals are sent to the respective data collection memories 21 to 25 via the two mask processing circuits 14 and 15 and counted for each address. That is, in each of the data collection memories 21 to 25, when a certain address signal is input, “1” is added to the address, thereby indicating the number of gamma rays incident for each address represented by (d, θ). The count value is accumulated.
【0017】一方、ライン線源18が、図では省略され
ている機構により、点線のように検出器リング型配列1
0内でこれに沿って所定の小さな角度ごとにステップ的
に回転移動させられる。このライン線源18は、ライン
状に形成された放射線源であり、スライス面(検出器リ
ング型配列10が含まれる平面)に直交するよう配置さ
れる(図では紙面に直角に配置される)。このライン線
源18はポジトロン放出性の核種により形成されてい
る。On the other hand, the line source 18 is moved to the detector ring type array 1 as shown by a dotted line by a mechanism not shown in the figure.
It is rotationally moved stepwise within 0 at predetermined small angles. The line source 18 is a radiation source formed in a line shape, and is disposed so as to be orthogonal to a slice plane (a plane including the detector ring type array 10) (in the figure, disposed at right angles to the paper). . The line source 18 is formed of a positron emitting nuclide.
【0018】そこで、ポジトロン放出性の核種により標
識された薬剤の投与された被検体30を検出器11のリ
ング型配列10中に配置し、ライン線源18をその周囲
に回転させるときにメモリ21〜25で収集されるデー
タは、マスク処理回路14、15での処理を考えないも
のとすると、図3のようになるはずである。なお、図3
のようにアドレス(d、θ)ごとにカウント値を集積し
たデータをサイノグラムという。Therefore, the subject 30 to which the drug labeled with the positron-emitting nuclide is administered is arranged in the ring-shaped array 10 of the detector 11 and the memory 21 is rotated when the line source 18 is rotated around it. If the data collected by .about.25 are not considered in the processing by the mask processing circuits 14 and 15, they should be as shown in FIG. Note that FIG.
The data obtained by accumulating the count values for each address (d, θ) is called a sinogram.
【0019】図3の(a)〜(d)のサイノグラムは、
ライン線源18が図2の(a)〜(d)のようにそれぞ
れ位置している時点で収集されたものを示している。実
際には、ライン線源18が1回転していく期間で得られ
るアドレス信号が、すべて対応するアドレスに加算され
ていくので、図3の(a)〜(d)のようなサイノグラ
ムが個別に得られるわけではなく、これらが加算された
(重なった)ものとなる。図2の(a)のようにライン
線源18が上方にあるとき、図3の(a)のサイノグラ
ムのように、ライン線源18によるデータは角度0°で
中央(dの中心)に集中し、角度90°で右端になり、
角度180°で中央に位置する。そのため、図3の
(a)では、ライン線源18によるデータは曲線42の
ようなものとなる。これに対して、被検体30は左右方
向に偏平であるため、被検体30内の核種からのガンマ
線によるデータは、角度0°と180°でd方向に広い
領域で、角度90°でd方向に狭い領域で収集される。
そのため、被検体30からのデータは砂目模様部分41
のようになる。The sinograms in FIGS. 3A to 3D are as follows:
2 shows the data collected when the line source 18 is located as shown in FIGS. 2 (a) to 2 (d). Actually, since the address signals obtained during the period in which the line source 18 makes one rotation are all added to the corresponding addresses, sinograms such as those shown in FIGS. They are not obtained, but are added (overlapping). When the line source 18 is located upward as shown in FIG. 2A, the data from the line source 18 is concentrated at the center (center of d) at an angle of 0 ° as in the sinogram of FIG. 3A. And at the right end at an angle of 90 °
It is centrally located at an angle of 180 °. Therefore, in FIG. 3A, the data obtained by the line source 18 becomes a curve 42. On the other hand, since the subject 30 is flat in the left-right direction, data by gamma rays from nuclides in the subject 30 are wide in the d direction at angles of 0 ° and 180 °, and at 90 ° in the d direction. Collected in a small area.
Therefore, the data from the subject 30 is
become that way.
【0020】同様に、図2の(b)のようにライン線源
18が左方にあるときは、ライン線源18からのデータ
は図3の(b)の曲線42の位置で収集され、図2の
(c)のようにライン線源18が下方にあるときは、ラ
イン線源18からのデータは図3の(c)の曲線42の
位置で収集され、図2の(d)のようにライン線源18
が右方にあるときは、ライン線源18からのデータは図
3の(d)の曲線42の位置で収集される。これに対し
て、被検体30からのデータは、ライン線源18がどの
ような位置にあっても、被検体30は不変であるから、
同じような形状の砂目模様部分41で収集される。Similarly, when the line source 18 is on the left side as shown in FIG. 2B, data from the line source 18 is collected at the position of the curve 42 in FIG. When the line source 18 is at a lower position as shown in FIG. 2C, data from the line source 18 is collected at the position of a curve 42 in FIG. Line source 18
Is to the right, data from line source 18 is collected at the location of curve 42 in FIG. 3 (d). On the other hand, the data from the subject 30 is invariable regardless of the position of the line source 18,
Collected in a grain pattern portion 41 having a similar shape.
【0021】そこで、ライン線源18の位置とともに動
いていく、ライン線源18からのデータ収集領域42に
対応した通過部を持つマスクをマスク生成器16から、
ライン線源18からのデータ収集領域42に対応した遮
蔽部(マスク部)を持つマスクをマスク生成器17から
発生させる。マスク生成器16は図4に示すようなマス
クを生成し、マスク生成器17は図5のようなマスクを
生成する。このようなマスクによりマスク処理回路1
4、15が行う処理は、特定のアドレスは通過させ、他
の特定のアドレスは遮蔽(マスク)して通過させないと
いう処理であり、ここでのマスクとは、その通過させる
アドレス部(通過部)と、遮蔽するアドレス部(遮蔽
部)とを持つものをいうこととする。図4、図5では、
砂目模様の部分が遮蔽部で、白抜き部分が通過部であ
る。The mask generator 16 moves with the position of the line source 18 and has a passage corresponding to the data collection area 42 from the line source 18.
The mask generator 17 generates a mask having a shielding portion (mask portion) corresponding to the data collection area 42 from the line source 18. The mask generator 16 generates a mask as shown in FIG. 4, and the mask generator 17 generates a mask as shown in FIG. With such a mask, the mask processing circuit 1
The processing performed by 4 and 15 is a processing in which a specific address is passed, and other specific addresses are shielded (masked) and not passed, and the mask here is an address section (passing section) through which the address is passed. And an address portion (shielding portion) to be shielded. 4 and 5,
The part of the grain pattern is the shielding part, and the white part is the passing part.
【0022】これらのマスクをライン線源18の位置に
対応して生成するため、ライン線源18の位置情報がマ
スク生成器16、17に入力される。この位置情報は、
ライン線源18の回転位置を読み取る回転位置読み取り
装置19によって得られる。この回転位置読み取り装置
19はたとえばパルスエンコーダとカウンタ等から構成
される。In order to generate these masks corresponding to the position of the line source 18, position information of the line source 18 is input to the mask generators 16 and 17. This location information
The rotation position of the line source 18 is obtained by a rotation position reading device 19. This rotational position reading device 19 is composed of, for example, a pulse encoder, a counter and the like.
【0023】ライン線源18が図2の(a)〜(d)の
各位置にあるときに図4の(a)〜(d)のようなマス
クがマスク生成器16で生成されてその白抜き部分のみ
がマスク処理回路14を通過させられるので、図3の領
域42のデータのみが通過させられることになる。つま
り、ライン線源18からの放射線によるTmデータ(ト
ランスミッションデータ)が取り出される。このTmデ
ータは、データ収集メモリ22に送られてデータ収集が
なされる。このメモリ22をTmメモリといい、マスク
生成器16はTマスク生成器、マスク処理回路14はT
マスク処理回路ということにする。ライン線源18が回
転し、それに伴いマスクが図4の(a)〜(d)のよう
に変化し、1回転(360°)する期間にTmメモリ2
2の各アドレスで加算がなされることによりデータ収集
が行われる。When the line source 18 is at each of the positions shown in FIGS. 2A to 2D, masks such as those shown in FIGS. Since only the blank portion is passed through the mask processing circuit 14, only the data in the area 42 in FIG. 3 is passed. That is, Tm data (transmission data) due to radiation from the line source 18 is extracted. The Tm data is sent to the data collection memory 22 where the data is collected. The memory 22 is called a Tm memory, the mask generator 16 is a T mask generator, and the mask processing circuit 14 is a Tm memory.
It is referred to as a mask processing circuit. As the line source 18 rotates, the mask changes accordingly as shown in FIGS. 4A to 4D, and the Tm memory 2 is rotated during one rotation (360 °).
Data collection is performed by performing addition at each address of 2.
【0024】他方、ライン線源18が図2の(a)〜
(d)の各位置にあるときに図5の(a)〜(d)のよ
うなマスクがマスク生成器17で生成されてその白抜き
部分のみがマスク処理回路15を通過させられる。この
遮蔽部(砂目模様部分)は、図3の領域42に対応して
いるが、その幅が拡大されたものとなっている。そこ
で、ライン線源18からの放射線によるデータおよびそ
の周辺のデータが遮蔽され、それ以外の領域のデータ、
つまり被検体30中の核種からのEmデータ(エミッシ
ョンデータ)のみが取り出される。このEmデータは、
データ収集メモリ24に送られてデータ収集がなされ
る。このメモリ24をEmメモり、マスク生成器17を
Eマスク生成器、マスク処理回路15をEマスク処理回
路という。Emメモリ24では、ライン線源18の回転
に伴い図5の(a)〜(d)のように変化していくマス
クの通過部を通ったデータを、そのアドレスごとに加算
していく。On the other hand, the line radiation source 18 is shown in FIG.
5 (a) to 5 (d) are generated by the mask generator 17 and only the white portions are passed through the mask processing circuit 15. The shielding portion (grain pattern portion) corresponds to the region 42 in FIG. 3, but has an increased width. Therefore, the data due to the radiation from the line source 18 and the data around it are shielded, and the data in other areas are
That is, only Em data (emission data) from the nuclide in the subject 30 is extracted. This Em data is
The data is sent to the data collection memory 24 to perform data collection. The memory 24 is called Em memory, the mask generator 17 is called an E mask generator, and the mask processing circuit 15 is called an E mask processing circuit. The Em memory 24 adds, for each address, data passing through a mask passing portion that changes as shown in FIGS. 5A to 5D as the line source 18 rotates.
【0025】ここで、図5のマスクの遮蔽部の幅が広い
ものとなっているため、Emメモリ24ではライン線源
18からのデータのみならず、その周辺のアドレスのデ
ータも収集されないことになる。そのため、強い放射能
を持つライン線源18の周辺に生じる散乱線によるノイ
ズは収集されないこととなる。このように遮蔽部の幅が
広いが、この遮蔽部はライン線源18の回転とともに図
5の(a)〜(d)のように動いていくので、ライン線
源18の1回転の期間内ではつねに遮蔽されてしまう領
域はなく、おおむね均等にデータ収集される。Here, since the width of the masking portion of the mask in FIG. 5 is wide, not only the data from the line source 18 but also the data of the peripheral addresses are not collected in the Em memory 24. Become. Therefore, noise due to scattered radiation generated around the line radiation source 18 having strong radioactivity is not collected. Although the width of the shielding portion is wide, the shielding portion moves along with the rotation of the line source 18 as shown in FIGS. 5A to 5D. In this case, there is no area that is always shielded, and data is collected almost equally.
【0026】しかし、厳密にいうと各アドレスで均等な
効率でデータ収集されるわけではない。このことはTマ
スク生成器16、Tマスク処理回路14およびTmメモ
リ22によるTmデータ収集についてもいえる。これ
は、ライン線源18の1回転の期間に変化する図4、図
5のマスクによって遮蔽されている時間(あるいは通過
部となっている時間)が、すべてのアドレスで同一でな
く、アドレスによって異なることに原因がある。そのた
め、検出器11の各々の対から一様に検出出力を生じさ
せた場合、本来ならサイノグラムのどのアドレスでも均
一なカウントとなるはずであるが、実際にはこれらのマ
スクの作用で図6や図7のようなカウントの高い部分と
低い部分とが存在するサイノグラム(濃い部分はカウン
トが高く、淡い部分はカウントが低い)が得られる。図
6は、図5のEマスクによりマスク処理して収集したサ
イノグラムを示し、d方向の両端に近い領域でカウント
の低い領域が表れている。また、図7は、図4のTマス
クによりマスク処理して収集したサイノグラムを示し、
d方向の両端領域にでカウントの高い領域が表れてい
る。However, strictly speaking, data is not collected with equal efficiency at each address. The same can be said for the Tm data collection by the T mask generator 16, the T mask processing circuit 14, and the Tm memory 22. This is because the time shielded by the mask shown in FIGS. 4 and 5 (or the time passing through) during one rotation of the line source 18 is not the same at all addresses, but depends on the address. There are differences. Therefore, if a detection output is uniformly generated from each pair of the detectors 11, a uniform count should normally be obtained at any address of the sinogram. As shown in FIG. 7, a sinogram in which a high count portion and a low count portion exist (a dark portion has a high count and a light portion has a low count) is obtained. FIG. 6 shows sinograms collected by mask processing using the E mask of FIG. 5, and a low count region appears in a region near both ends in the d direction. FIG. 7 shows sinograms collected by masking with the T mask of FIG.
A high count area appears at both end areas in the d direction.
【0027】そこで、このようなマスク処理によるサイ
ノグラムのアドレス上での感度不均一を補正して定量性
を高める。そのため、上記のような被検体30およびラ
イン線源18を配置した状態でのデータ収集に先立っ
て、検出器11の各々の対から一様に検出出力を生じさ
せ、TCDメモリ23、ECDメモリ25を用いてデー
タ収集する。すなわち、このとき、Tマスク生成器1
6、Eマスク生成器17から1回転分変化するTマスク
とEマスクとを順次生成させ、その1回転分変化する期
間において、Tマスク処理回路14、Eマスク処理回路
15を通過したアドレス信号を、TCDメモリ23、E
CDメモリ25にそれぞれ導いてデータ収集する。これ
により、TCDメモリ23には図7で示すようなデータ
(TCDデータ)が、ECDメモリ25には図6で示す
ようなデータ(ECDデータ)がそれぞれ収集される。Therefore, the sensitivity non-uniformity on the address of the sinogram due to such mask processing is corrected to improve the quantitativeness. Therefore, prior to data collection in a state where the subject 30 and the line source 18 are arranged as described above, detection output is uniformly generated from each pair of the detectors 11 and the TCD memory 23 and the ECD memory 25 are generated. Collect data using. That is, at this time, the T mask generator 1
6. The E mask generator 17 sequentially generates a T mask and an E mask that change by one rotation, and in the period that changes by one rotation, converts the address signal passed through the T mask processing circuit 14 and the E mask processing circuit 15 , TCD memory 23, E
The data is guided to the CD memory 25 and collected. As a result, data (TCD data) as shown in FIG. 7 is collected in the TCD memory 23, and data (ECD data) as shown in FIG.
【0028】TCDメモリ23、ECDメモリ25によ
るTCDデータおよびECDデータの収集が終わった
後、上記のように被検体30およびライン線源18を配
置した状態でデータ収集し、Tmメモリ22、Emメモ
リ24においてTmデータおよびEmデータを得たと
き、Eマスク感度補正回路27により、まずECDデー
タの平均値が1となるようにこれをノーマライズしてE
CDNデータを求める。具体的には、サイノグラムの各
アドレスごとに異なるECDデータの平均値を求め、こ
の平均値で各アドレスのECDの値を割ることによりア
ドレスごとにECDNの各々の値を得る。つぎに、Eマ
スク感度補正回路27において、つぎの演算を行う。 Et=Em/ECDN これをサイノグラムの各アドレスのEmについてそれぞ
れ行うことにより、Eマスク処理により生じた感度不均
一性を補正した真のエミッションデータEtが求められ
る。After the TCD data 23 and the ECD data 25 have been collected by the TCD memory 23 and the ECD memory 25, data is collected with the subject 30 and the line source 18 arranged as described above, and the Tm memory 22, the Em memory 24, when the Tm data and Em data are obtained, the E mask sensitivity correction circuit 27 first normalizes them so that the average value of the ECD data becomes 1, and then performs E
Find CDN data. Specifically, an average value of ECD data different for each address of the sinogram is obtained, and the ECD value of each address is divided by this average value to obtain each value of ECDN for each address. Next, the following calculation is performed in the E mask sensitivity correction circuit 27. Et = Em / ECDN This is performed for each address Em of the sinogram to obtain true emission data Et in which the sensitivity non-uniformity caused by the E mask processing is corrected.
【0029】Tマスク感度補正回路26では、つぎのよ
うな演算が各アドレスごとに行われる。 Tt=Tm−(Em/ECD)・TCD ここで(Em/ECD)はEmメモリ24、ECDメモ
リ25から読み出して作る。Tmデータには、線源18
からの真のトランスミッションデータのみならず、Tマ
スク(図4)を通った被検体30からのエミッションデ
ータも重畳している。このエミッションデータはTマス
クの作用による感度不均一性の影響を受けたもので、T
CDに比例したものとなっている。一方Emメモリ24
で収集されたEmデータは、同一対象を同一時間測定し
たものであるから、上記のTmデータに含まれるエミッ
ションデータと基本的には同じものであるはずである
が、EマスクによってECDに比例した値となる。そこ
で、Emに、TマスクとEマスクとの間の収集効率の比
(TCD/ECD)を乗じれば、Tmデータに含まれる
エミッションデータの真の値を得ることができる。とこ
ろが、線源18からの放射線によるデータはすべてTマ
スクを通過するので、Tマスクによる収集効率のばらつ
きの影響を受けない。そのため、上記の演算で、Tmか
ら、Tmデータに含まれるエミッションデータの真の値
を引くこととなり、真のトランスミッションデータTt
を得ることができる。In the T mask sensitivity correction circuit 26, the following operation is performed for each address. Tt = Tm− (Em / ECD) · TCD Here, (Em / ECD) is created by reading from the Em memory 24 and the ECD memory 25. The Tm data includes the source 18
, The emission data from the subject 30 that has passed through the T mask (FIG. 4) is superimposed. This emission data is affected by sensitivity non-uniformity due to the action of the T mask.
It is proportional to the CD. On the other hand, Em memory 24
Since the Em data collected in step (1) was obtained by measuring the same object at the same time, it should be basically the same as the emission data included in the above Tm data. Value. Therefore, by multiplying Em by the collection efficiency ratio (TCD / ECD) between the T mask and the E mask, a true value of the emission data included in the Tm data can be obtained. However, since all data due to the radiation from the radiation source 18 passes through the T mask, the data is not affected by variations in the collection efficiency due to the T mask. Therefore, in the above calculation, the true value of the emission data included in the Tm data is subtracted from Tm, and the true transmission data Tt is subtracted.
Can be obtained.
【0030】このTtデータは吸収算出回路28に送ら
れて、Tメモリ21から読み出されたTデータと比較さ
れる。このTデータは、被検体30を配置しない状態で
ライン線源18のみを回転させたときTメモリ21で収
集したデータであり、被検体30が存在しないため、被
検体30による吸収をまったく受けていないものであ
る。そのため、各アドレスごとに求めたそれらの比(T
t/T)は、アドレス(d、θ)ごとの、被検体30に
おける吸収割合を表わすことになる。なお、このTメモ
リ21におけるTデータの収集は、線源18からの放射
線によるデータのみを収集することであるため、上記と
同様にTマスクによる収集効率のばらつきの影響を受け
ないので、Tマスク処理回路14によるマスク処理を省
いて無条件に通過させてもよいし、Tmデータと同様に
Tマスク処理回路14によるマスク処理を行ってもよ
い。The Tt data is sent to the absorption calculation circuit 28 and compared with the T data read from the T memory 21. This T data is data collected by the T memory 21 when only the line source 18 is rotated in a state where the subject 30 is not arranged. Since the subject 30 does not exist, the T data is completely absorbed by the subject 30. Not something. Therefore, their ratio (T
t / T) represents the absorption ratio in the subject 30 for each address (d, θ). Since the collection of the T data in the T memory 21 is to collect only the data based on the radiation from the radiation source 18, the T data is not affected by the variation in the collection efficiency due to the T mask as described above. The mask processing by the processing circuit 14 may be omitted and the data may be passed unconditionally, or the mask processing by the T mask processing circuit 14 may be performed similarly to the Tm data.
【0031】そこで、吸収補正回路29において、Eマ
スク感度補正回路27から得られるアドレスごとのEt
データに、対応するアドレスの(Tt/T)比を作用さ
せれば、吸収の影響を補正したエミッションデータを得
ることができる。このエミッションデータは画像再構成
装置31によって画像再構成演算を受け、再構成された
画像はディスプレイ装置32で表示され、あるいは図示
しない記録装置で記録される。Therefore, in the absorption correction circuit 29, Et for each address obtained from the E mask sensitivity correction circuit 27 is obtained.
By applying the (Tt / T) ratio of the corresponding address to the data, emission data in which the influence of absorption is corrected can be obtained. The emission data is subjected to an image reconstruction operation by the image reconstruction device 31, and the reconstructed image is displayed on the display device 32 or recorded by a recording device (not shown).
【0032】なお、上記において、メモリ21〜25を
個別メモリとして表現したが、これらはいずれも単にサ
イノグラムのアドレスに対応したアドレスを持つデータ
収集用の加算メモリであれば足り、大きな容量の単一の
メモリの一部ずつを利用するよう構成することもでき
る。また、アドレスの所定領域をマスクする処理を一種
のゲート回路であるマスク処理回路14、15で行うと
したが、マスクされた領域に含まれるアドレスでは加算
をしなければよいのであるから、マスク生成器16、1
7で生成されるマスクに関する情報で直接メモリを制御
するようにしてもよいし、アドレス変換器13が、マス
クされる領域のアドレスの変換自体を行わないように構
成することもできる。後者の場合、アドレス変換器13
を2系統設けて、それぞれにTマスク生成器16、Eマ
スク生成器17の機能を持たせることもできる。In the above description, the memories 21 to 25 are represented as individual memories. However, any of these memories is merely required to be an addition memory for data collection having an address corresponding to the address of the sinogram. May be configured to use a part of each memory. The masking circuits 14 and 15 which are a kind of gate circuit perform the masking of a predetermined area of the address. However, since it is not necessary to add the addresses included in the masked area, mask generation is performed. Vessels 16, 1
The memory may be directly controlled by the information on the mask generated in step 7, or the address converter 13 may be configured not to perform the address conversion of the area to be masked. In the latter case, the address converter 13
May be provided in two systems, each having the functions of a T mask generator 16 and an E mask generator 17.
【0033】また、TCDデータとECDデータは、検
出器11のすべての対から一様に出力を生じさせたとき
にマスク処理して収集するデータであるから、Tマスク
とEマスクのパターンが分かっていることを利用してコ
ンピュータシミュレーションによって求めてもよい。こ
の場合には、さらにECDNおよび(TCD/ECD)
も各アドレスごとに求めておいてデータメモリ等に保持
させておき、Eマスク感度補正回路27、Tマスク感度
補正回路26がそれらのデータを読み出して補正するよ
う構成することもできる。Further, since the TCD data and the ECD data are data to be collected by mask processing when outputs are uniformly generated from all pairs of the detectors 11, the patterns of the T mask and the E mask can be obtained. It may be obtained by computer simulation using the fact that In this case, the ECDN and (TCD / ECD)
Alternatively, the data may be obtained for each address and stored in a data memory or the like, and the E-mask sensitivity correction circuit 27 and the T-mask sensitivity correction circuit 26 may read out and correct the data.
【0034】[0034]
【発明の効果】以上説明したように、この発明のポジト
ロンECT装置によれば、マスクデータ収集に不可避な
感度不均一性を補正しながらのマスクデータ収集によ
り、被検体に放射性薬剤を投与した状態で外部線源を回
転させてエミッションデータとトランスミッションデー
タとを同時収集し、吸収補正することができるため、デ
ータの定量性が高められる。As described above, according to the positron ECT apparatus of the present invention, a state in which a radiopharmaceutical is administered to a subject by mask data collection while correcting sensitivity inhomogeneity inevitable in mask data collection. The emission data and the transmission data can be simultaneously collected by rotating the external radiation source and the absorption correction can be performed, thereby improving the quantitativeness of the data.
【図1】この発明にかかるポジトロンECT装置のブロ
ック図。FIG. 1 is a block diagram of a positron ECT apparatus according to the present invention.
【図2】ライン線源18の各位置を示す模式図。FIG. 2 is a schematic diagram showing each position of a line source 18;
【図3】ライン線源18の各位置でのサイノグラムを示
す図。FIG. 3 is a diagram showing sinograms at each position of a line source 18;
【図4】ライン線源18の各位置でのTマスクを示す
図。FIG. 4 is a view showing a T mask at each position of a line source 18;
【図5】ライン線源18の各位置でのEマスクを示す
図。FIG. 5 is a diagram showing an E mask at each position of a line source 18;
【図6】一様な検出出力をEマスク処理して得たサイノ
グラムを示す図。FIG. 6 is a diagram showing a sinogram obtained by performing E-mask processing on a uniform detection output.
【図7】一様な検出出力をTマスク処理して得たサイノ
グラムを示す図。FIG. 7 is a diagram showing a sinogram obtained by performing a T mask process on a uniform detection output.
10 検出器リング型配列 11 検出器 12 コインシデンス回路 13 アドレス変換器 14 Tマスク処理回路 15 Eマスク処理回路 16 Tマスク生成器 17 Eマスク生成器 18 ライン線源 19 回転位置読み取り装置 21 Tデータ収集用メモリ 22 Tmデータ収集用メモリ 23 TCDデータ収集用メモリ 24 Emデータ収集用メモリ 25 ECDデータ収集用メモリ 26 Tマスク感度補正回路 27 Eマスク感度補正回路 28 吸収算出回路 29 吸収補正回路 30 被検体 31 画像再構成装置 32 ディスプレイ装置 41 被検体30からのデータ 42 ライン線源18からのデータ DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Detector ring type arrangement 11 Detector 12 Coincidence circuit 13 Address converter 14 T mask processing circuit 15 E mask processing circuit 16 T mask generator 17 E mask generator 18 Line source 19 Rotational position reading device 21 For T data collection Memory 22 Tm Data Collection Memory 23 TCD Data Collection Memory 24 Em Data Collection Memory 25 ECD Data Collection Memory 26 T Mask Sensitivity Correction Circuit 27 E Mask Sensitivity Correction Circuit 28 Absorption Calculation Circuit 29 Absorption Correction Circuit 30 Subject 31 Image Reconstruction device 32 Display device 41 Data from subject 30 Data from line source 18
Claims (1)
された放射線検出手段のリング型配列と、上記の多数の
放射線検出手段のうちの2つから同時に出力が生じたこ
とを検出する同時検出手段と、該2つの検出手段の対
を、対応するアドレス信号に変換するアドレス変換手段
と、該アドレス信号が生じたときそのアドレス信号で指
定されるアドレスにおいてカウントすることによりデー
タ収集する手段と、上記リング型配列内に配置され、該
リング型配列に沿って回転移動させられるポジトロン放
出性放射線発生手段と、その回転位置情報を得る手段
と、該回転位置情報に応じて変化させられる、上記アド
レス上のマスク領域をマスクすることによりその領域内
のアドレスではカウントさせないこととして、ポジトロ
ン放出性物質を含む被検体が上記リング型配列内に配置
されているときに上記データ収集手段においてトランス
ミッションデータとエミッションデータとを別個に同時
収集させる手段と、上記収集されたデータのマスクデー
タ収集に起因して生じた感度不均一性を補正するマスク
感度補正手段と、該トランスミッションデータと被検体
が上記リング型配列内に配置されていないときのトラン
スミッションデータとの関係に応じて上記のエミッショ
ンデータの吸収補正を行う吸収補正手段とを備えること
を特徴とするポジトロンECT装置。1. Simultaneous detection for detecting that a plurality of radiation detection means are arranged in a ring shape and that a ring-shaped arrangement of radiation detection means and two of the plurality of radiation detection means simultaneously produce outputs. Means, an address conversion means for converting the pair of the two detection means into a corresponding address signal, and means for collecting data by counting at an address specified by the address signal when the address signal is generated; A positron-emitting radiation generating means disposed in the ring-shaped array and rotated along the ring-shaped array; a means for obtaining the rotational position information; and the address changed in accordance with the rotational position information. By masking the upper mask area, it is not possible to count at addresses within that area, Means for separately and simultaneously collecting transmission data and emission data in the data collection means when the body is placed in the ring-shaped array; and sensitivity caused by the mask data collection of the collected data. Mask sensitivity correction means for correcting the non-uniformity, and absorption correction for performing the above-described emission data absorption correction in accordance with the relationship between the transmission data and the transmission data when the subject is not arranged in the ring type array. And a positron ECT device.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33474596A JP3671283B2 (en) | 1996-11-29 | 1996-11-29 | Positron ECT device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33474596A JP3671283B2 (en) | 1996-11-29 | 1996-11-29 | Positron ECT device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10160850A true JPH10160850A (en) | 1998-06-19 |
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Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3671283B2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003057348A (en) * | 2001-08-10 | 2003-02-26 | Shimadzu Corp | Positron ECT device |
-
1996
- 1996-11-29 JP JP33474596A patent/JP3671283B2/en not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003057348A (en) * | 2001-08-10 | 2003-02-26 | Shimadzu Corp | Positron ECT device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
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| JP3671283B2 (en) | 2005-07-13 |
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