JPH10163394A - Semiconductor lead molding equipment - Google Patents

Semiconductor lead molding equipment

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Publication number
JPH10163394A
JPH10163394A JP8317532A JP31753296A JPH10163394A JP H10163394 A JPH10163394 A JP H10163394A JP 8317532 A JP8317532 A JP 8317532A JP 31753296 A JP31753296 A JP 31753296A JP H10163394 A JPH10163394 A JP H10163394A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
molding
lead
solder
groove
semiconductor
Prior art date
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Pending
Application number
JP8317532A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masayoshi Komatsu
正義 小松
Koichi Oikawa
孝一 及川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Japan Semiconductor Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Iwate Toshiba Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Iwate Toshiba Electronics Co Ltd filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP8317532A priority Critical patent/JPH10163394A/en
Publication of JPH10163394A publication Critical patent/JPH10163394A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W74/00Encapsulations, e.g. protective coatings

Landscapes

  • Bending Of Plates, Rods, And Pipes (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 不良品の発生を可及的に減少させるととも
に、生産性を向上させることができる半導体リード成型
装置を提供する。 【解決手段】 半田が外装されたリード9が引き出され
ている半導体装置7を固定する成型台1と、前記リード
9を前記成型台1へ押し付けて所定形状に成型する成型
台パンチ3とを備えた半導体リード成型装置において、
成型時に前記リード9が接触移動する前記成型台1上の
領域に溝5を設け、リード9の先端が成型台1上を接触
移動した際に、剥がれた半田が溝5の部分で引きずられ
ないようにすることにより、剥がれた半田が成型台1上
のとくにリード9の曲り部分近辺に堆積しないようにし
た。
(57) [Problem] To provide a semiconductor lead molding apparatus capable of reducing the generation of defective products as much as possible and improving the productivity. SOLUTION: There is provided a molding table 1 for fixing a semiconductor device 7 from which a lead 9 covered with solder is drawn out, and a molding table punch 3 for pressing the lead 9 against the molding table 1 and molding it into a predetermined shape. Semiconductor lead molding equipment
A groove 5 is provided in an area on the molding table 1 where the lead 9 contacts and moves at the time of molding, and when the tip of the lead 9 contacts and moves on the molding table 1, the peeled solder is not dragged by the groove 5 portion. By doing so, the peeled solder is prevented from being deposited on the molding table 1, especially near the bent portion of the lead 9.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体装置から引
き出されているリードを、用途に応じた形状に成型する
半導体リード成型装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor lead molding apparatus for molding a lead drawn from a semiconductor device into a shape suitable for a use.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、パッケージされた半導体装置を
基板に実装可能にするためには、半導体装置から引き出
され、半田が外装されているリードを用途に応じた形状
に成型(フォーミング)する必要がある。このフォーミ
ング工程によって成型される形状には、図10に示すよ
うに幾つかのタイプがあるが、その中の一つにリードを
ガルウィング(カモメの翼)状に成型するガルウィング
成型(図10(B))がある。
2. Description of the Related Art In general, in order to enable a packaged semiconductor device to be mounted on a substrate, it is necessary to form a lead drawn from the semiconductor device and covered with solder into a shape suitable for the intended use. is there. As shown in FIG. 10, there are several types of shapes formed by this forming step. One of the shapes is a gull wing molding (FIG. 10B) in which a lead is formed in a gull wing (gull wing) shape. )).

【0003】図11(A)〜(C)は、従来の半導体リ
ード成型装置によってガルウィング成型を行う場合の過
程を示す概略断面図である。
FIGS. 11 (A) to 11 (C) are schematic cross-sectional views showing a process when gull wing molding is performed by a conventional semiconductor lead molding apparatus.

【0004】図11(A)において、加工の対象となる
パッケージされた半導体装置7は成型台11上に固定さ
れている。この半導体装置7からはリード9が引き出さ
れており、このリード9の全面には図示しない半田が外
装されている。また、図中リード9の上方には成型台1
1に対して昇降自在な成型パンチ3が備えられている。
なお、リード9は半導体装置7の周囲4辺からそれぞれ
引き出されているが、その構造は4辺同一であるため、
以下の説明では、そのうちの一つについて説明するもの
とする。
In FIG. 11A, a packaged semiconductor device 7 to be processed is fixed on a molding table 11. Leads 9 are drawn out of the semiconductor device 7, and the entire surface of the leads 9 is covered with solder (not shown). The molding table 1 is located above the lead 9 in the figure.
1 is provided with a molding punch 3 that can be moved up and down.
Although the leads 9 are drawn out from the four sides around the semiconductor device 7, the structure is the same on the four sides.
In the following description, one of them will be described.

【0005】まず、図11(A)の状態から同図(B)
に示すように成型パンチ3が成型台11へ近付いてくる
と、リード9の根元付近が曲げられ、その先端が成型台
11に接触する(図11(B))。そして、さらに成型
パンチ3が成型台11へ近付いてくると、成型パンチ3
によってリード9の中央から先端にかけての部分が略L
字形状に曲げられ、最終的にリード9が成型台11に押
し付けられると、同図(C)に示すようにガルウィング
成型が完了することになる。
[0005] First, from the state of FIG.
When the molding punch 3 approaches the molding table 11 as shown in FIG. 11, the vicinity of the root of the lead 9 is bent, and its tip comes into contact with the molding table 11 (FIG. 11B). When the molding punch 3 further approaches the molding table 11, the molding punch 3
The portion from the center to the tip of the lead 9 is substantially L
When the lead 9 is bent into a letter shape and finally the lead 9 is pressed against the molding table 11, the gull wing molding is completed as shown in FIG.

【0006】ところで、ガルウィング成型の際、成型台
11に接触したリード9の先端は、図11(B)の位置
から図11(C)に示す位置まで成型台11の上を接触
したまま移動する。ここで、図11(C)に示す接触移
動した成型台11の領域aの拡大図を図12に示す。図
12に示すように、リード9が成型台11の上を接触移
動することにより、その表面に外装されていた半田の一
部が剥がれ落ち、その半田13はリード9の移動ととも
に図中矢印方向に引きずられ、リードの曲り部分近辺に
堆積する。
During the gull wing molding, the tip of the lead 9 which has contacted the molding table 11 moves from the position shown in FIG. 11B to the position shown in FIG. . Here, FIG. 12 is an enlarged view of the area a of the molding table 11 that has moved in contact as shown in FIG. As shown in FIG. 12, when the lead 9 makes contact with and moves on the molding table 11, a part of the solder that has been packaged on the surface of the lead 9 comes off, and the solder 13 moves in the direction of the arrow in FIG. And is deposited near the bent portion of the lead.

【0007】また、上記ガルウィング成型のほかには、
図10(C)に示すようにリードをカール状に成型する
カーリング成型がある。
In addition to the above gull wing molding,
As shown in FIG. 10C, there is curling molding for molding a lead into a curl shape.

【0008】図13(A)、(B)は、従来の半導体リ
ード成型装置においてカーリング成型を行う場合の過程
を示す概略断面図である。
FIGS. 13A and 13B are schematic cross-sectional views showing a process of performing curling molding in a conventional semiconductor lead molding apparatus.

【0009】図13はカーリング成型の最終工程を示し
ており、この前段の工程では図示しない他の成型台によ
りリード19の根元と先端がそれぞれ90度に曲げられ
ている。図13(A)では、半導体装置17が成型台2
1aと成型台21bとにより上下から挟まれた状態で固
定されている。成型台21bはリード19の根元部分を
押さえることにより、成型時のリード19の上方への移
動を規制している。
FIG. 13 shows the final step of the curling molding. In the preceding step, the root and the tip of the lead 19 are each bent by 90 degrees by another molding stand (not shown). In FIG. 13 (A), the semiconductor device 17 is
It is fixed in a state sandwiched from above and below by 1a and the molding table 21b. The molding table 21b controls the upward movement of the lead 19 during molding by pressing the base of the lead 19.

【0010】図13(A)の状態から、同図(B)に示
すような形状をもつ成型パンチ23が横方向から成型台
21aへ近付いてくると、リード19の先端と成型パン
チ23の成型部23aとが接触し、さらに成型パンチ2
3が成型台21aへ近付くと、リード19の先端が略J
字形状に曲げられる。そして、最終的にリード19が半
導体装置17の下面に押し付けられると、図示のように
カーリング成型が完了することになる。
When a molding punch 23 having a shape as shown in FIG. 13B approaches the molding table 21a from the lateral direction from the state of FIG. 13A, the tip of the lead 19 and the molding of the molding punch 23 are formed. Part 23a comes into contact with the
3 approaches the molding table 21a, the tip of the lead 19 is substantially J
It is bent into a letter shape. Then, when the lead 19 is finally pressed against the lower surface of the semiconductor device 17, the curling molding is completed as shown in the figure.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
のガルウィング成型を行う半導体リード成型装置では、
成型が完了するまでリードの先端が成型台上を接触移動
するため、リードに外装されていた半田の一部が剥がれ
落ち、成型台上のとくにリードの曲り部分近辺に堆積し
てしまう。そして、この堆積した半田は、新たに成型し
たリードにひげ状に付着し、そのリードを不良品にして
しまうという問題があった。ちなみに、ガルウィングタ
イプのリードは最終的に先端部をカットして使用するた
め、先端部に半田が付着しても問題にならないが、曲り
部分近辺に付着した半田はそのまま残ることになる。
As described above, in a conventional semiconductor lead molding apparatus for performing gull wing molding,
Since the tip of the lead contacts and moves on the molding table until the molding is completed, a part of the solder that has been packaged on the lead peels off and deposits on the molding table, especially near the bent portion of the lead. Then, the deposited solder adheres to a newly formed lead in a whisker-like manner, and this leads to a problem that the lead becomes defective. By the way, since the gull-wing type lead is used by cutting the tip end finally, there is no problem even if the solder adheres to the tip end, but the solder attached near the bent portion remains as it is.

【0012】同様に、カーリング成型においても、成型
パンチ23の成型部23aと接触したリード19の先端
は、前記成型部23aの上部を接触移動するため、その
表面に外装されていた半田の一部が剥がれ落ち、前述し
たガルウィング成型の場合と同様に半田が成型部23a
の上部に堆積する。とくに、図13の構成ではリード1
9と成型部23aとの擦れ量が大きく、また成型部23
aの上部が凹形状であるために、半田が堆積しやすいも
のとなっていた。
Similarly, in the curling molding, the tip of the lead 19 which has come into contact with the molding portion 23a of the molding punch 23 moves in contact with the upper portion of the molding portion 23a. Is peeled off, and solder is applied to the molded portion 23a in the same manner as in the case of the gull wing molding described above.
Deposits on top of In particular, in the configuration of FIG.
9 and the molded portion 23a have a large amount of friction.
Since the upper part of a was concave, solder was easily deposited.

【0013】また、いずれの成型装置においても、この
様な不良品を防ぐために成型システムを一旦停止し、成
型台あるいは成型パンチ上に堆積した半田を除去する作
業が必要となるため、これが生産性を低下させる原因と
なっていた。
Further, in any of the molding apparatuses, it is necessary to temporarily stop the molding system in order to prevent such a defective product and to remove the solder deposited on the molding table or the molding punch. Was causing the decrease.

【0014】本発明は以上のような問題に鑑みて成され
たものであり、その目的は成型台あるいは成型パンチの
上に半田が堆積しにくい構造とすることにより、不良品
の発生を可及的に減少させるとともに、生産性を向上さ
せることができる半導体リード成型装置を提供すること
にある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to make it difficult to deposit solder on a molding table or a molding punch so that defective products can be generated. It is an object of the present invention to provide a semiconductor lead molding apparatus capable of improving the productivity as well as reducing the cost.

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段】第1の発明は、半田が外
装されたリードが引き出されている半導体装置を固定す
る第1の成型台と、前記リードを前記成型台へ押し付け
て所定形状に成型する第2の成型台とを備えた半導体リ
ード成型装置において、成型時に前記リードが接触移動
する前記第1の成型台上の領域に溝を設けたことを特徴
とする。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a first molding table for fixing a semiconductor device from which a lead coated with solder is drawn out, and the lead is pressed against the molding table to form a predetermined shape. In a semiconductor lead molding apparatus provided with a second molding table for molding, a groove is provided in a region on the first molding table where the lead contacts and moves during molding.

【0016】上記第1の発明においては、リードの先端
が成型台上を接触移動した際に、剥がれた半田がリード
の移動とともに引きずられても、溝の部分では引きずら
れることがないため、剥がれた半田が成型台上のとくに
リードの曲り部分近辺に堆積することがない。
In the first aspect of the present invention, when the tip of the lead contacts and moves on the molding table, even if the peeled solder is dragged along with the movement of the lead, it is not dragged in the groove portion. Solder does not deposit on the molding table, especially near the bent portion of the lead.

【0017】第2の発明は、前記第1の発明において、
前記リードの接触移動時に該リードと接触する溝の角の
少なくとも一部を曲面としたことを特徴とする。
According to a second aspect, in the first aspect,
At least a part of the corner of the groove that comes into contact with the lead during the contact movement of the lead is a curved surface.

【0018】上記第2の発明においては、前記リードが
溝の角と接触しても、リード表面には溝の角が鋭角的に
当たることがないので、リード表面に加わる力は溝の角
が直角である場合に比べて弱くなる。
In the second aspect of the present invention, even if the lead contacts the corner of the groove, the angle of the groove does not hit the surface of the lead at an acute angle. Is weaker than the case where

【0019】第3の発明は、半田が外装されたリードが
引き出されている半導体装置を固定する第1の成型台
と、前記リードを所定位置に押し付けて所定形状に成型
する第2の成型台とを備えた半導体リード成型装置にお
いて、成型時に前記リードが接触移動する前記第2の成
型台上の領域に複数のガイド部材を設けたことを特徴と
する。
According to a third aspect of the present invention, there is provided a first molding table for fixing a semiconductor device from which a solder-covered lead is drawn out, and a second molding table for pressing the lead to a predetermined position and molding the lead into a predetermined shape. And a plurality of guide members are provided in an area on the second molding table where the lead contacts and moves during molding.

【0020】上記第3の発明においては、リードが第2
の成型台により所定位置へ押し付けられる際、リードの
先端はガイド部材に案内されながら曲げられ、所定形状
に成型される。このとき、リードは複数のガイド部材の
表面を点接触により移動するため、リードとガイド部材
の表面とが接触移動する距離は従来に比べて短くなる。
In the third aspect, the lead is the second type.
When the lead is pressed to a predetermined position by the molding table, the tip of the lead is bent while being guided by the guide member, and is formed into a predetermined shape. At this time, since the lead moves on the surfaces of the plurality of guide members by point contact, the distance of contact and movement between the lead and the surface of the guide member becomes shorter than before.

【0021】第4の発明は、前記第3の発明において、
前記ガイド部材の下方に溝を設けたことを特徴とする。
According to a fourth aspect, in the third aspect,
A groove is provided below the guide member.

【0022】上記第4の発明においては、剥がれ落ちた
半田は成型台上ではなく溝内に落下し、リードが接触移
動する前記第2の成型台上の領域に堆積することがな
い。
In the fourth aspect, the peeled-off solder does not fall on the molding table but in the groove, and does not accumulate in the area on the second molding table where the lead contacts and moves.

【0023】第5の発明は、前記第3または第4の発明
において、前記ガイド部材がローラであることを特徴と
する。
According to a fifth aspect, in the third or fourth aspect, the guide member is a roller.

【0024】上記第5の発明においては、リードがガイ
ド部材の表面を接触移動した際に、ガイド部材としての
ローラが回動するため、ガイド部材の表面が固定的であ
る場合に比べて、接触時の衝撃が緩和される。
In the fifth aspect of the present invention, when the lead makes contact with the surface of the guide member, the roller serving as the guide member is rotated. The shock at the time is reduced.

【0025】第6の発明は、半田が外装されたリードが
引き出されている半導体装置を固定する第1の成型台
と、前記リードを所定位置に押し付けて所定形状に成型
する第2の成型台とを備えた半導体リード成型装置にお
いて、成型時に前記リードが接触移動する前記第2の成
型台上の領域に溝を設けたことを特徴とする。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a first molding table for fixing a semiconductor device from which a lead coated with solder is drawn out, and a second molding table for pressing the lead to a predetermined position and molding the lead into a predetermined shape. And a groove is provided in a region on the second molding table where the lead contacts and moves during molding.

【0026】上記第6の発明においては、リードが成型
台上を接触移動した際、剥がれ落ちた半田は成型台上で
はなく溝内に落下し、リードが接触移動する前記第2の
成型台上の領域に堆積することがない。
In the sixth aspect of the present invention, when the lead contacts and moves on the molding table, the peeled-off solder falls not in the molding table but in the groove, and on the second molding table where the lead contacts and moves. Does not accumulate in the area.

【0027】第7の発明は、前記第1ないし第6の発明
において、前記溝の一部に吸引手段を設けたことを特徴
とする。
According to a seventh aspect, in the first to sixth aspects, a suction means is provided in a part of the groove.

【0028】上記第7の発明においては、溝内に入り込
んだ半田は吸引手段により吸い取られるため、溝内は常
にクリーンな状態に保たれる。
In the seventh aspect, the solder that has entered the groove is sucked by the suction means, so that the inside of the groove is always kept clean.

【0029】[0029]

【発明の実施の形態】以下、本発明に係わる半導体リー
ド成型装置の一実施形態を図面に基づいて説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of a semiconductor lead molding apparatus according to the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0030】図1(A)〜(C)は、この実施形態に係
わる半導体リード成型装置によってガルウィング成型を
行う過程を示す概略断面図である。
FIGS. 1A to 1C are schematic sectional views showing a process of performing gull wing molding by the semiconductor lead molding apparatus according to this embodiment.

【0031】この半導体リード成型装置は、半導体装置
7を固定する成型台1と、この成型台1に対して昇降自
在な成型パンチ3とから構成されており、成型台1には
後述する位置に溝5が設けられている。その他の構成お
よび動作は図11と同じであり、図11と同等部分を同
一符号で示している。
This semiconductor lead molding apparatus comprises a molding table 1 for fixing the semiconductor device 7 and a molding punch 3 which can be moved up and down with respect to the molding table 1. A groove 5 is provided. Other configurations and operations are the same as those in FIG. 11, and the same parts as those in FIG. 11 are denoted by the same reference numerals.

【0032】図2(A)は上記成型台1の概略平面図、
同図(B)はその側面図である。成型台1には、図示し
ない半導体装置の周囲4辺から引き出されているリード
に対応して、各辺ごとに溝5が設けられている。また、
溝5の長手方向の中央部には図示しない孔部が設けられ
ており、後述する集塵機と接続されている。
FIG. 2A is a schematic plan view of the molding table 1.
FIG. 2B is a side view of the same. The molding table 1 is provided with a groove 5 for each side corresponding to leads extending from four sides of a semiconductor device (not shown). Also,
A hole (not shown) is provided at the center of the groove 5 in the longitudinal direction, and is connected to a dust collector described later.

【0033】このような半導体リード成型装置を用いて
ガルウィング成型するには、まず図1(A)のように、
成型台1上にパッケージされた半導体装置7を固定す
る。次に、図1(B)のように、成型パンチ3を下方に
移動させて成型台1へ近付けてゆく。するとリード9の
根元付近が成型パンチ3により曲げられ、その先端が溝
5の近くの成型台1に接触する。さらに図1(C)のよ
うに、成型パンチ3が成型台1へ近付いてゆくと、リー
ド9の先端近くが略L字形状に曲げられ、最終的にリー
ド9が成型台1に押し付けられてガルウィング成型が完
了する。
To perform gull wing molding using such a semiconductor lead molding apparatus, first, as shown in FIG.
The semiconductor device 7 packaged on the molding table 1 is fixed. Next, as shown in FIG. 1B, the molding punch 3 is moved downward to approach the molding table 1. Then, the vicinity of the root of the lead 9 is bent by the molding punch 3, and the tip thereof contacts the molding table 1 near the groove 5. Further, as shown in FIG. 1C, when the molding punch 3 approaches the molding table 1, the vicinity of the tip of the lead 9 is bent into a substantially L-shape, and the lead 9 is finally pressed against the molding table 1. Gull wing molding is completed.

【0034】ここで、図1(B)から同図(C)に至る
過程において、成型台1上に接触したリード9の先端が
接触移動し始めると、リード9の先端で剥がれた半田は
リード9の移動とともに成型台1上を引きずられるが、
溝5の部分で下方へ落下するので、剥がれた半田が成型
台1上のとくにリードの曲り部分近辺に堆積することが
ない。
Here, in the process from FIG. 1 (B) to FIG. 1 (C), when the tip of the lead 9 which has come into contact with the molding table 1 starts to move, the solder peeled off at the tip of the lead 9 is removed. 9 is dragged on the molding table 1 as it moves.
Since the solder drops downward at the groove 5, the peeled solder does not accumulate on the molding table 1, especially near the bent portion of the lead.

【0035】上述したように、この実施形態に係わる半
導体リード成型装置においては、剥がれた半田が成型台
1上のとくにリード9の曲り部分近辺に堆積することが
ほとんどないので、成型台1上に堆積した半田による不
良品の発生を可及的に減少させることができる。また、
成型台1上の半田を除去するために、成型システムを停
止する回数を減らすことができるため、生産性を大幅に
向上させることができる。
As described above, in the semiconductor lead molding apparatus according to this embodiment, the peeled solder hardly accumulates on the molding table 1, especially near the bent portion of the lead 9. The occurrence of defective products due to the deposited solder can be reduced as much as possible. Also,
Since the number of times the molding system is stopped to remove the solder on the molding table 1 can be reduced, the productivity can be greatly improved.

【0036】次に、成型台1に設ける溝5の位置につい
て説明する。図3は、ガルウィング成型が完了したリー
ド9と成型台1との概略断面図である。
Next, the position of the groove 5 provided on the molding table 1 will be described. FIG. 3 is a schematic sectional view of the lead 9 and the molding table 1 after the gull wing molding is completed.

【0037】同図において、θ1 及びθ2 は先端近くで
曲げられたリード9のそれぞれの中心軸、R1 はこれら
θ1 とθ2 との交点における曲線部のR(曲線部を構成
する円の半径)、L1 は前記曲線部のリード先端側の終
点をそれぞれ示している。溝5の一方の端の位置L
2 は、前記L1 の位置からR1 の長さを加えた位置に設
定されており、他方の端の位置L3 は図1(B)におけ
るリード9の先端が成型台1に接触した位置から曲線部
側へ1mm近い位置に設定されている。なお、リード先
端の斜線部は成型後にカットされる部分を示している。
In the same figure, θ 1 and θ 2 are the respective central axes of the lead 9 bent near the tip, and R 1 is the R (curved portion) of the curved portion at the intersection of these θ 1 and θ 2. The radius of the circle) and L 1 indicate the end points of the curved portion on the lead tip side, respectively. Position L of one end of groove 5
2, the are from the position of L 1 is set to a position obtained by adding the length of the R 1, position L 3 at the other end at a tip of the lead 9 in Figure 1 (B) in contact with the molding table 1 position Is set to a position close to 1 mm toward the curved portion side. The hatched portion at the tip of the lead indicates a portion to be cut after molding.

【0038】上記溝5の位置L1 およびL2 は、ガルウ
ィング成型終了後のリード9の状態を考慮して理論的に
求められたもので、このL1 およびL2 の位置を半導体
装置のリードの長さ、曲げ寸法などから求めることによ
り、それぞれの製品に応じた溝5を設けることができ
る。
[0038] The position L 1 and L 2 of the groove 5, which has been theoretically calculated in consideration of the state of the lead 9 after Gullwing molding completion, leads of the semiconductor device the position of the L 1 and L 2 The groove 5 can be provided according to each product by obtaining from the length, bending dimension, and the like.

【0039】また、図3において、R2 は溝5の一方の
角に設けられた曲面のRである。このRは、リード9の
接触移動時に溝5の角でリード9の表面が擦られるのを
防ぐために設けられている。この曲面Rを設けると、リ
ード9が溝5の角と接触してもリード9の表面には溝5
の角が鋭角的に当たることがないため、リード表面に外
装されている半田は剥がれ落ちにくくなる。
In FIG. 3, R 2 is a curved surface R provided at one corner of the groove 5. This R is provided to prevent the surface of the lead 9 from being rubbed at the corner of the groove 5 during the contact movement of the lead 9. When the curved surface R is provided, even if the lead 9 contacts the corner of the groove 5, the groove 5
Does not hit sharply, so that the solder on the lead surface is less likely to peel off.

【0040】図4は、この実施形態に係わる半導体リー
ド成型装置に設けられた集塵システムの概略構成図であ
る。溝5の底面には長手方向の両端から中央部に向かっ
てそれぞれ傾斜がつけられており、中央部には溝5内に
落下した半田を回収するための孔部15が形成されてい
る。この孔部15の下流には集塵機17が接続されてい
る。この集塵機17は溝5内の空気を吸引して外部に排
出するための装置であり、空気の排出部分には吸引した
半田を捕獲する図示しないフィルタが設けられている。
この集塵システムによると、成型時に溝5内に落下した
半田は底面に設けられた傾斜に沿って中央部まで移動
し、ここでさらに集塵機17により孔部15から吸引さ
れ、装置外部に排出される。なお、この集塵機17によ
る吸引は常時行われており、図1の成型パンチ3が下死
点まで下降して真空状態となったときに溝内の半田が集
塵される。このように集塵システムを設けることによっ
て、成型システムを頻繁に停止させることなしに、溝内
を常にクリーンな状態に保つことができる。
FIG. 4 is a schematic configuration diagram of a dust collection system provided in the semiconductor lead molding apparatus according to this embodiment. The bottom surface of the groove 5 is inclined from both ends in the longitudinal direction toward the center, and a hole 15 for collecting the solder dropped into the groove 5 is formed in the center. A dust collector 17 is connected downstream of the hole 15. The dust collector 17 is a device for sucking the air in the groove 5 and discharging the air to the outside, and a filter (not shown) for capturing the sucked solder is provided at the air discharging portion.
According to this dust collection system, the solder that has fallen into the groove 5 during molding moves to the center along the slope provided on the bottom surface, where it is further sucked from the hole 15 by the dust collector 17 and discharged out of the apparatus. You. Note that the suction by the dust collector 17 is always performed, and when the molding punch 3 in FIG. 1 is lowered to the bottom dead center to be in a vacuum state, the solder in the groove is collected. By providing the dust collection system in this manner, the inside of the groove can be always kept clean without frequently stopping the molding system.

【0041】なお、上記集塵システムではリードから剥
がれ落ちたほとんどの半田を集塵することができるが、
溝内である程度の塊となって付着している半田は集塵が
困難であるため、所定の成型回数に達した時点で成型シ
ステムを停止し、溝内に溜まった半田を除去するように
している。
In the above dust collecting system, most of the solder peeled off from the leads can be collected.
Since it is difficult to collect the solder that has adhered as a certain mass in the groove, the molding system is stopped when the specified number of moldings is reached, and the solder accumulated in the groove is removed. I have.

【0042】次に、半導体リード形成装置の他の実施形
態について説明する。
Next, another embodiment of the semiconductor lead forming apparatus will be described.

【0043】図5は、この実施形態に係わる半導体リー
ド成型装置によってカーリング成型を行う過程を示す概
略断面図であり、図13(B)と同等部分を同一符号で
示している。
FIG. 5 is a schematic cross-sectional view showing the process of performing curling molding by the semiconductor lead molding apparatus according to this embodiment, and the same parts as those in FIG.

【0044】図5はカーリング成型の最終工程を示して
おり、その基本的な構成および動作は先に説明した図1
3(B)に対応している。すなわち、この半導体リード
成型装置においても、前段の工程では図示しない他の成
型台によりリード19の根元と先端がそれぞれ90度に
曲げられている。また、半導体装置17は成型台21a
と成型台21bとにより上下から挟まれた状態で固定さ
れており、成型台21bにより成型時のリード19の上
方への移動が規制されている。そして、成型パンチ25
が横方向から成型台21aへ近付いてくると、リード1
9の先端が略J字形状に曲げられ、最終的にリード19
が半導体装置17の下面に押し付けられると、図示のよ
うにカーリング成型が完了する。
FIG. 5 shows the final step of the curling molding, and its basic structure and operation are described in FIG.
3 (B). That is, also in this semiconductor lead molding apparatus, the root and the tip of the lead 19 are each bent by 90 degrees by another molding stand (not shown) in the preceding step. The semiconductor device 17 is mounted on a molding table 21a.
The molding base 21b is fixed in a state sandwiched from above and below, and the upward movement of the lead 19 during molding is restricted by the molding base 21b. And the molding punch 25
When approaching the molding table 21a from the side, the lead 1
9 is bent into a substantially J-shape, and finally the lead 19 is bent.
Is pressed against the lower surface of the semiconductor device 17, the curling molding is completed as shown.

【0045】この実施形態の半導体リード成型装置にお
いては、成型パンチ25の成型部25aにガイド部材と
して3本のローラ27が設けられている。このローラ2
7は直径1.2mmの超硬質の金属ローラからなり、その
長手方向の両端は成型部25aに回動自在に支承されて
いる。また、ローラ27は図5の部分断面図で示す図6
のように45°間隔で配置されている。ただし、ローラ
27の配置は実際の成型パターンに応じて決定される。
In the semiconductor lead molding apparatus of this embodiment, three rollers 27 are provided as guide members in the molding part 25a of the molding punch 25. This roller 2
Reference numeral 7 denotes an ultra-hard metal roller having a diameter of 1.2 mm, and both ends in the longitudinal direction are rotatably supported by a molding portion 25a. The roller 27 is shown in FIG.
Are arranged at 45 ° intervals. However, the arrangement of the rollers 27 is determined according to the actual molding pattern.

【0046】また、ローラ27の下方には溝29が形成
されている。この溝29は、成型パンチ25の概略平面
図である図7に示すように、それぞれのローラ間に開口
しており、成型時にリード19から剥がれた半田が回収
されるように構成されている。この実施形態において
も、溝29の底面には図示しない孔部が形成されてお
り、図4に示した集塵システムが接続されている。な
お、図7において符号31はローラ27を中間部で支承
しているリブである。
A groove 29 is formed below the roller 27. As shown in FIG. 7, which is a schematic plan view of the molding punch 25, the groove 29 is opened between the rollers, and is configured so that the solder peeled from the lead 19 during molding is collected. Also in this embodiment, a hole (not shown) is formed on the bottom surface of the groove 29, and the dust collection system shown in FIG. 4 is connected. In FIG. 7, reference numeral 31 denotes a rib for supporting the roller 27 at an intermediate portion.

【0047】このような半導体リード成型装置を用いて
カーリング成型するには、まず成型台21a上にパッケ
ージされた半導体装置17を固定し(図13(A)参
照)、次に、上述した図5に示すような形状をもつ成型
パンチ25を横方向から成型台21aへ近付けてゆく。
するとリード19の先端と成型パンチ25の成型部25
aとが接触し、さらに成型パンチ25が成型台21aへ
近付くと、リード19の先端が略J字形状に曲げられ
る。
In order to perform curling molding using such a semiconductor lead molding apparatus, first, the semiconductor device 17 packaged on the molding table 21a is fixed (see FIG. 13A), and then the above-described FIG. The molding punch 25 having the shape shown in FIG.
Then, the tip of the lead 19 and the molding part 25 of the molding punch 25
a, and when the molding punch 25 approaches the molding table 21a, the tip of the lead 19 is bent into a substantially J-shape.

【0048】ここで、リード19は成型パンチ25に設
けられたローラ27と接触するが、リード19は各ロー
ラ27の表面を点接触により移動するため、リード19
とローラ27の表面が接触移動する距離は、従来のよう
にリードと成型部とが面接触しながら移動する場合に比
べて短くなる。また、接触時にはそれぞれのローラ27
が回動するため、ガイド部材の表面が固定的である場合
に比べて、接触時の衝撃が緩和される。これにより、成
型時にリード19に外装されている半田の剥がれ落ちる
量は、図13に示す従来例に比べて大幅に少なくなる。
Here, the leads 19 come into contact with the rollers 27 provided on the molding punch 25. Since the leads 19 move on the surface of each roller 27 by point contact, the leads 19
The distance over which the lead and the surface of the roller 27 move in contact is shorter than in the conventional case in which the lead and the molded portion move while making surface contact. At the time of contact, each roller 27
Is rotated, so that the impact at the time of contact is reduced as compared with the case where the surface of the guide member is fixed. Accordingly, the amount of the peeling-off of the solder coated on the lead 19 during molding is greatly reduced as compared with the conventional example shown in FIG.

【0049】さらに、リード19から剥がれ落ちた半田
のほとんどはローラ27の下方に設けられた溝29内に
落下して、成型部25a上に堆積することがほとんどな
いため(ローラ27表面にはごく僅かの半田が付着す
る)、成型パンチ上に堆積した半田を除去するために、
成型システムを停止する回数が少なくなり、生産性を大
幅に向上させることができる。
Further, most of the solder peeled off from the lead 19 falls into the groove 29 provided below the roller 27 and hardly accumulates on the molding portion 25a (there is very little on the surface of the roller 27). Small amount of solder adheres), to remove the solder deposited on the forming punch,
The number of times the molding system is stopped is reduced, and productivity can be greatly improved.

【0050】上述したように、この実施形態に係わる半
導体リード成型装置においては、成型時にリード19表
面から半田を剥がれ落ちにくくすることができるので、
成型部25aに堆積した半田による不良品の発生を可及
的に減少させることができる。また、この実施形態にお
いても、図示しない集塵システムにより半田を集塵する
ことによって、成型システムを頻繁に停止させることな
しに、溝内を常にクリーンな状態に保つことができる。
As described above, in the semiconductor lead molding apparatus according to this embodiment, the solder can be hardly peeled off from the surface of the lead 19 during molding.
The occurrence of defective products due to the solder deposited on the molded portion 25a can be reduced as much as possible. Also in this embodiment, by collecting the solder by a dust collection system (not shown), the inside of the groove can be always kept clean without frequently stopping the molding system.

【0051】なお、上記集塵システムではリード19か
ら剥がれ落ちたほとんどの半田を集塵することができる
が、ローラ27の表面に付着した半田や溝内にある程度
の塊となって付着している半田は集塵が困難であるた
め、所定の成型回数に達した時点で成型システムを停止
し、溝内に溜まった半田を除去するようにしている。
In the above dust collecting system, most of the solder that has peeled off from the lead 19 can be collected, but the solder that has adhered to the surface of the roller 27 and a certain amount of clumps have adhered in the grooves. Since it is difficult to collect dust from the solder, the molding system is stopped when a predetermined number of moldings is reached, so that the solder accumulated in the groove is removed.

【0052】さらに、この実施形態においては、ガイド
部材として回動自在なローラを用いた例について説明し
たが、ガイド部材としては回動しない部材を用いること
もできるし、同等に機能し得るものであれば、その形
状、構造、寸法、配置などは適宜変更することができ
る。
Further, in this embodiment, an example in which a rotatable roller is used as the guide member has been described. However, a non-rotatable member can be used as the guide member, and they can function equally. If so, its shape, structure, dimensions, arrangement, etc. can be changed as appropriate.

【0053】次に、この実施形態に係わる半導体リード
成型装置と従来の半導体リード成型装置との生産性につ
いて説明する。
Next, the productivity of the semiconductor lead molding apparatus according to this embodiment and the conventional semiconductor lead molding apparatus will be described.

【0054】まず成型プロセスの共通条件として、シス
テムの1日の稼働時間を21.75時間、半導体装置1
個の製造に要する時間(M/Cインデックス)を3.5
秒、クリーニング一回当たりのシステム停止時間を0.
5H、月の稼働日数を22日間とした。各装置における
計測結果は次のようになった。
First, as common conditions of the molding process, the operating time of the system per day is 21.75 hours, and the semiconductor device 1
The time (M / C index) required for manufacturing individual pieces is 3.5
Seconds, the system downtime per cleaning is 0.
5H, the number of operating days per month was 22 days. The measurement results of each device were as follows.

【0055】 1.従来の半導体リード成型装置(クリーニング頻度は1回/2000パンチ) 1日当たりの生産数 22371個 1日当たりのクリーニング回数 11.2回 1日当たりのクリーニングによるロス個数 5760個 月当たりのクリーニングロス時間 0.5×11.2×22=123H 月当たりのロス個数 5760×22=126720個 2.本実施形態の半導体リード成型装置(クリーニング頻度は1回/6000パ ンチ) 1日当たりの生産数 26213個 1日当たりのクリーニング回数 3.73回 1日当たりのクリーニングによるロス個数 1918個 月当たりのクリーニングロス時間 0.5×3.73×22=41H 月当たりのロス個数 1918×22=42202個 なお、1日当たりのクリーニングによるロス個数とは、
クリーニングによる停止がなければ生産されたであろう
個数を示している。
1. Conventional semiconductor lead molding device (cleaning frequency is 1 time / 2000 punches) Production number per day 22371 Number of times of cleaning per day 11.2 times Number of losses due to cleaning per day 5760 Cleaning loss time per month 0.5 × 11.2 × 22 = 123H Number of losses per month 5760 × 22 = 126720 Semiconductor lead molding apparatus of the present embodiment (cleaning frequency is 1 time / 6000 punches) Production number per day 26213 cleaning times per day 3.73 times loss number due to cleaning per day 1918 cleaning loss time per month 0.5 × 3.73 × 22 = 41H Number of losses per month 1918 × 22 = 42202 pieces The number of losses due to cleaning per day is
It shows the number that would have been produced without a stop due to cleaning.

【0056】これらの結果に基づいて、従来装置と本装
置の月当たりのクリーニングロス時間を比較すると、図
8に示すように123H−41H=82Hとなった。ま
た、これに基づいて両者の月当たりの生産数(KP/
月)を比較したことろ、図9に示すように576KP−
492KP=84KP/月となり、従来に比べて生産数
が約17%向上することが確認された。
When comparing the cleaning loss time per month between the conventional apparatus and the present apparatus based on these results, 123H-41H = 82H as shown in FIG. In addition, based on this, the number of production per month (KP /
Month), as shown in FIG.
It was 492 KP = 84 KP / month, and it was confirmed that the production number was improved by about 17% as compared with the conventional case.

【0057】[0057]

【発明の効果】第1の発明に係わる半導体リード成型装
置によれば、成型時にリードが接触移動する成型台上の
領域に溝を設けるようにしたので、リードの先端が成型
台上を接触移動した際に、剥がれた半田がリードの移動
とともに引きずられても、溝の部分では引きずられるこ
とがなくなる。したがって、剥がれた半田が成型台上の
とくにリードの曲り部分近辺へ堆積することがなくな
り、剥がれた半田がリードに付着することによる不良品
の発生を可及的に減少することができる。また、堆積し
た半田を頻繁に除去する必要がなくなるため、生産性を
大幅に向上させることができる。
According to the semiconductor lead molding apparatus according to the first aspect of the present invention, the groove is provided in the area on the molding table where the lead contacts and moves during molding, so that the tip of the lead contacts and moves on the molding table. At this time, even if the peeled solder is dragged with the movement of the lead, the solder is not dragged at the groove. Therefore, the peeled solder does not accumulate on the molding table, especially near the bent portion of the lead, and the occurrence of defective products due to the peeled solder adhering to the lead can be reduced as much as possible. Further, since it is not necessary to frequently remove the deposited solder, productivity can be significantly improved.

【0058】とくに第2の発明によれば、前記第1の発
明において、リードと接触する溝の角の少なくとも一部
を曲面としたので、前記リードが溝の角と接触してもリ
ード表面には溝の角が鋭角的に当たることがないため、
リード表面に外装されている半田を剥がれ落ちにくくす
ることができる。
In particular, according to the second aspect, in the first aspect, at least a part of the corner of the groove that makes contact with the lead is curved, so that even if the lead makes contact with the corner of the groove, the surface of the lead is formed. Since the corner of the groove does not hit sharply,
It is possible to make it difficult for the solder coated on the lead surface to peel off.

【0059】第3の発明によれば、成型時に前記リード
が接触移動する第2の成型台上の領域に複数のガイド部
材を設けるようにしたので、成型時にリードとガイド部
材の表面とが接触移動する距離は従来に比べて短くな
り、リード表面の半田は剥がれ落ちにくくなる。したが
って、剥がれた半田がリードに付着することによる不良
品の発生を可及的に減少することができる。また、堆積
した半田を頻繁に除去する必要がなくなるため、生産性
を大幅に向上させることができる。
According to the third aspect of the present invention, the plurality of guide members are provided in the area on the second molding table where the leads contact and move during molding, so that the leads and the surfaces of the guide members contact each other during molding. The moving distance is shorter than before, and the solder on the lead surface is less likely to peel off. Therefore, the occurrence of defective products due to the peeled solder adhering to the leads can be reduced as much as possible. Further, since it is not necessary to frequently remove the deposited solder, productivity can be significantly improved.

【0060】とくに第4の発明によれば、前記第3の発
明において、ガイド部材の下方に溝を設けるようにした
ので、剥がれ落ちた半田のほとんどは溝内に落下し、リ
ードが接触移動する第2の成型台上の領域に堆積するこ
とがない。したがって、剥がれ落ちた半田がリードに付
着する可能性をさらに少なくすることができる。
In particular, according to the fourth aspect, in the third aspect, the groove is provided below the guide member, so that most of the peeled-off solder falls into the groove, and the lead contacts and moves. There is no accumulation in the area on the second molding table. Therefore, the possibility that the peeled-off solder adheres to the lead can be further reduced.

【0061】また、とくに第5の発明によれば、前記第
3または第4の発明において、前記ガイド部材をローラ
により構成するようにしたので、リードがガイド部材の
表面を接触移動した際に、ガイド部材としてのローラが
回動し、ガイド部材の表面が固定的である場合に比べて
接触時の衝撃が緩和される。したがって、リード表面に
外装されている半田をさらに剥がれ落ちにくくすること
ができる。
According to a fifth aspect of the present invention, in the third or fourth aspect, the guide member is constituted by a roller. Therefore, when the lead contacts and moves on the surface of the guide member, The roller as a guide member rotates, and the impact at the time of contact is reduced as compared with the case where the surface of the guide member is fixed. Therefore, it is possible to make it more difficult for the solder provided on the lead surface to peel off.

【0062】第6の発明によれば、成型時にリードが接
触移動する第2の成型台上の領域に溝を設けるようにし
たので、リードが成型台上を接触移動した際に剥がれ落
ちた半田のほとんどは溝内に落下し、リードが接触移動
する第2の成型台上の領域に堆積することがない。した
がって、剥がれた半田がリードに付着することによる不
良品の発生を可及的に減少することができる。また、堆
積した半田を頻繁に除去する必要がなくなるため、生産
性を大幅に向上させることができる。
According to the sixth aspect of the present invention, since the groove is provided in the area on the second molding table where the lead contacts and moves at the time of molding, the solder which has come off when the lead contacts and moves on the molding table is formed. Most fall into the groove and do not accumulate in the area on the second molding table where the lead contacts and moves. Therefore, the occurrence of defective products due to the peeled solder adhering to the leads can be reduced as much as possible. Further, since it is not necessary to frequently remove the deposited solder, productivity can be significantly improved.

【0063】さらに第7の発明によれば、前記第1ない
し第6の発明において、前記溝の一部に吸引手段を設け
るようにしたので、溝内に入り込んだ半田はこの吸引手
段により吸い取られる。このため、溝内を常にクリーン
な状態に保つことができる。
According to the seventh invention, in the first to sixth inventions, a suction means is provided in a part of the groove, so that the solder entering the groove is sucked by the suction means. . Therefore, the inside of the groove can always be kept clean.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】(A)〜(C)は実施形態に係わる半導体リー
ド成型装置によってガルウィング成型を行う過程を示す
概略断面図。
FIGS. 1A to 1C are schematic sectional views showing a process of performing gull wing molding by a semiconductor lead molding apparatus according to an embodiment.

【図2】(A)は図1に示す成型台の概略平面図、
(B)はその側面図。
2A is a schematic plan view of the molding table shown in FIG. 1,
(B) is the side view.

【図3】ガルウィング成型が完了したリードと成型台と
の概略断面図。
FIG. 3 is a schematic cross-sectional view of a lead and a molding table after gull wing molding is completed.

【図4】実施形態に係わる半導体リード成型装置に設け
られた集塵システムの概略構成図。
FIG. 4 is a schematic configuration diagram of a dust collection system provided in the semiconductor lead molding device according to the embodiment.

【図5】実施形態に係わる半導体リード成型装置によっ
てカーリング成型を行う過程を示す概略断面図。
FIG. 5 is a schematic cross-sectional view showing a process of performing curling molding by the semiconductor lead molding apparatus according to the embodiment.

【図6】図5に示すローラの部分断面図。FIG. 6 is a partial sectional view of the roller shown in FIG. 5;

【図7】成型パンチの概略平面図。FIG. 7 is a schematic plan view of a molding punch.

【図8】従来装置と本実施形態装置の月当たりのクリー
ニングロス時間を示す説明図。
FIG. 8 is an explanatory diagram showing the cleaning loss time per month of the conventional apparatus and the apparatus of the present embodiment.

【図9】従来装置と本実施形態装置の月当たりの生産数
(KP/月)を示す説明図。
FIG. 9 is an explanatory view showing the number of production per month (KP / month) of the conventional apparatus and the apparatus of the present embodiment.

【図10】(A)〜(C)は従来からのフォーミング工
程により成型されるリードの形状を示す概略図。
FIGS. 10A to 10C are schematic views showing the shape of a lead formed by a conventional forming step.

【図11】(A)〜(C)は従来の半導体リード成型装
置によってガルウィング成型を行う場合の過程を示す概
略断面図。
11 (A) to 11 (C) are schematic cross-sectional views showing a process when gull wing molding is performed by a conventional semiconductor lead molding apparatus.

【図12】図11(C)に示す領域aの拡大図。FIG. 12 is an enlarged view of a region a shown in FIG.

【図13】(A)、(B)は従来の半導体リード成型装
置においてカーリング成型を行う場合の過程を示す概略
断面図。
FIGS. 13A and 13B are schematic cross-sectional views showing a process of performing curling molding in a conventional semiconductor lead molding apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1、21a、21b 成型台 3、25 成型パンチ 5、29 溝 7、17 半導体装置 9、19 リード 25a 成型部 27 ローラ 1, 21a, 21b Molding table 3, 25 Molding punch 5, 29 Groove 7, 17 Semiconductor device 9, 19 Lead 25a Molding part 27 Roller

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半田が外装されたリードが引き出されて
いる半導体装置を固定する第1の成型台と、前記リード
を前記成型台へ押し付けて所定形状に成型する第2の成
型台とを備えた半導体リード成型装置において、 成型時に前記リードが接触移動する前記第1の成型台上
の領域に溝を設けたことを特徴とする半導体リード成型
装置。
1. A semiconductor device comprising: a first molding table for fixing a semiconductor device from which a solder-covered lead is drawn out; and a second molding table for pressing the lead against the molding table and molding the lead into a predetermined shape. The semiconductor lead molding device according to claim 1, wherein a groove is provided in a region on the first molding table where the lead contacts and moves during molding.
【請求項2】 前記リードの接触移動時に該リードと接
触する溝の角の少なくとも一部が曲面であることを特徴
とする請求項1記載の半導体リード成型装置。
2. The semiconductor lead molding apparatus according to claim 1, wherein at least a part of the corner of the groove that contacts the lead when the lead moves in contact is a curved surface.
【請求項3】 半田が外装されたリードが引き出されて
いる半導体装置を固定する第1の成型台と、前記リード
を所定位置に押し付けて所定形状に成型する第2の成型
台とを備えた半導体リード成型装置において、 成型時に前記リードが接触移動する前記第2の成型台上
の領域に複数のガイド部材を設けたことを特徴とする半
導体リード成型装置。
3. A semiconductor device comprising: a first molding table for fixing a semiconductor device from which a solder-covered lead is drawn out; and a second molding table for pressing the lead to a predetermined position and molding the lead into a predetermined shape. A semiconductor lead molding apparatus, wherein a plurality of guide members are provided in an area on the second molding table where the lead contacts and moves during molding.
【請求項4】 前記ガイド部材の下方に溝を設けたこと
を特徴とする請求項3記載の半導体リード成型装置。
4. The semiconductor lead molding apparatus according to claim 3, wherein a groove is provided below said guide member.
【請求項5】 前記ガイド部材がローラであることを特
徴とする請求項3または請求項4記載の半導体リード成
型装置。
5. The semiconductor lead molding apparatus according to claim 3, wherein said guide member is a roller.
【請求項6】 半田が外装されたリードが引き出されて
いる半導体装置を固定する第1の成型台と、前記リード
を所定位置に押し付けて所定形状に成型する第2の成型
台とを備えた半導体リード成型装置において、 成型時に前記リードが接触移動する前記第2の成型台上
の領域に溝を設けたことを特徴とする半導体リード成型
装置。
6. A first molding stand for fixing a semiconductor device from which a solder-covered lead is drawn out, and a second molding stand for pressing the lead to a predetermined position and molding the lead into a predetermined shape. A semiconductor lead molding apparatus, wherein a groove is provided in an area on the second molding table where the lead contacts and moves during molding.
【請求項7】 前記溝の一部に吸引手段を設けたことを
特徴とする請求項1乃至請求項6記載の半導体リード成
型装置。
7. The semiconductor lead molding apparatus according to claim 1, wherein suction means is provided in a part of said groove.
JP8317532A 1996-11-28 1996-11-28 Semiconductor lead molding equipment Pending JPH10163394A (en)

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