JPH10170393A - 光線路の試験方法 - Google Patents
光線路の試験方法Info
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- JPH10170393A JPH10170393A JP32737896A JP32737896A JPH10170393A JP H10170393 A JPH10170393 A JP H10170393A JP 32737896 A JP32737896 A JP 32737896A JP 32737896 A JP32737896 A JP 32737896A JP H10170393 A JPH10170393 A JP H10170393A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 光パワーメータを使用しない低コストの光線
路の試験方法が求められていた。 【解決手段】 心線選択装置２にて試験光線路８を目的
の通信光線路９に接続した後、光パルス試験器２０をオ
ンにして試験光線路８および通信光線路９内の伝送光の
有無を観測する第１の工程により、光パルス試験器２０
にて光パワーメータを使用すること無く伝送光の有無を
観測することができる、低コストの光線路の試験方法を
提供する。
路の試験方法が求められていた。 【解決手段】 心線選択装置２にて試験光線路８を目的
の通信光線路９に接続した後、光パルス試験器２０をオ
ンにして試験光線路８および通信光線路９内の伝送光の
有無を観測する第１の工程により、光パルス試験器２０
にて光パワーメータを使用すること無く伝送光の有無を
観測することができる、低コストの光線路の試験方法を
提供する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光線路の試験方法
に関するものである。
に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図６は、光線路監視システムを示す。図
６中符号１は光試験装置（ＯＰＴ部）、２は心線選択装
置、３は光源、４は光パワーメータ（ＯＰＭ）、５は光
パルス試験器（ＯＴＤＲ：Optical Time Domain Ref
lectometer）、６は光スイッチ、７は光部品収納ケー
ス、８は試験光線路、９は通信光線路である。光線路監
視システムは、光試験装置１と、心線選択装置２とを備
えて構成される。光試験装置１と心線選択装置２との間
は試験光配線８によって光接続され、心線選択装置２は
内蔵した光部品収納ケース７にて通信光線路９と接続さ
れる。光試験装置１は光源３と、光パワーメータ４と、
光パルス試験器５とを装備し、これら光源３、光パワー
メータ４、光パルス試験器５を２本の試験光配線８、８
と接続している。なお、通信光線路９は、光ファイバ等
から構成された光配線である。
６中符号１は光試験装置（ＯＰＴ部）、２は心線選択装
置、３は光源、４は光パワーメータ（ＯＰＭ）、５は光
パルス試験器（ＯＴＤＲ：Optical Time Domain Ref
lectometer）、６は光スイッチ、７は光部品収納ケー
ス、８は試験光線路、９は通信光線路である。光線路監
視システムは、光試験装置１と、心線選択装置２とを備
えて構成される。光試験装置１と心線選択装置２との間
は試験光配線８によって光接続され、心線選択装置２は
内蔵した光部品収納ケース７にて通信光線路９と接続さ
れる。光試験装置１は光源３と、光パワーメータ４と、
光パルス試験器５とを装備し、これら光源３、光パワー
メータ４、光パルス試験器５を２本の試験光配線８、８
と接続している。なお、通信光線路９は、光ファイバ等
から構成された光配線である。
【０００３】心線選択装置２は光スイッチ６と光部品収
納ケース７とを備えている。光スイッチ６は、１あるい
は複数の光部品収納ケース７に対応し、例えば２０００
本の単心の光ファイバ１１に対して、試験光配線８、８
を選択的に接続する。具体的には、光スイッチ６はメカ
ニカル方式のファイバ突き合わせ型スイッチであり、２
本の試験光配線８、８のそれぞれの端末に設けた単心光
ファイバを可動ヘッド１２に搭載し、該可動ヘッド１２
を図示しないパルスモータで駆動して目的位置に正確に
位置決めすることで、光ファイバ配列台６ａ上に配列さ
せた目的の光ファイバ１１、１１とそれぞれ接続する。
なお、可動ヘッド１２、１２の制御は光スイッチ６内蔵
のＣＰＵによりなされる。光部品収納ケース７は、光ス
イッチ６から引き出された単心あるいは多心の光ファイ
バ１１ａと、この光ファイバ１１ａの途中に介在させた
光合分波器１０（光カプラ）とを収納し、光ファイバ１
１ａと通信光線路９とを光コネクタ１３を介して接続す
る。また、光部品収納ケース７は、図示していない伝送
装置側の光線路が接続される接続用ポート１４を有し、
この接続用ポート１４を介して通信光線路９や光ファイ
バ１１ａを伝送装置側の光線路と接続する。なお、試験
光配線８と光ファイバ１１、１１ａとは、光試験装置１
と心線選択装置２内の他の光部品とともに試験光線路を
構成する。
納ケース７とを備えている。光スイッチ６は、１あるい
は複数の光部品収納ケース７に対応し、例えば２０００
本の単心の光ファイバ１１に対して、試験光配線８、８
を選択的に接続する。具体的には、光スイッチ６はメカ
ニカル方式のファイバ突き合わせ型スイッチであり、２
本の試験光配線８、８のそれぞれの端末に設けた単心光
ファイバを可動ヘッド１２に搭載し、該可動ヘッド１２
を図示しないパルスモータで駆動して目的位置に正確に
位置決めすることで、光ファイバ配列台６ａ上に配列さ
せた目的の光ファイバ１１、１１とそれぞれ接続する。
なお、可動ヘッド１２、１２の制御は光スイッチ６内蔵
のＣＰＵによりなされる。光部品収納ケース７は、光ス
イッチ６から引き出された単心あるいは多心の光ファイ
バ１１ａと、この光ファイバ１１ａの途中に介在させた
光合分波器１０（光カプラ）とを収納し、光ファイバ１
１ａと通信光線路９とを光コネクタ１３を介して接続す
る。また、光部品収納ケース７は、図示していない伝送
装置側の光線路が接続される接続用ポート１４を有し、
この接続用ポート１４を介して通信光線路９や光ファイ
バ１１ａを伝送装置側の光線路と接続する。なお、試験
光配線８と光ファイバ１１、１１ａとは、光試験装置１
と心線選択装置２内の他の光部品とともに試験光線路を
構成する。
【０００４】この光線路監視システムでは、光スイッチ
６にて目的の光ファイバ８、１１同士を接続すること
で、目的の通信光線路９と光試験装置１とが接続され
る。そして、光源３から試験光配線８に入射した試験光
を、光スイッチ６、光部品収納ケース７を介して通信光
線路９へ入射し、この逆順で光試験装置１に帰還した反
射光を光パルス試験器５で観測することで、周知の光パ
ルス試験を行う。試験光波長としては、通信光波長であ
る１．３１μｍ、あるいは通信光とは異なる波長として
は例えば１．５５μｍや１．６５μｍを用いることが一
般的である。
６にて目的の光ファイバ８、１１同士を接続すること
で、目的の通信光線路９と光試験装置１とが接続され
る。そして、光源３から試験光配線８に入射した試験光
を、光スイッチ６、光部品収納ケース７を介して通信光
線路９へ入射し、この逆順で光試験装置１に帰還した反
射光を光パルス試験器５で観測することで、周知の光パ
ルス試験を行う。試験光波長としては、通信光波長であ
る１．３１μｍ、あるいは通信光とは異なる波長として
は例えば１．５５μｍや１．６５μｍを用いることが一
般的である。
【０００５】ところで、通信光線路９で通信を行ってい
る最中に試験光を入射すると、通信に影響を与えてしま
うため、試験に行う前に通信光線路９内の伝送光の有無
を確認する必要がある。従来、通信光線路９内の伝送光
の確認は、光スイッチ６を駆動して目的の通信光線路９
に光試験装置１を接続した後、光パワーメータ４をオン
にして受光強度を基準値と比較している。通信光が存在
しないことが確認できたら、試験光を入射して光パルス
試験を実施する。
る最中に試験光を入射すると、通信に影響を与えてしま
うため、試験に行う前に通信光線路９内の伝送光の有無
を確認する必要がある。従来、通信光線路９内の伝送光
の確認は、光スイッチ６を駆動して目的の通信光線路９
に光試験装置１を接続した後、光パワーメータ４をオン
にして受光強度を基準値と比較している。通信光が存在
しないことが確認できたら、試験光を入射して光パルス
試験を実施する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところで、前記のよう
な光線路の試験方法の場合、光パワーメータ４が高価で
あるため、光線路監視システムのコストが上昇するとい
った問題があった。なお、光パワーメータ４は光線路監
視システム自体の光線路試験においてループバックされ
た試験光強度を基準値と比較することだけに機能し、通
信光線路９のパルス試験等の他の試験には利用されない
ため、このループバック光用の光パワーメータ４を設置
しないで安価で実施できる試験方法の開発が求められて
いた。
な光線路の試験方法の場合、光パワーメータ４が高価で
あるため、光線路監視システムのコストが上昇するとい
った問題があった。なお、光パワーメータ４は光線路監
視システム自体の光線路試験においてループバックされ
た試験光強度を基準値と比較することだけに機能し、通
信光線路９のパルス試験等の他の試験には利用されない
ため、このループバック光用の光パワーメータ４を設置
しないで安価で実施できる試験方法の開発が求められて
いた。
【０００７】本発明は、前述の課題に鑑みてなされたも
ので、ループバックした試験光用の光パワーメータが不
要となるため、光線路監視システムをコンパクト化、低
コスト化できる光線路の試験方法を提供することを目的
とするものである。
ので、ループバックした試験光用の光パワーメータが不
要となるため、光線路監視システムをコンパクト化、低
コスト化できる光線路の試験方法を提供することを目的
とするものである。
【０００８】本発明では、試験光を試験光線路に入射し
て該試験光線路と接続した通信光線路に入射し、該試験
光が試験光線路あるいは通信光線路で反射した反射光を
観測して試験光線路および通信光線路の異常を検出する
光パルス試験器と、複数の通信用光線路に対して前記試
験光線路を選択的に切替可能に接続する光スイッチとを
備えた光線路の試験方法であって、心線選択装置にて試
験光線路を目的の通信光線路に接続した後、光パルス試
験器をオンにして通信光線路内の伝送光を試験光線路を
介して光パルス試験器に導いて観測する第１の工程と、
第１の工程で光パルス試験器での受光強度を予め設定し
た基準値と比較して伝送光の有無を判定する第２の工程
と、前記第２の工程で伝送光が確認されない場合に、光
パルス試験器から試験光を試験光線路に入射する第３の
工程とを備えることを特徴とする光線路の試験方法を前
記課題の解決手段とした。本発明では、ＣＰＵを内蔵し
た制御手段を光パルス試験器に接続して該光パルス試験
器の作動を制御する構成を採用することが好ましい。こ
の場合、制御手段は、第１の工程で光パルス試験器が受
光した光の強度をＣＰＵに入力する入力手段と、該入力
手段から入力された光強度を、予め設定された受光レベ
ルの基準値と比較して伝送光の有無を判定する比較手段
と、入力された光強度が前記基準値より低い場合に光パ
ルス試験器に試験光の入射信号を出力する出力手段と、
入力された光強度が前記基準値より高い場合に伝送の存
在を示す信号を表示する表示手段とを備えることが好ま
しい。第２の工程は、比較手段によりなされる。第３の
工程の試験光は、通信光線路を試験する周知の光パルス
試験や光線路監視システム自体の試験等に使用されるも
のであり、波長１．３１μｍ、１．５５μｍ、１．６５
μｍ等が採用される。
て該試験光線路と接続した通信光線路に入射し、該試験
光が試験光線路あるいは通信光線路で反射した反射光を
観測して試験光線路および通信光線路の異常を検出する
光パルス試験器と、複数の通信用光線路に対して前記試
験光線路を選択的に切替可能に接続する光スイッチとを
備えた光線路の試験方法であって、心線選択装置にて試
験光線路を目的の通信光線路に接続した後、光パルス試
験器をオンにして通信光線路内の伝送光を試験光線路を
介して光パルス試験器に導いて観測する第１の工程と、
第１の工程で光パルス試験器での受光強度を予め設定し
た基準値と比較して伝送光の有無を判定する第２の工程
と、前記第２の工程で伝送光が確認されない場合に、光
パルス試験器から試験光を試験光線路に入射する第３の
工程とを備えることを特徴とする光線路の試験方法を前
記課題の解決手段とした。本発明では、ＣＰＵを内蔵し
た制御手段を光パルス試験器に接続して該光パルス試験
器の作動を制御する構成を採用することが好ましい。こ
の場合、制御手段は、第１の工程で光パルス試験器が受
光した光の強度をＣＰＵに入力する入力手段と、該入力
手段から入力された光強度を、予め設定された受光レベ
ルの基準値と比較して伝送光の有無を判定する比較手段
と、入力された光強度が前記基準値より低い場合に光パ
ルス試験器に試験光の入射信号を出力する出力手段と、
入力された光強度が前記基準値より高い場合に伝送の存
在を示す信号を表示する表示手段とを備えることが好ま
しい。第２の工程は、比較手段によりなされる。第３の
工程の試験光は、通信光線路を試験する周知の光パルス
試験や光線路監視システム自体の試験等に使用されるも
のであり、波長１．３１μｍ、１．５５μｍ、１．６５
μｍ等が採用される。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下本発明の実施の形態を、図１
から図５を参照して説明する。なお、図中、図６と同一
の構成部分には同一の符号を付し、その説明を簡略化す
る。図１は光線路監視システムを示す。図１中符号２０
は光パルス試験器であり、図示しない光源を内蔵してい
る。また、光パルス試験器２０は、制御手段（コンピュ
ータ）２１と接続され、この制御手段２１により作動が
制御される。図２に示すように、制御手段２１は、光パ
ルス試験器２０が受光した光の強度をＣＰＵ２２に入力
する入力手段２３と、該入力手段２３から入力された光
強度を、予め設定された受光レベルの基準値と比較する
比較手段２４と、入力された光強度が前記基準値より低
い場合に光パルス試験器２０に試験光の入射信号を出力
する出力手段２５と、入力された光強度が前記基準値よ
り高い場合に伝送の存在を示す信号を表示する表示手段
２６と、光スイッチ６に試験光配線８と光ファイバ１１
との接続および接続切替の指令を出力する心線選択指令
手段２７とを備える。制御手段２１は、光パルス試験器
２０が受光した強度が、比較手段２４に設定された基準
値以下である場合にのみ光パルス試験器２０に入射信号
を出力し、受光強度が前記基準値よりも高い場合には入
射信号を出力しないで、受光レベルをディスプレイ等か
らなる表示手段２６に表示させる。また、試験対象の通
信光線路９は、心線選択指令手段２７から光スイッチ６
に作動信号を出力して試験光配線８を目的の光ファイバ
１１に接続することで選択され、これにより光パルス試
験器２０と接続される。
から図５を参照して説明する。なお、図中、図６と同一
の構成部分には同一の符号を付し、その説明を簡略化す
る。図１は光線路監視システムを示す。図１中符号２０
は光パルス試験器であり、図示しない光源を内蔵してい
る。また、光パルス試験器２０は、制御手段（コンピュ
ータ）２１と接続され、この制御手段２１により作動が
制御される。図２に示すように、制御手段２１は、光パ
ルス試験器２０が受光した光の強度をＣＰＵ２２に入力
する入力手段２３と、該入力手段２３から入力された光
強度を、予め設定された受光レベルの基準値と比較する
比較手段２４と、入力された光強度が前記基準値より低
い場合に光パルス試験器２０に試験光の入射信号を出力
する出力手段２５と、入力された光強度が前記基準値よ
り高い場合に伝送の存在を示す信号を表示する表示手段
２６と、光スイッチ６に試験光配線８と光ファイバ１１
との接続および接続切替の指令を出力する心線選択指令
手段２７とを備える。制御手段２１は、光パルス試験器
２０が受光した強度が、比較手段２４に設定された基準
値以下である場合にのみ光パルス試験器２０に入射信号
を出力し、受光強度が前記基準値よりも高い場合には入
射信号を出力しないで、受光レベルをディスプレイ等か
らなる表示手段２６に表示させる。また、試験対象の通
信光線路９は、心線選択指令手段２７から光スイッチ６
に作動信号を出力して試験光配線８を目的の光ファイバ
１１に接続することで選択され、これにより光パルス試
験器２０と接続される。
【００１０】以下、本実施の形態の光線路の試験方法
を、図３を参照して説明する。図１に示した光線路監視
システムにより通信光線路９等の試験を行うには、図３
に示すように、まず、第１のステップ３１で心線選択装
置２にて試験光配線８を目的の通信光線路９に接続す
る。次に、第２のステップ３２で、光パルス試験器２０
をオンにして試験光配線８および通信光線路９内の例え
ば波長１．３１μｍである伝送光（現用光）を観測す
る。第１、第２のステップ３１、３２は請求項１記載の
第１の工程を構成する。
を、図３を参照して説明する。図１に示した光線路監視
システムにより通信光線路９等の試験を行うには、図３
に示すように、まず、第１のステップ３１で心線選択装
置２にて試験光配線８を目的の通信光線路９に接続す
る。次に、第２のステップ３２で、光パルス試験器２０
をオンにして試験光配線８および通信光線路９内の例え
ば波長１．３１μｍである伝送光（現用光）を観測す
る。第１、第２のステップ３１、３２は請求項１記載の
第１の工程を構成する。
【００１１】次に、第３のステップ３３では、制御手段
２１の比較手段２４に設定した基準値Ｌと、光パルス試
験器２０で観測した受光強度とを比較することで伝送光
の有無を判定する。第３のステップ３３で伝送光が確認
された場合（受光強度が基準値Ｌよりも高い。図５参
照）には第４のステップ３４にて「伝送光有り」の表示
し、第５のステップ３５で前記表示を一定時間行った
後、試験光入射を行うこと無く第６のステップ３６へ移
行して試験対象の通信光線路９を切り替える。第３のス
テップ３３は、請求項１記載の第２の工程を構成してい
る。なお、第３のステップ３３では、光パルス試験器２
０と比較手段２４とによって伝送光の有無を判定するこ
とができるので、光線路監視システムに光パワーメータ
を設置する必要がなくなる。
２１の比較手段２４に設定した基準値Ｌと、光パルス試
験器２０で観測した受光強度とを比較することで伝送光
の有無を判定する。第３のステップ３３で伝送光が確認
された場合（受光強度が基準値Ｌよりも高い。図５参
照）には第４のステップ３４にて「伝送光有り」の表示
し、第５のステップ３５で前記表示を一定時間行った
後、試験光入射を行うこと無く第６のステップ３６へ移
行して試験対象の通信光線路９を切り替える。第３のス
テップ３３は、請求項１記載の第２の工程を構成してい
る。なお、第３のステップ３３では、光パルス試験器２
０と比較手段２４とによって伝送光の有無を判定するこ
とができるので、光線路監視システムに光パワーメータ
を設置する必要がなくなる。
【００１２】第３のステップ３３で伝送光が確認されな
い場合には、第７のステップ３７へ進む。第７のステッ
プ３７では光パルス試験器２０を駆動して試験光を試験
光配線８に入射し、第８のステップ３８にて反射光の観
測データを表示手段２６に表示する。試験光としては、
１．３１μｍ、１．５５μｍ、１．６５μｍを採用す
る。第７、第８のステップ３７、３８は、請求項１記載
の第３の工程を構成する。
い場合には、第７のステップ３７へ進む。第７のステッ
プ３７では光パルス試験器２０を駆動して試験光を試験
光配線８に入射し、第８のステップ３８にて反射光の観
測データを表示手段２６に表示する。試験光としては、
１．３１μｍ、１．５５μｍ、１．６５μｍを採用す
る。第７、第８のステップ３７、３８は、請求項１記載
の第３の工程を構成する。
【００１３】第８のステップ３８が完了したら第６のス
テップ３６に進み、次の試験対象の通信光線路９への接
続切替指令を心線選択指令手段２７から光スイッチ６へ
出力し、第１のステップ３１へループバックして、以
下、新たに選択した通信光線路９について試験を実施す
ることで、光スイッチ６に接続された光ファイバ１１を
介して多数の通信光線路９を順次試験する。全ての通信
光線路９について試験を完了したら、試験を終了する。
第６のステップ３６および第１のステップ３１は、制御
手段２１の制御により光スイッチ６にて自動的に迅速に
なされる。また、伝送光の無いことの確認と試験光の入
射、観測とを一本の通信光線路９について完了した後、
次の通信光線路９での試験に自動的に移行することで可
動ヘッド１２の移動回数を減少したので、これにより、
全ての通信光線路９についての試験の所要時間を短縮す
ることができる。
テップ３６に進み、次の試験対象の通信光線路９への接
続切替指令を心線選択指令手段２７から光スイッチ６へ
出力し、第１のステップ３１へループバックして、以
下、新たに選択した通信光線路９について試験を実施す
ることで、光スイッチ６に接続された光ファイバ１１を
介して多数の通信光線路９を順次試験する。全ての通信
光線路９について試験を完了したら、試験を終了する。
第６のステップ３６および第１のステップ３１は、制御
手段２１の制御により光スイッチ６にて自動的に迅速に
なされる。また、伝送光の無いことの確認と試験光の入
射、観測とを一本の通信光線路９について完了した後、
次の通信光線路９での試験に自動的に移行することで可
動ヘッド１２の移動回数を減少したので、これにより、
全ての通信光線路９についての試験の所要時間を短縮す
ることができる。
【００１４】したがって、この光線路の試験方法によれ
ば、光パルス試験器２０で受光した光の強度から、制御
手段２１で伝送光の有無を判断するようにしたことによ
り、光パワーメータが不要になり、低コストで試験を実
施することができる。また、第３のステップ３３では、
伝送光を確認している場合には図５に示すように距離
（時間）と平行の直線的な波形が得られるが、この波形
が乱れている場合には通信光線路の異常が検出される。
ば、光パルス試験器２０で受光した光の強度から、制御
手段２１で伝送光の有無を判断するようにしたことによ
り、光パワーメータが不要になり、低コストで試験を実
施することができる。また、第３のステップ３３では、
伝送光を確認している場合には図５に示すように距離
（時間）と平行の直線的な波形が得られるが、この波形
が乱れている場合には通信光線路の異常が検出される。
【００１５】
【発明の効果】本発明の光線路の試験方法によれば、心
線選択装置にて試験光線路を目的の通信光線路に接続し
た後、光パルス試験器をオンにして通信光線路内の伝送
光を試験光線路を介して光パルス試験器に導いて観測す
る第１の工程と、第１の工程で光パルス試験器での受光
強度を予め設定した基準値と比較して伝送光の有無を判
定する第２の工程と、前記第２の工程で伝送光が確認さ
れない場合に、光パルス試験器から試験光を試験光線路
に入射する第３の工程とを備え、第１の工程にて、光パ
ルス試験器による伝送光の観測結果から伝送光の有無を
判断するようにしたので、光パワーメータが不要にな
り、これにより、光線路監視システムの小型化や低コス
ト化が可能になるといった優れた効果を奏する。
線選択装置にて試験光線路を目的の通信光線路に接続し
た後、光パルス試験器をオンにして通信光線路内の伝送
光を試験光線路を介して光パルス試験器に導いて観測す
る第１の工程と、第１の工程で光パルス試験器での受光
強度を予め設定した基準値と比較して伝送光の有無を判
定する第２の工程と、前記第２の工程で伝送光が確認さ
れない場合に、光パルス試験器から試験光を試験光線路
に入射する第３の工程とを備え、第１の工程にて、光パ
ルス試験器による伝送光の観測結果から伝送光の有無を
判断するようにしたので、光パワーメータが不要にな
り、これにより、光線路監視システムの小型化や低コス
ト化が可能になるといった優れた効果を奏する。
【図１】 本発明の光線路の試験方法を適用する光線路
監視システムの一例を示す平面図である。
監視システムの一例を示す平面図である。
【図２】 図１の光線路監視システムの制御手段を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図３】 図１の光線路の試験方法の流れを示すフロー
チャートである。
チャートである。
【図４】 光パルス試験器で観測される時間（距離）と
試験光の光損失量（受光強度）との関係を示す図であっ
て、伝送光が観測されない場合を示す。
試験光の光損失量（受光強度）との関係を示す図であっ
て、伝送光が観測されない場合を示す。
【図５】 光パルス試験器で観測される時間（距離）と
試験光の光損失量（受光強度）との関係を示す図であっ
て、伝送光が観測されている場合を示す。
試験光の光損失量（受光強度）との関係を示す図であっ
て、伝送光が観測されている場合を示す。
【図６】 従来例の光線路の試験方法に係る光線路監視
システムを示す平面図である。
システムを示す平面図である。
２…心線選択装置、６…光スイッチ、８…試験光線路
（試験光配線）、９…通信光線路、１１…試験光線路
（光ファイバ）、１１ａ…試験光線路（光ファイバ）、
２０…光パルス試験器（ＯＴＤＲ）
（試験光配線）、９…通信光線路、１１…試験光線路
（光ファイバ）、１１ａ…試験光線路（光ファイバ）、
２０…光パルス試験器（ＯＴＤＲ）
フロントページの続き (72)発明者 青山 好則 千葉県佐倉市六崎1440番地 株式会社フジ クラ佐倉工場内 (72)発明者 野村 義和 千葉県佐倉市六崎1440番地 株式会社フジ クラ佐倉工場内
Claims (1)
- 【請求項１】 試験光を試験光線路（８、１１、１１
ａ）に入射して該試験光線路と接続した通信光線路
（９）に入射し、該試験光が試験光線路あるいは通信光
線路で反射した反射光を観測して試験光線路および通信
光線路の異常を検出する光パルス試験器（２０）と、複
数の通信用光線路に対して前記試験光線路を選択的に切
替可能に接続する光スイッチ（６）とを備えた光線路の
試験方法であって、 心線選択装置（２）にて試験光線路を目的の通信光線路
に接続した後、光パルス試験器をオンにして通信光線路
内の伝送光を試験光線路を介して光パルス試験器に導い
て観測する第１の工程と、 第１の工程で光パルス試験器での受光強度を予め設定し
た基準値と比較して伝送光の有無を判定する第２の工程
と、 前記第２の工程で伝送光が確認されない場合に、光パル
ス試験器から試験光を試験光線路に入射する第３の工程
とを備えることを特徴とする光線路の試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32737896A JPH10170393A (ja) | 1996-12-06 | 1996-12-06 | 光線路の試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32737896A JPH10170393A (ja) | 1996-12-06 | 1996-12-06 | 光線路の試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10170393A true JPH10170393A (ja) | 1998-06-26 |
Family
ID=18198481
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32737896A Pending JPH10170393A (ja) | 1996-12-06 | 1996-12-06 | 光線路の試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10170393A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20160120908A (ko) * | 2015-04-09 | 2016-10-19 | (주)티디아이 | 광선로 유지·관리용 포트를 가진 광단자함 |
-
1996
- 1996-12-06 JP JP32737896A patent/JPH10170393A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20160120908A (ko) * | 2015-04-09 | 2016-10-19 | (주)티디아이 | 광선로 유지·관리용 포트를 가진 광단자함 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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