JPH10173301A - Circuit board, wiring board, and method of manufacturing circuit board - Google Patents
Circuit board, wiring board, and method of manufacturing circuit boardInfo
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- JPH10173301A JPH10173301A JP35202096A JP35202096A JPH10173301A JP H10173301 A JPH10173301 A JP H10173301A JP 35202096 A JP35202096 A JP 35202096A JP 35202096 A JP35202096 A JP 35202096A JP H10173301 A JPH10173301 A JP H10173301A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】異方性導電部材の周端面に対応する位置におけ
る配線ラインの熱ストレスに対する強度が不十分なた
め、異方性導電部材の周端面に対応する位置周辺で配線
ラインが破断するおそれがあつた。
【解決手段】異方性導電部材の周端面と配線ラインとが
交差するそれぞれの位置において異方性導電部材の周端
面が配線ラインを横切る長さを配線ラインの線幅より見
かけ上長くなるようにした。これにより、配線ラインの
線幅を太くすることなく異方性導電部材の周端面に対応
した位置における配線ラインの熱ストレスに対する強度
を向上させることができるので、異方性導電部材の周端
面に対応する位置周辺における配線ラインが破断するこ
とを防止することができる。かくして信頼性を向上し得
る回路基板、配線基板及び回路基板の製造方法を実現す
ることができる。
(57) Abstract: Wiring is performed around a position corresponding to a peripheral end surface of an anisotropic conductive member because wiring lines at positions corresponding to the peripheral end surface of an anisotropic conductive member have insufficient strength against thermal stress. The line could be broken. At each position where the peripheral end surface of the anisotropic conductive member and the wiring line intersect, the length of the peripheral end surface of the anisotropic conductive member crossing the wiring line is apparently longer than the line width of the wiring line. I made it. This makes it possible to improve the strength against the thermal stress of the wiring line at a position corresponding to the peripheral end face of the anisotropic conductive member without increasing the line width of the wiring line. Breakage of the wiring line around the corresponding position can be prevented. Thus, a circuit board, a wiring board, and a method of manufacturing a circuit board that can improve reliability can be realized.
Description
【0001】[0001]
【目次】以下の順序で本発明を説明する。 発明の属する技術分野 従来の技術(図15及び図16) 発明が解決しようとする課題 課題を解決するための手段 発明の実施の形態(図1〜図14) (1)第1実施例(図1〜図3) (2)第2実施例(図4及び図5) (3)第3実施例(図6〜図8) (4)他の実施例(図9〜図14) 発明の効果[Table of Contents] The present invention will be described in the following order. TECHNICAL FIELD The prior art (FIGS. 15 and 16) Problems to be Solved by the Invention Means for Solving the Problems Embodiments of the Invention (FIGS. 1 to 14) (1) First Embodiment (FIG. 1 to 3) (2) Second embodiment (FIGS. 4 and 5) (3) Third embodiment (FIGS. 6 to 8) (4) Other embodiments (FIGS. 9 to 14) Effects of the Invention
【0002】[0002]
【発明の属する技術分野】本発明は回路基板、配線基板
及び回路基板の製造方法に関し、特に電子部品が異方性
導電部材を介して配線基板に実装されてなる回路基板及
び回路基板の製造方法に適用して好適なものである。ま
た異方性導電部材を介して電子部品が実装される配線基
板に適用して好適なものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a circuit board, a wiring board, and a method of manufacturing a circuit board, and more particularly, to a circuit board having electronic components mounted on the wiring board via an anisotropic conductive member, and a method of manufacturing the circuit board. It is suitable to be applied to. It is also suitable for application to a wiring board on which electronic components are mounted via an anisotropic conductive member.
【0003】[0003]
【従来の技術】従来、フリツプチツプ実装によつて半導
体チツプがベアチツプで異方性導電膜を介してプリント
配線基板に実装されたものが用いられている。ここでフ
リツプチツプ実装によつて半導体チツプがベアチツプで
異方性導電膜を介してプリント配線基板に実装されてな
る回路基板の一例を図15に示す。2. Description of the Related Art Heretofore, there has been used a semiconductor chip mounted on a printed wiring board via an anisotropic conductive film as a bare chip by flip chip mounting. FIG. 15 shows an example of a circuit board in which a semiconductor chip is mounted on a printed wiring board via an anisotropic conductive film in a bare chip by flip-chip mounting.
【0004】回路基板1は、半導体チツプ2の接合面2
Aの周縁部に沿つて所定のピツチで配設されたアルミニ
ウム電極(以下、これをパツドと呼ぶ)3上にそれぞれ
形成された各はんだバンプ4が、異方性導電膜5を介し
てプリント配線基板6の一方の面(以下、これを実装面
と呼ぶ)6Aに各パツド3にそれぞれ対応して配設され
た対応するランド7に接合することにより、半導体チツ
プ2がプリント配線基板6上に機械的及び電気的に接続
されて構成されている。The circuit board 1 has a bonding surface 2 of a semiconductor chip 2.
Each solder bump 4 formed on an aluminum electrode (hereinafter referred to as a pad) 3 disposed at a predetermined pitch along the peripheral portion of A is printed wiring lines through an anisotropic conductive film 5. The semiconductor chip 2 is mounted on the printed wiring board 6 by joining one surface (hereinafter referred to as a mounting surface) 6A of the substrate 6 to the corresponding lands 7 provided corresponding to the pads 3 respectively. It is configured to be mechanically and electrically connected.
【0005】実際上、この回路基板1は以下の手順によ
つて製造される。すなわち、まず所定の導体パターンを
形成する配線ライン8と、半導体チツプ2の各パツド3
にそれぞれ対応させて実装面6Aにランド7とが形成さ
れたプリント配線基板6を作製した後、プリント配線基
板6上に配設された各ランド7を覆うような大きさ(半
導体チツプ2よりもわずかに大きい大きさ)の矩形状で
なる異方性導電膜5を当該異方性導電膜5のガラス転移
点温度以下の温度でプリント配線基板6の実装面6Aに
仮付けする。In practice, the circuit board 1 is manufactured by the following procedure. That is, first, a wiring line 8 for forming a predetermined conductor pattern and each pad 3 of the semiconductor chip 2 are formed.
After the printed wiring board 6 in which the lands 7 are formed on the mounting surface 6A in correspondence with the above, each of the lands 7 disposed on the printed wiring board 6 is covered (a size larger than that of the semiconductor chip 2). A rectangular anisotropic conductive film 5 having a slightly larger size is temporarily attached to the mounting surface 6A of the printed wiring board 6 at a temperature equal to or lower than the glass transition temperature of the anisotropic conductive film 5.
【0006】続いて半導体チツプ2の接合面2Aをプリ
ント配線基板6の実装面6Aに対向させると共に、半導
体チツプ2を異方性導電膜5に位置決めマウントした
後、半導体チツプ2を所定の熱圧着条件で異方性導電膜
5に対して熱圧着する。これにより半導体チツプ2の各
はんだバンプ4とプリント配線基板6の対応する各ラン
ド7とが異方性導電膜5中に存在する導電性粒子(図示
せず)を介して電気的に接合され、これによつてプリン
ト配線基板6の実装面6Aに半導体チツプ2が機械的及
び電気的に接続される。Subsequently, the bonding surface 2A of the semiconductor chip 2 is opposed to the mounting surface 6A of the printed wiring board 6, and the semiconductor chip 2 is positioned and mounted on the anisotropic conductive film 5, and then the semiconductor chip 2 is subjected to a predetermined thermocompression bonding. Thermocompression bonding is performed on the anisotropic conductive film 5 under the conditions. Thereby, each solder bump 4 of the semiconductor chip 2 and each corresponding land 7 of the printed wiring board 6 are electrically connected via conductive particles (not shown) existing in the anisotropic conductive film 5, Thus, the semiconductor chip 2 is mechanically and electrically connected to the mounting surface 6A of the printed wiring board 6.
【0007】[0007]
【発明が解決しようとする課題】ところで上述のように
して作製された回路基板1が搭載された電子機器におい
ては、当該電子機器を使用した際、プリント配線基板6
に実装されている半導体チツプ2が熱を発生するため、
半導体チツプ2とプリント配線基板6が膨張する。従つ
て電子機器の使用時と未使用時において電子機器内部に
おいて温度変化が生じ、この結果、回路基板1において
は、半導体チツプ2とプリント回路基板6とが膨張と収
縮を繰り返すことになる。By the way, in an electronic device on which the circuit board 1 manufactured as described above is mounted, when the electronic device is used, the printed wiring board 6
Since the semiconductor chip 2 mounted on the device generates heat,
The semiconductor chip 2 and the printed wiring board 6 expand. Therefore, a temperature change occurs inside the electronic device when the electronic device is used and when it is not used. As a result, in the circuit board 1, the semiconductor chip 2 and the printed circuit board 6 repeat expansion and contraction.
【0008】ところが、通常、半導体チツプ2及び異方
性導電膜5に比してプリント配線基板6の熱膨張係数が
大きいため、熱膨張係数の差に起因してプリント配線基
板6に応力歪みが発生する。この場合、プリント配線基
板6上に形成された配線ライン8のうち異方性導電膜5
の周端面5Aに対応した位置において熱膨張係数の差の
影響(すなわち異方性導電膜5とプリント配線基板6の
収縮率の差の影響)を最も受ける。従つて異方性導電膜
5の周端面5Aに対応した位置における配線ライン8に
熱膨張係数の差に起因する熱ストレスが最も加わり、こ
の結果、図16に示すように、経時的な変化に伴つて異
方性導電膜5の周端面5Aに対応した位置周辺における
配線ライン8が破断するおそれがあつた。However, since the thermal expansion coefficient of the printed wiring board 6 is usually larger than that of the semiconductor chip 2 and the anisotropic conductive film 5, the printed wiring board 6 has a stress distortion due to the difference in the thermal expansion coefficient. Occur. In this case, among the wiring lines 8 formed on the printed wiring board 6, the anisotropic conductive film 5
In the position corresponding to the peripheral end face 5A, the influence of the difference in the thermal expansion coefficient (that is, the influence of the difference in the contraction rate between the anisotropic conductive film 5 and the printed wiring board 6) is the most affected. Accordingly, the wiring line 8 at the position corresponding to the peripheral end face 5A of the anisotropic conductive film 5 is most subjected to thermal stress due to the difference in the coefficient of thermal expansion. As a result, as shown in FIG. Accordingly, the wiring line 8 around the position corresponding to the peripheral end face 5A of the anisotropic conductive film 5 may be broken.
【0009】このような問題を解決するための1つの方
法として、配線ライン8の線幅を太く形成することが考
えられる。ところが配線ライン8の線幅を太くすると、
回路基板1の実装密度が低下する問題があつた。As one method for solving such a problem, it is conceivable to increase the line width of the wiring line 8. However, when the line width of the wiring line 8 is increased,
There is a problem that the mounting density of the circuit board 1 is reduced.
【0010】従つて配線ライン8の線幅を太くすること
なく、異方性導電膜5の周端面5Aに対応した位置にお
ける配線ライン8の熱ストレスに対する強度を向上さ
せ、又は異方性導電膜5の周端面5Aに対応した位置に
おける配線ライン8に加わる熱ストレスを低減すること
ができれば、回路基板1の実装密度を低下させることな
く、異方性導電膜5の周端面5Aに対応した位置におけ
る配線ライン8が破断することを防止することができ、
回路基板1の信頼性を一段と向上させることができると
考えられる。Accordingly, without increasing the line width of the wiring line 8, the strength of the wiring line 8 at the position corresponding to the peripheral end face 5A of the anisotropic conductive film 5 can be improved with respect to the thermal stress, or If the thermal stress applied to the wiring line 8 at the position corresponding to the peripheral end surface 5A of the anisotropic conductive film 5 can be reduced without reducing the mounting density of the circuit board 1, the position corresponding to the peripheral end surface 5A of the anisotropic conductive film 5 can be reduced. Can be prevented from being broken,
It is considered that the reliability of the circuit board 1 can be further improved.
【0011】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、信頼性を向上し得る回路基板、配線基板及び回路基
板の製造方法を提案しようとするものである。The present invention has been made in view of the above points, and an object of the present invention is to propose a circuit board, a wiring board, and a method of manufacturing a circuit board which can improve reliability.
【0012】[0012]
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、異方性導電部材の周端面と配線ラ
インとが交差するそれぞれの位置において異方性導電部
材の周端面が配線ラインを横切る長さを配線ラインの線
幅より見かけ上長くなるようにした。本発明によれば、
配線ラインの線幅を太くすることなく異方性導電部材の
周端面に対応した位置における配線ラインの熱ストレス
に対する強度を向上させることができる。SUMMARY OF THE INVENTION In order to solve the above-mentioned problems, according to the present invention, at each position where the peripheral end face of the anisotropic conductive member intersects with the wiring line, the peripheral end face of the anisotropic conductive member is connected to the wiring line. Is apparently longer than the line width of the wiring line. According to the present invention,
The strength of the wiring line at a position corresponding to the peripheral end surface of the anisotropic conductive member can be improved without increasing the line width of the wiring line against thermal stress.
【0013】また本発明においては、少なくとも配線基
板に形成された配線ラインと異方性導電部材の周端部と
が交差するそれぞれの位置に対応した領域の厚みを、配
線ラインと異方性導電部材の周端部とが交差するそれぞ
れの位置に対応した領域以外の領域における厚みよりも
薄くなるように形成された異方性導電部材を介して、電
子部品の電極部を配線基板の対応するランドに接合する
と共に、電子部品と配線基板とを一体に保持するように
した。本発明によれば、異方性導電部材の周端部に対応
した位置における配線ラインに対する熱ストレスを低減
することができる。Further, in the present invention, the thickness of a region corresponding to at least each position where the wiring line formed on the wiring board and the peripheral end of the anisotropic conductive member intersect is determined by setting the thickness of the wiring line and the anisotropic conductive member. The electrode portions of the electronic component correspond to the wiring board via the anisotropic conductive member formed so as to be thinner than the region other than the region corresponding to each position where the peripheral end of the member intersects. The electronic component and the wiring board were integrally held together with the land. ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the thermal stress with respect to the wiring line in the position corresponding to the peripheral end part of an anisotropic conductive member can be reduced.
【0014】さらに本発明においては、所定の導体パタ
ーンを形成する配線ラインと、電子部品の電極部に対応
させて一方の面にランドとが形成された配線基板を作製
し、熱圧着時、少なくとも配線ラインと異方性導電部材
の周端部とが交差するそれぞれの位置に対応した領域の
厚みが、配線ラインと異方性導電部材の周端部とが交差
するそれぞれの位置に対応した領域以外の領域における
厚みよりも薄くなるような異方性導電部材をランドを覆
うように配線基板の一方の面に仮付けし、電子部品の電
極部を配線基板の対応するランドに位置決めマウントし
た後、電子部品を異方性導電膜に対して熱圧着するよう
にした。本発明によれば、異方性導電部材の周端部に対
応した位置における配線ラインに対する熱ストレスを低
減することができる。Further, according to the present invention, a wiring board having a wiring line for forming a predetermined conductor pattern and a land formed on one surface corresponding to an electrode portion of an electronic component is manufactured. The thickness of the region corresponding to each position where the wiring line intersects with the peripheral end of the anisotropic conductive member is the region corresponding to each position where the wiring line intersects with the peripheral end of the anisotropic conductive member. After temporarily attaching an anisotropic conductive member that is thinner than the thickness in the other area to one surface of the wiring board so as to cover the land, and positioning and mounting the electrode part of the electronic component on the corresponding land of the wiring board The electronic component was thermocompression bonded to the anisotropic conductive film. ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the thermal stress with respect to the wiring line in the position corresponding to the peripheral end part of an anisotropic conductive member can be reduced.
【0015】[0015]
【発明の実施の形態】以下図面について、本発明の一実
施例を詳述する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.
【0016】(1)第1実施例 図1において、10は全体として回路基板を示し、この
回路基板10は、半導体チツプ11の接合面11Aに電
極部として形成された複数のパツド12上にそれぞれ電
極部として形成されたバンプ13が、異方性導電膜14
を介して、半導体チツプ11の各パツド12にそれぞれ
対応させてプリント配線基板15の一方の面(以下、こ
れを実装面と呼ぶ)15Aに配設された対応する各ラン
ド16に電気的に接合することにより、半導体チツプ1
1がプリント配線基板15と機械的及び電気的に接続さ
れて構成されている。(1) First Embodiment In FIG. 1, reference numeral 10 denotes a circuit board as a whole. The circuit board 10 is mounted on a plurality of pads 12 formed as electrodes on a bonding surface 11A of a semiconductor chip 11. The bump 13 formed as an electrode portion is
And electrically connected to corresponding lands 16 disposed on one surface (hereinafter referred to as a mounting surface) 15A of the printed wiring board 15 in correspondence with the pads 12 of the semiconductor chip 11 respectively. By doing so, the semiconductor chip 1
1 is mechanically and electrically connected to the printed wiring board 15.
【0017】この第1実施例の場合、図1及び図2に示
すように、異方性導電膜14は、半導体チツプ11の各
パツド12とプリント配線基板15の対応する各ランド
16とをそれぞれ覆うような大きさを有し、その周端面
14Aは波形形状に形成されている。これにより、異方
性導電膜14における周端面14Aが、プリント配線基
板15の実装面15Aに描画された導体パターンを形成
する各配線ライン17を直角以外の角度で横切るように
なされている。In the case of the first embodiment, as shown in FIGS. 1 and 2, the anisotropic conductive film 14 forms each pad 12 of the semiconductor chip 11 and each corresponding land 16 of the printed wiring board 15 respectively. It has a size to cover, and its peripheral end surface 14A is formed in a corrugated shape. Thus, the peripheral end surface 14A of the anisotropic conductive film 14 crosses each wiring line 17 forming the conductor pattern drawn on the mounting surface 15A of the printed wiring board 15 at an angle other than a right angle.
【0018】ここで実際上、この回路基板10は以下に
説明する手順によつて製造することができる。すなわ
ち、まず所定の導体パターンを形成する配線ライン17
と、半導体チツプ11の各パツド12に対応させてそれ
ぞれ実装面15Aにランド16が配設されたプリント配
線基板15を作製した後、プリント配線基板15の実装
面15Aと対向する面15B側を所定の支持装置によつ
て支持した状態で、プリント配線基板15の実装面15
Aに各ランド16を覆うように、異方性導電膜14を当
該異方性導電膜14のガラス転移点温度以下の温度で仮
付けする。In practice, the circuit board 10 can be manufactured by the procedure described below. That is, first, a wiring line 17 for forming a predetermined conductor pattern is formed.
And a printed wiring board 15 having a land 16 disposed on a mounting surface 15A corresponding to each pad 12 of the semiconductor chip 11, and then a surface 15B of the printed wiring board 15 facing the mounting surface 15A is fixed. The mounting surface 15 of the printed wiring board 15 is supported by the supporting device
A is temporarily attached to A at a temperature equal to or lower than the glass transition temperature of the anisotropic conductive film 14 so as to cover each land 16.
【0019】続いて半導体チツプ11の接合面11Aと
対向する面11B側を所定の吸着装置で吸着し、半導体
チツプ11の接合面11Aをプリント配線基板15の実
装面15Aに対向させると共に、半導体チツプ11を異
方性導電膜14に位置決めマウントした後、加熱ヘツド
を有するツールを用いて所定の熱圧着条件で半導体チツ
プ11を異方性導電膜14に対して熱圧着することによ
り、半導体チツプ11の各パツド12を異方性導電膜1
4を介して配線基板15の対応する各ランド16に電気
的に接合する。これにより回路基板10を得ることがで
きる。Subsequently, the surface 11B of the semiconductor chip 11 facing the bonding surface 11A is sucked by a predetermined suction device, so that the bonding surface 11A of the semiconductor chip 11 faces the mounting surface 15A of the printed wiring board 15, and After the semiconductor chip 11 is positioned and mounted on the anisotropic conductive film 14, the semiconductor chip 11 is thermocompression-bonded to the anisotropic conductive film 14 under a predetermined thermocompression condition using a tool having a heating head. Each pad 12 of the anisotropic conductive film 1
4 to electrically connect to the corresponding lands 16 of the wiring board 15. Thereby, the circuit board 10 can be obtained.
【0020】以上の構成において、この回路基板10で
は、異方性導電膜14の周端面14Aを波形形状に形成
して異方性導電膜14の周端面14Aが各配線ライン1
7を直角以外の角度で横切るようにしたので、異方性導
電膜14の周端面14Aと各配線ライン17とが交差す
るそれぞれの位置において異方性導電膜14における周
端面14Aが各配線ライン17において各配線ライン1
7を横切る長さを配線ライン17の線幅より見かけ上長
くすることができる。In the above configuration, in the circuit board 10, the peripheral end surface 14A of the anisotropic conductive film 14 is formed in a corrugated shape so that the peripheral end surface 14A of the anisotropic conductive film 14
7 at an angle other than a right angle, the peripheral end face 14A of the anisotropic conductive film 14 is connected to each wiring line 17 at each position where the peripheral end face 14A of the anisotropic conductive film 14 and each wiring line 17 intersect. At 17 each wiring line 1
7 can be apparently longer than the line width of the wiring line 17.
【0021】すなわち図3に示すように、異方性導電膜
14の周端面14Aは波形形状に形成されているので、
異方性導電膜14の周端面14Aは各配線ライン17と
直角以外のある一定の角度で交差する。従つて異方性導
電膜14の周端面14Aが各配線ライン17において各
配線ライン17を横切る長さL1は、それぞれ配線ライ
ン17の線幅W1より見かけ上長くなる。That is, as shown in FIG. 3, since the peripheral end face 14A of the anisotropic conductive film 14 is formed in a corrugated shape,
The peripheral end surface 14A of the anisotropic conductive film 14 intersects each wiring line 17 at a certain angle other than a right angle. Accordingly, the length L1 of the peripheral end surface 14A of the anisotropic conductive film 14 crossing each wiring line 17 in each wiring line 17 is apparently longer than the line width W1 of each wiring line 17.
【0022】従つてこの回路基板10では、異方性導電
膜14の周端面14Aに対応した位置における配線ライ
ン17の熱ストレスに対する強度を向上させることがで
きるので、異方性導電膜14の周端面14Aに対応する
位置周辺における各配線ライン17が破断することを防
止することができる。Therefore, in the circuit board 10, the strength of the wiring line 17 at the position corresponding to the peripheral end face 14A of the anisotropic conductive film 14 can be improved with respect to the thermal stress. Breaking of each wiring line 17 around the position corresponding to the end face 14A can be prevented.
【0023】以上の構成によれば、異方性導電膜14の
周端面14を波形形状に形成して異方性導電膜14の周
端面14Aが各配線ライン17を直角以外の角度で横切
るようにしたことにより、異方性導電膜14の周端面1
4Aに対応した位置における配線ライン17の熱ストレ
スに対する強度を向上させることができるので、異方性
導電膜14の周端面14Aに対応する位置周辺における
各配線ライン17が破断することを防止することができ
る。かくして信頼性を向上し得る回路基板10を実現す
ることができる。According to the above configuration, the peripheral end surface 14 of the anisotropic conductive film 14 is formed in a wavy shape so that the peripheral end surface 14A of the anisotropic conductive film 14 crosses each wiring line 17 at an angle other than a right angle. The peripheral end surface 1 of the anisotropic conductive film 14
Since the strength against the thermal stress of the wiring line 17 at the position corresponding to 4A can be improved, it is possible to prevent each wiring line 17 around the position corresponding to the peripheral end surface 14A of the anisotropic conductive film 14 from being broken. Can be. Thus, the circuit board 10 that can improve the reliability can be realized.
【0024】また上述の構成によれば、配線ライン17
の線幅を太くすることなく、異方性導電膜14の周端面
14Aに対応した位置における配線ライン17の熱スト
レスに対する強度を向上させることができるので、回路
基板10の実装密度を低下させることなく回路基板10
の信頼性を向上させることができる。Further, according to the above configuration, the wiring line 17
Without increasing the line width, the strength of the wiring line 17 at a position corresponding to the peripheral end surface 14A of the anisotropic conductive film 14 can be improved with respect to thermal stress, thereby reducing the mounting density of the circuit board 10. Without circuit board 10
Can be improved in reliability.
【0025】(2)第2実施例 図1との対応部分に同一符号を付して示す図4におい
て、20は全体としてプリント配線基板を示し、このプ
リント配線基板20は、所定の導体パターンを形成する
配線ライン21と、半導体チツプ11の各パツド12に
それぞれ対応したランド22とが実装面20Aに形成さ
れた絶縁基板でなり、半導体チツプ11の各パツド12
をプリント配線基板20の対応するランド22に矩形形
状の異方性導電膜23を介して接合するようにして半導
体チツプ11を実装するようになされている。(2) Second Embodiment In FIG. 4, in which parts corresponding to those in FIG. 1 are assigned the same reference numerals, reference numeral 20 denotes a printed wiring board as a whole. The wiring lines 21 to be formed and the lands 22 corresponding to the pads 12 of the semiconductor chip 11 are made of an insulating substrate formed on the mounting surface 20A, and the pads 12 of the semiconductor chip 11 are formed.
The semiconductor chip 11 is mounted such that the semiconductor chip 11 is bonded to the corresponding land 22 of the printed wiring board 20 via the rectangular anisotropic conductive film 23.
【0026】この第2実施例の場合、図4及び図5に示
すように、各配線ライン21は、異方性導電膜23の周
端面23Aと各配線ライン21とが交差するそれぞれの
位置に対応した領域21Aが矩形形状に形成されてそれ
ぞれの配線ライン21における他の領域よりも太く形成
されており、これにより各配線パターン21と異方性導
電膜23の周端面23Aとが交差するそれぞれの位置に
おいて、異方性導電膜23の周端面23Aが各配線ライ
ン21において各配線ライン21を横切る長さL2を配
線ライン21の線幅W2より見かけ上長くするようにな
されている。In the case of the second embodiment, as shown in FIGS. 4 and 5, each wiring line 21 is located at a position where the peripheral end face 23A of the anisotropic conductive film 23 intersects with each wiring line 21. The corresponding region 21A is formed in a rectangular shape and is formed thicker than the other region in each wiring line 21, so that each wiring pattern 21 intersects with the peripheral end surface 23A of the anisotropic conductive film 23. The length L2 of the peripheral end surface 23A of the anisotropic conductive film 23 crossing each wiring line 21 in each wiring line 21 is apparently longer than the line width W2 of the wiring line 21 at the position.
【0027】以上の構成において、このプリント配線基
板20では、異方性導電膜23の周端面23Aと各配線
ライン21とが交差するそれぞれの位置に対応した各配
線ライン21の各領域21Aが矩形形状に形成されてそ
れぞれの配線ライン21における他の領域よりも太く形
成されているので、異方性導電膜23の周端面23Aと
各配線ライン21とが交差するそれぞれの位置において
異方性導電膜23の周端面23Aが各配線ライン21に
おいて各配線ライン21を横切る長さL2を配線ライン
21の線幅W2より見かけ上長くすることができる。In the above configuration, in the printed wiring board 20, each region 21A of each wiring line 21 corresponding to each position where the peripheral end surface 23A of the anisotropic conductive film 23 intersects with each wiring line 21 is rectangular. Since it is formed in a shape and is formed thicker than the other region in each wiring line 21, the anisotropic conductive film is formed at each position where the peripheral end face 23 </ b> A of the anisotropic conductive film 23 intersects with each wiring line 21. The length L2 of the peripheral end surface 23A of the film 23 crossing each wiring line 21 in each wiring line 21 can be apparently longer than the line width W2 of the wiring line 21.
【0028】従つてこのプリント配線基板20では、異
方性導電膜23の周端面23Aに対応した位置における
各配線ライン21の熱ストレスに対する強度を向上させ
ることができるので、異方性導電膜23の周端面23A
に対応する位置周辺における各配線ライン21が破断す
ることを防止することができる。Accordingly, in the printed wiring board 20, the strength of each wiring line 21 at a position corresponding to the peripheral end surface 23A of the anisotropic conductive film 23 can be improved with respect to thermal stress. Peripheral end surface 23A
Can be prevented from being broken in the vicinity of the position corresponding to.
【0029】以上の構成によれば、異方性導電膜23の
周端面23Aと各配線ライン21とが交差するそれぞれ
の位置に対応した各配線ライン21の各領域21Aを矩
形形状に形成してそれぞれの配線ライン21における他
の領域よりも太く形成したことにより、異方性導電膜2
3の周端面23Aに対応した位置における各配線ライン
21の熱ストレスに対する強度を向上させることができ
るので、異方性導電膜23の周端面23Aに対応する位
置周辺における各配線ライン21が破断することを防止
することができる。かくして信頼性を向上し得る配線基
板20を実現することができる。According to the above configuration, each region 21A of each wiring line 21 corresponding to each position where the peripheral end face 23A of the anisotropic conductive film 23 intersects each wiring line 21 is formed in a rectangular shape. Since each wiring line 21 is formed thicker than other regions, the anisotropic conductive film 2 is formed.
Since the strength of each wiring line 21 at the position corresponding to the peripheral end face 23A of the third anisotropic conductive film 23 can be improved, the wiring lines 21 around the position corresponding to the peripheral end face 23A of the anisotropic conductive film 23 are broken. Can be prevented. Thus, the wiring board 20 that can improve the reliability can be realized.
【0030】また上述の構成によれば、配線ライン21
の線幅を太くすることなく、異方性導電膜23の周端面
23Aに対応した位置における各配線ライン21の熱ス
トレスに対する強度を向上させることができるので、プ
リント配線基板20の実装密度を低下させることなくプ
リント配線基板20の信頼性を向上させることができ
る。According to the above configuration, the wiring line 21
Of the wiring lines 21 at positions corresponding to the peripheral end surface 23A of the anisotropic conductive film 23 can be improved without increasing the line width of the anisotropic conductive film 23, thereby lowering the mounting density of the printed wiring board 20. Without this, the reliability of the printed wiring board 20 can be improved.
【0031】(3)第3実施例 図1との対応部分に同一符号を付して示す図6におい
て、30は全体として回路基板を示し、この回路基板3
0は、半導体チツプ11の接合面11Aに形成された各
パツド12上にそれぞれ形成された各バンプ13が、異
方性導電膜31を介して、半導体チツプ11の各パツド
12にそれぞれ対応させてプリント配線基板15の実装
面15Aに配設された対応する各ランド16に電気的に
接合することにより、半導体チツプ11がプリント配線
基板15と機械的及び電気的に接続されて構成されてい
る。(3) Third Embodiment In FIG. 6, in which parts corresponding to those in FIG. 1 are assigned the same reference numerals, reference numeral 30 denotes a circuit board as a whole.
0 indicates that the bumps 13 formed on the pads 12 formed on the bonding surface 11A of the semiconductor chip 11 correspond to the pads 12 of the semiconductor chip 11 via the anisotropic conductive film 31, respectively. The semiconductor chip 11 is mechanically and electrically connected to the printed wiring board 15 by being electrically connected to the corresponding lands 16 provided on the mounting surface 15A of the printed wiring board 15.
【0032】この第3実施例の場合、異方性導電膜31
は、半導体チツプ11の周端面11Cに対応する領域か
ら異方性導電膜31の周端部31Aに近づくに従つて徐
々に厚みが薄くなるように形成されている。従つて異方
性導電膜31の周端部31Aが各配線ライン17と交差
するそれぞれの位置に対応した領域の厚みは、半導体チ
ツプ11の接合面11Aに対向する異方性導電膜31の
領域における厚みより薄く、これにより異方性導電膜3
1の周端部31Aと各配線ライン17とが交差するそれ
ぞれの位置における各配線ライン17に対する熱ストレ
スを低減し得るようになされている。In the case of the third embodiment, the anisotropic conductive film 31
The semiconductor chip 11 is formed so that the thickness thereof gradually decreases as it approaches the peripheral end portion 31A of the anisotropic conductive film 31 from a region corresponding to the peripheral end surface 11C of the semiconductor chip 11. Accordingly, the thickness of the region corresponding to each position where the peripheral end 31A of the anisotropic conductive film 31 intersects with each wiring line 17 is equal to the region of the anisotropic conductive film 31 facing the bonding surface 11A of the semiconductor chip 11. Thinner than the thickness of the anisotropic conductive film 3
The thermal stress on each of the wiring lines 17 at each position where the peripheral end portion 31A of each of the first and second wiring lines 17 intersect can be reduced.
【0033】ここで実際上、この回路基板30は、以下
に説明する手順によつて製造することができる。すなわ
ち、まず所定の導体パターンを形成する配線ライン17
と、半導体チツプ11の各パツド12に対応させてそれ
ぞれ実装面15Aにランド16が配設されたプリント配
線基板15を作製する。続いてプリント配線基板15の
実装面15Aと対向する面15B側を所定の支持装置に
よつて支持した状態で、図7に示すような周縁部が鋸状
に形成された異方性導電膜31′を各ランド16を覆う
ように異方性導電膜31′のガラス転移点温度以下の温
度でプリント配線基板15の実装面15Aに仮付けす
る。In practice, the circuit board 30 can be manufactured by the procedure described below. That is, first, a wiring line 17 for forming a predetermined conductor pattern is formed.
Then, a printed wiring board 15 having lands 16 disposed on a mounting surface 15A corresponding to each pad 12 of the semiconductor chip 11 is manufactured. Subsequently, in a state where the surface 15B of the printed wiring board 15 facing the mounting surface 15A is supported by a predetermined supporting device, the anisotropic conductive film 31 whose peripheral portion is formed in a saw shape as shown in FIG. Is temporarily attached to the mounting surface 15A of the printed wiring board 15 at a temperature equal to or lower than the glass transition temperature of the anisotropic conductive film 31 'so as to cover each land 16.
【0034】続いて半導体チツプ11の接合面11Aと
対向する面11B側を所定の吸着装置で吸着し、半導体
チツプ11の接合面11Aをプリント配線基板15の実
装面15Aに対向させると共に、半導体チツプ11を異
方性導電膜31′に位置決めマウントした後、加熱ヘツ
ドを有するツールを用いて所定の熱圧着条件で半導体チ
ツプ11を異方性導電膜31′に対して熱圧着すること
により、半導体チツプ11の各パツド12を異方性導電
膜31を介してプリント配線基板15の対応する各ラン
ド16に接合する。Subsequently, the surface 11B of the semiconductor chip 11 facing the bonding surface 11A is sucked by a predetermined suction device, so that the bonding surface 11A of the semiconductor chip 11 faces the mounting surface 15A of the printed wiring board 15, and After the semiconductor chip 11 is positioned and mounted on the anisotropic conductive film 31 ', the semiconductor chip 11 is thermocompression-bonded to the anisotropic conductive film 31' under a predetermined thermocompression bonding condition using a tool having a heating head. Each pad 12 of the chip 11 is bonded to each corresponding land 16 of the printed wiring board 15 via the anisotropic conductive film 31.
【0035】ここでプリント配線基板15の実装面15
Aに異方性導電膜31′を仮付けした状態(図8
(A))から、半導体チツプ11を異方性導電膜31′
に対して熱圧着すると、半導体チツプ11の接合面11
Aに対向する異方性導電膜31′の領域が押圧されるの
で、異方性導電膜31′の一部が異方性導電膜31′の
鋸部31′Aと鋸部31′Aとの間に徐々に流れ込み
(図8(B))、最終的に熱圧着が終了して異方性導電
膜31′が硬化すると、周縁部31Aがほぼ波形形状に
形成された異方性導電膜31となる(図8(C))。Here, the mounting surface 15 of the printed wiring board 15
A state in which an anisotropic conductive film 31 ′ is temporarily attached to A (FIG. 8).
(A), the semiconductor chip 11 is replaced with an anisotropic conductive film 31 '.
When thermocompression bonding is performed on the semiconductor chip 11, the bonding surface 11
Since the region of the anisotropic conductive film 31 'opposite to A is pressed, a part of the anisotropic conductive film 31' is formed by the saw portions 31'A and 31'A of the anisotropic conductive film 31 '. When the thermocompression bonding is finally completed and the anisotropic conductive film 31 'is hardened, the peripheral portion 31A is formed in a substantially corrugated shape. 31 (FIG. 8C).
【0036】この場合、異方性導電膜31′の厚さは、
プリント配線基板15の実装面15Aに異方性導電膜3
1′を仮付けした状態(図8(D))では、ほぼ均一の
厚みであるが、異方性導電膜31′に対して圧力が加え
られると、異方性導電膜31′の一部が異方性導電膜3
1′の鋸部31′と鋸部31′との間に徐々に流れ込む
ので、異方性導電膜31′には半導体チツプの周端面1
1Cに対応する領域かから周縁部に向かつて傾斜が形成
され(図8(E))、最終的に熱圧着が終了して異方性
導電膜31′が硬化すると、半導体チツプ11の周端面
11Cに対応する領域から周端部31Aに近づくに従つ
て徐々に厚みが薄くなるように形成された異方性導電膜
31が得られる(図8(F))。In this case, the thickness of the anisotropic conductive film 31 'is
Anisotropic conductive film 3 is formed on mounting surface 15A of printed wiring board 15.
In the state where 1 'is temporarily attached (FIG. 8D), the thickness is substantially uniform, but when pressure is applied to the anisotropic conductive film 31', a part of the anisotropic conductive film 31 'is formed. Is anisotropic conductive film 3
1 'gradually flows between the saw portion 31' and the saw portion 31 ', so that the anisotropic conductive film 31' has a peripheral end face 1 of the semiconductor chip.
An inclination is formed from the region corresponding to 1C to the peripheral portion (FIG. 8 (E)). When the thermocompression bonding is finally completed and the anisotropic conductive film 31 'is cured, the peripheral end surface of the semiconductor chip 11 is formed. An anisotropic conductive film 31 is formed in which the thickness gradually decreases as approaching the peripheral end 31A from the region corresponding to 11C (FIG. 8F).
【0037】以上の構成において、この回路基板30で
は、異方性導電膜31は、半導体チツプ11の周端面1
1Cに対応する領域から周端部31Aに近づくに従つて
徐々に厚みが薄くなるように形成されているので、異方
性導電膜31の周縁部31Aと各配線ライン17とが交
差する位置における各配線ライン17に対する熱ストレ
スを低減することができる。In the above configuration, in the circuit board 30, the anisotropic conductive film 31 is formed on the peripheral end face 1 of the semiconductor chip 11.
1C, the thickness is gradually reduced as approaching the peripheral end 31A from the region corresponding to 1C, so that the peripheral edge 31A of the anisotropic conductive film 31 intersects with each wiring line 17 Thermal stress on each wiring line 17 can be reduced.
【0038】従つてこの回路基板30では、異方性導電
膜31の周端部31Aと各配線ライン17とが交差する
それぞれの位置における各配線ライン17に対する熱ス
トレスを低減することができるので、異方性導電膜31
の周縁部31Aに対応する位置周辺における各配線ライ
ン17が破断することを回避することができる。Therefore, in the circuit board 30, the thermal stress on each wiring line 17 at each position where the peripheral end 31A of the anisotropic conductive film 31 intersects with each wiring line 17 can be reduced. Anisotropic conductive film 31
Of each wiring line 17 around the position corresponding to the peripheral portion 31A can be avoided.
【0039】以上の構成によれば、周縁部が鋸状に形成
された異方性導電膜31′を各ランド16を覆うように
プリント配線基板15の実装面15Aに仮付けすると共
に、半導体チツプ11の各バンプ13をプリント配線基
板15の対応する各ランド16に位置決めマウントした
後、所定の熱圧着条件で半導体チツプ11を異方性導電
膜31′に対して熱圧着したことにより、半導体チツプ
11の周端面11Cに対応する領域から周端部31Aに
近づくに従つて徐々に厚みが薄くなるような異方性導電
膜31を形成することができるので、異方性導電膜31
の周縁部31Aと各配線ライン17とが交差するそれぞ
れの位置における各配線ライン17に対する熱ストレス
を低減することができ、これにより異方性導電膜31の
周縁部31Aに対応する位置周辺における各配線ライン
17が破断することを回避することができる。かくして
信頼性を向上し得る回路基板30及び回路基板30の製
造方法を実現することができる。According to the above configuration, the anisotropic conductive film 31 ′ whose peripheral portion is formed in a saw shape is temporarily attached to the mounting surface 15 A of the printed wiring board 15 so as to cover each land 16, and the semiconductor chip is formed. After the bumps 13 of the semiconductor chip 11 are positioned and mounted on the corresponding lands 16 of the printed wiring board 15, the semiconductor chip 11 is thermocompression-bonded to the anisotropic conductive film 31 'under predetermined thermocompression bonding conditions. Since the anisotropic conductive film 31 can be formed such that its thickness gradually decreases as it approaches the peripheral end 31A from the region corresponding to the peripheral end surface 11C.
Can be reduced at each position where the peripheral portion 31A of the anisotropic conductive film 31 intersects with each of the wiring lines 17, whereby each of the peripheral portions 31A of the anisotropic conductive film 31 around the position corresponding to the peripheral portion 31A can be reduced. Breakage of the wiring line 17 can be avoided. Thus, the circuit board 30 and the method for manufacturing the circuit board 30 that can improve the reliability can be realized.
【0040】また上述の構成によれば、異方性導電膜3
1の周端部31Aが波形形状に形成されているので、異
方性導電膜31の周端部31Aと各配線ライン17とが
交差するそれぞれの位置において異方性導電膜31の周
縁部31Aが各配線ライン17において各配線ライン1
7を横切る長さを配線ライン17の線幅より長くするこ
とができる。従つて異方性導電膜31の周端部31Aに
対応した位置における各配線ライン17の熱ストレスに
対する強度を向上させることができるので、異方性導電
膜31の周端部31Aに対応する位置周辺における各配
線ライン17が破断することを一段と防止することがで
きる。Further, according to the above configuration, the anisotropic conductive film 3
1 is formed in a corrugated shape, the peripheral edge 31A of the anisotropic conductive film 31 is located at each position where the peripheral edge 31A of the anisotropic conductive film 31 and each wiring line 17 intersect. Are each wiring line 1 in each wiring line 17.
7 can be longer than the line width of the wiring line 17. Accordingly, the strength of each wiring line 17 at the position corresponding to the peripheral end 31A of the anisotropic conductive film 31 can be improved, so that the position corresponding to the peripheral end 31A of the anisotropic conductive film 31 can be improved. Breakage of each wiring line 17 in the periphery can be further prevented.
【0041】(4)他の実施例 なお上述の第1実施例においては、異方性導電膜14の
周端面14Aを波形形状に形成することにより、異方性
導電膜14の周端面14Aに対応した位置における各配
線ライン17の熱ストレスに対する強度を向上させるよ
うにした場合について述べたが、本発明はこれに限ら
ず、図1及び図4との対応部分に同一符号を付した図9
に示すように、異方性導電膜23における周端面23A
を配線ライン17と45°の角度で交差させた状態で、半
導体チツプ11の各パツド12を異方性導電膜23を介
してプリント配線基板15の対応する各ランド16に接
合すると共に、半導体チツプ11とプリント配線基板1
5とを一体に保持するようにしても上述の実施例と同様
の効果を得ることができる。(4) Other Embodiments In the above-described first embodiment, the peripheral end surface 14A of the anisotropic conductive film 14 is formed in a corrugated shape so that the peripheral end surface 14A of the anisotropic conductive film 14 is formed. Although the case where the strength against the thermal stress of each wiring line 17 at the corresponding position is improved has been described, the present invention is not limited to this, and FIG.
As shown in FIG.
The semiconductor chip 11 is joined to the corresponding lands 16 of the printed wiring board 15 via the anisotropic conductive film 23 with the semiconductor chip 11 crossing the wiring line 17 at an angle of 45 °. 11 and printed wiring board 1
5 can be obtained as the same effect as in the above-described embodiment.
【0042】実際上、図9に示す回路基板40は、以下
に説明する手順によつて製造することができる。すなわ
ち、まず半導体チツプ11の各パツド12上にそれぞれ
バンプ13を形成すると共に、プリント配線基板15を
作製した後、プリント配線基板15の実装面15Aと対
向する面15B側を所定の支持装置によつて支持した状
態で、プリント配線基板15の実装面15Aに各ランド
16を覆うように異方性導電膜23を仮付けする。この
場合、図10に示すように、異方性導電膜23の周端面
23Aが配線ライン17と45°の角度で交差するように
異方性導電膜23をプリント配線基板15の実装面15
Aに仮付けする。In practice, the circuit board 40 shown in FIG. 9 can be manufactured by the procedure described below. That is, first, a bump 13 is formed on each pad 12 of the semiconductor chip 11 and a printed wiring board 15 is formed. Then, the surface 15B of the printed wiring board 15 facing the mounting surface 15A is fixed by a predetermined supporting device. In a state where the lands 16 are supported, an anisotropic conductive film 23 is temporarily attached to the mounting surface 15A of the printed wiring board 15 so as to cover each land 16. In this case, as shown in FIG. 10, the anisotropic conductive film 23 is mounted on the mounting surface 15 of the printed wiring board 15 so that the peripheral end surface 23A of the anisotropic conductive film 23 intersects the wiring line 17 at an angle of 45 °.
Temporarily attach to A.
【0043】続いて半導体チツプ11の接合面11Aと
対向する面11B側を所定の吸着装置で吸着し、半導体
チツプ11の接合面11Aをプリント配線基板15の実
装面15Aに対向させると共に、半導体チツプ11を異
方性導電膜23に位置決めマウントした後、加熱ヘツド
を有するツールを用いて所定の熱圧着条件で半導体チツ
プ11を異方性導電膜23に対して熱圧着することによ
り、半導体チツプ11の各パツド12を異方性導電膜2
3を介してプリント配線基板15の対応する各ランド1
6に接合する。これにより回路基板40を得ることがで
きる。Subsequently, the surface 11B of the semiconductor chip 11 facing the bonding surface 11A is sucked by a predetermined suction device, so that the bonding surface 11A of the semiconductor chip 11 faces the mounting surface 15A of the printed wiring board 15, and After the semiconductor chip 11 is positioned and mounted on the anisotropic conductive film 23, the semiconductor chip 11 is thermocompression-bonded to the anisotropic conductive film 23 under a predetermined thermocompression bonding condition using a tool having a heating head. Each pad 12 of the anisotropic conductive film 2
3 correspond to each land 1 of the printed wiring board 15.
6 Thereby, the circuit board 40 can be obtained.
【0044】以上の構成において、この回路基板40で
は、異方性導電膜23における周端面23Aが配線ライ
ン17と45°の角度で交差するので、異方性導電膜23
の周端面23Aと各配線ライン17とが交差するそれぞ
れの位置において異方性導電膜23の周端面23Aが各
配線ライン17において各配線ライン17を横切る長さ
を配線ライン17の線幅より見かけ上長くすることがで
きる。In the above configuration, in the circuit board 40, since the peripheral end face 23A of the anisotropic conductive film 23 intersects the wiring line 17 at an angle of 45 °, the anisotropic conductive film 23
The length at which the peripheral end surface 23A of the anisotropic conductive film 23 crosses each wiring line 17 at each position where the peripheral end surface 23A intersects with each wiring line 17 is apparent from the line width of the wiring line 17. Can be longer.
【0045】従つてこの回路基板40では、異方性導電
膜23の周端面23Aに対応した位置における各配線ラ
イン17の熱ストレスに対する強度を向上させることが
できるので、異方性導電膜23の周端面23Aに対応す
る位置周辺における各配線ライン17が破断することを
防止することができる。Accordingly, in the circuit board 40, the strength of each wiring line 17 at a position corresponding to the peripheral end face 23A of the anisotropic conductive film 23 can be improved with respect to the thermal stress. Breaking of each wiring line 17 around the position corresponding to the peripheral end face 23A can be prevented.
【0046】以上の構成によれば、異方性導電膜23の
周端面23Aが配線ライン17と45°の角度で交差する
ように異方性導電膜23をプリント配線基板15の実装
面15Aに仮付けした後、半導体チツプ11を異方性導
電膜23に対して熱圧着したことにより、異方性導電膜
23の周端面23Aに対応した位置における各配線ライ
ン17の熱ストレスに対する強度を向上させることがで
きるので、異方性導電膜23の周端面23Aに対応する
位置周辺における各配線ライン17が破断することを防
止することができる。かくして信頼性を向上し得る回路
基板40を実現することができる。According to the above configuration, the anisotropic conductive film 23 is mounted on the mounting surface 15A of the printed wiring board 15 so that the peripheral end surface 23A of the anisotropic conductive film 23 intersects the wiring line 17 at an angle of 45 °. After the temporary attachment, the semiconductor chip 11 is thermocompression-bonded to the anisotropic conductive film 23 to improve the strength of each wiring line 17 at a position corresponding to the peripheral end surface 23A of the anisotropic conductive film 23 against thermal stress. Therefore, it is possible to prevent each wiring line 17 from being broken around the position corresponding to the peripheral end surface 23A of the anisotropic conductive film 23. Thus, the circuit board 40 that can improve the reliability can be realized.
【0047】また上述の第2実施例においては、異方性
導電膜23の周端面23Aと各配線ライン21とが交差
するそれぞれの位置に対応した各配線ライン21の各領
域21Aを矩形形状に形成してそれぞれの配線ライン2
1における他の領域よりも太く形成することにより、異
方性導電膜23の周端面23Aに対応した位置における
配線ライン21の熱ストレスに対する強度を向上させた
場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば
図4との対応部分に同一符号を付した図11(A)及び
図11(B)に示すように、異方性導電膜23の周端面
23Aと各配線ライン21とが交差するそれぞれの位置
に対応した各領域21Aを多角形状に形成してそれぞれ
の配線ライン21における他の領域よりも太く形成した
り、図12(A)及び図12(B)に示すように、異方
性導電膜23の周端面23Aと各配線ライン21とが交
差するそれぞれの位置に対応した各配線ライン21の各
領域21Aをほぼ円弧状に形成してそれぞれの配線ライ
ン21における他の領域よりも太く形成するようにして
もよく、要は異方性導電膜23の周端面23Aと各配線
ライン21とが交差するそれぞれの位置に対応した各領
域21Aをそれぞれの配線ライン21における他の領域
よりも太く形成すれば、領域21Aの形状としてこの他
種々形状を適用し得る。In the above-described second embodiment, each region 21A of each wiring line 21 corresponding to each position where the peripheral end surface 23A of the anisotropic conductive film 23 intersects each wiring line 21 is formed in a rectangular shape. Forming each wiring line 2
1, the case where the strength against the thermal stress of the wiring line 21 at the position corresponding to the peripheral end surface 23A of the anisotropic conductive film 23 is improved by forming the region thicker than the other region, 11A and FIG. 11B in which the same reference numerals are given to the corresponding parts in FIG. 4, for example, the peripheral end face 23A of the anisotropic conductive film 23 and each wiring line 21 Each area 21A corresponding to each intersecting position is formed in a polygonal shape so as to be thicker than other areas in each wiring line 21, or as shown in FIGS. 12A and 12B, Each region 21A of each wiring line 21 corresponding to each position where the peripheral end surface 23A of the anisotropic conductive film 23 intersects with each wiring line 21 is formed in a substantially arc shape to form another region in each wiring line 21. The area may be formed to be thicker than the area. In short, each area 21A corresponding to each position where the peripheral end face 23A of the anisotropic conductive film 23 intersects with each wiring line 21 is added to each other in each wiring line 21. If the region is formed thicker than the region, various other shapes can be applied as the shape of the region 21A.
【0048】すなわち異方性導電膜14の周端面14A
と各配線ライン21とが交差するそれぞれの位置におい
て異方性導電膜14の周端面14Aが各配線ライン21
において各配線ライン21を横切る長さが、配線ライン
21の線幅より見かけ上長くなるように各配線ライン2
1を形成すればよい。That is, the peripheral end surface 14 A of the anisotropic conductive film 14
The peripheral end face 14 </ b> A of the anisotropic conductive film 14 is
In each of the wiring lines 2, the length traversing each wiring line 21 is apparently longer than the line width of the wiring line 21.
1 may be formed.
【0049】また図4との対応部分に同一符号を付した
図13に示すようなプリント配線基板50を作製しても
よい。すなわちこのプリント配線基板50は、所定の導
体パターンを形成する配線ライン51と、半導体チツプ
11の各パツド12にそれぞれ対応したランド52とが
実装面50Aに形成された絶縁基板でなり、半導体チツ
プ11の各パツド12をプリント配線基板50の対応す
るランド52に異方性導電膜23を介して接合するよう
にして半導体チツプ11を実装するようになされてい
る。Further, a printed wiring board 50 as shown in FIG. 13 in which the same reference numerals are given to portions corresponding to those in FIG. 4 may be manufactured. That is, the printed wiring board 50 is an insulating substrate in which wiring lines 51 for forming a predetermined conductor pattern and lands 52 respectively corresponding to the pads 12 of the semiconductor chip 11 are formed on the mounting surface 50A. The semiconductor chip 11 is mounted such that each pad 12 is bonded to the corresponding land 52 of the printed wiring board 50 via the anisotropic conductive film 23.
【0050】このプリント配線基板50の場合、図13
及び図14に示すように、各配線ライン51は、異方性
導電膜23の周端面23Aに対応する位置において、異
方性導電膜23の周端面23Aとほぼ45°の角度で交差
するように、プリント配線基板50の実装面50Aに形
成されており、これにより各配線パターン51と異方性
導電膜23の周端面23Aとが交差する位置において、
異方性導電膜23の周端面23Aが各配線ライン51に
おいて各配線ライン51を横切る長さを配線ライン51
の線幅より見かけ上長くし得るようになされている。In the case of this printed wiring board 50, FIG.
As shown in FIG. 14, each wiring line 51 intersects the peripheral end surface 23A of the anisotropic conductive film 23 at an angle of approximately 45 ° at a position corresponding to the peripheral end surface 23A of the anisotropic conductive film 23. Are formed on the mounting surface 50A of the printed wiring board 50, so that each wiring pattern 51 intersects with the peripheral end surface 23A of the anisotropic conductive film 23,
The length of the peripheral end surface 23A of the anisotropic conductive film 23 crossing each wiring line 51 in each wiring line 51 is determined by the length of the wiring line 51.
It is designed to be apparently longer than the line width.
【0051】以上の構成において、このプリント配線基
板50では、各配線ライン51は、異方性導電膜23の
周端面23Aに対応する位置において、異方性導電膜2
3における周端面23Aの下端辺23Bと45°の角度で
交差するようにプリント配線基板50の実装面50Aに
形成されているので、異方性導電膜23の周端面23A
と各配線ライン51とが交差する位置において異方性導
電膜23の周端面23Aが各配線ライン51において各
配線ライン51を横切る長さを配線ライン21の線幅よ
り見かけ上長くすることができる。In the above configuration, in the printed wiring board 50, each wiring line 51 is located at a position corresponding to the peripheral end surface 23A of the anisotropic conductive film 23.
3 is formed on the mounting surface 50A of the printed wiring board 50 so as to intersect the lower end side 23B of the peripheral end surface 23A at an angle of 45 °, so that the peripheral end surface 23A of the anisotropic conductive film 23 is formed.
The length at which the peripheral end face 23A of the anisotropic conductive film 23 crosses each wiring line 51 in each wiring line 51 at a position where the wiring line 51 intersects with the wiring line 51 can be apparently longer than the line width of the wiring line 21. .
【0052】従つてこのプリント配線基板50では、異
方性導電膜23の周端面23Aに対応した位置における
各配線ライン51の熱ストレスに対する強度を向上させ
ることができるので、異方性導電膜23の周端面23A
に対応する位置周辺における各配線ライン51が破断す
ることを防止することができる。Therefore, in the printed wiring board 50, the strength of each wiring line 51 at a position corresponding to the peripheral end face 23A of the anisotropic conductive film 23 can be improved with respect to the thermal stress. Peripheral end surface 23A
Can be prevented from being broken around each of the wiring lines 51 around the position corresponding to.
【0053】以上の構成によれば、異方性導電膜23の
周端面23Aに対応する位置において、異方性導電膜2
3の周端面23Aと45°の角度で交差するように各配線
ライン51をプリント配線基板50の実装面50Aに形
成したことにより、異方性導電膜23の周端面23Aに
対応した位置における各配線ライン51の熱ストレスに
対する強度を向上させることができるので、異方性導電
膜23の周端面23Aに対応する位置周辺における各配
線ライン51が破断することを防止することができる。
かくして信頼性を向上し得るプリント配線基板50を実
現することができる。According to the above configuration, the anisotropic conductive film 2 is located at a position corresponding to the peripheral end surface 23A of the anisotropic conductive film 23.
3 is formed on the mounting surface 50A of the printed wiring board 50 so as to intersect with the peripheral end surface 23A of the third at an angle of 45 °. Since the strength of the wiring line 51 against thermal stress can be improved, it is possible to prevent the wiring lines 51 around the position corresponding to the peripheral end surface 23A of the anisotropic conductive film 23 from being broken.
Thus, a printed wiring board 50 that can improve reliability can be realized.
【0054】ここでプリント配線基板50の場合、異方
性導電膜23の周端面23Aに対応する位置において、
異方性導電膜23の周端面23Aと45°の角度で交差す
るように各配線ライン51をプリント配線基板50の実
装面50Aに形成したが、異方性導電膜23の周端面2
3Aに対応する位置において、異方性導電膜23の周端
面23Aと直角以外の各度で交差するように各配線ライ
ン51を形成してもよい。すなわち異方性導電膜23の
周端面23Aと各配線ライン51とが交差する位置にお
いて異方性導電膜23の周端面23Aが各配線ライン5
1において各配線ライン51を横切る長さが、配線ライ
ン51の線幅より見かけ上長くなるように各配線ライン
51を形成すればよい。Here, in the case of the printed wiring board 50, at a position corresponding to the peripheral end face 23A of the anisotropic conductive film 23,
Each wiring line 51 is formed on the mounting surface 50A of the printed wiring board 50 so as to intersect with the peripheral end surface 23A of the anisotropic conductive film 23 at an angle of 45 °.
At the position corresponding to 3A, each wiring line 51 may be formed so as to intersect the peripheral end surface 23A of the anisotropic conductive film 23 at every other angle than a right angle. That is, at the position where the peripheral end surface 23A of the anisotropic conductive film 23 and each wiring line 51 intersect, the peripheral end surface 23A of the anisotropic conductive film 23 is
In 1, each wiring line 51 may be formed such that the length crossing each wiring line 51 is apparently longer than the line width of the wiring line 51.
【0055】さらに上述の第1実施例においては、異方
性導電膜14の周端面14Aを波形形状に形成すること
により、異方性導電膜14の周端面14Aに対応した位
置における配線ライン17の熱ストレスに対する強度を
向上させるようにした場合について述べたが、本発明は
これに限らず、異方性導電膜14を円形状に形成した
り、異方性導電膜14の周端面14Aを鋸状に形成する
など、要は、半導体チツプ11の各パツド12をプリン
ト配線基板15の対応する各ランド16に電気的に接合
すると共に、半導体チツプ11とプリント配線基板15
とを一体に保持し、かつ異方性導電膜14の周端面14
Aに対応した位置における配線ライン17の熱ストレス
に対する強度を向上させることができれば、異方性導電
膜14としてこの他種々の形状を適用し得る。Further, in the above-described first embodiment, the peripheral end surface 14A of the anisotropic conductive film 14 is formed in a corrugated shape, so that the wiring line 17 at a position corresponding to the peripheral end surface 14A of the anisotropic conductive film 14 is formed. However, the present invention is not limited to this. For example, the anisotropic conductive film 14 may be formed in a circular shape or the peripheral end surface 14A of the anisotropic conductive film 14 may be formed. In short, the pads 12 of the semiconductor chip 11 are electrically connected to the corresponding lands 16 of the printed wiring board 15, and the semiconductor chip 11 and the printed wiring board 15 are formed.
And the peripheral end surface 14 of the anisotropic conductive film 14.
If the strength of the wiring line 17 at the position corresponding to A can be improved with respect to thermal stress, various other shapes can be applied as the anisotropic conductive film 14.
【0056】さらに上述の第3実施例においては、周縁
部が鋸状に形成された異方性導電膜31′を用いて、半
導体チツプ11の周端面11Cに対応する領域から周縁
部31Aに近づくに従つて徐々に厚みが薄くなるような
異方性導電膜31を形成することにより、異方性導電膜
31の周端部31Aと各配線ライン17とが交差するそ
れぞれの位置における各配線ライン17に対する熱スト
レスを低減した場合について述べたが、本発明はこれに
限らず、熱圧縮時、少なくとも配線ライン17と異方性
導電膜31の周端部31Aとが交差する位置に対応した
領域における厚みが、配線ライン17と異方性導電膜3
1の周端部31Aとが交差する位置に対応した領域以外
の領域における厚みよりも薄く形成できれば、プリント
配線基板15の実装面15Aに仮付けする際の異方性導
電膜31′の形状としてこの他種々の形状でなる異方性
導電膜31′を適用し得る。Further, in the third embodiment described above, the peripheral portion 31A approaches the peripheral portion 31A from the region corresponding to the peripheral end surface 11C of the semiconductor chip 11 by using the anisotropic conductive film 31 'whose peripheral portion is formed in a saw-like shape. The anisotropic conductive film 31 is formed such that the thickness gradually decreases in accordance with the above-described process, so that each wiring line at each position where the peripheral end portion 31A of the anisotropic conductive film 31 intersects with each wiring line 17 is formed. Although the case where the thermal stress on the substrate 17 is reduced has been described, the present invention is not limited to this, and at least the region corresponding to the position where the wiring line 17 intersects with the peripheral end portion 31A of the anisotropic conductive film 31 at the time of thermal compression. Is thicker than the wiring line 17 and the anisotropic conductive film 3
If it can be formed thinner than the region other than the region corresponding to the position where the peripheral end portion 31A intersects with the peripheral end portion 31A, the shape of the anisotropic conductive film 31 'when temporarily attached to the mounting surface 15A of the printed wiring board 15 is obtained. In addition, anisotropic conductive films 31 'having various shapes can be applied.
【0057】[0057]
【発明の効果】上述のように本発明によれば、異方性導
電部材の周端面と配線基板の配線ラインとが交差する位
置において異方性導電部材の周端面が配線ラインを横切
る長さを配線ラインの線幅より見かけ上長くすることに
より、配線ラインの線幅を太くすることなく、異方性導
電部材の周端面に対応した位置における配線ラインの熱
ストレスに対する強度を向上させることができるので、
異方性導電部材の周端面に対応した位置における配線ラ
インが破断することを防止することができる。かくして
信頼性を向上し得る回路基板及び配線基板を実現するこ
とができる。As described above, according to the present invention, the length at which the peripheral end surface of the anisotropic conductive member crosses the wiring line at the position where the peripheral end surface of the anisotropic conductive member intersects with the wiring line of the wiring board. By making the line width apparently longer than the line width of the wiring line, it is possible to improve the strength against thermal stress of the wiring line at a position corresponding to the peripheral end surface of the anisotropic conductive member without increasing the line width of the wiring line. So you can
Breakage of the wiring line at a position corresponding to the peripheral end surface of the anisotropic conductive member can be prevented. Thus, a circuit board and a wiring board that can improve reliability can be realized.
【0058】また本発明によれば、少なくとも配線基板
に形成された配線ラインと異方性導電部材の周端部とが
交差するそれぞれの位置に対応した領域の厚みを、配線
ラインと異方性導電部材の周端部とが交差するそれぞれ
の位置に対応した領域以外における厚みよりも薄く形成
し、電子部品の電極を配線基板の対応するランドに接合
すると共に、電子部品と配線基板とを一体に保持するこ
とにより、異方性導電部材の周端部に対応した位置にお
ける配線ラインに対する熱ストレスを低減することがで
きるので、異方性導電部材の周端部に対応した位置にお
ける配線ラインが破断することを防止することができ
る。かくして信頼性を向上し得る回路基板を実現するこ
とができる。According to the present invention, at least the thickness of the region corresponding to each position where the wiring line formed on the wiring board and the peripheral end of the anisotropic conductive member intersect is determined by setting the thickness of the wiring line to the anisotropic conductive member. It is formed thinner than the area other than the area corresponding to each position where the peripheral end of the conductive member intersects, and the electrodes of the electronic component are joined to the corresponding lands of the wiring board, and the electronic component and the wiring board are integrated. By holding the anisotropic conductive member, thermal stress on the wiring line at a position corresponding to the peripheral end of the anisotropic conductive member can be reduced. Breaking can be prevented. Thus, a circuit board that can improve reliability can be realized.
【0059】さらに本発明によれば、所定の導体パター
ンを形成する配線ラインと、電子部品の電極に対応させ
て一方の面にランドとが形成された配線基板を作製し、
熱圧着時、少なくとも配線ラインと異方性導電部材の周
端部とが交差するそれぞれの位置に対応した領域の厚み
が、配線ラインと異方性導電部材の周端部とが交差する
それぞれの位置に対応した領域以外の領域における厚み
よりも薄くなるような形状を有する異方性導電部材をラ
ンドを覆うように配線基板の一方の面に仮付けし、電子
部品の電極部を配線基板の対応するランドに位置決めマ
ウントした後、電子部品を異方性導電膜に対して熱圧着
することにより、異方性導電部材の周端部に対応した位
置における配線ラインに対する熱ストレスを低減するこ
とができるので、異方性導電部材の周端部に対応した位
置における配線ラインが破断することを防止することが
できる。かくして信頼性を向上し得る回路基板の製造方
法を実現することができる。Further, according to the present invention, a wiring board having a wiring line for forming a predetermined conductor pattern and a land formed on one surface corresponding to an electrode of an electronic component is manufactured.
At the time of thermocompression bonding, at least the thickness of the region corresponding to each position where the wiring line intersects with the peripheral end of the anisotropic conductive member is the thickness of each region where the wiring line intersects with the peripheral end of the anisotropic conductive member. An anisotropic conductive member having a shape that is thinner than the thickness in a region other than the region corresponding to the position is temporarily attached to one surface of the wiring board so as to cover the land, and the electrode part of the electronic component is attached to the wiring substrate. After positioning and mounting on the corresponding land, the electronic component is thermocompression bonded to the anisotropic conductive film to reduce the thermal stress on the wiring line at the position corresponding to the peripheral end of the anisotropic conductive member. Therefore, it is possible to prevent the wiring line at the position corresponding to the peripheral end of the anisotropic conductive member from being broken. Thus, a method for manufacturing a circuit board that can improve reliability can be realized.
【図1】本発明による回路基板の一実施例を示す一部切
欠斜視図である。FIG. 1 is a partially cutaway perspective view showing one embodiment of a circuit board according to the present invention.
【図2】異方性導電膜の構成の説明に供する略線的上面
図である。FIG. 2 is a schematic top view for explaining a configuration of an anisotropic conductive film.
【図3】異方性導電膜の周端面と配線パターンとの関係
の説明に供する略線的上面図である。FIG. 3 is a schematic top view for explaining a relationship between a peripheral end surface of an anisotropic conductive film and a wiring pattern;
【図4】本発明によるプリント配線基板の一実施例を示
す略線的斜視図である。FIG. 4 is a schematic perspective view showing one embodiment of a printed wiring board according to the present invention.
【図5】配線ラインの形状の説明に供する略線図であ
る。FIG. 5 is a schematic diagram for explaining the shape of a wiring line;
【図6】本発明による回路基板の一実施例を示す略線的
断面図である。FIG. 6 is a schematic sectional view showing an embodiment of a circuit board according to the present invention.
【図7】異方性導電膜の構成の説明に供する略線的上面
図である。FIG. 7 is a schematic top view for explaining the configuration of an anisotropic conductive film.
【図8】異方性導電膜の形状及び厚みの変化の説明に供
する略線図(A)、(B)及び(C)及び略線的断面図
(D)、(E)及び(F)である。FIGS. 8A to 8C are schematic diagrams (A), (B), and (C) and schematic cross-sectional diagrams (D), (E), and (F) for explaining changes in the shape and thickness of an anisotropic conductive film. It is.
【図9】他の実施例による回路基板の構成を示す一部切
欠斜視図である。FIG. 9 is a partially cutaway perspective view showing a configuration of a circuit board according to another embodiment.
【図10】他の実施例による異方性導電膜と配線ライン
との位置関係の説明に供する略線的上面図である。FIG. 10 is a schematic top view for explaining a positional relationship between an anisotropic conductive film and a wiring line according to another embodiment.
【図11】他の実施例による配線パターンの形状の説明
に供する略線図(A)及び略線的斜視図(B)である。11A and 11B are a schematic diagram (A) and a schematic perspective view (B) for describing the shape of a wiring pattern according to another embodiment.
【図12】他の実施例による配線パターンの形状の説明
に供する略線図(A)及び略線的斜視図(B)である。12A and 12B are a schematic diagram (A) and a schematic perspective view (B) for describing the shape of a wiring pattern according to another embodiment.
【図13】他の実施例による回路基板の構成を示す一部
切欠斜視図である。FIG. 13 is a partially cutaway perspective view showing a configuration of a circuit board according to another embodiment.
【図14】他の実施例による回路基板における異方性導
電膜と配線ラインとの位置関係の説明に供する略線図で
ある。FIG. 14 is a schematic diagram for explaining a positional relationship between an anisotropic conductive film and a wiring line in a circuit board according to another embodiment.
【図15】従来の回路基板の構成の一例を示す一部切欠
斜視図である。FIG. 15 is a partially cutaway perspective view showing an example of the configuration of a conventional circuit board.
【図16】配線ラインの破断の説明に供する略線的斜視
図である。FIG. 16 is a schematic perspective view for explaining a break of a wiring line;
10、30、40、50…回路基板、11……半導体チ
ツプ、12……パツト、13……バンプ、14、23、
31、31′……異方性導電膜、14A、23A……異
方性導電膜の周端面、15、20……プリント配線基
板、16、52……ランド、17、51……配線ライ
ン。10, 30, 40, 50: circuit board, 11: semiconductor chip, 12: pad, 13: bump, 14, 23,
31, 31 '... anisotropic conductive film, 14A, 23A ... peripheral end face of anisotropic conductive film, 15, 20 ... printed wiring board, 16, 52 ... land, 17, 51 ... wiring line.
Claims (13)
る配線ライン及び上記電子部品の電極部に対応したラン
ドが一方の面に形成された配線基板と、上記電子部品の
上記電極部を上記配線基板の対応する上記ランドに接合
すると共に、上記電子部品と上記配線基板とを一体に保
持する異方性導電部材とでなる回路基板において、 上記異方性導電部材の周端面と上記配線ラインとが交差
するそれぞれの位置において上記異方性導電部材の上記
周端面が上記配線ラインを横切る長さを上記配線ライン
の線幅より見かけ上長くなるようにしたことを特徴とす
る回路基板。An electronic component, a wiring board for forming a predetermined conductor pattern, and a wiring board having a land corresponding to an electrode portion of the electronic component formed on one surface; and the electrode portion of the electronic component, A circuit board comprising an anisotropic conductive member that is joined to the corresponding land of the wiring board and integrally holds the electronic component and the wiring board, wherein a peripheral end surface of the anisotropic conductive member and the wiring line A circuit board characterized in that the length at which the peripheral end face of the anisotropic conductive member intersects the wiring line is apparently longer than the line width of the wiring line at each position where the crossing is made.
するそれぞれの位置において上記異方性導電部材の上記
周端面が上記配線ラインを横切る長さが上記配線ライン
の線幅より見かけ上長くなるような形状を有する上記周
端面を具えることを特徴とする請求項1に記載の回路基
板。2. The anisotropic conductive member, wherein the peripheral end face of the anisotropic conductive member crosses the wiring line at each position where the peripheral end face of the anisotropic conductive member intersects with the wiring line. 2. The circuit board according to claim 1, further comprising the peripheral end surface having a shape such that a length is apparently longer than a line width of the wiring line.
徴とする請求項2に記載の回路基板。3. The circuit board according to claim 2, wherein the anisotropic conductive member has the peripheral end face formed in a corrugated shape.
で交差するように、上記電子部品の上記電極部を上記絶
縁基板の対応する上記ランドに接合すると共に、上記電
子部品と上記絶縁基板とを一体に保持することを特徴と
する請求項1に記載の回路基板。4. The anisotropic conductive member, wherein the electrode portion of the electronic component is joined to the corresponding land of the insulating substrate such that the peripheral end surface intersects the wiring line at an angle other than a right angle. The circuit board according to claim 1, wherein the electronic component and the insulating substrate are integrally held.
上記周端面が上記配線ラインと45°の角度で交差するよ
うに、上記電子部品の上記電極部を上記絶縁基板の対応
する上記ランドに接合すると共に、上記電子部品と上記
絶縁基板とを一体に保持することを特徴とする請求項4
に記載の回路基板。5. The anisotropic conductive member has a rectangular shape.
The electrode part of the electronic component is joined to the corresponding land of the insulating substrate so that the peripheral end surface intersects the wiring line at an angle of 45 °, and the electronic component and the insulating substrate are integrally formed. 5. The method according to claim 4, wherein
A circuit board according to claim 1.
部品の電極部に対応したランドが一方の面に形成された
配線基板と、 少なくとも上記配線ラインと周端部とが交差するそれぞ
れの位置に対応した領域の厚みが、上記配線ラインと上
記周端部とが交差するそれぞれの位置に対応した上記領
域以外の領域における厚みよりも薄く形成され、上記電
子部品の上記電極部を上記配線基板の対応する上記ラン
ドに接合すると共に、上記電子部品と上記配線基板とを
一体に保持する異方性導電部材とを具えることを特徴と
する回路基板。6. A wiring board having an electronic component, a wiring line for forming a predetermined conductor pattern, and a land corresponding to an electrode portion of the electronic component formed on one surface, at least the wiring line and a peripheral end portion. The thickness of the region corresponding to each of the intersections is formed to be thinner than the thickness of the region other than the region corresponding to each of the positions where the wiring line and the peripheral end intersect with each other. A circuit board, comprising: an anisotropic conductive member that joins an electrode portion to a corresponding one of the lands of the wiring board and integrally holds the electronic component and the wiring board.
電部材の上記周端部に近づくに従つて徐々に厚みが薄く
なるように形成されていることを特徴とする請求項6に
記載の回路基板。7. The anisotropic conductive member is formed so as to gradually decrease in thickness from a region corresponding to a peripheral end surface of the electronic component toward the peripheral end of the anisotropic conductive member. The circuit board according to claim 6, wherein:
と、電子部品の接合面に形成された電極部にそれぞれ対
応したランドとが一方の面に形成された絶縁基板でな
り、上記電子部品の上記電極部を上記絶縁基板の対応す
る上記ランドに異方性導電部材を介して接合するように
して上記電子部品を実装する配線基板において、 上記異方性導電部材の周端面と上記配線ラインとが交差
するそれぞれの位置において上記異方性導電部材の上記
周端面が上記配線ラインを横切る長さが、上記配線ライ
ンの線幅より見かけ上長くなるような上記配線ラインを
具えることを特徴とする配線基板。8. An insulating substrate in which a wiring line for forming a predetermined conductor pattern and lands respectively corresponding to electrode portions formed on a joint surface of the electronic component are formed on one surface. In a wiring board on which the electronic component is mounted by joining the electrode portion to the corresponding land of the insulating substrate via an anisotropic conductive member, a peripheral end surface of the anisotropic conductive member and the wiring line Wherein the length at which the peripheral end face of the anisotropic conductive member traverses the wiring line at each position where the wiring line intersects the wiring line is apparently longer than the line width of the wiring line. Wiring board.
交差するそれぞれの位置に対応した領域の線幅が、上記
異方性導電部材の上記周端面と上記配線ラインとが交差
するそれぞれの位置に対応した上記領域以外の領域にお
ける線幅より太く形成されていることを特徴とする請求
項8に記載の配線基板。9. The wiring line, wherein the line width of a region corresponding to each position where the peripheral end face of the anisotropic conductive member intersects with the wiring line has a line width of the peripheral end face of the anisotropic conductive member. 9. The wiring board according to claim 8, wherein the wiring board is formed thicker than a line width in a region other than the region corresponding to each position where the wiring line intersects with the wiring line.
て、上記異方性導電部材の上記周端面と直角以外の角度
で交差するように上記絶縁基板の上記一方の面に形成さ
れていることを特徴とする請求項8に記載の配線基板。10. The insulating substrate according to claim 1, wherein said wiring line intersects said peripheral end surface of said anisotropic conductive member at an angle other than a right angle at a position corresponding to said peripheral end surface of said anisotropic conductive member. The wiring board according to claim 8, wherein the wiring board is formed on the one surface.
て、上記異方性導電部材の上記周端面と45°の角度で交
差するように上記絶縁基板の上記一方の面に形成されて
いることを特徴とする請求項10に記載の配線基板。11. The insulating substrate according to claim 1, wherein the wiring line intersects the peripheral end surface of the anisotropic conductive member at a 45 ° angle at a position corresponding to the peripheral end surface of the anisotropic conductive member. The wiring board according to claim 10, wherein the wiring board is formed on the one surface.
ンと、電子部品の電極部に対応させて一方の面にランド
とが形成された配線基板を作製する第1の工程と、 熱圧着時、少なくとも上記配線ラインと異方性導電部材
の周端部とが交差するそれぞれの位置に対応した領域の
厚みが、上記配線ラインと上記異方性導電部材の上記周
端部とが交差するそれぞれの位置に対応した上記領域以
外の領域における厚みよりも薄くなるような形状を有す
る上記異方性導電部材を、上記ランドを覆うように上記
配線基板の上記一方の面に仮付けする第2の工程と、 上記電子部品の上記電極部を上記配線基板の対応する上
記ランドに位置決めマウントした後、上記電子部品を上
記異方性導電膜に対して所定の熱圧着条件で熱圧着する
第3の工程とを具えることを特徴とする回路基板の製造
方法。12. A first step of manufacturing a wiring board having a wiring line for forming a predetermined conductor pattern and a land on one surface corresponding to an electrode portion of an electronic component. The thickness of at least the region corresponding to each position where the wiring line intersects with the peripheral end of the anisotropic conductive member is the thickness of each region where the wiring line intersects with the peripheral end of the anisotropic conductive member. A second step of temporarily attaching the anisotropic conductive member having a shape thinner than a thickness in a region other than the region corresponding to the position to the one surface of the wiring board so as to cover the land; A third step of positioning and mounting the electrode portion of the electronic component on the corresponding land of the wiring board, and then thermocompression bonding the electronic component to the anisotropic conductive film under predetermined thermocompression bonding conditions. With Method of manufacturing a circuit board, wherein the door.
求項12に記載の回路基板の製造方法。13. The method according to claim 12, wherein the peripheral end of the anisotropic conductive member is formed in a saw-like shape.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35202096A JPH10173301A (en) | 1996-12-11 | 1996-12-11 | Circuit board, wiring board, and method of manufacturing circuit board |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35202096A JPH10173301A (en) | 1996-12-11 | 1996-12-11 | Circuit board, wiring board, and method of manufacturing circuit board |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10173301A true JPH10173301A (en) | 1998-06-26 |
Family
ID=18421234
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP35202096A Pending JPH10173301A (en) | 1996-12-11 | 1996-12-11 | Circuit board, wiring board, and method of manufacturing circuit board |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10173301A (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1319023C (en) * | 1998-12-17 | 2007-05-30 | 株式会社日立制作所 | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
| JP2017011280A (en) * | 2016-08-03 | 2017-01-12 | シャープ株式会社 | Electronic device and method for manufacturing electronic device |
| US9972884B2 (en) | 2015-08-27 | 2018-05-15 | Fujitsu Limited | RFID tag |
-
1996
- 1996-12-11 JP JP35202096A patent/JPH10173301A/en active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1319023C (en) * | 1998-12-17 | 2007-05-30 | 株式会社日立制作所 | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
| US9972884B2 (en) | 2015-08-27 | 2018-05-15 | Fujitsu Limited | RFID tag |
| JP2017011280A (en) * | 2016-08-03 | 2017-01-12 | シャープ株式会社 | Electronic device and method for manufacturing electronic device |
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