JPH10173496A - 位相補正回路 - Google Patents
位相補正回路Info
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- JPH10173496A JPH10173496A JP8329428A JP32942896A JPH10173496A JP H10173496 A JPH10173496 A JP H10173496A JP 8329428 A JP8329428 A JP 8329428A JP 32942896 A JP32942896 A JP 32942896A JP H10173496 A JPH10173496 A JP H10173496A
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- delay
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 入力信号のスキュー補正を自動的に且つ短時
間に行うことができ、もともと位相差を備えた信号間の
スキューについても調整可能な位相補正回路を提供す
る。 【解決手段】 複数の遅延回路101〜105により、
入力信号IPTをそれぞれ異なる遅延時間だけ遅らせた
遅延信号DO1〜DO5を生成し、また位相判定回路1
10により、複数の遅延回路101〜105の出力信号
DO1〜DO5の位相が、所定の位相判定期間内に入っ
ているか否かを判定し、位相判定回路110により遅延
回路の出力信号の位相が位相判定期間内に入っていると
判定された場合に、選択回路120によって、その遅延
回路の出力信号を当該位相補正回路の出力OPTとして
選択する。
間に行うことができ、もともと位相差を備えた信号間の
スキューについても調整可能な位相補正回路を提供す
る。 【解決手段】 複数の遅延回路101〜105により、
入力信号IPTをそれぞれ異なる遅延時間だけ遅らせた
遅延信号DO1〜DO5を生成し、また位相判定回路1
10により、複数の遅延回路101〜105の出力信号
DO1〜DO5の位相が、所定の位相判定期間内に入っ
ているか否かを判定し、位相判定回路110により遅延
回路の出力信号の位相が位相判定期間内に入っていると
判定された場合に、選択回路120によって、その遅延
回路の出力信号を当該位相補正回路の出力OPTとして
選択する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はスキューを制御する
位相補正回路に係り、特に、入力信号のスキュー補正を
自動的に且つ短時間に行うことができ、もともと位相差
を備えた信号間のスキューについても調整可能な位相補
正回路に関する。
位相補正回路に係り、特に、入力信号のスキュー補正を
自動的に且つ短時間に行うことができ、もともと位相差
を備えた信号間のスキューについても調整可能な位相補
正回路に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、ディジタル回路においては、クロ
ック信号等の制御信号を半導体チップ上或いは回路基板
上の回路構成要素に分配して、回路動作の制御を行って
いる。各回路構成要素が半導体チップ上或いは回路基板
上の様々な位置に無秩序に配置されている場合には、制
御信号の伝搬する配線距離が異なり、その結果、伝搬遅
延に起因する各回路構成要素における制御信号の到達時
間の差は、スキューと称されて、クロック重なり等の問
題として顕在化する。
ック信号等の制御信号を半導体チップ上或いは回路基板
上の回路構成要素に分配して、回路動作の制御を行って
いる。各回路構成要素が半導体チップ上或いは回路基板
上の様々な位置に無秩序に配置されている場合には、制
御信号の伝搬する配線距離が異なり、その結果、伝搬遅
延に起因する各回路構成要素における制御信号の到達時
間の差は、スキューと称されて、クロック重なり等の問
題として顕在化する。
【0003】また、半導体チップ上或いは回路基板上の
回路構成要素の配置や制御信号の配線手法により、制御
信号配線を等長化させるなどしてスキューを減少させる
ことはできるが、完全に無くすことはできない。このス
キューの制御は、特に、近年の回路動作周波数の増加に
伴って、ディジタル回路設計における重要な解決すべき
課題となっている。
回路構成要素の配置や制御信号の配線手法により、制御
信号配線を等長化させるなどしてスキューを減少させる
ことはできるが、完全に無くすことはできない。このス
キューの制御は、特に、近年の回路動作周波数の増加に
伴って、ディジタル回路設計における重要な解決すべき
課題となっている。
【0004】このようなスキューの制御・調整を行うた
め、従来より種々のスキュー補正回路が提案されてい
る。例えば、米国特許公報「US Patent 5,
414,381」に開示の”METHOD OF AD
JUSTING FOR CLOCK SKEW:クロ
ックスキューの調整方法”(第1の従来例)では、遅延
回路の遅延値をオシロスコープ等で観測しながら、手動
で遅延時間を調整する方法が提案されている。
め、従来より種々のスキュー補正回路が提案されてい
る。例えば、米国特許公報「US Patent 5,
414,381」に開示の”METHOD OF AD
JUSTING FOR CLOCK SKEW:クロ
ックスキューの調整方法”(第1の従来例)では、遅延
回路の遅延値をオシロスコープ等で観測しながら、手動
で遅延時間を調整する方法が提案されている。
【0005】また、米国特許公報「US Patent
5,384,781」に開示の”AUTOMATIC
SKEW CALIBRATION FOR MUL
TI−CHANNEL SIGNAL SOURCE
S:マルチチャンネル信号源に対する自動スキュー調
整”(第2の従来例)では、コントローラ(マイクロプ
ロセッサ)及び位相判定回路を用いて、自動的に遅延時
間を調整する方法が提案されている。
5,384,781」に開示の”AUTOMATIC
SKEW CALIBRATION FOR MUL
TI−CHANNEL SIGNAL SOURCE
S:マルチチャンネル信号源に対する自動スキュー調
整”(第2の従来例)では、コントローラ(マイクロプ
ロセッサ)及び位相判定回路を用いて、自動的に遅延時
間を調整する方法が提案されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記第
1の従来例のクロックスキューのー調整方法において
は、遅延時間の調整を手動で行うため、調整に時間と手
間を要し、また、調整が必要なときに必ず所望の遅延調
整ができるという保証がないという問題点があった。
1の従来例のクロックスキューのー調整方法において
は、遅延時間の調整を手動で行うため、調整に時間と手
間を要し、また、調整が必要なときに必ず所望の遅延調
整ができるという保証がないという問題点があった。
【0007】また、上記第2の従来例のマルチチャンネ
ル信号源に対する自動スキュー調整では、調整動作がシ
ーケンシャルであるために、調整に時間を要し、また、
マイクロプロセッサを必要とすることから回路規模が大
きくなる可能性があるという問題点があった。
ル信号源に対する自動スキュー調整では、調整動作がシ
ーケンシャルであるために、調整に時間を要し、また、
マイクロプロセッサを必要とすることから回路規模が大
きくなる可能性があるという問題点があった。
【0008】更に、第2の従来例の調整方法では、位相
判定回路によって信号の位相差がゼロであることを判定
できるのみであることから、もともと位相差を備えてい
る信号の比較には適用できないという問題点もあった。
例えば、DS−LINKコーディングされたデータ信号
とストローブ信号間のスキュー等については、一時に何
れか一方の信号しかレベル遷移を行わないため、双方の
信号が共にスキューを持つ場合にはこのスキューの判定
を行うことができず、スキュー調整を行うことはできな
い。
判定回路によって信号の位相差がゼロであることを判定
できるのみであることから、もともと位相差を備えてい
る信号の比較には適用できないという問題点もあった。
例えば、DS−LINKコーディングされたデータ信号
とストローブ信号間のスキュー等については、一時に何
れか一方の信号しかレベル遷移を行わないため、双方の
信号が共にスキューを持つ場合にはこのスキューの判定
を行うことができず、スキュー調整を行うことはできな
い。
【0009】本発明は、かかる事情に鑑みてなされたも
のであり、その目的は、スキュー補正を自動的にかつ短
時間に行うことができ、また、もともと位相差を備えた
信号間のスキューも調整可能な位相補正回路を提供する
ことにある。
のであり、その目的は、スキュー補正を自動的にかつ短
時間に行うことができ、また、もともと位相差を備えた
信号間のスキューも調整可能な位相補正回路を提供する
ことにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の位相補正回路は、入力信号をそれぞれ異な
る遅延時間だけ遅らせて出力する複数の遅延回路と、前
記複数の遅延回路の出力信号の位相が、所定期間内に入
っているか否かを判定する位相判定回路と、前記位相判
定回路により前記遅延回路の出力信号の位相が所定期間
内に入っていると判定された場合に、その遅延回路の出
力信号を選択して出力する選択回路とを備えるものであ
る。
に、本発明の位相補正回路は、入力信号をそれぞれ異な
る遅延時間だけ遅らせて出力する複数の遅延回路と、前
記複数の遅延回路の出力信号の位相が、所定期間内に入
っているか否かを判定する位相判定回路と、前記位相判
定回路により前記遅延回路の出力信号の位相が所定期間
内に入っていると判定された場合に、その遅延回路の出
力信号を選択して出力する選択回路とを備えるものであ
る。
【0011】また、本発明の位相補正回路は、前記位相
判定回路は、前記複数の遅延回路と個々に対応して、対
応する遅延回路の出力信号の位相が所定期間内に入って
いるか否かを判定するサブ位相判定回路を複数個備える
ものである。
判定回路は、前記複数の遅延回路と個々に対応して、対
応する遅延回路の出力信号の位相が所定期間内に入って
いるか否かを判定するサブ位相判定回路を複数個備える
ものである。
【0012】また、本発明の位相補正回路は、前記選択
回路は、前記サブ位相判定回路により、対応する遅延回
路の出力信号の位相が所定期間内に入っていると判定さ
れた場合には、その遅延回路の出力信号を出力し、入っ
ていないと判定された場合には出力をハイインピーダン
ス状態とする複数の出力選択部を備えるものである。
回路は、前記サブ位相判定回路により、対応する遅延回
路の出力信号の位相が所定期間内に入っていると判定さ
れた場合には、その遅延回路の出力信号を出力し、入っ
ていないと判定された場合には出力をハイインピーダン
ス状態とする複数の出力選択部を備えるものである。
【0013】また、本発明の位相補正回路は、前記サブ
位相判定回路は、対応する遅延回路の出力信号を前記所
定期間の開始タイミングで記憶する第1の記憶手段と、
対応する遅延回路の出力信号を前記所定期間の終了タイ
ミングで記憶する第2の記憶手段とを有し、前記第1の
記憶手段の内容と前記第2記憶手段の内容とが異なる場
合に真値となり、一致する場合に偽値となる信号を出力
する。
位相判定回路は、対応する遅延回路の出力信号を前記所
定期間の開始タイミングで記憶する第1の記憶手段と、
対応する遅延回路の出力信号を前記所定期間の終了タイ
ミングで記憶する第2の記憶手段とを有し、前記第1の
記憶手段の内容と前記第2記憶手段の内容とが異なる場
合に真値となり、一致する場合に偽値となる信号を出力
する。
【0014】また、本発明の位相補正回路は、前記複数
の遅延回路の出力は、真値及び偽値をそれぞれ表す電圧
レベルについて駆動能力が同じものである。
の遅延回路の出力は、真値及び偽値をそれぞれ表す電圧
レベルについて駆動能力が同じものである。
【0015】また、本発明の位相補正回路は、所定の基
準信号を所定時間だけ遅らせて、前記所定期間の開始タ
イミングを規定する開始タイミング信号を出力する第1
の可変遅延回路と、前記基準信号を所定時間だけ遅らせ
て、前記所定期間の終了タイミングを規定する終了タイ
ミング信号を出力する第2の可変遅延回路とを備えるも
のである。
準信号を所定時間だけ遅らせて、前記所定期間の開始タ
イミングを規定する開始タイミング信号を出力する第1
の可変遅延回路と、前記基準信号を所定時間だけ遅らせ
て、前記所定期間の終了タイミングを規定する終了タイ
ミング信号を出力する第2の可変遅延回路とを備えるも
のである。
【0016】更に、好適には、本発明の位相補正回路
は、複数段直列に接続される。
は、複数段直列に接続される。
【0017】本発明の位相補正回路によれば、複数の遅
延回路により、入力信号をそれぞれ異なる遅延時間だけ
遅らせた遅延信号が生成され、また位相判定回路によ
り、複数の遅延回路の出力信号の位相が、所定の位相判
定期間内に入っているか否かが判定される。そして、位
相判定回路により遅延回路の出力信号の位相が位相判定
期間内に入っていると判定された場合に、選択回路によ
って、その遅延回路の出力信号が当該位相補正回路の出
力として選択される。
延回路により、入力信号をそれぞれ異なる遅延時間だけ
遅らせた遅延信号が生成され、また位相判定回路によ
り、複数の遅延回路の出力信号の位相が、所定の位相判
定期間内に入っているか否かが判定される。そして、位
相判定回路により遅延回路の出力信号の位相が位相判定
期間内に入っていると判定された場合に、選択回路によ
って、その遅延回路の出力信号が当該位相補正回路の出
力として選択される。
【0018】このように、入力信号を遅延させた信号の
エッジが所定の位相判定期間内に入るように遅延回路を
選択することで入力信号の遅延時間を調整して、遅延時
間だけ遅延させた入力信号を出力信号とするので、スキ
ュー補正を自動的にかつ短時間に行うことができ、ま
た、もともと位相差を備えた信号間のスキューも調整可
能である。
エッジが所定の位相判定期間内に入るように遅延回路を
選択することで入力信号の遅延時間を調整して、遅延時
間だけ遅延させた入力信号を出力信号とするので、スキ
ュー補正を自動的にかつ短時間に行うことができ、ま
た、もともと位相差を備えた信号間のスキューも調整可
能である。
【0019】また、本発明の位相補正回路によれば、複
数の遅延回路と個々に対応して設けられたサブ位相判定
回路により、そのサブ位相判定回路に対応する遅延回路
の出力信号の位相が位相判定期間内に入っていると判定
された場合には、遅延回路の出力信号が出力され、そう
でない場合には出力がハイインピーダンス状態に保持さ
れる。
数の遅延回路と個々に対応して設けられたサブ位相判定
回路により、そのサブ位相判定回路に対応する遅延回路
の出力信号の位相が位相判定期間内に入っていると判定
された場合には、遅延回路の出力信号が出力され、そう
でない場合には出力がハイインピーダンス状態に保持さ
れる。
【0020】これにより、例えば、回路設計の段階で、
遅延回路,サブ位相判定回路及びセレクタの組の数を任
意に設定し、遅延回路の遅延時間の刻みを任意に設定す
れば、スキュー調整の調整精度や調整範囲を、設計仕様
に応じた精度や範囲に設定することが可能となる。ま
た、複数のサブ位相判定回路において、対応する遅延回
路の出力信号の位相が位相判定期間内に入っていると判
定された場合、即ち、複数のセレクタの出力が衝突した
場合でも、複数のセレクタ出力を平均したかたちで最終
的な出力を得ることができ、タイミング的な精度を向上
させることができる。
遅延回路,サブ位相判定回路及びセレクタの組の数を任
意に設定し、遅延回路の遅延時間の刻みを任意に設定す
れば、スキュー調整の調整精度や調整範囲を、設計仕様
に応じた精度や範囲に設定することが可能となる。ま
た、複数のサブ位相判定回路において、対応する遅延回
路の出力信号の位相が位相判定期間内に入っていると判
定された場合、即ち、複数のセレクタの出力が衝突した
場合でも、複数のセレクタ出力を平均したかたちで最終
的な出力を得ることができ、タイミング的な精度を向上
させることができる。
【0021】また、本発明の位相補正回路では、基準信
号に基づいて、第1の可変遅延回路により開始タイミン
グ信号が、第2の可変遅延回路により終了タイミング信
号がそれぞれ出力されて、位相判定期間が規定される。
サブ位相判定回路では、サブ位相判定回路に対応する遅
延回路の出力信号が、開始タイミング信号の制御で第1
の記憶手段に、また終了タイミング信号の制御で第2の
記憶手段にそれぞれ記憶される。そして、第1の記憶手
段の内容と第2記憶手段の内容とが異なる場合に、遅延
回路の出力信号の位相が位相判定期間内に入っている旨
を示すべく出力が真値され、そうでない場合に出力が偽
値とされる。
号に基づいて、第1の可変遅延回路により開始タイミン
グ信号が、第2の可変遅延回路により終了タイミング信
号がそれぞれ出力されて、位相判定期間が規定される。
サブ位相判定回路では、サブ位相判定回路に対応する遅
延回路の出力信号が、開始タイミング信号の制御で第1
の記憶手段に、また終了タイミング信号の制御で第2の
記憶手段にそれぞれ記憶される。そして、第1の記憶手
段の内容と第2記憶手段の内容とが異なる場合に、遅延
回路の出力信号の位相が位相判定期間内に入っている旨
を示すべく出力が真値され、そうでない場合に出力が偽
値とされる。
【0022】このように、所望の位相判定期間を規定し
て、入力信号を遅延させた信号のエッジが位相判定期間
内に入るように遅延回路を選択することで入力信号の遅
延時間を調整して、遅延時間だけ遅延させた入力信号を
出力信号とするので、スキュー補正を自動的にかつ短時
間に行うことができ、また、もともと位相差を備えた信
号間のスキューも調整可能である。
て、入力信号を遅延させた信号のエッジが位相判定期間
内に入るように遅延回路を選択することで入力信号の遅
延時間を調整して、遅延時間だけ遅延させた入力信号を
出力信号とするので、スキュー補正を自動的にかつ短時
間に行うことができ、また、もともと位相差を備えた信
号間のスキューも調整可能である。
【0023】更に、本発明の位相補正回路では、位相補
正回路の出力を次段の位相補正回路の入力信号として複
数段直列に接続するようにしている。例えば、後段の位
相補正回路に行くにつれて、位相補正回路の位相調整期
間を小さく設定し、また、遅延回路の遅延時間の刻みを
小さく設定していくことで、よりきめの細かいスキュー
調整を行うことが可能となる。
正回路の出力を次段の位相補正回路の入力信号として複
数段直列に接続するようにしている。例えば、後段の位
相補正回路に行くにつれて、位相補正回路の位相調整期
間を小さく設定し、また、遅延回路の遅延時間の刻みを
小さく設定していくことで、よりきめの細かいスキュー
調整を行うことが可能となる。
【0024】
【発明の実施の形態】以下、本発明の位相補正回路の実
施形態について、〔第1の実施形態〕,〔第2の実施形
態〕の順に図面を参照して詳細に説明する。
施形態について、〔第1の実施形態〕,〔第2の実施形
態〕の順に図面を参照して詳細に説明する。
【0025】〔第1の実施形態〕図1は本発明の第1の
実施形態に係る位相補正回路の構成図である。本実施形
態の位相補正回路は、入力信号IPTを遅らせた信号の
立ち上がりエッジの位相が所定の位相判定期間内に入る
ように遅延値を決定し、この遅延値だけ遅延させた入力
信号を出力するものである。
実施形態に係る位相補正回路の構成図である。本実施形
態の位相補正回路は、入力信号IPTを遅らせた信号の
立ち上がりエッジの位相が所定の位相判定期間内に入る
ように遅延値を決定し、この遅延値だけ遅延させた入力
信号を出力するものである。
【0026】図1において、本実施形態の位相補正回路
は、主な構成要素として、入力信号IPTをそれぞれ異
なる遅延時間TD1〜TD5だけ遅らせて出力する5個
の遅延回路101〜105と、遅延回路101〜105
の出力信号DO1〜DO5の立ち上がりエッジの位相
が、所定の位相判定期間内に入っているか否かを判定す
る位相判定回路110と、位相判定回路110により遅
延回路101〜105の出力信号DO1〜DO5の位相
が位相判定期間内に入っていると判定された場合に、こ
の位相判定期間内に入っている遅延回路の出力信号を当
該位相補正回路の出力として選択する選択回路120と
を備えて構成されている。
は、主な構成要素として、入力信号IPTをそれぞれ異
なる遅延時間TD1〜TD5だけ遅らせて出力する5個
の遅延回路101〜105と、遅延回路101〜105
の出力信号DO1〜DO5の立ち上がりエッジの位相
が、所定の位相判定期間内に入っているか否かを判定す
る位相判定回路110と、位相判定回路110により遅
延回路101〜105の出力信号DO1〜DO5の位相
が位相判定期間内に入っていると判定された場合に、こ
の位相判定期間内に入っている遅延回路の出力信号を当
該位相補正回路の出力として選択する選択回路120と
を備えて構成されている。
【0027】また、その他の構成要素としては、基準信
号BCKから位相判定期間の開始タイミング及び終了タ
イミングを生成する第1の可変遅延回路131及び第2
の可変遅延回路132と、遅延回路101〜105の出
力信号DO1〜DO5をドライブするバッファ141〜
145と、第1の可変遅延回路131及び第2の可変遅
延回路132の出力信号LDCK及びTLCKをドライ
ブするバッファ151,152と、選択回路120の出
力をドライブするバッファ150とを備えている。
号BCKから位相判定期間の開始タイミング及び終了タ
イミングを生成する第1の可変遅延回路131及び第2
の可変遅延回路132と、遅延回路101〜105の出
力信号DO1〜DO5をドライブするバッファ141〜
145と、第1の可変遅延回路131及び第2の可変遅
延回路132の出力信号LDCK及びTLCKをドライ
ブするバッファ151,152と、選択回路120の出
力をドライブするバッファ150とを備えている。
【0028】以下では、図2のタイミングチャート、並
びに、図3及び図4の説明図を参照して、本実施形態の
位相補正回路の各構成要素の動作・作用を詳細に説明す
る。
びに、図3及び図4の説明図を参照して、本実施形態の
位相補正回路の各構成要素の動作・作用を詳細に説明す
る。
【0029】先ず、第1の可変遅延回路131は、図2
(a)及び(b)に示すように、基準信号BCKを所定
時間TLDだけ遅らせて、位相判定期間TPの開始タイ
ミングを開始タイミング信号LDCKの立ち上がりエッ
ジとして規定する。また、第2の可変遅延回路132
は、図2(a)及び(c)に示すように、基準信号BC
Kを所定時間TTLだけ遅らせて、位相判定期間TPの
終了タイミングを終了タイミング信号TLCKの立ち上
がりエッジとして規定する。
(a)及び(b)に示すように、基準信号BCKを所定
時間TLDだけ遅らせて、位相判定期間TPの開始タイ
ミングを開始タイミング信号LDCKの立ち上がりエッ
ジとして規定する。また、第2の可変遅延回路132
は、図2(a)及び(c)に示すように、基準信号BC
Kを所定時間TTLだけ遅らせて、位相判定期間TPの
終了タイミングを終了タイミング信号TLCKの立ち上
がりエッジとして規定する。
【0030】また、遅延回路101〜105は、図2
(e)から(i)までに示すように、図2(d)に示す
入力信号IPTを、それぞれ異なる遅延時間TD1〜T
D5だけ遅らせた出力信号DO1〜DO5を生成するも
のである。
(e)から(i)までに示すように、図2(d)に示す
入力信号IPTを、それぞれ異なる遅延時間TD1〜T
D5だけ遅らせた出力信号DO1〜DO5を生成するも
のである。
【0031】また、位相判定回路110は、5個の遅延
回路101〜105と個々に対応して、それぞれ対応す
る遅延回路の出力信号の立ち上がりエッジの位相が位相
判定期間TP内に入っているか否かを判定する5個のサ
ブ位相判定回路111〜115を備えて構成されてい
る。
回路101〜105と個々に対応して、それぞれ対応す
る遅延回路の出力信号の立ち上がりエッジの位相が位相
判定期間TP内に入っているか否かを判定する5個のサ
ブ位相判定回路111〜115を備えて構成されてい
る。
【0032】サブ位相判定回路111は、D型のフリッ
プフロップ201,202、ラッチ203、NOTゲー
ト回路204及び2入力NANDゲート回路205を備
えて構成され、他のサブ位相判定回路112〜115に
ついても、その構成はサブ位相判定回路111と同様で
ある。
プフロップ201,202、ラッチ203、NOTゲー
ト回路204及び2入力NANDゲート回路205を備
えて構成され、他のサブ位相判定回路112〜115に
ついても、その構成はサブ位相判定回路111と同様で
ある。
【0033】例えば、サブ位相判定回路111では、フ
リップフロップ201は、第1の記憶手段に該当し、対
応する遅延回路101の出力信号DO1を位相判定期間
TPの開始タイミングを示す開始タイミング信号LDC
Kでサンプリングする。また、フリップフロップ202
は、第2の記憶手段に該当し、対応する遅延回路101
の出力信号DO1を位相判定期間TPの終了タイミング
を示す終了タイミング信号TLCKでサンプリングす
る。
リップフロップ201は、第1の記憶手段に該当し、対
応する遅延回路101の出力信号DO1を位相判定期間
TPの開始タイミングを示す開始タイミング信号LDC
Kでサンプリングする。また、フリップフロップ202
は、第2の記憶手段に該当し、対応する遅延回路101
の出力信号DO1を位相判定期間TPの終了タイミング
を示す終了タイミング信号TLCKでサンプリングす
る。
【0034】2入力NANDゲート回路205は、フリ
ップフロップ201の出力をNOTゲート回路204に
よって反転した信号とフリップフロップ202の出力と
の否定論理積をとるものである。つまり、2入力NAN
Dゲート回路205は、遅延回路101の出力信号DO
1について、位相判定期間TPの開始タイミングで”
L”レベルであり且つ位相判定期間TPの終了タイミン
グで”H”レベルである場合、即ち、立ち上がりエッジ
の位相が位相判定期間TP内に入っている場合に真値と
なり、そうでない場合に偽値となる信号を出力すること
となる。
ップフロップ201の出力をNOTゲート回路204に
よって反転した信号とフリップフロップ202の出力と
の否定論理積をとるものである。つまり、2入力NAN
Dゲート回路205は、遅延回路101の出力信号DO
1について、位相判定期間TPの開始タイミングで”
L”レベルであり且つ位相判定期間TPの終了タイミン
グで”H”レベルである場合、即ち、立ち上がりエッジ
の位相が位相判定期間TP内に入っている場合に真値と
なり、そうでない場合に偽値となる信号を出力すること
となる。
【0035】例えば、遅延回路101の出力信号DO1
が開始タイミング信号LDCKより後に”L”レベルか
ら”H”レベルに変化すれば、フリップフロップ201
の出力は”0”になる。また、遅延回路101の出力信
号DO1が終了タイミング信号TLCKより先に”L”
レベルから”H”レベルに変化すれば、フリップフロッ
プ201の出力は”1”になる。このように、2つのフ
リップフロップ201,202の出力がそれぞれ”
0”,”1”である時に、遅延回路101の出力信号D
O1が位相判定期間TP内に入っていることが分かる。
が開始タイミング信号LDCKより後に”L”レベルか
ら”H”レベルに変化すれば、フリップフロップ201
の出力は”0”になる。また、遅延回路101の出力信
号DO1が終了タイミング信号TLCKより先に”L”
レベルから”H”レベルに変化すれば、フリップフロッ
プ201の出力は”1”になる。このように、2つのフ
リップフロップ201,202の出力がそれぞれ”
0”,”1”である時に、遅延回路101の出力信号D
O1が位相判定期間TP内に入っていることが分かる。
【0036】また、ラッチ203は、2入力NANDゲ
ート回路205の出力をサンプリング信号SMPのタイ
ミングでラッチし、リセット信号RSTのタイミングで
リセットする。尚、該ラッチ203の出力が、サブ位相
判定回路111の出力である選択信号SL1として出力
される。また、他のサブ位相判定回路112〜115か
らは、同様にして選択信号SL2〜SL5が出力され
る。
ート回路205の出力をサンプリング信号SMPのタイ
ミングでラッチし、リセット信号RSTのタイミングで
リセットする。尚、該ラッチ203の出力が、サブ位相
判定回路111の出力である選択信号SL1として出力
される。また、他のサブ位相判定回路112〜115か
らは、同様にして選択信号SL2〜SL5が出力され
る。
【0037】次に、選択回路120は、5個のサブ位相
判定回路111〜115に個々に対応した出力選択部と
しての5個のセレクタ121〜125を備えて構成され
ている。例えば、セレクタ121では、サブ位相判定回
路111において対応する遅延回路101の出力信号D
L1の立ち上がりエッジの位相が位相判定期間TP内に
入っていると判定され、選択信号SL1が真値として出
力された場合には、遅延回路101の出力信号DL1を
選択し、そうでない場合にはハイインピーダンス端子H
iZを選択して出力をハイインピーダンス状態とする。
判定回路111〜115に個々に対応した出力選択部と
しての5個のセレクタ121〜125を備えて構成され
ている。例えば、セレクタ121では、サブ位相判定回
路111において対応する遅延回路101の出力信号D
L1の立ち上がりエッジの位相が位相判定期間TP内に
入っていると判定され、選択信号SL1が真値として出
力された場合には、遅延回路101の出力信号DL1を
選択し、そうでない場合にはハイインピーダンス端子H
iZを選択して出力をハイインピーダンス状態とする。
【0038】ここで、5個のセレクタ121〜125の
出力は、布線論理和(Wired−OR)されるように
接続されており、布線論理和130の出力は、バッファ
150を介して当該位相補正回路の出力信号OPTとな
る。
出力は、布線論理和(Wired−OR)されるように
接続されており、布線論理和130の出力は、バッファ
150を介して当該位相補正回路の出力信号OPTとな
る。
【0039】また、5個の遅延回路101〜105の出
力には、出力信号DO1〜DO5をドライブするバッフ
ァ141〜145が接続されている。バッファ141〜
145は、遅延回路101〜105の出力信号DO1〜
DO5を、真値”1”及び偽値”0”がそれぞれ表す電
圧レベル(”H”レベル及び”L”レベル)について駆
動能力が同じとなるようにするものである。
力には、出力信号DO1〜DO5をドライブするバッフ
ァ141〜145が接続されている。バッファ141〜
145は、遅延回路101〜105の出力信号DO1〜
DO5を、真値”1”及び偽値”0”がそれぞれ表す電
圧レベル(”H”レベル及び”L”レベル)について駆
動能力が同じとなるようにするものである。
【0040】図3に、バッファ141〜145の回路構
成図を示す。一般的なバッファの構成である、NOTゲ
ート回路301,pチャネルMOS(PMOS)トラン
ジスタ302及びnチャネルMOS(NMOS)トラン
ジスタ303に加えて、PMOSトランジスタ302の
ソースと電源電位VCC間に接続された電流源304
(駆動電流I0)と、NMOSトランジスタ303のド
レインと接地電位GND間に接続された電流源305
(駆動電流I0)とが付加された構成となっている。
尚、当該バッファの入力がNOTゲート回路301に供
給され、NOTゲート回路301の出力は、PMOSト
ランジスタ302及びNMOSトランジスタ303に接
続されている。また、PMOSトランジスタ302のド
レインとNMOSトランジスタ303のソースは接続さ
れて、当該バッファの出力となる。
成図を示す。一般的なバッファの構成である、NOTゲ
ート回路301,pチャネルMOS(PMOS)トラン
ジスタ302及びnチャネルMOS(NMOS)トラン
ジスタ303に加えて、PMOSトランジスタ302の
ソースと電源電位VCC間に接続された電流源304
(駆動電流I0)と、NMOSトランジスタ303のド
レインと接地電位GND間に接続された電流源305
(駆動電流I0)とが付加された構成となっている。
尚、当該バッファの入力がNOTゲート回路301に供
給され、NOTゲート回路301の出力は、PMOSト
ランジスタ302及びNMOSトランジスタ303に接
続されている。また、PMOSトランジスタ302のド
レインとNMOSトランジスタ303のソースは接続さ
れて、当該バッファの出力となる。
【0041】つまり、電流源304及び電流源305に
より、出力ノードが真値”1”及び偽値”0”となる場
合に、それぞれが表す電圧レベルについて駆動能力が同
じとなるように、出力ノードに対して電流供給がなされ
る。
より、出力ノードが真値”1”及び偽値”0”となる場
合に、それぞれが表す電圧レベルについて駆動能力が同
じとなるように、出力ノードに対して電流供給がなされ
る。
【0042】次に、遅延時間等について具体的な数値を
適用して、本実施形態の位相補正回路の動作について説
明する。ここでは、遅延回路101〜105の遅延時間
TD1〜TD5を、それぞれ、TD1=2[ns],T
D2=2.5[ns],TD3=3[ns],TD4=
3.5[ns],TD5=4[ns]に設定されている
ものとする。
適用して、本実施形態の位相補正回路の動作について説
明する。ここでは、遅延回路101〜105の遅延時間
TD1〜TD5を、それぞれ、TD1=2[ns],T
D2=2.5[ns],TD3=3[ns],TD4=
3.5[ns],TD5=4[ns]に設定されている
ものとする。
【0043】また、位相補正回路の仕様としては、入力
信号IPTの立ち上がりエッジの位相を基準信号BCK
に対して3[ns]遅れに合わせるものとする。これよ
り、第1の可変遅延回路131の遅延時間TLD及び第
2の可変遅延回路132の遅延時間TTLを、それぞ
れ、TLD=2.75[ns],TTL=3.25[n
s]に設定し、0.5[ns]の位相判定期間TPを規
定するものとする。
信号IPTの立ち上がりエッジの位相を基準信号BCK
に対して3[ns]遅れに合わせるものとする。これよ
り、第1の可変遅延回路131の遅延時間TLD及び第
2の可変遅延回路132の遅延時間TTLを、それぞ
れ、TLD=2.75[ns],TTL=3.25[n
s]に設定し、0.5[ns]の位相判定期間TPを規
定するものとする。
【0044】入力信号IPTが基準信号BCKに対して
図2(a)及び(d)の関係にあるとした場合、遅延回
路102の出力信号DO2についてのみ、位相判定期間
TPの開始タイミングで”L”レベルであり且つ位相判
定期間TPの終了タイミングで”H”レベルであるの
で、選択信号SL2のみが真値”1”で、その他の選択
信号SL1,SL2〜SL5は全て偽値”0”となり、
選択回路120は、遅延回路102の出力信号DL2を
選択し、バッファ150を介して当該位相補正回路の出
力信号OPTとして出力する。
図2(a)及び(d)の関係にあるとした場合、遅延回
路102の出力信号DO2についてのみ、位相判定期間
TPの開始タイミングで”L”レベルであり且つ位相判
定期間TPの終了タイミングで”H”レベルであるの
で、選択信号SL2のみが真値”1”で、その他の選択
信号SL1,SL2〜SL5は全て偽値”0”となり、
選択回路120は、遅延回路102の出力信号DL2を
選択し、バッファ150を介して当該位相補正回路の出
力信号OPTとして出力する。
【0045】本具体例では、遅延回路,サブ位相判定回
路及びセレクタの組数を5個とし、遅延回路の遅延時間
刻みを0.5[ns]に設定されているので、±2[n
s]の範囲で精度0.5[ns]でスキューを調整でき
る。尚、遅延回路,サブ位相判定回路及びセレクタの組
数並びに遅延時間刻みを本具体例とは異なる構成とすれ
ば、スキュー調整の精度を更に上げたり、調整範囲を広
げたりすることも可能である。このように、遅延回路,
サブ位相判定回路及びセレクタの組の個数を任意に設定
し、また、遅延回路の遅延時間の刻みを任意に設定すれ
ば、スキュー調整の調整精度や調整範囲を、設計仕様に
応じた精度や範囲に設定することが可能となる。
路及びセレクタの組数を5個とし、遅延回路の遅延時間
刻みを0.5[ns]に設定されているので、±2[n
s]の範囲で精度0.5[ns]でスキューを調整でき
る。尚、遅延回路,サブ位相判定回路及びセレクタの組
数並びに遅延時間刻みを本具体例とは異なる構成とすれ
ば、スキュー調整の精度を更に上げたり、調整範囲を広
げたりすることも可能である。このように、遅延回路,
サブ位相判定回路及びセレクタの組の個数を任意に設定
し、また、遅延回路の遅延時間の刻みを任意に設定すれ
ば、スキュー調整の調整精度や調整範囲を、設計仕様に
応じた精度や範囲に設定することが可能となる。
【0046】尚、図2の具体例では、遅延回路102の
出力信号DO2の立ち上がりエッジの位相のみが位相判
定期間TP内に入っている例を示したが、位相判定期間
TPや遅延回路の遅延時間刻みの設定値によっては、複
数の遅延回路の出力信号の位相が位相判定期間TP内に
入ることも考えられる。このような場合には、出力信号
OPTにおいて複数のセレクタ出力が衝突することとな
る。
出力信号DO2の立ち上がりエッジの位相のみが位相判
定期間TP内に入っている例を示したが、位相判定期間
TPや遅延回路の遅延時間刻みの設定値によっては、複
数の遅延回路の出力信号の位相が位相判定期間TP内に
入ることも考えられる。このような場合には、出力信号
OPTにおいて複数のセレクタ出力が衝突することとな
る。
【0047】しかしながら、本実施形態の位相補正回路
では、遅延回路101〜105の出力信号DO1〜DO
5を、”H”レベル及び”L”レベルについて駆動能力
が同じとなるようにするバッファ141〜145、並び
に、5個のセレクタ121〜125の出力を布線論理和
とする構成としているので、複数のセレクタ出力を平均
したかたちで最終的な出力信号OPTを得ることがで
き、タイミング的な精度を向上させることができる。
では、遅延回路101〜105の出力信号DO1〜DO
5を、”H”レベル及び”L”レベルについて駆動能力
が同じとなるようにするバッファ141〜145、並び
に、5個のセレクタ121〜125の出力を布線論理和
とする構成としているので、複数のセレクタ出力を平均
したかたちで最終的な出力信号OPTを得ることがで
き、タイミング的な精度を向上させることができる。
【0048】図4には、位相判定期間TP内に、遅延回
路101の出力信号DO1及び遅延回路102の出力信
号DO2のそれぞれの立ち上がりエッジの位相が入る場
合のタイミングチャートを示している。このような場
合、本実施形態の位相補正回路では、出力信号OPT
は、図4(c)に示すように、遅延回路101の出力信
号DO1及び遅延回路102の出力信号DO2の中間的
な信号として得られることになる。
路101の出力信号DO1及び遅延回路102の出力信
号DO2のそれぞれの立ち上がりエッジの位相が入る場
合のタイミングチャートを示している。このような場
合、本実施形態の位相補正回路では、出力信号OPT
は、図4(c)に示すように、遅延回路101の出力信
号DO1及び遅延回路102の出力信号DO2の中間的
な信号として得られることになる。
【0049】以上説明したように、本実施形態の位相補
正回路によれば、入力信号IPTを遅延させた信号の立
ち上がりエッジの位相が、所定の位相判定期間TP内に
入るように遅延回路101〜105を選択することで入
力信号IPTの遅延時間をTD1〜TD5の間で調整し
て、該選択された遅延時間だけ遅延させた入力信号を出
力信号OPTとするので、スキュー補正を自動的に且つ
短時間に行うことができ、また、もともと位相差を備え
た信号間のスキューも調整可能である。
正回路によれば、入力信号IPTを遅延させた信号の立
ち上がりエッジの位相が、所定の位相判定期間TP内に
入るように遅延回路101〜105を選択することで入
力信号IPTの遅延時間をTD1〜TD5の間で調整し
て、該選択された遅延時間だけ遅延させた入力信号を出
力信号OPTとするので、スキュー補正を自動的に且つ
短時間に行うことができ、また、もともと位相差を備え
た信号間のスキューも調整可能である。
【0050】また、本実施形態の位相補正回路によれ
ば、基準信号BCKに基づく所望の位相判定期間TPを
規定して、入力信号IPTを遅延させた信号の立ち上が
りエッジの位相が位相判定期間TP内に入るように遅延
回路101〜105を選択することで入力信号の遅延時
間をTD1〜TD5の間で調整して、該選択された遅延
時間だけ遅延させた入力信号を出力信号OPTとするの
で、スキュー補正を自動的に且つ短時間に行うことがで
き、また、もともと位相差を備えた信号間のスキューも
調整可能である。
ば、基準信号BCKに基づく所望の位相判定期間TPを
規定して、入力信号IPTを遅延させた信号の立ち上が
りエッジの位相が位相判定期間TP内に入るように遅延
回路101〜105を選択することで入力信号の遅延時
間をTD1〜TD5の間で調整して、該選択された遅延
時間だけ遅延させた入力信号を出力信号OPTとするの
で、スキュー補正を自動的に且つ短時間に行うことがで
き、また、もともと位相差を備えた信号間のスキューも
調整可能である。
【0051】〔第1の実施形態の変形例〕図1に示した
位相補正回路の位相判定回路110においては、各サブ
位相判定回路111〜115により、遅延回路101〜
105の出力信号DO1〜DO5の立ち上がりエッジの
位相が位相判定期間TP内に入っているか否かを判定し
て、位相判定期間TP内に入る遅延回路を選択すること
で入力信号IPTの遅延時間をTD1〜TD5の間で調
整し、該遅延回路で遅延させた入力信号を出力信号OP
Tとすることとしたが、判定手法はこれに限定されるこ
とはない。
位相補正回路の位相判定回路110においては、各サブ
位相判定回路111〜115により、遅延回路101〜
105の出力信号DO1〜DO5の立ち上がりエッジの
位相が位相判定期間TP内に入っているか否かを判定し
て、位相判定期間TP内に入る遅延回路を選択すること
で入力信号IPTの遅延時間をTD1〜TD5の間で調
整し、該遅延回路で遅延させた入力信号を出力信号OP
Tとすることとしたが、判定手法はこれに限定されるこ
とはない。
【0052】即ち、各サブ位相判定回路において、遅延
回路101〜105の出力信号DO1〜DO5の立ち下
がりエッジの位相が位相判定期間TP内に入っているか
否かを判定、或いは、遅延回路101〜105の出力信
号DO1〜DO5の立ち上がりエッジ及び立ち下がりエ
ッジの位相が位相判定期間TP内に入っているか否かを
判定するようにして、位相判定期間TP内に入る遅延回
路を選択する構成としてもよい。
回路101〜105の出力信号DO1〜DO5の立ち下
がりエッジの位相が位相判定期間TP内に入っているか
否かを判定、或いは、遅延回路101〜105の出力信
号DO1〜DO5の立ち上がりエッジ及び立ち下がりエ
ッジの位相が位相判定期間TP内に入っているか否かを
判定するようにして、位相判定期間TP内に入る遅延回
路を選択する構成としてもよい。
【0053】図5は、第1の実施形態の変形例に係る位
相補正回路の位相判定回路510を中心とした部分的な
構成図である。本変形例では、サブ位相判定回路511
〜515は、遅延回路101〜105の出力信号DO1
〜DO5の立ち下がりエッジの位相が位相判定期間TP
内に入っているか否かを判定するものである。
相補正回路の位相判定回路510を中心とした部分的な
構成図である。本変形例では、サブ位相判定回路511
〜515は、遅延回路101〜105の出力信号DO1
〜DO5の立ち下がりエッジの位相が位相判定期間TP
内に入っているか否かを判定するものである。
【0054】サブ位相判定回路511は、D型のフリッ
プフロップ211,212、ラッチ213、NOTゲー
ト回路214及び2入力NANDゲート回路215を備
えて構成され、他のサブ位相判定回路512〜515に
ついても、その構成はサブ位相判定回路511と同様で
ある。
プフロップ211,212、ラッチ213、NOTゲー
ト回路214及び2入力NANDゲート回路215を備
えて構成され、他のサブ位相判定回路512〜515に
ついても、その構成はサブ位相判定回路511と同様で
ある。
【0055】例えば、サブ位相判定回路511では、フ
リップフロップ211は、対応する遅延回路101の出
力信号DO1を位相判定期間TPの開始タイミングを示
す開始タイミング信号LDCKでサンプリングする。ま
た、フリップフロップ212は、対応する遅延回路10
1の出力信号DO1を位相判定期間TPの終了タイミン
グを示す終了タイミング信号TLCKでサンプリングす
る。
リップフロップ211は、対応する遅延回路101の出
力信号DO1を位相判定期間TPの開始タイミングを示
す開始タイミング信号LDCKでサンプリングする。ま
た、フリップフロップ212は、対応する遅延回路10
1の出力信号DO1を位相判定期間TPの終了タイミン
グを示す終了タイミング信号TLCKでサンプリングす
る。
【0056】2入力NANDゲート回路215は、フリ
ップフロップ211の出力とフリップフロップ212の
出力をNOTゲート回路214によって反転した信号と
の否定論理積をとるものである。つまり、2入力NAN
Dゲート回路215は、遅延回路101の出力信号DO
1について、位相判定期間TPの開始タイミングで”
H”レベルであり且つ位相判定期間TPの終了タイミン
グで”L”レベルである場合、即ち、立ち下がりエッジ
の位相が位相判定期間TP内に入っている場合に真値と
なり、そうでない場合に偽値となる信号を出力すること
となる。
ップフロップ211の出力とフリップフロップ212の
出力をNOTゲート回路214によって反転した信号と
の否定論理積をとるものである。つまり、2入力NAN
Dゲート回路215は、遅延回路101の出力信号DO
1について、位相判定期間TPの開始タイミングで”
H”レベルであり且つ位相判定期間TPの終了タイミン
グで”L”レベルである場合、即ち、立ち下がりエッジ
の位相が位相判定期間TP内に入っている場合に真値と
なり、そうでない場合に偽値となる信号を出力すること
となる。
【0057】また、ラッチ213は、2入力NANDゲ
ート回路215の出力をサンプリング信号SMPのタイ
ミングでラッチし、リセット信号RSTのタイミングで
リセットする。尚、該ラッチ213の出力が、サブ位相
判定回路511の出力である選択信号SL1として出力
される。また、他のサブ位相判定回路512〜515か
らは、同様にして選択信号SL2〜SL5が出力され
る。
ート回路215の出力をサンプリング信号SMPのタイ
ミングでラッチし、リセット信号RSTのタイミングで
リセットする。尚、該ラッチ213の出力が、サブ位相
判定回路511の出力である選択信号SL1として出力
される。また、他のサブ位相判定回路512〜515か
らは、同様にして選択信号SL2〜SL5が出力され
る。
【0058】図6は、第1の実施形態の変形例に係る位
相補正回路の位相判定回路610を中心とした部分的な
構成図である。本変形例では、サブ位相判定回路611
〜615は、遅延回路101〜105の出力信号DO1
〜DO5の立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジの位
相が位相判定期間TP内に入っているか否かを判定する
ものである。
相補正回路の位相判定回路610を中心とした部分的な
構成図である。本変形例では、サブ位相判定回路611
〜615は、遅延回路101〜105の出力信号DO1
〜DO5の立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジの位
相が位相判定期間TP内に入っているか否かを判定する
ものである。
【0059】サブ位相判定回路611は、D型のフリッ
プフロップ221,222、ラッチ223、XORゲー
ト回路225を備えて構成され、他のサブ位相判定回路
612〜615についても、その構成はサブ位相判定回
路611と同様である。
プフロップ221,222、ラッチ223、XORゲー
ト回路225を備えて構成され、他のサブ位相判定回路
612〜615についても、その構成はサブ位相判定回
路611と同様である。
【0060】例えば、サブ位相判定回路611では、フ
リップフロップ221は、対応する遅延回路101の出
力信号DO1を開始タイミング信号LDCKでサンプリ
ングする。また、フリップフロップ222は、対応する
遅延回路101の出力信号DO1を終了タイミング信号
TLCKでサンプリングする。
リップフロップ221は、対応する遅延回路101の出
力信号DO1を開始タイミング信号LDCKでサンプリ
ングする。また、フリップフロップ222は、対応する
遅延回路101の出力信号DO1を終了タイミング信号
TLCKでサンプリングする。
【0061】XORゲート回路225は、フリップフロ
ップ221の出力とフリップフロップ222の出力との
排他的論理和をとるものである。つまり、XORゲート
回路225は、遅延回路101の出力信号DO1につい
て、位相判定期間TPの開始タイミングでの電位レベル
と位相判定期間TPの終了タイミングでの電位レベルが
異なる場合、即ち、立ち上がりエッジまたは立ち下がり
エッジの位相が位相判定期間TP内に入っている場合に
真値となり、そうでない場合に偽値となる信号を出力す
ることとなる。
ップ221の出力とフリップフロップ222の出力との
排他的論理和をとるものである。つまり、XORゲート
回路225は、遅延回路101の出力信号DO1につい
て、位相判定期間TPの開始タイミングでの電位レベル
と位相判定期間TPの終了タイミングでの電位レベルが
異なる場合、即ち、立ち上がりエッジまたは立ち下がり
エッジの位相が位相判定期間TP内に入っている場合に
真値となり、そうでない場合に偽値となる信号を出力す
ることとなる。
【0062】また、ラッチ223は、XORゲート回路
225の出力をサンプリング信号SMPのタイミングで
ラッチし、リセット信号RSTのタイミングでリセット
する。尚、該ラッチ223の出力が、サブ位相判定回路
611の出力である選択信号SL1として出力される。
また、他のサブ位相判定回路612〜615からは、同
様にして選択信号SL2〜SL5が出力される。
225の出力をサンプリング信号SMPのタイミングで
ラッチし、リセット信号RSTのタイミングでリセット
する。尚、該ラッチ223の出力が、サブ位相判定回路
611の出力である選択信号SL1として出力される。
また、他のサブ位相判定回路612〜615からは、同
様にして選択信号SL2〜SL5が出力される。
【0063】〔第2の実施形態〕次に、図7は本発明の
第2の実施形態に係る位相補正回路の構成図である。本
実施形態の位相補正回路は、第1の実施形態の位相補正
回路を2段直列に接続したものであり、第1段の位相補
正回路の出力を第2段の位相補正回路の入力信号として
いる。
第2の実施形態に係る位相補正回路の構成図である。本
実施形態の位相補正回路は、第1の実施形態の位相補正
回路を2段直列に接続したものであり、第1段の位相補
正回路の出力を第2段の位相補正回路の入力信号として
いる。
【0064】図7において、第1段の位相補正回路の構
成は、第1の実施形態の位相補正回路の構成(図1参
照)と同一である。各構成要素の具体的な構成も第1の
実施形態及びその変形例で示したものと同等である。ま
た、第1段の位相補正回路の位相判定期間TP1は、開
始タイミング信号LDCK1及び終了タイミング信号T
LCK1によって規定されるものとしている。
成は、第1の実施形態の位相補正回路の構成(図1参
照)と同一である。各構成要素の具体的な構成も第1の
実施形態及びその変形例で示したものと同等である。ま
た、第1段の位相補正回路の位相判定期間TP1は、開
始タイミング信号LDCK1及び終了タイミング信号T
LCK1によって規定されるものとしている。
【0065】また、図7において、第2段の位相補正回
路の構成は、第1の実施形態の位相補正回路の構成(図
1参照)と同等である。即ち、第2段の位相補正回路
は、その主な構成要素として、入力信号(第1段の位相
補正回路の出力信号OPT1)をそれぞれ異なる遅延時
間TD21〜TD25だけ遅らせて出力する5個の遅延
回路701〜705と、遅延回路701〜705の出力
信号DO21〜DO25のエッジの位相が、位相判定期
間TP2内に入っているか否かを判定する位相判定回路
710と、位相判定回路710により遅延回路701〜
705の出力信号DO21〜DO25のエッジの位相が
位相判定期間内に入っていると判定された場合に、該位
相判定期間内に入っている遅延回路の出力信号を当該第
2段の位相補正回路の出力として選択する選択回路72
0とを備えて構成されている。
路の構成は、第1の実施形態の位相補正回路の構成(図
1参照)と同等である。即ち、第2段の位相補正回路
は、その主な構成要素として、入力信号(第1段の位相
補正回路の出力信号OPT1)をそれぞれ異なる遅延時
間TD21〜TD25だけ遅らせて出力する5個の遅延
回路701〜705と、遅延回路701〜705の出力
信号DO21〜DO25のエッジの位相が、位相判定期
間TP2内に入っているか否かを判定する位相判定回路
710と、位相判定回路710により遅延回路701〜
705の出力信号DO21〜DO25のエッジの位相が
位相判定期間内に入っていると判定された場合に、該位
相判定期間内に入っている遅延回路の出力信号を当該第
2段の位相補正回路の出力として選択する選択回路72
0とを備えて構成されている。
【0066】また、その他の構成要素としては、基準信
号BCKから位相判定期間の開始タイミング及び終了タ
イミングを生成する第3の可変遅延回路731及び第4
の可変遅延回路732と、遅延回路701〜705の出
力信号DO21〜DO25をドライブするバッファ74
1〜745と、第3の可変遅延回路731及び第4の可
変遅延回路732の出力信号LDCK2及びTLCK2
をドライブするバッファ751,752と、選択回路7
20の出力をドライブして出力信号OPT2を出力する
バッファ750とを備えている。各構成要素の具体的な
構成は、第1の実施形態及びその変形例で示したものと
同等である。また、第2段の位相補正回路の位相判定期
間TP2は、開始タイミング信号LDCK2及び終了タ
イミング信号TLCK2によって規定されるものとして
いる。
号BCKから位相判定期間の開始タイミング及び終了タ
イミングを生成する第3の可変遅延回路731及び第4
の可変遅延回路732と、遅延回路701〜705の出
力信号DO21〜DO25をドライブするバッファ74
1〜745と、第3の可変遅延回路731及び第4の可
変遅延回路732の出力信号LDCK2及びTLCK2
をドライブするバッファ751,752と、選択回路7
20の出力をドライブして出力信号OPT2を出力する
バッファ750とを備えている。各構成要素の具体的な
構成は、第1の実施形態及びその変形例で示したものと
同等である。また、第2段の位相補正回路の位相判定期
間TP2は、開始タイミング信号LDCK2及び終了タ
イミング信号TLCK2によって規定されるものとして
いる。
【0067】本実施形態の位相補正回路では、第2段の
位相補正回路の位相調整期間TP2を第1段の位相補正
回路の位相調整期間TP1よりも小さく設定し、また、
第2段の位相補正回路の遅延回路701〜705の遅延
時間TD21〜TD25の刻みを第2段の位相補正回路
の遅延回路101〜105の遅延時間TD1〜TD5の
刻みよりも小さく設定している。
位相補正回路の位相調整期間TP2を第1段の位相補正
回路の位相調整期間TP1よりも小さく設定し、また、
第2段の位相補正回路の遅延回路701〜705の遅延
時間TD21〜TD25の刻みを第2段の位相補正回路
の遅延回路101〜105の遅延時間TD1〜TD5の
刻みよりも小さく設定している。
【0068】例えば、第1段の位相補正回路の遅延時間
等の具体的な数値を第1の実施形態で示した数値、即
ち、遅延回路101〜105の遅延時間TD1〜TD5
を、2[ns]から4[ns]の範囲で0.5[ns]
の刻みで設定し、第1の可変遅延回路131の遅延時間
TLD1及び第2の可変遅延回路132の遅延時間TT
L1を、それぞれ、TLD1=2.75[ns],TT
L1=3.25[ns]に設定し、位相判定期間TP1
=0.5[ns]と規定する。これに対して第2段の位
相補正回路では、遅延回路701〜705の遅延時間T
D21〜TD25を、2.75[ns]から3.25
[ns]の範囲で0.25[ns]の刻みで設定し、第
3の可変遅延回路731の遅延時間TLD2及び第4の
可変遅延回路732の遅延時間TTL2を、それぞれ、
TLD2=2.875[ns],TTL1=3.125
[ns]に設定し、位相判定期間TP2=0.25[n
s]と規定する。
等の具体的な数値を第1の実施形態で示した数値、即
ち、遅延回路101〜105の遅延時間TD1〜TD5
を、2[ns]から4[ns]の範囲で0.5[ns]
の刻みで設定し、第1の可変遅延回路131の遅延時間
TLD1及び第2の可変遅延回路132の遅延時間TT
L1を、それぞれ、TLD1=2.75[ns],TT
L1=3.25[ns]に設定し、位相判定期間TP1
=0.5[ns]と規定する。これに対して第2段の位
相補正回路では、遅延回路701〜705の遅延時間T
D21〜TD25を、2.75[ns]から3.25
[ns]の範囲で0.25[ns]の刻みで設定し、第
3の可変遅延回路731の遅延時間TLD2及び第4の
可変遅延回路732の遅延時間TTL2を、それぞれ、
TLD2=2.875[ns],TTL1=3.125
[ns]に設定し、位相判定期間TP2=0.25[n
s]と規定する。
【0069】このように、後段の位相補正回路に行くに
つれて、該位相補正回路の位相調整期間を小さく設定
し、また、遅延回路の遅延時間の刻みを小さく設定して
いくことで、よりきめの細かいスキュー調整を行うこと
が可能となる。
つれて、該位相補正回路の位相調整期間を小さく設定
し、また、遅延回路の遅延時間の刻みを小さく設定して
いくことで、よりきめの細かいスキュー調整を行うこと
が可能となる。
【0070】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の位相補正
回路によれば、スキュー補正を自動的に且つ短時間に行
うことができ、また、もともと位相差を備えた信号間の
スキューも調整可能な位相補正回路を提供することがで
きる。
回路によれば、スキュー補正を自動的に且つ短時間に行
うことができ、また、もともと位相差を備えた信号間の
スキューも調整可能な位相補正回路を提供することがで
きる。
【0071】また、本発明の位相補正回路によれば、例
えば、回路設計の段階で、遅延回路,サブ位相判定回路
及びセレクタの組の数を任意に設定し、遅延回路の遅延
時間の刻みを任意に設定すれば、スキュー調整の調整精
度や調整範囲を、設計仕様に応じた精度や範囲に設定す
ることが可能となり、また、複数のサブ位相判定回路に
おいて、対応する遅延回路の出力信号の位相が位相判定
期間内に入っていると判定された場合でも、複数のセレ
クタ出力を平均したかたちで最終的な出力を得ることが
でき、高精度なスキュー調整を行い得る位相補正回路を
提供することができる。
えば、回路設計の段階で、遅延回路,サブ位相判定回路
及びセレクタの組の数を任意に設定し、遅延回路の遅延
時間の刻みを任意に設定すれば、スキュー調整の調整精
度や調整範囲を、設計仕様に応じた精度や範囲に設定す
ることが可能となり、また、複数のサブ位相判定回路に
おいて、対応する遅延回路の出力信号の位相が位相判定
期間内に入っていると判定された場合でも、複数のセレ
クタ出力を平均したかたちで最終的な出力を得ることが
でき、高精度なスキュー調整を行い得る位相補正回路を
提供することができる。
【0072】また、本発明の位相補正回路によれば、位
相補正回路の出力を次段の位相補正回路の入力信号とし
て複数段直列に接続して、例えば、後段の位相補正回路
に行くにつれて、該位相補正回路の位相調整期間を小さ
く設定し、また、遅延回路の遅延時間の刻みを小さく設
定していくことにより、よりきめの細かいスキュー調整
を行い得る位相補正回路を提供することができる。
相補正回路の出力を次段の位相補正回路の入力信号とし
て複数段直列に接続して、例えば、後段の位相補正回路
に行くにつれて、該位相補正回路の位相調整期間を小さ
く設定し、また、遅延回路の遅延時間の刻みを小さく設
定していくことにより、よりきめの細かいスキュー調整
を行い得る位相補正回路を提供することができる。
【図1】本発明の第1の実施形態に係る位相補正回路の
構成図である。
構成図である。
【図2】第1の実施形態の位相補正回路の各構成要素の
動作を説明するタイミングチャートである。
動作を説明するタイミングチャートである。
【図3】第1の実施形態の位相補正回路におけるバッフ
ァの回路構成図である。
ァの回路構成図である。
【図4】第1の実施形態の位相補正回路において、位相
判定期間内に複数の遅延回路の出力信号の立ち上がりエ
ッジの位相が入る場合のタイミングチャートである。
判定期間内に複数の遅延回路の出力信号の立ち上がりエ
ッジの位相が入る場合のタイミングチャートである。
【図5】第1の実施形態の変形例に係る位相補正回路の
位相判定回路を中心とした部分的な構成図(その1)で
ある。
位相判定回路を中心とした部分的な構成図(その1)で
ある。
【図6】第1の実施形態の変形例に係る位相補正回路の
位相判定回路を中心とした部分的な構成図(その2)で
ある。
位相判定回路を中心とした部分的な構成図(その2)で
ある。
【図7】本発明の第2の実施形態に係る位相補正回路の
構成図である。
構成図である。
【符号の説明】 101〜105…遅延回路、110…位相判定回路、1
20…選択回路、131…第1の可変遅延回路、132
…第2の可変遅延回路、141〜145,150,15
1,152…バッファ、111〜115…サブ位相判定
回路、201…D型フリップフロップ(第1の記憶手
段)、121〜125…セレクタ、130…布線論理
和、202…D型フリップフロップ(第2の記憶手
段)、203…ラッチ、204…NOTゲート回路、2
05…2入力NANDゲート回路、IPT…位相補正回
路の入力信号、BCK…基準信号、OPT…位相補正回
路の出力信号、TD1〜TD5…遅延回路の遅延時間、
TLD,TTL…可変遅延回路の遅延時間、TP…位相
判定期間、DO1〜DO5…遅延回路の出力信号、LD
CK…開始タイミング信号、TLCK…終了タイミング
信号、SMP…サンプリング信号、RST…リセット信
号、SL1〜SL5…選択信号、HiZ…ハイインピー
ダンス端子、301…NOTゲート回路、302…PM
OSトランジスタ、303…NMOSトランジスタ、3
04,305…電流源、VCC…電源電位、GND…接
地電位、510…位相判定回路、511〜515…サブ
位相判定回路、211,212…D型フリップフロッ
プ、213…ラッチ、214…NOTゲート回路、21
5…2入力NANDゲート回路、610…位相判定回
路、611〜615…サブ位相判定回路、221,22
2…D型フリップフロップ、223…ラッチ、225…
XORゲート回路、701〜705…遅延回路、710
…位相判定回路、720…選択回路、731…第3の可
変遅延回路、732…第4の可変遅延回路、741〜7
45,750,751,752…バッファ、TD21〜
TD25…遅延回路の遅延時間、TLD1,TTL2,
TLD3,TTL4…可変遅延回路の遅延時間、TP
1,TP2…位相判定期間、DO21〜DO25…遅延
回路の出力信号、LDCK1,LDCK2…開始タイミ
ング信号、TLCK1,TLCK2…終了タイミング信
号、OPT1…第1段の位相補正回路の出力信号、OP
T2…第2段の位相補正回路の出力信号。
20…選択回路、131…第1の可変遅延回路、132
…第2の可変遅延回路、141〜145,150,15
1,152…バッファ、111〜115…サブ位相判定
回路、201…D型フリップフロップ(第1の記憶手
段)、121〜125…セレクタ、130…布線論理
和、202…D型フリップフロップ(第2の記憶手
段)、203…ラッチ、204…NOTゲート回路、2
05…2入力NANDゲート回路、IPT…位相補正回
路の入力信号、BCK…基準信号、OPT…位相補正回
路の出力信号、TD1〜TD5…遅延回路の遅延時間、
TLD,TTL…可変遅延回路の遅延時間、TP…位相
判定期間、DO1〜DO5…遅延回路の出力信号、LD
CK…開始タイミング信号、TLCK…終了タイミング
信号、SMP…サンプリング信号、RST…リセット信
号、SL1〜SL5…選択信号、HiZ…ハイインピー
ダンス端子、301…NOTゲート回路、302…PM
OSトランジスタ、303…NMOSトランジスタ、3
04,305…電流源、VCC…電源電位、GND…接
地電位、510…位相判定回路、511〜515…サブ
位相判定回路、211,212…D型フリップフロッ
プ、213…ラッチ、214…NOTゲート回路、21
5…2入力NANDゲート回路、610…位相判定回
路、611〜615…サブ位相判定回路、221,22
2…D型フリップフロップ、223…ラッチ、225…
XORゲート回路、701〜705…遅延回路、710
…位相判定回路、720…選択回路、731…第3の可
変遅延回路、732…第4の可変遅延回路、741〜7
45,750,751,752…バッファ、TD21〜
TD25…遅延回路の遅延時間、TLD1,TTL2,
TLD3,TTL4…可変遅延回路の遅延時間、TP
1,TP2…位相判定期間、DO21〜DO25…遅延
回路の出力信号、LDCK1,LDCK2…開始タイミ
ング信号、TLCK1,TLCK2…終了タイミング信
号、OPT1…第1段の位相補正回路の出力信号、OP
T2…第2段の位相補正回路の出力信号。
Claims (7)
- 【請求項1】 入力信号をそれぞれ異なる遅延時間だけ
遅らせて出力する複数の遅延回路と、 前記複数の遅延回路の出力信号の位相が、所定期間内に
入っているか否かを判定する位相判定回路と、 前記位相判定回路により前記遅延回路の出力信号の位相
が所定期間内に入っていると判定された場合に、その遅
延回路の出力信号を選択して出力する選択回路とを有す
る位相補正回路。 - 【請求項2】 前記位相判定回路は、 前記複数の遅延回路と個々に対応して、対応する遅延回
路の出力信号の位相が所定期間内に入っているか否かを
判定するサブ位相判定回路を複数個有する請求項1記載
の位相補正回路。 - 【請求項3】 前記選択回路は、 前記サブ位相判定回路により、対応する遅延回路の出力
信号の位相が所定期間内に入っていると判定された場合
には、その遅延回路の出力信号を出力し、入っていない
と判定された場合には、出力をハイインピーダンス状態
とする複数の出力選択部を有し、 前記複数の出力選択部の出力の布線論理和をとる請求項
2記載の位相補正回路。 - 【請求項4】 前記サブ位相判定回路は、 対応する遅延回路の出力信号を前記所定期間の開始タイ
ミングで記憶する第1の記憶手段と、 対応する遅延回路の出力信号を前記所定期間の終了タイ
ミングで記憶する第2の記憶手段とを有し、 前記第1の記憶手段の内容と前記第2記憶手段の内容と
が異なる場合に真値となり、一致する場合に偽値となる
信号を出力する請求項2記載の位相補正回路。 - 【請求項5】 前記複数の遅延回路の出力は、真値及び
偽値をそれぞれ表す電圧レベルについて駆動能力が同じ
である請求項1記載の位相補正回路。 - 【請求項6】 所定の基準信号を所定時間だけ遅らせ
て、前記所定期間の開始タイミングを規定する開始タイ
ミング信号を出力する第1の可変遅延回路と、 前記基準信号を所定時間だけ遅らせて、前記所定期間の
終了タイミングを規定する終了タイミング信号を出力す
る第2の可変遅延回路とを有する請求項1記載の位相補
正回路。 - 【請求項7】 請求項1記載の位相補正回路が複数段直
列に接続されている位相補正回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8329428A JPH10173496A (ja) | 1996-12-10 | 1996-12-10 | 位相補正回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8329428A JPH10173496A (ja) | 1996-12-10 | 1996-12-10 | 位相補正回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10173496A true JPH10173496A (ja) | 1998-06-26 |
Family
ID=18221287
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8329428A Pending JPH10173496A (ja) | 1996-12-10 | 1996-12-10 | 位相補正回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10173496A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6486716B1 (en) | 1999-09-08 | 2002-11-26 | Nec Corporation | Phase compensation circuit |
| US10457039B2 (en) | 2016-03-31 | 2019-10-29 | Canon Kabushiki Kaisha | Printhead, printing apparatus, and control method |
-
1996
- 1996-12-10 JP JP8329428A patent/JPH10173496A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6486716B1 (en) | 1999-09-08 | 2002-11-26 | Nec Corporation | Phase compensation circuit |
| US10457039B2 (en) | 2016-03-31 | 2019-10-29 | Canon Kabushiki Kaisha | Printhead, printing apparatus, and control method |
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