JPH10177144A - 画像形成装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 複数のレーザビームＬ１，Ｌ２の主走査方
向、副走査方向における画像記録領域のずれ量検出の高
精度化を達成し、該検出結果に基づいて複数のレーザビ
ームの走査位置を補正する。 【構成】 ２つのインデックスセンサ６，７を画像記録
領域の先端側と後端側に設け、おのおのによって検出さ
れた複数レーザビームの主走査、副走査方向のずれ量を
平均化演算し最適なずれ量を求め、このずれ量に基づい
て複数のレーザビームの位置を補正する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は画像形成装置に関し、詳
しくは、複数の光ビームにより記録媒体上を同時に主走
査方向に平行に走査させて複数ラインを同時に記録させ
る画像形成装置に関し、特に、前記複数の光ビームの光
軸ずれを検知する技術に関する。

【０００２】

【従来の技術】画像信号に基づいて変調されたレーザビ
ーム（光ビーム）を回転多面鏡などにより偏向して記録
媒体上に走査させることにより画像情報の記録を行わせ
る画像形成装置においては、記録の高速化を図るには、
複数のレーザビームを用いて複数ラインを同時に記録さ
せる構成とすれば良いことが知られている（特開昭２−
１８８７１３号公報参照）。

【０００３】また、複数のレーザビームを同時に走査さ
せる場合には、複数のレーザビームそれぞれの走査位置
が主走査方向又は副走査方向にずれて、忠実な画像形成
に影響がでることがあり、この対策としてこれらビーム
間の走査位置ずれを検出し、調整する装置が知られてい
る（特開平６−２７０４６３号公報、特開平７−７２３
９９号公報参照）。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】従来、複数のレーザビ
ームの走査位置のずれ量の検出は、主走査方向の画像記
録領域手前の先端側に配設されたビーム検出用のインデ
ックスセンサによって行われている。ところが、画像記
録領域手前の先端部分に対し、画像記録領域後部の後端
部分では複数のレーザビームの走査位置のずれ量が異な
るため、前記先端部分のずれ量の検出データを基準とし
て、複数のレーザビームの走査位置を調整した場合、前
記後端部分は該先端部分のずれ量の検出データに対して
ずれが発生してしまう問題があった。

【０００５】本発明は、上記問題点を鑑みされたもので
あり、複数の光ビームを用いて画像記録を行う構成の画
像形成装置において、最適な複数のレーザビームの走査
位置のずれ量を検出することで、画像記録領域のずれ量
検出の高精度化を達成し、該検出結果に基づいて複数の
レーザビームの走査位置を補正することで、高画質な画
像形成を実現することができる画像形成装置を提供する
ことを目的とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】そのため本発明の上記目
的は、複数の光ビームにより記録媒体上を同時に主走査
方向に平行に走査させて複数ラインを同時に記録させる
画像形成装置であって、複数ビームの主走査方向始端側
と終端側に２つ設けられた、複数の光ビームの主走査方
向及び／又は副走査方向のずれ量を検出するずれ量検出
手段と、前記２つのずれ量検出手段からのずれ量の検出
結果に基づいて平均ずれ量を演算する演算手段と、前記
演算手段により演算されたずれ量に基づいて前記複数の
光ビームの主走査方向の走査タイミング及び／又は副走
査方向の走査位置を補正する補正手段とを有することを
特徴とする画像形成装置によって達成される。

【０００７】

【実施例】以下に本発明の実施例を説明する。

【０００８】図１は、本発明にかかる画像形成装置の一
実施例としてレーザプリンタの像露光系を示す図であ
り、本実施例のレーザプリンタは、画像データに応じて
内部変調された２つのレーザビーム（光ビーム）Ｌ１，
Ｌ２を主走査方向に平行に走査させ、２ラインを同時に
記録媒体上に記録させるタイプのものである。

【０００９】図１において、光源ユニット１は、前記２
つの半導体レーザ１ａ，１ｂを１列に配置してなり、該
光源ユニット１から発せられる２つの発散光は、集光レ
ンズ２によって平行な２つのレーザビームＬ１，Ｌ２に
なる。

【００１０】前記２つのレーザビームＬ１，Ｌ２はポリ
ゴンミラー３に照射され、該ポリゴンミラー３によって
偏向される２つのレーザビームＬ１，Ｌ２は、ｆθレン
ズ４を介して表面を一様帯電された感光ドラム（記録媒
体）５上に走査される。

【００１１】前記感光ドラム５は、レーザビームＬ１，
Ｌ２の主走査に同期して回転駆動され、これにより、レ
ーザビームＬ１，Ｌ２と感光ドラム５とが相対的に副走
査方向（主走査方向に直交する方向）に移動して２次元
の画像記録が行われる。

【００１２】上記のようにして画像データに対応した露
光が２ライン同時に行われて静電潜像が感光ドラム５
（記録媒体）上に形成される。そして、この静電潜像に
対して逆極性に帯電したトナーが付着されて現像が行わ
れ、その後記録紙がトナー像に重ねられ、記録紙の裏側
からコロナ帯電器でコロナ帯電極性とは逆極性の電荷が
記録紙に与えられることにより、トナー像が記録紙に転
写される。

【００１３】前記ポリゴンミラー３によって偏向された
レーザビームＬ１，Ｌ２の走査開始点は、走査領域の先
端側に配設されたインデックスセンサ６によって検出さ
れ、また走査終了点は、走査領域の終端側に配設された
インデックスセンサ７によって検出される。

【００１４】前記インデックスセンサ６，７は、図２に
示すように、それぞれ個別に検知信号を出力する４つの
センサ（光ビーム検知手段）Ａ〜Ｄを一体に備えて構成
され、各センサＡ〜Ｄは主走査方向に並べて配設され、
Ａ→Ｂ→Ｄ→Ｃの順にレーザビームＬ１，Ｌ２が走査さ
れる。

【００１５】各センサＡ〜Ｄの光ビーム検知領域（受光
領域）は、直角三角形に形成されている。そして、セン
サＡは、直角三角形の検知領域の直角挟角を構成する２
辺のうちの長辺が、主走査方向始端側の端縁となり、然
も、前記長辺が主走査方向に直交する（副走査方向に平
行する）ように配置される。また、センサＢは、直角三
角形の検知領域の斜辺が主走査方向始端側の端縁とな
り、然も、該斜辺が前記長辺と斜辺とがなす角度で主走
査方向に斜めに交差するように配置される。また、セン
サＤは、副走査方向を上下としたときに、センサＡの検
知領域の配置状態を上下反転させたように配置される。
更に、センサＣは、センサＡと副走査方向に沿った軸に
対してその検知領域が軸対称となるように配置される。

【００１６】尚、図２に示すセンサＡ，Ｃは、直角挟角
を構成する２辺のうちの長辺が、主走査方向に直交する
ように配置されるが、該長辺が主走査方向と平行になる
ように配置する構成であっても良い。

【００１７】即ち、上記センサＡ〜Ｄの配列によって、
各センサＡ〜Ｄの主走査方向始端側の端縁は、センサ
Ａ，Ｄは相互に副走査方向に沿って平行で、また、セン
サＢ，Ｃは、相互に非平行であり、然も、主走査方向に
対する傾きの方向が逆になっている。

【００１８】尚、図２では、センサＡによるレーザビー
ムＬ１の検知始端位置（ビーム検知信号が立ち上がる位
置）をａ１として示し、レーザビームＬ２の検知始端位
置をａ２として示してあり、以下同様に、センサＢ〜Ｄ
によるレーザビームＬ１，Ｌ２の検知始端位置をｂ１，
ｂ２，ｃ１，ｃ２，ｄ１，ｄ２として示してある。

【００１９】本実施例では、上記構成のセンサＡ〜Ｄを
用いて、前記レーザビームＬ１，Ｌ２の主走査方向及び
副走査方向におけるずれ量を、図３のフローチャートに
示すようにして計測する。

【００２０】まず、前記レーザビームＬ１，Ｌ２の副走
査方向における間隔のずれ量の計測方法について詳述す
る。

【００２１】図３のフローチャートに示すプログラム
は、レーザプリンタに電源が投入される毎に実行される
ものであり、まず、レーザビームＬ１のみを点灯させ、
通常の画像記録時と同様に走査させる（Ｓ１）。

【００２２】そして、レーザビームＬ１が前記センサＡ
〜Ｄ上を走査したときに、センサＢのビーム検知の立ち
上がり（ｂ１）から、センサＣのビーム検知の立ち上が
り（ｃ１）までの時間（検知時間差）Ｔ１（図４参照）
を計測する（Ｓ２）。

【００２３】次いで、レーザビームＬ１に代えてレーザ
ビームＬ２のみを点灯させ、通常の画像記録時と同様に
走査させる（Ｓ３）。

【００２４】そして、同様に、かかるレーザビームＬ２
が前記センサＡ〜Ｄ上を走査したときに、センサＢのビ
ーム検知の立ち上がり（ｂ２）から、センサＣのビーム
検知の立ち上がり（ｃ２）までの時間Ｔ２（図４参照）
を計測する（Ｓ４）。

【００２５】上記の時間Ｔ１，Ｔ２の計測を終了する
と、前記時間Ｔ１と時間Ｔ２の時間差の絶対値Ｔ３を演
算する。

【００２６】更に、レーザビームＬ１，Ｌ２の副走査方
向における間隔が正規の状態であるときに対応する前記
時間差Ｔ３の基準値と、上記処理で実際に求められた時
間差Ｔ３との偏差を、前記間隔のずれ量に相当する値と
して求める（Ｓ５）。

【００２７】尚、上記基準値は、レーザプリンタの操作
部を介して任意に変更設定できるようにすると良い。

【００２８】即ち、レーザビームＬ１がセンサＢ，Ｃで
検知される副走査方向における位置ｂ１，ｃ１を基準位
置として想定したときに、例えばレーザビームＬ２の走
査位置が副走査方向に図４で下側にずれたとする。この
場合、レーザビームＬ２がセンサＢ，Ｃで検知される副
走査方向における位置ｂ２，ｃ２は、センサＢ，Ｃの検
知始端側端縁の間隔が、図４において下方に行くに従っ
て主走査方向の両側に広がるよう構成されていることに
よって、位置ｂ２は走査の始端側にずれ、逆に、位置ｃ
２は走査の終端側にずれることになり、以て、時間Ｔ２
が長くなり、時間Ｔ３が基準に対してより長くなる。

【００２９】従って、時間差Ｔ３と基準値との偏差を求
めれば、走査速度と前記センサＢ，Ｃにおける斜辺の角
度との情報に基づいて、レーザビームＬ１，Ｌ２の間隔
のずれ量を算出することができるものである。

【００３０】尚、上記のようにしてレーザビームＬ１，
Ｌ２の副走査方向における間隔のずれ量を検出させる場
合には、センサＢ，Ｃの斜辺が主走査方向に対して斜め
に交差する角度によって、ずれによって生じる時間差が
変動し、図５に示す角度Ｂ°をなるべく鋭角に設定す
る。換言すれば、センサＢ，Ｃの検知領域の斜辺の間隔
が副走査方向に沿って急激に変化することが望ましく、
更に、前記角度Ｂ°は、走査位置の調整精度や、時間計
測の分解能、センサの大きさの制限等によって決定する
と良い。

【００３１】また、前記時間Ｔ１，Ｔ２の計測結果や、
最終的に演算されたずれ量などの情報を、レーザプリン
タに設けられた表示部に表示させるようにしても良い。
そうすることによって、レーザの走査位置の調整が容易
に行えるようになる。

【００３２】ところで、前記時間Ｔ１，Ｔ２の計測は、
本実施例では、図６に示すようにして行われる。

【００３３】尚、図６では、センサＡ，Ｄによってレー
ザビームＬ１が検知される時間差（ａ１とｄ１との間の
時間）を計測させる場合を示してあるが、センサＡ〜Ｄ
の他の組み合わせであっても同様にして行われる。

【００３４】図６において、基準クロックｃｌｋを１／
16周期ずつ順次遅らせて16種類のディレイクロックdl0
（基準クロック）〜dl15をディジタルディレイラインを
用いて発生させている。尚、図６においては、クロック
ｃｌｋ，dl１，dl２，dl８，dl12，dl15のみを示し、他
のディレイクロックについては図示を省略してある。そ
して、例えばセンサＡの検知信号の立ち上がりａ１に同
期したクロック（検知信号の立ち上がり直後に最初に立
ち上がるクロック）がクロックdl８であったとすると、
該同期時の立ち上がりを最初のカウントとし、続いてこ
のクロックdl８の立ち上がりを順次カウントさせる。

【００３５】かかるカウント中に、センサＤの検知信号
が立ち上がり、この検知信号の立ち上がり（ｄ１）に同
期するクロックがクロックdl１２であったとすると、そ
れまでのクロックdl８の立ち上がりをカウントした数
（センサＡの検知信号（ａ１）に同期したクロックdl８
の立ち上がりを含む）から１を減算した値にクロック周
期を乗算した時間に、クロックdl８とクロックdl１２と
の位相差（４／１６周期であり、ディレイクロック番号
＝dl４として表すことができる。）を加算した値が、前
記センサＡ，Ｄの検知信号の出力時間差（ａ１とｄ１と
の間隔）になる。そして、前述の副走査方向のずれ検出
においては、各時間Ｔ１，Ｔ２を、上記のようにしてク
ロックカウント数とディレイクロック番号として求める
一方、間隔の規定値に相当する基準時間をやはりクロッ
クカウント数とディレイクロック番号として与えるよう
にして、時間差Ｔ３の演算においては、カウント数とデ
ィレイクロック番号とをそれぞれに演算させるようにす
れば良い。

【００３６】次に、上記のようにして時間を計測し、該
計測結果に基づいてずれ検出を行う具体的な回路例を図
７に従って説明する。

【００３７】図７において、センサＢ，Ｃの出力は、フ
ェイズ・ディレクター(1) 11とフェイズ・ディレクター
(2) 12とにそれぞれ出力される。

【００３８】一方、ディジタル・ディレイライン13には
基準クロックclk が入力され、該ディジタル・ディレイ
ライン13から前記クロックdl０〜dl１５が出力される。

【００３９】そして、前記フェイズ・ディレクター(1)1
1,(2)12 では、センサＢ，Ｃの検知信号の立ち上がりと
同期するディレイクロックdl０〜dl１５をそれぞれに検
出し（図６参照）、該検出結果を位相差演算部14に出力
する。

【００４０】該位相差演算部14では、センサＢの検知タ
イミング（ｂ１又はｂ２）に同期するクロックと、セン
サＣの検知タイミング（ｃ１又はｃ２）に同期するクロ
ックの位相差（１／１６周期単位）、即ち、センサＢ，
Ｃの検知間隔のクロック周期内の端数分を求め、その結
果を、センサＣの検知信号からワンショット回路31で生
成されるワンショットパルスに応じてラッチ回路18にラ
ッチさせる。

【００４１】また、前記フェイズ・ディレクター(1) 11
の検出結果はクロックセレクタ15にも出力され、該クロ
ックセレクタ15からは、センサＢの検知信号に同期する
ディレイクロックを選択的にカウンタ16に出力する。

【００４２】カウンタ16では、センサＢ，Ｃの出力の立
ち上がりｂ１（ｂ２），ｃ１（ｃ２）間隔時間を、前記
クロックセレクタ15から出力されるクロックをカウント
して計測する。尚、前記カウンタ16のカウント区間は、
センサＢ，Ｃの出力が入力されるフリップ・フロップ17
によって制御されるようになっている。

【００４３】前記カウンタ16によるカウント値は、セン
サＣの検知信号から生成させたワンショットパルスでラ
ッチ回路18にラッチさせる。

【００４４】このようにして、例えばレーザビームＬ１
のみを点灯させたときのセンサＢ，Ｃの検知間隔である
時間Ｔ１を計測しラッチ回路18に記憶させ、続いて、同
様にしてレーザビームＬ２のみを点灯させたときの時間
Ｔ２を計測しラッチ回路18に記憶させる。

【００４５】尚、図７の回路構成において、第１の時間
差計測手段及び第２の時間差計測手段としての機能は、
前記フェイズ・ディレクター(1)11,(2)12 、ディジタル
・ディレイライン13、位相差演算部14、クロックセレク
タ15、カウンタ16、フリップ・フロップ17、ラッチ回路
18、ワンショット回路31によって実現される。

【００４６】クロックカウント数及びクロック位相差と
して前記時間Ｔ１，Ｔ２が得られると、時間偏差演算手
段としての時間差演算部19では時間Ｔ１，Ｔ２の偏差
を、カウント数とクロック位相差とで個別に演算し、そ
の結果を、ラッチ回路20に一旦記憶させる。

【００４７】そして、副走査方向ずれ検知手段としての
ずれ演算部21では、操作部を介して与えられる基準値
と、前記ラッチ回路20に記憶されたデータとを比較し
て、レーザビームＬ１，Ｌ２の副走査方向におけるずれ
（間隔の変化量）を演算し、かかる演算結果を表示部に
出力する。

【００４８】ところで、上記では、センサＡ〜Ｄのうち
のセンサＢ，Ｃのみを用いて、レーザビームＬ１，Ｌ２
の副走査方向におけるずれを検出する処理を説明した
が、かかる処理に続けてレーザビームＬ１，Ｌ２の主走
査方向における走査位置関係（主走査方向におけるず
れ）を検出し、該検出結果に基づいて各レーザビームＬ
１，Ｌ２による書出し位置を制御することが好ましく、
そのために、センサＡ，Ｄが設けられている。

【００４９】前記主走査方向におけるずれを検出するた
めの処理内容を、図３のフローチャートにおいて、副走
査方向のずれ検出に続けて示してある。

【００５０】まず、レーザビームＬ１のみを点灯させて
（Ｓ６）、センサＡでレーザビームＬ１が検知される立
ち上がり（ａ１）と、センサＤでレーザビームＬ１が検
知される立ち上がり（ｄ１）との時間差Ｔ５（図８参
照）を測定させる（Ｓ７）。

【００５１】ここで、センサＡ，Ｄの光ビーム検知領域
の主走査方向始端側の端縁が、副走査方向に平行（主走
査方向に直交）であるから、前記時間差Ｔ５は、副走査
方向における走査位置に影響されずに、センサＡ，Ｄの
主走査方向始端側の端縁の間隔と走査速度とによっての
み決定されることになる。

【００５２】次に、レーザビームＬ１，Ｌ２を同時に走
査開始し、センサＡにはレーザビームＬ１のみが入射
し、センサＤにはレーザビームＬ２のみが入射するよう
に、各レーザビームＬ１，Ｌ２のマスク制御を行いなが
ら走査させ（Ｓ８）、センサＡでレーザビームＬ１が検
知される立ち上がり（ａ１）と、センサＤでレーザビー
ムＬ２が検知される立ち上がり（ｄ２）との時間差Ｔ６
（図８参照）を測定させる（Ｓ９）。

【００５３】前記マスク制御は、各レーザビームＬ１，
Ｌ２の点灯・消灯制御で行っても良いし、また、偏光素
子などの利用によってレーザビームＬ１，Ｌ２が選択的
にセンサＡ，Ｄに入射するようにしても良い。

【００５４】ここで、各レーザビームＬ１，Ｌ２が、主
走査方向にずれることなく走査される場合には、前記時
間差Ｔ５，Ｔ６は同一時間となるはずであり、例えばレ
ーザビームＬ１の走査に遅れてレーザビームＬ２が走査
される場合には、その遅れが、Ｔ６−Ｔ５（＝Ｔ７）と
して求められることになる（Ｓ１０：図８参照）。

【００５５】また、実際のＴ５，Ｔ６の計測及び計測結
果に基づいて主走査方向のずれ量の検出を行う回路は副
走査方向のずれ量計測の時述べたような方法（図６、図
７参照）で行えば良い。

【００５６】図２０に示すフローチャートは、インデッ
クスセンサ６，７のずれ量検出結果にしたがって主走査
方向および副走査方向のずれ補正の実行を示したずれ補
正プログラムの内容である。

【００５７】まず、図３のずれ検出プログラムにしたが
ってインデックスセンサ６の主走査方向及び副走査方向
のずれ量を検出する（Ｓ１００）。つづいて、インデッ
クスセンサ７の主走査方向及び副走査方向のずれ量の検
出を行う（Ｓ１０１）。

【００５８】ここで、前記インデックスセンサ６，７か
ら検出したずれ量の平均値を算出し、この平均化された
データを主走査方向及び副走査方向のずれ量とする（Ｓ
１０２）。

【００５９】この平均化の演算によって算出された前記
ずれ量に基づいて、前記レーザビームＬ１，Ｌ２のずれ
量補正が実行される（Ｓ１０３）。

【００６０】ここで、例えば特開昭６３−５０８０９号
公報に開示されているように副走査方向における走査位
置を調整し得る機構を備える場合には、前記ずれ補正プ
ログラムによって算出されたずれ量の情報に基づいてレ
ーザビームＬ１，Ｌ２の副走査方向における走査位置を
調整することで、レーザビームＬ１，Ｌ２の副走査方向
における間隔を規定値に修正する（Ｓ１０５）。

【００６１】一方、主走査方向のずれ補正は前記ずれ補
正プログラムにしたがって求めたレーザビームＬ１によ
る書き出しに対するレーザビームＬ２の書き出し時間の
遅延時間Ｔ７’（インデックスセンサ６，７の検出デー
タから求めた各遅延時間Ｔ７の平均値）だけ遅らせれ
ば、主走査方向にずれて走査される２つのレーザビーム
Ｌ１，Ｌ２によって主走査方向にずれることなく、画像
記録を行えることになる。 前記書き出し位置の制御
は、レーザビームＬ１に対応する水平同期信号の発生に
対して、レーザビームＬ２に対応する水平同期信号の発
生を前記遅延時間Ｔ７’だけ遅らせるようにすれば良い
（Ｓ１０４）。Ｔ７’が負の値であるときはＬ２に対応
する水平同期信号の発生をＴ７’だけ早めれば良い。

【００６２】また、前記ずれ補正プログラムにしたがっ
て求めた副走査方向のずれ量が、ディレイクロックのカ
ウント数およびクロック位相差として求められる場合に
は、クロックのカウント数に基づいて水平同期信号を調
整し、クロック位相差として求められるずれ分は、ディ
レイクロックdl１０〜dl１５からの各レーザビームＬ
１，Ｌ２に対応させるドットクロックの選択によって調
整するようにしてもよい。

【００６３】ところで、上記の副走査方向及び主走査方
向におけるずれ検出のために用いたセンサＡ〜Ｄの各検
知領域の形状や組み合わせは、図２に示したものに限定
されるものではなく、例えば図９〜図１２に示すように
センサＡ〜Ｄの構成であっても良い。

【００６４】即ち、副走査方向におけるずれを検出する
ためには、光ビーム検知領域の主走査方向始端側の端縁
が相互に非平行となるセンサの組み合わせが存在すれば
良く、また、主走査方向におけるずれを検出するために
は、光ビーム検知領域の主走査方向始端側の端縁が共に
主走査方向に直交して平行であるセンサの組み合わせが
存在すれば良く、更に、光ビーム検知領域の主走査方向
始端側の端縁が規定されれば、検知領域の形状は三角で
あっても四角であっても良い。

【００６５】更に、上記では、副走査方向のずれ検知に
用いるセンサ対と、主走査方向のずれ検出に用いるセン
サ対とからなる４つのセンサＡ〜Ｄで構成したが、図１
３に示すように、３つのセンサＡ〜Ｃで同様な機能を果
たすことが可能である。

【００６６】即ち、図１３に示す構成では、四角な光ビ
ーム検知領域に形成された２つのセンサＡ，Ｂを、その
検知領域の主走査方向始端側の端縁が主走査方向に直交
するように配設する一方、光ビーム検知領域が三角形に
形成されたセンサＣをその主走査始端側となる斜辺が主
走査方向に斜めに交差するように配設してある。

【００６７】そして、前記図１３に示すセンサ構成で、
副走査方向におけるずれを検出させる場合には、例えば
センサＢとセンサＣとの組み合わせを用いる（図１４参
照）。

【００６８】ここで、センサＢの検知領域の主走査方向
始端側の端縁が主走査方向に直交するが、センサＣの検
知領域の主走査方向始端側の端縁は主走査方向に斜めに
交差するので、副走査方向におけるずれが発生すれば、
それが各センサＢ，Ｃによって検出される時間差の変化
として表れることになり、以て、副走査方向のずれを検
出できる（図１４参照）。

【００６９】但し、センサＢの検知領域の主走査方向始
端側の端縁が主走査方向に直交することによって、図２
又は図４（或いは図９〜図１２）に示すセンサＢ，Ｃの
組み合わせを用いる場合に比べて、副走査方向における
ずれが時間に大きく影響しないため、精度的には、図２
又は図４（或いは図９〜図１２）に示すセンサＢ，Ｃの
ように、検知領域の主走査方向始端側の端縁がそれぞれ
主走査方向に斜めに交差し、然も、傾きの方向が異なる
センサの組み合わせを用いることが好ましい。また、図
１３に示すようなセンサＡ〜Ｃによって、主走査方向に
おけるずれを検出する場合には、図１５に示すように、
センサＡ，Ｂの組み合わせを用いて前述と同様にして検
出できる。

【００７０】即ち、図１３に示すような３つのセンサＡ
〜Ｃで構成される場合であっても、光ビーム検知領域の
主走査方向始端側の端縁が、相互に非平行となる組み合
わせと副走査方向に沿って平行となる組み合わせとの両
方を有すれば、換言すると、副走査方向に沿って平行な
センサ対と、主走査方向に斜めに交差する１つのセンサ
とがあれば、副走査方向及び主走査方向のずれを両方兼
用できることになる。従って、３つのセンサＡ〜Ｃによ
る組み合わせにおいても、図１３の構成に限定されるも
のではなく、例えば図１６〜図１９に示すような種々の
態様が容易に想定される。

【００７１】尚、主走査方向におけるずれ検出を行う必
要がない場合にあ、光ビーム検知領域の主走査方向始端
側の端縁が相互に非平行であるセンサ対のみを備えれば
良いことになる。

【００７２】また、３つのレーザビームＬ１，Ｌ２，Ｌ
３を用いて３ラインを同時記録させる構成いおいても、
例えば２つのレーザビームＬ１，Ｌ２について前記同様
に副走査方向のずれを一対のセンサを用いて検出し、更
に、２つのレーザビームＬ１，Ｌ３についてずれを検出
することで、レーザビームＬ１の走査位置を基準とした
ときの各レーザビームＬ２，Ｌ３の副走査方向のずれを
検出できるので、２つのレーザビームＬ１，Ｌ２を用い
る構成に限定されない。

【００７３】

【発明の効果】以上説明したように本発明にかかる画像
形成装置によると、複数レーザビーム間の走査位置ずれ
量を画像記録領域手前の先端側だけで検出するのではな
く、後端側においても同様にずれ量を検出できるように
インデックスセンサを配設することにより、画像記録領
域両端側のずれ量が検出でき、この検出結果をもとに平
均化演算を行い、最適な複数のレーザビームの走査位置
のずれ量を検出することで、画像記録領域のずれ量検出
の高精度化を達成し、該検出結果に基づいて複数のレー
ザビームの走査位置を補正することで、高画質な画像形
成を実現することができる画像形成装置を提供できるこ
ととなった。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例の像露光系を示す斜視図。

【図２】インデックスセンサの詳細を示す図。

【図３】主、副走査方向における光軸ずれ検出を示すフ
ローチャート。

【図４】副走査方向におけるずれ検出を説明するための
図。

【図５】副走査方向におけるずれ検出の特性を説明する
ための図。

【図６】クロックを用いた時間計測を説明するためのタ
イムチャート。

【図７】副走査方向の光軸ずれ検出を行う回路構成を示
すブロック図。

【図８】主走査方向におけるずれ検出の特性を説明する
ための図。

【図９】センサ構成の他の実施例を示す図。

【図10】センサ構成の他の実施例を示す図。

【図11】センサ構成の他の実施例を示す図。

【図12】センサ構成の他の実施例を示す図。

【図13】３つのセンサによるセンサ構成を示す図。

【図14】３つのセンサによる副走査方向におけるずれ検
出を示す図。

【図15】３つのセンサによる主走査方向におけるずれ検
出を示す図。

【図16】センサ構成の他の実施例を示す図。

【図17】センサ構成の他の実施例を示す図。

【図18】センサ構成の他の実施例を示す図。

【図19】センサ構成の他の実施例を示す図。

【図20】主、副走査方向におけるずれ補正を示すフロー
チャート。

【符号の説明】

１ 光源ユニット １ａ，１ｂ 半導体レーザ ２ 集光レンズ ３ ポリゴンミラー ４ ｆθレンズ ５ 感光ドラム ６，７ インデックスセンサ 11，12 フェイズ・ディレクター 13 ディジタル・ディレイライン 14 位相差演算部 15 クロックセレクタ 16 カウンタ 18，20 ラッチ回路 19 時間差演算部 31 ワンショット回路

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 複数の光ビームにより記録媒体上を同時
   に主走査方向に平行に走査させて複数ラインを同時に記
   録させる画像形成装置であって、 複数ビームの主走査方向始端側と終端側に２つ設けられ
   た、複数の光ビームの主走査方向及び／又は副走査方向
   のずれ量を検出するずれ量検出手段と、 前記２つのずれ量検出手段からのずれ量の検出結果に基
   づいて平均ずれ量を演算する演算手段と、 前記演算手段により演算されたずれ量に基づいて前記複
   数の光ビームの主走査方向の走査タイミング及び／又は
   副走査方向の走査位置を補正する補正手段とを有するこ
   とを特徴とする画像形成装置。
2. 【請求項２】 前記２つのずれ量検出手段は、少なくと
   も３つの光ビーム検知手段を主走査方向に並べて配設す
   る一方、これらの光ビーム検知手段それぞれの光ビーム
   検知領域の主走査方向始端側の端縁が、相互に非平行と
   なる組み合わせと平行となる組み合わせとの両方を有す
   ることを特徴とする請求項１記載の画像形成装置。