JPH10188459A - 光ディスク装置及び光ディスク記録媒体 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 径が５．２５インチの光磁気ディスクに対し
て、その厚みを判別するような機能を備えた上記光ディ
スク装置は考えられていなかった。 【解決手段】 厚さ検出器３０は、透明基板の厚さを示
す物理的マークをディスクカートリッジ１表面から検出
する。システムコントローラ２９は、厚さ検出器３０か
らの検出出力に応じて光磁気ディスク２に対する記録及
び／又は再生モード、例えば開口数ＮＡの異なる対物レ
ンズ１１又は対物レンズ１２を切り換え制御する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、カートリッジ内に
収納された光ディスクの記録層に透明基板を介して光を
照射し、情報信号を記録及び／又は再生する光ディスク
装置及び光ディスク記録媒体に関する。

【０００２】

【従来の技術】光ディスク等の光学記録媒体では、光学
的に透明な例えばポリカーボネイト等からなる基板を介
して記録層に照射されるレーザ光により、情報信号が記
録及び／又は再生される。この光学記録媒体はコンピュ
ータの記録装置、オーディオ、ビデオ等のパッケージメ
ディアとして広く普及すると共に高密度化も進んでい
る。

【０００３】高密度化の１つの方法として、対物レンズ
の開口数ＮＡを大きくすることが考えられる。光学記録
媒体上に形成されるビームスポットが小となるため、分
解能が良くなるためである。しかし、ＮＡを大きくとる
と、ディスクの傾きに対して許容範囲が狭くなる。

【０００４】そこで、上記基板を薄くすることが考えら
れるようになった。例えば、径が５．２５インチの光磁
気ディスクの基板は現在１．２ｍｍであるが、これを半
分の０．６ｍｍにすることが考えられる。基板を薄くす
れば、ＮＡを大きくしても、ディスクの傾きに対しての
誤差のマージンがある程度得られる。

【０００５】このため、基板が上述したように１．２ｍ
ｍの光磁気ディスクと、０．６ｍｍの光磁気ディスクの
両方に対して、情報信号を記録／再生できる光ディスク
装置が求められるようになった。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述したよ
うに、高密度化を図り、基板の厚みを０．６ｍｍとした
光磁気ディスクを用いる場合、現行の１．２ｍｍ厚の基
板を有する光磁気ディスクとの互換性をとる必要がある
が上記径が５．２５インチの光磁気ディスクに対して、
その厚みを判別するような機能を備えた上記光ディスク
装置は考えられていなかった。

【０００７】また、上記径が５．２５インチの光磁気デ
ィスクは、従来より、ディスクカートリッジ内に収納さ
れているが、上記厚みを判別させるような機構を備えて
いなかった。

【０００８】本発明は、上記実情に鑑みてなされたもの
であり、光ディスクの基板厚を判別する機能を備え、基
板厚に応じて適切な記録及び／又は再生処理を行うこと
ができる光ディスク装置の提供を目的とする。

【０００９】また、本発明は、上記実情に鑑みてなされ
たものであり、基板厚の判定に適するような機構を備え
る光ディスク記録媒体の提供を目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明に係る光ディスク
装置は、上記課題を解決するために、厚さ検出手段によ
りカートリッジ表面に形成された物理的マークを検出
し、制御手段により上記検出出力に応じて光ディスクに
対する記録及び／又は再生モードの切り換えを制御す
る。

【００１１】また、本発明に係る光ディスク記録媒体
は、上記課題を解決するために、カートリッジ筐体に透
明基板の厚さ判別用の物理的マーキングを設けてなる。

【００１２】

【発明の実施の形態】以下、本発明に係る光ディスク装
置の実施の形態となる光磁気ディスク装置と、光ディス
ク記録媒体の実施の形態となる光磁気ディスクについて
図面を参照しながら説明する。

【００１３】光磁気ディスク装置は、カートリッジ内に
収納された例えば５．２５インチ径の光磁気ディスクの
記録層に例えばポリカーボネイトよりなる透明基板を介
してレーザ光を照射し、情報信号を記録及び／又は再生
する。

【００１４】この光磁気ディスク装置は、図１に示すよ
うに、上記透明基板の厚さを示す物理的マークをディス
クカートリッジ１表面から検出する厚さ検出器３０と、
この厚さ検出器３０からの検出出力に応じて光磁気ディ
スク２に対する記録及び／又は再生モードを切り換え制
御するシステムコントローラ２９とを備える。ここで、
光磁気ディスク２を収納するディスクカートリッジ１が
上記光ディスク記録媒体の実施の形態となる。

【００１５】ディスクカートリッジ１は図２及び図３に
外観を示すように、一方の面（以下、表面とする。）２
_A，他方の面（以下、裏面とする。）２_Bが貼り合わせさ
れた光磁気ディスク２を内部に回転自在に収納してな
る。図２にはこのディスクカートリッジ１の表の面を、
図３には裏の面を示す。表の面に示されている“Ａ”を
見ながら矢印の方向にこのディスクカートリッジを光磁
気ディスク装置の図示しないカートリッジホルダに挿入
すると、シャッタ７が装置の図示しないシャッタ開閉機
構によって開かれ、開口部４_A及び４_Bが露出する。この
シャッタが完全に開状態となった段階、すなわちディス
クカートリッジ１がカートリッジホルダに完全に収納さ
れた段階でディスクカートリッジ１の装置内への装着が
完了する。

【００１６】このとき、ディスクカートリッジ１の裏面
側のシャッタ７に覆われていた光磁気ディスク２のＡ面
２_A側のハブ３_Aは、透孔６_Aを介してスピンドルモータ
２８のモータ軸の上端に設けられたマグネット付のター
ンテーブル３１に密着、保持され、光磁気ディスク２は
スピンドルモータ２８に装着されることになる。

【００１７】 この状態で、光磁気ディスク２のＡ面２_A
側に対する、光磁気ディスク装置の記録及び／又は再生
が可能となる。すなわち、図２に示された矢印方向に
“Ａ”を上にしてディスクカートリッジ１をディスクカ
ートリッジホルダに挿入すると、実際には図３に示した
開口部４_A側にＡ面２_Aが露出する。

【００１８】一方、裏の面に示されている“Ｂ”を見な
がら矢印の方向にこのディスクカートリッジ１を光磁気
ディスク装置のカートリッジホルダに挿入すると、シャ
ッタ７がシャッタ開閉機構によって開かれ、開口部４_A
及び４_Bが露出するが、このとき、ディスクカートリッ
ジ１の表面側のシャッタ７に覆われていた光磁気ディス
ク２のＢ面２_B側のハブ３_Bは、透孔６_Bを介してスピン
ドルモータ２８のモータ軸の上端に設けられたマグネッ
ト付のターンテーブル３１に密着、保持され、光磁気デ
ィスク２はスピンドルモータ２８に装着されることにな
る。

【００１９】この状態で、光磁気ディスク２のＢ面２_B
側に対する、光磁気ディスク装置の記録及び／又は再生
が可能となる。すなわち、図３に示された矢印方向に
“Ｂ”を上にしてディスクカートリッジ１をディスクカ
ートリッジホルダに挿入すると、実際には図２に示した
開口部４_B側にＢ面２_Bが露出する。

【００２０】この光磁気ディスク２は、Ａ面２_A及びＢ
面２_Bを図４のように形成している。すなわち、例えば
ポリカーボネイトからなる透明基板６１上にＳｉＮ膜よ
りなる誘電体層６２、ＴｂＦｅＣｏよりなるＭＯ層６
３、誘電体層６４、Ａｌよりなる反射膜６５及びＵＶ樹
脂よりなる保護膜６６を形成してなる。そして、保護膜
６６同士を接着して、貼り合わせディスクとしている。

【００２１】図１に示すように、光磁気ディスク装置の
ディスクカートリッジホルダに対して上述したように
“Ａ”を見ながら矢印方向にディスクカートリッジ１を
挿入した場合、光磁気ディスク２のＡ面２_A側に対して
光学ヘッド１０から開口部４_Aを介してレーザ光が照射
される。

【００２２】光学ヘッド１０は、二つの対物レンズ１１
及び１２と、これら二つの対物レンズ１１及び１２を切
り換え可能に保持する二軸部１３と、ミラー１４と、固
定光学系１５を備えてる。

【００２３】対物レンズ１１は、開口数ＮＡを例えば
０．６とし、透明基板６１を０．６ｍｍとしたような光
磁気ディスクに対して最適に情報信号の記録及び／又は
再生を可能とする。一方、対物レンズ１２は、開口数Ｎ
Ａを例えば０．５５とし、透明基板６１を１．２ｍｍと
したような光磁気ディスクに対して最適に情報信号の記
録及び／又は再生を可能とする。

【００２４】固定光学系１５は、図５に示すように、書
き込み用のレーザ光又は再生用のレーザ光を拡散出射す
るレーザダイオード１６と、これらのレーザ光を平行に
するコリメータレンズ１７と、平行とされたレーザ光を
ミラー１４方向に透過すると共に後述する戻り光を反射
するビームスプリッタ１８と、ビームスプリッタ１８の
反射面１８ａで反射された戻り光のカー回転角の変化を
光強度変化に変える偏光ビームスプリッタ１９と、この
偏光ビームスプリッタ１９を透過した一方の戻り光を電
気信号に変換するフォトダイオード２０と、上記偏光ビ
ームスプリッタ１９の反射面１９ａにより反射された他
方の戻り光を電気信号に変換するフォトダイオード２１
とを備えてなる。

【００２５】例えば、上記Ａ面２_A側に情報信号を記録
する場合、光学ヘッド１０の固定光学系１５内のレーザ
ダイオード１６には、システムコントローラ２９がレー
ザドライバ３２を駆動して書き込み用のレーザ駆動電流
を供給する。このとき、磁気ヘッドドライバ３３は、電
磁石よりなる磁気ヘッド３４に一定方向の磁化を与える
駆動電流を供給する。

【００２６】初期状態では、ＭＯ膜６３の磁化の向きが
例えば下向きになっている。ここに磁気ヘッド３４で外
部から上向きの磁界をかけ、情報信号を記録するタイミ
ングで光学ヘッド１０から書き込み用のレーザ光を照射
する。光磁気ディスク２のＡ面２_A側のＭＯ膜６３の書
き込み用レーザ光があたったポイントの温度が上がり、
キュリー点まで達すると、ＭＯ膜６３の保磁力が減少
し、磁気ヘッド３４による外部磁界の作用で上向きに磁
化反転した部分ができ情報信号が記録される。

【００２７】また、上記光磁気ディスクから情報を再生
する場合、光学ヘッド１０のレーザダイオード１６は、
レーザドライバ３２を介してシステムコントローラ２９
により制御され再生用のレーザ光を出射する。

【００２８】この再生用のレーザ光は、上記ＭＯ層に透
明基板６１を透過して照射される。ＭＯ層６３に入射し
た再生用のレーザ光は偏光面が磁化の向きによって、わ
ずかに０．２〜０．４゜程回転するように反射されて戻
り光となる。この戻り光は対物レンズ１１又は対物レン
ズ１２を透過し、ミラー１４で反射されて固定光学系１
５に戻る。固定光学系１５では、戻り光のカー回転角
（±θ）の変化を偏光ビームスプリッタ１９により光強
度変化に変え、フォトディテクタ２０及び２１に導き、
電気信号として取り出す。

【００２９】固定光学系１５のフォトディテクタ２０及
び２１で検出された電気信号は、マトリクス回路２３に
供給される。このマトリクス回路２３は例えばディジタ
ル信号処理ユニット（ＤＳＰ）により構成され、再生Ｒ
Ｆ信号を生成して出力端子３５に供給する。また、この
マトリクス回路２３は、フォーカスエラー信号及びトラ
ッキングエラー信号からフォーカスサーボ信号及びトラ
ッキングサーボ信号を生成し、フォーカスドライバ２４
及びトラッキングドライバ２５に供給する。また、スレ
ッドサーボ信号及びスピンドルサーボ信号を生成し、ス
レッドドライバ２６及びスピンドルドライバ２７に供給
する。

【００３０】フォーカスドライバ２４は、上記フォーカ
スサーボ信号に応じて二軸部１３のフォーカスコイルに
駆動電流を供給し、対物レンズ１１又は１２をフォーカ
ス方向、すなわち光軸と平行な方向に駆動する。トラッ
キングドライバ２５は、上記トラッキングサーボ信号に
応じて二軸部１３のトラッキングコイルに駆動電流を供
給し、対物レンズ１１又は１２をトラック方向、すなわ
ち光軸と直交する平面方向に駆動する。

【００３１】スレッドドライバ２６は、上記スレッドサ
ーボ信号に応じて二軸部１３を上記光軸と直交する平面
方向に大きく駆動する。スピンドルサーボドライバ２７
は、上記スピンドルサーボ信号に応じてスピンドルモー
タ２８をＣＡＶ又はＣＬＶにて回転駆動する。このよう
な各サーボ処理は、上記再生処理時のみではなく、上記
記録処理時にも行われるのはもちろんである。

【００３２】ディスクカートリッジ１には、図２及び図
３に示すように、Ａ面２_A側に対する誤消去防止孔８と
同じくＡ面２_A側に対するメディア識別孔群９と、Ｂ面
２_B側に対する誤消去防止孔１０と同じくＢ面２_B側に対
するメディア識別孔群１１が設けられている。メディア
識別孔群９は、例えば図６に示すように、４つの孔識別
孔９₁，９₂，５_A及び９₄からなる。現在、規格上、第１
の識別孔９₁はディスクの反射率の高低を識別させるの
に用いられており、クローズのときには低反射率を、オ
ープンとのときには高反射率を示している。また、第２
の識別孔９₂はディスクサイドのアクセシブルに用いら
れている。

【００３３】ここで、第３の識別孔５_Aと第４の識別孔
９₄は現在、未定義であるので、例えば、第３の識別孔
５_Aを上記透明基板の厚さを識別させるように定義す
る。現在、１．２ｍｍの透明基板が主流であるので、ク
ローズであれば透明基板は１．２ｍｍ厚、オープンであ
れば透明基板は０．６ｍｍ厚とする。第４の識別孔９₄
をこのように定義してもよい。

【００３４】図１には第３の識別孔５_Aを透明基板の厚
さの識別用に使う例を示している。同様にＢ面２_B側の
メディア識別孔群１１についても第３の識別孔５_Bを透
明基板厚識別用に用いる。図１には第３の識別孔５
_Aと、検出部３０ａ及び接触子３０ｂよりなる厚さ検出
器３０のみを示したが、実施には、図６に示すように他
の３つの識別孔９₁，９₂及び９₄も設けられている。各
孔の開閉を検出し、それぞれメディアの識別を検出する
検出器４０，４１及び４２も、それぞれ検出部４０ａ，
４１ａ及び４２ａと接触子４０ｂ，４１ｂ及び４２ｂを
伴って各識別孔の設けられる位置に対応するように装置
側に配設されている。ここで、各接触子は、各識別孔に
向かって例えば弾性体により突き出るように構成されて
いる。そして、各検出器４０，４１，３０及び４２の検
出結果は、システムコントローラ２９に供給される。

【００３５】図１に示した第３の識別孔５_Aは、開放さ
れているので、厚さ検出器３０の接触子３０ｂは上方に
突き出して、識別孔５_A内に侵入する。このとき、検出
部３０_Aは、オン信号（高レベルの信号）を出力し、シ
ステムコントローラ２９に供給する。

【００３６】システムコントローラ２９は、厚さ検出器
３０からの検出結果がオン信号であるので、光磁気ディ
スクのＡ面２_Aの透明基板の厚さが０．６ｍｍであるこ
とを判別し、透明基板厚０．６ｍｍの光磁気ディスクに
適する開口数ＮＡ（＝０．６）を備える上記対物レンズ
１１を選択し、二軸部１３上にセットする。

【００３７】厚さ検出器３０からの検出結果がオフ信号
であれば、システムコントローラ２９は、光磁気ディス
クのＡ面２_Aの透明基板の厚さが０．６ｍｍではなく、
例えば１．２ｍｍであることを判別し、透明基板厚１．
２ｍｍの光磁気ディスクに適する開口数ＮＡ（＝０．５
５）を備える上記対物レンズ１２を選択し二軸部１３上
にセットする。

【００３８】ここで、厚さ検出器３０は、その検出部３
０ａ及び接触子３０ｂを図７のように構成している。接
触子３０ｂが上記第３の識別孔５_Aに突き出すと、発光
ダイオード４５からの光は遮断されずに受光部４６で受
光されて、出力信号（高レベルの信号）がシステムコン
トローラ２９に供給される。

【００３９】また、検出スイッチ３０は、図８に示すよ
うに、検出部３０ａ及び接触子３０ｂを構成してもよ
い。接触子３０ｂが上記識別孔５_Aに突き出すと、可動
接触部４８が固定接触部４９から離れて、出力信号（こ
の場合には低レベルの信号）がシステムコントローラ２
９に供給される。システムコントローラ２９は、低レベ
ルのときに透明基板厚が０．６ｍｍであると判別するよ
うに設定が変更されている。

【００４０】さらにまた、検出スイッチ３０は、図９に
示すように構成されてもよい。検出部５１は、発光部５
２と受光部５３を備えるが、発光部５２からの光を直接
に受光部５３が受光できない構成をとる。透明基板の厚
さが０．６ｍｍである場合、ディスクカートリッジ１上
の上記メディア識別孔群９及び１１とは異なる位置に反
射シール５０を貼るようにすれば、検出部５１は反射シ
ール５０で反射された発光部５２からの光を受光部５３
に受光させることができるので、システムコントローラ
２９に出力信号（高レベルの信号）を供給できる。透明
基板の厚さが１．２ｍｍである場合、ディスクカートリ
ッジ１上には反射シール５０が貼られていないので、検
出部５１は高レベルの出力信号をシステムコントローラ
２９に供給することができない。

【００４１】次に、システムコントローラ２９で行われ
る制御を図１０のフローチャートに示し、この光磁気デ
ィスク装置の動作について図１０を参照しながら説明す
る。

【００４２】先ず、ステップＳ１でディスクカートリッ
ジ１が装置内のディスクカートリッジホルダに挿入され
ると、ステップＳ２では厚さ検出器３０からの検出結果
に応じて上記透明基板厚ｔが０．６ｍｍであるか否かを
判別する。

【００４３】上記透明基板厚が０．６ｍｍであれば、ス
テップＳ３に進み、透明基板の厚さｔ＝０．６ｍｍ用の
開口数ＮＡ（＝０．６）を持つ対物レンズ１１を選択し
て上記二軸部１３にセットして光路上へセットする。

【００４４】そして、ステップＳ４でスピンドルモータ
２８をオン、レーザーダイオード１６をオン、フォーカ
スドライバ２４をオンにし、ステップＳ５で光磁気ディ
スク２の例えば外周側又は内周側に書き込まれているＳ
ＦＰ（Standared FormattedPart）を読み取り、ステッ
プＳ６で透明基板厚ｔ＝０．６ｍｍの光磁気ディスクに
合わせて、例えば変調方式、セクタ長、回転数、反射
率、読み取りレーザパワー、ＡＧＣ、書き込みレーザパ
ワー等の処理状態を設定する。

【００４５】以上により透明基板厚ｔ＝０．６ｍｍ用の
記録及び／再生モードの設定を終了すると、システムコ
ントローラ２９は、図１に示した各部を制御して、ステ
ップＳ１１で記録及び／又は再生を開始する。

【００４６】一方、ステップＳ２で厚さ検出器３０から
の検出結果から透明基板の厚さｔ＝０．６ｍｍでないと
判別した場合には、ｔ＝１．２ｍｍの光磁気ディスクが
装着されたと判断し、ステップＳ７でｔ＝１．２ｍｍ用
の対物レンズ１２を選択し、光路上へセットする。

【００４７】そして、ステップＳ８でスピンドルモータ
２８をオン、レーザーダイオード１６をオン、フォーカ
スドライバ２４をオンにし、ステップＳ９で上記ＳＦＰ
を読み取り、ステップＳ１０で透明基板厚ｔ＝１．２ｍ
ｍの光磁気ディスクに合わせて、例えば変調方式、セク
タ長、回転数、反射率、読み取りレーザパワー、ＡＧ
Ｃ、書き込みレーザパワー等の処理状態を設定する。

【００４８】以上により透明基板厚ｔ＝１．２ｍｍ用の
記録及び／再生モードの設定を終了すると、システムコ
ントローラ２９は、図１に示した各部を制御して、記録
及び／又は再生を開始する。

【００４９】なお、本発明に係る実施の形態となる光磁
気ディスク装置では、５．２５インチの光磁気ディスク
を２枚貼り合わせて回転自在に収納したディスクカート
リッジ１に対して情報信号の記録及び／又は再生を行っ
たが、３．５インチ又は５．２５インチ等の光磁気ディ
スクを１枚のみ回転自在に収納したディスクカートリッ
ジに対して情報信号の記録及び／又は再生を行っても良
い。

【００５０】また、透明基板厚の識別用の物理的マーク
としては、カートリッジ表面に突起部を設けてもよい。
さらに、厚さ検出の手段としては、上記図７〜図９に示
した具体例に限定されるものではない。

【００５１】

【発明の効果】本発明に係る光ディスク装置は、厚さ検
出手段によりカートリッジ表面に形成された物理的マー
クを検出し、制御手段により上記検出出力に応じて光デ
ィスクに対する記録及び／又は再生モードの切り換えを
制御するので、光ディスクの基板厚に応じて、適切な記
録及び／又は再生処理を行うことができる。

【００５２】また、本発明に係る光ディスク記録媒体
は、カートリッジ筐体に透明基板の厚さ判別用の物理的
マーキングを設けてなるので、装置側に基板厚の判定を
容易に行わせることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の光ディスク装置の実施の形態のブロッ
ク図である。

【図２】本発明の光ディスク記録媒体の実施の形態の一
方の面側の外観図である。

【図３】本発明の光ディスク記録媒体の実施の形態の他
方の面側の外観図である。

【図４】上記光ディスク記録媒体の実施の形態内に収納
されるディスクの断面図である。

【図５】上記図１に示した実施の形態に用いられる固定
光学系の詳細な構成図である。

【図６】上記図２に示した光ディスク記録媒体の実施の
形態の一方の面側に設けられたセンサー孔群９の断面図
である。

【図７】上記図１に示した実施の形態に用いられる検出
スイッチの第１の具体例を示す図である。

【図８】上記図１に示した実施の形態に用いられる検出
スイッチの第２の具体例を示す図である。

【図９】上記図１に示した実施の形態に用いられる検出
スイッチの第３の具体例を示す図である。

【図１０】上記図１に示した実施の形態の動作を説明す
るためのフローチャートである。

【符号の説明】

１ ディスクカートリッジ、２ 光磁気ディスク、２_A
表面、２_B 裏面、３０ 厚さ検出スイッチ、１０
光学ヘッド、１３ 二軸部、１５ 固定光学系、２９
システムコントローラ

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 カートリッジ内に収納された光ディスク
   の記録層に透明基板を介して光を照射し、情報信号を記
   録及び／又は再生する光ディスク装置において、 上記透明基板の厚さを示す物理的マークを上記カートリ
   ッジ表面から検出する厚さ検出手段と、 上記厚さ検出手段からの検出出力に応じて上記光ディス
   クに対する記録及び／又は再生モードを切り換え制御す
   る制御手段とを備えることを特徴とする光ディスク装
   置。
2. 【請求項２】 上記厚さ検出手段は、上記カートリッジ
   表面上に形成された孔部、反射部、又は突起部により上
   記透明基板の厚さを検出することを特徴とする請求項１
   記載の光ディスク装置。
3. 【請求項３】 カートリッジ筐体に透明基板の厚さ判別
   用の物理的マーキングを設けてなる光ディスク記録媒
   体。
4. 【請求項４】 上記物理的マーキングは、孔部、反射
   部、又は突起部であることを特徴とする請求項３記載の
   光ディスク記録媒体。