JPH10188877A - 誘導結合プラズマ質量分析装置 - Google Patents
誘導結合プラズマ質量分析装置Info
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- JPH10188877A JPH10188877A JP8343104A JP34310496A JPH10188877A JP H10188877 A JPH10188877 A JP H10188877A JP 8343104 A JP8343104 A JP 8343104A JP 34310496 A JP34310496 A JP 34310496A JP H10188877 A JPH10188877 A JP H10188877A
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Abstract
試料を霧化するネブライザーと、前記ネブライザーから
の霧化された試料を導入し、前記霧化された試料のうち
粒径の大きな霧を凝縮し、凝縮液を外部へ排出するスプ
レーチャンバーとを具備する誘導結合プラズマ質量分析
装に関し、短時間で試料切替が行え、試料を節約できる
誘導結合プラズマ質量分析装置を提供することを課題と
する。 【解決手段】 スプレーチャンバー36内へ洗浄液62
を導入する洗浄手段60を設ける。
Description
体の試料が導入され、前記試料を霧化するネブライザー
と、前記ネブライザーからの霧化された試料を導入し、
前記霧化された試料のうち粒径の大きな霧を凝縮し、凝
縮液を外部へ排出するスプレーチャンバーとを具備する
誘導結合プラズマ質量分析装置に関する。
図3は従来の誘導結合プラズマ質量分析装置の構成図で
ある。
る試料タンクである。3はキャリアガス(例えば、Ar)4
の流量を制御するガス流量制御部である。5はガス流量
制御部3からのキャリアガス4と、試料タンク1からの
液体の試料2とが導入され、試料2を霧化するネブライ
ザーである。
て取り付けられ、霧化された試料2のうち、粒径の大き
な霧を凝縮し、凝縮液をドレイン穴6aより外部へ排出
するスプレーチャンバーである。
aから排出された試料2の凝縮液を貯留するドレインタ
ンクである。9はスプレーチャンバー6で霧化された試
料と、ガス流量制御部3からのキャリアガス4とが導入
され、高周波電源10からの電流が供給されるワークコ
イル11によって発生する誘導結合プラズマ(ICP)12
によって、試料2をイオン化するプラズマトーチであ
る。
ン化した試料2中の元素及び各元素濃度を求める質量分
析部である。
導結合プラズマ質量分析装置において、試料2を分析す
る場合、前回分析した試料2′がスプレーチャンバー6
内に残留しているので、最初は、前回分析した試料2′
の分析結果が出てくる(メモリー効果)。
ている前回分析した試料2′が、今回分析する試料2と
完全に置換されるまで、ネブライザー5へ試料2を導入
し続けなければならない問題点がある。
ので、その目的は、短時間で試料切替が行え、試料を節
約できる誘導結合プラズマ質量分析装置を提供すること
にある。
項1記載の発明は、キャリアガス,液体の試料が導入さ
れ、前記試料を霧化するネブライザーと、前記ネブライ
ザーからの霧化された試料を導入し、前記霧化された試
料のうち粒径の大きな霧を凝縮し、凝縮液を外部へ排出
するスプレーチャンバーとを具備する誘導結合プラズマ
質量分析装置において、前記スプレーチャンバー内へ洗
浄液を導入する洗浄手段を設けたことを特徴とする誘導
結合プラズマ質量分析装置である。
プレーチャンバー内へ導入し、スプレーチャンバー内の
残留試料をスプレーチャンバー外部へ排出する。洗浄液
でスプレーチャンバー内の残留試料を洗い流すことによ
り、次回の分析を行う際に、前回行った分析の残留試料
を置換するまで試料を導入する必用が無くなり、短時間
で試料切替が行うことができ、更に、試料の節約もでき
る。
明における前記洗浄手段は、前記スプレイチャンバー内
の前記ネブライザー側の端部まで洗浄することを特徴と
する誘導結合プラズマ質量分析装置である。
より、非常に短時間で試料切替が行える。請求項3記載
の発明は、請求項1又は2記載の発明において、前記ス
プレーチャンバーが接続され、前記スプレーチャンバー
へ前記キャリアガスと同一又は異なる種類のガスを導入
するブレンドガスラインを設け、前記洗浄手段を前記洗
浄液が貯留される密閉タンクと、前記ブレンドガスライ
ン中に設けられ、一方の位置に切り替えると前記ブレン
ドガスラインを流れるガスをストレートに通し、他方の
位置に切り替えると前記ブレンドガスラインを流れるガ
スを前記密閉タンク内へ導き、前記密閉タンク内の洗浄
液を前記ブレンドガスラインへ送出する切替手段とで構
成したことを特徴とする誘導結合プラズマ質量分析装置
である。
レンドガスライン内を流れるキャリアガスと同一又は異
なるガスがスプレーチャンバー内へ導入される。切替手
段を他方の位置へ切り替えると、ブレンドガスライン内
を流れるキャリアガスと同一又は異なるガスが密閉タン
ク内へ導かれ、密閉タンク内の洗浄液がブレンドガスラ
インを介してスプレーチャンバー内へ導入され、スプレ
ーチャンバー内の残留試料がスプレーチャンバー外部へ
排出される。
を洗い流すことにより、次回の分析を行う際に、前回行
った分析の残留試料を置換するまで試料を導入する必用
が無くなり、短時間で試料切替を行うことができ、更
に、試料の節約もできる。
するラインと、ブレンドガスラインとを共用することに
より、コストダウンが図れる。請求項4記載の発明は、
請求項1乃至3のいずれかに記載の発明での洗浄液は、
純水,水溶性洗浄液のうちどちらか一方であることを特
徴とする誘導結合プラズマ質量分析装置である。
用いることで、従来の手法(置換)に比べて素早い切替が
可能となる。また、水溶性洗浄液としては、硝酸水溶液
がある。
形態を説明する。 (1) 第1の実施の形態例 図1は本発明の第1の実施の形態例の構成図である。図
において、31は液体の試料32が貯留される試料タン
クである。33はキャリアガス34の流量を制御するガ
ス流量制御部である。
ガス34と、試料タンク31からの液体の試料32とが
導入され、試料32を霧化するネブライザーである。3
6はネブライザー35にアダプター37を介して取り付
けられ、霧化された試料32のうち、粒径の大きな霧を
凝縮し、凝縮液をドレイン穴36aより外部へ排出する
スプレーチャンバーである。
穴36aから排出された試料32の凝縮液を貯留するド
レインタンクである。39はスプレーチャンバー36で
霧化された試料と、ガス流量制御部33からのキャリア
ガス34とが導入され、高周波電源40からの電流が供
給されるワークコイル41によって発生する誘導結合プ
ラズマ(ICP)42によって、試料32をイオン化するプ
ラズマトーチである。
ン化した試料32中の元素及び各元素濃度を求める質量
分析部である。51はスプレーチャンバー36へキャリ
アガス34と同一又は異なる種類のガス(例えば、窒素
ガス)52を導入するブレンドガスラインである。
浄手段60は、純水や硝酸水溶液等の洗浄液62が貯留
される密閉タンク61と、ブレンドガスライン51中に
設けられ、一方の位置に切り替えるとブレンドガスライ
ン51を流れるガス52をストレートに通し、他方の位
置に切り替えるとブレンドガスライン51を流れるガス
52を密閉タンク61内へ案内し、密閉タンク61内の
洗浄液62をブレンドガスライン51を介してスプレー
チャンバー36へ送出する切替手段としての4方コック
63とで構成されている。
イン51の取り付けを洗浄液がスプレーチャンバー36
内のネブライザー35側の端部まで行き渡るように設け
た。次に、上記構成の作動を説明する。ネブライザー3
5には、試料タンク31からの液体の試料32と、ガス
流量制御部33を介してキャリアガス34とが導入さ
れ、液体の試料32は霧化される。
36へ導入され、霧化された試料32のうち粒径の大き
な霧は凝縮され、ドレイン穴36aを介してドレインタ
ンク38に貯留される。
は一方の位置に切り替えられており、ブレンドガスライ
ン51を介してキャリアガス34と同一又は異なる種類
のガス52がスプレーチャンバー36へ導入される。
と、キャリアガス34と同一又は異なる種類のガス52
とはプラズマトーチ39へ挿入され、高周波電源40か
らの電流が供給されるワークコイル41によって発生す
る誘導結合プラズマ(ICP)42によって、試料32はイ
オン化される。
で、試料32中の元素及び各元素の濃度が分析され、試
料32の分析が完了する。そして、試料32と異なる試
料32′を分析する際には、先ず、洗浄手段60の4方
コック63を他の切替位置へ操作する。すると、ガス5
2は密閉タンク61へ案内され、密閉タンク61内の洗
浄液62がブレンドガスライン51を介して、スプレー
チャンバー36へ導入され、スプレーチャンバー36内
が洗浄され、残留試料32がドレイン穴36aを介して
スプレーチャンバー36外部へ排出され、ドレインタン
ク38に貯留される。
一方の切替位置へ戻し、試料32と異なる試料32′の
分析を行う。上記構成によれば、洗浄液62でスプレー
チャンバー36内の残留試料32を洗い流すことによ
り、次回の分析を行う際に、前回行った分析の残留試料
32を置換するまで試料32′を導入する必用が無くな
り、短時間で試料切替を行うことができ、更に、試料の
節約もできる。
6へ導入するラインと、ブレンドガスライン51とを共
用することにより、コストダウンが図れる。尚、本発明
は、上記実施の形態例に限定するものではない。上記実
施の形態例では、ブレンドガスライン51を用いて、洗
浄液62をスプレーチャンバー36内へ導入するように
したが、スプレーチャンバー36へ独立した洗浄ライン
を接続し、ポンプ等で洗浄液をスプレーチャンバー36
内へ導入し、スプレーチャンバー36内の洗浄を行うよ
うにしても良い。
尚、本実施の形態例と第1の実施の形態例との相違点
は、洗浄手段のみであり、他の部分は同一なので、図2
において、図1と同一部分には、同一符号を付し、それ
らの説明は省略する。
1洗浄手段160は、第1の洗浄液(例えば、純水)16
2が貯留される第1の密閉タンク161と、ブレンドガ
スライン51中に設けられ、一方の位置に切り替えると
ブレンドガスライン51を流れるガス52をストレート
に通し、他方の位置に切り替えるとブレンドガスライン
51を流れるガス52を第1の密閉タンク161内へ導
入し、第1の密閉タンク161内の第1の洗浄液162
がブレンドガスライン51へ送出する切替手段としての
第1の4方コック163とで構成されている。
の洗浄手段160と直列に設けられる第2の洗浄手段2
60は、第2の洗浄液(例えば、硝酸水溶液)262が貯
留される第2の密閉タンク261と、ブレンドガスライ
ン51中に設けられ、一方の位置に切り替えるとブレン
ドガスライン51を流れるガス52をストレートに通
し、他方の位置に切り替えるとブレンドガスライン51
を流れるガス52を第2の密閉タンク261内へ導入
し、第2の密閉タンク261内の第2の洗浄液262が
ブレンドガスライン51へ送出する切替手段としての第
2の4方コック263とで構成されている。
イン51の取り付けを洗浄液がスプレーチャンバー36
内のネブライザー35側の端部まで行き渡るように設け
た。次に、上記構成の作動を説明する。ネブライザー3
5には、試料タンク31からの液体の試料32と、ガス
流量制御部33を介してキャリアガス34とが導入さ
れ、液体の試料32は霧化される。
36へ導入され、霧化された試料32のうち粒径の大き
な霧は凝縮され、ドレイン穴36aを介してドレインタ
ンク38に貯留される。
の洗浄手段260の第1及び第2の4方コック163,
263は一方の位置に切り替えられており、ブレンドガ
スライン51を介してキャリアガス34と同一又は異な
る種類のガス52がスプレーチャンバー36へ導入され
る。
と、キャリアガス34と同一又は異なる種類のガス52
とはプラズマトーチ39へ挿入され、高周波電源40か
らの電流が供給されるワークコイル41によって発生す
る誘導結合プラズマ(ICP)42によって、試料32はイ
オン化される。
は異なる種類のガス52により、イオン化される試料3
2の量が制御される。イオン化された試料32は質量分
析部43で、試料32中の元素及び各元素の濃度が分析
され、試料32の分析が完了する。
析する際には、先ず、第1の洗浄手段160の第1の4
方コック163を他の切替位置へ操作する。すると、ガ
ス52は第1の密閉タンク161へ案内され、第1の密
閉タンク161内の第1の洗浄液162がブレンドガス
ライン51を介して、スプレーチャンバー36へ導入さ
れ、スプレーチャンバー36内が洗浄され、残留試料3
2がドレイン穴36aを介してスプレーチャンバー36
外部へ排出され、ドレインタンク38に貯留される。
コック163を一方の切替位置へ戻し、第2の洗浄手段
260の第2の4方コック263を他の切替位置へ操作
する。すると、ガス52は第2の密閉タンク261へ案
内され、第2の密閉タンク261内の第2の洗浄液16
2がブレンドガスライン51を介して、スプレーチャン
バー36へ導入され、スプレーチャンバー36内が洗浄
され、残留試料32がドレイン穴36aを介してスプレ
ーチャンバー36外部へ排出され、ドレインタンク38
に貯留される。
方コック263を一方の切替位置へ戻し、試料32と異
なる試料32′の分析を行う。尚、上記実施の形態例で
は、洗浄時に、第1及び第2洗浄液162,262でス
プレーチャンバー36内を洗浄するようにしたが、試料
32,32′の種類に応じて、第1の洗浄液162と第
2の洗浄液163の種類を選定し、使い分けるようにし
ても良い。
162,262でスプレーチャンバー36内の残留試料
32を洗い流すことにより、次回の分析を行う際に、前
回行った分析の残留試料32を置換するまで試料32′
を導入する必用が無くなり、短時間で試料切替を行うこ
とができ、更に、試料の節約もできる。
2をスプレーチャンバー36へ導入するラインと、ブレ
ンドガスライン51とを共用することにより、コストダ
ウンが図れる。
バー36内の残留試料32を洗い流した後に、更に、第
2の洗浄液でスプレーチャンバー36内の残留試料32
洗い流すことにより、第1の実施の形態例より、更に洗
浄効果をあげることが可能となる。
よれば、スプレーチャンバー内へ洗浄液を導入する洗浄
手段を設け、試料分析後、洗浄液でスプレーチャンバー
内の残留試料を洗い流すことにより、次回の分析を行う
際に、前回行った分析の残留試料を置換するまで試料を
導入する必用が無くなり、短時間で試料切替が行うこと
ができ、更に、試料の節約もできる。
載の発明の洗浄手段は、ネブライザー側の端部まで洗浄
することにより、非常に短時間で試料切替が行える。請
求項3記載の発明によれば、請求項1又は2記載の発明
において、前記スプレーチャンバーが接続され、前記ス
プレーチャンバーへ前記キャリアガスと同一又は異なる
種類のガスを導入するブレンドガスラインを設け、前記
洗浄手段を前記洗浄液が貯留される密閉タンクと、前記
ブレンドガスライン中に設けられ、一方の位置に切り替
えると前記ブレンドガスラインを流れるガスをストレー
トに通し、他方の位置に切り替えると前記ブレンドガス
ラインを流れるガスを前記密閉タンク内へ導き、前記密
閉タンク内の洗浄液を前記ブレンドガスラインへ送出す
る切替手段とで構成したことにより 洗浄液でスプレー
チャンバー内の残留試料を洗い流すことにより、次回の
分析を行う際に、前回行った分析の残留試料を置換する
まで試料を導入する必用が無くなり、短時間で試料切替
を行うことができ、更に、試料の節約もできる。
するラインと、ブレンドガスラインとを共用することに
より、コストダウンが図れる。請求項4記載の発明によ
れば、請求項1乃至3のいずれかに記載の発明での洗浄
液は、純水,水溶性洗浄液のうちどちらか一方としたこ
とにより、従来の手法(置換)に比べて素早い切替が可能
となる。
である。
Claims (4)
- 【請求項1】 キャリアガス,液体の試料が導入され、
前記試料を霧化するネブライザーと、 前記ネブライザーからの霧化された試料を導入し、前記
霧化された試料のうち粒径の大きな霧を凝縮し、凝縮液
を外部へ排出するスプレーチャンバーとを具備する誘導
結合プラズマ質量分析装置において、 前記スプレーチャンバー内へ洗浄液を導入する洗浄手段
を設けたことを特徴とする誘導結合プラズマ質量分析装
置。 - 【請求項2】 前記洗浄手段は、前記スプレイチャンバ
ー内の前記ネブライザー側の端部まで洗浄することを特
徴とする請求項1記載の誘導結合プラズマ質量分析装
置。 - 【請求項3】 前記スプレーチャンバーが接続され、前
記スプレーチャンバーへ前記キャリアガスと同一又は異
なる種類のガスを導入するブレンドガスラインを設け、 前記洗浄手段を前記洗浄液が貯留される密閉タンクと、 前記ブレンドガスライン中に設けられ、一方の位置に切
り替えると前記ブレンドガスラインを流れるガスをスト
レートに通し、他方の位置に切り替えると前記ブレンド
ガスを流れるガスを前記密閉タンク内へ導き、前記密閉
タンク内の洗浄液を前記ブレンドガスラインへ送出する
切替手段と、 で構成したことを特徴とする請求項1又は2記載の誘導
結合プラズマ質量分析装置。 - 【請求項4】 前記洗浄液は、純水,水溶性洗浄液のう
ちどちらか一方であることを特徴とする請求項1乃至3
のいずれかに記載の誘導結合プラズマ質量分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34310496A JP3686198B2 (ja) | 1996-12-24 | 1996-12-24 | 誘導結合プラズマ質量分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34310496A JP3686198B2 (ja) | 1996-12-24 | 1996-12-24 | 誘導結合プラズマ質量分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10188877A true JPH10188877A (ja) | 1998-07-21 |
| JP3686198B2 JP3686198B2 (ja) | 2005-08-24 |
Family
ID=18358976
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP34310496A Expired - Fee Related JP3686198B2 (ja) | 1996-12-24 | 1996-12-24 | 誘導結合プラズマ質量分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3686198B2 (ja) |
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