JPH10192265A - Ｘ線測定装置 - Google Patents
Ｘ線測定装置Info
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- JPH10192265A JPH10192265A JP9002495A JP249597A JPH10192265A JP H10192265 A JPH10192265 A JP H10192265A JP 9002495 A JP9002495 A JP 9002495A JP 249597 A JP249597 A JP 249597A JP H10192265 A JPH10192265 A JP H10192265A
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- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 従来の骨塩量測定装置において、Ｘ線発生装
置やＸ線検出装置の動作特性が変化すると測定精度が低
下していた。 【解決手段】 骨塩量測定装置に補正ユニット２０を設
ける。被検体がないところで、補正ユニット２０に設け
られたフィルタを利用してフィルタの減衰量を取得す
る。この減衰量を基準減衰量と比較することによって特
性の変動量を求め、それによって実際の測定値を補正す
る。
置やＸ線検出装置の動作特性が変化すると測定精度が低
下していた。 【解決手段】 骨塩量測定装置に補正ユニット２０を設
ける。被検体がないところで、補正ユニット２０に設け
られたフィルタを利用してフィルタの減衰量を取得す
る。この減衰量を基準減衰量と比較することによって特
性の変動量を求め、それによって実際の測定値を補正す
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はＸ線測定装置、特に
骨塩量測定装置における補正に関する。
骨塩量測定装置における補正に関する。
【０００２】
【従来の技術】Ｘ線測定装置の一種である骨塩量測定装
置はＸ線を被検体に透過させて骨塩量を演算する装置で
あり、骨の疾病診断やその予防のために多くの医療機関
で利用されている。周知のように骨はＸ線を減弱するカ
ルシウムなどのミネラル（骨塩）で構成されており、Ｘ
線透過の際の減衰量（減弱率）を求めることによって、
単位面積当たりの骨塩量が演算される。骨は筋肉や脂肪
などの軟組織に覆われており、その部分でもＸ線の減弱
が生じる。そのような軟組織による影響を排除するため
に、従来の骨塩量測定装置では、２種類のエネルギーの
Ｘ線が利用されている（ＤＸＡ法）。これは各エネルギ
ーで演算された減衰量に基づき連立方程式を解くことに
よって骨部分及び軟組織部分それぞれの減衰量を特定す
るものである。従来においては、２種類のＸ線を発生す
るために、Ｘ線発生装置の電圧が可変されあるいは減弱
フィルタが利用される。
置はＸ線を被検体に透過させて骨塩量を演算する装置で
あり、骨の疾病診断やその予防のために多くの医療機関
で利用されている。周知のように骨はＸ線を減弱するカ
ルシウムなどのミネラル（骨塩）で構成されており、Ｘ
線透過の際の減衰量（減弱率）を求めることによって、
単位面積当たりの骨塩量が演算される。骨は筋肉や脂肪
などの軟組織に覆われており、その部分でもＸ線の減弱
が生じる。そのような軟組織による影響を排除するため
に、従来の骨塩量測定装置では、２種類のエネルギーの
Ｘ線が利用されている（ＤＸＡ法）。これは各エネルギ
ーで演算された減衰量に基づき連立方程式を解くことに
よって骨部分及び軟組織部分それぞれの減衰量を特定す
るものである。従来においては、２種類のＸ線を発生す
るために、Ｘ線発生装置の電圧が可変されあるいは減弱
フィルタが利用される。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記のよう
な骨塩量測定装置において、Ｘ線発生装置及びＸ線検出
装置の動作特性の経年変化（ドリフト）が生じると、最
終的に演算される骨塩量の推定精度が低下することにな
る。これは疾病診断精度にも影響を与える。また、同一
患者の骨塩量を定期的に観察するような場合において、
上記のドリフトが生じると各測定の再現性に問題が生じ
る。この問題は他のＸ線測定装置においても同様に指摘
される。
な骨塩量測定装置において、Ｘ線発生装置及びＸ線検出
装置の動作特性の経年変化（ドリフト）が生じると、最
終的に演算される骨塩量の推定精度が低下することにな
る。これは疾病診断精度にも影響を与える。また、同一
患者の骨塩量を定期的に観察するような場合において、
上記のドリフトが生じると各測定の再現性に問題が生じ
る。この問題は他のＸ線測定装置においても同様に指摘
される。
【０００４】本発明は、上記従来の課題に鑑みなされた
ものであり、その目的は、Ｘ線発生装置やＸ線検出装置
の特性が変動してもその変動を自動的に補正できるＸ線
測定装置を提供することにある。
ものであり、その目的は、Ｘ線発生装置やＸ線検出装置
の特性が変動してもその変動を自動的に補正できるＸ線
測定装置を提供することにある。
【０００５】また、本発明は、経年変化による誤差を削
減して高精度の骨塩量演算を行える骨塩量測定装置を提
供することにある。
減して高精度の骨塩量演算を行える骨塩量測定装置を提
供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、Ｘ線を被検体に透過させて被検体を測定
するＸ線測定装置において、少なくとも１つの補正用の
フィルタと、被検体がＸ線ビーム経路に挿入されていな
い状態で前記フィルタをＸ線ビーム経路に挿入するため
のフィルタ挿入手段と、フィルタ挿入時のＸ線検出値及
びフィルタ非挿入時のＸ線検出値からフィルタ減衰量を
演算する減衰量演算手段と、現在のフィルタ減衰量と基
準減衰量とを比較して、測定結果を補正するための補正
手段と、を含むことを特徴とする。
に、本発明は、Ｘ線を被検体に透過させて被検体を測定
するＸ線測定装置において、少なくとも１つの補正用の
フィルタと、被検体がＸ線ビーム経路に挿入されていな
い状態で前記フィルタをＸ線ビーム経路に挿入するため
のフィルタ挿入手段と、フィルタ挿入時のＸ線検出値及
びフィルタ非挿入時のＸ線検出値からフィルタ減衰量を
演算する減衰量演算手段と、現在のフィルタ減衰量と基
準減衰量とを比較して、測定結果を補正するための補正
手段と、を含むことを特徴とする。
【０００７】上記構成によれば、Ｘ線ビーム経路に被検
体を介在させず、補正用のフィルタをＸ線ビーム経路に
挿入した状態でのＸ線検出値及びその補正用のフィルタ
を挿入しない状態でのＸ線検出値に基づいてフィルタ減
衰量が演算され、そのフィルタ減衰量を基準減衰量と比
較することによってＸ線測定結果の補正がなされる。す
なわち、上記のようなドリフトが生じると、被検体の測
定結果にその影響が現れるが、それと同様に、フィルタ
減衰量にもそのドリフトの影響が現れるため、現在のフ
ィルタ減衰量とあらかじめ記憶された基準減衰量との比
較によってドリフト量を特定し、それに基づいて測定値
の補正を行うものである。
体を介在させず、補正用のフィルタをＸ線ビーム経路に
挿入した状態でのＸ線検出値及びその補正用のフィルタ
を挿入しない状態でのＸ線検出値に基づいてフィルタ減
衰量が演算され、そのフィルタ減衰量を基準減衰量と比
較することによってＸ線測定結果の補正がなされる。す
なわち、上記のようなドリフトが生じると、被検体の測
定結果にその影響が現れるが、それと同様に、フィルタ
減衰量にもそのドリフトの影響が現れるため、現在のフ
ィルタ減衰量とあらかじめ記憶された基準減衰量との比
較によってドリフト量を特定し、それに基づいて測定値
の補正を行うものである。
【０００８】本発明によれば、自動的に感度調整などが
なされるため、装置のメンテナンスを簡易化でき、また
高精度の測定を保証できる。この補正は、定期的に行う
のが望ましく、例えば各測定ごとに行うのが望ましい。
例えば、Ｘ線ビームの走査開始時又は走査終了時に補正
のためのＸ線照射を行うこともできる。補正用のフィル
タは１又は複数用意される。また、複数のＸ線ビーム強
度のそれぞれについてフィルタを切り換えて使用しても
よい。
なされるため、装置のメンテナンスを簡易化でき、また
高精度の測定を保証できる。この補正は、定期的に行う
のが望ましく、例えば各測定ごとに行うのが望ましい。
例えば、Ｘ線ビームの走査開始時又は走査終了時に補正
のためのＸ線照射を行うこともできる。補正用のフィル
タは１又は複数用意される。また、複数のＸ線ビーム強
度のそれぞれについてフィルタを切り換えて使用しても
よい。
【０００９】本発明の好適な態様では、前記基準減衰量
として過去のフィルタ減衰量を保存しておく基準減衰量
記憶手段を含むことを特徴とする。例えば、装置の工場
出荷時や客先設置時などにフィルタ減衰量を測定して、
それを基準減衰量として保存しておくこともできる。ま
た、メンテナンス時にファントムなど利用して感度調整
が終了した時点でフィルタ減衰量を測定し、それを基準
減衰量として保存しておくこともできる。また、過去の
各時点のフィルタ減衰量を蓄積しておけば、装置特性の
履歴を読み取ることもできる。上記のフィルタは、例え
ば塩化ビニールで構成されるが、他の物質を利用するこ
ともできる。
として過去のフィルタ減衰量を保存しておく基準減衰量
記憶手段を含むことを特徴とする。例えば、装置の工場
出荷時や客先設置時などにフィルタ減衰量を測定して、
それを基準減衰量として保存しておくこともできる。ま
た、メンテナンス時にファントムなど利用して感度調整
が終了した時点でフィルタ減衰量を測定し、それを基準
減衰量として保存しておくこともできる。また、過去の
各時点のフィルタ減衰量を蓄積しておけば、装置特性の
履歴を読み取ることもできる。上記のフィルタは、例え
ば塩化ビニールで構成されるが、他の物質を利用するこ
ともできる。
【００１０】本発明の好適な態様では、前記補正のため
のＸ線照射はＸ線ビームの走査範囲内でかつ被検体の存
在領域以外の領域内において行われることを特徴とす
る。かかる構成によれば、被検体をその載置台に載せた
状態において、その被検体を移動させることなく、補正
のためのＸ線照射を行うことができる。
のＸ線照射はＸ線ビームの走査範囲内でかつ被検体の存
在領域以外の領域内において行われることを特徴とす
る。かかる構成によれば、被検体をその載置台に載せた
状態において、その被検体を移動させることなく、補正
のためのＸ線照射を行うことができる。
【００１１】本発明の好適な態様では、前記フィルタ及
び前記フィルタ挿入手段はフィルタユニットを構成し、
前記フィルタユニットはＸ線ビームの走査とともに走査
され、前記フィルタ挿入手段は、前記補正のためのＸ線
照射ポイントにおいて前記フィルタをＸ線ビーム経路に
挿入することを特徴とする。
び前記フィルタ挿入手段はフィルタユニットを構成し、
前記フィルタユニットはＸ線ビームの走査とともに走査
され、前記フィルタ挿入手段は、前記補正のためのＸ線
照射ポイントにおいて前記フィルタをＸ線ビーム経路に
挿入することを特徴とする。
【００１２】本発明の好適な態様では、前記フィルタに
はＸ線ビームを通過させる貫通孔が形成され、前記フィ
ルタ挿入手段は、前記フィルタを横移動させて前記貫通
孔からＸ線ビームをシフトさせることを特徴とする。
はＸ線ビームを通過させる貫通孔が形成され、前記フィ
ルタ挿入手段は、前記フィルタを横移動させて前記貫通
孔からＸ線ビームをシフトさせることを特徴とする。
【００１３】本発明の好適な態様では、前記フィルタ
は、Ｘ線ビームの走査範囲内でかつ被検体の存在領域以
外の領域内に固定配置され、Ｘ線ビーム走査手段が前記
フィルタ挿入手段として機能することを特徴とする。か
かる構成によれば、フィルタ挿入手段を別途設ける必要
がなくなるという利点がある。
は、Ｘ線ビームの走査範囲内でかつ被検体の存在領域以
外の領域内に固定配置され、Ｘ線ビーム走査手段が前記
フィルタ挿入手段として機能することを特徴とする。か
かる構成によれば、フィルタ挿入手段を別途設ける必要
がなくなるという利点がある。
【００１４】本発明の好適な態様では、前記補正手段
は、前記現在のフィルタ減衰量と前記基準減衰量とを比
較して補正係数を演算する係数演算手段と、前記補正係
数を利用して骨塩量を補正する演算を行う補正演算手段
と、を含むことを特徴とする。なお、上記のデータ処理
による補正の他、Ｘ線発生装置の駆動電圧の調整やＸ線
検出装置の出力調整などの物理的な調整によって補正を
行うこともできる。補正が困難な程ドリフトが生じた場
合などにアラームが自動的に発生されるように構成して
もよい。
は、前記現在のフィルタ減衰量と前記基準減衰量とを比
較して補正係数を演算する係数演算手段と、前記補正係
数を利用して骨塩量を補正する演算を行う補正演算手段
と、を含むことを特徴とする。なお、上記のデータ処理
による補正の他、Ｘ線発生装置の駆動電圧の調整やＸ線
検出装置の出力調整などの物理的な調整によって補正を
行うこともできる。補正が困難な程ドリフトが生じた場
合などにアラームが自動的に発生されるように構成して
もよい。
【００１５】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施形態を
図面に基づいて説明する。
図面に基づいて説明する。
【００１６】図１には、本発明に係るＸ線測定装置の好
適な実施形態が示されており、図１はＸ線装置の一種と
しての骨塩量測定装置を示すブロック図である。
適な実施形態が示されており、図１はＸ線装置の一種と
しての骨塩量測定装置を示すブロック図である。
【００１７】この骨塩量測定装置は、腕や腰椎などの骨
塩量を測定する測定装置であり、固定配置されるベット
１６上には被検体１０が載置される。被検体１０は生体
であり、骨１２は軟組織１４によって覆われている。本
実施形態において、ベット１６の下側にはＸ線発生装置
１８が設けられ、ベット１６の上方にはＸ線検出装置２
２が配置されている。Ｘ線発生装置１８は必要に応じて
高エネルギーＸ線又は低エネルギーＸ線を発生する装置
であり、Ｘ線検出装置は被検体１０を透過したＸ線１０
０を検出する装置である。これらのＸ線発生装置１８及
びＸ線検出装置２２は走査装置２４によって両者一体的
に水平方向に駆動される。
塩量を測定する測定装置であり、固定配置されるベット
１６上には被検体１０が載置される。被検体１０は生体
であり、骨１２は軟組織１４によって覆われている。本
実施形態において、ベット１６の下側にはＸ線発生装置
１８が設けられ、ベット１６の上方にはＸ線検出装置２
２が配置されている。Ｘ線発生装置１８は必要に応じて
高エネルギーＸ線又は低エネルギーＸ線を発生する装置
であり、Ｘ線検出装置は被検体１０を透過したＸ線１０
０を検出する装置である。これらのＸ線発生装置１８及
びＸ線検出装置２２は走査装置２４によって両者一体的
に水平方向に駆動される。
【００１８】Ｘ線発生装置１８の上部には、補正ユニッ
ト２０が設けられており、この補正ユニット２０はＸ線
発生装置１８と共に走査される。この補正ユニット２０
はＸ線発生装置１８やＸ線検出装置２２の感度調整のた
めに利用されるものであり、その機能については後に詳
述する。
ト２０が設けられており、この補正ユニット２０はＸ線
発生装置１８と共に走査される。この補正ユニット２０
はＸ線発生装置１８やＸ線検出装置２２の感度調整のた
めに利用されるものであり、その機能については後に詳
述する。
【００１９】制御部２６は、本装置の動作制御を行うも
のであり、また後述する各種演算を実行する。記憶部３
０には各種のデータが保存され、その中には感度補正の
ための基準減衰量も含まれる。記憶部３０は例えばＥＥ
ＰＲＯＭなどで構成される。表示器３２には制御部２６
における演算結果などが表示される。
のであり、また後述する各種演算を実行する。記憶部３
０には各種のデータが保存され、その中には感度補正の
ための基準減衰量も含まれる。記憶部３０は例えばＥＥ
ＰＲＯＭなどで構成される。表示器３２には制御部２６
における演算結果などが表示される。
【００２０】図１に示す実施形態ではＸ線発生装置１８
及びＸ線検出装置２２が水平方向に駆動されているが、
もちろんこれらを固定配置し、ベット１６を水平方向に
駆動してもよい。この場合、走査装置２４によってベッ
ト１６が駆動され、これによって被検体１０自体がスキ
ャンされることになる。
及びＸ線検出装置２２が水平方向に駆動されているが、
もちろんこれらを固定配置し、ベット１６を水平方向に
駆動してもよい。この場合、走査装置２４によってベッ
ト１６が駆動され、これによって被検体１０自体がスキ
ャンされることになる。
【００２１】図２には、補正ユニット２０の具体例が示
されている。この実施形態において補正ユニット２０
は、Ｘ線を減弱するフィルタ板４０とアクチュエータ４
２とアーム４４とで構成されている。アクチュエータ４
２がアーム４４を引き込むと、これに伴ってフィルタ板
４０が水平方向に移動する。フィルタ板４０の中央部に
は貫通孔４０Ａが形成されており、通常の被検体測定時
においてはＸ線ビーム１００が貫通孔４０Ａを通過して
いる。すなわちフィルタ板４０による減弱作用が行われ
ない。一方、補正モードにおいて、アクチュエータ４２
が駆動されると、アーム４４の引き込み運動に伴ってフ
ィルタ板４０が水平方向に移動し、その結果、Ｘ線ビー
ムがフィルタ板４０を透過することになる。これが模式
的に符号１０２で示されている。
されている。この実施形態において補正ユニット２０
は、Ｘ線を減弱するフィルタ板４０とアクチュエータ４
２とアーム４４とで構成されている。アクチュエータ４
２がアーム４４を引き込むと、これに伴ってフィルタ板
４０が水平方向に移動する。フィルタ板４０の中央部に
は貫通孔４０Ａが形成されており、通常の被検体測定時
においてはＸ線ビーム１００が貫通孔４０Ａを通過して
いる。すなわちフィルタ板４０による減弱作用が行われ
ない。一方、補正モードにおいて、アクチュエータ４２
が駆動されると、アーム４４の引き込み運動に伴ってフ
ィルタ板４０が水平方向に移動し、その結果、Ｘ線ビー
ムがフィルタ板４０を透過することになる。これが模式
的に符号１０２で示されている。
【００２２】図３には、補正ユニットの他の実施形態が
示されている。この実施形態では、ベット１６が、その
枠を成すフレーム４６と樹脂などで構成されるベット板
４８とで構成され、ベット板４８の裏側にＸ線を減弱す
る補正用のフィルタ板５０が設けられている。この実施
形態ではアクチュエータに相当するものは設けられてお
らず、Ｘ線ビーム１００を走査してフィルタ板５０に透
過させることによって結果としてフィルタ板５０の挿入
が達成されている。すなわち、フィルタ板５０はＸ線ビ
ームの走査可能領域１０４内において被検体存在領域１
０６以外の非存在領域に設けられており、Ｘ線ビーム１
００をそのような非存在領域に移動させることによって
結果としてＸ線ビームをフィルタ板５０に位置決めする
ことができる。
示されている。この実施形態では、ベット１６が、その
枠を成すフレーム４６と樹脂などで構成されるベット板
４８とで構成され、ベット板４８の裏側にＸ線を減弱す
る補正用のフィルタ板５０が設けられている。この実施
形態ではアクチュエータに相当するものは設けられてお
らず、Ｘ線ビーム１００を走査してフィルタ板５０に透
過させることによって結果としてフィルタ板５０の挿入
が達成されている。すなわち、フィルタ板５０はＸ線ビ
ームの走査可能領域１０４内において被検体存在領域１
０６以外の非存在領域に設けられており、Ｘ線ビーム１
００をそのような非存在領域に移動させることによって
結果としてＸ線ビームをフィルタ板５０に位置決めする
ことができる。
【００２３】上述した補正ユニット２０やフィルタ板５
０などは１又は複数設けられる。例えば互いに異なる減
弱作用を持った複数のフィルタ板を利用してもよい。
０などは１又は複数設けられる。例えば互いに異なる減
弱作用を持った複数のフィルタ板を利用してもよい。
【００２４】本実施形態では、図２に示したフィルタ板
４０として厚さ６ｍｍの塩化ビニール板が利用されてい
る。もちろん例えば薄いアルミ板などを利用することも
できる。なお、Ｘ線は被検体存在時及び被検体非存在時
のいずれにおいても常にベット１６を通過することにな
るためそのベット１６による減弱作用は問題とならな
い。
４０として厚さ６ｍｍの塩化ビニール板が利用されてい
る。もちろん例えば薄いアルミ板などを利用することも
できる。なお、Ｘ線は被検体存在時及び被検体非存在時
のいずれにおいても常にベット１６を通過することにな
るためそのベット１６による減弱作用は問題とならな
い。
【００２５】次に、この骨塩量測定装置による骨塩量測
定及び感度補正について説明する。図１に示したよう
に、被検体１０の骨塩量を測定する場合、まず、被検体
１０がベット１６上に載置され、その後、走査装置２４
によってＸ線発生装置１８及びＸ線検出装置２２を水平
方向にスキャンさせながら所定周期で高エネルギーＸ線
及び低エネルギーＸ線の照射を行う。
定及び感度補正について説明する。図１に示したよう
に、被検体１０の骨塩量を測定する場合、まず、被検体
１０がベット１６上に載置され、その後、走査装置２４
によってＸ線発生装置１８及びＸ線検出装置２２を水平
方向にスキャンさせながら所定周期で高エネルギーＸ線
及び低エネルギーＸ線の照射を行う。
【００２６】図４には、そのようなＸ線ビーム１００の
走査が示されており、被検体２００は軟組織２０４及び
骨２０２で構成され、そのようなＸ線ビームの走査によ
って図４（Ａ）に示すように骨２０２に対応したＸ線強
度パターンが得られる。図４においてＣＰＳH（ｘ）は
ｘ座標における高エネルギーのカウント値であり、これ
と同様にＣＰＳL（ｘ）はｘ座標における低エネルギー
Ｘ線によるカウント値である。このように各座標のデー
タが取得された後、以下に示す（１）式及び（２）式が
演算される。
走査が示されており、被検体２００は軟組織２０４及び
骨２０２で構成され、そのようなＸ線ビームの走査によ
って図４（Ａ）に示すように骨２０２に対応したＸ線強
度パターンが得られる。図４においてＣＰＳH（ｘ）は
ｘ座標における高エネルギーのカウント値であり、これ
と同様にＣＰＳL（ｘ）はｘ座標における低エネルギー
Ｘ線によるカウント値である。このように各座標のデー
タが取得された後、以下に示す（１）式及び（２）式が
演算される。
【００２７】
【数１】 上記式において、ＲL （ｘ）はｘ座標における低エネル
ギーＸ線の減衰量を示しており、ＲH （ｘ）はｘ座標に
おける高エネルギーＸ線の減衰量を示している。なお、
ＣＰＳL （０）及びＣＰＳH（０）はそれぞれ被検体２
００が存在しない位置、具体的にはｘ＝０の座標でのカ
ウント値を示している。
ギーＸ線の減衰量を示しており、ＲH （ｘ）はｘ座標に
おける高エネルギーＸ線の減衰量を示している。なお、
ＣＰＳL （０）及びＣＰＳH（０）はそれぞれ被検体２
００が存在しない位置、具体的にはｘ＝０の座標でのカ
ウント値を示している。
【００２８】上記のように低エネルギーＸ線による減衰
量及び高エネルギーＸ線による減衰量が求められると、
それらに基づいて従来同様に骨塩量が演算される。
量及び高エネルギーＸ線による減衰量が求められると、
それらに基づいて従来同様に骨塩量が演算される。
【００２９】しかしながら、経年変化によってＸ線発生
装置１８やＸ線検出装置２２の動作特性が変化するとそ
れによってカウント値が真の値から変動するおそれがあ
る。そこで、本実施形態では上述したように補正ユニッ
ト２０が設けられており、補正ユニット２０を利用して
感度補正のための補正係数が演算される。以下これにつ
いて詳述する。
装置１８やＸ線検出装置２２の動作特性が変化するとそ
れによってカウント値が真の値から変動するおそれがあ
る。そこで、本実施形態では上述したように補正ユニッ
ト２０が設けられており、補正ユニット２０を利用して
感度補正のための補正係数が演算される。以下これにつ
いて詳述する。
【００３０】本実施形態では、装置の工場出荷時、客先
設置時又は所定の時期に減衰量基準値が取り込まれる。
これは例えばファントムなどの減衰量が既知の物体を利
用してＸ線発生装置やＸ線検出装置の動作特性を調整し
た上で実行される。
設置時又は所定の時期に減衰量基準値が取り込まれる。
これは例えばファントムなどの減衰量が既知の物体を利
用してＸ線発生装置やＸ線検出装置の動作特性を調整し
た上で実行される。
【００３１】この基準減衰量の取込みについて図５を用
いて詳述する。
いて詳述する。
【００３２】Ｓ１０１では、被検体を存在させず、また
フィルタ板をＸ線ビーム経路に挿入させない状態が確認
され、Ｓ１０２では低エネルギーＸ線の照射及び高エネ
ルギーＸ線の照射が行われる。これによって空気中をＸ
線が透過した場合のカウント値であるＣＰＳL-AIR及び
ＣＰＳH-AIRが取り込まれる。そしてＳ１０３では上述
したようにアクチュエータ４２が動作してＸ線ビーム上
にフィルタ板４０が挿入される。Ｓ１０４では、Ｓ１０
２同様に低エネルギー及び高エネルギーが順次照射さ
れ、これによってカウント値ＣＰＳL及びＣＰＳHが取り
込まれる。
フィルタ板をＸ線ビーム経路に挿入させない状態が確認
され、Ｓ１０２では低エネルギーＸ線の照射及び高エネ
ルギーＸ線の照射が行われる。これによって空気中をＸ
線が透過した場合のカウント値であるＣＰＳL-AIR及び
ＣＰＳH-AIRが取り込まれる。そしてＳ１０３では上述
したようにアクチュエータ４２が動作してＸ線ビーム上
にフィルタ板４０が挿入される。Ｓ１０４では、Ｓ１０
２同様に低エネルギー及び高エネルギーが順次照射さ
れ、これによってカウント値ＣＰＳL及びＣＰＳHが取り
込まれる。
【００３３】次に、基準減衰量の取込みすなわち初期設
定を行う場合には、Ｓ１０５において以下の第２式に基
づく演算が実行される。
定を行う場合には、Ｓ１０５において以下の第２式に基
づく演算が実行される。
【００３４】
【数２】 ここでＡＴＴLrefは低エネルギーＸ線を照射した場合に
おけるフィルタの基準減衰量であり、ＡＴＴHrefは高エ
ネルギーＸ線を照射した場合におけるフィルタの基準減
衰量である。Ｓ１０６ではそのような２つの基準減衰量
が図１に示した記憶部３０などに保存される。以上の各
工程によって初期設定が完了する。
おけるフィルタの基準減衰量であり、ＡＴＴHrefは高エ
ネルギーＸ線を照射した場合におけるフィルタの基準減
衰量である。Ｓ１０６ではそのような２つの基準減衰量
が図１に示した記憶部３０などに保存される。以上の各
工程によって初期設定が完了する。
【００３５】一方、被検体の骨塩量測定結果の補正を行
う場合、上述同様に図５に示したＳ１０１〜１０４の各
工程が実行される。そして、今度はその後にＳ１０７が
実行され、以下に示す第３式が演算される。
う場合、上述同様に図５に示したＳ１０１〜１０４の各
工程が実行される。そして、今度はその後にＳ１０７が
実行され、以下に示す第３式が演算される。
【００３６】
【数３】 ここでＡＴＴLは低エネルギーＸ線に対するフィルタの
減衰量であり、ＡＴＴHは高エネルギーＸ線に対するフ
ィルタの減衰量である。
減衰量であり、ＡＴＴHは高エネルギーＸ線に対するフ
ィルタの減衰量である。
【００３７】そして、Ｓ１０８では以下の計算式が実行
され、上述した（１）及び（２）式に基づいて計算され
た被検体の減衰量が補正される。
され、上述した（１）及び（２）式に基づいて計算され
た被検体の減衰量が補正される。
【００３８】
【数４】 ここでＲ’L（ｘ）及びＲ’H（ｘ）はそれぞれ補正後の
被検体の減衰量を示している。これらの減衰量を利用し
て従来同様に骨塩量が演算される。
被検体の減衰量を示している。これらの減衰量を利用し
て従来同様に骨塩量が演算される。
【００３９】以上のように、上記実施形態によれば、装
置の特性に変化が生じても、過去に取得されたフィルタ
の基準減衰量と現在取得されたフィルタの減衰量の比率
によって補正係数を求め、その補正係数を被検体の減衰
量に乗算することによって測定結果の補正を行うことが
できる。なお、上記実施形態では減衰量に対して補正係
数が乗算されていたが、カウント値に対してそれを補正
する補正係数を乗算することによって感度調整を行って
もよい。また、上記実施形態ではデータ演算によって補
正を行ったが、例えばＸ線発生装置１８の電圧調整やＸ
線検出装置２２の感度調整などを行うこともできる。
置の特性に変化が生じても、過去に取得されたフィルタ
の基準減衰量と現在取得されたフィルタの減衰量の比率
によって補正係数を求め、その補正係数を被検体の減衰
量に乗算することによって測定結果の補正を行うことが
できる。なお、上記実施形態では減衰量に対して補正係
数が乗算されていたが、カウント値に対してそれを補正
する補正係数を乗算することによって感度調整を行って
もよい。また、上記実施形態ではデータ演算によって補
正を行ったが、例えばＸ線発生装置１８の電圧調整やＸ
線検出装置２２の感度調整などを行うこともできる。
【００４０】また、上記実施形態ではＸ線ビームのスキ
ャン開始時にフィルタによる減衰量を求めたが、スキャ
ン開始時の他、スキャン終了時においてもそのような減
衰量を求め、それらの平均値を利用して上述のような補
正演算を行うこともできる。このような実施形態によれ
ばＸ線のスキャン時におけるドリフトをさらに補正でき
るという利点がある。
ャン開始時にフィルタによる減衰量を求めたが、スキャ
ン開始時の他、スキャン終了時においてもそのような減
衰量を求め、それらの平均値を利用して上述のような補
正演算を行うこともできる。このような実施形態によれ
ばＸ線のスキャン時におけるドリフトをさらに補正でき
るという利点がある。
【００４１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
Ｘ線発生装置やＸ線検出装置などの特性が変動してもそ
の変動を自動的に補正することができ、特に、本発明に
よれば、経年変化による誤差を削減して高精度の計測を
行うことができる。
Ｘ線発生装置やＸ線検出装置などの特性が変動してもそ
の変動を自動的に補正することができ、特に、本発明に
よれば、経年変化による誤差を削減して高精度の計測を
行うことができる。
【図１】 本発明に係る骨塩量測定装置の全体構成を示
すブロック図である。
すブロック図である。
【図２】 補正ユニットの具体的な構成を示す図であ
る。
る。
【図３】 補正ユニットの他の実施形態を示す図であ
る。
る。
【図４】 Ｘ線ビームの走査によるＸ線強度パターンの
取得を示す図である。
取得を示す図である。
【図５】 初期設定時及び補正実行時における各工程を
示すフローチャートである。
示すフローチャートである。
１８ Ｘ線発生装置、２０ 補正ユニット、２２ Ｘ線
検出装置、２４ 走査装置、２６ 制御部、３０ 記憶
部、４０ フィルタ板、４２ アクチュエータ、４４
アーム。
検出装置、２４ 走査装置、２６ 制御部、３０ 記憶
部、４０ フィルタ板、４２ アクチュエータ、４４
アーム。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小林 正樹 東京都三鷹市牟礼６丁目22番１号 アロカ 株式会社内
Claims (7)
- 【請求項１】 Ｘ線を被検体に透過させて被検体を測定
するＸ線測定装置において、 少なくとも１つの補正用のフィルタと、 被検体がＸ線ビーム経路に挿入されていない状態で前記
フィルタをＸ線ビーム経路に挿入するためのフィルタ挿
入手段と、 フィルタ挿入時のＸ線検出値及びフィルタ非挿入時のＸ
線検出値からフィルタ減衰量を演算する減衰量演算手段
と、 現在のフィルタ減衰量と基準減衰量とを比較して、測定
結果を補正するための補正手段と、 を含むことを特徴とするＸ線測定装置。 - 【請求項２】 請求項１記載の装置において、 前記基準減衰量として過去のフィルタ減衰量を保存して
おく基準減衰量記憶手段を含むことを特徴とするＸ線測
定装置。 - 【請求項３】 請求項１記載の装置において、 前記補正のためのＸ線照射はＸ線ビームの走査範囲内で
かつ被検体の存在領域以外の領域内において行われるこ
とを特徴とするＸ線測定装置。 - 【請求項４】 請求項１記載の装置において、 前記フィルタ及び前記フィルタ挿入手段がフィルタユニ
ットを構成し、 前記フィルタユニットはＸ線ビームの走査とともに走査
され、 前記フィルタ挿入手段は、前記補正のための１又は複数
のＸ線照射ポイントにおいて前記フィルタをＸ線ビーム
経路に挿入することを特徴とするＸ線測定装置。 - 【請求項５】 請求項４記載の装置において、 前記フィルタにはＸ線ビームを通過させる貫通孔が形成
され、 前記フィルタ挿入手段は、前記フィルタを横移動させて
前記貫通孔からＸ線ビームをシフトさせることを特徴と
するＸ線測定装置。 - 【請求項６】 請求項１記載の装置において、 前記フィルタは、Ｘ線ビームの走査範囲内でかつ被検体
の存在領域以外の領域内に固定配置され、 Ｘ線ビーム走査手段が前記フィルタ挿入手段として機能
することを特徴とするＸ線測定装置。 - 【請求項７】 請求項１記載の装置において、 前記補正手段は、 前記現在のフィルタ減衰量と前記基準減衰量とを比較し
て補正係数を演算する係数演算手段と、 前記補正係数を利用して骨塩量を補正する演算を行う補
正演算手段と、 を含むことを特徴とするＸ線測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP00249597A JP3256667B2 (ja) | 1997-01-10 | 1997-01-10 | Ｘ線測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP00249597A JP3256667B2 (ja) | 1997-01-10 | 1997-01-10 | Ｘ線測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10192265A true JPH10192265A (ja) | 1998-07-28 |
| JP3256667B2 JP3256667B2 (ja) | 2002-02-12 |
Family
ID=11530950
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP00249597A Expired - Fee Related JP3256667B2 (ja) | 1997-01-10 | 1997-01-10 | Ｘ線測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3256667B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005511175A (ja) * | 2001-12-05 | 2005-04-28 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 放射線装置の入射線量を測定する方法 |
| JP2013150762A (ja) * | 2011-12-28 | 2013-08-08 | Fujifilm Corp | 骨塩定量分析方法および骨塩定量分析システム、並びに記録媒体 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60237349A (ja) * | 1984-05-11 | 1985-11-26 | Hitachi Ltd | 螢光ｘ線構造解析装置 |
| JPS62161348A (ja) * | 1985-11-15 | 1987-07-17 | ピカ− インタ−ナシヨナル インコ−ポレイテツド | Ｘ線撮影装置 |
| JPH03185344A (ja) * | 1989-12-14 | 1991-08-13 | Aloka Co Ltd | Ｘ線を用いた成分分析方法及び装置 |
| JPH0411473A (ja) * | 1990-04-27 | 1992-01-16 | Fuji Photo Film Co Ltd | 骨塩定量分析方法および装置 |
| JPH06179A (ja) * | 1992-06-22 | 1994-01-11 | Aloka Co Ltd | 骨塩量測定方法及び装置 |
-
1997
- 1997-01-10 JP JP00249597A patent/JP3256667B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60237349A (ja) * | 1984-05-11 | 1985-11-26 | Hitachi Ltd | 螢光ｘ線構造解析装置 |
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| JPH06179A (ja) * | 1992-06-22 | 1994-01-11 | Aloka Co Ltd | 骨塩量測定方法及び装置 |
Cited By (2)
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| JP2013150762A (ja) * | 2011-12-28 | 2013-08-08 | Fujifilm Corp | 骨塩定量分析方法および骨塩定量分析システム、並びに記録媒体 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3256667B2 (ja) | 2002-02-12 |
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