JPH10207580A - パワーオンリセット発生回路および半導体集積回路並びにicカード - Google Patents

パワーオンリセット発生回路および半導体集積回路並びにicカード

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JPH10207580A
JPH10207580A JP9006165A JP616597A JPH10207580A JP H10207580 A JPH10207580 A JP H10207580A JP 9006165 A JP9006165 A JP 9006165A JP 616597 A JP616597 A JP 616597A JP H10207580 A JPH10207580 A JP H10207580A
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JP
Japan
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circuit
power
voltage
reset
generation circuit
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Withdrawn
Application number
JP9006165A
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English (en)
Inventor
Shigeru Kadokawa
滋 門川
Hiroshi Ogawara
浩 大河原
Masaaki Ando
公明 安藤
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Hitachi Ltd
Hitachi Solutions Technology Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi ULSI Systems Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 電源電圧が所定のレベルに達したときに正確
にパワーオンリセット信号を発生できるとともに、電源
電圧が変動しても許容範囲内であればパワーオンリセッ
ト信号を発生しないようなパワーオンリセット発生回路
の実現が望まれていた。 【解決手段】 電源電圧を分圧する抵抗分圧回路(R1
1,R12)で分圧された電圧とバンドギャップ基準電
圧発生回路からの基準電圧Vrefとを比較する比較器
(CMP)の入力端子に抵抗(R13)を介して基準電
圧を入力するとともに、直列形態の抵抗(R14)とス
イッチトランジスタ(Qs)とからなるプルダウン回路
を設け、前記スイッチトランジスタ(Qs)を出力信号
によって制御して、パワーオンリセット信号発生後は上
記抵抗(R13,R14)によって上記比較器の比較レ
ベルをパワーオンリセット信号発生前よりも強制的に低
くするようにした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体集積回路に
おけるパワーオンリセット発生回路に適用して有効な技
術に関し、特に非接触型ICカードに用いられるトラン
シーバ用半導体集積回路におけるパワーオンリセット発
生回路に利用して有効な技術に関する。
【0002】
【従来の技術】非接触型ICカードとして、コイルの相
互誘導現象を利用してデータの送受信および電力の供給
を受けるようにしたものが提案されている。かかる非接
触型ICカードにはデータ処理を行なうマイクロコンピ
ュータと、マイクロコンピュータとコイルとの間に接続
されて外部装置との間でデータの送受信を行なうための
トランシーバ用半導体集積回路が搭載される。このよう
なトランシーバ用半導体集積回路においては、電磁結合
を使用してコイルを介して入力される交流信号から電源
電圧および受信データ信号が生成される。そして、交流
信号を整流して直流電圧を発生する際すなわち電源電圧
が立ち上がるときにマイクロコンピュータに対して供給
されるリセットパルスを形成するためのパワーオンリセ
ット発生回路が設けられる。
【0003】従来、パワーオンリセット発生回路として
は、例えば図7(A),(B)に示すような回路があっ
た。
【0004】このうち、図7(A)に示す回路は、CR
時定数回路とインバータとを組合せ、時定数回路の電位
がインバータG1の論理しきい値レベルを超えたときに
パワーオンリセットパルスを発生するようにしたもので
ある。一方、図7(B)に示す回路は、図7(A)の回
路の前に電源電圧を抵抗分割する分圧回路と、分圧され
た電圧と基準電圧Vrefとを比較する比較器CMPとを
設けたものである。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明者等は、非接触
型ICカードに用いられるトランシーバ用半導体集積回
路におけるパワーオンリセット発生回路について検討し
た。
【0006】電源電圧が立ち上がるときにマイクロコン
ピュータに対してリセットパルスを出力するパワーオン
リセット発生回路は、マイクロコンピュータが誤動作し
ない電源電圧になってからリセットパルスを出力する必
要があるが、図7(A)の回路にあっては、電源電圧の
レベルを検出するインバータ自身の電源電圧が変動する
とともに、プロセスのばらつきによりインバータの論理
しきい値がばらついてしまうため、リセットパルスを発
生する電源電圧レベルの設定が困難であるという欠点が
ある。
【0007】一方、図7(B)の回路にあっては、電源
電圧が下がったときに不要なリセットパルスを発生する
おそれがある。特に非接触型ICカードの場合にはカー
ドの位置決めが比較的ラフであるので、カードとそのリ
ード・ライト装置との結合状態が変化して電源電圧が変
動し易いため上記のような問題点が発生するおそれが高
い。
【0008】本発明の目的は、電源電圧が所定のレベル
に達したときに正確にパワーオンリセット信号を発生で
きるパワーオンリセット発生回路を提供することにあ
る。
【0009】本発明の他の目的は、電源電圧が変動して
も許容範囲内であればパワーオンリセット信号を発生し
ないようなパワーオンリセット発生回路を提供すること
にある。
【0010】この発明の前記ならびにそのほかの目的と
新規な特徴については、本明細書の記述および添附図面
から明らかになるであろう。
【0011】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を説明すれば、下記のと
おりである。
【0012】すなわち、本発明のパワーオンリセット発
生回路は、電源電圧を分圧する抵抗分圧回路で分圧され
た電圧とバンドギャップ基準電圧発生回路からの基準電
圧とを比較する比較器の入力端子に抵抗を介して基準電
圧を入力するとともに直列形態の抵抗とスイッチトラン
ジスタとからなるプルダウン回路を接続し、前記スイッ
チトランジスタを出力信号によって制御して、パワーオ
ンリセット信号発生後は上記抵抗によって上記比較器の
比較レベルをパワーオンリセット信号発生前よりも強制
的に低くする。また、上記比較器の後段に該比較器の出
力をイネーブル信号とし、入力交流信号を波形整形する
受信回路もしくは入力回路からの信号によって電源電圧
による充電を開始する時定数回路と、該時定数回路の充
電電圧のレベルを判定して所定のレベルになったときに
パワーオンリセット信号を出力する論理回路とを設ける
ようにしたものである。
【0013】上記した手段によれば、半導体集積回路に
おいて温度変化や電源電圧の変動にかかわらず一定の電
圧を発生することができるバンドギャップ基準電圧発生
回路からの基準電圧に基づいてパワーオンリセット信号
を出力するので、電源電圧が所定のレベルに達したとき
に正確にパワーオンリセット信号を発生することができ
るとともに、パワーオンリセット信号発生後は比較器の
比較レベルを低くするため電源電圧が変動してもそれが
許容範囲内すなわち回路(マイクロコンピュータ等)の
安定動作レベル以上であればパワーオンリセット信号を
発生しないようにすることができる。また、上記比較器
の後段に該比較器の出力をイネーブル信号とする時定数
回路を設けているので、電源電圧が回路の安定動作レベ
ルを充分に超えてからパワーオンリセット信号を発生さ
せることができる。
【0014】上記時定数回路としては、入力交流信号を
波形整形する受信回路もしくは入力回路からの信号によ
ってオン、オフ動作するスイッチと該スイッチがオンし
たときに電荷が注入される容量とからなるチャージポン
プ回路を用いるようにする。これによって、入力交流信
号の強度すなわち振幅に応じてチャージポンプ回路を充
電動作させ、電源電圧の立ち上がり速度に応じた適切な
タイミングでパワーオンリセット信号を出力させること
ができる。
【0015】さらに、上記パワーオンリセット発生回路
の次段に上記パワーオンリセット信号発生後にクロック
発生回路からのクロック信号を計数し所定数以上になっ
たときにリセットパルスを出力するリセットパルス発生
回路を設けると良い。これによって、クロック信号が確
実に発生した後にマイクロコンピュータ等に対するリセ
ットパルスを発生させることができ、マイクロコンピュ
ータ等の誤動作を防止することができる。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例について図
面を用いて説明する。
【0017】図1は本発明に係るパワーオンリセット発
生回路を備えた非接触型ICカードに用いられるトラン
シーバ用IC10の構成およびこれを搭載したICカー
ド全体の概略構成を示すブロック図である。
【0018】この実施例のトランシーバ用ICを搭載し
たICカードは、例えばプリント配線層により渦巻き状
に形成されたコイルLと、該コイルLの両端子に接続さ
れデータの送受信および電源電圧の生成を行なうトラン
シーバ用IC10と、該トランシーバ用IC10に接続
されデータの処理、記憶および送信データの形成を行な
うマイクロコンピュータチップ20と、上記トランシー
バ用IC10に接続された外付けのコンデンサCF,C
t1,Ct2等により構成されている。図には1つの渦
巻きパターンからなるコイルが示されているが、外部の
リード・ライト装置のヘッドの構成に応じて同様の渦巻
きパターンを2つ有するコイルとされる場合もある。
【0019】上記マイクロコンピュータチップ20は記
憶装置として電気的に書込み・消去が可能なEEPRO
Mを内蔵しており、ICカードがリード・ライト装置か
ら排出されて電源の供給を受けない状態においてもデー
タを保持できるように構成されている。
【0020】特に制限されないが、トランシーバ用IC
10内の各ブロックを構成する回路素子は、公知の半導
体集積回路の製造技術によって、単結晶シリコンのよう
な1個の半導体基板上において形成される。
【0021】1はトランシーバ用IC10の外部端子T
1,T2に接続(外付け)された電磁結合手段としての
コイルLより入力された交流信号を整流して直流電源電
圧を生成するダイオードブリッジからなる整流回路で、
この整流回路1の出力ノードは外部端子T3に接続さ
れ、この外部端子T3には10nFのような比較的大き
な容量値を有する電源フィルタ容量CFが接続可能にさ
れている。2は整流回路1によって整流された電圧の変
動を吸収して6〜20Vの所定の電位の電源電圧Vccを
生成する電圧リミッタ回路、3は生成された電源電圧V
ccを安定化させるシリーズレギュレータからなる電源安
定化回路で、この電源安定化回路3から出力された電源
電圧VDDは当該チップ内部の各回路に供給されるととも
に、外部端子T4に接続されたマイクロコンピュータチ
ップ20へも供給される。
【0022】4は上記電源安定化回路3から出力される
電源電圧VDDを監視して電源投入時にパワーオンリセッ
ト信号を発生するパワーオンリセット発生回路、5は外
部のマイクロコンピュータチップ20に対するリセット
パルスPrを発生するリセットパルス発生回路である。
このリセットパルス発生回路5は、上記パワーオンリセ
ット発生回路4の出力がハイレベルに立ち上がってから
後述のPLL回路からなるクロック発生回路より出力さ
れるクロック信号を所定数計数したときに、リセットパ
ルスPrを形成して外部端子T5よりマイクロコンピュ
ータチップ20へ出力する。
【0023】6は上記コイル接続用外部端子T1,T2
に接続され入力交流信号を波形整形して出力するデータ
受信回路、7は波形整形された信号から「0」,「1」
のデータを再生するデータ復調回路で、復調されたデー
タは外部端子T6よりマイクロコンピュータチップ20
へ出力される。この実施例のトランシーバ用ICは、特
に制限されないが、PSK(Phase Shift Keying)変調
された信号の位相変化を検出してデータを復調するよう
に構成されている。上記データ復調回路7は、例えば後
述のクロック発生回路から供給されるクロック信号に同
期して、上記データ受信回路6から出力された信号をラ
ッチするフリップフロップ等により構成することができ
る。
【0024】8は上記データ受信回路6で波形整形され
た信号に基づいて入力交流信号に含まれている4.91
MHzの周波数の基準クロック信号に同期したクロック
信号CLKを発生するクロック発生回路で、発生された
クロックCLKはチップ内のリセットパルス発生回路5
や外部端子T7を介してチップ外部のマイクロコンピュ
ータ20等へ供給される。9は外部端子T8を介してマ
イクロコンピュータチップ20より入力されるシリアル
送信データに基づいて、外部端子T9,T10にドレイ
ン端子が接続されているドライブMOSFET Qd
1,Qd2をオン、オフ駆動して、コンデンサCt1,
Ct2とコイルLとからなる共振回路を共振状態および
非共振状態に切り換えることでデータを送信するバッフ
ァ回路等からなるデータ送信回路である。
【0025】この実施例のPLL回路からなる上記クロ
ック発生回路8は、外部から入力された交流信号から抽
出された基準クロック信号CKinと帰還クロック信号C
Kfの位相差を検出する位相比較器80と、抵抗R1,
R2と容量C1とからなり位相差に応じた制御電圧Vc
oを発生するループフィルタ83と、このループフィル
タ83からの制御電圧Vcoに応じた周波数で発振する
電圧制御発振器84と、上記ループフィルタ83の出力
電圧Vcoを監視してPLLの誤ロックを防止する信号
および発振器の発振許容信号を形成して上記チャージポ
ンプ82及び電圧制御発振器84に供給する誤ロック防
止回路85と、上記電圧制御発振器84の発振信号を分
周する分周器86とにより構成されている。
【0026】上記分周器86より出力されたクロック信
号CLKは帰還クロックCKfとして上記位相比較器8
1に帰還されるとともに、システムクロックとして上記
データ復調回路7およびリセットパルス発生回路5並び
に外部のマイクロコンピュータチップ20に対して供給
される。
【0027】図2には、上記パワーオンリセット発生回
路4の実施例が示されている。
【0028】この実施例のパワーオンリセット発生回路
4は、上記電源安定化回路3から供給される電源電圧V
DDと接地点との間に直列に接続された抵抗R11,R1
2からなる分圧回路と、前記抵抗R11,R12の接続
ノードn1の電位を反転入力端子に受けかつ非反転入力
端子にシリコンのバンドギャップに相当する電圧(1.
0〜1.2V)を発生するバンドギャップ基準電圧発生
回路からの基準電圧Vrefが印加された比較器CMP
と、該比較器CMPの出力をイネーブル信号として動作
する時定数回路CRGと、その後段に接続されたインバ
ータG1,G2とから構成されている。
【0029】そして、上記比較器CMPの非反転入力側
端子に、抵抗R13を介して基準電圧Vrefが入力され
るとともに直列形態の抵抗R14とスイッチトランジス
タQsとからなるプルダウン回路が接続され、前記スイ
ッチトランジスタQsのベースにインバータG2の出力
信号が抵抗R15を介して帰還されるように構成されて
いる。また、上記時定数回路CRGは、上記比較器CM
Pの出力電圧Vcomを抵抗R16を介してベースに受
け、エミッタが接地点に接続された制御用トランジスタ
Q1と、該トランジスタQ1のコレクタにスイッチMO
SFET Q2を介して接続された定電流源I1と、上
記トランジスタQ1のコレクタと接地点との間に接続さ
れた容量C2とにより構成され、上記MOSFET Q
2のゲートに前述のデータ受信回路6からのパルスφi
が入力され、Q2と容量C2との接続ノードn2に前記
インバータG1の入力端子が接続されている。
【0030】次に、上記パワーオンリセット発生回路4
の動作を図3のタイミングチャートを用いて説明する。
【0031】電源電圧VDDが立ち上がり始めると、まず
比較器CMPが活性化されてその出力がハイレベルとな
ってトランジスタQ1がオンされ、容量C2の電荷が引
き抜かれて、ノードn2の電位は接地電位とされる。従
って、このときインバータG1の出力はハイレベル、G
2の出力はロウレベルであり、比較器CMPの非反転入
力端子側のトランジスタQsはオフ状態とされ、非反転
入力端子には基準電圧Vrefがそのまま印加される。そ
して、電源電圧VDDがさらに上昇して抵抗R11,R1
2によって分圧されたノードn1の電位が基準電圧Vre
fよりも高くなると、上記比較器CMPの出力Vcom
がロウレベルに反転してトランジスタQ1がオフされる
(図3のタイミングt1)。
【0032】一方、スイッチMOSFET Q2のゲー
トにはデータ受信回路6からクロック状のパルスφiが
入って来るため、Q2はオン、オフを繰り返し、Q2が
オンしている間に定電流源I1から容量C2に電荷が流
れ込んで充電され、ノードn2の電位Vn2が徐々に上昇
する。このノードn2の電位Vn2がインバータG1の論
理しきい値よりも高くなる(図3のタイミングt2)
と、インバータG1の出力がハイレベルからロウレベル
に変化し、これがパワーオンリセット信号Ponとして
次段のリセットパルス発生回路5に供給される。する
と、カウンタからなるリセットパルス発生回路5はクロ
ックパルスを計数し、所定数を計数すると出力がロウレ
ベルからハイレベルへ変化し(図3のタイミングt
3)、これがリセットパルスPrとしてマイクロコンピ
ュータチップ20等へ出力される。
【0033】また、インバータG1の出力がロウレベル
になると次段インバータG2の出力はハイレベルに変化
しこれによってトランジスタQsがオンされる。する
と、比較器CMPの非反転入力端子には基準電圧Vref
を抵抗R13とR14の比で分割した電圧Vcが印加さ
れ、比較レベルがパワーオンリセット信号発生前よりも
強制的に低くされる。その結果、トランジスタQsがな
く基準電圧Vrefでのみ電源電圧レベルを判定する場合
には、図3の符号Aのように、電源電圧VDDが判定レベ
ルVb(=Vref)以下に低下しただけで上記比較器
CMPの出力が反転してトランジスタQsがオンされ、
容量C2の電荷がディスチャージされてパワーオンリセ
ット信号Ponがハイレベルに立ち上がってリセットパ
ルスPrを立ち下げてしまうものが、実施例の回路では
電源電圧VDDがVbよりも低いVc以下に下がったとき
に初めて比較器CMPの出力が反転しパワーオンリセッ
ト信号Ponがロウレベルに変化するようになる(図3
のタイミングt4)。
【0034】従って、上記電圧Vcがマイクロコンピュ
ータの動作安定電圧と一致するように抵抗R13とR1
4の抵抗比を設定しておくことにより、電源電圧VDDが
充分に立ち上がってマイクロコンピュータが動作を開始
した後にカードがずれてリード・ライト装置との電磁結
合が緩くなり電源電圧VDDが低下したような場合に、電
源電圧がマイクロコンピュータの動作安定電圧Vcより
も高ければリセットパルスPrが立ち下がってリセット
がかかるのを回避することができるようになる。つま
り、電源電圧VDDが図3に鎖線Aで示すような変動をし
た場合、従来のパワーオンリセット発生回路ではパワー
オンリセット信号が立ち下がってマイクロコンピュータ
等に対してリセットがかかってしまうものが、上記実施
例のパワーオンリセット発生回路を使用した場合にはマ
イクロコンピュータ等にリセットがかからないようにさ
れる。なお、図3において、Vdは実施例の回路が動作
する最低電圧レベルである。
【0035】図4には、上記パワーオンリセット発生回
路4のより具体的な実施例回路が示されている。
【0036】図4において、図2の回路と同一の回路部
分には同一の符号が付されている。この実施例の回路は
基本的な構成は図2の回路と同じであり、同様の作用効
果を有する。第1の実施例回路に加えてこの実施例で
は、比較器CMPの反転入力端子(−)と接地点との間
に電源電圧VDDからノイズを除去する容量C3が設けら
れている。そして、電源電圧VDDを分圧する抵抗R1
1,R12はそれぞれ10kΩ、90kΩのような抵抗
値に設定され、容量C2は25pFのような容量値に設
定されている。
【0037】比較器CMPは、ダーリントン接続された
入力トランジスタQ11,Q12とQ13,Q14、ア
クティブ負荷トランジスタQ15,Q16、出力エミッ
タ接地トランジスタQ17および定電流用トランジスタ
Q21〜Q24からなる差動増幅回路11と、トランジ
スタQ31〜Q40からなり上記定電流用トランジスタ
Q21〜Q24にベースバイアス電圧を与えるバイアス
回路12とから構成されている。時定数回路CRGを構
成する定電流源I1は、比較器CMPの非反転入力端子
に印加される基準電圧Vrefと同一の基準電圧がベース
に印加され所定の電流を流すトランジスタ Q41と、
このトランジスタQ41のコレクタ側に接続されカレン
トミラー回路を構成するMOSFET Q42,Q43
とから構成され、Q43のドレインが前記スイッチMO
SFET Q2のドレインに接続されて容量C2をチャ
ージアップするための電流を与える。インバータG1は
直列形態のMOSFET Q51,Q52により、また
インバータG2は同じく直列形態のMOSFET Q6
1,Q62によりそれぞれ構成されている。
【0038】図5および図6には、図2のパワーオンリ
セット発生回路の変形例が示されている。
【0039】このうち図5の実施例の回路は、図2の実
施例におけるバイポーラ・トランジスタQs,Q1の代
わりにMOSFETを用いるようにしたもので、図2の
パワーオンリセット発生回路とほぼ同様の作用効果を有
する。Qs,Q1としてMOSFETを用いたことによ
り、ベース抵抗となる抵抗R15,R16は不要とな
る。また、インバータG1,G2も省略している。
【0040】図6の実施例の回路は、図2の実施例にお
ける時定数回路CRGのMOSFET Q2の代わりに
抵抗R17を用い、チャージポンプ型時定数回路の代わ
りにCR時定数回路としたもので、図2のパワーオンリ
セット発生回路とほぼ同様の作用効果を有する。
【0041】以上説明したように上記実施例のパワーオ
ンリセット発生回路は、電源電圧を分圧する抵抗分圧回
路で分圧された電圧とバンドギャップ基準電圧発生回路
からの基準電圧とを比較する比較器の入力端子に抵抗を
介して基準電圧を入力するとともに直列形態の抵抗とス
イッチトランジスタとからなるプルダウン回路を接続
し、前記スイッチトランジスタを出力信号によって制御
して、パワーオンリセット信号発生後は上記抵抗によっ
て上記比較器の比較レベルをパワーオンリセット信号発
生前よりも強制的に低くするとともに、上記比較器の後
段に該比較器の出力をイネーブル信号とし、入力交流信
号を波形整形する受信回路もしくは入力回路からの信号
によって電源電圧による充電を開始する時定数回路と、
該時定数回路の充電電圧のレベルを判定して所定のレベ
ルになったときにパワーオンリセット信号を出力する論
理回路とを設けるようにしたので、半導体集積回路にお
いて温度変化や電源電圧の変動にかかわらず一定の電圧
を発生することができるバンドギャップ基準電圧発生回
路からの基準電圧に基づいてパワーオンリセット信号を
出力するため、電源電圧が所定のレベルに達したときに
正確にパワーオンリセット信号を発生することができる
とともに、パワーオンリセット信号発生後は比較器の比
較レベルを低くするため電源電圧が変動してもそれが許
容範囲内すなわち回路(マイクロコンピュータ等)の安
定動作レベル以上であればパワーオンリセット信号を発
生しないようにすることができる。また、上記比較器の
後段に該比較器の出力をイネーブル信号とする時定数回
路を設けているので、電源電圧が回路の安定動作レベル
を充分に超えてからパワーオンリセット信号を発生させ
ることができるという効果がある。
【0042】上記時定数回路として、入力交流信号を波
形整形する受信回路もしくは入力回路からの信号によっ
てオン、オフ動作するスイッチと該スイッチがオンした
ときに電荷が注入される容量とからなるチャージポンプ
回路を用いるようにしたので、入力交流信号の強度すな
わち振幅に応じてチャージポンプ回路を充電動作させ、
電源電圧の立ち上がり速度に応じた適切なタイミングで
パワーオンリセット信号を出力させることができるとい
う効果がある。
【0043】さらに、上記パワーオンリセット発生回路
の次段に上記パワーオンリセット信号発生後にクロック
発生回路からのクロック信号を計数し所定数以上になっ
たときにリセットパルスを出力するリセットパルス発生
回路を設けるようにしたので、クロック信号が確実に発
生した後にマイクロコンピュータ等に対するリセットパ
ルスを発生させることができ、マイクロコンピュータ等
の誤動作を防止することができるという効果がある。
【0044】以上本発明者によってなされた発明を実施
例に基づき具体的に説明したが、本発明はそれに限定さ
れるものでなく、例えば上記実施例では、パワーオンリ
セット発生回路の次段に該パワーオンリセット発生回路
で形成された信号に基づいてクロック信号を計数して所
定数を計数したときにリセットパルスを出力するリセッ
トパルス発生回路を設けているが、このリセットパルス
発生回路はデータ受信回路から出力されるパルスを計数
してリセットパルスを出力するように構成しても良い。
【0045】以上の説明では主として本発明者によって
なされた発明をその背景となった利用分野である電磁結
合の非接触型ICカードに用いられるトランシーバIC
におけるパワーオンリセット発生回路に適用した場合に
ついて説明したが、本発明は発明はそれに限定されるも
のでなく半導体集積回路におけるパワーオンリセット発
生回路一般に利用することができる。
【0046】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば下記
のとおりである。
【0047】すなわち、電源電圧が所定のレベルに達し
たときに正確にパワーオンリセット信号を発生できると
ともに、電源電圧が変動しても許容範囲内であればパワ
ーオンリセット信号を発生しないようなパワーオンリセ
ット発生回路を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るパワーオンリセット発生回路を備
えた非接触型ICカードに用いられるトランシーバ用I
Cの構成を示すブロック図である。
【図2】パワーオンリセット発生回路の実施例を示す回
路構成図である。
【図3】パワーオンリセット発生回路における電源電圧
と各部の信号波形を示す波形図である。
【図4】図2のパワーオンリセット発生回路の具体例を
示す回路図である。
【図5】パワーオンリセット発生回路の第2の実施例を
示す回路図である。
【図6】パワーオンリセット発生回路の第3の実施例を
示す回路図である。
【図7】本発明に先立って検討したパワーオンリセット
発生回路の構成例を示す回路図である。
【符号の説明】
L コイル 1 整流回路 2 電圧リミッタ回路(定電圧電源回路) 3 電源安定化回路 4 パワーオンリセット発生回路 5 リセットパルス発生回路 6 データ受信回路 7 データ復調回路 8 クロック発生回路 9 データ送信回路 10 トランシーバ用半導体集積回路 20 マイクロコンピュータ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 大河原 浩 東京都小平市上水本町5丁目22番1号 株 式会社日立マイコンシステム内 (72)発明者 安藤 公明 東京都国分寺市東恋ヶ窪一丁目280番地 株式会社日立製作所中央研究所内

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電源電圧を分圧する抵抗分圧回路と、該
    分圧回路で分圧された電圧と基準電圧とを比較する比較
    器と、該比較器の基準電圧入力側端子に接続された入力
    抵抗と、上記基準電圧入力側端子と接地点との間に接続
    された直列形態の抵抗とスイッチトランジスタとからな
    るプルダウン回路と、上記比較器の出力によって徐々に
    電圧を立ち上げる時定数回路とを備え、パワーオンリセ
    ット信号出力後は上記プルダウン回路が動作されて上記
    比較器の基準電圧入力側端子に印加される電圧が下がる
    ように構成されてなることを特徴とするパワーオンリセ
    ット発生回路。
  2. 【請求項2】 上記基準電圧はバンドギャップ基準電圧
    発生回路で発生された電圧であることを特徴とする請求
    項1に記載のパワーオンリセット発生回路。
  3. 【請求項3】 上記時定数回路は、容量と、該容量に選
    択的に電荷を注入する第1のスイッチトランジスタと、
    上記容量の電荷を上記比較器の出力に応じて引き抜くた
    めの第2のスイッチトランジスタとにより構成されてい
    ることを特徴とする請求項1または2に記載のパワーオ
    ンリセット発生回路。
  4. 【請求項4】 上記時定数回路の後段には、該時定数回
    路の充電電圧のレベルを判定して所定のレベルになった
    ときにパワーオンリセット信号を出力する論理回路が接
    続されていることを特徴とする請求項1、2または3に
    記載のパワーオンリセット発生回路。
  5. 【請求項5】 電磁結合手段が接続される外部端子と、
    該外部端子に接続された電磁結合手段を介して入力され
    た交流電圧を整流して直流電圧を形成する整流回路と、
    該整流回路で形成された電圧から所定のレベルの電源電
    圧を形成する定電圧電源回路と、該定電圧電源回路で生
    成された電源電圧の立ち上がりを検出してパワーオンリ
    セット信号を形成する請求項1〜4に記載のパワーオン
    リセット発生回路とを備えてなることを特徴とするIC
    カードのトランシーバ用半導体集積回路。
  6. 【請求項6】 上記パワーオンリセット発生回路の次段
    に該パワーオンリセット発生回路で形成された信号に基
    づいてクロック信号の計数を開始して所定数を計数した
    ときにリセットパルスを出力するリセットパルス発生回
    路を備えてなることを特徴とする請求項5に記載のIC
    カードのトランシーバ用半導体集積回路。
  7. 【請求項7】 1枚のカード状基板上に、請求項6に記
    載のトランシーバ用半導体集積回路と、該半導体集積回
    路に接続された電磁結合手段と、マイクロコンピュータ
    チップとが搭載され、上記トランシーバ用半導体集積回
    路のパワーオンリセット発生回路からの信号に基づいて
    上記マイクロコンピュータチップに対するリセットパル
    スの供給が行なわれるとともに、上記マイクロコンピュ
    ータチップは上記トランシーバ用半導体集積回路を介し
    て外部装置との間のデータの送受信を行なうように構成
    されてなることを特徴とする非接触型ICカード。
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Cited By (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20000056201A (ko) * 1999-02-13 2000-09-15 윤종용 마이크로 컴퓨터의 오동작 방지를 위한 초기화회로
JP2003501717A (ja) * 1999-05-27 2003-01-14 ローベルト ボッシュ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 電圧を監視するための制御装置の回路配置
US6603341B2 (en) 2000-06-22 2003-08-05 Denso Corporation Load drive circuit having low voltage detector
WO2003091819A1 (en) * 2002-04-26 2003-11-06 Hitachi, Ltd. Semiconductor device and ic card
US6888384B2 (en) 2003-03-31 2005-05-03 Kabushiki Kaisha Toshiba Power-on detector, and power-on reset circuit using the same
KR100486022B1 (ko) * 1999-09-16 2005-05-03 현대중공업 주식회사 멀티제어전원 사용회로의 전원 온 리셋 동기화 회로
WO2005101304A1 (ja) * 2004-04-15 2005-10-27 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 半導体集積回路、及びこれを搭載した非接触型情報システム
US6972662B1 (en) 2000-03-07 2005-12-06 Renesas Technology Corp. RFID (radio frequency identification) and IC card
KR100586521B1 (ko) 2004-02-20 2006-06-07 삼성전자주식회사 디스플레이장치 및 그 제어방법
JP2007214736A (ja) * 2006-02-08 2007-08-23 Hitachi Ulsi Systems Co Ltd 半導体集積回路
JP2008118381A (ja) * 2006-11-02 2008-05-22 Mitsumi Electric Co Ltd リセット装置
JP2008199818A (ja) * 2007-02-14 2008-08-28 Denso Corp 二次電池の放電装置
JP2009124494A (ja) * 2007-11-15 2009-06-04 Mitsubishi Electric Corp パワー素子駆動用回路
JP2009152693A (ja) * 2007-12-18 2009-07-09 Mitsumi Electric Co Ltd 初期化回路及び初期化回路を有する保護検出回路
JP2009232214A (ja) * 2008-03-24 2009-10-08 Mitsumi Electric Co Ltd リセット回路および電源制御用半導体集積回路
JP2010028424A (ja) * 2008-07-18 2010-02-04 Nec Electronics Corp リセット信号生成回路
KR100965054B1 (ko) 2008-03-14 2010-06-21 주식회사 하이닉스반도체 파워 온 리셋 회로
JP2012205310A (ja) * 2011-03-24 2012-10-22 Freescale Semiconductor Inc 選択可能閾値リセット回路
JP2013093679A (ja) * 2011-10-25 2013-05-16 Mitsumi Electric Co Ltd 低電圧検出回路
JP2014075696A (ja) * 2012-10-04 2014-04-24 Rohm Co Ltd 電子回路およびそれを備える電子機器
KR101509421B1 (ko) * 2013-04-30 2015-04-07 (주)에프씨아이 클럭신호와 피크검출기를 이용한 파워온 리셋 회로
JP2016046620A (ja) * 2014-08-21 2016-04-04 Necエンジニアリング株式会社 パワーオンリセット回路
CN110868199A (zh) * 2019-11-04 2020-03-06 宁波大学 一种上电长延时保护电路
JP2022550310A (ja) * 2019-09-25 2022-12-01 ランディス・ギア イノベーションズ インコーポレイテッド 電池エンドポイントにおける突入電流を制限するためのシステム
CN115765699A (zh) * 2022-12-16 2023-03-07 上海功成半导体科技有限公司 一种复位电路、复位方法、复位开关电路和电子设备
CN119620840A (zh) * 2025-02-11 2025-03-14 芯耀辉科技有限公司 用于生成复位信号的上电复位电路及方法

Cited By (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20000056201A (ko) * 1999-02-13 2000-09-15 윤종용 마이크로 컴퓨터의 오동작 방지를 위한 초기화회로
JP2003501717A (ja) * 1999-05-27 2003-01-14 ローベルト ボッシュ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 電圧を監視するための制御装置の回路配置
KR100486022B1 (ko) * 1999-09-16 2005-05-03 현대중공업 주식회사 멀티제어전원 사용회로의 전원 온 리셋 동기화 회로
US6972662B1 (en) 2000-03-07 2005-12-06 Renesas Technology Corp. RFID (radio frequency identification) and IC card
US6603341B2 (en) 2000-06-22 2003-08-05 Denso Corporation Load drive circuit having low voltage detector
US7168624B2 (en) 2002-04-26 2007-01-30 Renesas Technology Corp. Semiconductor device and IC card
WO2003091819A1 (en) * 2002-04-26 2003-11-06 Hitachi, Ltd. Semiconductor device and ic card
US7441711B2 (en) 2002-04-26 2008-10-28 Renesas Technology Corp. Semiconductor device and IC card
US6888384B2 (en) 2003-03-31 2005-05-03 Kabushiki Kaisha Toshiba Power-on detector, and power-on reset circuit using the same
KR100586521B1 (ko) 2004-02-20 2006-06-07 삼성전자주식회사 디스플레이장치 및 그 제어방법
US7850086B2 (en) 2004-04-15 2010-12-14 Panasonic Corporation Semiconductor integrated circuit and noncontact information system including it
CN100449568C (zh) * 2004-04-15 2009-01-07 松下电器产业株式会社 半导体集成电路、及搭载了该半导体集成电路的非接触型信息系统
WO2005101304A1 (ja) * 2004-04-15 2005-10-27 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 半導体集積回路、及びこれを搭載した非接触型情報システム
JP2007214736A (ja) * 2006-02-08 2007-08-23 Hitachi Ulsi Systems Co Ltd 半導体集積回路
JP2008118381A (ja) * 2006-11-02 2008-05-22 Mitsumi Electric Co Ltd リセット装置
JP2008199818A (ja) * 2007-02-14 2008-08-28 Denso Corp 二次電池の放電装置
JP2009124494A (ja) * 2007-11-15 2009-06-04 Mitsubishi Electric Corp パワー素子駆動用回路
JP2009152693A (ja) * 2007-12-18 2009-07-09 Mitsumi Electric Co Ltd 初期化回路及び初期化回路を有する保護検出回路
KR100965054B1 (ko) 2008-03-14 2010-06-21 주식회사 하이닉스반도체 파워 온 리셋 회로
JP2009232214A (ja) * 2008-03-24 2009-10-08 Mitsumi Electric Co Ltd リセット回路および電源制御用半導体集積回路
JP2010028424A (ja) * 2008-07-18 2010-02-04 Nec Electronics Corp リセット信号生成回路
JP2012205310A (ja) * 2011-03-24 2012-10-22 Freescale Semiconductor Inc 選択可能閾値リセット回路
JP2013093679A (ja) * 2011-10-25 2013-05-16 Mitsumi Electric Co Ltd 低電圧検出回路
JP2014075696A (ja) * 2012-10-04 2014-04-24 Rohm Co Ltd 電子回路およびそれを備える電子機器
KR101509421B1 (ko) * 2013-04-30 2015-04-07 (주)에프씨아이 클럭신호와 피크검출기를 이용한 파워온 리셋 회로
JP2016046620A (ja) * 2014-08-21 2016-04-04 Necエンジニアリング株式会社 パワーオンリセット回路
JP2022550310A (ja) * 2019-09-25 2022-12-01 ランディス・ギア イノベーションズ インコーポレイテッド 電池エンドポイントにおける突入電流を制限するためのシステム
CN110868199A (zh) * 2019-11-04 2020-03-06 宁波大学 一种上电长延时保护电路
CN110868199B (zh) * 2019-11-04 2023-12-22 西安恒松阳电气有限公司 一种上电长延时保护电路
CN115765699A (zh) * 2022-12-16 2023-03-07 上海功成半导体科技有限公司 一种复位电路、复位方法、复位开关电路和电子设备
CN115765699B (zh) * 2022-12-16 2023-11-17 上海功成半导体科技有限公司 一种复位电路、复位方法、复位开关电路和电子设备
CN119620840A (zh) * 2025-02-11 2025-03-14 芯耀辉科技有限公司 用于生成复位信号的上电复位电路及方法

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