JPH10208895A - ランプ点灯装置 - Google Patents
ランプ点灯装置Info
- Publication number
- JPH10208895A JPH10208895A JP1095097A JP1095097A JPH10208895A JP H10208895 A JPH10208895 A JP H10208895A JP 1095097 A JP1095097 A JP 1095097A JP 1095097 A JP1095097 A JP 1095097A JP H10208895 A JPH10208895 A JP H10208895A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lamp
- life
- lighting device
- ohms
- lamp lighting
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- Pending
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- Circuit Arrangements For Discharge Lamps (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】蛍光ランプの寿命時に、ランプの破損や回路部
品の発煙を防止し、安全性の高いランプ点灯回路を提供
する。 【解決手段】ＭＯＳ−ＦＥＴのオン抵抗値を２オーム以
上５オーム未満とした時に、ツェナダイオードの定格電
力を２００ｍＷよりも大きくする。ＭＯＳ−ＦＥＴのオ
ン抵抗値を２オーム未満とした時に、ツェナダイオード
の定格電力を２００ｍＷとする。
品の発煙を防止し、安全性の高いランプ点灯回路を提供
する。 【解決手段】ＭＯＳ−ＦＥＴのオン抵抗値を２オーム以
上５オーム未満とした時に、ツェナダイオードの定格電
力を２００ｍＷよりも大きくする。ＭＯＳ−ＦＥＴのオ
ン抵抗値を２オーム未満とした時に、ツェナダイオード
の定格電力を２００ｍＷとする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は高周波インバータ回
路を使用したランプ点灯装置に関する。
路を使用したランプ点灯装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】この種の点灯装置に用いられるスイッチ
ング素子には、回路効率の向上，信頼性の向上といった
点から、スイッチングスピードが速く損失の少ない、オ
ン抵抗が１オーム程度のＭＯＳ−ＦＥＴが一般的に使用
されている。
ング素子には、回路効率の向上，信頼性の向上といった
点から、スイッチングスピードが速く損失の少ない、オ
ン抵抗が１オーム程度のＭＯＳ−ＦＥＴが一般的に使用
されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ランプは寿命末期にな
ったときに、電極の電子放射が悪くなり陰極降下電圧が
上昇し、異常過熱する。この寿命末期現象が継続する
と、ガラス管の破損，口金の変形，回路部品が耐電圧を
超えて発煙に至る場合があり、安全性上問題があった。
ったときに、電極の電子放射が悪くなり陰極降下電圧が
上昇し、異常過熱する。この寿命末期現象が継続する
と、ガラス管の破損，口金の変形，回路部品が耐電圧を
超えて発煙に至る場合があり、安全性上問題があった。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は、ランプの寿命
末期状態が継続した場合、ランプ破損，口金変形や発煙
に至る前に、ＭＯＳ−ＦＥＴまたは定電圧ダイオードを
破損させて回路動作を停止させるものである。
末期状態が継続した場合、ランプ破損，口金変形や発煙
に至る前に、ＭＯＳ−ＦＥＴまたは定電圧ダイオードを
破損させて回路動作を停止させるものである。
【０００５】ランプの寿命末期状態が継続した場合にＭ
ＯＳ−ＦＥＴを破損させる点灯装置は、ランプの寿命末
期時に負荷電流が増加することを利用し、ＭＯＳ−ＦＥ
Ｔのオン抵抗を大きめに設定することで、ランプの寿命
末期時に増加する損失によりＭＯＳ−ＦＥＴを短時間で
破損させる構成とすることにより得ることができる。
ＯＳ−ＦＥＴを破損させる点灯装置は、ランプの寿命末
期時に負荷電流が増加することを利用し、ＭＯＳ−ＦＥ
Ｔのオン抵抗を大きめに設定することで、ランプの寿命
末期時に増加する損失によりＭＯＳ−ＦＥＴを短時間で
破損させる構成とすることにより得ることができる。
【０００６】また、ランプの寿命末期状態が継続した場
合に定電圧ダイオードを破損させることによっても本発
明の目的を達成することができる。すなわちランプの寿
命末期時に負荷電流が増加することを利用し、定電圧ダ
イオードの定格電力を小さめに設定することで、ランプ
の寿命末期時に増加する損失により定電圧ダイオードを
短時間で破損させる。
合に定電圧ダイオードを破損させることによっても本発
明の目的を達成することができる。すなわちランプの寿
命末期時に負荷電流が増加することを利用し、定電圧ダ
イオードの定格電力を小さめに設定することで、ランプ
の寿命末期時に増加する損失により定電圧ダイオードを
短時間で破損させる。
【０００７】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を図面を参
照して説明する。
照して説明する。
【０００８】図１は本発明の１実施例を示す回路図であ
る。交流電源Ｅがインラッシュ抑制抵抗Ｒ１及びフィル
タコンデンサＣ１，チョークコイルＬ１を通して全波整
流器ＤＢに接続される。全波整流器ＤＢの出力端に並列
に平滑コンデンサＣ２を接続し、更にＭＯＳ−ＦＥＴ
Ｑ１及びＱ２を直列に接続している。このＭＯＳ−ＦＥ
Ｔ Ｑ１のゲートＧとソースＳとの間には対極に直列接
続されたツェナダイオードＺＤ１及びＺＤ２が接続さ
れ、ＭＯＳ−ＦＥＴ Ｑ２にも同様にツェナダイオード
ＺＤ３及びＺＤ４が接続されている。ＭＯＳ−ＦＥＴ
Ｑ１とＱ２の接続点と、全波整流器ＤＢの出力の一端と
の間に、チョークコイルＬ２とコンデンサＣ３及び蛍光
ランプＬＡが直列接続され、更に蛍光ランプＬＡに並列
にコンデンサＣ４が接続されている。
る。交流電源Ｅがインラッシュ抑制抵抗Ｒ１及びフィル
タコンデンサＣ１，チョークコイルＬ１を通して全波整
流器ＤＢに接続される。全波整流器ＤＢの出力端に並列
に平滑コンデンサＣ２を接続し、更にＭＯＳ−ＦＥＴ
Ｑ１及びＱ２を直列に接続している。このＭＯＳ−ＦＥ
Ｔ Ｑ１のゲートＧとソースＳとの間には対極に直列接
続されたツェナダイオードＺＤ１及びＺＤ２が接続さ
れ、ＭＯＳ−ＦＥＴ Ｑ２にも同様にツェナダイオード
ＺＤ３及びＺＤ４が接続されている。ＭＯＳ−ＦＥＴ
Ｑ１とＱ２の接続点と、全波整流器ＤＢの出力の一端と
の間に、チョークコイルＬ２とコンデンサＣ３及び蛍光
ランプＬＡが直列接続され、更に蛍光ランプＬＡに並列
にコンデンサＣ４が接続されている。
【０００９】表１は図１に示す回路上に、ＭＯＳ−ＦＥ
Ｔ Ｑ１及びＱ２のオン抵抗値を各種変えて、１分点灯
１分消灯のサイクルで点滅試験を行い点滅寿命回数と寿
命時の現象を観測した結果である。ツェナダイオードＺ
Ｄ１，ＺＤ２，ＺＤ３及びＺＤ４に定格電力５００ｍＷ
を使用している。
Ｔ Ｑ１及びＱ２のオン抵抗値を各種変えて、１分点灯
１分消灯のサイクルで点滅試験を行い点滅寿命回数と寿
命時の現象を観測した結果である。ツェナダイオードＺ
Ｄ１，ＺＤ２，ＺＤ３及びＺＤ４に定格電力５００ｍＷ
を使用している。
【００１０】
【表１】
【００１１】ＭＯＳ−ＦＥＴのオン抵抗が１オームで
は、寿命時にランプのステム部分が溶融し、リークに至
り易くなっており、コンデンサの発煙も発生している。
３オームと５オームのものは、リーク及び発煙がなく、
ＭＯＳ−ＦＥＴが破損して寿命になっている。しかし５
オームのものは、ランプが放電し難くなってきた段階、
つまりランプ寿命になる前の時点でＭＯＳ−ＦＥＴが破
損して短寿命になり、実用的でない。従ってツェナダイ
オードの定格電力を２００ｍＷよりも大きくし、ＭＯＳ
−ＦＥＴのオン抵抗を２オーム以上５オーム未満とした
時、ランプ寿命時にリーク及び発煙がなく、寿命を確保
した安全性の高い点灯回路となる。
は、寿命時にランプのステム部分が溶融し、リークに至
り易くなっており、コンデンサの発煙も発生している。
３オームと５オームのものは、リーク及び発煙がなく、
ＭＯＳ−ＦＥＴが破損して寿命になっている。しかし５
オームのものは、ランプが放電し難くなってきた段階、
つまりランプ寿命になる前の時点でＭＯＳ−ＦＥＴが破
損して短寿命になり、実用的でない。従ってツェナダイ
オードの定格電力を２００ｍＷよりも大きくし、ＭＯＳ
−ＦＥＴのオン抵抗を２オーム以上５オーム未満とした
時、ランプ寿命時にリーク及び発煙がなく、寿命を確保
した安全性の高い点灯回路となる。
【００１２】次に本発明の第２の実施例について説明す
る。表２は図１に示す回路上に、ツェナダイオードＺＤ
１，ＺＤ２，ＺＤ３及びＺＤ４に定格電力値を各種変え
て、１分点灯１分消灯のサイクルで点滅試験を行い点滅
寿命回数と寿命時の現象を観測した結果である。
る。表２は図１に示す回路上に、ツェナダイオードＺＤ
１，ＺＤ２，ＺＤ３及びＺＤ４に定格電力値を各種変え
て、１分点灯１分消灯のサイクルで点滅試験を行い点滅
寿命回数と寿命時の現象を観測した結果である。
【００１３】
【表２】
【００１４】ＭＯＳ−ＦＥＴ Ｑ１及びＱ２のオン抵抗
値に１オームを使用している。定電圧ダイオードの定格
電力が４００ｍＷと５００ｍＷの場合、寿命時にランプ
のステム部分が溶融しリークに至っている。コンデンサ
の発煙も発生している。200ｍＷのものは、リーク及び
発煙がなくツェナダイオードが破損して寿命になってい
る。従ってＭＯＳ−ＦＥＴのオン抵抗を２オーム未満と
し、ツェナダイオードの定格電力を２００ｍＷとするこ
とで、ランプ寿命時にリーク及び発煙がない安全性の高
い点灯回路となる。
値に１オームを使用している。定電圧ダイオードの定格
電力が４００ｍＷと５００ｍＷの場合、寿命時にランプ
のステム部分が溶融しリークに至っている。コンデンサ
の発煙も発生している。200ｍＷのものは、リーク及び
発煙がなくツェナダイオードが破損して寿命になってい
る。従ってＭＯＳ−ＦＥＴのオン抵抗を２オーム未満と
し、ツェナダイオードの定格電力を２００ｍＷとするこ
とで、ランプ寿命時にリーク及び発煙がない安全性の高
い点灯回路となる。
【００１５】図２は本発明の他の実施例を示す回路図で
ある。図１の回路図と異なる点は、ＭＯＳ−ＦＥＴに接
続されるツェナダイオードであり、ＭＯＳ−ＦＥＴ Ｑ
１，Ｑ２にそれぞれツェナダイオードＺＤ１，ＺＤ２を
接続し、極性はゲートＧにカソードＣをソースＳにアノ
ードＡを接続する方向としている。第１の実施例及び第
２の実施例を図２に示す回路を用いて試験し、同様な結
果を得ている。
ある。図１の回路図と異なる点は、ＭＯＳ−ＦＥＴに接
続されるツェナダイオードであり、ＭＯＳ−ＦＥＴ Ｑ
１，Ｑ２にそれぞれツェナダイオードＺＤ１，ＺＤ２を
接続し、極性はゲートＧにカソードＣをソースＳにアノ
ードＡを接続する方向としている。第１の実施例及び第
２の実施例を図２に示す回路を用いて試験し、同様な結
果を得ている。
【００１６】
【発明の効果】本発明によれば、蛍光ランプの寿命末期
時の現象が継続しないため、ランプの過熱による破損，
口金の変形，コンデンサの発煙事故を防止することがで
き、安全性の高いランプ点灯回路を提供できる。
時の現象が継続しないため、ランプの過熱による破損，
口金の変形，コンデンサの発煙事故を防止することがで
き、安全性の高いランプ点灯回路を提供できる。
【図１】本発明の１実施例を示す回路図。
【図２】本発明の他の実施例を示す回路図。
Ｅ…交流電源、Ｒ１…抵抗、Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３，Ｃ４…
コンデンサ、Ｌ１，Ｌ２…チョークコイル、ＤＢ…全波
整流器。
コンデンサ、Ｌ１，Ｌ２…チョークコイル、ＤＢ…全波
整流器。
Claims (3)
- 【請求項１】交流電源からの出力を整流平滑する整流回
路と、交互にオン，オフされる第１及び第２のスイッチ
ング素子の直列回路と前記スイッチング素子の信号入力
端子に接続される定電圧素子とＬＣ共振系を備え前記整
流回路の出力を高周波に変換するインバータにより構成
されるランプ点灯装置において、蛍光ランプの寿命時に
前記スイッチング素子または前記定電圧素子を破損させ
て、回路動作を停止させることを特徴とするランプ点灯
装置。 - 【請求項２】上記スイッチング素子のオン抵抗を２オー
ム以上５オーム未満とした時に、定電圧素子の定格電力
を２００ｍＷよりも大きくした請求項１に記載のランプ
点灯装置。 - 【請求項３】上記スイッチング素子のオン抵抗を２オー
ム未満とした時に、定電圧素子の定格電力を２００ｍＷ
とした請求項１に記載のランプ点灯装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1095097A JPH10208895A (ja) | 1997-01-24 | 1997-01-24 | ランプ点灯装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1095097A JPH10208895A (ja) | 1997-01-24 | 1997-01-24 | ランプ点灯装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10208895A true JPH10208895A (ja) | 1998-08-07 |
Family
ID=11764486
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1095097A Pending JPH10208895A (ja) | 1997-01-24 | 1997-01-24 | ランプ点灯装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10208895A (ja) |
-
1997
- 1997-01-24 JP JP1095097A patent/JPH10208895A/ja active Pending
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Effective date: 20040527 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20051201 |
|
| A521 | Written amendment |
Effective date: 20060130 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |
|
| RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20060130 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20061017 |