JPH10209097A - Substrate cleaning method and apparatus - Google Patents

Substrate cleaning method and apparatus

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Publication number
JPH10209097A
JPH10209097A JP845497A JP845497A JPH10209097A JP H10209097 A JPH10209097 A JP H10209097A JP 845497 A JP845497 A JP 845497A JP 845497 A JP845497 A JP 845497A JP H10209097 A JPH10209097 A JP H10209097A
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JP
Japan
Prior art keywords
substrate
main surface
ionized
ultraviolet irradiation
cleaning
Prior art date
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Pending
Application number
JP845497A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazuo Kise
一夫 木瀬
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Filing date
Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To sufficiently eliminate grease elements and adhesive particles adhered to the main surface of a substrate. SOLUTION: A substrate W fed from an feeding section 10 is subjected to the ultraviolet beam radiation process in an ultraviolet beam radiating section 20. The substrate W having completed the ultraviolet beam radiating process is sent to an ionization gas blowing section 30 for the purpose of ionization gas blowing process in which the ionized gas is blown. The substrate W having completed the ionization gas blowing process is subjected to the process such as brush cleaning using the pure water in the cleaning liquid processing section 40 and is then carried from the discharge section 50. The ionization air is injected from the ionization air gun 37 and the ionized particle adhered to the main surface in the upper side of the substrate W is effectively peeled from the substrate W with a repulsion force or attracting force of ion in the ionized air. Moreover, since the grease element adhering particle with preceding radiation of ultraviolet beam to the main surface of the substrate W is ashed, the particles adhered to the main surface of the substrate can easily be eliminated by the ionized air.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示パネル用
ガラス基板、プラズマディスプレイ用ガラス基板、半導
体ウエハ、半導体製造用のマスク基板等の基板を洗浄す
る基板洗浄方法及び装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method and an apparatus for cleaning a substrate such as a glass substrate for a liquid crystal display panel, a glass substrate for a plasma display, a semiconductor wafer, and a mask substrate for manufacturing semiconductors.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の基板洗浄方法として、基板を水平
に支持して所定の方向に搬送させつつ、30kHzから
120kHzの超音波が付与されたエアーを基板の主面
に吹き付けることにより、基板の主面に付着したパーテ
ィクルを除去する超音波エアー洗浄や、上述と同様に基
板を搬送させつつ、イオン化されたエアーを基板の主面
に吹き付けることにより、基板の主面に付着したパーテ
ィクルを除去するイオン化エアー洗浄が知られている。
2. Description of the Related Art As a conventional method for cleaning a substrate, air to which a ultrasonic wave of 30 kHz to 120 kHz is applied is blown onto the main surface of the substrate while horizontally supporting the substrate and transporting the substrate in a predetermined direction. Ultrasonic air cleaning for removing particles attached to the main surface, or removing particles attached to the main surface of the substrate by blowing ionized air onto the main surface of the substrate while transporting the substrate in the same manner as described above Ionized air cleaning is known.

【0003】上述の超音波エアー洗浄及びイオン化エア
ー洗浄は、基板の主面に純水等の洗浄液を供給して基板
を洗浄するウェット洗浄に対して、ドライ洗浄と呼ばれ
るものである。これらのドライ洗浄は、基板の主面にブ
ラシ等を当接させて基板を洗浄するものではなく、基板
に非接触で基板を洗浄するので、基板の主面に傷を発生
させることなく基板を洗浄することができ、基板の主面
に薄膜が形成されている場合は、その薄膜を破壊するこ
となく基板を洗浄することができる。
The above-described ultrasonic air cleaning and ionized air cleaning are called dry cleaning, as opposed to wet cleaning in which a cleaning liquid such as pure water is supplied to the main surface of the substrate to clean the substrate. In these dry cleanings, the substrate is not cleaned by bringing a brush or the like into contact with the main surface of the substrate, but the substrate is cleaned without contacting the substrate, so that the substrate can be cleaned without damaging the main surface of the substrate. When the thin film is formed on the main surface of the substrate, the substrate can be washed without destroying the thin film.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、基板の
主面に、油脂成分が付着している場合、この油脂成分や
油脂成分の表面に強い付着力で付着したパーティクル
が、上述のドライ洗浄では、十分に除去することができ
ないという問題が発生する。
However, when a fat component adheres to the main surface of the substrate, the fat component or particles adhered to the surface of the fat component with a strong adhesive force are not subjected to the above-mentioned dry cleaning. A problem arises that it cannot be sufficiently removed.

【0005】本発明の目的は、上述のような点に鑑み、
基板の主面に付着した油脂成分や付着力の強いパーティ
クルを十分に除去することのできる基板洗浄方法及び装
置を提供することにある。
In view of the above, an object of the present invention is to provide
It is an object of the present invention to provide a substrate cleaning method and apparatus capable of sufficiently removing fats and oils components and particles having strong adhesiveness adhered to a main surface of a substrate.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、請求項1の基板洗浄方法は、基板の主面に紫外線を
照射する紫外線照射工程と、紫外線照射工程後の基板の
主面にイオン化された気体を吹き付けるイオン化気体吹
付工程とを含むことを特徴とする。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a method of cleaning a substrate, comprising: irradiating an ultraviolet ray onto a main surface of the substrate; And an ionized gas spraying step of spraying the extracted gas.

【0007】また、請求項2の基板洗浄方法は、基板の
主面に紫外線を照射する紫外線照射工程と、紫外線照射
工程後の基板の主面に超音波が付与された気体を吹き付
ける超音波処理工程とを含むことを特徴とする。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a method for cleaning a substrate, comprising: an ultraviolet irradiation step of irradiating the main surface of the substrate with ultraviolet light; And a step.

【0008】また、請求項3の基板洗浄方法は、超音波
処理工程後又はイオン化気体吹付工程後の基板に、所定
の洗浄液を供給して基板を洗浄することを特徴とする。
According to a third aspect of the present invention, there is provided a method for cleaning a substrate, wherein a predetermined cleaning liquid is supplied to the substrate after the ultrasonic treatment step or the ionized gas spraying step to clean the substrate.

【0009】また、請求項4の基板洗浄装置は、基板の
主面に紫外線を照射する紫外線照射部と、紫外線照射部
による紫外線照射後の基板の主面にイオン化された気体
を吹き付けるイオン化気体吹付部と、を有することを特
徴とする。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided an apparatus for cleaning a substrate, comprising: an ultraviolet irradiation section for irradiating the main surface of the substrate with ultraviolet light; and an ionized gas blowing apparatus for blowing ionized gas onto the main surface of the substrate after the ultraviolet irradiation by the ultraviolet irradiation section. And a unit.

【0010】また、請求項5の基板洗浄装置は、基板の
主面に紫外線を照射する紫外線照射部と、紫外線照射部
による紫外線照射後の基板の主面に超音波が付与された
気体を吹き付ける超音波処理部と、を有することを特徴
とする。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a substrate cleaning apparatus for irradiating an ultraviolet ray to the main surface of the substrate, and blowing a gas to which ultrasonic waves are applied to the main surface of the substrate after the ultraviolet irradiation by the ultraviolet irradiator. And an ultrasonic processing unit.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION

〔第1実施形態〕図1は、本発明に係る第1実施形態の
基板処理装置の正面構造を示す。
[First Embodiment] FIG. 1 shows a front structure of a substrate processing apparatus according to a first embodiment of the present invention.

【0012】この装置は、カセット(図示を省略)から
取り出した基板Wを装置内に投入する投入部10と、投
入された基板Wの主面に紫外線を照射する紫外線照射部
20と、紫外線照射後の基板Wの主面にイオン化された
気体を吹き付けるイオン化気体吹付部30と、イオン化
気体吹付後の基板Wの主面に洗浄水を供給して基板主面
をブラシ洗浄等する洗浄液処理部40と、洗浄後の基板
Wを取り出す払出部50とを備える。
This apparatus has an input section 10 for inputting a substrate W taken out of a cassette (not shown) into the apparatus, an ultraviolet irradiation section 20 for irradiating the main surface of the input substrate W with ultraviolet rays, and an ultraviolet irradiation section. An ionized gas spraying unit 30 for spraying ionized gas onto the main surface of the substrate W after the cleaning, and a cleaning liquid processing unit 40 for supplying cleaning water to the main surface of the substrate W after the ionized gas spraying to brush-clean the main surface of the substrate W And a payout unit 50 for taking out the substrate W after cleaning.

【0013】投入部10に設けた開口11から内部に搬
入された基板Wは、上昇する複数のプッシャーピン13
に受け渡される。これらのプッシャーピン13に受け渡
された基板Wは、プッシャーピン13の降下によって、
水平面内で平行に配列され同期して回転する複数の搬送
ローラR上に受け渡される。これらの搬送ローラRは、
基板Wを下側から支持して基板Wを水平に保つととも
に、図示を省略する駆動機構に駆動されてその水平軸の
回りに回転し、搬送経路TPに沿って基板Wを水平方向
に搬送する。
The substrate W carried into the inside through the opening 11 provided in the loading section 10 is moved upward by a plurality of pusher pins 13.
Passed to. The substrate W transferred to these pusher pins 13 is moved down by the pusher pins 13.
It is delivered on a plurality of transport rollers R which are arranged in parallel in a horizontal plane and rotate synchronously. These transport rollers R
While supporting the substrate W from below and keeping the substrate W horizontal, the substrate W is driven by a drive mechanism (not shown) to rotate around its horizontal axis, and transport the substrate W in the horizontal direction along the transport path TP. .

【0014】投入部10側から紫外線照射部20に搬送
されてきた基板Wは、複数の搬送ローラRに搬送されて
ランプハウス21下を徐々に移動する。これにより、基
板Wの上側主面全体に一様な紫外線照射処理が行われ
る。つまり、ランプハウス21から紫外線が基板Wの上
側主面に照射され、基板Wの上側主面に付着した油脂成
分等が灰化される。ランプハウス21中には、基板Wの
上側主面に一様な紫外線を当てるため、複数の紫外線ラ
ンプ23が等間隔で配置されている。なお、ランプハウ
ス21の下端は開放されており、さらに、効率的な紫外
線照射を行うためランプハウス21内面は反射鏡となっ
ている。また、紫外線照射処理に際しては、紫外線照射
部20内を清浄に保って紫外線照射処理の効果を高める
ため、紫外線照射部20のチャンバ内を一定流量の窒素
ガス等によってパージする。
The substrate W conveyed from the charging section 10 to the ultraviolet irradiation section 20 is conveyed by a plurality of conveying rollers R and gradually moves under the lamp house 21. Thereby, uniform ultraviolet irradiation processing is performed on the entire upper main surface of the substrate W. That is, ultraviolet light is irradiated from the lamp house 21 to the upper main surface of the substrate W, and the fat and oil components and the like attached to the upper main surface of the substrate W are ashed. In the lamp house 21, a plurality of ultraviolet lamps 23 are arranged at equal intervals in order to uniformly irradiate the upper main surface of the substrate W with ultraviolet light. Note that the lower end of the lamp house 21 is open, and the inner surface of the lamp house 21 is a reflecting mirror in order to perform efficient ultraviolet irradiation. In the ultraviolet irradiation process, the interior of the chamber of the ultraviolet irradiation unit 20 is purged with a constant flow rate of nitrogen gas or the like in order to keep the inside of the ultraviolet irradiation unit 20 clean and enhance the effect of the ultraviolet irradiation process.

【0015】紫外線照射部20側からイオン化気体吹付
部30に搬送されてきた基板Wは、複数の搬送ローラR
に搬送されつつ、イオン化エアーガン37からのイオン
化気体のブローを受けて上側主面が洗浄される。つま
り、イオン化エアーガン37のノズル37aからエアー
ナイフ状に噴射されるイオン化気体流の流体圧力によっ
て、基板Wの上側主面上のパーティクルが剥離される。
イオン化エアーガン37から噴射されたイオン化気体や
基板Wから剥離されたパーティクルは、バキュームダク
ト38によって吸引され、装置外に排出される。
The substrate W transferred from the ultraviolet irradiation section 20 to the ionized gas blowing section 30 is transported by a plurality of transfer rollers R.
While being blown by the ionized air gun 37 from the ionized air gun 37, the upper main surface is cleaned. That is, the particles on the upper main surface of the substrate W are separated by the fluid pressure of the ionized gas flow jetted in the form of an air knife from the nozzle 37a of the ionized air gun 37.
Ionized gas ejected from the ionized air gun 37 and particles separated from the substrate W are sucked by the vacuum duct 38 and discharged out of the apparatus.

【0016】図2は、イオン化気体吹付部30の詳細な
構造を説明する図である。イオン化気体吹付部30は、
全体カバー31に覆われている。全体カバー31の上部
中央には、HEPAフィルタ32が設けられており、全
体カバー31の下部の基板搬入口33と基板搬出口34
の近傍には、エアーカーテンを形成するためのエアー吐
出ノズル35が取り付けられている。
FIG. 2 is a view for explaining the detailed structure of the ionized gas blowing section 30. The ionized gas blowing unit 30 includes:
It is covered by the entire cover 31. A HEPA filter 32 is provided at the upper center of the entire cover 31, and a substrate loading port 33 and a substrate loading port 34 below the entire cover 31 are provided.
, An air discharge nozzle 35 for forming an air curtain is attached.

【0017】全体カバー31の内部には、除塵部カバー
36が配置されている。この除塵部カバー36には、イ
オン化エアーガン37のノズル部37aが差し込まれて
おり、搬送ローラR上を移動する基板Wの上側主面に、
イオン化されたエアーを高速で吹き付ける。基板Wの上
側主面で跳ね返されたイオン化エアーとこれによって吹
き飛ばされたパーティクルとは、バキュームダクト38
を介してイオン化気体吹付部30の外部に排出される。
Inside the entire cover 31, a dust removing unit cover 36 is disposed. The nozzle unit 37a of the ionized air gun 37 is inserted into the dust removing unit cover 36, and is attached to the upper main surface of the substrate W that moves on the transport roller R.
Spray ionized air at high speed. The ionized air bounced off on the upper main surface of the substrate W and the particles blown off by the ionized air form a vacuum duct 38.
Is discharged to the outside of the ionized gas blowing unit 30 through the

【0018】イオン化エアーガン37は、高速で一定流
量の窒素ガスをノズル部37aにパルス状に供給する給
気系と正負の高圧が周期的に印加される電極とを備え、
ノズル部37aからは、イオンが混ざった窒素ガス流で
あるイオン化エアーが正負交互に間欠的に噴射される。
この結果、基板Wの上側主面に付着したイオン化したパ
ーティクルは、イオン化エアー中のイオンの反発力や吸
引力を受けて基板Wから効率的に剥離される。しかも、
基板Wの主面をイオン化エアーにさらす前に、予め基板
Wの主面に紫外線を照射してパーティクルを付着させて
いる油脂成分を灰化しているので、イオン化エアーによ
って基板の主面に付着している灰化した油脂成分や油脂
成分に付着していたパーティクルを除去できる。さら
に、紫外線照射によって基板Wの主面が活性化される効
果もあるので、このような活性化によってイオン化気体
や基板Wに対して反発等するパーティクルについては、
イオン化気体による基板の主面からの除去が比較的容易
なものとなる。
The ionized air gun 37 includes an air supply system for supplying a high-speed, constant flow rate of nitrogen gas to the nozzle portion 37a in a pulsed manner, and electrodes to which positive and negative high pressures are applied periodically.
From the nozzle portion 37a, ionized air, which is a nitrogen gas flow containing ions, is intermittently jetted alternately in positive and negative directions.
As a result, the ionized particles attached to the upper main surface of the substrate W are efficiently separated from the substrate W by receiving the repulsive force or the attractive force of the ions in the ionized air. Moreover,
Before exposing the main surface of the substrate W to the ionized air, the main surface of the substrate W is irradiated with ultraviolet rays in advance to ash the fat and oil components that have attached the particles. It is possible to remove the ashed fat and oil component and particles attached to the fat and oil component. Further, since the main surface of the substrate W is also activated by the irradiation of the ultraviolet light, particles that repel the ionized gas or the substrate W due to such activation are described below.
The removal from the main surface of the substrate by the ionized gas is relatively easy.

【0019】また、イオン化エアーガン37は、バキュ
ームダクト38とともに基板Wの搬送方向に垂直で基板
Wの上側主面に平行な方向(すなわち、図面の紙面に垂
直な方向)に移動可能となっている。搬送ローラRで基
板Wを徐々に搬送しながらイオン化エアーガン37を高
速で往復移動させることにより、基板Wの上側主面の全
体が一様にイオン化エアーにさらされ、基板Wの上側主
面の全面に亘って、灰化した油脂成分やパーティクルが
除去される。
The ionized air gun 37 can move together with the vacuum duct 38 in a direction perpendicular to the transport direction of the substrate W and parallel to the upper main surface of the substrate W (ie, a direction perpendicular to the plane of the drawing). . The entire upper main surface of the substrate W is uniformly exposed to ionized air by reciprocating the ionizing air gun 37 at high speed while gradually transporting the substrate W by the transport roller R, and the entire upper main surface of the substrate W Over time, the ashed oil and fat components and particles are removed.

【0020】図1に戻って、イオン化気体吹付部30側
から洗浄液処理部40に搬送されてきた基板Wは、後に
詳細に説明するが、基板Wの搬送経路TPに沿って配置
されたロールブラシ等の各種洗浄ツールを備える洗浄ユ
ニットを通過し、これらの洗浄ユニットによって純水洗
浄が施される。
Returning to FIG. 1, the substrate W transported from the side of the ionized gas blowing section 30 to the cleaning liquid processing section 40 will be described later in detail, but a roll brush arranged along the transport path TP of the substrate W will be described later. And the like, and a cleaning unit provided with various cleaning tools, etc., and pure water cleaning is performed by these cleaning units.

【0021】図3は、洗浄液処理部40の詳細な構造を
説明する図である。ブラシユニット41で、基板Wの上
下主面にノズル411からの純水が供給され、ロールブ
ラシ412によって基板W1の上下主面の汚れが除去さ
れる。次に、純水洗浄部43で、基板Wは、高圧ノズル
432からの高圧の洗浄水によって高圧スプレー洗浄さ
れ、超音波洗浄装置433から超音波振動を与えた洗浄
水を供給することによってさらに洗浄される。最後に、
乾燥手段であるエアーナイフ乾燥部45では、ノズル4
51からの加圧空気によって基板Wの上下主面の水切り
が行われる。
FIG. 3 is a view for explaining the detailed structure of the cleaning liquid processing section 40. In the brush unit 41, pure water from the nozzle 411 is supplied to the upper and lower main surfaces of the substrate W, and dirt on the upper and lower main surfaces of the substrate W1 is removed by the roll brush 412. Next, in the pure water cleaning unit 43, the substrate W is subjected to high-pressure spray cleaning with high-pressure cleaning water from the high-pressure nozzle 432, and further cleaned by supplying cleaning water subjected to ultrasonic vibration from the ultrasonic cleaning device 433. Is done. Finally,
In the air knife drying section 45 which is a drying means, the nozzle 4
The pressurized air from 51 drains the upper and lower main surfaces of the substrate W.

【0022】再び図1に戻って、払出部50内のリフト
位置まで搬送されてきた基板Wは、上昇する複数のプッ
シャーピン53に受け渡されて上昇し、払出部50に設
けた開口51から外部に搬出される。
Returning to FIG. 1 again, the substrate W transported to the lift position in the dispensing section 50 is transferred to the plurality of ascending pusher pins 53 and rises, and is lifted from the opening 51 provided in the dispensing section 50. It is carried out.

【0023】〔第2実施形態〕以下、第2実施形態の基
板処理装置について説明する。第2実施形態の基板処理
装置は、第1実施形態の基板処理装置を変形したもので
あり、図1のイオン化気体吹付部30に替えて超音波が
付与された気体を紫外線照射後の基板Wの上側主面に吹
き付ける超音波処理部130を設けた点で異なる。
[Second Embodiment] Hereinafter, a substrate processing apparatus according to a second embodiment will be described. The substrate processing apparatus according to the second embodiment is a modification of the substrate processing apparatus according to the first embodiment. Instead of the ionized gas blowing unit 30 shown in FIG. Is provided in that an ultrasonic processing unit 130 for spraying on the upper main surface is provided.

【0024】図4は、超音波処理部130内に配置され
たクリーナヘッド131の構造を説明する図である。ク
リーナヘッド131は、吸音材132aを内側に施した
防音カバー132中にプレッシャー室133とバキュー
ム室134とを備える。プレッシャー室133の下部に
は、スリット133aが設けられており、超音波発生器
135によって超音波が付与された超音波エアーが基板
Wに向けて斜めに噴射される。基板Wの上側主面で跳ね
返された超音波エアーと吹き飛ばされたパーティクル
は、バキューム室134の下部に設けたスリット134
aに吸引されて外部に排出される。
FIG. 4 is a view for explaining the structure of the cleaner head 131 disposed in the ultrasonic processing section 130. The cleaner head 131 includes a pressure chamber 133 and a vacuum chamber 134 in a soundproof cover 132 provided with a sound absorbing material 132a inside. A slit 133a is provided below the pressure chamber 133, and ultrasonic air to which ultrasonic waves have been applied by the ultrasonic generator 135 is obliquely jetted toward the substrate W. The ultrasonic air bounced off the upper main surface of the substrate W and the blown particles are formed in a slit 134 provided in a lower portion of the vacuum chamber 134.
a and is discharged to the outside.

【0025】なお、クリーナヘッド131の基板Wの進
行方向側の側面の下部には、イオナイザ138が配置さ
れている。このイオナイザ138は、超音波エアーによ
って帯電した基板Wの主面にイオン化エアーを供給して
基板Wの主面を中和し、基板Wの主面にパーティクルが
再付着することを防止したものである。
An ionizer 138 is disposed below the cleaner head 131 on the side of the substrate W in the direction of travel. The ionizer 138 supplies ionized air to the main surface of the substrate W charged with ultrasonic air to neutralize the main surface of the substrate W and to prevent particles from re-adhering to the main surface of the substrate W. is there.

【0026】図5は、クリーナヘッド131と基板Wの
配置関係を説明する図である。クリーナヘッド131
は、基板Wの短辺aより若干長い長さ寸法を有し、基板
Wの短辺aに平行に配置されている。クリーナヘッド1
31自体は固定されており、基板Wがその長辺b方向に
搬送されると、基板Wの上側主面に一様に超音波エアー
が供給される。基板Wの上側主面に付着した灰化した油
脂成分やパーティクルは、クリーナヘッド131から供
給された超音波エアーにさらされて基板Wから剥離され
る。なお、基板Wの主面を超音波エアーにさらす前に、
予め基板Wの主面に紫外線を照射してパーティクルを付
着させている油脂成分を灰化するので、超音エアーによ
って基板の主面に付着している灰化した油脂成分や油脂
成分に付着していたパーティクルを除去できる。
FIG. 5 is a diagram for explaining the positional relationship between the cleaner head 131 and the substrate W. Cleaner head 131
Has a length slightly longer than the short side a of the substrate W, and is arranged parallel to the short side a of the substrate W. Cleaner head 1
31 itself is fixed, and when the substrate W is transported in the direction of the long side b, ultrasonic air is uniformly supplied to the upper main surface of the substrate W. The ashed oil and fat components and particles attached to the upper main surface of the substrate W are separated from the substrate W by being exposed to the ultrasonic air supplied from the cleaner head 131. Before exposing the main surface of the substrate W to ultrasonic air,
Since the fat and oil component adhering the particles is ashed by previously irradiating the main surface of the substrate W with ultraviolet rays, the supersonic air adheres to the ashed fat and oil component and the fat and oil component adhering to the main surface of the substrate W. Removed particles can be removed.

【0027】以上、実施形態に即してこの発明を説明し
たが、この発明は上記実施形態に限定されるものではな
い。例えば、洗浄液処理部40は必須のものではなく、
用途によっては、紫外線照射工程及びイオン化気体吹付
工程のみで基板Wの洗浄を終了してもよい。例えば、特
定用途のプリント配線基板の洗浄やフィルム状基板の洗
浄では、紫外線照射工程とイオン化気体吹付工程とによ
って要求されている洗浄度を十分に達成することができ
る。
Although the present invention has been described with reference to the embodiment, the present invention is not limited to the above embodiment. For example, the cleaning liquid processing unit 40 is not essential,
Depending on the use, the cleaning of the substrate W may be completed only by the ultraviolet irradiation step and the ionized gas blowing step. For example, in the cleaning of a printed wiring board or a film substrate for a specific use, the cleaning degree required by the ultraviolet irradiation step and the ionized gas blowing step can be sufficiently achieved.

【0028】また、上記実施形態では、基板Wを、搬送
ローラRによって搬送しつつ、紫外線照射部20とイオ
ン化気体吹付部30とを通過させて洗浄しているが、搬
送ローラRを用いないで基板Wを洗浄することも可能で
ある。例えば、適当な搬送ロボットによって紫外線照射
部20に基板Wを搬入し、基板Wを固定したままで紫外
線照射処理を行うことができる。また、適当な搬送ロボ
ットによって紫外線照射部20からイオン化気体吹付部
30に基板Wを搬入し、基板Wを固定したままでイオン
化エアーガン37を移動走査させ、イオン化気体吹付処
理を行うことができる。
In the above embodiment, the substrate W is washed by passing it through the ultraviolet irradiation section 20 and the ionized gas blowing section 30 while being transported by the transport roller R. However, the transport roller R is not used. It is also possible to clean the substrate W. For example, the substrate W may be carried into the ultraviolet irradiation unit 20 by an appropriate transfer robot, and the ultraviolet irradiation may be performed while the substrate W is fixed. Further, the substrate W is carried into the ionized gas spraying unit 30 from the ultraviolet irradiation unit 20 by an appropriate transfer robot, and the ionized air gun 37 is moved and scanned while the substrate W is fixed, thereby performing the ionized gas spraying process.

【0029】また、上記実施形態では、基板Wの主面を
水平にして基板Wの洗浄処理を行っているが、基板Wの
主面が垂直になるように基板Wを配置して基板Wの洗浄
処理を行うこともできる。
Further, in the above embodiment, the cleaning process of the substrate W is performed with the main surface of the substrate W being horizontal, but the substrate W is arranged so that the main surface of the substrate W is vertical. A cleaning process can also be performed.

【0030】[0030]

【発明の効果】また、請求項1の基板洗浄方法によれ
ば、基板の主面に紫外線を照射する紫外線照射工程と、
紫外線照射工程後の基板の主面にイオン化された気体を
吹き付けるイオン化気体吹付工程とを含むので、紫外線
照射工程で基板の主面にパーティクルを付着させている
油脂成分が灰化される。このため、後のイオン化気体吹
付工程で基板の主面に付着している灰化した油脂成分や
油脂成分に付着していたパーティクルを除去できる。さ
らに、紫外線照射工程で基板の主面が活性化されるの
で、イオン化気体に反発したりこれに中和されるパーテ
ィクル等については、イオン化気体による基板の主面か
らの除去が比較的容易なものとなる。
According to the method for cleaning a substrate according to the first aspect, an ultraviolet irradiation step of irradiating the main surface of the substrate with ultraviolet light;
Since the method includes an ionized gas blowing step of blowing ionized gas onto the main surface of the substrate after the ultraviolet irradiation step, the fat component adhering particles to the main surface of the substrate is ashed in the ultraviolet irradiation step. For this reason, it is possible to remove the ashed fat and oil component adhering to the main surface of the substrate and particles adhering to the fat and oil component in the subsequent ionized gas blowing step. Furthermore, since the main surface of the substrate is activated in the ultraviolet irradiation step, particles that repel or are neutralized by the ionized gas are relatively easily removed from the main surface of the substrate by the ionized gas. Becomes

【0031】請求項2の基板洗浄方法によれば、基板の
主面に紫外線を照射する紫外線照射工程と、紫外線照射
工程後の基板の主面に超音波が付与された気体を吹き付
ける超音波処理工程とを含むので、紫外線照射工程で基
板の主面にパーティクルを付着させている油脂成分が灰
化される。このため、後の超音波処理工程で基板の主面
に付着している灰化した油脂成分や油脂成分に付着して
いたパーティクルを除去できる。
According to the substrate cleaning method of the second aspect, an ultraviolet irradiation step of irradiating the main surface of the substrate with ultraviolet rays and an ultrasonic treatment of blowing a gas to which ultrasonic waves have been applied to the main surface of the substrate after the ultraviolet irradiation step Therefore, in the ultraviolet irradiation step, the fat component adhering the particles to the main surface of the substrate is ashed. For this reason, it is possible to remove the ashed oil and fat component adhering to the main surface of the substrate and particles adhering to the oil and fat component in the subsequent ultrasonic treatment step.

【0032】また、請求項3の基板洗浄方法によれば、
超音波処理工程後又はイオン化気体吹付工程後の基板
に、所定の洗浄液を供給して基板を洗浄するので、パー
ティクルを十分に除去した後に洗浄液による基板の液洗
浄が可能となり、洗浄液による基板の洗浄がより効果的
なものとなる。
Further, according to the substrate cleaning method of the third aspect,
The substrate is cleaned by supplying a predetermined cleaning liquid to the substrate after the ultrasonic treatment step or the ionized gas spraying step, so that the substrate can be cleaned with the cleaning liquid after sufficiently removing particles, and the substrate can be cleaned with the cleaning liquid. Will be more effective.

【0033】また、請求項4の基板洗浄装置によれば、
基板の主面に紫外線を照射する紫外線照射部と、紫外線
照射部による紫外線照射後の基板の主面にイオン化され
た気体を吹き付けるイオン化気体吹付部とを有するの
で、紫外線照射部で基板の主面にパーティクルを付着さ
せている油脂成分が灰化される。このため、後のイオン
化気体吹付部で基板の主面に付着している灰化した油脂
成分や油脂成分に付着していたパーティクルを除去でき
る。さらに、紫外線照射部で基板の主面が活性化される
ので、イオン化気体に反発したりこれに中和されるパー
ティクル等については、イオン化気体による基板の主面
からの除去が比較的容易なものとなる。
According to the substrate cleaning apparatus of the fourth aspect,
It has an ultraviolet irradiator that irradiates the main surface of the substrate with ultraviolet light, and an ionized gas sprayer that blows ionized gas onto the main surface of the substrate after the ultraviolet irradiation by the ultraviolet irradiator. The fat component that causes the particles to adhere to the ash is ashed. Therefore, it is possible to remove the ashed oil and fat component adhering to the main surface of the substrate and particles adhering to the oil and fat component in the later ionized gas spraying section. Further, since the main surface of the substrate is activated by the ultraviolet irradiation part, particles and the like repelled by or neutralized by the ionized gas can be relatively easily removed from the main surface of the substrate by the ionized gas. Becomes

【0034】また、請求項5の基板洗浄装置によれば、
基板の主面に紫外線を照射する紫外線照射部と、紫外線
照射部による紫外線照射後の基板の主面に超音波が付与
された気体を吹き付ける超音波処理部とを有するので、
紫外線照射部で基板の主面にパーティクルを付着させて
いる油脂成分が灰化される。このため、後の超音波処理
部で基板の主面に付着している灰化した油脂成分や油脂
成分に付着していたパーティクルを除去できる。
Further, according to the substrate cleaning apparatus of claim 5,
Since it has an ultraviolet irradiation unit that irradiates ultraviolet rays to the main surface of the substrate and an ultrasonic processing unit that blows a gas to which ultrasonic waves have been applied to the main surface of the substrate after the ultraviolet irradiation by the ultraviolet irradiation unit,
In the ultraviolet irradiation part, the fat component adhering particles to the main surface of the substrate is ashed. For this reason, it is possible to remove the ashed oil and fat component adhering to the main surface of the substrate and particles adhering to the oil and fat component in the subsequent ultrasonic processing unit.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 第1実施形態の基板洗浄装置の正面構造を説
明する図である。
FIG. 1 is a diagram illustrating a front structure of a substrate cleaning apparatus according to a first embodiment.

【図2】 図1のイオン化気体吹付部の構造を説明する
図である。
FIG. 2 is a diagram illustrating a structure of an ionized gas blowing unit in FIG.

【図3】 図1の洗浄液処理部の構造を説明する図であ
る。
FIG. 3 is a diagram illustrating a structure of a cleaning liquid processing unit in FIG. 1;

【図4】 第2実施形態の基板洗浄装置の要部を説明す
る図である。
FIG. 4 is a diagram illustrating a main part of a substrate cleaning apparatus according to a second embodiment.

【図5】 第2実施形態の基板洗浄装置の要部を説明す
る図である。
FIG. 5 is a diagram illustrating a main part of a substrate cleaning apparatus according to a second embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 投入部 20 紫外線照射部 21 ランプハウス 30 イオン化気体吹付部 31 全体カバー 36 除塵部カバー 37 イオン化エアーガン 38 バキュームダクト 40 洗浄液処理部 50 払出部 130 超音波処理部 131 クリーナヘッド 133 プレッシャー室 134 バキューム室 W 基板 R 搬送ローラ DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Input part 20 Ultraviolet irradiation part 21 Lamp house 30 Ionized gas blowing part 31 Whole cover 36 Dust removing part cover 37 Ionized air gun 38 Vacuum duct 40 Cleaning liquid processing part 50 Dispensing part 130 Ultrasonic processing part 131 Cleaner head 133 Pressure chamber 134 Vacuum chamber W Substrate R Transport roller

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板の主面に紫外線を照射する紫外線照
射工程と、 紫外線照射工程後の基板の主面にイオン化された気体を
吹き付けるイオン化気体吹付工程と、を含むことを特徴
とする基板洗浄方法。
1. A substrate cleaning method comprising: an ultraviolet irradiation step of irradiating a main surface of a substrate with ultraviolet rays; and an ionizing gas blowing step of blowing an ionized gas onto the main surface of the substrate after the ultraviolet irradiation step. Method.
【請求項2】 基板の主面に紫外線を照射する紫外線照
射工程と、 紫外線照射工程後の基板の主面に超音波が付与された気
体を吹き付ける超音波処理工程と、を含むことを特徴と
する基板洗浄方法。
2. An ultraviolet irradiation step of irradiating the main surface of the substrate with ultraviolet rays, and an ultrasonic treatment step of blowing a gas to which ultrasonic waves are applied to the main surface of the substrate after the ultraviolet irradiation step. Substrate cleaning method.
【請求項3】 前記超音波処理工程後又はイオン化気体
吹付工程後の基板に、所定の洗浄液を供給して基板を洗
浄することを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の
基板洗浄方法。
3. The substrate cleaning method according to claim 1, wherein a predetermined cleaning liquid is supplied to the substrate after the ultrasonic treatment step or the ionized gas spraying step to clean the substrate. .
【請求項4】 基板の主面に紫外線を照射する紫外線照
射部と、 紫外線照射部による紫外線照射後の基板の主面にイオン
化された気体を吹き付けるイオン化気体吹付部と、を有
することを特徴とする基板洗浄装置。
4. An ultraviolet irradiation unit for irradiating the main surface of the substrate with ultraviolet light, and an ionized gas blowing unit for blowing ionized gas onto the main surface of the substrate after the irradiation of the ultraviolet light by the ultraviolet irradiation unit. Substrate cleaning equipment.
【請求項5】 基板の主面に紫外線を照射する紫外線照
射部と、 紫外線照射部による紫外線照射後の基板の主面に超音波
が付与された気体を吹き付ける超音波処理部と、を有す
ることを特徴とする基板洗浄装置。
5. An ultraviolet irradiation unit for irradiating the main surface of the substrate with ultraviolet light, and an ultrasonic processing unit for blowing a gas to which ultrasonic waves have been applied to the main surface of the substrate after the irradiation of the ultraviolet light by the ultraviolet irradiation unit. A substrate cleaning apparatus characterized by the above-mentioned.
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