JPH10216092A - 光学特性測定装置 - Google Patents
光学特性測定装置Info
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- JPH10216092A JPH10216092A JP9042940A JP4294097A JPH10216092A JP H10216092 A JPH10216092 A JP H10216092A JP 9042940 A JP9042940 A JP 9042940A JP 4294097 A JP4294097 A JP 4294097A JP H10216092 A JPH10216092 A JP H10216092A
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Abstract
る装置に係わり、特に、不正乱視成分の光学特性を測定
可能な光学特性測定装置を提供する。 【解決手段】 照明光学系が、照明用の光源からの光束
で被検眼網膜上で微小な領域を照明し、受光光学系が、
被検眼網膜から反射して戻ってくる光束を受光して受光
部に導き、変換部材が、この反射光束を少なくとも17
本のビームに変換し、受光部が、変換部材で変換された
複数の光束を受光し、光学特性演算部が、受光部で得ら
れた光束の傾き角に基づいて被検眼の光学特性を求める
様に構成されている。
Description
を精密に測定する装置に係わり、特に、不正乱視成分の
光学特性を測定可能な光学特性測定装置に関するもので
ある。
は、レフラクトメーターとして知られているが、その被
検眼の光学特性を球面成分、正乱視成分及びその軸角度
のみを求め表示するに過ぎなかった。
有している場合が有り、不正乱視成分の量によっては、
眼鏡ではなくコンタクトレンズの矯正や医師の診断を必
要とする場合がある。
レフラクトメーター等の被検眼の光学特性を測定する装
置では、眼鏡の矯正を実施する等に利用できるだけであ
り、十分なものとは言えなかった。
乱視成分及びその軸角度だけでなくこれ以外の不正乱視
成分まで精密に測定できる光学特性測定装置の出現が強
く望まれていた。
案出されたもので、照明用の光源と、該光源からの光束
で被検眼網膜上で微小な領域を照明するための照明光学
系と、被検眼網膜から反射して戻ってくる光束を受光し
受光部に導くための受光光学系と、この反射光束を少な
くとも17本のビームに変換するための変換部材と、該
変換部材で変換された複数の光束を受光する受光部と、
この受光部で得られた光束の傾き角に基づいて被検眼の
光学特性を求めるための光学特性演算部とから構成され
ている。
らの光束で被検眼網膜上で微小な領域を照明するための
照明光学系と、被検眼網膜から反射して戻ってくる光束
を受光し受光部に導くための受光光学系と、この反射光
束を少なくとも17本のビームに変換するための変換部
材と、該変換部材で変換された複数の光束を受光する受
光部と、この受光部で得られた光束の傾き角に基づい
て、被検眼の光学特性に関して、球面成分、正乱視成分
及びその軸角度並びにこれ以外の不正乱視成分とに分け
て被検眼の光学特性を求めるための光学特性演算部と、
この光学特性演算部の演算結果を、被検眼の光学特性に
関して、球面成分、正乱視成分及びその軸角度並びにこ
れ以外の不正乱視成分とに分けて表示するための表示部
とから構成されている。
を正常眼からの偏差、又は被検眼の屈折力等の光学特性
をグラフィックに表示してもよい。
る面内に配置された複数のマイクロフレネルレンズで構
成され、光学特性演算部が、前記受光部の受光面上での
反射光束の収束位置又は照射位置から反射光束の傾き角
を求め、この傾き角に基づいて、被検眼の光学特性を求
めてもよい。
受光した光束のぼけ具合から、網膜から反射してきた光
束であるか、或いは、角膜から反射した光束かを区別
し、網膜から反射してきた光束の傾き角に基づいて、被
検眼の光学特性を求めてもよい。
が被検眼眼底に対して共役からわずかにずれた位置とな
る様に形成されるか、又は、被検眼虹彩と前記変換部材
とが略共役な関係となる様に形成することもできる。
変換部材と被検眼の虹彩と略共役関係を保ち、かつ被検
眼眼底からの反射光束が略平行光束となるような調節機
能を有する構成にすることもできる。
力に応じて該光源からの光束が検眼眼底上で微小な領域
を照明する構成にすることもできる。
中心付近を通して照明する第1照明状態と、被検眼の瞳
周辺付近を通して照明する第2照明状態を形成する光束
遮蔽部材を配置した構成にしてもよい。
開口のある第1絞りと、周辺部付近に開口のある第2絞
りから構成してもよい。
成する液晶で形成してもよい。
れ、多数の開口を移動自在に形成し、前記光学特性演算
部は、異なる位置の開口から得られた光束の傾き角に基
づいて被検眼の光学特性を精度良く求める構成にするこ
ともできる。
照明光学系が、照明用の光源からの光束で被検眼網膜上
で微小な領域を照明し、受光光学系が、被検眼網膜から
反射して戻ってくる光束を受光して受光部に導き、変換
部材が、この反射光束を少なくとも17本のビームに変
換し、受光部が、変換部材で変換された複数の光束を受
光し、光学特性演算部が、受光部で得られた光束の傾き
角に基づいて被検眼の光学特性を求める様になってい
る。
源からの光束で被検眼網膜上で微小な領域を照明し、受
光光学系が、被検眼網膜から反射して戻ってくる光束を
受光して受光部に導き、変換部材が、この反射光束を少
なくとも17本のビームに変換し、受光部が、変換部材
で変換された複数の光束を受光し、光学特性演算部が、
受光部で得られた光束の傾き角に基づいて、被検眼の光
学特性に関して、球面成分、正乱視成分及びその軸角度
並びにこれ以外の不正乱視成分とに分けて被検眼の光学
特性を求め、表示部が、光学特性演算部の演算結果を、
被検眼の光学特性に関して、球面成分、正乱視成分及び
その軸角度並びにこれ以外の不正乱視成分とに分けて表
示することができる。
を正常眼からの偏差、又は被検眼の屈折力等の光学特性
をグラフィックに表示することもできる。
る面内に配置された複数のマイクロフレネルレンズで構
成され、光学特性演算部が、前記受光部の受光面上での
反射光束の収束位置から反射光束の傾き角を求め、この
傾き角に基づいて、被検眼の光学特性を求めることもで
きる。
受光した光束のぼけ具合から、網膜から反射してきた光
束であるか、或いは、角膜から反射した光束かを区別
し、網膜から反射してきた光束の傾き角に基づいて、被
検眼の光学特性を求めることもできる。
検眼眼底に対して共役からわずかにずれた位置となる様
に形成されるか、又は、被検眼虹彩と前記変換部材とが
略共役な関係を形成する様に形成することもできる。
部材と被検眼の虹彩と略共役関係を保ち、かつ被検眼眼
底からの反射光束が略平行光束となるような調節機能を
有する構成にすることもできる。
力に応じて該光源からの光束が検眼眼底上で微小な領域
を照明することもできる。
束遮蔽部材が、被検眼の瞳中心付近を通して照明する第
1照明状態と、被検眼の瞳周辺付近を通して照明する第
2照明状態を形成することもできる。
開口のある第1絞りと、周辺部付近に開口のある第2絞
りから構成してもよい。
成する液晶で形成してもよい。
れ、多数の開口を移動自在に形成し、前記光学特性演算
部は、異なる位置の開口から得られた光束の傾き角に基
づいて被検眼の光学特性を精度良く求めることもでき
る。
る。
置10000は、図1Aに示す様に、照明用の光源10
0と、この光源100からの光束で被検眼網膜上で微小
な領域を照明するための照明光学系200と、被検眼網
膜から反射して戻ってくる光束を受光し受光部500に
導くための受光光学系300と、この反射光束を少なく
とも17本のビームに変換するための変換部材400
と、変換部材400で変換された複数の光束を受光する
受光部500と、この受光部500で得られた光束の傾
き角に基づいて被検眼1000の光学特性を求めるため
の光学特性演算部600とから構成されている。
特性演算部600を含む全体の制御を司っている。更
に、制御演算処理手段800は、光源駆動手段101を
介して光源100を制御駆動する様に構成されている。
時間コヒーレンスは高くないものが望ましい。本第1実
施例の光源100には、SLDが採用されており、輝度
が高い点光源を得ることができる。
Dに限られるものではなく、レーザーの様に空間、時間
ともコヒーレンスが高いものでも、回転拡散板などを挿
入することにより、適度に時間コヒーレンスを下げるこ
とで利用できる。
ヒーレンスが高くないものでも、光量さえ充分であれ
ば、ピンホール等を光路の光源の位置に挿入すること
で、使用可能になる。
は、可視域の中心部、例えばe線を使用することができ
る。眼鏡の基準波長であるe線で測定することが望まし
いが、アメリカ合衆国で使用する場合には、d線での測
定を行うことができる。
束で被検眼眼底上で微小な領域を照明するためのもので
ある。照明光学系200は、第1の集光レンズ201
と、可変絞り202と、第2の集光レンズ203と、固
視標結像レンズ204と、固視標205とから構成され
ている。
るものであり、図1Bに示す様に、この可変絞り202
は、中心付近に開口のある第1絞り202aと、周辺部
付近に開口のある第2絞り202bとが並べて配置され
ており、これを光軸と直交方向に制御演算処理手段80
0からの信号で移動させることにより切り替え可能に構
成されている。
2は、被検眼1000の瞳と略共役付近に、被検眼10
00の瞳中心付近を通して照明する第1照明状態と、被
検眼1000の瞳周辺付近を通して照明する第2照明状
態とを形成することができる。
と、虹彩1200と、網膜1300とを備えている。
定への影響を軽減することができる。
して戻ってくる光束を受光し受光部500に導くための
ものである。受光光学系300は、第1のアフォーカル
レンズ301と、第2のアフォーカルレンズ302と、
反射光束を少なくとも17本のビームに変換するための
変換部材400と、絞り303とから構成されている。
明光学系200の可変絞り202と共役の位置にある。
そして、互いに虹彩1200と共役となっている。
時に遮光されている部分で行うことにより、角膜反射の
影響を受けることを防止することができる。
が、光路内に挿入されている時には、中央の遮光部で遮
光されている範囲の測定が行われ、可変絞り202の第
2絞り202bが光路内に挿入されている時には、中央
の開口部の周りの範囲で測定が行われる。
0の屈折力に応じて光源100からの光束が検眼眼底上
で微小な領域を照明する様に構成されており、光源10
0からの光束を照明するための点光源照明系200A
と、固視標投影系200Bを含む照明系とを移動させる
ことにより被検眼1000の屈折異常を矯正することが
できる。
光レンズ201と、可変絞り202と、第2の集光レン
ズ203とから構成され、固視標投影系200Bは、固
視標結像レンズ204と、固視標205とから構成され
ている。そして、点光源照明系200Aからの光束と固
視標投影系200Bからの光束とは、ビームスプリッタ
220で同軸とされている。
関係に維持されている。また照明光学系200を移動さ
せて、網膜に点光源及び固視標205の像が形成された
後に、制御演算処理手段800からの信号により、固視
標投影系200Bを僅かに遠ざけ雲霧させる。
系200Aと固視標投影系200Bとの視度を、受光部
500での受光レベルに応じて、この受光レベルが最大
となる様にして調整する様に構成されている。
000は、被検眼1000の遠点、近点、または、その
間での、ある特定の屈折力を持った状態での光学特性を
測定することを一つの目的としている。
検眼1000によって「ー25ディオプター」から「2
5ディオプター」程度の屈折力の差があるので、屈折力
の変化に応じて照明光束が検眼眼底上で微小な領域を照
明する様に構成されている。このため、光源100と、
点光源照明系200Aと、固視標投影系200Bとが、
制御演算処理手段800からの信号により移動する様に
構成されている。
カルレンズ301と、第2のアフォーカルレンズ302
とに関して、受光部500の受光面と被検眼1000の
虹彩1200と略共役関係を保つ様に構成されている。
00は、反射光束を複数のビームに変換する波面変換部
材である。本第1実施例の変換部材400には、光軸と
直交する面内に配置された複数のマイクロフレネルレン
ズが採用されている。
細に説明する。
ピッチの輪帯をもち、集光点に最適化されたブレーズを
持つ光学素子である。ここで利用することのできるマイ
クロフレネルレンズは、例えば、半導体微細加工技術を
応用した8レベルの光路長差をつけたもので、1次光の
み利用の場合98%の集光効率を実現できる。
束を少なくとも17以上のビームに変換する波面変換部
材から構成されている。
換された複数のビームを受光するためのものであり、本
第1実施例では、CCDが採用されている。このCCD
は、TV用などの一般的なものから測定用の2000*
2000素子等、何れのタイプのものが使用できる。
場合には、解像度は劣るが、安価であり、通常、後処理
で利用するパーソナルコンピューターへの入力も簡便で
ある。この場合、CCDとそのドライバーからの画像信
号出力は、NTSC信号とし、パーソナルコンピュータ
ーにNTSC信号に適応した画像入力ボードを使用する
ことで簡単に実現することができる。
2000素子のCCDを採用した場合、装置は高価とな
るが、同様にアナログ信号を介してパーソナルコンピュ
ーターに測定値を入力することができる。
信号でパーソナルコンピューターに入力することも可能
である。
200と変換部材400と略共役な関係を形成してい
る。
リッタ303が挿入されており、照明光学系200から
の光を被検眼1000に送光し、反射光を透過させる様
に構成されている。
は、受光素子ドライバ510を介して光学特性演算部6
00に送出される様に構成されている。
角に基づいて被検眼1000の光学特性を求めるための
光学特性演算部600の動作原理について詳細に説明す
る。
成分も含めて測定する」
させ、眼底の二次光源が平行光で出射させる。
を行う。
X、Yとし、 受光部500の座標をx、yとすれば、
波面は極座標表示ま又は、直交座標表示によって、
に
説明する。
と、
は、
なる。
Aを決める。添え字のi、jは変換部材400の1要素
に対応する。実際には、データが傾き角で出現するた
め、それぞれの波面の微分値を使って計算する。なぜな
ら、本装置において測定するデータは光線の傾き角であ
るからである。
微分で求めることができる。本波面センサーで測定され
る量は基準からの横収差量である。
知られている。
00との距離である。
量について」
においてdx(X、Y)、dy(X、Y)を得る。
素子の対して、受光部500上の、予め決まっている原
点と、実際の光線の交点のx、y方向それぞれの距離で
ある。変換部材400の1素子に対応する原点は、図2
に示す様に、波面がW一様に平らで、つまり、眼屈折率
特性が球面成分と乱視成分が共に0ディオプターで、あ
とで述べる不正乱視成分などの残差もない場合に、変換
された光束が測定できる受光部500上の点である。
の時のそれぞれの点の位置を(x0、y0)とする。
は、
ラメーターG、T、S、C、を適当な非線型最適化手
法、例えば、減衰最小二乗法などを使って求めればよ
い。
えられる。オートレフではS、C、Aが測定量となる。
ないところがあるが、それぞれの組み合わせを別々に計
算して、最も残差の少ない場合を採用すればよい。
上、測定することができない。また、ソフトウェアー的
にも新しい工夫が必要である。
に成分に分ける。
面として、ずれ量をすべて出力する。
のものの歪みを知るために、基準波面をSによるもの、
または、単に、平面によるものなども必要になる場合が
ある。
T、 S、C、Aを使って、残差の自乗和を測定する。
N行M列とすると、点数n=N*Mの自乗を2倍した数
で割ったものであり、
(θ+Tn)、n=1、2・・・・
=2、3・・・・
2(θ+An)、n=1、2・・・・
収差が存在し、これが大事である。一般的にこれらは、
光線の傾き角から先に得られたG、T、S、C、Aによ
り、傾き角、球面、正乱視の各成分に寄与した量を引き
去る。その上で、ここで述べた、コマ収差成分、球面収
差成分、高次の非点収差およびその他の寄与を計算する
ことができる。
向での距離差dLを表示する。
いたものである。
したもので、
b(S、C、A、Xi、Yj)
r(S、C、A、不正乱視成分のパラメータ、Xi、
Yj)
ができる。また、μm等の単位で表示することも可能で
ある。
する」
パワーを計算する。(前と同様)
分のみによる傾き角を求め、それと、近傍の点の傾き角
からパワーを計算する。
算されるその点の傾き角を引き去り、その後で、周辺の
点(典型的には8個又は、15個)から、その点のパワ
ーを計算する。
何で教えるところの曲面のある点での最大曲率と最小曲
率に関係した量と方位を直接表示する。即ち、曲率半径
Rで収束している時のパワーは、1/Rと表現される。
DIONAL POWERを表示する方法がある。
強く、水平子午線方向のパワーが弱い。パワーはディオ
プターで表示することが通例である。
なくとも17以上のビームに変換することについて詳細
に説明する。
原点と動径方向の1点、回転方向は4点のデータから計
算できる。ここでは最低その1次づつ高次の情報が必要
であるので2*8=16と原点の合計である17点の計
測点が必要になる。
500の受光面上の複数のマイクロフレネルレンズによ
る1次光の収束位置から光束の傾き角を求め、これに基
づき被検眼1000の光学特性を求めることができる。
レンズを使わない場合には、受光データの1点はぼやけ
た像になるので、各点の重心を求める。
場合でも、図6に示す様に、受光素子でわざとぼかした
像を観察することにより位置測定精度を向上させること
ができる。また、投影される光束が受光面において複数
の画素上に投影される様にし、各画素の光束の強度を参
考にして重心位置を求めることもできる。
子の1/10以下の測定位置精度を確保することができ
る。
た像と角膜反射像とでは、像のぼけかたに違いがあるの
で、それによって両者を区別することもできる。
7(b)は、網膜反射光の受光部500上の光強度分布
であり、図7(c)は、角膜反射光の受光部500上の
光強度分布である。そして、図7(b)と図7(c)と
を合成したものが、図7(d)である。
それよりもわずかに低いレベルをスライスレベルとして
設定し、角膜からの反射光の影響を受けずに、網膜から
の反射光位置を求める。また、適当なフィルターを使い
網膜からの反射光位置を求めることもできる。
表示するための表示部700を設けることができる。
学特性を球面成分、正乱視成分及びその軸角度並に、こ
れ以外の不正乱視成分とに分けて表示することができ
る。即ち、光学特性演算部600で得られた結果を表示
する。
軸角度の表示」
差成分、高次の非点収差成分を表示する。
角度の表示」
みで構成される波面からのずれを2次元的に表示する。
ばディオプターで表示」
点に非点収差がある場合曲率が2種類存在する。微分幾
何学の教えるところにより、両者は直交している。
学特性をグラフィックに表示することができ、例えば、
被検眼1000を全部から見た図(x、y座標)で表示
したり、x、y座標にパワーを例えばディオプター表示
でマッピングすることができる。
学特性を正常眼からの偏差で表示することもできる。
した標準となる波面からのずれを波長オーダーでx、y
座標系にマッピングすることもできる。
光学特性を正常眼からの偏差でグラフィックに表示する
こともできる。そして、これらの表示は等高線表示する
こともできる。
よるマッピングとすることもできる。
置20000は、図8に示す様に、照明用の光源100
と、この光源100からの光束で被検眼網膜上で微小な
領域を照明するための照明光学系200と、被検眼網膜
から反射して戻ってくる光束を受光し受光部500に導
くための受光光学系300と、この反射光束を少なくと
も17本のビームに変換するための変換部材400と、
変換部材400で変換された複数の光束を受光する受光
部500と、この受光部500で得られた光束の傾き角
に基づいて被検眼1000の光学特性を求めるための光
学特性演算部600と、全体の制御を司るための制御演
算処理手段800とから構成されている。
域を避けて、例えば、略840nmのものを使用してい
る。従って、被験者に測定用の光を感じさせることなく
測定を行うことができる。
01と、液晶部材210と、第2の視度調整機構220
とから構成されている。第2の視度調整機構220は、
受光部500の受光レベルに応じて制御演算手段800
からの信号に応じて制御されるもので、その受光レベル
が最大となる様にして視度調整を行うものである。
202を採用していたが、本第2実施例では、液晶部材
210が採用されている。
中心付近に開口を形成する第1照明状態と、周辺部付近
に開口を形成する第2照明状態とを形成することができ
る。
光学系の要求により自由に変えられる特徴がある。
は、制御演算処理手段800が、液晶用ドライバを介し
て駆動される様に構成されている。
10と、第2の測定レンズ311と、第3の測定レンズ
312と、固視標光学系320と、第3の視度調整機構
315と、テーパーファイバーハンドル316と、第2
のビームスプリッタ318から構成されている。
21、固視標322及び第4の視度調整機構323とか
ら構成されている。雲霧機構323は、制御演算処理手
段800からの信号により、固視標322が、眼底と共
役な位置よりも眼底から離れる方向に位置する様に、固
視標用レンズ321及び固視標322とを一体として移
動させ、いわゆる雲霧状態を形成するものである。
照明光学系200からの光を被検眼1000に向けて反
射させ、被検眼1000からの反射光を透過させる様に
構成されている。
10と第2の測定レンズ311に関して、被検眼100
0の虹彩1200と受光部500の変換部材400と略
共役関係を保つ様に構成されている。
役関係は、まず、器械全体と被検眼との作動距離が適
切、即ち、第1測定レンズ310と被検眼1000との
距離を適切なものとなる様に調整することで行われる。
この作業には、従来の周知の各種手段が採用できる。
の受光面と被検眼1000の虹彩1200と略共役関係
を保ち、かつ、被検眼眼底からの反射光束が略平行光束
となるような調節機能を有している。
3の測定レンズ312以降の受光部500側及び固視標
光学系320を一体に移動することによって受光部50
0における測定対象から除くことができる。
00と受光部500の受光面とを略共役の関係とする操
作は、第3の視度調整機構315が、光学特性演算手段
600によって得られた球面成分Sに応じた制御演算処
理手段800からの信号に基づき、この球面成分Sが最
小となる様に、第3の測定レンズ312以降の光学要素
を一体に移動することにより行われる。
調整機構220と第3の視度調整機構315とが独立制
御される様に構成することもできる。そして、何れか一
方の視度調整機構のみの調整で足りる場合もある。
311とが、アフォーカル光学系を形成する場合、第3
の測定レンズ312以降の光学要素が、照明光学系20
0の移動に連動して動くことになる。そして、倍率によ
っては同じ距離だけ動くため、移動機構を共通化するこ
ともできる。
度の近視眼や遠視眼の測定、近点での測定のために、測
定幅を拡大するために行うこともできる。
ーパーファイバーバンドル316を挿入し、簡単に変換
部材400から受光部500への倍率の変換を実施する
こともできる。
0のレンズを移動させることにより、
非常に小さくなっている場合がある。この場合は、多項
式から球面成分を除いて処理を行う。処理方法は、第1
の実施例と同様である。
ンズの移動量から球面成分の大きさを計算する。
移動しても多項式の球面成分を無視できるほど小さくな
い場合もありうる。この場合は第1の実施例の演算がそ
のまま適用される。
ンズの移動量から球面成分の大きさを計算して、多項式
近似による球面成分量に加える。
00からの照明光を被検眼1000に向かわせ、被検眼
1000からの反射光を受光光学系300と照明光学系
200とに分割する。この照明光学系200中にビーム
スプリッタを追加し、角膜1100と共役な位置に2次
元センサーを配置して、被検眼前眼部の観察が行える。
性測定装置20000のその他の構成及び作用は、第1
実施例である光学特性測定装置10000と同様である
から説明を省略する。
00と、第2実施例の光学特性測定装置20000とで
は、変換部材400として、マイクロフレネルレンズを
使用したハルトマン板が使用されている。本第3実施例
の変換部材400は、マイクロフレネルレンズを使用し
たハルトマン板に代えて、液晶部材410を利用してい
る。
があり、例えば、SVGA方式の液晶を利用した場合、
縦横800*600ドットの解像が得られる。
を下記の様に駆動する。
2実施例の変換部材400と同様な動作を行う様に構成
されており、
け横ずらしする。この状態で測定2を実行する。
だけ縦に移動する。この状態で測定3を実行する。
回目の横移動と逆方向に同じ移動量、移動する。この状
態で、測定4を実行する。
る。
である。簡単のために、穴が四角として、10*10ド
ットの大きさの穴としても、1ドットづつ動かして、デ
ータを取得することで、虹彩の違う位置での情報を取り
込むことができる。
情報が得られる。
光学系の精密な計測をするためにRGBそれぞれの色で
測定するものである。三原色の錐体の中心波長での測定
が可能となる。
0の間にダイクロイックミラー900、900を2個挿
入してRGBの成分別に光束を波長分割して測定を行う
3つの受光部500の3板式で構成される。
用する1板式である。アメリカ合衆国では、d線での測
定を行うこともできる。
と、該光源からの光束で被検眼網膜上で微小な領域を照
明するための照明光学系と、被検眼網膜から反射して戻
ってくる光束を受光し受光部に導くための受光光学系
と、この反射光束を少なくとも17本のビームに変換す
るための変換部材と、該変換部材で変換された複数の光
束を受光する受光部と、この受光部で得られた光束の傾
き角に基づいて被検眼の光学特性を求めるための光学特
性演算部とから構成されているので、不正乱視等の光学
特性を測定することができるという卓越した効果があ
る。。
00の構成を示す図である。
方位を直接表示する方法を示すものである。
方法を示す図である。
方法を示す図である。
る。
する方法を示す図である。
00の構成を示す図である。
る。
000の構成を示す図である。
Claims (12)
- 【請求項1】 照明用の光源と、該光源からの光束で被
検眼網膜上で微小な領域を照明するための照明光学系
と、被検眼網膜から反射して戻ってくる光束を受光し受
光部に導くための受光光学系と、この反射光束を少なく
とも17本のビームに変換するための変換部材と、該変
換部材で変換された複数の光束を受光する受光部と、こ
の受光部で得られた光束の傾き角に基づいて被検眼の光
学特性を求めるための光学特性演算部とから構成される
光学特性測定装置。 - 【請求項2】 照明用の光源と、該光源からの光束で被
検眼網膜上で微小な領域を照明するための照明光学系
と、被検眼網膜から反射して戻ってくる光束を受光し受
光部に導くための受光光学系と、この反射光束を少なく
とも17本のビームに変換するための変換部材と、該変
換部材で変換された複数の光束を受光する受光部と、こ
の受光部で得られた光束の傾き角に基づいて、被検眼の
光学特性に関して、球面成分、正乱視成分及びその軸角
度並びにこれ以外の不正乱視成分とに分けて被検眼の光
学特性を求めるための光学特性演算部と、この光学特性
演算部の演算結果を、被検眼の光学特性に関して、球面
成分、正乱視成分及びその軸角度並びにこれ以外の不正
乱視成分とに分けて表示するための表示部とから構成さ
れる光学特性測定装置。 - 【請求項3】 表示部は、被検眼の光学特性を正常眼か
らの偏差、又は被検眼の屈折力等の光学特性をグラフィ
ックに表示する請求項2記載の光学特性測定装置。 - 【請求項4】 変換部材は、光軸と直交する面内に配置
された複数のマイクロフレネルレンズで構成され、光学
特性演算部が、前記受光部の受光面上での反射光束の収
束位置から反射光束の傾き角を求め、この傾き角に基づ
いて、被検眼の光学特性を求める請求項1又は2記載の
光学特性測定装置。 - 【請求項5】 光学特性演算部は、受光部で受光した光
束のぼけ具合から、網膜から反射してきた光束である
か、或いは、角膜から反射した光束かを区別し、網膜か
ら反射してきた光束の傾き角に基づいて、被検眼の光学
特性を求める請求項1記載の光学特性測定装置。 - 【請求項6】 受光光学系は、前記受光部が被検眼眼底
に対して共役からわずかにずれた位置となる様に形成さ
れるか、又は、被検眼虹彩と前記変換部材とが略共役な
関係を形成する様に形成されている請求項3記載の光学
特性測定装置。 - 【請求項7】 受光光学系は、前記受光部の変換部材と
被検眼の虹彩と略共役関係を保ち、かつ被検眼眼底から
の反射光束が略平行光束となるような調節機能を有する
請求項1又は2記載の光学特性測定装置。 - 【請求項8】 照明光学系は、被検眼の屈折力に応じて
該光源からの光束が検眼眼底上で微小な領域を照明する
請求項1又は2記載の光学特性測定装置。 - 【請求項9】 照明光学系は、被検眼の瞳中心付近を通
して照明する第1照明状態と、被検眼の瞳周辺付近を通
して照明する第2照明状態を形成する光束遮蔽部材を配
置した請求項1又は2記載の光学特性測定装置。 - 【請求項10】 光束遮蔽部材は、中心付近に開口のあ
る第1絞りと、周辺部付近に開口のある第2絞りから構
成されている請求項9記載の光学特性測定装置。 - 【請求項11】 変換部材を多数の開口を形成する液晶
で形成する請求項1又は2記載の光学特性測定装置。 - 【請求項12】 変換部材は液晶で構成され、多数の開
口を移動自在に形成し、前記光学特性演算部は、異なる
位置の開口から得られた光束の傾き角に基づいて被検眼
の光学特性を精度良く求める様に構成した請求項11記
載の光学特性測定装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04294097A JP3684462B2 (ja) | 1997-02-12 | 1997-02-12 | 光学特性測定装置 |
| US09/023,058 US6234978B1 (en) | 1997-02-12 | 1998-02-12 | Optical characteristic measuring apparatus |
| US09/809,978 US6540692B2 (en) | 1997-02-12 | 2001-03-16 | Optical characteristic measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04294097A JP3684462B2 (ja) | 1997-02-12 | 1997-02-12 | 光学特性測定装置 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10216092A true JPH10216092A (ja) | 1998-08-18 |
| JPH10216092A5 JPH10216092A5 (ja) | 2005-02-24 |
| JP3684462B2 JP3684462B2 (ja) | 2005-08-17 |
Family
ID=12650020
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP04294097A Expired - Fee Related JP3684462B2 (ja) | 1997-02-12 | 1997-02-12 | 光学特性測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3684462B2 (ja) |
Cited By (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001047407A1 (en) * | 1999-12-27 | 2001-07-05 | Kabushiki Kaisha Topcon | Optical characteristic measuring instrument |
| JP2001204690A (ja) * | 1999-11-15 | 2001-07-31 | Topcon Corp | 眼特性測定装置 |
| JP2001321340A (ja) * | 2000-05-12 | 2001-11-20 | Topcon Corp | 眼特性測定装置 |
| JP2001340299A (ja) * | 2000-06-02 | 2001-12-11 | Topcon Corp | 眼光学特性測定装置 |
| JP2002125931A (ja) * | 2000-10-20 | 2002-05-08 | Topcon Corp | 眼特性測定装置 |
| JP2002209854A (ja) * | 2000-10-18 | 2002-07-30 | Topcon Corp | 光学特性測定装置 |
| JP2002529184A (ja) * | 1998-11-13 | 2002-09-10 | ジーン,ベネディクト | 目の表面トポメトリーおよび生物測定学の同時決定のための方法および装置 |
| JP2003052632A (ja) * | 2001-08-14 | 2003-02-25 | Topcon Corp | 眼特性測定装置 |
| WO2003039357A1 (fr) * | 2001-11-09 | 2003-05-15 | Kabushiki Kaisha Topcon | Dispositif permettant de mesurer une caracteristique optique de l'oeil |
| JP2003532449A (ja) * | 1999-10-21 | 2003-11-05 | ユニバ−シティ オブ ロチェスタ− | 軸外れ照射を伴う波先センサ |
| JP2004528130A (ja) * | 2001-04-18 | 2004-09-16 | ボシュ・アンド・ロム・インコーポレイテッド | 目の屈折の客観的な測定 |
| US6905209B2 (en) | 2000-10-18 | 2005-06-14 | Kabushiki Kaisha Topcon | Optical characteristics measuring device |
| US7309126B2 (en) | 2000-10-18 | 2007-12-18 | Kabushiki Kaisha Topcon | Eye characteristics measuring device |
| US7506980B2 (en) | 2006-09-29 | 2009-03-24 | Nidek Co., Ltd. | Ophthalmic apparatus |
| JP2010012166A (ja) * | 2008-07-07 | 2010-01-21 | Canon Inc | 光断層画像撮像装置および光断層画像の撮像方法 |
| JP2011104135A (ja) * | 2009-11-18 | 2011-06-02 | Canon Inc | 光画像の撮像方法およびその装置 |
| WO2012090796A1 (ja) | 2010-12-27 | 2012-07-05 | 株式会社ニデック | 角膜形状測定装置 |
| WO2013151171A1 (ja) | 2012-04-06 | 2013-10-10 | 株式会社ニデック | 眼科測定装置、及び眼科測定装置を備える眼科測定システム |
| US9775507B2 (en) | 2014-10-07 | 2017-10-03 | Nidek Co., Ltd. | Method of evaluating quality of vision in examinee's eye and storage medium |
-
1997
- 1997-02-12 JP JP04294097A patent/JP3684462B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (24)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002529184A (ja) * | 1998-11-13 | 2002-09-10 | ジーン,ベネディクト | 目の表面トポメトリーおよび生物測定学の同時決定のための方法および装置 |
| JP2003532449A (ja) * | 1999-10-21 | 2003-11-05 | ユニバ−シティ オブ ロチェスタ− | 軸外れ照射を伴う波先センサ |
| JP2001204690A (ja) * | 1999-11-15 | 2001-07-31 | Topcon Corp | 眼特性測定装置 |
| JP4587095B2 (ja) * | 1999-12-27 | 2010-11-24 | 株式会社トプコン | 光学特性の測定装置 |
| WO2001047407A1 (en) * | 1999-12-27 | 2001-07-05 | Kabushiki Kaisha Topcon | Optical characteristic measuring instrument |
| JP2001321340A (ja) * | 2000-05-12 | 2001-11-20 | Topcon Corp | 眼特性測定装置 |
| JP2001340299A (ja) * | 2000-06-02 | 2001-12-11 | Topcon Corp | 眼光学特性測定装置 |
| JP2002209854A (ja) * | 2000-10-18 | 2002-07-30 | Topcon Corp | 光学特性測定装置 |
| US7309126B2 (en) | 2000-10-18 | 2007-12-18 | Kabushiki Kaisha Topcon | Eye characteristics measuring device |
| US6905209B2 (en) | 2000-10-18 | 2005-06-14 | Kabushiki Kaisha Topcon | Optical characteristics measuring device |
| JP2002125931A (ja) * | 2000-10-20 | 2002-05-08 | Topcon Corp | 眼特性測定装置 |
| JP2004528130A (ja) * | 2001-04-18 | 2004-09-16 | ボシュ・アンド・ロム・インコーポレイテッド | 目の屈折の客観的な測定 |
| JP2003052632A (ja) * | 2001-08-14 | 2003-02-25 | Topcon Corp | 眼特性測定装置 |
| US7219999B2 (en) | 2001-11-09 | 2007-05-22 | Kabushiki Kaisha Topcon | Device for measuring optical characteristic of eye |
| WO2003039357A1 (fr) * | 2001-11-09 | 2003-05-15 | Kabushiki Kaisha Topcon | Dispositif permettant de mesurer une caracteristique optique de l'oeil |
| US7506980B2 (en) | 2006-09-29 | 2009-03-24 | Nidek Co., Ltd. | Ophthalmic apparatus |
| JP2010012166A (ja) * | 2008-07-07 | 2010-01-21 | Canon Inc | 光断層画像撮像装置および光断層画像の撮像方法 |
| JP2011104135A (ja) * | 2009-11-18 | 2011-06-02 | Canon Inc | 光画像の撮像方法およびその装置 |
| US8591029B2 (en) | 2009-11-18 | 2013-11-26 | Canon Kabushiki Kaisha | Imaging device and imaging method |
| WO2012090796A1 (ja) | 2010-12-27 | 2012-07-05 | 株式会社ニデック | 角膜形状測定装置 |
| US9351637B2 (en) | 2010-12-27 | 2016-05-31 | Nidek Co., Ltd. | Cornea shape measurement apparatus |
| WO2013151171A1 (ja) | 2012-04-06 | 2013-10-10 | 株式会社ニデック | 眼科測定装置、及び眼科測定装置を備える眼科測定システム |
| US9498115B2 (en) | 2012-04-06 | 2016-11-22 | Nidek Co., Ltd. | Ophthalmic measurement device, and ophthalmic measurement system equipped with ophthalmic measurement device |
| US9775507B2 (en) | 2014-10-07 | 2017-10-03 | Nidek Co., Ltd. | Method of evaluating quality of vision in examinee's eye and storage medium |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3684462B2 (ja) | 2005-08-17 |
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Legal Events
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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