JPH10221054A - 測定箇所情報自動生成装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ＣＡＤ図面に含まれる寸法線に関する寸法線
情報に基づいて測定箇所情報を自動的に生成できる測定
箇所情報自動生成装置を提供する。 【解決手段】 ＣＡＤ用データベース１８は、直線を要
素とする図形の該要素に関する図形情報、および要素の
寸法や要素間の距離を指し示す寸法線に関する寸法線情
報が記憶されてなる。寸法線抽出手段２６はデータベー
ス１８から寸法線情報を抽出する。エッジ検出手段２８
は抽出された寸法線情報に基づき、各寸法線に対して寸
法線を構成する一対の寸法引き出し線の仮想延長線上に
ある要素のエッジを検出する。生成手段３０は各寸法線
毎に一対の寸法引き出し線の内の一方の寸法引き出し線
の仮想延長線上にあるエッジ等と他方の寸法引き出し線
の仮想延長線上にあるエッジ等とを組み合わせて測定箇
所情報として生成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は測定箇所情報自動生
成装置に関し、詳細には要素の寸法を指し示す寸法線情
報に基づいて当該要素を測定箇所とする測定箇所情報を
自動的に生成する測定箇所情報自動生成装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、２次元や３次元の物体の寸法を、
自動測定装置を用いて自動的に測定させるためには、物
体の測定すべき測定箇所を特定する測定箇所情報（一例
として座標値等で構成される）を予め生成させて、自動
測定装置のデータベースに記憶させておく必要がある。
自動測定装置はデータベースに記憶された測定箇所情報
を基に物体の当該測定箇所の寸法を測定することにな
る。そして、従来はこの測定箇所情報を生成する方法と
して、実際の製品を用いてワークティーチングする方法
や、製品のＣＡＤ図面を用いて測定箇所を指し示しなが
らティーチングする方法が行われている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
従来の測定箇所情報の生成方法では、オペレータが自ら
実際の製品やＣＡＤ図面を用いて測定箇所をなぞりなが
らティーチングする関係上、測定箇所情報の生成に手間
がかかるという課題があった。一方、従来からＣＡＤ図
面には製品の形状を示した図形情報と共に、製品の各部
分の寸法を示す寸法情報が寸法線と共に付加されてい
る。しかも、自動測定装置が測定する測定箇所は一般的
に寸法情報が付加された箇所であることがほとんどであ
るが、従来はこのＣＡＤ図面に付加された寸法情報を自
動測定装置の測定箇所情報として利用するという発想に
は至っておらず、ＣＡＤ図面に記載された情報の有効利
用が図られていなかった。

【０００４】従って、本発明は上記課題を解決すべくな
され、その目的とするところは、ＣＡＤ図面に含まれる
寸法線に関する寸法線情報に基づいて測定箇所情報を自
動的に生成できる測定箇所情報自動生成装置を提供する
ことにある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のうち請求項１記載の発明は、直線を要素と
する図形の該要素に関する図形情報、および前記要素の
寸法および／または要素間の距離を指し示す寸法線に関
する寸法線情報が記憶されたＣＡＤ用データベースと、
該データベースから前記寸法線情報を抽出する寸法線抽
出手段と、抽出された前記寸法線情報に基づき、各寸法
線に対して寸法線を構成する一対の寸法引き出し線の仮
想延長線上にある前記要素のエッジを検出するエッジ検
出手段と、前記各寸法線毎に前記一対の寸法引き出し線
の内の一方の寸法引き出し線の前記仮想延長線上にある
前記エッジ若しくは該エッジを含む要素と他方の寸法引
き出し線の仮想延長線上にあるエッジ若しくは該エッジ
を含む要素とを組み合わせて測定箇所情報として生成す
る生成手段とを具備することを特徴とする。これによれ
ば、ＣＡＤ図面に付加された寸法情報に基づいて測定箇
所情報を自動的に効率よく生成することが可能となる。

【０００６】また、前記図形情報に含まれる前記図形の
線対称性を判断すると共に、線対称の基準となる対称線
を検出する対称性判断手段と、該対称性判断手段により
前記図形が線対称であると判断された場合には前記対称
線を基準として前記寸法線を対称移動させて新たな寸法
線を前記データベース内に補充する寸法選補充手段とを
有し、前記寸法線抽出手段は寸法線が補充された前記デ
ータベースから前記寸法線を抽出する構成とすると、図
形が線対称の場合には寸法線が一部にしか付されていな
い場合でも対称移動を行うことにより、付されていない
箇所にも寸法線を補充することができる。

【０００７】

【発明の実施の形態】以下、本発明に係る測定箇所情報
自動生成装置の好適な実施の形態を添付図面に基づいて
詳細に説明する。なお、図形としては一例としてリード
フレームの外形図形を取り上げて説明する。 （第１の実施の形態）まず、測定箇所情報自動生成装置
（以下、単に自動生成装置）１０の構成を図１と図２を
用いて説明する。入出力インターフェース（入出力Ｉ／
Ｆ）１２は、外部のＣＡＤ装置１４と物体（リードフレ
ーム）の寸法や距離を測定する自動測定装置１６との間
のデータの通信機能を有する。データベース用メモリ１
８は、ＣＡＤ装置１４から入力されたＣＡＤ用データ
（直線を要素とする図形の要素に関する図形情報、およ
び要素の寸法および／または要素間の距離を指し示す寸
法線に関する寸法線情報を有する）が記憶される。記憶
されたデータが測定箇所情報を生成するためのデータベ
ースとなる。

【０００８】主メモリ２０内には、生成した測定箇所情
報を記憶する領域２０ａや演算用領域２０ｂが確保され
ている。また後述するＣＰＵの動作を規定するプログラ
ムの格納領域（不図示）も確保されている。ＣＰＵ２２
は、入出力Ｉ／Ｆ１２を介してＣＡＤ装置１４から取り
込んだＣＡＤ用データをデータベース用メモリ１８内に
記憶させると共に、データベースから寸法線情報を抽出
し、この寸法線情報に基づき、各寸法線に対する測定箇
所情報を生成する機能を有している。また、生成した測
定箇所情報を図２に示す主メモリ２０内の測定箇所情報
領域２０ａに記憶する。そして例えば自動測定装置１６
からデータ送出要求があった場合には、主メモリ２０内
の測定箇所情報を読み出し、入出力Ｉ／Ｆ１２を介して
自動測定装置１６へ送出する機能も有している。これに
より、測定箇所情報が入力された自動測定装置１６は、
リードフレーム等の物体の所定箇所の寸法や距離の測定
が行えるのである。

【０００９】さらに詳細なＣＰＵ２２の構成を図２と図
３を用いて測定箇所情報自動生成装置１０の詳細動作と
共に説明する。まず、ＣＰＵ２２の各構成要素と、その
動作について説明する。メモリ制御手段２４は、主メモ
リ２０とデータベース用メモリ１８へのデータの書き込
みや読みだしの制御を行う機能を有している。寸法線抽
出手段２６は、データベース用メモリ１８に記憶された
データベースから寸法線情報を抽出する機能を有してい
る。エッジ検出手段２８は、抽出された寸法線情報に基
づき、各寸法線に対して寸法線を構成する一対の寸法引
き出し線の仮想延長線上にある要素のエッジを検出する
機能を有している。

【００１０】生成手段３０は、各寸法線毎に一対の寸法
引き出し線の内の一方の寸法引き出し線の仮想延長線上
にあるエッジを含む要素と他方の寸法引き出し線の仮想
延長線上にあるエッジを含む要素を組み合わせて測定箇
所情報として生成する機能を有している。統括制御手段
３２は、メモリ制御手段２４、寸法線抽出手段２６、エ
ッジ検出手段２８および生成手段３０の動作を制御す
る。また、入出力Ｉ／Ｆ１２を介してＣＡＤ装置１４や
自動測定装置１６等の外部機器とのデータ通信を行う機
能を有している。

【００１１】つづいて、測定箇所情報自動生成装置１０
の詳細動作について図３を用いて説明する。ステップ１
００において、統括制御手段３２は、入出力Ｉ／Ｆ１２
を介してＣＡＤ装置１４から入力されてくるＣＡＤ用デ
ータをデータベース用メモリ１８内にＸ−Ｙ平面座標系
データとして記憶する。ＣＡＤ用データは直線を要素と
する図形の当該要素に関する図形情報、および要素の寸
法および／または要素間の距離を指し示す寸法線に関す
る寸法線情報から構成される。これが測定箇所情報自動
生成装置１０のデータベースとなる。一例として図４
は、４つの図形Ｐ（その要素Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３）、図形
Ｑ（その要素Ｑ１、Ｑ２、Ｑ３）、図形Ｒ（その要素Ｒ
１、Ｒ２、Ｒ３）、図形Ｓ（その要素Ｓ１、Ｓ２、Ｓ
３）に関する図形情報と、３つの寸法線Ｗ（要素Ｐ２と
要素Ｑ２との間の距離を示すもの）、寸法線Ｘ（要素Ｒ
２と要素Ｓ２との間の距離を示すもの）、寸法線Ｙ（要
素Ｐ２の寸法を示すもの）に関する寸法線情報からなる
ＣＡＤ用データを示したものである。なお、寸法線Ｗ〜
Ｙは一例として、一対の平行な寸法引き出し線とこの寸
法引き出し線間に引かれた矢印線とから構成される。

【００１２】ステップ１０１において、統括制御手段３
２はメモリ制御手段２４を介してデータベース用メモリ
１８内に記憶されたＣＡＤ用データを寸法線抽出手段２
６へ渡す。寸法線抽出手段２６はＣＡＤ用データから寸
法線情報を抽出する。一例として図４に示すＣＡＤ用デ
ータからは、３つの寸法線Ｗ、Ｘ、Ｙが抽出される。抽
出した寸法線情報は主メモリ２０の演算領域に記憶され
る。ステップ１０２において、統括制御手段３２は１つ
の寸法線を特定すると共に、エッジ検出手段２８を起動
する。ステップ１０３において、エッジ検出手段２８は
特定された寸法線に対して、寸法線を構成する一対の寸
法引き出し線の仮想延長線上にある要素のエッジを検出
する。一例として寸法線Ｗが特定寸法線となった場合に
は、各寸法引き出し線Ｗ１、Ｗ２に対する仮想延長線Ｖ
Ｗ１、ＶＷ２が引かれ、その仮想延長線ＶＷ１、ＶＷ２
上にある要素Ｐ２、Ｑ２のエッジ（要素Ｐ２に対しては
Ｐ２Ｅ１、Ｐ２Ｅ２、要素Ｑ２に対してはＱ２Ｅ１、Ｑ
２Ｅ２）を検出する。

【００１３】ステップ１０４において、エッジ検出手段
２８は検出したエッジに関するデータを生成手段３０に
渡す。生成手段３０では特定された寸法線Ｗの一方の仮
想延長線ＶＷ１上にあるエッジＰ２Ｅ１、Ｐ２Ｅ２若し
くは当該エッジを含む要素Ｐ２と他方の仮想延長線ＶＷ
２上にあるエッジＱ２Ｅ１、Ｑ２Ｅ２若しくは当該エッ
ジを含む要素Ｑ２を組み合わせて測定箇所情報として生
成する。一例として検出されたエッジが一の要素の両端
に位置する場合には要素を測定箇所とし、具体的には一
例としてその中間点を一の測定箇所とする。またエッジ
が１つの場合には当該エッジを一の測定箇所とする。

【００１４】そして、特定された寸法線を構成する２つ
の寸法引き出し線に基づいて引かれる一方の仮想延長線
上にある測定箇所と他方の仮想延長線上にある測定箇所
を組み合わせて一対の測定箇所情報を生成する。具体的
に寸法線Ｗを例にとって説明すると、寸法線Ｗの各仮想
延長線ＶＷ１、ＶＷ２上にはそれぞれ２つのエッジが存
在し、各２つのエッジはそれぞれ要素Ｐ２とＱ２の両端
に位置しているため、各要素の中間点Ｐ２Ｃ、Ｑ２Ｃが
測定箇所となる。そして各仮想延長線ＶＷ１、ＶＷ２上
にある測定箇所の組み合わせは（Ｐ２Ｃ、Ｑ２Ｃ）のみ
となり、これが寸法線Ｗに対する測定箇所情報となる。
すなわち、Ｐ２Ｃ、Ｑ２Ｃとの間の距離が測定箇所とな
る。生成された測定箇所情報（Ｐ２Ｃ、Ｑ２Ｃ）は主メ
モリ２０内の測定箇所情報領域２０ａに記憶される。

【００１５】ステップ１０５では、統括制御手段３２は
測定箇所情報を生成していない残りの寸法線の有無を検
出し、残っている場合にはステップ１０６において次の
寸法線を特定し、ステップ１０３に移る。以上、ステッ
プ１０３〜ステップ１０６を、ステップ１０５において
残りの寸法線の有無を検出しつつ繰り返し、寸法線が終
了したら測定箇所情報の生成は終了する。この一連の動
作により、ＣＡＤ装置１４から入力されてくるＣＡＤ用
データに基づいて自動的に自動測定装置１６のための測
定箇所情報の生成が行われる。

【００１６】図４における他の寸法線の測定箇所情報
は、寸法線Ｘに対しては寸法線Ｗと同様にして寸法線Ｘ
の各仮想延長線ＶＸ１、ＶＸ２上にはそれぞれ２つのエ
ッジが存在し、各２つのエッジはそれぞれ要素Ｒ２とＳ
２の両端に位置しているため、当該各要素の中間点Ｒ２
Ｃ、Ｓ２Ｃが測定箇所となる。そして各仮想延長線ＶＸ
１、ＶＸ２上にある測定箇所の組み合わせは（Ｒ２Ｃ、
Ｓ２Ｃ）のみとなり、これが寸法線Ｘに対する測定箇所
情報となる。また、寸法線Ｙに対しては寸法線Ｙの各仮
想延長線ＶＹ１、ＶＹ２上にはそれぞれ１つのエッジ
（Ｐ２Ｅ１とＰ２Ｅ２）しか存在しない。よって、当該
エッジが測定箇所となる。そしてその組み合わせは（Ｐ
２Ｅ１、Ｐ２Ｅ２）のみとなり、これが寸法線Ｙに対す
る測定箇所情報となる。すなわち、要素Ｐ２の寸法が測
定箇所となる。

【００１７】また、上記の図４のＣＡＤ用データでは、
寸法線の各仮想延長線に含まれる測定箇所は１つであ
り、一の寸法線に対して生成される測定箇所情報は１組
であったが、例えば図５に示す図形の場合のように各仮
想延長線上に複数の要素が含まれる場合や、また少なく
とも一方の仮想延長線上に複数の要素が含まれる場合に
は、各仮想延長線上に含まれる要素に対する測定箇所を
組み合わせて、測定箇所情報が生成される。これを図５
を用いて説明すると、寸法線Ｗの一方の仮想延長線ＶＷ
１には、図形Ｐの要素Ｐ２と図形ＴのエッジＴ１が含ま
れ、要素Ｐ２の中間点Ｐ２ＣとエッジＴ１が測定箇所と
なる。また、他方の仮想延長線ＶＷ２には、図形Ｑの要
素Ｑ２と図形Ｒの要素Ｒ２と図形Ｓの要素Ｓ２が含ま
れ、要素Ｑ２の中間点Ｑ２Ｃと要素Ｒ２の中間点Ｒ２Ｃ
と要素Ｓ２の中間点Ｓ２Ｃが測定箇所となる。

【００１８】そして、生成手段３０は一方の仮想延長線
ＶＷ１上にある各測定箇所に対して他方の仮想延長線Ｖ
Ｗ２上にある測定箇所をすべて組み合わせ，寸法線Ｘに
対して測定箇所情報を生成する。生成された測定箇所情
報は（Ｐ２Ｃ、Ｑ２Ｃ）、（Ｐ２Ｃ、Ｒ２Ｃ）、（Ｐ２
Ｃ、Ｓ２Ｃ）、（Ｔ１、Ｑ２Ｃ）、（Ｔ１、Ｒ２Ｃ）、
（Ｔ１、Ｓ２Ｃ）の６個となる。図５の例では各要素間
の距離が測定箇所となる。このように全ての測定箇所を
組み合わせて測定箇所情報として生成することにより、
実際の加工時に一部の測定箇所に加工ミスが生じても、
当該ミスを確実に検出できる。

【００１９】（第２の実施の形態）本実施の形態での自
動生成装置の構成は、第１の実施の形態で説明した自動
生成装置１０と基本的には同じであるが、図２において
点線で示される対称性判断手段３４と寸法線補充手段３
６が追加されている点で相違している。次に、動作につ
いてであるが、概要動作は図３の動作フローに示す第１
の実施の形態の自動生成装置１０の動作とほぼ同様であ
るが、ステップ１００とステップ１０１との間にステッ
プ２００とステップ２０１が追加され、対称性判断手段
３４が図形情報が線対称であるか否かを検出し、線対称
である場合には寸法線補充手段３６が寸法線を対称移動
させて補充するように動作する点が相違している。

【００２０】この特徴部分の動作について、図６の動作
フローと図７〜図９を用いて説明する。なお、ＣＡＤ用
データベース内の図形は、一例として図７に示すように
線対称（対称基準線はＡとＢ）に形成されたリードフレ
ームのインナーリード４０の先端図形である。ステップ
２００において、統括制御手段３２はメモリ制御手段２
４を介してデータベース用メモリ１８に記憶された図形
情報を対称性判断手段３４に渡すと共に、対称性判断手
段３４を動作させる。対称性判断手段３４は図形情報に
含まれる図形の線対称性を判断する。そして線対称であ
る場合には、対称基準線を生成する。図７の図形は上記
のように線対称であるから、対称基準線Ａと対称基準線
Ｂが生成される。

【００２１】ステップ２００において線対称であると判
断された場合には、ステップ２０１において寸法線補充
手段３６は対称基準線を基準として寸法線のみを対称移
動させ、寸法線が付与されていない箇所に寸法線を補充
する。図７の場合には２つの対称基準線Ａ、Ｂを基準と
して予め付与されている３つの寸法線を線対称移動させ
ることによって、図８に示すように全ての箇所に寸法線
を補充することができる。なお、図形が対称でないと判
断された場合にはステップ１０１に移行し、寸法線の補
充は行われない。

【００２２】また、対称性判断手段３４では、図７に示
すように図形の完全なる対称性を判断させるようにして
もよいが、所定の割合以上対称である場合、例えば８０
〜９０パーセントの図形が対称である場合も対称と判断
する構成としても良い。この場合には、図９に示す寸法
線Ｗ、Ｘのように線対称とならない箇所にも寸法線が補
充されることになるが、寸法線を補充後に、すべての寸
法線に対して仮想延長線を引き、少なくとも一方の仮想
延長線上にエッジが検出されない寸法線は「測定箇所無
し」と判断し、消去するようにしても良い。

【００２３】以上、本発明の好適な実施例について種々
述べてきたが、本発明は上述する実施例に限定されるも
のではなく、発明の精神を逸脱しない範囲で多くの改変
を施し得るのはもちろんである。

【００２４】

【発明の効果】本発明のうち請求項１記載の発明では、
ＣＡＤ図面に記載された情報を有効に利用して、ＣＡＤ
図面に含まれる寸法線に関する寸法線情報に基づいて測
定箇所情報を自動的に生成できるため、オペレータが自
ら実際の製品やＣＡＤ図面を用いて測定箇所をなぞりな
がらティーチングする必要がなく、測定箇所情報の生成
に手間がかかないという効果がある。また、請求項２記
載の発明では、図形が線対称であるか否かを自動的に判
断して、線対称の場合には寸法線が一部にしか付されて
いない場合でも線対称移動を自動的に行って寸法線が付
されていない箇所にも寸法線を自動的に補充することが
でき、寸法線を付す手間が省けると共に、寸法線を付し
て測定すべき箇所の見落としを低減することも可能とな
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る測定箇所情報自動生成装置の全体
構成を示すブロック図である。

【図２】図１のＣＰＵと主メモリの内部構成を示すブロ
ック図である。

【図３】図１の測定箇所情報自動生成装置の第１の実施
の形態の動作を示すフローチャートである。

【図４】図１の測定箇所情報自動生成装置の動作を示す
説明図である。

【図５】図１の測定箇所情報自動生成装置の動作を示す
他の説明図である。

【図６】測定箇所情報自動生成装置の第２の実施の形態
の動作を示すフローチャートである（寸法線を自動的に
補充するもの）。

【図７】図６の動作を説明するための説明図である（寸
法線を補充する前の状態を示す）。

【図８】図６の動作を説明するための説明図である（寸
法線を補充した後の状態を示す）。

【図９】図６の動作を説明するための説明図である（寸
法線を補充した後に、不要な寸法線を消去するもの）。

【符号の説明】

１０ 測定箇所情報自動生成装置 １８ ＣＡＤ用データベース ２６ 寸法線抽出手段 ２８ エッジ検出手段 ３０ 生成手段 ３２ 統括制御手段

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 直線を要素とする図形の該要素に関する
   図形情報、および前記要素の寸法および／または要素間
   の距離を指し示す寸法線に関する寸法線情報が記憶され
   たＣＡＤ用データベースと、 該データベースから前記寸法線情報を抽出する寸法線抽
   出手段と、 抽出された前記寸法線情報に基づき、各寸法線に対して
   寸法線を構成する一対の寸法引き出し線の仮想延長線上
   にある前記要素のエッジを検出するエッジ検出手段と、 前記各寸法線毎に前記一対の寸法引き出し線の内の一方
   の寸法引き出し線の前記仮想延長線上にある前記エッジ
   若しくは該エッジを含む要素と他方の寸法引き出し線の
   仮想延長線上にあるエッジ若しくは該エッジを含む要素
   とを組み合わせて測定箇所情報として生成する生成手段
   とを具備することを特徴とする測定箇所情報自動生成装
   置。
2. 【請求項２】 前記図形情報に含まれる前記図形の線対
   称性を判断すると共に、線対称の基準となる対称線を検
   出する対称性判断手段と、 該対称性判断手段により前記図形が線対称であると判断
   された場合には前記対称線を基準として前記寸法線を対
   称移動させて新たな寸法線を前記データベース内に補充
   する寸法選補充手段とを有し、 前記寸法線抽出手段は寸法線が補充された前記データベ
   ースから前記寸法線を抽出することを特徴とする請求項
   １記載の測定箇所情報自動生成装置。