JPH10221065A - 測距装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】２方式での測距機能を持ち、より広い範囲の状
態の被写体に対して良好な測距が可能で、小型、かつ、
低価格の測距装置を提案する。 【解決手段】全体の制御を司るＣＰＵ１０と、受光レン
ズ１ａ，１ｂとセンサアレイ２ａ，２ｂとスイッチ回路
３と積分回路等を内蔵する測距部６と、投光用ＬＥＤ８
ａ、および、ＡＦＩＣ７で構成された測距装置であり、
スイッチ回路３によりセンサアレイ２ａ，２ｂの出力を
Ａ／Ｄ変換回路４側に切り換え、パッシブＡＦモードで
の測距を行う。また、スイッチ回路３によりセンサアレ
イ２ｂの出力をＡＦＩＣ７側に切り換え、アクティブＡ
Ｆモードでの測距を行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、測距装置、詳しく
は、被写体の距離情報を測定するための測距装置に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】カメラの測距装置としては、一般に、カ
メラ側から被写体に投射した基準信号光を利用するアク
ティブタイプと、被写体の輝度分布情報を利用するパッ
シブタイプの２方式のＡＦ（オートフォーカス）のため
の測距装置が広く知られている。

【０００３】前者は、暗い所でも、輝度分布のないロー
コントラスト被写体に対しても測距可能であるが、反射
光が返ってこない遠距離の被写体には弱い。また、後者
は、遠距離でも近距離でも安定した測距が可能である
が、逆に、暗いシーンの被写体やローコントラストの被
写体は原理的に測距不可能となる。従って、これらの方
式を両方用いれば、苦手な被写体に対してかなりの確率
で対策がとれることは古くから考えられている。しか
し、コストやスペースの関係で実施されることは少なか
った。これら２つの技術を効率よく、小さなスペースに
並存させる提案としては、特公平５−２２８４３号公報
の投光式距離計における光電変換装置などが知られてい
る。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】上記特公平５−２２８
４３号公報の光電変換装置は、光を電荷に変換するセン
サアレイを用い、その電荷蓄積用としてコンデンサを２
列設け、測距用光の投光時および非投光時の蓄積電荷差
に従って、アクティブＡＦ的な信号光抽出を行う。さら
に、センサアレイの各蓄積電荷の配列から、パッシブＡ
Ｆ的な像検出を行っている。しかし、上記光電変換装置
の方式では、ワンチップ内に上記機能を組み込むことが
できるが２つの電荷蓄積手段が必要であったり、その構
成が複雑で、かつ、集積回路の規模が大型化してコスト
上の問題があった。

【０００５】そこで、本出願人が先に特願平８−１４１
７５３号により提案した測距装置では、パッシブ用セン
サアレイのＩＣチップの受光面のデッドスペースにアク
ティブＡＦセンサが配置されるものである。しかし、こ
の提案の測距装置もアクティブ用センサが大きくなる
と、ＩＣのチップ上のレイアウトが困難になる問題があ
った。

【０００６】本発明は、上述の問題点に鑑み、２方式で
の測距機能を持ち、より広い範囲の状態の被写体に対し
て良好な測距が可能で、小型、かつ、低価格の測距装置
を提案することを目的とする。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明の請求項１記載の
測距装置は、２つの光路から入射した被写体像の２つの
輝度パターンを検出するために２つのセンサアレイと、
このセンサアレイからの出力信号を積分する積分手段と
を有し、上記２つの輝度パターンを比較して、上記被写
体までの距離を測定するカメラにおいて、上記２つのセ
ンサアレイの少なくとも一方のセンサアレイの出力信号
を、上記積分手段から切り離し、パルス的な光電流成分
を検出する検出回路に入力するスイッチ手段を有する。
上記測距装置においては、２つのセンサアレイを適用
し、その出力により得られる輝度パターンを比較して被
写体までの距離を測定することが可能であり、さらに、
上記２つのセンサアレイの少なくとも一方のセンサアレ
イの出力信号を上記スイッチ手段により上記積分手段か
ら切り離してパルス的な光電流成分を検出ことも可能で
ある。

【０００８】本発明の請求項２記載の測距装置は、２つ
の光路から入射した被写体像の２つの輝度パターンを検
出するために２つのセンサアレイと、このセンサアレイ
からの出力信号を積分する積分手段とを有し、上記２つ
の輝度パターンを比較して、上記被写体までの距離を測
定するカメラにおいて、投光手段と、上記投光手段によ
る発光時に、上記２つのセンサアレイの少なくとも一方
のセンサアレイの出力信号を、上記積分手段から切り離
し、上記センサアレイに入射した上記投光手段の光信号
に基づく光電流成分を検出する検出回路に入力するスイ
ッチ手段とを有する。上記測距装置においては、２つの
センサアレイを適用し、その出力により得られる輝度パ
ターンを比較して被写体までの距離を測定することが可
能であり、さらに、上記投光手段による発光時に、上記
２つのセンサアレイの少なくとも一方のセンサアレイの
出力信号を、上記スイッチ手段により上記積分手段から
切り離し、上記センサアレイに入射した上記投光手段の
光信号に基づく光電流成分を検出する検出回路に入力し
て、被写体までの距離を測定することも可能である。

【０００９】本発明の請求項３記載の測距装置は、セン
サアレイを用いた測距装置において、上記センサアレイ
の出力を束ねて、上記センサアレイを複数のブロックに
分割可能なスイッチ手段と、被写体に対して信号光を投
光する投光手段と、上記スイッチ手段を制御して、上記
センサアレイの各アレイの出力を検出して被写体距離を
計測する第１の測距モードと、上記投光手段の投光時の
上記センサアレイを分割した上記ブロックからの出力を
検出して被写体距離を計測する第２の測距モードとを切
り換える制御手段とを有する。上記測距装置において
は、上記スイッチ手段を制御して、上記センサアレイの
各出力を検出して被写体距離を計測する第１の測距モー
ドと、上記投光手段の投光時の上記センサアレイを束ね
て分割した上記ブロックからの出力を検出して被写体距
離を計測する第２の測距モードとを切り換えることがで
きる。

【００１０】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図を用いて説明する。図１は、本発明の第１の実施の
形態を示す測距装置の概要を示す主要ブロック構成図で
ある。本実施の形態の測距装置は、主に、測距装置の全
体の制御を司る制御手段であるＣＰＵ１０と、測距光を
取り込み、測距処理を行う測距部６と、投光手段として
のＬＥＤ用ドライバ８および発光ダイオード（ＬＥＤ）
８ａと、検出回路としてのＡＦ（オートフォーカス）Ｉ
Ｃ７とで構成されており、第１の測距モードであるパッ
シブＡＦモードでの測距と、第２の測距モードであるア
クティブＡＦモードでの測距とを行うことができる装置
である。

【００１１】本測距装置においてパッシブＡＦモードで
の測距を行う場合は、上記測距部６に内蔵されたパッシ
ブＡＦ（オートフォーカス）用のセンサアレイ２ａ，２
ｂを利用する。そして、被写体１９から光をこのセンサ
アレイ２ａ，２ｂで取り込み、センサアレイの個々受光
素子であるセンサセルの出力がスイッチ回路３を介して
取り込まれる。そして、積分手段である積分回路を内蔵
するＡ／Ｄ変換回路４でＡ／Ｄ変換して、センサアレイ
２ａ，２ｂ上の像ずれ量が演算回路５にて演算される。
その像ずれ量に基づいて被写体距離の演算が行われる。

【００１２】一方、アクティブＡＦモードで測距を行う
場合は、投光手段であるＬＥＤ８ａを発光させ、被写体
１９に向けてパルス状の信号光を投射し、その反射光を
上記センサアレイの一方のセンサアレイ２ｂで取り込
む。そして、センサアレイの個々のセンサセルの出力ラ
インを測距部６に内蔵されるスイッチ回路３により積分
回路側から切り放し、さらに、その出力を束ねた出力と
してをＡＦＩＣ７に入力する。そのときの被写体の像の
情報に基づいて、三角測距方式により被写体距離が求め
られる。なお、上記各モードで求められた被写体距離情
報に基づいて、図示しない合焦駆動制御装置によりフォ
ーカシングレンズが被写体合焦位置に繰り出されること
になる。以下、詳細に本測距装置について説明する。

【００１３】図１に示すように本測距装置においては、
２つの受光レンズ１ａ，１ｂは、視差である基線長Ｂ1
だけ離して配置され、その焦点距離ｆの位置に２つのセ
ンサアレイ２ａ，２ｂが配置されている。

【００１４】パッシブＡＦモードの場合は、この視差に
よる被写体１９のセンサアレイ２ａ、２ｂ上の輝度パタ
ーン像ずれ量に基づいて被写体距離Ｚを求める。すなわ
ち、上記受光レンズ１ａ，１ｂを入射した被写体光は、
センサアレイ２ａ，２ｂに入射し、その出力は、スイッ
チ回路３を介して各センサセル単位でＡ／Ｄ変換回路４
に取り込まれ、積分処理後、Ａ／Ｄ変換される。そのデ
ジタル情報に基づいて被写体距離が演算される。

【００１５】一方、アクティブＡＦモードの場合は、ド
ライバ８を介して、投光手段である発光ダイオード（Ｌ
ＥＤ）８ａをパルス状に発光させ、投光レンズ９で集光
し、被写体１９に投射する。被写体１９から反射したＬ
ＥＤ８ａの反射光は、一方の受光レンズ１ｂを介して、
センサアレイ２ｂに入射する。この時、センサアレイ２
ｂは、スイッチ回路３によってその個々のセンサセルの
出力を束ねた形で検出回路としてのアクティブＡＦＩＣ
７に入力される。すなわち、後述するようにセンサアレ
イ２ｂの出力は、スイッチ回路３でアレイの中央部分で
２分割し、束ねられた状態で出力される。

【００１６】上記ＡＦＩＣ７は、定常光除去回路７ａと
信号処理回路７ｂから成っており、公知の定常光除去回
路７ａの働きによって、センサアレイ２ｂに定常的に入
射している信号光以外の光、すなわち、背景光にもとづ
く光電流は、除去され、信号光に基づくパルス状の光電
流成分のみが信号処理回路７ｂにて処理される。上述の
ように、本実施の形態の装置ではスイッチ回路３によっ
て切り換え、センサアレイの各出力信号を個々に扱うこ
と、また、個々の出力を加算した形でまとめて扱うこと
ができる。

【００１７】なお、上記アクティブＡＦモードに切り換
えられたとき、センサアレイ２ａ側の出力ラインは、Ａ
ＦＩＣ７側へ接続されることはなく、上述のようにパッ
シブＡＦモードでのみ機能するものとする。

【００１８】次に、図１を用いて、前述のパッシブＡＦ
モードでの測距装置の輝度パターンの相対位置差算出の
方法について、より詳しく説明する。両受光レンズ１
ａ、１ｂの位置間隔の基線長Ｂ1 により、センサアレイ
２ａ、２ｂ上に入射する光分布の相対位置差ｘは、被写
体距離Ｚに依存して変化する。すなわち、各受光レンズ
の焦点距離をｆとすると、被写体距離Ｚは、 Ｚ＝Ｂ1 ・ｆ／ｘ ………（１） として求められる。

【００１９】センサアレイ２ａ，２ｂの各センサは、光
の入射量にしたがった電流信号を出力する。これらの出
力をスイッチ回路３を介して、上記電流信号を積分する
積分手段である積分回路を含むＡ／Ｄ変換回路４により
ディジタル信号に変換すれば、像ずれ量演算回路５によ
る相関演算によって上記ｘが検出できる。この結果をワ
ンチップマイコン等からなる演算制御手段であるＣＰＵ
１０に入力し、上式を演算することにより、被写体距離
Ｚが求められる。これがパッシブ式での三角測距方式の
基本原理であり、上記の構成がパッシブ式三角測距装置
の一般的な構成である。

【００２０】なお、上記ずれ量演算機能は、一般的に後
述のように二つのプロセスからなるが、これらはこのＣ
ＰＵ１０に内蔵してもよい。例えば、カメラのピント合
わせを行う時、カメラの動作を司る上記ＣＰＵ１０によ
り、カメラの撮影用ピント合わせ用レンズをモーター等
のアクチュエータを介して制御すれば、ＡＦ（自動焦
点）機能付きカメラが提供できる。

【００２１】上記ずれ量ｘを求めるずれ量演算処理にお
いて、まず、センサアレイ上の像ずれ量演算は、センサ
ピッチの単位、すなわち、センサセルのピッチでどれだ
けずれているかを調べる相関演算のステップと、さら
に、補間することによりそれより細かい分解能でのずれ
量を算出する補間演算ステップとを必要とする。

【００２２】まず、上記相関演算の方法について説明す
る。図２（Ａ）および（Ｂ）は、センサアレイ２ａおよ
び２ｂ上に入射した光の輝度パターンとセンサアレイを
構成するセンサセルの各出力を示す図である。右側セン
サであるセンサアレイ２ａが受光素子ユニットである各
センサセルａ1 からａ6 で構成されるとして、その添え
字の1 から6 は、受光レンズ２ａ光軸基準でのセンサセ
ルａｉの絶対位置を示すものとする。また、左側センサ
であるセンサアレイ２ｂについても各センサセルｂ1 か
らｂ6 で構成されるとして、添え字の1 から6 は、受光
レンズ２ａ光軸基準でのセンサセルｂｉの絶対位置を示
すものとする。また、各センサセルのピッチはＰｓとす
る。

【００２３】そこで、センサアレイ２ａ上に図２（Ａ）
のような輝度パターンＰＴａで光が入射した場合、セン
サアレイ２ａの各センサセルａ1 〜ａ6 の出力の大きさ
Ｒ1〜Ｒ6 は、図２（Ａ）中、棒グラフで示したような
分布となる。もし、センサアレイ２ｂ上にも同様の輝度
パターンＰＴｂの光が入射し、各センサセルｂ1 〜ｂ6
のセンサ出力Ｌ1 〜Ｌ6 の出力パターンが上記センサ出
力Ｒ1 からＲ6 の出力パターンに対してずれがなく、一
致すれば、上記ずれ量ｘの値は０となるので、被写体距
離Ｚは、無限遠ということになる。

【００２４】また、被写体が有限距離にある場合、図２
（Ａ）に示したセンサセル出力Ｒ1からＲ6 の出力に対
して、図２（Ｂ）に示すようにセンサセルの数ｓだけシ
フトした類似のパターンのセンサセルｂ1+s ，ｂ2+s ，
…，ｂ6+s の出力Ｌ1+s ，Ｌ2+s ，…，Ｌ6+s が得られ
る。従って、このシフトセンサセル数ｓの値から上記ず
れ量ｘを求めることができる。

【００２５】上記シフトセンサセル数ｓの値を求めるに
は、あるセンサセルの出力Ｒから対応するセンサセルの
出力Ｌの出力を引き算し、その絶対値を各センサセルご
とに加算した差の加算値ＦＦを用いればよい。まず、左
右のセンサセル対応位置のセンサセル出力Ｒ（ｉ）とＬ
（ｉ）を引き算し、絶対値をとって、ある幅でｉを変化
させて行き、これらを加算して差の加算値ＦＦ（ｉ）を
求める。すなわち、 ＦＦ(ｉ)＝Σ｜Ｒ(ｉ)−Ｌ(ｉ)｜ を求める。

【００２６】次に、右左センサセルの出力ＲｉまたはＬ
ｉの一方を１セルだけずらし、先に差をとった隣のセン
サセルと同様に出力差をとると次のような式で差の加算
値ＦＦ（ｉ＋１）が表現できる。すなわち、 ＦＦ(ｉ＋１)＝Σ｜Ｒ(ｉ＋１)−Ｌ(ｉ)｜ となる。

【００２７】このように順次、ずらし量Ｓｆを変更しな
がら求めたＦＦの値の変化をある被写体の対する例とし
て示すと、図３のようにずらし量Ｓｆに対して変化する
線図となる。上記図３の場合は、出力ＲとＬの差を加え
た差の加算値ＦＦ値が最小値Ｆmin となるずらし量Ｓｆ
のところでの右左のセンサアレイ２ａ，２ｂの出力が最
もよく対応がとれていると考えられるため、このときの
ずらし量Ｓｆが前記センサセルシフト量ｓとなる。

【００２８】上記センサセルシフト量ｓを加味して両セ
ンサアレイ２ａ，２ｂの出力分布を図示すると、図２
（Ａ）に示すようなシフトなし状態のセンサアレイ２ａ
側の添え字の付き各センサセルａｉの出力Ｒの輝度パタ
ーンに対して、前記図２（Ｂ）におけるセンサアレイ２
ｂ側のシフト量ｓだけずれた添え字の付き各センサセル
ｂi+s の出力Ｌの輝度パターンが得られる。

【００２９】そこで、上記センサセルシフト量ｓに基づ
き、より細かい分解能のずれ量ｘを求めるには補間演算
を行う必要がある。すなわち、実際の二つのセンサアレ
イ２ａ，２ｂ上の像のずれ量は、センサセルのピッチに
ぴったりと合致した状態でずれるわけではない。より精
度の高い測距を行うためには、センサセルのピッチより
細かい精度で像ずれ量を検出しなければならない。この
プロセスを補間演算と呼んでいるが、これを図４の各セ
ンサアレイの出力線図を用いて、次に説明する。

【００３０】図４の出力ＲとＬは、各々図１のセンサア
レイ２ａ、２ｂの一部のセンサセルに対する出力を表し
ていて、すでに上述の相関演算が終了し、上記シフト量
ｓだけシフトさせた比較しやすい状態にならべて図示し
てある。したがって、図４中の出力Ｌ0 からＬ4 は、厳
密にはシフトした位置の出力Ｌs からＬs+4 と記述する
べきだが、繁雑になるので上記シフト量ｓは省略して示
している。

【００３１】図４に示すように左センサアレイ２ｂの出
力Ｌに示されるように、上記シフト量ｓだけシフトした
後でも右センサアレイ２ａの出力Ｒ基準として、セルピ
ッチ内でまだ位置ｘだけずれた光が入射しているとす
る。この時、例えば、出力Ｌ１のセンサセルｂ1 には出
力Ｒ0 とＲ1 のセンサセルａ0 とａ1 に入射する光が混
じり合って入射し、同様に各Ｌｉのセンサセルｂｉにも
Ｒ基準で位置ｘだけずれた光が順次入射するため、各出
力Ｌｉは、次の式（２）に示すように表現される。すな
わち、 となる。

【００３２】また、前記最小値Ｆmin と、最小値Ｆmin
を与えるセンサセル位置から上記シフト量をプラス方向
とマイナス方向にセンサセル１つ分にずらしたときの差
の加算値ＦＦの値Ｆ-1、Ｆ+1とを各Ｒn ，Ｌn の出力値
により表現すると式（３）のようになる。すなわち、 となる。

【００３３】さらに、式（２）を用いて式（３）を展開
すると、次の式（４）が求められる。すなわち、 Ｆmin ＝｜Ｒ1−Ｌ1｜＋｜Ｒ2−Ｌ2｜＋｜Ｒ3−Ｌ3｜ ＝｜Ｒ1−(１−ｘ)・Ｒ1−ｘ・Ｒ0｜＋｜Ｒ2−(１−ｘ)・Ｒ2−ｘ・Ｒ1｜ ＋｜Ｒ3−(１−ｘ)・Ｒ3−ｘ・Ｒ2｜ ＝ｘ・｜Ｒ1−Ｒ0｜＋ｘ・｜Ｒ2−Ｒ1｜＋ｘ・｜Ｒ3−Ｒ2｜ ＝ｘ・{｜Ｒ1−Ｒ0｜＋｜Ｒ2−Ｒ1｜＋｜Ｒ3−Ｒ2｜} Ｆ-1 ＝｜Ｒ0−Ｌ1｜＋｜Ｒ1−Ｌ2｜＋｜Ｒ2−Ｌ3｜ ＝｜Ｒ0−(１−ｘ)・Ｒ1−ｘ・Ｒ0｜＋｜Ｒ1−(１−ｘ)・Ｒ2−ｘ・Ｒ1｜ ＋｜Ｒ2−(１−ｘ)・Ｒ3−ｘ・Ｒ2｜ ＝｜(１−ｘ)・(Ｒ0−Ｒ1)｜＋｜(１−ｘ)・(Ｒ1−Ｒ2)｜ ＋｜(１−ｘ)・(Ｒ2−Ｒ3)｜ ＝(１−ｘ)・{｜Ｒ0−Ｒ1｜＋｜Ｒ1−Ｒ2｜＋｜Ｒ2−Ｒ3｜} Ｆ+1 ＝｜Ｒ2−Ｌ1｜＋｜Ｒ3−Ｌ2｜＋｜Ｒ4−Ｌ3｜ ＝｜Ｒ2−(１−ｘ)・Ｒ1−ｘ・Ｒ0｜＋｜Ｒ3−(１−ｘ)・Ｒ2−ｘ・Ｒ1｜ ＋｜Ｒ4−(１−ｘ)・Ｒ3−ｘ・Ｒ2｜ ＝ｘ{｜Ｒ1−Ｒ0｜＋｜Ｒ2−Ｒ1｜＋｜Ｒ3−Ｒ2｜}＋ ＋｜Ｒ2−Ｒ1｜＋｜Ｒ3−Ｒ2｜＋｜Ｒ4−Ｒ3｜ およそ＝(１＋ｘ)・{｜Ｒ0−Ｒ1｜＋｜Ｒ1−Ｒ2｜＋｜Ｒ2−Ｒ3｜} ………（４） となる。但し、｜Ｒ1−Ｒ0｜は、およそ｜Ｒ4−Ｒ3｜と
等しいとする。

【００３４】上記式（４）において、{｜Ｒ0−Ｒ1｜＋
｜Ｒ1−Ｒ2｜＋｜Ｒ2−Ｒ3｜}の値を（ΣΔＲ）と置い
て表現すると、 Ｆmin ＝ｘ・(ΣΔＲ） Ｆ-1 ＝(１−ｘ)・(ΣΔＲ） Ｆ+1 ＝(１＋ｘ)・(ΣΔＲ） となる。

【００３５】したがって、各Ｆ値とずれ量ｘとの関係を
示す式（５）として、 （Ｆ-1−Ｆmin )／(Ｆ+1−Ｆmin ) ＝{(１−ｘ)・(ΣΔＲ)−(ΣΔＲ)}／{(１＋ｘ)・(ΣΔＲ)−ｘ・(ΣΔＲ)} ＝(１−２・ｘ)・(ΣΔＲ）／(ΣΔＲ） ＝(１−２・ｘ) ………（５） が求められる。

【００３６】式（５）のように（ΣΔＲ）の値に依存せ
ず、上記Ｆmin ，Ｆ-1，Ｆ+1の値から先のずれ量ｘが求
められる。これが補間演算であり、図１の演算回路５に
て行われるが、ワンチップマイコン等の演算制御手段で
あるＣＰＵ１０にて所定のプログラムに従って行っても
よい。

【００３７】次に、本測距装置におけるもう一方のアク
ティブＡＦモードでの測距動作についてより詳しく説明
する。本実施の形態の測距装置でのアクティブＡＦモー
ドでの測距動作の説明に先立って、従来のアクティブＡ
Ｆ測距動作について説明する。図５は、アクティブＡＦ
測距原理を示す図であるが、本実施の形態の測距装置の
構成に対してセンサアレイ２ｂに代えて２分割センサ２
Ｂを使用するものとして説明する。すなわち、ＬＥＤ８
ａは、投光レンズ９を介して被写体１９に向けて測距用
光をパルス的に投射する。被写体１９から反射した測距
用光の反射信号光は、受光レンズ１ｂを介して、その出
力が２分割センサ２Ｂに入射するが、定常的にセンサに
入射している背景の光に対し、上記信号光はパルス的光
であるので、ＡＦＩＣ７では周波数の差やタイミングを
用いてこれを分離する。

【００３８】図６は、上記２分割センサ２Ｂ上に結像し
たｂの幅を持つ反射信号光スポットＳｐの様子を示す図
である。被写体距離Ｚとし、投受光レンズ間の距離Ｂ2
とし、受光レンズの焦点距離ｆとすると、上記スポット
Ｓｐの中心は、次の関係を満たす位置ｘp に入射する。
すなわち、 ｘp ＝Ｂ2 ・ｆ／Ｚ ………（６） となる。

【００３９】また、基準点Ｋから距離ｘｐの位置を中心
とする幅ｂの光スポットＳｐが入射し、２分割センサ２
Ｂが、その入射したスポットＳｐの面積に従った光電流
を出力する時、２つの光電流ｉpa，ｉpbは、 の関係が成立する。ここで、ａは、２分割されたセンサ
アレイ２ａ上の基準Ｋからの分割ポイントＣp までの距
離である。ｉｐは、総信号光電流であり、光電流ｉpaと
ｉpbとを加算すると上記光電流ｉｐとなる。

【００４０】従って、この２つの光電流信号をＡＦＩＣ
７の処理回路でｉpa／(ｉpa＋ｉpb）の値を計算する
と、(ｘp＋ｂ／２−ａ)／ｂという形で、位置ｘp に依
存した信号が得られる。上記値ａ，ｂ等は定数であるの
で、この信号を用い、ＣＰＵ１０にて式（６）より被写
体距離Ｚが求められる。

【００４１】さて、本実施の形態の測距装置にてアクテ
ィブＡＦモードにおける測距を行う場合、上述のセンサ
アレイ２ｂを上記従来の測距装置の２分割センサ２Ｂと
して適用する。なお、本実施の形態の装置では、センサ
アレイ２ｂとその出力を切り換えるスイッチ回路３以外
の構成としては、図５に示した従来の構成と同様であ
る。すなわち、投光手段としての被写体１９に向けて測
距用光をパルス的に投射するＬＥＤ８ａおよび投光レン
ズ９を用い、さらに、被写体１９の反射信号光を取り込
む受光レンズ１ｂ、および、上記反射信号光をパルス信
号光として分離し、測距演算を行うＡＦＩＣ７等で構成
される。

【００４２】本測距装置において、図７のセンサアレイ
接続回路図に示すように、センサアレイ２ｂの各セルの
出力は、２分割ポイントＣp で２分割され、スイッチ回
路３により束ねられて光電流ｉpa，ｉpbとしてＡＦＩＣ
７に出力される。このように構成することによって、２
分割センサ２Ｂを用いた従来例と比較して、センサアレ
イのセルピッチが十分細かければ、図７のように２分割
されたセンサの各センサセルを束ねて用いても同様の効
果が得られる。

【００４３】つまり、パッシブＡＦモード時において、
センサアレイ２ｂの出力をスイッチ回路３で束ねてあた
かも２分割センサ２Ｂのように２つの光電流が出力でき
るようにすれば同様の信号処理によって、図６に示すよ
うに基準位置Ｋからスポット中心迄の距離ｘp に依存し
た式（７）による信号を得ることができ、式（６）によ
り被写体距離Ｚが求められる。

【００４４】本測距装置によると、上述のようにスイッ
チ回路３の切り換えによりパッシブＡＦモードでの測距
にも用いられるセンサアレイ２ｂの出力を、アクティブ
ＡＦモードでは、図７のように束ねた状態に切り換え、
光電流ｉpa，ｉpbを出力できるようにする。このように
スイッチの切り換えによって同一のセンサアレイを用い
て、パッシブＡＦモードおよびアクティブＡＦモードで
の測距が可能となる。そして、本測距装置を適用するカ
メラでＡＦを行う場合、例えば、被写体が遠距離、ま
た、低輝度である状態では、パッシブＡＦ測距モードで
得た被写体距離を適用し、また、被写体がコントラスト
の少ない状態では、アクティブＡＦモードによる被写体
距離を適用してフォーカスレンズの合焦駆動が行われ
る。

【００４５】以上、説明したように本実施の形態の測距
装置では、アクティブＡＦモード、または、パッシブＡ
Ｆモードでの測距を併用できるので、例えば、パッシブ
ＡＦモードでは、従来、苦手の被写体であった暗いシー
ンやローコントラストのシーン等では、アクティブＡＦ
モードに切り換えて、より高精度の測距を確実に行うこ
とができるなどの効果が得られる。また、同一のセンサ
アレイを用いて、上記２つのＡＦモードで切り換えて使
用するため、小型、かつ、低コスト化が可能となる。

【００４６】ここで、図８の回路図、および、図９のア
ンプ出力波形線図を用いて、上記実施の形態の測距装置
におけるパッシブＡＦモード時のセンサアレイの各セン
サセルの出力をＡ／Ｄ変換する方法の一例を説明する。
なお、上記図８は、図１に示すセンサアレイ２ｂを構成
する１受光素子であるセンサセル２ｂｉと、該センサセ
ル２ｂｉの出力を切り換えるスイッチ回路３および積分
回路を含むＡ／Ｄ変換回路４の詳細を示す回路図であ
る。なお、次の説明は左側のセンサアレイ２ｂの出力の
Ａ／Ｄ変換動作に関するものであり、他方の右側のセン
サアレイ２ａについても同様のＡ／Ｄ変換動作が行われ
る。但し、この右側のセンサアレイ２ａにはアクティブ
ＡＦモード時に切り換えられる後述の切り換えスイッチ
ＳＷ1 と端子１４は設けられていないものとする。

【００４７】上記センサアレイ２の受光センサセル２ｂ
ｉは、入射した光の強さに応じた光電流を出力する。Ｃ
ＰＵ１０に内蔵されるスイッチ（ＳＷ）制御回路１０ａ
によりスイッチ回路３の切り換えスイッチＳＷ1 をオ
フ、切り換えスイッチＳＷ2 をオンとすると、第１の基
準電圧Ｖref1を基準電圧とする積分アンプ１１と積分コ
ンデンサ１２の作用により、積分されて光電流が電圧に
変換される。その出力は、コンパレータ１３に入力さ
れ、第２の基準電圧Ｖref2との比較される。

【００４８】なお、上記積分開始に先だって、スイッチ
制御回路１０ａにより切り換えＳＷ3 をオンさせ、その
後、切り換えスイッチＳＷ3 をオフすると、図９のよう
に積分アンプ１１の出力が、まず、基準電圧Ｖref1に固
定される。その後、上述したように光電流の大きさ、つ
まり、光の強さに依存して積分電圧が変化する。コンパ
レーター１３では上記積分電圧が基準電圧Ｖref2に達す
るまでの到達時間ＴINT を判定する。入射した光が大き
いと、到達時間ＴINT は小さくなり、入射した光が小さ
いと、積分が遅くなり、到達時間ＴINT は大きくなる。

【００４９】このように各センサセル２ｂｉについて、
基準電圧Ｖref2に達するまでの到達時間ＴINT を求める
ことにより、各センサセル２ｂｉに入射した光の強さが
ディジタル的に求められ、被写体像の状態を示す信号が
得られる。なお、上記積分コンデンサ１２の容量を別途
スイッチにより切り換えることによって、積分のスピー
ドを制御してより広い範囲の光に対応して感度を切り換
えることも可能である。

【００５０】一方、アクティブＡＦモードで測距を行う
場合は、切り換えスイッチＳＷ2 をオフとし、ＳＷ1 を
オンとする。この切り換え状態で端子１４より光電流が
出力される。上記端子１４は、前記図７の回路図に示す
ように束ねられ、先に説明した機能を持つＡＦＩＣ７に
接続されており、測距用光のＬＥＤ投射時の反射信号光
を検出することが可能となる。

【００５１】次に、本発明の第２の実施の形態の測距装
置について説明する。図１０は、本実施の形態の測距装
置の主要ブロック構成図である。本測距装置では、パッ
シブＡＦモード時、切り換えスイッチＳＷ2 をオンと
し、センサアレイ２ｂの出力を各センサセル毎の積分を
行い、パッシブＡＦの測距信号を得るようにする。ま
た、アクティブＡＦモード時には、ドライバ８を介して
投光手段のＬＥＤ８ｂより被写体に向けてパルス状の測
距用信号光を投射する。そして、その反射光をセンサア
レイ２ｂに取り込む。そして、切り換えスイッチＳＷ5
をオンとすることにより、センサアレイ２ｂのセンサセ
ル出力は、接続パターンを有する接続回路１６で２つず
つ束ねられ、その光電流を加算する。そして、切り換え
ＳＷ1 をオンとすることによって上記加算された光電
流、すなわち、前記図６のｉpa，ｉpbは、ＡＦＩＣ７に
入力されてアクティブＡＦによる測距を実行する。以上
の構成は、第１の実施の形態の測距装置と略同一の構成
であり、同一の符号で各要素を示している。

【００５２】なお、図１０に図示していないがセンサア
レイ２ａの出力も同様にセンサセル毎の積分処理が実行
される。しかし、アクティブＡＦモードでセンサアレイ
２ａ側の出力ラインは、ＡＦＩＣ７側へ接続されること
はなく、上述のようにパッシブＡＦモードでのみ機能す
るものとする。

【００５３】本実施の形態の測距装置では、上記切り換
えスイッチＳＷ5 をオンとし、さらに、切り換えスイッ
チＳＷ4 をオンとすることにより、モニタ回路１５に総
光電流を入力することを可能としている。モニタ回路１
５は、この総光電流の大きさにより、測距時の光の強さ
を判定し、積分回路４ａのコンデンサを切り換えること
により感度切換を行ったり、積分制御を行ったりする、
所謂、ゲインコントロール（利得制御）を行うことがで
きる。このように総光電流をモニタして積分制御を行う
ことにより、被写体のシーン状態に従った最適な積分が
なされるので、被写体が明るい時でも暗い時でも安定し
たディジタル変換出力が得られる。

【００５４】上記積分制御の切換は、コンデンサの切り
換えの他に、積分時間ＴINT を計時するカウンタ４ｂの
クロックを切り換えてもよく、また、基準電圧Ｖref1と
Ｖref2の差を切り換えてもよい。もし、このような切り
換え処理を行わない場合、被写体が暗いときに積分時間
が長すぎてタイムラグとなったり、被写体が明るいとき
にすべてのセンサセルが一気に積分を終了してしまっ
て、像信号が飽和して測距が行えない場合が生じる。し
かし、上述のように上記モニタ回路１５の積分制御を行
うことにより、より様々なシーンに対応したパッシブＡ
Ｆモードでの高精度の測距ができることになる。

【００５５】各センサセルでの積分処理については、前
記図８で説明したが、本実施の形態の測距装置でも、各
センサセルに設けられた積分手段は、同様の構成となっ
ている。すなわち、積分時間ＴINT を計時するのが、カ
ウンタ４ｂであり、これらを含めてＡ／Ｄ変換回路４と
して図１０に示している。

【００５６】次に、上述のように構成された本実施の形
態の測距装置による測距処理動作について、図１２のフ
ローチャートを用いて説明する。まず、ステップＳ１で
各切り換えスイッチの制御を行う。すなわち、切り換え
スイッチＳＷ2 とＳＷ4 をオフし、切り換えスイッチＳ
Ｗ1 ，ＳＷ5 をオンとする。ステップＳ２において、前
記図５に示したアクティブ三角測距の原理に基づくアク
ティブＡＦモードの測距が実行される。すなわち、上記
の切り換え状態でＬＥＤ８ｂを発光させ、２つのブロッ
クに分割したセンサアレイ２ｂのそれぞれの出力がＡＦ
ＩＣ７に入力され、被写体距離ＺA を得る。

【００５７】続いて、ステップＳ３では、切り換えスイ
ッチＳＷ1 とＳＷ2 をオフに、切り換えスイッチＳＷ4
，ＳＷ5 をオンにする。ステップＳ４にて先に述べた
入射総光量に基づいた積分切換制御を行う。ステップＳ
５では、切り換えスイッチＳＷ2 をオン、ＳＷ5 をオフ
にする。ステップＳ６にて、パッシブＡＦモードによる
測距が行われる。すなわち、センサアレイ２ｂの光電流
の積分出力がＡ／Ｄ変換され、パッシブＡＦによる被写
体距離ＺB を得る。

【００５８】最後に、ステップＳ７にて、アクティブＡ
Ｆによって得られた測距結果である被写体距離ＺA と、
パッシブＡＦによって得られた測距結果である被写体距
離ＺB を比較して最終的にカメラのピント合わせに用い
る被写体距離を選択する。この選択方法としては、例え
ば、被写体が暗い時にはアクティブＡＦによる被写体距
離ＺA を選択し、被写体が明るい時にはパッシブＡＦで
得られた被写体距離ＺB を選択する等の方法がある。さ
らには、上記測距処理を２回ずつ実行して安定して得ら
れる方の被写体距離を採用する方法でもよい。

【００５９】上述のように本実施の形態の測距装置は、
モニタ手段を具備しており、被写体の明るさやコントラ
スト等の状態より適切な積分時間、積分判定電圧等が得
られるように切り換えスイッチを切り換えて調節を行
い、測距を行う。したがって、苦手なシーンが少ない測
距装置が実現できる。

【００６０】なお、上記アクティブＡＦモードにおける
測距方式は三角測距方式に限定する必要はなく、反射信
号光の強さによって、遠距離、近距離を判定する反射光
量ＡＦとしてもよい。また、この反射光量ＡＦの場合、
センサアレイ２ｂを２分割ブロック化するのではなく、
モニタ回路１５に入力される総光電流をＡＦＩＣ７に入
力するようにしてもよい。さらに、特定のセンサの出力
のみを選択するようにしてもよい。

【００６１】なお、上記実施の形態の装置の場合、アク
ティブＡＦモードでの測距にてセンサアレイ２ｂの出力
は、接続回路１６によりその中央部で２分割されて束ね
られた出力として取り出されるように構成したが、セン
サアレイ２ｂを単純に２つに分割するのではなく、カメ
ラによっては、図１１の接続回路１６′に示すように片
方に寄せて分割し、例えば、センサアレイ２ｂのＩＣチ
ップのアルミ配線を切り換えるようにすれば、より設計
の自由度が増す。この場合、アルミ配線のパターンをい
ろいろ選べるようなＩＣのレイアウトを採用しておくこ
とが好ましい。

【００６２】次に、本発明の第３の実施の形態の測距装
置について説明する。図１３は、本実施の形態の測距装
置の主要ブロック構成図である。本測距装置では、ＣＰ
Ｕ１０によって制御される切り換えスイッチＳＷ1 の接
続部後方のセンサアレイ２ｂの各センサセル出力ライン
間に分流用の抵抗２０，２１，２２が挿入されている。

【００６３】このように構成した測距装置の場合、アク
ティブＡＦ測距時、例えば、センサアレイ２ｂのうち、
左から２番目のセンサセルに最も強くＬＥＤ８ａの反射
信号光が入射した場合、抵抗２０，２１，２２の効果に
より、このセンサアレイ２ｂからの出力光電流は抵抗比
に従って分流される。すなわち、上記抵抗２０，２１，
２２が同じ抵抗値であれば、このセンサセルから各端子
までの抵抗比より信号光電流ｉpaは、信号光電流ｉpbの
２分の１の電流値となる。また、センサアレイ２ｂの右
から２番目のセンサセルに光が入ると、逆に光電流ｉpa
は、光電流ｉpbの２倍の電流値となる。つまり、上述の
ように構成することによって、センサアレイ２ｂを光位
置検出素子（ＰＳＤ）と同様に機能させることができ
る。

【００６４】そして、ＡＦＩＣ７においてＬＥＤ８ａの
発光時の信号光電流ｉpa，ｉpbの比率を求めることによ
って、反射信号光のセンサアレイ２ｂへの入射位置を検
出することができる。なお、本測距装置は、上記分流用
の抵抗を配設する以外は、前記第１の実施の形態の測距
装置と略同様の構成を有しているものとする。

【００６５】図１４は、本測距装置における測距処理の
フローチャートである。ステップＳ１１において、切り
換えスイッチＳＷ1 をオン、ＳＷ2 をオフにすると、セ
ンサアレイ２ｂは、上述したようにＰＳＤとして作用す
る状態になる。ステップＳ１２にてアクティブＡＦモー
ドでの測距を実行する。すなわち、ＬＥＤ８ａを発光さ
せた時に、センサアレイ２ｂに入射した光信号から、定
常光信号成分を除去し、信号光電流ｉpa，ｉpbを分離し
た後、これらの比をとることによって、信号光の入射位
置を求めれば、アクティブＡＦの測距による被写体距離
Ｚｃが求められる。

【００６６】続いて、ステップＳ１３にて切り換えＳＷ
1 をオフ、ＳＷ2 をオンとし、分流用の抵抗２０，２
１，２２とセンサアレイ２ｂのセンサセルは分離され、
センサアレイ２ａと２ｂの各センサセルの出力は、Ａ／
Ｄ変換回路４側に接続される。そこで、ステップＳ１４
において、積分回路４ａと、カウンタ４ｂによって先に
説明した像信号が得られ、パッシブＡＦの原理による測
距による被写体距離Ｚｄが求められる。

【００６７】そして、ステップＳ１５において、上記ア
クティブＡＦでの被写体距離Ｚｃ、または、パッシブＡ
Ｆでの被写体距離Ｚｄのいづれか一方がカメラフォーカ
シングのための距離情報として、被写体の明るさ等によ
り選択される。

【００６８】以上、説明したように本実施の形態の測距
装置によれば、センサアレイ２ｂをＰＳＤのように機能
させることができる。そして、従来の２分割センサを適
用するアクティブＡＦ方式では、信号光スポットがセン
サの分割点からはずれてしまえば、測距不能となるが、
ＰＳＤ機能をもつ本実施の形態による方式の場合、より
広いレンジで測距が可能となり、近距離から遠距離まで
広い範囲での測距が困難となるような被写体状態が少な
くなる。

【００６９】次に、本発明の第４の実施の形態の測距装
置について説明する。本実施の形態の測距装置は、パッ
シブＡＦ用センサアレイの光電流出力を切り換えて、上
記アクティブＡＦの測距以外に、例えば、リモートコン
トロール操作やＡＥ（自動露出）動作を行わせるように
構成したものである。図１５は、上述の応用例を示す測
距装置の主要ブロック構成図である。

【００７０】図１５の測距装置において、センサアレイ
２ｂの出力は、切り換えスイッチ回路３３に接続されて
おり、１つは、スイッチＳＷ6 を介して積分回路を含む
Ａ／Ｄ変換回路４に接続される。他の１つは、スイッチ
ＳＷ7 を介してＡＥ（自動露出）回路３０へ接続され、
さらに他の１つは、スイッチＳＷ8 を介してリモートコ
ントロール回路３１へ接続されている。上記切り換えス
イッチ回路３３は、ＣＰＵ１０により駆動制御されるＳ
Ｗ切換回路３２よってそのオンオフが制御される。ま
た、センサアレイ２ａの出力は、図示していないがＳＷ
6 を介して積分回路を含むＡ／Ｄ変換回路４に接続され
る。その他の構成は、前記第１の実施の形態の測距装置
と同様とし、図１５中に同一の符号を付して示してい
る。

【００７１】本測距装置において、パッシブＡＦよる測
距を行う場合は、切り換えスイッチＳＷ6 のみをオンと
し、前記実施の形態の装置と同様に測距を行うことがで
きる。また、ＡＥ制御を行う場合は、切り換えスイッチ
ＳＷ7 のみをオンとし、センサアレイ２ａの出力をＡＥ
回路３０に取り込み、ＡＥ制御を実行する。さらに、リ
モートコントロール制御を行う場合は、切り換えスイッ
チＳＷ8 のみをオンとし、ＣＰＵ１０によりＬＥＤ８ａ
によりリモートコントロールのためのパルス状の信号光
を投射し、その反射光をセンサアレイ２ａに取り込む。
その光電流出力をリモートコントロール回路３１に入力
し、リモートコントロールを実行する。

【００７２】以上、説明したように本実施の形態の測距
装置によると、パッシブＡＦ用のセンサアレイを設ける
だけで、その光電流の出力先を切り換えスイッチにより
切り換えることによって、測距処理以外のＡＥ動作やリ
モートコントロール動作を行わせることができるので、
この測距装置を組み込むことによって、高機能を有する
低価格のカメラ等を実現することができる。

【００７３】（付記）上述の本発明の実施の形態に基づ
いて、以下に示すような構成を有する測距装置を提案す
ることができる。すなわち、（１）センサアレイを用い
た測距装置において、 上記センサアレイの出力を束ねて、上記センサアレイを
複数のブロックに分割可能なスイッチ手段と、被写体に
対して信号光を投光する投光手段と、上記スイッチ手段
を制御して、上記センサアレイの各アレイの出力を検出
して被写体像を利用した第１の測距モードと、上記投光
手段の投光時の上記センサアレイを分割した上記ブロッ
クからの出力を検出する第２の測距モードとを切り換え
る制御手段と、を有することを特徴とする測距装置。上
記測距装置によれば、２つの測距モードでの測距機能を
持ち、より広い範囲の状態、例えば、遠距離、また、暗
い、また、コントラストの少ない等の被写体に対して良
好な測距が可能で、小型、かつ、低価格の測距装置を提
供できる。

【００７４】（２）２つの光路から入射した被写体像の
２つの輝度パターンを検出するために２つのセンサアレ
イと、このセンサアレイからの出力信号を積分する積分
手段とを有し、上記２つの輝度パターンを比較して、上
記被写体までの距離を測定するカメラにおいて、上記２
つのセンサアレイの少なくとも一方のセンサアレイの出
力信号を、上記積分手段から切り離し、パルス的な光電
流成分を検出する検出回路に入力するスイッチ手段を有
することを特徴とする測距装置。上記測距装置によれ
ば、センサアレイの出力信号を積分し、輝度パターンを
比較して被写体距離を測定する機能と、上記センサアレ
イの出力信号をスイッチ手段により切り換えて上記検出
回路に入力させ、パルス的な光電流信号を検出すること
によって被写体距離を測定する機能とを有しており、よ
り広い範囲の状態、例えば、遠距離、また、暗い、ま
た、コントラストの少ない等の被写体に対して良好な測
距が可能で、小型、かつ、低価格の測距装置を提供でき
る。

【００７５】（３）上記付記（２）に記載の測距装置に
おいて、被写体に対して信号光を発する投光手段をさら
に有し、上記検出回路は、被写体から反射した上記投光
手段の光信号に基づく光量流成分を検出する回路であ
る。上記測距装置は、上記付記（２）の効果に加えて、
投光手段からの光信号に基づいた測距を行うことができ
るという効果も有している。

【００７６】（４）上記付記（３）に記載の測距装置に
おいて、上記検出回路は、上記センサアレイへの上記光
信号の入射位置を検出して被写体距離を計測する測距回
路である。上記測距装置は、上記付記（３）の効果と同
様の効果を有している。

【００７７】（５）上記付記（３）に記載の測距装置に
おいて、上記検出回路は、上記センサアレイへの上記光
信号の入射光量を検出して被写体距離を計測する測距回
路である。上記測距装置は、上記付記（３）の効果と同
様の効果を有している。

【００７８】（６）上記付記（３）に記載の測距装置に
おいて、センサアレイの出力信号を、抵抗を介して束ね
てブロックの出力信号として上記検出回路に入力する。
上記測距装置は、上記付記（３）の効果に加えて、セン
サアレイの出力が抵抗を介して束ねられて状態で出力さ
れることによって、上記センサアレイに、例えば、ＰＳ
Ｄの機能を持たせることが可能となるという効果を有し
ている。

【００７９】（７）上記付記（２）に記載の測距装置に
おいて、上記検出回路は、外部のリモートコントロール
送信機から投射される信号光に基づく光電流成分を検出
する回路である。上記測距装置は、上記付記（２）の効
果に加えて、センサアレイの出力信号をリモートコント
ロール操作用のセンサとして利用することが可能とな
り、測距以外の機能を持たせることができるという効果
を有している。

【００８０】

【発明の効果】上述したように、本発明の請求項１、ま
たは、２記載の測距装置によれば、２つのセンサアレイ
の出力信号を用いて被写体までの距離を測定することが
可能であると同時に、さらに、上記２つのセンサアレイ
の少なくとも一方のセンサアレイの出力信号をパルス的
な光電流成分を検出することができ、異なる方式での測
距が可能となり、遠距離の被写体、低輝度下の被写体、
あるいは、コントラストの低い被写体等に対しても、良
好な測距をおこなうことができる小型、かつ、単純な構
成の測距装置を低コストて提供することができる。

【００８１】また、本発明の請求項３記載の測距装置に
よれば、２つの測距モードでの測距機能を持ち、遠距離
の被写体、低輝度下の被写体、あるいは、コントラスト
の低い被写体等に対して良好な測距が可能で、小型、か
つ、低価格の測距装置を提供できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施の形態を示す測距装置の概
要を示す主要ブロック構成図。

【図２】図１の測距装置において、センサアレイに入射
した被写体光の輝度パターンを示し、図２（Ａ）は一方
のセンサアレイ上の輝度パターンを示し、図２（Ｂ）
は、他方のセンサアレイ上の輝度パターンを示す。

【図３】図１の測距装置において、２つのセンサアレイ
の出力差の加算値ＦＦの変化を示す線図。

【図４】図１の測距装置において、２つのセンサアレイ
の各センサセルの各シフト状態での出力線図。

【図５】従来の測距装置、および、図１の測距装置にお
けるアクティブＡＦ測距の原理を示す図。

【図６】図５のアクティブＡＦ測距における２分割セン
サ上に結像した反射信号光スポットの様子を示す図。

【図７】図１の測距装置におけるセンサアレイと切り換
えスイッチの回路図。

【図８】図１の測距装置におけるスイッチ回路，Ａ／Ｄ
変換回路周りのセンサセル単位の回路図。

【図９】図８のＡ／Ｄ変換回路の出力波形線図。

【図１０】本発明の第２の実施の形態の測距装置の主要
ブロック構成図。

【図１１】図１０の測距装置における接続回路の変形例
を示す図。

【図１２】図１０の測距装置における測距処理のフロー
チャート。

【図１３】本発明の第３の実施の形態の測距装置の主要
ブロック構成図。

【図１４】図１３の測距装置における測距処理のフロー
チャート。

【図１５】本発明の第４の実施の形態の測距装置の主要
ブロック構成図。

【符号の説明】

２ａ，２ｂ……センサアレイ ３ ……スイッチ回路（スイッチ手段） ４ａ ……積分回路（積分手段） ７ ……ＡＦＩＣ（検出回路） ８ａ ……ＬＥＤ（投光手段） １１ ……積分アンプ（積分手段） １２ ……積分コンデンサ（積分手段） １９ ……被写体 ＰＴａ，ＰＴｂ……輝度パターン ＳＷ1 ，ＳＷ2 ，ＳＷ3……切り換えスイッチ（スイッ
チ手段）

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ２つの光路から入射した被写体像の２つ
   の輝度パターンを検出するために２つのセンサアレイ
   と、このセンサアレイからの出力信号を積分する積分手
   段とを有し、上記２つの輝度パターンを比較して、上記
   被写体までの距離を測定するカメラにおいて、 上記２つのセンサアレイの少なくとも一方のセンサアレ
   イの出力信号を、上記積分手段から切り離し、パルス的
   な光電流成分を検出する検出回路に入力するスイッチ手
   段を有することを特徴とする測距装置。
2. 【請求項２】 ２つの光路から入射した被写体像の２つ
   の輝度パターンを検出するために２つのセンサアレイ
   と、このセンサアレイからの出力信号を積分する積分手
   段とを有し、上記２つの輝度パターンを比較して、上記
   被写体までの距離を測定するカメラにおいて、 投光手段と、 上記投光手段による発光時に、上記２つのセンサアレイ
   の少なくとも一方のセンサアレイの出力信号を、上記積
   分手段から切り離し、上記センサアレイに入射した上記
   投光手段の光信号に基づく光電流成分を検出する検出回
   路に入力するスイッチ手段と、 を有することを特徴とする測距装置。
3. 【請求項３】 センサアレイを用いた測距装置におい
   て、 上記センサアレイの出力を束ねて、上記センサアレイを
   複数のブロックに分割可能なスイッチ手段と、 被写体に対して信号光を投光する投光手段と、 上記スイッチ手段を制御して、上記センサアレイの各ア
   レイの出力を検出して被写体距離を計測する第１の測距
   モードと、上記投光手段の投光時の上記センサアレイを
   分割した上記ブロックからの出力を検出して被写体距離
   を計測する第２の測距モードとを切り換える制御手段
   と、 を有することを特徴とする測距装置。