JPH1022208A - 回転式現像装置 - Google Patents
回転式現像装置Info
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- JPH1022208A JPH1022208A JP8178012A JP17801296A JPH1022208A JP H1022208 A JPH1022208 A JP H1022208A JP 8178012 A JP8178012 A JP 8178012A JP 17801296 A JP17801296 A JP 17801296A JP H1022208 A JPH1022208 A JP H1022208A
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- substrate
- developing device
- substrate holding
- holding means
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- Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 基板の裏面を清浄に保つことが可能なディッ
プ方式の回転式現像装置を提供することである。 【解決手段】 回転部材2の上面には現像液保持部材5
が固定されている。現像液保持部材5は、円環状の底面
部6と、その底面部6の外周部上に形成された周壁部7
と、底面部6の内周部上に形成された円環状の基板支持
部8とからなる。基板支持部8は基板100の裏面を垂
直に支持する。周壁部7および基板支持部8には複数の
微細孔9,10が形成されている。底面部6には基板1
00の水平位置を規制する複数のピン部材11が配設さ
れている。周壁部9の内周面、底面部6の上面、基板支
持部8の外周面および基板100の上面で囲まれる領域
に現像液200が収容される。
プ方式の回転式現像装置を提供することである。 【解決手段】 回転部材2の上面には現像液保持部材5
が固定されている。現像液保持部材5は、円環状の底面
部6と、その底面部6の外周部上に形成された周壁部7
と、底面部6の内周部上に形成された円環状の基板支持
部8とからなる。基板支持部8は基板100の裏面を垂
直に支持する。周壁部7および基板支持部8には複数の
微細孔9,10が形成されている。底面部6には基板1
00の水平位置を規制する複数のピン部材11が配設さ
れている。周壁部9の内周面、底面部6の上面、基板支
持部8の外周面および基板100の上面で囲まれる領域
に現像液200が収容される。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、基板にディップ現
像を行うための回転式現像装置に関する。
像を行うための回転式現像装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体ウエハ、液晶表示装置用ガラス基
板、フォトマスク用ガラス基板、光ディスク用ガラス基
板等の基板に現像処理を行うために種々の方式の現像装
置が用いられている。
板、フォトマスク用ガラス基板、光ディスク用ガラス基
板等の基板に現像処理を行うために種々の方式の現像装
置が用いられている。
【0003】パドル方式の現像装置では、基板を水平姿
勢で回転させながら基板上の感光性膜に現像液を供給す
る。供給された現像液は、基板の回転によって基板の全
面に塗り広げられ、感光性膜と接触する。表面張力によ
り基板上に現像液を保持した状態で一定時間基板を静止
させること(液盛り)により感光性膜の現像が行われ
る。
勢で回転させながら基板上の感光性膜に現像液を供給す
る。供給された現像液は、基板の回転によって基板の全
面に塗り広げられ、感光性膜と接触する。表面張力によ
り基板上に現像液を保持した状態で一定時間基板を静止
させること(液盛り)により感光性膜の現像が行われ
る。
【0004】また、現像液の中に基板を浸すディップ方
式の現像装置も開発されている。図11は従来のディッ
プ方式の現像装置の主要部の概略断面図である。この現
像装置は、特開昭63−271930号公報に開示され
ている。
式の現像装置も開発されている。図11は従来のディッ
プ方式の現像装置の主要部の概略断面図である。この現
像装置は、特開昭63−271930号公報に開示され
ている。
【0005】図11において、インナーカップ30の上
面には、現像液を収容するための凹部31が設けられて
いる。この凹部31の中心部にはスピンチャック40の
昇降経路を確保するために孔部30Aが設けられてい
る。基板100はスピンチャック40により水平姿勢で
真空吸着される。
面には、現像液を収容するための凹部31が設けられて
いる。この凹部31の中心部にはスピンチャック40の
昇降経路を確保するために孔部30Aが設けられてい
る。基板100はスピンチャック40により水平姿勢で
真空吸着される。
【0006】インナーカップ30には、複数の現像液供
給管33が設けられ、その上方端は凹部31の内周に複
数に分割して形成された現像液吐出口34に連通されて
いる。また、このインナーカップ30には、基板100
の裏面を洗浄するための洗浄液供給管35が設けられて
いる。さらに、このインナーカップ30の中心側には段
部36が設けられ、この段部36にOリング37が配置
されている。
給管33が設けられ、その上方端は凹部31の内周に複
数に分割して形成された現像液吐出口34に連通されて
いる。また、このインナーカップ30には、基板100
の裏面を洗浄するための洗浄液供給管35が設けられて
いる。さらに、このインナーカップ30の中心側には段
部36が設けられ、この段部36にOリング37が配置
されている。
【0007】現像処理時には、インナーカップ30の凹
部31、スピンチャック40のテーパー部41およびO
リング37でチャンバーが形成される。現像液供給管3
3を通して現像液を供給し、インナーカップ30の内周
面に形成された現像液吐出孔34からそれぞれ均一に現
像液を吐出する。それにより、チャンバー内に現像液が
充填され、基板100の全面が現像液に浸される。
部31、スピンチャック40のテーパー部41およびO
リング37でチャンバーが形成される。現像液供給管3
3を通して現像液を供給し、インナーカップ30の内周
面に形成された現像液吐出孔34からそれぞれ均一に現
像液を吐出する。それにより、チャンバー内に現像液が
充填され、基板100の全面が現像液に浸される。
【0008】現像処理の終了後、インナーカップ30が
下降することにより、インナーカップ30の孔部30A
が開口し、スピンチャック40とインナーカップ30と
の隙間から現像液が排出される。その後、洗浄液供給管
35を通して洗浄液を供給することにより、基板100
の裏面の洗浄が行われる。
下降することにより、インナーカップ30の孔部30A
が開口し、スピンチャック40とインナーカップ30と
の隙間から現像液が排出される。その後、洗浄液供給管
35を通して洗浄液を供給することにより、基板100
の裏面の洗浄が行われる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】上記の従来のパドルお
よびディップ方式の現像装置では、スピンチャック40
により基板100を真空吸着して保持しているので、基
板100の裏面に吸着跡が残る。また、基板100の裏
面に付着したパーティクル(粒子)等の異物を洗浄液供
給管35により供給される洗浄液で洗浄する際に、スピ
ンチャック40による吸着部分およびその周囲を十分に
洗浄しきれない。
よびディップ方式の現像装置では、スピンチャック40
により基板100を真空吸着して保持しているので、基
板100の裏面に吸着跡が残る。また、基板100の裏
面に付着したパーティクル(粒子)等の異物を洗浄液供
給管35により供給される洗浄液で洗浄する際に、スピ
ンチャック40による吸着部分およびその周囲を十分に
洗浄しきれない。
【0010】基板100の裏面に吸着跡や異物の付着が
あると、基板100をキャリア内に多段に配置した場合
に、上の基板の裏面の付着物が下方に落下し、下の基板
の表面を汚染することがある。また、現像処理の後の工
程で基板表面への感光性膜の塗布処理および露光処理を
繰り返す場合、基板裏面に付着物があると、露光処理時
にフォーカス異常を引き起こすおそれがある。
あると、基板100をキャリア内に多段に配置した場合
に、上の基板の裏面の付着物が下方に落下し、下の基板
の表面を汚染することがある。また、現像処理の後の工
程で基板表面への感光性膜の塗布処理および露光処理を
繰り返す場合、基板裏面に付着物があると、露光処理時
にフォーカス異常を引き起こすおそれがある。
【0011】本発明の目的は、基板の裏面を清浄に保つ
ことが可能なディップ方式の回転式現像装置を提供する
ことである。
ことが可能なディップ方式の回転式現像装置を提供する
ことである。
【0012】
【課題を解決するための手段および発明の効果】第1の
発明に係る回転式現像装置は、基板を水平姿勢で保持す
る基板保持手段と、基板保持手段を鉛直方向の軸の周り
で回転駆動する回転駆動手段と、基板保持手段に保持さ
れた基板上に現像液を供給する現像液供給手段とを備
え、基板保持手段は、環状の底面部と、基板の周囲を取
り囲むように底面部上に形成された周壁部と、底面部上
の周壁部よりも内側に形成されかつ基板の裏面を支持す
る環状の基板支持部とを含み、基板保持手段の少なくと
も周壁部が複数の微細孔を有するものである。
発明に係る回転式現像装置は、基板を水平姿勢で保持す
る基板保持手段と、基板保持手段を鉛直方向の軸の周り
で回転駆動する回転駆動手段と、基板保持手段に保持さ
れた基板上に現像液を供給する現像液供給手段とを備
え、基板保持手段は、環状の底面部と、基板の周囲を取
り囲むように底面部上に形成された周壁部と、底面部上
の周壁部よりも内側に形成されかつ基板の裏面を支持す
る環状の基板支持部とを含み、基板保持手段の少なくと
も周壁部が複数の微細孔を有するものである。
【0013】第1の発明に係る回転式現像装置において
は、基板保持手段により保持された基板上に現像液供給
手段により現像液が供給される。現像液は、基板保持手
段の周壁部の内周面、底面部の上面、基板支持部の外周
面および基板の上面で囲まれた領域に収容され、基板が
現像液中に浸漬される。この状態で一定時間基板を静止
させることにより、ディップ現像が行われる。
は、基板保持手段により保持された基板上に現像液供給
手段により現像液が供給される。現像液は、基板保持手
段の周壁部の内周面、底面部の上面、基板支持部の外周
面および基板の上面で囲まれた領域に収容され、基板が
現像液中に浸漬される。この状態で一定時間基板を静止
させることにより、ディップ現像が行われる。
【0014】現像処理の終了後に、回転駆動手段により
基板保持手段が鉛直方向の軸の周りで回転駆動される
と、基板保持手段に収容された現像液が周壁部の複数の
微細孔を通して外部に漏れ出る。
基板保持手段が鉛直方向の軸の周りで回転駆動される
と、基板保持手段に収容された現像液が周壁部の複数の
微細孔を通して外部に漏れ出る。
【0015】この回転式現像装置では、基板保持手段の
環状の基板支持部の上端部が基板の裏面に当接すること
により基板が水平姿勢で支持されるので、基板の裏面に
吸着跡が残らない。また、基板の裏面の中央部に空間が
存在するので、基板の裏面を十分に洗浄することが可能
となる。したがって、基板の裏面を清浄に保つことがで
きる。
環状の基板支持部の上端部が基板の裏面に当接すること
により基板が水平姿勢で支持されるので、基板の裏面に
吸着跡が残らない。また、基板の裏面の中央部に空間が
存在するので、基板の裏面を十分に洗浄することが可能
となる。したがって、基板の裏面を清浄に保つことがで
きる。
【0016】第2の発明に係る回転式現像装置は、第1
の発明に係る回転式現像装置の構成において、複数の微
細孔が、基板保持手段の静止時また所定の速度以下の回
転時に現像液が透過せず、基板保持手段の所定の速度を
越える回転時に現像液が透過する大きさを有するもので
ある。
の発明に係る回転式現像装置の構成において、複数の微
細孔が、基板保持手段の静止時また所定の速度以下の回
転時に現像液が透過せず、基板保持手段の所定の速度を
越える回転時に現像液が透過する大きさを有するもので
ある。
【0017】この場合、基板保持手段の静止時または低
速回転時に基板保持手段に現像液を保持することがで
き、基板保持手段の高速回転時に現像液を微細孔から排
出することができる。
速回転時に基板保持手段に現像液を保持することがで
き、基板保持手段の高速回転時に現像液を微細孔から排
出することができる。
【0018】第3の発明に係る回転式現像装置は、第1
または第2の発明に係る回転式現像装置の構成におい
て、基板保持手段の基板支持部が複数の微細孔を有する
ものである。
または第2の発明に係る回転式現像装置の構成におい
て、基板保持手段の基板支持部が複数の微細孔を有する
ものである。
【0019】この場合、基板の裏面の洗浄時に、基板裏
面の中央部から基板支持部の微細孔を通して洗浄液を基
板裏面の外周部に供給することができる。それにより、
基板裏面の全域を十分に洗浄することができる。
面の中央部から基板支持部の微細孔を通して洗浄液を基
板裏面の外周部に供給することができる。それにより、
基板裏面の全域を十分に洗浄することができる。
【0020】第4の発明に係る回転式現像装置は、第
1、第2または第3の発明に係る回転式現像装置の構成
において、基板保持手段の基板支持部の上端面に複数の
溝が形成されたものである。
1、第2または第3の発明に係る回転式現像装置の構成
において、基板保持手段の基板支持部の上端面に複数の
溝が形成されたものである。
【0021】この場合、基板の裏面の洗浄時に、基板裏
面の中央部から基板支持部の溝と基板裏面との間の隙間
を通して洗浄液を基板裏面の外周部に供給することがで
きる。それにより、基板裏面の全域を十分に洗浄するこ
とができる。
面の中央部から基板支持部の溝と基板裏面との間の隙間
を通して洗浄液を基板裏面の外周部に供給することがで
きる。それにより、基板裏面の全域を十分に洗浄するこ
とができる。
【0022】第5の発明に係る回転式現像装置は、第1
〜第4のいずれかの発明に係る回転式現像装置の構成に
おいて、基板保持手段の底面部のほぼ中心部に配置され
た吐出口を有しかつ基板の裏面に洗浄液を吐出する洗浄
液吐出手段をさらに備えたものである。この場合、洗浄
液吐出手段の吐出口から吐出される洗浄液により基板の
裏面を十分に洗浄することができる。
〜第4のいずれかの発明に係る回転式現像装置の構成に
おいて、基板保持手段の底面部のほぼ中心部に配置され
た吐出口を有しかつ基板の裏面に洗浄液を吐出する洗浄
液吐出手段をさらに備えたものである。この場合、洗浄
液吐出手段の吐出口から吐出される洗浄液により基板の
裏面を十分に洗浄することができる。
【0023】第6の発明に係る回転式現像装置は、第1
〜第5のいずれかの発明に係る回転式現像装置の構成に
おいて、基板保持手段が、底面部または周壁部に設けら
れかつ基板の水平位置を規制する複数の水平位置規制部
をさらに有するものである。この場合、基板保持手段の
回転時に、基板の外周端面が複数の水平位置規制部によ
り掛止され、基板が基板保持手段とともに回転すること
ができる。
〜第5のいずれかの発明に係る回転式現像装置の構成に
おいて、基板保持手段が、底面部または周壁部に設けら
れかつ基板の水平位置を規制する複数の水平位置規制部
をさらに有するものである。この場合、基板保持手段の
回転時に、基板の外周端面が複数の水平位置規制部によ
り掛止され、基板が基板保持手段とともに回転すること
ができる。
【0024】
【発明の実施の形態】図1は本発明の第1の実施例にお
ける回転式現像装置の断面図である。また、図2は図1
の回転式現像装置の一部分の拡大断面図である。
ける回転式現像装置の断面図である。また、図2は図1
の回転式現像装置の一部分の拡大断面図である。
【0025】図1において、回転保持部1は円形板状の
回転部材2を備える。回転部材2は、モータ3のシャフ
ト4の先端部に水平に固定され、鉛直方向の軸の周りで
回転駆動される。
回転部材2を備える。回転部材2は、モータ3のシャフ
ト4の先端部に水平に固定され、鉛直方向の軸の周りで
回転駆動される。
【0026】回転部材2の上面には現像液保持部材5が
固定されている。現像液保持部材5は、円環状の底面部
6と、その底面部6の外周部上に形成された周壁部7
と、底面部6の内周部上に形成された円環状の基板支持
部8とからなる。基板支持部8は基板100の裏面を垂
直に支持する。現像処理時には、現像液保持部材5の周
壁部9の内周面、底面部6の上面、基板支持部8の外周
面および基板100の上面で囲まれる領域に現像液20
0が収容される。
固定されている。現像液保持部材5は、円環状の底面部
6と、その底面部6の外周部上に形成された周壁部7
と、底面部6の内周部上に形成された円環状の基板支持
部8とからなる。基板支持部8は基板100の裏面を垂
直に支持する。現像処理時には、現像液保持部材5の周
壁部9の内周面、底面部6の上面、基板支持部8の外周
面および基板100の上面で囲まれる領域に現像液20
0が収容される。
【0027】底面部6の上面には、基板100の水平位
置を規制する複数のピン部材11が配設されている。複
数のピン部材11のうち少なくとも1つは、円柱状の回
転支持部材12の上面に固定され、残りのピン部材11
は底面部6の上面に直接固定されている。回転支持部材
12は、底面部6および回転部材2に鉛直方向の軸の周
りで回転可能に取り付けられている。なお、すべてのピ
ン部材11を回転支持部材12に固定してもよい。回転
支持部材12の下部には後述するように棒状の永久磁石
13が取り付けられている。
置を規制する複数のピン部材11が配設されている。複
数のピン部材11のうち少なくとも1つは、円柱状の回
転支持部材12の上面に固定され、残りのピン部材11
は底面部6の上面に直接固定されている。回転支持部材
12は、底面部6および回転部材2に鉛直方向の軸の周
りで回転可能に取り付けられている。なお、すべてのピ
ン部材11を回転支持部材12に固定してもよい。回転
支持部材12の下部には後述するように棒状の永久磁石
13が取り付けられている。
【0028】図2に示すように、周壁部7には複数の円
形の微細孔9が形成され、基板支持部8にも複数の円形
の微細孔10が形成されている。微細孔9の直径は、現
像液が漏れ出ないように、界面活性剤の有無などの現像
液の種類によらず3〜4mm以下であることが好まし
い。同様に、微細孔10の直径も3〜4mm以下である
ことが好ましい。また、回転支持部材12と底面部6お
よび回転部材2との間に形成される円環状の隙間22の
幅wは0.3〜0.4mm以下とする。
形の微細孔9が形成され、基板支持部8にも複数の円形
の微細孔10が形成されている。微細孔9の直径は、現
像液が漏れ出ないように、界面活性剤の有無などの現像
液の種類によらず3〜4mm以下であることが好まし
い。同様に、微細孔10の直径も3〜4mm以下である
ことが好ましい。また、回転支持部材12と底面部6お
よび回転部材2との間に形成される円環状の隙間22の
幅wは0.3〜0.4mm以下とする。
【0029】図1に示すように、回転部材2の下方に
は、円環状磁石14が配設されている。この円環状磁石
14は、上下動自在に設けられた円形の磁石支持部材1
5上に固定されている。
は、円環状磁石14が配設されている。この円環状磁石
14は、上下動自在に設けられた円形の磁石支持部材1
5上に固定されている。
【0030】磁石支持部材15には複数の貫通孔17が
形成されている。同様に、回転部材2にも複数の貫通孔
18が形成されている。これらの貫通孔17,18の下
方には複数の昇降ピン16がエアシリンダ(図示せず)
により昇降自在に配設されている。これらの昇降ピン1
6は、基板搬送装置との基板100の受渡し時に、磁石
支持部材15の貫通孔17および回転部材2の貫通孔1
8を貫通して上昇し、基板100の裏面に当接し、一点
鎖線で示すように、さらに基板100を上方に押し上げ
る。
形成されている。同様に、回転部材2にも複数の貫通孔
18が形成されている。これらの貫通孔17,18の下
方には複数の昇降ピン16がエアシリンダ(図示せず)
により昇降自在に配設されている。これらの昇降ピン1
6は、基板搬送装置との基板100の受渡し時に、磁石
支持部材15の貫通孔17および回転部材2の貫通孔1
8を貫通して上昇し、基板100の裏面に当接し、一点
鎖線で示すように、さらに基板100を上方に押し上げ
る。
【0031】モータ3のシャフト4は中空体により構成
され、その内部に裏面洗浄用のバックリンスノズル19
が挿入されている。回転保持部1の周囲には、カップ2
0が上下動自在に配設されている。また、回転保持部1
の上方には、現像液を吐出する現像ノズル21が矢印Z
1で示すように上下方向に移動可能かつ矢印Z2で示す
ように水平方向に移動可能に設けられている。
され、その内部に裏面洗浄用のバックリンスノズル19
が挿入されている。回転保持部1の周囲には、カップ2
0が上下動自在に配設されている。また、回転保持部1
の上方には、現像液を吐出する現像ノズル21が矢印Z
1で示すように上下方向に移動可能かつ矢印Z2で示す
ように水平方向に移動可能に設けられている。
【0032】本実施例では、回転保持部1が基板保持手
段を構成し、モータ3が回転駆動手段を構成し、現像ノ
ズル21が現像液供給手段を構成する。また、バックリ
ンスノズル19が洗浄液吐出手段を構成し、ピン部材1
1が水平位置規制部を構成する。
段を構成し、モータ3が回転駆動手段を構成し、現像ノ
ズル21が現像液供給手段を構成する。また、バックリ
ンスノズル19が洗浄液吐出手段を構成し、ピン部材1
1が水平位置規制部を構成する。
【0033】図3は回転支持部材12の斜視図である。
図3に示すように、ピン部材11は回転支持部材12の
中心部に対して偏心した位置に設けられている。回転支
持部材12の上端部にはフランジ23が設けられてい
る。棒状の永久磁石13は回転支持部材12の下端部に
取り付けられている。
図3に示すように、ピン部材11は回転支持部材12の
中心部に対して偏心した位置に設けられている。回転支
持部材12の上端部にはフランジ23が設けられてい
る。棒状の永久磁石13は回転支持部材12の下端部に
取り付けられている。
【0034】図4および図5は回転支持部材12の動作
を説明するための図であり、(a)は回転支持部材12
およびその周辺部の部分断面図、(b)は回転支持部材
12の平面図である。
を説明するための図であり、(a)は回転支持部材12
およびその周辺部の部分断面図、(b)は回転支持部材
12の平面図である。
【0035】基板100の処理前および処理後には、図
4(a)に示すように、円環状磁石14が回転部材2の
下方に離れて位置する。このとき、円環状磁石14が形
成する磁力線Bは、永久磁石13が設置される高さにお
いて、回転部材2の外側から中心部に向かう方向に向い
ている。したがって、永久磁石13のN極が回転部材2
の中心部に向かう方向に吸引される。それにより、図4
(b)に示すように、回転支持部材12が矢印Xの方向
に回動し、ピン部材11の外周面が基板100の外周端
面から離れる。
4(a)に示すように、円環状磁石14が回転部材2の
下方に離れて位置する。このとき、円環状磁石14が形
成する磁力線Bは、永久磁石13が設置される高さにお
いて、回転部材2の外側から中心部に向かう方向に向い
ている。したがって、永久磁石13のN極が回転部材2
の中心部に向かう方向に吸引される。それにより、図4
(b)に示すように、回転支持部材12が矢印Xの方向
に回動し、ピン部材11の外周面が基板100の外周端
面から離れる。
【0036】基板100を処理する際には、図5(a)
に示すように、円環状磁石14が上昇して回転部材2に
接近する。したがって、永久磁石13のS極が円環状磁
石14のN極に吸引される。それにより、図5(b)に
示すように、回転支持部材12が矢印Yの方向に回動
し、ピン部材11の外周面が基板100の外周端面に当
接し、基板100が水平方向に保持される。
に示すように、円環状磁石14が上昇して回転部材2に
接近する。したがって、永久磁石13のS極が円環状磁
石14のN極に吸引される。それにより、図5(b)に
示すように、回転支持部材12が矢印Yの方向に回動
し、ピン部材11の外周面が基板100の外周端面に当
接し、基板100が水平方向に保持される。
【0037】図1の回転式現像装置において、現像処理
時には、カップ20の外部の待機位置にある現像ノズル
21が、基板100の中心部の上方位置まで移動した
後、下降する。そして、現像ノズル21から基板100
上に現像液200が供給される。
時には、カップ20の外部の待機位置にある現像ノズル
21が、基板100の中心部の上方位置まで移動した
後、下降する。そして、現像ノズル21から基板100
上に現像液200が供給される。
【0038】その現像液200は、周壁部7の内周面、
底面部6の上面、基板支持部8の外周面および基板10
0の上面で囲まれる領域に収容される。この状態で現像
液200を一定時間静止させることによりディップ現像
が行われる。
底面部6の上面、基板支持部8の外周面および基板10
0の上面で囲まれる領域に収容される。この状態で現像
液200を一定時間静止させることによりディップ現像
が行われる。
【0039】このとき、微細孔9,10の直径が3〜4
mm以下であるので、基板100の静止時または低速回
転時には現像液の表面張力によって現像液が微細孔9,
10から外部には漏れ出ない。また、回転支持部材12
と底面部6および回転部材2との間の隙間22の幅wが
0.3〜0.4mm以下であるので、この隙間22から
も現像液は漏れ出ない。
mm以下であるので、基板100の静止時または低速回
転時には現像液の表面張力によって現像液が微細孔9,
10から外部には漏れ出ない。また、回転支持部材12
と底面部6および回転部材2との間の隙間22の幅wが
0.3〜0.4mm以下であるので、この隙間22から
も現像液は漏れ出ない。
【0040】これにより、現像液を多量に盛り上げた状
態で保持することができるので、現像の進行中における
現像液の劣化の影響が少なくなり、基板100上に形成
されるパターンの線幅の均一性(現像均一性)が向上す
る。
態で保持することができるので、現像の進行中における
現像液の劣化の影響が少なくなり、基板100上に形成
されるパターンの線幅の均一性(現像均一性)が向上す
る。
【0041】現像処理の終了後、回転保持部1が高速
(例えば1000回転/分)で回転する。それにより、
遠心力により現像液が周壁部7の微細孔9を通して外部
へ流れ出る。
(例えば1000回転/分)で回転する。それにより、
遠心力により現像液が周壁部7の微細孔9を通して外部
へ流れ出る。
【0042】基板100のリンス時には、純水供給ノズ
ル(図示せず)から回転する基板100上に純水リンス
液が供給される。周壁部7と基板支持部8とで囲まれる
円環状の領域に流れ落ちた純水リンス液は、回転保持部
1が高速回転することにより遠心力で周壁部7の微細孔
9を通して外部に排出される。
ル(図示せず)から回転する基板100上に純水リンス
液が供給される。周壁部7と基板支持部8とで囲まれる
円環状の領域に流れ落ちた純水リンス液は、回転保持部
1が高速回転することにより遠心力で周壁部7の微細孔
9を通して外部に排出される。
【0043】また、裏面洗浄時には、バックリンスノズ
ル19からバックリンス液が吐出され、基板100の裏
面が洗浄される。このバックリンス液は、基板支持部8
の微細孔10を通して周壁部7と基板支持部8とで囲ま
れる円環状の領域内にも侵入し、基板100の裏面の全
域が洗浄される。周壁部7と基板支持部8とで囲まれる
円環状の領域内のバックリンス液は、回転保持部1が高
速回転することにより遠心力で周壁部7の微細孔9を通
して外部に排出される。
ル19からバックリンス液が吐出され、基板100の裏
面が洗浄される。このバックリンス液は、基板支持部8
の微細孔10を通して周壁部7と基板支持部8とで囲ま
れる円環状の領域内にも侵入し、基板100の裏面の全
域が洗浄される。周壁部7と基板支持部8とで囲まれる
円環状の領域内のバックリンス液は、回転保持部1が高
速回転することにより遠心力で周壁部7の微細孔9を通
して外部に排出される。
【0044】このようにして、基板100の裏面および
回転保持部1自体が洗浄され、清浄に保たれる。このと
き、基板100の裏面および外周端面が点接触状態また
は線接触状態で保持されているので、基板100の全面
を十分に洗浄することが可能となる。その結果、基板1
00の裏面のパーティクルが格段に減少する。
回転保持部1自体が洗浄され、清浄に保たれる。このと
き、基板100の裏面および外周端面が点接触状態また
は線接触状態で保持されているので、基板100の全面
を十分に洗浄することが可能となる。その結果、基板1
00の裏面のパーティクルが格段に減少する。
【0045】基板100の処理の終了後、昇降ピン6が
回転保持部1の回転部材2の貫通孔18を貫通して上昇
し、基板100の裏面に当接し、さらに基板100を上
方に押し上げる。その状態で、基板搬送装置に対して基
板100の受渡しが行われる。
回転保持部1の回転部材2の貫通孔18を貫通して上昇
し、基板100の裏面に当接し、さらに基板100を上
方に押し上げる。その状態で、基板搬送装置に対して基
板100の受渡しが行われる。
【0046】図6は本発明の第2の実施例における回転
式現像装置の主要部の断面図である。図6の回転式現像
装置が図1の回転式現像装置と異なるのは、ピン部材1
1およびそれに関連する部分が設けられていない代わり
に、現像液保持部材5の周壁部7の内周面に基板100
の水平位置を規制する複数の突状部24が形成されてい
る点である。
式現像装置の主要部の断面図である。図6の回転式現像
装置が図1の回転式現像装置と異なるのは、ピン部材1
1およびそれに関連する部分が設けられていない代わり
に、現像液保持部材5の周壁部7の内周面に基板100
の水平位置を規制する複数の突状部24が形成されてい
る点である。
【0047】図7は現像液保持部材5の周壁部7の斜視
図である。図7に示すように、周壁部7の内周面に横断
面三角形状の複数の突状部24が一体形成されている。
本実施例では、これらの突状部24が水平位置規制部を
構成する。
図である。図7に示すように、周壁部7の内周面に横断
面三角形状の複数の突状部24が一体形成されている。
本実施例では、これらの突状部24が水平位置規制部を
構成する。
【0048】図6に示すように、回転保持部1の回転時
には、基板100が回転保持部1の回転中心に対して偏
心した状態で回転する。本実施例の回転式現像装置にお
いても、現像処理時に、現像液が周壁部7の内周面、底
面部6の上面、基板支持部8の外周面および基板100
の上面で囲まれる領域に収容される。この状態で現像液
を一定時間静止させることによりディップ現像が行われ
る。
には、基板100が回転保持部1の回転中心に対して偏
心した状態で回転する。本実施例の回転式現像装置にお
いても、現像処理時に、現像液が周壁部7の内周面、底
面部6の上面、基板支持部8の外周面および基板100
の上面で囲まれる領域に収容される。この状態で現像液
を一定時間静止させることによりディップ現像が行われ
る。
【0049】このとき、微細孔9,10の直径が3〜4
mm以下であるので、基板100の静止時または低速回
転時には現像液の表面張力によって現像液が微細孔9,
10から外部には漏れ出ない。現像処理の終了後、回転
保持部1が高速で回転すると、遠心力により現像液が周
壁部7の微細孔9を通して外部へ流れ出る。
mm以下であるので、基板100の静止時または低速回
転時には現像液の表面張力によって現像液が微細孔9,
10から外部には漏れ出ない。現像処理の終了後、回転
保持部1が高速で回転すると、遠心力により現像液が周
壁部7の微細孔9を通して外部へ流れ出る。
【0050】図8は本発明の第3の実施例における回転
式現像装置の主要部の断面図である。図8の回転式現像
装置が図1の回転式現像装置と異なるのは、すべてのピ
ン部材11が現像液保持部材5の底面部6に直接固定さ
れており、回転支持部材12およびそれに関連する部分
が設けられていない点である。
式現像装置の主要部の断面図である。図8の回転式現像
装置が図1の回転式現像装置と異なるのは、すべてのピ
ン部材11が現像液保持部材5の底面部6に直接固定さ
れており、回転支持部材12およびそれに関連する部分
が設けられていない点である。
【0051】図9は図8の回転式現像装置におけるピン
部材11と基板100との関係を示す平面図である。図
9の例では、2本のピン部材11が基板100の直線状
切欠き(オリエンテーションフラット)101に沿って
配置され、残りの6本のピン部材11が基板100の外
周部に沿って配置されている。各ピン部材11の外周面
と基板100の外周端面との間には、基板100の搬入
および搬出を容易にするために僅かな遊びが設けられて
いる。
部材11と基板100との関係を示す平面図である。図
9の例では、2本のピン部材11が基板100の直線状
切欠き(オリエンテーションフラット)101に沿って
配置され、残りの6本のピン部材11が基板100の外
周部に沿って配置されている。各ピン部材11の外周面
と基板100の外周端面との間には、基板100の搬入
および搬出を容易にするために僅かな遊びが設けられて
いる。
【0052】本実施例の回転式現像装置においては、回
転保持部1が鉛直方向の軸の周りで回転駆動されると、
回転方向に応じて基板100の直線状切欠き101がピ
ン部材11の1つにより掛止され、かつピン部材11の
いくつかが基板100の外周端面に当接し、基板100
の中心が回転保持部1の回転中心からやや偏心した状態
で基板100が回転保持部1とともに回転する。
転保持部1が鉛直方向の軸の周りで回転駆動されると、
回転方向に応じて基板100の直線状切欠き101がピ
ン部材11の1つにより掛止され、かつピン部材11の
いくつかが基板100の外周端面に当接し、基板100
の中心が回転保持部1の回転中心からやや偏心した状態
で基板100が回転保持部1とともに回転する。
【0053】本実施例の回転式現像装置においても、微
細孔9,10の直径が3〜4mm以下であるので、基板
100の静止時または低速回転時には現像液の表面張力
によって現像液が微細孔9,10から外部には漏れ出な
い。現像処理の終了後、回転保持部1が高速で回転する
と、遠心力により現像液が周壁部7の微細孔9を通して
外部へ流れ出る。
細孔9,10の直径が3〜4mm以下であるので、基板
100の静止時または低速回転時には現像液の表面張力
によって現像液が微細孔9,10から外部には漏れ出な
い。現像処理の終了後、回転保持部1が高速で回転する
と、遠心力により現像液が周壁部7の微細孔9を通して
外部へ流れ出る。
【0054】なお、上記第1〜第3の実施例では、現像
液保持部材5の周壁部7および基板支持部8にそれぞれ
複数の円形の微細孔9,10を設けているが、四角形等
の他の形状の微細孔を設けてもよい。その場合にも、微
細孔の最大幅を3〜4mm以下に形成する。なお、長い
スリット状の微細孔を形成する場合には、その幅を0.
3〜0.4mm以下に形成する必要がある。
液保持部材5の周壁部7および基板支持部8にそれぞれ
複数の円形の微細孔9,10を設けているが、四角形等
の他の形状の微細孔を設けてもよい。その場合にも、微
細孔の最大幅を3〜4mm以下に形成する。なお、長い
スリット状の微細孔を形成する場合には、その幅を0.
3〜0.4mm以下に形成する必要がある。
【0055】また、現像液保持部材5の周壁部7および
基板支持部8に複数の微細孔9,10を設ける代わり
に、現像液保持部材5を多孔質樹脂等の多孔質材料によ
り形成してもよい。
基板支持部8に複数の微細孔9,10を設ける代わり
に、現像液保持部材5を多孔質樹脂等の多孔質材料によ
り形成してもよい。
【0056】さらに、現像液保持部材5の基板支持部8
に複数の微細孔10を形成する代わりに、あるいは、複
数の微細孔10に加えて、基板支持部8の上端部に図1
0に示すように複数の溝25を形成してもよい。この場
合、各溝25の深さtおよび幅dは3〜4mm以下に設
定する。
に複数の微細孔10を形成する代わりに、あるいは、複
数の微細孔10に加えて、基板支持部8の上端部に図1
0に示すように複数の溝25を形成してもよい。この場
合、各溝25の深さtおよび幅dは3〜4mm以下に設
定する。
【図1】本発明の第1の実施例における回転式現像装置
の断面図である。
の断面図である。
【図2】図1の回転式現像装置の一部分の拡大断面図で
ある。
ある。
【図3】図1の回転式現像装置における回転支持部材の
斜視図である。
斜視図である。
【図4】ピン部材が基板の外周端面から離れた状態を示
す部分断面図および平面図である。
す部分断面図および平面図である。
【図5】ピン部材が基板の外周端面に当接した状態を示
す部分断面図および平面図である。
す部分断面図および平面図である。
【図6】本発明の第2の実施例における回転式現像装置
の主要部の断面図である。
の主要部の断面図である。
【図7】図6の回転式現像装置における現像液保持部材
の周壁部の斜視図である。
の周壁部の斜視図である。
【図8】本発明の第3の実施例における回転式現像装置
の主要部の断面図である。
の主要部の断面図である。
【図9】図8の回転式現像装置におけるピン部材と基板
との関係を示す平面図である。
との関係を示す平面図である。
【図10】現像液保持部材の基板支持部の他の例を示す
斜視図である。
斜視図である。
【図11】従来のディップ方式の現像装置の主要部の概
略断面図である。
略断面図である。
1 回転保持部 2 回転部材 3 モータ 4 シャフト 5 現像液保持部材 6 底面部 7 周壁部 8 基板支持部 9,10 微細孔 11 ピン部材 19 バックリンスノズル 22 隙間 24 突状部 25 溝 100 基板
Claims (6)
- 【請求項1】 基板を水平姿勢で保持する基板保持手段
と、 前記基板保持手段を鉛直方向の軸の周りで回転駆動する
回転駆動手段と、 前記基板保持手段に保持された基板上に現像液を供給す
る現像液供給手段とを備え、 前記基板保持手段は、 環状の底面部と、 前記基板の周囲を取り囲むように前記底面部上に形成さ
れた周壁部と、 前記底面部の前記周壁部よりも内側に形成されかつ前記
基板の裏面を支持する環状の基板支持部とからなり、 前記基板保持手段の少なくとも前記周壁部が複数の微細
孔を有することを特徴とする回転式現像装置。 - 【請求項2】 前記複数の微細孔は、前記基板保持手段
の静止時または所定の速度以下の回転時に現像液が透過
せず、かつ前記基板保持手段の前記所定の速度を越える
回転時に現像液が透過する大きさを有することを特徴と
する請求項1記載の回転式現像装置。 - 【請求項3】 前記基板保持手段の前記基板支持部が複
数の微細孔を有することを特徴とする請求項1または2
記載の回転式現像装置。 - 【請求項4】 前記基板保持手段の前記基板支持部の上
端面に複数の溝が形成されたことを特徴とする請求項
1、2または3記載の回転式現像装置。 - 【請求項5】 前記基板保持手段の前記底面部のほぼ中
心部に配置された吐出口を有しかつ前記基板の裏面に洗
浄液を吐出する洗浄液吐出手段をさらに備えたことを特
徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の回転式現像装
置。 - 【請求項6】 前記基板保持手段は、前記底面部または
前記周壁部に設けられかつ前記基板の水平位置を規制す
る複数の水平位置規制部をさらに有することを特徴とす
る請求項1〜5のいずれかに記載の回転式現像装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8178012A JPH1022208A (ja) | 1996-07-08 | 1996-07-08 | 回転式現像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8178012A JPH1022208A (ja) | 1996-07-08 | 1996-07-08 | 回転式現像装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1022208A true JPH1022208A (ja) | 1998-01-23 |
Family
ID=16041025
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8178012A Pending JPH1022208A (ja) | 1996-07-08 | 1996-07-08 | 回転式現像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1022208A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5006464B1 (ja) * | 2011-10-25 | 2012-08-22 | ミクロ技研株式会社 | 基板処理装置及び基板処理方法 |
| JP2019046985A (ja) * | 2017-09-04 | 2019-03-22 | 株式会社Screenホールディングス | 基板保持装置 |
| JP2022181592A (ja) * | 2021-05-26 | 2022-12-08 | 東京エレクトロン株式会社 | カップ、液処理装置及び液処理方法 |
-
1996
- 1996-07-08 JP JP8178012A patent/JPH1022208A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5006464B1 (ja) * | 2011-10-25 | 2012-08-22 | ミクロ技研株式会社 | 基板処理装置及び基板処理方法 |
| JP2019046985A (ja) * | 2017-09-04 | 2019-03-22 | 株式会社Screenホールディングス | 基板保持装置 |
| JP2022181592A (ja) * | 2021-05-26 | 2022-12-08 | 東京エレクトロン株式会社 | カップ、液処理装置及び液処理方法 |
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