JPH10227745A - リベット状部品の頭部側面検査方法およびその装置 - Google Patents
リベット状部品の頭部側面検査方法およびその装置Info
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- JPH10227745A JPH10227745A JP4841997A JP4841997A JPH10227745A JP H10227745 A JPH10227745 A JP H10227745A JP 4841997 A JP4841997 A JP 4841997A JP 4841997 A JP4841997 A JP 4841997A JP H10227745 A JPH10227745 A JP H10227745A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 回転させるなどの手間が無く、所望に応じ−
度に複数個のリベット状部品の頭部側面の表面欠陥を検
査が可能となり検査時間を大幅に縮めることができる検
査方法および装置を提供する。 【解決手段】 リベット状部品の頭部側面の表面欠陥を
検査するに際して、前記部品を収める少なくとも１つの
貫通穴または溝穴を設けた半透明のパレットに前記部品
を入れ、該パレットの下方から光を当ててこの光が前記
パレット中を通って前記部品の頭部側面を照らし、かつ
前記部品の頭部側面で反射した光をパレットの上方に備
えたカメラで撮像することを特徴をする。
度に複数個のリベット状部品の頭部側面の表面欠陥を検
査が可能となり検査時間を大幅に縮めることができる検
査方法および装置を提供する。 【解決手段】 リベット状部品の頭部側面の表面欠陥を
検査するに際して、前記部品を収める少なくとも１つの
貫通穴または溝穴を設けた半透明のパレットに前記部品
を入れ、該パレットの下方から光を当ててこの光が前記
パレット中を通って前記部品の頭部側面を照らし、かつ
前記部品の頭部側面で反射した光をパレットの上方に備
えたカメラで撮像することを特徴をする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば電気接点等
のようなリベット状部品の頭部側面の表面欠陥を、照明
光によって強調させて選別するための検査方法および装
置に関するものである。
のようなリベット状部品の頭部側面の表面欠陥を、照明
光によって強調させて選別するための検査方法および装
置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】リベット状部品、例えば電気接点の頭部
側面の表面欠陥を検査して不良品を選別するに際し、前
記リベット状部品に頭上方向から紙等で反射させた柔ら
かい散乱光を当てつつ、台上で該リベット状部品をピン
セッ卜などで転がして表面欠陥を検査しているのが実状
である。
側面の表面欠陥を検査して不良品を選別するに際し、前
記リベット状部品に頭上方向から紙等で反射させた柔ら
かい散乱光を当てつつ、台上で該リベット状部品をピン
セッ卜などで転がして表面欠陥を検査しているのが実状
である。
【０００３】このような表面欠陥の検査は、専ら作業者
の目視検査により行われているので、目視検査では作業
能率が上がらず、また個人誤差や錯誤などにより、検査
精度にばらつきが発生してしまう。この問題を解決する
ために、近年、光学手段による自動検査装置の導入が試
みられている。
の目視検査により行われているので、目視検査では作業
能率が上がらず、また個人誤差や錯誤などにより、検査
精度にばらつきが発生してしまう。この問題を解決する
ために、近年、光学手段による自動検査装置の導入が試
みられている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】前記リベット状部品の
頭部側面の表面欠陥検査を行う場合、前記部品の頭部を
平らな姿勢から垂直な姿勢に変換して側面に沿って回転
させてやる必要があり、薬品錠剤などに見られる円形偏
平物品の表面欠陥検査などにおいては、実際にこの方法
が用いられている。しかしながら、リベット状部品のよ
うに、足のある形状の物品においては側面に沿って回転
させることは難しく、頭部側面検査装置全体が大変に複
雑になってしまうという欠点がある。さらに、前記部品
を回転させるとなると、高速で高解像度の画像を得るた
めの画像処理システムが必要となり、カメラ数台を用い
て、多方向から頭部側面を検査する方法も考えられる
が、やはり装置が複雑になり、自動検査装置には適さな
い。
頭部側面の表面欠陥検査を行う場合、前記部品の頭部を
平らな姿勢から垂直な姿勢に変換して側面に沿って回転
させてやる必要があり、薬品錠剤などに見られる円形偏
平物品の表面欠陥検査などにおいては、実際にこの方法
が用いられている。しかしながら、リベット状部品のよ
うに、足のある形状の物品においては側面に沿って回転
させることは難しく、頭部側面検査装置全体が大変に複
雑になってしまうという欠点がある。さらに、前記部品
を回転させるとなると、高速で高解像度の画像を得るた
めの画像処理システムが必要となり、カメラ数台を用い
て、多方向から頭部側面を検査する方法も考えられる
が、やはり装置が複雑になり、自動検査装置には適さな
い。
【０００５】このように従来の技術にかかる検査方法で
は、前記リベット状部品の頭部側面の表面欠陥が強調さ
れ難くて見逃し率が高く、また、回転して前記部品の頭
部側面周囲をすべて検査するために、検査時間が掛かる
という欠点もある。
は、前記リベット状部品の頭部側面の表面欠陥が強調さ
れ難くて見逃し率が高く、また、回転して前記部品の頭
部側面周囲をすべて検査するために、検査時間が掛かる
という欠点もある。
【０００６】本発明は、上記従来技術の課題を効果的に
解決したものであって、リベット状部品を半透明パレッ
トに設けた貫通穴または溝穴に収めて整列させ、該パレ
ットの下方に照明器具を設置し、かつ前記パレットの上
方で前記部品の頭部側面から反射された光を検出するこ
とによって、回転するなどの手間が無く、所望に応じ−
度に複数個のリベット状部品の頭部側面の表面欠陥を検
査が可能となり検査時間を大幅に縮めることができる検
査方法を提供することを目的とするものである。また本
発明は前記の方法を用いることにより、簡単に構築する
ことができ、自動化可能なリベット状部品の頭部側面の
表面欠陥検査装置を提供することを目的とするものであ
る。
解決したものであって、リベット状部品を半透明パレッ
トに設けた貫通穴または溝穴に収めて整列させ、該パレ
ットの下方に照明器具を設置し、かつ前記パレットの上
方で前記部品の頭部側面から反射された光を検出するこ
とによって、回転するなどの手間が無く、所望に応じ−
度に複数個のリベット状部品の頭部側面の表面欠陥を検
査が可能となり検査時間を大幅に縮めることができる検
査方法を提供することを目的とするものである。また本
発明は前記の方法を用いることにより、簡単に構築する
ことができ、自動化可能なリベット状部品の頭部側面の
表面欠陥検査装置を提供することを目的とするものであ
る。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明者は前記リベット
状部品の頭部側面で反射された光を検出することによっ
て、頭部側面の表面欠陥をあたかも陰のように浮き出さ
せて強調することができることを見出した。
状部品の頭部側面で反射された光を検出することによっ
て、頭部側面の表面欠陥をあたかも陰のように浮き出さ
せて強調することができることを見出した。
【０００８】すなわち、前記リベット状部品の頭部側面
の表面欠陥を強調するために、前記部品の真横から照明
を当てて頭部側面の表面欠陥に陰を作ることを考えた
が、実際には真横の四方八方から光を当てることは困難
であるために、斜め下方向から光を当てることを狙っ
て、透過光を用いた。ここで、均一な柔らかい光を供給
するために、前記リベット状部品が収まるような貫通穴
または溝穴を等間隔に設け、かつ所定の厚みの半透明材
質からなるパレットを形成し、前記貫通穴または溝穴に
リベット状部品を整列させて、その下方から光を当てる
ことによって、半透明材質のパレット内で散乱された柔
らかい光が、前記部品の頭部側面を周囲から均一に照ら
して、表面欠陥を陰として強調することができるのであ
る。
の表面欠陥を強調するために、前記部品の真横から照明
を当てて頭部側面の表面欠陥に陰を作ることを考えた
が、実際には真横の四方八方から光を当てることは困難
であるために、斜め下方向から光を当てることを狙っ
て、透過光を用いた。ここで、均一な柔らかい光を供給
するために、前記リベット状部品が収まるような貫通穴
または溝穴を等間隔に設け、かつ所定の厚みの半透明材
質からなるパレットを形成し、前記貫通穴または溝穴に
リベット状部品を整列させて、その下方から光を当てる
ことによって、半透明材質のパレット内で散乱された柔
らかい光が、前記部品の頭部側面を周囲から均一に照ら
して、表面欠陥を陰として強調することができるのであ
る。
【０００９】したがって、上記目的を達成するために本
発明の第１の実施態様は、リベット状部品の頭部側面の
表面欠陥を検査する方法であって、前記部品を収める少
なくとも１つの貫通穴または溝穴を設けた半透明のパレ
ットに前記部品を入れ、該パレットの下方から光を当て
てこの光が前記パレット中を通って前記部品の頭部側面
を照らし、かつ前記部品の頭部側面で反射した光をパレ
ットの上方に備えたカメラで撮像するリベット状部品の
頭部側面検査方法を特徴とするものであり、さらに前記
パレットに設けた複数個の貫通穴または溝穴は前記リベ
ット状部品を等間隔をおいて整列させた状態で収めるこ
とが可能であることが好ましく、また前記カメラで撮像
した像をさらに画像処理装置によって画像処理すること
を特徴とする。
発明の第１の実施態様は、リベット状部品の頭部側面の
表面欠陥を検査する方法であって、前記部品を収める少
なくとも１つの貫通穴または溝穴を設けた半透明のパレ
ットに前記部品を入れ、該パレットの下方から光を当て
てこの光が前記パレット中を通って前記部品の頭部側面
を照らし、かつ前記部品の頭部側面で反射した光をパレ
ットの上方に備えたカメラで撮像するリベット状部品の
頭部側面検査方法を特徴とするものであり、さらに前記
パレットに設けた複数個の貫通穴または溝穴は前記リベ
ット状部品を等間隔をおいて整列させた状態で収めるこ
とが可能であることが好ましく、また前記カメラで撮像
した像をさらに画像処理装置によって画像処理すること
を特徴とする。
【００１０】また、上記目的を達成するために本発明の
第２の実施態様は、リベット状部品を収める少なくとも
１つの貫通穴または溝穴を有する半透明パレットと、該
パレットの下方より光を当てる照明手段と、前記パレッ
トの上方に設けたカメラとを備えたリベット状部品の頭
部側面検査装置を特徴とするものであり、さらに前記パ
レットに設けた複数個の貫通穴または溝穴は前記リベッ
ト状部品を等間隔をおいて整列させた状態で収めること
が可能であることが好ましく、また前記貫通穴または溝
穴の間隔は、該穴に収められた各リベット状部品の頭部
側面からの反射光による影響を相互に受けない距離とし
たり、あるいは前記カメラの撮像を画像処理するための
画像処理装置をさらに備えてなることを特徴とする。
第２の実施態様は、リベット状部品を収める少なくとも
１つの貫通穴または溝穴を有する半透明パレットと、該
パレットの下方より光を当てる照明手段と、前記パレッ
トの上方に設けたカメラとを備えたリベット状部品の頭
部側面検査装置を特徴とするものであり、さらに前記パ
レットに設けた複数個の貫通穴または溝穴は前記リベッ
ト状部品を等間隔をおいて整列させた状態で収めること
が可能であることが好ましく、また前記貫通穴または溝
穴の間隔は、該穴に収められた各リベット状部品の頭部
側面からの反射光による影響を相互に受けない距離とし
たり、あるいは前記カメラの撮像を画像処理するための
画像処理装置をさらに備えてなることを特徴とする。
【００１１】
【発明の実施の形態】図１は、本発明の頭部側面検査装
置の一実施例を示すブロック図、図２は電気接点におけ
る頭部側面の表面欠陥を示す斜視図、図３は本発明の対
象であるリベット状物品としての電気接点を示す図で、
（ａ）は銀層が厚く頭部側面傾斜が緩やかな電気接点の
断面図、（ｂ）は銀層が薄く頭部側面傾斜が急峻な電気
接点の断面図、図４は本発明で用いたパレットを示す図
で、（ａ）は図３（ａ）に示す電気接点用のパレットの
部分平面図、（ｂ）は（ａ）のＡ−Ａ線上の断面図、
（ｃ）は図３（ｂ）に示す電気接点用パレットの部分平
面図、（ｄ）は（ｃ）のＢ−Ｂ線上の断面図、図５はパ
レット下方から面照明ハロゲンランプで照らした時の光
の方向を矢印で模擬的に示した図で、（ａ）は図３
（ａ）に示す電気接点を収めた状態を示す図、（ｂ）は
図３（ｂ）に示す電気接点を収めた状態を示す図、図６
は電気接点を図１に示す装置で実際に撮像した時の状態
を示す図であって、１はパレット、２はレンズ、３はカ
メラ、４は画像処理装置、５は面照明ハロゲンランプ、
６は遮光筒である。
置の一実施例を示すブロック図、図２は電気接点におけ
る頭部側面の表面欠陥を示す斜視図、図３は本発明の対
象であるリベット状物品としての電気接点を示す図で、
（ａ）は銀層が厚く頭部側面傾斜が緩やかな電気接点の
断面図、（ｂ）は銀層が薄く頭部側面傾斜が急峻な電気
接点の断面図、図４は本発明で用いたパレットを示す図
で、（ａ）は図３（ａ）に示す電気接点用のパレットの
部分平面図、（ｂ）は（ａ）のＡ−Ａ線上の断面図、
（ｃ）は図３（ｂ）に示す電気接点用パレットの部分平
面図、（ｄ）は（ｃ）のＢ−Ｂ線上の断面図、図５はパ
レット下方から面照明ハロゲンランプで照らした時の光
の方向を矢印で模擬的に示した図で、（ａ）は図３
（ａ）に示す電気接点を収めた状態を示す図、（ｂ）は
図３（ｂ）に示す電気接点を収めた状態を示す図、図６
は電気接点を図１に示す装置で実際に撮像した時の状態
を示す図であって、１はパレット、２はレンズ、３はカ
メラ、４は画像処理装置、５は面照明ハロゲンランプ、
６は遮光筒である。
【００１２】半透明材質からなるパレット１は、面照明
ハロゲンランプ５によって下方から照明されまた、外乱
光による影響を無くすために、カメラ３に併設されたレ
ンズ２は遮光筒６が取り付けられている。一方、パレッ
ト１の下方から当てられた面照明ハロゲンランプ５の光
はパレット１に設けられた貫通穴または溝穴に収められ
たリベット状部品の一例としての電気接点の頭部側面を
照らして、該頭部側面で反射した光をカメラ３により撮
像し、該カメラで撮像された像は画像処理装置４によっ
て画像処理され頭部側面の表面欠陥の有無を判別する。
ハロゲンランプ５によって下方から照明されまた、外乱
光による影響を無くすために、カメラ３に併設されたレ
ンズ２は遮光筒６が取り付けられている。一方、パレッ
ト１の下方から当てられた面照明ハロゲンランプ５の光
はパレット１に設けられた貫通穴または溝穴に収められ
たリベット状部品の一例としての電気接点の頭部側面を
照らして、該頭部側面で反射した光をカメラ３により撮
像し、該カメラで撮像された像は画像処理装置４によっ
て画像処理され頭部側面の表面欠陥の有無を判別する。
【００１３】ここで、自動検査装置の対象としたリベッ
ト状部品の一例としての電気接点は、図２、図３に示す
ように頭部上部７が銀、一体の頭部下部と足部８が銅で
作られ、判別する不良品（頭部側面の表面欠陥９）は、
図２に示すように銀部分における割れや傷の形で発生す
る。
ト状部品の一例としての電気接点は、図２、図３に示す
ように頭部上部７が銀、一体の頭部下部と足部８が銅で
作られ、判別する不良品（頭部側面の表面欠陥９）は、
図２に示すように銀部分における割れや傷の形で発生す
る。
【００１４】本発明の対象であるリベット状部品の例で
ある電気接点は大きく分けて、図３（ａ）に示すように
頭部上部７の銀層の厚く側面傾斜が緩やかな電気接点と
図３（ｂ）に示すように頭部上部７の銀層が薄く側面傾
斜が急峻な電気接点がある。なお、図３に示す電気接点
の寸法は単なる一例であり、この寸法に限るものではな
いが、電気接点の頭部側面の鏡面欠陥は目視による検査
が困難である程に小さく、また頭部側面に傾斜を持つこ
とがこの図で示されている。
ある電気接点は大きく分けて、図３（ａ）に示すように
頭部上部７の銀層の厚く側面傾斜が緩やかな電気接点と
図３（ｂ）に示すように頭部上部７の銀層が薄く側面傾
斜が急峻な電気接点がある。なお、図３に示す電気接点
の寸法は単なる一例であり、この寸法に限るものではな
いが、電気接点の頭部側面の鏡面欠陥は目視による検査
が困難である程に小さく、また頭部側面に傾斜を持つこ
とがこの図で示されている。
【００１５】次に図４は、図１におけるパレット１の詳
細を示すものである。この検査のために使用するパレッ
ト１の材質は、例えば乳白色アクリル製の半透明のもの
であり、電気接点はこのパレット１に設けられた等間隔
の貫通穴１−１または溝穴１−２に足部８が入り込むよ
うにして収められセットされる。ここで貫通穴１−１ま
たは溝穴１−２の間隔は、隣の電気接点からの反射光の
影響を受けない最短距離である７ｍｍとした。パレット
１の貫通穴１−１と溝穴１−２の形状が相違するのは、
貫通穴１−１は銀層の厚い電気接点用とし、また溝穴１
−２は銀層の薄い電気接点用としたためである。銀層の
薄い電気接点用のパレット１に座グリ部１−３を設けた
のは、傾斜の急峻な頭部側面にパレット１を通った光を
充分に当てて、割れや傷による陰を強調して作るためで
ある。
細を示すものである。この検査のために使用するパレッ
ト１の材質は、例えば乳白色アクリル製の半透明のもの
であり、電気接点はこのパレット１に設けられた等間隔
の貫通穴１−１または溝穴１−２に足部８が入り込むよ
うにして収められセットされる。ここで貫通穴１−１ま
たは溝穴１−２の間隔は、隣の電気接点からの反射光の
影響を受けない最短距離である７ｍｍとした。パレット
１の貫通穴１−１と溝穴１−２の形状が相違するのは、
貫通穴１−１は銀層の厚い電気接点用とし、また溝穴１
−２は銀層の薄い電気接点用としたためである。銀層の
薄い電気接点用のパレット１に座グリ部１−３を設けた
のは、傾斜の急峻な頭部側面にパレット１を通った光を
充分に当てて、割れや傷による陰を強調して作るためで
ある。
【００１６】さらに図５には、パレット１を通る光の方
向を、銀層の厚い電気接点と銀層の薄い電気接点に分け
て、それぞれ模擬的に矢印で示したものである。パレッ
ト１の下方より面照明ハロゲンランプ５を照らすことに
よって、半透明のパレット１の内部において光が拡散さ
れる。拡散された光は、図５（ａ）に示すように電気接
点の斜め下から、あるいは図５（ｂ）に示すように座グ
リ部１−３により側面から均一に照らされる。ここで、
座グリ部１−３を設けた理由は、銀層の薄い電気接点用
の検査パレットの座グリ部１−３から電気接点の急峻な
傾斜側面に光を充分に当てられるためである。このよう
に電気接点の頭部側面の傾斜部分を照らした光は上方に
設置されたカメラ３の方向へと反射される。この時、頭
部側面に割れや傷があると、光はカメラ３の方向へ反射
されずに、他の方向へ散乱してしまうために、表面欠陥
による陰ができる。
向を、銀層の厚い電気接点と銀層の薄い電気接点に分け
て、それぞれ模擬的に矢印で示したものである。パレッ
ト１の下方より面照明ハロゲンランプ５を照らすことに
よって、半透明のパレット１の内部において光が拡散さ
れる。拡散された光は、図５（ａ）に示すように電気接
点の斜め下から、あるいは図５（ｂ）に示すように座グ
リ部１−３により側面から均一に照らされる。ここで、
座グリ部１−３を設けた理由は、銀層の薄い電気接点用
の検査パレットの座グリ部１−３から電気接点の急峻な
傾斜側面に光を充分に当てられるためである。このよう
に電気接点の頭部側面の傾斜部分を照らした光は上方に
設置されたカメラ３の方向へと反射される。この時、頭
部側面に割れや傷があると、光はカメラ３の方向へ反射
されずに、他の方向へ散乱してしまうために、表面欠陥
による陰ができる。
【００１７】次に図６に、表面欠陥の無い電気接点と表
面欠陥のある電気接点の撮像画像の一例を示す。表面欠
陥の無い電気接点による陰１０は丸く見える。しかし、
電気接点の頭部側面の割れや傷においては、光が上方の
カメラの方には反射されずに散乱するため、陰となって
強調される。すなわち頭部側面における割れや傷などの
表面欠陥が上部まで這い上がっている場合には電気接点
による丸い陰の周囲に突起を有する陰１１になって見え
る。また、表面欠陥が上部まで這い上がっていない場合
には電気接点による丸い陰の周囲に離れた陰１２となっ
て見える。この方法で強調された電気接点の頭部側面の
表面欠陥による陰１１、１２は、カメラ３によって撮影
され、その画像信号を画像処理装置４によって処理し、
不良品を判別する。
面欠陥のある電気接点の撮像画像の一例を示す。表面欠
陥の無い電気接点による陰１０は丸く見える。しかし、
電気接点の頭部側面の割れや傷においては、光が上方の
カメラの方には反射されずに散乱するため、陰となって
強調される。すなわち頭部側面における割れや傷などの
表面欠陥が上部まで這い上がっている場合には電気接点
による丸い陰の周囲に突起を有する陰１１になって見え
る。また、表面欠陥が上部まで這い上がっていない場合
には電気接点による丸い陰の周囲に離れた陰１２となっ
て見える。この方法で強調された電気接点の頭部側面の
表面欠陥による陰１１、１２は、カメラ３によって撮影
され、その画像信号を画像処理装置４によって処理し、
不良品を判別する。
【００１８】
【発明の効果】この発明により、電気接点のようなリベ
ット状部品の頭部側面の表面欠陥を検査するに際して、
電気接点の頭部側面の割れや傷などを有する欠陥品を見
逃すことなく、明確な判定基準の下で、判別できるよう
になりまた、電気接点を回転させるなどの手間も無く、
上方からの撮像によって容易に欠陥を判別できるため、
検査に掛かる時間も大幅に短縮し得る。
ット状部品の頭部側面の表面欠陥を検査するに際して、
電気接点の頭部側面の割れや傷などを有する欠陥品を見
逃すことなく、明確な判定基準の下で、判別できるよう
になりまた、電気接点を回転させるなどの手間も無く、
上方からの撮像によって容易に欠陥を判別できるため、
検査に掛かる時間も大幅に短縮し得る。
【００１９】さらに、パレットへの接点移載機構とパレ
ットのピッチ移動機構を備え付けることにより、リベッ
ト状部品の頭部側面の表面欠陥を自動的に検査する装置
が可能となり、無人運転による検査が行えるようにな
る。
ットのピッチ移動機構を備え付けることにより、リベッ
ト状部品の頭部側面の表面欠陥を自動的に検査する装置
が可能となり、無人運転による検査が行えるようにな
る。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の頭部側面検査装置の一実施例を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図２】電気接点における頭部側面の表面欠陥を示す斜
視図である。
視図である。
【図３】本発明の対象であるリベット状物品としての電
気接点を示す図で、（ａ）は銀層が厚く頭部側面傾斜が
緩やかな電気接点の断面図、（ｂ）は銀層が薄く頭部側
面傾斜が急峻な電気接点の断面図である。
気接点を示す図で、（ａ）は銀層が厚く頭部側面傾斜が
緩やかな電気接点の断面図、（ｂ）は銀層が薄く頭部側
面傾斜が急峻な電気接点の断面図である。
【図４】本発明で用いたパレットを示す図で、（ａ）は
図３（ａ）に示す電気接点用のパレットの部分平面図、
（ｂ）は（ａ）のＡ−Ａ線上の断面図、（ｃ）は図３
（ｂ）に示す電気接点用パレットの部分平面図、（ｄ）
は（ｃ）のＢ−Ｂ線上の断面図である。
図３（ａ）に示す電気接点用のパレットの部分平面図、
（ｂ）は（ａ）のＡ−Ａ線上の断面図、（ｃ）は図３
（ｂ）に示す電気接点用パレットの部分平面図、（ｄ）
は（ｃ）のＢ−Ｂ線上の断面図である。
【図５】パレット下方から面照明ハロゲンランプで照ら
した時の光の方向を矢印で模擬的に示した図で、（ａ）
は図３（ａ）に示す電気接点を収めた状態を示す図、
（ｂ）は図３（ｂ）に示す電気接点を収めた状態を示す
図である。
した時の光の方向を矢印で模擬的に示した図で、（ａ）
は図３（ａ）に示す電気接点を収めた状態を示す図、
（ｂ）は図３（ｂ）に示す電気接点を収めた状態を示す
図である。
【図６】電気接点を図１に示す装置で実際に撮像した時
の状態を示す図である。
の状態を示す図である。
１ パレット １−１ 貫通穴 １−２ 溝穴 １−３ 座グリ部 ２ レンズ ３ カメラ ４ 画像処理装置 ５ 面照明ハロゲンランプ ６ 遮光筒 ７ 頭部上部 ８ 足部 ９ 表面欠陥 １０、１１、１２ 陰
Claims (7)
- 【請求項１】 リベット状部品の頭部側面の表面欠陥を
検査する方法であって、前記部品を収める少なくとも１
つの貫通穴または溝穴を設けた半透明のパレットに前記
部品を入れ、該パレットの下方から光を当ててこの光が
前記パレット中を通って前記部品の頭部側面を照らし、
かつ前記部品の頭部側面で反射した光をパレットの上方
に備えたカメラで撮像することを特徴をするリベット状
部品の頭部側面検査方法。 - 【請求項２】 前記パレットに設けた複数個の貫通穴ま
たは溝穴は前記リベット状部品を等間隔をおいて整列さ
せた状態で収めることが可能であることを特徴とする請
求項１記載のリベット状部品の頭部側面検査方法。 - 【請求項３】 前記カメラで撮像した像をさらに画像処
理装置によって画像処理することを特徴とする請求項１
記載のリベット状部品の頭部側面検査方法。 - 【請求項４】 リベット状部品を収める少なくとも１つ
の貫通穴または溝穴を有する半透明パレットと、該パレ
ットの下方より光を当てる照明手段と、前記パレットの
上方に設けたカメラとを備えたことを特徴とするリベッ
ト状部品の頭部側面検査装置。 - 【請求項５】 前記パレットに設けた複数個の貫通穴ま
たは溝穴は前記リベット状部品を等間隔をおいて整列さ
せた状態で収めることが可能であることを特徴とする請
求項４記載のリベット状部品の頭部側面検査装置。 - 【請求項６】 前記貫通穴または溝穴の間隔は、該穴に
収められた各リベット状部品の頭部側面からの反射光に
よる影響を相互に受けない距離であることを特徴とする
請求項５記載のリベット状部品の頭部側面検査装置。 - 【請求項７】 前記カメラの撮像を画像処理するための
画像処理装置をさらに備えてなることを特徴とする請求
項４〜６のいずれか１項記載のリベット状部品の頭部側
面検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4841997A JPH10227745A (ja) | 1997-02-17 | 1997-02-17 | リベット状部品の頭部側面検査方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4841997A JPH10227745A (ja) | 1997-02-17 | 1997-02-17 | リベット状部品の頭部側面検査方法およびその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10227745A true JPH10227745A (ja) | 1998-08-25 |
Family
ID=12802809
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4841997A Pending JPH10227745A (ja) | 1997-02-17 | 1997-02-17 | リベット状部品の頭部側面検査方法およびその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10227745A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100944425B1 (ko) | 2008-04-29 | 2010-02-25 | 주식회사 포스코 | 강판 표면의 결함마크 검출 장치 |
| WO2013069736A1 (ja) * | 2011-11-09 | 2013-05-16 | 株式会社クボタ | 粒状体検査装置 |
| JP2013101082A (ja) * | 2011-11-09 | 2013-05-23 | Kubota Corp | 粒状体検査装置 |
| WO2020251127A1 (ko) * | 2019-06-11 | 2020-12-17 | 주식회사 엘지화학 | 이차전지 검사설비 및 검사방법 |
-
1997
- 1997-02-17 JP JP4841997A patent/JPH10227745A/ja active Pending
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100944425B1 (ko) | 2008-04-29 | 2010-02-25 | 주식회사 포스코 | 강판 표면의 결함마크 검출 장치 |
| WO2013069736A1 (ja) * | 2011-11-09 | 2013-05-16 | 株式会社クボタ | 粒状体検査装置 |
| JP2013101082A (ja) * | 2011-11-09 | 2013-05-23 | Kubota Corp | 粒状体検査装置 |
| CN103907013A (zh) * | 2011-11-09 | 2014-07-02 | 株式会社久保田 | 粒状体检查装置 |
| KR20140083057A (ko) * | 2011-11-09 | 2014-07-03 | 가부시끼 가이샤 구보다 | 입상체 검사 장치 |
| CN103907013B (zh) * | 2011-11-09 | 2016-12-28 | 株式会社久保田 | 粒状体检查装置 |
| WO2020251127A1 (ko) * | 2019-06-11 | 2020-12-17 | 주식회사 엘지화학 | 이차전지 검사설비 및 검사방법 |
| CN112470324A (zh) * | 2019-06-11 | 2021-03-09 | 株式会社Lg化学 | 用于检查二次电池的设备和方法 |
| EP3799189A4 (en) * | 2019-06-11 | 2021-12-29 | Lg Chem, Ltd. | Inspection equipment and inspection method of secondary battery |
| US11955611B2 (en) | 2019-06-11 | 2024-04-09 | Lg Energy Solution, Ltd. | Equipment and method for inspecting secondary battery |
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