JPH1022822A - ディジタルpll回路 - Google Patents
ディジタルpll回路Info
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- JPH1022822A JPH1022822A JP8176887A JP17688796A JPH1022822A JP H1022822 A JPH1022822 A JP H1022822A JP 8176887 A JP8176887 A JP 8176887A JP 17688796 A JP17688796 A JP 17688796A JP H1022822 A JPH1022822 A JP H1022822A
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- signal
- circuit
- frequency
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
- H03L7/081—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter
- H03L7/0812—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter and where no voltage or current controlled oscillator is used
- H03L7/0814—Details of the phase-locked loop provided with an additional controlled phase shifter and where no voltage or current controlled oscillator is used the phase shifting device being digitally controlled
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- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
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- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
- H03L7/085—Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal
- H03L7/089—Details of the phase-locked loop concerning mainly the frequency- or phase-detection arrangement including the filtering or amplification of its output signal the phase or frequency detector generating up-down pulses
Landscapes
- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 出力周波数の高精度化およびロックアップ時
間の短縮を同時に図れるディジタルPLL回路を実現す
る。 【解決手段】 クロック制御回路10はクロック信号C
LKに応じて、基準クロック信号CK2 を発生し、位相
比較器20でプログラマブルマスク生成回路50からの
発振信号S50との位相比較を行い、比較結果に応じて
アップ信号Supまたはダウン信号Sdwを発生しカウンタ
30に出力し、カウンタ30は最上位ビットから最下位
ビットに向かって各ビットの値を順次決定し、カウント
値S30をディジタル制御遅延線40に出力し、発振信
号S40の周波数を制御する。ロック状態に達した後、
カウンタ30はアップダウン信号に応じて、最下位ビッ
トから最上位ビットに向かって各ビットの値を順次決定
し、基準クロック信号CK2に追従するので、ディジタ
ルPLL回路のロックアップ時間を短縮できる。
間の短縮を同時に図れるディジタルPLL回路を実現す
る。 【解決手段】 クロック制御回路10はクロック信号C
LKに応じて、基準クロック信号CK2 を発生し、位相
比較器20でプログラマブルマスク生成回路50からの
発振信号S50との位相比較を行い、比較結果に応じて
アップ信号Supまたはダウン信号Sdwを発生しカウンタ
30に出力し、カウンタ30は最上位ビットから最下位
ビットに向かって各ビットの値を順次決定し、カウント
値S30をディジタル制御遅延線40に出力し、発振信
号S40の周波数を制御する。ロック状態に達した後、
カウンタ30はアップダウン信号に応じて、最下位ビッ
トから最上位ビットに向かって各ビットの値を順次決定
し、基準クロック信号CK2に追従するので、ディジタ
ルPLL回路のロックアップ時間を短縮できる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ディジタルPLL
回路(Phase Locked Loop )に関するものである。
回路(Phase Locked Loop )に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図22に示すように、一般的なディジタ
ルPLL回路は、例えば、位相比較器2、ディジタルカ
ウンタ3、周波数逓倍器4および分周器5により構成さ
れている。位相比較器2は周波数fref の基準クロック
信号と分周器5からの発振出力f5との位相を比較し、
比較結果に応じたアップ/ダウン信号をディジタルカウ
ンタ3に出力する。例えば、基準クロック信号に対して
発振出力f5の周期が低い場合にはアップ信号をディジ
タルカウンタ3に出力し、その逆の場合にはダウン信号
をディジタルカウンタ3に出力する。ディジタルカウン
タ3は位相比較器2からのアップ/ダウン信号に基づ
き、カウント値を最下位ビットから最上位ビットに向か
ってアップおよびダウンし、nビットのカウント値S3
を周波数逓倍器4に出力する。
ルPLL回路は、例えば、位相比較器2、ディジタルカ
ウンタ3、周波数逓倍器4および分周器5により構成さ
れている。位相比較器2は周波数fref の基準クロック
信号と分周器5からの発振出力f5との位相を比較し、
比較結果に応じたアップ/ダウン信号をディジタルカウ
ンタ3に出力する。例えば、基準クロック信号に対して
発振出力f5の周期が低い場合にはアップ信号をディジ
タルカウンタ3に出力し、その逆の場合にはダウン信号
をディジタルカウンタ3に出力する。ディジタルカウン
タ3は位相比較器2からのアップ/ダウン信号に基づ
き、カウント値を最下位ビットから最上位ビットに向か
ってアップおよびダウンし、nビットのカウント値S3
を周波数逓倍器4に出力する。
【0003】周波数逓倍器4は電圧制御発振器(VC
O)と同様な機能を有し、入力されたカウント値S3に
より発振周波数を決定し、最終的に周波数f0 の目標ク
ロックS4を出力する。分周器5は周波数逓倍器4から
の出力信号S4を分周した発振出力f5を位相比較器2
に出力する。図22に示すディジタルPLL回路におい
ては、図23に示すように、ロック状態に達するまで、
ディジタルカウンタ3をnビットカウンタとした場合に
は、最大2n /fref の動作時間を必要とする。
O)と同様な機能を有し、入力されたカウント値S3に
より発振周波数を決定し、最終的に周波数f0 の目標ク
ロックS4を出力する。分周器5は周波数逓倍器4から
の出力信号S4を分周した発振出力f5を位相比較器2
に出力する。図22に示すディジタルPLL回路におい
ては、図23に示すように、ロック状態に達するまで、
ディジタルカウンタ3をnビットカウンタとした場合に
は、最大2n /fref の動作時間を必要とする。
【0004】また、図24に示すように、目標周波数f
0 の近傍の周波数fpri にカウンタ値の初期値をプリセ
ットすることでロック状態に達するまでの所要時間を短
縮する手法もあるが、この手法では、目標周波数f
0 が、例えばf0 ’やf0 ”に変化した場合には、その
効果を適切に発揮できない。従って、図22に示すディ
ジタルPLL回路では、ロック状態に達するまでの時間
を短縮するためには、ディジタルカウンタ3のビット数
を少なくする必要がある。
0 の近傍の周波数fpri にカウンタ値の初期値をプリセ
ットすることでロック状態に達するまでの所要時間を短
縮する手法もあるが、この手法では、目標周波数f
0 が、例えばf0 ’やf0 ”に変化した場合には、その
効果を適切に発揮できない。従って、図22に示すディ
ジタルPLL回路では、ロック状態に達するまでの時間
を短縮するためには、ディジタルカウンタ3のビット数
を少なくする必要がある。
【0005】一方、図22に示すディジタルPLL回路
では、ディジタルカウンタ3のカウント値S3によって
周波数逓倍器4を制御する際に、例えば、カウント値S
3の各ビットに対して周波数の移相量の重み付けを行っ
ているが、移相量が大きいとジッタが大きくなることか
ら、ディジタルPLL回路の出力周波数が必要な精度を
満たすためには、ディジタルカウンタ3のビット数を多
くして、移相量をできる限り小さくすることが必要であ
る。
では、ディジタルカウンタ3のカウント値S3によって
周波数逓倍器4を制御する際に、例えば、カウント値S
3の各ビットに対して周波数の移相量の重み付けを行っ
ているが、移相量が大きいとジッタが大きくなることか
ら、ディジタルPLL回路の出力周波数が必要な精度を
満たすためには、ディジタルカウンタ3のビット数を多
くして、移相量をできる限り小さくすることが必要であ
る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した従
来のディジタルPLL回路では、周波数の精度の向上と
ロック状態に達するまでの所要時間の短縮とが相反する
関係にあることから、これらの双方向について同時に十
分な特性を得ることができないという問題がある。
来のディジタルPLL回路では、周波数の精度の向上と
ロック状態に達するまでの所要時間の短縮とが相反する
関係にあることから、これらの双方向について同時に十
分な特性を得ることができないという問題がある。
【0007】本発明は、かかる事情に鑑みてなされたも
のであり、その目的は、ディジタルPLL回路におい
て、出力周波数の高精度化およびロック状態に達するま
での所要時間の短縮を図れるディジタルPLL回路を提
供することにある。
のであり、その目的は、ディジタルPLL回路におい
て、出力周波数の高精度化およびロック状態に達するま
での所要時間の短縮を図れるディジタルPLL回路を提
供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明のディジタルPLL回路は、基準クロック信
号に基づき、第1、第2および第3のクロック信号を生
成するクロック生成回路と、上記第3のクロック信号と
被比較信号との位相を比較する位相比較回路と、上記第
1のクロック信号の入力毎に、上記位相比較回路の比較
結果に基づきカウント値を最上位ビットから最下位ビッ
トに向かって順次に決定するディジタルカウンタと、上
記第2のクロック信号に対して、上記ディジタルカウン
タからのカウント値に応じた遅延を与え、当該第2のク
ロック信号の周波数を所定の逓倍数をもって周波数逓倍
し、逓倍信号を上記被比較信号として上記位相比較回路
に出力する周波数逓倍回路とを有する。
め、本発明のディジタルPLL回路は、基準クロック信
号に基づき、第1、第2および第3のクロック信号を生
成するクロック生成回路と、上記第3のクロック信号と
被比較信号との位相を比較する位相比較回路と、上記第
1のクロック信号の入力毎に、上記位相比較回路の比較
結果に基づきカウント値を最上位ビットから最下位ビッ
トに向かって順次に決定するディジタルカウンタと、上
記第2のクロック信号に対して、上記ディジタルカウン
タからのカウント値に応じた遅延を与え、当該第2のク
ロック信号の周波数を所定の逓倍数をもって周波数逓倍
し、逓倍信号を上記被比較信号として上記位相比較回路
に出力する周波数逓倍回路とを有する。
【0009】また、本発明では、好適には、上記ディジ
タルカウンタは、全ビットを決定した後、上記位相比較
回路の比較結果に基づき、カウント値の最下位ビットか
ら最上位ビットに向かって順次に決定する動作に切り換
える動作切り換え手段を有する。
タルカウンタは、全ビットを決定した後、上記位相比較
回路の比較結果に基づき、カウント値の最下位ビットか
ら最上位ビットに向かって順次に決定する動作に切り換
える動作切り換え手段を有する。
【0010】また、本発明では、基準クロック信号をM
(Mは任意の整数)分周する第2の分周回路と、上記基
準クロック信号および分周したクロック信号から一つを
選択して出力する第1の選択回路と、上記第1の選択回
路の出力信号と被比較信号との位相を比較する位相比較
回路と、上記位相比較回路の比較結果に基づきカウント
値を最上位ビットから最下位ビットに向かって順次に決
定するディジタルカウンタと、上記ディジタルカウンタ
からのカウント値に応じて、所定の逓倍数をもって周波
数逓倍した逓倍信号を出力する周波数逓倍回路と、上記
周波数逓倍回路からの逓倍信号をN(Nは任意の整数)
分周し、分周信号を上記被比較信号として上記位相比較
回路に出力する第3の分周回路とを有する。
(Mは任意の整数)分周する第2の分周回路と、上記基
準クロック信号および分周したクロック信号から一つを
選択して出力する第1の選択回路と、上記第1の選択回
路の出力信号と被比較信号との位相を比較する位相比較
回路と、上記位相比較回路の比較結果に基づきカウント
値を最上位ビットから最下位ビットに向かって順次に決
定するディジタルカウンタと、上記ディジタルカウンタ
からのカウント値に応じて、所定の逓倍数をもって周波
数逓倍した逓倍信号を出力する周波数逓倍回路と、上記
周波数逓倍回路からの逓倍信号をN(Nは任意の整数)
分周し、分周信号を上記被比較信号として上記位相比較
回路に出力する第3の分周回路とを有する。
【0011】さらに、本発明では、基準クロック信号と
被比較信号との位相を比較する位相比較回路と、上記位
相比較回路の比較結果に基づきカウント値を最上位ビッ
トから最下位ビットに向かって順次に決定するディジタ
ルカウンタと、上記ディジタルカウンタからのカウント
値に応じて、所定の逓倍数をもって周波数逓倍した逓倍
信号を上記被比較信号として上記位相比較回路に出力す
る周波数逓倍回路と、上記位相比較回路の比較結果に基
づき、当該ディジタルPLL回路の同期状態を判定し、
判定結果を上記ディジタルカウンタに出力する同期判定
回路とを有する。
被比較信号との位相を比較する位相比較回路と、上記位
相比較回路の比較結果に基づきカウント値を最上位ビッ
トから最下位ビットに向かって順次に決定するディジタ
ルカウンタと、上記ディジタルカウンタからのカウント
値に応じて、所定の逓倍数をもって周波数逓倍した逓倍
信号を上記被比較信号として上記位相比較回路に出力す
る周波数逓倍回路と、上記位相比較回路の比較結果に基
づき、当該ディジタルPLL回路の同期状態を判定し、
判定結果を上記ディジタルカウンタに出力する同期判定
回路とを有する。
【0012】本発明によれば、基準クロック信号に基づ
き、第1、第2および第3のクロック信号が生成され、
位相比較回路により第3のクロック信号と被比較信号の
位相が比較される。そして、比較結果に応じてディジタ
ルカウンタのカウント値が最上位ビットから最下位ビッ
トに向かって順次に決定される。カウント値に基づいて
第2のクロック信号の周波数を所定の逓倍数をもって周
波数逓倍し、逓倍信号を被比較信号として位相比較回路
に出力される。
き、第1、第2および第3のクロック信号が生成され、
位相比較回路により第3のクロック信号と被比較信号の
位相が比較される。そして、比較結果に応じてディジタ
ルカウンタのカウント値が最上位ビットから最下位ビッ
トに向かって順次に決定される。カウント値に基づいて
第2のクロック信号の周波数を所定の逓倍数をもって周
波数逓倍し、逓倍信号を被比較信号として位相比較回路
に出力される。
【0013】ディジタルPLL回路がロック状態に達し
たと判断されたとき、ディジタルカウンタにおいて、カ
ウント動作が切り換えられ、最下位ビットから最上位ビ
ットに向かって、位相比較回路からの位相比較結果に基
づき順次に決定される。このようなディジタルPLL回
路により、ロック状態に達するまでの所要時間を大幅に
短縮できる。さらにディジタルカウンタのビット数を大
きくすることで、ロック状態に達するまでの時間短縮と
位相追従精度の向上という相反する問題を同時に解決で
きる。
たと判断されたとき、ディジタルカウンタにおいて、カ
ウント動作が切り換えられ、最下位ビットから最上位ビ
ットに向かって、位相比較回路からの位相比較結果に基
づき順次に決定される。このようなディジタルPLL回
路により、ロック状態に達するまでの所要時間を大幅に
短縮できる。さらにディジタルカウンタのビット数を大
きくすることで、ロック状態に達するまでの時間短縮と
位相追従精度の向上という相反する問題を同時に解決で
きる。
【0014】
【発明の実施の形態】第1実施形態 図1は本発明に係るディジタルPLL回路の第1の実施
形態を示す回路図である。図示のように、本例のディジ
タルPLL回路はクロック制御回路10、位相比較器2
0、カウンタ30(ディジタルカウンタ)、ディジタル
制御遅延線(DCDL)40、プログラマブルマスク生
成回路(PMG)50、ORゲート60、分周器70お
よびANDゲート80により構成されている。
形態を示す回路図である。図示のように、本例のディジ
タルPLL回路はクロック制御回路10、位相比較器2
0、カウンタ30(ディジタルカウンタ)、ディジタル
制御遅延線(DCDL)40、プログラマブルマスク生
成回路(PMG)50、ORゲート60、分周器70お
よびANDゲート80により構成されている。
【0015】クロック制御回路10は周波数finの外部
クロック信号CLKを受けて、クロック信号CK0 ,C
K1 ,CK1S,CK2 を発生する。クロック信号CK0
をリセット信号として、位相比較器20、カウンタ30
およびディジタル制御遅延線40に出力する。クロック
信号CK2 を基準クロック信号として、位相比較器20
に供給する。また、クロック信号CK1 およびCK1Sを
ディジタル制御遅延線40に入力し、遅延動作を制御す
る。さらに、クロック信号CK1Sをプログラマブルマス
ク生成回路50に出力し、それの動作を制御する。クロ
ック制御回路10はカウンタ30からのロック信号S
end を受け、これに応じてクロック信号CK1Sの発生を
制御する。
クロック信号CLKを受けて、クロック信号CK0 ,C
K1 ,CK1S,CK2 を発生する。クロック信号CK0
をリセット信号として、位相比較器20、カウンタ30
およびディジタル制御遅延線40に出力する。クロック
信号CK2 を基準クロック信号として、位相比較器20
に供給する。また、クロック信号CK1 およびCK1Sを
ディジタル制御遅延線40に入力し、遅延動作を制御す
る。さらに、クロック信号CK1Sをプログラマブルマス
ク生成回路50に出力し、それの動作を制御する。クロ
ック制御回路10はカウンタ30からのロック信号S
end を受け、これに応じてクロック信号CK1Sの発生を
制御する。
【0016】位相比較器20はクロック制御回路10か
らの基準クロック信号CK2 とプログラマブルマスク生
成回路50からの発振信号S50とを位相比較し、比較
結果に応じてアップ信号Supまたはダウン信号Sdwを発
生し、カウンタ30に出力する。
らの基準クロック信号CK2 とプログラマブルマスク生
成回路50からの発振信号S50とを位相比較し、比較
結果に応じてアップ信号Supまたはダウン信号Sdwを発
生し、カウンタ30に出力する。
【0017】カウンタ30は位相比較器20からのアッ
プ信号Supまたはダウン信号Sdw受けて、カウントアッ
プまたはカウントダウン動作を行い、mビットのカウン
ト値S30を設定し、ディジタル制御遅延線40に出力
する。なお、本実施形態においては、ディジタルPLL
回路がロック状態に達するまで、カウンタ30は位相比
較器20からのアップ信号Supおよびダウン信号Sdwに
基づき、最上位ビットから最下位ビットに向かって順次
に決定し、ロック状態に達した後、カウント動作を切り
換え、アップ信号Supおよびダウン信号Sdwに基づき、
最下位ビットから最上位ビットに向かって順次に決定す
る。
プ信号Supまたはダウン信号Sdw受けて、カウントアッ
プまたはカウントダウン動作を行い、mビットのカウン
ト値S30を設定し、ディジタル制御遅延線40に出力
する。なお、本実施形態においては、ディジタルPLL
回路がロック状態に達するまで、カウンタ30は位相比
較器20からのアップ信号Supおよびダウン信号Sdwに
基づき、最上位ビットから最下位ビットに向かって順次
に決定し、ロック状態に達した後、カウント動作を切り
換え、アップ信号Supおよびダウン信号Sdwに基づき、
最下位ビットから最上位ビットに向かって順次に決定す
る。
【0018】ディジタル制御遅延線40はクロック制御
回路10からのクロック信号CK0,CK1 ,CK1Sを
受けて、さらにカウンタ30からmビットのカウント値
S30およびロック信号Send を受けて発振信号S40
を生成し、ORゲート60に出力する。
回路10からのクロック信号CK0,CK1 ,CK1Sを
受けて、さらにカウンタ30からmビットのカウント値
S30およびロック信号Send を受けて発振信号S40
を生成し、ORゲート60に出力する。
【0019】ORゲート60はディジタル制御遅延線4
0からの発振信号S40およびクロック制御回路10か
らのクロック信号CK1Sを受けて、これらの信号の論理
和を発生し、発振信号S60として分周器70に出力す
る。分周器70はORゲート60からの発振信号S60
を2分周し、分周信号dou t を発生し、ANDゲート8
0に出力する。ANDゲート80はカウンタ30からの
ロック信号Send および分周器70からの分周信号d
out を受けて、これらの信号の論理積を生成し、ディジ
タルPLL回路の出力信号Sout として出力する。
0からの発振信号S40およびクロック制御回路10か
らのクロック信号CK1Sを受けて、これらの信号の論理
和を発生し、発振信号S60として分周器70に出力す
る。分周器70はORゲート60からの発振信号S60
を2分周し、分周信号dou t を発生し、ANDゲート8
0に出力する。ANDゲート80はカウンタ30からの
ロック信号Send および分周器70からの分周信号d
out を受けて、これらの信号の論理積を生成し、ディジ
タルPLL回路の出力信号Sout として出力する。
【0020】また、プログラマブルマスク生成回路50
はクロック制御回路10からのクロック信号CK1Sおよ
び分周器70からの分周信号dout を受けて、さらに外
部から入力されたnビットの制御信号SNに応じて、発
振信号S50を生成し、これを被比較信号として位相比
較器20に出力する。
はクロック制御回路10からのクロック信号CK1Sおよ
び分周器70からの分周信号dout を受けて、さらに外
部から入力されたnビットの制御信号SNに応じて、発
振信号S50を生成し、これを被比較信号として位相比
較器20に出力する。
【0021】以下、本発明のディジタルPLL回路を構
成するクロック制御回路10、位相比較器20、カウン
タ30、ディジタル制御遅延線40およびプログラマブ
ルマスク生成回路50の各部分について、回路図および
波形図を参照しながら詳細に説明する。
成するクロック制御回路10、位相比較器20、カウン
タ30、ディジタル制御遅延線40およびプログラマブ
ルマスク生成回路50の各部分について、回路図および
波形図を参照しながら詳細に説明する。
【0022】図2はクロック制御回路10の構成を示す
回路図である。図示のように、クロック制御回路10は
クロック発生回路101、RSフリップフロップ10
2、ANDゲート103,104により構成されてい
る。
回路図である。図示のように、クロック制御回路10は
クロック発生回路101、RSフリップフロップ10
2、ANDゲート103,104により構成されてい
る。
【0023】クロック発生回路101は外部から入力さ
れたクロック信号CLKを受けて、基準クロックとして
のクロック信号CK2 、クロック信号CK0 ,CK1 を
生成する。
れたクロック信号CLKを受けて、基準クロックとして
のクロック信号CK2 、クロック信号CK0 ,CK1 を
生成する。
【0024】RSフリップフロップ102のセット信号
入力端子SがANDゲート103の出力端子に接続さ
れ、リセット信号入力端子Rがリセット信号RSTの入
力端子に接続されている。RSフリップフロップ102
の反転信号出力端子がANDゲート104の一方の入力
端子に接続され、ANDゲート104の他方の入力端子
がクロック信号CK1 の出力端子ck1に接続されてい
る。ANDゲート104の出力端子がクロック信号CK
1sの出力端子に接続されている。ANDゲート103の
一方の入力端子がロック信号Send の入力端子に接続さ
れ、他方の入力端子がANDゲート104の出力端子、
即ち、クロック信号CK 1sの出力端子に接続されてい
る。
入力端子SがANDゲート103の出力端子に接続さ
れ、リセット信号入力端子Rがリセット信号RSTの入
力端子に接続されている。RSフリップフロップ102
の反転信号出力端子がANDゲート104の一方の入力
端子に接続され、ANDゲート104の他方の入力端子
がクロック信号CK1 の出力端子ck1に接続されてい
る。ANDゲート104の出力端子がクロック信号CK
1sの出力端子に接続されている。ANDゲート103の
一方の入力端子がロック信号Send の入力端子に接続さ
れ、他方の入力端子がANDゲート104の出力端子、
即ち、クロック信号CK 1sの出力端子に接続されてい
る。
【0025】RSフリップフロップ102、ANDゲー
ト103,104により構成されている回路はクロック
発生回路101および図1に示すカウンタ30により生
成されたロック信号Send を受けて、ロック信号Send
がローレベルに保持されているときクロック信号CK1
と同期して、ロック信号Send がハイレベルに切り換わ
った後、クロック信号CK1 と同期して一つのパルスの
みが出力されるクロック信号CK1Sを発生する。
ト103,104により構成されている回路はクロック
発生回路101および図1に示すカウンタ30により生
成されたロック信号Send を受けて、ロック信号Send
がローレベルに保持されているときクロック信号CK1
と同期して、ロック信号Send がハイレベルに切り換わ
った後、クロック信号CK1 と同期して一つのパルスの
みが出力されるクロック信号CK1Sを発生する。
【0026】具体的に、図2に示すように、リセット信
号RSTの立ち下がりエッジにより、RSフリップフロ
ップ102がリセットされ、反転出力端子にハイレベル
の信号が出力される。このため、クロック発生回路10
1により生成されたクロック信号CK1 がANDゲート
104を介して、クロック信号CK1Sとして出力され
る。このとき、ロック信号Send がローレベルに保持さ
れているので、RSフリップフロップ102がセットさ
れることなく、反転出力端子がハイレベルのままに保持
されている。
号RSTの立ち下がりエッジにより、RSフリップフロ
ップ102がリセットされ、反転出力端子にハイレベル
の信号が出力される。このため、クロック発生回路10
1により生成されたクロック信号CK1 がANDゲート
104を介して、クロック信号CK1Sとして出力され
る。このとき、ロック信号Send がローレベルに保持さ
れているので、RSフリップフロップ102がセットさ
れることなく、反転出力端子がハイレベルのままに保持
されている。
【0027】また、図1に示すディジタルPLL回路が
ロック状態に達したとき、カウンタ30からのロック信
号Send がローレベルからハイレベルに切り換えられ
る。これに応じて、クロック信号CK1SがANDゲート
103を介してRSフリップフロップ102のセット信
号入力端子Sに入力され、RSフリップフロップ102
がセットされ、反転出力端子にローレベルの信号が出力
される。これにより、クロック信号CK1Sがローレベル
に保持される。即ち、カウンタ30からのロック信号S
end がローレベルに切り換わった後、クロック制御回路
10により、一回のみクロック信号CK1Sが出力され
る。その後、クロック信号CK1Sがローレベルに保持さ
れる。
ロック状態に達したとき、カウンタ30からのロック信
号Send がローレベルからハイレベルに切り換えられ
る。これに応じて、クロック信号CK1SがANDゲート
103を介してRSフリップフロップ102のセット信
号入力端子Sに入力され、RSフリップフロップ102
がセットされ、反転出力端子にローレベルの信号が出力
される。これにより、クロック信号CK1Sがローレベル
に保持される。即ち、カウンタ30からのロック信号S
end がローレベルに切り換わった後、クロック制御回路
10により、一回のみクロック信号CK1Sが出力され
る。その後、クロック信号CK1Sがローレベルに保持さ
れる。
【0028】図3はクロック発生回路101の構成を示
す回路図である。図示のように、クロック発生回路10
1はエッジ検出回路110,127、インバータ11
1,112,115,116,126、NANDゲート
113,114、RSフリップフロップ117,11
8、NORゲート119,120,123,124、分
周器125により構成されている。
す回路図である。図示のように、クロック発生回路10
1はエッジ検出回路110,127、インバータ11
1,112,115,116,126、NANDゲート
113,114、RSフリップフロップ117,11
8、NORゲート119,120,123,124、分
周器125により構成されている。
【0029】エッジ検出回路110はクロック信号入力
端子ckに入力されたクロック信号のエッジ、例えば、
立ち上がりエッジを検出し、それを示すエッジ検出信号
S110をNANDゲート113,114に出力する。
端子ckに入力されたクロック信号のエッジ、例えば、
立ち上がりエッジを検出し、それを示すエッジ検出信号
S110をNANDゲート113,114に出力する。
【0030】クロック信号入力端子ckがインバータ1
11を介して、分周器125の入力端子に接続され、分
周器125により2分周された信号がインバータ126
を介して反転され、クロック信号ckmとして出力され
る。クロック信号ckmはエッジ検出回路127により
エッジが検出され、クロック信号CK0 として出力端子
ck0に出力される。また、クロック信号ckmがエッ
ジ検出回路110からのエッジ検出信号S110ととも
にNANDゲート114に入力され、クロック信号ck
mがインバータ112により反転された信号がエッジ検
出信号S110とともにNANDゲート113に入力さ
れる。
11を介して、分周器125の入力端子に接続され、分
周器125により2分周された信号がインバータ126
を介して反転され、クロック信号ckmとして出力され
る。クロック信号ckmはエッジ検出回路127により
エッジが検出され、クロック信号CK0 として出力端子
ck0に出力される。また、クロック信号ckmがエッ
ジ検出回路110からのエッジ検出信号S110ととも
にNANDゲート114に入力され、クロック信号ck
mがインバータ112により反転された信号がエッジ検
出信号S110とともにNANDゲート113に入力さ
れる。
【0031】NANDゲート113の出力端子がNOR
ゲート123の一方の入力端子に接続され、また、NA
NDゲート113の出力端子がインバータ115を介し
てNORゲート119の一方の入力端子に接続される。
さらに、インバータ115の出力端子がRSフリップフ
ロップ117のセット信号入力端子Sに接続され、RS
フリップフロップ117のリセット信号入力端子Rがリ
セット信号入力端子resetに接続されている。RS
フリップフロップ117の反転出力端子がNORゲート
119の他方の入力端子に接続されている。さらにNO
Rゲート119の出力端子がRSフリップフロップ12
1のセット信号入力端子Sに接続され、RSフリップフ
ロップ121のリセット信号入力端子Rがリセット信号
入力端子resetに接続されている。RSフリップフ
ロップ121の反転出力端子がNORゲート123の他
方の入力端子に接続されている。NORゲート123の
出力端子がクロック信号CK2の出力端子ck2に接続
されている。
ゲート123の一方の入力端子に接続され、また、NA
NDゲート113の出力端子がインバータ115を介し
てNORゲート119の一方の入力端子に接続される。
さらに、インバータ115の出力端子がRSフリップフ
ロップ117のセット信号入力端子Sに接続され、RS
フリップフロップ117のリセット信号入力端子Rがリ
セット信号入力端子resetに接続されている。RS
フリップフロップ117の反転出力端子がNORゲート
119の他方の入力端子に接続されている。さらにNO
Rゲート119の出力端子がRSフリップフロップ12
1のセット信号入力端子Sに接続され、RSフリップフ
ロップ121のリセット信号入力端子Rがリセット信号
入力端子resetに接続されている。RSフリップフ
ロップ121の反転出力端子がNORゲート123の他
方の入力端子に接続されている。NORゲート123の
出力端子がクロック信号CK2の出力端子ck2に接続
されている。
【0032】NANDゲート114の出力端子がNOR
ゲート124の一方の入力端子に接続され、また、NA
NDゲート114の出力端子がインバータ116を介し
てNORゲート120の一方の入力端子に接続される。
さらに、インバータ116の出力端子がRSフリップフ
ロップ118のセット信号入力端子Sに接続され、RS
フリップフロップ118のリセット信号入力端子Rがリ
セット信号入力端子resetに接続されている。RS
フリップフロップ118の反転出力端子がNORゲート
120の他方の入力端子に接続されている。さらにNO
Rゲート120の出力端子がRSフリップフロップ12
2のセット信号入力端子Sに接続され、RSフリップフ
ロップ122のリセット信号入力端子Rがリセット信号
入力端子resetに接続されている。RSフリップフ
ロップ122の反転出力端子がNORゲート124の他
方の入力端子に接続されている。NORゲート124の
出力端子がクロック信号CK1の出力端子ck1に接続
されている。
ゲート124の一方の入力端子に接続され、また、NA
NDゲート114の出力端子がインバータ116を介し
てNORゲート120の一方の入力端子に接続される。
さらに、インバータ116の出力端子がRSフリップフ
ロップ118のセット信号入力端子Sに接続され、RS
フリップフロップ118のリセット信号入力端子Rがリ
セット信号入力端子resetに接続されている。RS
フリップフロップ118の反転出力端子がNORゲート
120の他方の入力端子に接続されている。さらにNO
Rゲート120の出力端子がRSフリップフロップ12
2のセット信号入力端子Sに接続され、RSフリップフ
ロップ122のリセット信号入力端子Rがリセット信号
入力端子resetに接続されている。RSフリップフ
ロップ122の反転出力端子がNORゲート124の他
方の入力端子に接続されている。NORゲート124の
出力端子がクロック信号CK1の出力端子ck1に接続
されている。
【0033】図4はクロック制御回路10の動作を示す
波形図である。以下、図5および図6の回路図および図
4の波形図を参照しながら、クロック制御回路10の動
作について説明する。
波形図である。以下、図5および図6の回路図および図
4の波形図を参照しながら、クロック制御回路10の動
作について説明する。
【0034】クロック発生回路101のクロック信号入
力端子ckに周波数finの外部クロック信号CLKが入
力される。また、クロック制御回路10が動作開始まえ
に、リセット信号入力端子resetにハイレベル、例
えば、電源電圧VCCレベルのリセット信号RSTが入力
され、動作開始後、リセット信号RSTがハイレベルか
らローレベル、例えば、接地電位レベルに切り換えられ
る。
力端子ckに周波数finの外部クロック信号CLKが入
力される。また、クロック制御回路10が動作開始まえ
に、リセット信号入力端子resetにハイレベル、例
えば、電源電圧VCCレベルのリセット信号RSTが入力
され、動作開始後、リセット信号RSTがハイレベルか
らローレベル、例えば、接地電位レベルに切り換えられ
る。
【0035】エッジ検出回路110により、クロック信
号CLKの立ち上がりエッジが検出され、エッジ検出信
号S110が出力される。また、クロック信号CLKが
インバータ111により反転され、反転されたクロック
信号が分周器125により2分周され、さらにインバー
タ126により反転され、クロック信号ckmとして出
力される。クロック信号ckmがエッジ検出回路127
により、立ち上がりエッジが検出され、図4に示すクロ
ック信号CK0 が生成され、クロック信号出力端子ck
0に出力される。
号CLKの立ち上がりエッジが検出され、エッジ検出信
号S110が出力される。また、クロック信号CLKが
インバータ111により反転され、反転されたクロック
信号が分周器125により2分周され、さらにインバー
タ126により反転され、クロック信号ckmとして出
力される。クロック信号ckmがエッジ検出回路127
により、立ち上がりエッジが検出され、図4に示すクロ
ック信号CK0 が生成され、クロック信号出力端子ck
0に出力される。
【0036】リセット信号RSTがハイレベルからロー
レベルに切り換えられた後、RSフリップフロップ11
7,118,121,122の反転出力端子の出力信号
がローレベルに設定される。これに応じて、クロック信
号出力端子ck1,ck2にローレベルの信号が出力さ
れる。
レベルに切り換えられた後、RSフリップフロップ11
7,118,121,122の反転出力端子の出力信号
がローレベルに設定される。これに応じて、クロック信
号出力端子ck1,ck2にローレベルの信号が出力さ
れる。
【0037】クロック信号ckmの反転信号がエッジ検
出回路110からのエッジ検出信号S110とともにN
ANDゲート113に入力され、これに応じて、図4に
示すクロック信号CK1 が生成され、出力端子ck1に
出力される。クロック信号ckmがエッジ検出回路11
0からのエッジ検出信号S110とともにNANDゲー
ト114に入力され、これに応じて、図4に示すクロッ
ク信号CK2 が生成され、出力端子ck2に出力され
る。ディジタルPLL回路がロック状態に達するまでク
ロック信号CK1 と同期したクロック信号CK1Sが生成
され、ロック状態に達した後、クロック信号CK1Sが一
回のみ出力され、その後ローレベルに保持される。
出回路110からのエッジ検出信号S110とともにN
ANDゲート113に入力され、これに応じて、図4に
示すクロック信号CK1 が生成され、出力端子ck1に
出力される。クロック信号ckmがエッジ検出回路11
0からのエッジ検出信号S110とともにNANDゲー
ト114に入力され、これに応じて、図4に示すクロッ
ク信号CK2 が生成され、出力端子ck2に出力され
る。ディジタルPLL回路がロック状態に達するまでク
ロック信号CK1 と同期したクロック信号CK1Sが生成
され、ロック状態に達した後、クロック信号CK1Sが一
回のみ出力され、その後ローレベルに保持される。
【0038】図5は位相比較器20の構成を示す回路図
である。図示のように、位相比較器20は位相比較回路
21、遅延回路22,23、RSフリップフロップ2
4,25とにより構成されている。位相比較回路21に
クロック制御回路10により生成されたクロック信号C
K 2 が基準信号Sref して入力され、プログラマブルマ
スク生成回路50からの発振信号S50が比較対象信号
Svar として入力される。入力された信号の位相差に応
じて、アップ信号Su およびダウン信号Sd が生成さ
れ、出力端子up,downにそれぞれ出力される。
である。図示のように、位相比較器20は位相比較回路
21、遅延回路22,23、RSフリップフロップ2
4,25とにより構成されている。位相比較回路21に
クロック制御回路10により生成されたクロック信号C
K 2 が基準信号Sref して入力され、プログラマブルマ
スク生成回路50からの発振信号S50が比較対象信号
Svar として入力される。入力された信号の位相差に応
じて、アップ信号Su およびダウン信号Sd が生成さ
れ、出力端子up,downにそれぞれ出力される。
【0039】アップ信号Su の出力端子upがRSフリ
ップフロップ24のセット信号入力端子Sに接続され、
さらに遅延回路22を介してRSフリップフロップ24
のリセット信号入力端子Rに接続される。ダウン信号S
d の出力端子downがRSフリップフロップ25のセ
ット信号入力端子Sに接続され、さらに遅延回路23を
介してRSフリップフロップ25のリセット信号入力端
子Rに接続される。
ップフロップ24のセット信号入力端子Sに接続され、
さらに遅延回路22を介してRSフリップフロップ24
のリセット信号入力端子Rに接続される。ダウン信号S
d の出力端子downがRSフリップフロップ25のセ
ット信号入力端子Sに接続され、さらに遅延回路23を
介してRSフリップフロップ25のリセット信号入力端
子Rに接続される。
【0040】図6は位相比較器20の動作を示す波形図
である。図示のように、位相比較器20に入力された基
準信号Sref の位相が比較対象信号Svar の位相より遅
れている場合には、位相比較回路21により位相差に応
じたアップ信号Su が出力される。遅延回路22および
RSフリップフロップ24により構成された回路によ
り、アップ信号Su のパルス幅が拡張され、アップ信号
Supとして出力される。
である。図示のように、位相比較器20に入力された基
準信号Sref の位相が比較対象信号Svar の位相より遅
れている場合には、位相比較回路21により位相差に応
じたアップ信号Su が出力される。遅延回路22および
RSフリップフロップ24により構成された回路によ
り、アップ信号Su のパルス幅が拡張され、アップ信号
Supとして出力される。
【0041】一方、基準信号Sref の位相が比較対象信
号Svar の位相より進んでいる場合には、位相比較回路
21により位相差に応じたダウン信号Sd が出力され
る。遅延回路23およびRSフリップフロップ25によ
り構成された回路により、ダウン信号Sd のパルス幅が
拡張され、ダウン信号Sdwとして出力される。
号Svar の位相より進んでいる場合には、位相比較回路
21により位相差に応じたダウン信号Sd が出力され
る。遅延回路23およびRSフリップフロップ25によ
り構成された回路により、ダウン信号Sd のパルス幅が
拡張され、ダウン信号Sdwとして出力される。
【0042】これにより、基準信号Sref と比較対象信
号Svar との位相差がわずかのとき、アップ信号Su ま
たはダウン信号Sd のパルス幅が狭くなり、そのままで
はカウンタ30を駆動するには不十分なパルス幅が遅延
回路22,23およびRSフリップフロップ24,25
により構成されたパルス幅拡張回路により幅が拡張さ
れ、アップ信号Supおよびダウン信号Sdwの駆動能力が
向上され、カウンタ30の誤動作が防止される。
号Svar との位相差がわずかのとき、アップ信号Su ま
たはダウン信号Sd のパルス幅が狭くなり、そのままで
はカウンタ30を駆動するには不十分なパルス幅が遅延
回路22,23およびRSフリップフロップ24,25
により構成されたパルス幅拡張回路により幅が拡張さ
れ、アップ信号Supおよびダウン信号Sdwの駆動能力が
向上され、カウンタ30の誤動作が防止される。
【0043】図7はカウンタ30の構成を示す回路図で
ある。図示のように、カウンタ30はレジスタ301、
アップダウンカウンタ302、RSフリップフロップ3
03,304,…,309、Dフリップフロップ31
0,311,…,314,320,321,…,32
4、セレクタ315,316,…,319、遅延回路3
25、エッジ検出回路326により構成されている。
ある。図示のように、カウンタ30はレジスタ301、
アップダウンカウンタ302、RSフリップフロップ3
03,304,…,309、Dフリップフロップ31
0,311,…,314,320,321,…,32
4、セレクタ315,316,…,319、遅延回路3
25、エッジ検出回路326により構成されている。
【0044】レジスタ301の各リセット信号入力端子
rm-1 ,rm-2 ,…,r1 ,r0 はRSフリップフロッ
プ303の出力端子に接続されている。RSフリップフ
ロップ303のセット信号入力端子Sはダウン信号Sdw
の入力端子に接続され、リセット信号入力端子Rはクロ
ック信号CK0 の入力端子に接続されている。レジスタ
301の各出力信号端子om-1 ,om-2 ,…,o1 ,o
0 はそれぞれDフリップフロップ310,311,…,
313,314の入力端子に接続され、セット信号出力
端子sm-1 ,sm-2 ,…,s1 ,s0 はそれぞれRSフ
リップフロップ304,305,…,307,308の
セット信号入力端子Sに接続されている。RSフリップ
フロップ304,305,…,307,308のリセッ
ト信号入力端子Rはシステムリセット信号RSTの入力
端子に接続されている。レジスタ301のクロック信号
入力端子ckがクロック信号CK0 の入力端子に接続さ
れ、ロック信号Send の出力端子endはRSフリップ
フロップ309のセット信号入力端子Sに接続されてい
る。
rm-1 ,rm-2 ,…,r1 ,r0 はRSフリップフロッ
プ303の出力端子に接続されている。RSフリップフ
ロップ303のセット信号入力端子Sはダウン信号Sdw
の入力端子に接続され、リセット信号入力端子Rはクロ
ック信号CK0 の入力端子に接続されている。レジスタ
301の各出力信号端子om-1 ,om-2 ,…,o1 ,o
0 はそれぞれDフリップフロップ310,311,…,
313,314の入力端子に接続され、セット信号出力
端子sm-1 ,sm-2 ,…,s1 ,s0 はそれぞれRSフ
リップフロップ304,305,…,307,308の
セット信号入力端子Sに接続されている。RSフリップ
フロップ304,305,…,307,308のリセッ
ト信号入力端子Rはシステムリセット信号RSTの入力
端子に接続されている。レジスタ301のクロック信号
入力端子ckがクロック信号CK0 の入力端子に接続さ
れ、ロック信号Send の出力端子endはRSフリップ
フロップ309のセット信号入力端子Sに接続されてい
る。
【0045】アップダウンカウンタ302の出力端子o
m-1 ,om-2 ,…,o1 ,o0 はそれぞれセレクタ31
5,316,…,318,319の入力端子1に接続さ
れ、Dフリップフロップ310,311,…,313,
314の出力端子がそれぞれセレクタ315,316,
…,318,319の入力端子0に接続されている。セ
レクタ315,316,…,318,319の出力端子
がそれぞれカウンタ30の出力端子Om-1 ,Om-2 ,
…,O1 ,O0 に接続され、さらに、Dフリップフロッ
プ320,321,…,323,324の入力端子に接
続されている。セレクタ315,316,…,318,
319のクロック入力端子ckは遅延回路327の出力
端子に接続されている。
m-1 ,om-2 ,…,o1 ,o0 はそれぞれセレクタ31
5,316,…,318,319の入力端子1に接続さ
れ、Dフリップフロップ310,311,…,313,
314の出力端子がそれぞれセレクタ315,316,
…,318,319の入力端子0に接続されている。セ
レクタ315,316,…,318,319の出力端子
がそれぞれカウンタ30の出力端子Om-1 ,Om-2 ,
…,O1 ,O0 に接続され、さらに、Dフリップフロッ
プ320,321,…,323,324の入力端子に接
続されている。セレクタ315,316,…,318,
319のクロック入力端子ckは遅延回路327の出力
端子に接続されている。
【0046】320,321,…,323,324Dフ
リップフロップ320,321,…,323,324の
クロック入力端子がエッジ検出回路326の出力端子に
接続され、出力端子がそれぞれアップダウンカウンタ3
02のセット信号入力端子s m-1 ,sm-2 ,…,s1 ,
s0 に接続されている。
リップフロップ320,321,…,323,324の
クロック入力端子がエッジ検出回路326の出力端子に
接続され、出力端子がそれぞれアップダウンカウンタ3
02のセット信号入力端子s m-1 ,sm-2 ,…,s1 ,
s0 に接続されている。
【0047】図8はカウンタ30の動作を示す波形図で
ある。以下、図7の回路図および図8の波形図を参照し
ながら、カウンタ30の動作について説明する。レジス
タ301にクロック制御回路10により生成されたクロ
ック信号CK0が入力され、クロック信号CK0 に応じ
て、レジスタ301の初期値が設定される。
ある。以下、図7の回路図および図8の波形図を参照し
ながら、カウンタ30の動作について説明する。レジス
タ301にクロック制御回路10により生成されたクロ
ック信号CK0が入力され、クロック信号CK0 に応じ
て、レジスタ301の初期値が設定される。
【0048】図8に示すように、システムリセット信号
RSTにより、すべての回路はリセットされた状態で動
作を始める。ディジタルPLL回路がロック状態か否か
を示すロック信号Send はローレベル、例えば、接地電
位レベルに設定されている。このため、セレクタ31
5,316,…,318,319により、各セレクタの
入力端子0に入力された信号、即ちDフリップフロップ
310,311,…,313,314を介して入力され
たレジスタ301の出力端子om-1 ,om-2 ,…,
o1 ,o0 の信号が選択され、カウンタ30の出力端子
Om-1 ,Om-2 ,…,O1 ,O0 に出力される。
RSTにより、すべての回路はリセットされた状態で動
作を始める。ディジタルPLL回路がロック状態か否か
を示すロック信号Send はローレベル、例えば、接地電
位レベルに設定されている。このため、セレクタ31
5,316,…,318,319により、各セレクタの
入力端子0に入力された信号、即ちDフリップフロップ
310,311,…,313,314を介して入力され
たレジスタ301の出力端子om-1 ,om-2 ,…,
o1 ,o0 の信号が選択され、カウンタ30の出力端子
Om-1 ,Om-2 ,…,O1 ,O0 に出力される。
【0049】図8に示すように、まず、クロック信号C
K0 のパルス1でレジスタ301の最上位ビットである
出力端子om-1 が二進数の“1”を示す例えばハイレベ
ルに設定される(以下、単に“1”に設定されるとい
う)。出力端子om-1 の設定値がDフリップフロップ3
10を介してセレクタ315の入力端子0に入力され
る。このとき、レジスタ301のロック信号Send がロ
ーレベルに保持されているので、遅延回路325により
ローレベルの選択制御信号S325が出力される。これ
に応じて、各セレクタ315,316,…,318,3
19により入力端子0の側の入力信号が選択される。
K0 のパルス1でレジスタ301の最上位ビットである
出力端子om-1 が二進数の“1”を示す例えばハイレベ
ルに設定される(以下、単に“1”に設定されるとい
う)。出力端子om-1 の設定値がDフリップフロップ3
10を介してセレクタ315の入力端子0に入力され
る。このとき、レジスタ301のロック信号Send がロ
ーレベルに保持されているので、遅延回路325により
ローレベルの選択制御信号S325が出力される。これ
に応じて、各セレクタ315,316,…,318,3
19により入力端子0の側の入力信号が選択される。
【0050】このため、カウンタ30の最上位ビットの
出力端子Om-1 にレジスタ301の最上位ビットの出力
信号、即ち、二進数の“1”を示すハイレベルの信号が
出力される。このとき、カウンタ30の他のm−1個の
出力端子Om-2 ,…,O1 ,O0 がすべて“0”が出力
される。
出力端子Om-1 にレジスタ301の最上位ビットの出力
信号、即ち、二進数の“1”を示すハイレベルの信号が
出力される。このとき、カウンタ30の他のm−1個の
出力端子Om-2 ,…,O1 ,O0 がすべて“0”が出力
される。
【0051】カウンタ30よりmビットの出力信号S3
0がディジタル制御遅延線40に出力され、これに応じ
て、ディジタル制御遅延線40の遅延時間が設定され
る。即ち、ディジタル制御遅延線40により生成された
発振信号S40の周波数がカウンタ30の出力により設
定される。発振信号S40が分周器70により2分周さ
れ、さらにプログラマブルマスク生成回路50により発
振信号S50が選択され、位相比較器20に入力され
る。位相比較器20において、クロック制御回路10か
らの基準クロック信号CK2 とプログラマブルマスク生
成回路50からの発振信号S50との位相が比較され、
比較結果に応じてアップ信号Supまたはダウン信号Sdw
が発生され、カウンタ30に入力される。
0がディジタル制御遅延線40に出力され、これに応じ
て、ディジタル制御遅延線40の遅延時間が設定され
る。即ち、ディジタル制御遅延線40により生成された
発振信号S40の周波数がカウンタ30の出力により設
定される。発振信号S40が分周器70により2分周さ
れ、さらにプログラマブルマスク生成回路50により発
振信号S50が選択され、位相比較器20に入力され
る。位相比較器20において、クロック制御回路10か
らの基準クロック信号CK2 とプログラマブルマスク生
成回路50からの発振信号S50との位相が比較され、
比較結果に応じてアップ信号Supまたはダウン信号Sdw
が発生され、カウンタ30に入力される。
【0052】ここで、例えば、位相比較器20により比
較の結果、図8に示すダウン信号S dwのパルス1が出力
されるとする。ダウン信号Sdwのパルス1に応じて、R
Sフリップフロップ303の出力がハイレベルに設定さ
れ、レジスタ301の最上位ビットm−1ビットのリセ
ット信号入力端子rm-1 に出力される。これに応じて、
レジスタ301の最上位ビット出力端子om-1 が“0”
にリセットされる。
較の結果、図8に示すダウン信号S dwのパルス1が出力
されるとする。ダウン信号Sdwのパルス1に応じて、R
Sフリップフロップ303の出力がハイレベルに設定さ
れ、レジスタ301の最上位ビットm−1ビットのリセ
ット信号入力端子rm-1 に出力される。これに応じて、
レジスタ301の最上位ビット出力端子om-1 が“0”
にリセットされる。
【0053】カウンタ30において、クロック信号CK
0 のパルス2でレジスタ301のm−2ビットの出力端
子om-2 が“1”に設定される。これに応じてディジタ
ル制御遅延線40により発振信号S40が生成され、O
Rゲート60、分周器70を介して、プログラマブルマ
スク生成回路50に入力され、さらにプログラマブルマ
スク生成回路50により発振信号S50として選択さ
れ、位相比較器20入力される。位相比較器20におい
て、クロック制御回路10により生成された基準クロッ
ク信号CK2 とが位相比較され、比較結果に応じてアッ
プ信号Supまたはダウン信号Sdwが出力される。カウン
タ30において、位相比較器20からのアップ信号Sup
またはダウン信号Sdwに応じて、レジスタ301のm−
2ビットが設定される。
0 のパルス2でレジスタ301のm−2ビットの出力端
子om-2 が“1”に設定される。これに応じてディジタ
ル制御遅延線40により発振信号S40が生成され、O
Rゲート60、分周器70を介して、プログラマブルマ
スク生成回路50に入力され、さらにプログラマブルマ
スク生成回路50により発振信号S50として選択さ
れ、位相比較器20入力される。位相比較器20におい
て、クロック制御回路10により生成された基準クロッ
ク信号CK2 とが位相比較され、比較結果に応じてアッ
プ信号Supまたはダウン信号Sdwが出力される。カウン
タ30において、位相比較器20からのアップ信号Sup
またはダウン信号Sdwに応じて、レジスタ301のm−
2ビットが設定される。
【0054】同様な動作がレジスタ301の0ビットま
で繰り返しが行われ、レジスタ301の出力端子
om-1 ,om-2 ,…,o1 ,o0 により出力されるmビ
ットの信号がすべて設定される。図8に示すように、最
終的に、カウンタ30により、mビットのカウント値
“010…10”が出力端子Om-1 ,Om-2 ,…,
O1 ,O0に出力される。
で繰り返しが行われ、レジスタ301の出力端子
om-1 ,om-2 ,…,o1 ,o0 により出力されるmビ
ットの信号がすべて設定される。図8に示すように、最
終的に、カウンタ30により、mビットのカウント値
“010…10”が出力端子Om-1 ,Om-2 ,…,
O1 ,O0に出力される。
【0055】カウンタ30のmビットがすべて設定され
た後、即ち、ディジタルPLL回路がロック状態になっ
たとき、レジスタ301により、ロック信号Send が出
力される。これに応じて、エッジ検出回路326によ
り、ロック信号Send の立ち上がりエッジが検出され、
エッジ検出信号がDフリップフロップ320,321,
…,323,324のクロック入力端子に入力され、カ
ウンタ30の出力端子O m-1 ,Om-2 ,…,O1 ,O0
の出力信号がDフリップフロップ320,321,…,
323,324を介して、それぞれアップダウンカウン
タ302のセット信号入力端子に入力され、アップダウ
ンカウンタ302の初期値としてプリセットされる。
た後、即ち、ディジタルPLL回路がロック状態になっ
たとき、レジスタ301により、ロック信号Send が出
力される。これに応じて、エッジ検出回路326によ
り、ロック信号Send の立ち上がりエッジが検出され、
エッジ検出信号がDフリップフロップ320,321,
…,323,324のクロック入力端子に入力され、カ
ウンタ30の出力端子O m-1 ,Om-2 ,…,O1 ,O0
の出力信号がDフリップフロップ320,321,…,
323,324を介して、それぞれアップダウンカウン
タ302のセット信号入力端子に入力され、アップダウ
ンカウンタ302の初期値としてプリセットされる。
【0056】また、ロック信号Send が遅延回路325
により遅延された後、セレクタ315,316,…,3
18,319のクロック入力端子ckに入力され、これ
に応じて、セレクタ315,316,…,318,31
9により入力端子1に入力された信号、即ち、アップダ
ウンカウンタ302のカウント値が選択され、カウンタ
30の出力端子Om-1 ,Om-2 ,…,O1 ,O0 に出力
される。なお、遅延回路325の遅延時間はアップダウ
ンカウンタ302のセット信号入力端子に入力された信
号が出力端子に出力されるまでの所要時間より大きめに
設定された時間である。
により遅延された後、セレクタ315,316,…,3
18,319のクロック入力端子ckに入力され、これ
に応じて、セレクタ315,316,…,318,31
9により入力端子1に入力された信号、即ち、アップダ
ウンカウンタ302のカウント値が選択され、カウンタ
30の出力端子Om-1 ,Om-2 ,…,O1 ,O0 に出力
される。なお、遅延回路325の遅延時間はアップダウ
ンカウンタ302のセット信号入力端子に入力された信
号が出力端子に出力されるまでの所要時間より大きめに
設定された時間である。
【0057】アップダウンカウンタ302の初期値が設
定された後、位相比較器20からのアップ信号Supまた
はダウン信号Sdwに応じて、計数動作を行い、カウント
値が設定される。このカウント値がカウンタ30の出力
信号として、出力端子出力端子Om-1 ,Om-2 ,…,O
1 ,O0 に出力される。位相比較器20に入力された基
準クロック信号CK2 が周波数または位相の変化に応じ
て、アップ信号Supまたはダウン信号Sdwが出力され、
これに応じて、アップダウンカウンタ302のカウント
値が設定される。これにより、クロック信号CK2 に追
従して、即ち、クロック制御回路10に入力されたクロ
ック信号CLKに追従した発振信号S40がディジタル
制御遅延線40により生成される。
定された後、位相比較器20からのアップ信号Supまた
はダウン信号Sdwに応じて、計数動作を行い、カウント
値が設定される。このカウント値がカウンタ30の出力
信号として、出力端子出力端子Om-1 ,Om-2 ,…,O
1 ,O0 に出力される。位相比較器20に入力された基
準クロック信号CK2 が周波数または位相の変化に応じ
て、アップ信号Supまたはダウン信号Sdwが出力され、
これに応じて、アップダウンカウンタ302のカウント
値が設定される。これにより、クロック信号CK2 に追
従して、即ち、クロック制御回路10に入力されたクロ
ック信号CLKに追従した発振信号S40がディジタル
制御遅延線40により生成される。
【0058】このように、ディジタルPLL回路がロッ
ク前とロック後でカウンタ30の動あを切り換えること
により、ロック状態に達するまでの所要時間が大幅に短
縮できる。例えば、カウンタ30のビット数がmとする
と、従来型のディジタルPLL回路においては、ロック
状態に達するまで最大2m クロックが必要であるに対し
て、本発明のディジタルPLL回路においては、2(m
+1)クロックで済む。これは、m=10とすれば、2
10=1024に対して、2(10+1)=22となり、
約1/47という時間の短縮となり、ロック状態になっ
た後、各種の動作条件の変化に対して、アップダウンカ
ウンタ302で追従することが可能である。
ク前とロック後でカウンタ30の動あを切り換えること
により、ロック状態に達するまでの所要時間が大幅に短
縮できる。例えば、カウンタ30のビット数がmとする
と、従来型のディジタルPLL回路においては、ロック
状態に達するまで最大2m クロックが必要であるに対し
て、本発明のディジタルPLL回路においては、2(m
+1)クロックで済む。これは、m=10とすれば、2
10=1024に対して、2(10+1)=22となり、
約1/47という時間の短縮となり、ロック状態になっ
た後、各種の動作条件の変化に対して、アップダウンカ
ウンタ302で追従することが可能である。
【0059】図9はディジタル制御遅延線40の一例4
0aを示す回路図である。図9に示すように、本例のデ
ィジタル制御遅延線40aはセレクタ401,402,
…,404,405,418、バッファ406,40
7,…,409,410およびmビットのラッチ回路4
20により構成されている。
0aを示す回路図である。図9に示すように、本例のデ
ィジタル制御遅延線40aはセレクタ401,402,
…,404,405,418、バッファ406,40
7,…,409,410およびmビットのラッチ回路4
20により構成されている。
【0060】図示のように、ディジタル制御遅延線40
はm段の遅延回路により構成されている。各遅延回路段
はバッファとセレクタとにより形成されている。ディジ
タル制御遅延線40の入力inがm−1段を構成するセ
レクタ401の入力端子0に接続され、またはバッファ
406を介して、セレクタ401の入力端子1に接続さ
れている。セレクタ401の選択制御信号入力端子ck
はラッチ回路のm−1ビット出力端子に接続されてい
る。
はm段の遅延回路により構成されている。各遅延回路段
はバッファとセレクタとにより形成されている。ディジ
タル制御遅延線40の入力inがm−1段を構成するセ
レクタ401の入力端子0に接続され、またはバッファ
406を介して、セレクタ401の入力端子1に接続さ
れている。セレクタ401の選択制御信号入力端子ck
はラッチ回路のm−1ビット出力端子に接続されてい
る。
【0061】ディジタル制御遅延線40の以降の各段
は、上記m−1段と同様に構成され、前段のセレクタの
出力端子が後段のセレクタの入力端子0に接続され、ま
た、後段のバッファを介して、後段のセレクタの入力端
子1に接続される。なお、0段のセレクタ405の出力
端子がディジタル制御遅延線40の出力端子outに接
続されている。また、0段を構成するバッファ410の
遅延時間がtd とすると、i段目(0≦i<m)を構成
するバッファの遅延時間が2i td に設定されている。
例えば、バッファ406の遅延時間が2m-1 td 、バッ
ファ407の遅延時間が2m-2td にそれぞれ設定され
ている。
は、上記m−1段と同様に構成され、前段のセレクタの
出力端子が後段のセレクタの入力端子0に接続され、ま
た、後段のバッファを介して、後段のセレクタの入力端
子1に接続される。なお、0段のセレクタ405の出力
端子がディジタル制御遅延線40の出力端子outに接
続されている。また、0段を構成するバッファ410の
遅延時間がtd とすると、i段目(0≦i<m)を構成
するバッファの遅延時間が2i td に設定されている。
例えば、バッファ406の遅延時間が2m-1 td 、バッ
ファ407の遅延時間が2m-2td にそれぞれ設定され
ている。
【0062】各段のセレクタ401,402,…,40
4,405の選択制御信号の入力端子ckがそれぞれラ
ッチ回路420のmビットの出力端子に接続されてい
る。ラッチ回路420のmビットの入力端子がそれぞれ
カウンタ30のmビットの出力端子Om-1 ,Om-2 ,
…,O1 ,O0 に接続されている。
4,405の選択制御信号の入力端子ckがそれぞれラ
ッチ回路420のmビットの出力端子に接続されてい
る。ラッチ回路420のmビットの入力端子がそれぞれ
カウンタ30のmビットの出力端子Om-1 ,Om-2 ,
…,O1 ,O0 に接続されている。
【0063】ラッチ回路420のクロック信号入力端子
ckはセレクタ418の出力端子に接続されている。セ
レクタ418の入力端子0にクロック信号CK0 が入力
され、セレクタ418の入力端子1にクロック信号CK
1 が入力される。セレクタ418の選択制御信号入力端
子ckにカウンタ30からのロック信号Send が入力さ
れる。
ckはセレクタ418の出力端子に接続されている。セ
レクタ418の入力端子0にクロック信号CK0 が入力
され、セレクタ418の入力端子1にクロック信号CK
1 が入力される。セレクタ418の選択制御信号入力端
子ckにカウンタ30からのロック信号Send が入力さ
れる。
【0064】ディジタルPLL回路がロック状態に達す
る前に、カウンタ30によりローレベルのロック信号S
end が出力され、これに応じてセレクタ418はクロッ
ク信号CK0 を選択して、ラッチ回路420に供給し、
ディジタルPLL回路がロック状態に達した後、カウン
タ30により、出力されたロック信号Send がハイレベ
ルに切り換えられる。これに応じてセレクタ418はク
ロック信号CK1 を選択して、ラッチ回路420に供給
する。
る前に、カウンタ30によりローレベルのロック信号S
end が出力され、これに応じてセレクタ418はクロッ
ク信号CK0 を選択して、ラッチ回路420に供給し、
ディジタルPLL回路がロック状態に達した後、カウン
タ30により、出力されたロック信号Send がハイレベ
ルに切り換えられる。これに応じてセレクタ418はク
ロック信号CK1 を選択して、ラッチ回路420に供給
する。
【0065】このような構成において、カウンタ30か
らのmビットのカウント値S30がラッチ回路420に
より保持され、それぞれ各セレクタ401,402,
…,404,405に出力される。セレクタ401,4
02,…,404,405はカウント値S30の各ビッ
トの値に応じて、入力信号が選択して次段に出力する。
例えば、カウント値S30のm−1ビットが“1”にな
っているとき、セレクタ401により、入力端子1に入
力された信号、即ちバッファ406を介して遅延された
信号が選択され、次段のm−2段に出力される。m−2
段において、例えば、セレクタ402に入力された選択
制御信号が“0”になっているとき、セレクタ402に
より、入力端子0に入力された信号、即ち、バッファ4
07を経由せずに、前段の出力信号がそのまま次段へ出
力される。
らのmビットのカウント値S30がラッチ回路420に
より保持され、それぞれ各セレクタ401,402,
…,404,405に出力される。セレクタ401,4
02,…,404,405はカウント値S30の各ビッ
トの値に応じて、入力信号が選択して次段に出力する。
例えば、カウント値S30のm−1ビットが“1”にな
っているとき、セレクタ401により、入力端子1に入
力された信号、即ちバッファ406を介して遅延された
信号が選択され、次段のm−2段に出力される。m−2
段において、例えば、セレクタ402に入力された選択
制御信号が“0”になっているとき、セレクタ402に
より、入力端子0に入力された信号、即ち、バッファ4
07を経由せずに、前段の出力信号がそのまま次段へ出
力される。
【0066】ディジタル制御遅延線40の各段におい
て、上述したように、ラッチ回路420からのカウント
値S30の各ビットの値に応じて、各遅延段におけるバ
ッファの使用状況が決定され、入力端子inから入力さ
れた信号が出力端子outに出力までの遅延時間が設定
される。このため、カウンタ30からのカウント値S3
0に応じて、ディジタル制御遅延線40により生じた遅
延時間が決定され、これに応じて生成された発振信号の
位相または周波数がカウント値S30により設定され
る。
て、上述したように、ラッチ回路420からのカウント
値S30の各ビットの値に応じて、各遅延段におけるバ
ッファの使用状況が決定され、入力端子inから入力さ
れた信号が出力端子outに出力までの遅延時間が設定
される。このため、カウンタ30からのカウント値S3
0に応じて、ディジタル制御遅延線40により生じた遅
延時間が決定され、これに応じて生成された発振信号の
位相または周波数がカウント値S30により設定され
る。
【0067】図10はディジタル制御遅延線40のもう
一つの例を示す回路図である。本例のディジタル制御遅
延線40bにおいては、各段はANDゲート、バッファ
およびセレクタにより構成されている。m−1段におい
ては、ANDゲート411の一方の入力端子がラッチ回
路420の出力端子に接続され、他方の入力端子が入力
端子inに接続されている。ANDゲート411の出力
端子がバッファ406を介して、セレクタ401の入力
端子1に接続されている。セレクタ401の入力端子0
が入力端子inに接続されている。セレクタ401の選
択制御信号入力端子ckがラッチ回路420の出力端子
に接続されている。
一つの例を示す回路図である。本例のディジタル制御遅
延線40bにおいては、各段はANDゲート、バッファ
およびセレクタにより構成されている。m−1段におい
ては、ANDゲート411の一方の入力端子がラッチ回
路420の出力端子に接続され、他方の入力端子が入力
端子inに接続されている。ANDゲート411の出力
端子がバッファ406を介して、セレクタ401の入力
端子1に接続されている。セレクタ401の入力端子0
が入力端子inに接続されている。セレクタ401の選
択制御信号入力端子ckがラッチ回路420の出力端子
に接続されている。
【0068】ディジタル制御遅延線40のm−2,m−
3,…,1各段が上述したm−1段と同様に構成され、
前段のセレクタの出力端子が次段のセレクタの入力端子
0に接続され、さらに次段のANDゲートの一方の入力
端子に接続されている。最後段、即ち、ラッチ回路42
0のビットSO0に対応する0段はANDゲート415お
よびセレクタ405により構成されている。なお、本例
のディジタルPLL回路において、各段を構成するAN
Dゲートの遅延時間がtd に設定され、i段目を構成す
るバッファの遅延時間が2i td に設定されている。
3,…,1各段が上述したm−1段と同様に構成され、
前段のセレクタの出力端子が次段のセレクタの入力端子
0に接続され、さらに次段のANDゲートの一方の入力
端子に接続されている。最後段、即ち、ラッチ回路42
0のビットSO0に対応する0段はANDゲート415お
よびセレクタ405により構成されている。なお、本例
のディジタルPLL回路において、各段を構成するAN
Dゲートの遅延時間がtd に設定され、i段目を構成す
るバッファの遅延時間が2i td に設定されている。
【0069】このように構成された回路において、例え
ば、ラッチ回路420のm−1ビットが“1”に設定さ
れているとき、セレクタ401において、入力端子1の
入力信号が選択され、次段のm−2段へ出力される。こ
の場合、入力端子inに入力された信号がANDゲート
411およびバッファ406を介して遅延され、セレク
タ401を介して、次段へ出力される。また、ラッチ回
路420のm−2ビットが“0”に設定されていると
き、ANDゲート412の出力信号がローレベル、例え
ば、接地電位レベルに保持され、バッファ407は動作
せず、無駄な消費電力が防止される。このとき、前段の
出力信号がセレクタの入力端子0に入力され、セレクタ
を介して次段に出力される。
ば、ラッチ回路420のm−1ビットが“1”に設定さ
れているとき、セレクタ401において、入力端子1の
入力信号が選択され、次段のm−2段へ出力される。こ
の場合、入力端子inに入力された信号がANDゲート
411およびバッファ406を介して遅延され、セレク
タ401を介して、次段へ出力される。また、ラッチ回
路420のm−2ビットが“0”に設定されていると
き、ANDゲート412の出力信号がローレベル、例え
ば、接地電位レベルに保持され、バッファ407は動作
せず、無駄な消費電力が防止される。このとき、前段の
出力信号がセレクタの入力端子0に入力され、セレクタ
を介して次段に出力される。
【0070】上述のように、本回路例においては、各段
を構成するANDゲートとバッファの一段分の遅延時間
を等しくすれば、不要な回路動作が防ぐことができる。
ラッチ回路420により保持されたカウント値S30に
応じて、ディジタル制御遅延線40の遅延時間が決定さ
れ、これに応じて、発振信号の位相および周波数が制御
される。
を構成するANDゲートとバッファの一段分の遅延時間
を等しくすれば、不要な回路動作が防ぐことができる。
ラッチ回路420により保持されたカウント値S30に
応じて、ディジタル制御遅延線40の遅延時間が決定さ
れ、これに応じて、発振信号の位相および周波数が制御
される。
【0071】図11はプログラマブルマスク生成回路5
0の構成を示す回路図である。図示のように、本例のプ
ログラマブルマスク生成回路50は減算器501、エク
スクルーシブNORゲート502,503,…,50
5,506、ANDゲート707、RSフリップフロッ
プ508、ANDゲート509、アップカウンタ51
0、ORゲート511、NORゲート512、ANDゲ
ート513、エッジ検出回路514、RSフリップフロ
ップ515、516とにより構成されている。
0の構成を示す回路図である。図示のように、本例のプ
ログラマブルマスク生成回路50は減算器501、エク
スクルーシブNORゲート502,503,…,50
5,506、ANDゲート707、RSフリップフロッ
プ508、ANDゲート509、アップカウンタ51
0、ORゲート511、NORゲート512、ANDゲ
ート513、エッジ検出回路514、RSフリップフロ
ップ515、516とにより構成されている。
【0072】減算器501にnビットの入力端子を有
し、外部からnビットの制御信号SNが入力される。減
算器501のnビットの出力端子がそれぞれエクスクル
ーシブNORゲート502,503,…,505,50
6の一方の入力端子に接続され、エクスクルーシブNO
Rゲート502,503,…,505,506の他方の
入力端子がアップカウンタ510のnビットの出力端子
に接続されている。
し、外部からnビットの制御信号SNが入力される。減
算器501のnビットの出力端子がそれぞれエクスクル
ーシブNORゲート502,503,…,505,50
6の一方の入力端子に接続され、エクスクルーシブNO
Rゲート502,503,…,505,506の他方の
入力端子がアップカウンタ510のnビットの出力端子
に接続されている。
【0073】エクスクルーシブNORゲート502,5
03,…,505,506の出力端子がANDゲート5
07の入力端子に接続され、ANDゲート507の出力
端子がRSフリップフロップのセット信号入力端子Sに
接続され、RSフリップフロップのリセット信号入力端
子RがANDゲート509の出力端子に接続され、AN
Dゲートの入力端子がRSフリップフロップの出力端子
およびエッジ検出回路514の出力端子にそれぞれ接続
されている。
03,…,505,506の出力端子がANDゲート5
07の入力端子に接続され、ANDゲート507の出力
端子がRSフリップフロップのセット信号入力端子Sに
接続され、RSフリップフロップのリセット信号入力端
子RがANDゲート509の出力端子に接続され、AN
Dゲートの入力端子がRSフリップフロップの出力端子
およびエッジ検出回路514の出力端子にそれぞれ接続
されている。
【0074】アップカウンタ510のクロック入力端子
inがエッジ検出回路514の出力端子に接続され、リ
セット信号入力端子resetがORゲート511の出
力端子に接続されている。ORゲート511の入力端子
がそれぞれANDゲート509の出力端子およびリセッ
ト信号入力端子rstに接続されている。
inがエッジ検出回路514の出力端子に接続され、リ
セット信号入力端子resetがORゲート511の出
力端子に接続されている。ORゲート511の入力端子
がそれぞれANDゲート509の出力端子およびリセッ
ト信号入力端子rstに接続されている。
【0075】NORゲート512の一方の入力端子がク
ロック入力端子ckinに接続され、他方の入力端子が
RSフリップフロップ515の反転出力端子に接続され
ている。NORゲート512の出力端子がRSフリップ
フロップ516のセット信号入力端子Sに接続され、R
Sフリップフロップ516の出力端子がANDゲート5
13の一方の入力端子に接続され、ANDゲート513
の他方の入力端子がクロック入力端子ckinに接続さ
れている。ANDゲート513の出力端子がエッジ検出
回路514の入力端子に接続されている。RSフリップ
フロップ515および516のリセット信号入力端子R
がリセット信号入力端子rstに接続されている。
ロック入力端子ckinに接続され、他方の入力端子が
RSフリップフロップ515の反転出力端子に接続され
ている。NORゲート512の出力端子がRSフリップ
フロップ516のセット信号入力端子Sに接続され、R
Sフリップフロップ516の出力端子がANDゲート5
13の一方の入力端子に接続され、ANDゲート513
の他方の入力端子がクロック入力端子ckinに接続さ
れている。ANDゲート513の出力端子がエッジ検出
回路514の入力端子に接続されている。RSフリップ
フロップ515および516のリセット信号入力端子R
がリセット信号入力端子rstに接続されている。
【0076】減算器501に入力されたnビットの制御
信号SNが減算器501により、菜マイナス1した値が
出力される。また、アップカウンタ510により、クロ
ック入力端子ckinに入力されたクロックの第2番目
のパルスから計数され、計数値が減算器501から出力
されたnビットの値と比較され、比較結果が一致したと
き、RSフリップフロップ508の出力端子にマスク信
号Smkが出力される。マスク信号Smkのパルスにより、
アップカウンタ510がリセットされ、また、RSフリ
ップフロップもリセットされ、マスク信号Smkがローレ
ベルに保持される。
信号SNが減算器501により、菜マイナス1した値が
出力される。また、アップカウンタ510により、クロ
ック入力端子ckinに入力されたクロックの第2番目
のパルスから計数され、計数値が減算器501から出力
されたnビットの値と比較され、比較結果が一致したと
き、RSフリップフロップ508の出力端子にマスク信
号Smkが出力される。マスク信号Smkのパルスにより、
アップカウンタ510がリセットされ、また、RSフリ
ップフロップもリセットされ、マスク信号Smkがローレ
ベルに保持される。
【0077】図12は制御信号SNにより、減算器50
1に値“4”が設定された場合のプログラマブルマスク
生成回路50の動作を示す波形図である。図示のよう
に、クロック入力端子ckinに入力されたクロックの
2番目のパルスよりアップカウンタ510が計数を始
め、3番目のパルスが計数されたとき、マスク信号Smk
がハイレベルに設定され、これにより、プログラマブル
マスク生成回路50の出力端子outにクロックの4番
目のパルスが出力される。
1に値“4”が設定された場合のプログラマブルマスク
生成回路50の動作を示す波形図である。図示のよう
に、クロック入力端子ckinに入力されたクロックの
2番目のパルスよりアップカウンタ510が計数を始
め、3番目のパルスが計数されたとき、マスク信号Smk
がハイレベルに設定され、これにより、プログラマブル
マスク生成回路50の出力端子outにクロックの4番
目のパルスが出力される。
【0078】プログラマブルマスク生成回路50の出力
端子outに出力された信号が発振信号として位相比較
器20に入力され、位相比較器20により基準クロック
信号CK2 との位相比較が行われる。そして、比較結果
に応じてアップ信号Supまたはダウン信号Sdwが発生さ
れ、カウンタ30に出力される。
端子outに出力された信号が発振信号として位相比較
器20に入力され、位相比較器20により基準クロック
信号CK2 との位相比較が行われる。そして、比較結果
に応じてアップ信号Supまたはダウン信号Sdwが発生さ
れ、カウンタ30に出力される。
【0079】上述した回路により図1に示すディジタル
PLL回路が構成される。図13と図14は本例のディ
ジタルPLL回路の立ち上がり時の動作を示す波形図で
ある。図13と図14はそれぞれ立ち上がり時の異なる
状況を示している。以下、これらの図を参照しつつ、本
例のディジタルPLL回路の立ち上がり動作について説
明する。
PLL回路が構成される。図13と図14は本例のディ
ジタルPLL回路の立ち上がり時の動作を示す波形図で
ある。図13と図14はそれぞれ立ち上がり時の異なる
状況を示している。以下、これらの図を参照しつつ、本
例のディジタルPLL回路の立ち上がり動作について説
明する。
【0080】前述のように、カウンタ30が動作開始
後、ディジタルPLL回路がロック状態に達するまで
に、位相比較器20からのアップ信号Supおよびダウン
信号Sdwに基づきmビットのカウント値の内の最上位ビ
ット、即ち、m−1ビットから最下位ビット、即ち0ビ
ットに向かって各ビットの値を決定する。そして、ディ
ジタルPLL回路がロック状態に達した後、位相比較器
20からのアップ信号Supおよびダウン信号Sdwに応じ
て、アップダウンカウンタ302により基準クロック信
号CK2 の変化に追従していく。
後、ディジタルPLL回路がロック状態に達するまで
に、位相比較器20からのアップ信号Supおよびダウン
信号Sdwに基づきmビットのカウント値の内の最上位ビ
ット、即ち、m−1ビットから最下位ビット、即ち0ビ
ットに向かって各ビットの値を決定する。そして、ディ
ジタルPLL回路がロック状態に達した後、位相比較器
20からのアップ信号Supおよびダウン信号Sdwに応じ
て、アップダウンカウンタ302により基準クロック信
号CK2 の変化に追従していく。
【0081】図13に示すように、まずカウンタ30の
最上位ビット、m−1ビットが“1”に設定され、これ
に応じてディジタル制御遅延線40により発生されたク
ロックの周波数はfm-1 で、周期は1/fm-1 である。
ここで、ディジタルPLL回路の目標周波数は位相比較
器20に入力された基準クロック信号CK2 の周波数f
0 である。
最上位ビット、m−1ビットが“1”に設定され、これ
に応じてディジタル制御遅延線40により発生されたク
ロックの周波数はfm-1 で、周期は1/fm-1 である。
ここで、ディジタルPLL回路の目標周波数は位相比較
器20に入力された基準クロック信号CK2 の周波数f
0 である。
【0082】位相比較器20において、基準クロック信
号CK2 とプログラマブルマスク生成回路50からの発
振信号S50の位相が比較され、比較結果に応じて、周
期をアップさせる必要があり、位相比較器20からカウ
ンタ30にアップ信号Supが出力される。これにより、
カウンタ30において、m−1ビットが“1”に設定さ
れたまま、m−2ビットが“1”に設定される。このと
きのディジタル制御遅延線40の出力信号の周波数がf
m-2 で、周期は1/fm-2 である。
号CK2 とプログラマブルマスク生成回路50からの発
振信号S50の位相が比較され、比較結果に応じて、周
期をアップさせる必要があり、位相比較器20からカウ
ンタ30にアップ信号Supが出力される。これにより、
カウンタ30において、m−1ビットが“1”に設定さ
れたまま、m−2ビットが“1”に設定される。このと
きのディジタル制御遅延線40の出力信号の周波数がf
m-2 で、周期は1/fm-2 である。
【0083】位相比較器20において、基準クロック信
号CK2 とプログラマブルマスク生成回路50からの発
振信号S50の位相が比較され、比較結果に応じて、周
期をダウンさせる必要があり、位相比較器20からカウ
ンタ30に向かって、ダウン信号Sdwが出力される。こ
れにより、カウンタ30において、m−2ビットを
“0”に設定され、m−3ビットを“1”に設定され
る。
号CK2 とプログラマブルマスク生成回路50からの発
振信号S50の位相が比較され、比較結果に応じて、周
期をダウンさせる必要があり、位相比較器20からカウ
ンタ30に向かって、ダウン信号Sdwが出力される。こ
れにより、カウンタ30において、m−2ビットを
“0”に設定され、m−3ビットを“1”に設定され
る。
【0084】上記の動作をカウンタ30の0ビットまで
繰り返し行われ、最後にプログラマブルマスク生成回路
50からの発振信号S50の周波数が基準クロック信号
CK 2 の周波数と一致して、ディジタルPLL回路がロ
ック状態になる。これに応じて、カウンタ30よりロッ
ク信号Send が発生され、それ以降カウンタ30にある
アップダウンカウンタ302により、位相比較器20か
らのアップ信号Supおよびダウン信号Sdwに応じて、基
準クロック信号CK2 の変化に追従していく。
繰り返し行われ、最後にプログラマブルマスク生成回路
50からの発振信号S50の周波数が基準クロック信号
CK 2 の周波数と一致して、ディジタルPLL回路がロ
ック状態になる。これに応じて、カウンタ30よりロッ
ク信号Send が発生され、それ以降カウンタ30にある
アップダウンカウンタ302により、位相比較器20か
らのアップ信号Supおよびダウン信号Sdwに応じて、基
準クロック信号CK2 の変化に追従していく。
【0085】図14はディジタルPLL回路の立ち上が
り時の他の動作例を示す波形図である。本例において
は、カウンタ30の最上位ビット、即ちm−1ビットが
“1”に設定され、プログラマブルマスク生成回路50
により発生された発振信号S50の周波数は1/fm-1
になる。このとき、位相比較器20により位相比較の結
果、周波数がダウンさせる必要があり、これに応じて、
カウンタ30のm−1ビットが“0”に設定され、m−
2ビットが“1”に設定される。これ状態において、位
相比較器20により、基準クロック信号CK2 とプログ
ラマブルマスク生成回路50からの発振信号S50との
位相が比較され、比較結果に応じてカウンタ30がm−
2ビットを決定する。以降、目標周波数f0 に達するま
でビット0に向かってこの動作が繰り返し行われる。目
標周波数f0 に達したとき、即ち、ディジタルPLL回
路がロック状態に達したとき、カウンタ30によりロッ
ク信号Send が発生され、それ以降、カウンタ30のア
ップダウンカウンタ302により、位相比較器20から
アップ信号Supおよびダウン信号Sdwに応じて、基準ク
ロック信号CK2 の変化に追従していく。
り時の他の動作例を示す波形図である。本例において
は、カウンタ30の最上位ビット、即ちm−1ビットが
“1”に設定され、プログラマブルマスク生成回路50
により発生された発振信号S50の周波数は1/fm-1
になる。このとき、位相比較器20により位相比較の結
果、周波数がダウンさせる必要があり、これに応じて、
カウンタ30のm−1ビットが“0”に設定され、m−
2ビットが“1”に設定される。これ状態において、位
相比較器20により、基準クロック信号CK2 とプログ
ラマブルマスク生成回路50からの発振信号S50との
位相が比較され、比較結果に応じてカウンタ30がm−
2ビットを決定する。以降、目標周波数f0 に達するま
でビット0に向かってこの動作が繰り返し行われる。目
標周波数f0 に達したとき、即ち、ディジタルPLL回
路がロック状態に達したとき、カウンタ30によりロッ
ク信号Send が発生され、それ以降、カウンタ30のア
ップダウンカウンタ302により、位相比較器20から
アップ信号Supおよびダウン信号Sdwに応じて、基準ク
ロック信号CK2 の変化に追従していく。
【0086】以上のようなディジタルPLL回路によ
り、カウンタ30とディジタル制御遅延線40のビット
数mを大きく設定することで、ディジタルPLL回路の
出力周波数の精度が向上する。よって、従来では、相反
する問題であったディジタルPLL回路のロックアップ
時間の短縮と、出力周波数の精度の向上とが、同時に容
易に実現する。
り、カウンタ30とディジタル制御遅延線40のビット
数mを大きく設定することで、ディジタルPLL回路の
出力周波数の精度が向上する。よって、従来では、相反
する問題であったディジタルPLL回路のロックアップ
時間の短縮と、出力周波数の精度の向上とが、同時に容
易に実現する。
【0087】以上説明したように、本実施形態によれ
ば、クロック制御回路10はクロック信号CLKに応じ
て、クロック信号CK2 を発生し、位相比較器20はク
ロック信号CK2 を基準クロックとしてプログラマブル
マスク生成回路50からの発振信号S50との位相比較
を行い、比較結果に応じてアップ信号Supまたはダウン
信号Sdwを発生しカウンタ30に出力する。カウンタ3
0は位相比較器20からの制御信号に応じて最上位ビッ
トから最下位ビットに向かって各ビットの値を順次決定
し、mビットのカウント値S30を設定しディジタル制
御遅延線40に出力し、発振信号S40の周波数を制御
し、プログラマブルマスク生成回路50により、発振信
号S40に応じて、逓倍信号S50を発生し、位相比較
器20に出力し、ロック状態に達した後、位相比較器2
0からの制御信号に応じて、基準クロック信号CK2 の
変化に追従していくので、ディジタルPLL回路のロッ
クアップ時間を短縮でき、ロックアップ時間の短縮と周
波数の精度向上という相反する問題を同時に容易に解決
できる。
ば、クロック制御回路10はクロック信号CLKに応じ
て、クロック信号CK2 を発生し、位相比較器20はク
ロック信号CK2 を基準クロックとしてプログラマブル
マスク生成回路50からの発振信号S50との位相比較
を行い、比較結果に応じてアップ信号Supまたはダウン
信号Sdwを発生しカウンタ30に出力する。カウンタ3
0は位相比較器20からの制御信号に応じて最上位ビッ
トから最下位ビットに向かって各ビットの値を順次決定
し、mビットのカウント値S30を設定しディジタル制
御遅延線40に出力し、発振信号S40の周波数を制御
し、プログラマブルマスク生成回路50により、発振信
号S40に応じて、逓倍信号S50を発生し、位相比較
器20に出力し、ロック状態に達した後、位相比較器2
0からの制御信号に応じて、基準クロック信号CK2 の
変化に追従していくので、ディジタルPLL回路のロッ
クアップ時間を短縮でき、ロックアップ時間の短縮と周
波数の精度向上という相反する問題を同時に容易に解決
できる。
【0088】第2実施形態 図15は本発明に係るディジタルPLL回路の第2の実
施形態を示す回路図である。図示のように、本例のディ
ジタルPLL回路はクロック発生器101、位相比較器
20、カウンタ30、ディジタル制御遅延線40’、プ
ログラマブルマスク生成回路50、RSフリップフロッ
プ12,18、ANDゲート13,14,15,19,
80、ORゲート17,60、分周器70,90により
構成されている。なお、ディジタル制御遅延線40’は
図9または図10に示すディジタル制御遅延線40a,
40bの何れかにより構成されている。
施形態を示す回路図である。図示のように、本例のディ
ジタルPLL回路はクロック発生器101、位相比較器
20、カウンタ30、ディジタル制御遅延線40’、プ
ログラマブルマスク生成回路50、RSフリップフロッ
プ12,18、ANDゲート13,14,15,19,
80、ORゲート17,60、分周器70,90により
構成されている。なお、ディジタル制御遅延線40’は
図9または図10に示すディジタル制御遅延線40a,
40bの何れかにより構成されている。
【0089】クロック発生回路101のクロック入力端
子ckがクロック信号CLKの入力端子に接続され、リ
セット信号入力端子resetがリセット信号RSTの
入力端子に接続されている。クロック信号CK0 の出力
端子が位相比較器20、カウンタ30およびディジタル
制御遅延線40’に接続され、クロック信号CK1 の出
力端子がANDゲート14の入力端子およびディジタル
制御遅延線40’に接続されている。クロック信号CK
2 の出力端子がANDゲート15および位相比較器20
に接続されている。
子ckがクロック信号CLKの入力端子に接続され、リ
セット信号入力端子resetがリセット信号RSTの
入力端子に接続されている。クロック信号CK0 の出力
端子が位相比較器20、カウンタ30およびディジタル
制御遅延線40’に接続され、クロック信号CK1 の出
力端子がANDゲート14の入力端子およびディジタル
制御遅延線40’に接続されている。クロック信号CK
2 の出力端子がANDゲート15および位相比較器20
に接続されている。
【0090】位相比較器20のアップ信号Supおよびダ
ウン信号Sdwの出力端子がカウンタ30に接続され、カ
ウンタ30のロック信号Send の出力端子がANDゲー
ト13、ORゲート16およびANDゲート80の入力
端子に接続されている。ディジタル制御遅延線40’の
出力端子がANDゲート19の一方の入力端子に接続さ
れ、ANDゲート19の他方の入力端子がRSフリップ
フロップ18の出力端子に接続されている。ANDゲー
トの出力端子がORゲート17の一方の入力端子に接続
され、ORゲート17の他方の入力端子がANDゲート
14の出力端子に接続されている。ORゲート17の出
力端子がディジタル制御遅延線40’のクロック入力端
子inに接続されいる。
ウン信号Sdwの出力端子がカウンタ30に接続され、カ
ウンタ30のロック信号Send の出力端子がANDゲー
ト13、ORゲート16およびANDゲート80の入力
端子に接続されている。ディジタル制御遅延線40’の
出力端子がANDゲート19の一方の入力端子に接続さ
れ、ANDゲート19の他方の入力端子がRSフリップ
フロップ18の出力端子に接続されている。ANDゲー
トの出力端子がORゲート17の一方の入力端子に接続
され、ORゲート17の他方の入力端子がANDゲート
14の出力端子に接続されている。ORゲート17の出
力端子がディジタル制御遅延線40’のクロック入力端
子inに接続されいる。
【0091】ディジタル制御遅延線40’のクロック出
力端子outがORゲート60の一方の入力端子に接続
され、他方の入力端子がANDゲート14の出力端子に接
続されている。ORゲート60の出力端子が分周器70
の入力端子に接続され、分周器70の出力端子がAND
ゲート80の一方の入力端子に接続され、他方の入力端
子がカウンタ30のロック信号Send の出力端子に接続
されている。ANDゲート80の出力端子がディジタル
PLL回路のクロック信号出力端子に接続されている。
力端子outがORゲート60の一方の入力端子に接続
され、他方の入力端子がANDゲート14の出力端子に接
続されている。ORゲート60の出力端子が分周器70
の入力端子に接続され、分周器70の出力端子がAND
ゲート80の一方の入力端子に接続され、他方の入力端
子がカウンタ30のロック信号Send の出力端子に接続
されている。ANDゲート80の出力端子がディジタル
PLL回路のクロック信号出力端子に接続されている。
【0092】分周器70の出力端子がプログラマブルマ
スク生成回路50のクロック入力端子ckinに接続さ
れ、プログラマブルマスク生成回路50のリセット信号
入力端子resetがANDゲート14の出力端子に接
続されている。プログラマブルマスク生成回路50のク
ロック出力端子outが分周器90の入力端子に接続さ
れ、分周器90のリセット信号入力端子がANDゲート
14の出力端子に接続されている。さらに分周器90の
クロック出力端子が位相比較器20に接続されている。
スク生成回路50のクロック入力端子ckinに接続さ
れ、プログラマブルマスク生成回路50のリセット信号
入力端子resetがANDゲート14の出力端子に接
続されている。プログラマブルマスク生成回路50のク
ロック出力端子outが分周器90の入力端子に接続さ
れ、分周器90のリセット信号入力端子がANDゲート
14の出力端子に接続されている。さらに分周器90の
クロック出力端子が位相比較器20に接続されている。
【0093】分周器90はプログラマブルマスク生成回
路50からの発振信号を2分周して、分周信号S90を
比較対象信号Svar として位相比較器20に出力する。
また、分周器90はクロック信号CK1Sを受けて、この
信号によりリセットされる。
路50からの発振信号を2分周して、分周信号S90を
比較対象信号Svar として位相比較器20に出力する。
また、分周器90はクロック信号CK1Sを受けて、この
信号によりリセットされる。
【0094】図16および図17は図15に示すディジ
タルPLL回路の動作を示す波形図である。以下、図1
5、図16および図17を参照しながら、本回路例の動
作について説明する。なお、図16はディジタルPLL
回路がロックする前の動作を示し、図17はロックした
後の動作を示している。ここで、プログラマブルマスク
生成回路50は制御信号SNにより、n=4と設定さ
れ、即ち、クロック入力端子ckinに入力された信号
に対して4分周を行い、分周信号を分周器90に出力す
る。
タルPLL回路の動作を示す波形図である。以下、図1
5、図16および図17を参照しながら、本回路例の動
作について説明する。なお、図16はディジタルPLL
回路がロックする前の動作を示し、図17はロックした
後の動作を示している。ここで、プログラマブルマスク
生成回路50は制御信号SNにより、n=4と設定さ
れ、即ち、クロック入力端子ckinに入力された信号
に対して4分周を行い、分周信号を分周器90に出力す
る。
【0095】図16に示すように、リセット信号RST
がハイレベルからローレベルに切り換えられた後、ディ
ジタルPLL回路が動作を開始する。クロック発生回路
101により、クロック信号CLKパルス1の立ち下が
りエッジでクロック信号CK 0 がパルス1が生成され、
クロック信号CLKのパルス2の立ち上がりエッジでク
ロック信号CK1 のパルス1が生成され、さらに、クロ
ック信号CLKのパルス3が立ち上がりエッジでクロッ
ク信号CK2 のパルス1が生成される。
がハイレベルからローレベルに切り換えられた後、ディ
ジタルPLL回路が動作を開始する。クロック発生回路
101により、クロック信号CLKパルス1の立ち下が
りエッジでクロック信号CK 0 がパルス1が生成され、
クロック信号CLKのパルス2の立ち上がりエッジでク
ロック信号CK1 のパルス1が生成され、さらに、クロ
ック信号CLKのパルス3が立ち上がりエッジでクロッ
ク信号CK2 のパルス1が生成される。
【0096】また、図16に示すように、ディジタルP
LL回路がロック状態に達するまでクロック信号CK1
と同様なタイミングで、ANDゲート13,14および
RSフリップフロップ12で構成された回路により、ク
ロック信号CK1Sが生成される。クロック信号CK1Sに
より、プログラマブルマスク生成回路50および分周器
90がそれぞれリセットされる。
LL回路がロック状態に達するまでクロック信号CK1
と同様なタイミングで、ANDゲート13,14および
RSフリップフロップ12で構成された回路により、ク
ロック信号CK1Sが生成される。クロック信号CK1Sに
より、プログラマブルマスク生成回路50および分周器
90がそれぞれリセットされる。
【0097】また、クロック信号CK1SがORゲート1
6を介してRSフリップフロップ18のセット信号入力
端子Sに入力される。これに応じてRSフリップフロッ
プがセットされる。このため、ディジタル制御遅延線4
0’の出力信号S40がANDゲート19およびORゲ
ート17を介して、ディジタル制御遅延線40’の入力
側に帰還され、発振信号S40が生成される。
6を介してRSフリップフロップ18のセット信号入力
端子Sに入力される。これに応じてRSフリップフロッ
プがセットされる。このため、ディジタル制御遅延線4
0’の出力信号S40がANDゲート19およびORゲ
ート17を介して、ディジタル制御遅延線40’の入力
側に帰還され、発振信号S40が生成される。
【0098】一方、RSフリップフロップ18はリセッ
ト信号RSTまたは基準クロック信号CK2 の何れかに
よりリセットされる。RSフリップフロップ18がリセ
ットされると、ANDゲート19の出力端子がローレベ
ルに保持され、ディジタル制御遅延線40’の発振動作
が停止する。このように、リセット信号RSTによりR
Sフリップフロップ18およびディジタル制御遅延線4
0’が初期化状態から動作が始まる。最初のクロック信
号CK1Sにより、RSフリップフロップ18がセットさ
れ、ディジタル制御遅延線40’の帰還ループが形成さ
れる。また、クロック信号CK1SがORゲート17を介
してディジタル制御遅延線40’の入力端子に入力さ
れ、これによりディジタル制御遅延線40’が発振動作
を開始する。
ト信号RSTまたは基準クロック信号CK2 の何れかに
よりリセットされる。RSフリップフロップ18がリセ
ットされると、ANDゲート19の出力端子がローレベ
ルに保持され、ディジタル制御遅延線40’の発振動作
が停止する。このように、リセット信号RSTによりR
Sフリップフロップ18およびディジタル制御遅延線4
0’が初期化状態から動作が始まる。最初のクロック信
号CK1Sにより、RSフリップフロップ18がセットさ
れ、ディジタル制御遅延線40’の帰還ループが形成さ
れる。また、クロック信号CK1SがORゲート17を介
してディジタル制御遅延線40’の入力端子に入力さ
れ、これによりディジタル制御遅延線40’が発振動作
を開始する。
【0099】そして、クロック信号CK2 によりRSフ
リップフロップ18がリセットされ、ディジタル制御遅
延線40’の発振動作が停止する。このように、ディジ
タルPLL回路がロック状態に達するまで、ディジタル
制御遅延線40’において間欠動作で発振信号S40が
発生され、クロック信号CK1Sとクロック信号CK2 の
間のみ発振信号S40が出力される。
リップフロップ18がリセットされ、ディジタル制御遅
延線40’の発振動作が停止する。このように、ディジ
タルPLL回路がロック状態に達するまで、ディジタル
制御遅延線40’において間欠動作で発振信号S40が
発生され、クロック信号CK1Sとクロック信号CK2 の
間のみ発振信号S40が出力される。
【0100】発振信号S40がORゲート60を介して
分周器70に入力され、分周信号d out が生成され、プ
ログラマブルマスク生成回路50に出力される。プログ
ラマブルマスク生成回路50において、制御信号SNに
より設定された値に基づいて、マスク信号Smkを生成し
分周信号dout から所定のパルスが選択されて、分周器
90に出力される。分周器90はクロック信号CK1Sに
よりリセットされ、初期状態に設定されているので、プ
ログラマブルマスク生成回路50からのパルスがそのま
ま比較対象信号Svar として位相比較器20に出力され
る。
分周器70に入力され、分周信号d out が生成され、プ
ログラマブルマスク生成回路50に出力される。プログ
ラマブルマスク生成回路50において、制御信号SNに
より設定された値に基づいて、マスク信号Smkを生成し
分周信号dout から所定のパルスが選択されて、分周器
90に出力される。分周器90はクロック信号CK1Sに
よりリセットされ、初期状態に設定されているので、プ
ログラマブルマスク生成回路50からのパルスがそのま
ま比較対象信号Svar として位相比較器20に出力され
る。
【0101】位相比較器20により、クロック発生回路
101からのクロック信号CK2 を基準クロックとし
て、分周器90からの発振信号S90との位相比較が行
われる。比較結果に応じて、アップ信号Supまたはダウ
ン信号Sdwが発生され、カウンタ30に出力される。カ
ウンタ30は位相比較器20からのアップ信号Supおよ
びダウン信号Sdwに応じて、最上位ビットから最下位ビ
ットに向かって順次値が決定され、mビットのカウント
値S30がディジタル制御遅延線40’に出力される。
101からのクロック信号CK2 を基準クロックとし
て、分周器90からの発振信号S90との位相比較が行
われる。比較結果に応じて、アップ信号Supまたはダウ
ン信号Sdwが発生され、カウンタ30に出力される。カ
ウンタ30は位相比較器20からのアップ信号Supおよ
びダウン信号Sdwに応じて、最上位ビットから最下位ビ
ットに向かって順次値が決定され、mビットのカウント
値S30がディジタル制御遅延線40’に出力される。
【0102】ディジタル制御遅延線40’はカウント値
S30に応じて遅延時間が制御される。また、ディジタ
ル制御遅延線40’の出力端子outがANDゲート1
9およびORゲート17を介して入力端子in接続さ
れ、ループが形成されているので、遅延時間に応じて、
生成された発振信号S40の周波数が制御される。
S30に応じて遅延時間が制御される。また、ディジタ
ル制御遅延線40’の出力端子outがANDゲート1
9およびORゲート17を介して入力端子in接続さ
れ、ループが形成されているので、遅延時間に応じて、
生成された発振信号S40の周波数が制御される。
【0103】ディジタル制御遅延線40’により生成さ
れた発振信号S40がORゲート60を介して分周器7
0に出力され、分周器70により2分周された発振信号
dou t がANDゲート80およびプログラマブルマスク
生成回路50に出力される。ANDゲート80の他方の
入力端子にカウンタ30からのロック信号Send が入力
され、ディジタルPLL回路がロック状態に達したと
き、ロック信号Sendがローレベルからハイレベルに切
り換わった後、発振信号dout がANDゲート80の出
力端子に出力される。
れた発振信号S40がORゲート60を介して分周器7
0に出力され、分周器70により2分周された発振信号
dou t がANDゲート80およびプログラマブルマスク
生成回路50に出力される。ANDゲート80の他方の
入力端子にカウンタ30からのロック信号Send が入力
され、ディジタルPLL回路がロック状態に達したと
き、ロック信号Sendがローレベルからハイレベルに切
り換わった後、発振信号dout がANDゲート80の出
力端子に出力される。
【0104】分周器70からの発振信号dout がプログ
ラマブルマスク生成回路50に出力される。プログラマ
ブルマスク生成回路50において、入力された制御信号
SNにより設定された値に応じて、発振信号dout から
所定の間隔でパルスが選択されて分周器90に出力され
る。例えば、制御信号SNにより、値n=4が設定され
たとき、図16に示すように、プログラマブルマスク生
成回路50により、発振信号dout より4番目のクロッ
クが選択され、分周器90に出力される。
ラマブルマスク生成回路50に出力される。プログラマ
ブルマスク生成回路50において、入力された制御信号
SNにより設定された値に応じて、発振信号dout から
所定の間隔でパルスが選択されて分周器90に出力され
る。例えば、制御信号SNにより、値n=4が設定され
たとき、図16に示すように、プログラマブルマスク生
成回路50により、発振信号dout より4番目のクロッ
クが選択され、分周器90に出力される。
【0105】分周器90により、プログラマブルマスク
生成回路50からのクロックが2分周され、発振信号S
var として位相比較器20に出力される。位相比較器2
0において、クロック発生回路101からの基準クロッ
ク信号CK2 と分周器90からの発振信号S90との位
相が比較され、比較結果に応じてアップ信号Supまたは
ダウン信号Sdwが生成され、カウンタ30に出力され
る。例えば、位相比較の結果、発振信号S90の周期が
長い場合には、ダウン信号Sdwが出力され、その逆の場
合には、アップ信号Supが出力される。
生成回路50からのクロックが2分周され、発振信号S
var として位相比較器20に出力される。位相比較器2
0において、クロック発生回路101からの基準クロッ
ク信号CK2 と分周器90からの発振信号S90との位
相が比較され、比較結果に応じてアップ信号Supまたは
ダウン信号Sdwが生成され、カウンタ30に出力され
る。例えば、位相比較の結果、発振信号S90の周期が
長い場合には、ダウン信号Sdwが出力され、その逆の場
合には、アップ信号Supが出力される。
【0106】位相比較器20からのアップ信号Supおよ
びダウン信号Sdwに応じて、カウンタ30により、最上
位ビットから最下位ビットに向かってmビットのカウン
ト値S30の値が順次設定され、これに応じて、ディジ
タル制御遅延線40’により、発生された発振信号S4
0の周波数が制御される。
びダウン信号Sdwに応じて、カウンタ30により、最上
位ビットから最下位ビットに向かってmビットのカウン
ト値S30の値が順次設定され、これに応じて、ディジ
タル制御遅延線40’により、発生された発振信号S4
0の周波数が制御される。
【0107】分周器90により生成された発振信号S9
0の周波数が基準クロック信号CK 2 の周波数と一致す
るまたは極めて近い場合に、ディジタルPLL回路がロ
ック状態に達したと判断され、カウンタ30によりロッ
ク信号Send が発生される。これに応じて、ANDゲー
ト80により、発振信号dout が出力される。
0の周波数が基準クロック信号CK 2 の周波数と一致す
るまたは極めて近い場合に、ディジタルPLL回路がロ
ック状態に達したと判断され、カウンタ30によりロッ
ク信号Send が発生される。これに応じて、ANDゲー
ト80により、発振信号dout が出力される。
【0108】なお、ディジタルPLL回路がロック状態
になった後、発振信号dout の周波数f0 はプログラマ
ブルマスク生成回路50に入力された制御信号SNによ
り設定された値でクロック発生回路101に入力された
クロック信号CLKに対して逓倍された周波数となる。
本例の場合では、プログラマブルマスク生成回路50に
おいて、制御信号SNにより、値4が設定されているの
で、ディジタルPLL回路により生成された発振信号d
out の周波数f0 はクロック信号CLKの周波数finの
4倍となる。
になった後、発振信号dout の周波数f0 はプログラマ
ブルマスク生成回路50に入力された制御信号SNによ
り設定された値でクロック発生回路101に入力された
クロック信号CLKに対して逓倍された周波数となる。
本例の場合では、プログラマブルマスク生成回路50に
おいて、制御信号SNにより、値4が設定されているの
で、ディジタルPLL回路により生成された発振信号d
out の周波数f0 はクロック信号CLKの周波数finの
4倍となる。
【0109】ディジタルPLL回路がロック状態になっ
た後、カウンタ30からのロック信号Send がハイレベ
ルに切り換わる。これに応じて、クロック信号CK1Sが
一回のみパルスが出力され、その後ローレベルに保持さ
れる。また、ANDゲート15の出力端子がローレベル
に保持され、リセット信号RSTのレベル変化を除け
ば、RSフリップフロップ18がリセットれることな
く、出力端子がハイレベルに保持される。このため、デ
ィジタル制御遅延線40’の帰還ループが保たれ、ディ
ジタル制御遅延線40’により連続発振が行われる。ま
た、クロック信号CK1Sがローレベルに保持されている
ので、分周器90がリセットされることなく、通常の2
分周動作を行うので、プログラマブルマスク生成回路5
0からの発振パルスに対して、2回に1回の割合で発振
信号S90が発生され、比較対象信号Svar として位相
比較器20に出力される。 さらに、ロック信号Send が
ハイレベルに保持されているので、分周器70からの発
振信号dout がANDゲート80を介して、信号Sout
として出力される。
た後、カウンタ30からのロック信号Send がハイレベ
ルに切り換わる。これに応じて、クロック信号CK1Sが
一回のみパルスが出力され、その後ローレベルに保持さ
れる。また、ANDゲート15の出力端子がローレベル
に保持され、リセット信号RSTのレベル変化を除け
ば、RSフリップフロップ18がリセットれることな
く、出力端子がハイレベルに保持される。このため、デ
ィジタル制御遅延線40’の帰還ループが保たれ、ディ
ジタル制御遅延線40’により連続発振が行われる。ま
た、クロック信号CK1Sがローレベルに保持されている
ので、分周器90がリセットされることなく、通常の2
分周動作を行うので、プログラマブルマスク生成回路5
0からの発振パルスに対して、2回に1回の割合で発振
信号S90が発生され、比較対象信号Svar として位相
比較器20に出力される。 さらに、ロック信号Send が
ハイレベルに保持されているので、分周器70からの発
振信号dout がANDゲート80を介して、信号Sout
として出力される。
【0110】本実施形態においては、ディジタルPLL
回路がロック状態に達した後、プログラマブルマスク生
成回路50の出力信号が分周器90により分周され、位
相比較器20における位相比較動作が外部クロック信号
CLKに対して2回に1回行われる。
回路がロック状態に達した後、プログラマブルマスク生
成回路50の出力信号が分周器90により分周され、位
相比較器20における位相比較動作が外部クロック信号
CLKに対して2回に1回行われる。
【0111】第3実施形態 図18は本発明に係るディジタルPLL回路の第3の実
施形態を示す回路図である。図示のように、本実施形態
のディジタルPLL回路では、ディジタル制御遅延線4
0c,40dの二つの遅延回路が設けられ、また、OR
ゲート60aが3入力ORゲートにより構成されてい
る。
施形態を示す回路図である。図示のように、本実施形態
のディジタルPLL回路では、ディジタル制御遅延線4
0c,40dの二つの遅延回路が設けられ、また、OR
ゲート60aが3入力ORゲートにより構成されてい
る。
【0112】ディジタル制御遅延線40cの出力端子o
utがディジタル制御遅延線40dの入力端子およびO
Rゲート60aの一つの入力端子に接続され、ディジタ
ル制御遅延線40dの出力端子outがANDゲート1
9の一方の入力端子に接続されている。
utがディジタル制御遅延線40dの入力端子およびO
Rゲート60aの一つの入力端子に接続され、ディジタ
ル制御遅延線40dの出力端子outがANDゲート1
9の一方の入力端子に接続されている。
【0113】本実施形態におけるディジタルPLL回路
の他の部分は図15に示すディジタルPLL回路の第2
の実施形態と同様である。以下、異なる部分についての
み説明を行う。本例においては、ディジタル制御遅延線
40c,40dを二つ設けることにより、各々の遅延回
路は周波数f0 で動作することになる。なお、ここで、
f0 は分周器70の出力信号、即ち、発振信号dout の
周波数である。
の他の部分は図15に示すディジタルPLL回路の第2
の実施形態と同様である。以下、異なる部分についての
み説明を行う。本例においては、ディジタル制御遅延線
40c,40dを二つ設けることにより、各々の遅延回
路は周波数f0 で動作することになる。なお、ここで、
f0 は分周器70の出力信号、即ち、発振信号dout の
周波数である。
【0114】図15に示す第2の実施形態においては、
ディジタル制御遅延線40の動作周波数が2f0 である
に対して、本例におけるディジタル制御遅延線40c,
40dの動作周波数は半分となるので、より高い出力周
波数に対する内部回路の動作が可能となる。
ディジタル制御遅延線40の動作周波数が2f0 である
に対して、本例におけるディジタル制御遅延線40c,
40dの動作周波数は半分となるので、より高い出力周
波数に対する内部回路の動作が可能となる。
【0115】第4実施形態 図19は本発明に係るディジタルPLL回路の第4の実
施形態を示す回路図である。図19においては、ディジ
タルPLL回路DPLLは図1に示す第1の実施形態と
同様である。外部から入力されたクロック信号CLKお
よびそのM分周された信号がセレクタSEL1 により選
択されてディジタルPLL回路DPLLのクロック入力
端子に出力される。
施形態を示す回路図である。図19においては、ディジ
タルPLL回路DPLLは図1に示す第1の実施形態と
同様である。外部から入力されたクロック信号CLKお
よびそのM分周された信号がセレクタSEL1 により選
択されてディジタルPLL回路DPLLのクロック入力
端子に出力される。
【0116】セレクタSEL1 はカウンタ30からのロ
ック信号Send により制御され、ロック信号Send がロ
ーレベルのとき、クロック信号CLKが選択されディジ
タルPLL回路DPLLに出力され、ロック信号Send
がハイレベルのとき、分周器FDV1 によりM分周され
たクロック信号CLKの分周信号が選択され、ディジタ
ルPLL回路DPLLに出力される。
ック信号Send により制御され、ロック信号Send がロ
ーレベルのとき、クロック信号CLKが選択されディジ
タルPLL回路DPLLに出力され、ロック信号Send
がハイレベルのとき、分周器FDV1 によりM分周され
たクロック信号CLKの分周信号が選択され、ディジタ
ルPLL回路DPLLに出力される。
【0117】プログラマブルマスク生成回路50はセレ
クタSEL2 からのnビットの制御信号により動作が制
御される。セレクタSEL2 の一方の入力には制御信号
SMが入力され、もう一方の入力には制御信号SNが入
力される。制御信号SMにより、nビットの値N×Mが
設定され、制御信号SNにより、nビットの値Nが設定
される。
クタSEL2 からのnビットの制御信号により動作が制
御される。セレクタSEL2 の一方の入力には制御信号
SMが入力され、もう一方の入力には制御信号SNが入
力される。制御信号SMにより、nビットの値N×Mが
設定され、制御信号SNにより、nビットの値Nが設定
される。
【0118】セレクタSEL2 がセレクタSEL1 と同
様に、カウンタ30からのロック信号Send により制御
され、ロック信号Send がローレベルのとき、制御信号
SNが選択され、プログラマブルマスク生成回路50に
値Nが入力され、ロック信号Send がハイレベルのと
き、制御信号SMが選択され、プログラマブルマスク生
成回路50に値N×Mが入力される。
様に、カウンタ30からのロック信号Send により制御
され、ロック信号Send がローレベルのとき、制御信号
SNが選択され、プログラマブルマスク生成回路50に
値Nが入力され、ロック信号Send がハイレベルのと
き、制御信号SMが選択され、プログラマブルマスク生
成回路50に値N×Mが入力される。
【0119】ディジタルPLL回路DPLLがロック状
態に達するまでに、カウンタ30によりローレベルのロ
ック信号Send が出力され、これに応じて、セレクタS
EL 1 により、クロック信号CLKが選択され、ディジ
タルPLL回路DPLLに入力される。また、セレクタ
SEL2 により、制御信号SNが選択され、プログラマ
ブルマスク生成回路50に値Nが設定される。
態に達するまでに、カウンタ30によりローレベルのロ
ック信号Send が出力され、これに応じて、セレクタS
EL 1 により、クロック信号CLKが選択され、ディジ
タルPLL回路DPLLに入力される。また、セレクタ
SEL2 により、制御信号SNが選択され、プログラマ
ブルマスク生成回路50に値Nが設定される。
【0120】この場合、ディジタルPLL回路DPLL
がクロック信号CLKの周波数finが目標周波数とし
て、カウンタ30において、最上位ビットから最下位ビ
ットまで順次値が設定される。ロック状態に達したと
き、ディジタルPLL回路DPLLにより出力された信
号Sout の周波数がfin×Nとなる。
がクロック信号CLKの周波数finが目標周波数とし
て、カウンタ30において、最上位ビットから最下位ビ
ットまで順次値が設定される。ロック状態に達したと
き、ディジタルPLL回路DPLLにより出力された信
号Sout の周波数がfin×Nとなる。
【0121】ディジタルPLL回路DPLLがロック状
態に達したとき、カウンタ30により、ロック信号S
end がローレベルからハイレベルに切り換えられ、これ
に応じて、セレクタSEL1 において、クロック信号C
LKのM分周した分周信号が選択され、ディジタルPL
L回路DPLLに入力される。また、セレクタSEL2
において、制御信号SMが選択され、プログラマブルマ
スク生成回路50に値M×Nが設定される。
態に達したとき、カウンタ30により、ロック信号S
end がローレベルからハイレベルに切り換えられ、これ
に応じて、セレクタSEL1 において、クロック信号C
LKのM分周した分周信号が選択され、ディジタルPL
L回路DPLLに入力される。また、セレクタSEL2
において、制御信号SMが選択され、プログラマブルマ
スク生成回路50に値M×Nが設定される。
【0122】このように、ディジタルPLL回路DPL
Lがロック状態に達した後、ロック信号Send のレベル
に応じて、クロック信号CLKのM分周信号がディジタ
ルPLL回路DPLLに入力され、位相比較器20にお
ける比較動作がクロック信号CLKの2×M周期に1回
行われる。比較動作が低減されることにより、ディジタ
ルPLL回路DPLLの消費電力の低減を図れる。
Lがロック状態に達した後、ロック信号Send のレベル
に応じて、クロック信号CLKのM分周信号がディジタ
ルPLL回路DPLLに入力され、位相比較器20にお
ける比較動作がクロック信号CLKの2×M周期に1回
行われる。比較動作が低減されることにより、ディジタ
ルPLL回路DPLLの消費電力の低減を図れる。
【0123】第5実施形態 図20は本発明に係るディジタルPLL回路の第5の実
施形態を示す回路図である。図20においては、ディジ
タルPLL回路は図1に示す第1の実施形態と較べて、
最上位ビット決定カウンタ31、同期判定回路32が新
たに設けられている。
施形態を示す回路図である。図20においては、ディジ
タルPLL回路は図1に示す第1の実施形態と較べて、
最上位ビット決定カウンタ31、同期判定回路32が新
たに設けられている。
【0124】最上位ビット決定カウンタ31はディジタ
ルPLL回路が動作開始前に、最適な最上位ビットを予
め設定する。動作開始後、最上位ビット決定カウンタ3
1からの信号S31により、カウンタ30aの最上位ビ
ットが決定され、この最上位ビットから最下位ビットに
向かって順次に決定するので、ディジタルPLL回路の
ロックアップ時間を短縮できる。
ルPLL回路が動作開始前に、最適な最上位ビットを予
め設定する。動作開始後、最上位ビット決定カウンタ3
1からの信号S31により、カウンタ30aの最上位ビ
ットが決定され、この最上位ビットから最下位ビットに
向かって順次に決定するので、ディジタルPLL回路の
ロックアップ時間を短縮できる。
【0125】例えば、最上位ビット決定カウンタ31は
外部から入力されたクロック信号CLKより高い周波数
の信号を発生する発振器を内蔵または外部装置として備
えている。最上位ビット決定カウンタ31はこの発振器
からの発振信号を基準として、基準クロック信号の周期
アップカウンタで計数し、その計数値とディジタル制御
遅延線40の出力信号の周波数との関係からセレクタに
より最適な最上位ビットを決定する。
外部から入力されたクロック信号CLKより高い周波数
の信号を発生する発振器を内蔵または外部装置として備
えている。最上位ビット決定カウンタ31はこの発振器
からの発振信号を基準として、基準クロック信号の周期
アップカウンタで計数し、その計数値とディジタル制御
遅延線40の出力信号の周波数との関係からセレクタに
より最適な最上位ビットを決定する。
【0126】同期判定回路32は位相比較器20からの
アップ信号Sup、ダウン信号Sdwおよびクロック制御回
路10からのクロック信号CK0 を受けて、ディジタル
PLL回路の同期状態を判断する。例えば、位相比較器
20によりアップ信号Supとダウン信号Sdwがともに発
生されなくなるとき、ディジタルPLL回路が同期状
態、即ち、ロック状態と判断され、同期信号Ssyncが生
成され、カウンタ30およびORゲート33に出力され
る。
アップ信号Sup、ダウン信号Sdwおよびクロック制御回
路10からのクロック信号CK0 を受けて、ディジタル
PLL回路の同期状態を判断する。例えば、位相比較器
20によりアップ信号Supとダウン信号Sdwがともに発
生されなくなるとき、ディジタルPLL回路が同期状
態、即ち、ロック状態と判断され、同期信号Ssyncが生
成され、カウンタ30およびORゲート33に出力され
る。
【0127】カウンタ30は最上位ビット決定カウンタ
31により決定された最上位ビットから、最下位ビット
に向かって残りのビットを順次設定していく。その途中
で同期判定回路32から同期信号Ssyncを受けると、デ
ィジタルPLL回路がロック状態に達したと判断し、ロ
ック信号Send を発生し、それ以降のビットの設定をや
める。これにより、ロックアップ時間をさらに短縮でき
る。
31により決定された最上位ビットから、最下位ビット
に向かって残りのビットを順次設定していく。その途中
で同期判定回路32から同期信号Ssyncを受けると、デ
ィジタルPLL回路がロック状態に達したと判断し、ロ
ック信号Send を発生し、それ以降のビットの設定をや
める。これにより、ロックアップ時間をさらに短縮でき
る。
【0128】ORゲート33により、カウンタ30から
のロック信号Send または同期判定回路32からの同期
信号Ssyncの何れかを受けると、制御信号Srun をAN
Dゲート80に出力し、これに応じて、分周器70から
の分周信号を出力信号Soutとして出力される。
のロック信号Send または同期判定回路32からの同期
信号Ssyncの何れかを受けると、制御信号Srun をAN
Dゲート80に出力し、これに応じて、分周器70から
の分周信号を出力信号Soutとして出力される。
【0129】図21は本例のディジタルPLL回路の動
作を示す波形図である。以下、この波形図を参照しつ
つ、本例のディジタルPLL回路の動作を説明する。図
示のように、リセット信号RSTがローレベルに切り換
えられた後、ディジタルPLL回路が動作を開始する。
まず、制御信号setbitに応じて、最上位ビット決
定カウンタ31によりカウンタ30の最上位ビットが決
定される。ここで、例えば、m−1ビットが最上位ビッ
トとして決定される。
作を示す波形図である。以下、この波形図を参照しつ
つ、本例のディジタルPLL回路の動作を説明する。図
示のように、リセット信号RSTがローレベルに切り換
えられた後、ディジタルPLL回路が動作を開始する。
まず、制御信号setbitに応じて、最上位ビット決
定カウンタ31によりカウンタ30の最上位ビットが決
定される。ここで、例えば、m−1ビットが最上位ビッ
トとして決定される。
【0130】最上位ビットが決定された後の動作は上述
した第1の実施形態と同様であり、決定された最上位ビ
ットから最下位ビットに向かって順次値が設定されてい
く。そして、ビット設定の途中で、例えば、図21に示
すクロック信号CK0 のパルスmにおいて、同期判定回
路32により、ディジタルPLL回路がロック状態に達
したと判断され、同期信号Ssyncが出力される。これに
応じて、ORゲート33により出力された制御信号S
run がローレベルからハイレベルに切り換わり、カウン
タ30において、ビット設定動作が停止し、位相比較器
20からのアップ信号Supおよびダウン信号Sdwに応じ
て、アップダウンカウンタにより、カウント値S30が
設定され、クロック信号CLKの変化に追従していく。
即ち、カウンタ30の動作がロック後の状態に切り換え
らる。
した第1の実施形態と同様であり、決定された最上位ビ
ットから最下位ビットに向かって順次値が設定されてい
く。そして、ビット設定の途中で、例えば、図21に示
すクロック信号CK0 のパルスmにおいて、同期判定回
路32により、ディジタルPLL回路がロック状態に達
したと判断され、同期信号Ssyncが出力される。これに
応じて、ORゲート33により出力された制御信号S
run がローレベルからハイレベルに切り換わり、カウン
タ30において、ビット設定動作が停止し、位相比較器
20からのアップ信号Supおよびダウン信号Sdwに応じ
て、アップダウンカウンタにより、カウント値S30が
設定され、クロック信号CLKの変化に追従していく。
即ち、カウンタ30の動作がロック後の状態に切り換え
らる。
【0131】本実施形態によれば、ディジタルPLL回
路に最上位ビット決定カウンタ31および同期判定回路
32を新たに設けることにより、ディジタルPLL回路
動作開始後にカウンタ30に最上位ビットをロードし、
最下位ビットに向かって順次設定していく。途中でロッ
ク状態に達したとき、同期判定回路32により同期信号
Ssyncを出力し、カウンタ30のビット設定動作を停止
させ、それ以降、位相比較器20からのアップ信号Sup
およびダウン信号Sdwに応じて、アップダウンカウンタ
によりクロック信号CLKの変化に追従していくので、
ディジタルPLL回路がロックアップ時間を短縮でき
る。
路に最上位ビット決定カウンタ31および同期判定回路
32を新たに設けることにより、ディジタルPLL回路
動作開始後にカウンタ30に最上位ビットをロードし、
最下位ビットに向かって順次設定していく。途中でロッ
ク状態に達したとき、同期判定回路32により同期信号
Ssyncを出力し、カウンタ30のビット設定動作を停止
させ、それ以降、位相比較器20からのアップ信号Sup
およびダウン信号Sdwに応じて、アップダウンカウンタ
によりクロック信号CLKの変化に追従していくので、
ディジタルPLL回路がロックアップ時間を短縮でき
る。
【0132】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のディジタ
ルPLL回路によれば、出力周波数の高精度化およびロ
ックアップ時間の短縮を図れ、従来相反する問題であっ
たディジタルPLL回路のロックアップ時間の短縮と、
出力周波数の精度の向上とを同時に実現できる利点があ
る。
ルPLL回路によれば、出力周波数の高精度化およびロ
ックアップ時間の短縮を図れ、従来相反する問題であっ
たディジタルPLL回路のロックアップ時間の短縮と、
出力周波数の精度の向上とを同時に実現できる利点があ
る。
【図1】本発明に係るディジタルPLL回路の第1の実
施形態を示す回路図である。
施形態を示す回路図である。
【図2】クロック制御回路10の構成を示す回路図であ
る。
る。
【図3】クロック発生回路101の構成を示す回路図で
ある。
ある。
【図4】クロック制御回路10の動作を示す波形図であ
る。
る。
【図5】位相比較器20の構成を示す回路図である。
【図6】位相比較器20の動作を示す波形図である。
【図7】カウンタ30の構成を示す回路図である。
【図8】カウンタ30の動作を示す波形図である。
【図9】ディジタル制御遅延線40の一例を示す回路図
である。
である。
【図10】ディジタル制御遅延線40のもう一つの例を
示す回路図である。
示す回路図である。
【図11】プログラマブルマスク生成回路50の構成を
示す回路図である。
示す回路図である。
【図12】プログラマブルマスク生成回路50の動作を
示す波形図である。
示す波形図である。
【図13】ディジタルPLL回路の立ち上がり時の動作
を示す波形図である。
を示す波形図である。
【図14】ディジタルPLL回路の立ち上がり時の動作
を示す波形図である。
を示す波形図である。
【図15】本発明に係るディジタルPLL回路の第2の
実施形態を示す回路図である。
実施形態を示す回路図である。
【図16】第2の実施形態の動作を示す波形図である。
【図17】第2の実施形態の動作を示す波形図である。
【図18】本発明に係るディジタルPLL回路の第3の
実施形態を示す回路図である。
実施形態を示す回路図である。
【図19】本発明に係るディジタルPLL回路の第4の
実施形態を示す回路図である。
実施形態を示す回路図である。
【図20】本発明に係るディジタルPLL回路の第5の
実施形態を示す回路図である。
実施形態を示す回路図である。
【図21】第5の実施形態の動作を示す波形図である。
【図22】従来のディジタルPLL回路の構成を示す回
路図である。
路図である。
【図23】従来のディジタルPLL回路の周波数出力動
作を示す図である。
作を示す図である。
【図24】従来のディジタルPLL回路の周波数出力動
作を示す図である。
作を示す図である。
10…クロック制御回路、20…位相比較器、30…カ
ウンタ、40…ディジタル制御遅延線(DCDL)、5
0…プログラマブルマスク生成回路、60…ORゲー
ト、70,90…分周器、80…およびANDゲート、
101…クロック発生回路、102…RSフリップフロ
ップ、103,104…ANDゲート、110,127
…エッジ検出回路、111,112,115,116,
126…インバータ、113,114…NANDゲー
ト、117,118…RSフリップフロップ、119,
120,123,124…NORゲート、125…分周
器、21…位相比較回路、22,23…遅延回路、2
4,25…RSフリップフロップ、301…レジスタ、
302…アップダウンカウンタ、303,304,…,
309…RSフリップフロップ、310,311,…,
314,320,321,…,324…Dフリップフロ
ップ、315,316,…,319…セレクタ、325
…遅延回路、326…エッジ検出回路、401,40
2,…,404,405…セレクタ、406,407,
…,409,410…バッファ、420…ラッチ回路、
411,412,…,414,415…ANDゲート、
501…減算器、502,503,…,505,506
…エクスクルーシブNORゲート、707…ANDゲー
ト、508…RSフリップフロップ、509…ANDゲ
ート、510…アップカウンタ、511…ORゲート、
512…NORゲート、513…ANDゲート、514
…エッジ検出回路、515、516…RSフリップフロ
ップ、31…最上位ビット決定カウンタ、32…同期判
定回路。
ウンタ、40…ディジタル制御遅延線(DCDL)、5
0…プログラマブルマスク生成回路、60…ORゲー
ト、70,90…分周器、80…およびANDゲート、
101…クロック発生回路、102…RSフリップフロ
ップ、103,104…ANDゲート、110,127
…エッジ検出回路、111,112,115,116,
126…インバータ、113,114…NANDゲー
ト、117,118…RSフリップフロップ、119,
120,123,124…NORゲート、125…分周
器、21…位相比較回路、22,23…遅延回路、2
4,25…RSフリップフロップ、301…レジスタ、
302…アップダウンカウンタ、303,304,…,
309…RSフリップフロップ、310,311,…,
314,320,321,…,324…Dフリップフロ
ップ、315,316,…,319…セレクタ、325
…遅延回路、326…エッジ検出回路、401,40
2,…,404,405…セレクタ、406,407,
…,409,410…バッファ、420…ラッチ回路、
411,412,…,414,415…ANDゲート、
501…減算器、502,503,…,505,506
…エクスクルーシブNORゲート、707…ANDゲー
ト、508…RSフリップフロップ、509…ANDゲ
ート、510…アップカウンタ、511…ORゲート、
512…NORゲート、513…ANDゲート、514
…エッジ検出回路、515、516…RSフリップフロ
ップ、31…最上位ビット決定カウンタ、32…同期判
定回路。
Claims (23)
- 【請求項1】 基準クロック信号に基づき、第1、第2
および第3のクロック信号を生成するクロック生成回路
と、 上記第3のクロック信号と被比較信号との位相を比較す
る位相比較回路と、 上記第1のクロック信号の入力毎に、上記位相比較回路
の比較結果に基づきカウント値を最上位ビットから最下
位ビットに向かって順次に決定するディジタルカウンタ
と、 上記第2のクロック信号に対して、上記ディジタルカウ
ンタからのカウント値に応じた遅延を与え、当該第2の
クロック信号の周波数を所定の逓倍数をもって周波数逓
倍し、逓倍信号を上記被比較信号として上記位相比較回
路に出力する周波数逓倍回路とを有するディジタルPL
L回路。 - 【請求項2】 上記ディジタルカウンタは、全ビットを
決定した後、ロック状態になったことを示すロック信号
を生成し、 上記クロック生成回路は上記ロック信号が入力される
と、上記第2のクロック信号に基づき、上記周波数逓倍
回路の遅延動作を抑止するための抑止信号を生成し、上
記周波数逓倍回路に出力する請求項1記載のディジタル
PLL回路。 - 【請求項3】 上記周波数逓倍回路は上記第2のクロッ
ク信号に応じて信号出力を停止し、上記第1のクロック
信号に応じて信号出力を再開する間欠動作制御回路と、 上記ロック信号に応じて、上記間欠動作から連続出力動
作へ切り換える動作切り換え回路とを有する請求項2記
載のディジタルPLL回路。 - 【請求項4】 上記周波数逓倍回路は、上記ロック信号
が入力されている期間のみ、上記逓倍信号を外部に出力
する出力回路を有する請求項2記載のディジタルPLL
回路。 - 【請求項5】 上記ディジタルカウンタは、全ビットを
決定した後、上記位相比較回路の比較結果に基づき、カ
ウント値の最下位ビットから最上位ビットに向かって順
次に決定する動作に切り換える動作切り換え手段を有す
る請求項1記載のディジタルPLL回路。 - 【請求項6】 上記ディジタルカウンタは、上記第1の
クロック信号の入力毎に、上記位相比較回路の比較結果
に基づき出力データを最上位ビットから最下位ビットに
向かって順次に決定し、全ビットを決定した後、上記ロ
ック信号を出力するレジスタと、 上記ロック信号に応じて、上記レジスタの出力データを
ロードした後、上記位相比較回路の比較結果に基づきカ
ウント値の最下位ビットから最上位ビットに向かって順
次に決定するアップダウンカウンタと、 上記ロック信号が入力されるまで、上記レジスタの出力
データを選択し、上記ロック信号が入力された後、上記
アップダウンカウンタのカウント値を選択して上記周波
数逓倍回路に出力する選択回路とを有する請求項1記載
のディジタルPLL回路。 - 【請求項7】 上記クロック生成回路により生成された
上記抑止信号は、上記第2のクロック信号に同期して生
成され、上記ロック信号が入力された後、パルス一つの
抑止信号として出力される請求項2記載のディジタルP
LL回路。 - 【請求項8】 上記位相比較回路は、上記第3のクロッ
ク信号と被比較信号との位相差に基づきパルス幅が設定
される位相差信号を出力する位相比較器と、 上記位相差信号のパルス幅を整形し、整形された信号を
上記ディジタルカウンタに出力する整形回路とを有する
請求項1記載のディジタルPLL回路。 - 【請求項9】 上記整形回路は上記位相差信号のパルス
幅を上記ディジタルカウンタが駆動できる最低限のパル
ス幅以上の幅に整形する請求項8記載のディジタルPL
L回路。 - 【請求項10】 上記整形回路は、上記位相差信号を所
定の時間で遅延した遅延信号を出力する遅延回路と、 上記位相差信号により出力信号レベルを基準レベルと異
なる第1のレベルに設定し、上記遅延信号により出力信
号レベルを基準レベルにリセットするフリップフロップ
回路とを有する請求項8記載のディジタルPLL回路。 - 【請求項11】 上記周波数逓倍回路は、上記ディジタ
ルカウンタからのカウント値に応じて、遅延時間を制御
する遅延回路により構成されている請求項1記載のディ
ジタルPLL回路。 - 【請求項12】 上記遅延回路はmビット(mは正整
数)のカウント値に応じて遅延時間を制御するディジタ
ル制御遅延回路であって、 上記カウント値のiビット目(0≦i<m)に応じて、
最大2i td (td は単位遅延時間)の遅延時間を生じ
るm段の遅延段が直列に接続されて構成されている請求
項11記載のディジタルPLL回路。 - 【請求項13】 上記遅延回路は上記カウント値を保持
するデータ保持回路と、 上記データ保持回路のiビット目のデータを上記i段目
の遅延段に出力する出力回路とを有する請求項12記載
のディジタルPLL回路。 - 【請求項14】 上記遅延回路におけるi段目の遅延段
は2i td の遅延時間を生じるバッファ回路と、 第1の入力端子を信号入力端子に接続し、第2の入力端
子を上記バッファ回路を介して上記信号入力端子に接続
し、上記カウント値のiビット目の値に応じて第1また
は第2の入力端子の信号を選択して出力端子に出力する
選択回路とを有する請求項13記載のディジタルPLL
回路。 - 【請求項15】 上記遅延回路におけるi段目の遅延段
は2i-1 td の遅延を生じるバッファ回路と、 一方の入力端子を信号入力端子に接続し、他方の入力端
子を上記データ保持回路のiビット目のデータ出力端子
に接続し、出力端子を上記バッファ回路の入力端子に接
続し、td の遅延を生じる論理回路と、 第1の入力端子を上記信号入力端子に接続し、第2の入
力端子を上記バッファ回路の出力端子に接続し、上記カ
ウント値のiビット目の値に応じて第1または第2の入
力端子の信号を選択して出力端子に出力する選択回路と
を有する請求項13記載のディジタルPLL回路。 - 【請求項16】 上記周波数逓倍回路は、少なくとも直
列に接続されている上記遅延回路を2段以上有し、 上記周波数逓倍信号は上記各段の遅延回路の出力信号の
論理演算により生成される請求項11記載のディジタル
PLL回路。 - 【請求項17】 上記周波数逓倍回路からの逓倍信号を
所定の分周比で分周して、分周信号を上記被比較信号と
して上記位相比較回路に出力する分周回路を有する請求
項1記載のディジタルPLL回路。 - 【請求項18】 上記分周回路は上記抑止信号毎にリセ
ットされ、上記周波数逓倍回路からの逓倍信号を計数す
るカウンタと、 上記カウンタのカウント値が上記分周比と一致したと
き、上記逓倍信号を上記位相比較回路に出力する出力回
路とを有する請求項17記載のディジタルPLL回路。 - 【請求項19】 基準クロック信号をM(Mは任意の整
数)分周する第2の分周回路と、 上記基準クロック信号および分周したクロック信号から
一つを選択して出力する第1の選択回路と、 上記第1の選択回路の出力信号と被比較信号との位相を
比較する位相比較回路と、 上記位相比較回路の比較結果に基づきカウント値を最上
位ビットから最下位ビットに向かって順次に決定するデ
ィジタルカウンタと、 上記ディジタルカウンタからのカウント値に応じて、所
定の逓倍数をもって周波数逓倍した逓倍信号を出力する
周波数逓倍回路と、 上記周波数逓倍回路からの逓倍信号をN(Nは任意の整
数)分周し、分周信号を上記被比較信号として上記位相
比較回路に出力する第3の分周回路とを有するディジタ
ルPLL回路。 - 【請求項20】 上記ディジタルカウンタは、全ビット
を決定した後、ロック状態になったことを示すロック信
号を生成し、 上記ロック信号を受けるまで、上記第1の選択回路は上
記基準クロック信号を選択して上記位相比較回路に出力
し、上記ロック信号を受けてから、上記M分周した分周
信号を選択して上記位相比較回路に出力する請求項19
に記載のディジタルPLL回路。 - 【請求項21】 上記ディジタルカウンタは、全ビット
を決定した後、ロック状態になったことを示すロック信
号を生成し、 上記ロック信号を受けて、上記第3の分周回路の分周比
をNからN×Mに切り換える切り換え回路を有する請求
項19に記載のディジタルPLL回路。 - 【請求項22】 基準クロック信号と被比較信号との位
相を比較する位相比較回路と、 上記位相比較回路の比較結果に基づきカウント値を最上
位ビットから最下位ビットに向かって順次に決定するデ
ィジタルカウンタと、 上記ディジタルカウンタからのカウント値に応じて、所
定の逓倍数をもって周波数逓倍した逓倍信号を上記被比
較信号として上記位相比較回路に出力する周波数逓倍回
路と、 上記位相比較回路の比較結果に基づき、当該ディジタル
PLL回路の同期状態を判定し、判定結果を上記ディジ
タルカウンタに出力する同期判定回路とを有するディジ
タルPLL回路。 - 【請求項23】 上記ディジタルカウンタは上記同期判
定回路から同期状態を示す判定結果を受けたとき、上記
位相比較回路の比較結果に基づきカウント値を最下位ビ
ットから最上位ビットに向かって順次に決定する計数動
作へ切り換える動作切り換え回路を有する請求項21記
載のディジタルPLL回路。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8176887A JPH1022822A (ja) | 1996-07-05 | 1996-07-05 | ディジタルpll回路 |
| US08/881,279 US5945856A (en) | 1996-07-05 | 1997-06-24 | Digital phase locked circuit with shortened lock time |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8176887A JPH1022822A (ja) | 1996-07-05 | 1996-07-05 | ディジタルpll回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1022822A true JPH1022822A (ja) | 1998-01-23 |
Family
ID=16021504
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8176887A Pending JPH1022822A (ja) | 1996-07-05 | 1996-07-05 | ディジタルpll回路 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5945856A (ja) |
| JP (1) | JPH1022822A (ja) |
Cited By (4)
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