JPH10229272A - Printed wiring board - Google Patents

Printed wiring board

Info

Publication number
JPH10229272A
JPH10229272A JP9032282A JP3228297A JPH10229272A JP H10229272 A JPH10229272 A JP H10229272A JP 9032282 A JP9032282 A JP 9032282A JP 3228297 A JP3228297 A JP 3228297A JP H10229272 A JPH10229272 A JP H10229272A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
wiring board
pad
printed wiring
solder
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9032282A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoichiro Kawamura
洋一郎 川村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ibiden Co Ltd filed Critical Ibiden Co Ltd
Priority to JP9032282A priority Critical patent/JPH10229272A/en
Publication of JPH10229272A publication Critical patent/JPH10229272A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/11Printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K1/115Via connections; Lands around holes or via connections
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/46Manufacturing multilayer circuits
    • H05K3/4644Manufacturing multilayer circuits by building the multilayer layer by layer, i.e. build-up multilayer circuits

Landscapes

  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To improve a viahole in connection reliability by a method wherein a pad provided on the surface of a wiring board comprises a region which includes two or more viaholes and is electrically connected to a conductor circuit provided inside the wiring board through the intermediary of the viaholes. SOLUTION: A printed wiring board is provided with two or more viaholes 4 provided in a pad 8 region, and an inner conductor circuit 3 located inside the printed wiring board is electrically connected to the pad 8 through the intermediary of the viaholes 4. It is preferable that two to five viaholes are present in the pad 8 region. It is preferable that the viahole 4 is 80 to 150μm in diameter, and the pad 8 region is 600 to 1000μm in diameter and 10 to 20μm in thickness. Furthermore, it is preferable that a solder resist layer 5 is formed on an upper layer so as to keep the pad region 8 exposed.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、はんだバンプを有
するプリント配線板に関し、特に、ヒートサイクル等に
よってもバイアホールの接続信頼性が低下しないプリン
ト配線板について提案する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a printed wiring board having solder bumps, and more particularly, to a printed wiring board in which the connection reliability of via holes is not reduced even by a heat cycle or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来のプリント配線板は、はんだバンプ
を用いて導体回路とICチップを電気的に接続する場
合、図1に示すように、はんだバンプを形成するための
パッドをバイアホールから新たに配線して内層側の導体
回路とICチップとを接続するのが一般的である。その
ため、配線長が長くなって配線密度が低下して部品の高
密度実装化が難しいという欠点があった。
2. Description of the Related Art In a conventional printed wiring board, when a conductive circuit is electrically connected to an IC chip using solder bumps, pads for forming solder bumps are newly formed from via holes as shown in FIG. In general, a conductor circuit on the inner layer side is connected to the IC chip. For this reason, there is a disadvantage that the wiring length is increased, the wiring density is reduced, and it is difficult to mount components at high density.

【0003】これに対し、図2に示すように、はんだバ
ンプを実装表面のバイアホール内に直接形成したプリン
ト配線板がある。このようなプリント配線板によれば、
はんだバンプ形成用のパッドをバイアホールから新たに
配線する必要がなく、配線長を短くできるから、配線密
度の向上を図ることができる。
On the other hand, as shown in FIG. 2, there is a printed wiring board in which solder bumps are formed directly in via holes on a mounting surface. According to such a printed wiring board,
It is not necessary to newly wire a pad for forming a solder bump from a via hole, and the wiring length can be shortened, so that the wiring density can be improved.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記プ
リント配線板において、1のはんだバンプは、パッドと
して機能する1のバイアホールを通してのみ内層側の導
体回路と配線接続されている。そのため、ヒートサイク
ルなどによってそのバイアホールと内層導体回路の間に
剥離が発生すると、その配線は断線し、バイアホールに
よる接続信頼性が悪化するという新たな問題があった。
However, in the above-mentioned printed wiring board, one solder bump is connected to a conductor circuit on the inner layer side only through one via hole functioning as a pad. Therefore, when peeling occurs between the via hole and the inner conductor circuit due to a heat cycle or the like, there is a new problem that the wiring is disconnected and connection reliability due to the via hole is deteriorated.

【0005】また、層間絶縁材層にバイアホール用開口
を形成する際に該開口底部に樹脂が残存する場合があ
る。この場合も、その残存樹脂に起因して前記1のバイ
アホールが導通不良を招くと、バイアホールによる接続
信頼性が悪化するという問題があった。
When a via hole opening is formed in an interlayer insulating material layer, resin may remain at the bottom of the opening. Also in this case, if the one via hole causes a conduction failure due to the residual resin, there is a problem that the connection reliability due to the via hole deteriorates.

【0006】本発明は、かかる問題を解消するためにな
されたものであり、その目的は、バイアホールの接続信
頼性に優れるプリント配線板を提供することにある。
The present invention has been made to solve such a problem, and an object of the present invention is to provide a printed wiring board having excellent via hole connection reliability.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】発明者は、上記目的の実
現に向け鋭意研究を行った結果、以下に示す内容を要旨
構成とする発明を完成するに至った。即ち、本発明は、
配線基板表面に設けたパッドにはんだバンプを形成して
なるプリント配線板において、前記パッドは、2以上の
バイアホールを含んだ領域から構成され、これらのバイ
アホールを介して前記配線基板の導体回路と電気的に接
続されていることを特徴とするプリント配線板である。
Means for Solving the Problems The inventor of the present invention has intensively studied for realizing the above-mentioned object, and as a result, has completed the invention having the following contents as the gist. That is, the present invention
In a printed wiring board in which solder bumps are formed on pads provided on a surface of a wiring board, the pads are formed of a region including two or more via holes, and the conductor circuit of the wiring board is formed through these via holes. And a printed wiring board electrically connected to the printed circuit board.

【0008】なお、上記本発明のプリント配線板におい
て、パッド表面には、ニッケル−金層が形成されている
ことが望ましい。また、上記本発明のプリント配線板に
おいて、パッドは、2〜5個のバイアホールを含むこと
が望ましい。
In the printed wiring board of the present invention, it is preferable that a nickel-gold layer is formed on the pad surface. In the printed wiring board of the present invention, the pad preferably includes 2 to 5 via holes.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】本発明のプリント配線板は、1の
パッド領域内に設けられたバイアホールが2つ以上あ
り、これら複数のバイアホールを介して内層側に位置す
る配線基板の導体回路とパッドとが電気的に接続されて
いる点に特徴がある。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A printed wiring board according to the present invention has two or more via holes provided in one pad area, and a conductor circuit of a wiring board located on an inner layer side through the plurality of via holes. And the pad are electrically connected.

【0010】これにより、本発明のプリント配線板は、
1のバイアホールがヒートサイクルなどによって断線し
ても他のバイアホールが内層側の導体回路とパッドとを
電気的に接続しているので、ヒートサイクル等によって
もバイアホールによる接続信頼性が低下することはな
い。
As a result, the printed wiring board of the present invention
Even if one via hole is broken by a heat cycle or the like, the other via hole electrically connects the inner layer side conductive circuit and the pad, so that the connection reliability due to the via hole is reduced by the heat cycle or the like. Never.

【0011】また、層間絶縁材層にバイアホール用開口
を形成する際に該開口底部に樹脂が残存すると、その開
口部に形成するバイアホールが導通不良を招く場合があ
る。この点でも、複数のバイアホールであれば、1のバ
イアホールが導通不良となっても他のバイアホールで電
気的接続が確保されるので、バイアホールによる接続信
頼性が低下することはない。
When a resin is left at the bottom of the via-hole when the via-hole is formed in the interlayer insulating material layer, the via-hole formed in the opening may cause poor conduction. Also in this regard, if there is a plurality of via holes, even if one of the via holes becomes defective in conduction, the other via holes ensure the electrical connection, so that the connection reliability due to the via holes does not decrease.

【0012】このような本発明のプリント配線板におい
て、1のパッド領域には、2〜5個のバイアホールが存
在することが望ましい。5個を超えるバイアホールが前
記パッドの領域内に存在すると、そのバイアホール径は
小さくなり、開口を穿孔しにくくなるからである。より
望ましいバイアホール数は、前記パッドの領域内に3個
である。
In such a printed wiring board of the present invention, it is preferable that two to five via holes exist in one pad region. If more than five via holes exist in the pad area, the diameter of the via hole becomes small, and it becomes difficult to form an opening. A more desirable number of via holes is three in the area of the pad.

【0013】ここで、上記バイアホールの径は、80〜15
0 μmであることが望ましい。この理由は、80μm未満
では、バイアホールが形成しにくく、一方、 150μmを
超えると、パッド内に多数のバイアホールを形成しにく
くなるからである。
Here, the diameter of the via hole is 80 to 15
Desirably, it is 0 μm. The reason is that if it is less than 80 μm, it is difficult to form a via hole, while if it exceeds 150 μm, it becomes difficult to form many via holes in the pad.

【0014】本発明のプリント配線板において、上記パ
ッドは、その領域径を 600〜1000μm、その厚みを10〜
20μmとすることが望ましい。
In the printed wiring board of the present invention, the pad has a region diameter of 600 to 1000 μm and a thickness of 10 to 1000 μm.
It is desirable to set it to 20 μm.

【0015】さらに、上記パッド層の上層には、該パッ
ド領域が露出するようにソルダーレジスト層が形成され
ていることが望ましい。即ち、このソルダーレジスト層
は、パッドの一部が露出するように形成されるか、ある
いはパッドの全体が露出するように形成される。パッド
の一部が露出する場合は、パッドの外周部がソルダーレ
ジスト層により被覆されているので、パッドと層間樹脂
絶縁剤との境界、あるいはパッドとめっきレジストとの
境界に発生する熱膨張率差に起因したクラックを抑制で
きる。一方、パッドの全体が露出する場合は、ソルダー
レジストの開口形成位置の許容範囲が大きくなり、しか
も、ソルダーレジストとはんだ体が接触しくくなり、は
んだ体にくびれが発生せず、くびれに起因するクラック
が発生しない。
It is preferable that a solder resist layer is formed on the pad layer so that the pad region is exposed. That is, the solder resist layer is formed so that a part of the pad is exposed or the entire pad is exposed. When a part of the pad is exposed, since the outer peripheral portion of the pad is covered with the solder resist layer, a difference in thermal expansion coefficient generated at the boundary between the pad and the interlayer resin insulating material or at the boundary between the pad and the plating resist is obtained. Cracks caused by the above can be suppressed. On the other hand, when the entire pad is exposed, the allowable range of the opening position of the solder resist becomes large, and furthermore, the solder resist and the solder body become hard to contact with each other, so that the solder body does not become constricted and is caused by the constriction. No cracks occur.

【0016】ここで、上記ソルダーレジスト層は、その
厚さを5〜30μmとすることが望ましい。この理由は、
5μm未満では剥離しやすく、一方、30μmを超える
と、ICチップとソルダーレジストが接触するため実装
しにくくなるからである。
Here, the thickness of the solder resist layer is desirably 5 to 30 μm. The reason for this is
If the thickness is less than 5 μm, it is easy to peel off. On the other hand, if it exceeds 30 μm, the IC chip and the solder resist come into contact with each other, making it difficult to mount.

【0017】上記ソルダーレジスト層としては、種々の
樹脂を使用でき、例えば、ビスフェノールA型エポキシ
樹脂、ビスフェノールA型エポキシ樹脂のアクリレー
ト、ノボラック型エポキシ樹脂およびノボラック型エポ
キシ樹脂のアクリレートをアミン系硬化剤やイミダゾー
ル硬化剤などで硬化させた樹脂を使用できる。特に、ソ
ルダーレジスト層に開口を設けてはんだバンプを形成す
る場合には、樹脂成分が「ノボラック型エポキシ樹脂も
しくはノボラック型エポキシ樹脂のアクリレート」から
なり、「イミダゾール硬化剤」を硬化剤として含むもの
が好ましい。
As the solder resist layer, various resins can be used. For example, bisphenol A-type epoxy resin, acrylate of bisphenol A-type epoxy resin, novolak-type epoxy resin and acrylate of novolak-type epoxy resin can be used as an amine-based curing agent. A resin cured with an imidazole curing agent or the like can be used. In particular, when an opening is provided in the solder resist layer to form a solder bump, a resin component is composed of `` novolak type epoxy resin or acrylate of novolak type epoxy resin '' and contains `` imidazole curing agent '' as a curing agent. preferable.

【0018】本発明にかかるプリント配線板は、上記パ
ッドとはんだ体とが、少なくとも表面に非酸化性の金属
を有する金属層を介して、あるいはパッドに設けられた
導電性の粗化層と前記金属層を介して、強固に密着して
いることが望ましい。これにより、フリップチップ実装
(ICチップを直接搭載する実装形態)を行った場合で
も、はんだ体は、はんだ体が形成される配線基板表層部
とそのはんだ体を介して実装されるICチップとの熱膨
張率差によって、パッドから剥離することはない。
[0018] In the printed wiring board according to the present invention, the pad and the solder body may be provided via a metal layer having a non-oxidizing metal on at least the surface or a conductive roughened layer provided on the pad. It is desirable that the metal layer be firmly adhered through the metal layer. Thus, even when flip-chip mounting (mounting mode in which an IC chip is directly mounted) is performed, the solder is formed between the surface layer of the wiring board on which the solder is formed and the IC chip mounted via the solder. The pad does not peel off due to the difference in thermal expansion coefficient.

【0019】ここで、前記粗化層は、ソルダーレジスト
層が形成される基板最表層部のパッドを含む導体回路の
全表面に形成されていてもよい。これにより、パッドを
含む導体回路表面の粗化層がアンカーとして作用し、パ
ッドとはんだ体を強固に密着させるだけでなく、導体回
路とソルダーレジスト層が強固に密着する。それ故、ソ
ルダーレジスト層は、樹脂成分としてノボラック型エポ
キシ樹脂のような剛直骨格を持つ樹脂を使用した場合で
も層間剥離が生じにくく、ノボラック型エポキシ樹脂に
限らずどのような樹脂でも使用することができる。
Here, the roughened layer may be formed on the entire surface of the conductive circuit including the pad on the outermost layer of the substrate on which the solder resist layer is formed. As a result, the roughened layer on the surface of the conductor circuit including the pad acts as an anchor, so that not only the pad and the solder body are firmly adhered but also the conductor circuit and the solder resist layer are firmly adhered. Therefore, even when a resin having a rigid skeleton such as a novolak epoxy resin is used as a resin component, delamination hardly occurs in the solder resist layer, and any resin is not limited to the novolak epoxy resin. it can.

【0020】前記粗化層を導電性とするのは、はんだ体
を形成しても除去する必要がないからである。それゆえ
工程が簡単である。前記粗化層は、導体回路表面をエッ
チング処理、研磨処理、酸化処理、酸化還元処理するこ
とにより、あるいはめっき処理にて皮膜を形成すること
により形成することが望ましい。
The reason why the roughened layer is made conductive is that it is not necessary to remove the solder even if it is formed. Therefore, the process is simple. The roughened layer is desirably formed by etching, polishing, oxidizing, and redox treating the surface of the conductor circuit, or by forming a film by plating.

【0021】特に、めっき処理にて形成される銅−ニッ
ケル−リンの合金層は、針状結晶層であり、ソルダーレ
ジスト層との密着性に優れる点で有利である。しかも、
前記合金層によれば、その上にはんだ体を形成しても電
気導電率に大きな変化が生じない。前記合金層の組成
は、銅、ニッケル、リンの割合で、それぞれ90〜96wt
%、1〜5wt%、 0.5〜2wt%であることが望ましい。
これらの組成割合のときに、針状の構造を有するからで
ある。
In particular, the copper-nickel-phosphorus alloy layer formed by the plating process is a needle-like crystal layer and is advantageous in that it has excellent adhesion to the solder resist layer. Moreover,
According to the alloy layer, even when a solder body is formed thereon, a large change in electric conductivity does not occur. The composition of the alloy layer is copper, nickel, and phosphorus in proportions of 90 to 96 wt.
%, 1 to 5% by weight, and 0.5 to 2% by weight.
This is because these compositions have a needle-like structure at these composition ratios.

【0022】なお、前記酸化処理は、亜塩素酸ナトリウ
ム、水酸化ナトリウム、リン酸ナトリウムからなる酸化
剤の溶液を用いる処理が望ましい。また、前記酸化還元
処理は、上記酸化処理の後、水酸化ナトリウムと水素化
ホウ素ナトリウムの溶液に浸漬して行う。
The oxidation treatment is desirably a treatment using a solution of an oxidizing agent consisting of sodium chlorite, sodium hydroxide and sodium phosphate. Further, the oxidation-reduction treatment is performed by immersing in a solution of sodium hydroxide and sodium borohydride after the oxidation treatment.

【0023】このような粗化層上のはんだ体との界面に
さらに形成される、少なくとも表面に非酸化性の金属を
有する金属層は、前記非酸化性の金属として、貴金属、
具体的には金、銀、白金、パラジウムなどを用いること
が望ましい。これらの金属は、非酸化性であり、はんだ
体との密着性に優れるからである。なかでも、前記金属
層は、パッドに近い側から順に「ニッケル−金」あるい
は「銅−ニッケル−金」とした層であることが望まし
い。特に、ニッケル層と金層からなる金属層は、膜厚1
〜5μmのニッケル層と膜厚0.01〜0.5 μmの金層から
なることが望ましい。
The metal layer having a non-oxidizing metal at least on the surface, which is further formed at the interface with the solder body on the roughened layer, includes a noble metal,
Specifically, it is desirable to use gold, silver, platinum, palladium, or the like. This is because these metals are non-oxidizing and have excellent adhesion to the solder body. In particular, the metal layer is preferably a layer formed of “nickel-gold” or “copper-nickel-gold” in order from the side closer to the pad. In particular, a metal layer composed of a nickel layer and a gold layer has a thickness of 1
It is desirable to have a nickel layer having a thickness of 5 to 5 μm and a gold layer having a thickness of 0.01 to 0.5 μm.

【0024】ニッケル層と金層からなる上記金属層にお
いて、ニッケル層は、パッド側に設けた粗化層(例え
ば、銅−ニッケル−リンからなる針状合金層)との密着
性を改善し、一方、金層ははんだ体との密着性を改善す
る。上記ニッケル層の膜厚は、パッド側に設けた粗化層
の針状構造の凹凸を緩和してはんだ体を形成しやすくす
るために、1〜7μmとすることが望ましい。また一方
では、金層の厚さを抑制して粗化層の針状構造を緩和し
すぎないようにしている。
In the above-mentioned metal layer composed of a nickel layer and a gold layer, the nickel layer improves adhesion to a roughened layer (for example, a needle-like alloy layer composed of copper-nickel-phosphorus) provided on the pad side, On the other hand, the gold layer improves the adhesion with the solder body. The thickness of the nickel layer is desirably 1 to 7 μm in order to ease the unevenness of the needle-like structure of the roughened layer provided on the pad side and facilitate the formation of a solder body. On the other hand, the thickness of the gold layer is suppressed so that the needle-like structure of the roughened layer is not excessively relaxed.

【0025】以上説明したような構成のプリント配線板
は、はんだ体を形成する配線基板として、表面が粗化処
理された樹脂絶縁材上にめっきレジストが形成され、そ
のめっきレジストの非形成部分にパッドを含む導体回路
が形成された、いわゆるアディティブプリント配線板、
ビルドアッププリント配線板を用いた場合に有利であ
る。これらの配線基板にはんだ体を供給したプリント配
線板において、ヒートサイクルによって生じるはんだ体
の剥離やソルダーレジスト層の剥離を抑制することがで
きるからである。
In the printed wiring board having the above-described structure, a plating resist is formed on a resin insulating material whose surface has been roughened as a wiring board for forming a solder body, and a plating resist is formed on a portion where the plating resist is not formed. A so-called additive printed wiring board on which a conductor circuit including pads is formed,
This is advantageous when a build-up printed wiring board is used. This is because in a printed wiring board in which a solder body is supplied to these wiring boards, peeling of the solder body and peeling of the solder resist layer caused by a heat cycle can be suppressed.

【0026】なお、本発明のプリント配線板では、上記
配線基板を構成する樹脂絶縁材層として無電解めっき用
接着剤を用いることが望ましい。この無電解めっき用接
着剤は、硬化処理された酸あるいは酸化剤に可溶性の耐
熱性樹脂粒子が、酸あるいは酸化剤に難溶性の未硬化の
耐熱性樹脂中に分散されてなるものが最適である。上記
無電解めっき用接着剤において、特に硬化処理された前
記耐熱性樹脂粒子としては、.平均粒径が10μm以下
の耐熱性樹脂粉末、.平均粒径が2μm以下の耐熱性
樹脂粉末を凝集させた凝集粒子、.平均粒径が10μm
以下の耐熱性粉末樹脂粉末と平均粒径が2μm以下の耐
熱性樹脂粉末との混合物、.平均粒径が2〜10μmの
耐熱性樹脂粉末の表面に平均粒径が2μm以下の耐熱性
樹脂粉末または無機粉末のいずれか少なくとも1種を付
着させてなる疑似粒子、から選ばれるいずれか少なくと
も1種を用いることが望ましい。これらは、より複雑な
アンカーを形成できるからである。
In the printed wiring board of the present invention, it is desirable to use an adhesive for electroless plating as a resin insulating layer constituting the wiring board. The most suitable adhesive for electroless plating is one in which heat-resistant resin particles soluble in a cured acid or oxidizing agent are dispersed in an uncured heat-resistant resin hardly soluble in an acid or oxidizing agent. is there. In the above-mentioned adhesive for electroless plating, particularly, the heat-resistant resin particles subjected to the curing treatment include: Heat-resistant resin powder having an average particle size of 10 μm or less; Agglomerated particles obtained by aggregating heat-resistant resin powder having an average particle size of 2 μm or less; Average particle size is 10μm
A mixture of the following heat-resistant resin powder and a heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 2 μm or less; Pseudo particles obtained by adhering at least one of a heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 2 μm or less and an inorganic powder to the surface of a heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 2 to 10 μm; It is desirable to use seeds. This is because they can form more complex anchors.

【0027】次に、本発明にかかるプリント配線板を製
造する一方法について説明する。 (1)まず、コア基板の表面に内層銅パターンを形成した
配線基板を作製する。このコア基板への銅パターンの形
成は、銅張積層板をエッチングして行うか、あるいは、
ガラスエポキシ基板やポリイミド基板、セラミック基
板、金属基板などの基板に無電解めっき用接着剤層を形
成し、この接着剤層表面を粗化して粗化面とし、ここに
無電解めっきを施して行う方法がある。さらに必要に応
じて、上記配線基板に無電解めっき用接着剤層を形成
し、この層にバイアホール用開口を設け、その層表面を
粗化し、ここに無電解めっきを施して銅パターンとバイ
アホールを形成する工程を繰り返して多層化した配線基
板とすることができる。なお、コア基板には、スルーホ
ールが形成され、このスルーホールを介して表面と裏面
の配線層を電気的に接続することができる。
Next, one method of manufacturing a printed wiring board according to the present invention will be described. (1) First, a wiring board having an inner copper pattern formed on the surface of a core board is manufactured. The copper pattern is formed on the core substrate by etching the copper clad laminate, or
An adhesive layer for electroless plating is formed on a substrate such as a glass epoxy substrate, a polyimide substrate, a ceramic substrate, or a metal substrate, and the surface of the adhesive layer is roughened to a roughened surface, which is then subjected to electroless plating. There is a way. Further, if necessary, an adhesive layer for electroless plating is formed on the wiring substrate, an opening for a via hole is formed in this layer, the surface of the layer is roughened, and electroless plating is performed thereon to form a copper pattern and a via. By repeating the step of forming holes, a multilayer wiring board can be obtained. Note that a through hole is formed in the core substrate, and the wiring layer on the front surface and the back surface can be electrically connected through the through hole.

【0028】(2)次に、前記 (1)で作製した配線基板の
上に、層間樹脂絶縁材層を形成する。特に本発明では、
層間樹脂絶縁材として前述した無電解めっき用接着剤を
用いることが望ましい。
(2) Next, an interlayer resin insulating material layer is formed on the wiring board prepared in (1). In particular, in the present invention,
It is desirable to use the above-mentioned adhesive for electroless plating as an interlayer resin insulating material.

【0029】(3)前記(2) で形成した無電解めっき用接
着剤層を乾燥した後、バイアホール形成用の開口を設け
る。感光性樹脂の場合は、露光,現像してから熱硬化す
ることにより、また、熱硬化性樹脂の場合は、熱硬化し
たのちレーザー加工することにより、前記接着剤層にバ
イアホール形成用の開口を設ける。バイアホール形成用
の開口は、例えば図3に示すように3か所、パッド形成
領域に密集して形成する。
(3) After the adhesive layer for electroless plating formed in (2) is dried, an opening for forming a via hole is provided. In the case of a photosensitive resin, it is exposed and developed and then thermally cured. In the case of a thermosetting resin, it is thermally cured and then subjected to laser processing, so that an opening for forming a via hole is formed in the adhesive layer. Is provided. The openings for forming via holes are formed densely in the pad formation region, for example, at three locations as shown in FIG.

【0030】(4)次に、硬化した前記接着剤層の表面に
存在するエポキシ樹脂粒子を酸あるいは酸化剤によって
溶解除去し、接着剤層表面を粗化処理する。ここで、上
記酸としては、リン酸、塩酸、硫酸、あるいは蟻酸や酢
酸などの有機酸があるが、特に有機酸を用いることが望
ましい。粗化処理した場合に、バイアホールから露出す
る金属導体層を腐食させにくいからである。一方、上記
酸化剤としては、クロム酸、過マンガン酸塩(過マンガ
ン酸カリウムなど)を用いることが望ましい。
(4) Next, the epoxy resin particles present on the surface of the cured adhesive layer are dissolved and removed with an acid or an oxidizing agent to roughen the surface of the adhesive layer. Here, examples of the acid include phosphoric acid, hydrochloric acid, sulfuric acid, and organic acids such as formic acid and acetic acid, and it is particularly preferable to use an organic acid. This is because when the roughening treatment is performed, the metal conductor layer exposed from the via hole is hardly corroded. On the other hand, it is desirable to use chromic acid and permanganate (such as potassium permanganate) as the oxidizing agent.

【0031】(5)次に、接着剤層表面を粗化した配線基
板に触媒核を付与する。触媒核の付与には、貴金属イオ
ンや貴金属コロイドなどを用いることが望ましく、一般
的には、塩化パラジウムやパラジウムコロイドを使用す
る。なお、触媒核を固定するために加熱処理を行うこと
が望ましい。このような触媒核としてはパラジウムがよ
い。
(5) Next, a catalyst nucleus is applied to the wiring board whose surface of the adhesive layer is roughened. It is desirable to use a noble metal ion or a noble metal colloid for providing the catalyst nucleus, and generally, palladium chloride or a palladium colloid is used. Note that it is desirable to perform a heat treatment to fix the catalyst core. Palladium is preferred as such a catalyst core.

【0032】(6)次に、触媒核を付与した配線基板にめ
っきレジストを形成する。この際、めっきレジスト非形
成部分には、はんだバンプ形成用パッドを形成するた
め、その金属パッドに相当する形状のめっきレジスト非
形成部分を設ける。めっきレジスト組成物としては、特
にクレゾールノボラックやフェノールノボラック型エポ
キシ樹脂のアクリレートとイミダゾール硬化剤からなる
組成物を用いることが望ましいが、他に市販品を使用す
ることもできる。
(6) Next, a plating resist is formed on the wiring substrate to which the catalyst nucleus has been applied. At this time, in order to form a solder bump forming pad, a plating resist non-forming portion having a shape corresponding to the metal pad is provided in the plating resist non-forming portion. As the plating resist composition, it is particularly desirable to use a composition comprising an acrylate of a cresol novolak or a phenol novolak type epoxy resin and an imidazole curing agent, but other commercially available products can also be used.

【0033】(7)次に、めっきレジスト非形成部に無電
解めっきを施し、パッドを含む導体回路、ならびにバイ
アホールを形成してプリント配線板を製造する。ここ
で、上記無電解めっきとしては、銅めっきを用いること
が望ましい。
(7) Next, electroless plating is applied to the portion where the plating resist is not formed to form a conductor circuit including a pad and a via hole to manufacture a printed wiring board. Here, it is desirable to use copper plating as the electroless plating.

【0034】(8)次に、必要に応じて導体回路の表面に
導電性の粗化層を形成する。この粗化層の形成方法とし
ては、エッチング処理や研磨処理、めっき処理などがあ
る。このうち、めっき処理による粗化層は、無電解めっ
きにより析出させた銅−ニッケル−リン合金からなる針
状層であることが望ましい。この合金の無電解めっきと
しては、硫酸銅1〜40g/l、硫酸ニッケル 0.1〜6.0
g/l、クエン酸10〜20g/l、次亜リン酸塩10〜100
g/l、ホウ酸10〜40g/l、界面活性剤0.01〜10g/
lからなる液組成のめっき浴を用いることが望ましい。
(8) Next, a conductive roughened layer is formed on the surface of the conductor circuit as required. Examples of a method for forming the roughened layer include an etching process, a polishing process, and a plating process. Of these, the roughened layer formed by plating is preferably a needle-like layer made of a copper-nickel-phosphorus alloy deposited by electroless plating. As electroless plating of this alloy, copper sulfate 1-40 g / l, nickel sulfate 0.1-6.0
g / l, citric acid 10-20 g / l, hypophosphite 10-100
g / l, boric acid 10-40 g / l, surfactant 0.01-10 g /
It is desirable to use a plating bath having a liquid composition of 1.

【0035】(9)次に、少なくとも前記(7) までの処理
を終えたプリント配線板の両面に、ソルダーレジスト組
成物を塗布する。
(9) Next, a solder resist composition is applied to at least both surfaces of the printed wiring board that has been subjected to the processing up to (7).

【0036】(10)次に、ソルダーレジスト組成物の塗膜
を乾燥し、この塗膜に、開口部を描画したフォトマスク
フィルムを載置して露光、現像処理することにより、導
体回路のうちパッド部分を露出させた開口部を形成す
る。ここで、前記開口部の開口径は、パッドの径よりも
大きくすることができ、パッドを完全に露出させてもよ
い。
(10) Next, the coating film of the solder resist composition is dried, and a photomask film having an opening formed thereon is placed on the coating film and exposed and developed to thereby form a conductive circuit. An opening exposing the pad portion is formed. Here, the opening diameter of the opening may be larger than the diameter of the pad, and the pad may be completely exposed.

【0037】(11)次に、前記開口部から露出した前記パ
ッド部上に「ニッケル−金」の金属層(少なくとも表層
に非酸化性の金属を有する金属層)を形成する。ニッケ
ルめっきや金めっきとしては、神戸徳蔵 著、槇書店発
行、「NPシリーズ 無電解めっき」(1990年9月30日
発行)の第13頁〜64頁および第84頁〜87頁にかけて記載
されている種々の無電解めっき液を用いることができ
る。例えば、無電解ニッケルめっきとしては、塩化ニッ
ケル20〜40g/l、次亜リン酸ナトリウム5〜20g/
l、ヒドロキシ酢酸ナトリム40〜60g/l(もしくはク
エン酸ナトリウム5〜20g/l)、温度90℃、pH=4
〜6に調整した無電解ニッケルめっき浴を用いることが
できる。また、無電解金めっきとしては、シアン化金カ
リウム1〜3g/l、塩化アンモニウム70〜80g/l、
クエン酸ナトリウム40〜60g/l、次亜リン酸ナトリウ
ム5〜20g/l、温度92〜95℃、pH=7〜7.5 に調整
した無電解金めっき浴を用いることができる。
(11) Next, a "nickel-gold" metal layer (a metal layer having a non-oxidizing metal at least on its surface) is formed on the pad portion exposed from the opening. Nickel plating and gold plating are described in pages 13-64 and 84-87 of "NP Series Electroless Plating" (published on September 30, 1990) by Tokuzo Kobe, published by Maki Shoten. Various electroless plating solutions can be used. For example, as electroless nickel plating, nickel chloride 20-40 g / l, sodium hypophosphite 5-20 g /
l, sodium hydroxyacetate 40-60 g / l (or sodium citrate 5-20 g / l), temperature 90 ° C, pH = 4
An electroless nickel plating bath adjusted to ~ 6 can be used. As electroless gold plating, potassium cyanide 1 to 3 g / l, ammonium chloride 70 to 80 g / l,
An electroless gold plating bath adjusted to 40 to 60 g / l of sodium citrate, 5 to 20 g / l of sodium hypophosphite, a temperature of 92 to 95 ° C, and a pH of 7 to 7.5 can be used.

【0038】本発明では、厚みが0.5 〜7μmである銅
−ニッケル−リンの合金粗化層にニッケルめっきを施す
場合には、ニッケル層の厚みを1〜7μmにすると、前
記粗化層は、ほぼニッケル層で充填されてその表面がほ
ぼ平坦になる。そして、この平坦なニッケル層の表面に
金めっきを0.01〜0.06μmの厚さでめっきすることが望
ましい。なお、厚みが0.5 〜7μmである銅−ニッケル
−リンの合金粗化層に、銅めっき、ニッケルめっき、金
めっきを順に施して厚みが1〜7μmの金属層を形成す
ることも可能である。
In the present invention, when a nickel-plated copper-nickel-phosphorus alloy layer having a thickness of 0.5 to 7 μm is plated with nickel, if the nickel layer has a thickness of 1 to 7 μm, the roughened layer has It is almost filled with a nickel layer and its surface becomes almost flat. Then, it is desirable to apply gold plating to the surface of the flat nickel layer to a thickness of 0.01 to 0.06 μm. The copper-nickel-phosphorus alloy roughened layer having a thickness of 0.5 to 7 μm may be subjected to copper plating, nickel plating and gold plating in this order to form a metal layer having a thickness of 1 to 7 μm.

【0039】(12)次に、前記開口部から露出した前記パ
ッド部上にはんだ体を供給する。はんだ体の供給方法と
しては、はんだ転写法や印刷法を用いることができる。
ここで、はんだ転写法は、プリプレグにはんだ箔を貼合
し、このはんだ箔を開口部分に相当する箇所のみを残し
てエッチングすることによりはんだパターンを形成して
はんだキャリアフィルムとし、このはんだキャリアフィ
ルムを、基板のソルダーレジスト開口部分にフラックス
を塗布した後、はんだパターンがパッドに接触するよう
に積層し、これを加熱して転写する方法である。一方、
印刷法は、パッドに相当する箇所に貫通孔を設けたメタ
ルマスクを基板に載置し、はんだペーストを印刷して加
熱処理する方法である。
(12) Next, a solder body is supplied onto the pad portion exposed from the opening. As a method of supplying the solder body, a solder transfer method or a printing method can be used.
Here, in the solder transfer method, a solder foil is bonded to a prepreg, and the solder foil is etched leaving only a portion corresponding to an opening portion to form a solder pattern to form a solder carrier film. Is applied to a solder resist opening portion of a substrate, and then laminated such that a solder pattern is in contact with a pad, which is heated and transferred. on the other hand,
The printing method is a method in which a metal mask having a through-hole provided at a position corresponding to a pad is placed on a substrate, and a solder paste is printed and heated.

【0040】[0040]

【実施例】【Example】

(実施例1) (1) 厚さ 0.6mmのガラスエポキシ樹脂またはBT(ビス
マレイミドトリアジン)樹脂からなる基板の両面に18μ
mの銅箔がラミネートされてなる銅張積層板を出発材料
とした。この銅張積層板の銅箔を常法に従いパターン状
にエッチングすることにより、基板の両面に内層銅パタ
ーンを形成した。
Example 1 (1) 18 μm on both sides of a substrate made of glass epoxy resin or BT (bismaleimide triazine) resin having a thickness of 0.6 mm.
A copper-clad laminate obtained by laminating m copper foils was used as a starting material. The copper foil of the copper-clad laminate was etched in a pattern according to a conventional method to form inner layer copper patterns on both surfaces of the substrate.

【0041】(2) 前記(1) で内層銅パターンを形成した
基板を水洗いし、乾燥した後、その基板を酸性脱脂して
ソフトエッチングし、次いで、塩化パラジウムと有機酸
からなる触媒溶液で処理して、Pd触媒を付与し、この
触媒を活性化した後、硫酸銅8g/l、硫酸ニッケル
0.6g/l、クエン酸15g/l、次亜リン酸ナトリウム2
9g/l、ホウ酸31g/l、界面活性剤 0.1g/l、p
H=9からなる無電解めっき浴にてめっきを施し、銅導
体回路の全表面にCu−Ni−P合金の厚さ 2.5μmの粗化
層(凹凸層)を形成した。そしてさらに、その基板を水
洗いし、0.1mol/lホウふっ化スズ−1.0mol/lチオ尿
素液からなる無電解スズ置換めっき浴に50℃で1時間浸
漬し、前記Cu−Ni−P合金粗化層の表面に厚さ 0.3μm
のスズ置換めっき層を形成した。
(2) The substrate on which the inner layer copper pattern was formed in the above (1) was washed with water and dried, and then the substrate was acid-degreased and soft-etched, and then treated with a catalyst solution comprising palladium chloride and an organic acid. Then, after applying a Pd catalyst and activating this catalyst, copper sulfate 8 g / l, nickel sulfate
0.6 g / l, citric acid 15 g / l, sodium hypophosphite 2
9 g / l, boric acid 31 g / l, surfactant 0.1 g / l, p
Plating was performed in an electroless plating bath consisting of H = 9, and a roughened layer (uneven layer) of Cu-Ni-P alloy having a thickness of 2.5 μm was formed on the entire surface of the copper conductor circuit. Further, the substrate was washed with water, immersed in an electroless tin displacement plating bath composed of 0.1 mol / l tin borofluoride-1.0 mol / l thiourea solution at 50 ° C. for 1 hour, and the Cu-Ni-P alloy 0.3μm on the surface of the passivation layer
Was formed.

【0042】(3) DMDG(ジエチレングリコールジメ
チルエーテル)に溶解したクレゾールノボラック型エポ
キシ樹脂(日本化薬製、分子量2500)の25%アクリル化
物を35重量部、ポリエーテルスルフォン(PES)12重
量部、イミダゾール硬化剤(四国化成製、商品名:2E4M
Z-CN)2重量部、感光性モノマーであるカプロラクトン
変成トリス(アクロキシエチル)イソシアヌレート(東
亜合成製、商品名:アロニックスM325 )4重量部、光
開始剤としてのベンゾフェノン(関東化学製)2重量
部、光増感剤としてのミヒラーケトン(関東化学製)0.
2 重量部、さらにこの混合物に対してエポキシ樹脂粒子
(三洋化成製、商品名:ポリマーポール)の平均粒径
3.0μmのものを10.3重量部、平均粒径 0.5μmのもの
を3.09重量部を混合した後、NMP(ノルマルメチルピ
ロリドン)30重量部を添加しながら混合し、ホモディス
パー攪拌機で粘度7Pa・sに調整し、続いて3本ロール
で混練して感光性接着剤溶液(層間樹脂絶縁材)を得
た。
(3) 35 parts by weight of 25% acrylate of cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku, molecular weight 2500) dissolved in DMDG (diethylene glycol dimethyl ether), 12 parts by weight of polyether sulfone (PES), imidazole cured (Shikoku Chemicals, trade name: 2E4M
2 parts by weight of Z-CN), 4 parts by weight of caprolactone-modified tris (acroxyethyl) isocyanurate (trade name: Alonix M325, manufactured by Toagosei Co., Ltd.), benzophenone (manufactured by Kanto Chemical Co., Ltd.) 2 as a photoinitiator Parts by weight, Michler's ketone as a photosensitizer (Kanto Chemical)
2 parts by weight, and the average particle size of epoxy resin particles (manufactured by Sanyo Chemical Industries, trade name: Polymer Pole) based on this mixture
After mixing 10.3 parts by weight of 3.0 μm and 3.09 parts by weight of an average particle size of 0.5 μm, mixing was performed while adding 30 parts by weight of NMP (normal methylpyrrolidone), and the mixture was adjusted to a viscosity of 7 Pa · s with a homodisper stirrer. After adjustment, the mixture was kneaded with three rolls to obtain a photosensitive adhesive solution (interlayer resin insulating material).

【0043】(4) 前記(3) で得た感光性接着剤溶液を、
前記(2) の処理を終えた基板の両面に、ロールコータを
用いて塗布し、水平状態で20分間放置してから、60℃で
30分間の乾燥を行い、厚さ60μmの接着剤層を形成し
た。
(4) The photosensitive adhesive solution obtained in the above (3) is
On both sides of the substrate after the treatment of the above (2), apply using a roll coater, leave it in a horizontal state for 20 minutes, and then
Drying was performed for 30 minutes to form an adhesive layer having a thickness of 60 μm.

【0044】(5) 前記(4) で接着剤層を形成した基板の
両面に、3個のバイアホールがパッド形成領域に集合し
て描画されたフォトマスクフィルムを載置し、紫外線を
照射して露光した。 (6) 露光した基板をDMTG(トリエチレングリコール
ジメチルエーテル)溶液でスプレー現像することによ
り、接着剤層に 100μmφのバイアホールとなる開口を
形成した。さらに、当該基板を超高圧水銀灯にて3000mJ
/cm2 で露光し、100℃で1時間、その後 150℃で5時
間にて加熱処理することにより、フォトマスクフィルム
に相当する寸法精度に優れた開口(バイアホール形成用
開口)を集合した状態で3個有する厚さ50μmの接着剤
層を形成した。なお、バイアホールとなる開口には、ス
ズめっき層を部分的に露出させる。
(5) On both surfaces of the substrate on which the adhesive layer was formed in the above (4), a photomask film in which three via holes were gathered in a pad formation region was placed and irradiated with ultraviolet rays. Exposed. (6) The exposed substrate was spray-developed with a DMTG (triethylene glycol dimethyl ether) solution to form an opening serving as a 100 μmφ via hole in the adhesive layer. Furthermore, the substrate is 3,000 mJ
/ Cm 2 and heat treatment at 100 ° C for 1 hour and then at 150 ° C for 5 hours to assemble openings (openings for forming via holes) with excellent dimensional accuracy equivalent to a photomask film To form an adhesive layer having a thickness of 50 μm. Note that the tin plating layer is partially exposed in the opening serving as the via hole.

【0045】(7) 前記(5) (6) でバイアホール形成用開
口を形成した基板を、クロム酸に2分間浸漬し、接着剤
層4表面に存在するエポキシ樹脂粒子を溶解除去して、
当該接着剤層の表面を粗化し、その後、中和溶液(シプ
レイ社製)に浸漬してから水洗いした。
(7) The substrate on which the via hole forming opening was formed in (5) and (6) was immersed in chromic acid for 2 minutes to dissolve and remove the epoxy resin particles present on the surface of the adhesive layer 4.
The surface of the adhesive layer was roughened and then immersed in a neutralizing solution (manufactured by Shipley) and then washed with water.

【0046】(8) 前記(7) で粗面化処理(粗化深さ20μ
m)を行った基板に対し、パラジウム触媒(アトテック
製)を付与することにより、接着剤層およびバイアホー
ル用開口の表面に触媒核を付与した。
(8) Roughening treatment (roughening depth 20 μm)
By applying a palladium catalyst (manufactured by Atotech) to the substrate subjected to m), catalyst nuclei were provided on the surfaces of the adhesive layer and the openings for via holes.

【0047】(9) DMDGに溶解させた60重量%のクレ
ゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬製)のエポ
キシ基50%をアクリル化した感光性付与のオリゴマー
(分子量4000)を 46.67g、メチルエチルケトンに溶解
させた80重量%のビスフェノールA型エポキシ樹脂(油
化シェル製、エピコート1001)15.0g、イミダゾール硬
化剤(四国化成製、商品名:2E4MZ-CN)1.6 g、感光性
モノマーである多価アクリルモノマー(日本化薬製、商
品名:R604 )3g、同じく多価アクリルモノマー(共
栄社化学製、商品名:DPE6A )1.5 gを混合し、混合液
Aを調製した。一方で、光開始剤としてのベンゾフェノ
ン(関東化学製)2g、光増感剤としてのミヒラーケト
ン(関東化学製)0.2 gを40℃に加温した3gのDMD
Gに溶解させて混合液Bを調製した。上記混合液Aと上
記混合液Bを混合攪拌して液状レジスト組成物を得た。
(9) 46.67 g of a photosensitizing oligomer (molecular weight 4000) obtained by acrylizing 50% of an epoxy group of a 60% by weight cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku) dissolved in DMDG, 15.0 g of dissolved 80% by weight bisphenol A type epoxy resin (manufactured by Yuka Shell, Epicoat 1001), 1.6 g of imidazole hardener (manufactured by Shikoku Chemicals, trade name: 2E4MZ-CN), polyvalent acrylic as a photosensitive monomer A mixed solution A was prepared by mixing 3 g of a monomer (manufactured by Nippon Kayaku, trade name: R604) and 1.5 g of a polyvalent acrylic monomer (manufactured by Kyoeisha Chemical, trade name: DPE6A). On the other hand, 3 g of DMD prepared by heating 2 g of benzophenone as a photoinitiator (manufactured by Kanto Kagaku) and 0.2 g of Michler's ketone as a photosensitizer (manufactured by Kanto Kagaku) at 40 ° C.
G to prepare a mixed solution B. The liquid mixture A and the liquid mixture B were mixed and stirred to obtain a liquid resist composition.

【0048】(10)上記(8) で触媒核付与の処理を終えた
基板の両面に、上記液状レジスト組成物をロールコータ
ーを用いて塗布し、60℃で30分の乾燥を行い、厚さ30μ
mのレジスト層を形成した。
(10) The liquid resist composition is applied to both surfaces of the substrate, which has been subjected to the treatment for providing catalyst nuclei in the above (8), using a roll coater, and dried at 60 ° C. for 30 minutes. 30μ
m of resist layers were formed.

【0049】(11)前記レジスト層にパターンが描画され
たマスクを積層し、紫外線を照射して露光した。 (12)前記(11)で露光した後、レジスト層をDMTGで溶
解現像し、基板上に導体回路パターン部の抜けためっき
レジスト6を形成し、さらに、これを超高圧水銀灯にて
6000mJ/cm2 で露光した。そしてさらに、このめっきレ
ジストを、 100℃で1時間、その後、 150℃で3時間に
て加熱処理することにより、前記接着剤層の上に形成し
た永久レジストとする。
(11) A mask having a pattern drawn thereon was laminated on the resist layer, and the resist layer was exposed to ultraviolet rays. (12) After the exposure in the step (11), the resist layer is dissolved and developed with DMTG to form a plating resist 6 from which the conductor circuit pattern portion has been removed on the substrate, and this is further subjected to an ultra-high pressure mercury lamp.
Exposure was performed at 6000 mJ / cm 2 . Further, the plating resist is subjected to a heat treatment at 100 ° C. for 1 hour and then at 150 ° C. for 3 hours to obtain a permanent resist formed on the adhesive layer.

【0050】(13)永久レジストを形成した基板に、予
め、めっき前処理(具体的には硫酸処理等および触媒核
の活性化)を施し、その後、硫酸銅 8.6mM、トリエタ
ノールアミン0.15M、ホルムアルデヒド0.02M、ビピル
ジル少量からなる無電解銅めっき浴による銅めっきを行
い、レジスト非形成部に厚さ15μm程度の無電解銅めっ
きを析出させて、外層銅パターン、バイアホールを形成
することにより、アディティブ法による導体層を形成し
た。 (14)ついで、導体層を形成した基板を、硫酸銅8g/
l、硫酸ニッケル 0.6g/l、クエン酸15g/l、次亜
リン酸ナトリウム29g/l、ホウ酸31g/l、界面活性
剤 0.1g/lからなるpH=9の無電解めっき液に浸漬
し、該導体層の表面に銅−ニッケル−リンからなる粗化
層を形成した。
(13) The substrate on which the permanent resist has been formed is subjected to plating pretreatment (specifically, sulfuric acid treatment or the like and activation of catalyst nuclei), and thereafter, 8.6 mM of copper sulfate, 0.15 M of triethanolamine, Formaldehyde 0.02M, copper plating by an electroless copper plating bath consisting of a small amount of bipyridyl, depositing about 15μm thick electroless copper plating on the resist non-formed part, forming the outer layer copper pattern, via hole, A conductor layer was formed by an additive method. (14) Then, the substrate on which the conductor layer was formed was coated with copper sulfate 8 g /
1, nickel sulfate 0.6 g / l, citric acid 15 g / l, sodium hypophosphite 29 g / l, boric acid 31 g / l, surfactant 0.1 g / l, immersed in an electroless plating solution having a pH of 9 A roughened layer made of copper-nickel-phosphorus was formed on the surface of the conductor layer.

【0051】(15)一方、DMDGに溶解させた60重量%
のクレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬製)
のエポキシ基50%をアクリル化した感光性付与のオリゴ
マー(分子量4000)を 46.67g、メチルエチルケトンに
溶解させた80重量%のビスフェノールA型エポキシ樹脂
(油化シェル製、エピコート1001)15.0g、イミダゾー
ル硬化剤(四国化成製、商品名:2E4MZ-CN)1.6 g、感
光性モノマーである多価アクリルモノマー(日本化薬
製、商品名:R604 )3g、同じく多価アクリルモノマ
ー(共栄社化学製、商品名:DPE6A ) 1.5g、分散系消
泡剤(サンノプコ社製、商品名:S−65)0.71gを混合
し、さらにこの混合物に対して光開始剤としてのベンゾ
フェノン(関東化学製)を2g、光増感剤としてのミヒ
ラーケトン(関東化学製)を0.2 g加えて、粘度を25℃
で 2.0Pa・sに調整したソルダーレジスト組成物を得
た。なお、粘度測定は、B型粘度計(東京計器、 DVL-B
型)で 60rpmの場合はローターNo.4、6rpm の場合はロ
ーターNo.3によった。
(15) On the other hand, 60% by weight dissolved in DMDG
Cresol novolak epoxy resin (Nippon Kayaku)
46.67 g of a photosensitizing oligomer (molecular weight 4000) obtained by acrylizing 50% of the epoxy groups of epoxy resin, 15.0 g of an 80 wt% bisphenol A type epoxy resin (made by Yuka Shell, Epicoat 1001) dissolved in methyl ethyl ketone, imidazole curing 1.6 g of an agent (manufactured by Shikoku Chemicals, trade name: 2E4MZ-CN), 3 g of a polyacrylic monomer which is a photosensitive monomer (trade name: R604, manufactured by Nippon Kayaku), and a polyacrylic monomer (manufactured by Kyoeisha Chemical, trade name) : DPE6A) 1.5 g and a dispersion antifoaming agent (manufactured by San Nopco, trade name: S-65) 0.71 g were mixed, and 2 g of benzophenone (Kanto Chemical) as a photoinitiator was added to this mixture. Add 0.2 g of Michler's ketone (manufactured by Kanto Chemical Co.) as a sensitizer, and adjust the viscosity to 25 ° C.
Thus, a solder resist composition adjusted to 2.0 Pa · s was obtained. The viscosity was measured using a B-type viscometer (Tokyo Keiki, DVL-B
The rotor was No. 4 at 60 rpm and the rotor No. 3 at 6 rpm.

【0052】(16)(14)までの工程で得た基板を、垂直に
立てた状態でロールコータの一対の塗布用ロール間に挟
み、該基板の表面に前記(15)で得たソルダーレジスト組
成物を2回塗布し、厚さ20μmの樹脂層を形成した。こ
こで、1回目の塗布では70℃で20分間の乾燥を行い、2
回目の塗布では70℃で50分間の乾燥処理を行った。 (17)次いで、前記基板の表面に樹脂層を形成した後、該
樹脂層を1000mJ/cm2 の紫外線で露光し、DMTG現像処理
した。さらに、80℃で1時間、 100℃で1時間、 120℃
で1時間、 150℃で3時間の条件で加熱処理し、パッド
部分が開口した(開口径 200μm)ソルダーレジスト層
(厚み20μm)を形成した。
(16) The substrate obtained in the steps up to (14) is sandwiched between a pair of application rolls of a roll coater in an upright state, and the solder resist obtained in (15) is placed on the surface of the substrate. The composition was applied twice to form a resin layer having a thickness of 20 μm. Here, in the first application, drying was performed at 70 ° C. for 20 minutes.
In the first application, a drying treatment was performed at 70 ° C. for 50 minutes. (17) Next, after forming a resin layer on the surface of the substrate, the resin layer was exposed to ultraviolet rays of 1000 mJ / cm 2 and subjected to DMTG development treatment. 1 hour at 80 ° C, 1 hour at 100 ° C, 120 ° C
For 1 hour and at 150 ° C. for 3 hours to form a solder resist layer (thickness: 20 μm) having an open pad (opening diameter: 200 μm).

【0053】(18)次に、ソルダーレジスト層を形成した
基板を、塩化ニッケル30g/l、次亜リン酸ナトリウム
10g/l、クエン酸ナトリウム10g/lからなるpH=
5の無電解ニッケルめっき液に20分間浸漬して、開口部
に厚さ5μmのニッケルめっき層13を形成した。さら
に、その基板を、シアン化金カリウム2g/l、塩化ア
ンモニウム75g/l、クエン酸ナトリウム50g/l、次
亜リン酸ナトリウム10g/lからなる無電解金めっき液
に93℃の条件で23秒間浸漬して、ニッケルめっき層上に
厚さ0.03μmの金めっき層を形成した。 (19)そして、ソルダーレジスト層の開口部に、はんだペ
ーストを印刷して 200℃でリフローすることによりはん
だバンプを形成し、はんだバンプを有するプリント配線
板を製造した。
(18) Next, the substrate on which the solder resist layer was formed was treated with 30 g / l of nickel chloride and sodium hypophosphite.
PH consisting of 10 g / l, 10 g / l sodium citrate =
5 was immersed in the electroless nickel plating solution for 20 minutes to form a nickel plating layer 13 having a thickness of 5 μm at the opening. Further, the substrate was placed on an electroless gold plating solution comprising 2 g / l of potassium gold cyanide, 75 g / l of ammonium chloride, 50 g / l of sodium citrate, and 10 g / l of sodium hypophosphite at 93 ° C. for 23 seconds. By dipping, a gold plating layer having a thickness of 0.03 μm was formed on the nickel plating layer. (19) Then, a solder paste was printed on the opening of the solder resist layer and reflowed at 200 ° C. to form a solder bump, thereby producing a printed wiring board having the solder bump.

【0054】(比較例)基本的に実施例1と同様である
が、パッドと下層導体回路との接続を1個のバイアホー
ルで行った。
(Comparative Example) Basically the same as in Example 1, except that the connection between the pad and the lower conductor circuit was made with one via hole.

【0055】実施例、比較例で製造したプリント配線板
につき、−55℃〜125 ℃でヒートサイクル試験を実施
し、フライングプローブにてバイアホール部の導通の有
無を調べた。その結果、 100枚のプリント配線板の内、
導通不良が見られた数量を%で表示し、その結果を表1
に示す。この表に示す結果から明らかなように、本発明
にかかるプリント配線板の構成によれば、ヒートサイク
ル試験における導通信頼性を向上させることができる。
The printed wiring boards manufactured in Examples and Comparative Examples were subjected to a heat cycle test at -55 ° C. to 125 ° C., and the presence or absence of continuity in the via holes was examined using a flying probe. As a result, out of 100 printed wiring boards,
Table 1 shows the quantity of continuity failures, and the results are shown in Table 1.
Shown in As is clear from the results shown in this table, according to the configuration of the printed wiring board according to the present invention, the conduction reliability in the heat cycle test can be improved.

【0056】[0056]

【表1】 [Table 1]

【0057】[0057]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、ヒ
ートサイクル等によってもバイアホールの接続信頼性に
優れるプリント配線板を安定して提供することができ
る。
As described above, according to the present invention, a printed wiring board having excellent via hole connection reliability can be stably provided even by a heat cycle or the like.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】従来技術にかかるパッド構造を示すプリント配
線板の部分断面図である。
FIG. 1 is a partial sectional view of a printed wiring board showing a pad structure according to a conventional technique.

【図2】従来技術にかかる他のパッド構造を示すプリン
ト配線板の部分断面図である。
FIG. 2 is a partial sectional view of a printed wiring board showing another pad structure according to the related art.

【図3】本発明にかかるパッド構造を示すプリント配線
板の部分断面図である。
FIG. 3 is a partial sectional view of a printed wiring board showing a pad structure according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 層間絶縁材層(接着剤層) 2 めっきレジスト(永久レジスト) 3 導体(回路) 4 バイアホール 5 ソルダーレジスト層 6 粗化層 7 ニッケル−金層 8 パッド 9 はんだ体(はんだバンプ) Reference Signs List 1 interlayer insulating material layer (adhesive layer) 2 plating resist (permanent resist) 3 conductor (circuit) 4 via hole 5 solder resist layer 6 roughened layer 7 nickel-gold layer 8 pad 9 solder body (solder bump)

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 配線基板表面に設けたパッドにはんだバ
ンプを形成してなるプリント配線板において、 前記パッドは、2以上のバイアホールを含んだ領域から
構成され、これらのバイアホールを介して前記配線基板
の導体回路と電気的に接続されていることを特徴とする
プリント配線板。
1. A printed wiring board in which solder bumps are formed on pads provided on a surface of a wiring board, wherein the pads are formed of a region including two or more via holes, and the pads are formed through these via holes. A printed wiring board electrically connected to a conductor circuit of the wiring board.
【請求項2】 前記パッドの表面には、ニッケル−金層
が形成されている請求項1に記載のプリント配線板。
2. The printed wiring board according to claim 1, wherein a nickel-gold layer is formed on a surface of the pad.
【請求項3】 前記パッドは、2〜5個のバイアホール
を含む請求項1に記載のプリント配線板。
3. The printed wiring board according to claim 1, wherein the pad includes 2 to 5 via holes.
JP9032282A 1997-02-17 1997-02-17 Printed wiring board Pending JPH10229272A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9032282A JPH10229272A (en) 1997-02-17 1997-02-17 Printed wiring board

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9032282A JPH10229272A (en) 1997-02-17 1997-02-17 Printed wiring board

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10229272A true JPH10229272A (en) 1998-08-25

Family

ID=12354626

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9032282A Pending JPH10229272A (en) 1997-02-17 1997-02-17 Printed wiring board

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH10229272A (en)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002100870A (en) * 1999-09-02 2002-04-05 Ibiden Co Ltd Printed wiring board and method of manufacturing printed wiring board
US7825340B2 (en) 2007-11-26 2010-11-02 Sharp Kabushiki Kaisha Double-sided wiring board, manufacturing method of double-sided wiring board, and mounting double-sided wiring board
US7855894B2 (en) 1999-09-02 2010-12-21 Ibiden Co., Ltd. Printed circuit board
US7864542B2 (en) 1999-09-02 2011-01-04 Ibiden Co., Ltd. Printed circuit board
JP2014072371A (en) * 2012-09-28 2014-04-21 Ibiden Co Ltd Printed wiring board and printed wiring board manufacturing method
JP2014072370A (en) * 2012-09-28 2014-04-21 Ibiden Co Ltd Printed wiring board and printed wiring board manufacturing method
JP2016167543A (en) * 2015-03-10 2016-09-15 株式会社村田製作所 Bonding member and mounting method of electronic component using the same

Cited By (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8116091B2 (en) 1999-09-02 2012-02-14 Ibiden Co., Ltd. Printed circuit board
US8763241B2 (en) 1999-09-02 2014-07-01 Ibiden Co., Ltd. Method of manufacturing printed wiring board
US7855894B2 (en) 1999-09-02 2010-12-21 Ibiden Co., Ltd. Printed circuit board
US8331102B2 (en) 1999-09-02 2012-12-11 Ibiden Co., Ltd. Printed circuit board
US7881069B2 (en) 1999-09-02 2011-02-01 Ibiden Co., Ltd. Printed circuit board
US7978478B2 (en) 1999-09-02 2011-07-12 Ibiden Co., Ltd. Printed circuit board
US7995352B2 (en) 1999-09-02 2011-08-09 Ibiden Co., Ltd. Printed circuit board
US8107253B2 (en) 1999-09-02 2012-01-31 Ibiden Co., Ltd. Printed circuit board
US9060446B2 (en) 1999-09-02 2015-06-16 Ibiden Co., Ltd. Printed circuit board
US8842440B2 (en) 1999-09-02 2014-09-23 Ibiden Co., Ltd. Printed circuit board and method of manufacturing printed circuit board
US7864542B2 (en) 1999-09-02 2011-01-04 Ibiden Co., Ltd. Printed circuit board
US8830691B2 (en) 1999-09-02 2014-09-09 Ibiden Co., Ltd. Printed circuit board and method of manufacturing printed circuit board
US8717772B2 (en) 1999-09-02 2014-05-06 Ibiden Co., Ltd. Printed circuit board
JP2002100870A (en) * 1999-09-02 2002-04-05 Ibiden Co Ltd Printed wiring board and method of manufacturing printed wiring board
US8780573B2 (en) 1999-09-02 2014-07-15 Ibiden Co., Ltd. Printed circuit board
US7825340B2 (en) 2007-11-26 2010-11-02 Sharp Kabushiki Kaisha Double-sided wiring board, manufacturing method of double-sided wiring board, and mounting double-sided wiring board
JP2014072370A (en) * 2012-09-28 2014-04-21 Ibiden Co Ltd Printed wiring board and printed wiring board manufacturing method
JP2014072371A (en) * 2012-09-28 2014-04-21 Ibiden Co Ltd Printed wiring board and printed wiring board manufacturing method
JP2016167543A (en) * 2015-03-10 2016-09-15 株式会社村田製作所 Bonding member and mounting method of electronic component using the same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN100401190C (en) Printed circuit board
KR100882173B1 (en) Conductive Connection Pins and Package Board
USRE43509E1 (en) Printed wiring board and method for manufacturing the same
US6376049B1 (en) Multilayer printed wiring board and its manufacturing method, and resin composition for filling through-hole
JP3311977B2 (en) Adhesive for electroless plating and multilayer printed wiring board
JPH10229272A (en) Printed wiring board
JP2000114727A (en) Multilayer printed wiring board
JP4592929B2 (en) Multilayer circuit board
JP3152633B2 (en) Multilayer printed wiring board and method of manufacturing the same
JP4592890B2 (en) Multilayer circuit board
JP3220419B2 (en) Multilayer printed wiring board
JPH10190224A (en) Multilayer printed wiring board and its manufacture
JPH10261869A (en) Multilayer printed wiring board
JP4159136B2 (en) Multilayer printed wiring board
JPH10247783A (en) Multilayer printed wiring board and manufacture thereof
JP3219396B2 (en) Manufacturing method of multilayer printed wiring board
JPH10247784A (en) Multilayer printed wiring board and manufacture thereof
JPH11214828A (en) Printed wiring of board and manufacture thereof
JP3253873B2 (en) Printed wiring board
JPH10150249A (en) Printed-wiring board
JP2000133946A (en) Multilayer printed wiring board
JP2000124608A (en) Multilayer printed wiring board
JPH10242639A (en) Multilyer printed wiring board and its manufacturing method
JP2000133939A (en) Multilayer printed wiring board
JP3219395B2 (en) Manufacturing method of multilayer printed wiring board