JPH10233165A

JPH10233165A - 陰極線管における２次電子電荷の検出方法

Info

Publication number: JPH10233165A
Application number: JP10022098A
Authority: JP
Inventors: Hideo Kato; カトーヒデオ
Original assignee: Sony United Kingdom Ltd
Current assignee: Sony Europe BV United Kingdom Branch
Priority date: 1997-02-13
Filing date: 1998-02-03
Publication date: 1998-09-02
Also published as: US6104194A; GB2322202B; GB2322202A; GB9702924D0

Abstract

(57)【要約】【課題】ＣＲＴの内面に電子電荷が蓄積されたかどう
かを簡単に知る方法を得る。【解決手段】ＣＲＴ（１０）内に電子ビームを発生さ
せ、該ビームを偏向させてＣＲＴのファンネル（１４）
の内面に当てるようにする。ＣＲＴの或る部分の温度を
測定して基準温度と比較する。測定温度が基準温度より
高いか又は等しいとき、電子電荷が蓄積されていると決
定する。測定温度が基準温度より低いとき、電子ビーム
が遮断され電子電荷がＣＲＴの内面に蓄積されていない
可能性がある。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、陰極線管のネック
（頸）部の内面上の２次電子の電荷を検出する方法に関
するものである。本発明方法は、陰極線管の製作時に特
に有用である。

【０００２】

【従来の技術】テレビジョンやモニタ等の、陰極線管
（ＣＲＴ）を用いる表示装置では、ＣＲＴの通常使用時
にネック部の周りの管の側壁内面に電子の電荷が蓄積さ
れる。この電荷は、２次電子電荷として知られており、
ＣＲＴ内の電子ビームに源を発して電界を生成し、後に
電子ビームに影響を与える。このため、特に、ただしこ
れに限らないが、例えばカラーテレビやＲＧＢモニタ用
の３電子銃式ＣＲＴにおいて、ビームの収束に関する問
題が発生する。

【０００３】そこで、２次電子電荷の影響を打ち消すよ
う表示装置を調整する必要がある。収束状態は通常、Ｃ
ＲＴのネック部に設けた環状磁石の位置を変更すること
により調整している。しかし、ＣＲＴの製作が終わった
ばかりのとき、ネック部には２次電子電荷がないので、
そのような条件の下で収束を調整しても、表示装置をあ
とで使用し２次電子電荷が発生したときに、跳び収束と
か収束ドリフトとも呼ばれる収束不良が生じることにな
る。

【０００４】収束不良の問題を避けるため、装置の使用
状態と類似の条件で収束を調整できるように、ＣＲＴが
製作のあと受けるエージング処理時に２次電子電荷を発
生することが提案された。ＣＲＴのネック部の内面に蓄
積した２次電子電荷は、ＣＲＴを使用しなくても少なく
とも１年は存続するので、２次電子電荷は１回だけ発生
すればよく、そのとき行われた収束調整は、ＣＲＴを将
来使用する殆どの場合にも正しいことになる。

【０００５】上述のエージング処理は、生産ラインのコ
ンベヤ上のパレット（運搬台）に載せた、ＣＲＴを含む
部分的に組立てられた表示装置に対して行われる。エー
ジング処理は大抵、ＣＲＴにスイッチを入れて電子ビー
ムを発生させ、ただ白い画面を表示するだけのＣＲＴ
を、２時間４０℃の温度にさらして行う。表示装置をそ
れから冷却し、収束状態を調整する。次の条件が満たさ
れる場合に収束不良を補正するのに充分な２次電子電荷
が発生することを、実験的に確認した。Ｂ×ｔ≧６０００・・・（１）ただし、Ｂはｃｄ／ｍ²で表したスクリーン輝度であ
り、ｔは分で表したエージング時間である。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】エージング処理の際、
表示装置が保護モード或いは省電力モードとしても知ら
れる待機モードに入ることによって、１つの問題が発生
する可能性がある。それは、エージング過程でパレット
上の表示装置とコンベヤ上のパレットとの間の電気接続
不良、特にパレットが１つのコンベヤから次のコンベヤ
に移るときの電気接続不良の結果として発生することが
あり、或いは表示装置の初期パラメータ設定の結果であ
ることもある。表示装置がエージング過程の一部又は全
体において待機モードになると、上記の条件（１）が満
たされなくなるので、ＣＲＴのネック部の内面に充分な
２次電子電荷が蓄積されない。そうすると、収束が正し
く調整されないので、表示装置をあとで動作させるとき
収束不良を起こすことになる。

【０００７】上述のやり方では、２次電子電荷を直接測
定することは実際的でないので、２次電子電荷が充分に
発生されていることを確かめることができない。したが
って、本発明の課題は、上述の問題を少なくとも部分的
に軽減することである。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明は、陰極線管の内
面に電子電荷が充分蓄積されたかどうかを決定する方法
を提供するもので、その方法は、陰極線管内で少なくと
も１本の電子ビームを発生するステップと、上記少なく
とも１本の電子ビームを上記陰極線管のファンネル部分
の内面に当たるように偏向させるステップと、上記陰極
線管の所定部分の温度を測定するステップと、上記測定
した温度を所定の基準温度値と比較して、電子電荷が上
記陰極線管の内面に充分蓄積されたかどうかを決定する
ステップとを含む。

【０００９】こうすれば、充分な２次電子電荷が発生し
たと判断して収束を補正することができ、あとで表示装
置を使用するときに調整する必要がない。

【００１０】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施形態の例を説明する。図１はＣＲＴの背面図であり、
図２は、本発明による電子ビームの偏向路を示すＣＲＴ
の略図である。

【００１１】図１及び２に示すＣＲＴ１０は、スクリー
ン部分１２及びファンネル部分１４をもつ真空化された
ガラス密閉体を有する。ファンネル部分の先端に３個の
電子銃１６があり、これらは、ＣＲＴ内で３本の電子ビ
ームを生成し、公知のようにして可視カラー映像を作
る。ＣＲＴのファンネル部分１４のネック部は偏向ヨー
ク１８に囲まれており、該ヨークは、電子ビームをＣＲ
Ｔのスクリーン部分１２の全領域にわたって走査させ
る。ＣＲＴ１０の通常使用時における電子ビームの２つ
の最も外側の経路を図２に点線２０で示す。

【００１２】本発明方法の１つの実施形態では、ＣＲＴ
装置にスイッチを入れて電子銃に複数の電子ビームを発
生させる。電子ビームは、適切な信号が偏向ヨーク１８
の回路に加えられてラスタ形式の走査をする。その走査
の両極端で、電子ビームを、ＣＲＴ１０のスクリーン部
分１２をカバーするのに必要な通常の最大偏向角より大
きな角度に偏向させる。本発明によりこのように両極端
で偏向された電子ビームの２つの経路を図２に実線２２
で示す。こうすれば、電子ビームが、偏向の両極端で偏
向ヨーク１８内の位置Ｂ及びＢ′においてＣＲＴ１０の
ファンネル部分１４の内面に当たる。

【００１３】本発明の１つの実施形態では、マイクロプ
ロセッサ（図示せず）がビーム偏向回路を制御し、種々
異なるスクリーンのサイズに適用できるパラメータを有
する。マイクロプロセッサに初期パラメータを与えて電
子ビームの最大偏向角を自動的に増加させ、上述の如く
ＣＲＴのファンネル部分の内面に電子ビームを当てさせ
て、どんな特別のＣＲＴの調整も必要でないようにする
ことは、簡単である。代わりに、又は更に、可変抵抗器
によって偏向を調整してもよい。

【００１４】電子ビームがネック部に当たると、必然的
に熱が発生してＣＲＴのその部分の温度が上がる。本発
明の好適な実施形態では、この電子ビーム偏向処理をエ
ージング処理時に行い、その際ＣＲＴを２時間の間４０
℃の環境の中に置く。この期間内に、スクリーン輝度が
６０ｃｄ／ｍ²となるように、ただし、ほかに画像信号
を電子ビームに加えないで、全体の電子ビーム流を設定
する。このエージング時間及び輝度は、充分な２次電子
電荷を発生させ次いで収束補正調整を行なうのに十分で
ある。ＣＲＴのＢ及びＢ′点に当たる電子ビームにより
発生する熱は、温度をエージング温度より高くすること
ができる。

【００１５】次に、ＣＲＴを２５℃の環境内で冷やす。
この冷却処理の間クロスハッチ信号を加えて、電子ビー
ムを変調してもよい。ネック部に当たり続ける電子ビー
ムによって発生する熱のため、ＣＲＴのその部分は、電
子ビームがない場合、例えば何らかの理由によってＣＲ
Ｔ装置がエージング過程で待機モードに入ったとした場
合よりも長く、より高い温度状態が続くことになる。よ
り高い温度は、エージング過程で電子ビームが発生して
いて２次電子電荷が充分に発生されていることを示すも
のである。

【００１６】本発明の１つの実施形態では、上記ヨーク
１８の外側のファンネル部分上の図１及び２にＡ又は
Ａ′で示す位置におけるＣＲＴの温度を測定する。これ
らの位置は、電子ビームがネック部に当たるＢ及びＢ′
の領域から離れているが、熱はＡ及びＡ′に伝わるの
で、電子ビームが全くネック部に当たらない場合よりも
長く、より高い温度に維持される。Ｂ及びＢ′の位置は
ヨーク１８内にあって入ることができず、また、ヨーク
自体も温度が上がっていることがあるので、Ａ又はＡ′
で温度を測定する方がよい。

【００１７】Ａ又はＡ′のいずれか一方の位置の表面温
度は、非接触型の温度計を用いて測定する。この型の温
度計は、生産ライン上で次々に来るＣＲＴの温度を測定
するのに、各ＣＲＴの表面に接触させたり表面から離し
たりするために動かさないで都合よく適当な位置に配設
できるので、好適である。適当な温度計の例としては、
ミノルタ社製のランド・ポータブル・インフラレッド・
サーモメータ、コンパック３型がある。

【００１８】図３の曲線は、３個のサンプル装置に関す
るＡ又はＡ′位置の温度変化を示すものである。水平軸
が線形でない点に注意されたい。各装置に加えた共通の
条件は、次のとおりであった。区域Ｉで示す１２０分間
４０℃のエージングと、区域IIで示す２５℃での冷却で
ある。＃１として示す曲線は、電子ビームを偏向してＣ
ＲＴのファンネル部分の内面に当てるようにした装置に
対応するものである。＃２及び＃３で示す曲線は、電子
ビームを発生しない装置に対するＡ又はＡ′点における
温度変化を示す。

【００１９】区域IIで２０〜３０分冷却した後の装置＃
１に対するＡ又はＡ′の温度は、他の装置に対する温度
より５℃位高いことが分かる。本発明においては、２０
分間冷却した後の温度を測定し、例えば４０℃の基準値
と比較する。本発明では、エージング及び冷却過程の始
めから終わりまで温度を監視する必要はない。発生した
電子ビームを本発明に従って偏向させた装置の測定温度
は、基準温度より高い。したがって、その装置には２次
電子電荷が充分蓄積されていると確定できる。＃２又は
＃３などの他の装置における２０分間冷却後の測定温度
は、基準温度より低い。これらの装置については、エー
ジング処理を繰返し、温度を測定し直して２次電子電荷
が充分生成されたかどうかを確かめてもよい。

【００２０】基準温度は、先行エージング処理の持続時
間及び温度、温度測定前の冷却時間の長さ及び冷却温
度、並びにＣＲＴの個々のサイズ及び型式の如き種々異
なる条件に応じて、選択することができる。基準温度
は、エージングの温度より高いか又は低いこともありう
るであろう。本発明にとってエージング処理自体は不可
欠ではなく、２次電子電荷発生処理を別個に行ってもよ
い。必要なことは、電子ビームを偏向させてファンネル
部分に当てたとき、充分な時間電子ビームを発生せず充
分な２次電子電荷が蓄積されなかった場合の温度に比べ
て高い温度が少し遅れて発生し、これを測定できること
である。しかしながら、エージング過程で２次電子電荷
を生成させるのが便利である。

【００２１】測定温度が基準温度より高いことで２次電
子電荷が充分発生していると決定した後に、ＣＲＴの電
子ビームの収束状態を調整することができる。そうすれ
ば、そのＣＲＴはあとで収束の調整をする必要がない。
その結果、品質が向上した製品が生れる。

【００２２】

【発明の効果】本発明方法によれば、ＣＲＴの電子ビー
ムがエージング処理時の如き所定時間の間条件（１）を
満たすように発生され、２次電子電荷がＣＲＴのネック
部の内面に充分生成されているかどうかを決定すること
ができる。本発明ではまた、エージング処理の間のすべ
てのＣＲＴを絶えず監視して電子ビームが発生している
ことを確かめるという、多くの設備及び／又は労力を要
することを行なう必要がない。本発明によれば、収束調
整の前に各ＣＲＴについて１回の温度測定をすることに
より、所要の２次電子電荷の証拠を得ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】ＣＲＴの背面図である。

【図２】本発明による電子ビームの偏向経路を示すＣＲ
Ｔの略図である。

【図３】幾つかのサンプルＣＲＴ装置についての温度と
時間の関係を示す曲線図である。

【符号の説明】

１０…陰極線管、１４…ファンネル部分、１８…偏向ヨ
ーク

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】陰極線管の内面に電子電荷が充分蓄積さ
れたかどうかを決定する方法であって、上記陰極線管内で少なくとも１本の電子ビームを発生す
るステップと、上記少なくとも１本の電子ビームを上記陰極線管のファ
ンネル部分の内面に当たるように偏向するステップと、上記陰極線管の所定部分の温度を測定するステップと、上記測定した温度を所定の基準温度値と比較して、上記
陰極線管の内面に電子電荷が充分蓄積されたかどうかを
決定するステップとを含む上記方法。
【請求項２】上記測定温度が上記基準温度より高いか
又は等しいとき、上記電子電荷が充分蓄積されたと決定
する請求項１の方法。
【請求項３】上記陰極線管の所定部分が該陰極線管の
上記ファンネル部分の壁部に位置する請求項１又は２の
方法。
【請求項４】上記温度を非接触型温度計を用いて測定
する請求項１〜３のいずれか１項の方法。
【請求項５】上記陰極線管を囲む偏向ヨークにおい
て、少なくとも１本の電子ビームを該陰極線管の上記フ
ァンネル部分の内面に当てる請求項１〜４のいずれか１
項の方法。
【請求項６】上記陰極線管の所定部分は、該陰極線管
の上記ファンネル部分の内面に上記少なくとも１本の電
子ビームが当たる所から離れている請求項５の方法。
【請求項７】上記偏向ステップは更に、上記少なくと
も１本の電子ビームをラスタ走査させることを含む請求
項１〜６のいずれか１項の方法。
【請求項８】上記少なくとも１本の電子ビームを或る
時間長の間ラスタ走査させる請求項７の方法。
【請求項９】上記時間長を大体２時間とする請求項８
の方法。
【請求項１０】上記電子ビーム又はその全部の合計電
流を、スクリーン輝度が大体６０ｃｄ／ｍ²になる程度
とする請求項６〜８のいずれか１項の方法。
【請求項１１】分で表した上記時間長とｃｄ／ｍ²で
表した該時間長内の上記スクリーン輝度との積が、少な
くとも６０００である請求項６〜９のいずれか１項の方
法。
【請求項１２】上記陰極線管を上記偏向ステップの間
高い周囲温度でエージング処理する請求項１〜１１のい
ずれか１項の方法。
【請求項１３】上記高い周囲温度を４０℃とする請求
項１２の方法。
【請求項１４】上記陰極線管を上記温度測定ステップ
の前に冷却処理する請求項１〜１３のいずれか１項の方
法。
【請求項１５】上記温度測定ステップを、上記冷却処
理開始後２０分以上経過してから実行する請求項１４の
方法。
【請求項１６】上記冷却処理は、上記陰極線管を温度
が２５℃の環境内で冷却することを含む請求項１４又は
１５の方法。
【請求項１７】上記先行請求項のいずれか１項の方法
を含み、更に、上記測定温度が上記基準温度と等しいか
又はそれを越えるとき、上記電子ビームの収束状態を最
適化するステップを含み、そうでないときは、上記発
生、偏向、測定及び比較ステップを繰り返すことを更に
含む、複数の電子ビームを有する陰極線管の製造方法。