DE3482901D1
(de )
1990-09-13
Pruefgeraet fuer redundanzspeicher.
DE69821196D1
(de )
2004-02-26
Anordnung zum räumlichen und zeitlichen Abtasten in einem Rechnerspeichersystem
EP0836142A3
(en )
1998-11-25
Semiconductor memory capable of mapping bad blocks
DE69922749D1
(de )
2005-01-27
Datenverarbeitungsgerät, Datenverarbeitungsverfahren und Speichermedium um Informationsverarbeitungsprogramm zu speichern
EP1006445A3
(en )
2000-10-11
Dynamically expandable storage unit array system
JPS6426243A
(en )
1989-01-27
Hardware logical simulator
EP0234937A3
(en )
1989-08-16
Tag buffer with testing capability
KR970075939A
(ko )
1997-12-10
반도체 메모리 시험방법 및 장치
JPH10240667A5
(2 )
2004-10-21
CA2342415A1
(en )
2001-10-08
Method of verifying defect management area information of disc and test apparatus for performing the same
CA2340633A1
(en )
2000-03-02
Memory supervision
KR910005161A
(ko )
1991-03-30
메모리 시스템
EP0825592A3
(en )
1998-12-02
Method for reading read-only memory
ATE408194T1
(de )
2008-09-15
Verfahren zur schnellen kommunikation in einem parallelen computersystem und mit diesem verfahren betriebenes paralleles computersystem
JPS6421557A
(en )
1989-01-24
Method for testing memory
JP2943237B2
(ja )
1999-08-30
半導体集積回路装置の検出装置
JPH0258800A
(ja )
1990-02-27
半導体メモリ用オンチップテスト回路及びテスト方式
JPH01290042A
(ja )
1989-11-21
試験診断方式
JP2001265536A5
(2 )
2005-07-07
JPH06349299A
(ja )
1994-12-22
メモリテスト結果回収方法、及びメモリテスト装置
JP2723541B2
(ja )
1998-03-09
Fifoメモリの検査方法
JP3666541B2
(ja )
2005-06-29
データ転送装置
JPH02123631U
(2 )
1990-10-11
JPS5979498A
(ja )
1984-05-08
Ramの記憶デ−タの良否を判断するプログラムによる検査方式
JPH1040125A
(ja )
1998-02-13
マイクロコンピュータ