JPH10251890A - 電気化学的成膜方法およびその装置 - Google Patents
電気化学的成膜方法およびその装置Info
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Abstract
選択的に成膜することができる電気化学的成膜方法およ
びその装置を提供する。 【解決手段】 ガラスパネル1上のNi膜2と、電解槽
3を満たしている電解液6とを接触させて接触液界面7
を形成し、陰極4と陽極8との間に電流を流しながら所
望の領域内で接触液界面7を掃引することによりNi膜
2上の必要とする部分にNiを析出させて、Ni膜を成
膜する。
Description
方法およびその装置に関し、例えば、大面積の金属薄膜
または透明導電薄膜上への金属皮膜、複合金属皮膜、無
機物皮膜または有機物皮膜の成膜に適用して好適なもの
である。
薄膜上への薄膜の成膜には、主として電気めっき法が用
いられている。この電気めっき法による成膜方法を、金
属薄膜上に成膜を行う場合を例にとって具体的に説明す
る。すなわち、図14に示すように、電解液101で満
たされた電解槽102中に、陽極103と、陰極を構成
する金属薄膜104が蒸着されているガラスパネル10
5とを互いに対向して設け、これらの陽極103および
陰極を構成する金属薄膜104の間に所定の電圧を印加
して電解を行うことにより、金属薄膜104上に金属薄
膜(図示せず)を成膜する。
のガラスパネル105の表面に成膜された金属薄膜10
4には、その長さ方向に電気抵抗が存在するので、成膜
時にその方向に電圧降下が起こる。そのため、電解液1
01に浸けられている金属薄膜104上に、長さ方向に
均質な金属皮膜を均一の膜厚で成膜することは困難であ
った。
よび膜厚均一性の劣化は、図15に示すような等価回路
モデルによって説明することができる。すなわち、図1
5に示すように、電解液101は、等価的に抵抗成分R
i および容量成分Cで表される。また、金属薄膜104
の、端子部104aから電解液101中のA点までの抵
抗は等価的にRa で表され、金属薄膜104の端子部1
04aから電解液101中のB点までの抵抗は等価的に
Ra +Rb で表されるので、金属薄膜104のA点とB
点との間の抵抗はRb となる。陽極103と陰極を構成
する金属薄膜104との間に流れる電流は一定である
が、この抵抗Rb によって、B点の電位に比べてA点の
電位は、抵抗Rb による電圧降下の分だけ低くなる。そ
のため、B点に流入する電流はA点に流入する電流に比
べて小さくなる。そして、この電流の減少は、金属薄膜
104上への金属皮膜の成膜の際に、金属薄膜104上
の場所に応じた析出ムラとなって現れ、金属皮膜の均質
性および膜厚均一性の劣化をもたらしていた。
105上に短冊状の金属薄膜104を形成した場合にお
いては、よく知られているように、上述のようなガラス
パネル105上の全面に成膜された金属薄膜104に比
べ、短冊状の金属薄膜104の線抵抗は増大する。その
ため、上述と同様の理由により、従来の方法により短冊
状の金属薄膜104上に金属皮膜を成膜しようとする
と、金属薄膜104にはその線抵抗に応じた電圧降下が
生じて、この金属皮膜に短冊状の金属薄膜104の長さ
の方向に析出ムラが生じ、金属皮膜の均質性および膜厚
均一性の劣化をもたらす。
の金属薄膜または透明導電薄膜上への金属皮膜の成膜に
は、多くの場合無電解めっき法が採用されていた。しか
しながら、この無電解めっき法は、めっき可能な金属が
限定されている上に、非選択的なめっきであるという問
題がある。
粒子の析出により、所望の膜を成膜する電着法において
も、大面積の金属薄膜または透明導電薄膜上に均質な膜
を均一な膜厚で成膜することは極めて困難であった。
金属薄膜または透明導電薄膜上に均質な薄膜を均一な膜
厚でしかも必要に応じて選択的に成膜することができる
電気化学的成膜方法およびその装置を提供することにあ
る。
題を解決すべく鋭意検討を重ねた結果、大面積の金属薄
膜または透明導電薄膜上に電気化学的に薄膜を成膜する
場合に、その金属薄膜または透明導電薄膜が有する電気
抵抗の大きさに関わらず、この電気抵抗による電圧降下
を大幅に抑制し、薄膜の析出ムラを低減する方法を見い
出した。すなわち、本発明者は、金属薄膜または透明導
電薄膜が有する電気抵抗による電圧降下を低減させるた
めに、金属薄膜または透明導電薄膜に対し、電解液との
接触面積を限定し、この接触液界面を、その限定された
面積のままで金属薄膜または透明導電薄膜上で掃引する
ようにすれば、金属薄膜または透明導電薄膜が有する電
気抵抗の大きさは薄膜の成膜に無関係となり、接触液界
面の部分に析出する物質の析出ムラが生じることなく、
均質な膜を均一な膜厚でしかも必要に応じて選択的に成
膜することができることを見い出した。この発明は以上
の検討に基づいて案出されたものである。
の発明の第1の発明は、導電性の基体上に、電気化学的
に膜を成膜するようにした電気化学的成膜方法におい
て、電解液を、膜の面積より小さい面積で基体の表面に
接触させ、電解液と基体との界面を掃引することにより
膜を成膜するようにしたことを特徴とするものである。
行うべき膜は金属からなり、この膜を電気めっき法によ
り成膜する。また、例えば、電解液は、帯電した有機物
または無機物の微粒子が分散媒中に分散されたものであ
り、膜を電着法により成膜する。
は、具体的には、例えば、基板上に金属膜が設けられた
もの、基板上に短冊状の膜が設けられたもの、基板上に
短冊状の第1の導電膜、絶縁膜および短冊状の第2の導
電膜が順次設けられ、これらの第1の導電膜と第2の導
電膜とが互いに交差しているものである。
の界面を掃引するとき、好適には、界面における電流密
度を一定にするために、界面の面積または掃引速度の変
化に応じて、電解液に流す電流の値を制御する。
を行うべき膜の面積より小さい面積で成膜が行われる基
体の表面に接触させ、電解液と基体との界面を掃引する
ことにより膜を成膜する手段を有することを特徴とする
電気化学的成膜装置である。
方の電極が基体の表面に接触することができるように設
けられているとともに、他方の電極が電解液と基体との
界面の掃引中に電解液と接触することができるように設
けられている。
の界面における電流密度を一定にするために、好適に
は、その界面の面積または掃引速度の変化に応じて、一
方の電極と他方の電極との間に流す電流を制御する電流
制御手段を有する。
ば、電解液を、成膜を行うべき膜の面積より小さい面積
で成膜が行われる基体の表面に接触させ、電解液と基体
との界面を掃引することで膜を成膜するので、基体に生
じる電圧降下による膜の析出ムラを大幅に低減すること
ができ、基体上に均質な膜を均一な膜厚で良好に成膜す
ることができる。また、必要に応じて、掃引を基板上で
選択的に行うことにより、選択的に成膜することができ
る。
て図面を参照しながら説明する。なお、以下の実施形態
の全図においては、同一または対応する部分には同一の
符号を付す。
属薄膜の電気化学的成膜方法について説明する。
すように、ガラスパネル1上に例えば真空蒸着法により
成膜されたNi膜2上にNi膜を成膜する場合について
説明する。図2は、この第1の実施形態において用いら
れる電気化学的成膜装置を示す。
2に示すように、ガラスパネル1を、電解槽3の上方で
Ni膜2の表面を下方に向けて保持し、このNi膜2に
円柱形の陰極4を部分的に接触させる。この陰極4はガ
ラスパネル1に固定されており、さらに陰極リード線5
を通じて外部電源(図示せず)の−端子と電気的に接続
されている。電解槽3は、成膜を行うべきNi膜の1辺
の幅より十分小さい幅を有し、その内部が電解液6で満
たされている。また、この電解槽3の開口端、すなわち
ノズル部は上方に向けられており、電解液6の盛り上が
り部分でNi膜2の表面と接触するようにガラスパネル
1が電解槽3と近接して保持されている。ここで、電解
液6とNi膜2とが接触することで、成膜を行う膜より
も小さい面積の接触液界面7が形成される。また、この
電解槽3の底部には陽極8が陽極リード線9を通じて外
部電源(図示せず)の+端子と電気的に接続されて設け
られている。これらの陽極8および陽極リード線9は成
膜を行うべきNi膜と同じNiで形成されている。
ァミン酸ニッケル(Ni(SO3 (NH)2 ))が1
部、塩化ニッケル(NiCl2 )が0.05〜0.1
部、硼酸(H3 BO3 )が0.1〜0.15部、純水
(H2 O)が4部である。
成された後、陽極8と陰極4との間に所定の電流を流す
ことにより、Ni膜2上にNiを析出させ、電気めっき
を行う。ここで、電流の供給方法は、直流電流法、パル
ス定電流法または定電位法のいずれの方法を採用しても
よい。そして、この電流を流しながら、接触液界面7を
維持しつつガラスパネル1を、成膜を行うべき膜の面積
分だけ移動して、接触液界面7を掃引する。これによっ
て、例えば、図3に示すように、Ni膜2上にNi膜1
0が選択的に成膜される。
によれば、電解液6を、成膜を行う膜の面積より小さな
面積でNi膜2の表面に接触させて接触液界面7を形成
し、この接触液界面7を所望の面積分だけ掃引するよう
にしていることにより、必要な面積のNi膜10を成膜
することができるとともに、Ni膜2の長さ方向に生じ
る電圧降下によって引き起こされるNiの析出ムラを大
幅に減少させることができるので、均質なNi膜10を
均一な膜厚でしかも選択的に成膜することができる。
属薄膜の電気化学的成膜方法について説明する。図4
は、この第2の実施形態において用いられる電気化学的
成膜装置を示す。
すように、電解槽3は、そのノズル部が下方に向けら
れ、その下方に、ガラスパネル1がNi膜2の表面を上
方に向けて近接して設置されている。また、電解液6の
全体を管理された減圧下において、接触液界面7の均一
性を保持しつつ重力による液漏れを防ぐために、電解槽
3に接触液界面7の幅を良好に制御することのできる液
面保持用減圧弁11が設けられている。これによって、
接触液界面7の掃引動作中においても、その幅を管理、
制御することができる。その他の構成は第1の実施形態
と同様である。
面7の形成後、陽極8と陰極4との間に所定の電流を流
すことにより、Ni膜2上にNiを析出させ、電気めっ
きを行う。そして、電流を流しながら、接触液界面7を
維持しつつ電解槽3を成膜を行うべき膜の面積分だけ移
動して、接触液界面7を掃引し、Ni膜10を成膜す
る。その他のことは第1の実施形態と同様である。
形態と同様の効果を得ることができる。
属薄膜の電気化学的成膜方法について説明する。この第
3の実施形態において用いられる電気化学的成膜装置
は、第2の実施形態において用いられた電気化学的成膜
装置と同様であり、図6において、電解槽3はそのノズ
ル部だけが示されている。
すように、ガラスパネル1上に真空蒸着法により成膜さ
れ、エッチングにより複数の互いに平行な短冊状にパタ
ーニングされたNi膜2上にNi膜を成膜する場合につ
いて説明する。
6に示すように、陰極4を、その長手方向が短冊状のN
i膜2の長手方向と直交し、かつ、Ni膜2と部分的に
接触してガラスパネル1に固定されるように設置する。
一方、電解槽3を、そのノズル部と短冊状のNi膜2の
長手方向とが直交するように設置する。次に、図6およ
び図7に示すように、接触液界面7を短冊状のNi膜2
の長手方向と直交するように形成した後、その接触液界
面7を維持しつつNi膜2の長手方向と平行な方向(図
6および図7において、矢印で示す方向)に掃引する。
これによって、短冊状のNi膜2上にNi膜10が成膜
される。その他のことは第2の実施形態と同様である。
形態と同様の効果を得ることができる。
気化学的成膜方法について説明する。この第4の実施形
態においては、図8に示すような、XYマトリクス構成
のディスプレイのXYマトリクス電極におけるX電極を
構成するNi膜上に電界放出型エミッタのカソードを形
成する場合について説明する。図8において、ガラスパ
ネル1上にX電極(X1 、X2 、・・・、Xn )を構成
する複数の短冊状のNi膜12が互いに平行に形成さ
れ、その上に絶縁膜13を介して、Y電極(Y1、
Y2 、・・・、Yn )を構成する複数の短冊状のNi膜
14がNi膜12と直交するように形成されている。ま
た、Ni膜12と交差する部分のNi膜14に孔15が
形成されており、この孔15の下部の絶縁膜13に空洞
13aが形成されている。この第4の実施形態において
用いられる電気化学的成膜装置は、陰極および陰極リー
ド線がそれぞれ2つ設けられていること以外は第2の実
施形態において用いられた電気化学的成膜装置と同様で
ある。
すように、まず、図8に示すXYマトリクス電極のNi
膜12およびNi膜14のそれぞれの一端に、それぞれ
陰極リード線16と接続された陰極17および陰極リー
ド線18と接続された陰極19を接触させる。ここで、
これらの陰極17および陰極19はガラスパネル1に固
定する。次に、陰極リード線16および陰極リード線1
8を外部電源(図示せず)の−端子と電気的に接続さ
せ、陰極17および陰極19をそれぞれ独立に所定の電
位に設定する。これによって、Ni膜12およびNi膜
14に電気化学的な成膜に最適な電流および電圧を供給
することができる。一方、電解槽3のノズル部を、短冊
状のNi膜12およびNi膜14の長手方向と例えば4
5度の角度をなすように設置する。
を、その幅Pa がXYマトリクス電極の対角線方向の電
極ピッチPe よりも小さくなり、かつ、短冊状のNi膜
12およびNi膜14のそれぞれと45度の角度をなす
ように形成する。次に、陽極8と陰極17および陰極1
9との間に独立に電流を流し、接触液界面7を維持しつ
つ、電解槽3をNi膜12およびNi膜14の長手方向
と45度の角度をなす方向(図10において、矢印で示
す方向)に移動させる。すなわち、接触液界面7をその
方向に掃引する。ここで、この電流の供給方法は、直流
電流法、パルス定電流法または定電位法のいずれの方法
を採用してもよい。これによって、図11に示すよう
に、XYマトリクス電極の絶縁膜13における空洞13
aの内部のNi膜12上にNiが選択的に析出して、カ
ソード20が形成され、電界放出型エミッタが形成され
る。また、このカソード20の形成と同時に、Ni膜1
4上にNi膜21が成膜される。
によれば、第2の実施形態と同様の効果を得ることがで
きるとともに、XYマトリクス電極の絶縁膜13におけ
る空洞13aの内部のNi膜12上にのみ選択的にカソ
ード20を形成することができる。そのため、大面積の
XYマトリクス電極に電界放出型エミッタを安価に形成
することができ、例えばフラットディスプレイなどの大
画面化を低コストで実現することができる。
気化学的成膜方法について説明する。
施形態と同様にして、XYマトリクス電極におけるX電
極を構成するNi膜12上に電界放出型エミッタのカソ
ードを形成する。このカソードの形成において、接触液
界面7の掃引動作中における面積は、接触液界面7の移
動距離により図12に示すように変化する。そこで、こ
の変化に応じて、陽極8と陰極17および陰極19との
間に流す電流を図13に示すように変化させることによ
って、接触液界面7における電流密度を一定にする。そ
の他のことは第4の実施形態と同様である。
7における電流密度を常に一定にしていることにより、
第4の実施形態に比べ、Ni膜12上に析出されるNi
の析出ムラを低減することができ、カソード20をより
均質に、かつ均一に形成することができる。
に説明したが、この発明は、上述の実施形態に限定され
るものではなく、この発明の技術的思想に基づく各種の
変形が可能である。
値はあくまでも例に過ぎず、必要に応じてこれと異なる
数値を用いてもよい。
ては、ガラスパネル1を移動することにより接触液界面
7を掃引するようにしているが、ガラスパネル1を移動
する代わりに、電解槽3を移動するようにしてもよい。
また、例えば上述の第2の実施形態においては、電解槽
3を移動することにより接触液界面7を掃引するように
しているが、電解槽3を移動する代わりに、ガラスパネ
ル1を移動するようにしてもよい。
においては、陰極4、17、19をガラスパネル1に固
定しているが、ガラスパネル1に固定する代わりに、必
要に応じて、電解槽3に固定するようにしてもよく、ま
た、ガラスパネル1および電解槽3のどちらとも固定し
ないようにしてもよい。
においては、成膜が行われる膜としてNi膜2、12が
用いられているが、Ni膜2、12の代わりに、例えば
酸化インジウムスズ(ITO)膜などの透明導電薄膜を
用いてもよい。また、例えば上述の第1〜第5の実施形
態においては、Ni膜2上にNi膜を成膜するようにし
ているが、Ni膜の代わりに、例えばCr、Mo、Wな
どの他の金属からなる膜、または例えばNi合金、Cr
合金、Mo合金、W合金などの合金からなる膜、さらに
は金属化合物膜などを成膜するようにしてもよい。
ては、接触液界面7を、短冊状のNi膜12およびNi
膜14と45度の角度をなす方向に掃引するようにして
いるが、必要に応じて、接触液界面7を、45度以外の
角度をなす方向に掃引するようにしてもよい。また、例
えば、第4および第5の実施形態においては、接触液界
面7の幅Pa をXYマトリクス電極の対角線方向の電極
ピッチPe よりも小さくしたが、必要に応じて、許容さ
れる範囲内で、接触液界面7の幅Pa を電極ピッチPe
よりも大きくなるようにしてもよい。また、例えば上述
の第4の実施形態においては、NiをNi膜12および
Ni膜14上に同時に析出させているが、必要に応じ
て、NiをNi膜12またはNi膜14上にのみ析出さ
せるようにしてもよい。
ては、接触液界面7の面積の変化に応じて、陽極8と陰
極17および陰極19との間に流す電流の値を制御する
ことにより、接触液界面7における電流密度を一定にす
るようにしているが、接触液界面7の面積の変化に応じ
て電流の値を制御する代わりに、掃引時間による掃引速
度の変化に応じて、陽極8と陰極17および陰極19と
の間に流す電流の値を制御することにより、接触液界面
7における電流密度を一定にするようにしてもよい。
ば、基体上に、電解液を、成膜を行うべき膜の面積より
小さな面積で接触させ、電解液と基体との界面を掃引す
るようにしていることにより、大面積の金属薄膜または
透明導電薄膜上に均質な膜を均一な膜厚でしかも必要に
応じて選択的に成膜することができる。
膜方法を説明するための斜視図である。
電気化学的成膜装置を示す略線図である。
膜方法を説明するための斜視図である。
電気化学的成膜装置を示す略線図である。
膜方法を説明するための斜視図である。
膜方法を説明するための斜視図である。
膜方法を説明するための略線図である。
れるXYマトリクス電極を示す斜視図およびその要部を
示す拡大断面図である。
膜方法を説明するための斜視図である。
成膜方法を説明するための略線図である。
成膜方法を説明するための断面図である。
面の移動距離と接触液界面の面積との関係を示すグラフ
である。
面の移動距離と接触液界面における電流との関係を示す
グラフである。
である。
路図である。
説明するための斜視図である。
i膜、3・・・電解槽、4、17、19・・・陰極、6
・・・電解液、7・・・接触液界面、8・・・陽極
Claims (14)
- 【請求項1】 導電性の基体上に、電気化学的に膜を成
膜するようにした電気化学的成膜方法において、 電解液を、上記膜の面積より小さい面積で上記基体の表
面に接触させ、上記電解液と上記基体との界面を掃引す
ることにより上記膜を成膜するようにしたことを特徴と
する電気化学的成膜方法。 - 【請求項2】 上記膜が金属からなり、上記膜を電気め
っき法により成膜するようにしたことを特徴とする請求
項1記載の電気化学的成膜方法。 - 【請求項3】 上記電解液は帯電した有機物または無機
物の微粒子が分散媒中に分散されたものであり、上記膜
を電着法により成膜するようにしたことを特徴とする請
求項1記載の電気化学的成膜方法。 - 【請求項4】 上記基体が基板上に金属膜が設けられた
ものであることを特徴とする請求項1記載の電気化学的
成膜方法。 - 【請求項5】 上記基体が基板上に短冊状の形状を有す
る膜が設けられたものであることを特徴とする請求項1
記載の電気化学的成膜方法。 - 【請求項6】 上記基体が、基板上に第1の導電膜、絶
縁膜および第2の導電膜が順次設けられたものであるこ
とを特徴とする請求項1記載の電気化学的成膜方法。 - 【請求項7】 上記第1の導電膜および上記第2の導電
膜が短冊状の形状を有し、それらが互いに交差している
ことを特徴とする請求項6記載の電気化学的成膜方法。 - 【請求項8】 上記界面を掃引するとき、上記界面の面
積の変化に応じて、上記電解液に流す電流の値を制御す
ることを特徴とする請求項1記載の電気化学的成膜方
法。 - 【請求項9】 上記界面を掃引するとき、上記界面の掃
引速度の変化に応じて、上記電解液に流す電流の値を制
御することを特徴とする請求項1記載の電気化学的成膜
方法。 - 【請求項10】 電解液を、成膜を行うべき膜の面積よ
り小さい面積で成膜が行われる基体の表面に接触させ、
上記電解液と上記基体との界面を掃引することにより上
記膜を成膜する手段を有することを特徴とする電気化学
的成膜装置。 - 【請求項11】 一方の電極が上記基体の表面に接触す
ることができるように設けられているとともに、他方の
電極が上記界面の掃引中に上記電解液と接触することが
できるように設けられていることを特徴とする請求項1
0記載の電気化学的成膜装置。 - 【請求項12】 電解槽の内部の圧力を制御する圧力制
御手段を有することを特徴とする請求項10記載の電気
化学的成膜装置。 - 【請求項13】 上記界面の面積の変化に応じて、上記
一方の電極と上記他方の電極との間に流す電流を制御す
る電流制御手段を有することを特徴とする請求項10記
載の電気化学的成膜装置。 - 【請求項14】 上記界面の掃引速度の変化に応じて、
上記一方の電極と上記他方の電極との間に流す電流を制
御する電流制御手段を有することを特徴とする請求項1
0記載の電気化学的成膜装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6065297A JPH10251890A (ja) | 1997-03-14 | 1997-03-14 | 電気化学的成膜方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6065297A JPH10251890A (ja) | 1997-03-14 | 1997-03-14 | 電気化学的成膜方法およびその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10251890A true JPH10251890A (ja) | 1998-09-22 |
Family
ID=13148490
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6065297A Abandoned JPH10251890A (ja) | 1997-03-14 | 1997-03-14 | 電気化学的成膜方法およびその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10251890A (ja) |
-
1997
- 1997-03-14 JP JP6065297A patent/JPH10251890A/ja not_active Abandoned
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