JPH10255056A - 円形体の欠陥検査方法 - Google Patents
円形体の欠陥検査方法Info
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- JPH10255056A JPH10255056A JP9094293A JP9429397A JPH10255056A JP H10255056 A JPH10255056 A JP H10255056A JP 9094293 A JP9094293 A JP 9094293A JP 9429397 A JP9429397 A JP 9429397A JP H10255056 A JPH10255056 A JP H10255056A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 円形体の周辺に発生するバリや欠け等の欠陥
を画像処理手法により検出するにあたり、欠陥の存在は
識別できるが、その欠陥が周辺から突出しているバリか
内側に向かって発生している欠けかの区別を簡単に識別
することは困難であった。 【解決手段】 円形体１の外周形状を複数の連続した画
素領域１５からなる検査ウインドウ１４ａを抽出し、画
素領域１５の濃度加算値を画素領域毎に求め、更にこれ
らの濃度加算値の平均濃度加算値を求め、各画素領域の
濃度加算値と平均濃度加算値との差を求めて、この差を
所定の閾値を比較することにより欠陥を検出する。簡単
な方法で欠陥の種別と程度を識別することができる。
を画像処理手法により検出するにあたり、欠陥の存在は
識別できるが、その欠陥が周辺から突出しているバリか
内側に向かって発生している欠けかの区別を簡単に識別
することは困難であった。 【解決手段】 円形体１の外周形状を複数の連続した画
素領域１５からなる検査ウインドウ１４ａを抽出し、画
素領域１５の濃度加算値を画素領域毎に求め、更にこれ
らの濃度加算値の平均濃度加算値を求め、各画素領域の
濃度加算値と平均濃度加算値との差を求めて、この差を
所定の閾値を比較することにより欠陥を検出する。簡単
な方法で欠陥の種別と程度を識別することができる。
Description
【発明の属する技術分野】本発明は、リング状物体等の
円形体に生じるバリ、欠け、異品種混入等の欠陥検査用
として好適な円形体の欠陥検査方法に関する。
円形体に生じるバリ、欠け、異品種混入等の欠陥検査用
として好適な円形体の欠陥検査方法に関する。
【従来の技術】リング状物体等の円形体の製造過程で、
その周縁に発生するバリや欠けを光学的自動検査により
検出する方法は種々認められるが、その一つとして同一
出願人の特願平５−１６２１１号に開示してある方法が
ある。この方法は、先ず円形の被検査体を一方向に配列
した複数の画素領域の集合として検出し、各画素領域毎
の濃度加算値を算出する。そして、異なる画素領域間に
おける濃度加算値の差分量を１次差分として順次算出す
る。更に算出された１次差分に基づき画素領域の異なる
領域間の各々の１次差分間の差分量を２次差分として順
次算出する。そして、この２次差分に基づいて被検査体
のバリや欠け等の欠陥を検出する。
その周縁に発生するバリや欠けを光学的自動検査により
検出する方法は種々認められるが、その一つとして同一
出願人の特願平５−１６２１１号に開示してある方法が
ある。この方法は、先ず円形の被検査体を一方向に配列
した複数の画素領域の集合として検出し、各画素領域毎
の濃度加算値を算出する。そして、異なる画素領域間に
おける濃度加算値の差分量を１次差分として順次算出す
る。更に算出された１次差分に基づき画素領域の異なる
領域間の各々の１次差分間の差分量を２次差分として順
次算出する。そして、この２次差分に基づいて被検査体
のバリや欠け等の欠陥を検出する。
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような従来技術によると、バリや欠け等の欠陥の存在自
体は検出することができるが、その欠陥がバリ、即ち円
形体の周縁から突出しているのか、欠け、即ち円形体の
周縁から内側に欠けているかを識別することはできなか
った。本発明は、円形体の周縁に発生するバリや欠け等
の欠陥の方向を正しく識別することができる欠陥検査方
法を提供することを目的とする。
ような従来技術によると、バリや欠け等の欠陥の存在自
体は検出することができるが、その欠陥がバリ、即ち円
形体の周縁から突出しているのか、欠け、即ち円形体の
周縁から内側に欠けているかを識別することはできなか
った。本発明は、円形体の周縁に発生するバリや欠け等
の欠陥の方向を正しく識別することができる欠陥検査方
法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】本発明は、円形体の少な
くとも外周の形状を複数の連続した画素領域からなるウ
インドウとして抽出し、抽出された前記ウインドウから
所定の数の検査対象画素領域を定め、得られた前記検査
対象画素領域の濃度加算値を各画素領域毎に求め、前記
検査対象両素領域の各々の画素領域の濃度加算値の平均
濃度加算値を求め、前記各画素領域の濃度加算値と前記
平均濃度加算値との差を求めることにより前記円形体の
欠陥を検出する円形体の欠陥検査方法を提供する。また
本発明は、前記円形体がリング状であって、前記ウイン
ドウの抽出を前記円形体の外周と内周にてそれぞれ抽出
する円形体の欠陥検査方法を提供する。また本発明は、
円形体の少なくとも外周において互いに対向する位置の
形状を各々複数の連続した画素領域からなる第１ウイン
ドウ並びに第２ウインドウとして抽出し、前記第１並び
に第２ウインドウから所定の数の画素領域からなる第１
並びに第２検査対象画素領域を定め、前記第１並びに第
２検査対象画素領域の各画素領域の濃度加算値を単位座
標値として求め、前記第１並びに第２検査対象画素領域
の対応する画素領域の前記単位座標値の単位平均値を求
め、前記単位平均値を加算し更にこの加算値を前記所定
の数で徐することにより前記第１並びに第２検査対象画
素領域間の濃度加算値の座標平均値を前記第１並びに第
２検査対象画素領域間の中心座標値として設定し、この
中心座標値と前記第１並びに第２検査対象画素領域の前
記各単位座標値との差を求め、得られたデータから前記
円形体の少なくとも外周の欠陥を検出する円形体の欠陥
検出方法を提供する。また本発明は、前記円形体がリン
グ状であって、前記第１ウインドウ並びに第２２ウイン
ドウを前記円形体の内周の互いに対向する位置において
抽出する円形体の欠陥検査方法を提供する。さらに本発
明は、リング状円形体の外周の形状を複数の連続した画
素領域からなる外径ウインドウとして抽出し、この外径
ウインドウを構成する各画素領域の濃度加算値を算出
し、前記円形体の内周の形状を前記外径ウインドウの画
素領域に対応する如く複数の連続した画素領域からなる
内径ウインドウとして抽出し、この内径ウインドウを構
成する各画素領域の濃度加算値を算出し、前記外径ウイ
ンドウ並びに外径ウインドウの対応する前記画素領域の
濃度加算値を比較することにより異品種混入を検出する
円形体の欠陥検査方法を提供する。
くとも外周の形状を複数の連続した画素領域からなるウ
インドウとして抽出し、抽出された前記ウインドウから
所定の数の検査対象画素領域を定め、得られた前記検査
対象画素領域の濃度加算値を各画素領域毎に求め、前記
検査対象両素領域の各々の画素領域の濃度加算値の平均
濃度加算値を求め、前記各画素領域の濃度加算値と前記
平均濃度加算値との差を求めることにより前記円形体の
欠陥を検出する円形体の欠陥検査方法を提供する。また
本発明は、前記円形体がリング状であって、前記ウイン
ドウの抽出を前記円形体の外周と内周にてそれぞれ抽出
する円形体の欠陥検査方法を提供する。また本発明は、
円形体の少なくとも外周において互いに対向する位置の
形状を各々複数の連続した画素領域からなる第１ウイン
ドウ並びに第２ウインドウとして抽出し、前記第１並び
に第２ウインドウから所定の数の画素領域からなる第１
並びに第２検査対象画素領域を定め、前記第１並びに第
２検査対象画素領域の各画素領域の濃度加算値を単位座
標値として求め、前記第１並びに第２検査対象画素領域
の対応する画素領域の前記単位座標値の単位平均値を求
め、前記単位平均値を加算し更にこの加算値を前記所定
の数で徐することにより前記第１並びに第２検査対象画
素領域間の濃度加算値の座標平均値を前記第１並びに第
２検査対象画素領域間の中心座標値として設定し、この
中心座標値と前記第１並びに第２検査対象画素領域の前
記各単位座標値との差を求め、得られたデータから前記
円形体の少なくとも外周の欠陥を検出する円形体の欠陥
検出方法を提供する。また本発明は、前記円形体がリン
グ状であって、前記第１ウインドウ並びに第２２ウイン
ドウを前記円形体の内周の互いに対向する位置において
抽出する円形体の欠陥検査方法を提供する。さらに本発
明は、リング状円形体の外周の形状を複数の連続した画
素領域からなる外径ウインドウとして抽出し、この外径
ウインドウを構成する各画素領域の濃度加算値を算出
し、前記円形体の内周の形状を前記外径ウインドウの画
素領域に対応する如く複数の連続した画素領域からなる
内径ウインドウとして抽出し、この内径ウインドウを構
成する各画素領域の濃度加算値を算出し、前記外径ウイ
ンドウ並びに外径ウインドウの対応する前記画素領域の
濃度加算値を比較することにより異品種混入を検出する
円形体の欠陥検査方法を提供する。
【発明の実施の形態】図１は、本発明に係わる円形体の
形状検査装置の一実施例の構成を示すブロック図であ
り、図２は、本発明に係わる円形体の形状検査装置が適
用されたリング状円形体検査システムの全体構成を示す
ブロック図である。この検査システムは、ゴム製のリン
グ状円形体の欠陥を検出するものである。図３には被検
査対象であるリング状円形体１を示してあるが、このリ
ング状円形体１はゴム製で、外径が約２０ｍｍ、内径が
約１０ｍｍ程度に形成してなるものである。このゴム製
のリング状円形体１の製造時において、外周部及び内周
部にバリ２や欠け３が生じている場合には、不良品とし
て排除することが必要である。特に欠けについては、鋭
い欠け３ａの場合となだらかな欠け３ｂがあり、これら
のいずれをも不良品として排除を要する。また、工程中
において異種品の混入があった場合には、これを排除す
ることも要求される。本発明に係わる実施例は、図１に
示すように検査対象の画像データは、濃度加算値演算部
１１、移動平均演算部１２並びに欠陥検出部１３から構
成されている。即ち、図１の画像データに基づき、図５
に示すような被検査対象であるリング状円形体１に対し
て外径検査ウインドウ１４ａ並びに内径検査ウインドウ
１４ｂが得られる。これら外径検査ウインドウ１４ａ並
びに内径検査ウインドウ１４ｂは、リング状円形体１の
外周並びに内周に沿って一方向に配列した複数の画素領
域１５０集合として検出し、濃度加算値演算部１１で
は、各画素領域１５毎の濃度加算値をそれぞれ算出す
る。図２に本発明を適用した全体システムを示すが、被
検査対象であるリング状円形体は搬送部１６から検査ス
テージ１７へ搬送される。検査ステージ１７では照明装
置１８とカメラ１９から構成され、カメラ１９からの出
力信号は本発明に係わる画像処理装置２０へ入力され
る。画像処理装置２０からの出力は種々の端末から入手
可能であるが、画像モニタ２１に表示することも可能で
ある。また、図１に示した濃度加算値演算部１１は図４
に示すように、２５６バイトの濃度変換メモリ２２ａ、
２２ｂ、ルックアップテーブル２３ａ、２３ｂ、セクタ
加算部２４ａ、２４ｂを備え、また、１つのアドレス発
生部２５を有している。８ビットの画像データを５１２
×５１２のルックアップテーブル２３ａ、２３ｂに基づ
いて各セクタ毎に加算を行い、その結果である濃度加算
値を２５６個の結果メモリ２６ａ、２６ｂに書き込むよ
うになっている。このような構成により、同時に２つの
ルックアップテーブル２３ａ、２３ｂによってセクタ加
算が可能である。次に本発明を鋭いバリ並びに欠けの検
出に適用する場合につき説明する。図６は、リング状円
形体１の外周に発生した鋭いバリ２を検出する方法を説
明するための図である。図６において、外径検査ウイン
ドウ１４ａの各画素領域にはｘ１乃至ｘ１０のように番
号を付与してある。バリ２を含む画素領域ｘ６とこの両
隣り３画素領域、即ちｘ３乃至ｘ５並びにｘ７乃至ｘ９
の計７画素領域の各濃度加算値を加算し、更にこの合計
値を７で割ることにより、７画素領域の平均濃度加算値
を求める。今、各画素領域の濃度加算値が、ｘ３とｘ９
が８、ｘ４とｘ８が９、ｘ５とｘ７が１０で、バリのあ
るｘ６が１７である場合、平均濃度加算値は１０．１４
で約１０である。次に各画素領域の濃度加算値からこの
平均濃度加算値１０を差し引く。この結果、ｘ３とｘ９
は８−１０＝−２、ｘ４とｘ８は９−１０＝−１、ｘ５
とｘ７は１０−１−＝０であり、バリのあるｘ６では１
７−１０＝＋７となる。このようにして移動平均演算部
１２で得られたデータから、所定の閾値を超えたデータ
を欠陥データとして認識する。上記の例では、閾値を｜
３｜と定めると、ｘ６を除く他の画素領域では欠陥とは
認識されず、画素領域ｘ６に欠陥があることが判明し、
かつ符号がプラスであることからこの欠陥がバリである
ことが分かる。更に、得られたデータが＋７ということ
から、バリの高さが概略７であることが分かる。図７に
は、図６のバリのケースとは逆に、鋭い欠け３ａがリン
グ状円形体１の外周に発生した場合を説明してある。図
７の各画素領域ｘ３乃至ｘ５並びにｘ７乃至ｘ９の濃度
加算値は、図６で示した値と同一とし、欠け３ａのある
ｘ６の値が３とする。この場合、ｘ３乃至ｘ９の濃度加
算値の合計は５７となり、平均濃度加算値は８．１４
で、約８である。各画素領域の濃度加算値からこの平均
濃度加算値を差し引くと、ｘ３とｘ９は８−８＝０であ
り、ｘ４とｘ８は９−８＝＋１であり、ｘ５とｘ７は１
０−８＝＋２であり、欠けのあるｘ６では３−８＝−５
となる。所定閾値を｜３｜とすると、ｘ６を除く他の画
素領域では欠陥とは認識されず、画素領域ｘ６に欠陥が
あることが判明する。また、符号がマイナスであること
から、この欠陥が欠けであることが判明し、得られたデ
ータが−５であることから、欠けの深さが概略５である
ことも判明する。次に図８を用いてリング状円形体１の
外周に存在するなだらかな欠け３ｂを検出する方法につ
き説明する。先ず、なだらかな欠け３ｂを検出する方法
の概要を説明し、その後詳細に説明する。基本的な考え
方としては、上部外径ウインドウ２７ａ並びに下部外径
ウインドウ２７ｂとの間の中線Ｙ０を求める。上部外径
ウインドウ２７ａ並びに下部外径ウインドウ２７ｂを構
成する画素領域１５の各々の濃度加算値の座標値から中
線Ｙ０の座標値を差し引き、その結果を所定の閾値と比
較してなだらかな欠けの存在を検出する。先ず、上部外
径ウインドウ２７ａを構成する各々の画素領域１５の濃
度加算値の座標値ｙ１ （ｉ）と下部外径ウインドウ２７
ｂを構成する各々の画素領域１５の濃度加算値の座標ｙ
２ （ｉ）を求める。また、上部外径ウインドウ２７ａの
濃度加算値が０のＹ座標を図８のようにＬ、下部ウイン
ドウ２７ｂの濃度加算値が０のＹ座標をＭ、定数をＫと
すると、ｙ１ （ｉ）並びにｙ２ （ｉ）は次のように求め
られる。
形状検査装置の一実施例の構成を示すブロック図であ
り、図２は、本発明に係わる円形体の形状検査装置が適
用されたリング状円形体検査システムの全体構成を示す
ブロック図である。この検査システムは、ゴム製のリン
グ状円形体の欠陥を検出するものである。図３には被検
査対象であるリング状円形体１を示してあるが、このリ
ング状円形体１はゴム製で、外径が約２０ｍｍ、内径が
約１０ｍｍ程度に形成してなるものである。このゴム製
のリング状円形体１の製造時において、外周部及び内周
部にバリ２や欠け３が生じている場合には、不良品とし
て排除することが必要である。特に欠けについては、鋭
い欠け３ａの場合となだらかな欠け３ｂがあり、これら
のいずれをも不良品として排除を要する。また、工程中
において異種品の混入があった場合には、これを排除す
ることも要求される。本発明に係わる実施例は、図１に
示すように検査対象の画像データは、濃度加算値演算部
１１、移動平均演算部１２並びに欠陥検出部１３から構
成されている。即ち、図１の画像データに基づき、図５
に示すような被検査対象であるリング状円形体１に対し
て外径検査ウインドウ１４ａ並びに内径検査ウインドウ
１４ｂが得られる。これら外径検査ウインドウ１４ａ並
びに内径検査ウインドウ１４ｂは、リング状円形体１の
外周並びに内周に沿って一方向に配列した複数の画素領
域１５０集合として検出し、濃度加算値演算部１１で
は、各画素領域１５毎の濃度加算値をそれぞれ算出す
る。図２に本発明を適用した全体システムを示すが、被
検査対象であるリング状円形体は搬送部１６から検査ス
テージ１７へ搬送される。検査ステージ１７では照明装
置１８とカメラ１９から構成され、カメラ１９からの出
力信号は本発明に係わる画像処理装置２０へ入力され
る。画像処理装置２０からの出力は種々の端末から入手
可能であるが、画像モニタ２１に表示することも可能で
ある。また、図１に示した濃度加算値演算部１１は図４
に示すように、２５６バイトの濃度変換メモリ２２ａ、
２２ｂ、ルックアップテーブル２３ａ、２３ｂ、セクタ
加算部２４ａ、２４ｂを備え、また、１つのアドレス発
生部２５を有している。８ビットの画像データを５１２
×５１２のルックアップテーブル２３ａ、２３ｂに基づ
いて各セクタ毎に加算を行い、その結果である濃度加算
値を２５６個の結果メモリ２６ａ、２６ｂに書き込むよ
うになっている。このような構成により、同時に２つの
ルックアップテーブル２３ａ、２３ｂによってセクタ加
算が可能である。次に本発明を鋭いバリ並びに欠けの検
出に適用する場合につき説明する。図６は、リング状円
形体１の外周に発生した鋭いバリ２を検出する方法を説
明するための図である。図６において、外径検査ウイン
ドウ１４ａの各画素領域にはｘ１乃至ｘ１０のように番
号を付与してある。バリ２を含む画素領域ｘ６とこの両
隣り３画素領域、即ちｘ３乃至ｘ５並びにｘ７乃至ｘ９
の計７画素領域の各濃度加算値を加算し、更にこの合計
値を７で割ることにより、７画素領域の平均濃度加算値
を求める。今、各画素領域の濃度加算値が、ｘ３とｘ９
が８、ｘ４とｘ８が９、ｘ５とｘ７が１０で、バリのあ
るｘ６が１７である場合、平均濃度加算値は１０．１４
で約１０である。次に各画素領域の濃度加算値からこの
平均濃度加算値１０を差し引く。この結果、ｘ３とｘ９
は８−１０＝−２、ｘ４とｘ８は９−１０＝−１、ｘ５
とｘ７は１０−１−＝０であり、バリのあるｘ６では１
７−１０＝＋７となる。このようにして移動平均演算部
１２で得られたデータから、所定の閾値を超えたデータ
を欠陥データとして認識する。上記の例では、閾値を｜
３｜と定めると、ｘ６を除く他の画素領域では欠陥とは
認識されず、画素領域ｘ６に欠陥があることが判明し、
かつ符号がプラスであることからこの欠陥がバリである
ことが分かる。更に、得られたデータが＋７ということ
から、バリの高さが概略７であることが分かる。図７に
は、図６のバリのケースとは逆に、鋭い欠け３ａがリン
グ状円形体１の外周に発生した場合を説明してある。図
７の各画素領域ｘ３乃至ｘ５並びにｘ７乃至ｘ９の濃度
加算値は、図６で示した値と同一とし、欠け３ａのある
ｘ６の値が３とする。この場合、ｘ３乃至ｘ９の濃度加
算値の合計は５７となり、平均濃度加算値は８．１４
で、約８である。各画素領域の濃度加算値からこの平均
濃度加算値を差し引くと、ｘ３とｘ９は８−８＝０であ
り、ｘ４とｘ８は９−８＝＋１であり、ｘ５とｘ７は１
０−８＝＋２であり、欠けのあるｘ６では３−８＝−５
となる。所定閾値を｜３｜とすると、ｘ６を除く他の画
素領域では欠陥とは認識されず、画素領域ｘ６に欠陥が
あることが判明する。また、符号がマイナスであること
から、この欠陥が欠けであることが判明し、得られたデ
ータが−５であることから、欠けの深さが概略５である
ことも判明する。次に図８を用いてリング状円形体１の
外周に存在するなだらかな欠け３ｂを検出する方法につ
き説明する。先ず、なだらかな欠け３ｂを検出する方法
の概要を説明し、その後詳細に説明する。基本的な考え
方としては、上部外径ウインドウ２７ａ並びに下部外径
ウインドウ２７ｂとの間の中線Ｙ０を求める。上部外径
ウインドウ２７ａ並びに下部外径ウインドウ２７ｂを構
成する画素領域１５の各々の濃度加算値の座標値から中
線Ｙ０の座標値を差し引き、その結果を所定の閾値と比
較してなだらかな欠けの存在を検出する。先ず、上部外
径ウインドウ２７ａを構成する各々の画素領域１５の濃
度加算値の座標値ｙ１ （ｉ）と下部外径ウインドウ２７
ｂを構成する各々の画素領域１５の濃度加算値の座標ｙ
２ （ｉ）を求める。また、上部外径ウインドウ２７ａの
濃度加算値が０のＹ座標を図８のようにＬ、下部ウイン
ドウ２７ｂの濃度加算値が０のＹ座標をＭ、定数をＫと
すると、ｙ１ （ｉ）並びにｙ２ （ｉ）は次のように求め
られる。
【数１】
【数２】 このようにして上部外径ウインドウ２７ａと下部外径ウ
インドウ２７ｂを構成する各画素領域１５の濃度加算値
を座標値として求めた後、上部外径ウインドウ２７ａと
下部ウインドウ２７ｂの各々の座標値の平均値ｍ（ｉ）
を求める。これを式で表すと、次のようになる。
インドウ２７ｂを構成する各画素領域１５の濃度加算値
を座標値として求めた後、上部外径ウインドウ２７ａと
下部ウインドウ２７ｂの各々の座標値の平均値ｍ（ｉ）
を求める。これを式で表すと、次のようになる。
【数３】 このようにして、上下各外径ウインドウ２７ａ、２７ｂ
のそれぞれ上下の対称の位置にある画素領域の濃度加算
値の座標値平均値が得られる。即ち、各上下の画素領域
の上下間の中点が求められる。次に得られたｍ（ｉ）を
加算し、一方の外径ウインドウの画素領域数で除するこ
とにより、上下の各画素領域毎の座標値平均値の更に平
均値ｍが求められる。即ち、
のそれぞれ上下の対称の位置にある画素領域の濃度加算
値の座標値平均値が得られる。即ち、各上下の画素領域
の上下間の中点が求められる。次に得られたｍ（ｉ）を
加算し、一方の外径ウインドウの画素領域数で除するこ
とにより、上下の各画素領域毎の座標値平均値の更に平
均値ｍが求められる。即ち、
【数４】 このようにして求められた平均値ｍは、先に述べた図８
の中線Ｙ０の座標となる。その後上部外径ウインドウ２
７ａと下部外径ウインドウ２７ｂの各画素領域の濃度加
算値の座標値から平均値即ち中線Ｙ０の座標値を減じ差
ΔＹ（ｉ）を求める。即ち、
の中線Ｙ０の座標となる。その後上部外径ウインドウ２
７ａと下部外径ウインドウ２７ｂの各画素領域の濃度加
算値の座標値から平均値即ち中線Ｙ０の座標値を減じ差
ΔＹ（ｉ）を求める。即ち、
【数５】 となる。このΔＹ（ｉ）と所定の閾値との差をとること
により、なだらかな欠けが検出できる。特に、得られた
差の値の符号とその数値により、なだらかな欠け３ｂが
上部外径ウインドウ２７ａに存在するのか、下部外径ウ
インドウ２７ｂに存在するのか、並びにその欠けの大き
さが検出できる。次に、工程中に異品種が混入した場合
にこれを検出する方法を図８を用いて説明する。図８に
おいて、リング状円形体１の外径ウインドウ１４ａと内
径ウインドウ１４ｂの画素領域の内、斜線を付した中央
の画素領域２８の濃度加算値から異品種の混入検査を行
う。検査は、上下左右の４方向について、外径、内径と
もに４方向全てが判定閾値の範囲外の場合に不良、即ち
異品種と判定する。
により、なだらかな欠けが検出できる。特に、得られた
差の値の符号とその数値により、なだらかな欠け３ｂが
上部外径ウインドウ２７ａに存在するのか、下部外径ウ
インドウ２７ｂに存在するのか、並びにその欠けの大き
さが検出できる。次に、工程中に異品種が混入した場合
にこれを検出する方法を図８を用いて説明する。図８に
おいて、リング状円形体１の外径ウインドウ１４ａと内
径ウインドウ１４ｂの画素領域の内、斜線を付した中央
の画素領域２８の濃度加算値から異品種の混入検査を行
う。検査は、上下左右の４方向について、外径、内径と
もに４方向全てが判定閾値の範囲外の場合に不良、即ち
異品種と判定する。
【発明の効果】リング状円形体の外周又は内周に存在す
る、バリ、欠け、異品種の混入の種別とその程度を、簡
単な方法で検出できるようになった。
る、バリ、欠け、異品種の混入の種別とその程度を、簡
単な方法で検出できるようになった。
【図１】本発明の実施例を説明するブロック図である。
【図２】本発明の実施例を説明するシステム概略図であ
る。
る。
【図３】本発明における検査対象の具体例を説明する平
面図である。
面図である。
【図４】図１に示す濃度加算値演算部を示すブロック図
である。
である。
【図５】本発明の実施例において用いる検査ウインドウ
を説明する図である。
を説明する図である。
【図６】本発明の実施例の動作を説明する図である。
【図７】本発明の他の実施例の動作を説明する図であ
る。
る。
【図８】本発明の更に他の実施例の動作を説明する図で
ある。
ある。
１…リング状円形体 ２…バリ ３ａ…鋭い欠け ３ｂ…なだらかな欠け １１…濃度加算部 １２…移動平均演算部 １３…欠陥検出部 １４ａ…外径検査ウインドウ １４ｂ…内径検査ウインドウ １５…画素領域 １６…搬送部 １７…検査ステージ １８…照明装置 １９…カメラ ２０…画像処理装置 ２１…画像モニタ
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成９年１１月７日
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正内容】
【書類名】 明細書
【発明の名称】 円形体の欠陥検査方法
【特許請求の範囲】
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、リング状物体等の
円形体に生じるバリ、欠け、異品種混入等の欠陥検査用
として好適な円形体の欠陥検査方法に関する。
円形体に生じるバリ、欠け、異品種混入等の欠陥検査用
として好適な円形体の欠陥検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】リング状物体等の円形体の製造過程で、
その周縁に発生するバリや欠けを光学的自動検査により
検出する方法は種々認められるが、その一つとして同一
出願人の特願平５−１６２１１号に開示してある方法が
ある。この方法は、先ず円形の被検査体を一方向に配列
した複数の画素領域の集合として検出し、各画素領域毎
の濃度加算値を算出する。そして、異なる画素領域間に
おける濃度加算値の差分量を１次差分として順次算出す
る。更に算出された１次差分に基づき画素領域の異なる
領域間の各々の１次差分間の差分量を２次差分として順
次算出する。そして、この２次差分に基づいて被検査体
のバリや欠け等の欠陥を検出する。
その周縁に発生するバリや欠けを光学的自動検査により
検出する方法は種々認められるが、その一つとして同一
出願人の特願平５−１６２１１号に開示してある方法が
ある。この方法は、先ず円形の被検査体を一方向に配列
した複数の画素領域の集合として検出し、各画素領域毎
の濃度加算値を算出する。そして、異なる画素領域間に
おける濃度加算値の差分量を１次差分として順次算出す
る。更に算出された１次差分に基づき画素領域の異なる
領域間の各々の１次差分間の差分量を２次差分として順
次算出する。そして、この２次差分に基づいて被検査体
のバリや欠け等の欠陥を検出する。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような従来技術によると、バリや欠け等の欠陥の存在自
体は検出することができるが、その欠陥がバリ、即ち円
形体の周縁から突出しているのか、欠け、即ち円形体の
周縁から内側に欠けているかを識別することはできなか
った。本発明は、円形体の周縁に発生するバリや欠け等
の欠陥の方向を正しく識別することができる欠陥検査方
法を提供することを目的とする。
ような従来技術によると、バリや欠け等の欠陥の存在自
体は検出することができるが、その欠陥がバリ、即ち円
形体の周縁から突出しているのか、欠け、即ち円形体の
周縁から内側に欠けているかを識別することはできなか
った。本発明は、円形体の周縁に発生するバリや欠け等
の欠陥の方向を正しく識別することができる欠陥検査方
法を提供することを目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は、円形体の少な
くとも外周の形状を複数の連続した画素領域からなるウ
インドウとして抽出し、抽出された前記ウインドウから
所定の数の検査対象画素領域を定め、得られた前記検査
対象画素領域の濃度加算値を各画素領域毎に求め、前記
検査対象画素領域の各々の画素領域の濃度加算値の平均
濃度加算値を求め、前記各画素領域の濃度加算値と前記
平均濃度加算値との差を求めることにより前記円形体の
欠陥を検出する円形体の欠陥検査方法を提供する。
くとも外周の形状を複数の連続した画素領域からなるウ
インドウとして抽出し、抽出された前記ウインドウから
所定の数の検査対象画素領域を定め、得られた前記検査
対象画素領域の濃度加算値を各画素領域毎に求め、前記
検査対象画素領域の各々の画素領域の濃度加算値の平均
濃度加算値を求め、前記各画素領域の濃度加算値と前記
平均濃度加算値との差を求めることにより前記円形体の
欠陥を検出する円形体の欠陥検査方法を提供する。
【０００５】 また本発明は、前記円形体がリング状であ
って、前記ウインドウの抽出を前記円形体の外周と内周
にてそれぞれ抽出する円形体の欠陥検査方法を提供す
る。
って、前記ウインドウの抽出を前記円形体の外周と内周
にてそれぞれ抽出する円形体の欠陥検査方法を提供す
る。
【０００６】 また本発明は、円形体の少なくとも外周に
おいて互いに対向する位置の形状を各々複数の連続した
画素領域からなる第１ウインドウ並びに第２ウインドウ
として抽出し、前記第１並びに第２ウインドウから所定
の数の画素領域からなる第１並びに第２検査対象画素領
域を定め、前記第１並びに第２検査対象画素領域の各画
素領域の濃度加算値を単位座標値として求め、前記第１
並びに第２検査対象画素領域の対応する画素領域の前記
単位座標値の単位平均値を求め、前記単位平均値を加算
し更にこの加算値を前記所定の数で徐することにより前
記第１並びに第２検査対象画素領域間の濃度加算値の座
標平均値を前記第１並びに第２検査対象画素領域間の中
心座標値として設定し、この中心座標値と前記第１並び
に第２検査対象画素領域の前記各単位座標値との差を求
め、得られたデータから前記円形体の少なくとも外周の
欠陥を検出する円形体の欠陥検出方法を提供する。
おいて互いに対向する位置の形状を各々複数の連続した
画素領域からなる第１ウインドウ並びに第２ウインドウ
として抽出し、前記第１並びに第２ウインドウから所定
の数の画素領域からなる第１並びに第２検査対象画素領
域を定め、前記第１並びに第２検査対象画素領域の各画
素領域の濃度加算値を単位座標値として求め、前記第１
並びに第２検査対象画素領域の対応する画素領域の前記
単位座標値の単位平均値を求め、前記単位平均値を加算
し更にこの加算値を前記所定の数で徐することにより前
記第１並びに第２検査対象画素領域間の濃度加算値の座
標平均値を前記第１並びに第２検査対象画素領域間の中
心座標値として設定し、この中心座標値と前記第１並び
に第２検査対象画素領域の前記各単位座標値との差を求
め、得られたデータから前記円形体の少なくとも外周の
欠陥を検出する円形体の欠陥検出方法を提供する。
【０００７】 また本発明は、前記円形体がリング状であ
って、前記第１ウインドウ並びに第２２ウインドウを前
記円形体の内周の互いに対向する位置において抽出する
円形体の欠陥検査方法を提供する。
って、前記第１ウインドウ並びに第２２ウインドウを前
記円形体の内周の互いに対向する位置において抽出する
円形体の欠陥検査方法を提供する。
【０００８】 さらに本発明は、リング状円形体の外周の
形状を複数の連続した画素領域からなる外径ウインドウ
として抽出し、この外径ウインドウを構成する各画素領
域の濃度加算値を算出し、前記円形体の内周の形状を前
記外径ウインドウの画素領域に対応する如く複数の連続
した画素領域からなる内径ウインドウとして抽出し、こ
の内径ウインドウを構成する各画素領域の濃度加算値を
算出し、前記外径ウインドウ並びに外径ウインドウの対
応する前記画素領域の濃度加算値を比較することにより
異品種混入を検出する円形体の欠陥検査方法を提供す
る。
形状を複数の連続した画素領域からなる外径ウインドウ
として抽出し、この外径ウインドウを構成する各画素領
域の濃度加算値を算出し、前記円形体の内周の形状を前
記外径ウインドウの画素領域に対応する如く複数の連続
した画素領域からなる内径ウインドウとして抽出し、こ
の内径ウインドウを構成する各画素領域の濃度加算値を
算出し、前記外径ウインドウ並びに外径ウインドウの対
応する前記画素領域の濃度加算値を比較することにより
異品種混入を検出する円形体の欠陥検査方法を提供す
る。
【０００９】
【発明の実施の形態】図１は、本発明に係わる円形体の
形状検査装置の一実施例の構成を示すブロック図であ
り、図２は、本発明に係わる円形体の形状検査装置が適
用されたリング状円形体検査システムの全体構成を示す
ブロック図である。この検査システムは、ゴム製のリン
グ状円形体の欠陥を検出するものである。図３には被検
査対象であるリング状円形体１を示してあるが、このリ
ング状円形体１はゴム製で、外径が約２０ｍｍ、内径が
約１０ｍｍ程度に形成してなるものである。このゴム製
のリング状円形体１の製造時において、外周部及び内周
部にバリ２や欠け３が生じている場合には、不良品とし
て排除することが必要である。特に欠けについては、鋭
い欠け３ａの場合となだらかな欠け３ｂがあり、これら
のいずれをも不良品として排除を要する。また、工程中
において異種品の混入があった場合には、これを排除す
ることも要求される。
形状検査装置の一実施例の構成を示すブロック図であ
り、図２は、本発明に係わる円形体の形状検査装置が適
用されたリング状円形体検査システムの全体構成を示す
ブロック図である。この検査システムは、ゴム製のリン
グ状円形体の欠陥を検出するものである。図３には被検
査対象であるリング状円形体１を示してあるが、このリ
ング状円形体１はゴム製で、外径が約２０ｍｍ、内径が
約１０ｍｍ程度に形成してなるものである。このゴム製
のリング状円形体１の製造時において、外周部及び内周
部にバリ２や欠け３が生じている場合には、不良品とし
て排除することが必要である。特に欠けについては、鋭
い欠け３ａの場合となだらかな欠け３ｂがあり、これら
のいずれをも不良品として排除を要する。また、工程中
において異種品の混入があった場合には、これを排除す
ることも要求される。
【００１０】 本発明に係わる実施例は、図１に示すよう
に検査対象の画像データは、濃度加算値演算部１１、移
動平均演算部１２並びに欠陥検出部１３から構成されて
いる。即ち、図１の画像データに基づき、図５に示すよ
うな被検査対象であるリング状円形体１に対して外径検
査ウインドウ１４ａ並びに内径検査ウインドウ１４ｂが
得られる。これら外径検査ウインドウ１４ａ並びに内径
検査ウインドウ１４ｂは、リング状円形体１の外周並び
に内周に沿って一方向に配列した複数の画素領域１５の
集合として検出し、濃度加算値演算部１１では、各画素
領域１５毎の濃度加算値をそれぞれ算出する。
に検査対象の画像データは、濃度加算値演算部１１、移
動平均演算部１２並びに欠陥検出部１３から構成されて
いる。即ち、図１の画像データに基づき、図５に示すよ
うな被検査対象であるリング状円形体１に対して外径検
査ウインドウ１４ａ並びに内径検査ウインドウ１４ｂが
得られる。これら外径検査ウインドウ１４ａ並びに内径
検査ウインドウ１４ｂは、リング状円形体１の外周並び
に内周に沿って一方向に配列した複数の画素領域１５の
集合として検出し、濃度加算値演算部１１では、各画素
領域１５毎の濃度加算値をそれぞれ算出する。
【００１１】 図２に本発明を適用した全体システムを示
すが、被検査対象であるリング状円形体は搬送部１６か
ら検査ステージ１７へ搬送される。検査ステージ１７で
は照明装置１８とカメラ１９から構成され、カメラ１９
からの出力信号は本発明に係わる画像処理装置２０へ入
力される。画像処理装置２０からの出力は種々の端末か
ら入手可能であるが、画像モニタ２１に表示することも
可能である。
すが、被検査対象であるリング状円形体は搬送部１６か
ら検査ステージ１７へ搬送される。検査ステージ１７で
は照明装置１８とカメラ１９から構成され、カメラ１９
からの出力信号は本発明に係わる画像処理装置２０へ入
力される。画像処理装置２０からの出力は種々の端末か
ら入手可能であるが、画像モニタ２１に表示することも
可能である。
【００１２】 また、図１に示した濃度加算値演算部１１
は図４に示すように、２５６バイトの濃度変換メモリ２
２ａ、２２ｂ、ルックアップテーブル２３ａ、２３ｂ、
セクタ加算部２４ａ、２４ｂを備え、また、１つのアド
レス発生部２５を有している。８ビットの画像データを
５１２×５１２のルックアップテーブル２３ａ、２３ｂ
に基づいて各セクタ毎に加算を行い、その結果である濃
度加算値を２５６個の結果メモリ２６ａ、２６ｂに書き
込むようになっている。このような構成により、同時に
２つのルックアップテーブル２３ａ、２３ｂによってセ
クタ加算が可能である。
は図４に示すように、２５６バイトの濃度変換メモリ２
２ａ、２２ｂ、ルックアップテーブル２３ａ、２３ｂ、
セクタ加算部２４ａ、２４ｂを備え、また、１つのアド
レス発生部２５を有している。８ビットの画像データを
５１２×５１２のルックアップテーブル２３ａ、２３ｂ
に基づいて各セクタ毎に加算を行い、その結果である濃
度加算値を２５６個の結果メモリ２６ａ、２６ｂに書き
込むようになっている。このような構成により、同時に
２つのルックアップテーブル２３ａ、２３ｂによってセ
クタ加算が可能である。
【００１３】 次に本発明を鋭いバリ並びに欠けの検出に
適用する場合につき説明する。図６は、リング状円形体
１の外周に発生した鋭いバリ２を検出する方法を説明す
るための図である。図６において、外径検査ウインドウ
１４ａの各画素領域にはｘ１乃至ｘ１０のように番号を
付与してある。バリ２を含む画素領域ｘ６とこの両隣り
３画素領域、即ちｘ３乃至ｘ５並びにｘ７乃至ｘ９の計
７画素領域の各濃度加算値を加算し、更にこの合計値を
７で割ることにより、７画素領域の平均濃度加算値を求
める。
適用する場合につき説明する。図６は、リング状円形体
１の外周に発生した鋭いバリ２を検出する方法を説明す
るための図である。図６において、外径検査ウインドウ
１４ａの各画素領域にはｘ１乃至ｘ１０のように番号を
付与してある。バリ２を含む画素領域ｘ６とこの両隣り
３画素領域、即ちｘ３乃至ｘ５並びにｘ７乃至ｘ９の計
７画素領域の各濃度加算値を加算し、更にこの合計値を
７で割ることにより、７画素領域の平均濃度加算値を求
める。
【００１４】 今、各画素領域の濃度加算値が、ｘ３とｘ
９が８、ｘ４とｘ８が９、ｘ５とｘ７が１０で、バリの
あるｘ６が１７である場合、平均濃度加算値は１０．１
４で約１０である。次に各画素領域の濃度加算値からこ
の平均濃度加算値１０を差し引く。この結果、ｘ３とｘ
９は８−１０＝−２、ｘ４とｘ８は９−１０＝−１、ｘ
５とｘ７は１０−１−＝０であり、バリのあるｘ６では
１７−１０＝＋７となる。このようにして移動平均演算
部１２で得られたデータから、所定の閾値を超えたデー
タを欠陥データとして認識する。
９が８、ｘ４とｘ８が９、ｘ５とｘ７が１０で、バリの
あるｘ６が１７である場合、平均濃度加算値は１０．１
４で約１０である。次に各画素領域の濃度加算値からこ
の平均濃度加算値１０を差し引く。この結果、ｘ３とｘ
９は８−１０＝−２、ｘ４とｘ８は９−１０＝−１、ｘ
５とｘ７は１０−１−＝０であり、バリのあるｘ６では
１７−１０＝＋７となる。このようにして移動平均演算
部１２で得られたデータから、所定の閾値を超えたデー
タを欠陥データとして認識する。
【００１５】 上記の例では、閾値を｜３｜と定めると、
ｘ６を除く他の画素領域では欠陥とは認識されず、画素
領域ｘ６に欠陥があることが判明し、かつ符号がプラス
であることからこの欠陥がバリであることが分かる。更
に、得られたデータが＋７ということから、バリの高さ
が概略７であることが分かる。
ｘ６を除く他の画素領域では欠陥とは認識されず、画素
領域ｘ６に欠陥があることが判明し、かつ符号がプラス
であることからこの欠陥がバリであることが分かる。更
に、得られたデータが＋７ということから、バリの高さ
が概略７であることが分かる。
【００１６】 図７には、図６のバリのケースとは逆に、
鋭い欠け３ａがリング状円形体１の外周に発生した場合
を説明してある。図７の各画素領域ｘ３乃至ｘ５並びに
ｘ７乃至ｘ９の濃度加算値は、図６で示した値と同一と
し、欠け３ａのあるｘ６の値が３とする。この場合、ｘ
３乃至ｘ９の濃度加算値の合計は５７となり、平均濃度
加算値は８．１４で、約８である。各画素領域の濃度加
算値からこの平均濃度加算値を差し引くと、ｘ３とｘ９
は８−８＝０であり、ｘ４とｘ８は９−８＝＋１であ
り、ｘ５とｘ７は１０−８＝＋２であり、欠けのあるｘ
６では３−８＝−５となる。
鋭い欠け３ａがリング状円形体１の外周に発生した場合
を説明してある。図７の各画素領域ｘ３乃至ｘ５並びに
ｘ７乃至ｘ９の濃度加算値は、図６で示した値と同一と
し、欠け３ａのあるｘ６の値が３とする。この場合、ｘ
３乃至ｘ９の濃度加算値の合計は５７となり、平均濃度
加算値は８．１４で、約８である。各画素領域の濃度加
算値からこの平均濃度加算値を差し引くと、ｘ３とｘ９
は８−８＝０であり、ｘ４とｘ８は９−８＝＋１であ
り、ｘ５とｘ７は１０−８＝＋２であり、欠けのあるｘ
６では３−８＝−５となる。
【００１７】 所定閾値を｜３｜とすると、ｘ６を除く他
の画素領域では欠陥とは認識されず、画素領域ｘ６に欠
陥があることが判明する。また、符号がマイナスである
ことから、この欠陥が欠けであることが判明し、得られ
たデータが−５であることから、欠けの深さが概略５で
あることも判明する。
の画素領域では欠陥とは認識されず、画素領域ｘ６に欠
陥があることが判明する。また、符号がマイナスである
ことから、この欠陥が欠けであることが判明し、得られ
たデータが−５であることから、欠けの深さが概略５で
あることも判明する。
【００１８】 次に図８を用いてリング状円形体１の外周
に存在するなだらかな欠け３ｂを検出する方法につき説
明する。先ず、なだらかな欠け３ｂを検出する方法の概
要を説明し、その後詳細に説明する。基本的な考え方と
しては、上部外径ウインドウ２７ａ並びに下部外径ウイ
ンドウ２７ｂとの間の中線Ｙ０を求める。上部外径ウイ
ンドウ２７ａ並びに下部外径ウインドウ２７ｂを構成す
る画素領域１５の各々の濃度加算値の座標値から中線Ｙ
０の座標値を差し引き、その結果を所定の閾値と比較し
てなだらかな欠けの存在を検出する。
に存在するなだらかな欠け３ｂを検出する方法につき説
明する。先ず、なだらかな欠け３ｂを検出する方法の概
要を説明し、その後詳細に説明する。基本的な考え方と
しては、上部外径ウインドウ２７ａ並びに下部外径ウイ
ンドウ２７ｂとの間の中線Ｙ０を求める。上部外径ウイ
ンドウ２７ａ並びに下部外径ウインドウ２７ｂを構成す
る画素領域１５の各々の濃度加算値の座標値から中線Ｙ
０の座標値を差し引き、その結果を所定の閾値と比較し
てなだらかな欠けの存在を検出する。
【００１９】 先ず、上部外径ウインドウ２７ａを構成す
る各々の画素領域１５の濃度加算値の座標値ｙ１ （ｉ）
と下部外径ウインドウ２７ｂを構成する各々の画素領域
１５の濃度加算値の座標ｙ２ （ｉ）を求める。また、上
部外径ウインドウ２７ａの濃度加算値が０のＹ座標を図
８のようにＬ、下部ウインドウ２７ｂの濃度加算値が０
のＹ座標をＭ、定数をＫとすると、ｙ１ （ｉ）並びにｙ
２ （ｉ）は次のように求められる。
る各々の画素領域１５の濃度加算値の座標値ｙ１ （ｉ）
と下部外径ウインドウ２７ｂを構成する各々の画素領域
１５の濃度加算値の座標ｙ２ （ｉ）を求める。また、上
部外径ウインドウ２７ａの濃度加算値が０のＹ座標を図
８のようにＬ、下部ウインドウ２７ｂの濃度加算値が０
のＹ座標をＭ、定数をＫとすると、ｙ１ （ｉ）並びにｙ
２ （ｉ）は次のように求められる。
【数１】
【数２】 このようにして上部外径ウインドウ２７ａと下部外径ウ
インドウ２７ｂを構成する各画素領域１５の濃度加算値
を座標値として求めた後、上部外径ウインドウ２７ａと
下部ウインドウ２７ｂの各々の座標値の平均値ｍ（ｉ）
を求める。これを式で表すと、次のようになる。
インドウ２７ｂを構成する各画素領域１５の濃度加算値
を座標値として求めた後、上部外径ウインドウ２７ａと
下部ウインドウ２７ｂの各々の座標値の平均値ｍ（ｉ）
を求める。これを式で表すと、次のようになる。
【００２０】
【数３】 このようにして、上下各外径ウインドウ２７ａ、２７ｂ
のそれぞれ上下の対称の位置にある画素領域の濃度加算
値の座標値平均値が得られる。即ち、各上下の画素領域
の上下間の中点が求められる。次に得られたｍ（ｉ）を
加算し、一方の外径ウインドウの画素領域数で除するこ
とにより、上下の各画素領域毎の座標値平均
のそれぞれ上下の対称の位置にある画素領域の濃度加算
値の座標値平均値が得られる。即ち、各上下の画素領域
の上下間の中点が求められる。次に得られたｍ（ｉ）を
加算し、一方の外径ウインドウの画素領域数で除するこ
とにより、上下の各画素領域毎の座標値平均
【数４】 その後上部外径ウインドウ２７ａと下部外径ウインドウ
２７ｂの各画素領域の濃度加算値の座標値から平均値即
ち中線Ｙ０の座標値を減じ差ΔＹ（ｉ）を求める。即
ち、
２７ｂの各画素領域の濃度加算値の座標値から平均値即
ち中線Ｙ０の座標値を減じ差ΔＹ（ｉ）を求める。即
ち、
【数５】 となる。
【００２１】このΔＹ（ｉ）と所定の閾値との差をとる
ことにより、なだらかな欠けが検出できる。特に、得ら
れた差の値の符号とその数値により、なだらかな欠け３
ｂが上部外径ウインドウ２７ａに存在するのか、下部外
径ウインドウ２７ｂに存在するのか、並びにその欠けの
大きさが検出できる。
ことにより、なだらかな欠けが検出できる。特に、得ら
れた差の値の符号とその数値により、なだらかな欠け３
ｂが上部外径ウインドウ２７ａに存在するのか、下部外
径ウインドウ２７ｂに存在するのか、並びにその欠けの
大きさが検出できる。
【００２２】次に、工程中に異品種が混入した場合にこ
れを検出する方法を図９を用いて説明する。図９におい
て、リング状円形体１の外径ウインドウ１４ａと内径ウ
インドウ１４ｂの画素領域の内、斜線を付した中央の画
素領域２８の濃度加算値から異品種の混入検査を行う。
検査は、上下左右の４方向について、外径、内径ともに
４方向全てが判定閾値の範囲外の場合に不良、即ち異品
種と判定する。
れを検出する方法を図９を用いて説明する。図９におい
て、リング状円形体１の外径ウインドウ１４ａと内径ウ
インドウ１４ｂの画素領域の内、斜線を付した中央の画
素領域２８の濃度加算値から異品種の混入検査を行う。
検査は、上下左右の４方向について、外径、内径ともに
４方向全てが判定閾値の範囲外の場合に不良、即ち異品
種と判定する。
【００２３】
【発明の効果】リング状円形体の外周又は内周に存在す
る、バリ、欠け、異品種の混入の種別とその程度を、簡
単な方法で検出できるようになった。
る、バリ、欠け、異品種の混入の種別とその程度を、簡
単な方法で検出できるようになった。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施例を説明するブロック図である。
【図２】本発明の実施例を説明するシステム概略図であ
る。
る。
【図３】本発明における検査対象の具体例を説明する平
面図である。
面図である。
【図４】図１に示す濃度加算値演算部を示すブロック図
である。
である。
【図５】本発明の実施例において用いる検査ウインドウ
を説明する図である。
を説明する図である。
【図６】本発明の実施例の動作を説明する図である。
【図７】本発明の他の実施例の動作を説明する図であ
る。
る。
【図８】本発明の更に他の実施例の動作を説明する図で
ある。
ある。
【図９】本発明の更に他の実施例の動作を説明する図で
ある。
ある。
【符号の説明】 １…リング状円形体 ２…バリ ３ａ…鋭い欠け ３ｂ…なだらかな欠け １１…濃度加算部 １２…移動平均演算部 １３…欠陥検出部 １４ａ…外径検査ウインドウ １４ｂ…内径検査ウインドウ １５…画素領域 １６…搬送部 １７…検査ステージ １８…照明装置 １９…カメラ ２０…画像処理装置 ２１…画像モニタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 秦 久典 神奈川県川崎市幸区堀川町66番２ 東芝エ ンジニアリング株式会社内
Claims (5)
- 【請求項１】 円形体の少なくとも外周の形状を複数の
連続した画素領域からなるウインドウとして抽出し、抽
出された前記ウインドウから所定の数の検査対象画素領
域を定め、得られた前記検査対象画素領域の濃度加算値
を各画素領域毎に求め、前記検査対象画素領域の各々の
画素領域の濃度加算値の平均濃度加算値を求め、前記各
画素領域の濃度加算値と前記平均濃度加算値との差を求
めることにより前記円形体の欠陥を検出することを特徴
とする円形体の欠陥検査方法。 - 【請求項２】 前記円形体がリング状であって、前記ウ
インドウの抽出を前記円形体の外周と内周にてそれぞれ
抽出することを特徴とする請求項１記載の円形体の欠陥
検査方法。 - 【請求項３】 円形体の少なくとも外周において互いに
対向する位置の形状を各々複数の連続した画素領域から
なる第１ウインドウ並びに第２ウインドウとして抽出
し、前記第１並びに第２ウインドウから所定の数の画素
領域からなる第１並びに第２検査対象画素領域を定め、
前記第１並びに第２検査対象画素領域の各画素領域の濃
度加算値を単位座標値として求め、前記第１並びに第２
検査対象画素領域の対応する画素領域の前記単位座標値
の単位平均値を求め、前記単位平均値を加算し更にこの
加算値を前記所定の数で徐することにより前記第１並び
に第２検査対象画素領域間の濃度加算値の座標平均値を
前記第１並びに第２検査対象画素領域間の中心座標値と
して設定し、この中心座標値と前記第１並びに第２検査
対象画素領域の前記各単位座標値との差を求め、得られ
たデータから前記円形体の少なくとも外周の欠陥を検出
することを特徴とする円形体の欠陥検出方法。 - 【請求項４】 前記円形体がリング状であって、前記第
１ウインドウ並びに第２２ウインドウを前記円形体の内
周の互いに対向する位置において抽出することを特徴と
する請求項３記載の円形体の欠陥検査方法。 - 【請求項５】リング状円形体の外周の形状を複数の連続
した画素領域からなる外径ウインドウとして抽出し、こ
の外径ウインドウを構成する各画素領域の濃度加算値を
算出し、前記円形体の内周の形状を前記外径ウインドウ
の画素領域に対応する如く複数の連続した画素領域から
なる内径ウインドウとして抽出し、この内径ウインドウ
を構成する各画素領域の濃度加算値を算出し、前記外径
ウインドウ並びに外径ウインドウの対応する前記画素領
域の濃度加算値を比較することにより異品種混入を検出
することを特徴とする円形体の欠陥検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9094293A JPH10255056A (ja) | 1997-03-07 | 1997-03-07 | 円形体の欠陥検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9094293A JPH10255056A (ja) | 1997-03-07 | 1997-03-07 | 円形体の欠陥検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10255056A true JPH10255056A (ja) | 1998-09-25 |
Family
ID=14106226
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9094293A Withdrawn JPH10255056A (ja) | 1997-03-07 | 1997-03-07 | 円形体の欠陥検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10255056A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109115800A (zh) * | 2018-08-20 | 2019-01-01 | 深圳市杰恩世智能科技有限公司 | 一种产品毛刺的快速检测及长度精确测量方法 |
| CN109900707A (zh) * | 2019-03-20 | 2019-06-18 | 湖南华曙高科技有限责任公司 | 一种铺粉质量检测方法、设备以及可读存储介质 |
| CN112781452A (zh) * | 2021-03-25 | 2021-05-11 | 湘潭大学 | 一种子弹底火顶部外观缺陷检测方法 |
-
1997
- 1997-03-07 JP JP9094293A patent/JPH10255056A/ja not_active Withdrawn
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109115800A (zh) * | 2018-08-20 | 2019-01-01 | 深圳市杰恩世智能科技有限公司 | 一种产品毛刺的快速检测及长度精确测量方法 |
| CN109115800B (zh) * | 2018-08-20 | 2022-04-12 | 深圳市杰恩世智能科技有限公司 | 一种产品毛刺的快速检测及长度精确测量方法 |
| CN109900707A (zh) * | 2019-03-20 | 2019-06-18 | 湖南华曙高科技有限责任公司 | 一种铺粉质量检测方法、设备以及可读存储介质 |
| CN109900707B (zh) * | 2019-03-20 | 2021-07-02 | 湖南华曙高科技有限责任公司 | 一种铺粉质量检测方法、设备以及可读存储介质 |
| CN112781452A (zh) * | 2021-03-25 | 2021-05-11 | 湘潭大学 | 一种子弹底火顶部外观缺陷检测方法 |
| CN112781452B (zh) * | 2021-03-25 | 2022-10-18 | 湘潭大学 | 一种子弹底火顶部外观缺陷检测方法 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
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