JPH10270531A - 基板処理装置 - Google Patents
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Abstract
場合でも運用効率の低下を回避または軽減可能な基板処
理装置を提供することである。 【解決手段】 基板処理装置1は第1の搬送路21を有
する第1の基板搬送ユニット20および第2の搬送路3
1を有する第2の基板搬送ユニット30を備える。第1
の搬送路21に沿って回転式塗布ユニット10aおよび
回転式現像ユニット10bが配置され、第2の搬送路3
1に沿って基板カセット43が配置される。第2の基板
搬送ユニット30の基板搬送ロボット32は、第1の基
板搬送ユニット20の基板搬送ロボット22から受け取
った基板Wを第2の搬送路31の両端部側に配置された
露光装置2a,2bに選択的に搬入し、露光装置2a,
2bから基板Wを搬出して第1の基板搬送ユニット20
の基板搬送ロボット22に搬送する。
Description
を行う基板処理装置に関する。
板、フォトマスク用ガラス基板、光ディスク用ガラス基
板等の基板に種々の処理を行うために、基板処理装置が
用いられている。例えば、半導体デバイスの製造プロセ
スでは、生産効率を高めるために一連の処理の各々をユ
ニット化し、複数の基板処理ユニットを統合した基板処
理装置が用いられている。
処理の前後の各種の基板処理が基板処理装置で行われ、
露光処理が露光装置で行われる。この場合、基板処理装
置には、フォトレジストの塗布処理を行う回転式塗布ユ
ニット(スピンコータ)、現像処理を行う回転式現像ユ
ニット(スピンデベロッパ)、加熱処理を行う加熱ユニ
ット(ホットプレート)、冷却処理を行う冷却ユニット
(クーリングプレート)等の各種基板処理ユニットや、
基板処理ユニット間で基板の搬送を行う基板搬送ユニッ
トが設けられている。
投影露光機(ステッパ)等の露光機、露光機での露光パ
ターンの焼付けのための位置決めを行うアラインメント
機構、露光装置内で基板の搬送を行う搬送ロボット等を
備える。
処理装置で露光処理前の基板処理が行われ、次に、露光
装置で露光処理が行われ、その後、再び基板処理装置で
露光処理後の基板処理が行われる。したがって、基板処
理装置と露光装置との間で基板の受け渡しを行う必要が
ある。そのため、基板処理装置には基板の受け渡しを行
う基板搬送ユニットが設けられている。この基板搬送ユ
ニットはインタフェースユニット(以下、IFユニット
と略記する)と呼ばれている。
処理装置の平面図、図16は図15の基板処理装置にお
けるIFユニットの正面図、図17は図15の基板処理
装置におけるIFユニットの側面図である。
複数の回転式塗布ユニット160a、複数の回転式現像
ユニット160b、基板搬送ユニット170およびIF
ユニット180を備える。基板処理装置200の一端部
側には、IFユニット180に隣接するように露光装置
300が設置される。
向(矢印Xの方向)に搬送する基板搬送ロボット171
を有する。IFユニット180は基板搬送ロボット18
1を有する。基板搬送ロボット181は、基板Wを保持
する基板保持部182、その基板保持部182をX軸方
向に移動させるX方向移動機構183、そのX方向移動
機構183を介して基板保持部182をZ軸方向(矢印
Zの方向)に移動させるZ方向移動機構184、および
Z方向移動機構184およびX方向移動機構183を介
して基板保持部182をY軸方向(矢印Yの方向)に移
動させるY方向移動機構185を含む。
基板保持部182に基板Wを保持してX軸方向、Y軸方
向およびZ軸方向に移動させ、基板受け渡し台190、
基板搬入台191、基板搬出台192およびバッファ部
193との間で基板Wを受け渡しすることができる。
ト181が基板搬送ロボット171との間で基板Wの受
け渡しを行うために用いられる。基板搬入台191およ
び基板搬出台192は、基板搬送ロボット181が露光
装置300内の基板搬送ロボット(図示せず)との間で
基板Wの受け渡しを行うために用いられる。図16に示
すように、IFユニット180の側面には、露光装置3
00との間で基板Wを受け渡すための開口部186が設
けられている。バッファ部193は、基板処理装置20
0内での処理時間と露光装置300内での処理時間とに
差が生じた場合に基板Wを一時的に収納するために用い
られる。
ず、基板搬送ユニット170の基板搬送ロボット171
が、回転式塗布ユニット160aで処理された基板Wを
基板受け渡し台190に載置する。IFユニット180
の基板搬送ロボット181は、基板受け渡し台190に
載置された基板Wを基板保持部182に受け取って保持
し、その基板Wを基板搬入台191に載置する。基板搬
入台191に載置された基板Wは、露光装置300内の
基板搬送ロボットにより露光装置300内に取り込まれ
る。
た基板Wは、露光装置300内の基板搬送ロボットによ
り露光装置300から搬出され、基板搬出台192に載
置される。IFユニット180の基板搬送ロボット18
1は、基板搬出台192に載置された基板Wを基板保持
部182に受け取って保持し、その基板Wを基板受け渡
し台190に載置する。基板受け渡し台190に載置さ
れた基板Wは、基板搬送ユニット170の基板搬送ロボ
ット171により回転式現像ユニット160bに搬送さ
れる。
0で露光処理に要する時間は、基板処理装置200の回
転式塗布ユニット160aや回転式現像ユニット160
bで基板処理に要する時間に比べて長い。特に、直径3
00mmのような大口径の基板を処理する場合には、露
光装置300での露光処理の時間が増大する。
は、基板処理装置200と露光装置300との間でスル
ープットが整合していないので、基板処理装置200の
運用効率が低下するという問題がある。
プットの相違がある場合でも運用効率の低下を回避また
は軽減することが可能な基板処理装置を提供することで
ある。
発明に係る基板処理装置は、所定の方向に延びる受け渡
し用搬送路と、受け渡し用搬送路の一方の側部側に配置
される基板処理部と、受け渡し用搬送路の他方の側部側
に配置され、基板を収納する基板収納部と、受け渡し用
搬送路で基板を搬送するとともに、基板収納部および基
板処理部との間で基板の受け渡しを行い、かつ受け渡し
用搬送路の両端部側に対して基板の搬入および搬出を行
う受け渡し用搬送手段を備えたものである。
は、受け渡し用搬送手段が基板処理部との間で処理前の
基板および処理済みの基板を受け渡すとともに、受け渡
し用搬送路の両端部側にそれぞれ振り分けて基板を搬送
する。したがって、受け渡し用搬送路の両端部側の外方
に2つの外部装置を設置することができ、基板処理部で
処理された基板を2つの外部装置に振り分けることによ
り、外部装置での処理時間が基板処理部での処理時間に
比べて長い場合でも基板処理装置の運用効率の低下を回
避または軽減することができる。
発明に係る基板処理装置の構成において、基板処理部
が、受け渡し用搬送路に直交する方向に延びる処理部用
搬送路と、処理部用搬送路に沿って配置された1または
複数の処理ユニットと、処理部用搬送路において基板を
搬送するとともに、各処理ユニットに対して基板の搬入
および搬出を行う処理部用搬送手段とを備え、受け渡し
用搬送手段が、処理部用搬送手段との間で基板の受け渡
しを行うものである。
理部の処理部用搬送路で基板を搬送するとともに、各処
理ユニットに対して基板の搬入または搬出を行う処理部
用搬送手段との間で基板を受け渡すことにより、基板処
理部に処理前の基板を搬入するとともに、処理済みの基
板を基板処理部から搬出することができる。
発明に係る基板処理装置の構成において、基板処理部
が、基板を搬送するための搬送領域と、搬送領域の周囲
に配置された1または複数の処理ユニットと、搬送領域
に設けられ、各処理ユニットに対して基板の搬入および
搬出を行う処理部用搬送手段とを備え、受け渡し用搬送
手段が、処理部用搬送手段との間で基板の受け渡しを行
うものである。
用搬送手段に受け渡された基板は、搬送領域の周囲に配
置された処理ユニットに搬入され所定の基板処理が行わ
れる。また、処理ユニットにおいて所定の基板処理が終
了した基板は、処理部用搬送手段により処理ユニットか
ら搬出され、受け渡し用搬送手段に渡される。これによ
り、受け渡し用搬送手段と処理ユニットとの間で処理部
用搬送手段を介して基板の受け渡しを行うことができ
る。
所定の処理を行う1または複数の処理ユニットと、各処
理ユニットに対して基板の搬入および搬出を行う処理部
用搬送手段とを有する基板処理部と、基板処理部に隣接
し、かつ所定の方向に延びる受け渡し用搬送路と、受け
渡し用搬送路で基板を搬送するとともに、処理部用搬送
手段との間で基板の受け渡しを行い、かつ受け渡し用搬
送路の両端部側に対して基板の搬入および搬出を行う受
け渡し用搬送手段とを備えたものである。
は、処理部用搬送手段が、基板処理部の各処理ユニット
から処理された基板を搬出して受け渡し用搬送手段に受
け渡す。受け渡し用搬送手段は、受け渡し用搬送路を移
動して受け渡された基板を搬送し、受け渡し用搬送路の
両端部のいずれかから基板を搬出する。また、受け渡し
用搬送手段は、受け渡し用搬送路の両端部のいずれかか
ら基板を搬入して受け渡し用搬送路で搬送する。
で基板の搬出および搬入を行うことができるので、受け
渡し用搬送路の両端部側に2つの外部装置を設置するこ
とができる。したがって、基板処理部で処理された基板
を2つの外部装置に振り分けることにより、外部装置で
の処理時間が基板処理部の各処理ユニットでの処理時間
に比べて長い場合でも基板処理装置の運用効率の低下を
回避または低減することができる。
発明に係る基板処理装置の構成において、基板処理部
が、受け渡し用搬送路に直交する方向に延びる処理部用
搬送路を有し、処理部用搬送手段が前記処理部用搬送路
を移動するものである。
用搬送手段から渡された基板を受け渡し用搬送路に直交
する方向に延びる処理部用搬送路で搬送して所定の処理
ユニットに搬入するとともに、所定の基板処理が終了し
た基板を処理ユニットから搬出し、処理部用搬送路で搬
送して受け渡し用搬送手段に基板を渡すことができる。
発明に係る基板処理装置の構成において、基板処理部の
1または複数の処理ユニットが処理部用搬送手段の周囲
に配置されたものである。
された処理ユニットとの間で基板の搬入および搬出を行
うことができる。
第6のいずれかの発明に係る基板処理装置の構成におい
て、受け渡し用搬送路に沿って基板処理部と反対側に配
置され、基板を収納する基板収納部をさらに備え、受け
渡し用搬送手段が、基板収納部に対して基板の格納およ
び取り出しを行うものである。
納部から基板を取り出して基板処理部に搬送するととも
に、基板処理部または受け渡し用搬送路の両端部側に配
置された外部装置から受け渡された基板を受け渡し用搬
送路で搬送して基板収納部に格納することができる。
第7のいずれかの発明に係る基板処理装置の構成におい
て、受け渡し用搬送手段が、受け渡し用搬送路を移動可
能な移動部と、鉛直方向に移動可能かつ鉛直軸の周りで
回動可能に前記移動部に設けられた可動部と、水平方向
に移動可能に可動部に設けられて基板を保持する基板保
持アームとを含むものである。
アームを水平方向および鉛直方向に移動させ、かつ回動
させることが可能となる。したがって、受け渡し用搬送
手段との間で基板の受け渡しを行う種々の装置を受け渡
し用搬送路に沿って最適な位置に設置することができ
る。
第3のいずれかの発明に係る基板処理装置の構成におい
て、受け渡し用搬送路内の両端部にそれぞれ配置され、
かつ受け渡し用搬送路の両端部の外方に配置される外部
装置との間で受け渡される基板を一時的に保持する基板
保持部をさらに備えたものである。
た基板は一時的に基板保持部に保持された後、外部装置
に渡される。また、外部装置での処理が終了した基板は
一時的に基板保持部に保持された後、受け渡し用搬送手
段に渡される。したがって、外部装置での処理タイミン
グと受け渡し用搬送手段の搬送タイミングとが不整合の
場合でも、外部装置および受け渡し用搬送手段が基板の
受け渡しのために拘束される時間が短縮され、基板処理
装置の運用効率の低下を回避または低減することができ
る。
の発明に係る基板処理装置の構成において、受け渡し用
搬送手段が、受け渡し用搬送路内に移動可能に設けられ
た第1基板搬送手段と、基板保持部に隣接する位置にそ
れぞれ配置された第2基板搬送手段とを含み、第1基板
搬送手段が、基板収納部、基板処理部および第2基板搬
送手段との間で基板の受け渡しを行い、第2基板搬送手
段が、第1基板搬送手段および基板保持部との間で基板
の受け渡しを行うものである。
との間で基板の受け渡しを行うことにより、受け渡し用
搬送路における第1基板搬送手段の移動距離が短縮さ
れ、基板収納部、基板処理部および第2基板搬送手段と
の間で基板の受け渡しを行う第1基板搬送手段による基
板の搬送効率が向上する。
0の発明に係る基板処理装置の構成において、第1基板
搬送手段が、受け渡し用搬送路を移動可能な移動部と、
鉛直方向に移動可能かつ鉛直軸の周りで回動可能に移動
部に設けられた第1可動部と、水平方向に移動可能に第
1可動部に設けられて基板を保持する第1基板保持アー
ムとを含み、第2基板搬送手段が、受け渡し用搬送路に
固定された固定部と、鉛直方向に移動可能かつ鉛直軸の
周りで回動可能に固定部に設けられた第2可動部と、水
平方向に移動可能に第2可動部に設けられて基板を保持
する第2基板保持アームとを含むものである。
持アームが水平方向および鉛直方向に移動可能となり、
第1基板搬送手段との間で基板の受け渡しを行う基板収
納部、基板処理部および第2基板搬送手段を最適な位置
に配置することが可能となる。
が水平方向および鉛直方向に移動可能となり、第2基板
搬送手段との間で基板の受け渡しを行う第1基板搬送手
段および基板保持部を最適な位置に配置することが可能
となる。
1の発明に係る基板処理装置の構成において、第1基板
搬送手段が、第2基板搬送手段の下方を移動可能に形成
されたものである。
板搬送手段の搬送領域が制限されることが防止される。
の発明に係る基板処理装置の構成において、受け渡し用
搬送手段が、受け渡し用搬送路内に移動可能に設けられ
た第1基板搬送手段と、基板保持部に隣接する位置にそ
れぞれ設けられた第2基板搬送手段と、基板処理部との
基板受け渡し位置に設けられた第3基板搬送手段とを含
み、第1基板搬送手段が、基板収納部および第3基板搬
送手段との間で基板の受け渡しを行い、第2基板搬送手
段が、第3基板搬送手段および基板保持部との間で基板
の受け渡しを行い、第3基板搬送手段が、第1基板搬送
手段、第2基板搬送手段および基板処理部との間で基板
の受け渡しを行うものである。
板搬送手段、第2基板搬送手段および第3基板搬送手段
を含んでおり、第1基板搬送手段は基板収納部および第
3基板搬送手段との間で基板の受け渡しを行い、第2基
板搬送手段は第3基板搬送手段および基板保持部との間
で基板の受け渡しを行い、第3基板搬送手段は第1基板
搬送手段、第2基板搬送手段および基板処理部との間で
基板の受け渡しを行っている。したがって、1つの受け
渡し用搬送手段だけの場合に比べて、基板収納部、基板
保持部および基板処理部との基板の受け渡しのために拘
束される時間が短縮され、基板処理装置の運用効率の低
下をさらに回避または低減することができる。
3の発明に係る基板処理装置の構成において、第1基板
搬送手段が、受け渡し用搬送路を移動可能な移動部と、
鉛直方向に移動可能かつ鉛直軸の周りで回動可能に移動
部に設けられた第1可動部と、水平方向に移動可能に第
1可動部に設けられて基板を保持する第1基板保持アー
ムとを含み、第2基板搬送手段が、受け渡し用搬送路に
固定された第1固定部と、鉛直方向に移動可能かつ鉛直
軸の周りで回動可能に第1固定部に設けられた第2可動
部と、水平方向に移動可能に可動部に設けられて基板を
保持する第2基板保持アームとを含み、第3基板搬送手
段が、基板処理部との基板受け渡し位置に固定された第
2固定部と、鉛直方向に移動可能に第2固定部に設けら
れた第3可動部と、水平方向に移動可能に可動部に設け
られて基板を保持する第3基板保持アームとを含むもの
である。
持アームが水平方向および鉛直方向に移動可能となり、
第1基板搬送手段との間で基板の受け渡しを行う基板収
納部および第3基板搬送手段を最適な位置に配置するこ
とが可能となる。
ームが水平方向および鉛直方向に移動可能となり、第2
基板搬送手段との間で基板の受け渡しを行う第3基板搬
送手段および基板保持部を最適な位置に配置することが
可能となる。
アームが水平方向および鉛直方向に移動可能となり、第
3基板搬送手段との間で基板の受け渡しを行う第1基板
搬送手段、第2基板搬送手段および基板処理部を最適な
位置に配置することが可能となる。
4の発明に係る基板処理装置の構成において、受け渡し
用搬送路の一方端部に配置された一方の第2基板搬送手
段と、受け渡し用搬送路の他方端部に配置された他方の
第2基板搬送手段とが、基板収納部より上方の異なる高
さに配置されており、第3基板搬送手段は、上下方向に
複数配置され、第3基板搬送手段のうち少なくとも1つ
が、一方の第2基板搬送手段に対応する高さに配置さ
れ、第3基板搬送手段のうち少なくとも他の1つが、他
方の第2基板搬送手段に対応する高さに配置されたもの
である。
第3基板搬送手段とを対応付けて階層状に配置すること
により基板処理装置の平面占有面積が大きくなることが
防止され、基板処理装置を小型化することができる。
〜第7のいずれかの発明に係る基板処理装置の構成にお
いて、受け渡し用搬送路内の両端部にそれぞれ配置さ
れ、受け渡し用搬送路の両端部の外方に配置される外部
装置との間で受け渡される基板を一時的に保持する基板
保持部をさらに備えたものである。
た基板は一時的に基板保持部に保持された後、外部装置
に渡される。また、外部装置での処理が終了した基板は
一時的に基板保持部に保持された後、受け渡し用搬送手
段に渡される。したがって、外部装置での処理タイミン
グと受け渡し用搬送手段の搬送タイミングとが不整合の
場合でも、外部装置および受け渡し用搬送手段が基板の
受け渡しのために拘束される時間が短縮され、基板処理
装置の運用効率の低下を回避または低減することができ
る。
6の発明に係る基板処理装置の構成において、受け渡し
用搬送手段が、受け渡し用搬送路内に移動可能に設けら
れた第1基板搬送手段と、基板保持部に隣接する位置に
それぞれ配置された第2基板搬送手段とを含み、第1基
板搬送手段が、処理部用搬送手段および第2基板搬送手
段との間で基板の受け渡しを行い、第2基板搬送手段
が、第1基板搬送手段および基板保持部との間で基板の
受け渡しを行うものである。
との間で基板の受け渡しを行うことにより、受け渡し用
搬送路における第1基板搬送手段の移動距離が短縮さ
れ、基板処理部および第2基板搬送手段との間で基板の
受け渡しを行う第1基板搬送手段による基板の搬送効率
が向上する。
7の発明に係る基板処理装置の構成において、第1基板
搬送手段が、受け渡し用搬送路を移動可能な移動部と、
鉛直方向に移動可能かつ鉛直軸の周りで回動可能に移動
部に設けられた第1可動部と、水平方向に移動可能に第
1可動部に設けられて基板を保持する第1基板保持アー
ムとを含み、第2基板搬送手段が、受け渡し用搬送路に
固定された固定部と、鉛直方向に移動可能かつ鉛直軸の
周りで回動可能に固定部に設けられた第2可動部と、水
平方向に移動可能に第2可動部に設けられて基板を保持
する第2基板保持アームとを含むものである。
持部が水平方向および鉛直方向に移動可能となり、第1
基板搬送手段との間で基板の受け渡しを行う基板処理部
および第2基板搬送手段を最適な位置に配置することが
可能となる。
が水平方向および鉛直方向に移動可能となり、第2基板
搬送手段との間で基板の受け渡しを行う第1基板搬送手
段および基板保持部を最適な位置に配置することが可能
となる。
8の発明に係る基板処理装置の構成において、第1基板
搬送手段が、第2基板搬送手段の下方を移動可能に形成
されたものである。
板搬送手段の搬送領域が制限されることが防止される。
6の発明に係る基板処理装置の構成において、受け渡し
用搬送手段が、受け渡し用搬送路内に移動可能に設けら
れた第1基板搬送手段と、基板保持部に隣接する位置に
それぞれ設けられた第2基板搬送手段と、処理部用搬送
手段との基板受け渡し位置に設けられた第3基板搬送手
段とを含み、第1基板搬送手段が、第3基板搬送手段と
の間で基板の受け渡しを行い、第2基板搬送手段が、第
3基板搬送手段および基板保持部との間で基板の受け渡
しを行い、第3基板搬送手段が、第1基板搬送手段、第
2基板搬送手段および処理部用搬送手段との間で基板の
受け渡しを行うものである。
板搬送手段、第2基板搬送手段および第3基板搬送手段
を含んでおり、第1基板搬送手段は第3基板搬送手段と
の間で基板の受け渡しを行い、第2基板搬送手段は第3
基板搬送手段および基板保持部との間で基板の受け渡し
を行い、第3基板搬送手段は第1基板搬送手段、第2基
板搬送手段および処理部用搬送手段との間で基板の受け
渡しを行っている。したがって、1つの受け渡し用搬送
手段だけの場合に比べて、基板保持部および処理部用搬
送手段との基板の受け渡しのために拘束される時間が短
縮され、基板処理装置の運用効率の低下をさらに回避ま
たは低減することができる。
0の発明に係る基板処理装置の構成において、第1基板
搬送手段が、受け渡し用搬送路を移動可能な移動部と、
鉛直方向に移動可能かつ鉛直軸の周りで回動可能に移動
部に設けられた第1可動部と、水平方向に移動可能に第
1可動部に設けられて基板を保持する第1基板保持アー
ムとを含み、第2基板搬送手段が、受け渡し用搬送路に
固定された第1固定部と、鉛直方向に移動可能かつ鉛直
軸の周りで回動可能に第1固定部に設けられた第2可動
部と、水平方向に移動可能に第2可動部に設けられて基
板を保持する第2基板保持アームとを含み、第3基板搬
送手段は、処理部用搬送手段との基板受け渡し位置に固
定される第2固定部と、鉛直方向に移動可能に第2固定
部に設けられた第3可動部と、水平方向に移動可能に可
動部に設けられて基板を保持する第3基板保持アームと
を含むものである。
持アームが水平方向および鉛直方向に移動可能となり、
第1基板搬送手段との間で基板の受け渡しを行う第3基
板搬送手段を最適な位置に配置することが可能となる。
ームが水平方向および鉛直方向に移動可能となり、第2
基板搬送手段との間で基板の受け渡しを行う第3基板搬
送手段および基板保持部を最適な位置に配置することが
可能となる。
アームが水平方向および鉛直方向に移動可能となり、第
3基板搬送手段との間で基板の受け渡しを行う第1基板
搬送手段、第2基板搬送手段および処理部用搬送手段を
最適な位置に配置することが可能となる。
1の発明に係る基板処理装置の構成において、受け渡し
用搬送路の一方端部に配置された一方の第2基板搬送手
段と、受け渡し用搬送路の他方端部に配置された他方の
第2基板搬送手段とが異なる高さに配置されており、第
3基板搬送手段が上下方向に複数配置されており、第3
基板搬送手段のうち少なくとも1つは、一方の第2基板
搬送手段に対応する高さに配置され、第3基板搬送手段
のうち少なくとも他の1つが、他方の第2基板搬送手段
に対応する高さに配置されたものである。
第3基板搬送手段とを対応付けて階層状に配置すること
により基板処理装置の平面占有面積が大きくなることが
防止され、基板処理装置を小型化することができる。
〜第22のいずれかの発明に係る基板処理装置の構成に
おいて、基板保持部と外部装置との間で基板を受け渡す
外部用基板搬送手段をさらに備えたものである。
ない場合であっても、外部用基板搬送手段を用いて基板
保持部と外部装置との間で基板を受け渡すことができ
る。
3の発明に係る基板処理装置の構成において、基板処理
部の1または複数の処理ユニットの少なくとも1つが基
板の塗布液を塗布する塗布ユニットであり、外部用基板
搬送手段が、外部装置である露光装置に対して塗布ユニ
ットにより処理された基板の搬入および搬出を行うもの
である。
基板が外部用基板搬送手段によって、2つの露光装置に
振り分けて搬送される。したがって、基板の大径化によ
り露光装置での処理時間が増大しての基板処理装置の運
用効率の低下を回避または軽減することができる。
ける基板処理装置の平面図、図2は図1の基板処理装置
における第2の基板搬送ユニットの側面図である。
フォトレジスト液の塗布処理を行う複数の回転式塗布ユ
ニット(スピンコータ)10a、基板に現像処理を行う
複数の回転式現像ユニット(スピンデベロッパ)10
b、基板を搬送する第1の基板搬送ユニット20および
基板を搬送する第2の基板搬送ユニット30を備える。
(矢印Xの方向)に延びる第1の搬送路21を有する。
第1の搬送路21には、基板搬送ロボット22がX軸方
向および鉛直方向に移動可能かつ鉛直軸の周りで回動可
能に設けられている。この基板搬送ロボット22上に
は、基板Wを保持する基板保持アーム23が前進および
後退可能に設けられている。
搬送路21の一方の側部に沿って配置され、複数の回転
式現像ユニット10bは第1の搬送路21の他方の側部
に沿って配置されている。回転式塗布ユニット10aお
よび回転式現像ユニット10b上には、基板に加熱処理
を行う加熱ユニット(ホットプレート)および基板に冷
却処理を行う冷却ユニット(クーリングプレート)が配
置されている(図示せず)。
送路21の一端部側で第1の搬送路21に直交する方
向、すなわちY軸方向(矢印Yの方向)に延びる第2の
搬送路31を有する。第2の搬送路31には、基板搬送
ロボット32がY軸方向および鉛直方向に移動可能かつ
鉛直軸の回りで回動可能に設けられている。この基板搬
送ロボット32上には、基板Wを保持する基板保持アー
ム33が前進および後退可能に設けられている。
42が配置されている。カセット支持台42上には複数
の基板カセット43が載置される。各基板カセット43
には複数の基板が収納される。
部側には露光装置2a,2bがそれぞれ配置される。露
光装置2aは、3本の基板支持ピン51aを有する基板
受け渡し部50aを有する。同様に、露光装置2bは、
3本の基板支持ピン51bを有する基板受け渡し部50
bを有する。露光装置2aの基板受け渡し部50aは第
2の搬送路31の一方の端部側に隣接して配置され、露
光装置2bの基板受け渡し部50bは第2の搬送路31
の他方の端部側に隣接して配置される。
との間で基板の受け渡しを行うための受け渡しポートA
となっており、第2の搬送路31の他端部は露光装置2
bとの間で基板の受け渡しを行うための受け渡しポート
Bとなっている。
機、露光機での露光パターンの焼付けのための位置決め
を行うアラインメント機構、および露光機と基板受け渡
し部50aとの間で基板の搬送を行う基板搬送ロボット
を備える。同様に、露光装置2bは、露光機、アライン
メント機構、および露光機と基板受け渡し部50bとの
間で基板の搬送を行う基板搬送ロボットを備える。
ボット22は、第1の搬送路21で基板Wを搬送し、回
転式塗布ユニット10a、回転式現像ユニット10b等
の基板処理ユニットに対して基板Wの搬入および搬出を
行うとともに、第2の基板搬送ユニット30の基板搬送
ロボット32との間で基板Wの受け渡しを行う。
ボット32は、第2の搬送路31で基板Wを搬送し、第
1の基板搬送ユニット20の基板搬送ロボット22との
間で基板Wの受け渡しを行うとともに、露光装置2aの
基板受け渡し部50aおよび露光装置2bの基板受け渡
し部50bに対して基板の搬入および搬出を行い、さら
に基板カセット43に対して基板Wの格納および取り出
しを行う。この第2の基板搬送ユニット30は、インデ
クサ/インタフェースユニットと呼ばれる。
0の基板搬送ロボット22が処理部用搬送手段に相当
し、第2の基板搬送ユニット30の基板搬送ロボット3
2が受け渡し用搬送手段に相当する。また、回転式塗布
ユニット10a、回転式現像ユニット10b等の基板処
理ユニットおよび第1の基板搬送ユニット20が配置さ
れる領域が基板処理部に相当し、基板カセット43が基
板収納部に相当し、第1の搬送路21が処理部用搬送路
に相当し、第2の搬送路31が受け渡し用搬送路に相当
する。
は、基板保持アーム33、移動体34、支持台35およ
びベース36を含む。第2の搬送路31には、Y軸方向
に延びるガイドレール40が固定されている。ベース3
6はY軸方向に移動可能にガイドレール40に案内され
ている。このベース36は、Y軸方向に配設されたボー
ルねじ41(図1参照)、モータ等からなるY方向移動
機構(図示せず)によりY軸方向に駆動される。
(矢印Zの方向)に移動可能に設けられている。この支
持台35は、ボールねじ、モータ等からなるZ方向移動
機構(図示せず)によりZ軸方向に駆動される。移動体
34は、支持台35上にθ軸方向(鉛直軸を中心とする
回転方向)に回動可能に設けられている。この支持台3
4は、モータ等からなるθ方向移動機構(図示せず)に
より回転駆動される。
ド可能な保持部材37を有し、基板Wを水平姿勢で保持
する。この基板保持アーム33は、移動体34上にモー
タ(図示せず)、プーリ38、ベルト39等からなる水
平方向移動機構によりX軸方向に水平面内で前進および
後退可能に設けられている。
作の一例を説明する。第2の基板搬送ユニット30の基
板搬送ロボット32が、基板カセット43に収納された
基板Wを取り出す。この場合、基板保持アーム33がベ
ース36、支持台35および移動体34を介してY軸方
向およびZ軸方向に移動するとともにθ軸方向に回動
し、基板カセット43の前方に位置する。そして、基板
保持アーム33がX軸方向に前進して所定の基板Wの下
方に移動した後、上昇することにより基板Wを保持し、
X軸方向に後退する。
33に保持した基板Wを第1の基板搬送ユニット20の
基板搬送ロボット22に渡す。この場合、基板保持アー
ム33がベース36、支持台35および移動体34を介
してY軸方向およびZ軸方向に移動するとともにθ軸方
向に回動し、基板搬送ロボット22の基板保持アーム2
3の前方に位置する。基板保持アーム23がX軸方向に
前進して基板保持アーム32に保持された基板Wの下方
に移動した後、上昇することにより基板Wを保持し、X
軸方向に後退する。それにより、基板搬送ロボット22
が基板Wを受け取る。
ボット22は、基板保持アーム23に保持した基板Wを
回転式塗布ユニット10aに搬入する。その後、この基
板搬送ロボット22は、レジストが塗布された基板Wを
回転式塗布ユニット10aから搬出し、第2の基板搬送
ユニット30の基板搬送ロボット32に渡す。
1で基板Wを受け渡しポートAまで搬送し、露光装置2
aの基板受け渡し部50aの基板支持ピン51a上に載
置する。その後、露光装置2aの基板搬送ロボットが基
板受け渡し部50aに載置された基板を露光機に搬送す
る。
板搬送ロボット22は、レジストが塗布された基板Wを
回転式塗布ユニット10aから搬出し、第2の基板搬送
ユニット30の基板搬送ロボット32に渡す。基板搬送
ロボット32は、第2の搬送路31で基板Wを受け渡し
ポートBまで搬送し、露光装置2bの基板受け渡し部5
0bの基板支持ピン51b上に載置する。その後、露光
装置2bの基板搬送ロボットが基板受け渡し部50bに
載置された基板を露光機に搬送する。
理が行われた基板は、基板搬送ロボットにより基板受け
渡し部50aに載置される。第2の基板搬送ユニット3
0の基板搬送ロボット32は、基板受け渡し部50aに
載置された基板を受け渡しポートAから取り込んで搬送
し、第1の基板搬送ユニット20の基板搬送ロボット2
2に渡す。第1の基板搬送ユニット20の基板搬送ロボ
ット22は、その基板を回転式現像ユニット10bに搬
入する。
われた基板は、基板搬送ロボットにより基板受け渡し部
50bに載置される。第2の基板搬送ユニット30の基
板搬送ロボット32は、基板受け渡し部50bに載置さ
れた基板を受け渡しポートBから取り込んで搬送し、第
1の基板搬送ユニット20の基板搬送ロボット22に渡
す。第1の基板搬送ユニット20の基板搬送ロボット2
2は、その基板を別の回転式現像ユニット10bに搬入
する。
板は、第1の基板搬送ユニット20の基板搬送ロボット
22から第2の基板搬送ユニット30の基板搬送ロボッ
ト32に渡され、基板カセット43に格納される。
は、各回転式塗布ユニット10aで処理された基板が2
つの露光装置2a,2bに振り分けられるので、基板処
理装置1と露光装置2a,2bとのスループットの不整
合による基板処理装置1の運用効率の低下を回避または
軽減することができる。
各回転式塗布ユニットで基板処理に要する時間の2倍で
ある場合には、基板処理装置1の運用に全く無駄が生じ
ない。
基板処理装置1の両側に設置することができるため、レ
イアウトの柔軟性が増す。その結果、クリーンルーム内
のデッドスペースを低減することが可能となる。
第2の基板搬送ユニット30の基板搬送ロボット31が
露光装置2a,2b内の基板受け渡し部50a,50b
に対して基板を搬入および搬出しているが、露光装置の
基板搬送ロボットが基板処理装置1に対して基板を搬入
および搬出する機能を有する場合には、基板処理装置1
の第2の搬送路31の両端部に基板受け渡し部または図
16に示したような基板搬入台191および基板搬出台
192を設ける。
処理装置の平面図、図4は図3中のA−A線断面図、図
5は図3中のB−B線断面図である。
1の実施例による基板処理装置1の構成に対し、第2の
基板搬送ユニット30の構造が異なる。また、第2の搬
送路31の両端部側に配置された露光装置2a,2bは
それぞれ基板の搬入搬出方式が異なる露光装置である。
すなわち、露光装置2aは、基板処理装置1に対して基
板を搬入および搬出する機構を有している。また、露光
装置2bは基板処理装置1に対して基板の搬入および搬
出する機構を有さず、基板を受け入れるための基板受け
入れ部53および基板を引き渡すための基板引き渡し部
54が設けられている。
2に示す第1の実施例と同一の構造を有する部分につい
ては同一の符号を付し、再度の説明を省略する。
ット30は、第1の基板搬送ユニット20の第1の搬送
路21の一端部側でY軸方向に延びる第2の搬送路31
を有する。第2の搬送路31には、第1基板搬送ロボッ
ト60、一対の第2基板搬送ロボット80a,80bお
よび一対の基板保持部90a,90bが配置されてい
る。
71、移動体72、支持台73およびベース74を含
む。第2の搬送路31には、Y軸方向に延びるガイドレ
ール75が固定されており、ベース74がY軸方向に移
動可能にガイドレール75に案内されている。このベー
ス74は、Y軸方向に配設されたボールねじ、モータ等
からなるY方向移動機構(図示せず)によりY軸方向に
駆動される。
移動可能に設けられている。この支持台73は、ボール
ねじ、モータ等からなるZ方向移動機構(図示せず)に
よりZ軸方向に移動される。
に回動可能に設けられている。この移動体72は、モー
タ等からなるθ方向移動機構(図示せず)により回転駆
動される。
の斜視図であり、図7は図6の基板保持部の断面図であ
る。第1基板搬送ロボット60の基板保持部71は基板
Wを支持して移動可能な基板支持フレーム61および基
板保持アーム69を備える。
持ピン62が配置されており、この支持ピン62により
基板Wの外周端縁が支持される。基板支持フレーム61
は連結部63を介して水平方向に延びるガイドレール6
5に係合している。そして、水平駆動機構(図示せず)
によりガイドレール65に沿って水平方向にスライド移
動する。ガイドレール65はガイド部材64に形成され
ており、さらにガイド部材64は支柱66に対して鉛直
方向に移動可能に取り付けられている。ガイド部材64
の下部は支柱66に固定されたシリンダ68のロッドに
連結されている。これにより、シリンダ68のロッドが
伸縮すると、ガイド部材64が鉛直方向に移動し、これ
によって基板支持フレーム61が昇降移動する。
両端部を保持可能に形成されており、一方の端部が支柱
70を介して移動体72に連結されている。基板保持ア
ーム69を支持する支柱70は移動体72に設けられた
水平移動機構(図示せず)により水平方向に移動可能に
形成されている。
1の移動とは反対方向にスライド移動する。基板支持フ
レーム61は、第2基板搬送ロボット80a,80bお
よび第1の基板搬送ユニット20側の基板搬送ロボット
22との間で基板Wの受け渡しを行う際に用いられ、基
板保持アーム69は基板カセット43との間で基板Wの
受け渡しを行う際に用いられる。また、基板支持フレー
ム61を昇降移動させることにより、基板支持フレーム
61と基板保持アーム69との間で基板Wの受け渡しを
行うことができる。
2の搬送路31のY軸方向において第1基板搬送ロボッ
ト60の両側に配置されている。2つの第2基板搬送ロ
ボット80a,80bは同一の構造を有している。そこ
で、以下では第2基板搬送ロボット80aを例に説明す
る。
対して固定されている。図8は第2基板搬送ロボットの
斜視図である。第2基板搬送ロボット80aは基板Wを
保持する基板保持アーム81を備える。基板保持アーム
81は移動体83の上面から延びる支柱82の上端に取
り付けられている。支柱82の下部は、移動体83の内
部に設けられたモータ、プーリ、駆動ベルト等からなる
水平移動機構(図示せず)に連結され、移動体83の上
面の溝85に沿って移動可能に設けられている。また、
移動体83は第2の搬送路31の所定位置に固定される
ベース84に対して鉛直方向に移動可能かつ鉛直軸の周
りに回動可能に設けられている。これにより、基板保持
アーム81に支持した基板WをY軸、Z軸およびθ軸方
向に移動させることができる。
光装置2a,2bとの間にはそれぞれ基板保持部90
a,90bが配置されている。基板保持部90a,90
bは基板Wを一時的に保持するために設けられており、
両端が開放されたフレーム部材からなり、その内側に複
数の基板Wを支持する棚が設けられている。
の端部にはX軸方向に延びる第3の搬送路91が設けら
れ、この第3の搬送路91に外部用基板搬送ロボット9
5が配置されている。外部用基板搬送ロボット95は基
板保持部90bと露光装置2bの基板受け入れ部53お
よび基板引き渡し部54との間で基板Wの受け渡しを行
う。
す斜視図である。外部用基板搬送ロボット95は、基板
保持アーム96、移動体98、支持台100およびベー
ス101を含む。第3の搬送路91には、X軸方向に延
びるガイドレール102およびボールねじ103が固定
されている。ベース101は、ガイドレール102に係
合しており、X軸方向に配設されたボールねじ103、
モータ等からなるX方向移動機構(図示せず)により駆
動され、ガイドレール102によってX軸方向に案内さ
れる。
向に移動可能に設けられている。この支持台100はボ
ールねじ、モータ等からなるZ方向移動機構(図示せ
ず)によりZ軸方向に駆動される。
に回動可能に設けられている。この移動体98は、モー
タ等からなるθ方向移動機構(図示せず)により回転駆
動される。
ら延びる支柱97の上端に接続されている。支柱97の
下部は移動体98内に設けられた水平移動機構(図示せ
ず)に接続されている。水平移動機構はモータ、プー
リ、駆動ベルト等からなり、支柱97を溝99に沿って
水平方向(Y軸方向)にスライド移動させる。
て、第1基板搬送ロボット60は基板カセット43、一
対の第2基板搬送ロボット80a,80bおよび第1の
基板搬送ユニット20の基板搬送ロボット22にそれぞ
れアクセスし、これらとの間で基板Wの受け渡しを行
う。
搬送ロボット60と基板保持部90aとの間で基板Wの
受け渡しを行う。また、第2基板搬送ロボット80b
は、第1基板搬送ロボット60と基板保持部90bとの
間で基板Wの受け渡しを行う。さらに、基板保持部90
aは、第2基板搬送ロボット80aと露光装置2aとの
間で受け渡される基板Wを一時的に保持し、基板保持部
90bは、第2基板搬送ロボット80bと外部用基板搬
送ロボット95との間で受け渡される基板Wを一時的に
保持する。
90bに保持された基板Wを露光装置2bの基板受け入
れ部53に渡し、また露光装置2bの基板引き渡し部5
4から基板Wを受け取り、基板保持部90bに保持させ
る。
の搬送路31においては、図4および図5に示すように
Z軸方向に下方側から第1の階層H1、第2の階層H2
および第3の階層H3が構成されている。第2基板搬送
ロボット80bは第2の階層H2に配置され、第2基板
搬送ロボット80aは第3の階層H3に配置されてい
る。そして、第1基板搬送ロボット60は、第1の階層
H1において基板カセット43との間で基板Wの取り出
しおよび格納を行い、さらに第1の基板搬送ユニット2
0の基板搬送ロボット22との間で基板Wの受け渡しを
行う。
階層H2において、第1の基板搬送ユニット20の基板
搬送ロボット22と第2基板搬送ロボット80bとの間
で基板Wを搬送して受け渡す。さらに、第1基板搬送ロ
ボット60は、第3の階層H3において第1の基板搬送
ユニット20の基板搬送ロボット22と第2基板搬送ロ
ボット80aとの間で基板Wを搬送して受け渡す。
方の第1の階層H1とほぼ同等の高さに配置されてい
る。このため、第1基板搬送ロボット60は第2基板搬
送ロボット80a,80bの下方を通過して移動し、か
つ第2基板搬送ロボット80a,80bの下方側の基板
カセット43にアクセスすることができる。
60および第2基板搬送ロボット80a,80bが受け
渡し用搬送手段に相当する。また、第1基板搬送ロボッ
ト60が第1基板搬送手段に相当し、第2基板搬送ロボ
ット80a,80bが第2基板搬送手段に相当し、外部
用基板搬送ロボット95が外部用基板搬送手段に相当す
る。
作の一例を図3〜図9を参照して説明する。
送ロボット60は、基板カセット43に収納された基板
Wを取り出す。この場合には、第1基板搬送ロボット6
0の基板保持アーム69がベース74、支持台73およ
び移動体72を介してY軸方向およびZ軸方向に移動す
るとともにθ軸方向に回動し、基板カセット43の前方
に位置する。さらに、基板保持アーム69がX軸方向に
前進して基板カセット43内の所定の基板Wの下方に移
動した後、上昇することによって基板Wを保持し、さら
にX軸方向に後退する。
ト43から取り出した基板Wを第1の基板搬送ユニット
20の基板搬送ロボット22に渡す。この場合には、第
1基板搬送ロボット60が、ベース74、支持台73お
よび移動体72を介してY軸方向およびZ軸方向に移動
するとともにθ軸方向に回動し、基板搬送ロボット22
の基板保持アーム23の前方に位置する。そして、基板
保持アーム69に保持した基板Wを基板支持フレーム6
1に引き渡した後、基板支持フレーム61がX軸方向に
前進し、基板搬送ロボット22の基板保持アーム23が
基板支持フレーム61の下方に移動する。さらに、基板
保持アーム23が上昇することにより基板Wを保持し、
X軸方向に後退する。それにより、基板搬送ロボット2
2が基板Wを受け取る。
ボット22は基板保持アーム23に保持した基板Wを回
転式塗布ユニット10aに搬入する。その後、基板搬送
ロボット22は、レジストが塗布された基板Wを回転式
塗布ユニット10aから搬出し、第2の基板搬送ユニッ
ト30の第1基板搬送ロボット60に渡す。基板搬送ロ
ボット22から第1基板搬送ロボット60への基板Wの
受け渡し動作は上記の第1基板搬送ロボット60から基
板搬送ロボット22への基板Wの受け渡し動作と逆の手
順で行われる。この基板Wの受け渡しは、基板Wを露光
装置2a側に搬送する場合には第3の階層H3で行わ
れ、基板Wを露光装置2b側に搬送する場合には第2の
階層H2で行われる。
ボット22から受け取った基板Wを保持して第2の搬送
路31をY軸方向に移動し、第3の階層H3において第
2基板搬送ロボット80aに基板Wを渡す。この場合に
は、第1基板搬送ロボット60は基板保持アーム69に
基板Wを保持して移動し、第2基板搬送ロボット80a
の基板保持アーム81の前方に位置する。そして、基板
Wを基板保持アーム69から基板支持フレーム61に引
き渡した後、基板支持フレーム61をY軸方向に前進さ
せる。第2基板搬送ロボット80aは、基板保持アーム
81を基板支持フレーム61に支持された基板Wの下方
に移動させた後、上昇することにより基板支持フレーム
61から基板Wを受け取り、さらにY軸方向に後退す
る。これにより、基板Wが第1基板搬送ロボット60の
基板支持フレーム61から第2基板搬送ロボット80a
に渡される。
アーム81をθ軸方向に回動し、さらに基板保持アーム
81を基板保持部90a側に前進させて基板保持部90
aの棚に基板Wを載置し、後退する。
により基板保持部90aから所定の基板Wを取り込み、
露光機により露光処理を行う。
われた基板Wは、再び基板保持部90aに載置される。
第2基板搬送ロボット80aは基板保持アーム81によ
り基板保持部90aから露光処理済の基板Wを受け取
る。さらに、第1基板搬送ロボット60との間で上記と
逆の動作を行い、基板Wを第1基板搬送ロボット60の
基板支持フレーム61に渡す。
31を移動し、第3の階層H3において第1の基板搬送
ユニット20の基板搬送ロボット22に露光処理済の基
板Wを渡す。この場合、第1基板搬送ロボット60は基
板Wを基板保持アーム69から基板支持フレーム61に
引き渡すとともに、X軸方向に前進して基板Wを第1基
板搬送ロボット60の基板支持フレーム61から基板搬
送ロボット22の基板保持アーム23に渡す。さらに、
第1の基板搬送ユニット20の基板搬送ロボット22は
受け取った基板Wを回転式現像ユニット10bに搬入す
る。
ジストが塗布された基板Wを露光装置2bに搬送する場
合には、第1基板搬送ロボット60が基板搬送ユニット
22から受け取った基板Wを保持して第2の搬送路31
をY軸方向に移動し、第2の階層H2において第2基板
搬送ロボット80bに基板Wを渡す。この場合には、第
1基板搬送ロボット60は基板保持アーム69に基板W
を保持して移動し、第2基板搬送ロボット80bの基板
保持アーム81の前方に位置する。そして、基板Wを基
板保持アーム69から基板支持フレーム61に引き渡し
た後、基板支持フレーム61をY軸方向に前進させる。
第2基板搬送ロボット80bは、基板保持アーム81を
基板支持フレーム61に支持された基板Wの下方に移動
させた後、上昇することにより基板支持フレーム61か
ら基板Wを受け取り、さらにY軸方向に後退する。これ
により、基板Wが第1基板搬送ロボット60から第2基
板搬送ロボット80bに渡される。
アーム81をθ軸方向に回動し、さらに基板保持アーム
81を基板保持部90b側に前進させて基板保持部90
bの棚に基板Wを載置して後退する。
91をX軸方向に移動し、基板保持部90bの前方に位
置する。そして、基板保持アーム96をY軸方向に前進
して所定の基板Wの下方に移動した後、上昇することに
よって基板Wを保持し、さらにY軸方向に後退する。
板Wを保持して第3の搬送路91を移動し、露光装置2
bの基板受け入れ部53の前方に位置する。そして、基
板保持アーム96をY軸方向に前進させて基板Wを基板
受け入れ部53に渡す。その後、基板保持アーム96を
Y軸方向に後退させる。
処理が行われた基板Wは、基板引き渡し部54から外部
用基板搬送ロボット95に引き渡され、外部用基板搬送
ロボット95により基板保持部90bに渡される。第2
基板搬送ロボット80bは基板保持部90bから露光処
理済みの基板Wを受け取る。そして、第1基板搬送ロボ
ット60が第2の搬送路31を移動し、第2基板搬送ロ
ボット80bの基板保持アーム81の前方に位置する。
さらに、基板支持フレーム61を基板Wの下方に前進さ
せて上昇することにより、基板保持アーム81上の基板
Wを基板支持フレーム61上に受け取る。
支持フレーム61から基板保持アーム69に引き渡した
後、基板Wを保持して第2の搬送路31を移動し、第1
の基板搬送ユニット20の基板搬送ロボット22の前方
に位置する。そして、基板Wを基板保持アーム69から
基板支持フレーム61に引き渡した後、第2の階層H2
において基板Wを基板支持フレーム61から基板搬送ロ
ボット22の基板保持アーム23に渡す。
ボット22は、受け取った基板Wを別の回転式現像ユニ
ット10bに搬入する。
板Wは、第1の階層H1において第1の基板搬送ユニッ
ト20の基板搬送ロボット22から第2の基板搬送ユニ
ット30の第1基板搬送ロボット60に渡され、基板カ
セット43に格納される。
は、第1の実施例の基板処理装置1と同様に、各回転式
塗布ユニット10aで処理された基板が2つの露光装置
2a,2bに振り分けられるので、基板処理装置1と露
光装置2a,2bとのスループットの不整合による基板
処理装置1の運用効率の低下を回避または低減すること
ができる。さらに、露光装置2a,2b等の外部装置を
基板処理装置1の両側に設置することができるため、レ
イアウトの柔軟性が増す。その結果、クリーンルーム内
のデッドスペースを低減することができる。
a,2bとの基板受け渡し部分に複数の基板Wを一時的
に保持可能な基板保持部90a,90bを配置したこと
により、露光装置2a,2bと基板処理装置1とのスル
ープットの不整合の調整を容易とし、基板処理の無駄時
間をなくすことができる。
a,80bを設けたことにより、第1基板搬送ロボット
60の移動距離が短縮され、第1基板搬送ロボット60
による基板Wの搬送効率を高めることができる。
一対の第2基板搬送ロボット80a,80bをそれぞれ
第1〜第3の階層H1〜H3に配置したことにより、第
2の搬送路31の平面占有面積が大きくなることが防止
され、それによって基板処理装置を小型化することがで
きる。
基板処理装置の平面図、図11は図10中のC−C線断
面図、図12は図10中のD−D線断面図である。第3
の実施例による基板処理装置は、第2の実施例による基
板処理装置の構成に対し、第2の基板搬送ユニット30
の構成が異なる。そこで、図10〜図12において、図
3〜図5に示す第2の実施例と同一の構成を有する部分
については同一の符号を付し、再度の説明を省略する。
ユニット30は、第1の基板搬送ユニット20の第1の
搬送路21の一端部側でY軸方向に延びる第2の搬送路
31を有する。第2の搬送路31には、第1基板搬送ロ
ボット110、一対の第2基板搬送ロボット80a,8
0b、一対の基板保持部90a,90bおよび3台の第
3基板搬送ロボット120a〜120cが配置されてい
る。
す第2の実施例における第1基板搬送ロボット60と同
様に基板保持アームを備えた基板保持部111、移動体
112、支持台113およびベース114を含み、基板
WをX軸方向、Y軸方向およびZ軸方向に移動し、さら
に鉛直軸の周りで回動可能に構成されている。基板保持
部111は図6に示す第2の実施例の基板保持部71と
同一の構造を有している。したがって、以下の説明では
基板保持部111の各部について図6に示す付番を参照
する。
20cは、図11に示すように、第2の搬送路31のZ
軸方向に構成された第1〜第3の階層H1〜H3にそれ
ぞれ配置されている。図13は1台の第3基板搬送ロボ
ットの斜視図である。第3基板搬送ロボット120aは
基板支持フレーム121を有する。基板支持フレーム1
21の上面には4個の支持ピン122が配置されてお
り、この支持ピン122により基板Wの外周端縁が支持
される。基板支持フレーム121は連結部123を介し
て水平方向の延びるガイドレール124に係合してい
る。そして、基板支持フレーム121は水平駆動機構
(図示せず)によりガイドレール124に沿って水平方
向(X軸方向)にスライド移動する。ガイドレール12
4はガイド部材125に形成されている。ガイド部材1
25の下部は支柱126に固定されたシリンダ127の
ロッドに連結されている。これにより、シリンダ127
のロッドが伸縮すると、ガイド部材125が鉛直方向に
移動し、これによって基板支持フレーム121が昇降移
動する。
れており、さらに固定プレート128は第1の基板搬送
ユニット20と第2の基板搬送ユニット30との境界位
置に形成されたフレーム130に固定されている。
ト110は基板カセット43および3台の第3基板搬送
ロボット120aとの間で基板Wの受け渡しを行う。ま
た、3台の第3基板搬送ロボット120a〜120c
は、それぞれ対応する第1〜第3の階層H1〜H3にお
いて第3基板搬送ロボット110および第1の基板搬送
ユニット20の基板搬送ロボット22との間で基板Wの
受け渡しを行う。
80a,80bが第2基板搬送手段に相当し、第1基板
搬送ロボット110が第1基板搬送手段に相当し、第3
基板搬送ロボット120a〜120cが第3基板搬送手
段に相当する。
作の一例を説明する。第2の基板搬送ユニット30の第
1基板搬送ロボット110は、基板カセット43に収納
された基板Wを取り出す。この場合には、第1基板搬送
ロボット110の基板保持アーム69がベース114、
支持台113および移動体112を介してY軸方向およ
びZ軸方向に移動するとともにθ軸方向に回動し、基板
カセット43の前方に位置する。さらに、基板保持アー
ム69がX軸方向に前進して基板カセット43内の所定
の基板Wの下方に移動した後、上昇することによって基
板Wを保持し、さらにX軸方向に後退する。
示すように、基板カセット43から取り出した基板Wを
第3の階層H1の第3基板搬送ロボット120aに渡
す。この場合には、第1基板搬送ロボット110はベー
ス114、支持台113および移動体112を介してX
軸方向およびZ軸方向に移動するとともにθ軸方向に回
動し、第3基板搬送ロボット120aの前方に位置す
る。そして、基板保持アーム69をX軸方向に前進し、
さらに第3基板搬送ロボット120aの基板支持フレー
ム121が上昇することにより、基板Wが第1基板搬送
ロボット110の基板保持アーム69から第3基板搬送
ロボット120aの基板支持フレーム121に渡され
る。その後、第1基板搬送ロボット110の基板保持ア
ーム69がX軸方向に後退する。
120aは第1の基板搬送ユニット20aの基板搬送ロ
ボット22に基板Wを渡す。この場合には、第3基板搬
送ロボット120の基板支持フレーム121がX軸方向
に前進する。基板搬送ロボット22は基板保持アーム2
3を基板Wの下方に移動させた後、上昇することにより
基板支持フレーム121から基板Wを受け取る。その
後、基板支持フレーム121がX軸方向に後退する。
ボット22は、基板保持アーム23に保持した基板Wを
回転式塗布ユニット10aに搬入する。その後、この基
板搬送ロボット22は、レジストが塗布された基板Wを
回転式塗布ユニット10aから搬出し、第3基板搬送ロ
ボット120b、120cのいずれかに基板Wを渡す。
すなわち、レジストが塗布された基板Wを露光装置2b
に搬送する場合には、第2の階層H2の第3基板搬送ロ
ボット120bに基板Wを渡し、露光装置2aに搬送す
る場合には、第3の階層H3の第3基板搬送ロボット1
20cに渡す。
送する場合を説明する。基板搬送ロボット22は基板W
を保持した基板保持アーム23をZ軸方向に上昇し、第
3の階層H3において基板Wを第3基板搬送ロボット1
20cに渡す。基板搬送ロボット22から第3基板搬送
ロボット120cへの基板Wの受け渡し動作は上記の第
3基板搬送ロボット120aから基板搬送ロボット22
への基板Wの受け渡し動作と逆の手順で行われる。
フレーム121に基板Wが渡されると、第2基板搬送ロ
ボット80aの基板保持アーム81をθ軸方向に回動
し、さらに、基板保持アーム81をY軸方向に前進さ
せ、基板支持フレーム121に支持された基板Wの下方
に移動させた後、上昇させることによって基板Wを保持
し、さらにY軸方向に後退する。これにより、第2基板
搬送ロボット80aが基板支持フレーム121から基板
Wを受け取る。
基板保持アーム81をθ軸方向に回動し、さらに基板保
持アーム81を基板保持部90a側に前進させて基板保
持部90aの棚に基板Wを載置して後退する。
により基板一時保持部90aから所定の基板Wを取り込
み、露光機により露光処理を行う。
われた基板Wは基板保持部90aに載置される。第2基
板搬送ロボット80aは基板保持アーム81により基板
保持部90aから露光処理済の基板Wを受け取る。さら
に、第2基板搬送ロボット80aは上記と逆の動作を行
い、基板Wを第3基板搬送ロボット120cの基板支持
フレーム121に引き渡す。
基板支持フレーム121が基板Wを保持してX軸方向に
前進し、基板Wを基板搬送ロボット22の基板保持アー
ム23に渡す。さらに、基板搬送ロボット22は受け取
った基板Wを回転式現像ユニット10bに搬入する。
ジストが塗布された基板Wを露光装置2bに搬送する場
合には、基板搬送ロボット22が基板Wを保持した基板
保持アーム23をZ軸方向に上昇し、第2の階層H2に
おいて基板Wを第3基板搬送ロボット120bに渡す。
フレーム121に基板Wが渡されると、第2基板搬送ロ
ボット80bの基板保持アーム81をθ軸方向に回動
し、さらに基板保持アーム81を第3基板搬送ロボット
120bの基板支持フレーム121に支持された基板W
の下方に移動させた後、上昇し、さらにY軸方向に後退
する。これにより、第2基板搬送ロボット80bが基板
支持フレーム121から基板Wを受け取る。
基板保持アーム81をθ軸方向に回動し、さらに基板保
持アーム81を基板保持部90b側に前進させて基板保
持部90bの棚に基板Wを載置して後退する。
路91をX軸方向に移動し、基板保持部90bの前方に
位置する。そして、基板保持アーム69をY軸方向に前
進させて所定の基板Wの下方に移動した後、上昇するこ
とによって基板Wを保持し、さらにX軸方向に後退す
る。
板Wを保持して第3の搬送路91を移動し、露光装置2
aの基板受け入れ部53の前方に位置する。そして、基
板保持アーム96をX軸方向に前進させて基板Wを基板
受け入れ部53に渡す。その後、基板保持アーム96を
Y軸方向に後退させる。
処理が行われた基板Wは、基板引き渡し部54から外部
用基板搬送ロボット95に引き渡され、外部用基板搬送
ロボット95により基板保持部90bに渡される。さら
に、第2基板搬送ロボット80bは基板保持部90bか
ら露光処理済の基板Wを受け取る。そして、第3基板搬
送ロボット80bが上記と逆の動作を行い、基板Wを第
2基板搬送ロボット80bの基板保持アーム81から第
3基板搬送ロボット120bの基板支持フレーム121
に受け渡す。
基板支持フレーム121をX軸方向に前進させ、基板W
を第1の基板搬送ユニット20の基板搬送ロボット22
に渡す。
ボット22は、受け取った基板Wを別の回転式現像ユニ
ット10bに搬入する。
板Wは、第1の階層H1において第1の基板搬送ユニッ
ト20の基板搬送ロボット22から第3基板搬送ロボッ
ト120aに渡され、さらに第1基板搬送ロボット11
0に渡される。第1基板搬送ロボット110は基板処理
が終了した基板Wを基板カセット43に格納する。
は、第1および第2の実施例の基板処理装置1と同様
に、各回転式塗布ユニット10aで処理された基板が2
つの露光装置2a,2bに振り分けられるので、基板処
理装置1と露光装置2a,2bとのスループットの不整
合による基板処理装置1の運用効率の低下を回避または
低減することができる。さらに、露光装置2a,2b等
の外部装置を基板処理装置1の両側に設置することがで
きるため、レイアウトの柔軟性が増す。その結果、クリ
ーンルーム内のデッドスペースを低減することができ
る。
台の第3基板搬送ロボット120a〜120cを配置し
たことにより、第1基板搬送ロボット110と第1の基
板搬送ユニット20の基板搬送ロボット22との間で受
け渡される基板Wを第3基板搬送ロボット120a〜1
20cに一時的に保持することができる。これにより、
基板処理装置1と露光装置2a,2bとのスループット
の不整合の調整がさらに容易となり、基板処理の無駄時
間をなくすことができる。
基板処理装置の平面図である。第4の実施例の基板処理
装置1は第2の実施例による基板処理装置1の構成に対
し、基板処理部側の構成のみが相違する。したがって、
図14において、第2の実施例と同一の構成を有する部
分については同一の符号を付す。
は、複数の回転式塗布ユニット10a、回転式現像ユニ
ット10bが基板搬送ロボット130の周囲を取り囲む
ように配置されている。基板搬送ロボット130は基板
Wを保持する基板保持アーム131を有する。基板保持
アーム131は鉛直方向に移動可能かつ鉛直軸の回りで
回動可能に形成されている。さらに、基板保持アーム1
31は水平方向に進退移動可能に形成されている。基板
搬送ロボット130は基板保持アーム131を介して第
1基板搬送ロボット60との間で基板Wの受け渡しを行
うとともに、基板Wを回転式塗布ユニット10a、回転
式現像ユニット10bに搬送し、処理済の基板Wを搬出
する。ここで、基板搬送ロボット130が本発明の処理
部用搬送手段に相当する。
置1においても第2および第3の実施例の基板処理装置
1と同様に、露光装置2a,2bとの間でスループット
の不整合による運用効率の低下を回避または低減するこ
とができる。
処理装置1の基板処理部に代えて第4の実施例による基
板処理装置1の基板処理部の構成を適用することも可能
である。
平面図である。
ニットの側面図である。
平面図である。
ある。
の平面図である。
の平面図である。
処理装置の平面図である。
スユニットの正面図である。
スユニットの側面図である。
Claims (24)
- 【請求項1】 所定の方向に延びる受け渡し用搬送路
と、 前記受け渡し用搬送路の一方の側部側に配置される基板
処理部と、 前記受け渡し用搬送路の他方の側部側に配置され、基板
を収納する基板収納部と、 前記受け渡し用搬送路で基板を搬送するとともに、前記
基板収納部および前記基板処理部との間で基板の受け渡
しを行い、かつ前記受け渡し用搬送路の両端部側に対し
て基板の搬入および搬出を行う受け渡し用搬送手段とを
備えたことを特徴とする基板処理装置。 - 【請求項2】 前記基板処理部は、前記受け渡し用搬送
路に直交する方向に延びる処理部用搬送路と、前記処理
部用搬送路に沿って配置された1または複数の処理ユニ
ットと、前記処理部用搬送路で基板を搬送するととも
に、各処理ユニットに対して基板の搬入および搬出を行
う処理部用搬送手段とを備え、 前記受け渡し用搬送手段は、前記処理部用搬送手段との
間で基板の受け渡しを行うことを特徴とする請求項1記
載の基板処理装置。 - 【請求項3】 前記基板処理部は、基板を搬送するため
の搬送領域と、前記搬送領域の周囲に配置された1また
は複数の処理ユニットと、前記搬送領域に設けられ、各
処理ユニットに対して基板の搬入および搬出を行う処理
部用搬送手段とを備え、 前記受け渡し用搬送手段は、前記処理部用搬送手段との
間で基板の受け渡しを行うことを特徴とする請求項1記
載の基板処理装置。 - 【請求項4】 基板に所定の処理を行う1または複数の
処理ユニットと、各処理ユニットに対して基板の搬入お
よび搬出を行う処理部用搬送手段とを有する基板処理部
と、 前記基板処理部に隣接し、かつ所定の方向に延びる受け
渡し用搬送路と、 前記受け渡し用搬送路で基板を搬送するとともに、前記
処理部用搬送手段との間で基板の受け渡しを行い、かつ
前記受け渡し用搬送路の両端部側に対して基板の搬入お
よび搬出を行う受け渡し用搬送手段とを備えたことを特
徴とする基板処理装置。 - 【請求項5】 前記基板処理部は、前記受け渡し用搬送
路に直交する方向に延びる処理部用搬送路を有し、 前記処理部用搬送手段は前記処理部用搬送路を移動する
ことを特徴とする請求項4記載の基板処理装置。 - 【請求項6】 前記基板処理部の前記1または複数の処
理ユニットは前記処理部用搬送手段の周囲に配置された
ことを特徴とする請求項4記載の基板処理装置。 - 【請求項7】 前記受け渡し用搬送路に沿って前記基板
処理部と反対側に配置され、基板を収納する基板収納部
をさらに備え、 前記受け渡し用搬送手段は、前記基板収納部に対して基
板の格納および取り出しを行うことを特徴とする請求項
4〜6のいずれかに記載の基板処理装置。 - 【請求項8】 前記受け渡し用搬送手段は、前記受け渡
し用搬送路を移動可能な移動部と、鉛直方向に移動可能
かつ鉛直軸の周りで回動可能に前記移動部に設けられた
可動部と、水平方向に移動可能に前記可動部に設けられ
て基板を保持する基板保持アームとを含むことを特徴と
する請求項1〜7のいずれかに記載の基板処理装置。 - 【請求項9】 前記受け渡し用搬送路内の両端部にそれ
ぞれ配置され、かつ前記受け渡し用搬送路の両端部の外
方に配置される外部装置との間で受け渡される基板を一
時的に保持する基板保持部をさらに備えたことを特徴と
する請求項1〜3のいずれかに記載の基板処理装置。 - 【請求項10】 前記受け渡し用搬送手段は、前記受け
渡し用搬送路内に移動可能に設けられた第1基板搬送手
段と、前記基板保持部に隣接する位置にそれぞれ配置さ
れた第2基板搬送手段とを含み、 前記第1基板搬送手段は、前記基板収納部、前記基板処
理部および前記第2基板搬送手段との間で基板の受け渡
しを行い、 前記第2基板搬送手段は、前記第1基板搬送手段および
前記基板保持部との間で基板の受け渡しを行うことを特
徴とする請求項9記載の基板処理装置。 - 【請求項11】 前記第1基板搬送手段は、前記受け渡
し用搬送路を移動可能な移動部と、鉛直方向に移動可能
かつ鉛直軸の周りで回動可能に前記移動部に設けられた
第1可動部と、水平方向に移動可能に前記第1可動部に
設けられて基板を保持する第1基板保持アームとを含
み、 前記第2基板搬送手段は、前記受け渡し用搬送路に固定
された固定部と、鉛直方向に移動可能かつ鉛直軸の周り
で回動可能に前記固定部に設けられた第2可動部と、水
平方向に移動可能に前記第2可動部に設けられて基板を
保持する第2基板保持アームとを含むことを特徴とする
請求項10記載の基板処理装置。 - 【請求項12】 前記第1基板搬送手段は、前記第2基
板搬送手段の下方を移動可能に形成されたことを特徴と
する請求項11記載の基板処理装置。 - 【請求項13】 前記受け渡し用搬送手段は、前記受け
渡し用搬送路内に移動可能に設けられた第1基板搬送手
段と、前記基板保持部に隣接する位置にそれぞれ設けら
れた第2基板搬送手段と、前記基板処理部との基板受け
渡し位置に設けられた第3基板搬送手段とを含み、 前記第1基板搬送手段は、前記基板収納部および前記第
3基板搬送手段との間で基板の受け渡しを行い、 前記第2基板搬送手段は、前記第3基板搬送手段および
前記基板保持部との間で基板の受け渡しを行い、 前記第3基板搬送手段は、前記第1基板搬送手段、前記
第2基板搬送手段、および前記基板処理部との間で基板
の受け渡しを行うことを特徴とする請求項9記載の基板
処理装置。 - 【請求項14】 前記第1基板搬送手段は、前記受け渡
し用搬送路を移動可能な移動部と、鉛直方向に移動可能
かつ鉛直軸の周りで回動可能に前記移動部に設けられた
第1可動部と、水平方向に移動可能に前記第1可動部に
設けられて基板を保持する第1基板保持アームとを含
み、 前記第2基板搬送手段は、前記受け渡し用搬送路に固定
された第1固定部と、鉛直方向に移動可能かつ鉛直軸の
周りで回動可能に前記第1固定部に設けられた第2可動
部と、水平方向に移動可能に前記第2可動部に設けられ
て基板を保持する第2基板保持アームとを含み、 前記第3基板搬送手段は、前記基板処理部との基板受け
渡し位置に固定された第2固定部と、鉛直方向に移動可
能に前記固定部に設けられた第3可動部と、水平方向に
移動可能に前記第3可動部に設けられて基板を保持する
第3基板保持アームとを含むことを特徴とする請求項1
3記載の基板処理装置。 - 【請求項15】 前記受け渡し用搬送路の一方端部に配
置された一方の前記第2基板搬送手段と、前記受け渡し
用搬送路の他方端部に配置された他方の前記第2基板搬
送手段とは、前記基板収納部より上方の異なる高さに配
置されており、 前記第3基板搬送手段は、上下方向に複数配置されてお
り、前記第3基板搬送手段のうち少なくとも1つは、前
記一方の第2基板搬送手段に対応する高さに配置され、 前記第3基板搬送手段のうち少なくとも他の1つは、前
記他方の第2基板搬送手段に対応する高さに配置された
ことを特徴とする請求項14記載の基板処理装置。 - 【請求項16】 前記受け渡し用搬送路内の両端部にそ
れぞれ配置され、前記受け渡し用搬送路の両端部の外方
に配置される外部装置との間で受け渡される基板を一時
的に保持する基板保持部をさらに備えたことを特徴とす
る請求項4〜7のいずれかに記載の基板処理装置。 - 【請求項17】 前記受け渡し用搬送手段は、前記受け
渡し用搬送路内に移動可能に設けられた第1基板搬送手
段と、前記基板保持部に隣接する位置にそれぞれ配置さ
れた第2基板搬送手段とを含み、 前記第1基板搬送手段は、前記処理部用搬送手段および
前記第2基板搬送手段との間で基板の受け渡しを行い、 前記第2基板搬送手段は、前記第1基板搬送手段および
前記基板保持部との間で前記基板の受け渡しを行うこと
を特徴とする請求項16記載の基板処理装置。 - 【請求項18】 前記第1基板搬送手段は、前記受け渡
し用搬送路を移動可能な移動部と、鉛直方向に移動可能
かつ鉛直軸の周りで回動可能に前記移動部に設けられた
第1可動部と、水平方向に移動可能に前記第1可動部に
設けられて基板を保持する第1基板保持アームとを含
み、 前記第2基板搬送手段は、前記受け渡し用搬送路に固定
された固定部と、鉛直方向に移動可能かつ鉛直軸の周り
で回動可能に前記固定部に設けられた第2可動部と、水
平方向に移動可能に前記第2可動部に設けられて基板を
保持する第2基板保持アームとを含むことを特徴とする
請求項17記載の基板処理装置。 - 【請求項19】 前記第1基板搬送手段は、前記第2基
板搬送手段の下方を移動可能に形成されたことを特徴と
する請求項18記載の基板処理装置。 - 【請求項20】 前記受け渡し用搬送手段は、前記受け
渡し用搬送路内に移動可能に設けられた第1基板搬送手
段と、前記基板保持部に隣接する位置にそれぞれ設けら
れた第2基板搬送手段と、前記処理部用搬送手段との基
板受け渡し位置に設けられた第3基板搬送手段とを含
み、 前記第1基板搬送手段は、前記第3基板搬送手段との間
で基板の受け渡しを行い、 前記第2基板搬送手段は、前記第3基板搬送手段および
前記基板保持部との間で基板の受け渡しを行い、 前記第3基板搬送手段は、前記第1基板搬送手段、前記
第2基板搬送手段および前記処理部用搬送手段との間で
基板の受け渡しを行うことを特徴とする請求項16記載
の基板処理装置。 - 【請求項21】 前記第1基板搬送手段は、前記受け渡
し用搬送路を移動可能な移動部と、鉛直方向に移動可能
かつ鉛直軸の周りで回動可能に前記移動部に設けられた
第1可動部と、水平方向に移動可能に前記第1可動部に
設けられて基板を保持する第1基板保持アームとを含
み、 前記第2基板搬送手段は、前記受け渡し用搬送路に固定
された第1固定部と、鉛直方向に移動可能かつ鉛直軸の
周りで回動可能に前記固定部に設けられた第2可動部
と、水平方向に移動可能に前記第2可動部に設けられて
基板を保持する第2基板保持アームとを含み、 前記第3基板搬送手段は、前記処理部用搬送手段との基
板受け渡し位置に固定される第2固定部と、鉛直方向に
移動可能に前記第2固定部に設けられた第3可動部と、
水平方向に移動可能に前記第3可動部に設けられて基板
を保持する第3基板保持アームとを含むことを特徴とす
る請求項20記載の基板処理装置。 - 【請求項22】 前記受け渡し用搬送路の一方端部に配
置された一方の前記第2基板搬送手段と、前記受け渡し
用搬送路の他方端部に配置された他方の前記第2基板搬
送手段とは、異なる高さに配置されており、 前記第3基板搬送手段は上下方向に複数配置されてお
り、前記第3基板搬送手段のうち少なくとも1つは、前
記一方の第2基板搬送手段に対応する高さに配置され、 前記第3基板搬送手段のうち少なくとも他の1つは、前
記他方の第2基板搬送手段に対応する高さに配置された
ことを特徴とする請求項21記載の基板処理装置。 - 【請求項23】 前記基板保持部と前記外部装置との間
で基板を受け渡す外部用基板搬送手段をさらに備えたこ
とを特徴とする請求項9〜22のいずれかに記載の基板
処理装置。 - 【請求項24】 前記基板処理部の前記1または複数の
処理ユニットの少なくとも1つは基板の塗布液を塗布す
る塗布ユニットであり、前記外部用基板搬送手段は、前
記外部装置である露光装置に対して前記塗布ユニットに
より処理された基板の搬入および搬出を行うことを特徴
とする請求項23に記載の基板処理装置。
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100541218B1 (ko) * | 1999-06-01 | 2006-01-12 | 동경 엘렉트론 주식회사 | 기판처리장치 |
Families Citing this family (46)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100234539B1 (ko) * | 1996-12-24 | 1999-12-15 | 윤종용 | 반도체장치 제조용 식각 장치 |
| KR100238251B1 (ko) * | 1997-08-20 | 2000-01-15 | 윤종용 | 하나의 도포 및 현상을 수행하는 장치에 복수의 정렬 및 노광장치를 병렬적으로 인-라인시킨 포토리쏘그래피장치 |
| JP3988805B2 (ja) * | 1997-10-02 | 2007-10-10 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 基板搬送方法及びその装置 |
| JP4722244B2 (ja) * | 1998-07-14 | 2011-07-13 | ノバ・メジャリング・インストルメンツ・リミテッド | 所定のフォトリソグラフィ工程に従って基板を加工する装置 |
| IL125337A0 (en) * | 1998-07-14 | 1999-03-12 | Nova Measuring Instr Ltd | Method and apparatus for lithography monitoring and process control |
| JP3517121B2 (ja) * | 1998-08-12 | 2004-04-05 | 東京エレクトロン株式会社 | 処理装置 |
| US6616394B1 (en) | 1998-12-30 | 2003-09-09 | Silicon Valley Group | Apparatus for processing wafers |
| US6358128B1 (en) * | 1999-03-05 | 2002-03-19 | Ebara Corporation | Polishing apparatus |
| JP3542919B2 (ja) * | 1999-03-18 | 2004-07-14 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置 |
| KR100614635B1 (ko) * | 1999-07-08 | 2006-08-22 | 삼성전자주식회사 | 반도체 제조 공정에 사용되는 노광 시스템 |
| KR100348938B1 (ko) * | 1999-12-06 | 2002-08-14 | 한국디엔에스 주식회사 | 포토리소그라피 공정을 위한 반도체 제조장치 |
| US20020025244A1 (en) * | 2000-04-12 | 2002-02-28 | Kim Ki-Sang | Transfer system and apparatus for workpiece containers and method of transferring the workpiece containers using the same |
| US6368985B1 (en) * | 2000-05-30 | 2002-04-09 | Advanced Micro Devices, Inc. | Dual track/stepper interface configuration for wafer processing |
| JP4025069B2 (ja) * | 2001-12-28 | 2007-12-19 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 基板処理装置および基板処理方法 |
| US20030224105A1 (en) * | 2002-05-30 | 2003-12-04 | Symyx Technologies, Inc. | Apparatus and methods for forming films on substrates |
| US20040071888A1 (en) * | 2002-05-30 | 2004-04-15 | Symyx Technologies, Inc. | Apparatus and method of research for creating and testing thin films |
| WO2005012579A2 (en) * | 2003-07-31 | 2005-02-10 | Molecular Probes, Inc. | Homodimeric cyanine dye dimer comprising aromatic, heteroaromatic, cyclic or heterocyclic linker moiety in nucleic acid reporter molecules |
| EP2607431B1 (en) | 2003-12-05 | 2016-08-24 | Life Technologies Corporation | Cyanine dye compounds |
| US7776529B2 (en) | 2003-12-05 | 2010-08-17 | Life Technologies Corporation | Methine-substituted cyanine dye compounds |
| US7151590B2 (en) * | 2004-02-24 | 2006-12-19 | Asml Netherlands B.V. | Transport system for a lithographic apparatus and device manufacturing method |
| ATE388787T1 (de) * | 2004-07-15 | 2008-03-15 | Hermle Berthold Maschf Ag | Bearbeitungsmaschine mit werkstückwechsler |
| EP1621284A1 (de) * | 2004-07-15 | 2006-02-01 | Maschinenfabrik Berthold Hermle Aktiengesellschaft | Werkstückwechsler für Bearbeitungsmaschinen |
| US7819079B2 (en) | 2004-12-22 | 2010-10-26 | Applied Materials, Inc. | Cartesian cluster tool configuration for lithography type processes |
| US20060130767A1 (en) | 2004-12-22 | 2006-06-22 | Applied Materials, Inc. | Purged vacuum chuck with proximity pins |
| US7699021B2 (en) | 2004-12-22 | 2010-04-20 | Sokudo Co., Ltd. | Cluster tool substrate throughput optimization |
| US7798764B2 (en) | 2005-12-22 | 2010-09-21 | Applied Materials, Inc. | Substrate processing sequence in a cartesian robot cluster tool |
| US7651306B2 (en) | 2004-12-22 | 2010-01-26 | Applied Materials, Inc. | Cartesian robot cluster tool architecture |
| JP5306811B2 (ja) | 2005-05-11 | 2013-10-02 | ライフ テクノロジーズ コーポレーション | 2本鎖dnaへの高い選択性を有する蛍光化学物質及びそれらの使用 |
| KR100775696B1 (ko) * | 2005-09-27 | 2007-11-09 | 다이닛뽕스크린 세이조오 가부시키가이샤 | 기판처리장치 및 기판반송방법 |
| US7694688B2 (en) | 2007-01-05 | 2010-04-13 | Applied Materials, Inc. | Wet clean system design |
| US7950407B2 (en) | 2007-02-07 | 2011-05-31 | Applied Materials, Inc. | Apparatus for rapid filling of a processing volume |
| JP4313824B2 (ja) * | 2007-03-23 | 2009-08-12 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板移載装置及び基板移載方法並びに記憶媒体 |
| JP5006122B2 (ja) | 2007-06-29 | 2012-08-22 | 株式会社Sokudo | 基板処理装置 |
| SG151109A1 (en) * | 2007-09-12 | 2009-04-30 | Rokko Ventures Pte Ltd | An apparatus and method for dicing an ic substrate |
| JP5128918B2 (ja) | 2007-11-30 | 2013-01-23 | 株式会社Sokudo | 基板処理装置 |
| JP5001828B2 (ja) | 2007-12-28 | 2012-08-15 | 株式会社Sokudo | 基板処理装置 |
| JP5179170B2 (ja) | 2007-12-28 | 2013-04-10 | 株式会社Sokudo | 基板処理装置 |
| CN102177003B (zh) * | 2008-10-07 | 2015-04-22 | 川崎重工业株式会社 | 基板输送机器人及系统 |
| JP5318005B2 (ja) | 2010-03-10 | 2013-10-16 | 株式会社Sokudo | 基板処理装置、ストッカー装置および基板収納容器の搬送方法 |
| US8936994B2 (en) * | 2011-04-28 | 2015-01-20 | Mapper Lithography Ip B.V. | Method of processing a substrate in a lithography system |
| JP6049367B2 (ja) * | 2012-09-13 | 2016-12-21 | 株式会社Screenセミコンダクターソリューションズ | 基板処理装置および基板処理システム |
| JP6123740B2 (ja) * | 2014-06-17 | 2017-05-10 | トヨタ自動車株式会社 | 半導体装置の製造ライン及び半導体装置の製造方法 |
| KR20170084240A (ko) | 2014-11-14 | 2017-07-19 | 마퍼 리쏘그라피 아이피 비.브이. | 리소그래피 시스템에서 기판을 이송하기 위한 로드 로크 시스템 및 방법 |
| KR102164067B1 (ko) * | 2017-09-29 | 2020-10-12 | 시바우라 메카트로닉스 가부시끼가이샤 | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 |
| JP7190979B2 (ja) * | 2018-09-21 | 2022-12-16 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理装置 |
| CN110943018B (zh) * | 2018-09-21 | 2024-12-27 | 株式会社斯库林集团 | 衬底处理装置及衬底处理方法 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR970003907B1 (ko) * | 1988-02-12 | 1997-03-22 | 도오교오 에레구토론 가부시끼 가이샤 | 기판처리 장치 및 기판처리 방법 |
| JP2595132B2 (ja) * | 1990-11-26 | 1997-03-26 | 株式会社日立製作所 | 真空処理装置 |
| JP2867194B2 (ja) * | 1992-02-05 | 1999-03-08 | 東京エレクトロン株式会社 | 処理装置及び処理方法 |
| TW295677B (ja) * | 1994-08-19 | 1997-01-11 | Tokyo Electron Co Ltd | |
| TW297910B (ja) * | 1995-02-02 | 1997-02-11 | Tokyo Electron Co Ltd |
-
1997
- 1997-09-29 JP JP26306897A patent/JP3579228B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1997-12-22 KR KR1019970071950A patent/KR100311666B1/ko not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-01-20 US US09/009,100 patent/US5963753A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100541218B1 (ko) * | 1999-06-01 | 2006-01-12 | 동경 엘렉트론 주식회사 | 기판처리장치 |
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