JPH10271396A - Flaw correction pulse generation circuit - Google Patents
Flaw correction pulse generation circuitInfo
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- JPH10271396A JPH10271396A JP9069521A JP6952197A JPH10271396A JP H10271396 A JPH10271396 A JP H10271396A JP 9069521 A JP9069521 A JP 9069521A JP 6952197 A JP6952197 A JP 6952197A JP H10271396 A JPH10271396 A JP H10271396A
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- Japan
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- flaw
- output
- flaw correction
- selector
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 簡単な回路付加だけで、CCDの2画素連続
する傷の補正が可能な傷補正パルスを発生させる。
【解決手段】 傷補正パルス発生部101から出力され
る1画素分の傷補正パルスはDFF104、ORゲート
105,セレクタ106に入力される。DFF104の
出力はORゲート105に入力され、ORゲート105
の出力はセレクタ106に入力される。セレクタ102
は傷補正パルス発生部101の内部のカウンタの出力に
よって、各傷に対する2画素連続補正信号を選択する。
セレクタ102の出力は遅延回路103で、傷補正パル
ス発生部101の出力の傷補正パルスと同位相になるよ
う遅延調整された後、セレクタ106に入力され、セレ
クタ106で、2画素連続で補正する場合はORゲート
105の出力を、1画素補正の場合はパルス発生部10
1の出力を選択して傷補正回路へ出力する。
(57) [Summary] [PROBLEMS] To generate a flaw correction pulse capable of correcting flaws in two consecutive pixels of a CCD by simply adding a simple circuit. A flaw correction pulse for one pixel output from a flaw correction pulse generator 101 is input to a DFF 104, an OR gate 105, and a selector 106. The output of the DFF 104 is input to the OR gate 105 and the OR gate 105
Is input to the selector 106. Selector 102
Selects a two-pixel continuous correction signal for each flaw based on the output of a counter inside the flaw correction pulse generator 101.
The output of the selector 102 is delay-adjusted by the delay circuit 103 so that it has the same phase as the flaw correction pulse output from the flaw correction pulse generator 101, and then input to the selector 106, where the selector 106 corrects for two consecutive pixels. In this case, the output of the OR gate 105 is used.
1 is selected and output to the flaw correction circuit.
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、Charge Coupled D
evice撮像素子(以下、CCDと略称)を使用した、テ
レビジョンカメラ、あるいはビデオカメラに用いる傷補
正パルス発生回路に関するものである。TECHNICAL FIELD The present invention relates to a Charge Coupled D
The present invention relates to a flaw correction pulse generation circuit used in a television camera or a video camera using an evice image pickup device (hereinafter abbreviated as CCD).
【0002】[0002]
【従来の技術】CCDを使用したカメラでは、一般にC
CDの白傷を補正するために、傷補正回路、及び傷補正
の動作を制御するパルスを発生する傷補正パルス発生回
路を備えている。従来のCCDカメラに用いられている
傷補正パルス発生回路の構成を図2に示す。2. Description of the Related Art In a camera using a CCD, C
In order to correct a white flaw of a CD, a flaw correction circuit and a flaw correction pulse generation circuit for generating a pulse for controlling a flaw correction operation are provided. FIG. 2 shows a configuration of a flaw correction pulse generation circuit used in a conventional CCD camera.
【0003】図2において、傷補正パルスをカウントす
るnビットのカウンタ201の出力は、セレクタ202
とセレクタ203に入力される。セレクタ202はカウ
ンタ201の出力によって、n箇所の各傷の水平位置を
規定する水平画素位置の値を選択する。セレクタ203
はカウンタ201の出力によって、n箇所の各傷の垂直
ライン位置を規定する垂直ライン位置の値を選択する。
この傷の水平画素位置および垂直ライン位置の値は、個
々のCCDにおいて予め求められいるものである。In FIG. 2, an output of an n-bit counter 201 for counting the number of flaw correction pulses is supplied to a selector 202.
Is input to the selector 203. The selector 202 selects the value of the horizontal pixel position that defines the horizontal position of each of the n flaws based on the output of the counter 201. Selector 203
Selects the value of the vertical line position defining the vertical line position of each of the n flaws according to the output of the counter 201.
The values of the horizontal pixel position and the vertical line position of the flaw are obtained in advance for each CCD.
【0004】セレクタ202とセレクタ203の出力信
号は、水平、垂直カウンタ、コンパレータ部204に入
力される。水平、垂直カウンタ、コンパレータ部204
にはクロックFCK、水平コントロール信号HRST
N、及び垂直コントロール信号VRSTNが入力されて
おり、n箇所の各傷の水平垂直位置に対応するタイミン
グで傷補正パルス(1画素分のパルス)を傷補正回路
(図示せず)へ出力する。そして、この傷補正パルスに
基づいて、傷補正回路でCCDの白傷を補正する。[0004] Output signals of the selectors 202 and 203 are input to a horizontal / vertical counter / comparator unit 204. Horizontal and vertical counter, comparator section 204
Clock FCK and horizontal control signal HRST
N and a vertical control signal VRSTN are input, and a flaw correction pulse (pulse for one pixel) is output to a flaw correction circuit (not shown) at timing corresponding to the horizontal and vertical positions of each of the n flaws. Then, based on the flaw correction pulse, the flaw correction circuit corrects the white flaw of the CCD.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の構成では、ハードウェア構成上、傷補正パルスを2
画素連続で発生することができないため(即ち、傷補正
パルスでカウンタアップさせるため)、傷補正しても大
きい傷に対して傷が取りきれないという問題点を有して
いた。However, in the above-mentioned conventional configuration, the number of flaw correction pulses is two due to the hardware configuration.
Since it cannot occur continuously in pixels (that is, the counter is incremented by a flaw correction pulse), there is a problem that even if flaw correction is performed, flaws cannot be completely removed from a large flaw.
【0006】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
で、簡単な回路構成で、各傷に対して2画素連続の傷補
正が任意に行うことが可能な傷補正パルス発生回路を得
ることを目的とする。An object of the present invention is to solve the above-mentioned conventional problems and to provide a flaw correction pulse generating circuit which can perform flaw correction for two consecutive pixels for each flaw with a simple circuit configuration. With the goal.
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明は、各傷に対する2画素連続補正信号のレジス
タを設け、従来の傷補正パルス発生回路の出力である、
各傷の傷補正の動作を制御する傷補正パルスを入力する
Dフリップフロップと、Dフリップフロップの出力と前
記傷補正パルスが入力されるオアゲート回路と、n箇所
の各傷に対して傷補正を2画素連続で行うかどうかを制
御する信号を、従来の傷補正パルス発生回路のnビット
カウンタの出力によって選択するセレクタ1と、セレク
タ1の出力を遅延する遅延回路と、遅延回路の出力によ
って、前記オアゲート回路の出力と前記傷補正パルスを
選択して出力するセレクタ2を備える。そして大きい傷
に対しては傷補正パルスを2画素連続で発生させるよう
に2画素連続補正信号を設定し、その他の傷に対しては
従来どおり傷補正パルスを1画素分発生させるように2
画素連続補正信号を設定する。In order to achieve this object, the present invention provides a register for a two-pixel continuous correction signal for each flaw, which is the output of a conventional flaw correction pulse generation circuit.
A D flip-flop for inputting a flaw correction pulse for controlling the flaw correction operation of each flaw, an OR gate circuit for receiving the output of the D flip-flop and the flaw correction pulse, and performing flaw correction for each of the n flaws A selector 1 for selecting a signal for controlling whether to perform two consecutive pixels by the output of an n-bit counter of a conventional flaw correction pulse generation circuit, a delay circuit for delaying the output of the selector 1, and an output of the delay circuit A selector 2 is provided for selecting and outputting the output of the OR gate circuit and the flaw correction pulse. Then, a two-pixel continuous correction signal is set so that a flaw correction pulse is continuously generated for two pixels for a large flaw, and a flaw correction pulse for one pixel is generated for other flaws as before.
Set the pixel continuity correction signal.
【0008】これにより、2画素連続の傷補正が可能な
傷補正回路用の傷補正パルス発生回路が得られる。As a result, a flaw correction pulse generation circuit for a flaw correction circuit capable of correcting flaws for two consecutive pixels is obtained.
【0009】[0009]
【発明の実施の形態】本発明は、CCDの傷補正の動作
を制御するパルス信号が入力されるDフリップフロップ
と、前記Dフリップフロップの出力と前記パルス信号が
入力されるオアゲート回路と、n箇所の各傷に対して傷
補正を2画素連続で行うかどうかを制御する信号を選択
する第1のセレクタと、前記第1のセレクタの出力を遅
延する遅延回路と、前記遅延回路の出力によって、前記
オアゲート回路の出力または前記パルス信号を選択して
出力する第2のセレクタとを備えるものであり、これに
より、大きい傷に対しては傷補正パルスを2画素連続で
発生させ、その他の傷に対しては従来どおり傷補正パル
スを1画素分発生させ、傷補正の性能を上げることがで
きる。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention relates to a D flip-flop to which a pulse signal for controlling the operation of CCD flaw correction is input, an OR gate circuit to which the output of the D flip-flop and the pulse signal are input, and n A first selector for selecting a signal for controlling whether or not to perform flaw correction for two consecutive pixels for each flaw, a delay circuit for delaying an output of the first selector, and an output of the delay circuit , A second selector for selecting and outputting the output of the OR gate circuit or the pulse signal, thereby generating a flaw correction pulse for two consecutive pixels for a large flaw, In this case, the flaw correction pulse is generated for one pixel as in the prior art, so that the performance of flaw correction can be improved.
【0010】以下、本発明の実施の形態による傷補正パ
ルス発生回路について、図面を参照しながら説明する。Hereinafter, a flaw correction pulse generation circuit according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
【0011】図1は本発明の実施の形態による傷補正パ
ルス発生回路の構成を示すブロック図である。図1にお
いて、クロックFCK、水平コントロール信号HRST
N、及び垂直コントロール信号VRSTNが傷補正パル
ス発生部101に入力される。図1に示した傷補正パル
ス発生部101は従来の技術で述べた図2に示した傷補
正パルス発生回路であり、1クロックのパルス幅の傷補
正パルスを、n箇所の各傷の位置に対応したタイミング
で出力する。FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a flaw correction pulse generation circuit according to an embodiment of the present invention. In FIG. 1, a clock FCK, a horizontal control signal HRST
N and the vertical control signal VRSTN are input to the flaw correction pulse generator 101. The flaw correction pulse generation unit 101 shown in FIG. 1 is the flaw correction pulse generation circuit shown in FIG. 2 described in the related art, and applies a flaw correction pulse having a pulse width of 1 clock to n flaw positions. Output at the corresponding timing.
【0012】傷補正パルス発生部101の出力の傷補正
パルスは、Dフリップフロップ(DFF)104に入力
される。Dフリップフロップ104の出力は、傷補正パ
ルス発生部101の出力の傷補正パルスと共に、オアゲ
ート回路105に入力される。オアゲート回路105の
出力は、2クロックのパルス幅の傷補正パルスであり、
2画素連続で傷補正する時の傷補正パルスに相当する。The flaw correction pulse output from the flaw correction pulse generator 101 is input to a D flip-flop (DFF) 104. The output of the D flip-flop 104 is input to the OR gate circuit 105 together with the flaw correction pulse output from the flaw correction pulse generator 101. The output of the OR gate circuit 105 is a flaw correction pulse having a pulse width of 2 clocks,
This corresponds to a flaw correction pulse when flaw correction is performed for two consecutive pixels.
【0013】一方、セレクタ102は、傷補正パルス発
生部101の内部にある傷補正パルスの数をカウントす
るnビットカウンタ(図2に示したnビットカウンタ2
01)の出力によって、n箇所(nは自然数)の各傷に
対する2画素連続補正信号を選択する。セレクタ102
の出力信号は、遅延回路103に入力され、傷補正パル
ス発生部101の出力信号である傷補正パルスと同位相
になるように遅延調整された後、セレクタ106に入力
される。セレクタ106では、遅延回路103の出力に
よって、2画素連続で補正する場合はオアゲート回路1
05の出力を、2画素連続で補正しない場合(1画素補
正の場合)は傷補正パルス発生部101の出力を、各傷
に対して選択し、傷補正回路(図示せず)へ出力する。On the other hand, the selector 102 has an n-bit counter (the n-bit counter 2 shown in FIG. 2) for counting the number of flaw correction pulses inside the flaw correction pulse generator 101.
01), a two-pixel continuous correction signal for each of the flaws at n locations (n is a natural number) is selected. Selector 102
Is input to the delay circuit 103, delay-adjusted so as to have the same phase as the flaw correction pulse which is the output signal of the flaw correction pulse generator 101, and then input to the selector 106. The selector 106 uses the OR gate circuit 1 when correcting two consecutive pixels based on the output of the delay circuit 103.
If the output of the pixel 05 is not corrected for two consecutive pixels (one-pixel correction), the output of the flaw correction pulse generator 101 is selected for each flaw and output to a flaw correction circuit (not shown).
【0014】以上のように本実施の形態によれば、この
ような回路構成を採ることにより、簡単な回路付加だけ
で、各傷に対して2画素連続の傷補正を任意に行うこと
ができる。As described above, according to the present embodiment, by adopting such a circuit configuration, it is possible to arbitrarily perform two-pixel continuous flaw correction for each flaw by simply adding a simple circuit. .
【0015】なお、セレクタ102に入力される2画素
連続補正信号は、予め定めたもので、レジスタなどを設
けて発生させればよい。また、2画素連続補正信号は、
セレクタ106を制御するためのものなので、各々1ビ
ットの信号でよい。The two-pixel continuous correction signal input to the selector 102 is predetermined and may be generated by providing a register or the like. The two-pixel continuous correction signal is
Since it is for controlling the selector 106, each signal may be 1 bit.
【0016】また、本実施の形態では、2画素連続の傷
を補正する場合について述べたが、Dフリップフロップ
104の後にもう一段Dフリップフロップを追加し、傷
補正パルス発生部101の出力と、2つのDフリップフ
ロップの出力との3つの論理和を取って3画素連続傷補
正信号として、セレクタ102に入力される2画素連続
補正信号を2ビット拡張して、1〜3ビットの状態を選
択可能な信号とすれば、3画素連続補正も可能である。
さらに、同様の回路拡張により3画素以上の連続する傷
補正も可能である。Further, in the present embodiment, the case of correcting flaws of two pixels in succession has been described. However, another D flip-flop is added after the D flip-flop 104, and the output of the flaw correction pulse generation unit 101 and The three logical sums with the outputs of the two D flip-flops are taken and the two-pixel continuous correction signal input to the selector 102 is extended by two bits as a three-pixel continuous flaw correction signal to select the state of one to three bits As long as the signal is possible, continuous correction of three pixels is also possible.
Further, continuous damage correction of three or more pixels can be performed by similar circuit expansion.
【0017】[0017]
【発明の効果】以上のように本発明によれば、従来の1
画素の傷対応の傷補正パルス発生回路に対して、簡単な
回路の付加のみで、各傷に対して2画素連続の傷補正を
任意に行うことができ、傷補正の性能を上げることがで
きる。As described above, according to the present invention, the conventional 1
It is possible to arbitrarily perform two-pixel continuous flaw correction for each flaw by simply adding a simple circuit to the flaw correction pulse generation circuit corresponding to the flaw of a pixel, thereby improving the performance of flaw correction. .
【図1】本発明の実施の形態による傷補正パルス発生回
路の構成を示すブロック図FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a flaw correction pulse generation circuit according to an embodiment of the present invention.
【図2】従来の傷補正パルス発生回路の構成を示すブロ
ック図FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of a conventional flaw correction pulse generation circuit.
101 傷補正パルス発生部 102、106 セレクタ 103 遅延回路 104 Dフリップフロップ 105 オアゲート回路 201 nビットカウンタ 202、203 セレクタ 204 水平、垂直カウンタ、コンパレータ部 101 flaw correction pulse generator 102, 106 selector 103 delay circuit 104 D flip-flop 105 OR gate circuit 201 n-bit counter 202, 203 selector 204 horizontal, vertical counter, comparator
Claims (1)
信号が入力されるDフリップフロップと、前記Dフリッ
プフロップの出力と前記パルス信号が入力されるオアゲ
ート回路と、n箇所(nは自然数)の各傷に対して傷補
正を2画素連続で行うかどうかを制御する信号を選択す
る第1のセレクタと、前記第1のセレクタの出力を遅延
する遅延回路と、前記遅延回路の出力によって、前記オ
アゲート回路の出力または前記パルス信号を選択して出
力する第2のセレクタとを備える傷補正パルス発生回
路。1. A D flip-flop to which a pulse signal for controlling a CCD flaw correction operation is input, an OR gate circuit to which an output of the D flip-flop and the pulse signal are input, and n places (n is a natural number) A first selector for selecting a signal for controlling whether or not to perform flaw correction for two consecutive pixels for each flaw, a delay circuit for delaying an output of the first selector, and an output of the delay circuit. And a second selector for selecting and outputting the output of the OR gate circuit or the pulse signal and outputting the pulse signal.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9069521A JPH10271396A (en) | 1997-03-24 | 1997-03-24 | Flaw correction pulse generation circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9069521A JPH10271396A (en) | 1997-03-24 | 1997-03-24 | Flaw correction pulse generation circuit |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10271396A true JPH10271396A (en) | 1998-10-09 |
Family
ID=13405122
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9069521A Pending JPH10271396A (en) | 1997-03-24 | 1997-03-24 | Flaw correction pulse generation circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10271396A (en) |
-
1997
- 1997-03-24 JP JP9069521A patent/JPH10271396A/en active Pending
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040608 |