JPH10271396A - 傷補正パルス発生回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡単な回路付加だけで、ＣＣＤの２画素連続
する傷の補正が可能な傷補正パルスを発生させる。 【解決手段】 傷補正パルス発生部１０１から出力され
る１画素分の傷補正パルスはＤＦＦ１０４、ＯＲゲート
１０５，セレクタ１０６に入力される。ＤＦＦ１０４の
出力はＯＲゲート１０５に入力され、ＯＲゲート１０５
の出力はセレクタ１０６に入力される。セレクタ１０２
は傷補正パルス発生部１０１の内部のカウンタの出力に
よって、各傷に対する２画素連続補正信号を選択する。
セレクタ１０２の出力は遅延回路１０３で、傷補正パル
ス発生部１０１の出力の傷補正パルスと同位相になるよ
う遅延調整された後、セレクタ１０６に入力され、セレ
クタ１０６で、２画素連続で補正する場合はＯＲゲート
１０５の出力を、１画素補正の場合はパルス発生部１０
１の出力を選択して傷補正回路へ出力する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、Charge Coupled D
evice撮像素子（以下、ＣＣＤと略称）を使用した、テ
レビジョンカメラ、あるいはビデオカメラに用いる傷補
正パルス発生回路に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】ＣＣＤを使用したカメラでは、一般にＣ
ＣＤの白傷を補正するために、傷補正回路、及び傷補正
の動作を制御するパルスを発生する傷補正パルス発生回
路を備えている。従来のＣＣＤカメラに用いられている
傷補正パルス発生回路の構成を図２に示す。

【０００３】図２において、傷補正パルスをカウントす
るｎビットのカウンタ２０１の出力は、セレクタ２０２
とセレクタ２０３に入力される。セレクタ２０２はカウ
ンタ２０１の出力によって、ｎ箇所の各傷の水平位置を
規定する水平画素位置の値を選択する。セレクタ２０３
はカウンタ２０１の出力によって、ｎ箇所の各傷の垂直
ライン位置を規定する垂直ライン位置の値を選択する。
この傷の水平画素位置および垂直ライン位置の値は、個
々のＣＣＤにおいて予め求められいるものである。

【０００４】セレクタ２０２とセレクタ２０３の出力信
号は、水平、垂直カウンタ、コンパレータ部２０４に入
力される。水平、垂直カウンタ、コンパレータ部２０４
にはクロックＦＣＫ、水平コントロール信号ＨＲＳＴ
Ｎ、及び垂直コントロール信号ＶＲＳＴＮが入力されて
おり、ｎ箇所の各傷の水平垂直位置に対応するタイミン
グで傷補正パルス（１画素分のパルス）を傷補正回路
（図示せず）へ出力する。そして、この傷補正パルスに
基づいて、傷補正回路でＣＣＤの白傷を補正する。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の構成では、ハードウェア構成上、傷補正パルスを２
画素連続で発生することができないため（即ち、傷補正
パルスでカウンタアップさせるため）、傷補正しても大
きい傷に対して傷が取りきれないという問題点を有して
いた。

【０００６】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
で、簡単な回路構成で、各傷に対して２画素連続の傷補
正が任意に行うことが可能な傷補正パルス発生回路を得
ることを目的とする。

【０００７】

【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明は、各傷に対する２画素連続補正信号のレジス
タを設け、従来の傷補正パルス発生回路の出力である、
各傷の傷補正の動作を制御する傷補正パルスを入力する
Ｄフリップフロップと、Ｄフリップフロップの出力と前
記傷補正パルスが入力されるオアゲート回路と、ｎ箇所
の各傷に対して傷補正を２画素連続で行うかどうかを制
御する信号を、従来の傷補正パルス発生回路のｎビット
カウンタの出力によって選択するセレクタ１と、セレク
タ１の出力を遅延する遅延回路と、遅延回路の出力によ
って、前記オアゲート回路の出力と前記傷補正パルスを
選択して出力するセレクタ２を備える。そして大きい傷
に対しては傷補正パルスを２画素連続で発生させるよう
に２画素連続補正信号を設定し、その他の傷に対しては
従来どおり傷補正パルスを１画素分発生させるように２
画素連続補正信号を設定する。

【０００８】これにより、２画素連続の傷補正が可能な
傷補正回路用の傷補正パルス発生回路が得られる。

【０００９】

【発明の実施の形態】本発明は、ＣＣＤの傷補正の動作
を制御するパルス信号が入力されるＤフリップフロップ
と、前記Ｄフリップフロップの出力と前記パルス信号が
入力されるオアゲート回路と、ｎ箇所の各傷に対して傷
補正を２画素連続で行うかどうかを制御する信号を選択
する第１のセレクタと、前記第１のセレクタの出力を遅
延する遅延回路と、前記遅延回路の出力によって、前記
オアゲート回路の出力または前記パルス信号を選択して
出力する第２のセレクタとを備えるものであり、これに
より、大きい傷に対しては傷補正パルスを２画素連続で
発生させ、その他の傷に対しては従来どおり傷補正パル
スを１画素分発生させ、傷補正の性能を上げることがで
きる。

【００１０】以下、本発明の実施の形態による傷補正パ
ルス発生回路について、図面を参照しながら説明する。

【００１１】図１は本発明の実施の形態による傷補正パ
ルス発生回路の構成を示すブロック図である。図１にお
いて、クロックＦＣＫ、水平コントロール信号ＨＲＳＴ
Ｎ、及び垂直コントロール信号ＶＲＳＴＮが傷補正パル
ス発生部１０１に入力される。図１に示した傷補正パル
ス発生部１０１は従来の技術で述べた図２に示した傷補
正パルス発生回路であり、１クロックのパルス幅の傷補
正パルスを、ｎ箇所の各傷の位置に対応したタイミング
で出力する。

【００１２】傷補正パルス発生部１０１の出力の傷補正
パルスは、Ｄフリップフロップ（ＤＦＦ）１０４に入力
される。Ｄフリップフロップ１０４の出力は、傷補正パ
ルス発生部１０１の出力の傷補正パルスと共に、オアゲ
ート回路１０５に入力される。オアゲート回路１０５の
出力は、２クロックのパルス幅の傷補正パルスであり、
２画素連続で傷補正する時の傷補正パルスに相当する。

【００１３】一方、セレクタ１０２は、傷補正パルス発
生部１０１の内部にある傷補正パルスの数をカウントす
るｎビットカウンタ（図２に示したｎビットカウンタ２
０１）の出力によって、ｎ箇所（ｎは自然数）の各傷に
対する２画素連続補正信号を選択する。セレクタ１０２
の出力信号は、遅延回路１０３に入力され、傷補正パル
ス発生部１０１の出力信号である傷補正パルスと同位相
になるように遅延調整された後、セレクタ１０６に入力
される。セレクタ１０６では、遅延回路１０３の出力に
よって、２画素連続で補正する場合はオアゲート回路１
０５の出力を、２画素連続で補正しない場合（１画素補
正の場合）は傷補正パルス発生部１０１の出力を、各傷
に対して選択し、傷補正回路（図示せず）へ出力する。

【００１４】以上のように本実施の形態によれば、この
ような回路構成を採ることにより、簡単な回路付加だけ
で、各傷に対して２画素連続の傷補正を任意に行うこと
ができる。

【００１５】なお、セレクタ１０２に入力される２画素
連続補正信号は、予め定めたもので、レジスタなどを設
けて発生させればよい。また、２画素連続補正信号は、
セレクタ１０６を制御するためのものなので、各々１ビ
ットの信号でよい。

【００１６】また、本実施の形態では、２画素連続の傷
を補正する場合について述べたが、Ｄフリップフロップ
１０４の後にもう一段Ｄフリップフロップを追加し、傷
補正パルス発生部１０１の出力と、２つのＤフリップフ
ロップの出力との３つの論理和を取って３画素連続傷補
正信号として、セレクタ１０２に入力される２画素連続
補正信号を２ビット拡張して、１〜３ビットの状態を選
択可能な信号とすれば、３画素連続補正も可能である。
さらに、同様の回路拡張により３画素以上の連続する傷
補正も可能である。

【００１７】

【発明の効果】以上のように本発明によれば、従来の１
画素の傷対応の傷補正パルス発生回路に対して、簡単な
回路の付加のみで、各傷に対して２画素連続の傷補正を
任意に行うことができ、傷補正の性能を上げることがで
きる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態による傷補正パルス発生回
路の構成を示すブロック図

【図２】従来の傷補正パルス発生回路の構成を示すブロ
ック図

【符号の説明】

１０１ 傷補正パルス発生部 １０２、１０６ セレクタ １０３ 遅延回路 １０４ Ｄフリップフロップ １０５ オアゲート回路 ２０１ ｎビットカウンタ ２０２、２０３ セレクタ ２０４ 水平、垂直カウンタ、コンパレータ部

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ＣＣＤの傷補正の動作を制御するパルス
   信号が入力されるＤフリップフロップと、前記Ｄフリッ
   プフロップの出力と前記パルス信号が入力されるオアゲ
   ート回路と、ｎ箇所（ｎは自然数）の各傷に対して傷補
   正を２画素連続で行うかどうかを制御する信号を選択す
   る第１のセレクタと、前記第１のセレクタの出力を遅延
   する遅延回路と、前記遅延回路の出力によって、前記オ
   アゲート回路の出力または前記パルス信号を選択して出
   力する第２のセレクタとを備える傷補正パルス発生回
   路。