JPH10272427A - 粉粒体の検査方法及び粉粒体検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 比較的簡便な操作や機構によって高精度な検
査を行い、粉粒体中から確実に異物を除去する。 【解決手段】 回転する検査ドラム１の外周面上に粉粒
体ｐを連続的に供給して、該検査ドラム１の外周面上に
上記粉粒体ｐの均一な薄層ｐ１を形成し、これを検査ド
ラム１の回転により約１／４周搬送した後に連続的に落
下させて回収すると共に、上記搬送中に検査ドラム１上
の粉粒体層ｐ１を撮影して上記粉粒体層ｐ１の画像を取
り込み、得られた画像を画像処理して粉粒体ｐ中に混入
した異物を検出し、この異物を含んだ所定量の粉粒体ｐ
３を上記検査ドラム１から落下する粉粒体流ｐ２から分
離除去する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、医薬品、食品、化
成品等の原料、半製品、製品など、各種の粉粒体中に混
入した異物を検出して除去するための粉粒体の検査方
法、及び粉粒体検査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来から、医薬品、食品等の分野では、
製造原料や製品又は半製品の粉粒体中に混入した、金属
片、毛髪、汚れた粒子、その他の異物（本明細書では、
汚れた粒子なども含めてこれらを「異物」と総称する）
を取り除くための異物検査が行われている。このよう
な、粉粒体の異物検査は、従来作業員による目視検査に
より行われてきたが、近年、作業員の目視検査に代わっ
て粉粒体の検査を自動的に行う検査装置が用いられるよ
うになってきている。

【０００３】このような粉粒体の自動検査を行う従来の
装置としては、特公平３−６０３８１号公報に記載され
た装置を例示することができる。

【０００４】この従来の検査装置は、図５に示した構成
となっている。即ち、図中ａ１，ａ２は、所定の間隔も
って並列配置された一対の透明回転円筒であり、この透
明回転円筒ａ１，ａ２の間に粉粒体が通過する粉粒体落
下通路ｂが形成されている。この落下通路ｂの上方に
は、落下通路ｂに粉粒体を案内する落下ガイドｃが設け
られていると共に、落下通路ｂの下方には、粉粒体を落
下通路ｂの下方に配設された選別装置ｄに案内する回収
ガイドｅが設けられている。また、図中ｆはホッパーｆ
１内に貯留された粉粒体ｐを振動発生装置ｆ２により連
続的に上記落下ガイドｃ内へと落下させる供給部であ
り、図中ｇは上記選別装置ｄを通過してきた粉粒体ｐを
回収する回収容器である。

【０００５】上記一方の透明回転円筒ａ１内には、ハー
フミラーｈと反射光源ｊ１とが配設されており、この反
射光源ｊ１からハーフミラーｈを透過させて上記落下通
路ｂ内を通過する粉粒体ｐに反射光を照射すると共に、
粉粒体ｐからの反射光がハーフミラーｈにより反射して
透明回転円筒ａ１の外側に配置されたラインセンサカメ
ラｋに入射するようになっている。また、上記他方の透
明回転円筒ａ２内には、透過光源ｊ２が配設されてお
り、この透過光源ｊ２から上記落下通路ｂ内に透過光を
照射すると共に、この透過光が落下通路ｂ内を通過する
粉粒体ｐに遮られずに落下通路ｂを透過した場合には、
この透過光が上記ハーフミラーｈに反射して上記ライン
センサカメラｋに入射するようになっている。この場
合、この透過光源ｊ２からの透過光の光量は、上記反射
光源ｊ１からの反射光が良品の粒子（汚れ等の不良がな
い粉粒体粒子）に反射した反射光の光量と等しくなるよ
うに設定されており、これにより粉粒体粒子が上記落下
通路ｂに存在せずに上記反射光が落下通路ｂを透過して
しまう場合でも、等しい光量を有する上記透過光がハー
フミラーｈを介してラインセンサカメラｋに入射するよ
うになっている。

【０００６】また、上記選別装置ｄには、粉粒体の通過
通路ｍの中間部に吸引除去通路ｎが設けられており、こ
の吸引除去通路ｎに取り付けられた自動開閉バルブｎ１
が開くことにより、通過通路ｍ内を通過中の粉粒体をこ
の吸引除去通路ｎを通して吸引除去するようになってい
る。そして、上記自動開閉バルブｎ１は、常時は閉じら
れた状態となっており、画像処理装置ｒ１と２つの選別
装置制御手段ｒ２，ｒ３とからなる判定処理部ｒからの
指令によって随時開くようになっている。

【０００７】なお、図中ｓ，ｓは透明回転円筒ａ１，ａ
２の外周面を清掃するクリーナー、ｔ，ｔは透明回転円
筒ａ１，ａ２に帯電した静電気を除去する静電除去装置
である。

【０００８】この従来の粉粒体検査装置による粉粒体の
検査は、次のようにして行われる。上記両透明回転円筒
ａ１，ａ２を互いに逆方向ｘ１，ｘ２に回転させると共
に、上記反射光源ｊ１及び透過光源ｊ２からそれぞれ反
射光及び透過光を落下通路ｂに照射し、この状態で上記
供給部ｆから検査対象の粉粒体ｐを連続的に上記両落下
ガイドｃ，ｃ間に落下させ、粉粒体ｐを所定厚さの粉粒
体層として上記落下通路ｂ及び上記通過通路ｍを順次通
過させた後、上記回収容器ｇに回収する。

【０００９】このとき、上記落下通路ｂにおいて、上記
反射光源ｊ１から上記粉粒体層に照射されて反射した反
射光が上記ハーフミラーｈを介して上記ラインセンサカ
メラｋに入射し、粉粒体層の画像が連続的に取り込まれ
る。そして、この画像が上記判定処理部ｒにより画像処
理されて異物の検出が行われ、異物が検出された場合
に、この判定処理部ｒから上記選別装置ｄに吸引除去指
令が発信され、この指令に応じて上記自動開閉バルブｎ
１が開いて選別装置ｄの通過通路ｍを通過する粉粒体層
から異物を含む所定量の粉粒体が吸引除去されるもので
ある。

【００１０】この場合、上記異物の検出は、次のように
行われる。即ち、正常な粉粒体のみからなる粉粒体層か
らの反射光は常にほぼ一定の光量を有し、これがライン
センサカメラｋに入射することとなるが、この粉粒体層
に異物が存在するとこの部分の反射光の光量が変化し、
上記判定処理部ｒにより画像中に現れる光量変化を検出
することによって異物の検出が行われる。このとき、上
記粉粒体層に欠け等が生じて粉粒体の粒子が全く存在し
ない部分があると、反射光源ｊ１から照射された光は落
下通路ｂを通過してしまい、正常な反射光が得られない
が、この場合には、上記透過光源から照射された光が、
落下通路ｂを通過して正常な反射光と等しい光量を有す
る透過光としてラインセンサカメラｋに入射し、このよ
うな粉粒体層の欠けを異物と誤認することがないように
なっている。

【００１１】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の検査装置には、以下の欠点がある。即ち、上記従来
の検査装置は、上記供給部ｆから粉粒体ｐを連続的に落
下させて自然落下による粉粒体の流下層を形成するよう
になっており、この場合に上記落下ガイドｃや一対の透
明回転円筒ａ１，ａ２などによって自然落下する粉粒体
層を均一厚とするように工夫されているが、上記落下ガ
イドｃや一対の透明回転円筒ａ１，ａ２により形成され
た通路は、粉粒体の詰まり等を防止するためにあまり狭
くすることはできず、また自然落下による粉粒体の落下
運動は粒子レベルでみれば非常に不安定なものであり、
均一厚の粉粒体層を安定的に形成することは困難であ
る。従って、自然落下する粉粒体層に部分的に厚い箇所
が生じる虞があり、この厚い部分に異物が存在すると粉
粒体層の撮影側の面（図中、右側）にこの異物が露出せ
ずに正常な粒子に覆われた状態となる場合があり、この
場合には異物を検出して除去することができない。

【００１２】また、上記検査装置は、流下する粉粒体層
から異物を吸引除去するようになっているが、この場
合、上記吸引除去通路ｎは検査領域である上記落下通路
ｂと連通しているため、吸引除去時の気流の乱れが少な
からず検査領域を通過中の粉粒体層に影響し、落下速度
の変動、落下軌道の乱れ、層厚の乱れなどが検査領域の
粉粒体層に発生し、安定的な検査を行うことが困難であ
る。

【００１３】更に、上記従来の検査装置では、粉粒体層
に粒子が分散した状態となって欠け（粒子が存在しない
部分）が生じた場合には、上述のように、上記透過光の
光量を正常な反射光の光量と等しく設定することによ
り、欠け部分の補正を行うようになっているが、この場
合このような欠け部分を異物と誤認することなく、高い
検査精度を達成するには、透過光の光量を極めて高精度
に反射光と等しく設定しなければならず、また反射光の
光量は粉粒体の色調、粒径、形状などにより変化するた
め、検査対象の粉粒体を代える場合には、このような厳
格な光量設定をその都度行わなければならない。

【００１４】また更に、上記検査装置では、一対の透明
回転円筒ａ１，ａ２を通して粉粒体層の撮影を行うよう
になっているので、透明回転円筒ａ１，ａ２の汚れが検
査精度に大きく影響し、このためこれら透明回転円筒ａ
１，ａ２に対して高度なクリーニング処理を常に行う必
要があり、そのために煩雑なクリーニング機構部やメン
テナンスが要求される。

【００１５】このように、従来の検査装置で用いられて
いる検査方法では、必ずしも十分な検査精度を得ること
ができず、また検査条件の設定や検査機構部に煩雑な作
業やメンテナンスが要求されるという欠点がある。

【００１６】本発明は、上記事情に鑑みなされたもの
で、比較的簡便な操作や機構によって高精度な検査を行
うことができる粉粒体の検査方法、及び粉粒体検査装置
を提供することを目的とする。

【００１７】

【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するため、水平軸を中心にして回転する検査ドラムの
頂点位置又はその近傍における外周面上に粉粒体を連続
的に供給して、該検査ドラムの外周面上に上記粉粒体の
均一な薄層を形成し、これを検査ドラムの外周面上に載
置した状態で該検査ドラムの回転により約１／４周搬送
した後に連続的に落下させて回収すると共に、上記搬送
中に検査ドラム上の粉粒体層を撮影して上記粉粒体層の
画像を取り込み、得られた画像を画像処理して粉粒体中
に混入した異物を検出し、この異物を含んだ所定量の粉
粒体を上記検査ドラムから落下する粉粒体流から分離除
去することを特徴とする粉粒体の検査方法を提供する。

【００１８】即ち、本発明の検査方法は、水平軸を中心
にして回転する検査ドラムの外周面上に、該ドラムの頂
点位置又はその近傍において、検査対象の粉粒体を連続
的に供給し、粉粒体の供給量と検査ドラムの回転速度と
の関係により該検査ドラムの外周面上に一定厚の薄層を
形成して搬送し、この検査ドラムの外周面上に載置され
た状態の粉粒体層を連続的に撮影して、画像の取り込み
を行うものである。

【００１９】従って、従来の検査装置のように自然落下
する粉粒体層を撮影する場合に比べて、遥かに安定した
状態の粉粒体層に対して画像の取り込みを行うことがで
き、安定的な画像を確実に得ることができる。この場
合、本発明の検査方法では、検査ドラム上への粉粒体供
給量と検査ドラムの回転速度とを調整制御して検査ドラ
ム上に所定厚さの薄層として粉粒体層を形成することに
より、この粉粒体層が検査ドラムの外周面に載置された
状態で、厚さ、速度、軌道等に変化が生じることなく安
定的に検査領域（撮影位置）に搬送されて撮影され、常
に最良かつ一定の条件下で検査が行われるので、検査精
度を大幅に向上させることができるものである。

【００２０】ここで、本発明の検査方法において、得ら
れた画像から異物を検出し、該異物を取り除く操作は、
上記従来の検査装置と同様に、取り込んだ画像中に明度
又は輝度の変化として現れる異物を画像処理によって検
出し、この異物を含んだ所定量の粉粒体を上記検査ドラ
ムから落下する粉粒体の流から分離除去することにより
行われる。この場合、検査精度をより高くするために
は、上記検査ドラムの外周面上に形成する粉粒体層の厚
さをできる限り薄くして、異物が粉粒体層中に埋もれる
ことがないようにすることが好ましく、この場合粉粒体
層を非常に薄く形成すると、該粉粒体層に部分的に粒子
が存在しない欠けた部分が生じ易くなるが、本発明の検
査方法では、上記検査ドラムの外周面を検査対象の粉粒
体と同一の色調とすることにより、このような欠けた部
分を異物と誤認することなく、高精度で信頼性の高い検
査を行うことができる。

【００２１】従って、本発明の検査方法によれば、単に
検査ドラムの外周面を検査対象の粉粒体と同一の色調と
することにより、粉粒体層に生じた欠け部分を異物と誤
認することなく、該粉粒体層を非常に薄く形成して高精
度の検査を行うことができるものであり、上記従来の検
査装置のように、透過光の光量を厳格に設定するような
煩雑な設定を要することなく、容易に高精度な検査を行
うことができるものである。

【００２２】更に、本発明の検査方法では、上記検査ド
ラム上に載置された状態の粉粒体層を直接撮像装置で撮
影することにより、画像の取り込みを行うことができる
ので、透明回転円筒を通して撮影を行う上記従来の検査
装置のような高度なクリーニングを要することなく、検
査ドラム表面を簡易にクリーニングするだけで、信頼性
の高い検査を確実に行うことができるものである。

【００２３】このように、本発明の粉粒体の検査方法に
よれば、検査条件の設定や検査機構部に煩雑な作業やメ
ンテナンスを要することなく、比較的簡便な操作や機構
によって高精度な検査を行うことができるものである。

【００２４】また、本発明は、上記本発明の検査方法に
より粉粒体の検査を行う検査装置として、粉粒体中に混
入した異物を検出除去するための検査装置であって、水
平軸を中心にして回転し、外周面に粉粒体を均一な薄層
状に載置して頂点位置又はその近傍から約１／４周搬送
した後、連続的に落下させる検査ドラムと、該検査ドラ
ムの頂点位置又はその近傍における外周面上に粉粒体を
連続的に供給する粉粒体供給手段と、上記検査ドラムの
外周面上に載置されて搬送される粉粒体層を連続的に撮
影し、該粉粒体層の画像を取り込む撮像装置と、該撮像
装置により取り込まれた画像を画像処理して異物を検出
する検出手段と、該検出手段からの検出信号に応じて、
上記検査ドラムから落下する粉粒体流から異物を含む所
定量の粉粒体を分離除去する異物回収手段とを具備して
なることを特徴とする粉粒体検査装置を提供する。

【００２５】即ち、この粉粒体検査装置は、回転する上
記検査ドラムの外周面上に、該検査ドラムの頂点位置又
はその近傍において上記粉粒体供給手段によって粉粒体
を連続的に供給することにより、検査ドラム上に粉粒体
層を形成すると共に、この粉粒体層を検査ドラムの回転
によって頂点位置又はその近傍から約１／４周搬送して
連続的に落下させ、このとき検査ドラムの外周面上に載
置されて搬送される上記粉粒体層を上記撮像装置で連続
的に撮影して該粉粒体層の画像を取り込み、この画像を
上記検出手段により画像処理して異物の検出を行うと共
に、検出手段が異物検出時に発信する検出信号に応じ
て、上記異物回収手段が上記検査ドラムから連続的に落
下する粉粒体流から異物を含む所定量の粉粒体を分離除
去するものである。

【００２６】このように、本発明の粉粒体検査装置によ
れば、上記本発明の検査方法に従って粉粒体中に混入し
た異物が自動的に検出除去され、従って、検査条件の設
定や検査機構部に煩雑な作業やメンテナンスを要するこ
となく、比較的簡便な操作や機構によって高精度な検査
を自動的に行うことができるものである。

【００２７】

【発明の実施の形態及び実施例】以下、実施例を示し、
本発明をより具体的に説明する。図１，２は、本発明の
検査方法により、粉粒体中に混入した異物を自動的に検
出して除去する粉粒体検査装置の一例を示すものであ
り、この粉粒体検査装置は、図１に示されているよう
に、所定の速度で定速回転する検査ドラム１と、該検査
ドラム１の外周面上に検査対象の粉粒体ｐを供給する粉
粒体供給手段２と、上記検査ドラム１外周面上の粉粒体
層ｐ１を撮影する撮像装置３と、該撮像装置３により取
り込まれた画像を画像処理して異物の検出を行う検出手
段（図示せず）と、該検出手段から発信される検出信号
に応じて異物を分離除去する異物回収手段４とを具備し
ている。

【００２８】上記検査ドラム１は、図２に示されている
ように、短軸で大径のドラムであり、その中央部一面側
に円形の凹部１１が形成され、この凹部１１内に水平方
向に沿って配置された回転駆動軸１２の円板状のフラン
ジ１２ａが挿入されてビス止め１２ｂされている。上記
回転駆動軸１２は、特に図示していないが、モーター等
の駆動源に適宜なギアやタイミングベルトなどを介して
連結されており、この駆動源からの駆動力によりこの回
転駆動軸１２が回転し、更にこの回転駆動軸１２に駆動
されて検査ドラム１が水平軸を中心に図１中反時計回り
に回転するようになっている。

【００２９】この検査ドラム１の外周面両側縁部には、
図２に示されているように、低い堰壁１３，１３が周方
向に沿って連続して一体に突設されており、これら堰壁
１３，１３間が検査面となっている。ここで、この検査
ドラム１の外周面は、特に制限されるものではないが、
検査対象の粉粒体と同一の色調とすることが好ましく、
これにより検査ドラム１の外周面を粉粒体中に混入した
異物と誤認することを確実に防止することができる。

【００３０】また、上記粉粒体供給手段２は、図１に示
されているように、篩過器２１を有しており、この篩過
器２１に直進フィーダ２２の振動トラフ２２１から粉粒
体ｐを投入し、この粉粒体ｐを篩過器２１で篩いなが
ら、筒状のシュート２３を通して、上記検査ドラム１の
外周面上に連続的に供給するようになっている。なお、
粉粒体ｐの供給位置は、検査ドラム１の頂点位置（最も
高い位置、以下同様）又はその近傍位置とされ、本実施
例の装置では、図１に示されているように、検査ドラム
１の頂点から回転方向後方にややずれた位置とされてい
る。

【００３１】上記篩過器２１は、上記振動トラフ２２１
から投入される粉粒体ｐを一旦貯留する略ロート状のホ
ッパー２１１と該ホッパー２１１の下に連設された３つ
の篩２１ａ，２１ｂ，２１ｃとで構成されており、これ
らホッパー２１１及び篩２１ａ〜２１ｃを適宜な装置に
より細かく揺り動かして、上記ホッパー２１１内の粉粒
体ｐを上記３つの篩２１ａ，２１ｂ，２１ｃで順次篩い
ながら、上記検査ローラ１の外周面上に落下させるよう
になっている。

【００３２】この篩過器２１は、上記ホッパー２１１及
び複数の篩２１ａ，２１ｂ，２１ｃを有し、これらを細
かく揺り動かして粉粒体ｐを篩いながら検査ローラ１の
外周面に供給することができるものであればよく、この
篩過器２１を振動させる機構に制限はないが、具体例を
挙げれば、図３，図４に示した機構を例示することがで
きる。

【００３３】図３は、モーターＭに駆動されて回転する
２つ偏芯回転軸２１２，２１２に上記篩過器２１を連結
し、篩過器２１を偏芯回転運動させるものである。即
ち、モーターＭが固定された基板２１３に先端部２１２
ｂが部分的に偏芯した偏芯回転軸２１２，２１２を回転
可能に並設してその基端部２１２ａをベルトＢでモータ
ーＭと接続し、偏芯した先端部２１２ｂを篩過器２１に
固定した軸受体２１４に回転可能に連結したものであ
る。なお、図中２１５はプーリー、２１６はボールベア
リングである。

【００３４】この図３の機構の動作について説明する
と、モーターＭによりベルトＢを介して上記偏芯回転軸
２１２，２１２を回転させ、該偏芯回転軸２１２，２１
２の偏芯した先端部２１２ｂを偏芯回転させて、上記軸
受体２１４を揺動させ、これと一体的に篩過器２１を揺
動させるものである。この場合、篩過器２１の運動は、
円を描くように揺り動く運動となり、内部の粉粒体が均
一に篩われるが、このような運動により粉粒体を篩う場
合には、各篩２１ａ，２１ｂ，２１ｃ内の外側に粉粒体
が寄ってしまい、周壁内面に粉粒体が付着しやすいた
め、図３に示したように、篩過器２１にそれ自体が振動
するバイブレータ２１７を取り付け、篩過器２１に微震
動を与えて粉粒体の周壁内面への付着を防止することが
好ましい。

【００３５】また、図４は、振動フィーダ２１７に基板
２１８を取り付け、この基板２１８に上記篩過器２１を
固定したものであり、振動フィーダ２１７により上記基
板２１８と一体的に篩過器２１を揺り動かし、これによ
り篩過器２１内部の粉粒体を篩い落とすものである。

【００３６】ここで、上記篩過器２１には、図３，４に
示されているように、ホッパー２１１に該ホッパー２１
１内の粉粒体量を検知するレベルセンサ２４を取り付け
ておくことが好ましく、このレベルセンサ２４によりホ
ッパー２１１内に貯留された粉粒体の量を検知して、そ
の情報をこのホッパー２１１に粉粒体を投入する上記直
進フィーダ２２にフィードバックして直進フィーダ２２
からの粉粒体投入量を調節し、ホッパー２１１内に常に
一定量の粉粒体が貯留されているようにすることが好ま
しい。これにより、一定量の粉粒体をより安定的に上記
検査ローラ１外周面に供給することができる。

【００３７】なお、上記篩過器２１に用いられる上記篩
２１ａ，２１ｂ，２１ｃは、いずれも同一の目開きを有
するものであっても、異なる目開きを有するものを組み
合わせて用いてもよく、異なる目開きを有するものを組
み合わせて用いる場合には、順次目開きが小さくなるよ
うに組み合わせることが好ましい。

【００３８】また、上記シュート２３は、図２に示され
ているように、その下端部が上記検査ドラム１の外周面
に近接した状態に立設されており、このシュート２３を
通して上記篩過器２１により篩い落とされた粉粒体ｐが
検査ドラム１の外周面上に連続的に落下し、検査ドラム
１外周面の上記両堰壁１３，１３間に所定厚さの粉粒体
層ｐ１が形成されるようになっている。この場合、シュ
ート２３は、図２に示されているように、その周壁の下
端部が内側へと折り返されて、下端内周縁部に沿って折
り返し部２３１が形成されている。これにより、粉粒体
がシュート２３の内周面に付着して形成される粉粒体塊
が落下した場合に、これを上記折り返し部２３１でキャ
ッチし、粉粒体塊が検査ドラム１の外周面上に落下して
上記粉粒体層ｐ１が部分的に厚くなってしまうことを防
止するようになっている。なお、特に図示していない
が、このシュート２３にも上記図３に示した篩過器２１
と同様に自らが振動するバイブレータを固定して、微震
動を与えておくことが好ましく、これにより粉粒体がシ
ュート２３の内周面に付着することを防止することがで
きる。

【００３９】次に、上記撮像装置３は、図１に示されて
いるように、ラインセンサカメラ３１と照明用光源３２
とを具備しており、照明用光源３２により上記検査ドラ
ム１の外周面上に載置形成された上記粉粒体層ｐ１を照
明し、これを上記ラインセンサカメラ３１により撮影し
て粉粒体層ｐ１の画像を取り込むようになっている。な
お、図中３３は、上記ラインセンサカメラ３１或いは上
記照明用光源３２の角度などを調節する調整機構部であ
る。

【００４０】ここで、この撮像装置３により画像の取り
込みを行う位置は、上記検査ドラム１の外周面に載置形
成された上記粉粒体層ｐ１を安定的に撮影し得る位置で
あればよく、特に制限されるものではないが、通常は検
査ドラム１の頂点位置から回転方向に０〜３５゜の位置
であることが好ましく、特に１５゜付近であることが好
ましい。

【００４１】この撮像装置３により取り込まれた粉粒体
層ｐ１の画像は、検出手段（図示せず）により画像処理
されて異物の検出が行われ、異物が検出された場合に
は、検出信号を上記異物回収手段４に発信するようにな
っている。ここで、この検出手段は、コンピュータを用
いた公知の画像処理装置などを用いて構成することがで
き、公知の方法により画像処理して異物の検出を行うこ
とができる。

【００４２】上記異物回収手段４は、図１に示されてい
るように、検査ドラム１から落下する粉粒体流ｐ２が通
過し得る貫通路４１１と粉粒体流ｐ２を受容する分離回
収升４１２とが並設された分離回収器４１を有してお
り、この分離回収器４１を上記検査ドラム１の下方に移
動可能に配置したものである。この分離回収器４１は、
常時は検査ドラム１から落下する粉粒体流ｐ２が上記貫
通路４１１を通過するように配置されており、上記検出
手段から検出信号が発せられた時に、制御装置（図示せ
ず）によって図１中に矢印で示した水平方向に一旦移動
して粉粒体流ｐ２を上記分離回収升４１２に受容し、異
物を含む所定量の粉粒体ｐ３を上記粉粒体流ｐ２から分
離回収するようになっている。

【００４３】なお、図１中５は上記粉粒体層ｐ１及び粉
粒体流ｐ２を囲うように配設されたカバー体、６は検査
ドラム１の外周面をクリーニングするブラシロール（ク
リーニング装置）、７は検査ドラム１表面に帯電した静
電気を除去する除電ロール（除電装置）である。

【００４４】この粉粒体検査装置は、本発明の検査方法
に従って粉粒体中に混入した金属片、毛髪、汚れた粒
子、その他の異物（これらを、総称して異物という）を
検出して分離除去するものであり、以下のようにして、
検査を行うものである。

【００４５】上記直進フィーダ２２を駆動させて振動ト
ラフ２２１から検査対象である粉粒体ｐを篩過器２１の
ホッパー２１１内に投入し、この粉粒体ｐを篩過器２１
で篩いながら、筒状のシュート２３を通して、所定速度
で回転する上記検査ドラム１の外周面上に連続的に供給
する。このとき、ホッパー２１１に投入された粉粒体ｐ
は、３つの篩２１ａ，２１ｂ，２１ｃにより順次篩われ
て一定量が常時シュート２３内に落下し、かつ偏りなく
均一に検査ドラム１上へと落下する。このとき、大きな
異物は上記篩過器２１を通過する際に粉粒体ｐから除去
される。

【００４６】これにより、図２に示されているように、
検査ドラム１の外周面上に均一厚の粉粒体層ｐ１が形成
される。ここで、この検査ドラム１外周面上に形成され
る粉粒体層ｐ１の厚さは、検査ドラム１の回転速度と粉
粒体ｐの供給量とを調節することにより調整することが
でき、粉粒体層ｐ１内に異物が埋もれてしまうことな
く、異物が確実に粉粒体層ｐ１表面に露出するように、
できるだけ薄くすることが好ましい。この粉粒体層ｐ１
の具体的な厚さは、検査対象である粉粒体ｐの粒径に応
じて適宜設定され、好ましくは粉粒体ｐの平均粒径とほ
ぼ同等の厚さに調整される。例えば、粉粒体ｐの平均粒
径が１００μｍであれば約１００μｍの粉粒体層ｐ１と
することが最適であり、本実施例の装置によれば、上記
篩過器２１の３つの篩２１ａ，２１ｂ，２１ｃによって
篩いながら常に一定量の粉粒体を均一に供給し得るこ
と、及び検査ドラム１の回転速度と粉粒体供給量とを調
整することにより、このような平均粒径とほぼ同一のご
く薄い粉粒体層ｐ１を安定的に形成することが可能であ
る。

【００４７】この検査ドラム１の外周面上に形成された
粉粒体層ｐ１は、図１に示されているように、検査ドラ
ム１の回転により、検査ドラム１の外周面に載置された
状態で該検査ドラム１の頂点付近からほぼ１／４周搬送
された後、連続した粉粒体流ｐ２として検査ドラム１か
ら落下し、上記分離回収器４１の貫通路４１１を通過
し、回収容器（図示せず）等に回収され、又は直接包装
工程などの次工程へと搬送される。

【００４８】このとき、上記検査ドラムの外周面上に載
置された状態で搬送されている粉粒体層ｐ１を上記撮像
装置３のラインセンサカメラ３１で連続的に撮影し、上
記粉粒体層ｐ１の画像を取り込み、得られた画像を上記
検出手段（図示せず）により画像処理して粉粒体中に混
入した異物の検出を行う。その結果、異物が検出された
場合には、該検出手段（図示せず）から検出信号が発信
され、この検出信号に応答して上記分離回収器４１が一
時的に移動して、上記粉粒体流ｐ２からこの異物を含ん
だ所定量の粉粒体ｐ３が分離回収升４１２に分離除去さ
れる。これにより、粉粒体ｐに混入した異物が粉粒体ｐ
から分離除去され、正常の粉粒体のみが回収容器（図示
せず）などに回収され、又は次工程へと搬送される。

【００４９】ここで、上記撮像装置３による画像の取り
込みは、上記照明用光源３２により検査ドラム１上の粉
粒体層ｐ１を照明しながら、該粉粒体層ｐ１の表面を上
記ラインセンサカメラ３１で撮影することにより行われ
るが、このとき粉粒体層ｐ１中に粉粒体と少しでも色調
の異なる異物が存在すると、この異物は取り込んだ画像
中に明度又は輝度の変化として現れ、これを上記検出手
段（図示せず）で画像処理によって検出されるものであ
る。この場合、本発明の検査方法では、検査ドラム１の
外周面上に載置された状態の粉粒体層ｐ１を撮影して、
画像の取り込みが行われるので、従来の検査装置のよう
に自然落下する粉粒体層を撮影する場合に比べて、遥か
に安定した状態の粉粒体層ｐ１に対して画像の取り込み
を行うことができ、安定的な画像を確実に得ることがで
きる。また、この粉粒体層ｐ１が検査ドラム１の外周面
に載置された状態で、厚さ、速度、軌道等に変化が生じ
ることなく安定的に検査領域（撮影位置）に搬送されて
撮影され、常に最良かつ一定の条件下で検査が行われる
ので、検査精度を大幅に向上させることができるもので
ある。

【００５０】また、上述のように、粉粒体層ｐ１を粉粒
体の平均粒径とほぼ同一の非常に薄い層とすることがで
きるので、異物が粉粒体層ｐ１に埋もれてしまうような
ことがなく、異物を確実に検出することができ、非常に
信頼性の高い検査を行うことができる。この場合、粉粒
体層ｐ１をこのように粉粒体の平均粒径と等しいほどに
薄く形成すると、該粉粒体層ｐ１に部分的に粒子が存在
しない欠けた部分が生じ易くなるが、この場合でも、上
述のように検査ドラム１の外周面を検査対象の粉粒体ｐ
と同一の色調とすることにより、このような欠けた部分
を異物と誤認することなく、高精度で信頼性の高い検査
を行うことができるものである。

【００５１】従って、本発明の検査方法によれば、単に
上記検査ドラム１の外周面を検査対象の粉粒体ｐと同一
の色調とすることにより、粉粒体層ｐ１に生じた欠け部
分を異物と誤認することなく、該粉粒体層ｐ１を非常に
薄く形成して高精度の検査を行うことができるものであ
り、上記従来の検査装置のように、透過光の光量を厳格
に設定するような煩雑な設定を要することなく、容易に
高精度な検査を行うことができるものである。

【００５２】更に、本発明の検査方法では、上記検査ド
ラム１上に載置された状態の粉粒体層ｐ１を直接撮像装
置で撮影することにより、画像の取り込みを行うことが
できるので、透明回転円筒を通して撮影を行う上記従来
の検査装置のような高度なクリーニングを要することな
く、検査ドラム表面を上記ブラシロール６を用いて簡易
にクリーニングするだけで、信頼性の高い検査を確実に
行うことができるものである。

【００５３】このように、本実施例の検査装置を用いた
本発明の粉粒体の検査方法によれば、検査条件の設定や
検査機構部に煩雑な機構や設定、調整、メンテナンスな
どを要することなく、比較的簡便な操作や機構によって
高精度な検査を確実に行うことができるものである。

【００５４】なお、本発明の検査方法及び検査装置は、
上記実施例に制限されるものではなく、種々変更するこ
とができる。例えば、上記実施例では、上記粉粒体供給
手段２として、篩過器２１を有し、この篩過器２１で粉
粒体を篩いながら検査ドラム１に粉粒体を供給する機構
を採用したが、粉粒体供給手段２はその他の機構により
粉粒体を供給するものであってもよく、要は一定量の粉
粒体を均一に供給し得るものであればよい。また、異物
回収手段４も上記分離回収器４１を用いたものに限定さ
れるものではなく、従来の装置のように吸引により落下
する粉粒体流ｐ２から異物を吸引除去することもでき、
この場合でも本発明の検査方法及び装置では、粉粒体層
ｐ１が検査ドラム１上に載置された安定的な状態で検査
が行われるため、吸引による気流の乱れに影響されるこ
となく、良好な検査を行うことができるものである。更
に、上記実施例ではラインセンサカメラ３１を用いて画
像の取り込みを行うようにしたが、２次元カメラを用い
て画像の取り込みを行ってもよく、その他の構成につい
ても本発明の要旨を逸脱しない限り、適宜変更して差し
支えない。更に、本発明の検査方法及び検査装置は、医
薬品の原料、半製品、製品などの粉粒体中に混入した異
物を検出して除去するための検査方法及び検査装置とし
て好適に用いられるものであるが、医薬以外にも、食
品、化成品等の原料、半製品、製品など、その他の粉粒
体の検査にも好適に採用されるものである。

【００５５】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の粉粒体の
検査方法及び検査装置によれば、回転する検査ドラムの
外周面上に粉粒体層を載置形成し、この粉粒体層を撮影
して異物の検出を行うようにしたことにより、複雑な機
構や煩雑な条件設定を要することなく、比較的簡便な操
作や機構によって、従来の方法及び装置では達成し得な
かった高精度な検査を行うことができるものである。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例にかかる粉粒体検査装置を示
す概略図である。

【図２】同検査装置を構成する検査ドラムを示す図１の
Ａ−Ａ線に沿った拡大断面図である。

【図３】同検査装置の粉粒体供給手段を構成する篩過器
の一例を示す概略図であり、（Ａ）は断面図、（Ｂ）は
（Ａ）のＢ−Ｂ線に沿って一部を断面とした平面図であ
る。

【図４】同検査装置の粉粒体供給手段を構成する篩過器
の他の例を示す概略図であり、（Ａ）は断面図、（Ｂ）
は（Ａ）のＢ−Ｂ線に沿って一部を断面とした平面図で
ある。

【図５】従来の粉粒体検査装置を示す概略図である。

【符号の説明】

１ 検査ドラム １２ 回転駆動軸（水平軸） ２ 粉粒体供給手段 ２１ 篩過器 ２１ａ，２１ｂ，２１ｃ 篩 ２１１ ホッパー ３ 撮像装置 ３１ ラインセンサカメラ ３２ 照明用光源 ４ 異物回収手段 ６ ブラシロール（クリーニング装置） ７ 除電ロール（除電装置） ｐ 粉粒体 ｐ１ 粉粒体層 ｐ２ 粉粒体流 ｐ３ 異物を含む粉粒体

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 水平軸を中心にして回転する検査ドラム
   の頂点位置又はその近傍における外周面上に粉粒体を連
   続的に供給して、該検査ドラムの外周面上に上記粉粒体
   の均一な薄層を形成し、これを検査ドラムの外周面上に
   載置した状態で該検査ドラムの回転により約１／４周搬
   送した後に連続的に落下させて回収すると共に、上記搬
   送中に検査ドラム上の粉粒体層を撮影して上記粉粒体層
   の画像を取り込み、得られた画像を画像処理して粉粒体
   中に混入した異物を検出し、この異物を含んだ所定量の
   粉粒体を上記検査ドラムから落下する粉粒体流から分離
   除去することを特徴とする粉粒体の検査方法。
2. 【請求項２】 粉粒体を篩い落としながら上記検査ドラ
   ムの外周面上に供給する請求項１記載の粉粒体の検査方
   法。
3. 【請求項３】 上記検査ドラムとして、外周面が検査対
   象の粉粒体と同一の色調を有するものを用いる請求項１
   又は２記載の粉粒体の検査方法。
4. 【請求項４】 上記粉粒体が、医薬の原料、半製品、製
   品である請求項１〜３のいずれか１項に記載の粉粒体の
   検査方法。
5. 【請求項５】 粉粒体中に混入した異物を検出除去する
   ための検査装置であって、水平軸を中心にして回転し、
   外周面に粉粒体を均一な薄層状に載置して頂点位置又は
   その近傍から約１／４周搬送した後、連続的に落下させ
   る検査ドラムと、該検査ドラムの頂点位置又はその近傍
   における外周面上に粉粒体を連続的に供給する粉粒体供
   給手段と、上記検査ドラムの外周面上に載置されて搬送
   される粉粒体層を連続的に撮影し、該粉粒体層の画像を
   取り込む撮像装置と、該撮像装置により取り込まれた画
   像を画像処理して異物を検出する検出手段と、該検出手
   段からの検出信号に応じて、上記検査ドラムから落下す
   る粉粒体流から異物を含む所定量の粉粒体を分離除去す
   る異物回収手段とを具備してなることを特徴とする粉粒
   体検査装置。
6. 【請求項６】 上記粉粒体供給手段が、１又は複数の篩
   を連設した篩過器を具備し、この篩過器を介して粉粒体
   を上記検査ドラムの外周面上に供給するように構成した
   請求項５記載の粉粒体検査装置。
7. 【請求項７】 上記検査ドラムが、検査対象の粉粒体と
   同一色調の外周面を有するものである請求項５又は６記
   載の粉粒体検査装置。
8. 【請求項８】 粉粒体落下位置から粉粒体供給位置まで
   の間に、上記検査ドラム外周面を、クリーニングするク
   リーニング装置及び静電除去する除電装置を備えた請求
   項５〜７のいずれか１項に記載の粉粒体検査装置。