JPH10273100A - 宇宙用供試体の熱真空試験装置 - Google Patents

宇宙用供試体の熱真空試験装置

Info

Publication number
JPH10273100A
JPH10273100A JP9078639A JP7863997A JPH10273100A JP H10273100 A JPH10273100 A JP H10273100A JP 9078639 A JP9078639 A JP 9078639A JP 7863997 A JP7863997 A JP 7863997A JP H10273100 A JPH10273100 A JP H10273100A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
satellite
heater
thermal vacuum
heater panel
vacuum test
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP9078639A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3031281B2 (ja
Inventor
Akihide Kobayashi
明秀 小林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP9078639A priority Critical patent/JP3031281B2/ja
Publication of JPH10273100A publication Critical patent/JPH10273100A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3031281B2 publication Critical patent/JP3031281B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B64AIRCRAFT; AVIATION; COSMONAUTICS
    • B64GCOSMONAUTICS; VEHICLES OR EQUIPMENT THEREFOR
    • B64G7/00Simulating cosmonautic conditions, e.g. for conditioning crews
    • B64G2007/005Space simulation vacuum chambers

Landscapes

  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】ヒータパネルが、衛星の放熱面の放熱妨害にな
ることを防ぐことができる熱真空試験装置を提供する。 【解決手段】ヒータパネル1の数を2枚以下とし、パネ
ルを回転軸6を中心に180°外側に回転させるように
する。これにより、ヒータパネル1が衛星4の放熱面5
の放熱視野の外側になるので、放熱妨害になることを防
ぐ。

Description

【発明の詳細な説明】
【発明の属する技術分野】本発明は、熱真空試験装置に
関し、特に宇宙用供試体の熱真空試験装置に関する。
【0001】
【従来の技術】従来、この種の熱真空試験装置は、例え
ば実開平2−100900号「熱真空試験装置」に示さ
れるものがある。この熱真空試験装置の概要を図4、そ
して断面図を図5に示して説明する。
【0002】図4に示すように、従来の熱真空試験装置
は、試験の供試体である衛星4の外側に、ヒータ3を付
けたヒータパネル1とリフレクタ10を取り付けてい
る。尚、11は真空チャンバシュラウドである。また図
5において、衛星4に取り付けられたヒータパネル1が
図のように開いている状態では、衛星4は低温となって
いる真空チャンバシュラウド11に直接熱輻射により放
熱ができるので、衛星4は低温とすることができる。他
方、ヒータパネル1が90°回転し、ヒータパネル1で
衛星4の外表面を覆っている状態では、ヒータパネル1
の温度をヒータ3にて制御することにより、衛星4へ熱
輻射により熱量が加わり、衛星4の温度を制御すること
が可能であった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来の技術において
は、ヒータパネル全開時でもヒータパネルが衛星の放射
面の放熱視野に入り、放熱妨害となり、放熱が速やかに
行えないという欠点がある。これは図5に示すように、
ヒータパネルが複数となる構成でヒータパネルの開閉を
行っているため、ヒータパネル開でも衛星からヒータパ
ネルが見え、衛星は熱輻射エネルギーを受けるからであ
る。
【0004】更に、従来の技術において、熱真空試験装
置(リフレクタ)が、直線衛星に取り付いているため、
リフレクタから衛星への熱流入があり、熱的評価が十分
行なえない欠点があることである。これは従来の技術に
おいて、熱真空試験装置(リフレクタ)が直接衛星に取
り付けられているため、リフレクタの温度が衛星に伝わ
り、衛星は熱流入を受けるからである。
【0005】本発明の目的は、ヒータパネルを開閉する
ことで熱真空試験の温度を制御する熱真空試験装置にお
いて、熱真空試験装置が試験の供試体である衛星に対し
て熱的影響を与えることなく、熱真空試験を実施できる
宇宙用供試体の熱真空試験装置を提供することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の宇宙用供試体の
熱真空試験装置は、従来の3枚以上多数あったヒータパ
ネルを2枚とし、かつ、パネル回転軸を衛星に直接取り
付けない試験構体を有することを特徴とする。
【0007】本発明においては、ヒータパネルを衛星の
放熱面に熱輻射的に結合しないように回転させる。この
ため、衛星はヒータパネルより熱輻射による熱流入を受
けない。
【0008】更に、熱真空試験装置の試験構体を衛星に
直接取り付けず、試験構体を真空チャンバ取付台に取り
付ける。このため、衛星は熱真空試験装置より熱伝導に
よる熱流入及び流出を受けない。
【0009】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。発明の実施の形態図
1を参照すると、本発明の実施の形態は、熱伝導の良い
パネルにヒータ3を貼り付け、かつ、熱放射率の高い材
料で塗装してヒータパネル1を構成し、これを熱真空試
験装置の構体である試験構体2に取り付ける。更に、こ
の試験構体2をこれに取り付けた試験構体取付足7で真
空チャンバ取付台9に取り付けた状態とする。またヒー
タパネル1は、ヒータパネル1を回転させるためのパネ
ル回転6を介して試験構体2に取り付けてある。
【0010】図1の実施の形態において、ヒータパネル
1の数はなるべく少ないほうが望ましく、本例では2枚
としている。更に、ヒータパネル1は、なるべく衛星の
放熱面5を遮らない角度まで拡げるよう回転させる。ま
た試験構体2と衛星4は、直接取り付けないか又は、断
熱して取り付けることが望ましい。
【0011】次に、本発明の実施の形態の動作につい
て、図2を参照して詳細に説明する。図で(a)は、試
験供試体である衛星4を熱真空試験において冷却してい
る状態、すなわち、ヒータパネル1が開いている状態で
ある。(b)は衛星4を熱真空試験において温度制御し
ている状態、すなわち、ヒータパネル1が閉じている状
態である。
【0012】まず、(b)において、ヒータパネル1を
温度制御し、ヒータパネル1に対向する衛星の放熱面5
に熱量を流入及び流出して、衛星4全体の温度制御を行
う。次に、衛星4を冷却する試験に移行する場合は、ヒ
ータパネル1を回転させて、衛星の放熱面5から真空チ
ャンバシュラウド11へ直接放熱することにより冷却効
果が速くなる。本発明においては、ヒータパネル1が完
全に衛星の放熱面の視野の外になるので、熱真空試験で
の試験装置による放熱妨害がなくなるため、試験での熱
的評価の精度が向上する。
【0013】次に、本発明の実施例について図面を参照
して詳細に説明する。本発明の実施例は、図1で、図中
の上・下に放熱面5をもつ試験の供試体である衛星4の
熱真空試験の例である。衛星4の温度は、放熱面5への
熱の流入及び流出によって制御される。本発明の熱真空
試験装置は、アルミ板にシートヒータ3を貼り付け、か
つ、高熱放射率の黒色塗装を施した4枚のヒータパネル
1と、そのヒータパネルを180°回転させる4本のパ
ネル回転軸6とヒータパネルを支える熱真空試験装置の
4枚パネルから成る構体2及びその構体を支える4本の
試験構体取付足から成る。ただし、シートヒータ3は、
外部より電流を調整することによって任意の発熱をし、
ヒータパネル1の温度制御を行うためのものである。パ
ネル回転軸6は、外部より制御を行うことにより軸方向
に0〜180°任意に回転ができ、任意な角度でストッ
プでき、かつ、ホールドできる。
【0014】次に、本発明の実施例の動作について、図
2の(a),(b)を参照して詳細に説明する。(b)
のヒータパネル1が閉の状態では、ヒータパネル1の温
度をシートヒータ3にて制御することによって、ヒータ
パネル1から放熱面5への熱輻射量を調整して、放熱面
5への熱量の流入、流出を行い、衛星4の温度制御を行
う。次に、衛星4の温度を低温にしたい場合、(b)の
場合では、放熱面5に対向するヒータパネル1が放熱妨
害となり、放熱面5が冷却できない。そのため、(a)
のようにヒータパネル1をパネル回転軸6によって外側
に180°回転させ、放熱面5が低温である真空チャン
バシュラウド11を見えるようにして、放熱面5からシ
ュラウド11へ熱輻射によって速く放熱することができ
る。この状態では、放熱面5の放熱視野に熱真空試験装
置がないため、放熱妨害にならず、かつ、熱的評価の精
度が向上する。
【0015】次に、本発明の第2の実施の形態について
図3を参照して説明する。図で、(a)は、ヒータパネ
ル1が展開前の状態であり、(b)は、ヒータパネル1
が展開後の状態である。ヒータパネル1は、(a)から
(b)図のように回転軸6に対して、180°回転する
ことによって、放熱面5の放熱視野から外れることがで
きる。
【0016】
【発明の効果】本発明の第1の効果は、熱真空試験装置
が衛星の放熱面の放熱妨害にならないということであ
る。これにより、速やかに衛星は冷却される。その理由
は、熱真空試験装置のヒータパネルが放熱面の放熱視野
から完全に外れるからである。
【0017】第2の効果は、熱真空試験装置からの熱伝
導による衛星への熱流入がなくなることである。これに
より、試験での余分な熱流入がなくなり、衛星の熱的評
価が向上する。その理由は、熱真空試験装置が衛星に直
接取り付いていないからである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態を示す斜視図である。
【図2】図1をA−A線で切断したときの断面図であ
る。
【図3】本発明の他の実施の形態を示す図である。
【図4】従来の熱真空試験装置を示す斜視図である。
【図5】図4をA−A線で切断したときの断面図であ
る。
【符号の説明】
1 ヒータパネル 2 試験構体 3 ヒータ 4 衛星 5 衛星の放熱面 6 パネル回転軸 7 試験構体取付足 8 衛星取付足 9 真空チャンバ取付台 10 リフレクタ 11 真空チャンバシュラウド

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ヒータパネルを使用した熱真空試験装置
    において、ヒータパネルの数を放射面に対して2枚以下
    とし、このヒータパネルが放射面を遮ない所まで開くこ
    とを特徴とする宇宙用供試体の熱真空試験装置。
  2. 【請求項2】 宇宙用供試体を熱的に実質的に遮断して
    収容する試験構体と、試験構体に取り付けられた回転可
    能なヒータパネルとを具備し、前記ヒータパネルを収容
    された宇宙用供試体に対して熱輻射を遮ない範囲まで開
    けることを特徴とする宇宙用供試体の熱真空試験装置。
  3. 【請求項3】 前記ヒータパネルがアルミニウム材で構
    成され、黒く塗装されていることを特徴とする請求項2
    の宇宙用供試体の熱真空試験装置。
  4. 【請求項4】 前記ヒータパネルのヒータがシート状で
    あることを特徴とする請求項3の宇宙用供試体の熱真空
    試験装置。
  5. 【請求項5】 ヒータパネルの数を2枚以下とすること
    を特徴とする請求項2の宇宙用供試体の熱真空試験装
    置。
JP9078639A 1997-03-28 1997-03-28 宇宙用供試体の熱真空試験装置 Expired - Lifetime JP3031281B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9078639A JP3031281B2 (ja) 1997-03-28 1997-03-28 宇宙用供試体の熱真空試験装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9078639A JP3031281B2 (ja) 1997-03-28 1997-03-28 宇宙用供試体の熱真空試験装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH10273100A true JPH10273100A (ja) 1998-10-13
JP3031281B2 JP3031281B2 (ja) 2000-04-10

Family

ID=13667447

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9078639A Expired - Lifetime JP3031281B2 (ja) 1997-03-28 1997-03-28 宇宙用供試体の熱真空試験装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3031281B2 (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100943879B1 (ko) * 2009-07-14 2010-02-24 (주)쎄트렉아이 열진공 시험상의 온도 보정 장치 및 그 보정 방법
CN102180272A (zh) * 2011-04-14 2011-09-14 北京航空航天大学 宇航用元器件热环境适应性评价方法
US10421543B2 (en) 2014-09-05 2019-09-24 SZ DJI Technology Co., Ltd. Context-based flight mode selection
CN111232254A (zh) * 2020-01-09 2020-06-05 北京卫星环境工程研究所 高精度动态可控的温度模拟装置
CN112357133A (zh) * 2020-11-18 2021-02-12 北京卫星环境工程研究所 一种用于大型空间结构热致动态响应特性的试验系统
CN116840286A (zh) * 2023-03-28 2023-10-03 北京空间飞行器总体设计部 一种配置可展开式辐射器的卫星等效热平衡试验方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100943879B1 (ko) * 2009-07-14 2010-02-24 (주)쎄트렉아이 열진공 시험상의 온도 보정 장치 및 그 보정 방법
CN102180272A (zh) * 2011-04-14 2011-09-14 北京航空航天大学 宇航用元器件热环境适应性评价方法
US10421543B2 (en) 2014-09-05 2019-09-24 SZ DJI Technology Co., Ltd. Context-based flight mode selection
CN111232254A (zh) * 2020-01-09 2020-06-05 北京卫星环境工程研究所 高精度动态可控的温度模拟装置
CN112357133A (zh) * 2020-11-18 2021-02-12 北京卫星环境工程研究所 一种用于大型空间结构热致动态响应特性的试验系统
CN116840286A (zh) * 2023-03-28 2023-10-03 北京空间飞行器总体设计部 一种配置可展开式辐射器的卫星等效热平衡试验方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP3031281B2 (ja) 2000-04-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3031281B2 (ja) 宇宙用供試体の熱真空試験装置
CN107782717A (zh) 固体材料高温方向光谱发射率测量装置及其应用
US5716030A (en) Aperture door and calibration source for spacecraft remote sensing devices
CN106742077A (zh) 一种虹膜光圈构件及其虹膜光圈式的热控机构
PL173752B1 (pl) Termostatyczny regulator przepływu powietrza
CN111384580A (zh) 一种相控阵天线阵列安装座架
JP4673669B2 (ja) 冷熱衝撃試験装置
JP2634085B2 (ja) 人工衛星
CN217133366U (zh) 一种相控阵气象雷达
CN216350272U (zh) 基于能量法的材料辐射性能测量装置
JPH05294128A (ja) 自動車の車内温度調節用調節装置
CN210421229U (zh) 降噪发动机舱和挖掘机
CN212903566U (zh) 热成像均温组件及具有热成像均温组件的热成像设备
JP2005214972A (ja) ガスクロマトグラフオーブンのためのオーブン用内開き式インテーク
CN113431463A (zh) 一种玻璃幕墙温度感应器
CN223870500U (zh) 一种老化试验机
JP2001315700A (ja) 宇宙飛行体の熱制御装置
CN211975709U (zh) 硅油离合器及具有其的散热风扇总成和发动机
RU2547901C1 (ru) Устройство для определения степени черноты поверхности материалов
JP2000088334A (ja) 排熱装置
JP2559203B2 (ja) 氷蓄熱槽を有する輻射式冷房装置
JP3064409U (ja) 耐候光試験機
JPH0228454Y2 (ja)
JP2570115Y2 (ja) スイッチギヤ放熱装置
JPH1054742A (ja) 流量メータ

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20000111