JPH10274675A - 放射線検出器 - Google Patents
放射線検出器Info
- Publication number
- JPH10274675A JPH10274675A JP8110297A JP8110297A JPH10274675A JP H10274675 A JPH10274675 A JP H10274675A JP 8110297 A JP8110297 A JP 8110297A JP 8110297 A JP8110297 A JP 8110297A JP H10274675 A JPH10274675 A JP H10274675A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- photoelectric conversion
- afterglow
- radiation detector
- radiation
- Prior art date
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- Pending
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- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 簡単な構成でアフターグローを阻止し、十分
な分解能を得ることができる放射線検出器を提供する。 【解決手段】 上方から放射線が照射されると、蛍光素
子1で放射線が光に変換され、この光が次のフィルター
2を通して、光電変換素子3に入力される。フィルター
2は、アフターグローを引き起こす光の波長の部分を減
衰させる特性をもっているので、アフターグローによる
影響をなくすことができる。
な分解能を得ることができる放射線検出器を提供する。 【解決手段】 上方から放射線が照射されると、蛍光素
子1で放射線が光に変換され、この光が次のフィルター
2を通して、光電変換素子3に入力される。フィルター
2は、アフターグローを引き起こす光の波長の部分を減
衰させる特性をもっているので、アフターグローによる
影響をなくすことができる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、デジタルX線撮像
装置やX線CT装置等に用いられる放射線検出器に関す
る。
装置やX線CT装置等に用いられる放射線検出器に関す
る。
【0002】
【従来の技術】例えば、デジタルX線撮像装置やX線C
T装置等に用いられる放射線検出器は蛍光素子と光電変
換素子を組み合わせたものが広く使用されている。
T装置等に用いられる放射線検出器は蛍光素子と光電変
換素子を組み合わせたものが広く使用されている。
【0003】図5に示すように蛍光素子11の下に光電
変換素子12が配置されており、光電変換素子12はチ
ャネルや画素に対応して信号が取り出せるように内部で
さらに分割して配列され、この分割配列された素子に対
応した出力端子13が設けられている。
変換素子12が配置されており、光電変換素子12はチ
ャネルや画素に対応して信号が取り出せるように内部で
さらに分割して配列され、この分割配列された素子に対
応した出力端子13が設けられている。
【0004】また、図示はしていないが、チャネルや画
素に対応して信号を取り出すために蛍光素子11に溝を
形成して短冊状に分割し、この溝に放射線を遮蔽する遮
蔽プレートを挿入して複数チャネルを形成したものも用
いられている。
素に対応して信号を取り出すために蛍光素子11に溝を
形成して短冊状に分割し、この溝に放射線を遮蔽する遮
蔽プレートを挿入して複数チャネルを形成したものも用
いられている。
【0005】このような放射線検出器においては、放射
線が上方から蛍光素子11に入射すると、蛍光素子11
で放射線が光に変換され、この光が光電変換素子12で
電気信号に変換されて放射線を検出している。
線が上方から蛍光素子11に入射すると、蛍光素子11
で放射線が光に変換され、この光が光電変換素子12で
電気信号に変換されて放射線を検出している。
【0006】ところで、蛍光素子には照射される放射線
量が少なくなったり、照射がされなくなった後は、すぐ
に放射線量に対応して、蛍光量が減少したり、蛍光が停
止しなければならないのであるが、即時には蛍光出力が
小さくならずその前の出力がしばらく残ってしまうアフ
ターグローという現象が発生している。
量が少なくなったり、照射がされなくなった後は、すぐ
に放射線量に対応して、蛍光量が減少したり、蛍光が停
止しなければならないのであるが、即時には蛍光出力が
小さくならずその前の出力がしばらく残ってしまうアフ
ターグローという現象が発生している。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】アフターグローが存在
すると放射線検出器で検出した信号に基づいて画像を再
構成したときに十分な分解能が得られない。そこで、こ
のアフターグローによる影響をソフトにて補正する方法
もあるが、煩雑な計算を必要とし、そのための計算機等
のハードウェアが別途必要となり、構成や計算方法が非
常に複雑になるという問題があった。
すると放射線検出器で検出した信号に基づいて画像を再
構成したときに十分な分解能が得られない。そこで、こ
のアフターグローによる影響をソフトにて補正する方法
もあるが、煩雑な計算を必要とし、そのための計算機等
のハードウェアが別途必要となり、構成や計算方法が非
常に複雑になるという問題があった。
【0008】本発明は、上記課題を解決するために創案
されたもので、簡単な構成でアフターグローを阻止し、
十分な分解能を得ることができる放射線検出器を提供す
るものである。
されたもので、簡単な構成でアフターグローを阻止し、
十分な分解能を得ることができる放射線検出器を提供す
るものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の放射線検出器は、入射した放射線を光に変
換する蛍光素子と、この光を電気信号に変換する光電変
換素子とからなる放射線検出器において、前記蛍光素子
で発生するアフターグローによる光出力の波長に対して
透過を阻止するようなフィルターを前記蛍光素子と光電
変換素子との間に配置したことを特徴としている。
に、本発明の放射線検出器は、入射した放射線を光に変
換する蛍光素子と、この光を電気信号に変換する光電変
換素子とからなる放射線検出器において、前記蛍光素子
で発生するアフターグローによる光出力の波長に対して
透過を阻止するようなフィルターを前記蛍光素子と光電
変換素子との間に配置したことを特徴としている。
【0010】
【発明の実施の形態】本発明の一実施例を、以下、図面
に基づいて説明する。
に基づいて説明する。
【0011】図1は本発明による放射線検出器の構成
を、図2は蛍光素子が発する光の波長分布、図3フィル
ターの特性を、図4はフィルターを通した後の光の波長
分布を示す。
を、図2は蛍光素子が発する光の波長分布、図3フィル
ターの特性を、図4はフィルターを通した後の光の波長
分布を示す。
【0012】1はシンチレータ等からなる蛍光素子、2
はフィルター、3はフォトダイオード等の光電変換素子
である。光電変換素子3の内部は複数チャネルや画素に
対応して信号を取り出すために複数の素子にさらに分割
されて、1次元状または、2次元状に配列されており、
この各分割された素子から独立して信号を取り出すため
に出力端子4が設けられている。
はフィルター、3はフォトダイオード等の光電変換素子
である。光電変換素子3の内部は複数チャネルや画素に
対応して信号を取り出すために複数の素子にさらに分割
されて、1次元状または、2次元状に配列されており、
この各分割された素子から独立して信号を取り出すため
に出力端子4が設けられている。
【0013】また、フィルター2は蛍光素子1と光電変
換素子3との間に形成されている。上方から放射線が照
射されると、蛍光素子1で放射線が光に変換され、この
光が次のフィルター2を通して、光電変換素子3に入力
され、光電変換素子3ではこの光を電気信号に変換し、
出力端子4から配線を通して画像処理装置等へ送られ
る。
換素子3との間に形成されている。上方から放射線が照
射されると、蛍光素子1で放射線が光に変換され、この
光が次のフィルター2を通して、光電変換素子3に入力
され、光電変換素子3ではこの光を電気信号に変換し、
出力端子4から配線を通して画像処理装置等へ送られ
る。
【0014】図2は蛍光素子1の蛍光スペクトルを示し
たもので、横軸は波長を、縦軸は出力の大きさを示して
いるが、この図からわかるように蛍光素子1が発する光
は単色光でない場合が多く、一定の範囲に散らばって分
布するようになる。
たもので、横軸は波長を、縦軸は出力の大きさを示して
いるが、この図からわかるように蛍光素子1が発する光
は単色光でない場合が多く、一定の範囲に散らばって分
布するようになる。
【0015】この波長の短い成分は検出信号として用い
られる部分であるが、図示しているように波長の長い部
分はアフターグローを引き起こす光の成分である。
られる部分であるが、図示しているように波長の長い部
分はアフターグローを引き起こす光の成分である。
【0016】そこで、図3で示すように、このアフター
グローを引き起こす光の長波長の部分を減衰させ、検出
信号として用いられる短波長の部分を透過させるような
特性を持つフィルター2を用いる。
グローを引き起こす光の長波長の部分を減衰させ、検出
信号として用いられる短波長の部分を透過させるような
特性を持つフィルター2を用いる。
【0017】図3の特性を持つフィルター2を用いたと
きの光電変換素子3に到達する蛍光出力のスペクトルは
図4に示すようになる。検出信号(測定信号)として用
いられる短波長の部分は出力として現れているが、アフ
ターグローに関する成分はほぼ0となっており、アフタ
ーグローによる影響をなくすことができる。
きの光電変換素子3に到達する蛍光出力のスペクトルは
図4に示すようになる。検出信号(測定信号)として用
いられる短波長の部分は出力として現れているが、アフ
ターグローに関する成分はほぼ0となっており、アフタ
ーグローによる影響をなくすことができる。
【0018】上記の実施例では、蛍光素子1と光電変換
素子3との間にフィルター2を設けているが、光電変換
素子3上に干渉膜の形でフィルターを形成することもで
きる。
素子3との間にフィルター2を設けているが、光電変換
素子3上に干渉膜の形でフィルターを形成することもで
きる。
【0019】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
蛍光素子と光電変換素子との間にアフターグローにより
発生する光の波長成分を透過させないフィルターを設け
ているので、測定信号は問題なく検出することができる
とともに、アフターグローによる影響をなくすことがで
き、十分な分解能を得ることができる。
蛍光素子と光電変換素子との間にアフターグローにより
発生する光の波長成分を透過させないフィルターを設け
ているので、測定信号は問題なく検出することができる
とともに、アフターグローによる影響をなくすことがで
き、十分な分解能を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の放射線検出器の構成を示す図である。
【図2】蛍光素子の発光スペクトルを示す図である。
【図3】本発明の放射線検出器のフィルターの特性を示
す図である。
す図である。
【図4】フィルター通過後の発光スペクトルを示す図で
ある。
ある。
【図5】従来の放射線検出器の構成を示す図である。
Claims (1)
- 【請求項1】 入射した放射線を光に変換する蛍光素子
と、この光を電気信号に変換する光電変換素子とからな
る放射線検出器において、前記蛍光素子で発生するアフ
ターグローによる光出力の波長に対して透過を阻止する
フィルターを前記蛍光素子と光電変換素子との間に配置
したことを特徴とする放射線検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8110297A JPH10274675A (ja) | 1997-03-31 | 1997-03-31 | 放射線検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8110297A JPH10274675A (ja) | 1997-03-31 | 1997-03-31 | 放射線検出器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10274675A true JPH10274675A (ja) | 1998-10-13 |
Family
ID=13737031
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8110297A Pending JPH10274675A (ja) | 1997-03-31 | 1997-03-31 | 放射線検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10274675A (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000063642A1 (en) * | 1999-04-16 | 2000-10-26 | General Electric Company | Transient thermography measurement of a metal layer thickness |
| US6367968B1 (en) | 1999-07-21 | 2002-04-09 | General Electric Company | Thermal resonance imaging method |
| US6367969B1 (en) | 1999-07-21 | 2002-04-09 | General Electric Company | Synthetic reference thermal imaging method |
| US7409313B2 (en) | 2005-12-16 | 2008-08-05 | General Electric Company | Method and apparatus for nondestructive evaluation of insulative coating |
| US7679064B2 (en) | 2004-04-15 | 2010-03-16 | Japan Atomic Energy Research Institute | Particle detector and neutron detector that use zinc sulfide phosphors |
| CN111081728A (zh) * | 2019-12-25 | 2020-04-28 | 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 | X射线平板探测器及制备方法 |
| JP2022184055A (ja) * | 2021-05-31 | 2022-12-13 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線検出器及び放射線検出装置 |
| WO2023233768A1 (ja) | 2022-05-31 | 2023-12-07 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線検出器及び放射線検出装置 |
-
1997
- 1997-03-31 JP JP8110297A patent/JPH10274675A/ja active Pending
Cited By (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CZ302194B6 (cs) * | 1999-04-16 | 2010-12-08 | General Electric Company | Zpusob infracervené tranzientní termografie pro urcování tlouštky predmetu a zarízení k jeho realizaci |
| US6394646B1 (en) | 1999-04-16 | 2002-05-28 | General Electric Company | Method and apparatus for quantitative nondestructive evaluation of metal airfoils using high resolution transient thermography |
| WO2000063642A1 (en) * | 1999-04-16 | 2000-10-26 | General Electric Company | Transient thermography measurement of a metal layer thickness |
| US6367969B1 (en) | 1999-07-21 | 2002-04-09 | General Electric Company | Synthetic reference thermal imaging method |
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| CN111081728B (zh) * | 2019-12-25 | 2023-08-11 | 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 | X射线平板探测器及制备方法 |
| CN111081728A (zh) * | 2019-12-25 | 2020-04-28 | 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 | X射线平板探测器及制备方法 |
| US12153172B2 (en) | 2021-05-31 | 2024-11-26 | Hamamatsu Photonics K.K. | Radiation detector and radiation detection device |
| JP2022184055A (ja) * | 2021-05-31 | 2022-12-13 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線検出器及び放射線検出装置 |
| WO2023233768A1 (ja) | 2022-05-31 | 2023-12-07 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線検出器及び放射線検出装置 |
| JP2023176239A (ja) * | 2022-05-31 | 2023-12-13 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線検出器及び放射線検出装置 |
| KR20250018471A (ko) | 2022-05-31 | 2025-02-06 | 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤 | 방사선 검출기 및 방사선 검출 장치 |
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