JPH10276080A - Semiconductor device - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は半導体装置に関し、
詳しくは半導体装置に用いられた同期回路の配置配線
(レイアウト)に関する。The present invention relates to a semiconductor device,
More specifically, the present invention relates to a layout and wiring (layout) of a synchronous circuit used in a semiconductor device.
【0002】[0002]
【従来の技術】CMOSやBi−CMOS等のロジック
回路を有する半導体装置では、図3に回路図例を示すシ
フトレジスタ回路や図示しない同期カウンタ回路等、複
数のフリップフロップ回路(以下「FF回路」と略す)
を有する回路に共通のクロック信号を供給することによ
り、複数のFF回路が略同一のタイミングで動作するよ
うにした同期回路を用いることが多い。2. Description of the Related Art In a semiconductor device having a logic circuit such as CMOS or Bi-CMOS, a plurality of flip-flop circuits (hereinafter referred to as "FF circuits") such as a shift register circuit whose circuit diagram is shown in FIG. Abbreviated)
In many cases, a synchronous circuit is used in which a plurality of FF circuits operate at substantially the same timing by supplying a common clock signal to a circuit having the same.
【0003】図3のシフトレジスタ回路300について
説明する。尚、以下の説明においては、FF回路のクロ
ック入力をC入力、データ入力をD入力、非反転出力を
Q出力、反転出力をQB出力と称して説明する。シフト
レジスタ回路300は、入力にクロック信号となるCI
N信号が接続されCK信号を出力するバッファ回路10
と、クロック信号CKが各FF回路のC入力に共通に接
続されたD型のFF回路11乃至14と、から構成され
ている。そして、データ入力DAがFF回路11のD入
力に入力され、そのQ出力がFF回路12のD入力に入
力され、そのQ出力がFF回路13のD入力に入力さ
れ、そのQ出力がFF回路14のD入力に入力されてい
る。The shift register circuit 300 shown in FIG. 3 will be described. In the following description, the clock input of the FF circuit is referred to as C input, the data input is referred to as D input, the non-inverted output is referred to as Q output, and the inverted output is referred to as QB output. The shift register circuit 300 has a clock signal CI
Buffer circuit 10 connected to N signal and outputting CK signal
And D-type FF circuits 11 to 14 to which a clock signal CK is commonly connected to the C input of each FF circuit. The data input DA is input to the D input of the FF circuit 11, the Q output is input to the D input of the FF circuit 12, the Q output is input to the D input of the FF circuit 13, and the Q output is input to the FF circuit 13. 14 D inputs.
【0004】このような構成により、クロック信号CK
の立ち上がりエッジが入力される毎に、各FF回路のデ
ータが前段側のFF回路から後段側のFF回路へと送ら
れるようになっている。また、このシフトレジスタ回路
を半導体装置内に形成する場合、これまでは、各FF回
路を構成するゲート回路の動作があまり速くなかったの
で、図4に示すように回路図と略同じ配置で配置配線す
れば良かった。即ち、バッファ回路10の出力に共通接
続されるFF回路等の負荷が多すぎてクロック信号が遅
延しすぎることにより、シフトレジスタ回路のデータシ
フト動作が図示しない他の回路の動作よりも極端に遅く
なることがないようにすれば良かった。With such a configuration, the clock signal CK
Each time a rising edge of the data is input, the data of each FF circuit is sent from the preceding FF circuit to the following FF circuit. Further, when this shift register circuit is formed in a semiconductor device, the operation of the gate circuits constituting each FF circuit has not been so fast so far. Therefore, as shown in FIG. It should have been wired. That is, since the load of the FF circuit or the like commonly connected to the output of the buffer circuit 10 is too large and the clock signal is too delayed, the data shift operation of the shift register circuit is extremely slower than the operation of other circuits not shown. It would have been better not to be.
【0005】ところが、最近のサブミクロンといわれる
ような微細プロセスを用いた半導体装置では、FF回路
を構成するゲート回路の動作が高速化するとともに配線
抵抗が増加しているので、クロック信号の波形と各FF
回路の入力スレッショルド電圧との関係によっては、前
段側のFF回路のクロック信号よりも後段側のFF回路
のクロック信号の方が遅れて入力されてしまうことがあ
る。このような場合、前段側のFF回路の変化後のデー
タを後段側のFF回路が先んじて取り込むことにより誤
ったデータを取り込んでしまい、このデータを用いる他
の回路で誤動作してしまうことがある。そこで、このよ
うな誤動作が起き難くするために、図4に示す回路対応
やクロック配線をツリー構成にする対応等が行われてい
た。However, in recent semiconductor devices using a fine process called a submicron, the operation of the gate circuit constituting the FF circuit has been accelerated and the wiring resistance has been increased. Each FF
Depending on the relationship with the input threshold voltage of the circuit, the clock signal of the subsequent FF circuit may be input later than the clock signal of the preceding FF circuit. In such a case, erroneous data is fetched by the FF circuit of the preceding stage fetching the data after the change of the FF circuit of the preceding stage first, and the other circuit using this data may malfunction. . Therefore, in order to make such a malfunction unlikely to occur, the circuit shown in FIG. 4 and the clock wiring are arranged in a tree structure have been implemented.
【0006】図5のシフトレジスタ回路500について
説明する。この回路では、クロック信号がFF回路の後
段側から前段側へ順に入力されるようにするために、遅
延素子として複数のバッファ回路を用いるようになって
いる。即ち、バッファ回路10aの出力をFF回路14
のC入力及びバッファ回路10bに入力し、バッファ回
路10bの出力をFF回路13のC入力及びバッファ回
路10cに入力し、バッファ回路10cの出力をFF回
路12のC入力及びバッファ回路10dに入力し、バッ
ファ回路10dの出力をFF回路11のC入力に入力す
るようになっている。このようにすることにより、各バ
ッファ回路の所定の伝達遅延を用いて後段側のFF回路
のクロック信号の方が先に伝達されるようになり、前述
のような誤動作が発生しなくなる。The shift register circuit 500 shown in FIG. 5 will be described. In this circuit, a plurality of buffer circuits are used as delay elements so that a clock signal is sequentially input from the rear stage to the front stage of the FF circuit. That is, the output of the buffer circuit 10a is
Of the buffer circuit 10b, the output of the buffer circuit 10b is input to the C input of the FF circuit 13 and the buffer circuit 10c, and the output of the buffer circuit 10c is input to the C input of the FF circuit 12 and the buffer circuit 10d. , The output of the buffer circuit 10d is input to the C input of the FF circuit 11. By doing so, the clock signal of the FF circuit in the subsequent stage is transmitted earlier using the predetermined transmission delay of each buffer circuit, and the malfunction as described above does not occur.
【0007】[0007]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図4に
示した回路的対応は、各FF回路毎に遅延素子としての
バッファ回路を用いるようにしているので、同期回路を
構成するFF回路が多くなるにつれてバッファ回路も多
く必要になってしまい、回路規模が増大するようにな
る。また、多数のバッファ回路による遅延時間が累積さ
れることによる同期回路のクロックスキューの増大によ
り、他の回路よりも同期回路の動作が遅れてしまうこと
による誤動作を招いてしまう可能性があった。However, in the circuit configuration shown in FIG. 4, since a buffer circuit as a delay element is used for each FF circuit, the number of FF circuits constituting a synchronous circuit increases. As a result, more buffer circuits are required, and the circuit scale increases. In addition, an increase in clock skew of the synchronous circuit due to accumulation of delay times by a large number of buffer circuits may cause a malfunction due to a delay in operation of the synchronous circuit compared to other circuits.
【0008】また、クロック配線をツリー構成にする対
応は、バッファ回路が増大してしまうとともに確実性に
乏しかった。そこで本発明は、回路構成及び回路規模を
大幅に変更することなく、クロックスキューの増加を容
易に抑えられる同期回路を容易に提供できるようにする
ことにより、誤動作のない信頼性の高い半導体装置を容
易に提供できるようにすることを目的とする。[0008] In addition, the provision of a tree structure for clock wiring has been accompanied by an increase in the number of buffer circuits and a lack of reliability. Therefore, the present invention provides a highly reliable semiconductor device free from malfunction by making it possible to easily provide a synchronous circuit capable of easily suppressing an increase in clock skew without significantly changing the circuit configuration and circuit scale. It is intended to be easily provided.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】上述の問題を解決するた
めに、請求項1の記載に係わる半導体装置は、クロック
入力に共通接続されたクロック信号に応じて前段側のロ
ジック回路から後段側のロジック回路へとデータが順次
伝達される同期回路と、複数のロジック回路のクロック
入力に前記クロック信号を供給するためのバッファ回路
とを有する半導体装置において、バッファ回路の出力配
線は、ロジック回路の後段側よりも前段側の方がクロッ
ク信号の遅延が大きくなるようにレイアウトされてクロ
ック入力に接続されていることを特徴とする。また、請
求項2の記載に係わる半導体装置は、請求項1に記載の
ものにおいて、出力配線は、ロジック回路のクロック入
力に接続される毎にロジック回路の一辺側から他辺側へ
ロジック回路の並びを横断しながら次段のロジック回路
のクロック入力に接続されるようにレイアウトされてい
ることを特徴とする。また、請求項3の記載に係わる半
導体装置は、請求項1及び請求項2の記載に係わるもの
において、ロジック回路はフリップフロップ回路により
構成され、バッファ回路は複数のフリップフロップ回路
を有する回路並びの後段側に配置され、出力配線が複数
の前記フリップフロップ回路の後段側から前段側のクロ
ック入力へ略一筆書きできるように配線され、クロック
信号がフリップフロップ回路の後段側から前段側へ順次
伝達されるようになっていることを特徴とする。According to a first aspect of the present invention, there is provided a semiconductor device according to the first aspect of the present invention, wherein a logic circuit of a preceding stage is shifted from a logic circuit of a preceding stage in response to a clock signal commonly connected to a clock input. In a semiconductor device having a synchronous circuit in which data is sequentially transmitted to a logic circuit and a buffer circuit for supplying the clock signal to a clock input of a plurality of logic circuits, an output wiring of the buffer circuit is provided at a stage subsequent to the logic circuit. It is characterized in that it is laid out such that the delay of the clock signal is greater on the front stage side than on the side and is connected to the clock input. According to a second aspect of the present invention, in the semiconductor device according to the first aspect, each time the output wiring is connected to the clock input of the logic circuit, the output wiring is connected from one side of the logic circuit to the other side. It is characterized in that it is laid out so as to be connected to the clock input of the next stage logic circuit while traversing the arrangement. According to a third aspect of the present invention, in the semiconductor device according to the first or second aspect, the logic circuit is configured by a flip-flop circuit, and the buffer circuit is a circuit array having a plurality of flip-flop circuits. The output wiring is arranged so as to be able to write approximately one stroke from the rear side of the plurality of flip-flop circuits to the clock input of the front side, and the clock signal is sequentially transmitted from the rear side to the front side of the flip-flop circuit. It is characterized in that it is.
【0010】このような構成により、請求項1乃至請求
項3に記載の半導体装置は、配線抵抗と配線の寄生容量
による分布遅延により、バッファ回路から遠ざかるにつ
れて遅延が大きくなるようになり、各FF回路のC入力
に後段側から先に順次クロック信号が入力されるように
なる。With such a configuration, in the semiconductor device according to any one of the first to third aspects, the delay increases as the distance from the buffer circuit increases due to the distribution delay due to the wiring resistance and the parasitic capacitance of the wiring. The clock signal is sequentially input to the C input of the circuit from the latter stage first.
【0011】[0011]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図1及
び図2を参照しながら詳細に説明する。尚、本明細書で
は全図面を通して同一または同様の回路要素には同一の
符号を付して説明を簡略化するようにしている。図1は
本発明の実施形態を示し、同期回路の回路例として図3
の従来例で示したシフトレジスタ回路をそのレイアウト
に沿った回路図として示している。図1のシフトレジス
タ回路100は、入力にクロック信号となるCIN信号
が接続され出力からCK信号を出力する複数のインバー
タ回路からなるバッファ回路10と、バッファ回路10
の出力(CK)が各FF回路のC入力に共通接続された
D型のFF回路31乃至34とから構成されている。そ
して、データ入力DAがFF回路31のD入力に接続さ
れ、そのQ出力(Q1)がFF回路32のD入力に接続
され、そのQ出力(Q2)がFF回路33のD入力に接
続され、そのQ出力(Q3)がFF回路34のD入力に
接続されているとともに、各FF回路のQ出力(Q1乃
至Q4)は図示しない他のロジック回路に接続されてい
る。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below in detail with reference to FIGS. In the present specification, the same or similar circuit elements are denoted by the same reference numerals throughout the drawings to simplify the description. FIG. 1 shows an embodiment of the present invention, and FIG.
Is shown as a circuit diagram according to the layout thereof. The shift register circuit 100 shown in FIG. 1 includes a buffer circuit 10 composed of a plurality of inverter circuits connected to a CIN signal serving as a clock signal at an input and outputting a CK signal from an output;
Is composed of D-type FF circuits 31 to 34 commonly connected to the C input of each FF circuit. The data input DA is connected to the D input of the FF circuit 31, the Q output (Q1) is connected to the D input of the FF circuit 32, and the Q output (Q2) is connected to the D input of the FF circuit 33. The Q output (Q3) is connected to the D input of the FF circuit 34, and the Q outputs (Q1 to Q4) of each FF circuit are connected to another logic circuit (not shown).
【0012】このような回路構成により、シフトレジス
タ回路100は、クロック信号CKの立ち上がりエッジ
が入力される毎に前段側のFF回路から後段側のFF回
路へとデータ入力DAに基づいたデータを順次送るとと
もに、FF回路11のQ1出力が最下位ビット(LS
B)のデータ、FF回路14のQ4出力が最上位ビット
(MSB)のデータとして、他の回路に供給するように
なっている。With such a circuit configuration, each time the rising edge of the clock signal CK is input, the shift register circuit 100 sequentially transfers data based on the data input DA from the preceding FF circuit to the subsequent FF circuit. And the Q1 output of the FF circuit 11 is the least significant bit (LS
The B) data and the Q4 output of the FF circuit 14 are supplied to other circuits as the most significant bit (MSB) data.
【0013】図2は、ゲートアレイやスタンダードセル
等に用いられるポリセル方式またはビルディングブロッ
ク方式といわれる方法で図1の回路を配置配線したレイ
アウト例で、各FF回路及びバッファ回路の外形と主要
な配線のみを示し、主要部以外の配線や各回路内の接続
配線等は省略している。尚、図示する配線の内、VDDは
電源電圧線を示し、GNDは基準電位線を示している。
また、配線L1,L4,L6,L8,L10はVDDやG
ND等の電源線と同じ層の金属配線(第1配線)を示
し、配線L2,L3,L5,L7,L9,L11は電源
線とは異なる層の金属配線(第2配線)を示し、15は
第1配線と第2配線とを接続するための接続孔(コンタ
クト)を示している。FIG. 2 is a layout example in which the circuit of FIG. 1 is arranged and wired by a method called a polycell system or a building block system used for a gate array, a standard cell, and the like. Only wiring other than the main part, connection wiring in each circuit, and the like are omitted. In the drawings, VDD indicates a power supply voltage line, and GND indicates a reference potential line.
The wirings L1, L4, L6, L8 and L10 are connected to VDD or G
A metal wiring (first wiring) in the same layer as a power supply line such as ND is shown, and wirings L2, L3, L5, L7, L9, and L11 are metal wirings (second wiring) in a layer different from the power supply line. Indicates a connection hole (contact) for connecting the first wiring and the second wiring.
【0014】図2(a)のレイアウト図での特徴的なこ
とは、バッファ回路10からの出力が、配線L3乃至L
5によりFF回路14の図面上方からFF回路14のC
入力に接続され、配線L5乃至L7によりFF回路14
の図面下方に抜けてからFF回路13のC入力に接続さ
れるというように、各FF回路の並びを横切るようにし
ながら次段のFF回路のC入力に配線接続されているこ
とである。このような配線方法により、配線抵抗と配線
の寄生容量による分布遅延がバッファ回路から遠ざかる
につれて大きくなるようになり、各FF回路のC入力に
所定の順序でクロック信号が入力されるようになってい
る。A characteristic of the layout diagram of FIG. 2A is that the output from the buffer circuit 10 is connected to the lines L3 to L3.
5, C of the FF circuit 14 from above the drawing of the FF circuit 14
The FF circuit 14 is connected to the input, and
Is connected to the C input of the FF circuit of the next stage while traversing the arrangement of each FF circuit, such as being connected to the C input of the FF circuit 13 after exiting below the drawing. With such a wiring method, the distribution delay due to the wiring resistance and the parasitic capacitance of the wiring increases as the distance from the buffer circuit increases, and the clock signal is input to the C input of each FF circuit in a predetermined order. I have.
【0015】図2(b)は、図2(a)の第2配線に代
えて各FF回路内のクロック信号が供給されるゲート電
極を配線の一部として用いている場合を示しており、配
線L5a,L7a,L9a,L11aはポリシリコンに
よる配線(第3配線)を示している。尚、本発明は図1
または図2の実施形態のみに限定されるものではない。
例えば、図1及び図2では、説明の簡略化のためにFF
回路が4段のシフトレジスタ回路の場合についてのみ説
明したが、更に多段のシフトレジスタ回路や同期カウン
タ回路等の他の同期回路でも同様に配線することができ
る。また、同期回路の並びは直線状だけに限られるもの
ではなく、複数の並びを経由してクロック信号が供給さ
れていても構わないし、その並びの一部分に同期回路と
関係の無い他の回路が挿入されていても構わないし、第
2配線またはポリシリコン配線のみによる配線でも構わ
ない。また、前述のD型のFF回路以外に、T型FF回
路やJK型FF回路等任意のFF回路を用いても構わな
いし、それらのセット入力やリセット入力の有無、C入
力の動作エッジ等は任意で構わない。更に、同期して動
作するロジック回路ならばFF回路を用いない回路でも
構わないし、CIN信号を反転してバッファ回路10を
単独のインバータ回路やその他の回路で構成しても構わ
ない。FIG. 2B shows a case where a gate electrode to which a clock signal is supplied in each FF circuit is used as a part of the wiring, instead of the second wiring of FIG. 2A. The wirings L5a, L7a, L9a, and L11a are wirings (third wirings) made of polysilicon. The present invention is shown in FIG.
Alternatively, the present invention is not limited to the embodiment shown in FIG.
For example, in FIG. 1 and FIG.
Although only the case where the circuit is a four-stage shift register circuit has been described, other synchronous circuits such as a multi-stage shift register circuit and a synchronous counter circuit can be similarly wired. Also, the arrangement of the synchronization circuits is not limited to a linear arrangement, and a clock signal may be supplied via a plurality of arrangements, and a part of the arrangement may include another circuit unrelated to the synchronization circuit. The wiring may be inserted, or the wiring may be only the second wiring or the polysilicon wiring. In addition to the above-described D-type FF circuit, any type of FF circuit such as a T-type FF circuit or a JK-type FF circuit may be used. It does not matter. Furthermore, a circuit that does not use an FF circuit may be used as long as it is a logic circuit that operates in synchronization, or the buffer circuit 10 may be configured by a single inverter circuit or another circuit by inverting the CIN signal.
【0016】[0016]
【発明の効果】以上説明したように、請求項1乃至請求
項3に記載の半導体装置は、配線抵抗と配線の寄生容量
による分布遅延により、バッファ回路から遠ざかるにつ
れて遅延が大きくなるようになり、各FF回路のC入力
に後段側から先に順次クロック信号が入力されるように
なるので、同期回路の回路構成及び回路規模を大幅に変
更しなくともクロックスキューの増加を容易に抑えられ
るようになり、同期回路での誤データ取り込みまたは同
期回路の誤データ取り込みを原因とする誤動作を低減で
きるようになり、信頼性の高い半導体装置を容易に使用
できるようになるという効果がある。As described above, in the semiconductor device according to any one of claims 1 to 3, the delay increases as the distance from the buffer circuit increases due to the distribution delay due to the wiring resistance and the parasitic capacitance of the wiring. Since the clock signal is sequentially input to the C input of each FF circuit from the latter stage, the increase in clock skew can be easily suppressed without greatly changing the circuit configuration and circuit scale of the synchronous circuit. As a result, it is possible to reduce erroneous operation due to erroneous data capture in the synchronous circuit or erroneous data capture in the synchronous circuit, and it is possible to easily use a highly reliable semiconductor device.
【図1】本発明の実施形態のレイアウトに沿った回路
図、FIG. 1 is a circuit diagram according to a layout of an embodiment of the present invention,
【図2】本発明の実施形態のレイアウト例を示す説明
図、FIG. 2 is an explanatory diagram showing a layout example according to the embodiment of the present invention;
【図3】シフトレジスタ回路を示す回路図、FIG. 3 is a circuit diagram illustrating a shift register circuit.
【図4】従来のレイアウト例を示す説明図、FIG. 4 is an explanatory view showing a conventional layout example;
【図5】従来の他のシフトレジスタ回路を示す回路図で
ある。FIG. 5 is a circuit diagram showing another conventional shift register circuit.
100 :シフトレジスタ回路 10 :バッファ回路 11〜14 :FF回路(DFF) CIN,CK:クロック信号 DA :データ入力 L1〜L11:配線 100: shift register circuit 10: buffer circuit 11 to 14: FF circuit (DFF) CIN, CK: clock signal DA: data input L1 to L11: wiring
Claims (3)
信号に応じて前段側のロジック回路から後段側のロジッ
ク回路へとデータが順次伝達される同期回路と、複数の
前記ロジック回路のクロック入力に前記クロック信号を
供給するためのバッファ回路とを有する半導体装置にお
いて、前記バッファ回路の出力配線は、前記ロジック回
路の後段側よりも前段側の方が前記クロック信号の遅延
が大きくなるようにレイアウトされて前記クロック入力
に接続されていることを特徴とする半導体装置。A synchronous circuit for sequentially transmitting data from a preceding logic circuit to a succeeding logic circuit in response to a clock signal commonly connected to a clock input; In a semiconductor device having a buffer circuit for supplying a clock signal, an output wiring of the buffer circuit is laid out such that a delay of the clock signal is larger in a former stage than in a latter stage of the logic circuit. A semiconductor device connected to the clock input.
記クロック入力に接続される毎に前記ロジック回路の一
辺側から他辺側へ前記ロジック回路の並びを横断しなが
ら次段の前記ロジック回路の前記クロック入力に接続さ
れるようにレイアウトされていることを特徴とする請求
項1に記載の半導体装置。2. The output circuit according to claim 1, wherein each time the output wiring is connected to the clock input of the logic circuit, the output wiring traverses the arrangement of the logic circuit from one side to another side of the logic circuit. 2. The semiconductor device according to claim 1, wherein the semiconductor device is laid out so as to be connected to the clock input.
路により構成され、前記バッファ回路は複数の前記フリ
ップフロップ回路を有する回路並びの後段側に配置さ
れ、前記出力配線が複数の前記フリップフロップ回路の
後段側から前段側の前記クロック入力へ略一筆書きでき
るように配線され、前記クロック信号が前記フリップフ
ロップ回路の後段側から前段側へ順次伝達されるように
なっていることを特徴とする請求項1または請求項2に
記載の半導体装置。3. The logic circuit is constituted by a flip-flop circuit, the buffer circuit is arranged on a rear stage side of a circuit array having a plurality of the flip-flop circuits, and the output wiring is arranged on a rear stage side of the plurality of the flip-flop circuits. The clock signal is wired so that a single stroke can be drawn from the clock input to the preceding stage, and the clock signal is sequentially transmitted from the subsequent stage to the preceding stage of the flip-flop circuit. The semiconductor device according to claim 2.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9078031A JPH10276080A (en) | 1997-03-28 | 1997-03-28 | Semiconductor device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9078031A JPH10276080A (en) | 1997-03-28 | 1997-03-28 | Semiconductor device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10276080A true JPH10276080A (en) | 1998-10-13 |
Family
ID=13650451
Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP9078031A Pending JPH10276080A (en) | 1997-03-28 | 1997-03-28 | Semiconductor device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10276080A (en) |
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1997
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