JPH1027656A - 高周波テスト装置及びそれを使用する電子機器 - Google Patents
高周波テスト装置及びそれを使用する電子機器Info
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- JPH1027656A JPH1027656A JP19838196A JP19838196A JPH1027656A JP H1027656 A JPH1027656 A JP H1027656A JP 19838196 A JP19838196 A JP 19838196A JP 19838196 A JP19838196 A JP 19838196A JP H1027656 A JPH1027656 A JP H1027656A
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- JP
- Japan
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- contact
- frequency
- test apparatus
- frequency test
- contacts
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Details Of Connecting Devices For Male And Female Coupling (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 小形低背且つ簡単な構成の高周波テスト装置
及びそれを使用する電気機器を提供する。 【解決手段】 回路基板の高周波信号路中に起立対向し
た１対のコンタクト２０、３０を形成し、その周囲をア
クセス開口５１を有する導電性シェル５０で覆う。コン
タクト２０、３０の接触部２３、３３間に一部非導電性
領域６５を形成した導電性可動部材６０を摺動可能に配
置してスイッチ機能を付与する。
及びそれを使用する電気機器を提供する。 【解決手段】 回路基板の高周波信号路中に起立対向し
た１対のコンタクト２０、３０を形成し、その周囲をア
クセス開口５１を有する導電性シェル５０で覆う。コン
タクト２０、３０の接触部２３、３３間に一部非導電性
領域６５を形成した導電性可動部材６０を摺動可能に配
置してスイッチ機能を付与する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は高周波テスト装置、
特に高周波信号路に配置され、測定器等の接続を可能に
するテストプローブ装置に関する。
特に高周波信号路に配置され、測定器等の接続を可能に
するテストプローブ装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】電子機器、例えば携帯用電話機等にあっ
ては、複数の回路又は回路ブロックから構成される。例
えば受信用アンテナ、高周波増幅回路、復調回路及び低
周波増幅回路を含む受信部と、送話器からの音声信号用
増幅回路、変調回路及びアンテナから送信する高周波出
力増幅回路を含む送信部とを具える。
ては、複数の回路又は回路ブロックから構成される。例
えば受信用アンテナ、高周波増幅回路、復調回路及び低
周波増幅回路を含む受信部と、送話器からの音声信号用
増幅回路、変調回路及びアンテナから送信する高周波出
力増幅回路を含む送信部とを具える。
【０００３】一般に、アンテナから受信した受信信号は
高周波用同軸コネクタを介して高周波増幅回路により所
定振幅に増幅される。
高周波用同軸コネクタを介して高周波増幅回路により所
定振幅に増幅される。
【０００４】斯る携帯用電話機の製造工程にあっては、
受信部の例えば高周波増幅回路又は復調回路の前段にお
いて、電話機の各部分が所定動作をするか否かを測定す
るのが一般的である。
受信部の例えば高周波増幅回路又は復調回路の前段にお
いて、電話機の各部分が所定動作をするか否かを測定す
るのが一般的である。
【０００５】その為には、斯る高周波信号路に直列に高
周波スイッチを挿入し、アンテナ等からの受信信号を後
段から遮断して高周波レベルメータ等用の接続端子にプ
ロービングされる測定器に切換えるのが一般的である。
斯る構成により、例えばアンテナ回路の受信感度、指向
性、ノイズ等の諸特性が測定可能となる。
周波スイッチを挿入し、アンテナ等からの受信信号を後
段から遮断して高周波レベルメータ等用の接続端子にプ
ロービングされる測定器に切換えるのが一般的である。
斯る構成により、例えばアンテナ回路の受信感度、指向
性、ノイズ等の諸特性が測定可能となる。
【０００６】この測定を行うための構成の概略を図５を
参照して説明する。アンテナ１は例えば１．９ＧＨZ の
超高周波受信用であり、その出力信号を一般に高周波用
同軸ケーブル２を介して切替スイッチ３に接続する。こ
のスイッチ３はアンテナの出力信号を受信回路４又は測
定器５に選択的に切替える。
参照して説明する。アンテナ１は例えば１．９ＧＨZ の
超高周波受信用であり、その出力信号を一般に高周波用
同軸ケーブル２を介して切替スイッチ３に接続する。こ
のスイッチ３はアンテナの出力信号を受信回路４又は測
定器５に選択的に切替える。
【０００７】斯る構成により、上述の如く、通常状態で
は、アンテナ１の受信信号をスイッチ３を介して受信回
路４に入力すると共に、動作特性評価等の必要時には受
信回路４から切り離して測定器５に入力することが可能
になる。しかし、上述の如くＰＨＳ等の携帯通信機にあ
っては受信（又は送信）信号が例えば１．９ＧＨZ であ
るＧＨZ オーダーの超高周波である。従って、斯る高周
波信号を最少損失及び最小特性劣化で測定器５又は受信
回路４に切替え接続するのは極めて困難である。
は、アンテナ１の受信信号をスイッチ３を介して受信回
路４に入力すると共に、動作特性評価等の必要時には受
信回路４から切り離して測定器５に入力することが可能
になる。しかし、上述の如くＰＨＳ等の携帯通信機にあ
っては受信（又は送信）信号が例えば１．９ＧＨZ であ
るＧＨZ オーダーの超高周波である。従って、斯る高周
波信号を最少損失及び最小特性劣化で測定器５又は受信
回路４に切替え接続するのは極めて困難である。
【０００８】斯る超高周波信号路の切替の為のスイッチ
機能を有するコネクタの例が特開平６−２３６７８５号
公報に開示されている。このスイッチ付コネクタは例え
ばセルラーフォン等の通信機器の内部／外部アンテナ切
替を行うのに好適なものである。
機能を有するコネクタの例が特開平６−２３６７８５号
公報に開示されている。このスイッチ付コネクタは例え
ばセルラーフォン等の通信機器の内部／外部アンテナ切
替を行うのに好適なものである。
【０００９】このスイッチ付コネクタは、筒状の外部シ
ェル内に対向配された１対の弾性コンタクトを有し、通
常は両コンタクトの自由端が相互に接触して内部アンテ
ナ回路に接続されている。外部アンテナに切替える場合
には、１対の弾性コンタクト間に外部アンテナに接続さ
れたコネクタのコンタクトが間挿される。このコンタク
トは片側が導体であり１対の弾性コンタクトの一方に接
続されると共に反対側は絶縁体であるので１対の弾性コ
ンタクトの他方は開放される。これにより、１対の弾性
コンタクトの上記他方に接続された内部アンテナとコネ
クタを介して一方のコンタクトに接続される外部アンテ
ナとを切替接続することが可能になる。
ェル内に対向配された１対の弾性コンタクトを有し、通
常は両コンタクトの自由端が相互に接触して内部アンテ
ナ回路に接続されている。外部アンテナに切替える場合
には、１対の弾性コンタクト間に外部アンテナに接続さ
れたコネクタのコンタクトが間挿される。このコンタク
トは片側が導体であり１対の弾性コンタクトの一方に接
続されると共に反対側は絶縁体であるので１対の弾性コ
ンタクトの他方は開放される。これにより、１対の弾性
コンタクトの上記他方に接続された内部アンテナとコネ
クタを介して一方のコンタクトに接続される外部アンテ
ナとを切替接続することが可能になる。
【００１０】また、類似するスイッチ付き高周波コネク
タの例が米国特許第５，２６７，８７１号に開示されて
いる。
タの例が米国特許第５，２６７，８７１号に開示されて
いる。
【００１１】
【発明の解決課題】しかし、斯る従来のスイッチ付コネ
クタを使用すると、特に小形低背構造の場合、１対の弾
性コンタクトに過度の変形を生じて、両弾性コンタクト
間の接圧が不足して接触不安定を生じる、即ち接触の安
定性及び信頼性を欠くという問題がある。また、斯る弾
性コンタクトの構造上、小形化が制限される。更に、筒
状シェル内に１対の弾性コンタクトを配置するので、コ
ンタクトとシェルとが完全に同軸状とならず、信号の損
失や劣化を生じる虞れがある。
クタを使用すると、特に小形低背構造の場合、１対の弾
性コンタクトに過度の変形を生じて、両弾性コンタクト
間の接圧が不足して接触不安定を生じる、即ち接触の安
定性及び信頼性を欠くという問題がある。また、斯る弾
性コンタクトの構造上、小形化が制限される。更に、筒
状シェル内に１対の弾性コンタクトを配置するので、コ
ンタクトとシェルとが完全に同軸状とならず、信号の損
失や劣化を生じる虞れがある。
【００１２】更に重要なことは、上述した切替機構は例
えば携帯型通信機の組立製造工程で一時的に使用するの
みであって、通常状態では信号伝送機能のみであり切替
機能は使用されないことである。斯る一時的過渡的な使
用目的の為に高価且つ大きな面積を占有する部品を使用
することは資源の浪費であって、回避するのが好まし
い。
えば携帯型通信機の組立製造工程で一時的に使用するの
みであって、通常状態では信号伝送機能のみであり切替
機能は使用されないことである。斯る一時的過渡的な使
用目的の為に高価且つ大きな面積を占有する部品を使用
することは資源の浪費であって、回避するのが好まし
い。
【００１３】従って、本発明の目的は、通常状態下では
超高周波信号を効率的に伝送すると共に必要時に斯る超
高周波信号路を一時的に遮断又は切替可能にする小形低
背構造且つ安価に製造可能な高周波テスト装置及び斯る
装置を使用する電子機器を提供することである。
超高周波信号を効率的に伝送すると共に必要時に斯る超
高周波信号路を一時的に遮断又は切替可能にする小形低
背構造且つ安価に製造可能な高周波テスト装置及び斯る
装置を使用する電子機器を提供することである。
【００１４】
【課題解決の為の手段】上述した課題を解決すると共に
上述の目的を達成する為に、高周波信号路を一時的に遮
断して測定器等を接続する本発明の高周波テスト装置は
次の構成要件を具える。夫々回路基板の高周波信号路か
ら起立して相互に対向する１対の接点部材。この接点部
材間に摺動可能に配置され、１対の接点部材とは常時接
触し他方とは選択的に接断する可動部材。接点部材を包
囲すると共に可動部材にアクセスする開口を有する導電
性シェル部材。
上述の目的を達成する為に、高周波信号路を一時的に遮
断して測定器等を接続する本発明の高周波テスト装置は
次の構成要件を具える。夫々回路基板の高周波信号路か
ら起立して相互に対向する１対の接点部材。この接点部
材間に摺動可能に配置され、１対の接点部材とは常時接
触し他方とは選択的に接断する可動部材。接点部材を包
囲すると共に可動部材にアクセスする開口を有する導電
性シェル部材。
【００１５】また、本発明の電子機器は高周波信号路に
より相互に接続される複数の回路を有するものであり、
この高周波信号路に高周波テスト装置が接続されて成
る。この高周波テスト装置は対向配置された１対の接点
部材、この接点部材間を摺動する可動部材及び接点部材
を包囲する導電性シェル部材を有する。この高周波テス
ト装置により、複数の回路の一部分を切離して、その動
作特性の測定（テスト）を可能にする。
より相互に接続される複数の回路を有するものであり、
この高周波信号路に高周波テスト装置が接続されて成
る。この高周波テスト装置は対向配置された１対の接点
部材、この接点部材間を摺動する可動部材及び接点部材
を包囲する導電性シェル部材を有する。この高周波テス
ト装置により、複数の回路の一部分を切離して、その動
作特性の測定（テスト）を可能にする。
【００１６】
【実施形態】以下、本発明の高周波テスト装置及びそれ
を使用する電子機器の好適実施形態を添付図、特に図１
乃至図４を参照して詳述する。
を使用する電子機器の好適実施形態を添付図、特に図１
乃至図４を参照して詳述する。
【００１７】図１は本発明による高周波テスト装置の好
適実施形態の縦（又は側）断面図である。図２は図１の
高周波テスト装置の図１と直交方向の縦断面図である。
図３は図１の高周波テスト装置にテストプローブをプロ
ービングした場合の動作説明用の図１と同様の断面図で
ある。また、図４は図１の高周波テスト装置の外観を示
し、（Ａ）は平（上）面図、（Ｂ）は側面図、（Ｃ）は
底面図を示す。
適実施形態の縦（又は側）断面図である。図２は図１の
高周波テスト装置の図１と直交方向の縦断面図である。
図３は図１の高周波テスト装置にテストプローブをプロ
ービングした場合の動作説明用の図１と同様の断面図で
ある。また、図４は図１の高周波テスト装置の外観を示
し、（Ａ）は平（上）面図、（Ｂ）は側面図、（Ｃ）は
底面図を示す。
【００１８】本発明の高周波テスト装置１０は周知の高
周波用回路基板（図示せず）に配置（例えば半田付接
続）して使用される。この回路基板には、従来の電子機
器、例えば携帯通信機と同様に種々のＩＣ（集積回路）
等の能動素子及び抵抗、コンデンサ等の受動素子が表面
実装（ＳＭＴ）により接続されて回路が構成されてい
る。
周波用回路基板（図示せず）に配置（例えば半田付接
続）して使用される。この回路基板には、従来の電子機
器、例えば携帯通信機と同様に種々のＩＣ（集積回路）
等の能動素子及び抵抗、コンデンサ等の受動素子が表面
実装（ＳＭＴ）により接続されて回路が構成されてい
る。
【００１９】図１に最もよく示す如く、本発明の高周波
テスト装置１０は、回路基板から起立して対向する１対
のコンタクト（接点部材）２０、３０を有する。コンタ
クト２０、３０は回路基板の高周波信号路（ラン）に半
田付される水平、即ち回路基板の面に平行な半田付部２
１、３１と、これに対して略垂直に起立する起立部２
２、３２と、その自由端に形成された接触部２３、３３
及び起立部２２、３２と接触部２３、３３間の過渡部２
４、３４を有する。両コンタクト２０、３０の起立部２
２、３２は比較的大きな間隔で略平行に対向している。
一方、接触部２３、３３間は比較的微小間隔で対向す
る。
テスト装置１０は、回路基板から起立して対向する１対
のコンタクト（接点部材）２０、３０を有する。コンタ
クト２０、３０は回路基板の高周波信号路（ラン）に半
田付される水平、即ち回路基板の面に平行な半田付部２
１、３１と、これに対して略垂直に起立する起立部２
２、３２と、その自由端に形成された接触部２３、３３
及び起立部２２、３２と接触部２３、３３間の過渡部２
４、３４を有する。両コンタクト２０、３０の起立部２
２、３２は比較的大きな間隔で略平行に対向している。
一方、接触部２３、３３間は比較的微小間隔で対向す
る。
【００２０】コンタクト２０、３０は一般のコネクタの
コンタクトと同様に弾性銅合金を打抜き折曲げ加工（ス
タンピング及びフォーミング）により形成される。接触
部２３、３３の少なくとも対向面は、例えば金等の貴金
属めっきを施して、良好な電気的接触特性（低接触抵
抗）を得るように構成する。
コンタクトと同様に弾性銅合金を打抜き折曲げ加工（ス
タンピング及びフォーミング）により形成される。接触
部２３、３３の少なくとも対向面は、例えば金等の貴金
属めっきを施して、良好な電気的接触特性（低接触抵
抗）を得るように構成する。
【００２１】この１対のコンタクト２０、３０を包囲し
て筒状の絶縁ハウジング４０が形成配置される。この絶
縁ハウジング４０の外面には導電性シェル（又はケー
ス）５０が被冠されている。絶縁ハウジング４０及び導
電性シェル５０は共に中心にアクセス用開口５１を有す
る。１対のコンタクト２０、３０と導電性シェル５０間
は略一定間隔に保持されてコンタクト２０、３０の全長
にわたり、特性インピーダンスを略一定値に維持するの
が好ましい。
て筒状の絶縁ハウジング４０が形成配置される。この絶
縁ハウジング４０の外面には導電性シェル（又はケー
ス）５０が被冠されている。絶縁ハウジング４０及び導
電性シェル５０は共に中心にアクセス用開口５１を有す
る。１対のコンタクト２０、３０と導電性シェル５０間
は略一定間隔に保持されてコンタクト２０、３０の全長
にわたり、特性インピーダンスを略一定値に維持するの
が好ましい。
【００２２】アクセス開口５１を介して１対のコンタク
ト２０、３０の接触部２３、３３間に摺動可能に可動コ
ンタクト部材（可動部材）６０が配置される。図２から
理解される如く、可動コンタクト部材６０は略平板状の
導電体であり、絶縁ハウジング４０のアクセス開口５１
から絶縁ハウジング４０の略上面と一致する比較的幅の
狭い頂部（プロービング部）６１、その下方の両側に形
成された肩６２、６３を有する。この肩６２、６３は絶
縁ハウジング４０の肩４２、４３を係合して上方への移
動のストッパとして作用する。可動部材６０の下端６４
はエラストマ等の非導電性弾性体７０が配置されてい
る。この弾性体７０は可動部材６０の下端６４と当接し
て、可動部材６０を通常状態下で上方に付勢（偏奇）し
ている。その結果、可動部材６０の肩６２、６３は絶縁
ハウジング４０の肩４２、４３と接触している。
ト２０、３０の接触部２３、３３間に摺動可能に可動コ
ンタクト部材（可動部材）６０が配置される。図２から
理解される如く、可動コンタクト部材６０は略平板状の
導電体であり、絶縁ハウジング４０のアクセス開口５１
から絶縁ハウジング４０の略上面と一致する比較的幅の
狭い頂部（プロービング部）６１、その下方の両側に形
成された肩６２、６３を有する。この肩６２、６３は絶
縁ハウジング４０の肩４２、４３を係合して上方への移
動のストッパとして作用する。可動部材６０の下端６４
はエラストマ等の非導電性弾性体７０が配置されてい
る。この弾性体７０は可動部材６０の下端６４と当接し
て、可動部材６０を通常状態下で上方に付勢（偏奇）し
ている。その結果、可動部材６０の肩６２、６３は絶縁
ハウジング４０の肩４２、４３と接触している。
【００２３】可動部材６０はコンタクト部材２０、３０
の接触部２３、３３の間隔に略対応する例えば１ｍｍ程
度の導電性金属であって、好ましくは表面に金等の良導
電性金属めっきを施している。この可動部材６０は、図
１中右側は全面が導電性であるが、左側の面は部分的に
非導電性領域６５を有する。この非導電性領域６５は可
動部材６０の表面に例えばテフロン等の非導電性プラス
チックの被膜を形成してもよい。また、可動部材は全面
に導電層が形成された通常の小さい回路基板により形成
し、非導電性領域６５のみを通常の技法で導電層をエッ
チングしてもよい。
の接触部２３、３３の間隔に略対応する例えば１ｍｍ程
度の導電性金属であって、好ましくは表面に金等の良導
電性金属めっきを施している。この可動部材６０は、図
１中右側は全面が導電性であるが、左側の面は部分的に
非導電性領域６５を有する。この非導電性領域６５は可
動部材６０の表面に例えばテフロン等の非導電性プラス
チックの被膜を形成してもよい。また、可動部材は全面
に導電層が形成された通常の小さい回路基板により形成
し、非導電性領域６５のみを通常の技法で導電層をエッ
チングしてもよい。
【００２４】尚、本発明の高周波テスト装置１０を回路
基板に取付けるには、図２に最もよく示す如く、導電性
シェル５０の外周の一部を絶縁ハウジング４０の庭面か
ら露出させて半田付部５５を形成し、回路基板の接地パ
ッドにＳＭＴ（リフロー）技法で半田付接続することが
可能である（図４（Ａ）乃至（Ｃ）参照）。
基板に取付けるには、図２に最もよく示す如く、導電性
シェル５０の外周の一部を絶縁ハウジング４０の庭面か
ら露出させて半田付部５５を形成し、回路基板の接地パ
ッドにＳＭＴ（リフロー）技法で半田付接続することが
可能である（図４（Ａ）乃至（Ｃ）参照）。
【００２５】本発明の高周波テスト装置１０の動作を図
１及び図３を参照して説明する。この高周波テスト装置
１０は弾性体７０により可動部材６０が通常状態下では
上方に付勢されている。従って、１対のコンタクト２
０、３０間は接触部２３、３３が可動部材６０により短
絡されるので、導通状態である。この１対のコンタクト
２０、３０及びそれを一定間隔で包囲する導電性シェル
５０により高周波信号伝送路を形成する。
１及び図３を参照して説明する。この高周波テスト装置
１０は弾性体７０により可動部材６０が通常状態下では
上方に付勢されている。従って、１対のコンタクト２
０、３０間は接触部２３、３３が可動部材６０により短
絡されるので、導通状態である。この１対のコンタクト
２０、３０及びそれを一定間隔で包囲する導電性シェル
５０により高周波信号伝送路を形成する。
【００２９】しかし、図３に示す如く、高周波テスト装
置１０にテストプローブ８０がプロービング（押圧接
触）されると、テストプローブ８０の外部導体８１は導
電性シェル５０の頂部に接触する。また、中心導体８２
はアクセス開口５１を介して可動部材６０に接触すると
共に下方へ押圧する。ここで、コンタクト部材３０の接
触部３３は可動部材６０の非導電性領域６５と接触す
る。その結果、１対のコンタクト２０、３０間の回路は
開放され、コンタクト部材２０はテストプローブ８０の
中心導体８２に接続されることとなる。尚、テストプロ
ーブ８０を高周波テスト装置１０から離すと、可動部材
６０は弾性体７０により押上げられて図１の通常状態に
復帰する。
置１０にテストプローブ８０がプロービング（押圧接
触）されると、テストプローブ８０の外部導体８１は導
電性シェル５０の頂部に接触する。また、中心導体８２
はアクセス開口５１を介して可動部材６０に接触すると
共に下方へ押圧する。ここで、コンタクト部材３０の接
触部３３は可動部材６０の非導電性領域６５と接触す
る。その結果、１対のコンタクト２０、３０間の回路は
開放され、コンタクト部材２０はテストプローブ８０の
中心導体８２に接続されることとなる。尚、テストプロ
ーブ８０を高周波テスト装置１０から離すと、可動部材
６０は弾性体７０により押上げられて図１の通常状態に
復帰する。
【００３０】次に、本発明の高周波テスト装置１０を使
用する電子機器１００につき説明する。この高周波テス
ト装置１０を例えば図５に示した携帯通信機の切替スイ
ッチ３の代りに使用する。一方のコンタクト２０をアン
テナ１に接続すると共に他方のコンタクト３０を受信回
路４に接続する。このように構成した電子機器１００に
あっては、アンテナ１からの高周波受信信号は通常状態
ではコンタクト２０及びコンタクト３０を含む高周波信
号路を介して受信回路４に最小損失で伝送される。測定
器５をプロービングしたい場合には、測定器５に接続さ
れた高周波用同軸ケーブルであるテストプローブ８０の
先端を高周波テスト装置１０に押し当てる。これによ
り、アンテナ１は受信回路４から切断され、一方のコン
タクト２０を介してテストプローブ８０、即ち測定機５
へ接続される。尚、アンテナ１はコンタクト２０の半田
付部２１に直接接続することが可能である。
用する電子機器１００につき説明する。この高周波テス
ト装置１０を例えば図５に示した携帯通信機の切替スイ
ッチ３の代りに使用する。一方のコンタクト２０をアン
テナ１に接続すると共に他方のコンタクト３０を受信回
路４に接続する。このように構成した電子機器１００に
あっては、アンテナ１からの高周波受信信号は通常状態
ではコンタクト２０及びコンタクト３０を含む高周波信
号路を介して受信回路４に最小損失で伝送される。測定
器５をプロービングしたい場合には、測定器５に接続さ
れた高周波用同軸ケーブルであるテストプローブ８０の
先端を高周波テスト装置１０に押し当てる。これによ
り、アンテナ１は受信回路４から切断され、一方のコン
タクト２０を介してテストプローブ８０、即ち測定機５
へ接続される。尚、アンテナ１はコンタクト２０の半田
付部２１に直接接続することが可能である。
【００３１】以上、本発明の高周波テスト装置及びそれ
を使用する電子機器の好適実施形態を説明した。しか
し、本発明は斯る特定形態のみに限定するべきでなく、
種々の変形変更が可能であり且つ多くの他の応用が可能
であることが理解されよう。例えば、弾性体７０は必ず
しもエラストマであることを要件とせず、プラスチック
材料の板ばね、コイルばね等であってもよいことが理解
されよう。また、可動部材の非導電性領域は非導電性の
被膜の代りに、導電性金属の表面にエッチング等により
形成した凹部を非導電性材料で充填して平坦面としても
よい。更に、コンタクトの形状も応用に応じて任意形状
となし得る。
を使用する電子機器の好適実施形態を説明した。しか
し、本発明は斯る特定形態のみに限定するべきでなく、
種々の変形変更が可能であり且つ多くの他の応用が可能
であることが理解されよう。例えば、弾性体７０は必ず
しもエラストマであることを要件とせず、プラスチック
材料の板ばね、コイルばね等であってもよいことが理解
されよう。また、可動部材の非導電性領域は非導電性の
被膜の代りに、導電性金属の表面にエッチング等により
形成した凹部を非導電性材料で充填して平坦面としても
よい。更に、コンタクトの形状も応用に応じて任意形状
となし得る。
【００３２】
【発明の効果】以上の説明から理解される如く、本発明
の高周波テスト装置は、高周波信号伝送特性を実質的に
犠牲とすることなく、スイッチ機能を付加して、必要時
に測定器のプロービングを可能にする。しかも、構成は
比較的簡単且つ小形で安価に製造できるので、携帯用通
信機器等の小形高密度の電子機器に好適である。また１
対のコンタクトの接触部は常時一定間隔であるので、従
来のスイッチ接点の如く大きな撓みを有する大形とする
ことなく小形低背構造とすることが可能である。
の高周波テスト装置は、高周波信号伝送特性を実質的に
犠牲とすることなく、スイッチ機能を付加して、必要時
に測定器のプロービングを可能にする。しかも、構成は
比較的簡単且つ小形で安価に製造できるので、携帯用通
信機器等の小形高密度の電子機器に好適である。また１
対のコンタクトの接触部は常時一定間隔であるので、従
来のスイッチ接点の如く大きな撓みを有する大形とする
ことなく小形低背構造とすることが可能である。
【図１】本発明の高周波テスト装置の好適例の縦断面
図。
図。
【図２】図１の高周波テスト装置の図１と直交方向の縦
断面図。
断面図。
【図３】図１に示した高周波テスト装置に測定器をプロ
ービングする場合の動作説明の為の断面図。
ービングする場合の動作説明の為の断面図。
【図４】図１の高周波テスト装置の外観を示し、
（Ａ）、（Ｂ）及び（Ｃ）は夫々平面図、側面図及び底
面図を示す。
（Ａ）、（Ｂ）及び（Ｃ）は夫々平面図、側面図及び底
面図を示す。
【図５】従来のテストスイッチ付電子機器のブロック
図。
図。
１０ 高周波テスト装置 ２０、３０ 接点部材（コンタクト） ５０ 導電性シェル ５１ アクセス開口 ６０ 可動部材（可動コンタクト） １００ 電子機器
Claims (2)
- 【請求項１】 高周波信号を一時的に遮断して測定器等
の接続を可能にする高周波テスト装置において、 回路基板から起立して対向する１対の接点部材と、 該１対の接点部材間に摺動可能に配置され、前記１対の
接点部材の一方とは常時接触し他方とは選択的に接断す
る可動部材と、 前記接点部材を包囲し且つ前記可動部材にアクセスする
開口を有する導電性シェルとを具えることを特徴とする
高周波テスト装置。 - 【請求項２】 高周波信号路により相互に接続された複
数の回路を有する電子機器において、 前記高周波信号路に配置され、１対の接点部材、該接点
間の可動部材及び前記接点部材を包囲する導電性シェル
部材を具える高周波テスト装置を有し、 該高周波テスト装置を介して前記回路の一部分のテスト
を可能にすることを特徴とする電子機器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19838196A JPH1027656A (ja) | 1996-07-08 | 1996-07-08 | 高周波テスト装置及びそれを使用する電子機器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19838196A JPH1027656A (ja) | 1996-07-08 | 1996-07-08 | 高周波テスト装置及びそれを使用する電子機器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1027656A true JPH1027656A (ja) | 1998-01-27 |
Family
ID=16390183
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19838196A Pending JPH1027656A (ja) | 1996-07-08 | 1996-07-08 | 高周波テスト装置及びそれを使用する電子機器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1027656A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001326614A (ja) * | 2000-03-15 | 2001-11-22 | Nokia Mobile Phones Ltd | 無線局の無線周波信号測定システム及び方法 |
| JP2003007404A (ja) * | 2001-06-20 | 2003-01-10 | Murata Mfg Co Ltd | 同軸コネクタ及び通信装置 |
| JP2009129690A (ja) * | 2007-11-22 | 2009-06-11 | I-Pex Co Ltd | スイッチ付きコネクタ及び検査用プラグコネクタ、並びに回路検査スイッチ |
| JP2011086422A (ja) * | 2009-10-14 | 2011-04-28 | Japan Aviation Electronics Industry Ltd | 同軸コネクタ |
-
1996
- 1996-07-08 JP JP19838196A patent/JPH1027656A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001326614A (ja) * | 2000-03-15 | 2001-11-22 | Nokia Mobile Phones Ltd | 無線局の無線周波信号測定システム及び方法 |
| JP2003007404A (ja) * | 2001-06-20 | 2003-01-10 | Murata Mfg Co Ltd | 同軸コネクタ及び通信装置 |
| JP2009129690A (ja) * | 2007-11-22 | 2009-06-11 | I-Pex Co Ltd | スイッチ付きコネクタ及び検査用プラグコネクタ、並びに回路検査スイッチ |
| JP2011086422A (ja) * | 2009-10-14 | 2011-04-28 | Japan Aviation Electronics Industry Ltd | 同軸コネクタ |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Effective date: 20050713 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Effective date: 20051206 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20060329 |