JPH10282140A - チップを着脱可能に形成したコンタクトプロ−ブ - Google Patents
チップを着脱可能に形成したコンタクトプロ−ブInfo
- Publication number
- JPH10282140A JPH10282140A JP9089317A JP8931797A JPH10282140A JP H10282140 A JPH10282140 A JP H10282140A JP 9089317 A JP9089317 A JP 9089317A JP 8931797 A JP8931797 A JP 8931797A JP H10282140 A JPH10282140 A JP H10282140A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- contact probe
- connecting portion
- tip
- fitting hole
- chip
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】チップ先端が摩耗した場合に、チップだけを交
換すれば済むようにしたコンタクトプローブを提供す
る。 【解決手段】被測定部に当接するチップと、胴部に密嵌
摺動する摺動部と、該摺動部と前記チップとを連結する
連結部とを有するプランジャ−を具備したコンタクトプ
ローブに於いて、前記チップに前記連結部が密嵌する嵌
合孔を形成し、該嵌合孔に嵌合する連結部先端を、該嵌
合孔よりも若干大径に形成すると共に、前記連結部先端
中央部に、下方に向けたスリットを形成して、前記チッ
プを着脱可能に形成した。
換すれば済むようにしたコンタクトプローブを提供す
る。 【解決手段】被測定部に当接するチップと、胴部に密嵌
摺動する摺動部と、該摺動部と前記チップとを連結する
連結部とを有するプランジャ−を具備したコンタクトプ
ローブに於いて、前記チップに前記連結部が密嵌する嵌
合孔を形成し、該嵌合孔に嵌合する連結部先端を、該嵌
合孔よりも若干大径に形成すると共に、前記連結部先端
中央部に、下方に向けたスリットを形成して、前記チッ
プを着脱可能に形成した。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、プリント配線基
板（ベアボ−ド、インサ−キット等）の電気回路の断
線、ショート等を検査するコンタクトプローブに係り、
詳記すれば、プランジャ−を交換可能に形成したコンタ
クトプローブに関するものである。
板（ベアボ−ド、インサ−キット等）の電気回路の断
線、ショート等を検査するコンタクトプローブに係り、
詳記すれば、プランジャ−を交換可能に形成したコンタ
クトプローブに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】プリント配線基板の電気回路の断線、シ
ョート等を点検するため従来から一体型コンタクトプロ
ーブが使用されている。従来の一体型コンタクトプロー
ブは、図１に示すように、プリント基板検査機の取付板
１に固定的に装着されるソケット２と、該ソケット２に
嵌合される胴部３と、この胴部３にバネ４等を介して装
着されるプランジャ−５とからなり、該プランジャ−５
の先端チップ６がプリント基板の被測定面７に押し当て
られた時に、プランジャ−５の摺動部８が胴部３に対し
て相対移動可能に構成されてなるコンタクトプローブが
知られていた。
ョート等を点検するため従来から一体型コンタクトプロ
ーブが使用されている。従来の一体型コンタクトプロー
ブは、図１に示すように、プリント基板検査機の取付板
１に固定的に装着されるソケット２と、該ソケット２に
嵌合される胴部３と、この胴部３にバネ４等を介して装
着されるプランジャ−５とからなり、該プランジャ−５
の先端チップ６がプリント基板の被測定面７に押し当て
られた時に、プランジャ−５の摺動部８が胴部３に対し
て相対移動可能に構成されてなるコンタクトプローブが
知られていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来のコンタクトプローブは、プランジャ−５は一体に形
成されていたので、多数回使用してチップ６先端が摩耗
し、正確な検査を行うことができなくなると、コンタク
トプローブ全体ををソケット２から抜いて交換してい
た。チップ以外は使用できる状態であっても、全体を交
換していたことと、多数本のコンタクトプローブを全て
交換していたので、非常に不経済であった。
来のコンタクトプローブは、プランジャ−５は一体に形
成されていたので、多数回使用してチップ６先端が摩耗
し、正確な検査を行うことができなくなると、コンタク
トプローブ全体ををソケット２から抜いて交換してい
た。チップ以外は使用できる状態であっても、全体を交
換していたことと、多数本のコンタクトプローブを全て
交換していたので、非常に不経済であった。
【０００４】そればかりか、ソケット２を使用せずに、
そのままコンタクトプローブを取付板１に嵌合し、ハン
ダ若しくは接着剤１３で固定する場合もあるが、この場
合は、ハンダ等を溶解させて、取り外し、またハンダ等
で新しいコンタクトプローブを固定しなければならなか
ったので、不経済であるだけでなく、大変な労力を必要
とする問題があった。
そのままコンタクトプローブを取付板１に嵌合し、ハン
ダ若しくは接着剤１３で固定する場合もあるが、この場
合は、ハンダ等を溶解させて、取り外し、またハンダ等
で新しいコンタクトプローブを固定しなければならなか
ったので、不経済であるだけでなく、大変な労力を必要
とする問題があった。
【０００５】この発明は、このような問題点を解消しよ
うとするものであり、チップ６先端が摩耗した場合に、
チップ６だけを交換すれば済むようにしたコンタクトプ
ローブを提供することを目的とする。
うとするものであり、チップ６先端が摩耗した場合に、
チップ６だけを交換すれば済むようにしたコンタクトプ
ローブを提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的に沿う本発明の
構成は、被測定部に当接するチップと、胴部に密嵌摺動
する摺動部と、該摺動部と前記チップとを連結する連結
部とを有するプランジャ−を具備したコンタクトプロー
ブに於いて、前記チップに前記連結部が密嵌する嵌合孔
を形成し、該嵌合孔に嵌合する連結部先端を、該嵌合孔
よりも若干大径に形成すると共に、前記連結部先端中央
部に、下方に向けたスリットを形成して、前記チップを
着脱可能に形成したことを特徴とする。
構成は、被測定部に当接するチップと、胴部に密嵌摺動
する摺動部と、該摺動部と前記チップとを連結する連結
部とを有するプランジャ−を具備したコンタクトプロー
ブに於いて、前記チップに前記連結部が密嵌する嵌合孔
を形成し、該嵌合孔に嵌合する連結部先端を、該嵌合孔
よりも若干大径に形成すると共に、前記連結部先端中央
部に、下方に向けたスリットを形成して、前記チップを
着脱可能に形成したことを特徴とする。
【０００７】コンタクトプローブ全体が太く、連結部も
ある程度の太さがある場合は、チップと連結部とを螺合
させることによって、交換可能とすることもできるが、
最近検査するプリント基板のピッチ間隔は非常に狭くな
ってきているので、それに対応して細くしたコンタクト
プローブでは、ネジを切ることは不可能であった。その
ため、従来は、チップと連結部とを着脱自在としたコン
タクトプローブは全く知られていないし、このような発
想も全く知られていない。
ある程度の太さがある場合は、チップと連結部とを螺合
させることによって、交換可能とすることもできるが、
最近検査するプリント基板のピッチ間隔は非常に狭くな
ってきているので、それに対応して細くしたコンタクト
プローブでは、ネジを切ることは不可能であった。その
ため、従来は、チップと連結部とを着脱自在としたコン
タクトプローブは全く知られていないし、このような発
想も全く知られていない。
【０００８】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態を図面
に基づいて説明する。図２は、本発明の実施例を示す断
面図であり、チップ６に連結部９が嵌合する嵌合孔１０
を形成し、チップ９の上端中央には、下方に向けたスリ
ット１１を形成し、連結部９の外径を嵌合孔１０の内径
よりも若干太く形成した例を示す。
に基づいて説明する。図２は、本発明の実施例を示す断
面図であり、チップ６に連結部９が嵌合する嵌合孔１０
を形成し、チップ９の上端中央には、下方に向けたスリ
ット１１を形成し、連結部９の外径を嵌合孔１０の内径
よりも若干太く形成した例を示す。
【０００９】嵌合させ易くするため、連結部９先端と嵌
合孔１０との当接部の少なくとも一方には、面取り１
２，１２′を施すと良い。手でスム−ズに嵌合させるに
は、面取りは、両方１２，１２′に施したほうが好まし
い。本発明のコンタクトプローブは、外径（胴部３の
径）が、０．５〜２ｍｍで連結部の径が、０．３〜１．
０ｍｍ程度の細いコンタクトプローブに特に好適であ
る。
合孔１０との当接部の少なくとも一方には、面取り１
２，１２′を施すと良い。手でスム−ズに嵌合させるに
は、面取りは、両方１２，１２′に施したほうが好まし
い。本発明のコンタクトプローブは、外径（胴部３の
径）が、０．５〜２ｍｍで連結部の径が、０．３〜１．
０ｍｍ程度の細いコンタクトプローブに特に好適であ
る。
【００１０】連結部９の外径は、嵌合孔１０の内径の
０．５％〜２％程度太くすれば良く、連結部の太さに応
じて適当な太さを選択すれば良い。この場合、太さにも
よるが、３００ｇ〜１ｋｇの力で引っ張った場合に抜け
るように選択するのが良い。３００ｇ以下の力で抜けな
ければ、コンタクトプローブの使用中、チップ６が抜け
る恐れはないことと交換し易くなるからである。
０．５％〜２％程度太くすれば良く、連結部の太さに応
じて適当な太さを選択すれば良い。この場合、太さにも
よるが、３００ｇ〜１ｋｇの力で引っ張った場合に抜け
るように選択するのが良い。３００ｇ以下の力で抜けな
ければ、コンタクトプローブの使用中、チップ６が抜け
る恐れはないことと交換し易くなるからである。
【００１１】スリット１１は、連結部９が上記したよう
に細い場合は、単に切り込みを形成すれば良く、連結部
９が太い場合は、若干の幅のスリットとすれば良い。チ
ップ６、連結部９及び摺動部８からなるプランジャ−
は、通常この種目的に使用される金属で形成すれば良
い。
に細い場合は、単に切り込みを形成すれば良く、連結部
９が太い場合は、若干の幅のスリットとすれば良い。チ
ップ６、連結部９及び摺動部８からなるプランジャ−
は、通常この種目的に使用される金属で形成すれば良
い。
【００１２】チップ６の連結部９への装着と脱着は、特
別な装置を必要とすることなく、作業員の手作業で容易
に行うことができる。上記実施例では、本発明のコンタ
クトチップは、取付板１にソケット２を介して装着して
いる。このように形成すると、チップ６以外の部分が使
用できなくなった場合に、コンタクトチップを交換する
のに便利である。
別な装置を必要とすることなく、作業員の手作業で容易
に行うことができる。上記実施例では、本発明のコンタ
クトチップは、取付板１にソケット２を介して装着して
いる。このように形成すると、チップ６以外の部分が使
用できなくなった場合に、コンタクトチップを交換する
のに便利である。
【００１３】しかしながら、コンタクトチップの使用態
様においては、ソケット２を使用せずに、そのまま取付
板１に嵌合装着させる場合がある。本発明のコンタクト
チップは、特にこのような場合に極めて有用である。チ
ップ６が摩耗した場合に、チップ６だけを交換すれば良
く、ハンダ１３を溶解させてコンタクトチップを取り外
し、再度ハンダ付けする面倒な作業が不要となるからで
ある。
様においては、ソケット２を使用せずに、そのまま取付
板１に嵌合装着させる場合がある。本発明のコンタクト
チップは、特にこのような場合に極めて有用である。チ
ップ６が摩耗した場合に、チップ６だけを交換すれば良
く、ハンダ１３を溶解させてコンタクトチップを取り外
し、再度ハンダ付けする面倒な作業が不要となるからで
ある。
【００１４】
【発明の効果】以上述べたごとく、本発明によれば、チ
ップが摩耗した場合に、チップだけを交換することがで
きるので、経済的な利点が大きいほか、特にソケットを
使用しない場合は、交換作業が著しく軽減される利点が
得られる。
ップが摩耗した場合に、チップだけを交換することがで
きるので、経済的な利点が大きいほか、特にソケットを
使用しない場合は、交換作業が著しく軽減される利点が
得られる。
【００１５】
【図１】従来のコンタクトプローブの断面図である。
【図２】本発明の実施例を示す断面図である。
１ プリント基板検査機の取付板 ２ ソケット ５ プランジャ− ９ 連結部 １０ 嵌合孔 １２，１２′ 面取り
Claims (7)
- 【請求項１】被測定部に当接するチップと、胴部に密嵌
摺動する摺動部と、該摺動部と前記チップとを連結する
連結部とを有するプランジャ−を具備したコンタクトプ
ローブに於いて、前記チップに前記連結部が密嵌する嵌
合孔を形成し、該嵌合孔に嵌合する連結部先端を、該嵌
合孔よりも若干大径に形成すると共に、前記連結部先端
中央部に、下方に向けたスリットを形成して、前記チッ
プを着脱可能に形成したことを特徴とするコンタクトプ
ローブ。 - 【請求項２】前記連結部先端と前記嵌合孔との当接部の
少なくとも一方に面取りを施してなる請求項１に記載の
コンタクトプローブ。 - 【請求項３】前記連結部先端と前記嵌合孔との当接部の
両方に面取りを施してなる請求項２に記載のコンタクト
プローブ。 - 【請求項４】前記連結部の外径は、前記嵌合孔の内径の
０．５％〜２％大径に形成してなる請求項１または３に
記載のコンタクトプローブ。 - 【請求項５】前記連結部の径が、０．２〜１．０ｍｍで
ある請求項１または４に記載のコンタクトプローブ。 - 【請求項６】前記コンタクトプローブの外径が、０．５
〜２．０ｍｍである請求項１〜５のいずれか１項に記載
のコンタクトプローブ。 - 【請求項７】前記コンタクトプローブを直接取付板に嵌
合固定してなる請求項１〜６のいずれか１項に記載のコ
ンタクトプローブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9089317A JPH10282140A (ja) | 1997-04-08 | 1997-04-08 | チップを着脱可能に形成したコンタクトプロ−ブ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9089317A JPH10282140A (ja) | 1997-04-08 | 1997-04-08 | チップを着脱可能に形成したコンタクトプロ−ブ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10282140A true JPH10282140A (ja) | 1998-10-23 |
Family
ID=13967297
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9089317A Pending JPH10282140A (ja) | 1997-04-08 | 1997-04-08 | チップを着脱可能に形成したコンタクトプロ−ブ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10282140A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001041979A (ja) * | 1999-05-26 | 2001-02-16 | Nidec-Read Corp | プリント基板検査装置及びそれに用いるプローブ |
| US6486689B1 (en) | 1999-05-26 | 2002-11-26 | Nidec-Read Corporation | Printed circuit board testing apparatus and probe device for use in the same |
| US7262614B1 (en) | 2005-02-10 | 2007-08-28 | Lecroy Corporation | Planar on edge probing tip with flex |
| US7321234B2 (en) | 2003-12-18 | 2008-01-22 | Lecroy Corporation | Resistive test probe tips and applications therefor |
| JP2010071954A (ja) * | 2008-09-22 | 2010-04-02 | Toyo Denshi Giken Kk | 測定用プローブと、それを構成する測定用プローブ本体部材、内側プローブ素子及び周側プローブ素子 |
-
1997
- 1997-04-08 JP JP9089317A patent/JPH10282140A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001041979A (ja) * | 1999-05-26 | 2001-02-16 | Nidec-Read Corp | プリント基板検査装置及びそれに用いるプローブ |
| US6486689B1 (en) | 1999-05-26 | 2002-11-26 | Nidec-Read Corporation | Printed circuit board testing apparatus and probe device for use in the same |
| US7321234B2 (en) | 2003-12-18 | 2008-01-22 | Lecroy Corporation | Resistive test probe tips and applications therefor |
| US7262614B1 (en) | 2005-02-10 | 2007-08-28 | Lecroy Corporation | Planar on edge probing tip with flex |
| JP2010071954A (ja) * | 2008-09-22 | 2010-04-02 | Toyo Denshi Giken Kk | 測定用プローブと、それを構成する測定用プローブ本体部材、内側プローブ素子及び周側プローブ素子 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040330 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20060222 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060227 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20060904 |