JPH0513525A - Ｉｃソケツト - Google Patents
ＩｃソケツトInfo
- Publication number
- JPH0513525A JPH0513525A JP19259391A JP19259391A JPH0513525A JP H0513525 A JPH0513525 A JP H0513525A JP 19259391 A JP19259391 A JP 19259391A JP 19259391 A JP19259391 A JP 19259391A JP H0513525 A JPH0513525 A JP H0513525A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement
- socket
- circuit board
- printed circuit
- measured
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Connecting Device With Holders (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 被測定物リードにストレスを加えず、かつプ
リント基板表面側より効率良く測定することができる。 【構成】 ソケットフレーム２の側面に測定用のチェッ
クピン８を設けることにより、被測定物リードを劣化さ
せないで、効率良く測定ができるようにしたものであ
る。 【効果】 製品評価の効率向上と、被測定物の劣化防止
による製品の信頼性向上が図れる。
リント基板表面側より効率良く測定することができる。 【構成】 ソケットフレーム２の側面に測定用のチェッ
クピン８を設けることにより、被測定物リードを劣化さ
せないで、効率良く測定ができるようにしたものであ
る。 【効果】 製品評価の効率向上と、被測定物の劣化防止
による製品の信頼性向上が図れる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、プリント基板装着用
ＩＣソケットに関するものである。
ＩＣソケットに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図２は従来のプリント基板装着用ＩＣソ
ケットに被測定物を挿入した状態を示す断面図であり、
図において、１はプリント基板、２はＩＣソケットフレ
ーム、３はＩＣソケットコンタクトピン、４はハンダ付
け部であり、５は被測定物、６は被測定物リード、７は
測定用端子である。
ケットに被測定物を挿入した状態を示す断面図であり、
図において、１はプリント基板、２はＩＣソケットフレ
ーム、３はＩＣソケットコンタクトピン、４はハンダ付
け部であり、５は被測定物、６は被測定物リード、７は
測定用端子である。
【０００３】次に動作について説明する。プリント基板
１にＩＣソケットコンタクトピンアウター部にて装着し
たＩＣソケットに、被測定物５を挿入することで、被測
定物リード６よりの任意の特性値を測定するが、この
際、測定用端子７を被測定物リード６またはハンダ付け
部４に当てて測定を行っている。
１にＩＣソケットコンタクトピンアウター部にて装着し
たＩＣソケットに、被測定物５を挿入することで、被測
定物リード６よりの任意の特性値を測定するが、この
際、測定用端子７を被測定物リード６またはハンダ付け
部４に当てて測定を行っている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従来のプリント基板装
着用のＩＣソケットでは、被測定物よりの任意の特性値
を測定する際、被測定物リードまたはプリント基板裏面
のハンダ付け部に測定用端子を当てて測定しなければな
らず、被測定物のリードにストレスが加わり、または、
プリント基板裏面よりの測定のため測定の効率が悪い等
の問題点があった。
着用のＩＣソケットでは、被測定物よりの任意の特性値
を測定する際、被測定物リードまたはプリント基板裏面
のハンダ付け部に測定用端子を当てて測定しなければな
らず、被測定物のリードにストレスが加わり、または、
プリント基板裏面よりの測定のため測定の効率が悪い等
の問題点があった。
【０００５】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、被測定物のリードにストレスを
加えないで測定できるとともに、プリント基板裏面より
の測定をなくして測定効率の向上を図ることを目的とし
たものである。
ためになされたもので、被測定物のリードにストレスを
加えないで測定できるとともに、プリント基板裏面より
の測定をなくして測定効率の向上を図ることを目的とし
たものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この発明に係るプリント
基板装着用ＩＣソケットは、ＩＣソケットフレーム側面
に測定用チェックピンを突出して設けたものである。
基板装着用ＩＣソケットは、ＩＣソケットフレーム側面
に測定用チェックピンを突出して設けたものである。
【０００７】
【作用】この発明におけるプリント基板装着用ＩＣソケ
ットは、被測定物リードにストレスをかけないで測定可
能となり、またプリント基板裏面より測定しなくてよい
ので測定効率が良い。
ットは、被測定物リードにストレスをかけないで測定可
能となり、またプリント基板裏面より測定しなくてよい
ので測定効率が良い。
【０００８】
【実施例】以下、この発明の一実施例を図について説明
する。図１において、８はＩＣソケットフレーム２の側
面に突出して設けられた測定用チェックピンである。な
おその他の構成は上記従来例のものと同様につき説明を
省略する。
する。図１において、８はＩＣソケットフレーム２の側
面に突出して設けられた測定用チェックピンである。な
おその他の構成は上記従来例のものと同様につき説明を
省略する。
【０００９】次に動作を説明する。プリント基板１にＩ
Ｃソケットコンタクトピンのアウター部にて装着したＩ
Ｃソケットに被測定物５を挿入して被測定物リード６よ
りの任意の特性値を測定する際、測定用端子７を側面に
配置した測定用チェックピン８に当てて測定することが
できる。このことにより、従来のように被測定物リード
６またはハンダ付け部４に測定用端子７を当てて測定し
なくてよくなり、従って被測定物リードにストレスを加
えることなく、又、効率良く測定が可能となる。
Ｃソケットコンタクトピンのアウター部にて装着したＩ
Ｃソケットに被測定物５を挿入して被測定物リード６よ
りの任意の特性値を測定する際、測定用端子７を側面に
配置した測定用チェックピン８に当てて測定することが
できる。このことにより、従来のように被測定物リード
６またはハンダ付け部４に測定用端子７を当てて測定し
なくてよくなり、従って被測定物リードにストレスを加
えることなく、又、効率良く測定が可能となる。
【００１０】
【発明の効果】以上のようにこの発明によれば、被測定
物リードにストレスを加えずに測定でき、かつ効率良く
プリント基板表面より測定端子を当てて測定可能とな
る。
物リードにストレスを加えずに測定でき、かつ効率良く
プリント基板表面より測定端子を当てて測定可能とな
る。
【図１】この発明の一実施例によるプリント基板装着用
を示す断面図である。
を示す断面図である。
【図２】従来のプリント基板装着用ＩＣソケットを示す
断面図である。
断面図である。
１ プリント基板 ２ ＩＣソケットフレーム ３ ＩＣソケットコンタクトピン ４ ハンダ付け部 ５ 被測定物 ６ リード ７ 測定用端子 ８ 測定用チェックピン
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項１】 プリント基板上に装着されるＩＣソケッ
トにおいて、上記ＩＣソケットのフレームの側面に突き
出した測定用チェックピンを設けたことを特徴とするＩ
Ｃソケット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19259391A JPH0513525A (ja) | 1991-07-05 | 1991-07-05 | Ｉｃソケツト |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19259391A JPH0513525A (ja) | 1991-07-05 | 1991-07-05 | Ｉｃソケツト |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0513525A true JPH0513525A (ja) | 1993-01-22 |
Family
ID=16293858
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19259391A Pending JPH0513525A (ja) | 1991-07-05 | 1991-07-05 | Ｉｃソケツト |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0513525A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1987002780A1 (fr) * | 1985-11-05 | 1987-05-07 | Kanebo, Ltd. | Procede d'immunoanalyse |
-
1991
- 1991-07-05 JP JP19259391A patent/JPH0513525A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1987002780A1 (fr) * | 1985-11-05 | 1987-05-07 | Kanebo, Ltd. | Procede d'immunoanalyse |
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