JPH102871A - Moisture measurement control device of grain moisture meter - Google Patents

Moisture measurement control device of grain moisture meter

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JPH102871A
JPH102871A JP15255496A JP15255496A JPH102871A JP H102871 A JPH102871 A JP H102871A JP 15255496 A JP15255496 A JP 15255496A JP 15255496 A JP15255496 A JP 15255496A JP H102871 A JPH102871 A JP H102871A
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JP
Japan
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voltage
waveform
grain
detected
moisture
Prior art date
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Pending
Application number
JP15255496A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Harumitsu Toki
治光 十亀
Masayuki Chikamoto
正幸 近本
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Iseki and Co Ltd
Iseki Agricultural Machinery Mfg Co Ltd
Original Assignee
Iseki and Co Ltd
Iseki Agricultural Machinery Mfg Co Ltd
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Publication date
Application filed by Iseki and Co Ltd, Iseki Agricultural Machinery Mfg Co Ltd filed Critical Iseki and Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 検出ロール間で穀粒を挟圧粉砕のときに、こ
の穀粒がこの検出ロール間に供給される姿勢によって、
検出される電圧波形が変化することにより、正確な穀粒
水分の検出ができなかった。 【解決手段】 検出ロール32,32間で挟圧粉砕した
粉砕穀粒から検出する電圧V1波形に含まれる高周波ノ
イズ電圧VAを除去した電圧V2波形と、この電圧V2
波形を所定時間遅延させて得る電圧V3波形とを比較し
て、該電圧V2波形が該電圧V3波形に交差する交差位
置の電圧VB値を検出穀粒水分に置換する。
(57) [Summary] [Problem] To press and grind a grain between detection rolls, the posture of the grain is supplied between the detection rolls.
Due to a change in the detected voltage waveform, accurate detection of grain moisture could not be performed. SOLUTION: A voltage V2 waveform obtained by removing a high-frequency noise voltage VA included in a voltage V1 waveform detected from crushed grains pressed and crushed between detection rolls 32, 32, and a voltage V2
The voltage V3 waveform obtained by delaying the waveform by a predetermined time is compared, and the voltage VB value at the intersection of the voltage V2 waveform and the voltage V3 waveform is replaced with the detected grain moisture.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、穀粒を乾燥する穀粒
乾燥機等に使用して乾燥中の穀粒水分を測定する穀粒水
分測定器の水分測定制御装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a moisture control device for a grain moisture meter for measuring grain moisture during drying by using the grain dryer for drying grains.

【0002】[0002]

【従来の技術】例えば、穀粒を乾燥する穀粒乾燥機に使
用して乾燥中の穀粒水分を測定する穀粒水分測定器で
は、所定時間間隔で一粒づつ穀粒の供給を受けて、検出
ロール間でこの穀粒は、一粒づつ挟圧粉砕され、この粉
砕穀粒の電圧波形を検出し、この検出電圧波形の最高電
圧値を、穀粒水分に置換して、検出穀粒水分値とする構
成が主であった。
2. Description of the Related Art For example, in a grain moisture meter for measuring grain moisture during drying using a grain dryer for drying grains, a grain is supplied one by one at predetermined time intervals. The grains are pinched and crushed one by one between the detection rolls, and the voltage waveform of the crushed grains is detected, and the maximum voltage value of the detected voltage waveform is replaced with the moisture of the grains to detect the grains. The main configuration was the moisture value.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】検出ロール間で穀粒を
挟圧粉砕のときに、この穀粒がこの検出ロール間に供給
される姿勢によって、検出される電圧波形が種々に変化
することにより、正確な穀粒水分の検出ができないこと
があったが、この発明によってこれを解消しようとする
ものである。
When the grains are pinched and pulverized between the detection rolls, the detected voltage waveform changes variously depending on the posture in which the grains are supplied between the detection rolls. In some cases, accurate detection of grain moisture cannot be performed, but the present invention is intended to solve this problem.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】このために、この発明
は、穀粒の供給を受けて検出ロール33,33間で挟圧
粉砕してこの粉砕穀粒から検出する電圧V1波形に含ま
れる高周波ノイズ電圧VAを除去した後の電圧V2波形
と、該電圧V2波形を所定時間遅延させて得る電圧V3
波形とを比較して該電圧V2波形が該電圧V3波形に交
差する交差位置の電圧VB値を穀粒の検出水分値に置換
すべく制御する制御装置30を設けたことを特徴とする
穀粒水分測定器の水分測定制御装置の構成とする。
For this purpose, the present invention is directed to a high-frequency wave included in a waveform of a voltage V1 detected from the crushed grain by being pressed and crushed between the detection rolls 33, 33 after receiving the supply of the grain. A voltage V2 waveform after removing the noise voltage VA, and a voltage V3 obtained by delaying the voltage V2 waveform by a predetermined time.
And a control unit (30) for comparing the voltage V2 waveform and the voltage VB value at the intersection position where the voltage V2 waveform intersects the voltage V3 waveform with the detected moisture value of the kernel. The configuration of the moisture measurement control device of the moisture meter is adopted.

【0005】[0005]

【発明の作用】穀粒を乾燥する穀粒乾燥機に使用した穀
粒水分測定器では、この乾燥機で乾燥中の穀粒は、所定
時間間隔で一粒づつ穀粒の供給を受け、検出ロール3
3,33間でこの穀粒は、一粒づつ挟圧粉砕され、この
粉砕穀粒の電圧V1波形が検出され、この検出電圧V1
波形に含まれる高周波ノイズ電圧VAが除去され、除去
後の電圧V2波形とこの電圧V2波形を所定時間遅延さ
せて得る電圧V3波形とを比較して、該電圧V2波形が
該電圧V3波形に交差する交差位置の電圧VB値が制御
装置30で検出され、更にこの制御装置30でこの電圧
VB値が穀粒水分値に置換されて、穀粒水分値が検出さ
れる。
According to the grain moisture meter used in the grain dryer for drying the grains, the grains being dried by the dryer are supplied with the grains one by one at predetermined time intervals and detected. Roll 3
The grains are pinched and pulverized one by one between 3, 33, and the voltage V1 waveform of the pulverized grains is detected.
The high-frequency noise voltage VA included in the waveform is removed, and the removed voltage V2 waveform is compared with a voltage V3 waveform obtained by delaying the voltage V2 waveform for a predetermined time, and the voltage V2 waveform intersects the voltage V3 waveform. The controller 30 detects the voltage VB value at the intersection position where the intersection occurs, and the controller 30 replaces the voltage VB value with the grain moisture value, and detects the grain moisture value.

【0006】[0006]

【発明の効果】電圧V2波形と電圧V3波形とが比較さ
れて、これら電圧V2波形が電圧V3波形に交差する位
置の電圧VB値を検出することにより、穀粒粉砕時の姿
勢によって種々に変化する電圧V2波形を正確に検出で
きることになるため、測定値の変動が少なくなり、正確
な穀粒水分を得ることができる。
The voltage V2 waveform is compared with the voltage V3 waveform, and the voltage VB value at the position where the voltage V2 waveform intersects the voltage V3 waveform is detected. Since the voltage V2 waveform to be detected can be accurately detected, the fluctuation of the measured value is reduced, and accurate grain moisture can be obtained.

【0007】[0007]

【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説
明する。図例は、穀粒を乾燥する循環型の穀粒乾燥機1
に穀粒の水分を検出する穀粒水分測定器2、及び熱風が
発生するバーナ3等を装着した状態を示すものであり、
該水分測定器2を装着状態で説明する。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. The figure shows a circulation type grain dryer 1 for drying grains.
Shows a state in which a grain moisture measuring device 2 for detecting grain moisture and a burner 3 for generating hot air are attached to
The moisture measuring device 2 will be described in a mounted state.

【0008】前記乾燥機1は、前後方向に長い長方形状
で機壁4上部には、移送螺旋を回転自在に内装した移送
樋5、及び天井板6を設け、この天井板6下側には穀粒
を貯留する穀粒貯留室7を形成している。穀粒乾燥室
8,8は、貯留室7下側において、左右両側の排風室
9,9と中央の送風室10との間に設け、これら乾燥室
8,8下部には、穀粒を繰出し流下させる繰出バルブ1
1を夫々回転自在に軸支している。
The dryer 1 is provided with a transfer trough 5 having a transfer spiral rotatably mounted therein and a ceiling plate 6 above the machine wall 4 in a rectangular shape long in the front-rear direction. A grain storage chamber 7 for storing grains is formed. The grain drying chambers 8 and 8 are provided below the storage chamber 7 between the left and right exhaust chambers 9 and 9 and the center air blowing chamber 10. Discharge valve 1 for dispensing
1 are rotatably supported respectively.

【0009】集穀樋12は、移送螺旋を回転自在に軸支
し、各乾燥室8,8下側に設けて連通させている。前記
バーナ3は、バーナケース13に内装して設け、このバ
ーナケース13は、前側機壁4正面側において、送風室
10入口側に対応すべくこの前側機壁4外側面に着脱自
在に設け、又乾燥機1、水分測定器2、及び該バーナ3
等を張込、乾燥、及び排出の各作業別に始動及び停止操
作する操作装置14は、該前側機壁4外側面に着脱自在
に設けている。
The grain collecting gutter 12 rotatably supports a transfer spiral, and is provided below each of the drying chambers 8 and 8 so as to communicate with each other. The burner 3 is provided inside a burner case 13, and the burner case 13 is detachably provided on an outer surface of the front machine wall 4 in front of the front machine wall 4 so as to correspond to an inlet side of the blower chamber 10. A dryer 1, a moisture meter 2, and the burner 3;
An operating device 14 for starting and stopping the work for each of the work of inserting, drying, and discharging is detachably provided on the outer surface of the front machine wall 4.

【0010】排風機15は、後側機壁4で、左右の排風
室9,9に連通すべく設けた排風路室16中央後部側排
風胴17に設け、又この後側機壁4には、この排風機1
5を回転駆動する排風機モータ18を設けている。バル
ブモータ19は、繰出バルブ11,11を減速機構を介
して回転駆動させている。
An exhaust fan 15 is provided on a rear exhaust wall 17, which is provided in the rear exhaust wall 9, and communicates with the left and right exhaust chambers 9, 9. 4 has this exhaust fan 1
5 is provided. The valve motor 19 drives the delivery valves 11 and 11 to rotate via a speed reduction mechanism.

【0011】燃料ポンプ20は、燃料バルブを有して、
バーナケース13下板外側に設け、この燃料バルブの開
閉により、この燃料ポンプ20で燃料タンク21内の燃
料を吸入して、バーナ3へ供給させている。送風機22
は、上板外側に設け、変速用の送風機モータ23で変速
回転駆動させ、供給燃料量に見合った燃焼用空気を該バ
ーナ3へこの送風機22で送風させている。該バーナ3
から発生する熱風と、該バーナケース13内を通過する
外気風とが混合して乾燥熱風になる構成である。
The fuel pump 20 has a fuel valve,
The fuel pump 20 sucks the fuel in the fuel tank 21 and supplies the fuel to the burner 3 by opening and closing the fuel valve. Blower 22
Is provided on the outer side of the upper plate, is driven to rotate at a variable speed by a blower motor 23 for speed change, and blows combustion air corresponding to the supplied fuel amount to the burner 3 by the blower 22. Burner 3
The hot air generated from the air and the outside air passing through the burner case 13 are mixed to form dry hot air.

【0012】拡散盤24は、移送樋5底板の前後方向中
央部で、移送穀粒を貯留室7へ供給する供給口の下側に
設け、該貯留室7へ穀粒を均等に拡散還元させている。
昇穀機25は、前側機壁4外側部に設けられ、内部には
バケットコンベア26付ベルトを張設してなり、上端部
は、移送樋5始端部との間において投出筒27を設けて
連通させて、下端部は、集穀樋12終端部との間におい
て供給樋28を設けて連通させている。
The diffusion board 24 is provided at the center in the front-rear direction of the bottom plate of the transfer gutter 5 and below the supply port for supplying the transfer kernels to the storage room 7, and the diffusion kernels are uniformly diffused and reduced to the storage room 7. ing.
The grain raising machine 25 is provided on the outer side of the front side machine wall 4 and has a belt with a bucket conveyor 26 stretched inside. The upper end is provided with a discharge cylinder 27 between the starter of the transfer gutter 5. The lower end portion is provided with a supply gutter 28 between the end portion of the grain collecting gutter 12 and communicates therewith.

【0013】昇穀機モータ29は、バケットコンベア2
6付ベルト、移送樋5内の移送螺旋、拡散盤24、及び
集穀樋12内の移送螺旋等を回転駆動させている。前記
水分測定器2は、昇穀機25の上下方向ほぼ中央部に設
け、この水分測定器2は、操作装置14内に設けた制御
装置30からの所定時間間隔の電気的測定信号の発信に
より、水分モータ31が回転して、この水分測定器2の
繰込ロール32、検出ロール33,33等が回転駆動さ
れ、バケットコンベア26で上部へ搬送中に落下する穀
粒を案内板34と該繰込ロール32で受け、この繰込ロ
ール32の移送溝35と該案内板34とによって一粒づ
つ繰込み移送して、下側の該検出ロール33,33間へ
一粒づつ供給され、この検出ロール33,33間で一粒
づつ供給された穀粒は、例えば32粒挟圧粉砕して、こ
の32粒の粉砕穀粒の水分が検出され、この32粒の検
出穀粒水分の平均水分値が算出され、この32粒を夫々
3回検出して、夫々の平均値が算出され、更に、この3
回の平均値が算出され、この3回の平均穀粒水分値が、
1回の検出穀粒水分値とする構成としている。
The grain raising machine motor 29 is mounted on the bucket conveyor 2.
The belt with 6, the transfer spiral in the transfer gutter 5, the diffusion board 24, the transfer spiral in the grain collecting gutter 12, and the like are rotationally driven. The moisture measuring device 2 is provided substantially at the center of the grain raising machine 25 in the vertical direction, and the moisture measuring device 2 is provided by transmitting an electrical measurement signal at predetermined time intervals from a control device 30 provided in the operating device 14. Then, the moisture motor 31 is rotated, and the feeding roll 32, the detection rolls 33, 33, etc. of the moisture measuring device 2 are driven to rotate, and the grains falling during transport to the upper part by the bucket conveyor 26 are guided by the guide plate 34 and the guide plate 34. It is received by the feeding roller 32, and is transferred one by one by the transfer groove 35 of the feeding roller 32 and the guide plate 34, and supplied one by one to the lower detection rollers 33, 33. The grains supplied one by one between the detection rolls 33, 33 are compressed and pulverized, for example, to 32 grains, and the moisture of the 32 grains is detected, and the average moisture of the 32 detected grains is detected. The value is calculated, and these 32 grains are detected three times each. The average value of each is calculated, further, the 3
The average value of the three times is calculated, and the average grain moisture value of the three times is
The configuration is such that the grain moisture value is detected once.

【0014】上記の一粒づつの穀粒水分検出は、図1の
如く、一粒の粉砕穀粒の電圧V1波形が検出され、この
電圧V1波形に含まれる高周波ノイズ電圧VAが図2の
如く、除去されて電圧V2波形が検出され、図3の如
く、この検出された電圧V2波形と、この電圧V2波形
を所定時間遅延させて得られた電圧V3波形とが比較さ
れ、この電圧V2波形がこの電圧V3波形に交差する交
差位置の電圧VB値が測定データになる構成としてい
る。
In the above-described detection of the water content of each grain, as shown in FIG. 1, a voltage V1 waveform of one crushed grain is detected, and a high-frequency noise voltage VA included in the voltage V1 waveform is detected as shown in FIG. , And a voltage V2 waveform is detected. As shown in FIG. 3, the detected voltage V2 waveform is compared with a voltage V3 waveform obtained by delaying the voltage V2 waveform for a predetermined time. Has a configuration in which a voltage VB value at an intersection position intersecting with the voltage V3 waveform becomes measurement data.

【0015】前記操作装置14は、箱形状でこの箱体の
表面板には、乾燥機1、水分測定器2、及びバーナ3等
を張込、乾燥及び排出の各作業別に始動操作する押ボタ
ン方式でON−OFFスイッチの各始動手段36、停止
操作する停止手段37、穀粒の仕上目標水分を操作位置
によって設定する水分設定手段38、該バーナ3が発生
する熱風の温度を操作位置によって設定する穀物種類設
定手段39、及び張込量設定手段40、各種表示項目を
デジタル表示する表示部41、及びモニタ表示等を設け
ている。
The operating device 14 is a box-shaped push button for starting the drying machine 1, the moisture measuring machine 2, the burner 3 and the like on the surface plate of the box body, and for starting and drying operations respectively. Each starting means 36 of the ON-OFF switch, a stopping means 37 for stopping the operation, a moisture setting means 38 for setting a finishing target moisture of the grain by an operation position, and a temperature of hot air generated by the burner 3 by an operation position. And a display unit 41 for digitally displaying various display items, a monitor display, and the like.

【0016】前記制御装置30は、操作装置14内に設
けられ、熱風温センサ42等が検出する検出値、各始動
手段36、停止手段37、及び各設定手段38,39,
40の操作等が入力され、これらの入力を算術論理演
算、及び比較演算するCPU43等よりなり、このCP
U43で各モータ18,19,23,29,31、燃料
バルブ、及び燃料ポンプ20等を始動、停止、及び調節
制御等を行う構成である。該各設定手段38,39,4
0はロータリースイッチ方式とし、操作位置によって所
定の数値、及び種類等が設定される。
The control device 30 is provided in the operating device 14 and detects a value detected by the hot air temperature sensor 42 and the like, each starting means 36, stopping means 37, and each setting means 38, 39,
An operation 40 is input, and a CPU 43 and the like which perform arithmetic and logical operations and comparison operations on these inputs.
In U43, the motors 18, 19, 23, 29, 31, the fuel valve, the fuel pump 20, and the like are started, stopped, and adjusted and controlled. The setting means 38, 39, 4
0 is a rotary switch type, and a predetermined numerical value, type, and the like are set according to the operation position.

【0017】前記水分測定器2の検出電圧V1波形は、
ローパスフィルター44を経て、高周波ノイズ電圧VA
が除去されて、電圧V2波形となり、又、遅延回路45
を経て電圧V3波形となり、これら電圧V2波形と電圧
V3波形とは、増幅回路46を経て電圧VB値となっ
て、CPU43へ入力され、又電圧V2は、A−D変換
回路47で変換されて、該CPU43へ入力され、この
CPU43へ入力された電圧は、一粒の穀粒水分値に置
換され、一粒の検出穀粒水分値になる構成であり、又、
水分モータ31を始動、及び停止制御する構成としてい
る。
The waveform of the detection voltage V1 of the moisture meter 2 is as follows:
After passing through the low-pass filter 44, the high-frequency noise voltage VA
Is removed to form a voltage V2 waveform, and the delay circuit 45
, A voltage V3 waveform, and the voltage V2 waveform and the voltage V3 waveform are converted into a voltage VB value through an amplifier circuit 46 and input to the CPU 43. The voltage V2 is converted by an AD converter circuit 47. The voltage input to the CPU 43 and the voltage input to the CPU 43 are replaced with one grain moisture value, and become one detected grain moisture value.
The water motor 31 is configured to start and stop.

【0018】図11は、穀粒水分測定データの制御を示
す図である。図11の如く、一粒の粉砕穀粒の高周波ノ
イズ電圧VAを除去した電圧V2が所定電圧V4値以上
であるか検出され、以上であると穀粒であると検出さ
れ、以下であると藁屑、及び稈切等であると検出され
る。穀粒であると検出されると、穀粒検出パルス内に検
出された高周波ノイズ電圧VA除去後の電圧V2波形の
第1最高電圧値VH1と第2最高電圧値VH2とが検出
され、これら両者の電圧差VMが検出され、この検出さ
れた電圧差VMと、CPU43へ設定記憶させた所定値
とが比較され、検出電圧差VMがこの設定所定値以上で
あると検出されると、穀粒粉砕ミスによって検出された
データであると判定して、この検出された第1、第2最
高電圧値VH1,VH2のデータは除去されて、データ
としては使用しない構成としている。
FIG. 11 is a diagram showing control of the grain moisture measurement data. As shown in FIG. 11, it is detected whether or not the voltage V2 from which the high-frequency noise voltage VA of one crushed grain has been removed is equal to or higher than a predetermined voltage V4 value. It is detected as debris and culm cutting. If it is detected as a kernel, a first maximum voltage value VH1 and a second maximum voltage value VH2 of the voltage V2 waveform after removal of the high-frequency noise voltage VA detected in the kernel detection pulse are detected, and both of them are detected. Is detected, and the detected voltage difference VM is compared with a predetermined value set and stored in the CPU 43. When it is detected that the detected voltage difference VM is equal to or larger than the set predetermined value, the kernel It is determined that the data is detected as a result of a crushing error, and the detected data of the first and second maximum voltage values VH1 and VH2 are removed and are not used as data.

【0019】又、これら第1、第2最高電圧値VH1,
VH2の検出は、電圧V1波形から高周波ノイズ電圧V
A波形を除去した電圧V2波形とこの電圧V2波形を所
定時間遅延させて得られた電圧V3波形とが比較され、
該電圧V2波形が該電圧V3波形に交差する交差位置の
電圧VB値を検出して、この検出される第1、第2電圧
VB1,VB2値を使用するもよい。
The first and second maximum voltage values VH1, VH1,
The detection of VH2 is based on the high-frequency noise voltage V
The voltage V2 waveform from which the waveform A has been removed is compared with a voltage V3 waveform obtained by delaying the voltage V2 waveform for a predetermined time.
The voltage VB value at the intersection of the voltage V2 waveform and the voltage V3 waveform may be detected, and the detected first and second voltages VB1 and VB2 may be used.

【0020】又、検出された電圧V2波形の第1最高電
圧値VH1と第2最高電圧値VH2との間の時間T1が
検出され、この検出された時間T1と、CPU43へ設
定記憶させた所定値とが比較され、検出時間T1がこの
設定所定値以内であると検出されると、穀粒粉砕ミスに
よって検出されたデータであると判定して、この検出さ
れた第1、第2最高電圧値VH1,VH2のデータは除
去されて、データとしては使用しない構成とするもよ
い。
A time T1 between the first maximum voltage value VH1 and the second maximum voltage value VH2 of the detected voltage V2 waveform is detected, and the detected time T1 and a predetermined time stored and stored in the CPU 43 are stored. When the detection time T1 is detected to be within the set predetermined value, it is determined that the data is data detected due to a grain crushing error, and the detected first and second maximum voltages are detected. The data of the values VH1 and VH2 may be removed and not used as data.

【0021】上記により、穀粒の粉砕のときに、複数個
に砕けて別れた場合は、測定される電圧V1の低下と複
数の大きなピーク値が発生し、砕けた大きさによって、
このピーク電圧が異なり、これによって有効データか否
かを判定して、不良データは除去されることにより、精
度の高い穀粒水分検出ができる。図12、及び図13
は、穀粒水分測定データの制御を示す図である。
As described above, when the grains are crushed into pieces when the grains are crushed, the measured voltage V1 decreases and a plurality of large peak values are generated.
The peak voltage is different, so that it is determined whether the data is valid data or not, and defective data is removed, so that highly accurate detection of grain moisture can be performed. 12 and 13
FIG. 3 is a diagram showing control of grain moisture measurement data.

【0022】図12の如く、一粒の粉砕穀粒の高周波ノ
イズ電圧VAを除去した電圧V2が所定電圧V4値以上
であるか検出され、以上であると穀粒であると検出さ
れ、以下であると藁屑、及び稈切等であると検出され
る。穀粒であると検出されると、穀粒検出パルス内に検
出された高周波ノイズ電圧VA除去後の電圧V2波形
と、この電圧V2波形を所定時間遅延させて得られた電
圧V3波形とが比較され、電圧V2波形が電圧V3波形
に交差する交差位置の各電圧値が検出され、これら検出
された各電圧値の中の最大値が、測定データになる構成
としている。
As shown in FIG. 12, it is detected whether or not the voltage V2 of one crushed grain from which the high-frequency noise voltage VA has been removed is equal to or higher than a predetermined voltage V4. If there is, it is detected as straw waste, culm cutting, and the like. When it is detected that the kernel is a kernel, the voltage V2 waveform after removing the high-frequency noise voltage VA detected in the kernel detection pulse is compared with a voltage V3 waveform obtained by delaying the voltage V2 waveform for a predetermined time. Then, each voltage value at the intersection of the voltage V2 waveform and the voltage V3 waveform is detected, and the maximum value among the detected voltage values becomes the measurement data.

【0023】前記水分測定器2の検出電圧V1波形は、
ローパスフィルター44を経て、高周波ノイズ電圧VA
が除去されて、電圧V2波形となり、遅延回路45を経
て電圧V3波形となり、これら電圧V2波形と電圧V3
波形とは、増幅回路46へ入力され、又、電圧V2波形
と穀粒検出用基準電圧V5とは、比較回路48へ入力さ
れ、該増幅回路46と該比較回路48とを径た電圧は、
電圧VB値となって制御装置49のCPU50へ入力さ
れる。又、電圧V2は、A−D変換回路47で変換され
て、該CPU50へ入力される。このCPU50へ入力
された電圧は、一粒の穀粒水分値に置換され、一粒の検
出穀粒水分値になる構成であり、又、水分モータ31を
始動、及び停止制御する構成としている。
The waveform of the detection voltage V1 of the moisture meter 2 is as follows:
After passing through the low-pass filter 44, the high-frequency noise voltage VA
Is removed to form a voltage V2 waveform, and a voltage V3 waveform through the delay circuit 45. These voltage V2 waveform and voltage V3
The waveform is input to the amplification circuit 46, and the voltage V2 waveform and the kernel detection reference voltage V5 are input to the comparison circuit 48, and the voltage of the amplification circuit 46 and the comparison circuit 48 is
The voltage VB value is input to the CPU 50 of the control device 49. The voltage V2 is converted by the A / D conversion circuit 47 and input to the CPU 50. The voltage input to the CPU 50 is replaced with a grain water value of one grain to become a detected grain moisture value of one grain, and also controls the start and stop of the moisture motor 31.

【0024】上記により、砕米や稈切と穀粒との区別す
る穀粒検出パルスとこのパルス発生期間中の最大値が測
定データになり、このために、砕米や稈切等を除いた穀
粒のみの測定データになることにより、平均水分値や標
準偏差の測定精度を向上させることができる。図14、
及び図15は、水分測定電圧信号V1の高周波領域の電
圧変動分を除去制御する図を示すものである。
According to the above, the grain detection pulse for distinguishing the grain from the crushed rice or culm and the maximum value during the pulse generation period become the measurement data. By using only measurement data, the measurement accuracy of the average moisture value and the standard deviation can be improved. FIG.
FIG. 15 shows a diagram for controlling the removal of the voltage fluctuation in the high frequency region of the moisture measurement voltage signal V1.

【0025】図14の如く、測定波形のパワースペクト
ルのA表示部は、約190Hz(T=5msec)のと
きを示し、B表示は、約440Hz(T=2msec)
のときを示す。これらA、及びB表示部の測定波形(原
波形)は、A1、及びB1部である。前記水分測定器2
の測定電圧信号V1は、あらかじめ設定した周波数特性
を持つローパスフィルター44を通過させて、A−D変
換回路47を経て制御装置52のCPU53へ入力させ
る。又、該ローパスフィルター44を通過した測定電圧
信号V1は、比較回路51へ入力され、穀粒検出用基準
電圧V5は、該比較回路51へ入力され、この比較回路
51を経た電圧は、該CPU53へ入力される。該ロー
パスフィルター44の通過帯域は、0〜8.0Hz程度
とした構成としている。このCPU53へ入力された電
圧は、一粒の穀粒水分に置換され、一粒の検出穀粒水分
値になる構成であり、又、水分モータ31を始動、及び
停止制御する構成としている。
As shown in FIG. 14, the A display portion of the power spectrum of the measured waveform shows a case at about 190 Hz (T = 5 msec), and the B display shows about 440 Hz (T = 2 msec).
Shows when The measurement waveforms (original waveforms) of these A and B display sections are A1 and B1 sections. The moisture meter 2
Is passed through a low-pass filter 44 having a preset frequency characteristic, and is input to the CPU 53 of the control device 52 through the AD conversion circuit 47. The measured voltage signal V1 that has passed through the low-pass filter 44 is input to a comparison circuit 51, and the kernel detection reference voltage V5 is input to the comparison circuit 51. The voltage that has passed through the comparison circuit 51 is applied to the CPU 53. Is input to The low-pass filter 44 has a pass band of about 0 to 8.0 Hz. The voltage input to the CPU 53 is configured to be replaced with one grain moisture to become one detected grain moisture value, and to control the start and stop of the moisture motor 31.

【0026】上記により、水分測定速度を上げることに
より、検出ロール33,33間の粉砕穀粒は、この検出
ロール33,33の回転速度に対して、移動速度が変化
するために、測定電圧は、高周波ノイズを含むようにな
るが、測定電圧信号V1に含まれるノイズを除去した信
号から水分測定を行うことができるために、測定値のバ
ラツキの少ないデータを得ることができて、測定精度の
向上を図ることができる。
As described above, by increasing the moisture measurement speed, the crushed grain between the detection rolls 33, 33 changes its moving speed with respect to the rotation speed of the detection rolls 33, 33. Although high-frequency noise is included, moisture measurement can be performed from a signal from which noise included in the measurement voltage signal V1 has been removed, so that data with less variation in measurement values can be obtained, and measurement accuracy can be improved. Improvement can be achieved.

【0027】図14、及び図16は、水分測定電圧信号
V1を平滑回路54を介して、高周波領域の電圧変動分
を平均化制御する図を示すものである。図14の如く、
パワースペクトルと測定波形との関係を示す。前記水分
測定器2の測定電圧信号V1は、平滑回路54を介して
高周波領域の電圧変動分が平均化され、A−D変換回路
47を経て制御装置55のCPU56へ入力される。又
平滑回路54を経た測定電圧信号V1は、比較回路51
へ入力され、穀粒検出用基準電圧V5は、該比較回路5
1へ入力され、この比較回路51を経た電圧は、該CP
U56へ入力される。このCPU56へ入力された電圧
は、一粒の穀粒水分に置換され、一粒の検出穀粒水分値
になる構成であり、又、水分モータ31を始動、及び停
止制御する構成としている。
FIGS. 14 and 16 show diagrams for controlling the moisture fluctuation voltage signal V1 through the smoothing circuit 54 to average the voltage fluctuation in the high frequency region. As shown in FIG.
4 shows a relationship between a power spectrum and a measured waveform. The measured voltage signal V1 of the moisture meter 2 is averaged in a high-frequency region through a smoothing circuit 54, and is input to a CPU 56 of a control device 55 through an AD conversion circuit 47. The measured voltage signal V1 that has passed through the smoothing circuit 54 is
The reference voltage V5 for grain detection is input to the comparison circuit 5
1 and passed through the comparison circuit 51,
Input to U56. The voltage input to the CPU 56 is configured to be replaced with one grain moisture to become a detected grain moisture value of one grain, and to control the start and stop of the moisture motor 31.

【0028】上記により、水分測定速度を上げることに
より、検出ロール33,33間の粉砕穀粒は、この検出
ロール33,33の回転速度に対して、移動速度が変化
するために、測定電圧は、高周波ノイズを含むようにな
るが、測定電圧信号V1に含まれるノイズを平均化する
ことができるために、測定値のバラツキが減少すること
により、水分測定精度を向上させることができる。
As described above, by increasing the moisture measurement speed, the crushed grain between the detection rolls 33, 33 changes its moving speed with respect to the rotation speed of the detection rolls 33, 33. Although high-frequency noise is included, the noise included in the measurement voltage signal V1 can be averaged, so that the variation in the measurement value is reduced, and the accuracy of moisture measurement can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

図は、この発明の一実施例を示すものである。 FIG. 1 shows an embodiment of the present invention.

【図1】粉砕穀粒の電圧V1波形図FIG. 1 is a waveform diagram of a voltage V1 of a crushed grain.

【図2】高周波ノイズ電圧除去後の電圧V2波形図FIG. 2 is a waveform diagram of a voltage V2 after removing a high-frequency noise voltage.

【図3】電圧V2波形と遅延電圧V3波形図FIG. 3 is a diagram showing a voltage V2 waveform and a delay voltage V3 waveform.

【図4】電圧VB値検出パルス図FIG. 4 is a diagram showing a voltage VB value detection pulse.

【図5】穀粒水分測定器の一部の拡大斜視図FIG. 5 is an enlarged perspective view of a part of the grain moisture meter.

【図6】穀粒乾燥機の一部破断せる全体側面図FIG. 6 is a partially broken whole side view of the grain dryer.

【図7】図6のA−A拡大断面図FIG. 7 is an enlarged sectional view taken along the line AA of FIG. 6;

【図8】操作装置の一部破断せる拡大正面図FIG. 8 is an enlarged front view of the operating device, which can be partially broken.

【図9】穀粒水分測定器のブロック図FIG. 9 is a block diagram of a grain moisture meter.

【図10】全体ブロック図FIG. 10 is a general block diagram.

【図11】他の実施例を示す図で、粉砕穀粒電圧波形、
穀粒検出パルス、及びピーク信号図
FIG. 11 is a view showing another embodiment, in which a ground grain voltage waveform;
Kernel detection pulse and peak signal diagram

【図12】他の実施例を示す図で、電圧V2波形と遅延
電圧V3波形、穀粒検出パルス、及び電圧VB値検出パ
ルス図
FIG. 12 is a diagram showing another embodiment, showing a voltage V2 waveform, a delay voltage V3 waveform, a kernel detection pulse, and a voltage VB value detection pulse diagram.

【図13】他の実施例を示す図で、ブロック図FIG. 13 is a block diagram showing another embodiment.

【図14】他の実施例を示す図で、測定波形のパワース
ペクトルと原波形図
FIG. 14 is a diagram showing another embodiment, in which a power spectrum of a measured waveform and an original waveform diagram;

【図15】他の実施例を示す図で、ブロック図FIG. 15 is a block diagram showing another embodiment.

【図16】他の実施例を示す図で、ブロック図FIG. 16 is a block diagram showing another embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

30 制御装置 33 検出ロール V1 粉砕穀粒の電圧波形 V2 高周波ノイズ電圧除去後の電圧波形 V3 所定時間遅延後の電圧波形 VA 高周波ノイズ電圧 VB 電圧V2と電圧V3との比較して逆転位置の電
圧値
REFERENCE SIGNS LIST 30 control device 33 detection roll V1 voltage waveform of ground kernel V2 voltage waveform after removal of high-frequency noise voltage V3 voltage waveform after predetermined time delay VA high-frequency noise voltage VB Voltage value of reverse position by comparing voltage V2 and voltage V3

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 穀粒の供給を受けて検出ロール33,3
3間で挟圧粉砕してこの粉砕穀粒から検出する電圧V1
波形に含まれる高周波ノイズ電圧VAを除去した後の電
圧V2波形と、該電圧V2波形を所定時間遅延させて得
る電圧V3波形とを比較して該電圧V2波形が該電圧V
3波形に交差する交差位置の電圧VB値を穀粒の検出水
分値に置換すべく制御する制御装置30を設けたことを
特徴とする穀粒水分測定器の水分測定制御装置。
The detection rolls 33, 3 receive the supply of grains.
The voltage V1 detected from this crushed grain by pinching and crushing between the three
The voltage V2 waveform after removing the high-frequency noise voltage VA included in the waveform is compared with a voltage V3 waveform obtained by delaying the voltage V2 waveform by a predetermined time, and the voltage V2 waveform is compared with the voltage V2.
A moisture measurement control device for a grain moisture meter, comprising: a control device 30 for controlling a voltage VB value at an intersection position intersecting three waveforms to be replaced with a detected moisture value of a grain.
JP15255496A 1996-06-13 1996-06-13 Moisture measurement control device of grain moisture meter Pending JPH102871A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001249098A (en) * 2000-03-03 2001-09-14 Kett Electric Laboratory Single grain moisture meter and ground grain judging method using the same

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