JPH103039A5 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH103039A5 JPH103039A5 JP1996153770A JP15377096A JPH103039A5 JP H103039 A5 JPH103039 A5 JP H103039A5 JP 1996153770 A JP1996153770 A JP 1996153770A JP 15377096 A JP15377096 A JP 15377096A JP H103039 A5 JPH103039 A5 JP H103039A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical system
- imaging optical
- catadioptric
- lens group
- refractive
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Description
【発明の名称】反射屈折光学系、投影露光装置及び投影露光方法
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば半導体素子、または液晶表示素子等をフォトリソグラフィ工程で製造する際に使用される投影露光装置で用いられる光学系、特に、光学系の要素として反射鏡を用いることにより、紫外線波長域でクオーターミクロン単位の解像度を有する反射屈折光学系、該反射屈折光学系を用いた投影露光装置及び該反射屈折光学系を用いた投影露光方法に関する。
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば半導体素子、または液晶表示素子等をフォトリソグラフィ工程で製造する際に使用される投影露光装置で用いられる光学系、特に、光学系の要素として反射鏡を用いることにより、紫外線波長域でクオーターミクロン単位の解像度を有する反射屈折光学系、該反射屈折光学系を用いた投影露光装置及び該反射屈折光学系を用いた投影露光方法に関する。
【0007】
本発明は斯かる点に鑑み、紫外線波長域で大きな開口数を達成し、光学系全体が実用的な大きさで、クオーターミクロン単位の解像度を有し、光学系の各構成部材を小型化した反射屈折光学系、該反射屈折光学系を用いた投影露光装置及び該反射屈折光学系を用いた投影露光方法を提供することを目的とする。
本発明は斯かる点に鑑み、紫外線波長域で大きな開口数を達成し、光学系全体が実用的な大きさで、クオーターミクロン単位の解像度を有し、光学系の各構成部材を小型化した反射屈折光学系、該反射屈折光学系を用いた投影露光装置及び該反射屈折光学系を用いた投影露光方法を提供することを目的とする。
【0021】
【発明の効果】
以上のように、本発明では、紫外線波長域で大きな開口数を達成し、光学系全体が実用的な大きさで、クオーターミクロン単位の解像度を有し、更に製造も容易な反射屈折光学系、該反射屈折光学系を用いた投影露光装置及び該反射屈折光学系を用いた投影露光方法を提供することが可能となった。
【発明の効果】
以上のように、本発明では、紫外線波長域で大きな開口数を達成し、光学系全体が実用的な大きさで、クオーターミクロン単位の解像度を有し、更に製造も容易な反射屈折光学系、該反射屈折光学系を用いた投影露光装置及び該反射屈折光学系を用いた投影露光方法を提供することが可能となった。
Claims (16)
- 光線が進行する順に、屈折部材によって構成された第1結像光学系と、凹面鏡と、屈折部材によって構成された第2結像光学系とを含み、半導体素子のパターンを基板上へ投影する反射屈折光学系において、
前記第1結像光学系を構成する屈折部材及び前記第2結像光学系を構成する屈折部材のうち、少なくとも1つの屈折部材は非球面を有することを特徴とする反射屈折光学系。 - 前記第1結像光学系は、光線が一度だけ通過する第1レンズ群と、光線が往復する第2レンズ群とからなり、
該第2レンズ群の最も凹面鏡に近いレンズは、負レンズであり、
前記第2レンズ群を射出した光線は、前記第2結像光学系に入射する前に前記半導体素子のパターンを一度結像することを特徴とする請求項1記載の反射屈折光学系。 - 前記第1結像光学系と前記第2結像光学系との間に光路偏向部材を配置したことを特徴とする請求項1又は2記載の反射屈折光学系。
- 前記第1結像光学系を構成する屈折部材及び前記第2結像光学系を構成する屈折部材は、石英及び蛍石、またはその何れか1つの硝材により構成されることを特徴とする請求項1乃至3の何れか一項記載の反射屈折光学系。
- 前記凹面鏡は非球面形状であることを特徴とする請求項1乃至4の何れか一項記載の反射屈折光学系。
- レチクルのパターン像を基板上に露光する反射屈折光学系において、
屈折部材と凹面鏡とを有する第1結像光学系と、
前記第1結像光学系と前記基板との間の光路中に配置されて、屈折部材を有する第2結像光学系とを備え、
前記第1及び第2結像光学系を構成する屈折部材のうち、少なくとも1つの屈折部材は非球面を有することを特徴とする反射屈折光学系。 - 前記第1結像光学系は、前記レチクルと前記凹面鏡との間の光路中に配置された第1レンズ群と、該第1レンズ群と前記凹面鏡との間の光路中に配置された第2レンズ群とを備え、
前記第1レンズ群には光線が一度だけ通過し、かつ前記第2レンズ群には光線が往復通過し、
前記第2レンズ群は、最も前記凹面鏡に近接配置される負レンズを備え、
前記第1結像光学系と前記第2結像光学系との間の光路中には前記レチクルの中間像が形成されることを特徴とする請求項6記載の反射屈折光学系。 - 前記第2レンズ群は、少なくとも2つの異なる負屈折力を持つ屈折部材と、少なくとも2つの異なる正屈折力を持つ屈折部材とを備えていることを特徴とする請求項7記載の反射屈折光学系。
- 前記第1レンズ群は、少なくとも3つの異なる屈折力を持つ屈折部材を備えていることを特徴とする請求項8記載の反射屈折光学系。
- 前記第1レンズ群中の前記少なくとも3つの異なる屈折力を持つ屈折部材は、調整用のレンズを備えていることを特徴とする請求項9記載の反射屈折光学系。
- 前記第1結像光学系と前記第2結像光学系との間の光路中に配置された光路偏向部材をさらに備えていることを特徴とする請求項6乃至10の何れか一項記載の反射屈折光学系。
- 前記第1及び第2結像光学系を構成する屈折部材は、石英及び蛍石、またはその何れか1つの材料により構成されることを特徴とする請求項6乃至11の何れか一項記載の反射屈折光学系。
- 前記凹面鏡は非球面形状を有することを特徴とする請求項6乃至12の何れか一項記載の反射屈折光学系。
- 前記第2結像光学系は、可変絞りを備えていることを特徴とする請求項6乃至13の何れか一項記載の反射屈折光学系。
- 投影光学系を介してレチクルの像を基板上に露光する投影露光装置において、
前記レチクルの像を前記基板上に転写するための請求項1乃至14の何れか一項記載の反射屈折光学系を備えていることを特徴とする投影露光装置。 - 投影光学系を介してレチクルの像を基板上に露光する投影露光方法において、
請求項1乃至14の何れか一項記載の反射屈折光学系を用いて前記レチクルの像を基板上に転写することを特徴とする投影露光方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8153770A JPH103039A (ja) | 1996-06-14 | 1996-06-14 | 反射屈折光学系 |
| KR1019970021291A KR980005325A (ko) | 1996-06-14 | 1997-05-28 | 반사굴절 광학계 |
| EP97110124A EP0816892A3 (en) | 1996-06-14 | 1997-06-16 | Catadioptric lens system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8153770A JPH103039A (ja) | 1996-06-14 | 1996-06-14 | 反射屈折光学系 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH103039A JPH103039A (ja) | 1998-01-06 |
| JPH103039A5 true JPH103039A5 (ja) | 2004-10-21 |
Family
ID=15569767
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8153770A Pending JPH103039A (ja) | 1996-06-14 | 1996-06-14 | 反射屈折光学系 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0816892A3 (ja) |
| JP (1) | JPH103039A (ja) |
| KR (1) | KR980005325A (ja) |
Families Citing this family (47)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5969882A (en) * | 1997-04-01 | 1999-10-19 | Nikon Corporation | Catadioptric optical system |
| EP1079253A4 (en) | 1998-04-07 | 2004-09-01 | Nikon Corp | DEVICE AND PROCESS FOR PROJECTION EXPOSURE, AND OPTICAL SYSTEM WITH REFLECTION AND REFRACTION |
| EP0964307A3 (en) | 1998-06-08 | 2001-09-05 | Nikon Corporation | Projection exposure apparatus and method |
| DE69933973T2 (de) * | 1998-07-29 | 2007-06-28 | Carl Zeiss Smt Ag | Katadioptrisches optisches system und damit ausgestattete belichtungsvorrichtung |
| US6451507B1 (en) | 1998-08-18 | 2002-09-17 | Nikon Corporation | Exposure apparatus and method |
| US7151592B2 (en) | 1999-02-15 | 2006-12-19 | Carl Zeiss Smt Ag | Projection system for EUV lithography |
| US6985210B2 (en) | 1999-02-15 | 2006-01-10 | Carl Zeiss Smt Ag | Projection system for EUV lithography |
| USRE42118E1 (en) * | 1999-02-15 | 2011-02-08 | Carl-Zeiss-Smt Ag | Projection system for EUV lithography |
| EP1094350A3 (en) | 1999-10-21 | 2001-08-16 | Carl Zeiss | Optical projection lens system |
| JP2001160530A (ja) | 1999-12-01 | 2001-06-12 | Nikon Corp | ステージ装置及び露光装置 |
| KR100854052B1 (ko) | 1999-12-29 | 2008-08-26 | 칼 짜이스 에스엠테 아게 | 인접한 비구면 렌즈 표면을 구비한 투사 대물 렌즈 |
| WO2002044786A2 (en) | 2000-11-28 | 2002-06-06 | Carl Zeiss Smt Ag | Catadioptric projection system for 157 nm lithography |
| TW538256B (en) | 2000-01-14 | 2003-06-21 | Zeiss Stiftung | Microlithographic reduction projection catadioptric objective |
| JP2001257143A (ja) | 2000-03-09 | 2001-09-21 | Nikon Corp | ステージ装置及び露光装置、並びにデバイス製造方法 |
| JP2001267226A (ja) | 2000-03-21 | 2001-09-28 | Nikon Corp | 駆動装置及び露光装置、並びにデバイス及びその製造方法 |
| US20030155882A1 (en) | 2002-02-19 | 2003-08-21 | Nikon Corporation | Anti-gravity mount with air and magnets |
| US7190527B2 (en) | 2002-03-01 | 2007-03-13 | Carl Zeiss Smt Ag | Refractive projection objective |
| US7154676B2 (en) | 2002-03-01 | 2006-12-26 | Carl Zeiss Smt A.G. | Very-high aperture projection objective |
| SG135052A1 (en) | 2002-11-12 | 2007-09-28 | Asml Netherlands Bv | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
| EP2157480B1 (en) | 2003-04-09 | 2015-05-27 | Nikon Corporation | Exposure method and apparatus, and device manufacturing method |
| SG141426A1 (en) | 2003-04-10 | 2008-04-28 | Nikon Corp | Environmental system including vacuum scavange for an immersion lithography apparatus |
| KR101431938B1 (ko) | 2003-04-10 | 2014-08-19 | 가부시키가이샤 니콘 | 액침 리소그래피 장치용 운반 영역을 포함하는 환경 시스템 |
| SG139733A1 (en) | 2003-04-11 | 2008-02-29 | Nikon Corp | Apparatus having an immersion fluid system configured to maintain immersion fluid in a gap adjacent an optical assembly |
| TWI295414B (en) | 2003-05-13 | 2008-04-01 | Asml Netherlands Bv | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
| US6995833B2 (en) | 2003-05-23 | 2006-02-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Projection optical system, exposure apparatus, and device manufacturing method |
| KR101476087B1 (ko) | 2003-06-19 | 2014-12-23 | 가부시키가이샤 니콘 | 노광 장치 및 디바이스 제조방법 |
| EP2843472B1 (en) | 2003-07-08 | 2016-12-07 | Nikon Corporation | Wafer table for immersion lithography |
| US8208198B2 (en) | 2004-01-14 | 2012-06-26 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Catadioptric projection objective |
| TWI360158B (en) | 2003-10-28 | 2012-03-11 | Nikon Corp | Projection exposure device,exposure method and dev |
| TWI385414B (zh) | 2003-11-20 | 2013-02-11 | 尼康股份有限公司 | 光學照明裝置、照明方法、曝光裝置、曝光方法以及元件製造方法 |
| US20080151364A1 (en) | 2004-01-14 | 2008-06-26 | Carl Zeiss Smt Ag | Catadioptric projection objective |
| US7589822B2 (en) | 2004-02-02 | 2009-09-15 | Nikon Corporation | Stage drive method and stage unit, exposure apparatus, and device manufacturing method |
| TWI609410B (zh) | 2004-02-06 | 2017-12-21 | 尼康股份有限公司 | 光學照明裝置、曝光裝置、曝光方法以及元件製造方法 |
| KR101250155B1 (ko) | 2004-03-25 | 2013-04-05 | 가부시키가이샤 니콘 | 노광 장치 및 디바이스 제조 방법 |
| KR20160085375A (ko) | 2004-05-17 | 2016-07-15 | 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 | 중간이미지를 갖는 카타디옵트릭 투사 대물렌즈 |
| US7324185B2 (en) | 2005-03-04 | 2008-01-29 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
| US8248577B2 (en) | 2005-05-03 | 2012-08-21 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
| KR20140140648A (ko) | 2005-05-12 | 2014-12-09 | 가부시키가이샤 니콘 | 투영 광학계, 노광 장치 및 노광 방법 |
| US20080073563A1 (en) | 2006-07-01 | 2008-03-27 | Nikon Corporation | Exposure apparatus that includes a phase change circulation system for movers |
| US7830046B2 (en) | 2007-03-16 | 2010-11-09 | Nikon Corporation | Damper for a stage assembly |
| JP5267029B2 (ja) | 2007-10-12 | 2013-08-21 | 株式会社ニコン | 照明光学装置、露光装置及びデバイスの製造方法 |
| US8379187B2 (en) | 2007-10-24 | 2013-02-19 | Nikon Corporation | Optical unit, illumination optical apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method |
| US9116346B2 (en) | 2007-11-06 | 2015-08-25 | Nikon Corporation | Illumination apparatus, illumination method, exposure apparatus, and device manufacturing method |
| EP2381310B1 (en) | 2010-04-22 | 2015-05-06 | ASML Netherlands BV | Fluid handling structure and lithographic apparatus |
| US20130255414A1 (en) | 2010-09-09 | 2013-10-03 | Nikon Corporation | Parallel Linkage and Actuator Motor Coil Designs for Tube Carrier |
| US8572518B2 (en) | 2011-06-23 | 2013-10-29 | Nikon Precision Inc. | Predicting pattern critical dimensions in a lithographic exposure process |
| US9030057B2 (en) | 2011-06-24 | 2015-05-12 | Nikon Corporation | Method and apparatus to allow a plurality of stages to operate in close proximity |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5140459A (en) * | 1989-08-29 | 1992-08-18 | Texas Instruments | Apparatus and method for optical relay and reimaging |
| JPH04367213A (ja) * | 1991-06-13 | 1992-12-18 | Orc Mfg Co Ltd | 投影型露光装置 |
| EP0527043B1 (en) * | 1991-08-05 | 1997-01-22 | Nikon Corporation | Catadioptric reduction projection optical system |
| US5212593A (en) * | 1992-02-06 | 1993-05-18 | Svg Lithography Systems, Inc. | Broad band optical reduction system using matched multiple refractive element materials |
| DE69315314T2 (de) * | 1992-12-24 | 1998-03-19 | Nippon Kogaku Kk | Verkleinerndes katadioptrisches Projektionssystem |
| US5537260A (en) * | 1993-01-26 | 1996-07-16 | Svg Lithography Systems, Inc. | Catadioptric optical reduction system with high numerical aperture |
-
1996
- 1996-06-14 JP JP8153770A patent/JPH103039A/ja active Pending
-
1997
- 1997-05-28 KR KR1019970021291A patent/KR980005325A/ko not_active Withdrawn
- 1997-06-16 EP EP97110124A patent/EP0816892A3/en not_active Withdrawn
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH103039A5 (ja) | ||
| JP2501254B2 (ja) | リレ―レンズ | |
| USRE39024E1 (en) | Exposure apparatus having catadioptric projection optical system | |
| US5650877A (en) | Imaging system for deep ultraviolet lithography | |
| JP3747958B2 (ja) | 反射屈折光学系 | |
| KR100301149B1 (ko) | 정합다중굴절요소의재료를사용하는광대역의광학축소시스템 | |
| EP1069448B1 (en) | Catadioptric optical system and projection exposure apparatus equipped with the same | |
| US5052763A (en) | Optical system with two subsystems separately correcting odd aberrations and together correcting even aberrations | |
| KR101200654B1 (ko) | 고 개구율 및 평평한 단부면을 가진 투사 대물렌즈 | |
| US5861997A (en) | Catadioptric reduction projection optical system and exposure apparatus having the same | |
| JP3985346B2 (ja) | 投影露光装置、投影露光装置の調整方法、及び投影露光方法 | |
| TWI420249B (zh) | 投影曝光裝置、投影曝光方法及投影物 | |
| EP0816892A2 (en) | Catadioptric lens system | |
| US5805334A (en) | Catadioptric projection systems | |
| JP2000031041A (ja) | 縮小オブジェクティブ | |
| JP2001185480A (ja) | 投影光学系及び該光学系を備える投影露光装置 | |
| US6424471B1 (en) | Catadioptric objective with physical beam splitter | |
| JP2003114387A5 (ja) | ||
| JPH1048526A (ja) | 高分解能高光度対物レンズ | |
| KR101101493B1 (ko) | 투영 대물렌즈, 투영 노광 장치 및 마이크로리소그래피용반사형 레티클 | |
| US4964705A (en) | Unit magnification optical system | |
| TW200416474A (en) | Large-field unit-magnification projection system | |
| USRE38438E1 (en) | Catadioptric reduction projection optical system and exposure apparatus having the same | |
| US7199862B2 (en) | Beam-splitter optics design that maintains an unflipped (unmirrored) image for a catadioptric lithographic system | |
| US6912042B2 (en) | 6-mirror projection objective with few lenses |