JPH10307149A - 電気接続用部材及びそれを用いた電気測定方法 - Google Patents
電気接続用部材及びそれを用いた電気測定方法Info
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- JPH10307149A JPH10307149A JP8370398A JP8370398A JPH10307149A JP H10307149 A JPH10307149 A JP H10307149A JP 8370398 A JP8370398 A JP 8370398A JP 8370398 A JP8370398 A JP 8370398A JP H10307149 A JPH10307149 A JP H10307149A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 微細ピッチの電気回路基板に対して、全端子
一括測定でき、かつ測定端の損傷を極力抑えることので
きる電気接続用部材を得ること、さらにはこれを用いた
電気測定方法を提供することを目的とする。 【解決手段】 棒状に形成された基材１の周側面に突条
部を形成し、かつその周側面に突条部を跨いで多数の導
体３を、突条部の突条方向に所定間隙を置いて並列に配
線した。さらに、この導体３は比較的硬質の金属の上に
金めっきをして形成した。また、この電気接続部材を用
いて、電気測定を行ったので、長尺で微細ピッチの測定
端を有する電気回路基板に対しても複数本の測定端一括
で検査でき、測定時の押圧接触時に導体３と測定端５と
が面接触となり、測定端５を傷つけず、確実な電気的接
触状態が得られる。
一括測定でき、かつ測定端の損傷を極力抑えることので
きる電気接続用部材を得ること、さらにはこれを用いた
電気測定方法を提供することを目的とする。 【解決手段】 棒状に形成された基材１の周側面に突条
部を形成し、かつその周側面に突条部を跨いで多数の導
体３を、突条部の突条方向に所定間隙を置いて並列に配
線した。さらに、この導体３は比較的硬質の金属の上に
金めっきをして形成した。また、この電気接続部材を用
いて、電気測定を行ったので、長尺で微細ピッチの測定
端を有する電気回路基板に対しても複数本の測定端一括
で検査でき、測定時の押圧接触時に導体３と測定端５と
が面接触となり、測定端５を傷つけず、確実な電気的接
触状態が得られる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、電気回路基板の
測定端、例えば液晶パネルなどの出力線の断線、短絡、
リーク電流などの検査をするのに用いる電気接続用部材
及びそれを用いた電気測定方法に関するものである。
測定端、例えば液晶パネルなどの出力線の断線、短絡、
リーク電流などの検査をするのに用いる電気接続用部材
及びそれを用いた電気測定方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図５、図６はそれぞれ従来の基板検査装
置に設けられた電気接続用部材の一例を示す斜視図であ
る。図５において、１１はスプリング式プローブピン、
１２はプローブピン１１と電気的導通を有し、かつ測定
回路へと接続される引き出し線、１３はプローブピン１
１を固定するための絶縁性を有するプローブピン固定用
基板、１４は被測定電気回路基板、１５は被測定電気回
路基板１４上に形成された電気回路の測定端である。ま
た図６において、１１は板状プローブピン、１２は板状
プローブピン１１と電気的導通を有し、かつ測定回路へ
と接続される引出し線、１３は板状プローブピン１１を
固定するための絶縁性を有するプローブピン固定用基
板、１４は被測定電気回路基板、１５は被測定電気回路
基板１４上に形成された電気回路の測定端である。
置に設けられた電気接続用部材の一例を示す斜視図であ
る。図５において、１１はスプリング式プローブピン、
１２はプローブピン１１と電気的導通を有し、かつ測定
回路へと接続される引き出し線、１３はプローブピン１
１を固定するための絶縁性を有するプローブピン固定用
基板、１４は被測定電気回路基板、１５は被測定電気回
路基板１４上に形成された電気回路の測定端である。ま
た図６において、１１は板状プローブピン、１２は板状
プローブピン１１と電気的導通を有し、かつ測定回路へ
と接続される引出し線、１３は板状プローブピン１１を
固定するための絶縁性を有するプローブピン固定用基
板、１４は被測定電気回路基板、１５は被測定電気回路
基板１４上に形成された電気回路の測定端である。
【０００３】次に図５に示す従来の電気接続用部材の構
成および動作について説明する。まず、スプリング式プ
ロービンブピン１１を被測定電気回路基板１４上の測定
端１５のピッチに対応するように必要な本数だけプロー
ブピン固定用基板１３に埋め込み、固定する。次にプロ
ーブピン１１からの引出し線１２を測定回路（図示せ
ず）にはんだ付等で接続し、被測定電気回路基板１４の
測定端１５と位置合わせし、プローブピン固定用基板１
３全体又は、被測定基板１４全体を押しつける。押しつ
けることにより、プローブピン１１に内蔵されているス
プリングがクッション的な役割をなし、プローブピン１
１と被測定基板１４上の測定端１５との電気的導通を
得、引出し線１２により測定回路へ電気信号が流れ、被
測定基板１４上の電気回路の断線、短絡、リーク電流等
を検出する。
成および動作について説明する。まず、スプリング式プ
ロービンブピン１１を被測定電気回路基板１４上の測定
端１５のピッチに対応するように必要な本数だけプロー
ブピン固定用基板１３に埋め込み、固定する。次にプロ
ーブピン１１からの引出し線１２を測定回路（図示せ
ず）にはんだ付等で接続し、被測定電気回路基板１４の
測定端１５と位置合わせし、プローブピン固定用基板１
３全体又は、被測定基板１４全体を押しつける。押しつ
けることにより、プローブピン１１に内蔵されているス
プリングがクッション的な役割をなし、プローブピン１
１と被測定基板１４上の測定端１５との電気的導通を
得、引出し線１２により測定回路へ電気信号が流れ、被
測定基板１４上の電気回路の断線、短絡、リーク電流等
を検出する。
【０００４】次に図６に示す従来の電気接続用部材の構
成および動作について説明する。先端を細くし、下方へ
屈曲させた金属製の板状プローブピン１１を被測定基板
１４上の測定端１５のピッチに対応するように必要な数
量だけプローブピン固定用基板１３に埋め込み、固定す
る。次にプローブピン１１からの引出し線１２を測定回
路（図示せず）にはんだ付等で接続し、被測定基板１４
上の測定端１５と位置合わせし、プローブピン固定用基
板１３全体又は、被測定基板１４全体を押しつける。押
しつけることにより、板状プローブピン１１自身の弾性
によって、適度な圧力が生じ、板状プローブピン１１と
被測定基板１４上の測定端１５との電気的導通を得、引
出し線１２により測定回路へ電気信号が流れ、被測定基
板１４上の電気回路の断線、短絡、リーク電流等を検出
する。
成および動作について説明する。先端を細くし、下方へ
屈曲させた金属製の板状プローブピン１１を被測定基板
１４上の測定端１５のピッチに対応するように必要な数
量だけプローブピン固定用基板１３に埋め込み、固定す
る。次にプローブピン１１からの引出し線１２を測定回
路（図示せず）にはんだ付等で接続し、被測定基板１４
上の測定端１５と位置合わせし、プローブピン固定用基
板１３全体又は、被測定基板１４全体を押しつける。押
しつけることにより、板状プローブピン１１自身の弾性
によって、適度な圧力が生じ、板状プローブピン１１と
被測定基板１４上の測定端１５との電気的導通を得、引
出し線１２により測定回路へ電気信号が流れ、被測定基
板１４上の電気回路の断線、短絡、リーク電流等を検出
する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】図５のような従来の電
気接続用部材では、プローブピン１１の取付けピッチが
最小１mm程度であるため、被測定基板１４上の測定端１
５のピッチがそれ以下であると対応できないという問題
点がある。なお、プローブピン１１の配列を千鳥状（ジ
グザグ状）にすることも考えられるが、測定端１５の長
さに制限がある場合はこれも不可能となる。また図６の
ような従来の電気接続用部材では、板状プローブピン１
１の数が増加するとプローブピン固定用基板１３に固定
するピッチが大きいため、直線配列のプローブピン数が
限定されるという問題点がある。このように図５、図６
に示すような従来の電気接続用部材では多ピンかつ微細
ピッチ（例えば300ピン、0.3mmピッチ程度）の測定端１
５を有する電気回路基板（例えば液晶パネルなど）に対
しては、１本ずつか、または数本のブロック毎にプロー
ブピンまたは、被測定基板を移動させる方式を取らざる
をえず、全測定端を一括で測定することができないとい
う問題点があった。さらに、図５、図６に示す従来の電
気接続用部材では金属成の鋭利なプローブピン１１が測
定端１５と接触するため、薄膜形成の測定端１５の場
合、この測定端１５を傷つけてしまい、基板評価後の実
装に支障（例えば熱による割れ、剥離）をきたすという
問題点があった。
気接続用部材では、プローブピン１１の取付けピッチが
最小１mm程度であるため、被測定基板１４上の測定端１
５のピッチがそれ以下であると対応できないという問題
点がある。なお、プローブピン１１の配列を千鳥状（ジ
グザグ状）にすることも考えられるが、測定端１５の長
さに制限がある場合はこれも不可能となる。また図６の
ような従来の電気接続用部材では、板状プローブピン１
１の数が増加するとプローブピン固定用基板１３に固定
するピッチが大きいため、直線配列のプローブピン数が
限定されるという問題点がある。このように図５、図６
に示すような従来の電気接続用部材では多ピンかつ微細
ピッチ（例えば300ピン、0.3mmピッチ程度）の測定端１
５を有する電気回路基板（例えば液晶パネルなど）に対
しては、１本ずつか、または数本のブロック毎にプロー
ブピンまたは、被測定基板を移動させる方式を取らざる
をえず、全測定端を一括で測定することができないとい
う問題点があった。さらに、図５、図６に示す従来の電
気接続用部材では金属成の鋭利なプローブピン１１が測
定端１５と接触するため、薄膜形成の測定端１５の場
合、この測定端１５を傷つけてしまい、基板評価後の実
装に支障（例えば熱による割れ、剥離）をきたすという
問題点があった。
【０００６】この発明は上記のような問題点を解決する
ためになされたもので、従来不可能であった長尺で微細
ピッチ（例えば300ピン、0.3mmピッチ程度）の測定端を
有する電気回路基板に対しても全端子一括で測定でき、
しかも、被測定電気回路基板の測定端の損傷を極力抑え
ることのできる電気接続用部材を得ること、さらにはこ
れを用いた電気測定方法を提供することを目的としてい
る。
ためになされたもので、従来不可能であった長尺で微細
ピッチ（例えば300ピン、0.3mmピッチ程度）の測定端を
有する電気回路基板に対しても全端子一括で測定でき、
しかも、被測定電気回路基板の測定端の損傷を極力抑え
ることのできる電気接続用部材を得ること、さらにはこ
れを用いた電気測定方法を提供することを目的としてい
る。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明の電気接続用部材
は、棒状に形成された基材を備え、上記基材の周側面に
突条部を形成し、かつ上記基材の周側面に上記突条部を
跨いで多数の導体を、上記突条部の突条方向に所定間隙
を置いて並列に配線したものである。また、棒状に形成
された基材を備え、上記基材の周側面に突条部を形成す
るとともに、上記基材の周側面に上記突条部を跨いで多
数の導体を、上記突条部の突条方向に所定間隙を置いて
並列に配線し、かつ上記導体は比較的硬質の金属の上に
金めっきをして形成したものである。さらに、本発明の
電気測定方法は、上記電気接続用部材、すなわち、棒状
に形成された基材を備え、上記基材の周側面に突条部を
形成し、かつ上記基材の周側面に上記突条部を跨いで多
数の導体を、該突条部の突条方向に所定間隙を置いて並
列に配線した電気接続用部材を用いて、上記突条部にて
その上の導体を被測定電気回路基板の測定導体に圧接し
て被測定電気回路基板の電気測定を行うものである。
は、棒状に形成された基材を備え、上記基材の周側面に
突条部を形成し、かつ上記基材の周側面に上記突条部を
跨いで多数の導体を、上記突条部の突条方向に所定間隙
を置いて並列に配線したものである。また、棒状に形成
された基材を備え、上記基材の周側面に突条部を形成す
るとともに、上記基材の周側面に上記突条部を跨いで多
数の導体を、上記突条部の突条方向に所定間隙を置いて
並列に配線し、かつ上記導体は比較的硬質の金属の上に
金めっきをして形成したものである。さらに、本発明の
電気測定方法は、上記電気接続用部材、すなわち、棒状
に形成された基材を備え、上記基材の周側面に突条部を
形成し、かつ上記基材の周側面に上記突条部を跨いで多
数の導体を、該突条部の突条方向に所定間隙を置いて並
列に配線した電気接続用部材を用いて、上記突条部にて
その上の導体を被測定電気回路基板の測定導体に圧接し
て被測定電気回路基板の電気測定を行うものである。
【０００８】
実施の形態１．以下、この発明の一実施の形態を図につ
いて説明する。図１、図２はそれぞれこの発明の一実施
の形態による電気接続用部材を示す断面図および斜視図
である。図において、１は例えばゴム系弾性体などの基
材で先端に突条部を有する。２は例えばポリイミドフィ
ルムなどの可撓性絶縁シート、３はこの可撓性絶縁シー
ト２に配線された複数本の導体であり、これら導体は被
測定電気回路基板４の測定端５と対応した配置で配線さ
れている。すなわち、この例では、可撓性絶縁シート２
を基材１に固着して支持体とし、この支持体と導体３と
でプロービング部すなわち電気接続用部材を形成してい
る。なお、導体３は例えば銅箔などを可撓性絶縁シート
２に接着剤などで貼り付け、フォトエッチングなどによ
り所定のパターンに形成されたものであり、その終端の
パッド（図示せず）からコネクタなどを介して測定回路
（図示せず）へ配線される。
いて説明する。図１、図２はそれぞれこの発明の一実施
の形態による電気接続用部材を示す断面図および斜視図
である。図において、１は例えばゴム系弾性体などの基
材で先端に突条部を有する。２は例えばポリイミドフィ
ルムなどの可撓性絶縁シート、３はこの可撓性絶縁シー
ト２に配線された複数本の導体であり、これら導体は被
測定電気回路基板４の測定端５と対応した配置で配線さ
れている。すなわち、この例では、可撓性絶縁シート２
を基材１に固着して支持体とし、この支持体と導体３と
でプロービング部すなわち電気接続用部材を形成してい
る。なお、導体３は例えば銅箔などを可撓性絶縁シート
２に接着剤などで貼り付け、フォトエッチングなどによ
り所定のパターンに形成されたものであり、その終端の
パッド（図示せず）からコネクタなどを介して測定回路
（図示せず）へ配線される。
【０００９】次にこの電気接続用部材を用いた電気測定
方法について説明する。被測定電気回路基板４の測定端
５に、上記プロービング部における導体３を位置合わせ
し、図示しない治具等により、基材及び可撓性絶縁シー
トを介して押圧する。ここで基材は治具と共に押圧手段
を形成している。導体３は可撓性絶縁シート２より導体
３の厚み分（例えば１８〜７０μｍ）突出しており、測
定端５もまた基板４よりその厚み分突出しているのが、
通常であるので、押圧されることにより、上記突出部
３、５同士が接触し、電気的導通が得られる。この際、
この例では基材１に弾性体を用いているので、その弾性
により、上記導体３と測定端５との接触がより確かなも
のとなる。次に、導体３終端のパッドからコネクタを測
定回路に連結することにより、被測定回路基板４の電気
回路の断線、短絡、リーク電流等を検出する。このよう
に、可撓性絶縁シート２に測定端５と対応した配置で導
体３が配線され、この導体３と測定端５とを押圧接触さ
せることにより検査を行うので、長尺で微細ピッチ（例
えば300ピン、0.3mmピッチ）の基板でも全測定端５一括
で検査できる。ここでの測定端５一括測定というメリッ
トは大きく、例えば液晶パネルなどには全面点灯試験が
行えるので電気回路の断線、短絡等を一目瞭然で判断す
ることができ、実際の仕様状況とほぼ変わらないため、
エージングなど種々の特性評価が可能となり、基板４の
うち不良のものなどはその場で判断できるので迅速な対
応ができ、実装上の歩留りを向上させることができる。
さらには、図５、６に示す従来例のように、測定端に先
のとがったプローブピンが当接することなく、本発明で
は測定端５と導体３とはほとんど面接触であるので、測
定端５の損傷を極力抑えることができ、ひいては導体の
損傷が原因で実装上不具合のあった測定端５の割れ、剥
離を抑えることができる。
方法について説明する。被測定電気回路基板４の測定端
５に、上記プロービング部における導体３を位置合わせ
し、図示しない治具等により、基材及び可撓性絶縁シー
トを介して押圧する。ここで基材は治具と共に押圧手段
を形成している。導体３は可撓性絶縁シート２より導体
３の厚み分（例えば１８〜７０μｍ）突出しており、測
定端５もまた基板４よりその厚み分突出しているのが、
通常であるので、押圧されることにより、上記突出部
３、５同士が接触し、電気的導通が得られる。この際、
この例では基材１に弾性体を用いているので、その弾性
により、上記導体３と測定端５との接触がより確かなも
のとなる。次に、導体３終端のパッドからコネクタを測
定回路に連結することにより、被測定回路基板４の電気
回路の断線、短絡、リーク電流等を検出する。このよう
に、可撓性絶縁シート２に測定端５と対応した配置で導
体３が配線され、この導体３と測定端５とを押圧接触さ
せることにより検査を行うので、長尺で微細ピッチ（例
えば300ピン、0.3mmピッチ）の基板でも全測定端５一括
で検査できる。ここでの測定端５一括測定というメリッ
トは大きく、例えば液晶パネルなどには全面点灯試験が
行えるので電気回路の断線、短絡等を一目瞭然で判断す
ることができ、実際の仕様状況とほぼ変わらないため、
エージングなど種々の特性評価が可能となり、基板４の
うち不良のものなどはその場で判断できるので迅速な対
応ができ、実装上の歩留りを向上させることができる。
さらには、図５、６に示す従来例のように、測定端に先
のとがったプローブピンが当接することなく、本発明で
は測定端５と導体３とはほとんど面接触であるので、測
定端５の損傷を極力抑えることができ、ひいては導体の
損傷が原因で実装上不具合のあった測定端５の割れ、剥
離を抑えることができる。
【００１０】なお、上記実施例では基材１としてゴム系
弾性体を用いた場合について説明したが、材質、形状等
特に限定する必要は無く、例えば、先端に突条部が形成
でき、面精度が出れば金属であってもよく、この場合、
自重により導体３と測定端５の押圧接触を助け、また変
形による劣化も少ない。さらに、プラスチック等であっ
てもよい。また、上記実施の形態では基材１に固着され
た可撓性絶縁シート２に導体３の配線を施した例につい
て説明したが、基材１に直接的に導体３配線を施してプ
ロービング部としてもよく、さらに可撓性絶縁シート２
に導体３配線を施したものをプロービング部とし、板状
体などの治具を用いて導体３を測定端５に押圧接触させ
るようにしてもよい。
弾性体を用いた場合について説明したが、材質、形状等
特に限定する必要は無く、例えば、先端に突条部が形成
でき、面精度が出れば金属であってもよく、この場合、
自重により導体３と測定端５の押圧接触を助け、また変
形による劣化も少ない。さらに、プラスチック等であっ
てもよい。また、上記実施の形態では基材１に固着され
た可撓性絶縁シート２に導体３の配線を施した例につい
て説明したが、基材１に直接的に導体３配線を施してプ
ロービング部としてもよく、さらに可撓性絶縁シート２
に導体３配線を施したものをプロービング部とし、板状
体などの治具を用いて導体３を測定端５に押圧接触させ
るようにしてもよい。
【００１１】実施の形態２．以下にこの発明の他の実施
の形態を図について説明する。図３はこの発明の一実施
の形態を示す電気接続用部材を説明する図で、図におい
て、導体３を中央部より両端方向へ交互に千鳥状に配線
した可撓性絶縁シート２を用い、このシート２を基材１
に固定して電気接続用部材とし、図４に示すように、被
測定用電気回路基板４の測定端５と位置合わせして上記
実施の形態１の図１、２と同様に用いて電気測定を行っ
てもよい。この場合、隣接する導体間距離が２倍とな
り、円形パッドの引出しピッチも２倍となるため、円形
パッドから測定回路へ連結するためのコネクタ接続が容
易となり、より微細ピッチの測定端５を有する被測定電
気回路基板４の電気測定すなわち検査に適用できる。
の形態を図について説明する。図３はこの発明の一実施
の形態を示す電気接続用部材を説明する図で、図におい
て、導体３を中央部より両端方向へ交互に千鳥状に配線
した可撓性絶縁シート２を用い、このシート２を基材１
に固定して電気接続用部材とし、図４に示すように、被
測定用電気回路基板４の測定端５と位置合わせして上記
実施の形態１の図１、２と同様に用いて電気測定を行っ
てもよい。この場合、隣接する導体間距離が２倍とな
り、円形パッドの引出しピッチも２倍となるため、円形
パッドから測定回路へ連結するためのコネクタ接続が容
易となり、より微細ピッチの測定端５を有する被測定電
気回路基板４の電気測定すなわち検査に適用できる。
【００１２】さらに、上記実施の形態１、２では導体３
として銅箔を用いた場合について説明したが、この銅箔
に金めっき等を施し、手触などによる銅箔の酸化や腐食
等を抑制することも可能で、導体の信頼性が向上する。
また、上記実施例では図１，２，４からもわかるように
基材(押圧手段）の被測定電気回路基板の測定端への押
圧接触部が他の部分より狭窄構造すなわち、突条部をな
し、この周側面に導体配線の形成したので、突条部のど
ちら側からでも行うことができ、接続作業が容易である
と共に、配線の自由度が向上する。
として銅箔を用いた場合について説明したが、この銅箔
に金めっき等を施し、手触などによる銅箔の酸化や腐食
等を抑制することも可能で、導体の信頼性が向上する。
また、上記実施例では図１，２，４からもわかるように
基材(押圧手段）の被測定電気回路基板の測定端への押
圧接触部が他の部分より狭窄構造すなわち、突条部をな
し、この周側面に導体配線の形成したので、突条部のど
ちら側からでも行うことができ、接続作業が容易である
と共に、配線の自由度が向上する。
【００１３】
【発明の効果】本発明は、棒状に形成された基材を備
え、上記基材の周側面に突条部を形成し、かつ上記基材
の周側面に上記突条部を跨いで多数の導体を、上記突条
部の突条方向に所定間隙を置いて並列に配線した電気接
続用部材で構成し、この電気用部材を用いて電気測定を
行ったので、長尺で微細ピッチの測定端を有する電気回
路基板に対しても複数本の測定端一括で検査でき、導体
と測定回路との接続は、突条部のどちら側からでも行う
ことができ、接続作業が容易であると共に、配線の自由
度が向上する。また、基材が突条部を有するので、基板
の測定端に押圧接触されたとき面接触となり、基板の測
定端を傷つけず、確実な電気的接触状態が得られる。ま
た、棒状に形成された基材を備え、上記基材の周側面に
突条部を形成するとともに、上記基材の周側面に上記突
条部を跨いで多数の導体を、上記突条部の突条方向に所
定間隙を置いて並列に配線し、かつ上記導体は比較的硬
質の金属の上に金めっきをして形成して電気接続用部材
を構成したので、導体の信頼性が向上する。
え、上記基材の周側面に突条部を形成し、かつ上記基材
の周側面に上記突条部を跨いで多数の導体を、上記突条
部の突条方向に所定間隙を置いて並列に配線した電気接
続用部材で構成し、この電気用部材を用いて電気測定を
行ったので、長尺で微細ピッチの測定端を有する電気回
路基板に対しても複数本の測定端一括で検査でき、導体
と測定回路との接続は、突条部のどちら側からでも行う
ことができ、接続作業が容易であると共に、配線の自由
度が向上する。また、基材が突条部を有するので、基板
の測定端に押圧接触されたとき面接触となり、基板の測
定端を傷つけず、確実な電気的接触状態が得られる。ま
た、棒状に形成された基材を備え、上記基材の周側面に
突条部を形成するとともに、上記基材の周側面に上記突
条部を跨いで多数の導体を、上記突条部の突条方向に所
定間隙を置いて並列に配線し、かつ上記導体は比較的硬
質の金属の上に金めっきをして形成して電気接続用部材
を構成したので、導体の信頼性が向上する。
【図１】 本発明の実施の形態１による電気接続部材を
示す断面図である。
示す断面図である。
【図２】 本発明の実施の形態１による電気接続部材を
示す斜視図である。
示す斜視図である。
【図３】 本発明の実施の形態２による電気接続部材に
係る可撓性絶縁シートの一部を示す平面図である。
係る可撓性絶縁シートの一部を示す平面図である。
【図４】 本発明の実施の形態２による電気接続部材を
示す斜視図である。
示す斜視図である。
【図５】 従来の電気接続部材を搭載した基板検査装置
である。
である。
【図６】 従来の別の電気接続部材を搭載した基板検査
装置である。
装置である。
１ 基材、 ２ 可撓性絶縁シート、 ３
導体、４ 被測定電気回路基板、 ５ 測定端。
導体、４ 被測定電気回路基板、 ５ 測定端。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 高砂 隼人 兵庫県尼崎市塚口本町８丁目１番１号 三 菱電機株式会社材料研究所内
Claims (3)
- 【請求項１】 棒状に形成された基材を備え、上記基材
の周側面に突条部を形成し、かつ上記基材の周側面に上
記突条部を跨いで多数の導体を、上記突条部の突条方向
に所定間隙を置いて並列に配線した電気接続用部材。 - 【請求項２】 棒状に形成された基材を備え、上記基材
の周側面に突条部を形成するとともに、上記基材の周側
面に上記突条部を跨いで多数の導体を、上記突条部の突
条方向に所定間隙を置いて並列に配線し、かつ上記導体
は比較的硬質の金属の上に金めっきをして形成したこと
を特徴とする電気接続用部材。 - 【請求項３】 棒状に形成された基材を備え、上記基材
の周側面に突条部を形成し、かつ上記基材の周側面に上
記突条部を跨いで多数の導体を、該突条部の突条方向に
所定間隙を置いて並列に配線した電気接続用部材を用い
て、上記突条部にてその上の導体を被測定電気回路基板
の測定導体に圧接して被測定電気回路基板の電気測定を
行う電気測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8370398A JPH10307149A (ja) | 1998-03-30 | 1998-03-30 | 電気接続用部材及びそれを用いた電気測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8370398A JPH10307149A (ja) | 1998-03-30 | 1998-03-30 | 電気接続用部材及びそれを用いた電気測定方法 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61105422A Division JPH065243B2 (ja) | 1986-05-08 | 1986-05-08 | 基板検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10307149A true JPH10307149A (ja) | 1998-11-17 |
Family
ID=13809865
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8370398A Pending JPH10307149A (ja) | 1998-03-30 | 1998-03-30 | 電気接続用部材及びそれを用いた電気測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10307149A (ja) |
-
1998
- 1998-03-30 JP JP8370398A patent/JPH10307149A/ja active Pending
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