JPH10312310A - 中央処理装置の自己診断方法および自己診断機能を備えた中央処理装置 - Google Patents

中央処理装置の自己診断方法および自己診断機能を備えた中央処理装置

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JPH10312310A
JPH10312310A JP9120907A JP12090797A JPH10312310A JP H10312310 A JPH10312310 A JP H10312310A JP 9120907 A JP9120907 A JP 9120907A JP 12090797 A JP12090797 A JP 12090797A JP H10312310 A JPH10312310 A JP H10312310A
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JP
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self
diagnosis
processing unit
cpu
central processing
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JP9120907A
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Shinichi Tsuzuki
真一 續
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 短時間で中央処理装置の自己診断を実施す
る。 【解決手段】 CPU1の外部から所定の自己診断要求
があるとマクロサービスのためのマイクロ命令の先頭ア
ドレスを生成して割り込み処理を行い、予めマイクロ命
令ROM11に設定されている所定の自己診断テスト用
のマイクロ命令に従って自己診断テストを実施する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、CPUの自己診断
機能をマクロサービスを用いて実現した中央処理装置の
自己診断方法および自己診断機能を備えた中央処理装置
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】乗用車で使用されるエアバッグ等の制御
システムにおいては、高度の安全性が要求されるため、
異常動作等の発生が許されない。そのため、従来は中央
処理装置(以下、CPUという)を二重化し、2個のC
PUの演算結果を比較することによって誤動作等の発生
を防止していた。
【0003】しかし、最近になって製造コストの低減の
ため、CPU自身に自己診断機能を付加したものが提案
されている。すなわち、メインメモリに機械語の汎用命
令で記述された自己診断プログラムを格納し、リセット
信号が入力されるとCPUによってこのプログラムが参
照され、CPUはこのプログラムを実行することによっ
て回路の異常等を検出する。
【0004】ここで、このような従来の自己診断機能を
有するマイクロコンピュータの詳細について図を用いて
説明する。図6は従来の自己診断機能を有するマイクロ
コンピュータを示すブロック図である。図6において、
従来のマイクロコンピュータはCPU1とメインメモリ
2とを備え、CPU1にはメインメモリ2がバスを介し
て接続されている。このCPU1には周辺回路と接続さ
れた各種のポートやリセット端子が接続されている。メ
インメモリ2にはCPU1の自己診断を行うためのテス
トプログラムの命令群が記憶されている。
【0005】次に、このようなマイクロコンピュータの
自己診断の手順について説明する。図7は図6に係るマ
イクロコンピュータの自己診断の手順を示すフローチャ
ートである。ステップ301において、CPU1はリセ
ット端子を介してリセット信号が入力されるのを常時監
視している。ステップ302において、CPU1はリセ
ット信号が入力されるとCPU等を含むシステム全体の
初期化を行う。
【0006】ステップ303において、CPU1はメイ
ンメモリ2から自己診断プログラムを読み出し、その命
令コードのフェッチおよびデコード等を行ってプログラ
ムを実行する。ステップ304において、CPU1は自
己診断プログラムの実行結果とメインメモリ2に予め記
憶されている期待値とを比較してCPU1の異常の有無
を判定する。このとき、実行結果と期待値とが一致しな
ければCPU1は、異常が発生したものと判定してポー
トを介して異常通知信号を外部へ送信する。ステップ3
05において、CPU1は割り込み状態から通常の動作
へ復帰する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記のとお
りエアバッグシステム等の制御においては高度の安全性
が要求されるため、少しでも短時間に自己診断テストを
実施できることが求められている。しかしながら、通常
のベクタ割り込みによって割り込み処理を実施してから
従来の汎用命令で記述された自己診断プログラムを実行
すると、割り込み処理におけるプログラムカウンタ(以
下、PCという)やプログラムステータスワード(以
下、PSWという)の退避や復帰、および、命令コード
のフェッチやデコードに時間がかかるという問題点があ
る。本発明は、このような課題を解決するためのもので
あり、短時間で実施することができる中央処理装置の自
己診断方法および自己診断機能を備えた中央処理装置を
提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、本発明に係る中央処理装置の自己診断方法
は、外部から所定の自己診断要求があるとマクロサービ
スのためのマイクロ命令の先頭アドレスを生成して割り
込み処理を行い、予め設定されている所定の自己診断テ
スト用のマイクロ命令に従って自己診断テストを実施す
るものである。また、本発明に係る自己診断機能を備え
た中央処理装置は、自己診断テスト用のマイクロ命令を
記憶保持したマイクロ命令読み出しメモリと、マクロサ
ービスコントロールワードを記憶保持したメインメモリ
と、マイクロ命令の先頭アドレスを生成するマイクロ制
御回路とを備え、外部から所定の自己診断要求があると
上記マイクロ制御回路によってマクロサービスのための
マイクロ命令の先頭アドレスを生成して割り込み処理を
行い、上記マクロサービスコントロールワードに基づい
てマクロサービスの条件設定を行い、上記自己診断テス
ト用のマイクロ命令に従って自己診断テストを実施する
ものである。このように構成することにより本発明は、
割り込み処理におけるPCやPSWの退避や復帰、およ
び、命令コードのフェッチやデコードをする必要がな
く、短時間で自己診断テストを実施することができると
いう効果を有する。
【0009】
【発明の実施の形態】次に、本発明の一つの実施の形態
について図を用いて説明する。図1は本発明の一つの実
施の形態を示すブロック図である。図1において、図6
と同一符号の部品は同一または同等の部品を示し、図1
に係るマイクロコンピュータはCPU1とメインメモリ
2とを備えている。
【0010】CPU1は、自己診断を実施するためのマ
イクロプログラムを記憶したマイクロ命令読み出しメモ
リ(以下、マイクロ命令ROMという)11と、テンポ
ラリレジスタ(以下、TA,TCという)12,15
と、算術論理演算回路(以下、ALUという)14とを
備えている。また、CPU1には各種のポートおよびリ
セット端子が設けられるとともに、CPU1はRAMに
よって形成されたメインメモリ2にバスを介して接続さ
れている。
【0011】次に、CPU1の自己診断テストの手順に
ついて説明する。図2はCPU1の自己診断テストの手
順を示すフローチャートである。ステップ101におい
て、CPU1はポートを介して外部から送信される自己
診断テストを要求する信号、または、リセット信号を常
時監視している。ステップ102において、CPU1は
自己診断テストを要求する信号、または、リセット信号
を検出すると割り込み処理をエントリする。
【0012】ステップ103において、割り込み処理が
エントリされることにより、CPU1はマクロサービス
を起動する。すなわち、CPU1はマイクロプログラム
ROM11に予め記憶されている自己診断のためのマイ
クロプログラムを読み出して自己診断を実施し、診断結
果を所定のポートを介して外部へ送信する。このとき、
割り込み処理として通常のベクタ割り込みの代わりにマ
クロサービスを実行しているため、割り込みサービスル
ーチンへの分岐,レジスタの退避および復帰,割り込み
サービスルーチンからの復帰という一連の動作は行われ
ない。
【0013】ステップ104において、CPU1の外部
に設置されたサブCPU(図示せず)は、ポートを介し
て受信した診断結果を用いてCPU1における異常の有
無を判定する。そして、サブCPUは異常と判定すれば
所定の対処動作を実施し、異常なしと判定すればステッ
プを105へ移行する。
【0014】ステップ105において、CPU1は自己
診断テストが完了したため割り込み状態から通常の動作
へ復帰する。このように、本発明に係るCPU1は、自
己診断テストを実施するとその結果を外部に出力する。
したがって、本発明のCPU1は自己診断テストを実施
するだけであり、従来例のようにCPU1自身が異常の
有無の判定を行うことはない。診断結果については外部
のサブCPU等によって判定させている。
【0015】ところで、上記図2において説明したマク
ロサービスとは以下のようなものである。図3はマクロ
サービスによる割り込み処理(a)と、従来のベクタ割
り込みによる通常の割り込み処理とを示すタイムチャー
トである。図3に示すように、本発明はメインルーチン
の実行中に割り込み要求があると直ちにマクロサービス
の処理を開始する。そして、マクロサービスの処理の終
了とともに再びメインルーチンに戻るため、割り込み処
理を短時間で実施することができる。
【0016】それに対して、従来例におけるベクタ割り
込みは以下のようなものである。すなわち、メインルー
チンの実行中に割り込み要求が発生するとPC,PSW
をスタックポインタ(以下、SPという)に退避し、ベ
クタアドレスをPCへロードする。そして、汎用レジス
タの退避および初期化をした後に、割り込み処理を実行
する。その後、汎用レジスタ,PC,PSWを復帰して
からメインルーチンに戻る。このように従来例は本発明
と比べて割り込みに時間がかかることがわかる。
【0017】次に、CPU1の詳細な構成について説明
する。図4は図1に係るCPU1の詳細な構成を示すブ
ロック図である。図4において、中央処理装置であるC
PU1は、メインRAM2と、マイクロ命令ROM11
と、TA12,TB13,TC15と、ALU14と、
MSQU17と、TQ18と、RAMAD19と、AL
UDEC20と、PSWL21と、SP22と、PC2
3と、DBUS24とから構成されている。また、この
CPU1にはIBUS26を介して接続されたIFU2
5とRAM28とROM29とDBI30とSFI27
とが接続されている。
【0018】まず、CPU1を構成する各部品の詳細に
ついて説明する。メインRAM2は、RAMによって構
成され、マクロサービスの条件設定等が記述されたメイ
ンメモリである。マクロサービス起動時にこのメインR
AM2が参照され、複数設定されてるマクロサービスの
うち所望の機能(例えば、CPU監視機能、カウンタ機
能、ブロック転送機能等)のうちの一つが選択されて起
動される。本発明においては自己診断テストを実施する
ため、CPU監視機能が選択される。
【0019】TA12,TB13,TC15は、テンポ
ラリレジスタであり、演算等の際に一時的に使用される
レジスタである。ALU14は、算術論理演算回路であ
り、演算を実施する回路である。PSWL21は、プロ
グラムステータスレジスタであり、命令の実行結果によ
ってセット、リセットされる各種のフラグ(例えば、ゼ
ロフラグ等)によって構成されている。なお、本発明で
使用されるのは、本来のプログラムステータスレジスタ
のうちの下位8ビットだけである。
【0020】ALUDEC20は、ALUデコーダであ
り、ALU14の動作指定を行うものである。なお、A
LUの動作を指定する方法には直接指定と間接指定との
2通りがある。すなわち、マイクロプログラムから直接
指定するマイクロ直接指定するもの(MSTL−>AL
UDEC)と、オペコード中のALUコードで指定する
OPL間接指定(TQ −>ALUDEC)とがある。
【0021】MSTL16は、マイクロ出力ラッチであ
り、マイクロプログラムのコードの内容をラッチするレ
ジスタである。マイクロROM11は、マイクロ命令の
読みだし専用メモリであり、汎用命令や自己診断テスト
の一連の動作を記述してあるメモリでもある。
【0022】MSQU17は、マイクロ制御回路であ
り、マイクロアドレスの生成やマイクロ命令の分岐制御
等を実施する。例えば、通常の汎用命令に対しては命令
コードによってマイクロ命令の先頭アドレスを生成す
る。また、割り込み、マクロサービスに対しては、割り
込み回路からの信号によってマイクロ命令の先頭アドレ
スを生成する。
【0023】TQ18は、命令コードラッチであり、命
令コードを格納するものであり、メインRAM2のアド
レス指定を行う。RAMAD19は、RAMアドレス生
成回路であり、メインRAM2のアドレスを生成するも
のである。
【0024】IFU25は、命令キューであり、命令フ
ェッチした命令コードを数命令分蓄積するものである。
SFI27は、SFR(特殊機能レジスタ)インターフェ
ースであり、周辺のレジスタをアクセスするためのアド
レス/データのインターフェースである。DBI30
は、DBUSインターフェースであり、DBUS(CP
Uバス)とIBUS(周辺バス)とを接続するインターフ
ェースである。
【0025】次に、図4に基づいてCPU1の詳細な動
作について説明する。 (1)マクロサービス起動前準備 マクロサービスの起動前に予めメインRAM2にはマク
ロサービスの条件設定が行われる。すなわちマクロサー
ビスコントロールワードの設定が行われる。
【0026】マクロサービスコントロールワードの具体
例を列挙する。表1はマクロサービスコントロールワー
ドの設定内容の具体例を示す表である。
【0027】
【表1】
【0028】なお、モード0はモード1よりも自己診断
テストの種類が少ない。すなわち、モード1の方がより
多くの種類の自己診断テストが行われるため、綿密な自
己診断が実施される。
【0029】(2)マクロサービスの起動 外部の割り込み回路(図示せず)から非同期信号を入力
し、割り込み要求をCPU1に対して送信する。このよ
うに、CPU1の動作周期とは非同期な診断要求信号を
送信することにより、リアルタイムに自己診断テストを
実施することが可能となる。例えば、車載のABS制御
でブレーキを踏むごとに自己診断テストを実施する。
【0030】その後、割り込み回路からの割り込みの種
類(例えば、マクロサービス、ベクタ割り込み、コンテ
キストスイッチ等)と、INTRQ(割り込みリクエス
ト信号)とがMSQU17に送信される。したがって、
MSQU17はこれら受信した情報に基づいてマイクロ
アドレスを生成する。その結果、マクロサービスのため
のマイクロ命令の先頭アドレスが生成されたことにな
る。
【0031】次に、メインRAM2に記憶されている自
己診断テストのためのマクロサービスコントロールワー
ドが参照される。すなわち、表1に記載したように自己
診断テストのモード0またはモード1の何れであるかが
参照されるとともに、初期値「N」および実行結果の出
力先(ポート) の情報が参照される。以上の結果、自己
診断のマクロサービスが起動したことになる。
【0032】(3)自己診断テストの具体例 次に、本発明による自己診断テストの具体例について説
明する。表2は自己診断テストとして実施される主なテ
スト項目を示す表である。
【0033】
【表2】
【0034】表2における自己診断テストのいくつかに
ついて詳細に述べる。 例1.「PSWL21における「0」または「1」の固
着の検出」 まず、オール「0」、オール「1」をPSWL21に書
き込む。オール「1」の書き込み後、PSWL21の値
をTC15に転送し、TA12に初期値「N」を転送す
る。そしてALU14によってTC15とTA12との
論理積をとり、初期値「N」が変わらないことを確認す
る。すなわち、ALU14の各種演算を実施してPSW
L21の各種フラグのセット、リセットの確認をする。
【0035】例2.「PSWL21のキャリーフラグの
セットの確認」 TC15に「FFh」を書き込み、ALU14によって
TC15の値にINC命令を実施する。その結果、AL
U14のキャリーが発生してPSWL21のキャリーフ
ラグがセットされる。このPSWL21のキャリーフラ
グは、フラグ信号としてMSQU17にも出力されてお
り、このフラグ信号によってマイクロ分岐を行う。すな
わち、キャリーフラグがセットされた場合は分岐を行っ
て初期値「N」から減算を実施し、キャリーフラグがセ
ットされない場合は初期値「N」の減算を実施せず、次
の自己診断テストにジャンプする。
【0036】例3.「SP22のインクリメントの確
認」 SP22に初期値「N」を書き込み、ALU14のフラ
グ発生によってSP22の値(初期値「N」)にインクリ
メントを行えることを確認する。なお、SP22の値
は、予めテンポラリレジスタに退避させておく。まず、
初期値「N」をSP22に書き込み、TA12に「FF
h」を書き込む。その後、ALU14によってTA12
の値にINC命令を実施した結果、ALUキャリーが発
生するとSP22の値を「1」減算する。すなわち、マ
イクロ分岐の制御オーダーの中にALUキャリーが発生
するとSP22自身で「1」減算することを利用する。
【0037】例4.「RAM2のR/W(リード/ライ
ト)テスト」 RAMAD19からメインRAM2のアドレスを生成す
る方法をいく通りか実施し、指定されたメインRAM2
のアドレスに初期値「N」の書き込みと読み出しを実施
する。なお、あらかじめメインRAM2の内容は、テン
ポラリレジスタに退避しておき、破壊されるのを防止す
る。また、アドレスの生成方法としては、TQ18によ
ってアドレスを指定する方法等がある。
【0038】(4) テスト結果 以上のようにして得られたテスト結果は、TA12から
DBUS24に出力され、DBUS24からDBI30
を介してIBUS26に出力される。そして、SFI2
7を通して所定のポートから外部に出力される。なお、
テスト結果の判定については、外部のサブCPU(図示
せず)で実施され、CPU1自身は行わない。もちろ
ん、CPU1に余裕があればCPU1自身がテスト結果
について判定してもよい。
【0039】以上のテスト項目の実際のテスト手順につ
いて説明する。図5は表2に記載のテスト項目を実施す
る手順を示すフローチャートである。ステップ201に
おいて、CPU1は、例えば診断テスト1としてALU
14のゼロフラグについてテストを実施する。
【0040】すなわち、TA12に「N」を転送し、T
A12の値をTC15に転送する。ここで、TA12の
値を「TA」、TC15の値を「TC」と表すと、TA
12の値をTC15に転送したことによって「TA=T
C=N」となる。そして、TA12とTC15の値をA
LU14によって比較(「TA−TC」の値をTALU
(図示せず)に出力する。もし、正常に演算が実行され
れば、ALU14の結果として「00h」がTALU1
2に出力されるとともに、同時にALUのゼロフラグが
発生する。なお、TALUは、ALUからの出力をラッ
チする回路である。
【0041】ステップ202のおいて、CPU1はAL
Uのゼロフラグがたっていれば、すなわち診断テスト1
が正常終了すると、分岐を実行してステップ203へ移
行し、「TA」に「初期値−1」を代入する。また、A
LUのゼロフラグがたっていなければステップ204へ
移行して別の種類の診断テストである診断テスト2を実
行する。
【0042】ステップ204〜209において、CPU
1は診断テストの種類を変えながらステップ201〜2
03と同様に診断テストを実行する。診断テストが正常
に実行されると値「TA」は「1」ずつ減算される。ス
テップ210において、CPU1は、値「TA」すなわ
ち実行結果をマクロサービスコントロールワードによっ
て予め指定されたポートを介して外部に出力する。以上
の結果、CPU1に何ら異常なく診断テストαまで実行
したのであれば、出力される値「TA」は「初期値−
α」となる。
【0043】(5)補足説明 通常の命令コードフェッチ動作について説明する。ま
ず、内部ROM28に命令コードがある場合CPU1は
内部ROM28にアクセスし、命令コードをIFU25
に蓄える(命令フェッチ)。
【0044】次に、IFU25に蓄えている1命令分の
命令コードをMSQU17とTQ18に転送する。MS
QU17によってその命令コードの先頭アドレスを生成
する。マイクロ命令ROM11のマイクロコードの内容
をMSTL16にラッチする。このMSTL16からA
LUDEC20の動作を指定し、バスの制御(例えば、
TA12の内容をDBUS24に掃き出す等)等の制御
信号を生成する。
【0045】なお、マイクロプログラムは、ネクストア
ドレス方式をとっており、マイクロコードの中に次のマ
イクロコードのアドレス情報が入っている。したがっ
て、エンドのオーダーが発生するまでマイクロプログラ
ムは実行される。
【0046】
【発明の効果】このように本発明は、命令コードのフェ
ッチおよびデコード操作等を必要とせず、またベクタ割
り込みにおけるPCやPSWの退避のような前処理を必
要としないため、短時間で自己診断テストを実施するこ
とができる。また、エアバッグ等の制御に使用した場
合、従来のようにCPUを二重化させる必要がないため
安価でシステムを構成し提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の一つの実施の形態を示すブロック図
である。
【図2】 図1に係るCPU1の自己診断テストの手順
を示すフローチャートである。
【図3】 マクロサービスによる割り込み処理、およ
び、通常のベクタ割り込みによる割り込み処理を示すタ
イムチャートである。
【図4】 CPU1の詳細な構成を示すブロック図であ
る。
【図5】 本発明に係る複数のテスト項目を実施する際
のフローチャートである。
【図6】 従来例を示すブロック図である。
【図7】 図6に係るCPU1の自己診断テストの手順
を示すフローチャートである。
【符号の説明】
1…CPU、2…メインRAM、11…マイクロ命令R
OM、12,15…テンポラリレジスタ、14…算術論
理演算回路。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 マイクロ命令制御方式の中央処理装置の
    自己診断方法において、 外部から所定の自己診断要求があるとマクロサービスの
    ためのマイクロ命令の先頭アドレスを生成して割り込み
    処理を行い、 予め設定されている所定の自己診断テスト用のマイクロ
    命令に従って自己診断テストを実施することを特徴とす
    る中央処理装置の自己診断方法。
  2. 【請求項2】 自己診断機能を備えたマイクロ命令制御
    方式の中央処理装置において、 自己診断テスト用のマイクロ命令を記憶保持したマイク
    ロ命令読み出しメモリと、 マクロサービスコントロールワードを記憶保持したメイ
    ンメモリと、 マイクロ命令の先頭アドレスを生成するマイクロ制御回
    路とを備え、 外部から所定の自己診断要求があると前記マイクロ制御
    回路によってマクロサービスのためのマイクロ命令の先
    頭アドレスを生成して割り込み処理を行い、前記マクロ
    サービスコントロールワードに基づいてマクロサービス
    の条件設定を行い、前記自己診断テスト用のマイクロ命
    令に従って自己診断テストを実施することを特徴とする
    自己診断機能を備えた中央処理装置。
  3. 【請求項3】 請求項2において、 前記自己診断要求は、中央処理装置の動作周期とは非同
    期な信号であることを特徴とする自己診断機能を備えた
    中央処理装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019093839A (ja) * 2017-11-21 2019-06-20 株式会社デンソー 電子制御装置
CN119536236A (zh) * 2025-01-20 2025-02-28 杭州高坤电子科技有限公司 一种电子元器件测试方法、系统、智能终端及存储介质

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