JPH10318831A - 焦電型赤外線センサー及びそれを備えた赤外線カメラ - Google Patents
焦電型赤外線センサー及びそれを備えた赤外線カメラInfo
- Publication number
- JPH10318831A JPH10318831A JP9130768A JP13076897A JPH10318831A JP H10318831 A JPH10318831 A JP H10318831A JP 9130768 A JP9130768 A JP 9130768A JP 13076897 A JP13076897 A JP 13076897A JP H10318831 A JPH10318831 A JP H10318831A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- infrared sensor
- substrate
- insulating layer
- pyroelectric infrared
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 チョッパ用の遮蔽板及び駆動用モータを用い
ることなく、コンパクト化に適するとともに一貫生産で
作業性や生産性に優れた焦電赤外線センサを提供するこ
とを目的とする。 【解決手段】 導電性のn型シリコン製の半導体基板1
と、n型シリコン製の半導体基板1上に積層された基板
絶縁層10と、基板絶縁層10の周囲等の所定部に形成
されたスペーサー層9と、スペーサー層9上に固定され
た絶縁層3と、絶縁層3を切り欠いて形成され両端部で
絶縁層3に連接された動作部4と、動作部4と基板絶縁
層10との間に形成された間隙部2と、動作部4の上面
に形成された第1電極部5と第1電極部5の上面に形成
された赤外線検出素子6と、赤外線検出素子6上に形成
された第2電極部7と、n型シリコン製の半導体基板1
の裏面に積層された第3電極部8と、を備える。
ることなく、コンパクト化に適するとともに一貫生産で
作業性や生産性に優れた焦電赤外線センサを提供するこ
とを目的とする。 【解決手段】 導電性のn型シリコン製の半導体基板1
と、n型シリコン製の半導体基板1上に積層された基板
絶縁層10と、基板絶縁層10の周囲等の所定部に形成
されたスペーサー層9と、スペーサー層9上に固定され
た絶縁層3と、絶縁層3を切り欠いて形成され両端部で
絶縁層3に連接された動作部4と、動作部4と基板絶縁
層10との間に形成された間隙部2と、動作部4の上面
に形成された第1電極部5と第1電極部5の上面に形成
された赤外線検出素子6と、赤外線検出素子6上に形成
された第2電極部7と、n型シリコン製の半導体基板1
の裏面に積層された第3電極部8と、を備える。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は焦電体の焦電効果を
利用して赤外線を検出する焦電型赤外線センサー及び焦
電型赤外線センサに赤外線を集光して入射し赤外線を検
出する赤外線カメラに関する。
利用して赤外線を検出する焦電型赤外線センサー及び焦
電型赤外線センサに赤外線を集光して入射し赤外線を検
出する赤外線カメラに関する。
【0002】
【従来の技術】近年、焦電型赤外線センサーは非接触で
物体の検知や温度測定等が行えることから、防犯システ
ムや照明用やトイレ等の自動洗浄用等の各種スイッチ,
エアコンの室内温度制御,工業計測分野等で広く利用さ
れている。
物体の検知や温度測定等が行えることから、防犯システ
ムや照明用やトイレ等の自動洗浄用等の各種スイッチ,
エアコンの室内温度制御,工業計測分野等で広く利用さ
れている。
【0003】焦電型赤外線センサはチタン酸ジルコン酸
鉛系セラミックス等の強誘電体セラミックス,タンタル
酸リチュウム等の単結晶、ポリふっ化ビニリデン等の有
機材料があり、温度上昇により自発分極が変化して表面
電荷が発生する焦電効果を利用したセンサである。入射
した赤外線を熱に変化して、焦電効果により電器信号に
変換するのが焦電型赤外線センサである。焦電効果によ
る検出信号は微分信号であるため、静止した物体を検出
する場合には赤外線検出素子に入射する赤外線量を強制
的に変化させる必要がある。赤外線量を強制的に変化さ
せる手段として、焦電型赤外線センサの前面に遮蔽板を
設置し、ある周期で入射赤外線を遮蔽したり、検出させ
たりするチョッパ機構を設けたものが、特開平6−21
3714号公報や、特開平6−102088号公報に開
示されている。
鉛系セラミックス等の強誘電体セラミックス,タンタル
酸リチュウム等の単結晶、ポリふっ化ビニリデン等の有
機材料があり、温度上昇により自発分極が変化して表面
電荷が発生する焦電効果を利用したセンサである。入射
した赤外線を熱に変化して、焦電効果により電器信号に
変換するのが焦電型赤外線センサである。焦電効果によ
る検出信号は微分信号であるため、静止した物体を検出
する場合には赤外線検出素子に入射する赤外線量を強制
的に変化させる必要がある。赤外線量を強制的に変化さ
せる手段として、焦電型赤外線センサの前面に遮蔽板を
設置し、ある周期で入射赤外線を遮蔽したり、検出させ
たりするチョッパ機構を設けたものが、特開平6−21
3714号公報や、特開平6−102088号公報に開
示されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記特開
平6−102088号公報及び特開平6−213714
号公報による焦電型赤外線センサは、機械的駆動方法で
遮蔽板を駆動させているため、赤外線検出部前面に遮蔽
板の移動空間と遮蔽板と赤外線検出部の間にそれぞれが
接触しない程度の空間が必要であり、いくら赤外線検出
部を小型化しようともチョッパ部の小型化ができず焦電
赤外線センサ自体のコンパクト化が図れないという課題
があった。また、遮蔽板や駆動モータの取り付け等作業
が煩雑で多大の生産工数を要し生産生に欠けるという課
題があった。更に、駆動モータは発熱体であり、その発
熱により赤外線検出部のノイズ成分が大きくなるという
課題を有していた。
平6−102088号公報及び特開平6−213714
号公報による焦電型赤外線センサは、機械的駆動方法で
遮蔽板を駆動させているため、赤外線検出部前面に遮蔽
板の移動空間と遮蔽板と赤外線検出部の間にそれぞれが
接触しない程度の空間が必要であり、いくら赤外線検出
部を小型化しようともチョッパ部の小型化ができず焦電
赤外線センサ自体のコンパクト化が図れないという課題
があった。また、遮蔽板や駆動モータの取り付け等作業
が煩雑で多大の生産工数を要し生産生に欠けるという課
題があった。更に、駆動モータは発熱体であり、その発
熱により赤外線検出部のノイズ成分が大きくなるという
課題を有していた。
【0005】本発明は上記課題を解決するもので、チョ
ッパ用の遮蔽板及び駆動用モータを用いることなく、コ
ンパクト化に適するとともに一貫生産で作業性や生産性
に優れた焦電赤外線センサを提供することを目的とす
る。
ッパ用の遮蔽板及び駆動用モータを用いることなく、コ
ンパクト化に適するとともに一貫生産で作業性や生産性
に優れた焦電赤外線センサを提供することを目的とす
る。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の焦電型赤外線センサは、導電性の基板と、
前記基板上に積層された基板絶縁層と、前記基板絶縁層
の周囲等の所定部に形成されたスペーサー層と、前記ス
ペーサー層上に固定された絶縁層と、前記絶縁層を切り
欠いて形成され両端部で前記絶縁層に連接された動作部
と、前記動作部と前記基板絶縁層との間に形成された間
隙部と、前記動作部の上面に形成された第1電極部と前
記第1電極部の上面に形成された赤外線検出素子と、前
記赤外線検出素子上に形成された第2電極部と、前記基
板の裏面に積層された第3電極部と、を備えている。
に、本発明の焦電型赤外線センサは、導電性の基板と、
前記基板上に積層された基板絶縁層と、前記基板絶縁層
の周囲等の所定部に形成されたスペーサー層と、前記ス
ペーサー層上に固定された絶縁層と、前記絶縁層を切り
欠いて形成され両端部で前記絶縁層に連接された動作部
と、前記動作部と前記基板絶縁層との間に形成された間
隙部と、前記動作部の上面に形成された第1電極部と前
記第1電極部の上面に形成された赤外線検出素子と、前
記赤外線検出素子上に形成された第2電極部と、前記基
板の裏面に積層された第3電極部と、を備えている。
【0007】この構成により、動作部の基板絶縁層への
接触動作により強度変化のない赤外線入射であっても検
出できるという作用を有する。その結果、遮蔽板や駆動
用モータを用いたのでコンパクト化できるとともに作業
工数を軽減し生産性を高めるという作用を有する。
接触動作により強度変化のない赤外線入射であっても検
出できるという作用を有する。その結果、遮蔽板や駆動
用モータを用いたのでコンパクト化できるとともに作業
工数を軽減し生産性を高めるという作用を有する。
【0008】また、本発明の赤外線カメラは、レンズと
レンズの焦点位置に小型で高性能の焦電型赤外線センサ
を備えている作用を有する。
レンズの焦点位置に小型で高性能の焦電型赤外線センサ
を備えている作用を有する。
【0009】
【発明の実施の形態】本発明の請求項1に記載の焦電型
赤外線センサーは、導電性の基板と、前記基板上に積層
された基板絶縁層と、前記基板絶縁層の周囲等の所定部
に形成されたスペーサー層と、前記スペーサー層上に固
定された絶縁層と、前記絶縁層を切り欠いて形成され両
端部で前記絶縁層に連接された動作部と、前記動作部と
前記基板絶縁層との間に形成された間隙部と、前記動作
部の上面に形成された第1電極部と前記第1電極部の上
面に形成された赤外線検出素子と、前記赤外線検出素子
上に形成された第2電極部と、前記基板の裏面に積層さ
れた第3電極部と、を備えている。これにより、動作部
が基板絶縁層への接触動作により、強度変化のない赤外
線入射であっても検出できるため、赤外線を断絶するチ
ョッパ用の遮蔽板及び駆動用モータが不要で焦電型赤外
線センサを小型化できるという作用を有する。
赤外線センサーは、導電性の基板と、前記基板上に積層
された基板絶縁層と、前記基板絶縁層の周囲等の所定部
に形成されたスペーサー層と、前記スペーサー層上に固
定された絶縁層と、前記絶縁層を切り欠いて形成され両
端部で前記絶縁層に連接された動作部と、前記動作部と
前記基板絶縁層との間に形成された間隙部と、前記動作
部の上面に形成された第1電極部と前記第1電極部の上
面に形成された赤外線検出素子と、前記赤外線検出素子
上に形成された第2電極部と、前記基板の裏面に積層さ
れた第3電極部と、を備えている。これにより、動作部
が基板絶縁層への接触動作により、強度変化のない赤外
線入射であっても検出できるため、赤外線を断絶するチ
ョッパ用の遮蔽板及び駆動用モータが不要で焦電型赤外
線センサを小型化できるという作用を有する。
【0010】本発明の請求項2に記載の焦電型赤外線セ
ンサーは、請求項1において、前記動作部が前記絶縁層
の中央部を平行に切り欠いて形成された複数の短冊状の
動作単位部と、各前記動作単位部の前記第1電極部と前
記第2電極部に各々独立して結線された結線部と、を備
えている。これにより、複数の各動作単位部と基板絶縁
層の接触動作を独立にすることにより、随時各赤外線検
出素子の放熱を行うことができるため、その組み合わせ
により、強化変化のない赤外線入射であっても検出で
き、赤外線を断絶するチョッパ用の遮蔽板及び駆動用モ
ータが不要で多素子タイプの焦電型赤外線センサの小型
化が可能となるという作用を有する。
ンサーは、請求項1において、前記動作部が前記絶縁層
の中央部を平行に切り欠いて形成された複数の短冊状の
動作単位部と、各前記動作単位部の前記第1電極部と前
記第2電極部に各々独立して結線された結線部と、を備
えている。これにより、複数の各動作単位部と基板絶縁
層の接触動作を独立にすることにより、随時各赤外線検
出素子の放熱を行うことができるため、その組み合わせ
により、強化変化のない赤外線入射であっても検出で
き、赤外線を断絶するチョッパ用の遮蔽板及び駆動用モ
ータが不要で多素子タイプの焦電型赤外線センサの小型
化が可能となるという作用を有する。
【0011】本発明の請求項3に記載の焦電型赤外線セ
ンサーは、請求項1において、前記動作部が前記絶縁層
の中央部を除く周縁部をくの字状や円弧状に切り欠かれ
て形成された複数の動作支持部と、前記各動作支持部の
他端部に連設された方形等の多角形や円,楕円等に形成
された1乃至複数の平板状の動作単位部と、各前記動作
単位部の前記第1電極部と前記第2電極部に各々独立し
て結線された結線部と、を備えた構成を有している。こ
れにより、平板状の動作単位部が基板絶縁層への接触動
作により、強度変化のない赤外線入射であっても検出で
きるため、赤外線を断絶するチョッパ用の遮蔽板及び駆
動用モータが不要で焦電型赤外線センサの小型化が可能
となる作用を有する。
ンサーは、請求項1において、前記動作部が前記絶縁層
の中央部を除く周縁部をくの字状や円弧状に切り欠かれ
て形成された複数の動作支持部と、前記各動作支持部の
他端部に連設された方形等の多角形や円,楕円等に形成
された1乃至複数の平板状の動作単位部と、各前記動作
単位部の前記第1電極部と前記第2電極部に各々独立し
て結線された結線部と、を備えた構成を有している。こ
れにより、平板状の動作単位部が基板絶縁層への接触動
作により、強度変化のない赤外線入射であっても検出で
きるため、赤外線を断絶するチョッパ用の遮蔽板及び駆
動用モータが不要で焦電型赤外線センサの小型化が可能
となる作用を有する。
【0012】本発明の請求項4に記載の焦電型赤外線セ
ンサーは、請求項1乃至3の内いずれか1において、前
記基板が、シリコン半導体で形成されている構成を有し
ている。これにより、強度変化のない赤外線入射であっ
ても検出できる。基板をシリコン半導体で形成したこと
により酸化法やエッチング法、ボンディング法で製造で
き、薄膜の成膜工程が不要になり生産工数を著しく減ら
すことができる。また、動作部がシリコン半導体で形成
されているため信頼性を向上させることができるという
作用を有する。
ンサーは、請求項1乃至3の内いずれか1において、前
記基板が、シリコン半導体で形成されている構成を有し
ている。これにより、強度変化のない赤外線入射であっ
ても検出できる。基板をシリコン半導体で形成したこと
により酸化法やエッチング法、ボンディング法で製造で
き、薄膜の成膜工程が不要になり生産工数を著しく減ら
すことができる。また、動作部がシリコン半導体で形成
されているため信頼性を向上させることができるという
作用を有する。
【0013】本発明の請求項5に記載の焦電型赤外線セ
ンサーは、請求項1乃至4の内いずれか1において、前
記基板がP型のシリコン半導体で形成され、前記スペー
サー層がn型半導体で形成されている構成を有してい
る。これにより、強度変化のない赤外線入射であっても
検出できるための基板絶縁層への独立な接触動作を簡単
な製造方法で製造できるという作用を有する。
ンサーは、請求項1乃至4の内いずれか1において、前
記基板がP型のシリコン半導体で形成され、前記スペー
サー層がn型半導体で形成されている構成を有してい
る。これにより、強度変化のない赤外線入射であっても
検出できるための基板絶縁層への独立な接触動作を簡単
な製造方法で製造できるという作用を有する。
【0014】本発明の請求項6に記載の焦電型赤外線セ
ンサーは、請求項1又は2において、前記基板の前記動
作部の各対向面に形成された第4電極部を備えた構成を
有している。これにより、強度変化のない赤外線入射で
あっても検出するための動作部が基板絶縁層への独立な
接触動作を可能にする作用を有する。
ンサーは、請求項1又は2において、前記基板の前記動
作部の各対向面に形成された第4電極部を備えた構成を
有している。これにより、強度変化のない赤外線入射で
あっても検出するための動作部が基板絶縁層への独立な
接触動作を可能にする作用を有する。
【0015】本発明の請求項7に記載の焦電型赤外線セ
ンサーは、請求項6において、前記第4電極部に電圧を
印加し、各前記動作単位部を各々独立に前記基板絶縁層
に接触させる結線部を備えた構成を有している。これに
より、強度変化のない赤外線入射であっても検出できる
ための動作が基板動作部が基板絶縁層への独立な接触動
作を可能にできる作用を有する。
ンサーは、請求項6において、前記第4電極部に電圧を
印加し、各前記動作単位部を各々独立に前記基板絶縁層
に接触させる結線部を備えた構成を有している。これに
より、強度変化のない赤外線入射であっても検出できる
ための動作が基板動作部が基板絶縁層への独立な接触動
作を可能にできる作用を有する。
【0016】本発明の請求項8に記載の赤外線カメラ
は、レンズと、前記レンズの焦点域に配設された請求項
1乃至7に記載の焦電型赤外線センサーと、を備えた構
成を有している。これにより、センサを非冷却で赤外線
画像を高精度で検出できる作用を有する。
は、レンズと、前記レンズの焦点域に配設された請求項
1乃至7に記載の焦電型赤外線センサーと、を備えた構
成を有している。これにより、センサを非冷却で赤外線
画像を高精度で検出できる作用を有する。
【0017】以下、本発明の実施の形態について、図面
を用いて具体的に説明する。 (実施の形態1)図1は本発明の実施の形態1における
焦電型赤外線センサの要部破断斜視概念図であり、図2
は本発明の実施の形態1における焦電型赤外線センサの
要部断面概念図である。
を用いて具体的に説明する。 (実施の形態1)図1は本発明の実施の形態1における
焦電型赤外線センサの要部破断斜視概念図であり、図2
は本発明の実施の形態1における焦電型赤外線センサの
要部断面概念図である。
【0018】図1及び図2ではn型シリコン製の半導体
基板1と、シリコン酸化物製の短冊状に形成された動作
単位部からなる動作部4、上記動作部4を上記n型シリ
コン製の半導体基板1から熱的に断熱する間隙部2、上
記n型シリコン製の半導体基板1と配線(図示せず)を
絶縁する絶縁層3、赤外線検出素子6、上記赤外線検出
素子6から信号を取り出す第1電極部5と第2電極部
7、n型シリコン製の半導体基板1の背面に設置された
第3電極部8、間隙部を確保するためのスペーサ層9、
シリコンの熱酸化膜よりなる基板絶縁層10とで構成さ
れている。
基板1と、シリコン酸化物製の短冊状に形成された動作
単位部からなる動作部4、上記動作部4を上記n型シリ
コン製の半導体基板1から熱的に断熱する間隙部2、上
記n型シリコン製の半導体基板1と配線(図示せず)を
絶縁する絶縁層3、赤外線検出素子6、上記赤外線検出
素子6から信号を取り出す第1電極部5と第2電極部
7、n型シリコン製の半導体基板1の背面に設置された
第3電極部8、間隙部を確保するためのスペーサ層9、
シリコンの熱酸化膜よりなる基板絶縁層10とで構成さ
れている。
【0019】以上のように構成された実施の形態1にお
ける焦電型赤外線センサについて、以下その製造方法を
説明する。
ける焦電型赤外線センサについて、以下その製造方法を
説明する。
【0020】図3(a)〜(e)及び図4(f)〜
(j)は本発明の実施の形態1における焦電型赤外線セ
ンサの製造方法を示す工程での要部断面図である。
(j)は本発明の実施の形態1における焦電型赤外線セ
ンサの製造方法を示す工程での要部断面図である。
【0021】まず、図3(a)に示すように結晶方位面
100面が上部表面であり、しかも片面にn型シリコン
半導体であるスペーサ層9を4μmの厚みで形成したp
型シリコン半導体補助基板11を用意し、最表面に熱酸
化法で第二の絶縁膜10aを0.5μmの厚みで形成す
る。図3(b)に示すように結晶方位面100面が上部
表面であるn型シリコン製の半導体基板1を用意し、最
表面に熱酸化法で第二の絶縁膜10bを0.5μmの厚
みで形成する。次いで、図3(c)に示すように最表面
の第二の絶縁膜10a、10bをシリコンフュージョン
ボンディング法で接着し、10a、10bを一体の層で
ある基板絶縁層10にする。次に図3(a)p型シリコ
ン半導体補助基板11を電気化学的エッチング法で除去
することにより、エッチングはスペーサ層9の表面で自
動的に停止し、スペーサ層が最表面に露出形成される。
次に、図3(e)に示すように露出したスペーサ層9表
面に熱酸化法で絶縁層3を2μmの厚みで形成する。上
記のn型シリコン製の半導体基板1の裏面の酸化膜をバ
ッファードふっ酸等を用い、ウェットエッチング法で除
去してシリコン裏面を露出させる。次いで、図4(f)
に示すように露出したシリコン裏面に烝着法で金属膜を
0.2μmの厚みで成膜する。絶縁層3の表面にフォト
リソグラフィ法でパターン形成を行い、絶縁層3にバッ
ファートふっ酸等を用いたウェットエッチングを施す。
このようにして図4(g)に示すようにエッチングされ
た絶縁層3は動作部4の中間形成物と絶縁層3に分離さ
れる。
100面が上部表面であり、しかも片面にn型シリコン
半導体であるスペーサ層9を4μmの厚みで形成したp
型シリコン半導体補助基板11を用意し、最表面に熱酸
化法で第二の絶縁膜10aを0.5μmの厚みで形成す
る。図3(b)に示すように結晶方位面100面が上部
表面であるn型シリコン製の半導体基板1を用意し、最
表面に熱酸化法で第二の絶縁膜10bを0.5μmの厚
みで形成する。次いで、図3(c)に示すように最表面
の第二の絶縁膜10a、10bをシリコンフュージョン
ボンディング法で接着し、10a、10bを一体の層で
ある基板絶縁層10にする。次に図3(a)p型シリコ
ン半導体補助基板11を電気化学的エッチング法で除去
することにより、エッチングはスペーサ層9の表面で自
動的に停止し、スペーサ層が最表面に露出形成される。
次に、図3(e)に示すように露出したスペーサ層9表
面に熱酸化法で絶縁層3を2μmの厚みで形成する。上
記のn型シリコン製の半導体基板1の裏面の酸化膜をバ
ッファードふっ酸等を用い、ウェットエッチング法で除
去してシリコン裏面を露出させる。次いで、図4(f)
に示すように露出したシリコン裏面に烝着法で金属膜を
0.2μmの厚みで成膜する。絶縁層3の表面にフォト
リソグラフィ法でパターン形成を行い、絶縁層3にバッ
ファートふっ酸等を用いたウェットエッチングを施す。
このようにして図4(g)に示すようにエッチングされ
た絶縁層3は動作部4の中間形成物と絶縁層3に分離さ
れる。
【0022】次いで、図3(h)に示すように動作部4
の中間形成物表面に0.2μm厚の第1電極部5、0.
5μm厚の赤外線検出素子6と0.2μm厚の第2電極
部7を順にスクリーン印刷法等で積層する。尚、スクリ
ーン印刷法に代え、スパッタ法、蒸着法で0.2μm厚
の第1電極部5、0.5μm厚の赤外線検出素子6と
0.2μm厚の第2電極部7を順に積層し、フォトリソ
グラフィ法でパターン形成で製造してもよい。図4
(h)の状態で水酸化カリウム溶液やふっ硝酸溶液等で
エッチングを行ない、動作部4の中間形成物の下部のス
ペーサ層9を除去し、図4(i)に示すように動作部4
と間隙部2を形成する。最後に図4(j)に示すように
シリコン窓材14をシリコン酸化物等からなる酸化膜1
3を介して絶縁層3の上部に接着した後、内部を乾燥し
た窒素ガスで満たし封止する。
の中間形成物表面に0.2μm厚の第1電極部5、0.
5μm厚の赤外線検出素子6と0.2μm厚の第2電極
部7を順にスクリーン印刷法等で積層する。尚、スクリ
ーン印刷法に代え、スパッタ法、蒸着法で0.2μm厚
の第1電極部5、0.5μm厚の赤外線検出素子6と
0.2μm厚の第2電極部7を順に積層し、フォトリソ
グラフィ法でパターン形成で製造してもよい。図4
(h)の状態で水酸化カリウム溶液やふっ硝酸溶液等で
エッチングを行ない、動作部4の中間形成物の下部のス
ペーサ層9を除去し、図4(i)に示すように動作部4
と間隙部2を形成する。最後に図4(j)に示すように
シリコン窓材14をシリコン酸化物等からなる酸化膜1
3を介して絶縁層3の上部に接着した後、内部を乾燥し
た窒素ガスで満たし封止する。
【0023】以上のようにして作製された実施の形態1
における焦電型赤外線センサについて、以下その動作を
図面を用いて説明する。図5(a)、(b)は実施の形
態1における焦電型赤外線センサの動作を示す要部断面
図である。
における焦電型赤外線センサについて、以下その動作を
図面を用いて説明する。図5(a)、(b)は実施の形
態1における焦電型赤外線センサの動作を示す要部断面
図である。
【0024】まず、第1電極部5を接地し、第3電極部
8に正の電圧として、例えば30V印加すると動作部4
は静電力でn型シリコン製の半導体基板1に引きつけら
れ、動作部4の両端である絶縁層3との接続近傍が弾性
変形し、接続近傍以外の動作部4は基板絶縁層10に接
触する。第3電極部8の印加電圧を第1電極部と同電位
となる0Vにするとn型シリコン製の半導体基板1上部
表面の静電力は消滅し、動作部4の復元力により初期状
態に復元する。すなわち、第3電極部8の電圧を0Vと
30Vにスイッチングする事により、動作部4の中央部
を基板絶縁層10に接触させたり、離したりすることが
できる。上記の動作部4の接触動作によって赤外線検出
素子6の温度はn型シリコン製の半導体基板1と同一温
度になる。
8に正の電圧として、例えば30V印加すると動作部4
は静電力でn型シリコン製の半導体基板1に引きつけら
れ、動作部4の両端である絶縁層3との接続近傍が弾性
変形し、接続近傍以外の動作部4は基板絶縁層10に接
触する。第3電極部8の印加電圧を第1電極部と同電位
となる0Vにするとn型シリコン製の半導体基板1上部
表面の静電力は消滅し、動作部4の復元力により初期状
態に復元する。すなわち、第3電極部8の電圧を0Vと
30Vにスイッチングする事により、動作部4の中央部
を基板絶縁層10に接触させたり、離したりすることが
できる。上記の動作部4の接触動作によって赤外線検出
素子6の温度はn型シリコン製の半導体基板1と同一温
度になる。
【0025】赤外線検出素子6は薄膜で構成されてお
り、熱容量はn型シリコン製の半導体基板1に比べて非
常に小さく、赤外線検出素子6の温度がn型シリコン製
の半導体基板1と異なっていた場合、n型シリコン製の
半導体基板1の温度になるように冷却あるいは加熱され
るのである。ここで、第2電極部7の上部表面に垂直方
向から赤外線12が入射した場合、赤外線検出素子6は
加熱されn型シリコン製の半導体基板1や周囲温度より
も上昇する。上記の状態で第3電極部8に30Vを印加
すると動作部4がn型シリコン製の半導体基板1の上部
表面に接触し、赤外線検出素子6からn型シリコン製の
半導体基板1へ動作部4の接触部を通して熱が移動し赤
外線検出素子6は冷却され、赤外線検出素子6の温度は
n型シリコン製の半導体基板1の温度とほぼ一様にな
る。従って、第3電極部8の電圧を制御することによ
り、対象物からの放射赤外線により加熱された赤外線検
出素子6の温度を対象物からの放射赤外線のなかった初
期の温度に変化させることができる。
り、熱容量はn型シリコン製の半導体基板1に比べて非
常に小さく、赤外線検出素子6の温度がn型シリコン製
の半導体基板1と異なっていた場合、n型シリコン製の
半導体基板1の温度になるように冷却あるいは加熱され
るのである。ここで、第2電極部7の上部表面に垂直方
向から赤外線12が入射した場合、赤外線検出素子6は
加熱されn型シリコン製の半導体基板1や周囲温度より
も上昇する。上記の状態で第3電極部8に30Vを印加
すると動作部4がn型シリコン製の半導体基板1の上部
表面に接触し、赤外線検出素子6からn型シリコン製の
半導体基板1へ動作部4の接触部を通して熱が移動し赤
外線検出素子6は冷却され、赤外線検出素子6の温度は
n型シリコン製の半導体基板1の温度とほぼ一様にな
る。従って、第3電極部8の電圧を制御することによ
り、対象物からの放射赤外線により加熱された赤外線検
出素子6の温度を対象物からの放射赤外線のなかった初
期の温度に変化させることができる。
【0026】(実施の形態2)図6は本発明の実施の形
態2における焦電型赤外線センサ要部破断斜視概念図で
ある。また、図7は本発明の実施の形態2における焦電
型赤外線センサ要部断面概念図であり、図8は本発明の
実施の形態2における焦電型赤外線センサ要部平面概念
図である。図6乃至図8に示すように実施の形態2にお
ける焦電型赤外線センサは、n型シリコン製の半導体基
板1と、半導体基板1の中央部に方形状に形成された動
作単位部42、上記動作単位部42周辺をつなぐように
くの字状や円弧状に切り欠いて形成された動作支持部3
4、上記動作単位部42を上記n型シリコン製の半導体
基板1から熱的に断熱する間隙部2、上記n型シリコン
製の半導体基板1と配線(図示せず)を絶縁する絶縁層
3、赤外線検出素子6、上記赤外線検出素子6から信号
を取り出す第1電極部5と第2電極部7、n型シリコン
製の半導体基板1の背面に設置された第3電極部8、上
記動作支持部34と動作単位部42を保持するスペーサ
層9、シリコンの酸化膜よりなる基板絶縁層10とで構
成されている。
態2における焦電型赤外線センサ要部破断斜視概念図で
ある。また、図7は本発明の実施の形態2における焦電
型赤外線センサ要部断面概念図であり、図8は本発明の
実施の形態2における焦電型赤外線センサ要部平面概念
図である。図6乃至図8に示すように実施の形態2にお
ける焦電型赤外線センサは、n型シリコン製の半導体基
板1と、半導体基板1の中央部に方形状に形成された動
作単位部42、上記動作単位部42周辺をつなぐように
くの字状や円弧状に切り欠いて形成された動作支持部3
4、上記動作単位部42を上記n型シリコン製の半導体
基板1から熱的に断熱する間隙部2、上記n型シリコン
製の半導体基板1と配線(図示せず)を絶縁する絶縁層
3、赤外線検出素子6、上記赤外線検出素子6から信号
を取り出す第1電極部5と第2電極部7、n型シリコン
製の半導体基板1の背面に設置された第3電極部8、上
記動作支持部34と動作単位部42を保持するスペーサ
層9、シリコンの酸化膜よりなる基板絶縁層10とで構
成されている。
【0027】以上のように構成された実施の形態2にお
ける焦電型赤外線センサについて、以下その製造方法を
説明する。第3電極部8の形成までは実施の形態1と同
様の工程で製造される。動作支持部34と動作単位部4
2の製造は次のように行なわれる。まず、絶縁層3の表
面にフォトリソグラフィ法でパターン形成を行う。絶縁
層3をバッファードふっ酸等を用いてウェットエッチン
グを施す。エッチングされた絶縁層3は動作支持部34
の中間形成物、動作単位部42の中間形成物と絶縁層3
に分離される。動作単位部42の中間形成物の表面に第
1電極部5、赤外線検出素子6と第2電極部7を順にス
クリーン印刷法で積層する。動作支持部34の中間形成
物と動作単位部42の下部のスペーサ層9を水酸化カリ
ウム溶液やふっ硝酸溶液等でエッチングし除去すること
で動作支持部34、動作単位部42と間隙部2を形成す
る。動作支持部34と動作単位部42のパターニング形
状は実施の形態1と異なり、図8に示す形状でらせん状
の形状になっている。動作支持部34の長さを長くする
ことで動作支持部厚が厚くても小さい電圧で動作単位部
42を基板絶縁層10に接触動作させることが可能であ
る。
ける焦電型赤外線センサについて、以下その製造方法を
説明する。第3電極部8の形成までは実施の形態1と同
様の工程で製造される。動作支持部34と動作単位部4
2の製造は次のように行なわれる。まず、絶縁層3の表
面にフォトリソグラフィ法でパターン形成を行う。絶縁
層3をバッファードふっ酸等を用いてウェットエッチン
グを施す。エッチングされた絶縁層3は動作支持部34
の中間形成物、動作単位部42の中間形成物と絶縁層3
に分離される。動作単位部42の中間形成物の表面に第
1電極部5、赤外線検出素子6と第2電極部7を順にス
クリーン印刷法で積層する。動作支持部34の中間形成
物と動作単位部42の下部のスペーサ層9を水酸化カリ
ウム溶液やふっ硝酸溶液等でエッチングし除去すること
で動作支持部34、動作単位部42と間隙部2を形成す
る。動作支持部34と動作単位部42のパターニング形
状は実施の形態1と異なり、図8に示す形状でらせん状
の形状になっている。動作支持部34の長さを長くする
ことで動作支持部厚が厚くても小さい電圧で動作単位部
42を基板絶縁層10に接触動作させることが可能であ
る。
【0028】尚、動作単位部42は本実施の形態では1
つ形成したが複数形成してもよい。また、動作単位部4
2の第1電極部5、赤外線検出素子6、第2電極部7は
複数個に分割し、各々に配線してもよい。
つ形成したが複数形成してもよい。また、動作単位部4
2の第1電極部5、赤外線検出素子6、第2電極部7は
複数個に分割し、各々に配線してもよい。
【0029】(実施の形態3)図9は本発明の実施の形
態3における焦電型赤外線センサ要部平面概念図であ
り、図10は本発明の実施の形態3における焦電型赤外
線センサ要部断面概念図である。図9及び図10に示す
ように実施の形態2における焦電型赤外線センサは、p
型シリコン製の半導体基板51と、動作単位部4、上記
動作単位部4(4a、4b、4c、4d)を上記p型シ
リコン製の半導体基板51から熱的に断熱する間隙部
2、上記p型シリコン製の半導体基板51と配線(図示
せず)を絶縁する絶縁層3、赤外線検出素子6、上記赤
外線検出素子6(6a、6b、6c、6d)から信号を
取り出す第1電極部5と第2電極部7(7a、7b、7
c、7d)、上記動作単位部4を製造上必要なスペーサ
層9、シリコンの熱酸化膜よりなる基板絶縁層10と動
作単位部4と同様の形状で動作単位部4の下部方向に位
置し、基板絶縁層10で絶縁された第4電極部52で構
成されている。
態3における焦電型赤外線センサ要部平面概念図であ
り、図10は本発明の実施の形態3における焦電型赤外
線センサ要部断面概念図である。図9及び図10に示す
ように実施の形態2における焦電型赤外線センサは、p
型シリコン製の半導体基板51と、動作単位部4、上記
動作単位部4(4a、4b、4c、4d)を上記p型シ
リコン製の半導体基板51から熱的に断熱する間隙部
2、上記p型シリコン製の半導体基板51と配線(図示
せず)を絶縁する絶縁層3、赤外線検出素子6、上記赤
外線検出素子6(6a、6b、6c、6d)から信号を
取り出す第1電極部5と第2電極部7(7a、7b、7
c、7d)、上記動作単位部4を製造上必要なスペーサ
層9、シリコンの熱酸化膜よりなる基板絶縁層10と動
作単位部4と同様の形状で動作単位部4の下部方向に位
置し、基板絶縁層10で絶縁された第4電極部52で構
成されている。
【0030】以上のように構成された実施の形態3にお
ける焦電型赤外線センサについて、以下その製造方法を
図面を用いて説明する。図11(a)〜(e),図12
(f)〜(h)は本発明の実施の形態3における焦電型
赤外線センサの製造方法を示す各製造工程における要部
断面図である。図11(b)で示すように結晶方位面1
00面が上部表面であるp型シリコン製の半導体基板5
1表面に熱酸化法で酸化シリコン膜を1μmの厚みで形
成する。フォトリソグラフィ法でライン状のパターンを
形成し、酸化シリコン膜をウェットエッチング法で所定
の形状にエッチングする。この酸化シリコン膜をマスク
としてp型シリコン基板51の表面に拡散法でn型シリ
コン半導体電極52を形成し、シリコン酸化膜のマスク
をエッチングで除去する。さらに、p型シリコン製の半
導体基板51の最表面に熱酸化法で第二の絶縁膜10b
を0.5μmの厚みで形成する。
ける焦電型赤外線センサについて、以下その製造方法を
図面を用いて説明する。図11(a)〜(e),図12
(f)〜(h)は本発明の実施の形態3における焦電型
赤外線センサの製造方法を示す各製造工程における要部
断面図である。図11(b)で示すように結晶方位面1
00面が上部表面であるp型シリコン製の半導体基板5
1表面に熱酸化法で酸化シリコン膜を1μmの厚みで形
成する。フォトリソグラフィ法でライン状のパターンを
形成し、酸化シリコン膜をウェットエッチング法で所定
の形状にエッチングする。この酸化シリコン膜をマスク
としてp型シリコン基板51の表面に拡散法でn型シリ
コン半導体電極52を形成し、シリコン酸化膜のマスク
をエッチングで除去する。さらに、p型シリコン製の半
導体基板51の最表面に熱酸化法で第二の絶縁膜10b
を0.5μmの厚みで形成する。
【0031】次に図11(a)で示すように結晶方位面
100面が上部表面であり、しかも片面にn型シリコン
製の半導体であるスペーサ層9を4μmの厚みで形成し
たp型シリコン半導体補助基板11を用意し、半導体基
板11の最表面に熱酸化法で第二の絶縁膜10aを0.
5μmの厚みで形成する。ここで図11(c)に示すよ
うに、これらの最表面の第二の絶縁膜10a、10bを
シリコンフュージョンボンディング法で接着し、10
a、10bを一体の層である基板絶縁層10にする。次
にp型シリコン半導体補助基板11を電気化学的エッチ
ング法である四極法で除去することにより、エッチング
はスペーサ層9の表面で自動的に停止し、図11(d)
のようにスペーサ層9が最表面に露出される。次に、図
11(e)で示すように露出したスペーサ層9表面に熱
酸化法で絶縁層3を2μmの厚みで形成する。絶縁層3
の表面にフォトソグラフィ法でパターン形成を行い、絶
縁層3をバッファードふっ酸等を用いてウエットエッチ
ングを施す。この状態では図12(f)に示されるよう
にエッチングされた絶縁層3は動作単位部4の中間形成
物と絶縁層3に分離される。次いで図12(g)で示す
ように動作単位部4の中間形成物表面に0.2μm厚み
の第1電極部5、5μm厚みの赤外線検出素子6と0.
2μm厚みの第2電極部7を順にスクリーン印刷法で積
層させる。最後に図12(h)で示すように動作単位部
4中間形成物の下部のスペーサ層9を水酸化カリウム溶
液やふっ硝酸溶液等でエッチングし除去することで動作
単位部4と間隙部2を形成する。
100面が上部表面であり、しかも片面にn型シリコン
製の半導体であるスペーサ層9を4μmの厚みで形成し
たp型シリコン半導体補助基板11を用意し、半導体基
板11の最表面に熱酸化法で第二の絶縁膜10aを0.
5μmの厚みで形成する。ここで図11(c)に示すよ
うに、これらの最表面の第二の絶縁膜10a、10bを
シリコンフュージョンボンディング法で接着し、10
a、10bを一体の層である基板絶縁層10にする。次
にp型シリコン半導体補助基板11を電気化学的エッチ
ング法である四極法で除去することにより、エッチング
はスペーサ層9の表面で自動的に停止し、図11(d)
のようにスペーサ層9が最表面に露出される。次に、図
11(e)で示すように露出したスペーサ層9表面に熱
酸化法で絶縁層3を2μmの厚みで形成する。絶縁層3
の表面にフォトソグラフィ法でパターン形成を行い、絶
縁層3をバッファードふっ酸等を用いてウエットエッチ
ングを施す。この状態では図12(f)に示されるよう
にエッチングされた絶縁層3は動作単位部4の中間形成
物と絶縁層3に分離される。次いで図12(g)で示す
ように動作単位部4の中間形成物表面に0.2μm厚み
の第1電極部5、5μm厚みの赤外線検出素子6と0.
2μm厚みの第2電極部7を順にスクリーン印刷法で積
層させる。最後に図12(h)で示すように動作単位部
4中間形成物の下部のスペーサ層9を水酸化カリウム溶
液やふっ硝酸溶液等でエッチングし除去することで動作
単位部4と間隙部2を形成する。
【0032】以上のようにして作製された実施の形態3
における焦電型赤外線センサについて、以下その動作を
図面を用いて説明する。図13(a)〜(e)は実施の
形態3における焦電型赤外線センサの各動作行程を示す
要部断面図であり、図14(1)〜(3)は実施の形態
3の第4電極部52への電圧印加タイミングと第2電極
部7の出力信号の関係を示す図である。まず、第1電極
部5を接地し、第4電極部52aに正の電圧として例え
ば30Vを印加すると動作単位部4aは静電力で第4電
極部52に引きつけられ、動作単位部4aの両端である
絶縁層3との接続近傍が弾性変形し、接続近傍以外の動
作単位部4aは基板絶縁層10の上部表面に接触する。
この時、赤外線検出素子6aが赤外線入射により加熱さ
れていたならば、その熱はp型シリコン製の半導体基板
51に放熱される。次に第4電極部52aに電圧0Vに
し、第4電極部52bに正の電圧として例えば30Vを
印加すると第4電極部52a上部表面の静電力は消滅
し、動作単位部4aの中央部の復元力により初期状態に
復元し、動作単位部4bは静電力で第4電極部52bに
引きつけられ、動作単位部4bの両端である絶縁層3と
の接続近傍が弾性変形し、接続近傍以外の動作単位部4
bは基板絶縁層10の上部表面に接触する。この時、赤
外線検出素子6a,赤外線検出素子6b共に赤外線12
が入射していたならば、赤外線検出素子6aは赤外線入
射により加熱され、第1電極部5と第2電極部7aに正
の出力信号が発生し、赤外線検出素子6bは赤外線入射
により加熱されていたのでp型シリコン製の半導体基板
51に放熱され、第1電極部5と第2電極部7bに負の
出力信号が発生する。同様に図14(1)に示すように
第4電極部52a、52b、53c、52dの電圧を0
Vと30Vに順次スイッチングする事により、図14
(2)もしくは図14(3)で示されるような赤外線検
出素子6a、6b、6c、6dの出力信号を個別に検出
することが可能である。なお、第4電極部をn型シリコ
ン半導体で構成した例で示したが、その他の金属電極で
構成した場合についても同様に実施可能である。また、
赤外線検出素子6を多数化して、平面的に数多く配置し
た場合にも同様に実施可能である。
における焦電型赤外線センサについて、以下その動作を
図面を用いて説明する。図13(a)〜(e)は実施の
形態3における焦電型赤外線センサの各動作行程を示す
要部断面図であり、図14(1)〜(3)は実施の形態
3の第4電極部52への電圧印加タイミングと第2電極
部7の出力信号の関係を示す図である。まず、第1電極
部5を接地し、第4電極部52aに正の電圧として例え
ば30Vを印加すると動作単位部4aは静電力で第4電
極部52に引きつけられ、動作単位部4aの両端である
絶縁層3との接続近傍が弾性変形し、接続近傍以外の動
作単位部4aは基板絶縁層10の上部表面に接触する。
この時、赤外線検出素子6aが赤外線入射により加熱さ
れていたならば、その熱はp型シリコン製の半導体基板
51に放熱される。次に第4電極部52aに電圧0Vに
し、第4電極部52bに正の電圧として例えば30Vを
印加すると第4電極部52a上部表面の静電力は消滅
し、動作単位部4aの中央部の復元力により初期状態に
復元し、動作単位部4bは静電力で第4電極部52bに
引きつけられ、動作単位部4bの両端である絶縁層3と
の接続近傍が弾性変形し、接続近傍以外の動作単位部4
bは基板絶縁層10の上部表面に接触する。この時、赤
外線検出素子6a,赤外線検出素子6b共に赤外線12
が入射していたならば、赤外線検出素子6aは赤外線入
射により加熱され、第1電極部5と第2電極部7aに正
の出力信号が発生し、赤外線検出素子6bは赤外線入射
により加熱されていたのでp型シリコン製の半導体基板
51に放熱され、第1電極部5と第2電極部7bに負の
出力信号が発生する。同様に図14(1)に示すように
第4電極部52a、52b、53c、52dの電圧を0
Vと30Vに順次スイッチングする事により、図14
(2)もしくは図14(3)で示されるような赤外線検
出素子6a、6b、6c、6dの出力信号を個別に検出
することが可能である。なお、第4電極部をn型シリコ
ン半導体で構成した例で示したが、その他の金属電極で
構成した場合についても同様に実施可能である。また、
赤外線検出素子6を多数化して、平面的に数多く配置し
た場合にも同様に実施可能である。
【0033】(実施の形態4)図15は本発明の実施の
形態4における赤外線カメラの斜視概念図であり、図1
6は本発明の実施の形態4における赤外線カメラの断面
斜視概念図である。図15及び図16に示すように、実
施の形態4における赤外線カメラはレンズ55、本体5
6、赤外線検出素子57、及び図示しない検出回路、増
幅回路、電源回路等で構成される。赤外線検出素子57
は上記の赤外線センサを多素子化した検出素子で構成さ
れている。
形態4における赤外線カメラの斜視概念図であり、図1
6は本発明の実施の形態4における赤外線カメラの断面
斜視概念図である。図15及び図16に示すように、実
施の形態4における赤外線カメラはレンズ55、本体5
6、赤外線検出素子57、及び図示しない検出回路、増
幅回路、電源回路等で構成される。赤外線検出素子57
は上記の赤外線センサを多素子化した検出素子で構成さ
れている。
【0034】赤外線カメラの動作は赤外線がレンズ55
を通して赤外線検出素子57に結像され赤外線検出部の
各赤外線センサに検出される。信号は配線を通して検出
回路で検出され、増幅回路で増幅される。赤外線検出部
や検出回路、増幅回路への電源供給は電源回路で行われ
る。
を通して赤外線検出素子57に結像され赤外線検出部の
各赤外線センサに検出される。信号は配線を通して検出
回路で検出され、増幅回路で増幅される。赤外線検出部
や検出回路、増幅回路への電源供給は電源回路で行われ
る。
【0035】
【発明の効果】本発明の請求項1に記載の焦電型赤外線
センサによれば、動作部の弾性により、動作部が基板絶
縁層への接触動作により、強度変化のない赤外線入射で
あっても検出できるため、赤外線を断絶するチョッパ用
の遮蔽板及び駆動用モータが不要で焦電型赤外線センサ
を小型化できる。センサ全体を薄膜で構成できるため焦
電型赤外線センサをコンパクトに形成できる。部品点数
が少ないので作業工数が少なく生産性に優れる。駆動モ
ータ等の発熱体を有しないので赤外線検出部のノイズ成
分を著しく低減でき精度の高い焦電型赤外線センサを得
ることができる。
センサによれば、動作部の弾性により、動作部が基板絶
縁層への接触動作により、強度変化のない赤外線入射で
あっても検出できるため、赤外線を断絶するチョッパ用
の遮蔽板及び駆動用モータが不要で焦電型赤外線センサ
を小型化できる。センサ全体を薄膜で構成できるため焦
電型赤外線センサをコンパクトに形成できる。部品点数
が少ないので作業工数が少なく生産性に優れる。駆動モ
ータ等の発熱体を有しないので赤外線検出部のノイズ成
分を著しく低減でき精度の高い焦電型赤外線センサを得
ることができる。
【0036】本発明の請求項2に記載の焦電型赤外線セ
ンサによれば、請求項1において、動作部が絶縁層の中
央部を平行に切り欠いて形成された複数の短冊状の動作
単位部と、各動作単位部の第1電極部と第2電極部に各
々独立して結線された結線部と、を備えているので、更
に、複数の各動作単位部と基板絶縁層の接触動作を独立
にすることにより、随時各赤外線検出素子の放熱を行う
ことができるため、その組み合わせにより、強度変化の
ない赤外線入射であっても検出でき、検出効率を著しく
高めることができる。また、構造が簡単なので生産性を
高めることができる。
ンサによれば、請求項1において、動作部が絶縁層の中
央部を平行に切り欠いて形成された複数の短冊状の動作
単位部と、各動作単位部の第1電極部と第2電極部に各
々独立して結線された結線部と、を備えているので、更
に、複数の各動作単位部と基板絶縁層の接触動作を独立
にすることにより、随時各赤外線検出素子の放熱を行う
ことができるため、その組み合わせにより、強度変化の
ない赤外線入射であっても検出でき、検出効率を著しく
高めることができる。また、構造が簡単なので生産性を
高めることができる。
【0037】本発明の請求項3に記載の焦電型赤外線セ
ンサーは、請求項1において、動作部が絶縁層の中央部
を除く周縁部をくの字状や円弧状に切り欠かれて形成さ
れた複数の動作支持部と、各動作支持部の他端部に連設
された方形等の多角形や円,楕円等に形成された1乃至
複数の平板状の動作単位部と、各動作単位部の第1電極
部と第2電極部に各々独立して結線された結線部と、を
備えているので、動作単位部の基板絶縁層への接触動作
により、強度変化のない赤外線入射であっても検出でき
るため、検出効率を著しく高めることができる。
ンサーは、請求項1において、動作部が絶縁層の中央部
を除く周縁部をくの字状や円弧状に切り欠かれて形成さ
れた複数の動作支持部と、各動作支持部の他端部に連設
された方形等の多角形や円,楕円等に形成された1乃至
複数の平板状の動作単位部と、各動作単位部の第1電極
部と第2電極部に各々独立して結線された結線部と、を
備えているので、動作単位部の基板絶縁層への接触動作
により、強度変化のない赤外線入射であっても検出でき
るため、検出効率を著しく高めることができる。
【0038】本発明の請求項4に記載の焦電型赤外線セ
ンサーは、請求項1乃至3の内いずれか1において、前
記基板が、シリコン半導体で形成されているので、簡単
な製造方法で製造でき生産性を向上でき低原価で量産で
きる。また、結晶性を有するシリコンであるため動作部
の機械的強度に優れ高い信頼性を得ることができる。
ンサーは、請求項1乃至3の内いずれか1において、前
記基板が、シリコン半導体で形成されているので、簡単
な製造方法で製造でき生産性を向上でき低原価で量産で
きる。また、結晶性を有するシリコンであるため動作部
の機械的強度に優れ高い信頼性を得ることができる。
【0039】本発明の請求項5に記載の焦電型赤外線セ
ンサーは、請求項1乃至4の内いずれか1において、前
記基板がP型のシリコン半導体で形成され、前記スペー
サー層がn型半導体で形成されているので、簡単な製造
方法で製造でき生産性を向上でき低原価で量産できる。
また、動作部と間隙部の厚みを精度よく制御できる。
ンサーは、請求項1乃至4の内いずれか1において、前
記基板がP型のシリコン半導体で形成され、前記スペー
サー層がn型半導体で形成されているので、簡単な製造
方法で製造でき生産性を向上でき低原価で量産できる。
また、動作部と間隙部の厚みを精度よく制御できる。
【0040】本発明の請求項6に記載の焦電型赤外線セ
ンサーは、請求項1又は2において、前記基板の前記動
作部の各対向面に形成された第4電極部を備えているの
で、更に、強度変化のない赤外線入射であっても検出す
るための動作部が基板絶縁層への独立な接触動作を行う
ことができ検出効果を高めることができる。
ンサーは、請求項1又は2において、前記基板の前記動
作部の各対向面に形成された第4電極部を備えているの
で、更に、強度変化のない赤外線入射であっても検出す
るための動作部が基板絶縁層への独立な接触動作を行う
ことができ検出効果を高めることができる。
【0041】本発明の請求項7に記載の焦電型赤外線セ
ンサーは、請求項6において、前記第4電極部に電圧を
印加し、各前記動作単位部を各々独立に前記基板絶縁層
に接触させる結線部を備えているので、更に、強度変化
のない赤外線入射であっても検出できるための動作が基
板動作部が基板絶縁層への独立な接触動作を行うことが
でき検出効果を高めることができる。
ンサーは、請求項6において、前記第4電極部に電圧を
印加し、各前記動作単位部を各々独立に前記基板絶縁層
に接触させる結線部を備えているので、更に、強度変化
のない赤外線入射であっても検出できるための動作が基
板動作部が基板絶縁層への独立な接触動作を行うことが
でき検出効果を高めることができる。
【0042】本発明の請求項8に記載の赤外線カメラ
は、レンズと、前記レンズの焦点域に配設された請求項
1乃至7に記載の焦電型赤外線センサーと、を備えてい
るので、更に、センサを非冷却で赤外線画像を検出でき
る。また、焦電型赤外線センサーが小型でコンパクトな
ので、赤外線カメラを小型でコンパクトに形成できる。
は、レンズと、前記レンズの焦点域に配設された請求項
1乃至7に記載の焦電型赤外線センサーと、を備えてい
るので、更に、センサを非冷却で赤外線画像を検出でき
る。また、焦電型赤外線センサーが小型でコンパクトな
ので、赤外線カメラを小型でコンパクトに形成できる。
【0043】赤外線受光素子前面に設置すべきチョッパ
用の遮蔽板及び駆動用モータが不要なので取り付け作業
等が削減でき生産性を高めることができる。
用の遮蔽板及び駆動用モータが不要なので取り付け作業
等が削減でき生産性を高めることができる。
【図1】本発明の実施の形態1の焦電型赤外線センサの
要部破断斜視概念図
要部破断斜視概念図
【図2】本発明の実施の形態1の焦電型赤外線センサの
要部断面概念図
要部断面概念図
【図3】(a)は本発明の実施の形態1における焦電型
赤外線センサの製造方法を示す工程での要部断面図 (b)は本発明の実施の形態1における焦電型赤外線セ
ンサの製造方法を示す工程での要部断面図 (c)は本発明の実施の形態1における焦電型赤外線セ
ンサの製造方法を示す工程での要部断面図 (d)は本発明の実施の形態1における焦電型赤外線セ
ンサの製造方法を示す工程での要部断面図 (e)は本発明の実施の形態1における焦電型赤外線セ
ンサの製造方法を示す工程での要部断面図
赤外線センサの製造方法を示す工程での要部断面図 (b)は本発明の実施の形態1における焦電型赤外線セ
ンサの製造方法を示す工程での要部断面図 (c)は本発明の実施の形態1における焦電型赤外線セ
ンサの製造方法を示す工程での要部断面図 (d)は本発明の実施の形態1における焦電型赤外線セ
ンサの製造方法を示す工程での要部断面図 (e)は本発明の実施の形態1における焦電型赤外線セ
ンサの製造方法を示す工程での要部断面図
【図4】(f)は本発明の実施の形態1における焦電型
赤外線センサの製造方法を示す工程での要部断面図 (g)は本発明の実施の形態1における焦電型赤外線セ
ンサの製造方法を示す工程での要部断面図 (h)は本発明の実施の形態1における焦電型赤外線セ
ンサの製造方法を示す工程での要部断面図 (i)は本発明の実施の形態1における焦電型赤外線セ
ンサの製造方法を示す工程での要部断面図 (j)は本発明の実施の形態1における焦電型赤外線セ
ンサの製造方法を示す工程での要部断面図
赤外線センサの製造方法を示す工程での要部断面図 (g)は本発明の実施の形態1における焦電型赤外線セ
ンサの製造方法を示す工程での要部断面図 (h)は本発明の実施の形態1における焦電型赤外線セ
ンサの製造方法を示す工程での要部断面図 (i)は本発明の実施の形態1における焦電型赤外線セ
ンサの製造方法を示す工程での要部断面図 (j)は本発明の実施の形態1における焦電型赤外線セ
ンサの製造方法を示す工程での要部断面図
【図5】(a)は実施の形態1における焦電型赤外線セ
ンサの動作を示す要部断面図 (b)は実施の形態1における焦電型赤外線センサの動
作を示す要部断面図
ンサの動作を示す要部断面図 (b)は実施の形態1における焦電型赤外線センサの動
作を示す要部断面図
【図6】本発明の実施の形態2における焦電型赤外線セ
ンサ要部破断斜視概念図
ンサ要部破断斜視概念図
【図7】本発明の実施の形態2における焦電型赤外線セ
ンサ要部断面概念図
ンサ要部断面概念図
【図8】本発明の実施の形態2における焦電型赤外線セ
ンサ要部平面概念図
ンサ要部平面概念図
【図9】本発明の実施の形態3における焦電型赤外線セ
ンサ要部平面概念図
ンサ要部平面概念図
【図10】本発明の実施の形態3における焦電型赤外線
センサ要部断面概念図
センサ要部断面概念図
【図11】(a)は本発明の実施の形態3における焦電
型赤外線センサの製造方法を示す各工程における要部断
面図 (b)は本発明の実施の形態3における焦電型赤外線セ
ンサの製造方法を示す各工程における要部断面図 (c)は本発明の実施の形態3における焦電型赤外線セ
ンサの製造方法を示す各工程における要部断面図 (d)は本発明の実施の形態3における焦電型赤外線セ
ンサの製造方法を示す各工程における要部断面図 (e)は本発明の実施の形態3における焦電型赤外線セ
ンサの製造方法を示す各工程における要部断面図
型赤外線センサの製造方法を示す各工程における要部断
面図 (b)は本発明の実施の形態3における焦電型赤外線セ
ンサの製造方法を示す各工程における要部断面図 (c)は本発明の実施の形態3における焦電型赤外線セ
ンサの製造方法を示す各工程における要部断面図 (d)は本発明の実施の形態3における焦電型赤外線セ
ンサの製造方法を示す各工程における要部断面図 (e)は本発明の実施の形態3における焦電型赤外線セ
ンサの製造方法を示す各工程における要部断面図
【図12】(f)は本発明の実施の形態3における焦電
型赤外線センサの製造方法を示す各工程における要部断
面図 (g)は本発明の実施の形態3における焦電型赤外線セ
ンサの製造方法を示す各工程における要部断面図 (h)は本発明の実施の形態3における焦電型赤外線セ
ンサの製造方法を示す各工程における要部断面図
型赤外線センサの製造方法を示す各工程における要部断
面図 (g)は本発明の実施の形態3における焦電型赤外線セ
ンサの製造方法を示す各工程における要部断面図 (h)は本発明の実施の形態3における焦電型赤外線セ
ンサの製造方法を示す各工程における要部断面図
【図13】(a)は実施の形態3における焦電型赤外線
センサの各動作行程を示す要部断面図 (b)は実施の形態3における焦電型赤外線センサの各
動作行程を示す要部断面図 (c)は実施の形態3における焦電型赤外線センサの各
動作行程を示す要部断面図 (d)は実施の形態3における焦電型赤外線センサの各
動作行程を示す要部断面図 (e)は実施の形態3における焦電型赤外線センサの各
動作行程を示す要部断面図
センサの各動作行程を示す要部断面図 (b)は実施の形態3における焦電型赤外線センサの各
動作行程を示す要部断面図 (c)は実施の形態3における焦電型赤外線センサの各
動作行程を示す要部断面図 (d)は実施の形態3における焦電型赤外線センサの各
動作行程を示す要部断面図 (e)は実施の形態3における焦電型赤外線センサの各
動作行程を示す要部断面図
【図14】(1)は実施の形態3における第4電極部へ
の電圧印加タイミングと第2電極部の出力信号の関係を
示す図 (2)は実施の形態3における第4電極部への電圧印加
タイミングと第2電極部の出力信号の関係を示す図 (3)は実施の形態3における第4電極部への電圧印加
タイミングと第2電極部の出力信号の関係を示す図
の電圧印加タイミングと第2電極部の出力信号の関係を
示す図 (2)は実施の形態3における第4電極部への電圧印加
タイミングと第2電極部の出力信号の関係を示す図 (3)は実施の形態3における第4電極部への電圧印加
タイミングと第2電極部の出力信号の関係を示す図
【図15】本発明の実施の形態4における赤外線カメラ
の斜視概念図
の斜視概念図
【図16】本発明の実施の形態4における赤外線カメラ
の断面斜視概念図
の断面斜視概念図
1 n型シリコン製の半導体基板 2 間隙部 3 絶縁層 4、4a、4b、4c、4d 動作部 5、5a、5b、5c、5d 第1電極部 6、6a、6b、6c、6d 赤外線検出素子 7、7a、7b、7c、7d 第2電極部 8 第3電極部 9 スペーサ層 10 基板絶縁層 11 p型シリコン半導体補助基板 12 赤外線 13 シリコン酸化膜 14 シリコン窓材 34 動作支持部 42 動作単位部 51 P型シリコン製の半導体基板 52、52a、52b、52c、52d 第4電極部 55 レンズ 56 本体 57 赤外線検出素子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 大森 高広 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内
Claims (8)
- 【請求項1】導電性の基板と、前記基板上に積層された
基板絶縁層と、前記基板絶縁層の周囲等の所定部に形成
されたスペーサー層と、前記スペーサー層上に固定され
た絶縁層と、前記絶縁層を切り欠いて形成され両端部で
前記絶縁層に連接された動作部と、前記動作部と前記基
板絶縁層との間に形成された間隙部と、前記動作部の上
面に形成された第1電極部と前記第1電極部の上面に形
成された赤外線検出素子と、前記赤外線検出素子上に形
成された第2電極部と、前記基板の裏面に積層された第
3電極部と、を備えたことを特徴とする焦電型赤外線セ
ンサー。 - 【請求項2】前記動作部が前記絶縁層の中央部を平行に
切り欠いて形成された複数の短冊状の動作単位部と、各
前記動作単位部の前記第1電極部と前記第2電極部、又
は、各前記動作単位部の複数の前記第1電極部と複数の
前記第2電極部に各々独立して結線された結線部と、を
備えたことを特徴とする請求項1に記載の焦電型赤外線
センサー。 - 【請求項3】前記動作部が前記絶縁層の中央部を除く周
縁部をくの字状や円弧状に切り欠かれて形成された複数
の動作支持部と、前記各動作支持部の他端部に連設され
た方形等の多角形や円,楕円等に形成された1乃至複数
の平板状の動作単位部と、各前記動作単位部の前記第1
電極部と前記第2電極部、又は、各前記動作単位部の複
数の前記第1電極部と複数の前記第2電極部に各々独立
して結線された結線部と、を備えたことを特徴とする請
求項1に記載の焦電型赤外線センサー。 - 【請求項4】前記基板が、シリコン半導体で形成されて
いることを特徴とする請求項1乃至3の内いずれか1に
記載の焦電型赤外線センサー。 - 【請求項5】前記基板がP型のシリコン半導体で形成さ
れ、前記スペーサー層がn型半導体で形成されているこ
とを特徴とする請求項1乃至4の内いずれか1に記載の
焦電型赤外線センサー。 - 【請求項6】前記基板の前記動作部の各対向面に形成さ
れた第4電極部を備えたことを特徴とする請求項1又は
2に記載の焦電型赤外線センサー。 - 【請求項7】前記第4電極部に電圧を印加し、各前記動
作単位部を各々独立に前記基板絶縁層に接触させる結線
部を備えたことを特徴とする請求項6に記載の焦電型赤
外線センサー。 - 【請求項8】レンズと、前記レンズの焦点域に配設され
た請求項1乃至7に記載の焦電型赤外線センサーと、を
備えたことを特徴とする赤外線カメラ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9130768A JPH10318831A (ja) | 1997-05-21 | 1997-05-21 | 焦電型赤外線センサー及びそれを備えた赤外線カメラ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9130768A JPH10318831A (ja) | 1997-05-21 | 1997-05-21 | 焦電型赤外線センサー及びそれを備えた赤外線カメラ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10318831A true JPH10318831A (ja) | 1998-12-04 |
Family
ID=15042205
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9130768A Pending JPH10318831A (ja) | 1997-05-21 | 1997-05-21 | 焦電型赤外線センサー及びそれを備えた赤外線カメラ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10318831A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006112869A (ja) * | 2004-10-13 | 2006-04-27 | Hamamatsu Photonics Kk | 赤外線検出装置及びその製造方法 |
-
1997
- 1997-05-21 JP JP9130768A patent/JPH10318831A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006112869A (ja) * | 2004-10-13 | 2006-04-27 | Hamamatsu Photonics Kk | 赤外線検出装置及びその製造方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6586738B2 (en) | Electromagnetic radiation detectors having a micromachined electrostatic chopper device | |
| US6737648B2 (en) | Micromachined infrared sensitive pixel and infrared imager including same | |
| US7026602B2 (en) | Electromagnetic radiation detectors having a microelectromechanical shutter device | |
| JP2967126B2 (ja) | 平板型光弁基板用半導体集積回路装置 | |
| EP0534768B1 (en) | Uncooled infrared detector and method for forming the same | |
| JP2004235638A (ja) | 微細加工素子およびその製造方法 | |
| JPH08271344A (ja) | 焦電膜を備えたモノリシック感熱検出器およびその製造方法 | |
| JP3258066B2 (ja) | サーモパイル型赤外線センサの製造方法 | |
| JP2926158B2 (ja) | 導電性マイクロブリッジの製造方法 | |
| JPH11258038A (ja) | 赤外線センサ | |
| CN1318827C (zh) | 红外线检测元件、使用该红外线检测元件的红外线传感器装置和红外线检测装置 | |
| JPH10318831A (ja) | 焦電型赤外線センサー及びそれを備えた赤外線カメラ | |
| JPH10104062A (ja) | 薄膜電極および方法 | |
| JPH10160538A (ja) | 熱センサおよびその製造方法 | |
| JP2003344155A (ja) | 赤外線センサ | |
| JP2000230859A (ja) | 微小装置とその製造方法 | |
| CN212363451U (zh) | 一种全柔性热释电红外探测器 | |
| JPS63102382A (ja) | 薄膜型熱電変換素子モジユ−ルの製造方法とその構造体 | |
| JPH11118606A (ja) | 焦電型赤外線センサおよびその製造方法 | |
| JPH09126895A (ja) | 焦電型赤外線検出器 | |
| JPH1019670A (ja) | 人体検知センサ装置 | |
| JP2013019857A (ja) | 焦電型センサ素子 | |
| KR100358635B1 (ko) | 쵸퍼 내장 초전형 적외선 센서 | |
| JP6413070B2 (ja) | 赤外線検出素子、及び赤外線検出装置 | |
| JPS61244563A (ja) | ホトサ−マルヘツド |