JPH10318880A - 液晶表示装置の検査方法および液晶表示装置用検査装置 - Google Patents
液晶表示装置の検査方法および液晶表示装置用検査装置Info
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- JPH10318880A JPH10318880A JP12521297A JP12521297A JPH10318880A JP H10318880 A JPH10318880 A JP H10318880A JP 12521297 A JP12521297 A JP 12521297A JP 12521297 A JP12521297 A JP 12521297A JP H10318880 A JPH10318880 A JP H10318880A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 高解像度の液晶表示装置を低コストで精度良
く検査することができる検査方法および液晶表示装置用
検査装置を提供する。 【解決手段】 液晶表示パネル１に信号発生装置２から
駆動信号を入力する。液晶表示パネル１はバックライト
３によって照明されており、その透過光をＣＣＤカメラ
４によって受光する。ＣＣＤカメラ４によって受光した
透過光は、電気信号に変換されて画像処理部５に送ら
れ、画像処理部５によって液晶表示パネル１の評価を行
う。液晶表示パネル１とＣＣＤカメラ４との間には、拡
大光学系としてのレンズ（レンズ群）６が設けられてい
る。このレンズ６により、液晶表示パネル１のイメージ
が拡大されてＣＣＤカメラ４に取り込まれる。第１の検
査で良品または不良品として判定されない液晶表示パネ
ル１は、準良品として画像処理部５によって判定され、
レンズ６によってＣＣＤカメラ４で取り込む画像の倍率
を上げ、第２の検査を行い、修正可能または不良品の判
定を行う。
く検査することができる検査方法および液晶表示装置用
検査装置を提供する。 【解決手段】 液晶表示パネル１に信号発生装置２から
駆動信号を入力する。液晶表示パネル１はバックライト
３によって照明されており、その透過光をＣＣＤカメラ
４によって受光する。ＣＣＤカメラ４によって受光した
透過光は、電気信号に変換されて画像処理部５に送ら
れ、画像処理部５によって液晶表示パネル１の評価を行
う。液晶表示パネル１とＣＣＤカメラ４との間には、拡
大光学系としてのレンズ（レンズ群）６が設けられてい
る。このレンズ６により、液晶表示パネル１のイメージ
が拡大されてＣＣＤカメラ４に取り込まれる。第１の検
査で良品または不良品として判定されない液晶表示パネ
ル１は、準良品として画像処理部５によって判定され、
レンズ６によってＣＣＤカメラ４で取り込む画像の倍率
を上げ、第２の検査を行い、修正可能または不良品の判
定を行う。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示装置の検
査方法および液晶表示装置用検査装置に関するもので、
特に液晶表示パネルの状態でその点灯状態を検査する液
晶表示装置の検査方法および液晶表示装置用検査装置に
関するものである。
査方法および液晶表示装置用検査装置に関するもので、
特に液晶表示パネルの状態でその点灯状態を検査する液
晶表示装置の検査方法および液晶表示装置用検査装置に
関するものである。
【０００２】
【従来の技術】液晶表示装置は、２つの対向する透明電
極間に液晶を挟持し、この電極間に電気信号を加えて外
部からの入射光の偏光成分を制御することにより、光の
透過量を制御して情報を表示させるものである。
極間に液晶を挟持し、この電極間に電気信号を加えて外
部からの入射光の偏光成分を制御することにより、光の
透過量を制御して情報を表示させるものである。
【０００３】液晶表示装置は、ＣＲＴに比べて、消費電
力が非常に少ない、薄い、軽量および画面がフラットで
ある等の特徴を備えている。このため、液晶表示装置
は、次世代の表示装置として注目され、その生産量は年
々増加している。
力が非常に少ない、薄い、軽量および画面がフラットで
ある等の特徴を備えている。このため、液晶表示装置
は、次世代の表示装置として注目され、その生産量は年
々増加している。
【０００４】一方で、近年のコンピューターのマルチメ
ディア化に伴い、表示装置が表現しなければならない情
報量は飛躍的に増大し、液晶表示装置はより高解像度の
ものが要求されるようになっている。その結果、液晶表
示装置を構成する各絵素のサイズは、微細化の一途を辿
っている。一般に、液晶表示装置の解像度が高くなるほ
ど、不良絵素のない液晶表示装置を製造することは困難
となる。
ディア化に伴い、表示装置が表現しなければならない情
報量は飛躍的に増大し、液晶表示装置はより高解像度の
ものが要求されるようになっている。その結果、液晶表
示装置を構成する各絵素のサイズは、微細化の一途を辿
っている。一般に、液晶表示装置の解像度が高くなるほ
ど、不良絵素のない液晶表示装置を製造することは困難
となる。
【０００５】液晶表示装置の製造においては、後ろの工
程になるほど、製造途中の液晶表示装置には様々なコス
トが積算されていくことになる。したがって、初期の段
階の製造工程で不良が発生し、その不良に気付かなかっ
た場合、不良発生以降の製造工程のすべてが無駄にな
る。
程になるほど、製造途中の液晶表示装置には様々なコス
トが積算されていくことになる。したがって、初期の段
階の製造工程で不良が発生し、その不良に気付かなかっ
た場合、不良発生以降の製造工程のすべてが無駄にな
る。
【０００６】このように、液晶表示装置を製造するに
は、コストを抑えるためにも早い段階で不良品をふるい
分ける必要があり、液晶表示装置を液晶パネルの段階で
検査を行うことは重要である。
は、コストを抑えるためにも早い段階で不良品をふるい
分ける必要があり、液晶表示装置を液晶パネルの段階で
検査を行うことは重要である。
【０００７】図５を用いて従来の液晶表示装置用検査装
置の構成について簡単に説明する。図５は従来の液晶表
示装置用検査装置を示す説明図である。
置の構成について簡単に説明する。図５は従来の液晶表
示装置用検査装置を示す説明図である。
【０００８】図５に示すように、液晶表示パネル５１に
は信号発生装置５２から駆動信号が入力される。液晶表
示パネル５１はバックライト５３によって照明されてお
り、その透過光はカメラ５４によって受光される。カメ
ラ５４によって受光された透過光は、電気信号に変換さ
れて画像処理部５５に送られ、画像処理部５５によって
液晶表示パネル５１の評価が行われる。
は信号発生装置５２から駆動信号が入力される。液晶表
示パネル５１はバックライト５３によって照明されてお
り、その透過光はカメラ５４によって受光される。カメ
ラ５４によって受光された透過光は、電気信号に変換さ
れて画像処理部５５に送られ、画像処理部５５によって
液晶表示パネル５１の評価が行われる。
【０００９】現在主流となっている液晶表示パネル５１
は、ＳＶＧＡと呼ばれる解像度が横８００×縦６００の
ものであるが、今後主流になってくると思われる液晶表
示パネル５１は、ＸＧＡと呼ばれる解像度が横１０２４
×縦７６８のものである。また、液晶表示パネル５１か
らの透過光を受光するカメラ５４には、通常ＣＣＤカメ
ラが用いられる。
は、ＳＶＧＡと呼ばれる解像度が横８００×縦６００の
ものであるが、今後主流になってくると思われる液晶表
示パネル５１は、ＸＧＡと呼ばれる解像度が横１０２４
×縦７６８のものである。また、液晶表示パネル５１か
らの透過光を受光するカメラ５４には、通常ＣＣＤカメ
ラが用いられる。
【００１０】液晶表示パネル５１がＳＶＧＡパネルの場
合、約１５０万の絵素によって構成され、ＸＧＡパネル
の場合、約２４０万の絵素によって構成される。したが
って、液晶表示パネル５１を精度良く検査するために
は、単純に考えた場合、ＣＣＤカメラには液晶表示パネ
ル５１を構成する絵素数以上の受光素子が必要になり、
液晶表示パネル５１の解像度が上がる度に、より高解像
度のＣＣＤカメラが用いられている。
合、約１５０万の絵素によって構成され、ＸＧＡパネル
の場合、約２４０万の絵素によって構成される。したが
って、液晶表示パネル５１を精度良く検査するために
は、単純に考えた場合、ＣＣＤカメラには液晶表示パネ
ル５１を構成する絵素数以上の受光素子が必要になり、
液晶表示パネル５１の解像度が上がる度に、より高解像
度のＣＣＤカメラが用いられている。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】前述したように、液晶
表示装置用検査装置のカメラとして、液晶表示パネルの
解像度が上がる度により高解像度のＣＣＤカメラを用い
れば、精度良く液晶表示パネルの検査を行うことは可能
となるが、高解像度のＣＣＤカメラは高価であるため、
液晶表示装置用検査装置が高価なものとなり、維持費も
また高価なものとなるという問題点がある。
表示装置用検査装置のカメラとして、液晶表示パネルの
解像度が上がる度により高解像度のＣＣＤカメラを用い
れば、精度良く液晶表示パネルの検査を行うことは可能
となるが、高解像度のＣＣＤカメラは高価であるため、
液晶表示装置用検査装置が高価なものとなり、維持費も
また高価なものとなるという問題点がある。
【００１２】また、液晶表示パネルの広範囲にわたって
発生する色むら等の不良の検出には、それほど解像度の
高いＣＣＤカメラは必要ではない。高解像度のＣＣＤカ
メラは一般にノイズを拾い易く、不良の種類によっては
検出が困難になるという問題点がある。
発生する色むら等の不良の検出には、それほど解像度の
高いＣＣＤカメラは必要ではない。高解像度のＣＣＤカ
メラは一般にノイズを拾い易く、不良の種類によっては
検出が困難になるという問題点がある。
【００１３】本発明は、以上のような従来の問題点に鑑
みなされたものであって、高解像度の液晶表示装置を低
コストで精度良く検査することができる検査方法および
液晶表示装置用検査装置を提供することを目的としてい
る。
みなされたものであって、高解像度の液晶表示装置を低
コストで精度良く検査することができる検査方法および
液晶表示装置用検査装置を提供することを目的としてい
る。
【００１４】
【課題を解決するための手段】前述した目的を達成する
ために、本発明の請求項１記載の液晶表示装置の検査方
法は、液晶表示装置の点灯状態をＣＣＤカメラを用いて
検査する液晶表示装置の検査方法において、前記液晶表
示装置と前記ＣＣＤカメラとの間に拡大光学系を設け、
低倍率で広範囲の検査を行い、欠陥が存在する場合に
は、前記欠陥とその周辺領域のみを前記拡大光学系を用
いて高倍率で詳細な検査を行うことを特徴としている。
ために、本発明の請求項１記載の液晶表示装置の検査方
法は、液晶表示装置の点灯状態をＣＣＤカメラを用いて
検査する液晶表示装置の検査方法において、前記液晶表
示装置と前記ＣＣＤカメラとの間に拡大光学系を設け、
低倍率で広範囲の検査を行い、欠陥が存在する場合に
は、前記欠陥とその周辺領域のみを前記拡大光学系を用
いて高倍率で詳細な検査を行うことを特徴としている。
【００１５】請求項２記載の液晶表示装置の検査方法
は、請求項１記載の液晶表示装置の検査方法において、
前記ＣＣＤカメラの受光素子は、前記液晶表示装置の絵
素数よりも少ない数であることを特徴としている。
は、請求項１記載の液晶表示装置の検査方法において、
前記ＣＣＤカメラの受光素子は、前記液晶表示装置の絵
素数よりも少ない数であることを特徴としている。
【００１６】請求項３記載の液晶表示装置用検査装置
は、液晶表示装置に駆動信号を入力する信号発生装置
と、前記液晶表示装置の点灯状態を取り込むＣＣＤカメ
ラと、前記ＣＣＤカメラからの電気信号に基づいて前記
液晶表示装置の良否を判定する画像処理部とを備えた液
晶表示装置用検査装置において、前記液晶表示装置と前
記ＣＣＤカメラとの間には拡大光学系が設けられ、少な
くとも２つの倍率で前記点灯状態を取り込むことがで
き、前記点灯状態を低倍率で取り込み、前記画像処理部
によって欠陥を認識した場合、前記欠陥とその周辺領域
のみを高倍率で取り込み、前記画像処理部によって前記
欠陥の詳細情報を識別することを特徴としている。
は、液晶表示装置に駆動信号を入力する信号発生装置
と、前記液晶表示装置の点灯状態を取り込むＣＣＤカメ
ラと、前記ＣＣＤカメラからの電気信号に基づいて前記
液晶表示装置の良否を判定する画像処理部とを備えた液
晶表示装置用検査装置において、前記液晶表示装置と前
記ＣＣＤカメラとの間には拡大光学系が設けられ、少な
くとも２つの倍率で前記点灯状態を取り込むことがで
き、前記点灯状態を低倍率で取り込み、前記画像処理部
によって欠陥を認識した場合、前記欠陥とその周辺領域
のみを高倍率で取り込み、前記画像処理部によって前記
欠陥の詳細情報を識別することを特徴としている。
【００１７】請求項４記載の液晶表示装置用検査装置
は、請求項３記載の液晶表示装置用検査装置において、
前記ＣＣＤカメラの受光素子は、前記液晶表示装置の絵
素数よりも少ない数であることを特徴としている。
は、請求項３記載の液晶表示装置用検査装置において、
前記ＣＣＤカメラの受光素子は、前記液晶表示装置の絵
素数よりも少ない数であることを特徴としている。
【００１８】本発明の液晶表示装置の検査方法によれ
ば、液晶表示装置とＣＣＤカメラとの間に拡大光学系を
設け、低倍率で広範囲の検査を行い、欠陥が存在する場
合には、欠陥とその周辺領域のみを拡大光学系を用いて
高倍率で詳細な検査を行うことにより、良品については
低倍率の検査のみで済むため、検査時間を大幅に短縮す
ることができる。また、不良品については、拡大光学系
を用いた高倍率の検査で欠陥の詳細情報を得ることがで
きる。
ば、液晶表示装置とＣＣＤカメラとの間に拡大光学系を
設け、低倍率で広範囲の検査を行い、欠陥が存在する場
合には、欠陥とその周辺領域のみを拡大光学系を用いて
高倍率で詳細な検査を行うことにより、良品については
低倍率の検査のみで済むため、検査時間を大幅に短縮す
ることができる。また、不良品については、拡大光学系
を用いた高倍率の検査で欠陥の詳細情報を得ることがで
きる。
【００１９】さらに、高解像度の液晶表示装置を検査す
る場合であっても、ＣＣＤカメラの受光素子の数が液晶
表示装置の絵素数より少なくても検査することが可能で
あり、ＣＣＤカメラがノイズの影響を受けることを抑制
することができる。
る場合であっても、ＣＣＤカメラの受光素子の数が液晶
表示装置の絵素数より少なくても検査することが可能で
あり、ＣＣＤカメラがノイズの影響を受けることを抑制
することができる。
【００２０】本発明の液晶表示装置用検査装置によれ
ば、液晶表示装置とＣＣＤカメラとの間には拡大光学系
が設けられ、少なくとも２つの倍率で液晶表示装置の点
灯状態を取り込むことができ、点灯状態を低倍率で取り
込み、画像処理部によって欠陥を認識した場合、欠陥と
その周辺領域のみを高倍率で取り込み、画像処理部によ
って欠陥の詳細情報を識別することにより、良品につい
ては低倍率の検査のみで済むため、検査時間を大幅に短
縮することができる。また、不良品については、拡大光
学系を用いた高倍率の検査で欠陥の詳細情報を得ること
ができる。
ば、液晶表示装置とＣＣＤカメラとの間には拡大光学系
が設けられ、少なくとも２つの倍率で液晶表示装置の点
灯状態を取り込むことができ、点灯状態を低倍率で取り
込み、画像処理部によって欠陥を認識した場合、欠陥と
その周辺領域のみを高倍率で取り込み、画像処理部によ
って欠陥の詳細情報を識別することにより、良品につい
ては低倍率の検査のみで済むため、検査時間を大幅に短
縮することができる。また、不良品については、拡大光
学系を用いた高倍率の検査で欠陥の詳細情報を得ること
ができる。
【００２１】さらに、高解像度の液晶表示装置を検査す
る場合であっても、ＣＣＤカメラの受光素子の数が液晶
表示装置の絵素数より少なくても検査することが可能で
あり、ＣＣＤカメラがノイズの影響を受けることを抑制
することができる。
る場合であっても、ＣＣＤカメラの受光素子の数が液晶
表示装置の絵素数より少なくても検査することが可能で
あり、ＣＣＤカメラがノイズの影響を受けることを抑制
することができる。
【００２２】
【発明の実施の形態】図１乃至図４を用いて、本発明の
実施の形態について説明する。図１は本発明に係わる液
晶表示装置用検査装置を示す説明図、図２は本発明に係
わる検査方法を示す説明図、図３は本発明に係わる他の
検査方法を示す説明図、図４は本発明に係わる他の液晶
表示装置用検査装置を示す説明図である。
実施の形態について説明する。図１は本発明に係わる液
晶表示装置用検査装置を示す説明図、図２は本発明に係
わる検査方法を示す説明図、図３は本発明に係わる他の
検査方法を示す説明図、図４は本発明に係わる他の液晶
表示装置用検査装置を示す説明図である。
【００２３】図１に示すように、本発明の液晶表示装置
用検査装置は、液晶表示パネル１に信号発生装置２から
駆動信号を入力する。液晶表示パネル１はバックライト
３によって照明されており、その透過光をＣＣＤカメラ
４によって受光する。ＣＣＤカメラ４によって受光した
透過光は、電気信号に変換されて画像処理部５に送ら
れ、画像処理部５によって液晶表示パネル１の評価を行
う。
用検査装置は、液晶表示パネル１に信号発生装置２から
駆動信号を入力する。液晶表示パネル１はバックライト
３によって照明されており、その透過光をＣＣＤカメラ
４によって受光する。ＣＣＤカメラ４によって受光した
透過光は、電気信号に変換されて画像処理部５に送ら
れ、画像処理部５によって液晶表示パネル１の評価を行
う。
【００２４】液晶表示パネル１とＣＣＤカメラ４との間
には、拡大光学系としてのレンズ（レンズ群）６が設け
られている。このレンズ６により、液晶表示パネル１の
イメージが拡大されてＣＣＤカメラ４に取り込まれるた
め、ＶＧＡと呼ばれる解像度が横６４０×縦４８０の液
晶表示パネル１を問題なく検査できる程度の解像度のＣ
ＣＤカメラ４を用いても、ＳＶＧＡまたはＸＧＡのよう
な、より高解像度の液晶表示パネル１を精度良く検査す
ることができる。
には、拡大光学系としてのレンズ（レンズ群）６が設け
られている。このレンズ６により、液晶表示パネル１の
イメージが拡大されてＣＣＤカメラ４に取り込まれるた
め、ＶＧＡと呼ばれる解像度が横６４０×縦４８０の液
晶表示パネル１を問題なく検査できる程度の解像度のＣ
ＣＤカメラ４を用いても、ＳＶＧＡまたはＸＧＡのよう
な、より高解像度の液晶表示パネル１を精度良く検査す
ることができる。
【００２５】レンズ６は、通常の状態では、等倍率また
は用いられていない状態となっている。ここでいう等倍
率とは、液晶表示パネル１の表示領域全体を一度にＣＣ
Ｄカメラ４で取り込むことが可能で、ＣＣＤカメラのセ
ンサ面全体を有効に活用できる状態に光学系が調整され
ていることをいう。
は用いられていない状態となっている。ここでいう等倍
率とは、液晶表示パネル１の表示領域全体を一度にＣＣ
Ｄカメラ４で取り込むことが可能で、ＣＣＤカメラのセ
ンサ面全体を有効に活用できる状態に光学系が調整され
ていることをいう。
【００２６】本発明の液晶表示装置の検査方法を詳しく
説明すれば、まず液晶表示パネル１を等倍率で第１の検
査を行う。この第１の検査は、精密な検査を行う必要は
なく、液晶表示パネル１全体にわたる色むら等の表示不
良の有無、断線または短絡等の線欠陥の有無等が検出で
きる程度でよい。また、１絵素のみが欠陥となる点欠陥
に関しては、周囲の定常に点灯している絵素と比較し
て、輝度レベルが異なっていることが検出できればよ
い。
説明すれば、まず液晶表示パネル１を等倍率で第１の検
査を行う。この第１の検査は、精密な検査を行う必要は
なく、液晶表示パネル１全体にわたる色むら等の表示不
良の有無、断線または短絡等の線欠陥の有無等が検出で
きる程度でよい。また、１絵素のみが欠陥となる点欠陥
に関しては、周囲の定常に点灯している絵素と比較し
て、輝度レベルが異なっていることが検出できればよ
い。
【００２７】この第１の検査において、欠陥が検出され
ない液晶表示パネル１は、画像処理部５によって良品と
判定される。また、色むら等の表示不良の検出された液
晶表示パネル１、線欠陥および点欠陥の数が多く修正が
不可能な液晶表示パネル１については、画像処理部５に
よって不良品と判定される。
ない液晶表示パネル１は、画像処理部５によって良品と
判定される。また、色むら等の表示不良の検出された液
晶表示パネル１、線欠陥および点欠陥の数が多く修正が
不可能な液晶表示パネル１については、画像処理部５に
よって不良品と判定される。
【００２８】第１の検査で良品または不良品として判定
されない液晶表示パネル１は、準良品として画像処理部
５によって判定され、レンズ６によってＣＣＤカメラ４
で取り込む画像の倍率を上げ、第２の検査を行う。ま
た、第１の検査において、準良品のおおまかな欠陥の位
置を画像処理部５に記憶させておく。
されない液晶表示パネル１は、準良品として画像処理部
５によって判定され、レンズ６によってＣＣＤカメラ４
で取り込む画像の倍率を上げ、第２の検査を行う。ま
た、第１の検査において、準良品のおおまかな欠陥の位
置を画像処理部５に記憶させておく。
【００２９】第２の検査の対象領域は、第１の検査にお
いて画像処理部５に記憶させた欠陥の位置とその周辺領
域とする。これは、ＣＣＤカメラ４の解像度が高くなる
とノイズに対して敏感になるため、検査対象領域を限定
し、レンズ６によって取り込む画像の倍率を上げて低解
像度のＣＣＤカメラ４を用いることで、正常に点灯して
いる領域から欠陥を誤検出するようなノイズの影響を抑
制することができるようになるからである。
いて画像処理部５に記憶させた欠陥の位置とその周辺領
域とする。これは、ＣＣＤカメラ４の解像度が高くなる
とノイズに対して敏感になるため、検査対象領域を限定
し、レンズ６によって取り込む画像の倍率を上げて低解
像度のＣＣＤカメラ４を用いることで、正常に点灯して
いる領域から欠陥を誤検出するようなノイズの影響を抑
制することができるようになるからである。
【００３０】第２の検査を行う場合、レンズ６によって
ＣＣＤカメラ４で取り込む画像の倍率を上げているた
め、一度に液晶表示パネル１全体を取り込むことはでき
ず、液晶表示パネル１を複数の検査対象領域に分割する
必要がある。このときの分割方法を図２および図３を用
いて説明する。
ＣＣＤカメラ４で取り込む画像の倍率を上げているた
め、一度に液晶表示パネル１全体を取り込むことはでき
ず、液晶表示パネル１を複数の検査対象領域に分割する
必要がある。このときの分割方法を図２および図３を用
いて説明する。
【００３１】図２および図３に示すように欠陥７が存在
している場合、図２のように液晶表示パネル１を４分割
して検査対象領域８を限定する場合、すべての欠陥７を
検査するには３つの検査対象領域８を検査すればよく、
図３のように欠陥７を囲むように検査対象領域８を限定
する場合、すべての欠陥７を検査するのに１つの検査対
象領域８を検査するだけでよいことになる。したがっ
て、欠陥７が近くにまとまって存在するような場合に
は、図３のように欠陥７を囲むように検査対象領域８を
限定する方法が有効である。
している場合、図２のように液晶表示パネル１を４分割
して検査対象領域８を限定する場合、すべての欠陥７を
検査するには３つの検査対象領域８を検査すればよく、
図３のように欠陥７を囲むように検査対象領域８を限定
する場合、すべての欠陥７を検査するのに１つの検査対
象領域８を検査するだけでよいことになる。したがっ
て、欠陥７が近くにまとまって存在するような場合に
は、図３のように欠陥７を囲むように検査対象領域８を
限定する方法が有効である。
【００３２】検査対象領域８を拡大して取り込むには、
何らかの方法によって光軸を移動する必要がある。光軸
を移動する簡単な方法としては、ＣＣＤカメラ４の位置
を検査対象領域８の上に移動する、または液晶表示パネ
ル１をＣＣＤカメラ４の下に検査対象領域８が位置する
ように移動する等の方法がある。ここでは、図４に示す
ように、ＣＣＤカメラ４および液晶表示パネル１を移動
しないで光軸を移動する方法を説明する。
何らかの方法によって光軸を移動する必要がある。光軸
を移動する簡単な方法としては、ＣＣＤカメラ４の位置
を検査対象領域８の上に移動する、または液晶表示パネ
ル１をＣＣＤカメラ４の下に検査対象領域８が位置する
ように移動する等の方法がある。ここでは、図４に示す
ように、ＣＣＤカメラ４および液晶表示パネル１を移動
しないで光軸を移動する方法を説明する。
【００３３】図４に示すように、第１のレンズ（レンズ
群）９によって検査対象領域８の画像イメージを一旦縮
小し、そのイメージをミラー１０によって反射して、第
２のレンズ（レンズ群）１１によってイメージを拡大し
てＣＣＤカメラ４に取り込む。この方法によれば、第１
のレンズ９およびミラー１０を移動させれば、光軸を移
動させることができ、例えば図４に示すように、液晶表
示パネル１を４分割して検査対象領域８を限定している
場合、同様の操作を４回繰り返せば液晶表示パネル１全
体の拡大イメージがＣＣＤカメラ４に取り込めることに
なる。
群）９によって検査対象領域８の画像イメージを一旦縮
小し、そのイメージをミラー１０によって反射して、第
２のレンズ（レンズ群）１１によってイメージを拡大し
てＣＣＤカメラ４に取り込む。この方法によれば、第１
のレンズ９およびミラー１０を移動させれば、光軸を移
動させることができ、例えば図４に示すように、液晶表
示パネル１を４分割して検査対象領域８を限定している
場合、同様の操作を４回繰り返せば液晶表示パネル１全
体の拡大イメージがＣＣＤカメラ４に取り込めることに
なる。
【００３４】このように、準良品の液晶表示パネル１に
ついて第２の検査を行い、画像処理部５によって修正可
能または不良品の判定を行う。
ついて第２の検査を行い、画像処理部５によって修正可
能または不良品の判定を行う。
【００３５】
【発明の効果】以上の説明のように、本発明の液晶表示
装置の検査方法によれば、液晶表示装置とＣＣＤカメラ
との間に拡大光学系を設け、低倍率で広範囲の検査を行
い、欠陥が存在する場合には、欠陥とその周辺領域のみ
を拡大光学系を用いて高倍率で詳細な検査を行うことに
より、検査時間を大幅に短縮することができ、解像度の
低い安価なＣＣＤカメラを用いて、ＳＶＧＡおよびＸＧ
Ａ等の高精細の液晶表示装置を精度良く検査することが
できる。
装置の検査方法によれば、液晶表示装置とＣＣＤカメラ
との間に拡大光学系を設け、低倍率で広範囲の検査を行
い、欠陥が存在する場合には、欠陥とその周辺領域のみ
を拡大光学系を用いて高倍率で詳細な検査を行うことに
より、検査時間を大幅に短縮することができ、解像度の
低い安価なＣＣＤカメラを用いて、ＳＶＧＡおよびＸＧ
Ａ等の高精細の液晶表示装置を精度良く検査することが
できる。
【００３６】さらに、高解像度の液晶表示装置を検査す
る場合であっても、ＣＣＤカメラの受光素子の数が液晶
表示装置の絵素数より少ない安価なＣＣＤカメラでも検
査することが可能となるとともに、ＣＣＤカメラがノイ
ズの影響を受けることを抑制することができ、精度良く
検査を行うことができる。
る場合であっても、ＣＣＤカメラの受光素子の数が液晶
表示装置の絵素数より少ない安価なＣＣＤカメラでも検
査することが可能となるとともに、ＣＣＤカメラがノイ
ズの影響を受けることを抑制することができ、精度良く
検査を行うことができる。
【００３７】本発明の液晶表示装置用検査装置によれ
ば、液晶表示装置とＣＣＤカメラとの間には拡大光学系
が設けられ、少なくとも２つの倍率で液晶表示装置の点
灯状態を取り込むことができ、点灯状態を低倍率で取り
込み、画像処理部によって欠陥を認識した場合、欠陥と
その周辺領域のみを高倍率で取り込み、画像処理部によ
って欠陥の詳細情報を識別することにより、検査時間を
大幅に短縮することができ、解像度の低い安価なＣＣＤ
カメラを用いて、ＳＶＧＡおよびＸＧＡ等の高精細の液
晶表示装置を精度良く検査することができる。
ば、液晶表示装置とＣＣＤカメラとの間には拡大光学系
が設けられ、少なくとも２つの倍率で液晶表示装置の点
灯状態を取り込むことができ、点灯状態を低倍率で取り
込み、画像処理部によって欠陥を認識した場合、欠陥と
その周辺領域のみを高倍率で取り込み、画像処理部によ
って欠陥の詳細情報を識別することにより、検査時間を
大幅に短縮することができ、解像度の低い安価なＣＣＤ
カメラを用いて、ＳＶＧＡおよびＸＧＡ等の高精細の液
晶表示装置を精度良く検査することができる。
【００３８】さらに、高解像度の液晶表示装置を検査す
る場合であっても、ＣＣＤカメラの受光素子の数が液晶
表示装置の絵素数より少ない安価なＣＣＤカメラでも検
査することが可能となるとともに、ＣＣＤカメラがノイ
ズの影響を受けることを抑制することができ、精度良く
検査を行うことができる。
る場合であっても、ＣＣＤカメラの受光素子の数が液晶
表示装置の絵素数より少ない安価なＣＣＤカメラでも検
査することが可能となるとともに、ＣＣＤカメラがノイ
ズの影響を受けることを抑制することができ、精度良く
検査を行うことができる。
【図１】本発明に係わる液晶表示装置用検査装置を示す
説明図である。
説明図である。
【図２】本発明に係わる検査方法を示す説明図である。
【図３】本発明に係わる他の検査方法を示す説明図であ
る。
る。
【図４】本発明に係わる他の液晶表示装置用検査装置を
示す説明図である。
示す説明図である。
【図５】従来の液晶表示装置用検査装置を示す説明図で
ある。
ある。
１ 液晶表示パネル ２ 信号発生装置 ３ バックライト ４ ＣＣＤカメラ ５ 画像処理部 ６ レンズ ７ 欠陥 ８ 検査対象領域 ９ 第１のレンズ １０ ミラー １１ 第２のレンズ ５１ 液晶表示パネル ５２ 信号発生装置 ５３ バックライト ５４ カメラ ５５ 画像処理部
Claims (4)
- 【請求項１】 液晶表示装置の点灯状態をＣＣＤカメラ
を用いて検査する液晶表示装置の検査方法において、前
記液晶表示装置と前記ＣＣＤカメラとの間に拡大光学系
を設け、低倍率で広範囲の検査を行い、欠陥が存在する
場合には、前記欠陥とその周辺領域のみを前記拡大光学
系を用いて高倍率で詳細な検査を行うことを特徴とする
液晶表示装置の検査方法。 - 【請求項２】 前記ＣＣＤカメラの受光素子は、前記液
晶表示装置の絵素数よりも少ない数であることを特徴と
する請求項１記載の液晶表示装置の検査方法。 - 【請求項３】 液晶表示装置に駆動信号を入力する信号
発生装置と、前記液晶表示装置の点灯状態を取り込むＣ
ＣＤカメラと、前記ＣＣＤカメラからの電気信号に基づ
いて前記液晶表示装置の良否を判定する画像処理部とを
備えた液晶表示装置用検査装置において、前記液晶表示
装置と前記ＣＣＤカメラとの間には拡大光学系が設けら
れ、少なくとも２つの倍率で前記点灯状態を取り込むこ
とができ、前記点灯状態を低倍率で取り込み、前記画像
処理部によって欠陥を認識した場合、前記欠陥とその周
辺領域のみを高倍率で取り込み、前記画像処理部によっ
て前記欠陥の詳細情報を識別することを特徴とする液晶
表示装置用検査装置。 - 【請求項４】 前記ＣＣＤカメラの受光素子は、前記液
晶表示装置の絵素数よりも少ない数であることを特徴と
する請求項３記載の液晶表示装置用検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12521297A JPH10318880A (ja) | 1997-05-15 | 1997-05-15 | 液晶表示装置の検査方法および液晶表示装置用検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12521297A JPH10318880A (ja) | 1997-05-15 | 1997-05-15 | 液晶表示装置の検査方法および液晶表示装置用検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10318880A true JPH10318880A (ja) | 1998-12-04 |
Family
ID=14904659
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12521297A Pending JPH10318880A (ja) | 1997-05-15 | 1997-05-15 | 液晶表示装置の検査方法および液晶表示装置用検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10318880A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6590643B2 (en) | 2000-03-28 | 2003-07-08 | Japan Science And Technology Corporation | Method and apparatus for measuring viewing angle characteristic and positional characteristic of luminance |
| JP2009156858A (ja) * | 2007-12-05 | 2009-07-16 | Micronics Japan Co Ltd | ディスプレイパネルの検査方法および検査装置 |
| JP2010134011A (ja) * | 2008-12-02 | 2010-06-17 | Toppan Printing Co Ltd | 基板の欠陥原因装置特定システム |
| KR20210108543A (ko) * | 2020-02-25 | 2021-09-03 | 삼성디스플레이 주식회사 | 디스플레이 장치의 검사 장치 및 디스플레이 장치의 검사 방법 |
| CN114279683A (zh) * | 2021-11-22 | 2022-04-05 | 浙江大华技术股份有限公司 | 显示屏用自动化检测平台及其方法和led显示屏 |
-
1997
- 1997-05-15 JP JP12521297A patent/JPH10318880A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6590643B2 (en) | 2000-03-28 | 2003-07-08 | Japan Science And Technology Corporation | Method and apparatus for measuring viewing angle characteristic and positional characteristic of luminance |
| JP2009156858A (ja) * | 2007-12-05 | 2009-07-16 | Micronics Japan Co Ltd | ディスプレイパネルの検査方法および検査装置 |
| JP2010134011A (ja) * | 2008-12-02 | 2010-06-17 | Toppan Printing Co Ltd | 基板の欠陥原因装置特定システム |
| KR20210108543A (ko) * | 2020-02-25 | 2021-09-03 | 삼성디스플레이 주식회사 | 디스플레이 장치의 검사 장치 및 디스플레이 장치의 검사 방법 |
| CN114279683A (zh) * | 2021-11-22 | 2022-04-05 | 浙江大华技术股份有限公司 | 显示屏用自动化检测平台及其方法和led显示屏 |
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