JPH0979946A - 表示装置の検査装置 - Google Patents
表示装置の検査装置Info
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 この発明は、高い検査精度を維持しかつ処理
速度を向上させることができ、しかもインデックステー
ブルの容量が少なくてすむ表示装置の検査装置を提供す
ることを目的とする。 【解決手段】 被検査表示装置を撮像装置で撮像し、そ
の撮像画像に基づいて被検査表示装置の欠陥を検査する
表示装置の検査装置において、被検査表示装置１の各画
素位置に対して、撮像装置４の１つの画素を対応させて
記憶しているインデックステーブル、撮像装置４によっ
て撮像された被検査表示装置１の画像であってかつ撮像
装置４の画素数に応じた解像度の第１画像と、インデッ
クステーブルとに基づいて、第１画像を被検査表示装置
１の画素数に対応した解像度の第２画像に変換する変換
手段５、第２画像に基づいて、被検査表示装置１の欠陥
を検査する検査手段５を備えている。
速度を向上させることができ、しかもインデックステー
ブルの容量が少なくてすむ表示装置の検査装置を提供す
ることを目的とする。 【解決手段】 被検査表示装置を撮像装置で撮像し、そ
の撮像画像に基づいて被検査表示装置の欠陥を検査する
表示装置の検査装置において、被検査表示装置１の各画
素位置に対して、撮像装置４の１つの画素を対応させて
記憶しているインデックステーブル、撮像装置４によっ
て撮像された被検査表示装置１の画像であってかつ撮像
装置４の画素数に応じた解像度の第１画像と、インデッ
クステーブルとに基づいて、第１画像を被検査表示装置
１の画素数に対応した解像度の第２画像に変換する変換
手段５、第２画像に基づいて、被検査表示装置１の欠陥
を検査する検査手段５を備えている。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、ＬＣＤパネル等
の被検査表示装置の表示画面を、ＣＣＤカメラ等の撮像
装置で撮像して、被検査表示装置の欠陥を検査する表示
装置の検査装置に関する。
の被検査表示装置の表示画面を、ＣＣＤカメラ等の撮像
装置で撮像して、被検査表示装置の欠陥を検査する表示
装置の検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＬＣＤ(liquid crystal display)パネル
等の被検査表示装置の検査は、人間の目視による検査が
主流である。しかし、近年、検査基準の定量化、生産性
の向上のために自動検査が試みられている。
等の被検査表示装置の検査は、人間の目視による検査が
主流である。しかし、近年、検査基準の定量化、生産性
の向上のために自動検査が試みられている。
【０００３】ＬＣＤパネルの自動検査では、ＣＣＤ(cha
rge coupled device) カメラ等の撮像装置でＬＣＤパネ
ルが撮像され、その撮像画像に基づいてＬＣＤパネルの
欠陥部分が抽出される。このような自動検査では、撮像
装置であるＣＣＤカメラの解像度によって処理方法、性
能が異なる。
rge coupled device) カメラ等の撮像装置でＬＣＤパネ
ルが撮像され、その撮像画像に基づいてＬＣＤパネルの
欠陥部分が抽出される。このような自動検査では、撮像
装置であるＣＣＤカメラの解像度によって処理方法、性
能が異なる。
【０００４】低解像度のＣＣＤカメラを用いた場合に
は、画素数が少ないので、処理時間は短いが、モアレが
発生する、細かい欠陥が検出できないという問題があ
る。一方、高解像度のＣＣＤカメラを用いた場合には、
モアレの発生がなく、細かい欠陥を検出できるが、処理
時間が長いという問題がある。したがって、処理速度と
検査精度（信頼性）とは、トレードオフの関係にあると
いえる。
は、画素数が少ないので、処理時間は短いが、モアレが
発生する、細かい欠陥が検出できないという問題があ
る。一方、高解像度のＣＣＤカメラを用いた場合には、
モアレの発生がなく、細かい欠陥を検出できるが、処理
時間が長いという問題がある。したがって、処理速度と
検査精度（信頼性）とは、トレードオフの関係にあると
いえる。
【０００５】このようなことから、ＬＣＤパネルの自動
検査装置の課題は、高解像度のＣＣＤカメラを用いて高
い検査精度を維持し、しかも処理速度を向上させること
にあるといえる。
検査装置の課題は、高解像度のＣＣＤカメラを用いて高
い検査精度を維持し、しかも処理速度を向上させること
にあるといえる。
【０００６】高解像度のＣＣＤカメラを用いた検査装置
として、特開平５−２７７０４号公報に記載されたもの
がある。この公報に記載された検査装置では、注目ＬＣ
Ｄ画素とそれに対応するＣＣＤ画素との関係付けを行な
うために、ＣＣＤカメラの画素数に応じたインデックス
テーブルが設けられている。このため、インデックステ
ーブルの容量が大きいという問題がある。また、ＣＣＤ
カメラの画素数に応じた高解像度の画像に基づいてＬＣ
Ｄパネルの欠陥の検査が行なわれているため、処理時間
が長いという問題がある。
として、特開平５−２７７０４号公報に記載されたもの
がある。この公報に記載された検査装置では、注目ＬＣ
Ｄ画素とそれに対応するＣＣＤ画素との関係付けを行な
うために、ＣＣＤカメラの画素数に応じたインデックス
テーブルが設けられている。このため、インデックステ
ーブルの容量が大きいという問題がある。また、ＣＣＤ
カメラの画素数に応じた高解像度の画像に基づいてＬＣ
Ｄパネルの欠陥の検査が行なわれているため、処理時間
が長いという問題がある。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】この発明は、高い検査
精度を維持しかつ処理速度を向上させることができ、し
かもインデックステーブルの容量が少なくてすむ表示装
置の検査装置を提供することを目的とする。
精度を維持しかつ処理速度を向上させることができ、し
かもインデックステーブルの容量が少なくてすむ表示装
置の検査装置を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】この発明による表示装置
の検査装置は、被検査表示装置を撮像装置で撮像し、そ
の撮像画像に基づいて被検査表示装置の欠陥を検査する
表示装置の検査装置において、被検査表示装置の各画素
位置に対して、撮像装置の１つの画素を対応させて記憶
しているインデックステーブル、撮像装置によって撮像
された被検査表示装置の画像であってかつ撮像装置の画
素数に応じた解像度の第１画像と、インデックステーブ
ルとに基づいて、第１画像を被検査表示装置の画素数に
対応した解像度の第２画像に変換する変換手段、および
第２画像に基づいて、被検査表示装置の欠陥を検査する
検査手段を備えていることを特徴とする。
の検査装置は、被検査表示装置を撮像装置で撮像し、そ
の撮像画像に基づいて被検査表示装置の欠陥を検査する
表示装置の検査装置において、被検査表示装置の各画素
位置に対して、撮像装置の１つの画素を対応させて記憶
しているインデックステーブル、撮像装置によって撮像
された被検査表示装置の画像であってかつ撮像装置の画
素数に応じた解像度の第１画像と、インデックステーブ
ルとに基づいて、第１画像を被検査表示装置の画素数に
対応した解像度の第２画像に変換する変換手段、および
第２画像に基づいて、被検査表示装置の欠陥を検査する
検査手段を備えていることを特徴とする。
【０００９】インデックステーブルとして、被検査表示
装置の各画素位置に対して、撮像装置の１つの画素を対
応させて記憶しているものが用いられているので、高解
像度の撮像装置を用いた場合にも、インデックステーブ
ルの情報量は被検査表示装置の画像数に応じたものとな
る。このため、インデックステーブルの容量を少なくで
きる。
装置の各画素位置に対して、撮像装置の１つの画素を対
応させて記憶しているものが用いられているので、高解
像度の撮像装置を用いた場合にも、インデックステーブ
ルの情報量は被検査表示装置の画像数に応じたものとな
る。このため、インデックステーブルの容量を少なくで
きる。
【００１０】また、被検査表示装置の画素数に対応した
解像度の第２画像に基づいて、欠陥を検出しているの
で、高解像度の撮像装置を用いた場合にも、処理時間が
短くなる。
解像度の第２画像に基づいて、欠陥を検出しているの
で、高解像度の撮像装置を用いた場合にも、処理時間が
短くなる。
【００１１】高解像度の撮像装置を用いた場合におい
て、低解像度の第２画像に基づいて欠陥を検出した後、
その欠陥部のみについては高解像度の第１画像に基づい
て詳細な欠陥検査を行なうことにより、高精度の検査を
短い時間で行なうことができるようになる。
て、低解像度の第２画像に基づいて欠陥を検出した後、
その欠陥部のみについては高解像度の第１画像に基づい
て詳細な欠陥検査を行なうことにより、高精度の検査を
短い時間で行なうことができるようになる。
【００１２】インデックステーブルとしては、たとえ
ば、被検査表示装置の各画素の中心位置に対応する撮像
装置の１つの画素が、被検査表示装置の各画素に関連し
て記憶されているものが用いられる。
ば、被検査表示装置の各画素の中心位置に対応する撮像
装置の１つの画素が、被検査表示装置の各画素に関連し
て記憶されているものが用いられる。
【００１３】変換手段は、被検査表示装置の注目画素の
輝度値を、たとえば、次の（１）（２）（３）（４）
（５）または（６）の値に決定することにより、第１画
像を第２画像に変換する。
輝度値を、たとえば、次の（１）（２）（３）（４）
（５）または（６）の値に決定することにより、第１画
像を第２画像に変換する。
【００１４】（１）被検査表示装置の注目画素に対応す
る撮像装置の１画素の輝度値。
る撮像装置の１画素の輝度値。
【００１５】（２）被検査表示装置の注目画素に対応す
る撮像装置の１画素を中心とする所定領域内の各画素の
輝度値のうちの最も高い輝度値。
る撮像装置の１画素を中心とする所定領域内の各画素の
輝度値のうちの最も高い輝度値。
【００１６】（３）被検査表示装置の注目画素に対応す
る撮像装置の１画素を中心とする所定領域内の輝度値の
加算値または平均値。
る撮像装置の１画素を中心とする所定領域内の輝度値の
加算値または平均値。
【００１７】（４）被検査表示装置の注目画素に対応す
る撮像装置の１画素を中心とする所定領域内の各画素の
輝度値に、位置に応じた重みを付けた後の加算値または
そ平均値。
る撮像装置の１画素を中心とする所定領域内の各画素の
輝度値に、位置に応じた重みを付けた後の加算値または
そ平均値。
【００１８】（５）注目画素に対応する撮像装置の１画
素を中心とする第１所定領域が設定され、第１所定領域
内の各画素を中心とする第２所定領域ごとの輝度値の加
算値のうち、最も大きな加算値。
素を中心とする第１所定領域が設定され、第１所定領域
内の各画素を中心とする第２所定領域ごとの輝度値の加
算値のうち、最も大きな加算値。
【００１９】（６）注目画素に対応する撮像装置の１画
素を中心とする第１所定領域が設定され、第１所定領域
内の各画素を中心とする第２所定領域ごとの輝度値の平
均値のうち、最も大きな平均値。
素を中心とする第１所定領域が設定され、第１所定領域
内の各画素を中心とする第２所定領域ごとの輝度値の平
均値のうち、最も大きな平均値。
【００２０】第１画像に基づいて、インデックステーブ
ルが適合する基準位置に対する、被検査表示装置のずれ
量を算出するずれ量算出手段、およびずれ量算出手段に
よって求められたずれ量に基づいて、インデックステー
ブルの内容を、被検査表示装置の位置に適合するように
補正する手段を設け、第１画像と、補正後のインデック
ステーブルとに基づいて、第１画像を第２画像に変換す
ることが好ましい。
ルが適合する基準位置に対する、被検査表示装置のずれ
量を算出するずれ量算出手段、およびずれ量算出手段に
よって求められたずれ量に基づいて、インデックステー
ブルの内容を、被検査表示装置の位置に適合するように
補正する手段を設け、第１画像と、補正後のインデック
ステーブルとに基づいて、第１画像を第２画像に変換す
ることが好ましい。
【００２１】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、この発明
の実施の形態について説明する。
の実施の形態について説明する。
【００２２】被検査表示装置であるＬＣＤパネルを、Ｃ
ＣＤカメラで撮像することにより、ＬＣＤパネルの欠陥
を検査するＬＣＤパネル検査装置にこの発明を適用した
場合の実施の形態について説明する。
ＣＤカメラで撮像することにより、ＬＣＤパネルの欠陥
を検査するＬＣＤパネル検査装置にこの発明を適用した
場合の実施の形態について説明する。
【００２３】図１は、ＬＣＤパネル検査装置の構成を示
している。
している。
【００２４】ＬＣＤパネル検査装置は、ＬＣＤパネル１
に背面から光を当てるバックライト２、ＬＣＤパネル１
を駆動するためのＬＣＤ駆動部３、ＬＣＤパネル１を撮
像するための高解像度ＣＣＤカメラ４、カメラ４によっ
て撮像された画像に対して画像処理を行なう画像処理装
置５、カメラ４によって撮像された画像等を表示するた
めのモニタ６、ならびに画像処理装置５およびＬＣＤ駆
動部３を制御するパーソナルコンピュータ７を備えてい
る。
に背面から光を当てるバックライト２、ＬＣＤパネル１
を駆動するためのＬＣＤ駆動部３、ＬＣＤパネル１を撮
像するための高解像度ＣＣＤカメラ４、カメラ４によっ
て撮像された画像に対して画像処理を行なう画像処理装
置５、カメラ４によって撮像された画像等を表示するた
めのモニタ６、ならびに画像処理装置５およびＬＣＤ駆
動部３を制御するパーソナルコンピュータ７を備えてい
る。
【００２５】パーソナルコンピュータ７は、各種条件の
設定、ＬＣＤパネル１の検査パターンの発生等を行な
う。ＬＣＤパネル１の検査パターンは、ＬＣＤ駆動部３
に送られる。
設定、ＬＣＤパネル１の検査パターンの発生等を行な
う。ＬＣＤパネル１の検査パターンは、ＬＣＤ駆動部３
に送られる。
【００２６】図２は、画像処理装置５の詳細な構成を示
している。
している。
【００２７】以下の説明において、ＣＣＤカメラ４の画
素数に応じた解像度の画像をＣＣＤ画像といい、ＬＣＤ
パネル１の画素数に応じた解像度の画像をＬＣＤ画像と
いうことにする。
素数に応じた解像度の画像をＣＣＤ画像といい、ＬＣＤ
パネル１の画素数に応じた解像度の画像をＬＣＤ画像と
いうことにする。
【００２８】画像処理装置５は、画像入力ボード１１、
画素変換ボード１２、画像処理ボード１３およびＣＰＵ
ボード１４を備えている。画像入力ボード１１に入力さ
れた映像信号は、モニタ６に送られ、モニタ６にＣＣＤ
画像が表示される。画像入力ボード１１は、ＣＣＤカメ
ラ４からの映像信号をディジタル信号に変換して画素変
換ボード１２に送る。
画素変換ボード１２、画像処理ボード１３およびＣＰＵ
ボード１４を備えている。画像入力ボード１１に入力さ
れた映像信号は、モニタ６に送られ、モニタ６にＣＣＤ
画像が表示される。画像入力ボード１１は、ＣＣＤカメ
ラ４からの映像信号をディジタル信号に変換して画素変
換ボード１２に送る。
【００２９】画素変換ボード１２に入力されたディジタ
ル信号は、ＣＣＤ画像メモリ２１に格納される。画素変
換ボード１２は、ＣＣＤ画像メモリ２１に格納されたＣ
ＣＤ画像に対して、ＣＣＤカメラ４の各画素の感度のば
らつき、バックライト２の光量の位置的なばらつき等の
補正を行なうためにシェイディング補正を行なった後、
ＣＣＤカメラ４の画素とＬＣＤパネル１の画素との対応
関係が記憶されたインデックステーブルに基づいてＣＣ
Ｄ画像をＬＣＤ画像に変換する。
ル信号は、ＣＣＤ画像メモリ２１に格納される。画素変
換ボード１２は、ＣＣＤ画像メモリ２１に格納されたＣ
ＣＤ画像に対して、ＣＣＤカメラ４の各画素の感度のば
らつき、バックライト２の光量の位置的なばらつき等の
補正を行なうためにシェイディング補正を行なった後、
ＣＣＤカメラ４の画素とＬＣＤパネル１の画素との対応
関係が記憶されたインデックステーブルに基づいてＣＣ
Ｄ画像をＬＣＤ画像に変換する。
【００３０】生成されたＬＣＤ画像は、画像処理ボード
１３に送られ、ＬＣＤ画像メモリ２２に格納される。画
像処理ボード１３は、ＬＣＤ画像メモリ２２に格納され
たＬＣＤ画像に基づいて、２値化処理、ラベリング処
理、特徴量抽出処理等を行なう。特徴量抽出処理では、
欠陥の位置、欠陥の個数、欠陥の面積、欠陥の連続長、
欠陥の輝度等が抽出される。
１３に送られ、ＬＣＤ画像メモリ２２に格納される。画
像処理ボード１３は、ＬＣＤ画像メモリ２２に格納され
たＬＣＤ画像に基づいて、２値化処理、ラベリング処
理、特徴量抽出処理等を行なう。特徴量抽出処理では、
欠陥の位置、欠陥の個数、欠陥の面積、欠陥の連続長、
欠陥の輝度等が抽出される。
【００３１】ＣＰＵボード１４は、画像処理装置５の全
体的な制御を行なうとともに、画像処理ボード１３によ
って検出された欠陥部について、ＣＣＤ画像メモリ２１
に格納されているＣＣＤ画像に基づいてさらに詳細な検
査を行なって、最終的な欠陥判定、欠陥の分類を行な
う。
体的な制御を行なうとともに、画像処理ボード１３によ
って検出された欠陥部について、ＣＣＤ画像メモリ２１
に格納されているＣＣＤ画像に基づいてさらに詳細な検
査を行なって、最終的な欠陥判定、欠陥の分類を行な
う。
【００３２】なお、画素変換ボード１２は、後述する前
処理（図３参照）で行なわれるインデックステーブルの
生成およびシェーディング補正用データの生成も行な
う。さらに、画素変換ボード１２は、後述するＬＣＤパ
ネルの欠陥検査において実行されるずれ量算出処理（図
６のステップ１２）およびインデックステーブルの補正
処理（図６のステップ１３）をも行なう。
処理（図３参照）で行なわれるインデックステーブルの
生成およびシェーディング補正用データの生成も行な
う。さらに、画素変換ボード１２は、後述するＬＣＤパ
ネルの欠陥検査において実行されるずれ量算出処理（図
６のステップ１２）およびインデックステーブルの補正
処理（図６のステップ１３）をも行なう。
【００３３】図３は、基準となるＬＣＤパネルを用いて
行なわれる前処理の手順を示している。
行なわれる前処理の手順を示している。
【００３４】この前処理においては、基準となるＬＣＤ
パネルがＣＣＤカメラ４によって撮像されて取り込まれ
る（ステップ１）。そして、画素変換ボード１２上のＣ
ＣＤ画像メモリ２１に記憶される。ＣＣＤ画像メモリ２
１に記憶された画像に基づいて、インデックステーブル
が作成されて画素変換ボード１２上のメモリに記憶され
る（ステップ２）。また、ＣＣＤ画像メモリ２１に記憶
された画像に基づいて、シェーディング補正用データが
作成されて画素変換ボード１２上のメモリに記憶される
（ステップ３）。
パネルがＣＣＤカメラ４によって撮像されて取り込まれ
る（ステップ１）。そして、画素変換ボード１２上のＣ
ＣＤ画像メモリ２１に記憶される。ＣＣＤ画像メモリ２
１に記憶された画像に基づいて、インデックステーブル
が作成されて画素変換ボード１２上のメモリに記憶され
る（ステップ２）。また、ＣＣＤ画像メモリ２１に記憶
された画像に基づいて、シェーディング補正用データが
作成されて画素変換ボード１２上のメモリに記憶される
（ステップ３）。
【００３５】インデックステーブルの作成方法について
説明する。ここでは、ＬＣＤパネル１の画素配列が、図
４に示すように、奇数列と偶数列とでずれているような
ＬＣＤパネルを検査する場合を例にとって説明する。
説明する。ここでは、ＬＣＤパネル１の画素配列が、図
４に示すように、奇数列と偶数列とでずれているような
ＬＣＤパネルを検査する場合を例にとって説明する。
【００３６】まず、ＣＣＤカメラ４によって撮像された
画像に基づいて、基準ＬＣＤパネルの偶数列画素群の４
隅の画素位置Ｐ１、Ｑ１、Ｒ１、Ｓ１および奇数列画素
群の４隅の画素位置Ｐ２、Ｑ２、Ｒ２、Ｓ２の座標が求
められる。
画像に基づいて、基準ＬＣＤパネルの偶数列画素群の４
隅の画素位置Ｐ１、Ｑ１、Ｒ１、Ｓ１および奇数列画素
群の４隅の画素位置Ｐ２、Ｑ２、Ｒ２、Ｓ２の座標が求
められる。
【００３７】次に、偶数列画素群の４隅の画素位置Ｐ
１、Ｑ１、Ｒ１、Ｓ１と、画素位置Ｐ１、Ｑ１、Ｒ１、
Ｓ１および偶数列画素群の画素数から得られるＸ方向の
ピッチXPITCH、Ｙ方向のピッチYPITCHとに基づいて、偶
数列画素群の各画素の位置が計算によって求められる。
同様にして、奇数列画素群の各画素の位置が計算によっ
て求められる。このようにして求められた基準ＬＣＤパ
ネルの各画素位置を仮画素位置ということにする。
１、Ｑ１、Ｒ１、Ｓ１と、画素位置Ｐ１、Ｑ１、Ｒ１、
Ｓ１および偶数列画素群の画素数から得られるＸ方向の
ピッチXPITCH、Ｙ方向のピッチYPITCHとに基づいて、偶
数列画素群の各画素の位置が計算によって求められる。
同様にして、奇数列画素群の各画素の位置が計算によっ
て求められる。このようにして求められた基準ＬＣＤパ
ネルの各画素位置を仮画素位置ということにする。
【００３８】次に、ピークサーチ法に基づいて、ＬＣＤ
パネルの各画素の仮画素位置を補正する。つまり、輝度
の高い方向にＬＣＤパネルの各画素の仮画素位置を修正
する。なお、この際、ＣＣＤカメラ４のレンズによる撮
像画像の歪みが比較的大きく、それが無視できない場合
には、ピークサーチの範囲や方向を歪みに応じて変える
ことが好ましい。具体的には、場所ごとにレンズによる
撮像画像の歪みの量と方向を予めテーブル化しておき、
そのテーブルを参照してピークサーチ法を適用する。
パネルの各画素の仮画素位置を補正する。つまり、輝度
の高い方向にＬＣＤパネルの各画素の仮画素位置を修正
する。なお、この際、ＣＣＤカメラ４のレンズによる撮
像画像の歪みが比較的大きく、それが無視できない場合
には、ピークサーチの範囲や方向を歪みに応じて変える
ことが好ましい。具体的には、場所ごとにレンズによる
撮像画像の歪みの量と方向を予めテーブル化しておき、
そのテーブルを参照してピークサーチ法を適用する。
【００３９】このようにして、得られた基準ＬＣＤパネ
ルの各画素位置と、各画素位置の中心に対応するＣＣＤ
カメラ４の画素位置とをテーブル化することにより、図
５に示すようなインデックステーブルが作成される。図
５の各ます目は、基準ＬＣＤパネルの画素を示してお
り、各ます目内の座標は当該基準ＬＣＤパネル画素の中
心に対応するＣＣＤカメラ４の画素位置を示している。
したがって、このインデックステーブルは、基準ＬＣＤ
パネルの画素数に応じた数の情報からなる。
ルの各画素位置と、各画素位置の中心に対応するＣＣＤ
カメラ４の画素位置とをテーブル化することにより、図
５に示すようなインデックステーブルが作成される。図
５の各ます目は、基準ＬＣＤパネルの画素を示してお
り、各ます目内の座標は当該基準ＬＣＤパネル画素の中
心に対応するＣＣＤカメラ４の画素位置を示している。
したがって、このインデックステーブルは、基準ＬＣＤ
パネルの画素数に応じた数の情報からなる。
【００４０】図６は、前処理によって得られたデータを
元に、ＬＣＤパネルの欠陥検査を行なう際の処理手順を
示している。
元に、ＬＣＤパネルの欠陥検査を行なう際の処理手順を
示している。
【００４１】まず、検査対象であるＬＣＤパネル１がＣ
ＣＤカメラ４によって撮像される（ステップ１１）。Ｃ
ＣＤカメラ４の映像信号はディジタル信号に変換された
後、ＣＣＤ画像メモリ２１に格納される。
ＣＤカメラ４によって撮像される（ステップ１１）。Ｃ
ＣＤカメラ４の映像信号はディジタル信号に変換された
後、ＣＣＤ画像メモリ２１に格納される。
【００４２】ＣＣＤ画像メモリ２１に格納されたＣＣＤ
画像に基づいて、ＬＣＤパネル１の基準位置からのずれ
量が算出される（ステップ１２）。このずれ量の算出方
法について説明する。
画像に基づいて、ＬＣＤパネル１の基準位置からのずれ
量が算出される（ステップ１２）。このずれ量の算出方
法について説明する。
【００４３】図７に示すように、基準ＬＣＤパネルＰ１
の２つの角の位置をＡ１（ａ１，ｂ１）、Ｂ１（ｃ１、
ｄ１）とする。この２点に対応する検査ＬＣＤパネルＰ
２の位置Ａ２（ａ２，ｂ２）、Ｂ２（ｃ２、ｄ２）が求
められる。
の２つの角の位置をＡ１（ａ１，ｂ１）、Ｂ１（ｃ１、
ｄ１）とする。この２点に対応する検査ＬＣＤパネルＰ
２の位置Ａ２（ａ２，ｂ２）、Ｂ２（ｃ２、ｄ２）が求
められる。
【００４４】そして、検査ＬＣＤパネルＰ２の基準ＬＣ
ＤパネルＰ１に対する回転角θ、移動量Δｘ、Δｙが次
のようにして求められる。
ＤパネルＰ１に対する回転角θ、移動量Δｘ、Δｙが次
のようにして求められる。
【００４５】まず、次の数式１、２に基づいて、cos
θ、sin θが求められる。
θ、sin θが求められる。
【００４６】
【数１】
【００４７】
【数２】
【００４８】また、次の数式３または数式４のいずれか
の式に基づいて、Δｘ、Δｙが求められる。
の式に基づいて、Δｘ、Δｙが求められる。
【００４９】
【数３】
【００５０】
【数４】
【００５１】次に、求められたΔｘ、Δｙおよびθに基
づいて、インデックステーブルが補正される（ステップ
１３）。補正前のインデックステーブルを基準テーブル
といい、補正後のインデックステーブルを検査用テーブ
ルということにすると、基準テーブル、求められたΔ
ｘ、Δｙおよびθに基づいて、検査用テーブル上の各要
素（座標値）が計算される。つまり、数式３のΔｘ、Δ
ｙおよびθの値を、求められたΔｘ、Δｙおよびθと
し、数式３のａ１，ｂ１に、基準テーブルの各要素を順
次代入していくことにより、検査用テーブルの各要素が
数式３のａ２、ｂ２として計算される。このようにして
得られた検査用テーブルは、画素変換ボード１２のメモ
リに、格納される。
づいて、インデックステーブルが補正される（ステップ
１３）。補正前のインデックステーブルを基準テーブル
といい、補正後のインデックステーブルを検査用テーブ
ルということにすると、基準テーブル、求められたΔ
ｘ、Δｙおよびθに基づいて、検査用テーブル上の各要
素（座標値）が計算される。つまり、数式３のΔｘ、Δ
ｙおよびθの値を、求められたΔｘ、Δｙおよびθと
し、数式３のａ１，ｂ１に、基準テーブルの各要素を順
次代入していくことにより、検査用テーブルの各要素が
数式３のａ２、ｂ２として計算される。このようにして
得られた検査用テーブルは、画素変換ボード１２のメモ
リに、格納される。
【００５２】一方、ＣＣＤ画像メモリ２１に格納された
ＣＣＤ画像に対して、シェーディング補正用データを用
いてシェーディング補正が行なわれた後（ステップ１
４）、補正後のインデックステーブル（検査用テーブ
ル）を用いて、ＣＣＤ画像がＬＣＤ画像に変換される
（ステップ１５）。
ＣＣＤ画像に対して、シェーディング補正用データを用
いてシェーディング補正が行なわれた後（ステップ１
４）、補正後のインデックステーブル（検査用テーブ
ル）を用いて、ＣＣＤ画像がＬＣＤ画像に変換される
（ステップ１５）。
【００５３】ＣＣＤ画像のＬＣＤ画像への変換方法に
は、次のような方法がある。
は、次のような方法がある。
【００５４】（１）ＬＣＤパネルの注目画素の中心に対
応するＣＣＤカメラの画素（補正後のインデックステー
ブルに当該注目画素に対応するＣＣＤカメラの画素とし
て記憶されている画素であり、以下、注目画素に対応す
るＣＣＤ画素ということにする）の輝度値を、当該注目
画素の輝度値とする。図８は、ＣＣＤ画像と、このＣＣ
Ｄ画像から、このような方法で得られたＬＣＤ画像とを
示している。
応するＣＣＤカメラの画素（補正後のインデックステー
ブルに当該注目画素に対応するＣＣＤカメラの画素とし
て記憶されている画素であり、以下、注目画素に対応す
るＣＣＤ画素ということにする）の輝度値を、当該注目
画素の輝度値とする。図８は、ＣＣＤ画像と、このＣＣ
Ｄ画像から、このような方法で得られたＬＣＤ画像とを
示している。
【００５５】（２）注目画素に対応するＣＣＤ画素を中
心とする所定領域（たとえば、当該ＣＣＤ画素を中心と
する３×３の９画素）内の各画素の輝度値のうち、最も
高い輝度値を、当該注目画素の輝度値とする。
心とする所定領域（たとえば、当該ＣＣＤ画素を中心と
する３×３の９画素）内の各画素の輝度値のうち、最も
高い輝度値を、当該注目画素の輝度値とする。
【００５６】（３）注目画素に対応するＣＣＤ画素を中
心とする所定領域（たとえば、当該ＣＣＤ画素を中心と
する３×３の９画素）内の各画素の輝度値の加算値また
は平均値を、当該注目画素の輝度値とする。
心とする所定領域（たとえば、当該ＣＣＤ画素を中心と
する３×３の９画素）内の各画素の輝度値の加算値また
は平均値を、当該注目画素の輝度値とする。
【００５７】（４）注目画素に対応するＣＣＤ画素を中
心とする所定領域（たとえば、当該ＣＣＤ画素を中心と
する３×３の９画素）内の各画素の輝度値に、位置に応
じた重みを付けた後の加算値または平均値を、当該注目
画素の輝度値とする。
心とする所定領域（たとえば、当該ＣＣＤ画素を中心と
する３×３の９画素）内の各画素の輝度値に、位置に応
じた重みを付けた後の加算値または平均値を、当該注目
画素の輝度値とする。
【００５８】（５）注目画素に対応するＣＣＤ画素を中
心とする第１所定領域（たとえば、当該ＣＣＤ画素を中
心とする３×３の９画素）を設定し、設定した第１所定
領域内の各画素を中心とする第２所定領域（たとえば、
各画素を中心とする３×３の９画素）内の輝度値の加算
値をそれぞれ算出する。算出された輝度値の加算値のう
ち、最も大きな加算値を当該注目画素の輝度値とする。
心とする第１所定領域（たとえば、当該ＣＣＤ画素を中
心とする３×３の９画素）を設定し、設定した第１所定
領域内の各画素を中心とする第２所定領域（たとえば、
各画素を中心とする３×３の９画素）内の輝度値の加算
値をそれぞれ算出する。算出された輝度値の加算値のう
ち、最も大きな加算値を当該注目画素の輝度値とする。
【００５９】（６）注目画素に対応するＣＣＤ画素を中
心とする第１所定領域（たとえば、当該ＣＣＤ画素を中
心とする３×３の９画素）を設定し、設定した第１所定
領域内の各画素を中心とする第２所定領域（たとえば、
各画素を中心とする３×３の９画素）内の輝度値の平均
値をそれぞれ算出する。算出された輝度値の平均値のう
ち、最も大きな平均値を当該注目画素の輝度値とする。
心とする第１所定領域（たとえば、当該ＣＣＤ画素を中
心とする３×３の９画素）を設定し、設定した第１所定
領域内の各画素を中心とする第２所定領域（たとえば、
各画素を中心とする３×３の９画素）内の輝度値の平均
値をそれぞれ算出する。算出された輝度値の平均値のう
ち、最も大きな平均値を当該注目画素の輝度値とする。
【００６０】このようにして、補正後のインデックステ
ーブルと、ＣＣＤ画像とに基づいて、ＬＣＤパネル１の
各画素の輝度値が決定されることによって、ＣＣＤ画像
がＬＣＤ画像に変換される。得られたＬＣＤ画像はＬＣ
Ｄ画像メモリ２２に格納される。
ーブルと、ＣＣＤ画像とに基づいて、ＬＣＤパネル１の
各画素の輝度値が決定されることによって、ＣＣＤ画像
がＬＣＤ画像に変換される。得られたＬＣＤ画像はＬＣ
Ｄ画像メモリ２２に格納される。
【００６１】この後、ＬＣＤ画像に対して２値化処理お
よびラベリング処理が行なわれる（ステップ１６）。そ
して、ＬＣＤ画像およびＬＣＤ画像の２値化画像に基づ
いて、特徴量が抽出される（ステップ１７）。つまり、
欠陥の位置、欠陥の個数、欠陥の面積、欠陥の連続長、
欠陥の輝度等が抽出される。
よびラベリング処理が行なわれる（ステップ１６）。そ
して、ＬＣＤ画像およびＬＣＤ画像の２値化画像に基づ
いて、特徴量が抽出される（ステップ１７）。つまり、
欠陥の位置、欠陥の個数、欠陥の面積、欠陥の連続長、
欠陥の輝度等が抽出される。
【００６２】次に、ステップ１７によって検出された欠
陥部について、ＣＣＤ画像メモリ２１に格納されている
ＣＣＤ画像に基づいてさらに詳細な検査が行なわれ、最
終的な欠陥判定、欠陥の分類が行なわれる（ステップ１
８）。
陥部について、ＣＣＤ画像メモリ２１に格納されている
ＣＣＤ画像に基づいてさらに詳細な検査が行なわれ、最
終的な欠陥判定、欠陥の分類が行なわれる（ステップ１
８）。
【００６３】上記実施の形態では、インデックステーブ
ルは、ＬＣＤパネルの各画素位置に対して、ＣＣＤカメ
ラ４の１つの画素を対応させて記憶しているので、イン
デックステーブルの情報量はＬＣＤパネルの画像数に応
じたものとなるので、インデックステーブルの容量が少
なくて済む。
ルは、ＬＣＤパネルの各画素位置に対して、ＣＣＤカメ
ラ４の１つの画素を対応させて記憶しているので、イン
デックステーブルの情報量はＬＣＤパネルの画像数に応
じたものとなるので、インデックステーブルの容量が少
なくて済む。
【００６４】また、まず、ＬＣＤパネルの画素数に対応
した低解像度のＬＣＤ画像に基づいて欠陥を検出し、検
出された欠陥部のみについて高解像度のＣＣＤ画像に基
づいて詳細な欠陥検査を行なっているので、高精度の検
査を短い時間で行なうことができる。
した低解像度のＬＣＤ画像に基づいて欠陥を検出し、検
出された欠陥部のみについて高解像度のＣＣＤ画像に基
づいて詳細な欠陥検査を行なっているので、高精度の検
査を短い時間で行なうことができる。
【００６５】
【発明の効果】この発明によれば、高い検査精度を維持
しかつ処理速度を向上させることができ、しかもインデ
ックステーブルの容量が少なくてすむ表示装置の検査装
置が実現する。
しかつ処理速度を向上させることができ、しかもインデ
ックステーブルの容量が少なくてすむ表示装置の検査装
置が実現する。
【図１】ＬＣＤ検査装置の全体的な構成を示すブロック
図である。
図である。
【図２】画像処理装置の構成を示す示すブロック図であ
る。
る。
【図３】基準ＬＣＤパネルを用いた前処理の手順を示す
フローチャートである。
フローチャートである。
【図４】インデックステーブルの作成方法を説明するた
めの模式図である。
めの模式図である。
【図５】インデックステーブルの一例を示す模式図であ
る。
る。
【図６】ＬＣＤパネルの欠陥検査を行なうときの処理手
順を示すフローチャートである。
順を示すフローチャートである。
【図７】検査ＬＣＤパネルの基準ＬＣＤパネルに対する
ずれ量を算出する方法を説明するための模式図である。
ずれ量を算出する方法を説明するための模式図である。
【図８】ＣＣＤ画像をＬＣＤ画像に変換する方法を説明
するための模式図である。
するための模式図である。
１ ＬＣＤパネル ２ バックライト ３ ＬＣＤ駆動部 ４ ＣＣＤカメラ ５ 画像処理装置 ６ モニタ ７ パーソナルコンピュータ
Claims (4)
- 【請求項１】 被検査表示装置を撮像装置で撮像し、そ
の撮像画像に基づいて被検査表示装置の欠陥を検査する
表示装置の検査装置において、 被検査表示装置の各画素位置に対して、撮像装置の１つ
の画素を対応させて記憶しているインデックステーブ
ル、 撮像装置によって撮像された被検査表示装置の画像であ
ってかつ撮像装置の画素数に応じた解像度の第１画像
と、インデックステーブルとに基づいて、第１画像を被
検査表示装置の画素数に対応した解像度の第２画像に変
換する変換手段、および第２画像に基づいて、被検査表
示装置の欠陥を検査する検査手段、を備えていることを
特徴とする表示装置の検査装置。 - 【請求項２】 インデックステーブルには、被検査表示
装置の各画素の中心位置に対応する撮像装置の１つの画
素が、被検査表示装置の各画素に関連して記憶されてい
る請求項１に記載の表示装置の検査装置。 - 【請求項３】 変換手段は、（１）被検査表示装置の注
目画素に対応する撮像装置の１画素の輝度値、（２）被
検査表示装置の注目画素に対応する撮像装置の１画素を
中心とする所定領域内の各画素の輝度値のうちの最も高
い輝度値、（３）被検査表示装置の注目画素に対応する
撮像装置の１画素を中心とする所定領域内の輝度値の加
算値または平均値、（４）被検査表示装置の注目画素に
対応する撮像装置の１画素を中心とする所定領域内の各
画素の輝度値に、位置に応じた重みを付けた後の加算値
または平均値、（５）注目画素に対応する撮像装置の１
画素を中心とする第１所定領域が設定され、第１所定領
域内の各画素を中心とする第２所定領域ごとの輝度値の
加算値のうち、最も大きな加算値、若しくは（６）注目
画素に対応する撮像装置の１画素を中心とする第１所定
領域が設定され、第１所定領域内の各画素を中心とする
第２所定領域ごとの輝度値の平均値のうち、最も大きな
平均値、を当該注目画素の輝度値として決定することに
より、第１画像を第２画像に変換するものである請求項
１および２のいずれかに記載の表示装置の検査装置。 - 【請求項４】 第１画像に基づいて、インデックステー
ブルが適合する基準位置に対する、被検査表示装置のず
れ量を算出するずれ量算出手段、およびずれ量算出手段
によって求められたずれ量に基づいて、インデックステ
ーブルの内容を、被検査表示装置の位置に適合するよう
に補正する手段を備えており、変換手段は、第１画像
と、補正後のインデックステーブルとに基づいて、第１
画像を第２画像に変換するものである請求項１、２およ
び３のいずれかに記載の表示装置の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23808095A JPH0979946A (ja) | 1995-09-18 | 1995-09-18 | 表示装置の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23808095A JPH0979946A (ja) | 1995-09-18 | 1995-09-18 | 表示装置の検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0979946A true JPH0979946A (ja) | 1997-03-28 |
Family
ID=17024866
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23808095A Pending JPH0979946A (ja) | 1995-09-18 | 1995-09-18 | 表示装置の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0979946A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006200927A (ja) * | 2005-01-18 | 2006-08-03 | Shimadzu Corp | Ｔｆｔアレイ検査装置、及びデータ抽出方法 |
| CN100426371C (zh) * | 2006-03-15 | 2008-10-15 | 友达光电股份有限公司 | 动态图样索引的方法 |
| CN100495516C (zh) | 2006-02-28 | 2009-06-03 | 友达光电股份有限公司 | 动态图形索引的系统及方法 |
| CN108303237A (zh) * | 2018-03-01 | 2018-07-20 | 深圳回收宝科技有限公司 | 一种终端屏幕检测的方法、检测装置以及存储介质 |
| CN110428762A (zh) * | 2019-07-10 | 2019-11-08 | 武汉精立电子技术有限公司 | 基于像素点亮度的oled面板老化测试发光特性检测方法 |
| CN114298254A (zh) * | 2021-12-27 | 2022-04-08 | 亮风台（上海）信息科技有限公司 | 一种获取光学设备的显示参数测试信息的方法与设备 |
| CN114459738A (zh) * | 2022-01-25 | 2022-05-10 | Tcl华星光电技术有限公司 | 显示面板分析方法、装置、电子设备及存储介质 |
-
1995
- 1995-09-18 JP JP23808095A patent/JPH0979946A/ja active Pending
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006200927A (ja) * | 2005-01-18 | 2006-08-03 | Shimadzu Corp | Ｔｆｔアレイ検査装置、及びデータ抽出方法 |
| CN100495516C (zh) | 2006-02-28 | 2009-06-03 | 友达光电股份有限公司 | 动态图形索引的系统及方法 |
| CN100426371C (zh) * | 2006-03-15 | 2008-10-15 | 友达光电股份有限公司 | 动态图样索引的方法 |
| CN108303237A (zh) * | 2018-03-01 | 2018-07-20 | 深圳回收宝科技有限公司 | 一种终端屏幕检测的方法、检测装置以及存储介质 |
| CN108303237B (zh) * | 2018-03-01 | 2020-07-28 | 深圳回收宝科技有限公司 | 一种终端屏幕检测的方法、检测装置以及存储介质 |
| CN110428762A (zh) * | 2019-07-10 | 2019-11-08 | 武汉精立电子技术有限公司 | 基于像素点亮度的oled面板老化测试发光特性检测方法 |
| CN110428762B (zh) * | 2019-07-10 | 2023-05-16 | 武汉精立电子技术有限公司 | 基于像素点亮度的oled面板老化测试发光特性检测方法 |
| CN114298254A (zh) * | 2021-12-27 | 2022-04-08 | 亮风台（上海）信息科技有限公司 | 一种获取光学设备的显示参数测试信息的方法与设备 |
| CN114298254B (zh) * | 2021-12-27 | 2024-03-15 | 亮风台（上海）信息科技有限公司 | 一种获取光学设备的显示参数测试信息的方法与设备 |
| CN114459738A (zh) * | 2022-01-25 | 2022-05-10 | Tcl华星光电技术有限公司 | 显示面板分析方法、装置、电子设备及存储介质 |
| CN114459738B (zh) * | 2022-01-25 | 2024-02-02 | Tcl华星光电技术有限公司 | 显示面板分析方法、装置、电子设备及存储介质 |
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