JPH10319043A - プローブ装置 - Google Patents
プローブ装置Info
- Publication number
- JPH10319043A JPH10319043A JP12434597A JP12434597A JPH10319043A JP H10319043 A JPH10319043 A JP H10319043A JP 12434597 A JP12434597 A JP 12434597A JP 12434597 A JP12434597 A JP 12434597A JP H10319043 A JPH10319043 A JP H10319043A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- contact
- probe
- bolt
- head
- probe device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】ボルトの締め付けに際してコンタクトピンの位
置ずれの調整及び抑制が可能であるプローブ装置を提供
する。 【解決手段】本発明のプローブ装置20は、端子に接触
させられるコンタクトプローブを有するヘッド22と、
ヘッド22が取り付けられるベース23とからなる。こ
のプローブ装置20では、ベース23に断面長円状の穴
44が形成され、取付部27を貫通して穴44に挿入さ
れる回転可能な偏心ピン43が設けられ、偏心ピン43
の中心がオフセットされ、偏心ピン43の外周面の1点
又は2点が前記穴の内周面に接触するように構成されて
いる。
置ずれの調整及び抑制が可能であるプローブ装置を提供
する。 【解決手段】本発明のプローブ装置20は、端子に接触
させられるコンタクトプローブを有するヘッド22と、
ヘッド22が取り付けられるベース23とからなる。こ
のプローブ装置20では、ベース23に断面長円状の穴
44が形成され、取付部27を貫通して穴44に挿入さ
れる回転可能な偏心ピン43が設けられ、偏心ピン43
の中心がオフセットされ、偏心ピン43の外周面の1点
又は2点が前記穴の内周面に接触するように構成されて
いる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、プローブピン等と
して用いられ、半導体ICチップや液晶デバイス等の各
端子に接触して電気的なテストを行うプローブ装置(プ
ローブカード)に関する。
して用いられ、半導体ICチップや液晶デバイス等の各
端子に接触して電気的なテストを行うプローブ装置(プ
ローブカード)に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、ICチップやLSIチップ等
の半導体チップ又はLCD(液晶表示体)の各端子に接
触させて電気的なテストを行うため装置として、プロー
ブ装置が知られている。このようなプローブ装置につい
ては、例えば、特公平7−82027号公報に、複数の
パターン配線が樹脂フィルム上に形成され、これらのパ
ターン配線の各先端が前記樹脂フィルムから突出状態に
配されて、コンタクトピンとされるコンタクトプローブ
の技術が提案されている。この技術例によれば、多ピン
狭ピッチ化を図ることができるとともに、複雑な多数の
部品を不要にするものである。
の半導体チップ又はLCD(液晶表示体)の各端子に接
触させて電気的なテストを行うため装置として、プロー
ブ装置が知られている。このようなプローブ装置につい
ては、例えば、特公平7−82027号公報に、複数の
パターン配線が樹脂フィルム上に形成され、これらのパ
ターン配線の各先端が前記樹脂フィルムから突出状態に
配されて、コンタクトピンとされるコンタクトプローブ
の技術が提案されている。この技術例によれば、多ピン
狭ピッチ化を図ることができるとともに、複雑な多数の
部品を不要にするものである。
【0003】図8に示すように、従来のプローブ装置1
0は、フレキシブル基板であるコンタクトプローブ1に
接続されたコンタクトピン1aを有するヘッド2と、ヘ
ッド2が固定される額縁状のベース3とから構成されて
いる。ヘッド2から突出したコンタクトピン1aの先端
がLCD(液晶表示体)4の端子(図示せず)に接触す
るようになっている。
0は、フレキシブル基板であるコンタクトプローブ1に
接続されたコンタクトピン1aを有するヘッド2と、ヘ
ッド2が固定される額縁状のベース3とから構成されて
いる。ヘッド2から突出したコンタクトピン1aの先端
がLCD(液晶表示体)4の端子(図示せず)に接触す
るようになっている。
【0004】従来のプローブ装置10を用いて、例えば
LCD4のプローブテストを行うときは、プローブ装置
10をプローバに装着するとともにテスターに電気的に
接続し、所定の電気信号をコンタクトピン1aから送る
ことによって、LCD4の電気的特性が測定される。
LCD4のプローブテストを行うときは、プローブ装置
10をプローバに装着するとともにテスターに電気的に
接続し、所定の電気信号をコンタクトピン1aから送る
ことによって、LCD4の電気的特性が測定される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、近年、IC
チップ等の高集積化及び微細化に伴って端子(コンタク
トパッド)の狭ピッチ化が要望されている。そのため、
例えば一辺が数十μmの端子に対してコンタクトピン1
aを接触させる場合等には、コンタクトピン1aの位置
調整を高精度に行う必要がある。
チップ等の高集積化及び微細化に伴って端子(コンタク
トパッド)の狭ピッチ化が要望されている。そのため、
例えば一辺が数十μmの端子に対してコンタクトピン1
aを接触させる場合等には、コンタクトピン1aの位置
調整を高精度に行う必要がある。
【0006】しかし、従来のプローブ装置10では、図
9に示すように、ヘッド2がベース3にボルト5を介し
て装着固定される構造となっているため、ボルト5の締
め付け時にコンタクトピン1aの位置が微妙にずれてし
まうことがある。
9に示すように、ヘッド2がベース3にボルト5を介し
て装着固定される構造となっているため、ボルト5の締
め付け時にコンタクトピン1aの位置が微妙にずれてし
まうことがある。
【0007】また、このボルト5が螺入されるネジ孔は
加工誤差によって設計角度よりもずれた角度で形成され
ていることが多い。この加工誤差による影響によってボ
ルト5を締め付けるとコンタクトピン1aの位置ずれが
生じることがある。また、ネジ孔を完全に設計角度の通
りに加工するのは事実上困難である。
加工誤差によって設計角度よりもずれた角度で形成され
ていることが多い。この加工誤差による影響によってボ
ルト5を締め付けるとコンタクトピン1aの位置ずれが
生じることがある。また、ネジ孔を完全に設計角度の通
りに加工するのは事実上困難である。
【0008】このように、従来のプローブ装置10で
は、ボルト5の締結によってコンタクトピン1aの位置
がずれて、狭ピッチ化された端子に対して高精度な位置
合わせが困難であるという欠点があった。
は、ボルト5の締結によってコンタクトピン1aの位置
がずれて、狭ピッチ化された端子に対して高精度な位置
合わせが困難であるという欠点があった。
【0009】また、各端子の表面は酸化して薄い酸化被
膜で覆われた状態となっているため、テスト時には酸化
被膜を剥離して導電性を確保すべくコンタクトピン1a
を端子の表面に接触させつつ、オーバードライブをかけ
る(コンタクトピン1aが端子に接触してからさらに下
方に向けて引き下げる)。このとき、コンタクトピン1
aが適正な位置からずれている場合、オーバードライブ
量が大きいとコンタクトピン1aがさらに移動して端子
から離れしまい、プローブテストが適切に行われない場
合もあった。
膜で覆われた状態となっているため、テスト時には酸化
被膜を剥離して導電性を確保すべくコンタクトピン1a
を端子の表面に接触させつつ、オーバードライブをかけ
る(コンタクトピン1aが端子に接触してからさらに下
方に向けて引き下げる)。このとき、コンタクトピン1
aが適正な位置からずれている場合、オーバードライブ
量が大きいとコンタクトピン1aがさらに移動して端子
から離れしまい、プローブテストが適切に行われない場
合もあった。
【0010】さらに、従来のプローブ装置10では、コ
ンタクトプローブ挟持体9を構成するトップクランプ1
1と傾斜板12は、ボルト14を介して底板15に着脱
可能に装着されている。しかし、このボルト14は底板
15の下面から螺入されており、ヘッド部2を取り外さ
ないと着脱作業を行うことができず、またヘッド部2全
体を取り外すためにはボルト5を外さなければならない
ため作業が煩わしく、作業時にLCD4にコンタクトピ
ン1aが誤って接触し損傷するおそれがあるという欠点
もあった。
ンタクトプローブ挟持体9を構成するトップクランプ1
1と傾斜板12は、ボルト14を介して底板15に着脱
可能に装着されている。しかし、このボルト14は底板
15の下面から螺入されており、ヘッド部2を取り外さ
ないと着脱作業を行うことができず、またヘッド部2全
体を取り外すためにはボルト5を外さなければならない
ため作業が煩わしく、作業時にLCD4にコンタクトピ
ン1aが誤って接触し損傷するおそれがあるという欠点
もあった。
【0011】そこで、本発明は上記の事情に鑑みてなさ
れたもので、コンタクトピンの位置調整が可能であると
ともに、コンタクトプローブの着脱が容易なプローブ装
置を提供することを目的としている。
れたもので、コンタクトピンの位置調整が可能であると
ともに、コンタクトプローブの着脱が容易なプローブ装
置を提供することを目的としている。
【0012】
【課題を解決するための手段】上述の課題を解決するた
め、請求項1に記載した本発明においては、端子に接触
させられるコンタクトプローブを有するヘッドと、前記
ヘッドが取り付けられるベースとからなるプローブ装置
であって、前記ベースに断面長円状の穴が形成され、前
記ヘッドを貫通して、前記穴に挿入される回転可能な偏
心ピンが設けられ、前記偏心ピンの中心がオフセットさ
れ、前記偏心ピンの外周面の1点又は2点が長円穴の内
周面に接触するように構成され、前記偏心ピンを回転さ
せることによって前記ヘッドが傾動することなく移動す
ることを特徴とする。
め、請求項1に記載した本発明においては、端子に接触
させられるコンタクトプローブを有するヘッドと、前記
ヘッドが取り付けられるベースとからなるプローブ装置
であって、前記ベースに断面長円状の穴が形成され、前
記ヘッドを貫通して、前記穴に挿入される回転可能な偏
心ピンが設けられ、前記偏心ピンの中心がオフセットさ
れ、前記偏心ピンの外周面の1点又は2点が長円穴の内
周面に接触するように構成され、前記偏心ピンを回転さ
せることによって前記ヘッドが傾動することなく移動す
ることを特徴とする。
【0013】この発明において、ヘッドの位置を調整す
るときはレンチ等を用いて偏心ピンを回転させる。偏心
ピンは外周の1点又は2点を穴の内周面に摺接させなが
ら回転し、これに伴ってヘッドが傾動することなく移動
する。このように、ヘッドの位置を微調整することによ
って、狭ピッチ化された端子に対してもコンタクトピン
を高精度に接触させることができる。
るときはレンチ等を用いて偏心ピンを回転させる。偏心
ピンは外周の1点又は2点を穴の内周面に摺接させなが
ら回転し、これに伴ってヘッドが傾動することなく移動
する。このように、ヘッドの位置を微調整することによ
って、狭ピッチ化された端子に対してもコンタクトピン
を高精度に接触させることができる。
【0014】請求項2に記載した発明では、請求項1記
載のプローブ装置において、前記コンタクトプローブ挟
持体を前記ベースに取り付けるための取付部と、前記コ
ンタクトプローブ挟持体及び前記取付部を挿通するボル
トと、前記ボルトが突出する面に設けられた凹部と、前
記ボルトに螺合し、前記凹部内に配されるナットとを備
えていることを特徴とする。
載のプローブ装置において、前記コンタクトプローブ挟
持体を前記ベースに取り付けるための取付部と、前記コ
ンタクトプローブ挟持体及び前記取付部を挿通するボル
トと、前記ボルトが突出する面に設けられた凹部と、前
記ボルトに螺合し、前記凹部内に配されるナットとを備
えていることを特徴とする。
【0015】この発明においては、例えばボルトの挿通
孔が加工誤差により僅かに傾いて穿設されていた場合、
挿入されたボルトが傾いて進入する。そしてボルトの先
端がナットに螺合すると、ナットが溝の底面に密着して
ボルトが略所定角度となるように固定される。したがっ
て、ボルトを締め付けるときに生じるコンタクトプロー
ブ挟持体の位置のズレが抑制される。
孔が加工誤差により僅かに傾いて穿設されていた場合、
挿入されたボルトが傾いて進入する。そしてボルトの先
端がナットに螺合すると、ナットが溝の底面に密着して
ボルトが略所定角度となるように固定される。したがっ
て、ボルトを締め付けるときに生じるコンタクトプロー
ブ挟持体の位置のズレが抑制される。
【0016】請求項3に記載した発明では、請求項1記
載のプローブ装置において、前記ヘッドが、前記コンタ
クトプローブを挟持するクランプと、前記クランプを装
置本体に固定するボルトとを備え、前記ボルトが前記装
置本体の上側から螺入されるように構成されていること
を特徴とする。
載のプローブ装置において、前記ヘッドが、前記コンタ
クトプローブを挟持するクランプと、前記クランプを装
置本体に固定するボルトとを備え、前記ボルトが前記装
置本体の上側から螺入されるように構成されていること
を特徴とする。
【0017】この発明においては、ボルトがクランプの
上面から螺入されているので、ボルトの緩め又は締め付
けをプローブ装置の上方から行うことができる。したが
って、コンタクトプローブの着脱作業が容易であるとと
もに、被検査品にコンタクトピンが誤って接触して損傷
するような事態が防止される。
上面から螺入されているので、ボルトの緩め又は締め付
けをプローブ装置の上方から行うことができる。したが
って、コンタクトプローブの着脱作業が容易であるとと
もに、被検査品にコンタクトピンが誤って接触して損傷
するような事態が防止される。
【0018】
【発明の実施の形態】続いて、本発明に係るプローブ装
置の実施の形態を図面を参照して詳細に説明する。図1
に概略を示すように、本実施の形態のプローブ装置20
は、端子に接触させられるコンタクトプローブ21を有
するヘッド22と、ヘッド22が固定されるベース23
とを備えている。ヘッド22は、図2に示すように、コ
ンタクトプローブ21を挟持するコンタクトプローブ挟
持体29と、コンタクトプローブ挟持体29をベース2
3(図1)に取り付けるための取付部27とを備えてい
る。
置の実施の形態を図面を参照して詳細に説明する。図1
に概略を示すように、本実施の形態のプローブ装置20
は、端子に接触させられるコンタクトプローブ21を有
するヘッド22と、ヘッド22が固定されるベース23
とを備えている。ヘッド22は、図2に示すように、コ
ンタクトプローブ21を挟持するコンタクトプローブ挟
持体29と、コンタクトプローブ挟持体29をベース2
3(図1)に取り付けるための取付部27とを備えてい
る。
【0019】コンタクトプローブ21はフォトリソ及び
メッキ等によりLCD用に所定形状に製造されたもので
あり、複数のコンタクトピン21aを備えている。ま
た、コンタクトプローブ21にはフレキシブル基板41
の各パターン配線41aが接続されている。
メッキ等によりLCD用に所定形状に製造されたもので
あり、複数のコンタクトピン21aを備えている。ま
た、コンタクトプローブ21にはフレキシブル基板41
の各パターン配線41aが接続されている。
【0020】コンタクトプローブ挟持体29は、トップ
クランプ31と、傾斜板32と、底板35とから構成さ
れている。トップクランプ31は3個の下向きの突起4
2を備え、これら突起42でコンタクトプローブ21を
上側から押さえた状態で、ボルト28,28により傾斜
板32に取り付けられている。また、傾斜板32はボル
ト34を介して底板35に斜めに固定されている。
クランプ31と、傾斜板32と、底板35とから構成さ
れている。トップクランプ31は3個の下向きの突起4
2を備え、これら突起42でコンタクトプローブ21を
上側から押さえた状態で、ボルト28,28により傾斜
板32に取り付けられている。また、傾斜板32はボル
ト34を介して底板35に斜めに固定されている。
【0021】取付部27は図1に示すように側面視L字
状に形成され、その水平面とされる下面27aにボルト
26を介して底板35が取り付けられ、垂直面27bが
ボルト25,25を介してベース23の端面に装着され
たレール23aに固定されている。また、レール23a
はその上部からベース23側の面の上部から水平にベー
ス装着部38が突出され、このベース装着部38がボル
ト39を介してベース23の内縁上部に取り付けられて
いる。ボルト39は上方から螺入されているため、プロ
ーブ装置20の取り外し及び取り付けを容易に行うこと
ができ、しかも作業が容易であるためコンタクトピン2
1aをLCD4の接触させて傷めるような事態が防止さ
れる。
状に形成され、その水平面とされる下面27aにボルト
26を介して底板35が取り付けられ、垂直面27bが
ボルト25,25を介してベース23の端面に装着され
たレール23aに固定されている。また、レール23a
はその上部からベース23側の面の上部から水平にベー
ス装着部38が突出され、このベース装着部38がボル
ト39を介してベース23の内縁上部に取り付けられて
いる。ボルト39は上方から螺入されているため、プロ
ーブ装置20の取り外し及び取り付けを容易に行うこと
ができ、しかも作業が容易であるためコンタクトピン2
1aをLCD4の接触させて傷めるような事態が防止さ
れる。
【0022】次に、プローブ装置20におけるヘッド2
2の位置調整を行う手段について、その構成及び動作を
説明する。この調整は、偏心ピン43により行うことが
できる。図1及び図3に示すように、偏心ピン43は比
較的大径の円柱体であり、外側から取付部27を貫通し
て、レール23aに設けられた断面長円状の穴44に挿
入されている。穴44に挿入される部位である挿入部4
3aは断面円形状とされている。
2の位置調整を行う手段について、その構成及び動作を
説明する。この調整は、偏心ピン43により行うことが
できる。図1及び図3に示すように、偏心ピン43は比
較的大径の円柱体であり、外側から取付部27を貫通し
て、レール23aに設けられた断面長円状の穴44に挿
入されている。穴44に挿入される部位である挿入部4
3aは断面円形状とされている。
【0023】偏心ピン43の中心は、挿入部43aの中
心に対して移動量の分だけオフセットされ、また挿入部
43aの外周面の1点又は2点が穴44の内周面に接触
している。偏心ピン43の頭部43bには、レンチを嵌
合させるための六角穴43cが凹設されている。
心に対して移動量の分だけオフセットされ、また挿入部
43aの外周面の1点又は2点が穴44の内周面に接触
している。偏心ピン43の頭部43bには、レンチを嵌
合させるための六角穴43cが凹設されている。
【0024】この偏心ピン43を用いてコンタクトプロ
ーブ挟持体29の位置調整を行う方法について、図4を
参照して説明する。図4(A)は偏心ピン43が標準位
置にある状態を示し、偏心ピン43の中心p1は挿入部
43aの中心p2に対して例えば下側にオフセットされ
ている。この状態では、偏心ピン43の中心p1は基準
線(穴44の中心p2を通過する垂直線)c上に一致し
ている。
ーブ挟持体29の位置調整を行う方法について、図4を
参照して説明する。図4(A)は偏心ピン43が標準位
置にある状態を示し、偏心ピン43の中心p1は挿入部
43aの中心p2に対して例えば下側にオフセットされ
ている。この状態では、偏心ピン43の中心p1は基準
線(穴44の中心p2を通過する垂直線)c上に一致し
ている。
【0025】図4(B)に示すように、レンチを用いて
偏心ピン43を反時計方向に90゜回転させると、挿入
部43aの外周の1点又は2点が穴44の内周面に摺接
しながら回転し、偏心ピン43の回転中心p1は基準線
cより右側に移動する。すなわち、ヘッド22(図1)
が右方向に移動する。同様に、偏心ピン43を時計方向
に回転させた場合はヘッド22(図1)が左方向に移動
することになる。すなわち、ヘッド22の移動は、挿入
部43aと穴44との接触点の変位のみによるものであ
るため、ヘッド22は傾動することなく移動する。
偏心ピン43を反時計方向に90゜回転させると、挿入
部43aの外周の1点又は2点が穴44の内周面に摺接
しながら回転し、偏心ピン43の回転中心p1は基準線
cより右側に移動する。すなわち、ヘッド22(図1)
が右方向に移動する。同様に、偏心ピン43を時計方向
に回転させた場合はヘッド22(図1)が左方向に移動
することになる。すなわち、ヘッド22の移動は、挿入
部43aと穴44との接触点の変位のみによるものであ
るため、ヘッド22は傾動することなく移動する。
【0026】このように、図1に示した偏心ピン43を
回転させてコンタクトピン21aの位置を微調整するこ
とによって、多ピン狭ピッチ化された端子に対してもコ
ンタクトピン21aを高精度に接触させることができ
る。
回転させてコンタクトピン21aの位置を微調整するこ
とによって、多ピン狭ピッチ化された端子に対してもコ
ンタクトピン21aを高精度に接触させることができ
る。
【0027】また、本発明では、図1に示したコンタク
トプローブの取付部27をボルト25でレール23aに
固定する際に発生する位置ズレを抑制することができ
る。以下、この手段の構成及び動作を説明する。
トプローブの取付部27をボルト25でレール23aに
固定する際に発生する位置ズレを抑制することができ
る。以下、この手段の構成及び動作を説明する。
【0028】図5はレール23aのベース23に対して
密着する側の面を示し、同図に示す固定用のボルト2
5,25と、このボルト25,25の先端に螺合された
ナット51,51と、このナット51,51が配置され
る溝(凹部)52とを備えている。
密着する側の面を示し、同図に示す固定用のボルト2
5,25と、このボルト25,25の先端に螺合された
ナット51,51と、このナット51,51が配置され
る溝(凹部)52とを備えている。
【0029】ナット51,51は平面視長方形の板状に
形成されている。また、溝52はナット51,51を収
容できる大きさに形成されており、その底面は垂直な平
坦面となるように高精度に仕上げられている。なお、ボ
ルト25,25が貫通される挿通孔53(図1)の内側
にはネジ部は形成されていない。
形成されている。また、溝52はナット51,51を収
容できる大きさに形成されており、その底面は垂直な平
坦面となるように高精度に仕上げられている。なお、ボ
ルト25,25が貫通される挿通孔53(図1)の内側
にはネジ部は形成されていない。
【0030】以上の構成によるヘッド22の位置ズレの
抑制手段の機能について、図6を参照して具体的に説明
する。図6(A)に示すように、挿通孔53が加工誤差
により水平より僅かに傾いて穿設されていた場合、ボル
ト25も傾きながら進入する。なお、挿通孔53の内周
面にはネジ部が形成されていないので、ボルト25は螺
合せずに進入する。そして、ボルト25の先端がナット
51に螺合すると、ナット51が溝52内で僅かに移動
するが、ボルト25が締め付けられるにつれてナット5
1は溝52の底面に密着してボルト25が略水平となる
ように固定される。
抑制手段の機能について、図6を参照して具体的に説明
する。図6(A)に示すように、挿通孔53が加工誤差
により水平より僅かに傾いて穿設されていた場合、ボル
ト25も傾きながら進入する。なお、挿通孔53の内周
面にはネジ部が形成されていないので、ボルト25は螺
合せずに進入する。そして、ボルト25の先端がナット
51に螺合すると、ナット51が溝52内で僅かに移動
するが、ボルト25が締め付けられるにつれてナット5
1は溝52の底面に密着してボルト25が略水平となる
ように固定される。
【0031】すなわち、ボルト25を直接レール23a
に螺合させずにナット51に螺合させることによって、
挿通孔53が傾いていた場合にも、高精度に加工された
溝52の底面の規制によってボルト25が略水平な向き
となる。したがって、ボルト25の締め付けによる影響
を最小限に抑えて、コンタクトプローブの取付部27
(図1)とレール23aとの位置のズレが抑制される。
に螺合させずにナット51に螺合させることによって、
挿通孔53が傾いていた場合にも、高精度に加工された
溝52の底面の規制によってボルト25が略水平な向き
となる。したがって、ボルト25の締め付けによる影響
を最小限に抑えて、コンタクトプローブの取付部27
(図1)とレール23aとの位置のズレが抑制される。
【0032】さらに、このプローブ装置20では、図7
に示すようにコンタクトプローブ21をトップクランプ
31と傾斜板32ごと容易に取り外すことができる。す
なわち、傾斜板32を固定するボルト34は傾斜板32
の上面から螺入されているので、ボルト34の緩め又は
締め付けをプローブ装置20の上方から行うことができ
る。したがって、従来例のように下側に固定用のボルト
14が装着されていた場合(図9参照)に比較して、着
脱作業が容易であるため、LCD4にコンタクトピン2
1aが誤って接触して損傷するような事態が防止され
る。
に示すようにコンタクトプローブ21をトップクランプ
31と傾斜板32ごと容易に取り外すことができる。す
なわち、傾斜板32を固定するボルト34は傾斜板32
の上面から螺入されているので、ボルト34の緩め又は
締め付けをプローブ装置20の上方から行うことができ
る。したがって、従来例のように下側に固定用のボルト
14が装着されていた場合(図9参照)に比較して、着
脱作業が容易であるため、LCD4にコンタクトピン2
1aが誤って接触して損傷するような事態が防止され
る。
【0033】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1記載のプ
ローブ装置によれば、偏心ピンを回転させることによっ
て、ヘッドを傾動させることなくコンタクトプローブの
位置を微調整することができるので、多ピン狭ピッチ化
された端子に対してコンタクトピンを高精度に配置する
ことができる。
ローブ装置によれば、偏心ピンを回転させることによっ
て、ヘッドを傾動させることなくコンタクトプローブの
位置を微調整することができるので、多ピン狭ピッチ化
された端子に対してコンタクトピンを高精度に配置する
ことができる。
【0034】請求項2記載のプローブ装置によれば、螺
入されるボルトがナットによって略所定角度になるよう
に規制されるので、ボルトの締め付け時に生じるコンタ
クトプローブ挟持体の位置ズレが抑制され、コンタクト
ピンを高精度に配置することができる。
入されるボルトがナットによって略所定角度になるよう
に規制されるので、ボルトの締め付け時に生じるコンタ
クトプローブ挟持体の位置ズレが抑制され、コンタクト
ピンを高精度に配置することができる。
【0035】請求項3記載のプローブ装置によれば、ボ
ルトの緩め又は締め付けをプローブ装置の上方から行う
ことができるので、作業が容易であるとともに、被検査
品にコンタクトピンが誤って接触して損傷を招くような
事態が防止される。
ルトの緩め又は締め付けをプローブ装置の上方から行う
ことができるので、作業が容易であるとともに、被検査
品にコンタクトピンが誤って接触して損傷を招くような
事態が防止される。
【図1】 本発明に係る実施の形態であるプローブ装置
の構成を示す一部断面図である。
の構成を示す一部断面図である。
【図2】 ヘッドの構成を示す斜視図である。
【図3】 偏心ピンの構成を示す正面図である。
【図4】 偏心ピンによる位置調整を説明する図であ
る。
る。
【図5】 レールのベースに対して密着する側の面の図
である。
である。
【図6】 ナットと溝の組合せによる位置ズレ抑制の動
作を説明する断面図である。
作を説明する断面図である。
【図7】 コンタクトプローブ挟持体を取り外した状態
を示すプローブ装置の側面図である。
を示すプローブ装置の側面図である。
【図8】 従来のプローブ装置の概略を示す斜視図であ
る。
る。
【図9】 従来のプローブ装置の構成を示す一部断面図
である。
である。
1,21 コンタクトプローブ 1a,21a コンタクトピン 2,22 ヘッド 3,23 ベース 4 LCD 5,6,14,25,26,28,34 ボルト 7,27 取付部 9,29 コンタクトプローブ挟持体 10,20 プローブ装置 11,31 トップクランプ 12,32 傾斜板 15,35 底板 43 偏心ピン 44 穴 43a 挿入部 51 ナット 52 溝
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 植木 光芳 兵庫県三田市テクノパーク十二番の六 三 菱マテリアル株式会社三田工場内 (72)発明者 吉田 秀昭 兵庫県三田市テクノパーク十二番の六 三 菱マテリアル株式会社三田工場内
Claims (3)
- 【請求項1】 端子に接触させられるコンタクトプロー
ブ(21)を有するヘッド(22)と、前記ヘッドが取
り付けられるベース(23)とからなるプローブ装置
(20)であって、 前記ベースに断面長円状の穴(44)が形成され、 前記ヘッドを貫通して、前記穴に挿入される回転可能な
偏心ピン(43)が設けられ、 前記偏心ピンの回転中心(p1)がオフセットされ、 前記偏心ピンの外周面の1点又は2点が長円穴の内周面
に接触するように構成され、 前記偏心ピンを回転させることによって前記ヘッドが傾
動することなく移動することを特徴とするプローブ装
置。 - 【請求項2】 請求項1記載のプローブ装置において、 コンタクトプローブ挟持体(29)を前記ベースに取り
付けるための取付部(27)と、 前記コンタクトプローブ挟持体及び前記取付部を挿通す
るボルト(25)と、 前記ボルトが突出する面に設けられた凹部(52)と、 前記ボルトに螺合し、前記凹部内に配されるナット(5
1)と、 を備えていることを特徴とする請求項1記載のプローブ
装置。 - 【請求項3】 請求項1記載のプローブ装置において、 前記ヘッドが、前記コンタクトプローブを挟持するクラ
ンプ(31)と、前記クランプを前記プローブ装置本体
に固定するボルト(34)とを備え、 前記ボルトが前記プローブ装置本体の上側から螺入され
るように構成されていることを特徴とするプローブ装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12434597A JPH10319043A (ja) | 1997-05-14 | 1997-05-14 | プローブ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12434597A JPH10319043A (ja) | 1997-05-14 | 1997-05-14 | プローブ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10319043A true JPH10319043A (ja) | 1998-12-04 |
Family
ID=14883074
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12434597A Pending JPH10319043A (ja) | 1997-05-14 | 1997-05-14 | プローブ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10319043A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20150098206A (ko) * | 2014-02-19 | 2015-08-27 | 가부시키가이샤 휴모 라보라토리 | 3 개 이상의 전극을 구비한 칩 전자 부품 검사 선별 장치 |
| JP2024124468A (ja) * | 2020-07-31 | 2024-09-12 | ニデックアドバンステクノロジー株式会社 | 検査治具、及び検査装置 |
-
1997
- 1997-05-14 JP JP12434597A patent/JPH10319043A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20150098206A (ko) * | 2014-02-19 | 2015-08-27 | 가부시키가이샤 휴모 라보라토리 | 3 개 이상의 전극을 구비한 칩 전자 부품 검사 선별 장치 |
| JP2015173257A (ja) * | 2014-02-19 | 2015-10-01 | 株式会社ヒューモラボラトリー | 三つ以上の電極を備えたチップ電子部品検査選別装置 |
| JP2024124468A (ja) * | 2020-07-31 | 2024-09-12 | ニデックアドバンステクノロジー株式会社 | 検査治具、及び検査装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR101000005B1 (ko) | 프로브 및 이를 이용한 전기적 접속장치 | |
| EP0781419B1 (en) | Method and device for making connection | |
| US6496026B1 (en) | Method of manufacturing and testing an electronic device using a contact device having fingers and a mechanical ground | |
| CN110678759A (zh) | 电连接装置 | |
| JPH1031034A (ja) | 平行度調整器付きプローブカード | |
| US6459287B1 (en) | Attachable/detachable probing point | |
| JP3828299B2 (ja) | ウェーハテストシステムでのz軸の高さ設定装置及び方法 | |
| JP3334659B2 (ja) | プローブカード | |
| JPH0575178B2 (ja) | ||
| JP3169900B2 (ja) | プローバ | |
| JP3204146B2 (ja) | コンタクトプローブおよびその製造方法、並びにコンタクトプローブを備えたプローブ装置 | |
| JP4185218B2 (ja) | コンタクトプローブとその製造方法、および前記コンタクトプローブを用いたプローブ装置とその製造方法 | |
| JP2674781B2 (ja) | 治具接続装置と接続手段 | |
| KR20060023250A (ko) | 엘. 시. 디 검사 시스템의 프로브 블록 | |
| JPH06334005A (ja) | プローブカード | |
| JPH10221370A (ja) | コンタクトプローブおよびその製造方法、並びにコンタクトプローブを備えたプローブ装置 | |
| JPH0338833Y2 (ja) | ||
| JP2001015227A (ja) | 半導体装置の検査装置 | |
| JPH079380Y2 (ja) | 半導体ウェハー検査装置 | |
| JP4088948B2 (ja) | 半導体テスティング装置 | |
| JPH05160210A (ja) | プローブ装置 | |
| JP3219008B2 (ja) | コンタクトプローブおよびその製造方法と前記コンタクトプローブを備えたプローブ装置 | |
| KR200368491Y1 (ko) | 엘. 시. 디 검사 시스템의 프로브 블록 | |
| JP4185225B2 (ja) | コンタクトプローブの検査装置 | |
| JP4630784B2 (ja) | プローブユニット及びその製造方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20020709 |