JPH10320309A - インタフェース検査装置および検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 １回で複数のインタフェースを検査でき、且
つ不良部分がいずれのインタフェースであるかを区別で
きるインタフェース検査装置などを提供する。 【解決手段】 複数のインタフェースを備えた被検査製
品のインタフェース部を検査するインタフェース検査装
置において、被検査製品２のインタフェース部に合わせ
たセントロニクスインタフェース部１０およびＲＳ２３
２Ｃインタフェース部１１と、検査用のマスターデータ
Ｂ、Ｄを記憶させておくハードディスク装置８と、上記
複数のインタフェースのそれぞれを介して被検査製品２
から送られてきたそれぞれの検査データＡ、Ｃを上記ハ
ードディスク装置８に記憶されたマスターデータＢ、Ｄ
と比較するデータ処理部７と、比較された結果が不一致
であるとき、上記被検査製品２の当該送信インタフェー
ス部が不良である旨を表示させる表示手段とを備えた。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、セントロニクスイ
ンタフェース、ＲＳ２３２Ｃインタフェースなど複数の
インタフェースを備えた情報機器などの製品のインタフ
ェース部を検査するインタフェース検査装置などに係わ
り、特に一つの検査プログラムにより検査を１回で実行
できるインタフェース検査装置などに関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、セントロニクスインタフェース、
ＲＳ２３２Ｃインタフェースなど複数のインタフェース
を備えた複合装置やパーソナルコンピュータなど情報機
器のインタフェース部の検査は、それぞれのインタフェ
ースに対応した複数の検査プログラムにより、複数回に
分けて行っていた。つまり、図１２に示すように、ま
ず、インタフェース検査装置の検査治具をセントロニク
スインタフェース用チェックボード２１とし、セントロ
ニクスインタフェース用検査プログラムを動作させて被
検査製品２のセントロニクスインタフェースを検査し、
次に、インタフェース検査装置の検査治具をＲＳ２３２
Ｃインタフェース用チェックボード２２に交換し、ＲＳ
２３２Ｃインタフェース用検査プログラムを動作させて
被検査製品２のＲＳ２３２Ｃインタフェースを検査す
る。しかし、上記のような方法では、検査治具を交換す
ると共に、異なる検査プログラムを動作する必要があ
り、作業効率が悪い。そのため、特開平７−２００３４
５号公報に示された検査装置では、図１３に示すよう
な、セントロニクスインタフェース回路３１、ＲＳ２３
２Ｃインタフェース回路３２、ＣＰＵ３３、ＲＯＭ３
４、ＲＡＭ３５などを備えた被検査製品２のインタフェ
ース検査を一つのチェックボード２３を用いることによ
り、各インターフェースの検査に際し治具の交換を行う
ことなく実行することができる。つまり、ＲＡＭ３５な
どにロードされた検査プログラムに従って、ＣＰＵ３３
は検査データを例えば最初にセントロニクスインタフェ
ース回路３１から送信し、検査装置内のチェックボード
２３のセントロニクスインタフェース回路でそれを受信
し、受信した検査データをチェックボード２３のＲＳ２
３２Ｃインタフェース回路から送信し、被検査製品２の
ＲＳ２３２Ｃインタフェース回路３２でそれを受信す
る。そして、受信した検査データを送信した検査データ
と比較することにより被検査製品２のインタフェース回
路の良否を判定するものである。引き続いて、ＣＰＵ３
３はＲＳ２３２Ｃインタフェース回路３２からチェック
ボード２３へと検査データを送信し、チェックボード２
３からセントロニクスインタフェース回路３１へと送り
返されてきた検査データを送信検査データと比較して逆
向きの検査を行う。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
特開平７−２００３４５号公報に示された従来技術で
は、不良と判定されたとき、セントロニクスインタフェ
ース回路が不良なのか、ＲＳ２３２Ｃインタフェース回
路が不良なのか区別できないという問題点があった。本
発明の課題は、上記のような従来技術の問題を解決し、
１回で複数のインタフェースを検査でき、且つ不良部分
が送受信回路のいずれであり、いずれのインタフェース
であるかを区別することができるインタフェース検査装
置などを提供することにある。

【０００４】

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに、請求項１記載の発明では、複数のインタフェース
を備えた被検査製品のインタフェース部を検査するイン
タフェース検査装置において、被検査製品と同じ複数の
インタフェースを有するインタフェース部と、所定の検
査データを記憶させておく記憶手段と、上記複数のイン
タフェースのそれぞれを介して被検査製品から送られて
きたそれぞれの検査データを上記記憶手段に記憶された
所定の検査データと比較するデータ比較手段と、上記デ
ータ比較手段により比較された結果が不一致であると
き、上記被検査製品の当該送信インタフェース部が不良
である旨を表示させる表示手段とを備えた。また、請求
項２記載の発明では、複数のインタフェースを備えた被
検査製品のインタフェース部を検査するインタフェース
検査装置において、それぞれのインタフェースを介して
少なくとも被検査製品から受信した受信信号が選択的に
出力される観測ピンと、上記観測ピンに出力させる信号
を選択する信号選択手段と、上記観測ピンに出力された
信号を計測する計測手段と、上記計測手段を制御して所
定の計測を上記計測手段に行わせると共に、上記計測手
段から計測結果を取得する計測制御手段と、上記計測制
御手段により取得された計測結果または上記計測結果に
基づいた判定結果を表示させる表示手段とを備えた。ま
た、請求項３記載の発明では、上記において、受信信号
のタイミングまたは電圧レベルを計測させ、その計測結
果を取得するように計測制御手段を構成した。また、請
求項４記載の発明では、請求項１記載の発明において、
複数のエラーモードおよび上記エラーモードのそれぞれ
に対応付けられた発生可能故障モードから構成されたエ
ラーモード展開テーブルと、データ比較手段により比較
された結果が不一致であるときにエラーモードを判定す
るエラーモード判定手段とを備え、上記エラーモード判
定手段によりエラーモードが判定されたとき、上記エラ
ーモード展開テーブルから上記エラーモードに対応付け
られた発生可能故障モードを取得し、上記エラーモード
および発生可能故障モードを表示させるように表示手段
を構成した。また、請求項５記載の発明では、複数のイ
ンタフェースを備えた被検査製品のインタフェース部を
検査するインタフェース検査方法において、被検査製品
は入力された検査データを記憶しておくと共に、上記検
査データをそれぞれのインタフェースを介してインタフ
ェース検査装置へ送信し、上記インタフェース検査装置
は受信したそれぞれの検査データを予め記憶したおいた
所定の検査データと比較し、比較結果が不一致ならば当
該送信インタフェース部が不良である旨を表示し、さら
に、対応するインタフェースを介して上記所定の検査デ
ータを被検査製品に送信し、上記検査データを受信した
被検査製品は受信した検査データを記憶しておいた送信
検査データと比較し、比較結果が不一致ならば当該受信
インタフェースが不良である旨を表示するようにした。

【０００５】

【作用】上記のような手段にしたので、請求項１記載の
発明では、複数のインタフェースのそれぞれを介して被
検査製品から送られてきたそれぞれの検査データが記憶
手段に記憶された所定の検査データと一致しないなら
ば、上記被検査製品の当該送信インタフェース部が不良
である旨が表示される。請求項２記載の発明では、複数
のインタフェースを介して受信された受信信号に対して
所定の計測が行われ、その計測結果または上記計測結果
に基づいた判定結果が表示される。請求項３記載の発明
では、上記において、受信信号のタイミングまたは電圧
レベルが計測され、その計測結果または上記計測結果に
基づいた判定結果が表示される。請求項４記載の発明で
は、請求項１記載の発明において、比較された結果が不
一致であるとき、エラーモードおよび発生可能故障モー
ドが表示される。請求項５記載の発明では、検査データ
が被検査製品のそれぞれのインタフェースを介してイン
タフェース検査装置へ送信され、上記インタフェース検
査装置において、受信されたそれぞれの検査データが予
め記憶されていた所定の検査データと比較され、比較結
果が不一致ならば当該送信インタフェース部が不良であ
る旨が表示され、さらに、対応するインタフェースを介
して上記所定の検査データが被検査製品に送信され、被
検査製品において、受信された検査データが送信検査デ
ータと比較され、比較結果が不一致ならば当該受信イン
タフェース部が不良である旨が表示される。

【０００６】

【発明の実施の形態】以下、図面により本発明の実施の
形態を詳細に説明する。図１は本発明の第１の形態例の
インタフェース検査システムの構成図である。図示した
ように、この形態例のインタフェース検査システムはイ
ンタフェース検査装置（以下、検査装置と略す）１およ
び複数のインターフェースを備えた被検査製品２から構
成され、それらがセントロニクスインタフェースケーブ
ル９ａおよびＲＳ２３２Ｃインタフェースケーブル９ｂ
で接続されている。また、検査装置１は、表示装置（表
示手段）４およびキーボード５を備えたパーソナルコン
ピュータなどを用いて実現され、その本体３内には、セ
ントロニクスインタフェース部（インターフェース部）
１０およびＲＳ２３２Ｃインタフェース部（インターフ
ェース部）１１を有するチェックボード６、データ処理
を行うデータ処理部（記憶手段並びにデータ比較手段）
７、ハードディスク装置８などを備える。なお、上記チ
ェックボード６およびデータ処理部７はＣＰＵを有して
おり、ハードディスク装置８には、セントロニクスイン
タフェース用マスターデータ（検査データ）、ＲＳ２３
２Ｃインタフェース用マスターデータ、検査プログラム
などが格納されている。また、被検査製品２は、検査対
象のセントロニクスインタフェース部、ＲＳ２３２Ｃイ
ンタフェース部（図示していない）、および検査プログ
ラム（例えば、アプリケーションプログラムの一つとし
て実現する）を備え、上記セントロニクスインタフェー
ス部、ＲＳ２３２Ｃインタフェース部は、それぞれケー
ブル９ａ、９ｂを介して検査装置１内のセントロニクス
インタフェース部１０、ＲＳ２３２Ｃインタフェース部
１１に接続されている。

【０００７】図２および図３に、この形態例の動作フロ
ーを示す。以下、図１〜図３により、この形態例の動作
を説明する。まず、被検査製品２および検査装置１の検
査プログラムを起動させる。これにより、検査装置１の
ハードディスク装置８内の検査プログラムはデータ処理
部７内のＲＡＭにロードされる。被検査製品２において
は、起動された検査プログラムに従って、まず、予め用
意されたセントロニクスインタフェース用検査データＡ
によるプリント出力（印刷）が実行される（Ｓ１）。つ
まり、被検査製品２に含まれるセントロニクスインタフ
ェース部の送信回路、さらにケーブル９ａを介して、検
査データＡが検査装置１のセントロニクスインターフェ
ース部１０に送信される。こうして、検査装置１内のセ
ントロニクスインタフェース部１０において検査データ
Ａが受信され、データ処理部７がその検査データＡを取
得する（Ｓ２）。続いて、データ処理部７は、ハードデ
ィスク装置８からセントロニクスインタフェース用マス
ターデータＢを読み出し、受信した検査データＡとマス
ターデータＢとを比較する（Ｓ３）。そして、それらが
一致しなければ（Ｓ３、Ｎｏ）被検査製品のセントロニ
クスインタフェース部が不良であると判断し（検査装置
側が不良でないことは予め確認されているものとす
る）、その旨を表示装置４に表示させる（Ｓ１４）。

【０００８】次に、紙なし（Ｐａｐｅｒ Ｅｎｄ）信号
を被検査製品が検出できるか否かの検査を行う。そのた
め、データ処理部７は検査プログラムに従ってセントロ
ニクスインタフェース部１０の紙なし信号をＬｏｗレベ
ルに設定し（Ｓ４）、被検査製品２側は、前記検査プロ
グラムに従い、所定時間後に、再びプリント出力を実行
する（Ｓ５）。そして、被検査製品２において、紙なし
が検出されたか否かを判定し（Ｓ６）、検出されなけれ
ば（Ｓ６、Ｎｏ）被検査製品２はその旨（例えば紙なし
信号受信回路などが不良である旨）を被検査製品の表示
装置に表示する（Ｓ１５）。なお、紙なしが検出されな
いとき、被検査製品２はその旨を検査装置１へ通知し、
その通知を取得したデータ処理部７が表示装置４にその
旨を表示させるようにしてもよい。但し、この場合、ス
テップＳ３における判定がＹｅｓである必要があるの
で、ステップＳ１４の不良表示（エラー表示）が行われ
た場合は、ここでこの動作フローを終了させ、検査を打
ち切る。次に、オンライン（ＳＬＣＴ）信号を被検査製
品が検出できるか否かの検査を行う。そのため、データ
処理部７はセントロニクスインタフェース部１０のオン
ライン信号をＬｏｗレベル（オフライン状態）に設定し
（Ｓ７）、被検査製品は、所定時間後に再びプリント出
力を実行する（Ｓ８）。そして、被検査製品２において
オフライン状態が検出されなければ（Ｓ９、Ｎｏ）、前
記のようにして、その旨が被検査製品２の表示装置また
は検査装置１の表示装置４に表示される（Ｓ１６）。

【０００９】こうして、セントロニクスインタフェース
部の検査を終了し、引き続き、ＲＳ２３２Ｃインタフェ
ース部の送信機能の検査を行う。そのため、前記検査プ
ログラムに従い、被検査製品２は、所定時間後にＲＳ２
３２Ｃインタフェース部およびケーブル９ｂを介してＲ
Ｓ２３２Ｃ用検査データＣを送信する（図３のＳ１
０）。これにより、検査装置１内のＲＳ２３２Ｃインタ
フェース部１１において検査データＣが受信され、デー
タ処理部７がその検査データＣを取得する。続いて、デ
ータ処理部７は、ハードディスク装置８からＲＳ２３２
Ｃインタフェース用マスターデータＤを読み出し、受信
した検査データＣとマスターデータＤとを比較する（Ｓ
１１）。そして、それらが一致しなければ（Ｓ１１、Ｎ
ｏ）被検査製品のＲＳ２３２Ｃインタフェース部の送信
回路などが不良であると判断し、その旨を表示装置４に
表示させる（Ｓ１７）。

【００１０】次に、データ処理部７は、ＲＳ２３２Ｃイ
ンタフェース部１１の送信手段を介して、ＲＳ２３２Ｃ
インタフェース用マスターデータＤを被検査製品２へ送
信する（Ｓ１２）。そして、被検査製品２のＲＳ２３２
Ｃインタフェース部がマスターデータＤを受信すると、
被検査製品２のデータ処理部は記憶しておいた検査デー
タＣと受信したマスターデータＤとを比較し（Ｓ１
３）、不一致ならば（Ｓ１３、Ｎｏ）、ＲＳ２３２Ｃイ
ンタフェース部の受信手段が不良であると判断し、その
旨を被検査製品の表示装置に表示させる（Ｓ１８）。ま
たは、この旨を検査装置１に通知して検査装置１の表示
装置４に表示させる。こうして、この形態例によれば、
一つの検査プログラムを使用し、１回の検査で複数のイ
ンタフェース部の検査ができる。また、不良部分が送受
信手段のいずれであり、いずれのインタフェースである
かを区別することができる。

【００１１】図４は本発明の第２の形態例を示すインタ
フェース検査システムの構成図である。図示したよう
に、この形態例の検査装置１ａは、第１の形態例の構成
に加え、電圧や時間を計測する例えば、ディジタルオシ
ロスコープ等の計測器（計測手段）１２を備え、また、
本体３ａ内には、上記計測器１２を制御して測定値を取
得するＧＰＩＢボード１３を備えている。特許請求の範
囲において、計測制御手段とはＧＰＩＢボード１３並び
にデータ処理部７を意味する。また、チェックボード６
ａは、図５に示すように、複数のインタフェースのそれ
ぞれの送受信信号が選択的に出力される観測ピン１４、
インタフェースケーブル９ａ、９ｂ内の各信号線と上記
観測ピン１４とを接続する線上に設けられたリレー１
５、上記リレー１５を制御して観測ピン１４に出力する
送受信信号を選択する信号切り替え回路１６を備える。
（リレー１５及び信号切替回路１６により信号選択手段
を構成している。） 図６に、観測ピン１４に出力された送受信信号のタイミ
ングチャートを示す。この形態例の検査装置１ａは、例
えば、図示のセットアップ時間（ｔ ｓｅｔ）、ホール
ド時間（ｔ ｈｏｌｄ）、ＳＴＲＯＢＥ信号パルス幅
（ｔ ｓｔｂ）などが規格値を満たしているか否かなど
を検査するわけである（図７参照）。

【００１２】図８に、この形態例の動作フローを示す。
以下、図８などにより、第２の形態例の動作を説明す
る。まず、計測器（ディジタルオシロスコープ）１２を
起動すると共に、計測器１２の複数のプローブを複数の
観測ピン１４にセットする（Ｓ２１）。続いて、観測し
ようとする信号を観測ピン１４に出力させるため、デー
タ処理部７が信号切り替え回路１６を制御し、信号切り
替え回路１６が対応するリレー１５を開閉させる（Ｓ２
２）。例えば、上記セットアップ時間、ホールド時間、
ＳＴＲＯＢＥパルス幅などを計測しようとする場合は、
ＳＴＲＯＢＥ信号につながったリレー１５を閉状態にし
て一つの観測ピン１４にＳＴＲＯＢＥ信号が出力される
ようにし、また、データ信号Ｄ１につながったリレー１
５を閉状態にして他の一つの観測ピン１４にデータ信号
Ｄ１が出力されるようにする。さらに、データ処理部７
はＧＰＩＢボード１３を制御し、ＧＰＩＢボード１３が
計測器１２から例えば上記セットアップ時間、ホールド
時間、ＳＴＲＯＢＥパルス幅を取得するように計測器１
２の設定を行わせる（Ｓ２３）。次に、被検査製品２内
の検査プログラムを起動させて、セントロニクスインタ
フェースを用いたプリント出力を実行させる（Ｓ２
４）。そして、データ処理部７は、例えばデータＤ１に
ついて、上記各時間などを計測器１２において計測させ
（例えばディジタルオシロスコープにストレージす
る）、さらに、ＧＰＩＢボードを制御して上記各時間な
どを取得させ、データ処理部７内のＲＡＭに取り込み、
保持する（Ｓ２５）。同様にして、データＤ２〜Ｄ８に
ついても上記各時間を計測させ、それらの時間を取得
し、保持する（Ｓ２６→Ｓ２２〜Ｓ２６）。こうして、
全ての観測点の計測を完了すると（Ｓ２６、Ｙｅｓ）、
データ処理部７はＲＡＭに取り込まれた計測情報（観測
データ）を参照し、タイミングや電圧レベルなどが規格
内か否かを判定する（Ｓ２７）。そして、規格内でなけ
れば（Ｓ２７、Ｎｏ）その旨を表示装置（表示手段）４
に表示させる（Ｓ２８）。あるいは、取得した計測情報
をそのまま表示させてもよい。なお、上記においては、
タイミングを計測する例で説明したが、計測項目はタイ
ミングだけに限定されず、信号の電圧レベルでもよい
し、その他の計測項目でもよい。この形態例によれば、
被検査製品のインタフェース部から出力される信号のタ
イミングや電圧レベルなどが規格を満たしているか否か
というような厳密な検査まで行うことができる。

【００１３】本発明の第３の形態例では、第１の形態例
において被検査製品が不良であると判定されたとき、図
９に示すような、エラーモードと該エラーモードに対応
付けられた発生可能故障モードとから構成されたエラー
モード展開データを表示させることができる。つまり、
この形態例では、図９に示すようなエラーモード展開テ
ーブルを、予めハードディスク装置８などに設定してお
くわけである。なお、発生可能故障モードとは、列挙し
た複数の故障モードのいずれかの原因により、対応した
エラーモードが発生することを示している。また、特許
請求の範囲において、エラーモード判定手段はデータ処
理部７を意味する。

【００１４】以下、図１０および図１１に示す動作フロ
ー図などに従って、この形態例の動作を説明する。但
し、図１０および図１１のステップＳ１〜Ｓ１３は、第
１の形態例（図２および図３）のステップＳ１〜Ｓ１３
と同じであるので、説明を省略する。図１０に示したよ
うに、ステップＳ３において、検査データとマスターデ
ータとが不一致の場合は（Ｓ３、Ｎｏ）、データ処理部
７はエラーモードを決定する（Ｓ３１）。なお、エラー
モードは、エラー（被検査製品の不良）がどのステップ
で発生したかにより決定することができ、例えばステッ
プＳ３で発生するエラーモードは、ＥＲＲ１０またはＥ
ＲＲ１１である（図９参照）。続いて、データ処理部７
はハードディスク装置８内のエラーモード展開テーブル
からエラーモードに対応付けられた発生可能故障モード
を取り出し、エラーモードおよび上記発生可能故障モー
ドを表示装置４に表示する（Ｓ３２）。したがって、利
用者は、表示された発生可能故障モードを見て、故障箇
所を容易に発見することができる。なお、ステップＳ３
３、Ｓ３５、Ｓ３７、Ｓ３９におけるエラーモード決定
はステップＳ３１と同じであり、ステップＳ３４、Ｓ３
６、Ｓ３８、Ｓ４０における表示動作はステップＳ３２
と同じであるので、説明を省略する。以上、インタフェ
ースがセントロニクスおよびＲＳ２３２Ｃの場合で説明
したが、この発明が適用可能なインタフェースはこれら
二つのインタフェースに制限されるものではない。ま
た、検査データは、インタフェースによって異なったデ
ータにしたが、共通の検査データを用いてもよい。

【００１５】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
請求項１記載の発明では、複数のインタフェースのそれ
ぞれを介して被検査製品から送られてきたそれぞれの検
査データが記憶手段に記憶された所定の検査データと一
致しないならば、上記被検査製品の当該送信インタフェ
ース部が不良である旨が表示されるので、利用者はどの
インタフェースの不良であるかを区別できる。また、請
求項２記載の発明では、複数のインタフェースを介して
受信された受信信号に対して所定の計測が行われ、その
計測結果または上記計測結果に基づいた判定結果が表示
されるので、厳密なインタフェース検査を簡単に行うこ
とができる。また、請求項３記載の発明では、上記にお
いて、受信信号のタイミングまたは電圧レベルが計測さ
れ、その計測結果または上記計測結果に基づいた判定結
果が表示されるので、被検査製品のインタフェース信号
のタイミングまたは電圧レベルの計測結果から被検査製
品のインタフェース部の良否を判定できる。また、請求
項４記載の発明では、請求項１記載の発明において、比
較された結果が不一致であるとき、エラーモードおよび
発生可能故障モードが表示されるので、故障箇所の発見
が容易になる。また、請求項５記載の発明では、検査デ
ータが被検査製品のそれぞれのインタフェースを介して
インタフェース検査装置へ送信され、上記インタフェー
ス検査装置において、受信されたそれぞれの検査データ
が予め記憶されていた所定の検査データと比較され、比
較結果が不一致ならば当該送信インタフェース部が不良
である旨が表示され、さらに、対応するインタフェース
を介して上記所定の検査データが被検査製品に送信さ
れ、被検査製品において、受信された検査データが送信
検査データと比較され、比較結果が不一致ならば当該受
信インタフェース部が不良である旨が表示されるので、
利用者はどのインタフェースの不良であるか、また、送
受信手段のいずれが不良であるかを区別できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の形態例のインタフェース検査シ
ステムの構成図。

【図２】本発明の第１の形態例のインタフェース検査シ
ステムの動作フロー図。

【図３】本発明の第１の形態例のインタフェース検査シ
ステムの他の動作フロー図。

【図４】本発明の第２の形態例のインタフェース検査シ
ステムの構成図。

【図５】本発明の第２の形態例のインタフェース検査装
置要部の構成ブロック図。

【図６】本発明の第２の形態例のインタフェース検査装
置要部のタイミングチャートである。

【図７】本発明の第２の形態例のインタフェース検査装
置要部の説明図。

【図８】本発明の第２の形態例のインタフェース検査シ
ステムの動作フロー図。

【図９】本発明の第３の形態例のインタフェース検査装
置要部の説明図。

【図１０】本発明の第３の形態例のインタフェース検査
システムの動作フロー図。

【図１１】本発明の第３の形態例のインタフェース検査
システムの他の動作フロー図。

【図１２】従来技術の一例を示すインタフェース検査シ
ステムの構成図。

【図１３】従来技術の他の例を示すインタフェース検査
システムの構成図。

【符号の説明】

１・・・インタフェース検査装置、２・・・被検査製
品、３・・・本体、４・・・表示装置、６・・・チェッ
クボード、７・・・データ処理部、８・・・ハードディ
スク装置、１０・・・セントロニクスインタフェース
部、１１・・・ＲＳ２３２Ｃインタフェース部、１２・
・・計測器、１３・・・ＧＰＩＢボード、１４・・・観
測ピン、１５・・・リレー、１６・・・信号切り替え回
路

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 複数のインタフェースを備えた被検査製
   品のインタフェース部を検査するインタフェース検査装
   置において、被検査製品と同じ複数のインタフェースを
   有するインタフェース部と、所定の検査データを記憶さ
   せておく記憶手段と、上記複数のインタフェースのそれ
   ぞれを介して被検査製品から送られてきたそれぞれの検
   査データを上記記憶手段に記憶された所定の検査データ
   と比較するデータ比較手段と、上記データ比較手段によ
   り比較された結果が不一致であるとき、上記被検査製品
   の当該送信インタフェース部が不良である旨を表示させ
   る表示手段とを備えたことを特徴とするインタフェース
   検査装置。
2. 【請求項２】 複数のインタフェースを備えた被検査製
   品のインタフェース部を検査するインタフェース検査装
   置において、それぞれのインタフェースを介して少なく
   とも被検査製品から受信した受信信号が選択的に出力さ
   れる観測ピンと、上記観測ピンに出力させる信号を選択
   する信号選択手段と、上記観測ピンに出力された信号を
   計測する計測手段と、上記計測手段を制御して所定の計
   測を上記計測手段に行わせると共に、上記計測手段から
   計測結果を取得する計測制御手段と、上記計測制御手段
   により取得された計測結果または上記計測結果に基づい
   た判定結果を表示させる表示手段とを備えたことを特徴
   とするインタフェース検査装置。
3. 【請求項３】 請求項２のインタフェース検査装置にお
   いて、受信信号のタイミングまたは電圧レベルを計測さ
   せ、その計測結果を取得するように計測制御手段を構成
   したことを特徴とするインタフェース検査装置。
4. 【請求項４】 請求項１のインタフェース検査装置にお
   いて、複数のエラーモードおよび上記エラーモードのそ
   れぞれに対応付けられた発生可能故障モードから構成さ
   れたエラーモード展開テーブルと、データ比較手段によ
   り比較された結果が不一致であるときにエラーモードを
   判定するエラーモード判定手段とを備え、上記エラーモ
   ード判定手段によりエラーモードが判定されたとき、上
   記エラーモード展開テーブルから上記エラーモードに対
   応付けられた発生可能故障モードを取得し、上記エラー
   モードおよび発生可能故障モードを表示させるように表
   示手段を構成したことを特徴とするインタフェース検査
   装置。
5. 【請求項５】 複数のインタフェースを備えた被検査製
   品のインタフェース部を検査するインタフェース検査方
   法において、被検査製品は入力された検査データを記憶
   しておくと共に、上記検査データをそれぞれのインタフ
   ェースを介してインタフェース検査装置へ送信し、上記
   インタフェース検査装置は受信したそれぞれの検査デー
   タを予め記憶しておいた所定の検査データと比較し、比
   較結果が不一致ならば当該送信インタフェース部が不良
   である旨を表示し、さらに、対応するインタフェースを
   介して上記所定の検査データを被検査製品に送信し、上
   記検査データを受信した被検査製品は受信した検査デー
   タを記憶しておいた送信検査データと比較し、比較結果
   が不一致ならば当該受信インタフェースが不良である旨
   を表示するようにしたことを特徴とするインタフェース
   検査方法。