JPH10320847A - ディスク基板及びその製造方法並びにその製造装置 - Google Patents
ディスク基板及びその製造方法並びにその製造装置Info
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- JPH10320847A JPH10320847A JP9129960A JP12996097A JPH10320847A JP H10320847 A JPH10320847 A JP H10320847A JP 9129960 A JP9129960 A JP 9129960A JP 12996097 A JP12996097 A JP 12996097A JP H10320847 A JPH10320847 A JP H10320847A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 樹脂製ディスク基板のバリを除去して外観欠
陥がなく、しかも強度が向上された高品質な樹脂製ディ
スク基板及びその製造方法並びにその製造装置を提供す
る。 【解決手段】 ディスク基板の製造方法は、樹脂製のデ
ィスク基板2の少なくとも外周部又は内周部に対してレ
ーザ光を照射して一時的に溶融させる工程を含む。ま
た、ディスク基板の製造装置1は、ディスク基板2を回
転支持するワークテーブル3と、ワークテーブル3上の
所定位置にディスク基板2を位置決めする位置決め部材
と、位置決め後にワークテーブル3により回転支持され
たディスク基板2に対してレーザ光を照射するレーザ光
源4とを備える。ディスク基板2は、外周部に高さ15
μm以下の盛り上がり26が形成され、盛り上がり26
が形成された部分の厚みがディスク基板2の最外周部の
厚みよりも厚くなされている。
陥がなく、しかも強度が向上された高品質な樹脂製ディ
スク基板及びその製造方法並びにその製造装置を提供す
る。 【解決手段】 ディスク基板の製造方法は、樹脂製のデ
ィスク基板2の少なくとも外周部又は内周部に対してレ
ーザ光を照射して一時的に溶融させる工程を含む。ま
た、ディスク基板の製造装置1は、ディスク基板2を回
転支持するワークテーブル3と、ワークテーブル3上の
所定位置にディスク基板2を位置決めする位置決め部材
と、位置決め後にワークテーブル3により回転支持され
たディスク基板2に対してレーザ光を照射するレーザ光
源4とを備える。ディスク基板2は、外周部に高さ15
μm以下の盛り上がり26が形成され、盛り上がり26
が形成された部分の厚みがディスク基板2の最外周部の
厚みよりも厚くなされている。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、磁気ディスク、光
ディスク及び光磁気ディスクのように情報信号の記録媒
体となるディスクを構成する樹脂製のディスク基板及び
その製造方法並びにその製造装置に関する。
ディスク及び光磁気ディスクのように情報信号の記録媒
体となるディスクを構成する樹脂製のディスク基板及び
その製造方法並びにその製造装置に関する。
【0002】
【従来の技術】光ディスク、光磁気ディスク、磁気ディ
スク等のディスクにおいては、光透過性を有するポリカ
ーボネート樹脂等の合成樹脂材料によって成形されたデ
ィスク基板が用いられている。このディスク基板は、そ
の略中心部に中心孔が設けられている。
スク等のディスクにおいては、光透過性を有するポリカ
ーボネート樹脂等の合成樹脂材料によって成形されたデ
ィスク基板が用いられている。このディスク基板は、そ
の略中心部に中心孔が設けられている。
【0003】通常、樹脂製ディスク基板は、射出成形に
より製造される。すなわち、これらの基板を作製する際
は、樹脂等からなる基板材料を、加熱して溶融させた上
で、所望する基板形状に対応したキャビティ内に高圧で
照射する。そして、基板材料が冷却し硬化した後、キャ
ビティから取り出すことにより、所望する形状の基板が
作製される。
より製造される。すなわち、これらの基板を作製する際
は、樹脂等からなる基板材料を、加熱して溶融させた上
で、所望する基板形状に対応したキャビティ内に高圧で
照射する。そして、基板材料が冷却し硬化した後、キャ
ビティから取り出すことにより、所望する形状の基板が
作製される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、通常の射出
成形においては、金型内部のガス抜きが行われる。
成形においては、金型内部のガス抜きが行われる。
【0005】しかしながら、金型内部に成形されたディ
スク基板は、その外周部や内周部に隙間を有するため、
このガス抜きによってこの隙間に樹脂が引きずり込ま
れ、その結果外周部や内周部に、バリが形成されてしま
う。このバリは、金型から取り出す際の影響を受けて非
常に脆く欠け易い状態となる。すなわち、ディスク基板
は、外周部や内周部に形成された上述のバリによって、
外周部や内周部の強度が著しく弱くなってしまう。
スク基板は、その外周部や内周部に隙間を有するため、
このガス抜きによってこの隙間に樹脂が引きずり込ま
れ、その結果外周部や内周部に、バリが形成されてしま
う。このバリは、金型から取り出す際の影響を受けて非
常に脆く欠け易い状態となる。すなわち、ディスク基板
は、外周部や内周部に形成された上述のバリによって、
外周部や内周部の強度が著しく弱くなってしまう。
【0006】このため、射出成形により成形されるディ
スク基板においては、例えば検査工程や組立工程等にお
けるディスク基板の搬送時に、外周クランプや外周及び
/又は内周バキュームハンドリング方式等によって搬送
治具のハンドエリアが外周部及び/又は内周部のバリに
直接接触すると、このバリが脱落してしまうといった問
題があった。
スク基板においては、例えば検査工程や組立工程等にお
けるディスク基板の搬送時に、外周クランプや外周及び
/又は内周バキュームハンドリング方式等によって搬送
治具のハンドエリアが外周部及び/又は内周部のバリに
直接接触すると、このバリが脱落してしまうといった問
題があった。
【0007】さらに、樹脂製ディスク基板に磁性層をス
パッタリングした後、外周部や内周部を加圧すると、外
周部や内周部にバリが形成されている場合、バリの部分
にヒビが入ってしまい、吸水や吸着による膜剥がれ等の
品質低下を引き起こすといった問題があった。
パッタリングした後、外周部や内周部を加圧すると、外
周部や内周部にバリが形成されている場合、バリの部分
にヒビが入ってしまい、吸水や吸着による膜剥がれ等の
品質低下を引き起こすといった問題があった。
【0008】また、射出成形された樹脂製ディスク基板
には、バリとともに、図13に示すように、最外周部に
近づくに従い、ディスク基板の厚さが厚くなるホーニン
グ現象が発生する。通常、ハードディスクにおいては、
浮上ヘッドスライダが外周部からディスクの記録面上に
向かって半径方向に走行される。このため、このホーニ
ングが小さい程好ましく、しかもハードディスクドライ
ブの設計の都合上、ある規格以内に抑えなければならな
い。ところが、ディスク基板にバリが形成されている
と、このホーニングが規格範囲を越えてしまうことがあ
った。
には、バリとともに、図13に示すように、最外周部に
近づくに従い、ディスク基板の厚さが厚くなるホーニン
グ現象が発生する。通常、ハードディスクにおいては、
浮上ヘッドスライダが外周部からディスクの記録面上に
向かって半径方向に走行される。このため、このホーニ
ングが小さい程好ましく、しかもハードディスクドライ
ブの設計の都合上、ある規格以内に抑えなければならな
い。ところが、ディスク基板にバリが形成されている
と、このホーニングが規格範囲を越えてしまうことがあ
った。
【0009】そこで、本発明は、従来の実情を鑑みて提
案されたものであり、樹脂製ディスク基板のバリを除去
して外観欠陥がなく、その結果外周部や内周部の強度を
向上させることができて高品質とされた樹脂製ディスク
基板を提供することを目的とする。
案されたものであり、樹脂製ディスク基板のバリを除去
して外観欠陥がなく、その結果外周部や内周部の強度を
向上させることができて高品質とされた樹脂製ディスク
基板を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成する本
発明に係るディスク基板の製造方法は、樹脂製のディス
ク基板の少なくとも外周部または内周部に対して、レー
ザ光を照射して一時的に溶融させる工程を含むことを特
徴とする。
発明に係るディスク基板の製造方法は、樹脂製のディス
ク基板の少なくとも外周部または内周部に対して、レー
ザ光を照射して一時的に溶融させる工程を含むことを特
徴とする。
【0011】以上の工程を有する本発明に係るディスク
基板の製造方法によれば、ディスク基板の少なくとも外
周部または内周部に対してレーザ光を照射して一時的に
溶融させる工程を経ることにより、ディスク基板の材料
の一部が溶融されて成形時に生じたバリを除去したり、
あるいは脱落しない状態とすることができ、その結果デ
ィスク基板の強度を向上させることが可能となる。
基板の製造方法によれば、ディスク基板の少なくとも外
周部または内周部に対してレーザ光を照射して一時的に
溶融させる工程を経ることにより、ディスク基板の材料
の一部が溶融されて成形時に生じたバリを除去したり、
あるいは脱落しない状態とすることができ、その結果デ
ィスク基板の強度を向上させることが可能となる。
【0012】上述の目的を達成する本発明に係るディス
ク基板の製造装置は、ディスク基板を支持するとともに
回転駆動するワークテーブルと、上記ワークテーブル上
の所定位置にディスク基板を位置決めする位置決め部材
と、上記位置決め部材によって位置決めされた後に上記
ワークテーブルによって回転支持されたディスク基板の
少なくとも外周部または内周部に対して、レーザ光を照
射するレーザ光源とを備えることを特徴とする。また、
上記位置決め部材は、ディスク基板の略中心部に形成さ
れた中心孔に挿入されてディスク基板を位置決めすると
好ましい。
ク基板の製造装置は、ディスク基板を支持するとともに
回転駆動するワークテーブルと、上記ワークテーブル上
の所定位置にディスク基板を位置決めする位置決め部材
と、上記位置決め部材によって位置決めされた後に上記
ワークテーブルによって回転支持されたディスク基板の
少なくとも外周部または内周部に対して、レーザ光を照
射するレーザ光源とを備えることを特徴とする。また、
上記位置決め部材は、ディスク基板の略中心部に形成さ
れた中心孔に挿入されてディスク基板を位置決めすると
好ましい。
【0013】以上のように構成された本発明に係るディ
スク基板の製造装置によれば、ワークテーブル上の所定
位置にディスク基板を位置決めする位置決め部材と、デ
ィスク基板上にレーザ光を照射するレーザ光源とを備え
ることによって、ディスク基板上の適切な位置にレーザ
光を照射することができるため、成形時に生じたディス
ク基板上のバリを効率良く除去したり、あるいは脱落し
ない状態にして、外観欠陥を無くし、その結果ディスク
基板の強度を向上させることができる。
スク基板の製造装置によれば、ワークテーブル上の所定
位置にディスク基板を位置決めする位置決め部材と、デ
ィスク基板上にレーザ光を照射するレーザ光源とを備え
ることによって、ディスク基板上の適切な位置にレーザ
光を照射することができるため、成形時に生じたディス
ク基板上のバリを効率良く除去したり、あるいは脱落し
ない状態にして、外観欠陥を無くし、その結果ディスク
基板の強度を向上させることができる。
【0014】上述の目的を達成する本発明のディスク基
板は、樹脂からなり、外周部が高さ15μm以下の盛り
上がりを有するとともに、その盛り上がりが形成された
部分における厚みがディスク基板の最外周部の厚みより
も厚くなされていることを特徴とする。
板は、樹脂からなり、外周部が高さ15μm以下の盛り
上がりを有するとともに、その盛り上がりが形成された
部分における厚みがディスク基板の最外周部の厚みより
も厚くなされていることを特徴とする。
【0015】以上のように構成された本発明に係るディ
スク基板によれば、外周部に盛り上がりを有するため、
強度が向上され、しかもその盛り上がりの高さが15μ
m以下となされているため、浮上ヘッドスライダがディ
スクの外周部から記録面に向かって半径方向に走行する
ことを考慮した場合にホーニングの許容範囲内とするこ
とができる。
スク基板によれば、外周部に盛り上がりを有するため、
強度が向上され、しかもその盛り上がりの高さが15μ
m以下となされているため、浮上ヘッドスライダがディ
スクの外周部から記録面に向かって半径方向に走行する
ことを考慮した場合にホーニングの許容範囲内とするこ
とができる。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態として
図面を参照しながら詳細に説明する。
図面を参照しながら詳細に説明する。
【0017】本発明を適用したディスク基板の製造装置
は、樹脂製のディスク基板上にレーザ光を照射する製造
装置であり、例えば図1乃至図3に示すような構成とさ
れる。図1は、本発明に係るディスク基板の製造装置の
正面図であり、図2は図1に示すディスク基板の製造装
置の線Aにおける断面図であり、図3は要部斜視図であ
る。
は、樹脂製のディスク基板上にレーザ光を照射する製造
装置であり、例えば図1乃至図3に示すような構成とさ
れる。図1は、本発明に係るディスク基板の製造装置の
正面図であり、図2は図1に示すディスク基板の製造装
置の線Aにおける断面図であり、図3は要部斜視図であ
る。
【0018】このディスク基板の製造装置1は、ディス
ク基板2を配置し支持するとともに回転駆動するワーク
テーブル3と、このワークテーブル3上の所定位置にデ
ィスク基板2を位置決めする位置決め部材と、ディスク
基板2上にレーザ光を照射するレーザ光源4と、ワーク
テーブル3を支持する基台と、上記基台の一部に取り付
けられワークテーブル3を回転駆動するモータ5とを備
える。ワークテーブル3を支持する基台と、モータ5と
は、基盤6上に配置されている。
ク基板2を配置し支持するとともに回転駆動するワーク
テーブル3と、このワークテーブル3上の所定位置にデ
ィスク基板2を位置決めする位置決め部材と、ディスク
基板2上にレーザ光を照射するレーザ光源4と、ワーク
テーブル3を支持する基台と、上記基台の一部に取り付
けられワークテーブル3を回転駆動するモータ5とを備
える。ワークテーブル3を支持する基台と、モータ5と
は、基盤6上に配置されている。
【0019】また、上記位置決め部材としては、ディス
ク基板2をワークテーブル3の所定位置に配置させて位
置決めし、その後上記ディスク基板2から離脱する第1
の位置決め部材7と、上記第1の位置決め部材7により
位置決めされたディスク基板2の中心孔に挿入されて再
度位置決めをし、その後ディスク基板2から離脱する第
2の位置決め部材8とを備える。
ク基板2をワークテーブル3の所定位置に配置させて位
置決めし、その後上記ディスク基板2から離脱する第1
の位置決め部材7と、上記第1の位置決め部材7により
位置決めされたディスク基板2の中心孔に挿入されて再
度位置決めをし、その後ディスク基板2から離脱する第
2の位置決め部材8とを備える。
【0020】また、基台としては、ワークテーブル3を
支持する第1の基台9と、第1の基台9を支持する第2
の基台10とを備える。
支持する第1の基台9と、第1の基台9を支持する第2
の基台10とを備える。
【0021】ワークテーブル3は、円柱の上端に凸部を
有する形状とされ、その略中心部に第1の位置決め部材
7と、第1の位置決め部材を支持するスライド軸17と
が貫通する中心孔を有する。また、ワークテーブル3
は、上記凸部の上端部にテーブル面3aを有する。この
テーブル面3aにディスク基板2が配置されて位置決め
される。
有する形状とされ、その略中心部に第1の位置決め部材
7と、第1の位置決め部材を支持するスライド軸17と
が貫通する中心孔を有する。また、ワークテーブル3
は、上記凸部の上端部にテーブル面3aを有する。この
テーブル面3aにディスク基板2が配置されて位置決め
される。
【0022】また、ワークテーブル3は、その外周の一
部を第1の基台9で支持される。さらに、ワークテーブ
ル3は、第1の基台9との接面の凹部にベアリング軸受
11が配されて、モータ5により回転する。このとき、
ディスク基板2は、ワークテーブル3上に配置され、ワ
ークテーブル3により支持されるとともにワークテーブ
ル3と同期して回転する。
部を第1の基台9で支持される。さらに、ワークテーブ
ル3は、第1の基台9との接面の凹部にベアリング軸受
11が配されて、モータ5により回転する。このとき、
ディスク基板2は、ワークテーブル3上に配置され、ワ
ークテーブル3により支持されるとともにワークテーブ
ル3と同期して回転する。
【0023】さらに、ワークテーブル3には、凸部でか
つディスク基板2と接する面であるテーブル面3a上
に、ディスク吸引口12を有する。このディスク吸引口
12は、ワークテーブル3内の空気吸引管13に接続さ
れ、さらに第1の基台9との接面の一部に開口部を臨む
空気溜槽14に連結されている。この空気溜槽14は、
第1の基台9を貫通する空気流通管15そして空気吸引
口16に連結されている。後述するように、テーブル面
3a上に配置されたディスク基板2は、このディスク吸
引口12から空気吸引管13、空気溜槽14及び空気流
通管15を経て空気吸引口16へと図示しないエジェク
タによって吸引され、テーブル面3a上に固定される。
つディスク基板2と接する面であるテーブル面3a上
に、ディスク吸引口12を有する。このディスク吸引口
12は、ワークテーブル3内の空気吸引管13に接続さ
れ、さらに第1の基台9との接面の一部に開口部を臨む
空気溜槽14に連結されている。この空気溜槽14は、
第1の基台9を貫通する空気流通管15そして空気吸引
口16に連結されている。後述するように、テーブル面
3a上に配置されたディスク基板2は、このディスク吸
引口12から空気吸引管13、空気溜槽14及び空気流
通管15を経て空気吸引口16へと図示しないエジェク
タによって吸引され、テーブル面3a上に固定される。
【0024】ディスク吸引口12は、図3に示すよう
に、ディスク基板2の面に対して8箇所配置されてお
り、よりディスク基板2を均一に吸引するようになされ
ている。なお、ディスク吸引口12は、ディスク基板2
を均一に吸引するものであれば、配置される数は幾つで
あっても良い。
に、ディスク基板2の面に対して8箇所配置されてお
り、よりディスク基板2を均一に吸引するようになされ
ている。なお、ディスク吸引口12は、ディスク基板2
を均一に吸引するものであれば、配置される数は幾つで
あっても良い。
【0025】また、ここで、空気溜槽14は、上述の8
箇所に配置されたディスク吸引口12及びそれに続く空
気吸引管13を一つに連結しており、リング状となされ
ている。よって、この空気溜槽14により、8箇所のデ
ィスク吸引口12からの空気流を1つにまとめて空気流
を均一にすることができ、その結果図示しないエジェク
タによりディスク基板2を吸引することができる。
箇所に配置されたディスク吸引口12及びそれに続く空
気吸引管13を一つに連結しており、リング状となされ
ている。よって、この空気溜槽14により、8箇所のデ
ィスク吸引口12からの空気流を1つにまとめて空気流
を均一にすることができ、その結果図示しないエジェク
タによりディスク基板2を吸引することができる。
【0026】位置決め部材としては、上述したように、
第1の位置決め部材7と、第2の位置決め部材8とから
構成される。
第1の位置決め部材7と、第2の位置決め部材8とから
構成される。
【0027】第1の位置決め部材7は、スライド軸17
の一端部に取り付けられており、図示しないシリンダに
よりディスク基板2の垂直方向に上下自在にスライドす
るようになされている。このとき、スライド軸17は、
軸の外周部の一部に配されたリニアブッシュ18により
軸受けされている。この第1の位置決め部材7は、後述
するように、その表面上にディスク基板2が配置され、
このディスク基板2を搬送してワークテーブル3の所定
位置に配置して位置決めするようになされている。ま
た、リニアブッシュ止輪19がリニアブッシュ18の上
端部に取り付けられている。
の一端部に取り付けられており、図示しないシリンダに
よりディスク基板2の垂直方向に上下自在にスライドす
るようになされている。このとき、スライド軸17は、
軸の外周部の一部に配されたリニアブッシュ18により
軸受けされている。この第1の位置決め部材7は、後述
するように、その表面上にディスク基板2が配置され、
このディスク基板2を搬送してワークテーブル3の所定
位置に配置して位置決めするようになされている。ま
た、リニアブッシュ止輪19がリニアブッシュ18の上
端部に取り付けられている。
【0028】第2の位置決め部材8は、支持ブラケット
20により支持され、この支持ブラケット20が高さ調
節軸21に取り付けられている。そしてこの高さ調節軸
21は、支持ブラケット20が取り付けられた側とは反
対側をシリンダ40に連結している。これにより、第2
の位置決め部材8は、ディスク基板2の面に対して垂直
方向に上下自在にスライドするようになされている。こ
の第2の位置決め部材8は、第1の位置決め部材7によ
りテーブル面3a上の所定位置に配置されたディスク基
板2の中心孔に挿入されて、ディスク基板2を再度位置
決めするようになされている。
20により支持され、この支持ブラケット20が高さ調
節軸21に取り付けられている。そしてこの高さ調節軸
21は、支持ブラケット20が取り付けられた側とは反
対側をシリンダ40に連結している。これにより、第2
の位置決め部材8は、ディスク基板2の面に対して垂直
方向に上下自在にスライドするようになされている。こ
の第2の位置決め部材8は、第1の位置決め部材7によ
りテーブル面3a上の所定位置に配置されたディスク基
板2の中心孔に挿入されて、ディスク基板2を再度位置
決めするようになされている。
【0029】特に、第2の位置決め部材8による位置決
めは、ディスク基板2の偏心を許容範囲内に抑えるよう
に再度位置決めするものである。この第2の位置決め部
材8により、より正確な所定位置にディスク基板2を位
置決めすることができて、レーザ光の照射によるバリの
除去が効率良く行えることができる。なお、これら位置
決め部材の位置決め機構については、後述する。
めは、ディスク基板2の偏心を許容範囲内に抑えるよう
に再度位置決めするものである。この第2の位置決め部
材8により、より正確な所定位置にディスク基板2を位
置決めすることができて、レーザ光の照射によるバリの
除去が効率良く行えることができる。なお、これら位置
決め部材の位置決め機構については、後述する。
【0030】基台は、上述したように、第1の基台9と
第2の基台10とから構成される。第1の基台9は、ワ
ークテーブル3を直接支持するものであり、図3に示す
ように、円柱部に円盤状の基台テーブル部22が設置さ
れた形状であり、その略中央部にワークテーブル3の円
柱部が挿入される中心孔23を有する。また、基台テー
ブル部22は、ワークテーブル3を直接支持するように
なされている。第1の基台9には、ワークテーブル3と
接する内側面部にベアリング軸受11が配置されてお
り、スライド軸17を中心として回転するワークテーブ
ル3を支持するようになされている。ここで、第1の基
台9は、常に固定されたままである。
第2の基台10とから構成される。第1の基台9は、ワ
ークテーブル3を直接支持するものであり、図3に示す
ように、円柱部に円盤状の基台テーブル部22が設置さ
れた形状であり、その略中央部にワークテーブル3の円
柱部が挿入される中心孔23を有する。また、基台テー
ブル部22は、ワークテーブル3を直接支持するように
なされている。第1の基台9には、ワークテーブル3と
接する内側面部にベアリング軸受11が配置されてお
り、スライド軸17を中心として回転するワークテーブ
ル3を支持するようになされている。ここで、第1の基
台9は、常に固定されたままである。
【0031】また、第1の基台9には、上述したよう
に、ワークテーブル3に配置された空気溜槽14と連結
する空気流通管15が第1の基台9の厚み方向に配置さ
れ、第1の基台9の外側面に形成された空気吸引口16
に連結されている。空気吸引口16は、一端部を図示し
ないエジェクタに接続されている。さらに、この空気流
通管15から図示しないエジェクタにより、空気溜槽1
4、空気吸引管13及びディスク吸引口12を経て、デ
ィスク基板2を吸引する。
に、ワークテーブル3に配置された空気溜槽14と連結
する空気流通管15が第1の基台9の厚み方向に配置さ
れ、第1の基台9の外側面に形成された空気吸引口16
に連結されている。空気吸引口16は、一端部を図示し
ないエジェクタに接続されている。さらに、この空気流
通管15から図示しないエジェクタにより、空気溜槽1
4、空気吸引管13及びディスク吸引口12を経て、デ
ィスク基板2を吸引する。
【0032】第2の基台10は、ワークテーブル3を支
持する第1の基台9を支持するためのものである。この
第2の基台10は、例えば第1の基台9と接する面に、
第1の基台9の円柱部が挿入されるような中心孔24を
有し、ワークテーブル3と第1の基台9との一部を覆う
ように両側面が形成されている。また、第2の基台10
には、モータ5の主要部が側面に配置されている。さら
に、モータ5の図示しないベルト部がワークテーブル3
に接続されており、ワークテーブル3を回転自在に駆動
するようになされている。
持する第1の基台9を支持するためのものである。この
第2の基台10は、例えば第1の基台9と接する面に、
第1の基台9の円柱部が挿入されるような中心孔24を
有し、ワークテーブル3と第1の基台9との一部を覆う
ように両側面が形成されている。また、第2の基台10
には、モータ5の主要部が側面に配置されている。さら
に、モータ5の図示しないベルト部がワークテーブル3
に接続されており、ワークテーブル3を回転自在に駆動
するようになされている。
【0033】なお、第2の基台10は、図3に示すよう
な直方体状でなくても良く、ワークテーブル3を固定
し、かつモータ5のベルト部を内蔵することができるも
のであれば良い。よって、第2の基台10は、第1の基
台9と一体となったものであっても良い。さらに、モー
タ5の位置も基台中にされていても良く、すなわちモー
タ5がワークテーブル3を駆動させる部分である、つま
りベルト部が、基台に内蔵されていれば構わない。
な直方体状でなくても良く、ワークテーブル3を固定
し、かつモータ5のベルト部を内蔵することができるも
のであれば良い。よって、第2の基台10は、第1の基
台9と一体となったものであっても良い。さらに、モー
タ5の位置も基台中にされていても良く、すなわちモー
タ5がワークテーブル3を駆動させる部分である、つま
りベルト部が、基台に内蔵されていれば構わない。
【0034】レーザ光源4としては、CO2レーザが好
ましいが、透明な基板を透過しないで加工することがで
き、発振波長が赤外線のものであれば実質的には良い。
なお、透明な基板でない場合、他のレーザ光源を用いて
も良い。このレーザ光源4は、ディスク基板2に照射す
る角度が自在に調節できるように、移動可能とされてい
る。なお、レーザ光源4は、ディスク基板2を回転する
代わりに、それ自体が回転するようになされていてもよ
いが、製造工程上の効率から考えると、上述したよう
に、ディスク基板2が回転する一方、レーザ光源4は照
射角度のみ調節できる構成としたほうが好ましい。
ましいが、透明な基板を透過しないで加工することがで
き、発振波長が赤外線のものであれば実質的には良い。
なお、透明な基板でない場合、他のレーザ光源を用いて
も良い。このレーザ光源4は、ディスク基板2に照射す
る角度が自在に調節できるように、移動可能とされてい
る。なお、レーザ光源4は、ディスク基板2を回転する
代わりに、それ自体が回転するようになされていてもよ
いが、製造工程上の効率から考えると、上述したよう
に、ディスク基板2が回転する一方、レーザ光源4は照
射角度のみ調節できる構成としたほうが好ましい。
【0035】本発明を適用したレーザ光源4は、ディス
ク基板2の外周部に照射することにより、照射されたデ
ィスク基板部分の材料が溶融して、かつその一部が気化
するため、外周部に形成されたバリを除去するようにな
されている。特に、ディスク基板2の外周部にレーザ光
源4からのレーザ光を照射するには、このレーザ光をデ
ィスク基板2の面に対して30°〜45°にて照射する
ことが好ましい。
ク基板2の外周部に照射することにより、照射されたデ
ィスク基板部分の材料が溶融して、かつその一部が気化
するため、外周部に形成されたバリを除去するようにな
されている。特に、ディスク基板2の外周部にレーザ光
源4からのレーザ光を照射するには、このレーザ光をデ
ィスク基板2の面に対して30°〜45°にて照射する
ことが好ましい。
【0036】レーザ光源4からのレーザ光がディスク基
板2に照射される部分の近傍には、吸引手段が配置され
ている。ここで、吸引手段としては、バキューム管25
が挙げられる。このバキューム管25は、レーザ光によ
り基板材料が溶融し気化して生じた生成物を除去するた
めに設けられている。バキューム管25も、自在に移動
可能とされている。このバキューム管25は、レーザ光
源4と追従するように、レーザ光源4の近傍部に配置す
るとよい。なお、上述したようにレーザ光源4を回転す
る装置とした場合には、このレーザ光源4に追従してバ
キューム管25も回転するようにするとよい。
板2に照射される部分の近傍には、吸引手段が配置され
ている。ここで、吸引手段としては、バキューム管25
が挙げられる。このバキューム管25は、レーザ光によ
り基板材料が溶融し気化して生じた生成物を除去するた
めに設けられている。バキューム管25も、自在に移動
可能とされている。このバキューム管25は、レーザ光
源4と追従するように、レーザ光源4の近傍部に配置す
るとよい。なお、上述したようにレーザ光源4を回転す
る装置とした場合には、このレーザ光源4に追従してバ
キューム管25も回転するようにするとよい。
【0037】なお、レーザ光源4からのレーザ光は、デ
ィスク基板2の外周部に限らず、内周部に照射してもよ
い。このとき、内周部に形成されたバリが除去される。
ィスク基板2の外周部に限らず、内周部に照射してもよ
い。このとき、内周部に形成されたバリが除去される。
【0038】上述のレーザ光源4からのレーザ光を照射
されたディスク基板2は、例えばその外周部にレーザ光
が照射された場合、図4に示すように、ディスク基板2
の外周部において盛り上がり26が形成され、その盛り
上がり26の部分の高さhが15μm以下とされてい
る。
されたディスク基板2は、例えばその外周部にレーザ光
が照射された場合、図4に示すように、ディスク基板2
の外周部において盛り上がり26が形成され、その盛り
上がり26の部分の高さhが15μm以下とされてい
る。
【0039】さらに、この盛り上がり26が形成された
部分におけるディスク基板2の厚みが、ディスク基板2
の最外周部の厚みよりも厚くなされており、図13に示
すような最外周部の厚みが他の部分の厚みよりも厚いと
いった形状を回避することができる。ここで、ディスク
基板2の盛り上がり26の部分の幅は、記録領域との関
係から、0.5mm以内とされていると好ましい。
部分におけるディスク基板2の厚みが、ディスク基板2
の最外周部の厚みよりも厚くなされており、図13に示
すような最外周部の厚みが他の部分の厚みよりも厚いと
いった形状を回避することができる。ここで、ディスク
基板2の盛り上がり26の部分の幅は、記録領域との関
係から、0.5mm以内とされていると好ましい。
【0040】しかも、このディスク基板2は、外周部に
レーザ光が照射されることによって、外周部に形成され
たバリが除去される。さらに、レーザ光を外周部に照射
することによって、上述した図13に示すような鋭角な
角を外周端部に有する形状を回避できる。また、記録再
生時に好適なホーニングの許容範囲内にこの厚みhを抑
えることができる。なお、ここで、ディスク基板2の内
周部にレーザ光を照射した場合も同様に、内周部に形成
されたバリを除去することができる。
レーザ光が照射されることによって、外周部に形成され
たバリが除去される。さらに、レーザ光を外周部に照射
することによって、上述した図13に示すような鋭角な
角を外周端部に有する形状を回避できる。また、記録再
生時に好適なホーニングの許容範囲内にこの厚みhを抑
えることができる。なお、ここで、ディスク基板2の内
周部にレーザ光を照射した場合も同様に、内周部に形成
されたバリを除去することができる。
【0041】なお、盛り上がり26の高さhが15μm
以上の場合やバリが完全に除去されていない場合におい
ても、ディスク基板2が脱落しない条件であれば、つま
り加工後の条件が緩い条件の際には、レーザ光のディス
ク基板2に対する入射角度が30°〜45°でなくても
良い。
以上の場合やバリが完全に除去されていない場合におい
ても、ディスク基板2が脱落しない条件であれば、つま
り加工後の条件が緩い条件の際には、レーザ光のディス
ク基板2に対する入射角度が30°〜45°でなくても
良い。
【0042】よって、本発明を適用したディスク基板の
製造装置及び後述する製造方法を用いて製造されたディ
スク基板2は、バリが除去されて、あるいは脱落しない
状態とされて、しかも外周部にレーザ光を照射した場合
に外周部に適当な厚みの盛り上がり26が形成されてい
ることにより強度が向上される。なお、レーザ光をディ
スク基板2の両面に照射した場合は、この盛り上がり2
6が両面に形成される。
製造装置及び後述する製造方法を用いて製造されたディ
スク基板2は、バリが除去されて、あるいは脱落しない
状態とされて、しかも外周部にレーザ光を照射した場合
に外周部に適当な厚みの盛り上がり26が形成されてい
ることにより強度が向上される。なお、レーザ光をディ
スク基板2の両面に照射した場合は、この盛り上がり2
6が両面に形成される。
【0043】上述した構成を有するディスク基板の製造
装置1を用いて、ディスク基板2を製造する方法を以下
に説明する。ディスク基板2の製造方法は、第1の位置
決め工程と、第2の位置決め工程と、レーザ光照射工程
とを有する。
装置1を用いて、ディスク基板2を製造する方法を以下
に説明する。ディスク基板2の製造方法は、第1の位置
決め工程と、第2の位置決め工程と、レーザ光照射工程
とを有する。
【0044】まず、第1の位置決め工程においては、図
5に示すように、例えば射出成形により成形された樹脂
製のディスク基板2を、第1の位置決め部材7に配置す
る。このとき、第1の位置決め部材7は、ワークテーブ
ル3のテーブル面3aよりも上に突出している。そし
て、ディスク基板2を載せた第1の位置決め部材7が、
ワークテーブル3の方向、つまり図中下方の矢印B方向
にスライド軸17が動いて移動する。ここで、このスラ
イド軸17は、シリンダにより駆動されている。
5に示すように、例えば射出成形により成形された樹脂
製のディスク基板2を、第1の位置決め部材7に配置す
る。このとき、第1の位置決め部材7は、ワークテーブ
ル3のテーブル面3aよりも上に突出している。そし
て、ディスク基板2を載せた第1の位置決め部材7が、
ワークテーブル3の方向、つまり図中下方の矢印B方向
にスライド軸17が動いて移動する。ここで、このスラ
イド軸17は、シリンダにより駆動されている。
【0045】その結果、図6に示すように、ディスク基
板2がテーブル面3a上に位置決めされる。そして、図
7に示すように、スライド軸17が更に図中B方向に移
動する。
板2がテーブル面3a上に位置決めされる。そして、図
7に示すように、スライド軸17が更に図中B方向に移
動する。
【0046】以上の工程が、第1の位置決め工程であ
る。
る。
【0047】次に、第2の位置決め工程としては、図8
に示すように、第2の位置決め部材8をディスク基板2
に向けて、図中下方の矢印C方向に移動させる。このと
き、第2の位置決め部材8は、高さ調節軸21に取り付
けられた支持ブラケット20に支持されて、図示しない
シリンダを駆動源として移動する。
に示すように、第2の位置決め部材8をディスク基板2
に向けて、図中下方の矢印C方向に移動させる。このと
き、第2の位置決め部材8は、高さ調節軸21に取り付
けられた支持ブラケット20に支持されて、図示しない
シリンダを駆動源として移動する。
【0048】そして、図9に示すように、第2の位置決
め部材8がディスク基板2に接触して、再度位置決めを
行う。この位置決めは、ディスク基板2が回転駆動した
ときにディスク基板2を所定の偏芯範囲に抑えるように
するものである。ここで、図示しないエジェクタにより
空気吸引口12からディスク基板2が図中下方の矢印A
方向に吸引され、固定される。
め部材8がディスク基板2に接触して、再度位置決めを
行う。この位置決めは、ディスク基板2が回転駆動した
ときにディスク基板2を所定の偏芯範囲に抑えるように
するものである。ここで、図示しないエジェクタにより
空気吸引口12からディスク基板2が図中下方の矢印A
方向に吸引され、固定される。
【0049】次に、図10に示すように、第2の位置決
め部材8を図中上方のD方向に移動させ、ディスク基板
2から離脱させる。これにより、ディスク基板2を最終
的に位置決めすることができる。
め部材8を図中上方のD方向に移動させ、ディスク基板
2から離脱させる。これにより、ディスク基板2を最終
的に位置決めすることができる。
【0050】以上の工程が、最終的な位置決め工程であ
る、第2の位置決め工程である。
る、第2の位置決め工程である。
【0051】最後に、レーザ光照射工程としては、図1
1に示すように、上述したディスク基板2の製造装置の
近傍に配置されたレーザ光源4から、レーザ光をディス
ク基板2の外周部に照射する。ここで、ディスク基板2
の外周部にレーザ光を照射する場合は、図11に示すよ
うに、ディスク基板2の面に対して、図中の角度θが3
0°〜45°となるようにレーザ光を照射すると好まし
い。
1に示すように、上述したディスク基板2の製造装置の
近傍に配置されたレーザ光源4から、レーザ光をディス
ク基板2の外周部に照射する。ここで、ディスク基板2
の外周部にレーザ光を照射する場合は、図11に示すよ
うに、ディスク基板2の面に対して、図中の角度θが3
0°〜45°となるようにレーザ光を照射すると好まし
い。
【0052】また、ここで、レーザ光がディスク基板2
に照射されるディスク基板2上の接点の近傍にバキュム
管25が配置されている。このバキュム管25は、その
バキュム管25からのレーザ光を照射したことによりデ
ィスク基板2が気化して生じた生成物を吸引するように
なされている。
に照射されるディスク基板2上の接点の近傍にバキュム
管25が配置されている。このバキュム管25は、その
バキュム管25からのレーザ光を照射したことによりデ
ィスク基板2が気化して生じた生成物を吸引するように
なされている。
【0053】また、このようにレーザ光をディスク面に
対して30°〜45°となるように照射したディスク基
板2は、図4に示すように、外周部にディスク基板2の
外側に向かった盛り上がり26が形成されており、その
盛り上がり26の高さhが15μm以下となされてい
る。また、その盛り上がり26が形成された部分におけ
るディスク基板2の厚みが、ディスク基板の最外周部の
厚みよりも厚くなされている。
対して30°〜45°となるように照射したディスク基
板2は、図4に示すように、外周部にディスク基板2の
外側に向かった盛り上がり26が形成されており、その
盛り上がり26の高さhが15μm以下となされてい
る。また、その盛り上がり26が形成された部分におけ
るディスク基板2の厚みが、ディスク基板の最外周部の
厚みよりも厚くなされている。
【0054】しかも、このディスク基板2は、レーザ光
が照射されることによって、照射された部分の基板の材
料が溶融するため、バリが除去されている。なお、上記
の第1の位置決め工程、第2の位置決め工程及びレーザ
光照射工程においては、一貫してディスク吸引口12か
らディスク基板2を吸引している。
が照射されることによって、照射された部分の基板の材
料が溶融するため、バリが除去されている。なお、上記
の第1の位置決め工程、第2の位置決め工程及びレーザ
光照射工程においては、一貫してディスク吸引口12か
らディスク基板2を吸引している。
【0055】したがって、以上述べたように、本発明を
適用したディスク基板の製造装置及び製造方法を用いた
ディスク基板2は、バリが除去されたり、あるいは脱落
しない状態にされて外観欠陥がなく、しかも外周部にレ
ーザ光が照射された場合に外周部に適当な厚みが形成さ
れるため、強度が向上された高品質なディスク基板とす
ることができる。
適用したディスク基板の製造装置及び製造方法を用いた
ディスク基板2は、バリが除去されたり、あるいは脱落
しない状態にされて外観欠陥がなく、しかも外周部にレ
ーザ光が照射された場合に外周部に適当な厚みが形成さ
れるため、強度が向上された高品質なディスク基板とす
ることができる。
【0056】なお、ディスク基板2としては、射出成形
により成形された樹脂製のものであればよく、磁気ディ
スク、光ディスク及び光磁気ディスクのように情報信号
の記録媒体となるディスクを構成する基板として用いら
れるものであればよい。
により成形された樹脂製のものであればよく、磁気ディ
スク、光ディスク及び光磁気ディスクのように情報信号
の記録媒体となるディスクを構成する基板として用いら
れるものであればよい。
【0057】
【実施例】以下、本発明を適用した実施例について具体
的な実験結果に基づいて詳細に説明する。
的な実験結果に基づいて詳細に説明する。
【0058】実施例1 まず、射出成形直後の樹脂製ディスク基板としては、最
外周部から幅100μm、ディスク基板の表面からの最
大厚みが50μmのバリを形成していたディスク基板を
用意した。
外周部から幅100μm、ディスク基板の表面からの最
大厚みが50μmのバリを形成していたディスク基板を
用意した。
【0059】次に、上記のディスク基板に対して、以下
に示す条件でレーザ光源よりレーザ光を照射した。
に示す条件でレーザ光源よりレーザ光を照射した。
【0060】 レーザスポット直径 1.3mm、2.2mm ディスクの回転数 30rpm、60rpm、90rpm、120rpm レーザ光照射強度 4.7W〜12.6W レーザ光の照射時間 1sec、2sec レーザ光の照射角度θ 30°、45°、65°、90° このように、レーザ光を照射したディスク基板につい
て、バリが除去されているかを調べ、バリを除去するの
に適した照射条件を検討した。
て、バリが除去されているかを調べ、バリを除去するの
に適した照射条件を検討した。
【0061】その結果、レーザスポット直径を1.3m
mまたは2.2mmとし、ディスクの回転数を30rp
mとし、レーザ光の照射強度を13.7×30/87W
〜13.7×80/87Wとし、レーザ光の照射時間を
2secとし、レーザ光の照射角度θを30°または4
5°とした条件で、レーザ光を照射したディスク基板に
は、外周部に形成されたバリが除去されていた。そこ
で、上述の条件をバリを除去する好適な照射条件とし
た。
mまたは2.2mmとし、ディスクの回転数を30rp
mとし、レーザ光の照射強度を13.7×30/87W
〜13.7×80/87Wとし、レーザ光の照射時間を
2secとし、レーザ光の照射角度θを30°または4
5°とした条件で、レーザ光を照射したディスク基板に
は、外周部に形成されたバリが除去されていた。そこ
で、上述の条件をバリを除去する好適な照射条件とし
た。
【0062】ところで、上述したように、CO2レーザ
を照射すると、アブレーションという現象により、レー
ザ光の照射部分が溶融後盛り上がりを形成する。この現
象は、成形基板の外周部の強度を向上させる効果があ
る。一方、この盛り上がりが、上述したホーニングの許
容範囲を越えてしまうこともある。また、ディスクの偏
芯の影響により、バリの存在する範囲にレーザ光が照射
されず、バリが残ってしまうこともある。さらに、加工
条件によりレーザ光の照射した溶融部がダレてしまい外
観上の欠陥を引き起こすこともある。
を照射すると、アブレーションという現象により、レー
ザ光の照射部分が溶融後盛り上がりを形成する。この現
象は、成形基板の外周部の強度を向上させる効果があ
る。一方、この盛り上がりが、上述したホーニングの許
容範囲を越えてしまうこともある。また、ディスクの偏
芯の影響により、バリの存在する範囲にレーザ光が照射
されず、バリが残ってしまうこともある。さらに、加工
条件によりレーザ光の照射した溶融部がダレてしまい外
観上の欠陥を引き起こすこともある。
【0063】そこで、光学顕微鏡を用いてレーザ光の照
射部分にバリやダレがない条件範囲を特定し、接触式の
段差計を用いてレーザ光照射後の盛り上がりの幅L及び
その最大厚みhを測定し、バリを除去するレーザ光のよ
り最適な条件を検討した。
射部分にバリやダレがない条件範囲を特定し、接触式の
段差計を用いてレーザ光照射後の盛り上がりの幅L及び
その最大厚みhを測定し、バリを除去するレーザ光のよ
り最適な条件を検討した。
【0064】以上の測定結果を表1に示す。ここで、レ
ーザ光照射後のバリやダレがない範囲であり、かつホー
ニングの許容範囲内を15μmとしたときに盛り上がり
部分の厚みhがこの許容範囲内にあるディスク基板につ
いて、レーザ光照射後の盛り上がりの幅L及びその最大
厚みhを示した。
ーザ光照射後のバリやダレがない範囲であり、かつホー
ニングの許容範囲内を15μmとしたときに盛り上がり
部分の厚みhがこの許容範囲内にあるディスク基板につ
いて、レーザ光照射後の盛り上がりの幅L及びその最大
厚みhを示した。
【0065】すなわち、表1に測定数値が示されていな
いものは、レーザ光照射後にもバリが残ったり、または
ダレが生じたり、あるいはディスク基板の盛り上がり部
の最大厚みhが15μm以上のものといえる。
いものは、レーザ光照射後にもバリが残ったり、または
ダレが生じたり、あるいはディスク基板の盛り上がり部
の最大厚みhが15μm以上のものといえる。
【0066】
【表1】
【0067】表1の結果から、レーザ光の照射角度θが
30°〜45°の範囲において、バリを除去することが
でき、しかも溶融部の盛り上がりの厚みhが15μm以
下とすることができることがわかった。
30°〜45°の範囲において、バリを除去することが
でき、しかも溶融部の盛り上がりの厚みhが15μm以
下とすることができることがわかった。
【0068】さらに、レーザスポット直径を1.3mm
とし、ディスクの回転数を30rpmとし、レーザ光の
照射時間を2secとし、レーザ光の照射角度θを45
°とした条件では、バリを除去し、かつ盛り上がりの厚
みhを15μm以下とすることができるレーザパワー及
び偏芯量の許容値の範囲が大きく、他の条件よりもより
安定してバリの除去が可能と判明した。
とし、ディスクの回転数を30rpmとし、レーザ光の
照射時間を2secとし、レーザ光の照射角度θを45
°とした条件では、バリを除去し、かつ盛り上がりの厚
みhを15μm以下とすることができるレーザパワー及
び偏芯量の許容値の範囲が大きく、他の条件よりもより
安定してバリの除去が可能と判明した。
【0069】また、レーザ光の照射角度θを30°とし
た場合、レーザパワーの好適な範囲は狭くなるが、盛り
上がりの厚みをより小さくすることができることが判明
した。
た場合、レーザパワーの好適な範囲は狭くなるが、盛り
上がりの厚みをより小さくすることができることが判明
した。
【0070】実施例2 更に、以下に示すように、レーザ光を照射することによ
る強度の変化について検討した。
る強度の変化について検討した。
【0071】まず、射出成形直後のディスク基板とし
て、実施例1と同様なバリを有するディスク基板を用意
した。
て、実施例1と同様なバリを有するディスク基板を用意
した。
【0072】次に、上記のディスク基板に対して、レー
ザ光を照射したディスク基板S−1と、レーザ光を照射
しないディスク基板S−2とを用意した。ここで、レー
ザ光の照射条件としては、レーザスポット直径を1.3
mmとし、ディスク回転数を30rpmとし、レーザ光
の照射強度を示すレーザパワーを7.7Wとし、レーザ
光の照射時間を2secとし、レーザ光の照射角度θを
45°とした。
ザ光を照射したディスク基板S−1と、レーザ光を照射
しないディスク基板S−2とを用意した。ここで、レー
ザ光の照射条件としては、レーザスポット直径を1.3
mmとし、ディスク回転数を30rpmとし、レーザ光
の照射強度を示すレーザパワーを7.7Wとし、レーザ
光の照射時間を2secとし、レーザ光の照射角度θを
45°とした。
【0073】レーザ光を上記の条件にて照射したディス
ク基板S−1は、バリが除去されており、しかも盛り上
がりの最大厚みが15μmであった。
ク基板S−1は、バリが除去されており、しかも盛り上
がりの最大厚みが15μmであった。
【0074】そこで、レーザ光を照射したディスク基板
S−1と照射していないディスク基板S−2について、
以下に示すような方法を用いて、強度を測定した。
S−1と照射していないディスク基板S−2について、
以下に示すような方法を用いて、強度を測定した。
【0075】先ず、図12に示すような加圧装置30に
て、ディスク基板2をそれぞれカセット31内に配置
し、接触部32a、32bの2箇所にて保持させた。次
に、テンションゲージ33を用いて、ディスク基板2を
100gf加圧した。そして、この100gfの加圧を
10sec間保持した後、キズやヒビがないことを確認
した。更に、同様にして圧力を増加させるとともに同時
間保持してキズやヒビを確認した。
て、ディスク基板2をそれぞれカセット31内に配置
し、接触部32a、32bの2箇所にて保持させた。次
に、テンションゲージ33を用いて、ディスク基板2を
100gf加圧した。そして、この100gfの加圧を
10sec間保持した後、キズやヒビがないことを確認
した。更に、同様にして圧力を増加させるとともに同時
間保持してキズやヒビを確認した。
【0076】そして、キズやヒビを確認した時点で加圧
をとめ、そのときの圧力がディスク基板の強度と定義し
た。
をとめ、そのときの圧力がディスク基板の強度と定義し
た。
【0077】以上の結果を表2に示す。
【0078】
【表2】
【0079】表2から明らかなように、レーザ光を照射
したディスク基板であるS−1は、1回目の測定で90
0gf、2回目の測定で2000gfにおいて、ヒビが
確認された。一方、レーザ光を照射していないディスク
基板であるS−2は、1回目及び2回目ともに、100
gfにてヒビが確認された。
したディスク基板であるS−1は、1回目の測定で90
0gf、2回目の測定で2000gfにおいて、ヒビが
確認された。一方、レーザ光を照射していないディスク
基板であるS−2は、1回目及び2回目ともに、100
gfにてヒビが確認された。
【0080】このことから、レーザ光を特に外周部に照
射したディスク基板は、その外周部に盛り上がりが形成
され、この盛り上がりにより強度が向上したことが判明
した。
射したディスク基板は、その外周部に盛り上がりが形成
され、この盛り上がりにより強度が向上したことが判明
した。
【0081】なお、レーザ光を照射したディスク基板の
S−1は、1回目及び2回目において圧力値に幅がある
が、レーザ光を照射していないディスク基板のS−2と
比較すれば問題のない誤差と考えられる。
S−1は、1回目及び2回目において圧力値に幅がある
が、レーザ光を照射していないディスク基板のS−2と
比較すれば問題のない誤差と考えられる。
【0082】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明に係
るディスク基板の製造方法によれば、樹脂製のディスク
基板の少なくとも外周部または内周部に対して、レーザ
光を照射して一時的に溶融させる工程を含むことによっ
て、照射された部分のディスク基板の材料が溶融するた
め、射出成形の際にディスク基板の外周部及び/又は内
周部に生じたバリを除去することができて外観欠陥がな
く、しかも強度が向上したより高品質なディスク基板を
製造することができる。また、本発明に係るディスク基
板の製造方法では、レーザ光をディスク基板の面に対し
て30°〜45°の角度で照射することが好ましく、そ
の結果バリの除去がより効果的となり、またディスク基
板の強度がより向上される。更には、製造工程における
歩留まり向上を図ることができる。
るディスク基板の製造方法によれば、樹脂製のディスク
基板の少なくとも外周部または内周部に対して、レーザ
光を照射して一時的に溶融させる工程を含むことによっ
て、照射された部分のディスク基板の材料が溶融するた
め、射出成形の際にディスク基板の外周部及び/又は内
周部に生じたバリを除去することができて外観欠陥がな
く、しかも強度が向上したより高品質なディスク基板を
製造することができる。また、本発明に係るディスク基
板の製造方法では、レーザ光をディスク基板の面に対し
て30°〜45°の角度で照射することが好ましく、そ
の結果バリの除去がより効果的となり、またディスク基
板の強度がより向上される。更には、製造工程における
歩留まり向上を図ることができる。
【0083】また、以上詳細に説明したように、本発明
に係るディスク基板の製造装置は、ディスク基板を支持
するとともに回転駆動するワークテーブルと、ワークテ
ーブル上の所定位置にディスク基板を位置決めする位置
決め部材と、位置決め部材によって位置決めされた後に
上記ワークテーブルによって回転支持されたディスク基
板の少なくとも外周部または内周部に対して、レーザ光
を照射するレーザ光源とを備える。これにより、正確に
ディスク基板を位置決めしてレーザ光を照射することが
できるため、射出成形後に形成されたバリを効率良く除
去することができる。また、バリが除去されて外観欠陥
がなく、またレーザ光の照射により外周部の強度が向上
されたより高品質とされたディスク基板を提供すること
ができる。さらに、このディスク基板の製造装置は、正
確な位置決めを可能とする位置決め機構を有するため、
製造工程中の歩留まりを向上することができる。
に係るディスク基板の製造装置は、ディスク基板を支持
するとともに回転駆動するワークテーブルと、ワークテ
ーブル上の所定位置にディスク基板を位置決めする位置
決め部材と、位置決め部材によって位置決めされた後に
上記ワークテーブルによって回転支持されたディスク基
板の少なくとも外周部または内周部に対して、レーザ光
を照射するレーザ光源とを備える。これにより、正確に
ディスク基板を位置決めしてレーザ光を照射することが
できるため、射出成形後に形成されたバリを効率良く除
去することができる。また、バリが除去されて外観欠陥
がなく、またレーザ光の照射により外周部の強度が向上
されたより高品質とされたディスク基板を提供すること
ができる。さらに、このディスク基板の製造装置は、正
確な位置決めを可能とする位置決め機構を有するため、
製造工程中の歩留まりを向上することができる。
【0084】また、以上詳細に説明したように、本発明
に係るディスク基板は、樹脂からなり、外周部に高さ1
5μm以下の盛り上がりが形成され、その盛り上がりが
形成された部分におけるディスク基板の厚みがディスク
基板の最外周部の厚みよりも厚くなされていることによ
り、強度を向上することができ、盛り上がりの部分の厚
みもホーニング許容範囲内であるため、記録再生特性に
優れたより高品質とすることができる。さらに、本発明
に係るディスク基板の製造装置及び製造方法を用いて製
造されたディスク基板は、強度が向上されるとともに、
しかもバリが除去されており、外観欠陥もなくより高品
質とされる。
に係るディスク基板は、樹脂からなり、外周部に高さ1
5μm以下の盛り上がりが形成され、その盛り上がりが
形成された部分におけるディスク基板の厚みがディスク
基板の最外周部の厚みよりも厚くなされていることによ
り、強度を向上することができ、盛り上がりの部分の厚
みもホーニング許容範囲内であるため、記録再生特性に
優れたより高品質とすることができる。さらに、本発明
に係るディスク基板の製造装置及び製造方法を用いて製
造されたディスク基板は、強度が向上されるとともに、
しかもバリが除去されており、外観欠陥もなくより高品
質とされる。
【図1】本発明を適用したディスク基板の製造装置の一
例を示す正面図である。
例を示す正面図である。
【図2】本発明を適用したディスク基板の製造装置の一
例を示す断面図である。
例を示す断面図である。
【図3】本発明を適用したディスク基板の製造装置の一
例を示す要部斜視図である。
例を示す要部斜視図である。
【図4】本発明を適用したディスク基板の一例を示す断
面図である。
面図である。
【図5】本発明を適用したディスク基板の製造装置の動
作を説明する第1の模式図である。
作を説明する第1の模式図である。
【図6】本発明を適用したディスク基板の製造装置の動
作を説明する第2の模式図である。
作を説明する第2の模式図である。
【図7】本発明を適用したディスク基板の製造装置の動
作を説明する第3の模式図である。
作を説明する第3の模式図である。
【図8】本発明を適用したディスク基板の製造装置の動
作を説明する第4の模式図である。
作を説明する第4の模式図である。
【図9】本発明を適用したディスク基板の製造装置の動
作を説明する第5の模式図である。
作を説明する第5の模式図である。
【図10】本発明を適用したディスク基板の製造装置の
動作を説明する第6の模式図である。
動作を説明する第6の模式図である。
【図11】本発明を適用したディスク基板の製造装置の
動作を説明する第7の模式図である。
動作を説明する第7の模式図である。
【図12】実施例に用いた加圧装置の一例を説明する模
式図である。
式図である。
【図13】ホーニングを説明するディスク基板の断面図
である。
である。
1 ディスク基板の製造装置、2 ディスク基板、3
ワークテーブル、3aテーブル面、4 レーザ光源、7
第1の位置決め部材、8 第2の位置決め部材、9
第1の基台、10 第2の基台、12 ディスク吸引
口、13 空気吸引管、14 空気溜槽、15 空気流
通管、17 スライド軸、25 バキューム管、26
盛り上がり部
ワークテーブル、3aテーブル面、4 レーザ光源、7
第1の位置決め部材、8 第2の位置決め部材、9
第1の基台、10 第2の基台、12 ディスク吸引
口、13 空気吸引管、14 空気溜槽、15 空気流
通管、17 スライド軸、25 バキューム管、26
盛り上がり部
Claims (10)
- 【請求項1】 樹脂製のディスク基板の少なくとも外周
部または内周部に対して、レーザ光を照射して一時的に
溶融させる工程を含むことを特徴とするディスク基板の
製造方法。 - 【請求項2】 上記レーザ光を、上記ディスク基板の面
に対して30°〜45°の角度で照射することを特徴と
する請求項1記載のディスク基板の製造方法。 - 【請求項3】 上記レーザ光をディスク基板の外周部に
照射することによって、ディスク基板の外周部に高さが
15μm以下の盛り上がりを形成することを特徴とする
請求項1記載のディスク基板の製造方法。 - 【請求項4】 ディスク基板を支持するとともに回転駆
動するワークテーブルと、 上記ワークテーブル上の所定位置にディスク基板を位置
決めする位置決め部材と、 上記位置決め部材によって位置決めされた後に上記ワー
クテーブルによって回転支持されたディスク基板の少な
くとも外周部または内周部に対して、レーザ光を照射す
るレーザ光源とを備えることを特徴とするディスク基板
の製造装置。 - 【請求項5】 上記位置決め部材は、ディスク基板の略
中心部に形成された中心孔に挿入されてディスク基板を
位置決めすることを特徴とする請求項4記載のディスク
基板の製造装置。 - 【請求項6】 上記レーザ光源は、レーザ光を上記ディ
スク基板の面に対して30°〜45°の角度で照射する
ことを特徴とする請求項4記載のディスク基板の製造装
置。 - 【請求項7】 上記ワークテーブルは、ディスク基板を
吸引して固定するディスク吸引口を備えることを特徴と
する請求項4記載のディスク基板の製造装置。 - 【請求項8】 レーザ光を照射することによりディスク
基板が気化して生じた生成物を吸引する吸引手段を備え
ることを特徴とする請求項4記載のディスク基板の製造
装置。 - 【請求項9】 上記レーザ光源は、ディスク基板の外周
部にレーザ光を照射することによってディスク基板の外
周部に高さが15μm以下の盛り上がりを形成すること
を特徴とする請求項4記載のディスク基板の製造装置。 - 【請求項10】 樹脂からなるディスク基板であって、 外周部が盛り上がりを有するとともに、その盛り上がり
が形成された部分におけるディスク基板の厚みがディス
ク基板の最外周部の厚みよりも厚くなされており、 上記盛り上がりの部分の高さが、15μm以下となされ
ていることを特徴とするディスク基板。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9129960A JPH10320847A (ja) | 1997-05-20 | 1997-05-20 | ディスク基板及びその製造方法並びにその製造装置 |
| US09/081,008 US6309204B1 (en) | 1997-05-20 | 1998-05-19 | Apparatus for manufacturing disc substrate |
| KR1019980017914A KR19980087169A (ko) | 1997-05-20 | 1998-05-19 | 디스크기판 및 그 제조방법, 및 그 제조장치 |
| US09/983,251 US20020050666A1 (en) | 1997-05-20 | 2001-10-23 | Disc substrate, method and apparatus for manufacturing same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9129960A JPH10320847A (ja) | 1997-05-20 | 1997-05-20 | ディスク基板及びその製造方法並びにその製造装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10320847A true JPH10320847A (ja) | 1998-12-04 |
Family
ID=15022697
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9129960A Withdrawn JPH10320847A (ja) | 1997-05-20 | 1997-05-20 | ディスク基板及びその製造方法並びにその製造装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US6309204B1 (ja) |
| JP (1) | JPH10320847A (ja) |
| KR (1) | KR19980087169A (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1562189A1 (en) * | 2004-02-09 | 2005-08-10 | Optodisc Technology Corporation | Apparatus for removing burrs from a compact disc |
| WO2011109138A1 (en) * | 2010-03-04 | 2011-09-09 | Husky Injection Molding Systems Ltd | Mold-tool assembly having energy source to emit energy from mold-core assembly to gate-orifice region |
| US9590339B2 (en) | 2013-05-09 | 2017-03-07 | Commscope, Inc. Of North Carolina | High data rate connectors and cable assemblies that are suitable for harsh environments and related methods and systems |
| CN104536165B (zh) | 2014-12-05 | 2017-09-01 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 显示设备的加工机台和玻璃基板的加工方法 |
| KR102376434B1 (ko) * | 2018-01-17 | 2022-03-22 | 삼성디스플레이 주식회사 | 레이저 장치 |
| CN115740760B (zh) * | 2022-11-10 | 2025-03-18 | 广东赛肯户外运动器械有限公司 | 一种压铸齿盘处理机 |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4563824A (en) * | 1983-12-12 | 1986-01-14 | Charlton Associates | Method and apparatus for disc position centering |
| US5273598A (en) * | 1985-02-18 | 1993-12-28 | Hitachi Maxell, Ltd. | Optical disc manufacturing method |
| NL8501148A (nl) * | 1985-04-19 | 1986-11-17 | Optical Storage Int | Werkwijze voor het aanbrengen van een optisch detecteerbare structuur op het substraat van een optisch uitleesbare informatieschijf, matrijs ten behoeve van de werkwijze, inrichting voor het uitvoeren van de werkwijze, alsmede informatieschijf vervaardigd volgens de werkwijze. |
| DE3535149A1 (de) * | 1985-10-02 | 1987-04-02 | Hoechst Ag | Verfahren zur herstellung von chlorphosphanen und thiophosphinsaeurechloriden sowie neue 9-chlor-9-thioxo-9-phosphabicyclononane |
| US4780590A (en) * | 1985-11-21 | 1988-10-25 | Penn Research Corporation | Laser furnace and method for zone refining of semiconductor wafers |
| JPH0626823B2 (ja) * | 1987-10-15 | 1994-04-13 | パイオニア株式会社 | 光ディスク製造装置 |
| US5656229A (en) * | 1990-02-20 | 1997-08-12 | Nikon Corporation | Method for removing a thin film layer |
| US5062021A (en) * | 1990-03-12 | 1991-10-29 | Magnetic Peripherals Inc. | Selectively textured magnetic recording media |
| US5132510A (en) * | 1990-09-04 | 1992-07-21 | Trumpf, Inc. | Laser machine assembly for flow of workpieces therethrough and method of using same |
| US5273422A (en) * | 1992-10-05 | 1993-12-28 | The Plastic Forming Company, Inc. | Trimming apparatus |
| US5595768A (en) * | 1995-11-02 | 1997-01-21 | Komag, Incorporated | Laser disk texturing apparatus |
-
1997
- 1997-05-20 JP JP9129960A patent/JPH10320847A/ja not_active Withdrawn
-
1998
- 1998-05-19 KR KR1019980017914A patent/KR19980087169A/ko not_active Withdrawn
- 1998-05-19 US US09/081,008 patent/US6309204B1/en not_active Expired - Fee Related
-
2001
- 2001-10-23 US US09/983,251 patent/US20020050666A1/en not_active Abandoned
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
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| US6309204B1 (en) | 2001-10-30 |
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|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20040803 |