JPH10322024A - Build-up multilayer printed wiring board having non-penetrating via holes and method of manufacturing the same - Google Patents
Build-up multilayer printed wiring board having non-penetrating via holes and method of manufacturing the sameInfo
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- JPH10322024A JPH10322024A JP12686497A JP12686497A JPH10322024A JP H10322024 A JPH10322024 A JP H10322024A JP 12686497 A JP12686497 A JP 12686497A JP 12686497 A JP12686497 A JP 12686497A JP H10322024 A JPH10322024 A JP H10322024A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ビアホールの接続信頼性に優れ、低コストで
かつ高密度配線に適したビルドアップ多層プリント配線
板を提供する。
【解決手段】 樹脂で充填されたビアホール4a,4b
及び層間絶縁層3を平坦化し、その平坦化面に回路2a
及びビアホールパッド2bを形成した。層間絶縁層3の
平坦化が1層当たり1回で済み、めっき厚さが厚くなら
ないため、回路2aの微細化を図ることができる。ま
た、第1のビアホール4aとその上の第2のビアホール
4bとをビアホールパッド2bを介して接続するため、
位置ずれによるめっき付きまわり性の低下がない。
(57) [Problem] To provide a build-up multilayer printed wiring board excellent in connection reliability of a via hole, low in cost, and suitable for high-density wiring. SOLUTION: Via holes 4a and 4b filled with resin
And the interlayer insulating layer 3 is flattened, and the circuit 2a is formed on the flattened surface.
And a via hole pad 2b were formed. The interlayer insulating layer 3 needs to be flattened only once per layer, and the plating thickness does not increase, so that the circuit 2a can be miniaturized. Further, since the first via hole 4a and the second via hole 4b thereon are connected via the via hole pad 2b,
There is no decrease in plating roundness due to displacement.
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、非貫通ビアホール
を有するビルドアップ多層プリント配線板に関する。The present invention relates to a build-up multilayer printed wiring board having a non-penetrating via hole.
【0002】[0002]
【従来の技術】多層プリント配線板の上下配線層の接続
構造として非貫通ビアホール(以下、単にビアホールと
いう)を採用することは、配線設計の自由度が増し、高
密度配線への対応に適している。より一層の高密度配線
のためには、設計上、ビアホールと該ビアホールの1層
外層側にあるビアホールが外層面から見て重なるように
配置する。このような配置を実現する方法が、特開平2
−36591号公報、特開平7−307567号公報、
特開平7−283538号公報、特開平8−24207
7号公報などに記載されている。2. Description of the Related Art The use of non-through via holes (hereinafter simply referred to as via holes) as a connection structure between upper and lower wiring layers of a multilayer printed wiring board increases the degree of freedom in wiring design and is suitable for high-density wiring. I have. In order to achieve even higher density wiring, via holes are designed so that via holes and one via layer on the outer layer side of the via hole overlap with each other when viewed from the outer layer surface. A method for realizing such an arrangement is disclosed in
-36591, JP-A-7-307567,
JP-A-7-283538, JP-A-8-24207
No. 7, for example.
【0003】特開平2−36591号公報や特開平7−
307567号公報に記載された方法は、図8の断面図
に略示するように、表面に回路38a及びビアホールパ
ッド38bが形成された基材37上に設けられた層間絶
縁層39aに第1のビアホールを形成し、ビアホールを
めっきにより導電化する。その後、第1のビアホール内
を埋めることなく、その上に第2のビアホール40を形
成し、めっき41により導電化して上下の回路を電気的
に接続するものである。第1のビアホールはビアホール
パッド38b上に形成される。[0003] JP-A-2-36591 and JP-A-7-365
The method described in Japanese Patent No. 307567 discloses a first method in which an interlayer insulating layer 39a provided on a substrate 37 having a circuit 38a and a via hole pad 38b formed on the surface thereof, as schematically shown in the sectional view of FIG. A via hole is formed, and the via hole is made conductive by plating. Thereafter, a second via hole 40 is formed on the first via hole without filling the first via hole, and the first via hole is made conductive by plating 41 to electrically connect upper and lower circuits. The first via hole is formed on via hole pad 38b.
【0004】また、特開平7−283538号公報や特
開平8−242077号公報に記載された方法は、図9
の断面図に略示するように、例えば表面に回路43a及
びビアホールパッド43bが形成された基材42上に設
けられた層間絶縁層44に第1のビアホール45aを形
成する。そして、第1のめっき46で導電化した第1の
ビアホール45aに絶縁性樹脂又は導電性樹脂47を充
填し、平坦化した後、第2のめっき48を行って回路4
9を形成する。この方法によると、第2のビアホール4
5bは、第2のめっき48を介して平坦化された第1の
ビアホール45aと接続される。Further, the methods described in JP-A-7-283538 and JP-A-8-242077 are disclosed in FIG.
As schematically shown in the cross-sectional view of FIG. 1, a first via hole 45a is formed in an interlayer insulating layer 44 provided on a base material 42 on which, for example, a circuit 43a and a via hole pad 43b are formed. Then, the first via hole 45a, which has been made conductive by the first plating 46, is filled with an insulating resin or a conductive resin 47, flattened, and then subjected to the second plating 48 to form the circuit 4
9 is formed. According to this method, the second via hole 4
5b is connected to the planarized first via hole 45a via the second plating 48.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】図8に略示した方法で
は、ビアホール40の深さが層を重ねる毎に増大し、層
間絶縁層39bの上の層間絶縁層の形成やその平坦化が
困難となる。また、層間の位置ずれなどによりビアホー
ル40のめっき41の付きまわり性が悪くなり、接続信
頼性が低下するなどの問題がある。In the method schematically shown in FIG. 8, the depth of the via hole 40 increases with each layer, and it is difficult to form an interlayer insulating layer on the interlayer insulating layer 39b and to planarize it. Becomes In addition, there is a problem that the positional deviation between the layers deteriorates the throwing power of the plating 41 of the via hole 40 and lowers the connection reliability.
【0006】図9に略示した方法によると、第2のビア
ホール45bは、第2のめっき48を介して平坦化され
た第1のビアホール45aと接続されるため、前記問題
を回避することができる。しかし、回路49をエッチン
グ法で形成する場合、第1のめっき46の厚さと第2の
めっき48の厚さを加えた厚みをエッチングしなければ
ならないため、回路49の微細化が困難となり、高密度
配線の障害となる。According to the method schematically shown in FIG. 9, the second via hole 45b is connected to the planarized first via hole 45a via the second plating 48, so that the above problem can be avoided. it can. However, when the circuit 49 is formed by an etching method, the thickness of the first plating 46 and the thickness of the second plating 48 must be etched, so that miniaturization of the circuit 49 becomes difficult, and high An obstacle to density wiring.
【0007】また、図10に示すように、基材50上に
層間絶縁層52を形成する際、回路51の影響で表面が
うねってしまう。このように表面がうねると、次に回路
を形成する際、レジストの解像不良やエッチングムラを
生じるため、通常、ビアホールを導電化する前に研磨、
ポリッシングなどで平坦化する。また、充填材が印刷に
より充填される場合、余分に印刷された充填材を研磨、
ポリッシングなどで平坦化する必要がある。したがっ
て、従来は回路1層当たり平坦化が2回必要となるた
め、工程が繁雑となり歩留りが低下しコストの増加にも
なるという問題があった。Further, as shown in FIG. 10, when an interlayer insulating layer 52 is formed on a base material 50, the surface undulates due to the influence of the circuit 51. If the surface undulates in this way, the next time a circuit is formed, poor resolution of the resist and uneven etching will occur.
Flatten by polishing or the like. Also, when the filler is filled by printing, polishing the extra printed filler,
It is necessary to planarize by polishing or the like. Therefore, conventionally, flattening is required twice for each layer of the circuit, so that there is a problem that the process is complicated, the yield is reduced, and the cost is increased.
【0008】本発明は、このような従来技術の問題点に
鑑みてなされたもので、ビアホールの接続信頼性に優
れ、低コストでかつ高密度配線に適したビルドアップ多
層プリント配線板及びその製造方法を提供することを目
的とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned problems of the prior art, and has an excellent connection reliability of via holes, is low-cost, and is suitable for high-density wiring. The aim is to provide a method.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明の非貫通ビアホールを有するビルドアップ多
層プリント配線板は、層間絶縁層と前記層間絶縁層に形
成されめっきで導電化された非貫通ビアホールとが絶縁
性樹脂により平坦化され、その平坦化された面に回路及
び導電化されたビアホールを覆うビアホールパッドが形
成されていることを特徴とする。In order to achieve the above object, a build-up multilayer printed wiring board having a non-penetrating via hole according to the present invention is formed in an interlayer insulating layer and the interlayer insulating layer, and is made conductive by plating. The non-through via hole is flattened by an insulating resin, and a via hole pad that covers the circuit and the conductive via hole is formed on the flattened surface.
【0010】すなわち、図1に示すように、第1のビア
ホール4a及び層間絶縁層3が絶縁性樹脂6で平坦化さ
れ、その平坦化された面に回路7a及びビアホールパッ
ド7bが形成されている。第2のビアホール4bは、ビ
アホールパッド7bを介して、平坦化された第1のビア
ホール4aと接続している。また、本発明の非貫通ビア
ホールを有するビルドアップ多層プリント配線板は、非
貫通ビアホールに充填された樹脂と前記非貫通ビアホー
ルが形成された層間絶縁層の表面とが平坦化され、その
平坦化された面に回路及びビアホールを覆うビアホール
パッドが形成されていることを特徴とする。That is, as shown in FIG. 1, a first via hole 4a and an interlayer insulating layer 3 are flattened by an insulating resin 6, and a circuit 7a and a via hole pad 7b are formed on the flattened surface. . The second via hole 4b is connected to the planarized first via hole 4a via a via hole pad 7b. Further, in the build-up multilayer printed wiring board having a non-through via hole of the present invention, the resin filled in the non-through via hole and the surface of the interlayer insulating layer in which the non-through via hole is formed are flattened, and the flattened surface is formed. A via hole pad for covering the circuit and the via hole.
【0011】すなわち、図2に示すように、第1のビア
ホール12aは絶縁性又は導電性樹脂14で充填され、
層間絶縁層11及び絶縁性又は導電性樹脂14が平坦化
され、その平坦化された面に回路15aとビアホールパ
ッド15bが形成されている。図2の例では、ビアホー
ル12a,12bの導電化をめっき膜13により行って
いる。That is, as shown in FIG. 2, the first via hole 12a is filled with an insulating or conductive resin 14,
The interlayer insulating layer 11 and the insulating or conductive resin 14 are flattened, and a circuit 15a and a via hole pad 15b are formed on the flattened surface. In the example of FIG. 2, the via holes 12 a and 12 b are made conductive by the plating film 13.
【0012】ここで、回路及びビアホールパッドは、図
3及び図4に示すように、フルアディティブ法で形成さ
れたものとすることができる。回路及び導電化されたビ
アホールを覆うビアホールパッドは1層のめっき膜によ
り形成されている。また、本発明の非貫通ビアホールを
有するビルドアップ多層プリント配線板の製造方法は、
層間絶縁層に非貫通ビアホールを形成する工程と、前記
非貫通ビアホール及び前記層間絶縁層上にめっき膜を形
成する工程と、前記非貫通ビアホールの周囲以外のめっ
き膜を除去する工程と、前記非貫通ビアホール内部及び
層間絶縁層上に絶縁性樹脂を塗工する工程と、前記絶縁
性樹脂を前記非貫通ビアホールの表面が露出するまで研
磨して平坦化する工程と、前記平坦化された絶縁性樹脂
及び非貫通ビアホール上にめっき膜を形成する工程とを
含むことを特徴とする。Here, as shown in FIGS. 3 and 4, the circuit and the via hole pad may be formed by a full additive method. The via hole pad covering the circuit and the conductive via hole is formed of a single layer of plating film. Further, a method of manufacturing a build-up multilayer printed wiring board having a non-through via hole of the present invention,
Forming a non-through via hole in the interlayer insulating layer, forming a plating film on the non-through via hole and the interlayer insulating layer, removing a plating film other than around the non-through via hole; A step of applying an insulating resin inside the through via hole and on the interlayer insulating layer, a step of polishing the insulating resin until the surface of the non-through via hole is exposed, and a step of flattening; Forming a plating film on the resin and the non-penetrating via hole.
【0013】すなわち、図5に示すように、ビアホール
4aが形成された層間絶縁層3に絶縁性樹脂6を塗工す
る工程(図5(e))と、絶縁性樹脂6を平坦化してめ
っき膜7を形成する工程(図5(f))とを含む。層間
絶縁層3とめっきで導電化された非貫通ビアホール4a
を平坦化するための絶縁性樹脂6としては、感光性樹脂
又は熱硬化性樹脂を用いることができる。また、絶縁性
樹脂6として層間絶縁層3と同じ樹脂を用いることによ
り、材料のコスト低減及び管理の簡略化を図ることがで
きる。That is, as shown in FIG. 5, a step of applying an insulating resin 6 to the interlayer insulating layer 3 in which the via hole 4a is formed (FIG. 5E), and flattening the insulating resin 6 by plating. Forming the film 7 (FIG. 5F). Non-through via hole 4a rendered conductive by plating with interlayer insulating layer 3
A photosensitive resin or a thermosetting resin can be used as the insulating resin 6 for flattening. Further, by using the same resin as the interlayer insulating layer 3 as the insulating resin 6, it is possible to reduce material costs and simplify management.
【0014】また、例えばフォトビアホールのように層
間絶縁層が感光性樹脂の場合、従来技術では解像性及び
めっき密着性がともに良い樹脂が必要となる。その場
合、材料の選択及び製造工程の条件管理の余裕度が狭く
なる。しかし、本発明によると、層間絶縁層には解像性
の良い樹脂、平坦化のための絶縁性樹脂にはめっき密着
性の高い樹脂と使い分けることが可能であり、材料選択
及び製造工程の条件管理の余裕度を広め、ひいてはコス
ト低減及び歩留り向上になる。また、レーザーやプラズ
マアッシングなど方法でビアホールを形成する場合にお
いても同様の使い分けが可能である。In the case where the interlayer insulating layer is made of a photosensitive resin such as a photo via hole, a resin having both good resolution and good plating adhesion is required in the prior art. In that case, the margin of selection of materials and control of conditions in the manufacturing process is reduced. However, according to the present invention, it is possible to selectively use a resin having good resolution for the interlayer insulating layer and a resin having high plating adhesion for the insulating resin for planarization, and the conditions for the material selection and the manufacturing process are different. This will increase the margin of control, which will result in lower costs and higher yields. In addition, the same use is possible even when a via hole is formed by a method such as laser or plasma ashing.
【0015】また、本発明の非貫通ビアホールを有する
ビルドアップ多層プリント配線板の製造方法は、層間絶
縁層に非貫通ビアホールを形成する工程と、前記非貫通
ビアホールに樹脂を充填する工程と、前記非貫通ビアホ
ールに充填された樹脂及び前記層間絶縁層を同時に研磨
して平坦化する工程と、前記平坦化された面にめっき膜
を形成する工程とを含むことを特徴とする。The method of manufacturing a build-up multilayer printed wiring board having a non-through via hole according to the present invention comprises the steps of: forming a non-through via hole in an interlayer insulating layer; filling the non-through via hole with a resin; The method further includes a step of simultaneously polishing and flattening the resin filled in the non-through via hole and the interlayer insulating layer, and a step of forming a plating film on the flattened surface.
【0016】すなわち、図6に示すように、層間絶縁層
11に形成されたビアホール12aに絶縁性又は導電性
樹脂14を充填する工程(図6(d))と、絶縁性又は
導電性樹脂14と層間絶縁層11を同時に平坦化してめ
っき膜15を形成する工程(図6(e))とを含む。非
貫通ビアホール12aに充填する樹脂14を絶縁性樹脂
とする場合、感光性又は熱硬化性樹脂を用いることがで
き、層間絶縁層11と同じ樹脂を用いれば、材料のコス
ト低減及び管理の簡略化を図ることができる。非貫通ビ
アホール12aに充填する樹脂14を導電性樹脂とする
場合、銅、銀などの金属粒子を含有する導電性ペースト
を用いることができる。That is, as shown in FIG. 6, a step of filling an insulating or conductive resin 14 into a via hole 12a formed in the interlayer insulating layer 11 (FIG. 6D), And a step of simultaneously flattening the interlayer insulating layer 11 to form the plating film 15 (FIG. 6E). When the resin 14 filling the non-penetrating via hole 12a is an insulating resin, a photosensitive or thermosetting resin can be used. If the same resin as the interlayer insulating layer 11 is used, the cost of the material is reduced and the management is simplified. Can be achieved. When the resin 14 filling the non-penetrating via holes 12a is a conductive resin, a conductive paste containing metal particles such as copper and silver can be used.
【0017】本発明によると、回路をエッチング法で形
成する場合、回路及びビアホールパッドのめっき厚にビ
アホールのめっき厚が加わらないため、容易に微細回路
を形成することができる。また、第1のビアホールとそ
の上に形成される第2のビアホールとがビアホールパッ
ドを介して接続されるため、上下のビアホールの位置ず
れによるめっき付きまわり性の低下がない。また、回路
1層当たりの平坦化が1回で済むため、工程を簡略化す
ることができる。According to the present invention, when a circuit is formed by etching, a fine circuit can be easily formed because the plating thickness of the via hole is not added to the plating thickness of the circuit and the via hole pad. In addition, since the first via hole and the second via hole formed thereon are connected via the via hole pad, there is no reduction in the plating coverage due to the misalignment of the upper and lower via holes. In addition, since the planarization per circuit layer can be performed only once, the process can be simplified.
【0018】回路やビアホールパッドをフルアディティ
ブ法で形成すると、回路層がめっきレジストで平坦であ
り、その上に層間絶縁層を平坦性よく形成することがで
きる。このため、平坦化の工程がより簡便にできる。こ
のように、本発明によると、接続信頼性に優れ、低コス
トでかつ高密度配線に適したビルドアップ多層プリント
配線板を提供できる。When a circuit or a via hole pad is formed by a full additive method, a circuit layer is flat with a plating resist, and an interlayer insulating layer can be formed thereon with good flatness. For this reason, the flattening process can be simplified. As described above, according to the present invention, it is possible to provide a build-up multilayer printed wiring board having excellent connection reliability, low cost, and suitable for high-density wiring.
【0019】[0019]
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を説明する。 〔実施例1〕図5の工程断面図を用いて、本発明による
ビルドアップ多層配線プリント配線板の製造方法の一例
について説明する。本実施例では、図1に断面構造を略
示するビルドアップ多層配線プリント配線板を製造し
た。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. [Embodiment 1] An example of a method of manufacturing a build-up multilayer wiring printed wiring board according to the present invention will be described with reference to the process sectional view of FIG. In this example, a build-up multilayer wiring printed wiring board whose cross-sectional structure is schematically shown in FIG. 1 was manufactured.
【0020】所要の大きさに裁断した片面銅張りガラス
エポキシ積層板1(日立化成工業社製;MCL−E6
7)にエッチングレジスト(日立化成工業社製;S−4
25)をラミネートし、回路幅及び間隙が10μm刻み
に40μmから100μmまでのパターンと直径150
μmのビアホールパッドのパターンを有するフォトマス
クを介して、露光機(オーク製作所社製;HMW−59
0、露光量40mJ/cm2)で露光し、40℃の現像
液(炭酸ナトリウム;10g/l)を1.8kgf/c
m2の圧力で30秒間スプレー処理した後、水洗した。Single-sided copper-clad glass epoxy laminate 1 cut to a required size (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd .; MCL-E6)
7) An etching resist (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd .; S-4)
25) is laminated, and the circuit width and the gap are in a pattern of 40 μm to 100 μm in steps of 10 μm and the diameter is 150
An exposure machine (manufactured by Oak Manufacturing Co .; HMW-59) through a photomask having a pattern of via hole pads of μm.
0, exposure amount 40 mJ / cm 2 ), and a developing solution (sodium carbonate; 10 g / l) at 40 ° C. is 1.8 kgf / c.
After spraying for 30 seconds at a pressure of m 2 , it was washed with water.
【0021】続いて、40℃のエッチング液(塩化第2
鉄45ボーメ)を1.2kgf/cm2の圧力で90秒
間スプレー処理し、水洗後40℃の剥離液(水酸化ナト
リウム;25g/l)に2分間浸漬してエッチングレジ
ストを剥離後水洗、乾燥して回路2a及びビアホールパ
ッド2bを形成した(図5(a))。次に30℃の粗化
液(硫酸5ml/l、過硫酸アンモニウム200g/
l)で2分間処理して、回路2a及びビアホールパッド
2bの表面に微細な凹凸を形成した。これを水洗後、7
0℃の酸化膜形成液(リン酸三ナトリウム30g/l、
過塩素酸ナトリウム100g/l、水酸化ナトリウム1
2g/l)で5分間処理して前記凹凸面に酸化膜を得
た。次いで、水洗後、45℃の還元液(ジメチルアミノ
ボラン10g/l、水酸化ナトリウム10g/l)で1
分間処理して、前記酸化膜を還元した後、水洗、乾燥
し、酸化還元膜を得た。Subsequently, an etching solution (40 ° C.
(45 bar of iron) is spray-treated at a pressure of 1.2 kgf / cm 2 for 90 seconds, washed with water, immersed in a stripping solution (sodium hydroxide; 25 g / l) at 40 ° C. for 2 minutes to remove the etching resist, washed with water, and dried. Thus, a circuit 2a and a via hole pad 2b were formed (FIG. 5A). Next, a 30 ° C. roughening solution (sulfuric acid 5 ml / l, ammonium persulfate 200 g /
1) for 2 minutes to form fine irregularities on the surfaces of the circuit 2a and the via hole pad 2b. After washing with water,
Oxide film forming solution at 0 ° C. (trisodium phosphate 30 g / l,
Sodium perchlorate 100g / l, sodium hydroxide 1
(2 g / l) for 5 minutes to obtain an oxide film on the uneven surface. Then, after washing with water, 1% with a reducing solution (dimethylaminoborane 10 g / l, sodium hydroxide 10 g / l) at 45 ° C.
After treating for 2 minutes to reduce the oxide film, it was washed with water and dried to obtain a redox film.
【0022】次に、下記の表1に示すように各成分を配
合した感光性樹脂Aを15本/cmのステンレスメッシ
ュスクリーンで印刷塗工し、80℃の乾燥炉で30分間
乾燥して、厚さ約50μmの層間絶縁層3を形成した。
その後、フィルムマスクを層間絶縁層3の表面に密着
し、超高圧水銀ランプで紫外線を700mJ/cm2照
射して露光し、40℃の現像液(炭酸ナトリウム;10
g/l)を1.8kgf/cm2の圧力で2分間スプレ
ー処理し、水洗後150℃の乾燥炉で30分間硬化し、
直径約100μmの第1のビアホール4aを形成した
(図5(b))。Next, as shown in Table 1 below, photosensitive resin A containing each component was printed and coated on a stainless steel screen of 15 / cm and dried in a drying oven at 80 ° C. for 30 minutes. An interlayer insulating layer 3 having a thickness of about 50 μm was formed.
Thereafter, a film mask is brought into close contact with the surface of the interlayer insulating layer 3 and irradiated with ultraviolet rays at 700 mJ / cm 2 using an ultra-high pressure mercury lamp, and exposed to a developing solution (sodium carbonate;
g / l) at a pressure of 1.8 kgf / cm 2 for 2 minutes, washed with water and cured in a drying oven at 150 ° C. for 30 minutes.
A first via hole 4a having a diameter of about 100 μm was formed (FIG. 5B).
【0023】次に、めっき触媒液(日立化成工業社製;
HB101B)で5分間処理して、水洗後、活性化液
(日立化成工業社製;ADP601)で5分間処理し
た。次いで水洗後、38℃のフラッシュ銅めっき液(日
立化成工業社製;CUST2000)で30分間処理し
て、約0.5μm厚のめっき膜を全面に形成し、水洗、
乾燥した。続いて、電気銅めっき液(硫酸銅200g/
l、硫酸10g/l)で電流密度1.5A/dm2にて
60分間銅めっきを行い、水洗後170℃の乾燥炉で4
0分間硬化し、厚さ約20μmのめっき膜5を得た(図
5(c))。Next, a plating catalyst solution (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd .;
HB101B) for 5 minutes, washed with water, and then treated with an activating solution (ADP601, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) for 5 minutes. Next, after washing with water, the plate is treated with a 38 ° C. flash copper plating solution (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd .; CUST2000) for 30 minutes to form a plating film having a thickness of about 0.5 μm on the entire surface.
Dried. Subsequently, an electrolytic copper plating solution (copper sulfate 200 g /
l, in a drying oven at sulfate 10 g / l) for 60 minutes copper plating at a current density of 1.5A / dm 2, the water washing after 170 ° C. 4
The coating was cured for 0 minutes to obtain a plating film 5 having a thickness of about 20 μm (FIG. 5C).
【0024】次に、ビアホール周囲直径約150μm以
外のめっき膜5を所定のエッチングにより除去した(図
5(d))。続いて、下記の表1に示すように成分を配
合した熱硬化性樹脂Bを24本/cmのステンレスメッ
シュスクリーンで印刷塗工し、真空脱泡後、170℃の
乾燥炉で90分間硬化して、層間絶縁層3の上で厚さ約
20μmの絶縁性樹脂6を得た。この工程で、第1のビ
アホール4aの内部は絶縁性樹脂6によって充填される
(図5(e))。Next, the plating film 5 having a diameter other than about 150 μm around the via hole was removed by predetermined etching (FIG. 5D). Subsequently, a thermosetting resin B containing components as shown in the following Table 1 was applied by printing on a 24 mesh / cm stainless steel mesh screen, defoamed in vacuum, and cured in a drying oven at 170 ° C. for 90 minutes. Thus, an insulating resin 6 having a thickness of about 20 μm was obtained on the interlayer insulating layer 3. In this step, the inside of the first via hole 4a is filled with the insulating resin 6 (FIG. 5E).
【0025】次に、研磨ベルト(三共理科学社製;CC
−400)を用い、ベルトサンダーで平坦化した後、8
0℃、pH14の過マンガン酸水溶液(過マンガン酸カ
リウム60g/l)で5分間処理し、水洗後40℃の中
和液(硫酸ヒドロキシルアミン30g/l)で5分間処
理した。さらに水洗後、めっき触媒液(日立化成工業社
製;HB101B)で5分間処理して、水洗後、活性化
液(日立化成工業社製;ADP601)で5分間処理し
た。次いで水洗後、38℃のフラッシュ銅めっき液(日
立化成工業社製;CUST2000)で30分間処理し
て、約0.5μm厚のめっき膜を全面に形成し、水洗、
乾燥した。続いて、電気銅めっき液(硫酸銅200g/
l、硫酸10g/l)で電流密度1.5A/dm2にて
60分間銅めっきを行い、水洗後170℃の乾燥炉で4
0分間硬化し、厚さ約20μmのめっき膜7を得た(図
5(f))。Next, a polishing belt (manufactured by Sankyo Rikagaku Co., Ltd .; CC)
-400), and after flattening with a belt sander, 8
The mixture was treated for 5 minutes with an aqueous solution of permanganic acid (potassium permanganate 60 g / l) at 0 ° C and a pH of 14, washed with water and treated with a neutralizing solution (hydroxylamine sulfate 30 g / l) at 40 ° C for 5 minutes. Further, after washing with water, the plate was treated with a plating catalyst solution (HB101B, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) for 5 minutes. After washing with water, the plate was treated with an activating solution (ADP601, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) for 5 minutes. Next, after washing with water, the plate is treated with a 38 ° C. flash copper plating solution (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd .; CUST2000) for 30 minutes to form a plating film having a thickness of about 0.5 μm on the entire surface.
Dried. Subsequently, an electrolytic copper plating solution (copper sulfate 200 g /
l, in a drying oven at sulfate 10 g / l) for 60 minutes copper plating at a current density of 1.5A / dm 2, the water washing after 170 ° C. 4
The coating was cured for 0 minutes to obtain a plating film 7 having a thickness of about 20 μm (FIG. 5F).
【0026】次に、図5(a)〜(f)までの工程を同
様に反復した後、更に図5(a)の工程を行い、図1に
示すように、回路2a,7a,8a、ビアホールパッド
2b,7b,8b、及び内部が絶縁性樹脂で充填された
ビアホール4a,4bを含むビルドアップ多層プリント
配線板を得た。第1のビアホール4aと層間絶縁層3は
絶縁性樹脂6で平坦化され、その平坦化された面に回路
7a及びビアホールパッド7bが形成されている。第2
のビアホール4bは、第1のビアホール4aの上に重ね
て形成され、ビアホールパッド7bを介して平坦化され
た第1のビアホール4aと接続している。Next, after repeating the steps of FIGS. 5A to 5F in the same manner, the step of FIG. 5A is further performed, and as shown in FIG. 1, the circuits 2a, 7a, 8a, A build-up multilayer printed wiring board including via-hole pads 2b, 7b, 8b and via-holes 4a, 4b filled with an insulating resin was obtained. The first via hole 4a and the interlayer insulating layer 3 are flattened by an insulating resin 6, and a circuit 7a and a via hole pad 7b are formed on the flattened surface. Second
Via hole 4b is formed on first via hole 4a, and is connected to planarized first via hole 4a via via hole pad 7b.
【0027】[0027]
【表1】 [Table 1]
【0028】〔実施例2〕本発明によるビルドアップ多
層配線プリント配線板の製造方法の他の例について説明
する。この実施例は絶縁性樹脂膜6の形成方法が実施例
1と異なる点以外は実施例1と同様であり、図1に断面
構造を略示するビルドアップ多層配線プリント配線板を
製造した。[Embodiment 2] Another example of a method of manufacturing a build-up multilayer wiring printed wiring board according to the present invention will be described. This example is the same as Example 1 except that the method of forming the insulating resin film 6 was different from Example 1, and a build-up multilayer wiring printed wiring board whose sectional structure is schematically shown in FIG. 1 was manufactured.
【0029】すなわち、図5に示した実施例1の(e)
の工程において、表1の熱硬化性樹脂Bに代えて表1の
感光性樹脂Aを24本/cmのステンレスメッシュスク
リーンで印刷塗工し、真空脱泡した。その後、超高圧水
銀ランプで紫外線を700mJ/cm2照射して露光
後、150℃の乾燥炉で30分間硬化し、層間絶縁層3
の上で厚さ約20μmの絶縁性樹脂6を得た。他の工程
は実施例1と同様に処理して、図1に示すようなビルド
アップ多層プリント配線板を得た。That is, (e) of the first embodiment shown in FIG.
In the step (2), instead of the thermosetting resin B in Table 1, the photosensitive resin A in Table 1 was applied by printing on a 24 mesh / cm stainless steel mesh screen, followed by vacuum defoaming. After that, exposure was performed by irradiating an ultraviolet ray at 700 mJ / cm 2 with an ultra-high pressure mercury lamp, followed by curing in a drying oven at 150 ° C. for 30 minutes.
Then, an insulating resin 6 having a thickness of about 20 μm was obtained. Other steps were performed in the same manner as in Example 1 to obtain a build-up multilayer printed wiring board as shown in FIG.
【0030】〔実施例3〕本発明によるビルドアップ多
層配線プリント配線板の製造方法の他の例について説明
する。この実施例は、層間絶縁層3の形成方法及びビア
ホールの形成方法が実施例1と異なる点以外は実施例1
と同様であり、図1の断面模式図に示されるビルドアッ
プ多層配線プリント配線板を製造した。[Embodiment 3] Another example of the method of manufacturing a build-up multilayer wiring printed wiring board according to the present invention will be described. This embodiment is different from the first embodiment except that the method of forming the interlayer insulating layer 3 and the method of forming the via hole are different from the first embodiment.
A build-up multilayer wiring printed wiring board shown in FIG. 1 was manufactured.
【0031】すなわち、図5に示した実施例1の(b)
の酸化還元膜の形成工程までを実施例1と同様に行い、
その後、表1に示した熱硬化性樹脂Bを15本/cmの
ステンレスメッシュスクリーンで印刷塗工し、170℃
の乾燥炉で90分間硬化して、厚さ約50μmの層間絶
縁層3を得た。次に、メタルマスクを介してビアホール
パッド2bが露出するようにエキシマレーザーのパルス
を調整して照射し、直径約100μmの第1のビアホー
ル4aを形成した。他の工程は実施例1と同様に処理し
て、図1に示すようなビルドアップ多層プリント配線板
を得た。That is, (b) of the first embodiment shown in FIG.
Up to the step of forming the redox film in the same manner as in Example 1,
Thereafter, the thermosetting resin B shown in Table 1 was applied by printing on a stainless steel screen of 15 pieces / cm at 170 ° C.
Was cured in a drying furnace for 90 minutes to obtain an interlayer insulating layer 3 having a thickness of about 50 μm. Next, a pulse of an excimer laser was adjusted and irradiated so that the via hole pad 2b was exposed through a metal mask to form a first via hole 4a having a diameter of about 100 μm. Other steps were performed in the same manner as in Example 1 to obtain a build-up multilayer printed wiring board as shown in FIG.
【0032】〔実施例4〕本発明によるビルドアップ多
層配線プリント配線板の製造方法の他の例について説明
する。この実施例では、ガラスエポキシ積層板を用いて
図3に断面構造を略示するビルドアップ多層プリント配
線板を製造した。[Embodiment 4] Another example of a method for manufacturing a build-up multilayer wiring printed wiring board according to the present invention will be described. In this example, a build-up multilayer printed wiring board whose sectional structure is schematically shown in FIG. 3 was manufactured using a glass epoxy laminate.
【0033】すなわち、実施例1の図5(a)に示した
片面銅張りガラスエポキシ積層板1に代えて、図7に示
すようにガラスエポキシ積層板17(日立化成工業社
製;LE−67N)を用い、アディティブ用接着剤フィ
ルム(日立化成工業社製;AP−1530)をラミネー
トし、メタルハライドランプで紫外線を1.5J/cm
2照射した後、150℃の乾燥炉で40分間硬化して接
着剤層18を形成し、80℃、pH14の過マンガン酸
水溶液(過マンガン酸カリウム60g/l)で10分間
処理し、水洗後40℃の中和液(硫酸ヒドロキシルアミ
ン30g/l)で5分間処理した。さらに水洗後、めっ
き触媒液(日立化成工業社製;HB101B)で5分間
処理して、水洗後、活性化液(日立化成工業社製;AD
P601)で5分間処理し、水洗、乾燥した。That is, instead of the single-sided copper-clad glass-epoxy laminate 1 shown in FIG. 5A of Example 1, a glass-epoxy laminate 17 (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd .; LE-67N) as shown in FIG. ), An additive adhesive film (Hitachi Kasei Kogyo; AP-1530) is laminated, and ultraviolet rays are irradiated at 1.5 J / cm by a metal halide lamp.
2 After irradiation, cure in a drying oven at 150 ° C. for 40 minutes to form an adhesive layer 18, treat with an aqueous solution of permanganic acid (potassium permanganate 60 g / l) at 80 ° C. and pH 14 for 10 minutes, and wash with water The mixture was treated with a neutralizing solution (hydroxylamine sulfate 30 g / l) at 40 ° C. for 5 minutes. Further, after washing with water, the plate is treated with a plating catalyst solution (HB101B, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) for 5 minutes.
P601) for 5 minutes, washed with water and dried.
【0034】次に、めっきレジスト19(日立化成工業
社製;SR−3000)をラミネートし、回路幅及び間
隙が10μm刻みに40μmから100μmまでのパタ
ーンと直径150μmのビアホールパッドのパターンを
有するフォトマスクを介して、露光機(オーク製作所社
製;HMW−590、露光量250mJ/cm2)によ
り露光し、40℃の現像液(ジエチレングリコールモノ
ブチルエーテル;200ml/l、ホウ砂;8g/l)
を1.8kgf/cm2の圧力で90秒間スプレー処理
した後、水洗、乾燥した。Next, a plating resist 19 (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd .; SR-3000) is laminated, and a photomask having a pattern of 40 μm to 100 μm in a circuit width and a gap of 10 μm and a pattern of a via hole pad having a diameter of 150 μm is provided. Through an exposure machine (manufactured by Oak Manufacturing Co., Ltd .; HMW-590, exposure amount 250 mJ / cm 2 ), and a developing solution at 40 ° C. (diethylene glycol monobutyl ether; 200 ml / l, borax; 8 g / l)
Was sprayed at a pressure of 1.8 kgf / cm 2 for 90 seconds, washed with water and dried.
【0035】次に、70℃、pH12.5の無電解銅め
っき液(硫酸銅五水和物10g/l、EDTA40g/
l、ポリエチレングリコール20g/l、ホルマリン2
ml/l)に浸漬し、12時間銅めっきし、水洗後17
0℃の乾燥炉で40分間硬化し、厚さ約20μmの回路
20a及びビアホールパッド20bを形成した。その
後、実施例1の図5(b)と同様にして層間絶縁層21
を形成し、また層間絶縁層に直径100μmの第1のビ
アホール22aを形成した(図3参照)。実施例1では
回路2aによって凹凸が形成された基材1の上に層間絶
縁層3を形成したため、図5(b)に示すように層間絶
縁層3の表面がうねったが、この実施例ではフルアディ
ティブ法を採用したため回路20a及びビアホールパッ
ド20bが形成された層の表面は平坦である。従って、
その上に形成した層間絶縁層21の表面も平坦になる。Next, an electroless copper plating solution of 70 ° C. and pH 12.5 (copper sulfate pentahydrate 10 g / l, EDTA 40 g /
l, polyethylene glycol 20g / l, formalin 2
ml / l), copper-plated for 12 hours, rinsed with water for 17 hours
The composition was cured in a drying oven at 0 ° C. for 40 minutes to form a circuit 20 a and a via-hole pad 20 b having a thickness of about 20 μm. Thereafter, the interlayer insulating layer 21 is formed in the same manner as in FIG.
Was formed, and a first via hole 22a having a diameter of 100 μm was formed in the interlayer insulating layer (see FIG. 3). In Example 1, since the interlayer insulating layer 3 was formed on the substrate 1 on which the unevenness was formed by the circuit 2a, the surface of the interlayer insulating layer 3 undulated as shown in FIG. 5B. The surface of the layer where the circuit 20a and the via hole pad 20b are formed is flat because the full additive method is employed. Therefore,
The surface of the interlayer insulating layer 21 formed thereon also becomes flat.
【0036】次に、図5(c)と同様にして層間絶縁層
21の上に厚さ20μmのめっき膜を形成し、図5
(d)と同様にしてビアホール周囲直径約150μm以
外のめっき膜をエッチング除去した。こうして、第1の
ビアホール22aをめっき膜23によって導電化した。
次に、図5(e)と同様にして層間絶縁層21の上で厚
さ約20μmの絶縁性樹脂24を得、研磨ベルトを用い
て平坦化した。その上に、回路20a及びビアホールパ
ッド20bの形成と同様にフルアディティブ法で回路2
5a及びビアホールパッド25bを形成し、同様の工程
を反復して、第1のビアホール22a上に第2のビアホ
ール22bを形成した。その後、第1のビアホールの場
合と同様に第2のビアホールをめっき膜により導電化
し、絶縁性樹脂で第2のビアホール22bを充填する工
程、絶縁性樹脂表面を平坦化する工程を経た後、フルア
ディティブ法により回路26a及び第2のビアホール2
2b上のビアホールパッド26bを形成した。Next, a plating film having a thickness of 20 μm is formed on the interlayer insulating layer 21 in the same manner as in FIG.
In the same manner as in (d), the plating film having a diameter other than about 150 μm around the via hole was removed by etching. Thus, the first via hole 22 a was made conductive by the plating film 23.
Next, an insulating resin 24 having a thickness of about 20 μm was obtained on the interlayer insulating layer 21 in the same manner as in FIG. 5E, and flattened using a polishing belt. On top of that, the circuit 2a is formed by the full additive method similarly to the formation of the circuit 20a and the via hole pad 20b.
5a and a via hole pad 25b were formed, and the same steps were repeated to form a second via hole 22b on the first via hole 22a. After that, as in the case of the first via hole, the second via hole is made conductive by a plating film, the second via hole 22b is filled with an insulating resin, and the insulating resin surface is flattened. Circuit 26a and second via hole 2 by additive method
A via hole pad 26b on 2b was formed.
【0037】〔実施例5〕図6の工程断面図を用いて、
本発明によるビルドアップ多層配線プリント配線板の製
造方法の他の例について説明する。本実施例では、図2
に断面構造を略示するビルドアップ多層配線プリント配
線板を製造した。[Embodiment 5] Referring to the process sectional view of FIG.
Another example of the method for manufacturing a build-up multilayer wiring printed wiring board according to the present invention will be described. In this embodiment, FIG.
In this example, a build-up multilayer wiring printed wiring board schematically showing a cross-sectional structure was manufactured.
【0038】図6(a)〜(c)までの工程は、実施例
1の図5(a)〜(c)までの工程と同じである。ま
ず、図6(a)に示すように、所要の大きさに裁断した
片面銅張りガラスエポキシ積層板9に回路10a及びビ
アホールパッド10bを形成しする。次に、図6(b)
に示すように、厚さ約50μmの層間絶縁層11と、直
径約100μmの第1のビアホール12aを形成し、続
いて図6(c)に示すように、層間絶縁層11上に厚さ
約20μmのめっき膜13を形成した。The steps from FIG. 6A to FIG. 6C are the same as the steps from FIG. 5A to FIG. First, as shown in FIG. 6A, a circuit 10a and a via hole pad 10b are formed on a single-sided copper-clad glass epoxy laminate 9 cut into a required size. Next, FIG.
As shown in FIG. 6A, an interlayer insulating layer 11 having a thickness of about 50 μm and a first via hole 12a having a diameter of about 100 μm are formed. Subsequently, as shown in FIG. A plating film 13 of 20 μm was formed.
【0039】次に、表1に示した熱硬化性樹脂Bを25
0μm厚のメタルマスクで第1のビアホール12a中に
印刷充填し、170℃の乾燥炉で90分間硬化して絶縁
性樹脂14を得た(図6(d))。次に、研磨ベルト
(三共理科学社製;CC−400)を用い、ベルトサン
ダーで第1のビアホール12a以外のめっき膜がなくな
るまで研磨して平坦化した後、80℃、pH14の過マ
ンガン酸水溶液(過マンガン酸カリウム60g/l)で
5分間処理し、水洗後、40℃の中和液(硫酸ヒドロキ
シルアミン30g/l)で5分間処理した。さらに水洗
後、めっき触媒液(日立化成工業社製;HB101B)
で5分間処理して、水洗後、活性化液(日立化成工業社
製;ADP601)で5分間処理した。Next, the thermosetting resin B shown in Table 1 was added to 25
The first via hole 12a was printed and filled with a metal mask having a thickness of 0 μm, and cured in a drying oven at 170 ° C. for 90 minutes to obtain an insulating resin 14 (FIG. 6D). Next, using a polishing belt (manufactured by Sankyo Rikagaku Co., Ltd .; CC-400), the surface is polished and flattened with a belt sander until the plating film other than the first via hole 12a disappears, and then permanganic acid at 80 ° C. and pH 14 is used. The mixture was treated with an aqueous solution (potassium permanganate 60 g / l) for 5 minutes, washed with water, and then treated with a neutralization solution (hydroxylamine sulfate 30 g / l) at 40 ° C for 5 minutes. After washing with water, a plating catalyst solution (HB101B, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.)
For 5 minutes, washed with water, and then treated with an activating solution (ADP601, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) for 5 minutes.
【0040】次いで水洗後、38℃のフラッシュ銅めっ
き液(日立化成工業社製;CUST2000)で30分
間処理して、約0.5μm厚のめっき膜を全面に形成
し、水洗、乾燥した。続いて、電気銅めっき液(硫酸銅
200g/l、硫酸10g/l)で電流密度1.5A/
dm2、60分間銅めっきを行い、水洗後170℃の乾
燥炉で40分間硬化し、厚さ約20μmのめっき膜15
を得た(図6(e))。Next, after washing with water, the resultant was treated with a 38 ° C. flash copper plating solution (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd .; CUST2000) for 30 minutes to form a plating film having a thickness of about 0.5 μm on the entire surface, washed with water and dried. Subsequently, an electric copper plating solution (copper sulfate 200 g / l, sulfuric acid 10 g / l) was used to produce a current density of 1.5 A /
dm 2 , copper plating for 60 minutes, washing with water, curing in a drying oven at 170 ° C. for 40 minutes, and plating film 15 having a thickness of about 20 μm.
Was obtained (FIG. 6E).
【0041】次に、図6(a)〜(e)までの処理を同
様に行った後、更に図6(a)の工程を行った。こうし
て、図2に示すように、回路10a,15a,16a、
ビアホールパッド10b,15b,16b、及び内部が
絶縁性樹脂14で充填されたビアホール12a,12b
を含むビルドアップ多層プリント配線板を得た。ビアホ
ール12a,12b及び層間絶縁層11は平坦化され、
その平坦化された面に回路15a,16a及びビアホー
ルパッド10b,15bが形成されている。第2のビア
ホール12bは、第1のビアホール12aの上に重ねて
形成され、ビアホールパッド15bを介して平坦化され
た第1のビアホール12aと接続している。Next, after the processes of FIGS. 6A to 6E were performed in the same manner, the process of FIG. 6A was further performed. Thus, as shown in FIG. 2, the circuits 10a, 15a, 16a,
Via-hole pads 10b, 15b, 16b, and via-holes 12a, 12b filled with insulating resin 14
Was obtained. The via holes 12a and 12b and the interlayer insulating layer 11 are flattened,
Circuits 15a and 16a and via hole pads 10b and 15b are formed on the flattened surface. The second via hole 12b is formed so as to overlap the first via hole 12a, and is connected to the planarized first via hole 12a via the via hole pad 15b.
【0042】〔実施例6〕本発明によるビルドアップ多
層配線プリント配線板の製造方法の他の例について説明
する。この実施例は、ビアホール内部に絶縁性樹脂に代
えて導電性樹脂を充填した以外は実施例5と同様であ
る。すなわち、実施例5の図6(d)の工程で、熱硬化
性樹脂Bの代わりに導電性ペースト(アサヒ化学研究所
製;ACP−052)を用いて印刷充填し、170℃の
乾燥炉で30分間硬化して、導電性樹脂14を得た。他
の工程は実施例5と同様に処理して、図2に示すような
ビルドアップ多層プリント配線板を得た。[Embodiment 6] Another example of a method of manufacturing a build-up multilayer wiring printed wiring board according to the present invention will be described. This embodiment is the same as the fifth embodiment except that the inside of the via hole is filled with a conductive resin instead of the insulating resin. That is, in the step of FIG. 6D of Example 5, printing and filling were performed by using a conductive paste (ACP-052, manufactured by Asahi Chemical Laboratories) instead of the thermosetting resin B, and the mixture was dried in a 170 ° C. drying oven. After curing for 30 minutes, a conductive resin 14 was obtained. Other processes were performed in the same manner as in Example 5 to obtain a build-up multilayer printed wiring board as shown in FIG.
【0043】〔実施例7〕本発明によるビルドアップ多
層配線プリント配線板の製造方法の他の例について説明
する。この実施例は、実施例5において、回路及びビア
ホールパッドを実施例4と同様にフルアディティブ法で
形成したものに相当する。[Embodiment 7] Another example of a method of manufacturing a build-up multilayer wiring printed wiring board according to the present invention will be described. This embodiment corresponds to the fifth embodiment in which the circuit and the via hole pad are formed by the full additive method as in the fourth embodiment.
【0044】図4は、本実施例によって製造されたビル
ドアップ多層プリント配線板の断面模式図である。ガラ
スエポキシ積層板27上に接着剤層28が形成され、そ
の上にパターン化しためっきレジスト29を用いてフル
アディティブ法で回路30a及びビアホールパッド30
bを形成した。その上の層間絶縁層31に設けた第1の
ビアホール32aをめっき膜33で導電化し、表1に示
した熱硬化性樹脂B又は導電性樹脂で第1のビアホール
32aの内部を充填した後、第1のビアホール32a以
外のめっき膜がなくなるまで研磨して平坦化し、その平
坦化された表面上にフルアディティブ法で回路35a及
びビアホールパッド35bを形成した。その上に設けら
れた層間絶縁層に同様にしてめっき膜で導電化された第
2のビアホール32bを形成し、絶縁性樹脂又は導電性
樹脂で第2のビアホール32bの内部を充填した後、第
2のビアホール32b以外のめっき膜がなくなるまで研
磨して平坦化し、その平坦化された表面上にパターン化
しためっきレジスト29を用いてフルアディティブ法で
回路36a及びビアホールパッド36bを形成した。FIG. 4 is a schematic sectional view of a build-up multilayer printed wiring board manufactured according to this embodiment. An adhesive layer 28 is formed on a glass epoxy laminate 27, and a circuit 30a and a via hole pad 30 are formed on the adhesive layer 28 by a fully additive method using a patterned plating resist 29.
b was formed. After the first via hole 32a provided in the interlayer insulating layer 31 thereon is made conductive by the plating film 33 and the inside of the first via hole 32a is filled with the thermosetting resin B or the conductive resin shown in Table 1, Polishing and flattening were performed until the plating film other than the first via hole 32a disappeared, and a circuit 35a and a via hole pad 35b were formed on the flattened surface by a full additive method. Similarly, a second via hole 32b made conductive by a plating film is formed in an interlayer insulating layer provided thereon, and the inside of the second via hole 32b is filled with an insulating resin or a conductive resin. The substrate 36 was polished and flattened until there was no plating film other than the second via hole 32b, and a circuit 36a and a via hole pad 36b were formed on the flattened surface by using a patterned plating resist 29 by a full additive method.
【0045】〔比較例〕比較例について、図11に示し
た工程断面図を用いて説明する。図11(a)及び
(b)は、実施例1の図5(a)及び(b)と同様であ
る。すなわち、図11(a)において、所定の大きさに
裁断した片面銅張りガラスエポキシ積層板53にエッチ
ングによって回路43a及びビアホールパッド43bを
形成し、図(b)において、その上に厚さ約50μmの
層間絶縁層44を形成し、層間絶縁層44に直径約10
0μmの第1のビアホール45aを形成した。Comparative Example A comparative example will be described with reference to a process sectional view shown in FIG. FIGS. 11A and 11B are the same as FIGS. 5A and 5B of the first embodiment. That is, in FIG. 11A, a circuit 43a and a via hole pad 43b are formed by etching on a single-sided copper-clad glass epoxy laminate 53 cut to a predetermined size, and in FIG. Is formed on the interlayer insulating layer 44, and a diameter of about 10
A first via hole 45a of 0 μm was formed.
【0046】次に、研磨ベルト(三共理科学社製;CC
−400)を用い、ベルトサンダーで層間絶縁層44を
平坦化し(図11(c))、実施例1の図5(f)と同
様の処理により厚さ約20μmの第1のめっき46を得
た(図11(d))。続いて、表1に示した熱硬化性樹
脂Bを250μm厚のメタルマスクで印刷充填し、17
0℃の乾燥炉で90分間硬化し絶縁性樹脂47を得た
(図11(e))。再び、ベルトサンダーで平坦化した
後、30℃の粗化液(硫酸5ml/l、過硫酸アンモニ
ウム200g/l)で2分間処理し、さらに水洗後、電
気銅めっき液(硫酸銅200g/l、硫酸10g/l)
で電流密度1.5A/dm2にて30分間銅めっきを行
い、水洗後170℃の乾燥炉で40分間硬化し、厚さ約
10μmの第2のめっき48を得た(図11(f))。
次に、図11(a)から(f)までの処理を同様に行っ
た後、更に図11(a)の処理を行い、図9の断面模式
図に示すようなビルドアップ多層プリント配線板を得
た。Next, a polishing belt (manufactured by Sankyo Rikagaku Co., Ltd .; CC)
Using (−400), the interlayer insulating layer 44 is flattened by a belt sander (FIG. 11C), and a first plating 46 having a thickness of about 20 μm is obtained by the same processing as that of FIG. (FIG. 11D). Subsequently, the thermosetting resin B shown in Table 1 was printed and filled with a 250 μm-thick metal mask.
The resin was cured in a drying oven at 0 ° C. for 90 minutes to obtain an insulating resin 47 (FIG. 11E). After flattening again with a belt sander, the plate was treated with a roughening solution (sulfuric acid 5 ml / l, ammonium persulfate 200 g / l) for 2 minutes at 30 ° C., further washed with water, and then electroplated with copper (200 g / l copper sulfate, 10 g / l)
Copper plating was performed at a current density of 1.5 A / dm 2 for 30 minutes, washed with water, and cured in a drying oven at 170 ° C. for 40 minutes to obtain a second plating 48 having a thickness of about 10 μm (FIG. 11F). ).
Next, after performing the processing of FIGS. 11A to 11F in the same manner, the processing of FIG. 11A is further performed, and a build-up multilayer printed wiring board as shown in a schematic sectional view of FIG. Obtained.
【0047】〔導通検査〕前記実施例1〜7及び比較例
で作製したビルドアップ多層プリント配線板は、回路幅
及び間隙が10μm刻みに40μm〜100μmまでの
回路が3層にそれぞれ10回路ずつ形成されており、各
層の回路はビアホールで接続されている。これらの回路
を電気テスターで導通検査した。検査結果を下記の表2
に示す。表2中の数字は、10の回路のうち断線又は短
絡した回路の数を表す。[Continuity Inspection] In the build-up multilayer printed wiring boards manufactured in the above Examples 1 to 7 and Comparative Example, 10 circuits each having a circuit width and a gap of 40 μm to 100 μm were formed in three layers at intervals of 10 μm. The circuits in each layer are connected by via holes. These circuits were tested for continuity with an electric tester. Table 2 below shows the test results.
Shown in The numbers in Table 2 represent the number of disconnected or short-circuited circuits out of the ten circuits.
【0048】[0048]
【表2】 [Table 2]
【0049】表2から分かるように、実施例1〜3、実
施例5及び実施例6については、回路幅及び間隙が60
μm〜100μmまでの回路に断線及び短絡がなく、回
路幅及び間隙を60μmまで微細化できる。同様に、回
路をフルアディティブ法で形成した実施例4及び実施例
7については、回路幅及び間隙が最小50μmまで断線
及び短絡がなく、回路幅及び間隙を50μmまで微細化
できる。これに対して比較例では、断線及び短絡がない
のは最小80μmなので、回路幅及び間隙を80μmま
でしか微細化できない。As can be seen from Table 2, in Examples 1 to 3, 5 and 6, the circuit width and the gap were 60
There is no disconnection or short circuit in the circuit from μm to 100 μm, and the circuit width and gap can be reduced to 60 μm. Similarly, in Examples 4 and 7 in which circuits are formed by the full additive method, the circuit width and gap can be reduced to a minimum of 50 μm without disconnection and short circuit, and the circuit width and the gap can be reduced to 50 μm. On the other hand, in the comparative example, since there is no disconnection or short circuit at a minimum of 80 μm, the circuit width and the gap can be reduced to only 80 μm.
【0050】比較例の断線又は短絡した箇所を解析して
みると、回路幅及び間隙が70μmの1件については、
ビアホールの断線であり、第2のめっき48が約10μ
mと薄いためであった。回路幅及び間隙が40μm〜6
0μmの回路については、ほどんとの不良箇所が回路間
の短絡であり、回路の裾引きが大きく、十分にエッチン
グされていないためであった。これは、回路厚が第1の
めっき46の厚さと第2のめっき48の厚さを加えた約
30μmあったためである。An analysis of the broken or short-circuited portion of the comparative example shows that, for one case having a circuit width and a gap of 70 μm,
The via hole is broken, and the second plating 48 has a thickness of about 10 μm.
m. Circuit width and gap is 40 μm to 6
In the case of the 0 μm circuit, the most defective portion was a short circuit between the circuits, the footing of the circuit was large, and the circuit was not sufficiently etched. This is because the circuit thickness was about 30 μm, which is the sum of the thickness of the first plating 46 and the thickness of the second plating 48.
【0051】回路の形成を比較例と同様にエッチング法
で形成した実施例1〜3、実施例5及び実施例6につい
ては、どれも回路幅及び間隙が60μm〜100μmま
での回路は裾引きもなく、回路がきれいに形成されてい
た。回路幅及び間隙が40μm、50μmの回路では、
すべての不良箇所が短絡であり、若干の裾引きがあっ
た。実施例4及び実施例7については、回路幅及び間隙
が50μm〜100μmまでの回路がきれいに形成され
ており、40μmの不良箇所は共に断線であり、めっき
レジストの解像不良(現像残り)に起因するものであっ
た。実施例1〜7については、ビアホールの接続不良は
なかった。In Examples 1 to 3, 5 and 6 in which the circuit was formed by the etching method in the same manner as in the comparative example, the circuit having a circuit width and gap of 60 μm to 100 μm also had a footing. No, the circuit was formed neatly. For circuits with circuit widths and gaps of 40 μm and 50 μm,
All defective parts were short-circuited, and there was a slight tailing. In Examples 4 and 7, circuits with a circuit width and gap of 50 μm to 100 μm were formed neatly, and defective portions of 40 μm were both broken, resulting from poor resolution of the plating resist (residual development). Was to do. In Examples 1 to 7, there was no connection failure of the via hole.
【0052】[0052]
【発明の効果】以上のように、本発明によると、層間絶
縁層の平坦化が1層当たり1回で済み、めっき厚さが厚
くならないため、エッチング法による回路形成で微細化
が図れる。また、第1のビアホールと第2のビアホール
とがビアホールパッドを介して接続するため、位置ずれ
によるめっき付きまわり性の低下がない。したがって、
ビアホールの接続信頼性に優れ、低コストでかつ高密度
配線に適したビルドアップ多層プリント配線板を提供す
ることができる。As described above, according to the present invention, the interlayer insulating layer needs to be flattened only once per layer, and the plating thickness does not increase, so that the circuit can be miniaturized by etching. In addition, since the first via hole and the second via hole are connected via the via hole pad, there is no decrease in the plating-related turning property due to the displacement. Therefore,
It is possible to provide a build-up multilayer printed wiring board having excellent via hole connection reliability, low cost, and suitable for high-density wiring.
【図1】本発明によるビルドアップ多層プリント配線板
の一例を示す断面模式図。FIG. 1 is a schematic sectional view showing an example of a build-up multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図2】本発明によるビルドアップ多層プリント配線板
の他の例を示す断面模式図。FIG. 2 is a schematic sectional view showing another example of a build-up multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図3】本発明によるビルドアップ多層プリント配線板
の他の例を示す断面模式図。FIG. 3 is a schematic sectional view showing another example of a build-up multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図4】本発明によるビルドアップ多層プリント配線板
の他の例を示す断面模式図。FIG. 4 is a schematic sectional view showing another example of the build-up multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図5】本発明によるビルドアップ多層プリント配線板
の製造工程の一例を説明する断面模式図。FIG. 5 is a schematic cross-sectional view illustrating an example of a manufacturing process of a build-up multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図6】本発明によるビルドアップ多層プリント配線板
の製造工程の他の例を説明する断面模式図。FIG. 6 is a schematic sectional view illustrating another example of the manufacturing process of the build-up multilayer printed wiring board according to the present invention.
【図7】フォトアディティブ法により回路及びビアホー
ルパッドを形成した基材の断面模式図。FIG. 7 is a schematic cross-sectional view of a substrate on which circuits and via hole pads are formed by a photoadditive method.
【図8】従来のビルドアップ多層プリント配線板の一例
を示す断面模式図。FIG. 8 is a schematic sectional view showing an example of a conventional build-up multilayer printed wiring board.
【図9】従来のビルドアップ多層プリント配線板の他の
例を示す断面模式図。FIG. 9 is a schematic sectional view showing another example of a conventional build-up multilayer printed wiring board.
【図10】回路の影響で層間絶縁層の表面がうねってし
まう様子の説明図。FIG. 10 is a diagram illustrating a state where the surface of an interlayer insulating layer undulates under the influence of a circuit.
【図11】比較例の製造工程を説明する断面模式図。FIG. 11 is a schematic cross-sectional view illustrating a manufacturing process of a comparative example.
1,9,53…片面銅張りガラスエポキシ積層板 2a,7a,8a,10a,15a,16a,20a,
25a,26a,30a,35a,36a,38a,4
3a,49,51…回路 2b,7b,8b,10b,15b,16b,20b,
25b,26b,30b,35b,36b,38b,4
3b…ビアホールパッド 3、11,21,31,39,44,52…層間絶縁層 4a,12a,22a,32a,45a…第1のビアホ
ール 4b,12b,22b,32b,45b…第2のビアホ
ール 5,13,23,33…めっき膜 6,24…絶縁性樹脂 14,34,47…絶縁性又は導電性樹脂 17,27…ガラスエポキシ積層板 18,28…接着剤層 19,29…めっきレジスト 37,42,50…基材 40…ビアホール 41…めっき 46…第1のめっき 48…第2のめっき1, 9, 53 ... single-sided copper-clad glass epoxy laminate 2a, 7a, 8a, 10a, 15a, 16a, 20a,
25a, 26a, 30a, 35a, 36a, 38a, 4
3a, 49, 51 ... circuits 2b, 7b, 8b, 10b, 15b, 16b, 20b,
25b, 26b, 30b, 35b, 36b, 38b, 4
3b: Via hole pad 3, 11, 21, 31, 39, 44, 52 ... Interlayer insulating layer 4a, 12a, 22a, 32a, 45a: First via hole 4b, 12b, 22b, 32b, 45b: Second via hole 5 , 13, 23, 33 ... plating film 6, 24 ... insulating resin 14, 34, 47 ... insulating or conductive resin 17, 27 ... glass epoxy laminate 18, 28 ... adhesive layer 19, 29 ... plating resist 37 , 42, 50 Base material 40 Via hole 41 Plating 46 First plating 48 Second plating
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 宮崎 政志 神奈川県秦野市堀山下1番地 株式会社日 立製作所汎用コンピュータ事業部内 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Masashi Miyazaki 1 Horiyamashita, Hadano-shi, Kanagawa Prefecture General-purpose Computer Division, Hitachi Ltd.
Claims (7)
多層プリント配線板において、層間絶縁層と前記層間絶
縁層に形成されめっきで導電化された非貫通ビアホール
とが絶縁性樹脂により平坦化され、その平坦化された面
に回路及び前記導電化されたビアホールを覆うビアホー
ルパッドが形成されていることを特徴とするビルドアッ
プ多層プリント配線板。In a build-up multilayer printed wiring board having a non-penetrating via hole, an interlayer insulating layer and a non-penetrating via hole formed in the interlayer insulating layer and made conductive by plating are flattened by an insulating resin, and the flatness is obtained. A build-up multilayer printed wiring board, wherein a via hole pad for covering a circuit and the conductive via hole is formed on the surface that has been made conductive.
多層プリント配線板において、非貫通ビアホールに充填
された樹脂と前記非貫通ビアホールが形成された層間絶
縁層の表面とが平坦化され、その平坦化された面に回路
及び前記ビアホールを覆うビアホールパッドが形成され
ていることを特徴とするビルドアップ多層プリント配線
板。2. In a build-up multilayer printed wiring board having a non-penetrating via hole, a resin filled in the non-penetrating via hole and a surface of an interlayer insulating layer in which the non-penetrating via hole is formed are flattened. A via hole pad for covering a circuit and the via hole on a surface of the multi-layer printed wiring board.
ルパッドがフルアディティブ法で形成されていることを
特徴とする請求項1又は2記載のビルドアップ多層プリ
ント配線板。3. The build-up multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein at least one layer of the circuit and the via hole pad are formed by a full additive method.
ルを覆うビアホールパッドは1層のめっき膜により形成
されていることを特徴とする請求項1又は2記載のビル
ドアップ多層プリント配線板。4. The build-up multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein the circuit and the via hole pad that covers the conductive via hole are formed of a single-layer plating film.
多層プリント配線板の製造方法において、層間絶縁層に
非貫通ビアホールを形成する工程と、前記非貫通ビアホ
ール及び前記層間絶縁層上にめっき膜を形成する工程
と、前記非貫通ビアホールの周囲以外のめっき膜を除去
する工程と、前記非貫通ビアホール内部及び層間絶縁層
上に絶縁性樹脂を塗工する工程と、前記絶縁性樹脂を前
記非貫通ビアホールの表面が露出するまで研磨して平坦
化する工程と、前記平坦化された絶縁性樹脂及び非貫通
ビアホール上にめっき膜を形成する工程とを含むことを
特徴とするビルドアップ多層プリント配線板の製造方
法。5. A method of manufacturing a build-up multilayer printed wiring board having a non-penetrating via hole, wherein a non-penetrating via hole is formed in the interlayer insulating layer, and a plating film is formed on the non-penetrating via hole and the interlayer insulating layer. A step of removing a plating film other than around the non-through via hole, a step of applying an insulating resin inside the non-through via hole and on the interlayer insulating layer, and applying the insulating resin to the non-through via hole. Manufacturing a build-up multilayer printed wiring board, comprising: a step of polishing and flattening until a surface is exposed; and a step of forming a plating film on the flattened insulating resin and the non-penetrating via hole. Method.
多層プリント配線板の製造方法において、層間絶縁層に
非貫通ビアホールを形成する工程と、前記非貫通ビアホ
ールに樹脂を充填する工程と、前記非貫通ビアホールに
充填された樹脂及び前記層間絶縁層を同時に研磨して平
坦化する工程と、前記平坦化された面にめっき膜を形成
する工程とを含むことを特徴とするビルドアップ多層プ
リント配線板の製造方法。6. A method of manufacturing a build-up multilayer printed wiring board having a non-penetrating via hole, a step of forming a non-penetrating via hole in an interlayer insulating layer, a step of filling the non-penetrating via hole with a resin, Manufacturing a build-up multilayer printed wiring board, comprising: simultaneously polishing and flattening the resin and the interlayer insulating layer filled into the substrate; and forming a plating film on the flattened surface. Method.
ブ法で形成することを特徴とする請求項5又は6記載の
ビルドアップ多層プリント配線板の製造方法。7. The method for manufacturing a build-up multilayer printed wiring board according to claim 5, wherein at least one circuit is formed by a full additive method.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12686497A JPH10322024A (en) | 1997-05-16 | 1997-05-16 | Build-up multilayer printed wiring board having non-penetrating via holes and method of manufacturing the same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12686497A JPH10322024A (en) | 1997-05-16 | 1997-05-16 | Build-up multilayer printed wiring board having non-penetrating via holes and method of manufacturing the same |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10322024A true JPH10322024A (en) | 1998-12-04 |
Family
ID=14945735
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12686497A Pending JPH10322024A (en) | 1997-05-16 | 1997-05-16 | Build-up multilayer printed wiring board having non-penetrating via holes and method of manufacturing the same |
Country Status (1)
| Country | Link |
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