JPH10322603A

JPH10322603A - 電子カメラ

Info

Publication number: JPH10322603A
Application number: JP9328475A
Authority: JP
Inventors: Nariatsu Takizawa; 成温滝澤; Atsushi Takayama; 淳高山
Original assignee: Konica Minolta Inc
Current assignee: Konica Minolta Inc
Priority date: 1997-03-19
Filing date: 1997-11-28
Publication date: 1998-12-04
Anticipated expiration: 2017-11-28
Also published as: JP3785520B2; US6683643B1

Abstract

(57)【要約】【課題】欠陥画素の経時変化を検出できるようにして、
欠陥画素の経時変化による画質の低下を回避する。【解決手段】電源投入時に、絞り12を閉じて真っ暗な状
態でＣＣＤ１により１画面分撮影し、該撮影で得られた
画像データと閾値とを比較し、前記閾値よりも画像デー
タが高い輝度を示す場合には欠陥画素（白キズ）として
検出し、その位置情報を記憶させる。また、モードスイ
ッチ16により欠陥画素の検出モードを選択した状態で、
専用の被写体にカメラを向けてＣＣＤ１により１画面分
撮影し、該撮影で得られた画像データと閾値とを比較
し、前記閾値よりも画像データが低い輝度を示す場合に
は欠陥画素（黒キズ）として検出し、その位置情報を記
憶させる。通常の撮影時には、前記欠陥画素の位置情報
に基づいて、欠陥画素の画像データの周囲画素の平均値
に置き換える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、固体撮像素子を備
えた電子カメラにおいて、前記固体撮像素子の欠陥画素
を検出する技術に関する。

【０００２】

【従来の技術】撮像カメラに備えられた固体撮像素子に
は、ダストの付着，結晶欠陥等による画素欠陥が存在す
ることがあり、画素欠陥があると画像にかかわらず白と
して信号を出力する白キズ、あるいは画像にかかわらず
黒として信号を出力する黒キズという形で現れてくる。
このような画素欠陥があると著しく画質が劣化する。こ
の画素欠陥を完全に取り除くことは、数１０万画素とも
なると難しく、このため、従来より、撮像カメラに画素
欠陥補正回路を備えて画像を補正し、固定撮像素子の歩
留りを向上させる努力がなされている。

【０００３】固体撮像素子では、この欠陥画素の位置情
報を正確にアドレスしておくことが可能であるため、従
来は、工場出荷時に画素欠陥検査装置を用いて固体撮像
素子の画素欠陥を検出し、その位置情報をＲＯＭに記録
し、このＲＯＭを撮像カメラに搭載し、ＲＯＭに記憶さ
れた画素欠陥の位置情報に基づいて画素欠陥を補正する
ようにしていた。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ところで、前記白キズ
は結晶欠陥に基づく欠陥画素であるため、経時劣化し、
或いは、温度上昇に伴って増加する傾向もある。しかし
ながら、従来の欠陥画素の検出は前述のように製造段階
で行われているため、出荷後の市場での欠陥画素の経時
変化には対応することができなかった。

【０００５】特にデジタルスチルカメラの場合、画質の
向上の点から、固体撮像素子の画素数が増大する傾向に
あり、この画素数の増大傾向に伴い、欠陥画素も自ずと
増え、また、画素数が多い分、経時変化による新たな白
キズの発生も多くなるという傾向にあった。従って、固
体撮像素子の画素数が多いデジタルスチルカメラでは、
前記欠陥画素が特に問題となり、市場における欠陥画素
の経時変化に対応し得る技術の提供が望まれていた。

【０００６】本発明はこのような従来の課題に鑑みてな
されたものであり、固体撮像素子の欠陥画素の経時変化
に対応でき、更に、欠陥画素を精度良く検出できる電子
カメラを提供することを目的とする。

【０００７】

【課題を解決するための手段】そのため、請求項１記載
の発明に係る電子カメラは、固体撮像素子を備えた電子
カメラにおいて、画素欠陥検出用の画像を撮像し、該撮
像によって得られた前記固体撮像素子の画素毎の画像デ
ータを、それぞれに基準画像データと比較して前記固体
撮像素子における欠陥画素を検出する構成とした。

【０００８】かかる構成によると、画素欠陥を検出する
のに適した画像を電子カメラで撮像し、該撮像によって
得られる固体撮像素子の画素毎の画像データと、基準と
なる画像データとを比較することで、画像データの異
常、即ち、欠陥画素を、前記画素欠陥検出用の画像の撮
像毎に検出する。請求項２記載の発明では、前記基準画
像データを、予め記憶された値とする構成とした。

【０００９】かかる構成によると、画素欠陥検出用の画
像に対応して、画像データの正常・異常を判断するため
の基準画像データが予め記憶されており、画素欠陥検出
用の画像を撮像して得た画像データを画素毎に前記基準
画像データと比較することで、画素毎に画像データの正
常・異常を判断し、異常値を示す画素を欠陥画素として
検出する。

【００１０】請求項３記載の発明では、前記基準画像デ
ータを、注目画素を含む所定領域内の画像データに基づ
いて演算する構成とした。かかる構成によると、注目画
素の周囲の画像データを、正常画素で得られる画像デー
タとして、注目画素が正常画素と同レベルの画像データ
を出力しているか否かを判断して、欠陥画素を検出す
る。

【００１１】請求項４記載の発明では、前記固体撮像素
子に複数色のカラーフィルタが設けられ、前記所定領域
内で注目画素と同一色のカラーフィルタが設けられた画
素の画像データの平均値を、前記基準画像データとする
構成とした。かかる構成によると、ＲＧＢ等のカラーフ
ィルタが各画素に設けられて、カラー画像の撮像を行う
構成の電子カメラにおいて、欠陥画素であるか否かを判
断する注目画素の周囲の、注目画素と同じ色のフィルタ
が設けられた画素の画像データの平均値を、正常画素に
おける画像データとして算出し、これと注目画素の画像
データを比較して、注目画素の画像データの正常・異常
を判断する。

【００１２】請求項５記載の発明では、前記注目画素を
含む所定領域を、注目画素を中心とした所定領域とする
構成とした。かかる構成によると、注目画素毎に該注目
画素を中心とする画素領域内で注目画素と同じ色のフィ
ルタが設けられた画素の画像データの平均値を求め、こ
れを正常値と見做して欠陥画素の検出を行わせる。

【００１３】請求項６記載の発明では、前記画素欠陥検
出用の画像を撮像して得た画像データを複数のブロック
に分割し、該分割されたブロックを前記注目画素を含む
所定領域とする構成とした。かかる構成によると、撮像
結果を、例えばａ画素×ｂ画素を１単位として複数ブロ
ックに分け、ブロック毎に同一フィルタ色毎の平均値を
求め、注目画素の画像データとこの平均値を比較させ
る。従って、同一ブロック内の注目画素については、同
じ平均値を用いて欠陥画素の検出が行われることにな
る。

【００１４】請求項７記載の発明では、前記平均値と注
目画素の画像データとから注目画素のコントラストを求
め、該コントラストと所定の閾値とを比較して、欠陥画
素の検出を行う構成とした。かかる構成によると、注目
画素の周囲画素に対するコントラストの強弱に基づい
て、注目画素の画像データの正常・異常を判断し、以
て、注目画素が欠陥画素であるか否かを判別する。

【００１５】請求項８記載の発明では、前記平均値と注
目画素の画像データとの差分を求め、該差分と所定の閾
値とを比較して、欠陥画素の検出を行う構成とした。か
かる構成によると、注目画素の画像データと、周囲画素
の平均的な画像データとの差分が、大きい場合には、注
目画素の画像データが異常であると判断して、注目画素
を欠陥画素として検出する。

【００１６】請求項９記載の発明では、前記画素欠陥検
出用の画像を撮像して得た画像データを複数のブロック
に分割し、該分割されたブロック内でカラーフィルタの
色毎に画像データの平均値を求めると共に、注目画素の
画像データと、前記注目画素が含まれるブロックで求め
られた同一色についての前記平均値とのコントラストを
求め、該コントラストと所定の閾値とを比較して欠陥画
素の候補を検出する一方、該検出された欠陥画素の候補
を中心とする所定領域内で、前記候補画素と同一のカラ
ーフィルタが設けられた画素の画像データの平均値を求
めると共に、該平均値と注目画素の画像データとの差分
を求め、該差分と所定の閾値とを比較して欠陥画素の検
出を行う構成とした。

【００１７】かかる構成によると、まず、画素領域を複
数ブロックに分割して、該ブロック毎に同一色フィルタ
に対応する画像データの平均値を求める。そして、この
平均値と注目画素の画像データとのコントラストを演算
し、該コントラストに基づいて欠陥画素の候補を検出す
る。次に、候補として検出された欠陥画素を中心とする
所定領域内で、同一色の画素の平均値を求め、該平均値
と候補画素の画像データとの差分を演算し、該差分に基
づいて候補として検出した画素が欠陥画素であるか否か
の判断を下す。

【００１８】ここで、同一ブロック内であれば、同じ平
均値を用いて注目画素が欠陥画素であるか否かを判断す
ることになるので、欠陥画素の候補の検出において注目
画素毎に周囲画素の平均値を求める必要がない。また、
注目画素を中心とする領域内で平均値を演算させるの
は、欠陥画素の候補として検出された画素に限定される
ことになる。

【００１９】請求項10記載の発明では、前記画素欠陥検
出用の画像の撮像時に、焦点を合焦位置から強制的にず
らすデフォーカス制御を行う構成とした。かかる構成に
よると、デフォーカス制御により、画素欠陥検出用の画
像の微細なキズや影をボカす。請求項11記載の発明で
は、前記固体撮像素子に入射される光を拡散する拡散板
を設けて、前記画素欠陥検出用の画像の撮像を行わせる
構成とした。

【００２０】かかる構成によると、拡散板により光が拡
散し、固体撮像素子に光が一様に照射されるようにす
る。請求項12記載の発明では、前記画素欠陥検出用の画
像を撮像するときに、撮像された画像の輝度が所定の範
囲に入るように、絞り及び／又はシャッタースピードを
調節する構成とした。

【００２１】かかる構成によると、画素欠陥検出用の画
像の輝度が低い場合であっても、黒キズに対するコント
ラストが充分に大きくなる画像データが得られ、逆に、
画素欠陥検出用の画像の輝度が大き過ぎる場合には、白
キズに対するコントラストが充分に確保できる画像デー
タを得られる。請求項13記載の発明では、前記画素欠陥
検出用の画像を複数回撮像し、該複数回の撮像結果から
欠陥画素を検出する構成とした。

【００２２】かかる構成によると、例えば１回の撮像結
果のみから欠陥画素を特定するのではなく、例えば複数
回の撮像結果のうちの所定回数以上で欠陥画素として検
出されたときに、最終的に欠陥画素（欠陥画素の候補を
含む）として検出する。請求項14記載の発明では、前記
画素欠陥検出用の画像を複数回撮像し、これらを重ね合
わせた画像に基づいて欠陥画素を検出する構成とした。

【００２３】かかる構成によると、画素欠陥検出用の画
像を複数回撮像し、これによって得られた画像データを
画素毎に加算し、該加算結果の画像データに基づいて欠
陥画素の検出が行われる。請求項15記載の発明では、前
記固体撮像素子への光の入射を遮断し、このときの真っ
暗画像を画素欠陥検出用の画像として撮像させる構成と
した。

【００２４】かかる構成によると、絞り等の調整によっ
て固体撮像素子への光の入射を遮断し、この状態での撮
像により真っ暗画像を撮像させ、正常画素の画像データ
が最低輝度レベルに揃うようにして、白キズの検出を行
わせる。請求項16記載の発明では、電源スイッチの投入
時に、画素欠陥検出用の画像の撮像を行わせて、欠陥画
素の検出を行う構成とした。

【００２５】かかる構成によると、電源スイッチの投入
毎に、自動的に画素欠陥検出用の画像（例えば真っ暗画
像）の撮像を行わせて、欠陥画素の検出を行わせる。請
求項17記載の発明では、前記固体撮像素子の温度を検出
し、該温度が所定温度以上であるときに画素欠陥検出用
の画像の撮像を行わせて、欠陥画素の検出を行う構成と
した。

【００２６】かかる構成によると、白キズの増大変化の
要因となる固体撮像素子の温度上昇を検出し、温度上昇
が認められたときには画素欠陥検出用の画像の撮像を行
わせて、欠陥画素の検出を行わせる。請求項18記載の発
明では、所定期間毎に画素欠陥検出用の画像の撮像を行
わせて、欠陥画素の検出を行う構成とした。

【００２７】かかる構成によると、所定期間毎、例えば
１月に１度、半年に１度、或いは、１年に１度等におい
て、画素欠陥検出用の画像の撮像を行わせて欠陥画素の
検出を行わせる。請求項19記載の発明では、前記検出さ
れた欠陥画素の位置を記憶し、該欠陥画素の位置情報に
基づき欠陥画素の画像データを補正する構成とした。

【００２８】かかる構成によると、画素欠陥検出用画像
の撮像毎に更新されることになる欠陥画素の位置情報に
基づき、欠陥画素に対応して出力された画像データを補
正し、欠陥画素による画像データの異常を補償する。請
求項20記載の発明では、前記補正は、前記検出された欠
陥画素の隣接画素の画像データを、欠陥画素の画像デー
タに置き換えることにより行う構成とした。

【００２９】かかる構成によると、欠陥画素に隣接する
正常画素では、欠陥画素に対応すべき画像データに近い
画像データが得られることが多いので、欠陥画素の画像
データをそのまま用いずに、前記隣接画素の画像データ
に置き換える。請求項21記載の発明では、前記固体撮像
素子に複数色のカラーフィルタが設けられてなり、前記
補正は、前記検出された欠陥画素と同一のカラーフィル
タが設けられた周囲画素の画像データの平均値を、欠陥
画素の画像データに置き換えることにより行う構成とし
た。

【００３０】かかる構成によると、欠陥画素の周囲画素
の平均値は、欠陥画素に対応すべき画像データに対して
安定的に近似するので、前記平均値に欠陥画素の画像デ
ータを置き換える。請求項22記載の発明では、前記画素
欠陥検出用の画像の撮像及び欠陥画素の検出を行うモー
ドを任意に選択するモード選択手段を備える構成とし
た。

【００３１】かかる構成によると、前記モード選択手段
によるモード選択によって、欠陥画素の検出を行うモー
ドが指定されると、撮像した画像を画素欠陥検出用の画
像であると見做して、欠陥画素の検出が行われる。請求
項23記載の発明は、固体撮像素子を備えた電子カメラに
おいて、画素欠陥検出用の画像を１画面分撮影するよう
に前記固体撮像素子を制御する制御手段と、前記固体撮
像素子から出力された１画面分の電気信号の信号レベル
を、画素毎に所定閾値と比較して画素欠陥を検出する画
素欠陥検出手段と、画素欠陥が検出された位置の情報を
記憶する書き換え可能な記憶手段と、該記憶手段に記憶
された位置情報に基づいて、画素欠陥が検出された位置
の信号レベルを所定レベルに補正する画素欠陥補正手段
と、を含んで構成される。

【００３２】かかる構成によると、制御手段により固体
撮像素子が制御されて画素欠陥検出用の画像が１画面分
撮影される。固体撮像素子から出力された各１画面分の
電気信号の信号レベルは、画素欠陥検出手段により画素
毎に所定閾値と比較される。画素欠陥があるときは、そ
の信号レベルは他の画素の信号レベルと比較して大きく
異なっているので、信号レベルを画素毎に所定閾値と比
較することにより画素欠陥が検出される。画素欠陥が検
出されたとき、画素欠陥が検出された位置の情報は書き
換え可能な記憶手段に記憶される。そして、この位置情
報に基づいて、画素欠陥補正手段は、画素欠陥が検出さ
れた位置の信号レベルが所定レベルに補正する。このよ
うに、記憶手段が書き換え可能であり、画素欠陥検出手
段を備えることにより、画素欠陥の検出を工場出荷時だ
けでなく、いつでも行うことが可能となる。

【００３３】請求項24記載の発明では、前記固体撮像素
子の光量を調節する光量調節手段を備える一方、前記制
御手段は、画素欠陥として白キズを検出するとき、光量
が零となるように前記光量調節手段を制御し、前記画素
欠陥検出手段は、前記固体撮像素子から出力された電気
信号の信号レベルを白キズ検出用の所定閾値と比較する
ように構成される。

【００３４】かかる構成によれば、欠陥画素として白キ
ズを検出するとき、光量調節手段は制御手段により制御
されて固体撮像素子の光量は零となるように調節され
る。そして固体撮像素子の電気信号は、白キズ検出用の
所定閾値と比較されて白キズが検出される。

【００３５】

【発明の効果】請求項１記載の発明によると、電子カメ
ラによって撮影した結果に基づいて、固体撮像素子の欠
陥画素（白キズ，黒キズ等）を検出できるので、経時変
化後の欠陥画素を検出することが可能であるという効果
がある。請求項２記載の発明によると、正常画素の出力
に対して極端に異なる信号を出力することになる黒キ
ズ，白キズを簡便な構成によって検出できるという効果
がある。

【００３６】請求項３記載の発明によると、撮影した画
像に応じた基準で画像データを判別することで、画像の
ばらつきに影響されることなく、欠陥画素の検出が行え
るという効果がある。請求項４記載の発明によると、複
数色のカラーフィルタが固体撮像素子に設けられてカラ
ー撮影を行う電子カメラにおいて、色の違いによる輝度
の違いに影響されることなく、欠陥画素の検出が行える
という効果がある。

【００３７】請求項５記載の発明によると、注目画素を
中心とする領域内の画像データを基準とすることで、欠
陥画素であるか否かを精度良く判断できるという効果が
ある。請求項６記載の発明によると、注目画素毎に基準
画像データを演算する必要がなく、演算負担を軽減でき
るという効果がある。

【００３８】請求項７記載の発明によると、周囲画素の
画像データのレベルを考慮しつつ、出力レベルの相違に
より欠陥画素を判断できるという効果がある。請求項８
記載の発明によると、画素欠陥による出力レベルの相違
に基づいて、簡便に欠陥画素を検出できるという効果が
ある。請求項９記載の発明によると、注目画素毎に基準
画像データの演算を行う必要がなく演算負担を軽減でき
ると共に、最終的には、注目画素を中心とする画素領域
の画像データを基準として欠陥画素か否かを精度良く判
断できるという効果がある。

【００３９】請求項10記載の発明によると、被写体のキ
ズや影などに影響されて欠陥画素が誤検出されることを
回避できるという効果がある。請求項11記載の発明によ
ると、被写体を細かく限定することなく、撮影結果から
欠陥画素を検出できるようになるという効果がある。請
求項12記載の発明によると、被写体のばらつきに影響さ
れずに、欠陥画素の画像データの周囲画素に対するコン
トラストを確保して、検出精度を向上させることができ
るという効果がある。

【００４０】請求項13，14記載の発明によると、ノイズ
に影響されて欠陥画素が誤検出されることを回避できる
という効果がある。請求項15記載の発明によると、真っ
暗画像の撮影によって白キズを簡便かつ精度良く検出で
きるという効果がある。請求項16記載の発明によると、
電源投入毎に自動的に白キズの検出を行わせることがで
き、撮影前にそのときの白キズの状態を確実に検出でき
るという効果がある。

【００４１】請求項17記載の発明によると、固体撮像素
子の温度上昇に伴う白キズの増大変化を確実に検出でき
るという効果がある。請求項18記載の発明によると、所
定期間毎に白キズの検出が行われ、白キズの経時変化を
的確に知ることができるという効果がある。請求項19記
載の発明によると、欠陥画素の存在によって撮影画像の
画質が大きく低下することを回避できるという効果があ
る。

【００４２】請求項20，21記載の発明によると、欠陥画
素の画像データとして本来得られるべきデータに近い値
に補正できるという効果がある。請求項22記載の発明に
よると、欠陥画素の検出を任意に行わせることができる
という効果がある。請求項23記載の発明によると、固体
撮像素子の経時変化に対応した画素欠陥の補正を行うこ
とができ、多少画素欠陥があるような撮像素子でも利用
することができ、コストの低減を図ることができるとい
う効果がある。

【００４３】請求項24記載の発明によると、白キズを高
精度に検出し、かつ、検出された白キズの部分の画像デ
ータに補正を加えて白キズによる画質の低下を回避でき
るという効果がある。

【００４４】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて説明する。図１は、電子カメラの一例として
のデジタルスチルカメラの構成を示す。図１において、
固体撮像素子としてのＣＣＤ（Charge Coupled Device)
１は、結像された光画像を光電変換するものであり、駆
動回路２は、転送パルスを生成してＣＣＤ１に供給する
回路である。そして、ＣＣＤ１は、この転送パルスに基
づいてアナログ電気画像信号を出力する。

【００４５】ＣＤＳ（相関二重サンプリング）回路３は
ノイズを低減するための回路であり、駆動回路２から出
力された駆動パルスに基づいて駆動される。Ａ／Ｄ変換
回路４は、アナログ信号をディジタル信号に変換する。
尚、輝度レベルが高いときほど、大きな値のディジタル
信号に変換されるものとする。該Ａ／Ｄ変換回路４を介
して得られた前記ＣＣＤ１の画素毎の画像データは、一
旦、画像用メモリ５に記憶される。

【００４６】前記画像用メモリ５に記憶された画像デー
タは、ＣＰＵ６によって各種の画像処理が施され、最終
的には、メモリカード、光磁気ディスク等の記録媒体か
らなる記録部７に記憶される。ここで、前記各種の画像
処理には、前記ＣＣＤ１の欠陥画素の画像データを補正
する処理が含まれる。後述するように、前記ＣＰＵ６は
前記欠陥画素の検出を行って、欠陥画素の位置情報（座
標）を、制御回路８に備えられたメモリ９に記憶させる
ようになっており、前記欠陥画素の画像データの補正処
理においては、前記メモリ９から前記位置情報を読み出
して補正を行う。尚、前記欠陥画素の検出に用いる各種
のデータも、前記メモリ９に記憶されている。

【００４７】液晶表示装置10は、撮像された画像や必要
な操作情報等を表示するものである。ＣＣＤ１の前面に
は、レンズ11と、光量を調節する絞り12と、ＣＣＤ１の
温度を検出する温度センサ13と、が備えられ、温度セン
サ13の検出信号は制御回路８に入力される。

【００４８】また、被写体までの距離を計測する測距手
段（図示せず）が備えられ、この測距手段からの信号に
より、制御回路８は、レンズ駆動回路14を駆動し、合焦
位置にレンズ11を移動させる。また、電源スイッチ15、
及び、画素欠陥の検出を行わせるモードを選択するため
のモードスイッチ16（モード選択手段）が備えられ、こ
れらのスイッチ信号は制御回路８に入力される。

【００４９】次に、前記欠陥画素の検出動作について説
明する。まず、欠陥画素として、画像に関わらず高い輝
度レベル（白）の信号を出力する白キズの検出について
述べる。前記白キズの検出は、以下のようにして電源投
入毎に実行されるようになっている。

【００５０】電源スイッチ15が投入されると、そのスイ
ッチ信号が制御回路８に入力され、制御回路８によって
絞り12（光量調節手段）を全閉に制御し、この状態で、
ＣＣＤ１により真っ暗な画像を１画面分撮影させる（制
御手段）。この真っ暗画像（画素欠陥検出用の画像）を
撮影したＣＣＤ１の出力は、画像用メモリ５に蓄積さ
れ、ＣＰＵ６は予めメモリ９に記憶されている白キズ判
定用の閾値（基準画像データ）と各画素毎の画像データ
とをそれぞれに比較する。

【００５１】上記のように、真っ暗画像を撮影したの
で、ＣＣＤ１の画素が正常であれば、その画像データは
前記閾値未満となるが、画素に白キズに相当する欠陥が
あるときは、画像データが前記閾値以上となり、欠陥画
素（白キズ）が検出される（画素欠陥検出手段）。欠陥
画素（白キズ）が検出されると、その欠陥画素の位置情
報（座標）が、制御回路８のメモリ９（記憶手段）に記
憶される。

【００５２】上記構成により、電源スイッチの投入毎
に、白キズの検出が自動的に行われて、最新の白キズの
位置情報が前記メモリ９に記憶されることにより、経時
的な白キズの変化に対応した補正が可能になる。ところ
で、前記白キズは温度上昇に伴って増大する傾向を示す
ので、温度センサ１３により検出されるＣＣＤ１の温度
が所定の基準温度以上になったときに、上記同様に真っ
暗画像を撮影させて、白キズの検出を自動的に行わせる
構成としても良い。かかる構成とすれば、温度変化を要
因とする白キズの増大変化を確実に検出して、適切な補
正を施すことが可能となる。

【００５３】また、上記のように、白キズの検出を電源
投入や温度上昇をトリガーとして自動的に行わせる方法
の他、前記モードスイッチ16によって欠陥画素の検出モ
ードが選択されたときに、前記真っ暗画像の撮影による
白キズの検出が行われるようにして、任意のタイミング
で白キズ検出が行われるようにすることもできる。前記
モードスイッチ16に基づく白キズの検出は、モードスイ
ッチ16によって欠陥画素の検出モードが選択されたこと
をトリガーとして直ちに行わせても良いし、また、前記
検出モードが選択されていてかつシャッタが押されたと
きに行わせる構成としても良い。

【００５４】更に、モードスイッチ16によってモード選
択されているときにのみ白キズの検出を行う構成の場合
には、定期的に白キズの検出が行われるように、例えば
１月に１度、半年に１度、或いは、１年に１度等のタイ
ミングで、欠陥画素の検出操作を促す警告を、前記液晶
表示装置10に表示させるようにしても良い。また、電源
投入をトリガーとする自動的な白キズの検出を、毎回行
わせるのではなく、例えば１月に１度、半年に１度、或
いは、１年に１度等のタイミングで定期的に行わせる構
成としても良い。

【００５５】次に、欠陥画素として、画像に関わらず低
い輝度レベル（黒）の信号を出力する黒キズの検出につ
いて述べる。上記のように、黒キズは、画像に関わらず
低い輝度レベル（黒）の信号を出力する画素を示すの
で、黒キズは、ある程度以上の輝度を有し、かつ、変化
の少ない画像（画素欠陥検出用画像）を撮影したとき
に、画像データが極端に低い画素として検出することが
できる。

【００５６】そこで、黒キズの検出においては、明るく
平坦な壁、或いは、専用の被写体（テストチャート等）
等にカメラを向けて撮影を行う必要があり、モードスイ
ッチ16によって欠陥画素の検出モードを選択し、かつ、
カメラを前述のような被写体に向けてシャッタを押すよ
うにする。前記検出モードの選択状態でのシャッタ操作
で撮像された結果は、黒キズの検出用の画像データとし
て処理される。具体的には、白キズの検出と同様に、Ｃ
ＰＵ６は予めメモリ９に記憶されている黒キズ判定用の
閾値（基準画像データ）と、画像用メモリ５に記憶され
た各画素毎の画像データとをそれぞれに比較する。

【００５７】ＣＣＤ１の画素が正常であれば、その画像
データは前記閾値以上となるが、画素に黒キズに相当す
る欠陥があるときは、画像データが前記閾値未満とな
り、欠陥画素（黒キズ）が検出されることになる。欠陥
画素（黒キズ）が検出されると、その欠陥画素の位置情
報（座標）が、制御回路８のメモリ９に記憶される。

【００５８】上記のようにして、黒キズを検出する構成
であれば、黒キズの経時的な変化に対応して、画像デー
タの補正を施すことが可能である。尚、上記黒キズ検出
のための撮影時に、デフォーカス制御（焦点を合焦位置
から強制的にずらす制御）を行っても良い。このように
すると、被写体の微細なキズや影がボケるので、これら
に影響されて画素欠陥が誤検出されることを回避でき、
黒キズの検出に用いることができる被写体の許容範囲が
広がる。

【００５９】また、黒キズの場合、平坦な被写体であれ
ば、黒キズに対応する画素の画像データは周辺の画素の
画像データに比べて極端に落ち込むので、かなりの精度
で検出できる。従って、１画面の画像データの平均値を
黒キズ用閾値（基準画像データ）としてもよい。また、
黒キズの検出において、ユーザーに黒キズの検出に適し
た画像を確実に撮影させることは困難であるので、黒キ
ズ検出用の撮影であるとき（検出モード選択時）には、
図１中に破線で示すように拡散板21を絞り12とＣＣＤ１
との間に介装させ、この拡散板21により光が拡散して一
様な光となってＣＣＤ１に投光されるようにしても良
い。かかる構成とすれば、被写体を特に選ばずに撮影が
行われても、黒キズの検出が可能となる。

【００６０】更に、黒キズ検出用に撮影された画像の輝
度が低過ぎる場合や、複雑な画像であった場合に、これ
らを判別して警告を発し、撮影のやり直しを行わせるよ
うにしても良い。上記のようにして検出され前記メモリ
９に記憶される欠陥画素（白キズ，黒キズ）の位置情報
（座標）は、通常の撮影時において読み出され、欠陥画
素に対応する画像データが補正される（画素欠陥補正手
段）。

【００６１】前記画像データの補正は、欠陥の度合いが
比較的低く正常な信号に比較的近い信号を出力する場合
には、欠陥画素の画像データについて、補正値を加減算
したり、補正項の乗除を行って補正しても良いが、欠陥
画素において正規に出力されるべき信号レベルは、一般
に、隣接画素の信号レベルに近いので、隣接画素の画像
データに置き換えることが好ましい。

【００６２】前記隣接画素の画像データによる置き換え
は、以下のようにして行わせることができる。即ち、図
２に示すように、ＣＣＤ１に設けられるカラーモザイク
フィルタが、Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ（例えばＹｅ，Ｃｙ，Ｇ，
Ｍｇ）の４色のカラーフィルタの場合で、欠陥画素であ
る画素Ａ_n,nの画像データを補正するときは、以下のい
ずれかの値に置き換える。

【００６３】 (1)Ａ_n,n＝（Ａ_n-2,n-2＋Ａ_n-2,n＋Ａ_n-2,n+2＋Ａ_n,n-2 ＋Ａ_n,n+2＋Ａ_n+2,n-2＋Ａ_n+2,n＋Ａ_n+2,n+2)/8 (2)Ａ_n,n＝（Ａ_n-2,n＋Ａ_n,n-2＋Ａ_n,n+2＋Ａ_n+2,n)/4 (3)Ａ_n,n＝（Ａ_n,n-2＋Ａ_n,n+2)/2 or （Ａ_n-2,n＋Ａ_n+2,n)/2 上記(1) のパターンは、欠陥画素を中心とする５×５画
素領域内で、欠陥画素と同じ色のカラーフィルタが設け
られた８画素の画像データの平均値に、欠陥画素の画像
データを置き換えるものである。

【００６４】また、(2) のパターンは、欠陥画素を中心
とする５×５画素領域内で、欠陥画素と同じ色のカラー
フィルタが設けられた画素であって、欠陥画素と同じ列
及び同じ行の４画素の画像データの平均値に、欠陥画素
の画像データを置き換えるものである。更に、(3) のパ
ターンは、前記(2) のパターンにおける欠陥画素と同じ
列の２画素の平均値、又は、同じ行の２画素の平均値
に、欠陥画素の画像データを置き換えるものである。

【００６５】尚、上記の置き換えは、Ａ以外のフィルタ
色Ｂ，Ｃ，Ｄについても同様に適用される。また、図３
に示すように、前記カラーモザイクフィルタがＡ，Ｂ，
Ｃ（例えばＲ，Ｇ，Ｂ）の３色フィルタの場合には、フ
ィルタ色Ｂ，Ｃの画素が欠陥画素であった場合には、前
記(1) 〜(3) のいずれかのパターンで置き換えデータを
演算させることができる一方、画素Ａ_n,nを補正すると
きは、前記(1) 〜(3) のいずれかのパターンで置き換え
データを演算させることができ、また、以下の値に置き
換えることもできる。

【００６６】 (4)Ａ_n,n＝（Ａ_n-1,n-1＋Ａ_n-1,n+1＋Ａ_n+1,n-1＋Ａ_n+1,n+1)/4 (5)Ａ_n,n＝（Ａ_n-2,n-2＋Ａ_n-2,n＋Ａ_n-2,n+2＋Ａ_n-1,n-1 ＋Ａ_n-1,n+1＋Ａ_n,n-2＋Ａ_n,n+2＋Ａ_n+1,n-1 ＋Ａ_n+1,n+1＋Ａ_n+2,n-2＋Ａ_n+2,n＋Ａ_n+2,n+2)／12 (4)式による置き換えは、欠陥画素を中心とした３×３
画素領域内で、欠陥画素と同じＡ色のカラーフィルタが
設けられる４隅の４画素の画像データの平均値を用いる
ことになる。 (5)式による置き換えは、欠陥画素を中心
とした５×５画素領域内で、欠陥画素と同じＡ色のカラ
ーフィルタを有する１２画素の画像データの平均値を用
いることになる。

【００６７】また、図４に示すように、３板式のＣＣＤ
を用いる場合は、Ａ，Ｂ，Ｃ（例えばＲ，Ｇ，Ｂ）のカ
ラーフィルタが、各ＣＣＤに設けられているため、欠陥
画素である画素Ａ_n,nの画像データを補正するときは、
以下のいずれかの値に置き換える。 (6)Ａ_n,n＝（Ａ_n-1,n-1＋Ａ_n-1,n＋Ａ_n-1,n+1＋Ａ_n,n-1 ＋Ａ_n,n+1＋Ａ_n+1,n-1＋Ａ_n+1,n＋Ａ_n+1,n+1）／８ (7)Ａ_n,n＝（Ａ_n-1,n-1＋Ａ_n-1,n+1＋Ａ_n+1,n-1＋Ａ_n+1,n+1）／４ (8)Ａ_n,n＝（Ａ_n-1,n＋Ａ_n,n-1＋Ａ_n,n+1＋Ａ_n+1,n）／４ (9)Ａ_n,n＝（Ａ_n-1,n＋Ａ_n+1,n）／２ (10) Ａ_n,n＝（Ａ_n,n-1＋Ａ_n,n+1）／２ (11) Ａ_n,n＝（Ａ_n-1,n-1＋Ａ_n+1,n+1）／２ (12) Ａ_n,n＝（Ａ_n-1,n+1＋Ａ_n+1,n-1）／２ (6) 式による置き換えは、欠陥画素に隣接する８画素の
画像データの平均値を用いることになる。

【００６８】(7) 式による置き換えは、欠陥画素を中心
とした３×３画素領域内の４隅の４画素の画像データの
平均値を用いることになる。 (8) 式による置き換えは、欠陥画素に隣接する上下左右
の４画素の画像データの平均値を用いることになる。 (9) 式による置き換えは、欠陥画素に隣接する上下の２
画素の画像データの平均値を用いることになる。

【００６９】(10)式による置き換えは、欠陥画素に隣接
する左右の２画素の画像データの平均値を用いることに
なる。 (11)式による置き換えは、欠陥画素に隣接する左上，右
下の２画素の画像データの平均値を用いることになる。 (12)式による置き換えは、欠陥画素に隣接する右上, 左
下の２画素の画像データの平均値を用いることになる。

【００７０】上記のように、欠陥画素の画像データが補
正される構成であれば、白キズ、黒キズ等の欠陥画素が
あまりないＣＣＤを用いなくても、良好な画質を得るこ
とができるので、結果的にＣＣＤの歩留りを上げること
ができ、ＣＣＤのコストを下げることができる。また、
ＣＣＤを単体で検査して欠陥画素の位置情報を求め、こ
れを、ＲＯＭに記憶させる構成では、ＣＣＤとＲＯＭと
を常にペアで扱わなければならず煩わしいが、前述のよ
うに、欠陥画素の検出をＣＣＤを組み込んだカメラの状
態で行えれば、その必要もなくなり、ＲＯＭ及びその実
装コストも含め、かなりのコスト低減を図ることが可能
となる。

【００７１】次に、欠陥画素の検出の第２の実施形態を
以下に説明する。第２の実施形態においては、前記第１
の実施形態の黒キズ検出と同様に、前記モードスイッチ
16によって検出モードを選択し、この状態で、カメラを
明るい平坦な壁等に向けて撮影を行わせるものとする。
但し、第２の実施形態においては、モードスイッチ16に
より、欠陥画素の検出モードが選択されると、制御回路
８が、画素欠陥検出用の画像（明るく平坦な壁等）を撮
影した結果がある輝度範囲に入るように、絞り及び／又
はシャッタースピードを制御する。

【００７２】例えば、ＣＣＤ１の出力を１０ビットでＡ
／Ｄ変換する構成であって、ＣＣＤ１の画素サイズが６
４０×４８０であるとした場合には、中心画素領域（例
えば128 ×128 ）の画像データの平均値が、８５０〜１
０００の範囲に入るように、絞り及び／又はシャッター
スピードを制御する。上記のように、絞り及び／又はシ
ャッタースピードを制御することで、欠陥画素（白キ
ズ，黒キズを含む）の画像データの周囲画素に対するコ
ントラストが、被写体のばらつきがあっても充分に大き
くなるようにでき、欠陥画素の検出精度を向上させ得
る。

【００７３】上記のようにして、輝度調整して撮像され
画像用メモリ５に蓄積された画像データは、３２×３２
画素を１ブロックとする３００ブロックに分割され、１
ブロック毎にＣＰＵ６ヘ転送される。ＣＰＵ６では、前
記転送された１ブロックの画像データ（３２×３２画素
分の画像データ）について、カラーモザイクフィルタの
フィルタ色毎の平均値を求める。

【００７４】次いで、前記ブロック内に設定した注目画
素の画像データｘと、該注目画素と同じフィルタ色の平
均値Ｘ-avgとから、平均値に対する注目画素のコントラ
ストＣを以下のようにして演算する。Ｃ＝｜1.0 −｜ｘ−Ｘ-avg｜／Ｘ-avg｜×100 そして、前記コントラストＣと所定の閾値（本実施形態
では10とする）を比較し、Ｃ≧１０のときには、そのと
きの注目画素を欠陥画素（白キズ，黒キズ）の１次候補
として検出する。係る１次候補画素の検出を、注目画素
を順次切り換えて、ブロック内の全ての画素について行
わせる。

【００７５】前記１次候補として検出された画素につい
ては、該１次候補画素を中心とする所定画素領域（例え
ば１３×１３画素領域）内で、候補画素と同じ色のフィ
ルタが設けられた画素の画像データの平均値を求め、該
平均値と１次候補画素の画像データとの差分の絶対値Ｄ
を演算する。そして、前記差分の絶対値Ｄと所定の閾値
（本実施形態では50とする）を比較し、Ｄ≧５０である
ときには、その１次候補画素を２次候補画素とするが、
Ｃ＜５０であるときには、１次候補画素として検出した
画素が欠陥画素には該当しないものと判断して２次候補
画素とはせず、欠陥画素の候補から外す。

【００７６】上記のように、１次候補画素の検出におい
て、ブロック単位の平均値を用いれば、注目画素毎に平
均値を求める必要がなく、少ない演算負担で１次候補を
検出することができる。また、１次候補画素から最終的
な候補画素を選別する処理を、注目画素（１次候補画
素）を中心とした所定領域での平均値に基づいて行わせ
ることで、精度良く候補画素を選別できる。従って、上
記構成によれば、少ない演算負担で高精度に欠陥画素の
検出が行えることになる。

【００７７】上記処理を３００ブロックの全てについて
行って、各ブロック毎に２次候補画素を検出する。そし
て、３回同じ被写体（画素欠陥検出用画像）を撮像し、
３回共に２次候補画素として検出された画素を最終的に
欠陥画素として判定し、その位置情報（座標）をメモリ
に記憶させる。上記のように、複数回の撮像結果から等
しく欠陥画素として検出された画素を、最終的な欠陥画
素として検出する構成であれば、ノイズの影響等によっ
て欠陥画素が誤検出されることを回避できる。

【００７８】尚、複数回の撮像毎に欠陥画素を求めるの
ではなく、複数回の撮像結果を重ね合わせた画像に基づ
いて欠陥画素を検出させる構成とすることによっても、
ノイズの影響を回避して、欠陥画素を検出することがで
きる。図５のフローチャートは、上記欠陥画素検出の様
子を示すものであり、Ｓ１〜Ｓ３では、撮影枚数ｎ、ブ
ロックナンバーｍ、ブロック内の画素ナンバーｉをそれ
ぞれゼロリセットする。

【００７９】Ｓ４では、ｎ枚目の撮影を行い、Ｓ５で
は、第ｍブロック内でカラーフィルタ色毎の平均値を計
算する。Ｓ６では、第ｍブロックの第ｉ画素のコントラ
ストＣを、前記Ｓ５で演算した平均値に基づいて演算す
る。Ｓ７では、前記演算したコントラストＣが、所定の
閾値（例えば10）以上であるか否かを判別する。

【００８０】前記コントラストＣが所定の閾値（例えば
10）以上であるときには、そのときの第ｉ画素は欠陥画
素の１次候補となり、その場合には、Ｓ８へ進み、この
第ｉ画素を中心とする周囲の画素で第ｉ画素と同じ色の
フィルタが設けられた画素の画像データの平均値を演算
する。Ｓ９では、前記Ｓ８で演算した平均値と、前記１
次候補としての第ｉ画素の画像データとの差の絶対値Ｄ
を演算する。

【００８１】Ｓ10では、前記差の絶対値Ｄが所定の閾値
（例えば50）以上であるか否かを判別し、Ｄが50以上で
あれば、そのときの第ｉ画素を欠陥画素の２次候補とし
て検出し、Ｓ11へ進んで、その画素の座標をメモリへ記
憶させ、次のＳ12では、次の画素について欠陥画素であ
るか否かの判別を行わせるべく、前記ｉをカウントアッ
プする。

【００８２】一方、Ｓ７でコントラストＣが小さく１次
候補に該当しないと判断された場合、又は、１次候補と
判断されたが、前記Ｓ10で周囲画素に対する差が小さい
と判断されたときには、そのときの第ｉ画素は、欠陥画
素ではないと判断し、Ｓ12へジャンプして進む。画素数
ｉをカウントアップさせると、次のＳ13では、ブロック
内の全ての画素について、欠陥画素であるか否かの判断
を行ったか否かを、前記ｉが最大数である1024以上にカ
ウントアップされているか否かに基づいて判断する。

【００８３】そして、ｉが1024未満であれば、同じブロ
ックの次の画素について判断を行わせるべく、Ｓ６へ進
む。一方、ｉが1024以上になったときには、そのときの
ブロック内の全ての画素について、欠陥画素に該当する
か否かの判断が下されたことになるので、次のブロック
内の画素について欠陥画素の検出を行わせるべく、Ｓ14
へ進んで、前記ｍをカウントアップし、次のＳ15では、
前記ｉをゼロリセットする。

【００８４】Ｓ16では、カウントアップされた前記ｍが
最大ブロック数である300 以上になっているか否かを判
別し、300 未満であれば、Ｓ５へ進んで、カウントアッ
プされたｍで示されるブロック内での欠陥画素の検出を
行わせる。一方、前記ｍが300 以上になっているときに
は、全てのブロックにおいて欠陥画素の検出が行われた
ことになるので、Ｓ17へ進んで、撮影枚数ｎをカウント
アップさせる。

【００８５】次のＳ18では、前記カウントアップされた
ｎが規定枚数であるか３以上になっているか否かを判別
し、３未満であれば、次の撮影を行わせて欠陥画素の検
出を行わせるべくＳ４へ進む。一方、前記ｎが３以上に
なっているときには、予定の３回の撮影が行われたこと
になるので、Ｓ19へ進み、３回の撮影で共に欠陥画素と
して検出された画素を検出し、これを最終的な欠陥画素
として特定し、その位置情報（座標）をメモリに記憶さ
せる。

【００８６】一方、前記検出された欠陥画素の画像デー
タを補正する際は、画像メモリ５から欠陥画素を囲む所
定領域の画像データがＣＰＵ６に転送され、前記第１の
実施形態と同様に、欠陥画素の周囲の同じ色のフィルタ
が設けられた画素の画像データの平均値に、欠陥画素の
画像データを置き換える。次に、欠陥画素の検出の第３
の実施形態を以下に説明する。

【００８７】図６は、電子カメラの一例としてのデジタ
ルスチルカメラの構成を示す図であり、該図６に示す構
成によっても、前記実施形態と同様にして、欠陥画素の
検出及び欠陥画素における画像データの補正が行える。
尚、前記図６において前記図１と同一要素には同一符号
を付して説明を省略する。

【００８８】図６において、Ａ／Ｄ変換回路４で変換さ
れたディジタル信号が入力される信号処理部41には、信
号処理回路42と、画素欠陥検出手段としての画素欠陥検
出回路43と、画素欠陥補正手段としての画素欠陥補正回
路44と、が備えられている。信号処理回路42は、輝度処
理や色処理を施して例えば輝度信号と色差信号としての
デジタルビデオ信号に変換する回路である。

【００８９】画素欠陥検出回路43は、前述の実施形態と
同様にして白キズ，黒キズ等の欠陥画素を検出する回路
であり、この画素欠陥検出回路43で検出された欠陥画素
の位置情報（座標）が、前記メモリ９に記憶される。画
素欠陥補正回路44は、前記メモリ９に記憶されている欠
陥画素の位置情報（座標）に基づいて、欠陥画素に基づ
く信号の信号レベルを前述の実施形態と同様にして補正
し、補正結果を信号処理回路42に出力する回路である。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施形態のデジタルスチルカメラを示
すシステムブロック図。

【図２】欠陥画素の画像データの補正の様子を説明する
ための図。

【図３】欠陥画素の画像データの補正の様子を説明する
ための図。

【図４】３板式ＣＣＤの場合における欠陥画素の画像デ
ータの補正の様子を説明するための図。

【図５】第２実施形態における欠陥画素の検出の様子を
示すフローチャート。

【図６】第３実施形態におけるデジタルスチルカメラを
示すシステムブロック図。

【符号の説明】

１ＣＣＤ２駆動回路３ＣＤＳ回路４Ａ／Ｄ変換回路５画像用メモリ６ＣＰＵ７記録部８制御回路９メモリ 10 液晶表示装置 11 レンズ 12 絞り 13 温度センサ 14 レンズ駆動回路 15 電源スイッチ 16 モードスイッチ 21 拡散板 41 信号処理部 42 信号処理回路 43 画素欠陥検出回路 44 画素欠陥補正回路

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】固体撮像素子を備えた電子カメラにおい
て、画素欠陥検出用の画像を撮像し、該撮像によって得
られた前記固体撮像素子の画素毎の画像データを、それ
ぞれに基準画像データと比較して前記固体撮像素子にお
ける欠陥画素を検出することを特徴とする電子カメラ。
【請求項２】前記基準画像データが、予め記憶された値
であることを特徴とする請求項１記載の電子カメラ。
【請求項３】前記基準画像データが、注目画素を含む所
定領域内の画像データに基づいて演算されることを特徴
とする請求項１記載の電子カメラ。
【請求項４】前記固体撮像素子に複数色のカラーフィル
タが設けられ、前記所定領域内で注目画素と同一色のカ
ラーフィルタが設けられた画素の画像データの平均値
を、前記基準画像データとすることを特徴とする請求項
３記載の電子カメラ。
【請求項５】前記注目画素を含む所定領域を、注目画素
を中心とした所定領域とすることを特徴とする請求項４
記載の電子カメラ。
【請求項６】前記画素欠陥検出用の画像を撮像して得た
画像データを複数のブロックに分割し、該分割されたブ
ロックを前記注目画素を含む所定領域とすることを特徴
とする請求項４記載の電子カメラ。
【請求項７】前記平均値と注目画素の画像データとから
注目画素のコントラストを求め、該コントラストと所定
の閾値とを比較して、欠陥画素の検出を行うことを特徴
とする請求項４〜６のいずれか１つに記載の電子カメ
ラ。
【請求項８】前記平均値と注目画素の画像データとの差
分を求め、該差分と所定の閾値とを比較して、欠陥画素
の検出を行うことを特徴とする請求項４〜６のいずれか
１つに記載の電子カメラ。
【請求項９】前記画素欠陥検出用の画像を撮像して得た
画像データを複数のブロックに分割し、該分割されたブ
ロック内でカラーフィルタの色毎に画像データの平均値
を求めると共に、注目画素の画像データと、前記注目画
素が含まれるブロックで求められた同一色についての前
記平均値とのコントラストを求め、該コントラストと所
定の閾値とを比較して欠陥画素の候補を検出する一方、
該検出された欠陥画素の候補を中心とする所定領域内
で、前記候補画素と同一のカラーフィルタが設けられた
画素の画像データの平均値を求めると共に、該平均値と
注目画素の画像データとの差分を求め、該差分と所定の
閾値とを比較して欠陥画素の検出を行うことを特徴とす
る請求項４記載の電子カメラ。
【請求項10】前記画素欠陥検出用の画像の撮像時に、焦
点を合焦位置から強制的にずらすデフォーカス制御を行
うことを特徴とする請求項１〜９のいずれか１つに記載
の電子カメラ。
【請求項11】前記固体撮像素子に入射される光を拡散す
る拡散板を設けて、前記画素欠陥検出用の画像の撮像を
行わせることを特徴とする請求項１〜10のいずれか１つ
に記載の電子カメラ。
【請求項12】前記画素欠陥検出用の画像を撮像するとき
に、撮像された画像の輝度が所定の範囲に入るように、
絞り及び／又はシャッタースピードを調節することを特
徴とする請求項１〜11のいずれか１つに記載の電子カメ
ラ。
【請求項13】前記画素欠陥検出用の画像を複数回撮像
し、該複数回の撮像結果から欠陥画素を検出することを
特徴とする請求項１〜12のいずれか１つに記載の電子カ
メラ。
【請求項14】前記画素欠陥検出用の画像を複数回撮像
し、これらを重ね合わせた画像に基づいて欠陥画素を検
出することを特徴とする請求項１〜12のいずれか１つに
記載の電子カメラ。
【請求項15】前記固体撮像素子への光の入射を遮断し、
このときの真っ暗画像を画素欠陥検出用の画像として撮
像させることを特徴とする請求項１又は２に記載の電子
カメラ。
【請求項16】電源スイッチの投入時に、画素欠陥検出用
の画像の撮像を行わせて、欠陥画素の検出を行うことを
特徴とする請求項１〜15のいずれか１つに記載の電子カ
メラ。
【請求項17】前記固体撮像素子の温度を検出し、該温度
が所定温度以上であるときに画素欠陥検出用の画像の撮
像を行わせて、欠陥画素の検出を行うことを特徴とする
請求項１〜15のいずれか１つに記載の電子カメラ。
【請求項18】所定期間毎に画素欠陥検出用の画像の撮像
を行わせて、欠陥画素の検出を行うことを特徴とする請
求項１〜15のいずれか１つに記載の電子カメラ。
【請求項19】前記検出された欠陥画素の位置を記憶し、
該欠陥画素の位置情報に基づき欠陥画素の画像データを
補正することを特徴とする請求項１〜18のいずれか１つ
に記載の電子カメラ。
【請求項20】前記補正は、前記検出された欠陥画素の隣
接画素の画像データを、欠陥画素の画像データに置き換
えることにより行うことを特徴とする請求項19記載の電
子カメラ。
【請求項21】前記固体撮像素子に複数色のカラーフィル
タが設けられてなり、前記補正は、前記検出された欠陥
画素と同一のカラーフィルタが設けられた周囲画素の画
像データの平均値を、欠陥画素の画像データに置き換え
ることにより行うことを特徴とする請求項19記載の電子
カメラ。
【請求項22】前記画素欠陥検出用の画像の撮像及び欠陥
画素の検出を行うモードを任意に選択するモード選択手
段を備えたことを特徴とする請求項１〜21のいずれか１
つに記載の電子カメラ。
【請求項23】固体撮像素子を備えた電子カメラにおい
て、画素欠陥検出用の画像を１画面分撮影するように前記固
体撮像素子を制御する制御手段と、前記固体撮像素子から出力された１画面分の電気信号の
信号レベルを、画素毎に所定閾値と比較して画素欠陥を
検出する画素欠陥検出手段と、画素欠陥が検出された位置の情報を記憶する書き換え可
能な記憶手段と、該記憶手段に記憶された位置情報に基づいて、画素欠陥
が検出された位置の信号レベルを所定レベルに補正する
画素欠陥補正手段と、を含んで構成されたことを特徴とする電子カメラ。
【請求項24】前記固体撮像素子の光量を調節する光量調
節手段を備える一方、前記制御手段は、画素欠陥として白キズを検出すると
き、光量が零となるように前記光量調節手段を制御し、前記画素欠陥検出手段は、前記固体撮像素子から出力さ
れた電気信号の信号レベルを白キズ検出用の所定閾値と
比較するように構成されたことを特徴とする請求項23に
記載の電子カメラ。